JP2004128016A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004128016A5 JP2004128016A5 JP2002286563A JP2002286563A JP2004128016A5 JP 2004128016 A5 JP2004128016 A5 JP 2004128016A5 JP 2002286563 A JP2002286563 A JP 2002286563A JP 2002286563 A JP2002286563 A JP 2002286563A JP 2004128016 A5 JP2004128016 A5 JP 2004128016A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing
- substrate
- processing liquid
- liquid
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Claims (11)
- 基板を保持する基板ホルダを備え、内部に供給され保持される処理液に接触させて基板を処理する処理ヘッドと、
前記基板ホルダを水密的に囲繞し、熱媒体を介して前記基板ホルダと共に前記処理ヘッドに保持される処理液の温度を所定の温度に保持する温度保持槽と、
前記処理ヘッドに所定温度の処理液を供給する処理液供給部を有することを特徴とする基板処理装置。 - 前記処理ヘッドから処理後の処理液を回収して前記処理液供給部に戻す処理液回収部を更に有することを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
- 前記処理ヘッドは、前記基板ホルダで基板処理面を上向きにして基板を保持し、この基板処理面と該基板処理面の外周部をシールするシールリングで処理液を保持する処理槽を区画形成するように構成されていることを特徴とする請求項1または2記載の基板処理装置。
- 前記熱媒体としての液体を保持する温度調節器を備えた温水供給槽を更に有し、この温水供給槽と前記温度保持槽との間を熱媒体が循環するようにしたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理ヘッドに保持される処理液に接触して該処理液を加熱する加熱ヘッドを更に有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記加熱ヘッドは、前記処理液との接触面が中心から半径方向に向けて該接触面と処理液の液面との距離が徐々に拡がるテーパ状に形成されていることを特徴とする請求項5記載の基板処理装置。
- 前記処理液供給部は、処理液を保持する温度調節器を備えた処理液供給槽を有し、この処理液供給槽には、この内部の処理液を攪拌する攪拌手段が備えられていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理液供給部は、処理液を保持する処理液供給槽と、この処理液供給槽から前記処理ヘッドに供給される処理液の温度を調節する温度調節部を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理液回収部は、前記処理ヘッドから前記処理液供給部に戻す処理液の温度を調節する温度調節部を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理液供給部は、混合して処理液を生成する複数の溶液を個別に保持する温度調節部を備えた複数の溶液供給槽と、前記各溶液供給槽にそれぞれ連通し該溶液供給槽から個別に供給される複数の溶液を混合して処理液を生成する温度調節器を備えた混合槽を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の基板処理装置。
- 前記処理液供給部は、混合して処理液を生成する複数の溶液を個別に保持する複数の溶液供給槽と、前記各溶液供給槽にそれぞれ連通し該溶液供給槽から個別に供給される複数の溶液を混合して処理液を生成する複数の混合槽を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の基板処理装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002286563A JP3824567B2 (ja) | 2002-09-30 | 2002-09-30 | 基板処理装置 |
US10/647,457 US7341634B2 (en) | 2002-08-27 | 2003-08-26 | Apparatus for and method of processing substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002286563A JP3824567B2 (ja) | 2002-09-30 | 2002-09-30 | 基板処理装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004128016A JP2004128016A (ja) | 2004-04-22 |
JP2004128016A5 true JP2004128016A5 (ja) | 2005-07-14 |
JP3824567B2 JP3824567B2 (ja) | 2006-09-20 |
Family
ID=32279587
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002286563A Expired - Fee Related JP3824567B2 (ja) | 2002-08-27 | 2002-09-30 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3824567B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8844461B2 (en) * | 2007-04-16 | 2014-09-30 | Lam Research Corporation | Fluid handling system for wafer electroless plating and associated methods |
JP2006057171A (ja) * | 2004-08-23 | 2006-03-02 | Tokyo Electron Ltd | 無電解めっき装置 |
JP2007051346A (ja) * | 2005-08-18 | 2007-03-01 | Ebara Corp | 無電解めっき装置及びめっき液 |
KR101219440B1 (ko) * | 2010-05-31 | 2013-01-11 | 전자부품연구원 | ZnO 나노와이어 대면적 성장 시스템 |
US8937014B2 (en) * | 2010-10-14 | 2015-01-20 | Tokyo Electron Limited | Liquid treatment apparatus and liquid treatment method |
JP5714428B2 (ja) * | 2011-06-24 | 2015-05-07 | 東京エレクトロン株式会社 | めっき処理装置、めっき処理方法および記憶媒体 |
JP7090468B2 (ja) * | 2018-05-15 | 2022-06-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP7542391B2 (ja) | 2020-10-09 | 2024-08-30 | 株式会社荏原製作所 | めっき方法 |
-
2002
- 2002-09-30 JP JP2002286563A patent/JP3824567B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004128016A5 (ja) | ||
TW200525645A (en) | Apparatus to improve wafer temperature uniformity for face-up wet processing | |
TW200625390A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and chemical exchanging method | |
TWI447801B (zh) | 使用無機酸及臭氧之表面處理方法與設備 | |
US10363528B2 (en) | Mixing and thawing device | |
JP2012212882A5 (ja) | ||
JP2004107747A (ja) | 無電解メッキ装置、および無電解メッキ方法 | |
WO2003014416A3 (en) | Plating device and method | |
TW200731386A (en) | Drying device, drying method, substrate treating device, substrate treating method and computer readable recording medium having program | |
TW201513227A (zh) | 基板處理方法及基板處理裝置 | |
CN102188942A (zh) | 管式磺化反应制取间硝基苯磺酸的生产方法 | |
KR102306309B1 (ko) | 열 교환 시스템 및 이 열 교환 시스템을 가지는 기판 처리 장치 | |
JP6807086B2 (ja) | 超臨界流体の無水染色用万能試作機 | |
US3316339A (en) | Method and apparatus for molding hollow articles from resins | |
WO2003102985A8 (en) | Method and apparatus for dyeing a layer of nanocrystalline material | |
CN206980720U (zh) | 一种化工用反应釜 | |
WO2005041731A3 (en) | System, method and apparatus for heating water | |
JP2003024063A5 (ja) | ||
CN219111593U (zh) | 光化学反应器 | |
CN103008168B (zh) | 沉积薄膜的装置和方法 | |
CN108795686A (zh) | 具有转动系统的培养仪器及培养系统 | |
KR20170059521A (ko) | 차아염소산나트륨 발생장치 | |
JP2011032627A (ja) | 染色装置 | |
JP5520991B2 (ja) | 基板の処理装置及び処理方法 | |
JPH09117235A (ja) | 水槽内局部温度域形成装置 |