JP2004151103A - 低ノイズのキャビティ内レーザー粒子カウンター - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 170
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 147
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 71
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 55
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 53
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 48
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 22
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims description 6
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 4
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 10
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 5
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 4
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 206010037844 rash Diseases 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 229910000755 6061-T6 aluminium alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910009372 YVO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009760 electrical discharge machining Methods 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000011527 polyurethane coating Substances 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N2015/1486—Counting the particles
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Abstract
【解決手段】単一の粒子を光学的に検出する、キャビティ内レーザー検出のための方法であって、レーザー光414を有するソリッドステートレーザーキャビティ404を提供する工程;光学ポンプ412を用いて、このレーザーキャビティをゲイン開口する工程;このレーザー光によって照射されるこのゲイン開口されたレーザーキャビティ内の検出領域408において、粒子を含む流体フローを提供する工程;ならびにこの粒子によって散乱された光を収集する工程およびこの粒子を示す出力信号を発生させる工程を包含する。光学バリア複合物105を配置して、0.1CMF以上のこの流体フローの流速で、この出力信号中のノイズを低減する。
【選択図】 図4
Description
(1.発明の分野)
本発明は、概して、流体中の所望でない粒子を検出および計数するために光散乱原理を利用する、当該分野で光散乱粒子カウンターと称されるシステムに関し、そしてより具体的には、高出力の低ノイズキャビティ内レーザー粒子カウンターに関する。
半導体産業の歴史は、線幅を確実に減少させる、一貫した経路を示してきた。未来への半導体産業のロードマップは、この傾向が引き続き衰えないことを示している。より小さい半導体の線幅は、より小さい致命的欠陥サイズを意味し、このことは、次に、クリーンルームの空気の有効な混入物モニタリングのためにより小さい粒子の検出を必要とする。従って、半導体ロードマップは、さらにより小さい粒子サイズを測定するために、さらにより感受性のOPC(光学粒子カウンター)を開発することを研究者に頻繁に強いている。合理的な時間量で統計的に妥当なサンプリングを達成するために、非常にクリーンな環境で操作した場合に、高性能のOPCはまた、高いサンプルリング速度(単位時間当たりにサンプリングされた空気の容積)を有するべきである。
(1)単一の粒子を光学的に検出する、キャビティ内レーザー検出のための方法であって、この方法は、以下:
レーザー光(414)を有するソリッドステートレーザーキャビティ(404)を提供する工程;
光学ポンプ(412)を用いて、このレーザーキャビティをゲイン開口する工程;
このレーザー光によって照射されるこのゲイン開口されたレーザーキャビティ内の検出領域(408)において、粒子を含む流体フローを提供する工程;ならびに
この粒子によって散乱された光を収集する工程およびこの粒子を示す出力信号を発生させる工程、
を包含し、この方法は、
光学バリア複合物(105、630、632)を配置して、0.1立方フィート/分以上のこの流体フローの流速で、この出力信号中のノイズを低減する工程によって特徴付けられる、方法。
ソリッドステートレーザー媒体を使用して、キャビティ内レーザーシステム(101)においてレーザービーム(414)を提供する工程;ならびに
エアロゾルジェット(500)を利用して、このレーザービームを介して粒子含有流体のフローを方向付け、その結果、上記レーザービームからの光がこの粒子によって散乱される工程、
を包含し、この方法は、
この粒子によって散乱された光を収集する工程およびこの粒子を示す出力信号を発生させる工程によって特徴付けられ、この出力信号は、このエアロゾルジェットの内壁(525)からの乱流渦の削減によって引き起こされるノイズを実質的に含まない、
方法。
このレーザーキャビティ内のレーザー媒体(403)を光学的にポンピングして、レーザー光を発生する工程;
このレーザーキャビティをゲイン開口する工程;
粒子を含む流体フローを、このレーザーキャビティへと方向付ける工程であって、この流体フローは、渦流を含む、工程;および
この粒子から散乱されたレーザー光を収集して、この単一の粒子を示す出力を発生させる工程、
を包含し、この方法は、
この提供されたレーザー光がこの渦流に衝突することを妨げる工程によって特徴付けられる、
方法。
レーザーキャビティ(404);
このレーザーキャビティ内に配置された、ソリッドステートレーザー媒体(403);
このソリッドステートレーザー媒体に方向付けられた、光学ポンプ源(412);
このレーザーキャビティのゲイン開口を達成し、そしてこのソリッドステートレーザー媒体を励起して、このレーザーキャビティ内にレーザー光を提供するために、このソリッドステートレーザー媒体中へと、この光学ポンプ源によって提供されるポンピング光を集束させるための、集束ユニット(402);
このレーザーキャビティ内、またはこのレーザー光の通路中の検出領域(408)へと粒子を導入するための、粒子供給源(406);および
この検出領域から光を収集するように配置された、検出光学アセンブリ、
を備え、このデバイスは、
光がこの検出領域へ入り得る領域において生じる渦流流体フローを、このレーザー光への暴露から遮断するための、光学バリア複合物(105、630、632)、
によって特徴付けられる、
デバイス。
上記光学ポンプ源と上記検出領域との間に位置する第一開口アセンブリ;および
上記提供されたレーザー光のレーザーキャビティエンドミラーとこの検出領域との間に位置する第二開口アセンブリ、
を備える、デバイス。
上記光学ポンプ源と上記渦流流体フローが生じる上記領域との間に位置する第一光絞り構造体;および
上記提供されたレーザー光の上記レーザーキャビティエンドミラーとこの渦流流体フローが生じるこの領域との間に位置する第二光絞り構造体、
を備える、デバイス。
レーザー光を発生する、ゲイン開口レーザーキャビティ(104);
このレーザーキャビティ内の粒子検出領域(408)へと流体フローを提供する、入口ジェット(113)であって、この入口ジェットは、入口ジェットオリフィス(524)を有する、入口ジェット;および
この検出領域内の粒子から散乱される光を収集して、この粒子を示す出力信号を生じるように配置される、検出光学アセンブリ(103)、
を備え、この粒子カウンターは、
0.1立方フィート/分以上の流体流速について、光学バリア複合物なしのこのゲイン開口システムと比較した場合、ノイズを低減するように配置された、光学バリア複合物(105、630、632)によって特徴付けられる、
粒子カウンター。
本発明は、効果的なノイズの減少と高出力操作とを組み合わせてOPC内の非常に小さい粒子の効率的な計数を可能にするシステムを提供することによって、先行技術を進歩させ、かつ前出の問題点を克服するのに役立つ。本発明は、光学的粒子カウンターを提供し、このカウンターは、ゲイン開口と光学バリアとの両方を備え、この光学バリアは、ノイズに寄与するレーザービームの一部を物理的に遮断する。詳細には、流体の入口ジェットを中断させている乱流渦が光を散乱させ得、これが、光検出器に入り得る迷光に寄与することが、見出されている。光学バリア(例えば、レーザービーム開口または光絞り)が、この迷光を効果的に減少させることが、見出されている。
本開示において、用語「光」とは、可視光線に限定されず、任意の電磁放射線を意味した広範な意味で使用される。本開示において、レーザー装置から直接現れるレーザー光が、「本来のレーザー光」であり、そしてレーザーキャビティのエンドミラーによって反射されるレーザー光が、「反射レーザー光」である。
Claims (36)
- 単一の粒子を光学的に検出する、キャビティ内レーザー検出のための方法であって、該方法は、以下:
レーザー光(414)を有するソリッドステートレーザーキャビティ(404)を提供する工程;
光学ポンプ(412)を用いて、該レーザーキャビティをゲイン開口する工程;
該レーザー光によって照射される該ゲイン開口されたレーザーキャビティ内の検出領域(408)において、粒子を含む流体フローを提供する工程;ならびに
該粒子によって散乱された光を収集する工程および該粒子を示す出力信号を発生させる工程、
を包含し、該方法は、
光学バリア複合物(105、630、632)を配置して、0.1立方フィート/分以上の該流体フローの流速で、該出力信号中のノイズを低減する工程によって特徴付けられる、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、前記粒子が、0.1ミクロン以下のサイズを有する、方法。
- 請求項1に記載の方法であって、前記配置する工程が、バックグラウンド光における、フロー誘導された乱れを低減するために、前記光学バリア複合物を配置することを含む、方法。
- 請求項1に記載の方法であって、前記配置する工程が、前記レーザー光を物理的に開口することを含む、方法。
- 請求項1に記載の方法であって、前記流体フローが、入口ジェットオリフィス(524)によって提供され、そして該配置する工程が、前記レーザー光から該入口ジェットオリフィスを遮断することを含む、方法。
- 単一の粒子を光学的に検出するための方法であって、該方法は、以下:
ソリッドステートレーザー媒体を使用して、キャビティ内レーザーシステム(101)においてレーザービーム(414)を提供する工程;ならびに
エアロゾルジェット(500)を利用して、該レーザービームを介して粒子含有流体のフローを方向付け、その結果、前記レーザービームからの光が該粒子によって散乱される工程、
を包含し、該方法は、
該粒子によって散乱された光を収集する工程および該粒子を示す出力信号を発生させる工程によって特徴付けられ、該出力信号は、該エアロゾルジェットの内壁(525)からの乱流渦の削減によって引き起こされるノイズを実質的に含まない、
方法。 - 請求項6に記載の方法であって、前記粒子が、0.1ミクロン以下のサイズを有する、方法。
- レーザーキャビティ(404)中の単一の粒子を光学的に検出するための方法であって、該方法は、以下:
該レーザーキャビティ内のレーザー媒体(403)を光学的にポンピングして、レーザー光を発生する工程;
該レーザーキャビティをゲイン開口する工程;
粒子を含む流体フローを、該レーザーキャビティへと方向付ける工程であって、該流体フローは、渦流を含む、工程;および
該粒子から散乱されたレーザー光を収集して、該単一の粒子を示す出力を発生させる工程、
を包含し、該方法は、
該提供されたレーザー光が該渦流に衝突することを妨げる工程によって特徴付けられる、
方法。 - 請求項8に記載の方法であって、前記妨げる工程が、前記レーザー光を物理的に開口することを含む、方法。
- 請求項8に記載の方法であって、前記妨げる工程が、前記発生したレーザー光による照射から、入口ジェットオリフィスを遮断することを含む、方法。
- 請求項10に記載の方法であって、前記遮断する工程が、前記レーザー光の供給源と前記入口ジェットオリフィスとの間に第一の光絞り構造体を配置することを包含する、方法。
- 請求項11に記載の方法であって、前記遮断する工程が、レーザーキャビティエンドミラーと前記入口ジェットオリフィスとの間に第二の光絞り構造体を配置することをさらに包含する、方法。
- 請求項9に記載の方法であって、前記物理的に開口する工程が、前記レーザー媒体と前記検出領域との間に第一開口アセンブリを、そしてレーザーキャビティエンドミラーと前記検出領域との間に第二開口アセンブリを提供することを含む、方法。
- 粒子のキャビティ内検出のためのデバイス(100)であって、該デバイスは、以下:
レーザーキャビティ(404);
該レーザーキャビティ内に配置された、ソリッドステートレーザー媒体(403);
該ソリッドステートレーザー媒体に方向付けられた、光学ポンプ源(412);
該レーザーキャビティのゲイン開口を達成し、そして該ソリッドステートレーザー媒体を励起して、該レーザーキャビティ内にレーザー光を提供するために、該ソリッドステートレーザー媒体中へと、該光学ポンプ源によって提供されるポンピング光を集束させるための、集束ユニット(402);
該レーザーキャビティ内、または該レーザー光の通路中の検出領域(408)へと粒子を導入するための、粒子供給源(406);および
該検出領域から光を収集するように配置された、検出光学アセンブリ、
を備え、該デバイスは、
光が該検出領域へ入り得る領域において生じる渦流流体フローを、該レーザー光への暴露から遮断するための、光学バリア複合物(105、630、632)、
によって特徴付けられる、
デバイス。 - 請求項14に記載のデバイスであって、前記光学バリア複合物が、物理的開口(105)を備える、デバイス。
- 請求項14に記載のデバイスであって、前記光学バリア複合物が、以下:
前記光学ポンプ源と前記検出領域との間に位置する第一開口アセンブリ;および
前記提供されたレーザー光のレーザーキャビティエンドミラーと該検出領域との間に位置する第二開口アセンブリ、
を備える、デバイス。 - 請求項16に記載のデバイスであって、前記第一開口アセンブリが、開口プレートを備える、デバイス。
- 請求項16に記載のデバイスであって、前記第一開口アセンブリが、複数の開口プレートを備える、デバイス。
- 請求項16に記載のデバイスであって、前記第二開口アセンブリが、開口プレートを備える、デバイス。
- 請求項16に記載のデバイスであって、前記第二開口アセンブリが、複数の開口プレートを備える、デバイス。
- 請求項14に記載のデバイスであって、前記光学バリア複合物が、光絞りを備える、デバイス。
- 請求項16に記載のデバイスであって、前記光学バリア複合物が、以下:
前記光学ポンプ源と前記渦流流体フローが生じる前記領域との間に位置する第一光絞り構造体;および
前記提供されたレーザー光の前記レーザーキャビティエンドミラーと該渦流流体フローが生じる該領域との間に位置する第二光絞り構造体、
を備える、デバイス。 - 請求項14に記載のデバイスであって、前記渦流流体フローが生じる前記領域が、入口ジェットオリフィスに対して近位である、デバイス。
- 請求項14に記載のデバイスであって、前記ソリッドステートレーザー媒体が、ドープ媒体である、デバイス。
- 請求項14に記載のデバイスであって、前記光学ポンプ源が、半導体レーザーである、デバイス。
- 光学粒子カウンター(101)であって、該光学粒子カウンターは、以下:
レーザー光を発生する、ゲイン開口レーザーキャビティ(104);
該レーザーキャビティ内の粒子検出領域(408)へと流体フローを提供する、入口ジェット(113)であって、該入口ジェットは、入口ジェットオリフィス(524)を有する、入口ジェット;および
該検出領域内の粒子から散乱される光を収集して、該粒子を示す出力信号を生じるように配置される、検出光学アセンブリ(103)、
を備え、該粒子カウンターは、
0.1立方フィート/分以上の流体流速について、光学バリア複合物なしの該ゲイン開口システムと比較した場合、ノイズを低減するように配置された、光学バリア複合物(105、630、632)によって特徴付けられる、
粒子カウンター。 - 請求項26に記載の粒子カウンターであって、前記光学バリア複合物が、前記レーザー光の物理的開口を提供する開口アセンブリを備える、粒子カウンター。
- 請求項27に記載の粒子カウンターであって、前記光学バリア複合物が、前記レーザー光への暴露から前記入口ジェットオリフィスを遮断するための、第一光絞り構造体を備える、粒子カウンター。
- 請求項28に記載の粒子カウンターであって、前記第一光絞り構造体、前記ゲイン開口および前記物理的開口が、該粒子カウンターにおいてフロー誘導されたバックグラウンド光の乱れを排除するように協同する、粒子カウンター。
- 請求項27に記載の粒子カウンターであって、前記開口アセンブリが、単一の開口プレートから実質的になる、粒子カウンター。
- 請求項27に記載の粒子カウンターであって、前記開口アセンブリが、複数の開口プレートを備える、粒子カウンター。
- 請求項27に記載の粒子カウンターであって、前記入口ジェットオリフィスが、前記第一光絞り構造体の末端に関して、0.010インチと0.040インチとの間だけ、前記レーザー光から離れて窪んでいる、粒子カウンター。
- 請求項26に記載の粒子カウンターであって、前記光学バリア複合物が、前記レーザー光への暴露から前記入口ジェットオリフィスを遮断するための、第一光絞り構造体を備える、粒子カウンター。
- 請求項33に記載の粒子カウンターであって、前記第一光絞り構造体が、単一の光絞りから実質的になる、粒子カウンター。
- 請求項33に記載の粒子カウンターであって、前記第一光絞り構造体が、複数の光絞りを備える、粒子カウンター。
- 請求項33に記載の粒子カウンターであって、前記光学バリア複合物が、前記第一光絞り構造体から、前記入口ジェットオリフィスの反対側に、第二光絞り構造体をさらに備える、粒子カウンター。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/282,169 US6903818B2 (en) | 2002-10-28 | 2002-10-28 | Low noise intracavity laser particle counter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004151103A true JP2004151103A (ja) | 2004-05-27 |
Family
ID=29735709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003368136A Pending JP2004151103A (ja) | 2002-10-28 | 2003-10-28 | 低ノイズのキャビティ内レーザー粒子カウンター |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6903818B2 (ja) |
JP (1) | JP2004151103A (ja) |
DE (1) | DE10350051A1 (ja) |
GB (1) | GB0325045D0 (ja) |
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---|---|---|---|---|
JP2017015587A (ja) * | 2015-07-02 | 2017-01-19 | 富士電機株式会社 | 粒子計測装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060829 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
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