JP2004106121A - 研磨シートおよび研磨シートの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基材シート11および当該基材シートの表面に形成された研磨層からなる研磨シートを前提として、多数の超微細研磨材粒子が焼成されて特定の形状を有する集合体12に形成され、当該集合体がバインダ材により前記基材シートの表面に固定されて、上記研磨層を構成していること。
【選択図】 図1
Description
【産業上の利用分野】
この発明は、シリコン、ガラス等の硬脆材料や、鉄鋼、アルミニウム等の金属材料を仕上げ加工するための研磨具およびその製造方法に関し、特に加工の高品位化を図り、加工能率の安定化を図るとともに、研磨工具の高寿命化を図ることができるものである。
【0002】
【従来の技術】
シリコンウェーハやガラスディスクをはじめ、各種硬脆材料や金属材料からなる部品の最終仕上げには、研磨材スラリーを用いた研磨加工が用いられてきた。この加工法では微細な砥粒を使用し易いため優れた仕上げ面粗さを容易に得ることができ、また大量の研磨材スラリーを使用することで安定した加工特性を維持することができるので、多くの加工現場で用いられてきた。
しかし、研磨加工においては大量の研磨剤スラリーを必要とし、他方、大量の廃液を排出するので環境への負荷が極めて高く、また、加工能率の向上にも限界がある。こうしたことから、当該研磨加工仕上げに相当する優れた仕上げ面粗さが得られる固定砥粒加工工具の開発が各方面で活発に行われている。砥粒加工において良好な加工面粗さを得るには、通常、微細な砥粒を使用することが有利であり、このことは固定砥粒加工工具による場合でも同様である。
【0003】
ところで、鏡面状の優れた加工面を得るために、従来の固定砥粒加工工具の砥粒として粒径数μm以下のものを使用すると、加工時に砥粒結合材と工作物との接触が生じやすく、その結果、加工抵抗の急増、砥粒の脱落等が生じ、最悪の場合には加工不可の状態に陥ってしまう。また切り屑などによる目詰まり(研磨工具の研磨加工面の目詰まり)を生じ、そのために加工能率を低下させてしまうだけではなく、せっかく得られた鏡面に再びスクラッチ、傷などを与えてしまう等、安定した加工特性が得られないという問題がある。
これらの問題を解決するものとして、多数の微細砥粒をバインダに分散させてスラリー化し、これを、特定な形状例えば、半球状や円錐台や円柱状や角錐台などの窪みを多数配列した型に流し込み、バインダを硬化させ、そして半球状や円錐台や円柱状や角錐台などの特定な形状の研磨コンポジットを基材の表面に形成さた研磨加工工具に関する発明が特開平5−253852号公報、特表平9−504235号公報に記載されている。特開平5−253852号公報に記載された固定砥粒加工工具は、再現可能なパターンで基材シート上に配置した研磨コンポジット部材により、予想可能な、ばらつきのない、再現可能な表面仕上げを得ることができる旨、同公報に記載されている。
【0004】
しかし、特開平5−253852号公報、特表平9−504235号公報において、研磨コンポジットは樹脂などのバインダで複数の微細砥粒を成形させる方法で作製されているので、研磨加工時に被加工物との接触点にバインダ樹脂が常に介在することになる。従って、従来の固定砥粒工具(砥石や研磨布や研磨シート)などに起きる、加工抵抗の増加や、切りくずがバインダに刺さることによる目詰まり、最悪の場合には目詰まりによる研磨やけや、スクラッチなどの加工ダメージを生じる恐れが十分あると考えられる。
【0005】
他方、バインダによって研磨材粒子を固めた特定な形状を有する、従来の研磨コンポジットと違って、バインダなしで特定な形状(例えば球状)を有する超微細研磨材粒子凝集体を作製し、基材シートの上に前記超微細研磨材粒子凝集体同士をそのまま分散させてバインダ層に押し付けて埋め込み、そしてバインダを硬化させることによって、超微細研磨材粒子凝集体が配列される研磨シートおよびその製造方法をすでに開発している。その一例が特開2000−190228号公報、特開2000−237962号公報に記載されている。
【0006】
この研磨シートにおける超微細研磨材粒子集合体内部にはバインダ材が含まれていないことから、切り屑や磨耗した超微細粒子がスムーズに排出される。したがって、結合材で砥粒を固めた従来技術に比して、良好な研磨加工面を得ることができる。
しかし、このシートにおいては、超微細研磨材粒子凝集体の粒径、分布が一様でないから、加工時間の経過に伴って生じる個々の超微細研磨材粒子凝集体の研磨状況が一様でなく、加工時間の経過に伴う加工能率の低下が激しいので、高精度の研磨加工を安定的に行うことが必ずしもできない。
【0007】
【特許文献1】特開平5−253852号公報
【特許文献2】特表平9−504235号公報
【特許文献3】特開2000−190228号公報
【特許文献4】特開2000−237962号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
この発明の課題は、ばらつきが少なく、長時間にわたって安定した加工能率で、極めて高品位(例えばナノメータオーダ)の加工面を得ることのできる研磨シートを提供することであり、また、安価でかつ簡単に製造できる研磨具およびその製造方法を提供することである。
【0009】
【課題解決のために講じた手段】
【解決手段1】(請求項1に対応)
上記課題解決のために講じた手段1は、基材シートおよび当該基材シートの表面に形成された研磨層からなる研磨シートを前提として、多数の超微細研磨材粒子が焼成されて特定の形状を有する集合体に形成され、当該集合体がバインダ材により前記基材シートの表面に固定されて、上記研磨層を構成していることである。
【0010】
【作用】
多数の超微細研磨材粒子が焼成されて特定の形状を有する集合体に形成され、当該集合体がバインダ材により前記基材シートの表面に固定されて、上記研磨層を構成しているから、集合体の加工面にバインダは介在せず、また加工面は基材シート表面のバインダから離間しているので、研磨加工時にバインダが被加工面と摺接することはなく、また、切り削が集合体の加工面に突き刺さって加工面に介在することもない。
また、上記集合体は、超微細研磨材粒子を焼成して形成した所定の特定形状のものであって、かつ大きさが揃ったものであるから、加工面積の変化が小さいので加工能率も安定する。
したがって、ばらつきが少なく、長時間にわたって安定した加工能率で、極めて高品位の加工面を得ることができる。
【0011】
【実施態様1】(請求項2に対応)
実施態様1は、解決手段1の特定形状の集合体が、上記超微細研磨材粒子が部分的に、かつ、空隙を形成しバインダなしで結合している多孔質体であることである。
【作用】
上記特定形状の集合体が、上記超微細研磨材粒子が部分的に、かつ、空隙を形成しバインダなしで結合している多孔質体あるいは集合体であるから、研削屑は超微細研磨材粒子とともに加工面から離脱しやすく、目詰まりなどのダメージを生じる可能性が著しく低減される。
【0012】
【実施態様2】(請求項3に対応)
実施態様2は、解決手段1又は実施態様1の集合体の特定形状が、円錐台、角錐台、円柱状、球状又は半球状であることである。
【作用】
上記集合体の特定形状が、円錐台、角錐台、円柱状、球状又は半球状であるので、研磨加工時の加工面積の経時変化が皆無乃至は微小であり、したがって、加工能率が確実にほぼ一定に保たれる。
【0013】
【実施態様3】(請求項4に対応)
実施態様3は、解決手段1のバインダ材層の厚みが、上記特定形状の集合体の高さより薄く、上記集合体がバインダから突出していることである。
【作用】
バインダ材の層の厚みが、上記、所定の特定形状の集合体の高さより薄く、上記集合体がバインダから突出しているものであるから、固定された状態での個々の集合体の加工面の高さが均一であり、したがって、これらの加工面の加工能率が一定に保たれ、研磨シートの加工面による研磨加工が均一になされる。
【0014】
【実施態様4】(請求項5に対応)
実施態様4は、上記特定形状の集合体が、研磨加工の進行に伴って微小な平坦摩耗を起こしつつ、その加工面から超微細粒子が順次脱落し、いわゆる自生発刃効果により常に新しい切刃が発生するものであることである。
【0015】
【実施態様5】(請求項6に対応)
実施態様5は、上記特定形状の集合体がほぼ一定の間隔で配置されて上記研磨層を構成していることである。
【0016】
【実施態様6】(請求項7に対応)
実施態様6は、上記特定形状の集合体の投影面積の総和が研磨シート領域の10%〜80%であることである。
【0017】
【解決手段2】(請求項8に対応)
上記課題解決のために講じた手段2は、研磨シートの製造方法を前提として、次の(イ)乃至(ニ)の工程によって構成されるものである。
(イ)金型の表面に一定の間隔で配列されている特定形状(円錐台、角錐台、円柱状、球状あるいは半球状)の窪みに超微細研磨材粒子を充填し、これを焼成して、上記超微細研磨材粒子を部分的に直接接合させて、空隙を有する特定形状の上記集合体を形成する工程、
(ロ)金型の表面にバインダ材を塗布する工程、
(ハ)上記バインダが硬化しないうちにその上に基材シートを重ねる工程、
(ニ)バインダを硬化させ、その後に金型から研磨シートをはがす工程。
【0018】
【作用】
上記(イ)によって、上記集合体が所定の形状で、かつ均一な大きさで、かつ一定の分布で多数同時に作製され、上記(ロ)によって所要の厚さで平滑なバインダ層が形成され、上記(ハ)(ニ)によって、上記集合体が基材シートにほぼ均等な分布で固定された研磨シートが作製される。そして、この研磨シートのバインダ層の厚さは一定であり、その表面が平滑であるから、上記集合体のバインダ層からの突出高さは自動的に揃えられる。
そして、この(ロ)(ハ)(ニ)による製造工程は、極めて簡便で、かつ能率的になされる。
したがって、上記集合体が基材シートに所定間隔で均等に配設された研磨シートが安価にかつ簡単に製造される。
【0019】
【実施態様1】(請求項9に対応)
実施態様1は、金型の表面の窪みが等間隔に配列されていて、窪みの大きさが少なくとも窪みのピッチの1/2よりも小さいことである。
【作用】
上記集合体が等間隔に配置されるから、研磨シートによる被加工面の加工がより均等になされ、また、窪みの大きさが少なくとも窪みのピッチの1/2よりも小さいので、研磨シートにおけるバインダ領域が十分に確保され、超微細研磨材粒子集合体に対するバインダ層による保持力が十分に確保される。
【0020】
【解決手段3】(請求項10に対応)
上記課題解決のために講じた手段3は、研磨シートの製造方法を前提として、次の(イ)乃至(ニ)の工程によって構成されるものである。
(イ)上記基材シートに予めバインダを塗布する工程、
(ロ)上記球状研磨材粒子の集合体を所望な配列パターンで上記バインダ層上に分配して当該集合体をバインダ層に押し付けてその一部分をバインダ層に植え込んで配列させる工程、
(ハ)上記バインダを硬化させて上記集合体をバインダ層を介して基材シートに固定する工程。
【0021】
【作用】
上記(イ)によって、所要厚さで平滑なバインダ層が基材シート上に形成され、上記(ロ)(ハ)によって、ほぼ均一な形状、大きさの上記集合体がほぼ均一な分布状態で、その一部分がバインダ層に埋め込まれた状態で固定される。
そして、バインダ層の厚さが一定であり、その表面が平滑であるから、集合体のバインダ層からの突出高さは自動的に揃えられる。
そして、この(ロ)(ハ)による製造工程は、極めて簡便で、かつ能率的になされる。
したがって、上記集合体が基材シートに所定間隔で均等に配設された研磨シートが安価にかつ簡単に製造される。
【0022】
【実施態様1】(請求項11に対応)
実施態様1は、上記集合体が、スプレードライヤー、あるいはゾルゲル法で造粒され、分級プロセスで大きさを揃えられたものであることである。
【作用】
球状で比較的粒が揃った集合体が、能率的に作製され、上記バインダ層上への分散も、容易にかつほぼ均等になされる。
【0023】
【実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を説明する。
研磨材粒子としては、加工対象物にもよるが、一般には硬質無機材料であって、平均粒径が5μm以下の超微細粒子が用いられる。通常の砥粒に供される材料は、シリカ、セリア、ダイヤモンド、CBN、アルミナ、炭化珪素、酸化ジルコニウム等であるが、この発明では、焼結処理がしやすい、ZrO2,CeO2、SiO2が望ましい。研磨材粒子(超微細な粒子)を部分的に、かつ空隙を介して互いに結合させて超微細研磨材粒子集合体を形成するには、ゾルゲル法、スプレードライヤー、焼結等の手段でつくることができる。結合状態の調整には焼成による手法を用いる。
基材シートとしては、軟質のもの例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、布、紙、不織布、あるいはそれらの組み合わせたもの、もしくはセラミックス、金属などの板材でもよい。
基材シートに塗布するバインダとしては、ウレタン樹脂、またはポリエステル樹脂などが適当である。
次いで、具体例を説明する。
【0024】
【実施例1】
まず、粒径が数十nmの超微細ZrO2粉末を図2に示している金型の表面に設けた円柱状窪み32に充填する。この円柱状窪み32は、直径100μm、長軸の長さは250μmであり、縦横にほぼ同間隔で配置されている。そして、金型を電気炉に入れ、1600℃以下(1000℃〜1600℃の範囲内)、ほぼ1時間の加熱処理を行って非完全な焼結体、すなわち超微細研磨材粒子同士が部分的に結合され、多数の空隙が存在する円柱状の多孔質集合体を形成する。加熱処理によって、円柱状多孔質集合体は収縮するので、熱処理の条件としては金型の窪みの寸法よりも2〜3%前後収縮する程度に熱処理時間と加熱温度を調整することが肝要である。また、多孔質集合体の結合状態を特定するために、予め同じ焼成条件で焼成を行った後、円柱状の多孔質集合体の圧縮破壊強度と細孔比表面積を行った。なお、この圧縮破壊強度試験は、日本鉱業会誌、81,1024(1965)に掲載されている、平松、岡、木山による報告に基づき、島津製作所株式会社製の微小圧縮試験機MCTM500PCを用いて行ったものであり、その試験条件は、試験荷重10〜1000mN、荷重速度0.446N/secであり、平面圧子を用いて、被測定円柱状の多孔質集合体に対して圧縮を行い、多孔質集合体が圧縮により破壊されたときの強度を測定したものである。その測定結果は、84.4MPaであった。また、細孔比表面積の測定は、定容量式ガス吸着法によるものであり、測定前の前処理として被測定物について150℃で5時間脱ガス処理を行い、液体窒素で77Kの温度まで冷却した状態で窒素分子を吸着させて、その物理吸着量をBET式に適用して表面積を求めたものである。なお、使用機器はベックマン・コールター株式会社のオムニソープ100cxである。その測定結果は、細孔比表面積は1.89m2/gであった。
【0025】
加熱処理を終え、室温に冷却させたのち、窪み32の中にある超微粒子集合体を取り出すことなしに、そのままの状態で金型の上にバインダとしてウレタン樹脂を塗布し、このウレタン樹脂が乾かないうちにさらにその樹脂層の上に基材シート11として75μm厚のPETフィルムを載せ、軽く押し付けた状態で60〜80℃の恒温槽に入れて、恒温槽内でウレタン樹脂を硬化させる。これによって超微粒子集合体12と基材シート11とがバインダ(上記ウレタン樹脂層)を介して一体化される。その後、金型から基材シート11を剥がすと、円柱状の超微細研磨材粒子12の集合体が基材シート11に固定された研磨シートAが作成される(図1)。このようにして作成された研磨シートAは、円柱状研磨材粒子集合体32が部分的に脱落したところもあるが、光学顕微鏡で観察した結果、平均的には研磨材粒子の投影面積の総和が観察されたシート領域の35%程度になっていた。
【0026】
【実施例2】
まずは、粒径50〜60nmの超微細ZrO2粉末(超微細粒子)をスプレードライヤー、あるいはゾルゲル法で球状顆粒12aを造粒し、得られた顆粒12aに対し、堀場製作所製のレーザ回折/散乱式粒度分布測定装置LA−920を用いて、乾式で測定を行った。平均粒径は65μmの2次粒子(顆粒)であった。平均粒径の値は頻度積算50%のところの粒径のものを(通常、メジアン径とも言う)を用い、さらに篩を用いて分級プロセスを加えた。なお、篩メッシュの上限と下限はそれぞれ75μmと53μmである。分級プロセス前(図3(a))に比して分級プロセスの後(図3(b))の球状顆粒は大粒径および小粒径のものが除かれ、粒度分布がさらにシャープとなっていることが両図を比較すれば明らかである。
【0027】
図4にこの研磨シート製造装置を模式的に示している。まず液状のウレタン樹脂に有機溶媒を加え、溶液粘度を調整した後、図4に示しているように、基材シート11(厚さ約75μmのPETフィルム)上に、ワイヤバーあるいはナイフブレード2などを用いて、厚さ35μmのバインダ層(ウレタン樹脂層)13を形成した。そして、バインダ層13がまだ乾かないうちに回転ローラ31によって次のようにしてバインダ層に押し込む(図5参照)。
【0028】
上記回転ローラ31の表面形状は図6に示しているとおりである。回転ローラ31の表面に直径100μmの球面状の窪み32が、100μmよりも大きいピッチで等間隔に配列されており、また、この窪み32の深さは30μmである。ブレード2aと回転ローラ31との間に球状ZrO2 顆粒12aが散布され、こ
の回転ローラ31と当該ローラの底面に配置したブレード2aとで球状ZrO2顆粒12aが保持される。回転ローラ31の回転により、前記球状ZrO2顆粒12aの一部が上記窪み32に入り、ブレード2aの先端から運び出されてバインダ層13上に落される。球状ZrO2顆粒12aの直径が窪み32の深さよりも大であるので、球状ZrO2顆粒12aが窪み32の底面で押さえられてバインダ層に押し込まれる。これによって、回転ローラ32の窪み32の分布にほぼ近似した分布で球状ZrO2顆粒12aがバインダ層13に植え込まれることになる。その後、60℃の恒温槽41に搬送され、バインダ層13の樹脂が硬化して球状ZrO2顆粒12aが固定される。これによって、球状ZrO2顆粒12a同士が互いに一定の間隔で分散して、基材シート11(PETフィルム)の表面に固定された研磨シートBが作製される(図7)。
【0029】
なお、この例では球状ZrO2顆粒12aの平均粒径は65μmであるのに対して回転ローラ31の窪み32の直径は100μmであるから、一つの窪みに一つのZrO2顆粒12aが嵌まり込み、各窪み32で1個の球状ZrO2顆粒12aが押し込まれることになる。なお、窪み32の直径をZrO2顆粒12aの平均粒径の2倍〜3倍にして、一つの窪み32に2〜3個のZrO2顆粒12aが嵌まり込ませて、纏めてバインダ層に押し込むようにすることもできる。このようにしてもこの発明の効果は十分発揮される。
【0030】
回転ローラ31で球状ZrO2顆粒12aをバインダ層13に押し込むときに、球状ZrO2顆粒がすべて半球の窪みに必ずしも嵌まり込まないことがあり、また、ブレード2aの先端からバインダ層13上に自然に直接落下することもあって、バインダ層13上に植え込まれた球状ZrO2顆粒12aの分布模様は、必ずしも回転ドラムの窪み32の分布模様と同じではないが、作製した研磨シートの上から光学顕微鏡で観察した結果、研磨材粒子の投影面積の総和は観察されたシート領域のほぼ40%であった。
【0031】
【実施例3】
次いで、図8を参照して実施例3を説明する。
上記実施例1と同様に、まず液状のウレタン樹脂に有機溶媒を加え、溶液粘度を調整した後、基材シートとしての厚さ約75μmのPETフィルム11上に、ワイヤバーあるいはナイフブレード2を用いて厚さ20μmのバインダ層(ウレタン樹脂層)13を形成し、形成されたバインダ層13が乾かないうちに、ゾルゲル法で作製しさらに焼成を行ったシリカ球状顆粒(分級プロセスを加えた後の平均粒子径は30μm)12cをノズルから吹き付けてバインダ層13に散布する。このとき、シリカ球状顆粒(研磨材粒子)12cの一部分がバインダ層13に突っ込んで当該バインダ層13に植え込まれ、残りの一部がバインダ層13から突出する。この突出高さは、バインダ層13のウレタン樹脂の粘度や、砥粒の吹き付け速度を調整することによって制御される。また、球状シリカ顆粒12cの添加量の調整は、単位時間内の砥粒噴射量と砥粒の噴射時間の調整によってなされる。
そして最後に、恒温槽で60℃程度で約1時間乾燥を施し、研磨シートCを作製した。
以上のようにして作製した研磨シートCの上から光学顕微鏡で観察した結果、球状シリカ顆粒12の投影面積の総和は観察されたシート領域の50%であった。
【0032】
【比較例】
次に図9を参照して比較例について説明する。
まず、数十nmからなる超微細ZrO2あるいはCeO2、SiO2粉末を樹脂に分散し、スラリー化し、スプレードライヤー法で同じく球状ZrO2顆粒12dを作製した(堀場製作所製レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置LA−920を用いて、乾式で測定を行った結果、平均粒径は60μm)。この球状ZrO2顆粒12dの大きさは不均一で一様でない。作製された球状ZrO2顆粒12dを、分級プロセスを行うことなしに液状のウレタン樹脂(バインド材)13aに混入し、さらに有機溶媒を加え、溶液粘度を調整した後、撹拌機を用いて約10分間、撹拌混合する。撹拌条件は、室温で、回転数が50rpmである。そして、混合溶液を基材シート11(厚さ約75μmのPETフィルム)にワイヤバーコータ(テスター産業製PI−1210)を用いて塗布し、その後、恒温槽で約60℃の下で約1時間乾燥させて研磨シートDを作成した(図9)。
【0033】
【研磨加工試験例1】
実施例1で作製した研磨シートAを研磨装置(図10)の定盤53に取りつけ、面粗さ30nmRyに調整したBK7光学ガラスディスクを研磨加工した(加工条件:定盤回転数60rpm、加工圧力50kPa)。そして2分おきにガラスディスクの表面粗さおよび除去能率を測定したところ、表面粗さが劣化することはなく、また除去能率もほぼ一定に保たれた。
また、研磨シートAの高さを測定して研磨シートの摩耗量を計ったところ、研磨シートの摩耗量はほぼ一定であることが判明した。図11(a)に示すとおり、加工面粗さはほとんど劣化しない。これは円柱状超微細研磨材粒子集合体にバインダ材が含まれてないから、常にワークに超微細研磨材粒子が作用していると同時に、バインダによる悪影響がないためである。また、集合体が徐々に一定の速さで摩耗することから、常にワークとの接触点に新しい切刃が供給され、そして接触点の面積が変わらないことから、図11(a)に示すとおり、除去能率も保たれている。
【0034】
【研磨加工試験例2】
実施例2で作製した研磨シートBを研磨装置(図10)の定盤53に取りつけ、面粗さ30nmRyに調整したBK7光学ガラスディスクを研磨加工した(加工条件:定盤回転数60rpm、加工圧力60kPa)。その加工面粗さ及び加工能率の経時変化は図11(b)に示すとおりである。研磨加工進行に関わらず、30nmRy程度のほぼ一定の研磨加工鏡面が保たれ、加工品位が劣化することがなく、スクラッチフリーであることが顕微鏡観察によって確認された。次に除去能率に関して、加工初期に急激に低下するが、しかし、5分経過後はほぼ一定な値を示している。この場合の球状ZrO2顆粒の接触面積の経時変化について調べた結果は図12に示すとおりであり、数分経過後はほぼ一定である(球状ZrO2顆粒の摩耗量は光学顕微鏡により、半球の頂部円形面積を測定した)。
【0035】
球状ZrO2顆粒の摩耗量の変化と加工特性の変化とは対応しており、加工開始直後には球状ZrO2顆粒の摩耗は激しく、球状ZrO2顆粒とワークとの接触面積が大きく増え、加工量も多い。そして加工開始初期においては球状ZrO2顆粒は平坦化摩耗するが、しかし、5分程度経過するとその後は摩耗進行が抑えられ、半球の頂部円の面積増加は微小となり、球状ZrO2顆粒とワークとの接触面積がほぼ一定になり、加工能率も安定していく。したがって、球状ZrO2顆粒は加工進行とともに平坦化摩耗し加工能率も低下するが、その後はそれ自身が微小な摩耗と自生発刃が繰り返されることにより安定的な加工能率で、30nmRy程度の高い精度の加工面が維持された。
【0036】
【研磨加工試験例3】
上記研磨シートBについて、予めドレサーなどのツルアを用いて、前記球状ZrO2顆粒を平坦摩耗させ、半球形状にし、被加工物との接触点を予め円形、あるいは楕円形状にする。この場合、球状ZrO2顆粒の摩耗量を前記加工例2の5分経過後のものとほぼ同じにした。そして、それを前記研磨装置(図10)の定盤に取りつけ、面粗さ30nmRyに調整したBK7光学ガラスディスクを20分間加工した(加工条件は同様)ところ、上記加工例2の5分経過後の加工特性と同様に、一定の除去能率のもとで、30nmRy程度の高精度の鏡面加工を持続的に行うことができた。したがって、予め研磨材粒子を半球状体にすることによって、球状ZrO2顆粒の加工面とワークとの接触面積が急激に変化することを抑制することにより、加工開始初期に起きる加工能率の低下を抑制することができ、一層安定した加工能率で、持続的に高精度の鏡面加工を行うことができた。
【0037】
【研磨加工試験例4】
上記比較例で作製した研磨シートDを同じく研磨装置(図10)の定盤53に取りつけ、面粗さ30nmRyに調整したBK7光学ガラスディスクを加工した結果は図13に示しているとおりである。図13から明らかなとおり、上記比較例で作製した研磨シートDによる加工能率は、加工時間の経過に伴って著しく低下してしまい、安定的な加工能率は得られない。これは研磨材粒子の粒子の大きさが不揃いであり、また研磨材粒子が一定な間隔で分布していないために、研磨材粒子自身の摩耗が激しく進行し、研磨材粒子とワークとの接触面積を一定に保つことができず、このため加工能率が急激に低下することに因るものと推測される。
【0038】
【発明の効果】
この発明の効果は次のように整理される。
(1)請求項1又は請求項2の発明の効果
請求項1又は請求項2の発明によれば、前記超微粒子研磨材粒子集合体の内部にはバインダ材が含まれないことにより、砥粒が常に自生発刃が維持され、切り屑の除去も良好で、安定に能率良く優れた加工面品位に工作物を仕上げることができる。また、バインダが含まれていないため、切りくずがバインダに刺さることによる目詰まりを極めて少なくすることができる。
【0039】
(2)請求項3の発明の効果
請求項3の発明によれば、超微細研磨材粒子集合体の形状は、円錐台、角錐台、円柱状、球状あるいは半球状であることにより、ワークとの接触点での面積が常にほぼ一定に保たれるので、一定の加工能率が保持される。
(3)請求項4の発明の効果
【0040】
請求項4の発明によれば、超微細研磨材粒子集合体はバインダ材から突き出していることにより、研磨加工時に、砥粒が常にバインダ材から上方に突き出した状態に維持され、切り屑の除去も良好で、安定的、能率的に、優れた加工面品位で研磨加工することができ、工具寿命も長くなる。
【0041】
(4)請求項5の発明の効果
請求項5の発明によれば、上記集合体は、その超微細研磨材粒子が部分的に、かつ、部分的に空隙を介してお互いに結合している多孔質体からなるものであり、その内部にはバインダ材が含まれないので、砥粒が常に自生発刃が維持され、切り屑の除去も良好で、安定的、能率的に優れた加工面品位で研磨加工することができる。また、この集合体はバインダ材が含まれていないので、切り屑がバインダに刺さって目詰まりを生じることがない。
【0042】
(5)請求項6の発明の効果
請求項6の発明によれば、超微細研磨材粒子集合体が互いに一定な間隔で、ほぼ均等に分布し、バインダ材により前記基材シートの表面に固定されているので、被加工物との接触状態が安定し、切り屑や摩耗粉などのために、加工能率、研磨性能が阻害されることはなく、高精度の研磨加工を行うことができる。
【0043】
(6)請求項7の発明の効果
研磨シート表面に対する超微細研磨材粒子集合体の割合が10%以下であれば、集合体の加工面に単位面積当たりの荷重が過大になり、したがって、摩耗が著しく進行し、加工能率が安定せず、他方、80%以上になると、固定層であるバインダ層の領域が少なすぎて上記集合体の固定が確実でなくなり、そのために脱粒が顕著になって、加工特性に悪影響を与える恐れがあるが、請求項7の発明によれば、上記両問題はなく、安定的な加工能率で、高い加工特性が維持される。
【0044】
(7)請求項8の発明の効果
請求項8の発明によれば、より確実に超微細研磨材粒子集合体を製造でき、また、バインダのオーバーコートを抑制でき、超微細研磨材粒子集合体の突き出し量を保証でき、安定的に、加工能率、加工面積が維持される研磨シートを簡便に制作することがすることができる。
【0045】
(8)請求項10の発明の効果
請求項10の発明によれば、研磨シート製造方法が、基材シートに予めバインダを塗布し、超微細研磨材粒子集合体を所望な配列パターンでバインダ層に押し付けて配列させた後に、バインダを硬化させる工程を有するので、所定の分布に確実に研磨材粒子を配列でき、また、バインダのオーバーコートを抑制でき、研磨材粒子の突き出し量を確実にほぼ均等にすることができる。
【0046】
(9)請求項11の発明の効果
請求項11の発明によれば、安定した加工能率で良好な加工面で研磨加工できる研磨シートを簡便に、低コストで能率的に作製することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は実施例1の研磨シートAの斜視図である。
【図2】は実施例1の成型金型の斜視図である。
【図3】(a)は実施例2における分級プロセス前の状態を示す平面図であり、(b)は分級プロセス後の状態を示す平面図である。
【図4】は実施例2の研磨シート製造装置を模式的に示す側面図である。
【図5】は図4における回転ローラの斜視図である。
【図6】は図5の回転ローラの表面部分を拡大した一部拡大図である。
【図7】は実施例2の研磨シートの断面図である。
【図8】は実施例3の研磨シートの製造方法を模式的に示す斜視図である。
【図9】は比較例の研磨シートの断面図である。
【図10】は研磨装置を模式的に示す正面図である。
【図11】(a)は実施例1の研磨シートについての研磨加工試験例の加工面粗さ及び加工能率の経時変化を示すグラフであり、(b)は実施例2の研磨シートについての研磨加工試験例の加工面粗さ及び加工能率の経時変化を示すグラフである。
【図12】実施例2の研磨シートについての研磨加工試験例の球状ZrO2顆粒の接触面積の経時変化を示すグラフである。
【図13】は、比較例の研磨シートについての研磨加工試験例における加工能率の経時変化を示すグラフである。
【符号の説明】
A,B:研磨シート
2:ブレード
11:基材シート
12:超微細研磨材粒子集合体
13:バインダ
31:回転ローラ
32:窪み
33:基材シート搬送用ローラ
34:ノズル
41:恒温槽
51:研磨装置
52:ワーク
53:定盤
Claims (12)
- 基材シート、および前記基材シートの表面に形成された研磨層からなる研磨シートであって、
多数の超微細研磨材粒子が焼成されて特定の形状を有する集合体に形成され、当該集合体がバインダ材により前記基材シートの表面に固定されて、上記研磨層を構成していることを特徴とする研磨シート。 - 多数の超微細研磨材粒子からなる特定形状の上記集合体が、上記超微細研磨材粒子が部分的に、かつ、空隙を形成しバインダなしで結合している多孔質体である請求項1の研磨シート。
- 多数の超微細研磨材粒子からなる特定形状の上記集合体の特定形状が、円錐台、角錐台、円柱状、球状あるいは半球状である請求項1又は請求項2の研磨シート。
- 上記バインダ材の層の厚みが、上記特定形状の集合体の高さより薄く、上記集合体がバインダから突出している請求項1の研磨シート。
- 上記特定形状の上記集合体が、研磨加工の進行に伴って微小な平坦摩耗を起こしつつ、その加工面から超微細粒子が順次脱落し、いわゆる自生発刃効果により常に新しい切刃が発生するものであることを特徴とする請求項1の研磨シート。
- 上記特定形状の上記集合体がほぼ一定な間隔で配置されて上記研磨層を構成していることを特徴とする請求項1の研磨シート。
- 上記特定形状の上記集合体の投影面積の総和が研磨シート領域の10%〜80%であることを特徴とする請求項1の研磨シート。
- 上記研磨シートの製造方法であって、
金型の表面に一定の間隔で配列されている特定形状(円錐台、角錐台、円柱状、球状あるいは半球状)の窪みに超微細研磨材粒子を充填し、これを焼成して、上記超微細研磨材粒子を部分的に直接接合させて、空隙を有する特定形状の上記集合体を形成する工程と、
金型の表面にバインダ材を塗布する工程と、
上記バインダが硬化しないうちにその上に基材シートを重ねる工程と、
バインダを硬化させ、その後に金型から研磨シートをはがす工程とを有する研磨シート製造方法。 - 上記金型の表面の窪みが等間隔に配列されていて、窪みの大きさが少なくとも窪みのピッチの1/2よりも小さい、請求項8の研磨シート製造方法。
- 上記研磨シートの製造方法であって、
上記基材シートに予めバインダを塗布する工程と、
上記球状研磨材粒子集合体を所望な配列パターンで分配し、当該集合体をバインダ層に押し付けてその一部分をバインダ層に押し込んで配列させる工程と、
上記バインダを硬化させて上記集合体をバインダ層を介して基材シートに固定する工程を有する、請求項1の研磨シートの製造方法。 - 上記集合体が、スプレードライヤー、あるいはゾルゲル法で造粒され、分級プロセスで大きさを揃えられたものである、請求項10の研磨シートの製造方法。
- 多数の超微細研磨材粒子を焼成して上記の特定形状に成形され、かつほぼ均等な大きさの集合体がバインダによって基材シートに固定され、バインダ表面からほぼ一様に突出している研磨シート。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002272239A JP4231262B2 (ja) | 2002-09-18 | 2002-09-18 | 研磨シートの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002272239A JP4231262B2 (ja) | 2002-09-18 | 2002-09-18 | 研磨シートの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004106121A true JP2004106121A (ja) | 2004-04-08 |
JP4231262B2 JP4231262B2 (ja) | 2009-02-25 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4231262B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7470171B2 (en) | 2005-01-14 | 2008-12-30 | Ricoh Company, Ltd. | Surface polishing method and apparatus thereof |
US9440331B2 (en) | 2013-12-16 | 2016-09-13 | Ricoh Company, Ltd. | Polishing sheet and polishing tool |
US10105814B2 (en) | 2015-01-30 | 2018-10-23 | Ricoh Company, Ltd. | Polishing sheet, polishing tool and polishing method |
CN113084280A (zh) * | 2021-04-17 | 2021-07-09 | 吴杰森 | 一种五金表面抛光工艺 |
-
2002
- 2002-09-18 JP JP2002272239A patent/JP4231262B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7470171B2 (en) | 2005-01-14 | 2008-12-30 | Ricoh Company, Ltd. | Surface polishing method and apparatus thereof |
US9440331B2 (en) | 2013-12-16 | 2016-09-13 | Ricoh Company, Ltd. | Polishing sheet and polishing tool |
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