JP2004126559A - Transistor circuit, array substrate, display panel, and electronic apparatus - Google Patents

Transistor circuit, array substrate, display panel, and electronic apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To make a transistor possible to control conductance with an input signal of a comparatively low voltage and to compensate variance of the threshold value characteristic of a driving transistor, in the transistor circuit that performs conductance control in the driving transistor in accordance with the voltage of an input signal. <P>SOLUTION: The transistor circuit (100) is equipped with the driving transistor (110) in which conductance between a source and a drain is controlled in accordance with the voltage of an input signal supplied to the gate, and equipped with a compensating transistor (120) of which the gate is connected to either the source or the drain and which is connected to the driving transistor in a manner that an input signal is supplied to the gate of the driving transistor through the source and the drain. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、薄膜トランジスタ(以下TFTと称す)、電界効果型トランジスタ、バイポーラトランジスタなどのトランジスタを複数備えて構成されるトランジスタ回路の技術分野に属し、特にゲートに供給される電圧に応じてソース及びドレイン間のコンダクタンスを制御することにより、該ソース及びドレインを介して電流制御型(電流駆動型)素子等の被駆動素子に供給される駆動電流を制御する駆動用トランジスタを備えて構成されるトランジスタ回路の技術分野に属する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、トランジスタには、半導体膜の膜質、膜厚、不純物濃度や拡散領域、ゲート絶縁膜等の膜質、膜厚、動作温度などの各種条件に応じて、その電圧電流特性やしきい値には大なり小なりばらつきが生じる。クリスタルシリコンを用いたバイポーラトランジスタの場合には、このようなしきい値のばらつきは比較的小さいが、TFTの場合には、このようなばらつきは大きいのが通常である。特に、液晶パネル、ELパネル等の表示パネルなどにおいてTFTアレイ基板上で広範囲に渡って多数形成されるTFTの場合には、このような電流電圧特性やしきい値のばらつきが非常に大きくなることが多い。例えば、この種のTFTのしきい値を2V(ボルト)程度(Nチャネルで+2V、Pチャネルで−2V)となるように製造しても、そのばらつきは±数V程度になったりする。
【0003】
ここで、所謂TFT液晶パネル等の場合のように液晶等からなる画素部を電圧制御する電圧制御(電圧駆動)方式の場合には、各画素部に設けられた駆動用TFTにおける電圧電流特性やしきい値のばらつきが問題となることは比較的少ない。即ちこの場合には、たとえTFTの電流電圧特性やしきい値に多少のばらつきがあったとしても、十分なスイッチング時間さえ与えれば、外部からTFTを介して各画素部に供給する電圧の精度を高めることにより、各画素部における表示濃度や明るさを精度良く制御できるからである。従って、各画素部での表示濃度や明るさのむらが重要視される表示用のTFT液晶パネル等においても、電流電圧特性やしきい値のばらつきが比較的大きいTFTを用いて、高品位の画像表示等を行える。
【0004】
他方で近年、電流供給量に応じて明るさが変化するように自発光する有機EL等の電流制御型発光素子を画素部に備えた表示パネルが開発されており、バックライトや反射光を利用せずに画像表示が可能であり、消費電力が低く、しかも視野角依存性が少なく、また時には可曲性を実現する表示パネルとして注目されている。このELパネルの場合にも、アクティブマトリクス駆動を行うためには、各画素部において駆動用TFTが用いられる。例えば、駆動用TFTのドレインが正孔注入用電極を介してEL素子に接続され、ゲートに印加されるデータ信号の電圧に応じて、ソースに接続された電源配線からEL素子に供給される駆動電流を制御する(変化させる)ように構成されている。このように駆動用TFTを用いれば、入力信号の電圧変化に応じてソース及びドレイン間のコンダクタンスを制御することによりEL素子を流れる駆動電流を制御して、各画素部での明るさ(輝度)を変化させることが可能となり、画像表示等を行える。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特に上述したELパネル等のように電流制御型素子の場合には、各画素部に設けられた駆動用TFTにおける電圧電流特性やしきい値のばらつきが問題となる。即ち、この場合には、外部から駆動用TFTに供給されるデータ信号の電圧精度を幾ら高めたとしても、駆動用TFTにおける電圧電流特性やしきい値のばらつきがデータ信号に対する駆動電流のばらつきとしてそのまま現われるため、駆動電流の精度が低下してしまう。この結果、各画素部における明るさも駆動用TFTのしきい値のばらつきに従ってばらついてしまうのである。そして、特に現在の低温ポリシリコンTFTの製造技術ではこのような電圧電流特性やしきい値のばらつきは、かなりの度合いで発生するため、この問題は実用上非常に大きい。
【0006】
この問題に対して、電圧電流特性やしきい値のばらつきを低減するように各TFTを製造しようとすれば、歩留まりの低下を招き、特に表示パネルのように多数のTFTを用いて構成する装置においては極端な歩留まりの低下を招いてしまい、低コスト化という一般的要請に反する。或いは、そのようなばらつきを低減するようなTFTを製造することは不可能に近い。また、各TFTにおける電流電圧特性やしきい値のばらつきを補償する回路を別途設けようとしても、やはり装置の複雑化や大型化更には消費電力の増加を招き、特に多数のTFTが高密度で配列された表示パネルにおいては、再び歩留まりの低下を招き、或いは近時の低消費電力化や装置の小型軽量化という要請に答えることが困難になることが予想される。
【0007】
本発明は上述した問題点に鑑みなされたものであり、入力信号の電圧に応じて駆動用トランジスタにおけるコンダクタンス制御を行うトランジスタ回路であって、比較的低電圧の入力信号により当該コンダクタンス制御が可能であり、しかも駆動用トランジスタの電流電圧特性やしきい値特性のばらつきを、比較的少ない数のトランジスタを用いて比較的小さな電力消費により補償することが可能なトランジスタ回路、並びにこれを用いた表示パネル及び電子機器を提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1のアレイ基板は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、前記複数のトランジスタ回路の各々は、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートは所定の電圧にリセットされること、を特徴とする。
本発明の第2のアレイ基板は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、前記複数のトランジスタ回路の各々は、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートを所定の電圧にするリセット手段を備えていること、を特徴とする。
本発明の第3のアレイ基板は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、前記複数のトランジスタ回路の各々は、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートにリセット信号を供給するリセット手段を備えていること、を特徴とする。
上記のアレイ基板において、前記複数のトランジスタ回路の各々は、前記入力信号が供給される際に前記駆動用トランジスタのしきい値のばらつき補償するようにしてもよい。
上記のアレイ基板において、第2ゲート、第2ソース及び第2ドレインを有し、前記第2ゲートが前記第1のゲートに接続されている補償用トランジスタと、を備えていてもよい。
上記のアレイ基板において、前記リセット手段は、前記複数のトランジスタ回路の各々に設けられた第3ゲート、第3ソース及び第3ドレインを有するリセット用トランジスタであり、前記第3ソース及び前記第3ドレインの一方が前記第1ゲートに接続されており、前記入力信号の供給前に前記第3ゲートにリセットタイミング信号が供給された時に、前記リセット用トランジスタを介して前記リセット信号が前記第1ゲートに供給されるようにしてもよい。
上記のアレイ基板において、前記複数のトランジスタ回路の各々は、第4ゲート、第4ソース及び第4ドレインを有するスイッチングトランジスタをさらに含み、前記第4ゲートに前記複数の走査線のうち対応する走査線が接続されていることが好ましい。
上記のアレイ基板において、前記リセット信号は、前記入力信号の最大電圧よりも前記補償用トランジスタのしきい値電圧分以上大きい電圧に設定されていてもよい。
本発明のトランジスタ回路は、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、
前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートを所定の電圧にリセットするリセット手段を備えていること、を特徴とする。
本発明の第1の表示パネルは、上記のアレイ基板と、前記第1ソース及び前記ドレインのいずれかと接続された発光素子と、を含んでいる。
上記の表示パネルにおいて、前記発光素子の代わりに電流駆動型素子であってもよい。
本発明の第2の表示パネルは、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、前記複数のトランジスタ回路の各々は、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記複数のデータ線のうち対応するデータ線を介して前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタと、前記第1ソース及び前記第1ドレインのいずれかと接続された発光素子と、を含み、前記入力信号が前記第1ゲートに供給される前に前記第1ゲートは所定の電圧にリセットされることを特徴とする。
本発明の第3の表示パネルは、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、前記複数のトランジスタ回路の各々は、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記複数のデータ線のうち対応するデータ線を介して前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタと、前記第1ソース及び前記第1ドレインのいずれかと接続された発光素子と、を含み、前記入力信号が前記第1ゲートに供給される前に前記第1ゲートを所定の電圧にリセットするリセット手段を備えていること、を特徴とする。
本発明の第1の表示パネルの駆動方法は、走査線と、データ線と、トランジスタ回路と、を含む表示パネルの駆動方法であって、トランジスタ回路に含まれる第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有する駆動用トランジスタの前記第1ゲートに前記データ線を介して入力信号を供給し、前記入力信号を供給する前に前記第1ゲートを所定の電圧にリセットすること、を特徴とする。
本発明の第2の表示パネルの駆動方法は、走査線と、データ線と、トランジスタ回路と、を含む表示パネルの駆動方法であって、前記走査線を介して走査信号を前記トランジスタ回路に含まれるスイッチング用トランジスタのゲートに供給して、ランジスタ回路に含まれる第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有する駆動用トランジスタの前記第1ゲートに前記データ線及び前記スイッチング用トランジスタを介して入力信号を供給し、前記走査信号を供給した後、リセットタイミング信号をリセット用トランジスタのゲートに供給し、前記リセット用トランジスタを介してリセット信号を前記第1ゲートに供給すること、を特徴とする。
本発明の電子機器は、上記の表示パネルを備えたこと、を特徴とする。
また本発明のトランジスタ回路は上記課題を解決するために、第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、該第1ゲートに供給される入力信号の電圧に応じて該第1ソース及び第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタと、第2ゲート、第2ソース及び第2ドレインを有し、該第2ゲートが該第2ソース及び第2ドレインの一方に接続されており、該第2ソース及び第2ドレインを介して前記入力信号が前記第1ゲートに供給されるように且つ前記第1ゲートに対し前記コンダクタンスを低める方向の電荷移動を可能とする向きで前記第1ゲートに接続された補償用トランジスタとを備えたことを特徴とする。
【0009】
本発明のトランジスタ回路によれば、補償用トランジスタの第2ソース及び第2ドレインの一方が駆動用トランジスタの第1ゲートに接続されており、これらの第2ソース及び第2ドレインを介して、駆動用トランジスタの第1ゲートには入力信号が供給される。そして、駆動用トランジスタにおいて、この第1ゲートに供給される入力信号の電圧に応じて、第1ソース及び第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される。ここで、補償用トランジスタは、第2ゲートが第2ドレインに接続されており、第1ゲートに対し第1ソース及び第1ドレイン間のコンダクタンスを低める方向の電荷移動を可能とする向きで第1ゲートに接続されている。即ち、補償用トランジスタは、ダイオード特性を有しており、例えば、駆動用トランジスタがNチャネル型であれば、その第1ゲートから入力信号源への向きにのみ通電可能である。或いは、駆動用トランジスタがPチャネル型であれば、入力信号源から第1ゲートへの向きに通電可能である。
【0010】
このため、当該トランジスタ回路に入力信号を供給した際には、補償用トランジスタに入力される時点における入力信号の電圧と比較して、第1ゲートのゲート電圧は、補償用トランジスタのしきい値の分だけ駆動用トランジスタのコンダクタンスが高められる側に昇圧されることになる。従って、駆動用トランジスタにおいて所望のコンダクタンスを得るためには、当該コンダクタンスに対応するゲート電圧よりも補償用トランジスタのしきい値(電圧)の分だけ低い電圧の入力信号を補償用トランジスタを介して供給すればよいことになる。このように、補償用トランジスタのしきい値(電圧)の分だけ入力信号に対するゲート電圧を昇圧できるので、補償用トランジスタがない場合と比較して、より低い入力信号の電圧により同等のコンダクタンス制御を行うことが可能となる。
【0011】
一般に、この入力信号は他の信号に比較して高周波数であることが多く、より低い入力信号でよいとなれば、かなりの低消費電力化が期待できる。
【0012】
更に、このように補償用トランジスタにより入力信号の電圧を昇圧して第1ゲートにおけるゲート電圧とすることは、トランジスタ回路全体として見た場合、駆動用トランジスタにおいてコンダクタンス制御されるソース及びドレインを介して流れる駆動電流に対する入力信号のしきい値は、駆動用トランジスタのしきい値電圧から、入力電圧からゲート電圧への昇圧分である補償用トランジスタのしきい値電圧だけ低くなっている。即ち、駆動電流に対する入力電圧のしきい値中では、補償用トランジスタのしきい値と駆動用トランジスタのしきい値とは、相殺された形となっている。従って、両者のしきい値特性や電圧電流特性を近付けることにより、駆動電流に対する入力信号のしきい値を零に近付けることが可能となる。
【0013】
更にまた、このように駆動用トランジスタのしきい値と補償用トランジスタのしきい値とを当該トランジスタ回路全体の中で相殺させることにより、駆動用トランジスタのしきい値の大小によらずにトランジスタ回路全体としての入力信号のしきい値を一定の値(ゼロ)に近付けることができる。即ち、複数のしきい値の相異なる駆動用トランジスタを用いて当該トランジスタ回路を複数作成した場合に、各トランジスタ回路における駆動用トランジスタと補償用トランジスタのしきい値を夫々相互に近付ければ(理想的には両者を一致させれば)、各トランジスタ回路間におけるしきい値の差は、各駆動用トランジスタのしきい値の差よりも小さくなっている(理想的には差が殆どなくなっている)。従って、当該トランジスタ回路を複数作成する際に、複数のしきい値の異なる複数の駆動用トランジスタを用いたとしても、しきい値のばらつきが殆ど又は全くない複数のトランジスタ回路を得ることが可能となる。
【0014】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記第1ゲートに対し前記入力信号に応じて制御される前記コンダクタンスの最高値よりも高いコンダクタンスの値に対応する電圧を有するリセット信号を前記入力信号の供給前に供給するリセット手段を備えたことを特徴とする。
【0015】
本発明のトランジスタ回路によれば、駆動用トランジスタの第1ゲートに入力信号が供給される以前に(或いは、一の入力信号が供給された後に、次の入力信号が供給される以前に)、リセット手段によりこの第1ゲートに、入力信号に応じて制御される駆動用トランジスタのコンダクタンスの最高値よりも高いコンダクタンスの値に対応する電圧を有するリセット信号が供給される。この結果、入力信号の電圧値の大小によらずに駆動用トランジスタのゲート電圧をリセット手段により一定値とすることができ、しかも、リセット後に、コンダクタンスを低める方向の電荷移動を可能とする向きで第1ゲートに接続された補償用トランジスタを介して入力信号を第1ゲートに供給することが可能となる。
【0016】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記リセット信号は、前記入力信号の最大電圧よりも前記補償用トランジスタのしきい値電圧分以上大きい電圧に設定されたことを特徴とする。
【0017】
本発明のトランジスタ回路によれば、リセット手段により駆動用トランジスタの第1ゲートに、入力信号よりも大きい電圧のリセット信号が供給される。しかも、このリセット信号の電圧は、入力信号の最大電圧よりも補償用トランジスタのしきい値電圧分以上大きく設定されているので、リセット後に入力信号が入力されると、入力信号の電圧の大小や駆動用トランジスタのしきい値の大小によらずに常に、その入力信号の電圧よりも駆動用トランジスタのしきい値電圧分だけ高い電圧を、補償用トランジスタを介して駆動用トランジスタの第1ゲートに供給することが出来る。
【0018】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記リセット手段は、第3ゲート、第3ソース及び第3ドレインを有し、該第3ソース及び第3ドレインの一方が前記第1ゲートに接続されており、該第3ゲートにリセットタイミング信号が前記入力信号の供給前に供給された時に、該第3ソース及び第3ドレインを介して前記リセット信号を前記第1ゲートに供給するリセット用トランジスタを備えたことを特徴とする。
【0019】
本発明のトランジスタ回路によれば、リセット用トランジスタの第3ゲートにリセットタイミング信号が供給されると、該リセット用トランジスタにより、その第3ソース及び第3ドレインを介して、リセット信号が駆動用トランジスタの第1ゲートに供給される。この結果、駆動用トランジスタのゲート電圧をリセットタイミング信号の供給タイミングで一定値にリセットすることができる。従って、この後の、上述のトランジスタ回路に対して説明した動作が可能となる。
【0020】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記駆動用トランジスタと前記補償用トランジスタとは、同一型のトランジスタであることを特徴とする。
【0021】
本発明のトランジスタ回路によれば、駆動用トランジスタと補償用トランジスタとは、同一型のトランジスタであるが、ここに、「同一型」とは、駆動用トランジスタがNチャネル型であれば、補償用トランジスタもNチャネル型であり、駆動用トランジスタがPチャネル型であれば、補償用トランジスタもPチャネル型である意である。従って、補償用トランジスタのしきい値と駆動用トランジスタのしきい値とは相互にほぼ等しくなるため、当該トランジスタ回路内において、これえらのしきい値は相殺しあい、この結果、駆動電流に対する入力信号のしきい値をほぼ零としてコンダクタンス制御を行うことも可能となる。更に、複数のトランジスタ回路を、しきい値のばらついた複数の駆動用トランジスタから構成した場合にも、しきい値のばらつきを補償することも可能となる。
【0022】
また、トランジスタのチャネル幅、チャネル長を始めとする設計値、デバイス構造、プロセス条件等も、駆動用トランジスタと補償用トランジスタとで等しくすることにより、より完全な補償が可能となる。
【0023】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、第4ゲート、第4ソース及び第4ドレインを有し、該第4ゲートにスイッチングタイミング信号が供給された時に前記入力信号を該第4ソース及び第4ドレインを介して前記補償用トランジスタに供給するように接続されたスイッチング用トランジスタを更に備えたことを特徴とする。
【0024】
本発明のトランジスタ回路によれば、スイッチングタイミング信号がスイッチング用トランジスタの第4ゲートに供給されると、入力信号が、該スイッチング用トランジスタの第4ソース及び第4ドレインを介して補償用トランジスタに供給される。この結果、スイッチングタイミング信号の供給タイミングで入力信号を駆動用トランジスタに供給することができる。
【0025】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記第1ゲートに接続された保持容量を更に備えたことを特徴とする。
【0026】
本発明のトランジスタ回路によれば、第1ゲートに入力信号が供給されるとその電圧は、該1ゲートに接続された保持容量により保持される。従って、入力信号を一定期間だけ供給した場合にも、それよりも長い期間に亘って第1ゲートにかかる電圧を保持することが可能となる。
【0027】
本構成では、補償用トランジスタを通じて、スイッチング用トランジスタにリーク電流がある場合でも、第1ゲートに印加される電位の変化を低減することが可能となる。
【0028】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記トランジスタは夫々、同一基板上に形成された薄膜トランジスタから構成されていることを特徴とする。
【0029】
本発明のトランジスタ回路によれば、同一基板上に形成された駆動用薄膜トランジスタにおける電流電圧特性やしきい値特性が駆動電流に及ぼす影響を補償用薄膜トランジスタにより補償することが出来る。特に、両薄膜トランジスタを同一基板上に同一薄膜形成工程で形成すれば、両トランジスタ間の特性類似の度合いは一般に増すため、電流電圧特性やしきい値特性のばらつきが少ない複数のトランジスタ回路を同一基板上で得ることが可能となる。
【0030】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記トランジスタは夫々、前記ゲート、ソース及びドレインがベース、コレクタ及びエミッタに夫々対応するバイポーラトランジスタから構成されている。
【0031】
本発明のトランジスタ回路によれば、駆動用バイポーラトランジスタにおける電流電圧特性やしきい値特性が駆動電流に及ぼす影響を補償用バイポーラトランジスタにより補償することが出来る。特に、両バイポーラトランジスタを同一製造工程で製造すれば、両トランジスタ間の特性類似の度合いは一般に増すため、電流電圧特性やしきい値特性のばらつきが少ない複数のトランジスタ回路を得ることが可能となる。
【0032】
本発明のトランジスタ回路は、上述のトランジスタ回路において、前記入力信号は、入力信号源により電圧が制御される電圧信号であり、前記駆動用トランジスタは、前記第1ソース及び第1ドレインの一方が電流制御型素子に接続されており、前記コンダクタンスを制御することにより該電流制御型素子に流れる電流を制御することを特徴とする。
【0033】
本発明のトランジスタ回路によれば、入力信号源により電圧が制御される電圧信号が、入力信号として補償用トランジスタを介して供給されると、駆動用トランジスタにおいて、この電圧信号の電圧変化に応じて第1ソース及び第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される。これにより、第1ソース及び第1ドレインの一方に接続された電流制御型素子は、電流制御される。従って、電流制御型素子を比較的低電圧の入力信号で電流駆動することが可能となり、しかも、複数の駆動用トランジスタ間における電流電圧特性やしきい値特性のばらつきによらずに、複数の電流駆動型素子を電圧信号の電圧に応じて精度良く電流制御することも可能となる。
【0034】
本発明の表示パネルは、上述のトランジスタ回路を夫々含むと共にマトリクス状に配置された複数の画素部を備え、電流制御型発光素子が前記電流制御型素子として該複数の画素部に夫々設けられたことを特徴とする。
【0035】
本発明の表示パネルによれば、各画素部において、入力信号が補償用トランジスタを介して供給されると、駆動用トランジスタによりこの入力信号の電圧に応じて電流制御型発光素子は電流制御されるので、駆動用トランジスタ間における電流電圧特性やしきい値特性のばらつきによらずに、電流制御型発光素子の明るさ(輝度)を精度良く制御することが出来、表示パネルの画面表示領域の全面に渡って明るさのむらを低減できる。更に、駆動用トランジスタのゲート電圧を補償用トランジスタにより昇圧することにより比較的低電圧の入力信号により電流制御型発光素子の制御を行うことも可能となる。
【0036】
上述の表示パネルにより電子機器を構成してもよい。
【0037】
上述の電子機器によれば、上述の表示パネルを備えるので、表示パネルの全面に渡って明るさのむらが少なく且つ比較的低電圧で駆動することも可能な電子機器を実現できる。
【0038】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施の形態から明らかにされよう。
【0039】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0040】
(トランジスタ回路)
先ず、本発明のトランジスタ回路の実施の形態について図1及び図2を参照して説明する。図1は、本実施の形態におけるトランジスタ回路の回路図であり、図2(A)及び(B)は夫々、該トランジスタ回路における各種信号のタイミング及び電圧を示したタイミングチャートである。
【0041】
図1において、トランジスタ回路100は、駆動用TFT110(Pチャネル型)、補償用TFT120(Pチャネル型)、リセット用TFT130(Nチャネル型)及びスイッチング用TFT140(Nチャネル型)を備えて構成されている。以下各トランジスタの構成について順に説明する。
【0042】
先ず、駆動用トランジスタの一例を構成する駆動用TFT110は、スイッチング用TFT140及び補償用TFT120を介して供給される入力信号に基づいてゲート111に印加されるゲート電圧Vgに応じて、ソース112及びドレイン113間のコンダクタンスが制御されるように構成されている。
【0043】
補償用トランジスタの一例を構成する補償用TFT120は、ゲート121がソース122及びドレイン123の一方(図1では、ドレイン123)に接続されている。即ち、補償用TFT120は所謂ダイオード接続されている。そして、補償用トランジスタ120は、ソース122及びドレイン123を介して、入力信号がゲート111に供給されるように且つゲート111に対しコンダクタンスを低める方向の電荷移動を可能とする向きで(図1では、ドレイン123の側が)ゲート111に接続されている。
【0044】
リセット手段の一例を構成するリセット用TFT130は、ソース132及びドレイン133の一方(図1では、ドレイン133)がゲート111に接続されており、ゲート131にリセットタイミング信号の一例としての電圧Vrscanのリセット走査信号(以下、リセット走査信号Vrscanと称す)が入力信号Vsigの供給前に供給された時に、ソース132及びドレイン133を介して電圧Vrsigのリセット信号(以下、リセット信号Vrsigと称す)をゲート111に供給するように構成されている。
【0045】
また、スイッチングトランジスタの一例を構成するスイッチング用TFT140は、ゲート141にスイッチングタイミング信号の一例としての電圧Vscanの走査信号(以下、走査信号Vscanと称す)が供給された時に、電圧Vsigの入力信号(以下、入力信号Vsigと称す)をソース142及びドレイン143を介して補償用TFT120に供給するように入力信号源及び補償用TFT120の間に接続されている。
【0046】
そして、駆動用トランジスタ110のソース112には、EL素子等の電流制御型(電流駆動型)素子500の一端が接続されており、この電流制御型素子500の他端には、所定電位の負電源−Vcが接続されている。また、駆動用トランジスタ110のドレイン113には、所定電位の正電源+Vcが接続されている。従って、駆動用トランジスタ110においてソース112及びドレイン113間のコンダクタンス制御が行われると、電流制御型素子500を流れる駆動電流Idが制御される(即ち、コンダクタンス変化に応じて駆動電流Idが変化する)。
【0047】
更に、駆動用トランジスタ110のゲート111には、保持容量160が接続されている。このため、一旦印加されたゲート電圧Vgは、保持容量160により保持される。
【0048】
次に、以上のように構成されたトランジスタ回路100の動作について図1と共に図2及び図3を参照して説明する。
【0049】
図2(A)に示すように、リセット走査信号Vrscanがリセット用TFT130に入力されると、リセット用TFT130が導通状態とされて、駆動用TFT110のゲート111には、リセット信号Vrsigが供給されて、ゲート111のゲート電圧Vgは、このリセット信号Vrsigの電圧Vrsigにほぼ等しいレベルとされる。この結果、入力信号Vsigの電圧Vsigの大小によらずに駆動用TFT110のゲート電圧Vgをリセット走査信号Vrsigの供給タイミングで一定電圧(即ち、電圧Vrsig)にリセットすることができる。
【0050】
そして、このリセット期間が終わり、走査信号Vscanがスイッチング用TFT140に供給されると、スイッチング用TFT140が導通状態とされて、駆動用TFT110のゲート111には、補償用TFT120を介してデータ信号Vsigが供給される。ここで、本実施の形態では特に補償用TFT120においてゲート121がドレイン123に接続されているため(即ち、ダイオード接続されているため)、負電圧をゲート111に印加することで道通状態とされるPチャネル型TFTである駆動用TFT110におけるゲート電圧Vgは、データ信号Vsigの電圧Vsigよりも補償用TFT120のしきい値電圧Vth2だけ負電圧側に降圧される。そして、このように降圧されたゲート電圧Vgは、走査信号Vscanや入力信号Vsigの供給停止後も、保持容量160により駆動期間中保持される。
【0051】
尚、リセット期間としては、ゲート電圧Vgがリセット信号Vrsigの電圧Vrsigとなる時間だけとれば十分である。このため、駆動期間をリセット期間よりも遥かに長く設定することができ、これにより、リセット期間中に駆動用TFT110がリセット信号Vrsigにより道通状態とされても、この間に駆動用TFT110のソース112及びドレイン113を介して流れる電流の駆動電流Idに対する影響を、無視できる程度に小さくできる。
【0052】
以上のように本実施の形態によれば、補償用TFT120のしきい値電圧Vth2の分だけ入力信号Vsigに対するゲート電圧Vgを降圧できるので、補償用TFT120がない場合と比較して、より低い入力信号Vsigの電圧Vsigを用いて同等のコンダクタンス制御を駆動用TFT110において行うことが可能となる。
【0053】
尚、図2(B)は、駆動用TFT110及び補償用TFT120を共にNチャネル型TFTから構成した場合のタイミングチャートであり、この場合には、正電圧をゲート111に印加することで道通状態とされるNチャネル型TFTである駆動用TFT110におけるゲート電圧Vgは、リセット時にリセット信号Vrsigの電圧Vrsigとされた後、入力信号Vsigの電圧Vsigよりも補償用TFT120のしきい値電圧Vth2だけ正電圧側に昇圧される。
【0054】
ここで、補償用TFT120を介することなく駆動用TFT110に入力信号Vsigを直接入力したとすると、即ち入力信号Vsigの電圧Vsigとゲート電圧Vgとが一致する場合には、図3(A)(これは駆動用TFT110がNチャネルの場合である)に示すように、駆動電流Idは、駆動用TFT110のしきい値電圧Vth1から立ち上がる特性を持つ。例えば、このしきい値電圧Vth1の設計基準値を2Vとすればしきい値のばらつきは±数V程度となる。そして、駆動用TFT110におけるしきい値電圧Vth1のばらつきがそのまま駆動電流Idのばらつきとして現われる。
【0055】
これに対し、本実施の形態では、補償用TFT120を介して駆動用TFT110に入力信号Vsigを入力するため、即ち入力信号Vsigの電圧Vsigを補償用TFT120のしきい値電圧Vth2の分だけ昇圧してゲート電圧Vgとする場合には、図3(B)(これは駆動用TFT110及び補償用TFT120が共にNチャネルの場合である)に示すように、補償用TFT120のしきい値電圧Vth2と駆動用TFT110のしきい値電圧Vth1とが相殺されて、トランジスタ回路100全体に対する入力信号Vsigのしきい値電圧Vthは零に近付くのである。そして、特に両しきい値電圧Vth1とVth2とがほぼ一致する場合には、このしきい値電圧Vthは、ほぼ零となる。このように、しきい値電圧Vth1とVth2とを一致させることは、例えば同一半導体基板上の近接位置に駆動用TFT110と補償用TFT120とを同型TFTから構成することにより比較的簡単にできる。このように構成すれば、両方のTFTにおける、薄膜形成されるゲート絶縁膜、半導体膜等の膜厚や、チャネル長等の各構成要素の平面形状や、チャネル形成用領域、ソース領域、ドレイン領域における不純物濃度や、動作時の温度状態などを容易に一致させることができるので、結局、両方のTFTのしきい値電圧Vth1とVth2とを完全に又はほぼ完全に一致させることが出来るのである。尚、しきい値特性を近似させる上では、チャネル長さは同じにする方が良いが、チャネル幅は同じでなくても良い。
【0056】
このように本実施の形態によれば、駆動用TFT110と補償用TFT120のしきい値特性や電圧電流特性を近付けることにより(理想的には一致させることにより)、駆動電流Idに対する入力信号Vsigのしきい値電圧Vthを零に近付ける(理想的には零に一致させる)ことが可能となる。
【0057】
更に、図3(A)及び図3(B)から判るように、複数のトランジスタ回路100を製造する場合に、各駆動用TFT110におけるしきい値電圧Vth1が相互にばらついたとしても、このしきい値電圧Vth1の大小によらずに、各補償用TFT120の作用により各トランジスタ回路100のしきい値電圧Vthは、零に近い値とされる。即ち、しきい値電圧Vthが一定の多数のトランジスタ回路100を製造できることになる。これは、後述のように多数のトランジスタ回路100間におけるしきい値電圧Vthのばらつきが問題となるような表示パネル用等の用途には特に役立つ。そして、各トランジスタ回路100において、相互に近接配置される一対の駆動用TFT110のしきい値電圧Vth1と補償用TFT120のしきい値電圧Vth2とを一致させることは、距離を隔てて別個に配置される二つの駆動用TFT110のしきい値電圧Vth1を一致させることよりも前述のように遥かに容易であるため、このように補償用TFT120により各トランジスタ回路100におけるしきい値電圧Vth1を補償する構成は、複数のトランジスタ回路100相互間のしきい値電圧Vthのばらつきを低減させるためには極めて効果的であると言える。
【0058】
以上のように本実施の形態によれば、トランジスタ回路100を複数作成する際に、しきい値電圧Vth1の相異なる複数の駆動用TFT110、即ち設計基準値としてのしきい値電圧(例えば、2.5V)から大きくばらついたしきい値電圧Vth1を夫々持つ複数の駆動用TFT110を用いたとしても、しきい値電圧Vthのばらつきが殆ど又は全くない複数のトランジスタ回路100を得ることが可能となる。このため、電流電圧特性についてTFTに要求される条件が緩くなり、歩留まりの向上及び製造コストの低減を図ることができる。
【0059】
尚、図3(A)及び図3(B)から判るように、しきい値電圧Vth1及びVth2を一致させることにより、各駆動用TFT110におけるコンダクタンス制御を入力信号Vsigの電圧Vsigよりも高いゲート電圧Vgを用いて行えるという第1の効果、及び複数のトランジスタ回路100間におけるしきい値電圧Vthのばらつきを低減するという第2の効果は、顕著に発揮されるが、各トランジスタ回路100において駆動用TFT110のしきい値電圧Vth1と補償用TFT120のしきい値電圧Vth2とを完全に一致させなくとも、両しきい値電圧は相殺しあう性質をもつので、両しきい値電圧の類似性に応じた程度でこれらの第1及び第2の効果は発揮される。
【0060】
本実施の形態では特に、ゲート111に対し入力信号Vsigに応じて制御されるコンダクタンスの最高値よりも高いコンダクタンスの値に対応する電圧を有するリセット信号Vrsigを供給するように構成されている。従って、入力信号Vsigの電圧値Vsigの大小によらずにリセット後に、このコンダクタンスを低める方向の電荷移動を可能とする向きでゲート111に接続された補償用TFT120を介して入力信号Vsigをゲート111に供給することが可能となる。しかも本実施の形態では、リセット信号Vrsigは、入力信号Vsigの最大電圧よりも補償用TFT120のしきい値電圧Vth2分以上大きい電圧に設定されている。従って、リセット後に入力信号Vsigが入力されると、入力信号Vsigの電圧Vsigの大小や補償用TFT120のしきい値電圧Vth2の大小によらずに常に、その入力信号Vsigの電圧Vsigよりも補償用TFT120のしきい値電圧Vth2分だけ高い電圧を、ゲート111に供給することが出来るのである。
【0061】
尚、従来の液晶表示素子で良く用いられている、入力信号Vsigの反転が行われる場合には、反転した入力信号も含めた全ての入力信号Vsigに対しても、上記のリセット信号Vsigの関係が成り立つことが望ましい。
【0062】
このリセット信号Vrsigの電圧設定による効果について図4及び図5を参照して検討を加える。ここで、図4は、しきい値の設計基準値を例えば−2.5Vとしてその基準値からのしきい値電圧のばらつきΔVthに対する駆動電流Idの変化を、(1)補償用TFT120無しで駆動用TFT110に直接入力信号Vsigを供給した場合(特性曲線C1)、(2)リセット信号Vrsigを5Vとして補償用TFT120を介して駆動用TFT110に入力信号Vsigを供給した場合(特性曲線C2)、及び(3)リセット信号Vrsigを0Vとして補償用TFT120を介して駆動用TFT110に入力信号Vsigを供給した場合(特性曲線C3)について夫々示したものである。また、図5(A)は、特性曲線C2に対応するゲート電圧Vgの変動範囲を示し、図5(B)は、特性曲線C3に対応するゲート電圧Vgの変動範囲を示す。なお、ここで、Vsig=7.5V、+Vc=10V、−Vc=5Vとしている。
【0063】
図4において、特性曲線C1で示したように、補償用TFT120無しの場合には、しきい値電圧のばらつきΔVthが、そのまま駆動電流Idのばらつきとして顕著に現われている。
【0064】
特性曲線C2で示したように、リセット信号Vrsigを5Vとして補償用TFTを用いた場合には、しきい値電圧のばらつきΔVthが、プラス側ではかなり補償されているが、マイナス側では、駆動電流Idのばらつきとして現われている。これは、図5(A)に示すようにマイナス側では、リセット後に入力信号Vsigが入力されたとき、ゲート電圧Vgを、入力信号Vsigよりも、しきい値電圧Vth2の分だけ負電圧側に降圧する(補償する)ことができないためである。何故なら、ダイオードである補償用TFT120は、ゲート電圧Vgをリセット信号Vrsigから入力信号Vsigへ近付けることは出来ても遠ざけることは出来ないからである。
【0065】
また、特性曲線C3で示したように、リセット信号Vrsigを0Vとして補償用TFTを用いた場合には、しきい値電圧のばらつきΔVthが、駆動電流Idのばらつきとして殆ど現われていない。これは、図5(B)に示すように、リセット後に入力信号Vsigが入力されたとき、ゲート電圧Vgを、入力信号Vsigよりも、しきい値電圧Vthの分だけ負電圧側に降圧する(補償する)ことができるためである。なお、ここで与えたVsig=7.5Vは、入力信号Vsigの最小電位だと考えれば、全てのVsigに対して補償できるかということに対して、上記考察が成り立つ。
【0066】
以上のように本実施の形態では、入力電圧Vsigの大小や補償用TFT110のしきい値電圧Vth2の大小によらずに常に、その入力信号Vsigの電圧よりも補償用TFT120のしきい値電圧Vth2分だけ低い電圧Vgを、駆動用TFT110のゲート111に印加することが出来るのである。
【0067】
尚、図2(A)及び図2(B)において、ゲート電圧Vgは駆動期間中、保持容量160により保持される。このため、保持容量160により、複数のトランジスタ回路100間におけるゲート電圧Vgの保持特性のばらつきをも低減(補償)することができる。
【0068】
以上図1から図5を用いて説明したように、本実施の形態のトランジスタ回路100によれば、EL素子等の電流制御型素子500を比較的低電圧の入力信号Vsigで電流駆動することが可能となり、しかも、複数の駆動用TFT110間における電流電圧特性やしきい値特性のばらつきによらずに、複数の電流制御型素子500を入力信号Vsigの電圧に応じて精度良く電流制御するができる。
【0069】
尚、図1に示した例では、Pチャネル型TFTとNチャネル型TFTとを混ぜて構成しているが、全てのTFTをNチャネル型TFTから構成してもよいし、或いは、全てのTFTをPチャネル型TFTから構成してもよい。但し、駆動用TFT110の電流電圧特性やしきい値特性を補償用TFT120で補償する観点からは、これらの駆動用TFT110及び補償用TFT120を同一工程により同型のTFTとして構成した方が有利である。特に、両TFTを同一薄膜形成工程で形成すれば、両TFT間の特性類似の度合いは一般に増すため、電流電圧特性やしきい値特性のばらつきが全く又は殆どないトランジスタ回路100を同一基板上で得ることが可能となる。他方、リセット用TFT130やスイッチング用TFT140は、駆動用TFT110がPチャネル型であるかNチャネル型であるかによらず、Pチャネル型でもNチャネル型でも構わない。但し、全てのTFTを同型のTFTとした方が製造上有利であることも多い。
【0070】
また、本実施の形態における各種のTFT110〜140を、接合型、並列・直列接続等のいずれの種類の電界効果トランジスタ(FET)から構成してもよい。
【0071】
更に、図6に示すように、上述の如きトランジスタ回路をバイポーラトランジスタから構成してもよい。この場合、上述のゲート、ソース及びドレインをベース、エミッタ及びコレクタに夫々対応させて、バイポーラトランジスタから駆動用トランジスタ110’を構成すると共にバイポーラトランジスタから補償用トランジスタ120’を構成して、トランジスタ回路100’とすればよい。一般にバイポーラトランジスタの場合には、しきい値電圧は、例えば0.7Vを中心として、そのばらつきはTFTと比較すると小さいが、このように構成しても、駆動用トランジスタ110’における電流電圧特性やしきい値特性のばらつきが駆動電流Idに及ぼす影響を補償用トランジスタ120’により補償することが出来る。更に、比較的低電圧で駆動用トランジスタ110’による駆動を行うことが出来る。特に、駆動用トランジスタ110’と補償用トランジスタ120’とを同一製造工程で製造すれば、これら両トランジスタ間の特性類似の度合いは一般に増すため、電流電圧特性やしきい値特性のばらつきが殆ど無い又は低減された多数のトランジスタ回路100’を得ることが可能となる。
【0072】
以上の実施の形態における電流制御型素子500としては、有機EL素子、無機EL素子等の電流制御型発光素子、電流制御型の熱転写素子など各種の素子が挙げられる。
【0073】
(表示パネル)
本発明の表示パネルの実施の形態について図7から図10を参照して説明する。図7は、表示パネルの全体構成を示すブロック図であり、図8は、表示パネルにおける一つの画素部の平面図であり、図9(A)、図9(B)及び図9(C)は夫々、そのA−A’断面図、B−B’断面図及びC−C’断面図であり、図10は、相隣接する4つの画素部の回路図である。
【0074】
本実施の形態における表示パネルは、上述した本発明のトランジスタ回路を夫々含むと共にマトリクス状に配置された複数の画素部を備えており、該複数の画素部には、電流制御型発光素子の一例としてEL素子50が夫々設けられて構成されている。
【0075】
図7に示すように、表示パネル200は、TFTアレイ基板1を有し、該TFTアレイ基板1上において複数の画素部2がマトリクス状に配置された画面表示領域には、Y方向に夫々伸びておりX方向に配列された複数のデータ線11と、X方向に夫々伸びておりY方向に配列された複数の走査線12と、複数のデータ線11と平行に並べられた複数の共通給電線13とを備えている。表示パネル1は更に、画面表示領域の周囲に、各データ線11にデータ信号を供給するデータ線駆動回路21と、各走査線12に走査信号を供給する一対の走査線駆動回路22と、各画素部2における道通不良、絶縁不良、素子の欠陥等を検査するための検査回路23とを備えて構成されている。なお、本実施の形態では、各駆動回路は、TFTアレイ基板1上に画素部2と共通の工程で形成されているが、TFTアレイ基板1上にない回路とされてもよいし、又は画素部2と別の工程で形成されてもよい。
【0076】
図8に示すように、各画素部2には、図1から図6を用いて説明した駆動用TFT110、補償用TFT120、リセット用TFT130、スイッチング用TFT140及び保持容量160が設けられている。そして、前段の走査線12bが図1におけるリセット走査信号Vrscan用の配線となり、当段の走査線12aが図1における走査信号Vscan用の配線及びリセット信号Vrsig用の配線となり、当段のデータ線11aが図1における入力信号Vsig(データ信号)用の配線となっている。更に、共通給電線13が正電源+Vに接続されており、EL素子50が駆動用TFT110と後述の対向電極との間に接続されており、該対向電極が負電源−Vに接続されている。
【0077】
図9(A)に示すように、スイッチング用TFT140、補償用TFT120及び保持容量160は、図8のA−A’断面に沿って、TFTアレイ基板上1に半導体膜(ポリシリコン膜)4、酸化シリコン膜や窒化シリコン膜からなるゲート絶縁膜5、Ta(タンタル)膜6、酸化シリコン膜や窒化シリコン膜からなる第1層間絶縁膜7及びAl膜8から構成されている。尚、ゲート電極形成用のTa膜6の代わりに、低抵抗ポリシリコン膜を成膜してもよい。
【0078】
より具体的には、スイッチング用TFT140は、ポリシリコン膜6からなるゲート141を持つトップゲート型のTFTであり、ゲート絶縁膜5を介してゲート141に対向する半導体層4部分をチャネル形成用領域として、その両側にn型に高濃度ドープされたソース142及びドレイン143を備えたNチャネル型のTFTとして構成されている。そして、ソース142は、ゲート絶縁膜5及び第1層間絶縁膜7に開孔されたコンタクトホールを介してAl膜8からなるデータ線11aに接続されている。また、ドレイン143は、ゲート絶縁膜5及び第1層間絶縁膜7に開孔されたコンタクトホール及びAl膜8を中継して、補償用TFT120に接続されている。
【0079】
補償用TFT120は、Ta膜6からなるゲート121を持つトップゲート型のTFTであり、ゲート絶縁膜5を介してゲート121に対向する半導体膜4部分をチャネル形成用領域として、その両側にp型に高濃度ドープされたソース122及びドレイン123を備えたPチャネル型のTFTとして構成されている。そして、ゲート絶縁膜5及び第1層間絶縁膜7に開孔されたコンタクトホール及びAl膜8を中継してスイッチング用TFT140及び保持容量160並びに駆動用TFT110のゲート111に接続されている。
【0080】
また、保持容量160は、2重のコンデンサ構成を有するように、半導体膜4、Ta膜6及びAl膜8が、ゲート絶縁膜5及び第1層間絶縁膜7を介して対向配置されて構成されている。そして保持容量を構成する半導体膜4部分は、ゲート絶縁膜5及び第1層間絶縁膜7に開孔されたコンタクトホールを介してAl膜8に接続されており、保持容量を構成するTa膜6部分は、第1層間絶縁膜7に開孔されたコンタクトホールを介してAl膜8に接続されている。
【0081】
図9(B)に示すように、リセット用TFT130は、図8のB−B’断面に沿って、TFTアレイ基板上1に半導体膜4、ゲート絶縁膜5、Ta膜6、第1層間絶縁膜7及びAl膜8から構成されている。
【0082】
より具体的には、リセット用TFT130は、Ta膜6からなるゲート131を持つトップゲート型のTFTであり、ゲート絶縁膜5を介してゲート131に対向する半導体層4部分をチャネル形成用領域として、その両側にn型に高濃度ドープされたソース132及びドレイン133を備えたNチャネル型のTFTとして構成されている。そしてソース132及びドレイン133は、ゲート絶縁膜5及び第1層間絶縁膜7に開孔されたコンタクトホール及びAl膜8を中継して、Ta膜6からなる当段の走査線12a及び駆動用TFT110のゲート111に夫々接続されている。
【0083】
また、図9(C)に示すように、駆動用TFT110は、図8のC−C’断面に沿って、TFTアレイ基板上1に半導体膜4、ゲート絶縁膜5、Ta膜6、第1層間絶縁膜7及びAl膜8から構成されている。そして、第2層間絶縁膜9上には、駆動用TFT110のドレイン113にコンタクトホール及びAl膜8を中継して接続されたITO膜51が形成され、その上にEL素子50が形成されている。他方、駆動用TFT110のソース112は、コンタクトホールを介してAl膜8からなる共通給電線13に接続されている。また、相隣接する画素部2におけるEL素子50は、電気絶縁性のバンク52により相隔てられている。好ましくは、バンク52は遮光性を持つものがよい。バンク52は、例えば、遮光性のレジストからなり、当該表示パネル200の画面表示領域の周囲を覆う周辺見切り領域にもバンク52を設けるようにしてもよい。そして、EL素子50上には、Al等の低抵抗金属或いはITO等からなる対向電極(上電極)56が設けられている。
【0084】
図10に示すように、表示パネル200においては特に、共通給電線13によりX方向に相隣接した画素部2の双方に対して正電源+Vが供給される構成を採り、正電源+V供給用の電源配線を単純に画素部2の列毎に設ける場合と比較して、電源配線の数を約1/2にしている。また、リセット用TFT130のゲート131に入力されるリセット走査信号Vrscanを前段の走査線12bにより供給し、リセット用TFT130に入力されるリセット信号Vrsigを当段の走査線12bにより供給する構成を採ることにより、リセット走査信号Vrscan専用の配線やリセット信号Vrsig専用の配線を設ける場合と比較して信号配線の数を減らしている。このように電源配線数や信号配線数を増やさないようにすることにより、従来の表示パネルには設けられていない補償用TFT120やリセット用TFT130を設けるスペースを確保することができる。勿論、本実施の形態と違って、各画素毎に共通給電線を設けて、各画素毎にパターンを同じにしたものや、リセット走査信号Vrscan専用の配線や、リセット信号Vrsig専用の配線を設けたものに対しても、本発明の思想は適用できる。
【0085】
尚、本実施の形態のように電流駆動型発光素子であるEL素子50を用いた表示パネル200の場合には、例えば、液晶パネルのように画素の開口領域を増やさなくても、発光素子に供給する電流量を増加させればこれに応じて自発光するが故に、画像表示に必要な明るさを得ることができる。従って、本実施の形態のように、配線の占める領域を節約して各種のTFTを画素部2に形成するスペースを確保してもよいし、各EL素子50の大きさを小さくすることにより各種のTFTを画素部2に形成するスペースを確保してもよい。
【0086】
次に、本実施の形態の表示パネル200の動作について図7及び図10を参照して説明する。
【0087】
走査線駆動回路22から前段の走査線12bに走査信号Vscanが供給されると、これが当段のリセット走査信号Vrscanとして、当段のリセット用TFT130のゲート131に入力される。これと並行して、走査線駆動回路22から当段の走査線12aにリセット信号Vrsigが供給されて、当段の駆動用TFT110のゲート電圧Vgは、リセット信号Vrsigの電位とされる(図2(A)参照)。このとき、リセット信号Vrsigは、走査信号Vscanのオフ電位と同一でもかまわない。続いて、走査線駆動回路22から当段の走査線12aに走査信号Vscanが供給されると、これが当段のスイッチング用TFT140のゲート141に入力される。これと並行して、データ線駆動回路21から当段のデータ線11aに入力信号Vsig(データ信号)が供給されて、スイッチング用TFT140及び補償用TFT120を介して、この電圧Vsigが補償用TFT120のしきい値電圧Vth2分だけ降圧されて、当段の駆動用TFT110のゲート111に、ゲート電圧Vgとして供給される(図2(A)参照)。この結果、この降圧されたゲート電圧Vgに応じて、駆動用TFT110のソース112及びドレイン113間のコンダクタンスが制御されて、正電源+V及び負電源−Vの間で、EL素子50を流れる駆動電流Idが制御される。
【0088】
従って、各画素部2に設けられた駆動用TFT110におけるしきい値電圧Vth1のばらつきが補償用TFT120のしきい値Vth2により補償されて、複数の画素部2間における駆動電流Idに対するデータ信号Vsigのしきい値のばらつきが殆どなくなり、表示パネル200の画面表示領域全体にわたって均一の明るさでむらのない画像表示が可能とされる。また、補償用TFT120による降圧作用により比較的小さい電圧のデータ信号Vsigを用いて駆動電流Idを制御することも可能とされる。
【0089】
以上の実施の形態では、リセット用TFT130によりゲート電圧Vgを入力信号Vsigの供給前にリセットしているが、例えば、静止画を表示する期間には、同じ入力信号Vsigにより複数フレームに亘って駆動電流Idの制御を行えばよいので、係るリセット動作を各走査毎に行う必要はない。また、このように電気的なリセット信号Vrsigの代わりに光照射によりゲート電圧Vgをリセットする(所定のリセット電圧にする)ように構成してもよい。更にまた、リセット用TFT130の代わりにスイッチング用TFT140や補償用TFT120を介してリセット信号Vrsigを供給するように構成してもよい。他方、アクティブマトリクス駆動の如くスイッチングを行わない用途であれば、スイッチング用TFT140やスイッチング動作が不要なことは言うまでもない。
【0090】
(電子機器)
次に、以上詳細に説明した表示パネル200を備えた電子機器の実施の形態について図11から図13を参照して説明する。
【0091】
先ず図11に、このように表示パネル200を備えた電子機器の概略構成を示す。
【0092】
図11において、電子機器は、表示情報出力源1000、表示情報処理回路1002、駆動回路1004、表示パネル1006、クロック発生回路1008並びに電源回路1010を備えて構成されている。
【0093】
前述した実施の形態における表示パネル200は、本実施の形態における表示パネル1006及び駆動回路1004に相当する。従って、表示パネル1006を構成するTFTアレイ基板の上に、駆動回路1004を搭載してもよく、更に表示情報処理回路1002等を搭載してもよい。或いは、表示パネル1006を搭載するTFTアレイ基板に対し駆動回路1004を外付けして構成してもよい。
【0094】
表示情報出力源1000は、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、光ディスク装置などのメモリ、テレビ信号を同調して出力する同調回路等を含み、クロック発生回路1008からのクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号などの表示情報を表示情報処理回路1002に出力する。表示情報処理回路1002は、増幅・極性反転回路、相展開回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、クランプ回路等の周知の各種処理回路を含んで構成されており、クロック信号に基づいて入力された表示情報からデジタル信号を順次生成し、クロック信号CLKと共に駆動回路1004に出力する。駆動回路1004は、表示パネル200を駆動する。電源回路1010は、上述の各回路に所定電源を供給する。
【0095】
次に図12から図13に、このように構成された電子機器の具体例を夫々示す。
【0096】
図12において、電子機器の他の例たるマルチメディア対応のラップトップ型のパーソナルコンピュータ(PC)1200は、上述した表示パネル200がトップカバーケース1206内に備えられており、更にCPU、メモリ、モデム等を収容すると共にキーボード1202が組み込まれた本体1204を備えている。
【0097】
また図13に示すように、駆動回路1004や表示情報処理回路1002を搭載しない表示パネル1304の場合には、駆動回路1004や表示情報処理回路1002を含むIC1324がポリイミドテープ1322上に実装されたTCP(Tape Carrier Package)1320に、TFTアレイ基板1の周辺部に設けられた異方性導電フィルムを介して物理的且つ電気的に接続して、表示パネルとして、生産、販売、使用等することも可能である。
【0098】
以上図12から図13を参照して説明した電子機器の他にも、テレビ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、エンジニアリング・ワークステーション(EWS)、携帯電話、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等などが図11に示した電子機器の例として挙げられる。
【0099】
以上説明したように、本実施の形態によれば、表示パネルの全面に渡って明るさのむらが少なく且つ比較的低電圧で駆動することも可能な各種の電子機器を実現できる。
【0100】
【発明の効果】
本発明のトランジスタ回路によれば、補償用トランジスタのしきい値電圧の分だけ入力信号の電圧に対してゲート電圧を降圧もしくは昇圧できるので、低い入力信号の電圧により駆動用トランジスタにおけるコンダクタンス制御を行うことができる。更に、補償用トランジスタと駆動用トランジスタとのしきい値特性や電圧電流特性を近付けることにより、駆動電流に対する入力信号のしきい値電圧を零に近付けることも可能となる。更にまた、複数のしきい値特性の相異なる駆動用トランジスタを用いて当該トランジスタ回路を複数作成した場合に、複数のしきい値電圧の異なる複数の駆動用トランジスタ、即ち設計基準値から大きくばらついたしきい値電圧を夫々持つ複数の駆動用トランジスタを用いたとしても、複数のトランジスタ回路におけるしきい値電圧のばらつきが殆ど又は全くない複数のトランジスタ回路を得ることも可能となる。
【0101】
本発明の表示パネルによれば、明るさむらが低減された画像表示を低電圧の入力信号を用いて実現できる。
【0102】
また、本発明の電子機器によれば、高品位の画像表示が可能な、パーソナルコンピュータ、ページャ等の様々な電子機器を実現可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】トランジスタ回路の一実施の形態における回路図である。
【図2】図1のトランジスタ回路における各種信号のタイミングチャート(図2(A))、及び図1のトランジスタ回路の変形例における各種信号のタイミングチャート(図2(B))である。
【図3】駆動用TFTを備えた比較例におけるしきい値特性を示す特性図(図3(A))、及び補償用TFTと駆動用TFTとを備えた本実施の形態におけるしきい値特性を示す特性図(図3(B))である。
【図4】しきい値のばらつきΔVthに対する駆動電流Idの変化を各種の場合について示す特性図である。
【図5】本実施の形態においてリセット信号Vrsigを5Vにした場合の補償用TFTによる降圧作用を示すタイミングチャート(図5(A))、及びリセット信号Vrsigを0Vにした場合の補償用TFTによる降圧作用を示すタイミングチャート(図5(B))である。
【図6】トランジスタ回路の他の実施の形態における回路図である。
【図7】表示パネルの実施の形態の全体構成を示す平面図である。
【図8】図7の表示パネルの一画素部の平面図である。
【図9】図8のA−A’断面図(図9(A))、B−B’断面図(図9(B))及びC−C’断面図(図9(C))である。
【図10】図7の表示パネルにおける相隣接する4つの画素部の回路図である。
【図11】本発明による電子機器の実施の形態の概略構成を示すブロック図である。
【図12】電子機器の一例としてのパーソナルコンピュータを示す正面図である。
【図13】電子機器の他の例としてのTCPを用いた液晶装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
1…TFTアレイ基板
2…画素部
11…データ線
12…走査線
13…共通給電線
21…データ線駆動回路
22…走査線駆動回路
23…検査回路
50…EL素子
100…トランジスタ回路
110…駆動用TFT
120…補償用TFT
130…リセット用TFT
140…スイッチング用TFT
160…保持容量
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention belongs to the technical field of a transistor circuit including a plurality of transistors such as a thin film transistor (hereinafter, referred to as a TFT), a field-effect transistor, and a bipolar transistor, and particularly relates to a source and a drain depending on a voltage supplied to a gate. A transistor circuit comprising a driving transistor for controlling a drive current supplied to a driven element such as a current control type (current drive type) element via the source and the drain by controlling conductance between the source and the drain Belongs to the technical field.
[0002]
[Prior art]
In general, a transistor has a voltage-current characteristic and a threshold value depending on various conditions such as a film quality of a semiconductor film, a film thickness, an impurity concentration and a diffusion region, a film quality of a gate insulating film, a film thickness, and an operating temperature. Large or small variations occur. In the case of a bipolar transistor using crystal silicon, such a variation in threshold value is relatively small, but in the case of a TFT, such variation is usually large. In particular, in the case of a large number of TFTs formed over a wide area on a TFT array substrate in a display panel such as a liquid crystal panel, an EL panel, etc., such variations in current-voltage characteristics and threshold values become extremely large. There are many. For example, even if the TFT of this type is manufactured to have a threshold value of about 2 V (volts) (+2 V for the N channel and −2 V for the P channel), the variation may be about ± several volts.
[0003]
Here, in the case of a voltage control (voltage drive) method for controlling the voltage of a pixel portion made of liquid crystal or the like as in the case of a so-called TFT liquid crystal panel or the like, the voltage-current characteristics of a driving TFT provided in each pixel portion are determined. It is relatively unlikely that the variation in the threshold value becomes a problem. That is, in this case, even if there is some variation in the current-voltage characteristics and the threshold value of the TFT, if a sufficient switching time is given, the accuracy of the voltage supplied to each pixel portion from the outside via the TFT can be improved. This is because by increasing the display density, the display density and brightness in each pixel portion can be accurately controlled. Accordingly, even in a display TFT liquid crystal panel or the like in which display density and brightness unevenness in each pixel portion are regarded as important, high-quality images can be obtained by using TFTs having relatively large variations in current-voltage characteristics and threshold values. Display etc. can be performed.
[0004]
On the other hand, in recent years, a display panel provided with a current control type light emitting element such as an organic EL which emits light in such a manner that its brightness changes in accordance with a current supply amount in a pixel portion has been developed. It has attracted attention as a display panel that can display an image without power consumption, has low power consumption, has little dependence on viewing angle, and sometimes realizes flexibility. Also in the case of this EL panel, a driving TFT is used in each pixel portion in order to perform active matrix driving. For example, the driving TFT connected to the EL element through a hole injection electrode at the drain of the driving TFT and supplied to the EL element from a power supply wiring connected to the source according to the voltage of the data signal applied to the gate. It is configured to control (change) the current. When the driving TFT is used as described above, the driving current flowing through the EL element is controlled by controlling the conductance between the source and the drain according to the voltage change of the input signal, and the brightness (luminance) in each pixel portion is controlled. Can be changed, and image display and the like can be performed.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, in particular, in the case of a current control type element such as the above-mentioned EL panel and the like, there is a problem in the variation of the voltage-current characteristic and the threshold value in the driving TFT provided in each pixel portion. That is, in this case, even if the voltage accuracy of the data signal supplied to the driving TFT from the outside is increased to some extent, the variation in the voltage-current characteristics and the threshold value in the driving TFT may be regarded as the variation in the driving current with respect to the data signal. Since it appears as it is, the accuracy of the drive current is reduced. As a result, the brightness in each pixel portion also varies according to the variation in the threshold value of the driving TFT. In particular, in the current low-temperature polysilicon TFT manufacturing technology, such a variation in the voltage-current characteristics and the threshold value occurs to a considerable degree, so that this problem is extremely large in practical use.
[0006]
In order to solve this problem, if each TFT is manufactured so as to reduce the variation in the voltage-current characteristics and the threshold value, the yield is reduced, and in particular, an apparatus configured using a large number of TFTs, such as a display panel. In this case, the yield is extremely reduced, which is contrary to the general demand for cost reduction. Alternatively, it is almost impossible to manufacture a TFT that reduces such variations. Further, even if an attempt is made to separately provide a circuit for compensating the variation of the current-voltage characteristic and the threshold value of each TFT, the device becomes complicated and large, and the power consumption increases. In the arrayed display panels, it is expected that the yield will decrease again, or that it will be difficult to respond to recent demands for lower power consumption and smaller and lighter devices.
[0007]
The present invention has been made in view of the above-described problems, and is a transistor circuit that performs conductance control in a driving transistor according to a voltage of an input signal. The conductance control can be performed by a relatively low-voltage input signal. A transistor circuit capable of compensating for variations in current-voltage characteristics and threshold characteristics of driving transistors with relatively small power consumption using a relatively small number of transistors, and a display panel using the same. And an electronic device.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The first array substrate of the present invention includes a plurality of scanning lines, a plurality of data lines, and a plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines, Wherein each of the plurality of transistor circuits has a first gate, a first source, and a first drain, between the first source and the first drain according to an input signal supplied to the first gate. And a driving transistor whose conductance is controlled, wherein the first gate is reset to a predetermined voltage before the input signal is supplied.
The second array substrate of the present invention includes a plurality of scanning lines, a plurality of data lines, and a plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines, Wherein each of the plurality of transistor circuits has a first gate, a first source, and a first drain, between the first source and the first drain according to an input signal supplied to the first gate. And a resetting means for setting the first gate to a predetermined voltage before the input signal is supplied.
A third array substrate according to the present invention includes a plurality of scanning lines, a plurality of data lines, and a plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines, Wherein each of the plurality of transistor circuits has a first gate, a first source, and a first drain, between the first source and the first drain according to an input signal supplied to the first gate. And a reset means for supplying a reset signal to the first gate before the input signal is supplied.
In the above array substrate, each of the plurality of transistor circuits may compensate for variation in the threshold value of the driving transistor when the input signal is supplied.
The above-mentioned array substrate may include a compensation transistor having a second gate, a second source, and a second drain, wherein the second gate is connected to the first gate.
In the above array substrate, the reset means is a reset transistor having a third gate, a third source, and a third drain provided in each of the plurality of transistor circuits, and the third source and the third drain Is connected to the first gate, and when a reset timing signal is supplied to the third gate before the input signal is supplied, the reset signal is supplied to the first gate via the reset transistor. It may be supplied.
In the above array substrate, each of the plurality of transistor circuits further includes a switching transistor having a fourth gate, a fourth source, and a fourth drain, and a scanning line corresponding to the fourth gate among the plurality of scanning lines Are preferably connected.
In the above array substrate, the reset signal may be set to a voltage higher than a maximum voltage of the input signal by a threshold voltage of the compensation transistor.
The transistor circuit of the present invention has a first gate, a first source, and a first drain, and the conductance between the first source and the first drain is controlled according to an input signal supplied to the first gate. Including a driving transistor,
Reset means for resetting the first gate to a predetermined voltage before the input signal is supplied.
A first display panel of the present invention includes the above array substrate and a light emitting element connected to one of the first source and the drain.
In the above display panel, a current driven element may be used instead of the light emitting element.
The second display panel of the present invention includes a plurality of scanning lines, a plurality of data lines, and a plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines, Wherein each of the plurality of transistor circuits has a first gate, a first source, and a first drain, and an input supplied to the first gate via a corresponding data line among the plurality of data lines. A drive transistor whose conductance between the first source and the first drain is controlled in accordance with a signal; and a light emitting element connected to one of the first source and the first drain; Is supplied to the first gate, the first gate is reset to a predetermined voltage.
A third display panel according to the present invention includes a plurality of scan lines, a plurality of data lines, a plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scan lines and the plurality of data lines, Wherein each of the plurality of transistor circuits has a first gate, a first source, and a first drain, and an input supplied to the first gate via a corresponding data line among the plurality of data lines. A drive transistor whose conductance between the first source and the first drain is controlled in accordance with a signal; and a light emitting element connected to one of the first source and the first drain; Is provided with reset means for resetting the first gate to a predetermined voltage before being supplied to the first gate.
A first method for driving a display panel according to the present invention is a method for driving a display panel including a scanning line, a data line, and a transistor circuit, wherein the first gate, the first source, and the first source included in the transistor circuit are included. An input signal is supplied to the first gate of the driving transistor having one drain via the data line, and the first gate is reset to a predetermined voltage before supplying the input signal. .
A second method for driving a display panel according to the present invention is a method for driving a display panel including a scan line, a data line, and a transistor circuit, wherein a scan signal is included in the transistor circuit via the scan line. To the gate of the switching transistor to be input to the first gate of the driving transistor having the first gate, the first source, and the first drain included in the transistor circuit via the data line and the switching transistor. A reset signal is supplied to a gate of a reset transistor, and a reset signal is supplied to the first gate via the reset transistor.
An electronic device according to another aspect of the invention includes the display panel described above.
Further, in order to solve the above problem, the transistor circuit of the present invention has a first gate, a first source, and a first drain, and the first source, the first source and the first drain are supplied in accordance with a voltage of an input signal supplied to the first gate. A driving transistor whose conductance between the first drains is controlled, a second gate, a second source and a second drain, wherein the second gate is connected to one of the second source and the second drain; The first signal is supplied to the first gate via the second source and the second drain, and the first signal is supplied to the first gate in such a direction as to allow the charge to move in a direction to reduce the conductance. A compensating transistor connected to the gate.
[0009]
According to the transistor circuit of the present invention, one of the second source and the second drain of the compensating transistor is connected to the first gate of the driving transistor, and the driving is performed via the second source and the second drain. An input signal is supplied to the first gate of the transistor for use. Then, in the driving transistor, the conductance between the first source and the first drain is controlled according to the voltage of the input signal supplied to the first gate. Here, the compensating transistor has a second gate connected to the second drain, and the first gate has a first direction in which the charge can be transferred to the first gate in a direction to reduce the conductance between the first source and the first drain. Connected to the gate. That is, the compensating transistor has diode characteristics. For example, if the driving transistor is an N-channel type, current can be supplied only from the first gate to the input signal source. Alternatively, if the driving transistor is a P-channel type, current can flow from the input signal source to the first gate.
[0010]
Therefore, when the input signal is supplied to the transistor circuit, the gate voltage of the first gate is smaller than the threshold voltage of the compensation transistor, as compared with the voltage of the input signal at the time when the signal is input to the compensation transistor. As a result, the voltage is boosted to the side where the conductance of the driving transistor is increased. Therefore, in order to obtain a desired conductance in the driving transistor, an input signal having a voltage lower than the gate voltage corresponding to the conductance by the threshold value (voltage) of the compensating transistor is supplied through the compensating transistor. That's all we need to do. As described above, since the gate voltage for the input signal can be boosted by the threshold value (voltage) of the compensating transistor, the same conductance control can be performed with a lower input signal voltage as compared with the case where no compensating transistor is provided. It is possible to do.
[0011]
Generally, this input signal often has a higher frequency than other signals, and if a lower input signal is sufficient, considerable reduction in power consumption can be expected.
[0012]
Further, as described above, when the voltage of the input signal is boosted by the compensating transistor to be the gate voltage at the first gate, when the transistor circuit is viewed as a whole, the conductance of the driving transistor is controlled via the source and the drain. The threshold value of the input signal with respect to the flowing driving current is lower than the threshold voltage of the driving transistor by the threshold voltage of the compensating transistor which is a boosted voltage from the input voltage to the gate voltage. That is, in the threshold value of the input voltage with respect to the drive current, the threshold value of the compensation transistor and the threshold value of the drive transistor are offset. Therefore, the threshold value of the input signal with respect to the drive current can be made close to zero by making the threshold characteristics and the voltage-current characteristics of both of them close to each other.
[0013]
Furthermore, by canceling out the threshold value of the driving transistor and the threshold value of the compensating transistor in the entire transistor circuit as described above, the transistor circuit can be controlled regardless of the threshold value of the driving transistor. The threshold value of the input signal as a whole can approach a certain value (zero). That is, when a plurality of transistor circuits are formed using a plurality of driving transistors having different threshold values, if the threshold values of the driving transistor and the compensating transistor in each transistor circuit are close to each other (ideal If the two are matched, the difference in threshold value between the transistor circuits is smaller than the difference in threshold value between the driving transistors (ideally, the difference is almost eliminated). ). Therefore, even when a plurality of driving transistors having different threshold values are used when a plurality of the transistor circuits are formed, a plurality of transistor circuits with little or no variation in threshold value can be obtained. Become.
[0014]
The transistor circuit of the present invention is the above-described transistor circuit, wherein the reset signal having a voltage corresponding to a value of conductance higher than the highest value of the conductance controlled according to the input signal to the first gate is input to the first gate. A reset means for supplying before a signal is supplied is provided.
[0015]
According to the transistor circuit of the present invention, before an input signal is supplied to the first gate of the driving transistor (or after one input signal is supplied and before the next input signal is supplied), The reset means supplies the first gate with a reset signal having a voltage corresponding to a value of conductance higher than the highest value of the conductance of the driving transistor controlled according to the input signal. As a result, the gate voltage of the driving transistor can be set to a constant value by the reset means regardless of the magnitude of the voltage value of the input signal, and after reset, the charge can be moved in the direction of decreasing the conductance. An input signal can be supplied to the first gate via the compensation transistor connected to the first gate.
[0016]
The transistor circuit according to the present invention is characterized in that in the above-described transistor circuit, the reset signal is set to a voltage higher than a maximum voltage of the input signal by a threshold voltage of the compensation transistor.
[0017]
According to the transistor circuit of the present invention, the reset means supplies the reset signal having a voltage higher than the input signal to the first gate of the driving transistor. Moreover, since the voltage of the reset signal is set to be higher than the maximum voltage of the input signal by the threshold voltage of the compensating transistor, if the input signal is input after the reset, the voltage of the input signal will be reduced. A voltage higher than the voltage of the input signal by the threshold voltage of the driving transistor is always applied to the first gate of the driving transistor via the compensation transistor regardless of the threshold value of the driving transistor. Can be supplied.
[0018]
In the transistor circuit of the present invention, in the above-described transistor circuit, the reset unit has a third gate, a third source, and a third drain, and one of the third source and the third drain is connected to the first gate. And a reset transistor for supplying the reset signal to the first gate via the third source and the third drain when a reset timing signal is supplied to the third gate before the input signal is supplied. It is characterized by having.
[0019]
According to the transistor circuit of the present invention, when the reset timing signal is supplied to the third gate of the reset transistor, the reset signal is applied by the reset transistor via the third source and the third drain to the drive transistor. Is supplied to the first gate. As a result, the gate voltage of the driving transistor can be reset to a constant value at the supply timing of the reset timing signal. Therefore, the operation described for the above-described transistor circuit can be performed thereafter.
[0020]
The transistor circuit of the present invention is characterized in that in the above-described transistor circuit, the driving transistor and the compensation transistor are transistors of the same type.
[0021]
According to the transistor circuit of the present invention, the driving transistor and the compensating transistor are transistors of the same type. Here, the “same type” means that if the driving transistor is an N-channel type, The transistor is also an N-channel transistor, and if the driving transistor is a P-channel transistor, the compensating transistor is also a P-channel transistor. Therefore, the threshold value of the compensating transistor and the threshold value of the driving transistor become substantially equal to each other, and these threshold values cancel each other in the transistor circuit. As a result, the input signal with respect to the driving current is reduced. It is also possible to perform conductance control by setting the threshold value to substantially zero. Further, even when the plurality of transistor circuits are constituted by a plurality of driving transistors having different threshold values, it is possible to compensate for variations in the threshold values.
[0022]
Further, by making the design values such as the channel width and channel length of the transistor, the device structure, the process conditions, and the like equal between the driving transistor and the compensating transistor, more complete compensation can be achieved.
[0023]
The transistor circuit of the present invention is the above-described transistor circuit, further including a fourth gate, a fourth source, and a fourth drain. When a switching timing signal is supplied to the fourth gate, the input signal is transmitted to the fourth source and the fourth source. A switching transistor connected to supply to the compensation transistor via a fourth drain is further provided.
[0024]
According to the transistor circuit of the present invention, when the switching timing signal is supplied to the fourth gate of the switching transistor, the input signal is supplied to the compensation transistor via the fourth source and the fourth drain of the switching transistor. Is done. As a result, the input signal can be supplied to the driving transistor at the supply timing of the switching timing signal.
[0025]
The transistor circuit of the present invention is characterized in that, in the above-described transistor circuit, a storage capacitor connected to the first gate is further provided.
[0026]
According to the transistor circuit of the present invention, when an input signal is supplied to the first gate, the voltage is held by the storage capacitor connected to the one gate. Therefore, even when the input signal is supplied only for a certain period, the voltage applied to the first gate can be held for a longer period.
[0027]
With this configuration, it is possible to reduce the change in the potential applied to the first gate even when the switching transistor has a leak current through the compensation transistor.
[0028]
A transistor circuit according to the present invention is characterized in that in the above-described transistor circuit, each of the transistors is constituted by a thin film transistor formed on the same substrate.
[0029]
According to the transistor circuit of the present invention, the influence of the current-voltage characteristic and the threshold characteristic of the driving thin film transistor formed on the same substrate on the driving current can be compensated for by the compensation thin film transistor. In particular, if both thin film transistors are formed on the same substrate by the same thin film forming process, the degree of similarity in characteristics between the two transistors generally increases, so that a plurality of transistor circuits with small variations in current-voltage characteristics and threshold characteristics are mounted on the same substrate. Above.
[0030]
In the transistor circuit of the present invention, in the above-described transistor circuit, each of the transistors is a bipolar transistor whose gate, source, and drain correspond to a base, a collector, and an emitter, respectively.
[0031]
According to the transistor circuit of the present invention, the influence of the current-voltage characteristic and the threshold characteristic of the driving bipolar transistor on the driving current can be compensated for by the compensating bipolar transistor. In particular, if both bipolar transistors are manufactured in the same manufacturing process, the degree of similarity in characteristics between the two transistors generally increases, so that it is possible to obtain a plurality of transistor circuits with small variations in current-voltage characteristics and threshold characteristics. .
[0032]
In the transistor circuit of the present invention, in the above-described transistor circuit, the input signal is a voltage signal whose voltage is controlled by an input signal source, and the driving transistor is configured such that one of the first source and the first drain has a current. It is connected to a control type element, and controls a current flowing through the current control type element by controlling the conductance.
[0033]
According to the transistor circuit of the present invention, when the voltage signal whose voltage is controlled by the input signal source is supplied as the input signal via the compensating transistor, the driving transistor responds to the voltage change of the voltage signal. The conductance between the first source and the first drain is controlled. Thereby, the current control type element connected to one of the first source and the first drain is current controlled. Accordingly, it is possible to drive the current control element with a relatively low-voltage input signal, and furthermore, it is possible to drive a plurality of currents regardless of variations in current-voltage characteristics and threshold characteristics among a plurality of driving transistors. It is also possible to accurately control the current of the drive element according to the voltage of the voltage signal.
[0034]
The display panel of the present invention includes a plurality of pixel portions each including the above-described transistor circuit and arranged in a matrix, and a current control type light emitting element is provided in each of the plurality of pixel portions as the current control type element. It is characterized by the following.
[0035]
According to the display panel of the present invention, in each pixel portion, when an input signal is supplied through the compensation transistor, the current control type light emitting element is current-controlled by the driving transistor according to the voltage of the input signal. Therefore, the brightness (luminance) of the current control type light emitting element can be accurately controlled without depending on the variation of the current-voltage characteristics and the threshold characteristics between the driving transistors, and the entire surface of the screen display area of the display panel can be controlled. Can reduce uneven brightness. Further, by boosting the gate voltage of the driving transistor by the compensating transistor, it becomes possible to control the current control type light emitting element with a relatively low voltage input signal.
[0036]
An electronic device may be configured using the above-described display panel.
[0037]
According to the electronic device described above, since the above-described display panel is provided, it is possible to realize an electronic device that has less uneven brightness and can be driven at a relatively low voltage over the entire surface of the display panel.
[0038]
The operation and other advantages of the present invention will become more apparent from the embodiments explained below.
[0039]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0040]
(Transistor circuit)
First, an embodiment of a transistor circuit of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a circuit diagram of a transistor circuit in this embodiment, and FIGS. 2A and 2B are timing charts showing timings and voltages of various signals in the transistor circuit, respectively.
[0041]
In FIG. 1, the transistor circuit 100 includes a driving TFT 110 (P-channel type), a compensation TFT 120 (P-channel type), a reset TFT 130 (N-channel type), and a switching TFT 140 (N-channel type). I have. Hereinafter, the configuration of each transistor will be described in order.
[0042]
First, a driving TFT 110 constituting an example of a driving transistor includes a source 112 and a drain 112 according to a gate voltage Vg applied to a gate 111 based on an input signal supplied through a switching TFT 140 and a compensation TFT 120. It is configured such that the conductance between 113 is controlled.
[0043]
The gate 121 of the compensating TFT 120 which is an example of the compensating transistor is connected to one of the source 122 and the drain 123 (the drain 123 in FIG. 1). That is, the compensation TFT 120 is so-called diode-connected. Then, the compensating transistor 120 is oriented such that an input signal is supplied to the gate 111 via the source 122 and the drain 123 and charge can be transferred to the gate 111 in a direction of decreasing the conductance (in FIG. 1, , Drain 123 side) is connected to gate 111.
[0044]
One of the source 132 and the drain 133 (the drain 133 in FIG. 1) of the reset TFT 130 that constitutes an example of the reset unit is connected to the gate 111, and the gate 131 is reset to the voltage Vrscan as an example of a reset timing signal. When a scan signal (hereinafter, referred to as a reset scan signal Vrsig) is supplied before the input signal Vsig is supplied, a reset signal of the voltage Vrsig (hereinafter, referred to as a reset signal Vrsig) is supplied via the source 132 and the drain 133 to the gate 111. It is configured to supply to.
[0045]
Further, the switching TFT 140 forming an example of the switching transistor supplies an input signal of the voltage Vsig (hereinafter, referred to as a scanning signal Vscan) to the gate 141 when a scanning signal of the voltage Vscan as an example of a switching timing signal is supplied. Hereinafter, the input signal Vsig is connected between the input signal source and the compensation TFT 120 so as to supply the compensation signal to the compensation TFT 120 via the source 142 and the drain 143.
[0046]
One end of a current control type (current drive type) element 500 such as an EL element is connected to the source 112 of the driving transistor 110, and the other end of the current control type element 500 has a negative potential of a predetermined potential. The power supply -Vc is connected. Further, a positive power supply + Vc of a predetermined potential is connected to the drain 113 of the driving transistor 110. Therefore, when conductance control between the source 112 and the drain 113 is performed in the drive transistor 110, the drive current Id flowing through the current control element 500 is controlled (that is, the drive current Id changes according to the change in conductance). .
[0047]
Further, a storage capacitor 160 is connected to the gate 111 of the driving transistor 110. Therefore, the gate voltage Vg once applied is held by the holding capacitor 160.
[0048]
Next, the operation of the transistor circuit 100 configured as described above will be described with reference to FIGS.
[0049]
As shown in FIG. 2A, when the reset scanning signal Vrscan is input to the reset TFT 130, the reset TFT 130 is turned on, and the gate 111 of the driving TFT 110 is supplied with the reset signal Vrsig. , Gate voltage Vg of gate 111 is set to a level substantially equal to voltage Vrsig of reset signal Vrsig. As a result, the gate voltage Vg of the driving TFT 110 can be reset to a constant voltage (that is, the voltage Vrsig) at the supply timing of the reset scanning signal Vrsig regardless of the magnitude of the voltage Vsig of the input signal Vsig.
[0050]
Then, when this reset period ends and the scanning signal Vscan is supplied to the switching TFT 140, the switching TFT 140 is turned on, and the gate 111 of the driving TFT 110 receives the data signal Vsig via the compensation TFT 120. Supplied. Here, in this embodiment, in particular, in the compensation TFT 120, since the gate 121 is connected to the drain 123 (that is, it is diode-connected), a negative voltage is applied to the gate 111 to make the TFT 111 pass-through. The gate voltage Vg of the driving TFT 110, which is a P-channel TFT, is lowered to the negative voltage side by the threshold voltage Vth2 of the compensating TFT 120 from the voltage Vsig of the data signal Vsig. The reduced gate voltage Vg is held by the holding capacitor 160 during the driving period even after the supply of the scanning signal Vscan and the input signal Vsig is stopped.
[0051]
Note that it is sufficient for the reset period to be only the time when the gate voltage Vg becomes the voltage Vrsig of the reset signal Vrsig. For this reason, the driving period can be set to be much longer than the reset period. Even if the driving TFT 110 is turned on by the reset signal Vrsig during the reset period, the source 112 of the driving TFT 110 can be set during this period. In addition, the effect of the current flowing through the drain 113 on the drive current Id can be reduced to a negligible level.
[0052]
As described above, according to the present embodiment, since the gate voltage Vg with respect to the input signal Vsig can be reduced by the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 120, the input voltage is lower than when the compensation TFT 120 is not provided. The same conductance control can be performed in the driving TFT 110 using the voltage Vsig of the signal Vsig.
[0053]
FIG. 2B is a timing chart in the case where both the driving TFT 110 and the compensating TFT 120 are composed of N-channel TFTs. The gate voltage Vg of the driving TFT 110, which is an N-channel type TFT, is set to the voltage Vrsig of the reset signal Vrsig at the time of reset, and is more positive than the voltage Vsig of the input signal Vsig by the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 120. The voltage is boosted to the voltage side.
[0054]
Here, if the input signal Vsig is directly input to the driving TFT 110 without passing through the compensating TFT 120, that is, if the voltage Vsig of the input signal Vsig and the gate voltage Vg match, FIG. Is the case where the driving TFT 110 is an N-channel), the driving current Id has a characteristic of rising from the threshold voltage Vth1 of the driving TFT 110. For example, assuming that the design reference value of the threshold voltage Vth1 is 2 V, the variation of the threshold voltage is about ± several volts. Then, the variation of the threshold voltage Vth1 in the driving TFT 110 appears as it is as the variation of the driving current Id.
[0055]
On the other hand, in the present embodiment, the input signal Vsig is input to the driving TFT 110 via the compensation TFT 120, that is, the voltage Vsig of the input signal Vsig is boosted by the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 120. When the gate voltage is set to Vg, as shown in FIG. 3B (this is a case where both the driving TFT 110 and the compensating TFT 120 are N-channel), the threshold voltage Vth2 of the compensating TFT 120 and the driving voltage The threshold voltage Vth1 of the TFT 110 for use is canceled, and the threshold voltage Vth of the input signal Vsig for the entire transistor circuit 100 approaches zero. In particular, when both threshold voltages Vth1 and Vth2 substantially match, this threshold voltage Vth becomes substantially zero. As described above, the threshold voltages Vth1 and Vth2 can be relatively easily matched by, for example, configuring the driving TFT 110 and the compensating TFT 120 at the close positions on the same semiconductor substrate with the same type of TFT. With such a configuration, in each of the TFTs, a planar shape of each component such as a film thickness of a gate insulating film and a semiconductor film to be formed as a thin film, a channel length and the like, a channel forming region, a source region, and a drain region In this case, the impurity concentration, the temperature state during operation, and the like can be easily matched, and as a result, the threshold voltages Vth1 and Vth2 of both TFTs can be completely or almost completely matched. In order to approximate the threshold characteristics, it is preferable that the channel lengths be the same, but the channel widths need not be the same.
[0056]
As described above, according to the present embodiment, the threshold voltage characteristics and the voltage-current characteristics of the driving TFT 110 and the compensating TFT 120 are made closer (ideally, by matching), so that the input signal Vsig with respect to the driving current Id is reduced. The threshold voltage Vth can be made close to zero (ideally, it is made equal to zero).
[0057]
Further, as can be seen from FIGS. 3A and 3B, even when the threshold voltages Vth1 of the respective driving TFTs 110 vary from one another in the case where a plurality of transistor circuits 100 are manufactured, this threshold is not exceeded. Regardless of the magnitude of the value voltage Vth1, the threshold voltage Vth of each transistor circuit 100 is set to a value close to zero by the operation of each compensation TFT 120. That is, a large number of transistor circuits 100 having a constant threshold voltage Vth can be manufactured. This is particularly useful for applications such as display panels in which variation in threshold voltage Vth among many transistor circuits 100 becomes a problem, as described later. In each of the transistor circuits 100, matching the threshold voltage Vth1 of the pair of driving TFTs 110 arranged close to each other with the threshold voltage Vth2 of the compensating TFT 120 is separately arranged at a distance. Since it is much easier to match the threshold voltages Vth1 of the two driving TFTs 110 as described above, the configuration in which the threshold voltage Vth1 in each transistor circuit 100 is compensated by the compensation TFT 120 in this manner. Can be said to be extremely effective in reducing the variation in the threshold voltage Vth among the plurality of transistor circuits 100.
[0058]
As described above, according to the present embodiment, when a plurality of transistor circuits 100 are formed, a plurality of driving TFTs 110 having different threshold voltages Vth1, that is, a threshold voltage (for example, 2 Even if a plurality of driving TFTs 110 each having a threshold voltage Vth1 greatly varying from 0.5 V) are used, a plurality of transistor circuits 100 with little or no variation in the threshold voltage Vth can be obtained. . For this reason, the conditions required for the TFT with respect to the current-voltage characteristics are relaxed, so that the yield can be improved and the manufacturing cost can be reduced.
[0059]
As can be seen from FIGS. 3A and 3B, by adjusting the threshold voltages Vth1 and Vth2 to be the same, the conductance control in each driving TFT 110 can be performed with a gate voltage higher than the voltage Vsig of the input signal Vsig. The first effect that can be achieved using Vg and the second effect of reducing the variation of the threshold voltage Vth among the plurality of transistor circuits 100 are remarkably exhibited. Even if the threshold voltage Vth1 of the TFT 110 and the threshold voltage Vth2 of the compensating TFT 120 do not completely match each other, the two threshold voltages have the property of canceling each other. These first and second effects are exhibited to some extent.
[0060]
In the present embodiment, in particular, the gate 111 is configured to be supplied with a reset signal Vrsig having a voltage corresponding to a value of conductance higher than the highest value of conductance controlled according to the input signal Vsig. Therefore, after resetting regardless of the magnitude of the voltage value Vsig of the input signal Vsig, the input signal Vsig is transferred to the gate 111 via the compensating TFT 120 connected to the gate 111 in such a direction as to enable the charge transfer in the direction of decreasing the conductance. Can be supplied to In addition, in the present embodiment, the reset signal Vrsig is set to a voltage higher than the maximum voltage of the input signal Vsig by the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 120 or more. Therefore, when the input signal Vsig is input after the reset, the compensation signal is always higher than the voltage Vsig of the input signal Vsig regardless of the magnitude of the voltage Vsig of the input signal Vsig or the magnitude of the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 120. A voltage higher by the threshold voltage Vth2 of the TFT 120 can be supplied to the gate 111.
[0061]
When the input signal Vsig, which is often used in the conventional liquid crystal display element, is inverted, the relationship between the reset signal Vsig and all the input signals Vsig including the inverted input signal is also obtained. It is desirable that the following holds.
[0062]
The effect of the voltage setting of the reset signal Vrsig will be discussed with reference to FIGS. Here, FIG. 4 shows that, when the design reference value of the threshold value is -2.5 V, for example, the change of the drive current Id with respect to the variation ΔVth of the threshold voltage from the reference value is (1) driven without the compensation TFT 120. (2) when the input signal Vsig is directly supplied to the driving TFT 110 (characteristic curve C1), (2) when the input signal Vsig is supplied to the driving TFT 110 via the compensation TFT 120 by setting the reset signal Vrsig to 5 V (characteristic curve C2), and (3) The case where the input signal Vsig is supplied to the driving TFT 110 via the compensation TFT 120 with the reset signal Vrsig set to 0 V (characteristic curve C3) is shown. FIG. 5A shows a fluctuation range of the gate voltage Vg corresponding to the characteristic curve C2, and FIG. 5B shows a fluctuation range of the gate voltage Vg corresponding to the characteristic curve C3. Here, it is assumed that Vsig = 7.5 V, + Vc = 10 V, and −Vc = 5 V.
[0063]
In FIG. 4, as shown by the characteristic curve C1, when the compensation TFT 120 is not provided, the variation ΔVth of the threshold voltage appears as a variation of the drive current Id as it is.
[0064]
As shown by the characteristic curve C2, when the compensation TFT is used with the reset signal Vrsig set to 5 V, the variation ΔVth of the threshold voltage is considerably compensated for on the plus side, but the drive current is compensated for on the minus side. It appears as a variation in Id. This is because, when the input signal Vsig is input after the reset on the negative side as shown in FIG. 5A, the gate voltage Vg is shifted to the negative voltage side by the threshold voltage Vth2 from the input signal Vsig. This is because the voltage cannot be reduced (compensated). This is because the compensation TFT 120, which is a diode, can approach the gate voltage Vg from the reset signal Vrsig to the input signal Vsig but cannot move it away.
[0065]
Further, as shown by the characteristic curve C3, when the resetting signal Vrsig is set to 0 V and the compensation TFT is used, the variation ΔVth of the threshold voltage hardly appears as the variation of the driving current Id. This is because, as shown in FIG. 5B, when the input signal Vsig is input after the reset, the gate voltage Vg is stepped down to the negative voltage side by the threshold voltage Vth from the input signal Vsig ( Compensation). Note that if the given Vsig = 7.5 V is considered to be the minimum potential of the input signal Vsig, the above consideration holds whether it can be compensated for all Vsig.
[0066]
As described above, in the present embodiment, the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 120 is always higher than the voltage of the input signal Vsig regardless of the magnitude of the input voltage Vsig or the magnitude of the threshold voltage Vth2 of the compensation TFT 110. Thus, a voltage Vg lower by that amount can be applied to the gate 111 of the driving TFT 110.
[0067]
Note that in FIGS. 2A and 2B, the gate voltage Vg is held by the holding capacitor 160 during the driving period. Therefore, the storage capacitor 160 can also reduce (compensate) variations in the storage characteristics of the gate voltage Vg among the plurality of transistor circuits 100.
[0068]
As described above with reference to FIGS. 1 to 5, according to the transistor circuit 100 of the present embodiment, it is possible to drive the current control element 500 such as an EL element with a relatively low voltage input signal Vsig. This makes it possible to accurately control the current of the plurality of current control elements 500 in accordance with the voltage of the input signal Vsig regardless of the variation in the current-voltage characteristics and the threshold characteristics among the plurality of driving TFTs 110. .
[0069]
In the example shown in FIG. 1, a P-channel TFT and an N-channel TFT are mixed, but all TFTs may be composed of N-channel TFTs, or all TFTs may be formed. May be composed of a P-channel TFT. However, from the viewpoint of compensating the current-voltage characteristics and the threshold characteristics of the driving TFT 110 with the compensating TFT 120, it is more advantageous to configure the driving TFT 110 and the compensating TFT 120 as the same type of TFT in the same process. In particular, if both TFTs are formed in the same thin film forming step, the degree of similarity in characteristics between the two TFTs generally increases, so that the transistor circuit 100 having no or little variation in current-voltage characteristics and threshold characteristics on the same substrate. It is possible to obtain. On the other hand, the reset TFT 130 and the switching TFT 140 may be a P-channel type or an N-channel type regardless of whether the driving TFT 110 is a P-channel type or an N-channel type. However, it is often advantageous in terms of manufacturing that all the TFTs be of the same type.
[0070]
In addition, the various TFTs 110 to 140 in the present embodiment may be configured by any type of field effect transistor (FET) such as a junction type, a parallel / series connection, and the like.
[0071]
Further, as shown in FIG. 6, the transistor circuit as described above may be constituted by a bipolar transistor. In this case, the gate, source, and drain correspond to the base, emitter, and collector, respectively, and a driving transistor 110 'is formed from a bipolar transistor, and a compensation transistor 120' is formed from a bipolar transistor, thereby forming a transistor circuit 100. 'And it is sufficient. In general, in the case of a bipolar transistor, the threshold voltage is centered at, for example, 0.7 V, and its variation is smaller than that of a TFT. The influence of the variation in the threshold characteristic on the drive current Id can be compensated for by the compensation transistor 120 '. Further, the driving by the driving transistor 110 'can be performed at a relatively low voltage. In particular, if the driving transistor 110 'and the compensating transistor 120' are manufactured in the same manufacturing process, the degree of similarity between these two transistors generally increases, so that there is almost no variation in current-voltage characteristics and threshold characteristics. Alternatively, it is possible to obtain a reduced number of transistor circuits 100 '.
[0072]
Examples of the current control element 500 in the above embodiment include various elements such as a current control light emitting element such as an organic EL element and an inorganic EL element, and a current control type thermal transfer element.
[0073]
(Display panel)
An embodiment of a display panel according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a block diagram showing the entire configuration of the display panel, and FIG. 8 is a plan view of one pixel portion in the display panel, and FIGS. 9A, 9B, and 9C. Are AA 'sectional view, BB' sectional view and CC 'sectional view, respectively, and FIG. 10 is a circuit diagram of four adjacent pixel portions.
[0074]
The display panel in this embodiment includes a plurality of pixel portions each including the above-described transistor circuit of the present invention and arranged in a matrix. The plurality of pixel portions is an example of a current-controlled light-emitting element. EL elements 50 are provided respectively.
[0075]
As shown in FIG. 7, the display panel 200 has a TFT array substrate 1, and a plurality of pixel units 2 are arranged in a matrix on the TFT array substrate 1 so as to extend in the Y direction. A plurality of data lines 11 arranged in the X direction, a plurality of scanning lines 12 each extending in the X direction and arranged in the Y direction, and a plurality of common supply lines arranged in parallel with the plurality of data lines 11. And an electric wire 13. The display panel 1 further includes a data line driving circuit 21 for supplying a data signal to each data line 11 around the screen display area, a pair of scanning line driving circuits 22 for supplying a scanning signal to each scanning line 12, An inspection circuit 23 for inspecting a path failure, insulation failure, element defect, or the like in the pixel unit 2 is provided. In the present embodiment, each drive circuit is formed on the TFT array substrate 1 in the same step as the pixel portion 2, but may be a circuit not on the TFT array substrate 1, or It may be formed in a step different from that of the part 2.
[0076]
As shown in FIG. 8, each pixel section 2 is provided with the driving TFT 110, the compensating TFT 120, the reset TFT 130, the switching TFT 140, and the storage capacitor 160 described with reference to FIGS. The previous scanning line 12b becomes the wiring for the reset scanning signal Vrscan in FIG. 1, the current scanning line 12a becomes the wiring for the scanning signal Vscan and the wiring for the reset signal Vrsig in FIG. Reference numeral 11a is a wiring for the input signal Vsig (data signal) in FIG. Further, the common power supply line 13 is connected to the positive power supply + V, the EL element 50 is connected between the driving TFT 110 and a later-described counter electrode, and the counter electrode is connected to the negative power supply -V. .
[0077]
As shown in FIG. 9A, the switching TFT 140, the compensating TFT 120, and the storage capacitor 160 include a semiconductor film (polysilicon film) 4 on the TFT array substrate 1 along the AA ′ section of FIG. A gate insulating film 5 made of a silicon oxide film or a silicon nitride film, a Ta (tantalum) film 6, a first interlayer insulating film 7 made of a silicon oxide film or a silicon nitride film, and an Al film 8 are provided. Note that a low-resistance polysilicon film may be formed instead of the Ta film 6 for forming the gate electrode.
[0078]
More specifically, the switching TFT 140 is a top-gate type TFT having a gate 141 made of the polysilicon film 6, and a portion of the semiconductor layer 4 facing the gate 141 with the gate insulating film 5 interposed therebetween is used as a channel forming region. As an N-channel TFT, a source 142 and a drain 143 which are heavily doped with n-type are provided on both sides thereof. The source 142 is connected to the data line 11a made of the Al film 8 via a contact hole opened in the gate insulating film 5 and the first interlayer insulating film 7. Further, the drain 143 is connected to the compensation TFT 120 via a contact hole opened in the gate insulating film 5 and the first interlayer insulating film 7 and the Al film 8.
[0079]
The compensating TFT 120 is a top-gate TFT having a gate 121 made of a Ta film 6. The portion of the semiconductor film 4 facing the gate 121 via the gate insulating film 5 is used as a channel forming region, and p-type TFTs are formed on both sides thereof. Is configured as a P-channel TFT having a source 122 and a drain 123 which are highly doped. The contact hole formed in the gate insulating film 5 and the first interlayer insulating film 7 and the Al film 8 are connected to the switching TFT 140, the storage capacitor 160, and the gate 111 of the driving TFT 110 via the Al film 8.
[0080]
In addition, the storage capacitor 160 is configured such that the semiconductor film 4, the Ta film 6, and the Al film 8 are opposed to each other via the gate insulating film 5 and the first interlayer insulating film 7 so as to have a double capacitor configuration. ing. The portion of the semiconductor film 4 forming the storage capacitor is connected to the Al film 8 via a contact hole opened in the gate insulating film 5 and the first interlayer insulating film 7, and the Ta film 6 forming the storage capacitor is formed. The portion is connected to the Al film 8 via a contact hole opened in the first interlayer insulating film 7.
[0081]
As shown in FIG. 9B, the reset TFT 130 includes a semiconductor film 4, a gate insulating film 5, a Ta film 6, a first interlayer insulating film 1 on the TFT array substrate 1 along the BB 'section of FIG. It is composed of a film 7 and an Al film 8.
[0082]
More specifically, the reset TFT 130 is a top-gate TFT having a gate 131 made of a Ta film 6, and a portion of the semiconductor layer 4 opposed to the gate 131 via the gate insulating film 5 is used as a channel formation region. And an N-channel TFT having a source 132 and a drain 133 which are heavily doped with n-type on both sides thereof. Then, the source 132 and the drain 133 are relayed through the contact hole formed in the gate insulating film 5 and the first interlayer insulating film 7 and the Al film 8, and the scanning line 12 a of the Ta film 6 and the driving TFT 110 are formed. , Respectively.
[0083]
Further, as shown in FIG. 9C, the driving TFT 110 includes a semiconductor film 4, a gate insulating film 5, a Ta film 6, and a first film on the TFT array substrate 1 along the CC ′ section of FIG. It is composed of an interlayer insulating film 7 and an Al film 8. Then, on the second interlayer insulating film 9, an ITO film 51 connected to the drain 113 of the driving TFT 110 via the contact hole and the Al film 8 is formed, and an EL element 50 is formed thereon. . On the other hand, the source 112 of the driving TFT 110 is connected to the common power supply line 13 made of the Al film 8 via a contact hole. The EL elements 50 in the pixel units 2 adjacent to each other are separated from each other by an electrically insulating bank 52. Preferably, the bank 52 has a light shielding property. The bank 52 may be made of, for example, a light-shielding resist, and the bank 52 may be provided also in a peripheral parting area that covers the periphery of the screen display area of the display panel 200. A counter electrode (upper electrode) 56 made of a low-resistance metal such as Al or ITO or the like is provided on the EL element 50.
[0084]
As shown in FIG. 10, the display panel 200 particularly adopts a configuration in which the positive power supply + V is supplied to both of the pixel units 2 adjacent to each other in the X direction by the common power supply line 13. The number of power supply lines is reduced to about 1 / compared to the case where power supply lines are simply provided for each column of the pixel unit 2. Further, a configuration is adopted in which the reset scanning signal Vrscan input to the gate 131 of the resetting TFT 130 is supplied by the preceding scanning line 12b, and the reset signal Vrsig input to the resetting TFT 130 is supplied by the scanning line 12b of this stage. Accordingly, the number of signal lines is reduced as compared with the case where a line dedicated to the reset scanning signal Vrscan or a line dedicated to the reset signal Vrsig is provided. By not increasing the number of power supply wires and the number of signal wires in this manner, it is possible to secure a space for providing the compensation TFT 120 and the reset TFT 130 which are not provided in the conventional display panel. Needless to say, unlike the present embodiment, a common power supply line is provided for each pixel to make the pattern the same for each pixel, a wiring dedicated to the reset scanning signal Vrscan, and a wiring dedicated to the reset signal Vrsig. The idea of the present invention can be applied to such a case.
[0085]
In the case of the display panel 200 using the EL element 50 which is a current-driven light emitting element as in the present embodiment, for example, the light emitting element can be formed without increasing the opening area of the pixel as in a liquid crystal panel. If the amount of supplied current is increased, self-emission is performed in response to the increase, so that brightness required for image display can be obtained. Therefore, as in this embodiment, the area occupied by the wiring may be saved to secure a space for forming various TFTs in the pixel portion 2, or by reducing the size of each EL element 50, A space for forming the TFT in the pixel portion 2 may be secured.
[0086]
Next, the operation of the display panel 200 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
[0087]
When the scanning signal Vscan is supplied from the scanning line drive circuit 22 to the preceding scanning line 12b, this is input to the gate 131 of the reset TFT 130 of the current stage as the reset scanning signal Vrscan of the current stage. In parallel with this, the reset signal Vrsig is supplied from the scanning line drive circuit 22 to the corresponding scanning line 12a, and the gate voltage Vg of the driving TFT 110 at this stage is set to the potential of the reset signal Vrsig (FIG. 2). (A)). At this time, the reset signal Vrsig may be the same as the off potential of the scanning signal Vscan. Subsequently, when the scanning signal Vscan is supplied from the scanning line driving circuit 22 to the corresponding scanning line 12a, the signal is input to the gate 141 of the switching TFT 140 of the corresponding stage. In parallel with this, an input signal Vsig (data signal) is supplied from the data line driving circuit 21 to the data line 11a of this stage, and the voltage Vsig is supplied to the compensation TFT 120 via the switching TFT 140 and the compensation TFT 120. The voltage is lowered by the threshold voltage Vth2 and supplied to the gate 111 of the driving TFT 110 at this stage as a gate voltage Vg (see FIG. 2A). As a result, the conductance between the source 112 and the drain 113 of the driving TFT 110 is controlled in accordance with the reduced gate voltage Vg, and the driving current flowing through the EL element 50 between the positive power supply + V and the negative power supply -V. Id is controlled.
[0088]
Therefore, the variation in the threshold voltage Vth1 of the driving TFT 110 provided in each pixel unit 2 is compensated by the threshold Vth2 of the compensation TFT 120, and the variation of the data signal Vsig with respect to the driving current Id between the plurality of pixel units 2 is achieved. There is almost no variation in the threshold value, and uniform image display with uniform brightness over the entire screen display area of the display panel 200 is enabled. In addition, the driving current Id can be controlled using the data signal Vsig of a relatively small voltage by the step-down operation of the compensation TFT 120.
[0089]
In the above-described embodiment, the gate voltage Vg is reset by the reset TFT 130 before the input signal Vsig is supplied. For example, during the period of displaying a still image, the gate voltage Vg is driven over a plurality of frames by the same input signal Vsig. Since it is sufficient to control the current Id, it is not necessary to perform such a reset operation for each scan. Further, the gate voltage Vg may be reset (set to a predetermined reset voltage) by light irradiation instead of the electrical reset signal Vrsig. Furthermore, the reset signal Vrsig may be supplied via the switching TFT 140 or the compensation TFT 120 instead of the reset TFT 130. On the other hand, it is needless to say that the switching TFT 140 and the switching operation are not required for applications that do not perform switching, such as active matrix driving.
[0090]
(Electronics)
Next, an embodiment of an electronic device including the display panel 200 described in detail above will be described with reference to FIGS.
[0091]
First, FIG. 11 shows a schematic configuration of an electronic device including the display panel 200 as described above.
[0092]
11, the electronic device includes a display information output source 1000, a display information processing circuit 1002, a drive circuit 1004, a display panel 1006, a clock generation circuit 1008, and a power supply circuit 1010.
[0093]
The display panel 200 in the above embodiment corresponds to the display panel 1006 and the driver circuit 1004 in this embodiment. Therefore, the driver circuit 1004 may be mounted on the TFT array substrate included in the display panel 1006, and the display information processing circuit 1002 and the like may be further mounted. Alternatively, a driving circuit 1004 may be provided externally to a TFT array substrate on which the display panel 1006 is mounted.
[0094]
The display information output source 1000 includes a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), a memory such as an optical disk device, a tuning circuit that tunes and outputs a television signal, and the like. Based on the information, display information such as an image signal in a predetermined format is output to the display information processing circuit 1002. The display information processing circuit 1002 includes various well-known processing circuits such as an amplification / polarity inversion circuit, a phase expansion circuit, a rotation circuit, a gamma correction circuit, and a clamp circuit. A digital signal is sequentially generated from the information and output to the driving circuit 1004 together with the clock signal CLK. The drive circuit 1004 drives the display panel 200. The power supply circuit 1010 supplies a predetermined power to each of the above-described circuits.
[0095]
Next, FIGS. 12 to 13 show specific examples of the electronic device configured as described above.
[0096]
In FIG. 12, a laptop personal computer (PC) 1200 for multimedia, which is another example of an electronic device, includes the above-described display panel 200 in a top cover case 1206, and further includes a CPU, a memory, and a modem. And a main body 1204 in which a keyboard 1202 is incorporated.
[0097]
As shown in FIG. 13, in the case of a display panel 1304 in which the drive circuit 1004 and the display information processing circuit 1002 are not mounted, a TCP in which an IC 1324 including the drive circuit 1004 and the display information processing circuit 1002 is mounted on a polyimide tape 1322 (Tape Carrier Package) 1320 can be physically and electrically connected to the TFT array substrate 1 via an anisotropic conductive film provided on the periphery of the TFT array substrate 1 to produce, sell, use, etc. as a display panel. It is possible.
[0098]
In addition to the electronic devices described above with reference to FIGS. 12 to 13, a television, a viewfinder type or a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, an electronic organizer, a calculator, a word processor, an engineering workstation (EWS) ), A mobile phone, a videophone, a POS terminal, a device having a touch panel, and the like are examples of the electronic apparatus shown in FIG.
[0099]
As described above, according to the present embodiment, it is possible to realize various kinds of electronic devices which can be driven at a relatively low voltage with little unevenness in brightness over the entire surface of the display panel.
[0100]
【The invention's effect】
According to the transistor circuit of the present invention, the gate voltage can be reduced or boosted with respect to the input signal voltage by the threshold voltage of the compensating transistor, so that the conductance control of the driving transistor is performed by the low input signal voltage. be able to. Further, by making the threshold characteristics and the voltage-current characteristics of the compensation transistor and the driving transistor close to each other, it becomes possible to make the threshold voltage of the input signal corresponding to the driving current close to zero. Furthermore, when a plurality of transistor circuits are formed using a plurality of driving transistors having different threshold characteristics, a plurality of driving transistors having different threshold voltages greatly vary from a design reference value. Even if a plurality of driving transistors each having a threshold voltage are used, it is possible to obtain a plurality of transistor circuits with little or no variation in threshold voltage among the plurality of transistor circuits.
[0101]
According to the display panel of the present invention, image display with reduced brightness unevenness can be realized using a low-voltage input signal.
[0102]
Further, according to the electronic apparatus of the present invention, it is possible to realize various electronic apparatuses such as a personal computer and a pager capable of displaying high-quality images.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram in one embodiment of a transistor circuit.
2 is a timing chart of various signals in the transistor circuit of FIG. 1 (FIG. 2A) and a timing chart of various signals in a modification of the transistor circuit of FIG. 1 (FIG. 2B).
FIG. 3 is a characteristic diagram showing threshold characteristics in a comparative example including a driving TFT (FIG. 3A), and a threshold characteristic in the present embodiment including a compensating TFT and a driving TFT. (B) of FIG.
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a change in a driving current Id with respect to a variation ΔVth of a threshold value in various cases.
FIG. 5 is a timing chart (FIG. 5A) showing the step-down operation of the compensation TFT when the reset signal Vrsig is set to 5 V in the present embodiment, and the compensation TFT when the reset signal Vrsig is set to 0 V; It is a timing chart (FIG.5 (B)) which shows a pressure reduction effect.
FIG. 6 is a circuit diagram in another embodiment of a transistor circuit.
FIG. 7 is a plan view illustrating an overall configuration of a display panel according to an embodiment.
8 is a plan view of one pixel portion of the display panel of FIG.
9 is a sectional view taken along the line AA ′ (FIG. 9A), a sectional view taken along the line BB ′ (FIG. 9B), and a sectional view taken along the line CC ′ (FIG. 9C) of FIG. 8; .
FIG. 10 is a circuit diagram of four adjacent pixel units in the display panel of FIG. 7;
FIG. 11 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an electronic device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 12 is a front view illustrating a personal computer as an example of an electronic apparatus.
FIG. 13 is a perspective view illustrating a liquid crystal device using TCP as another example of the electronic apparatus.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... TFT array substrate 2 ... Pixel part 11 ... Data line 12 ... Scan line 13 ... Common power supply line 21 ... Data line drive circuit 22 ... Scan line drive circuit 23 ... Test circuit 50 ... EL element 100 ... Transistor circuit 110 ... Drive TFT
120 ... Compensation TFT
130: Reset TFT
140 ... TFT for switching
160 ... holding capacity

Claims (17)

複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、
第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、
前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートは所定の電圧にリセットされること、
を特徴とするアレイ基板。
Multiple scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines,
Each of the plurality of transistor circuits includes:
A driving transistor having a first gate, a first source, and a first drain, wherein a conductance between the first source and the first drain is controlled according to an input signal supplied to the first gate;
The first gate is reset to a predetermined voltage before the input signal is supplied;
An array substrate characterized by the above-mentioned.
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、
第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、
前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートを所定の電圧にするリセット手段を備えていること、
を特徴とするアレイ基板。
Multiple scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines,
Each of the plurality of transistor circuits includes:
A driving transistor having a first gate, a first source, and a first drain, wherein a conductance between the first source and the first drain is controlled according to an input signal supplied to the first gate;
Reset means for setting the first gate to a predetermined voltage before the input signal is supplied;
An array substrate characterized by the above-mentioned.
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、
第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、
前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートにリセット信号を供給するリセット手段を備えていること、
を特徴とするアレイ基板。
Multiple scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines,
Each of the plurality of transistor circuits includes:
A driving transistor having a first gate, a first source, and a first drain, wherein a conductance between the first source and the first drain is controlled according to an input signal supplied to the first gate;
Reset means for supplying a reset signal to the first gate before the input signal is supplied;
An array substrate characterized by the above-mentioned.
請求項1乃至3のいずれかに記載のアレイ基板において、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、前記入力信号が供給される際に前記駆動用トランジスタのしきい値のばらつき補償すること、
を特徴とするアレイ基板。
The array substrate according to any one of claims 1 to 3,
Each of the plurality of transistor circuits, when the input signal is supplied, to compensate for variation in the threshold value of the driving transistor,
An array substrate characterized by the above-mentioned.
請求項1乃至4のいずれかに記載のアレイ基板において、
第2ゲート、第2ソース及び第2ドレインを有し、前記第2ゲートが前記第1のゲートに接続されている補償用トランジスタと、を備えたこと、
を特徴とするアレイ基板。
The array substrate according to claim 1, wherein
A compensating transistor having a second gate, a second source, and a second drain, wherein the second gate is connected to the first gate.
An array substrate characterized by the above-mentioned.
請求項3に記載のアレイ基板において、
前記リセット手段は、前記複数のトランジスタ回路の各々に設けられた第3ゲート、第3ソース及び第3ドレインを有するリセット用トランジスタであり、
前記第3ソース及び前記第3ドレインの一方が前記第1ゲートに接続されており、
前記入力信号の供給前に前記第3ゲートにリセットタイミング信号が供給された時に、前記リセット用トランジスタを介して前記リセット信号が前記第1ゲートに供給されること、
を特徴とするアレイ基板。
The array substrate according to claim 3,
The reset means is a reset transistor having a third gate, a third source, and a third drain provided in each of the plurality of transistor circuits,
One of the third source and the third drain is connected to the first gate,
When a reset timing signal is supplied to the third gate before the supply of the input signal, the reset signal is supplied to the first gate via the reset transistor;
An array substrate characterized by the above-mentioned.
請求項1乃至6のいずれかに記載のアレイ基板において、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、第4ゲート、第4ソース及び第4ドレインを有するスイッチングトランジスタをさらに含み、
前記第4ゲートに前記複数の走査線のうち対応する走査線が接続されていること、
を特徴とするアレイ基板。
The array substrate according to any one of claims 1 to 6,
Each of the plurality of transistor circuits further includes a switching transistor having a fourth gate, a fourth source, and a fourth drain,
A corresponding scanning line among the plurality of scanning lines is connected to the fourth gate;
An array substrate characterized by the above-mentioned.
請求項3または6に記載のアレイ基板において、
前記リセット信号は、前記入力信号の最大電圧よりも前記補償用トランジスタのしきい値電圧分以上大きい電圧に設定されたこと、
を特徴とするアレイ基板。
The array substrate according to claim 3 or 6,
The reset signal is set to a voltage higher than the maximum voltage of the input signal by a threshold voltage of the compensation transistor or more.
An array substrate characterized by the above-mentioned.
第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタを含み、
前記入力信号が供給される前に前記第1ゲートを所定の電圧にリセットするリセット手段を備えていること、
を特徴とするトランジスタ回路。
A driving transistor having a first gate, a first source, and a first drain, wherein a conductance between the first source and the first drain is controlled according to an input signal supplied to the first gate;
Reset means for resetting the first gate to a predetermined voltage before the input signal is supplied;
A transistor circuit characterized by the above-mentioned.
請求項1乃至8のいずれかに記載のアレイ基板と、
前記第1ソース及び前記ドレインのいずれかと接続された電流駆動型素子と、を含むこと、
を特徴とする表示パネル。
An array substrate according to any one of claims 1 to 8,
A current-driven element connected to one of the first source and the drain;
A display panel characterized by the following.
請求項1乃至8のいずれかに記載のアレイ基板と、
前記第1ソース及び前記ドレインのいずれかと接続された発光素子と、を含むこと、
を特徴とする表示パネル。
An array substrate according to any one of claims 1 to 8,
A light emitting element connected to any one of the first source and the drain;
A display panel characterized by the following.
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、
第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記複数のデータ線のうち対応するデータ線を介して前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタと、
前記第1ソース及び前記第1ドレインのいずれかと接続された発光素子と、を含み、
前記入力信号が前記第1ゲートに供給される前に前記第1ゲートは所定の電圧にリセットされること、
を特徴とする表示パネル。
Multiple scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines,
Each of the plurality of transistor circuits includes:
A first gate, a first source, and a first drain, wherein the first source and the first drain are provided according to an input signal supplied to the first gate via a corresponding data line among the plurality of data lines. A driving transistor whose conductance between drains is controlled,
A light emitting element connected to any one of the first source and the first drain,
The first gate is reset to a predetermined voltage before the input signal is supplied to the first gate;
A display panel characterized by the following.
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数の走査線と前記複数のデータ線との交差部に対応して設けられた複数のトランジスタ回路と、を含み、
前記複数のトランジスタ回路の各々は、
第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有し、前記複数のデータ線のうち対応するデータ線を介して前記第1ゲートに供給される入力信号に応じて前記第1ソース及び前記第1ドレイン間のコンダクタンスが制御される駆動用トランジスタと、
前記第1ソース及び前記第1ドレインのいずれかと接続された発光素子と、を含み、
前記入力信号が前記第1ゲートに供給される前に前記第1ゲートを所定の電圧にリセットするリセット手段を備えていること、
を特徴とする表示パネル。
Multiple scan lines;
Multiple data lines,
A plurality of transistor circuits provided corresponding to intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines,
Each of the plurality of transistor circuits includes:
A first gate, a first source, and a first drain, wherein the first source and the first drain are provided according to an input signal supplied to the first gate via a corresponding data line among the plurality of data lines. A driving transistor whose conductance between drains is controlled,
A light emitting element connected to any one of the first source and the first drain,
Reset means for resetting the first gate to a predetermined voltage before the input signal is supplied to the first gate;
A display panel characterized by the following.
走査線と、データ線と、トランジスタ回路と、を含む表示パネルの駆動方法であって、
トランジスタ回路に含まれる第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有する駆動用トランジスタの前記第1ゲートに前記データ線を介して入力信号を供給し、
前記入力信号を供給する前に前記第1ゲートを所定の電圧にリセットすること、
を特徴とする表示パネル駆動方法。
A driving method of a display panel including a scanning line, a data line, and a transistor circuit,
Supplying an input signal via the data line to the first gate of the driving transistor having a first gate, a first source, and a first drain included in the transistor circuit;
Resetting the first gate to a predetermined voltage before supplying the input signal;
And a display panel driving method.
走査線と、データ線と、トランジスタ回路と、を含む表示パネルの駆動方法であって、
前記走査線を介して走査信号を前記トランジスタ回路に含まれるスイッチング用トランジスタのゲートに供給して、ランジスタ回路に含まれる第1ゲート、第1ソース及び第1ドレインを有する駆動用トランジスタの前記第1ゲートに前記データ線及び前記スイッチング用トランジスタを介して入力信号を供給し、
前記走査信号を供給した後、リセットタイミング信号をリセット用トランジスタのゲートに供給し、前記リセット用トランジスタを介してリセット信号を前記第1ゲートに供給すること、
を特徴とする表示パネル駆動方法。
A driving method of a display panel including a scanning line, a data line, and a transistor circuit,
A scan signal is supplied to a gate of a switching transistor included in the transistor circuit via the scan line, and a first signal of a driving transistor having a first gate, a first source, and a first drain included in a transistor circuit is provided. Supplying an input signal to the gate through the data line and the switching transistor;
After supplying the scanning signal, supplying a reset timing signal to a gate of a reset transistor, and supplying a reset signal to the first gate via the reset transistor.
And a display panel driving method.
請求項10乃至13のいずれかに記載の表示パネルを備えたこと、
を特徴とする電子機器。
A display panel according to any one of claims 10 to 13,
Electronic equipment characterized by the following.
請求項1乃至8のいずれかに記載のアレイ基板と、
前記第1ソース及び前記第1ドレインのいずれかと接続された電流駆動型素子と、を含む電子機器。
An array substrate according to any one of claims 1 to 8,
An electronic device comprising: a current-driven element connected to one of the first source and the first drain.
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