JP2004088065A - 膜剥離装置および膜剥離方法 - Google Patents

膜剥離装置および膜剥離方法 Download PDF

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滝 良夫
Hirobumi Kasuga
春日 博文
Hironori Suzuki
鈴木 博則
Akira Matsushita
松下 亮
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Abstract

【課題】水蒸気の供給を良好に行ない、より精度の高い剥離を行なうことができる膜剥離装置および膜剥離方法を提供する。
【解決手段】本発明の膜剥離装置1000は、ウエハ1上に形成された膜の剥離処理を行なう処理室10と、前記処理室10に供給する水蒸気を発生させる水蒸気発生装置26aと、前記水蒸気発生装置26aに、キャリアガスを供給するキャリアガス供給装置28と、を含む。
【選択図】    図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、シリコンなどの基板上に形成されたレジストなどの有機物の除去に使用される膜剥離装置および膜剥離方法に関する。
【0002】
【背景技術】
半導体、実装基板などに配線などの所定パターンの膜を形成するフォトリソグラフィ工程において、フォトレジストや電子線レジスト等の各種有機膜が用いられている。しかし、フォトリソグラフィ工程の終了段階では、不要になった有機膜をそれらの基板から除去・洗浄することが必要となる。それらの有機膜を除去する方法としては、薬液を使用した除去方法、プラズマを使用した剥離方法などが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、薬液を用いた除去方法の場合には、薬液そのものが非常に高価であるという問題点がある。また、環境や人体に悪影響を与える有害物質を大量に使用するので排液や排気の処理に特別の配慮が必要となる。
【0004】
プラズマを用いた剥離方法の場合には、安定したプラズマを発生させる放電の制御や電極設備に特別な装置が必要となり、装置全体が複雑となりコスト高となったり、均一な放電を得ることが困難なため、薄膜除去にむらが生じたり、剥離した異物が基板上に再付着し、再汚染してしまうなどの問題がある。
【0005】
上述の問題点を改善する剥離装置として、オゾンガスおよび水蒸気を用いた剥離装置に関する技術があり、例えば、特開2002−18379号公報や特開2000−100686号公報に開示されている。本発明の目的は、上述のようなオゾンと水蒸気を用いた剥離装置であって、水蒸気の供給を良好に行ない、より精度の高い膜の剥離を行なうことができる膜剥離装置および膜剥離方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
(1)本発明の膜剥離装置は、基板上に形成された膜の剥離処理を行なう処理室と、前記処理室に供給する水蒸気を発生させる水蒸気発生装置と、前記水蒸気発生装置に、キャリアガスを供給するキャリアガス供給装置と、を含む。
【0007】
本発明によれば、水蒸気発生装置にキャリアガスを導入し、水蒸気をキャリアガスにより処理室に供給することができる。そのため、確実に水蒸気を処理室に導入することができる。
【0008】
本発明の膜剥離装置は、下記の態様をとることができる。
【0009】
(A)本発明の膜剥離装置において、前記キャリアガスとして、オゾンガスを用いることができる。この態様によれば、水蒸気とオゾンガスとを同一の経路から処理室に導入することができる。
【0010】
(B)本発明の膜剥離装置において、前記処理室には、該処理室にオゾンガスを供給するオゾンガス供給装置を設けることができる。
【0011】
(C)本発明の膜剥離装置において、前記剥離処理後に該処理室中に残存するオゾンガスを分解するための紫外線照射装置を設けることができる。この態様によれば、処理終了後に残存しているオゾンガスを分解することができ、オゾンガスの排出に要する時間を短縮することができる。
【0012】
(D)本発明の膜剥離装置において、前記剥離処理後に該処理室中に残存するオゾンガスを分解するための薬液供給装置を設けることができる。この態様によれば、処理終了後に残存しているオゾンガスを分解することができ、オゾンガスの排出に要する時間を短縮することができる。
【0013】
(E)本発明の膜剥離装置において、前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを排出するための排出手段を含み、前記排出手段は、オゾンガスを排出するために前記処理室を減圧する減圧手段と、所定のガスを供給し前記処理室を加圧する加圧手段と、を含むことができる。この態様によれば、基板処理後に、減圧手段と加圧手段とを組合せて使用することで、処理室のオゾンガスの排出効率を高めることができる。その結果、残存しているオゾンガスの排出にかかる時間を短縮することができる。
【0014】
(F)本発明の膜剥離装置において、前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを排出する排出手段を含み、前記排出手段は、前記処理室と接続され、少なくとも前記処理室との間に開閉機構を有する排気室と、前記排気室と接続され、該排気室を減圧する減圧手段と、を含むことができる。この態様によれば、処理室での剥離処理中に、第1の開閉機構を閉じて、かつ第2の開閉機構を開いた状態で排気室を減圧した後に、第2の開閉機構を閉じて排気室を減圧状態にしておき、剥離処理後に、第1の開閉機構を開くことにより処理室内のオゾンガスを瞬時に処理室外(排気室)へ排出することができる。さらに、かかる態様によれば、排気室からのオゾンガスの排気中に第2の開閉機構を閉じておくことで減圧手段内にオゾンガスが流入することを防止して装置の信頼性を向上させることができ、特に装置の排気系列の信頼性を向上させることができる。
【0015】
(G)本発明の膜剥離装置において、前記排出手段は、前記処理室に接続され、所定のガスを供給して前記処理室を加圧する前記加圧手段を含むことができる。この態様によれば、処理室への加圧を行うことで、オゾンガスの排出効率を高めることができる。
【0016】
(H)本発明の膜剥離装置において、前記排出手段は、前記処理室及び前記排気室に接続され、所定のガスを供給して前記処理室及び前記排気室を加圧する加圧手段を含むことができる。この態様によれば、処理室及び排気室の双方に対して加圧を行うことで、オゾンガスのオゾンガスの排出効率をより一層高めることができる。
【0017】
(2)本発明の膜剥離方法は、
水蒸気発生装置にて水蒸気を発生させ、
前記水蒸気発生装置に、キャリアガス供給装置によりキャリアガスを供給し、前記水蒸気を、前記キャリアガスにより処理室に導入し、基板上に形成された膜の剥離処理を行なうことを含む。
【0018】
本発明の膜剥離方法によれば、水蒸気は、キャリアガスにより処理室に導入されるため、所定の量の水蒸気を確実に処理室に供給することができる。また、例えば、水蒸気発生温度を一定にし、キャリアガスの供給圧力を制御することにより、水蒸気の供給量を制御することができ、被処理物の種類に応じて、所望の水膜を形成することができる。その結果、例えば、下層に金属配線がある場合などでも、金属配線へのダメージをなくすことができる。
【0019】
本発明は、下記の態様をとることができる。
【0020】
(A)本発明の膜剥離方法において、前記キャリアガスとして、オゾンガスを用いることができる。この態様によれば、オゾンガスと水蒸気とを、混合した状態で処理室に導入することができるため、均一な処理を行なうことができる。
【0021】
(B)本発明の膜剥離方法において、オゾンガス供給装置により、前記処理室にオゾンガスを供給し膜の剥離処理を行なうことができる。
【0022】
(C)前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを排出する排出工程を含み、前記排出工程は、
(a)オゾンガスを排出するために前記処理室を減圧すること、
(b)前記(a)の後に、所定のガスを供給し前記処理室を加圧すること、
を有し、前記(a)と(b)とを繰り返し行なうことができる。この態様によれば、(a)と(b)とを繰り返すことで、基板の処理後に残存するオゾンガスの排出効率を上げることができ、装置の停止時間を短縮することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図1を参照しながら説明する。
【0024】
1.膜剥離装置
図1は本発明の膜剥離装置の実施の形態の一例を模式的に示す図である。この膜剥離装置1000は、オゾンガスと水蒸気により膜の剥離処理を行なう処理部1000Aと、処理部での処理後に基板の洗浄を行なう洗浄部1000Bとを有する。
【0025】
(処理部)
処理部1000Aは、膜の剥離処理が行なわれる処理室10、処理室10に水蒸気を供給する水蒸気発生装置26a、水蒸気発生装置26aにオゾンガスを供給するオゾンガス供給装置28a、剥離処理後に処理室10内の残存するオゾンガスを分解する紫外線照射装置20、同様に、残存するオゾンガスを分解するために処理室10内に薬液を噴霧する薬液供給装置22aを含んで構成される。
【0026】
まず、処理室10について説明する。処理室10は、気密に密閉が可能である。処理室10では、水蒸気とオゾンガスとを用いて、基板上に形成されたレジストなどの有機物の剥離が行なわれる。
【0027】
処理室10と水蒸気発生室26aとは、水蒸気供給管26bを介して接続されている。水蒸気発生室26aは、内部に超純水26cが収納され、気密に密閉が可能である。そして、収納されている超純水26cを20〜130の温度に過熱するためのホットプレート(図示せず)が設置されている。
【0028】
水蒸気発生室26aとオゾンガス供給装置(キャリアガス供給装置)28aとは、オゾンガス供給管28bを介して接続されている。オゾンガス供給管28bは、水蒸気発生室26a内に延びており、超純水26c中にオゾンガスを供給しバブリングすることができる。オゾンガス供給装置28aは、オゾンガスを所望の濃度、圧力で供給する装置である。そして、ホットプレートによって水蒸気発生室26a内の超純水26cを所定の温度に過熱し水蒸気を発生させ、オゾンガスをキャリアガスとして水蒸気を水蒸気供給管26bを介し処理室10内へ供給する。
【0029】
紫外線照射装置20は、種々の用途に用いることができる。例えば、ウエハ1上に形成された膜を剥離する工程において、剥離処理を促進するために用いることができる。この場合、紫外線照射波長としては、180nm〜400nmが好ましく、さらに310nm〜400nmであることがより好ましい。他の用途としては、処理室10内に残存しているオゾンガスを分解するために用いることができる。この場合、紫外線照射波長としては、180nm〜400nmが好ましく、さらに200nm〜310nmであることがより好ましい。
【0030】
薬液供給装置22aは、処理室10内に薬液を噴霧し、残存するオゾンガスを分解する役割を果す。薬液供給装置22aと処理室10とは、供給管22bで接続されている。薬液供給装置22aには、オゾンガスを分解可能な薬液として、例えば、脂肪族ポリカルボン酸およびその塩ならびにアミノカルボン酸およびその塩から選択される1種または2種以上の薬液などが収納されている。
【0031】
ガス供給装置24aは、処理室10内のオゾンガスの排出時などに酸素ガスや窒素ガスなどを処理室10に供給し、オゾンガスを排出することができる。ガス供給装置24aと処理室10とは、供給管24bで接続されている。
【0032】
処理室10の下部には、処理室10内の温度を制御するホットプレート12、処理室10内のガスを排気する排気部14およびドレイン18が設けられている。排気部14には、処理室10内のガスの排出を促進するためにポンプ16が設けられている。
【0033】
また、処理室10の内壁は紫外線を効率よく乱反射させるため電解研磨後表面処理が施されている。例えば、フッ素系樹脂コーティングまたは石英コーティング等を施すとよい。
【0034】
処理室10内の温度は90〜200℃(より好ましくは95〜130℃)であることが好ましい。処理室10を過熱する方法として、処理室10全体を80〜150℃の温度に過熱するためのホットプレート12を利用する方法と紫外線照射装置20から得られる赤外線の輻射熱を利用しウエハそのものを過熱する方法、もしくは処理室10全体を80〜150℃の温度に過熱するホットプレート12と紫外線照射装置20からの赤外線の輻射熱を利用しウエハ1そのものを過熱する両方を利用する方法がある。
【0035】
(洗浄部)
洗浄部1000Bは、オゾン水洗浄槽100、超純水リンス槽110、乾燥機(図示せず)などを含んで構成されている。
【0036】
まず、オゾン水洗浄槽100について説明する。オゾン水洗浄槽100は、処理室10での処理では除去されなかった残留物をさらに除去し、より精度の高いエッチングを行なうことを目的としている。オゾン水洗浄槽100と、オゾン水供給装置102とは、オゾン水供給管102bを介して接続されている。オゾン水洗浄槽100は切り替えバルブ106を切り替えることにより、オゾン水を管路102dを経由しオーバーフロー状態に、また管路102cを経由することでオゾン水を循環することができるようになっている。
【0037】
さらに、オゾン水洗浄槽100には、薬液添加装置104aが接続されている。オゾン水洗浄槽100と、薬液添加装置104aとは、注入管路104bを介して接続されている。薬液添加装置104aに収納された薬液104cを薬液注入ポンプによりオゾン水洗浄槽100に注入できるようになっている。薬液添加装置104aには、例えば、脂肪族ポリカルボン酸及びその塩並びにアミノポリカルボン酸及びその塩からなる群から選ばれた少なくとも1種類または2種類以上の薬液が満たされている。
【0038】
また、オゾン水洗浄槽100の底部にはオゾンガスをバブリングできるようオゾンガスバブリング装置108を備えている。オゾンガスバブリング装置108には、オゾンガス供給管28bから分岐している分岐供給管108aを介してオゾンガスが供給される。オゾンガス供給管28bには、バルブ30が設けられており、バルブ30を制御することにより、分岐供給管108aにオゾンガスが供給される。
【0039】
次に、本実施の形態の装置の利点を述べる。
【0040】
(1)本実施の形態の膜剥離装置1000は、水蒸気発生装置26aにキャリアガスを導入し、水蒸気をキャリアガスにより処理室10に供給する。そのため、確実に一定量の水蒸気を処理室10に導入することができる。また、キャリアガスとしてオゾンガスを用いることにより、水蒸気とオゾンガスとを混合した状態で処理室10に供給することができる。
【0041】
(2)処理室10には、紫外線照射装置20が設けられているため、基板処理中に、処理室10内のウエハ1に紫外線を照射することにより、ウエハ1上に形成された膜の剥離処理を促進することができる。また、基板処理後に処理室10内に残留しているオゾンガスに紫外線を照射することにより、オゾンガスの分解を促進することができる。その結果、オゾンガスの排出時間を短縮することができ、さらには装置の停止時間の短縮、オゾンガスの排出に要していたエネルギーの削減をすることができる。
【0042】
(3)処理室10には、オゾンガスの分解に効果を有する薬液が収納されている薬液供給装置22aが接続されている。そのため、基板処理後に処理室10内に残存しているオゾンガスに薬液を噴霧することにより、オゾンガスの分解を促進することができる。その結果、オゾンガスの排出時間を短縮することができ、さらには装置の停止時間を短縮、オゾンガスの排出に要していたエネルギーの削減をすることができる。
【0043】
(4)処理室10の排気部14には、オゾンガス排出用のポンプ16が設けられているため、基板処理後に処理室10内に残存しているオゾンガスを排出する際にポンプを稼動させることにより、排出時間の短縮を図ることができる。さらに、処理室10には、ガス供給装置24aが接続されているため、ポンプを稼動させてある程度、処理室10内を減圧した後、ガス供給装置24aからドライエアー又は不活性ガス(N)などを導入し加圧し、その後再び減圧することを繰り返すことができる。その結果、オゾンガスの排出効率を高めることができ、オゾンガスの排出時間を短縮することができる。
【0044】
2.膜剥離方法
次に、本実施の形態の膜剥離装置1000を使用する膜剥離方法について説明する。
【0045】
例えば、レジストなどの有機物の膜が形成されているウエハ1をウエハカセット2に収納し、ウエハカセット2を処理室10にセットする。ついで、処理室10では、ガス供給装置24aから100〜200℃に加熱されたドライエアー又は不活性ガス(N)を処理室10へ供給しながら、排気部14から排気し、処理室10内を置換する。同時に、処理室10のホットプレート12を作動させ、ウエハ1を120℃に加熱する。
【0046】
ウエハ1の温度が120℃で安定した後、水蒸気発生装置26aで水蒸気を発生させる。その間に、水蒸気発生装置26a中の超純水26cには、オゾンガス供給装置28aからオゾンガスが供給されバブリングされている。発生した水蒸気は、オゾンガスをキャリアガスとして、水蒸気供給管26bを介して処理室10に供給する。この際、必要に応じて、紫外線照射装置20を作動させる。紫外線照射の波長としては、180〜400nmが好ましく、310〜400nmであることがより好ましい。これにより、処理室10に収納されているウエハ1の膜の剥離処理が促進される。この時のオゾンガスの流量、圧力や水蒸気の発生温度などは、処理を行なう条件に応じて適宜調整する。
【0047】
ついで、排気部14を閉状態にし、処理室10内を50〜200kPaに加圧する。ここで、ウエハ1上の膜の剥離処理が行なわれる。この処理中に、必要に応じて後述する紫外線照射装置20を点灯させることにより、膜の剥離を促進することができる。
【0048】
ついで、水蒸気の供給を停止し、処理室10のホットプレート12による加熱を停止する。ガス供給装置24aから処理室10にドライエアー又は不活性ガスを処理室10へ供給し、処理室10内を置換したあと、そのまま1分間静止する。この際、必要に応じて、紫外線照射装置20を作動させる。紫外線の波長としては、180nm〜400nmが好ましく、200nm〜310nmであることがより好ましい。これにより、処理室10内に残存しているオゾンガスを分解する。
【0049】
処理室10内に残存しているオゾンガスの分解は、紫外線を照射する他に、オゾンガスを分解することのできる薬液を処理室10内に噴霧することで達成することができる。
【0050】
この場合は、薬液供給装置22aの薬液を供給管22bを介して処理室10に噴霧し、残存しているオゾンガスを分解する。その後、処理室10の内壁が薬液で汚染されるため、水蒸気発生装置26aから水蒸気を供給し、処理室10の内壁を洗浄する。
【0051】
また、必要に応じて、紫外線照射装置20を作動させることと、薬液供給装置22aから処理室10への薬液の噴霧を併用して、処理室10に残存するオゾンガスの分解を行なうこともできる。
【0052】
また、処理室10に残存するオゾンガスの処理方法としては、上述した方法の他に、次のような方法がある。まず、基板処理後に、ポンプ16を作動させて処理室10内を減圧する。この時、処理室10内の圧力は、133Paより高くないことが好ましい。ついで、ガス供給装置24aからドライエアー又は不活性ガスを供給することで処理室10内を加圧する。この時、処理室10内の圧力は、50〜200kPaであることが好ましい。この減圧処理と加圧処理とを繰り返し行なうことで残存しているオゾンガスを排出することができる。
【0053】
ついで、基板温度が約40℃まで低下した後、ウエハ1を取り出し、オゾン水洗浄槽100に移動させる。オゾン水洗浄槽100のオゾン水には、薬液添加装置104aによりシュウ酸0.01重量%を添加されている。ウエハ1をオゾン水に浸漬した後、蓋100aを閉めると共にオゾンガスバブラー108よりオゾンガスのバブリングをし、オゾン水液面上の蓋内に高濃度オゾンガスを充満させる。このことにより、オゾン水からのオゾンガス離脱速度を小さくすることができる。この状態を約10分間保持した後、続いてリンス槽110へウエハ1を移し、10分リンスし、最後に乾燥機(図示せず)で乾燥させる。
【0054】
以下に、本実施の形態の膜剥離方法の利点について説明する。
【0055】
本実施の形態の膜剥離方法では、水蒸気がキャリアガス(オゾンガス)により処理室10に供給されている。そのため、例えば、水蒸気発生温度を一定にしキャリアガスを水蒸気発生装置26aに供給する圧力を制御することで、水蒸気の供給量を制御することができる。レジストなどの有機物を除去する際には、処理が行なわれる基板上に水膜が良好に形成されることが重要であると考えられている。本発明の膜剥離方法によれば、水蒸気の供給量を制御できるため、被処理膜の種類に応じて、所望の水膜を形成することができ、良好に剥離処理を行なうことができる。例えば、被処理膜の下層が金属層である場合においても、金属層にダメージを与えること無く良好に剥離処理を行なうことができる。また、本実施の形態では、オゾンがスをキャリアガスとして用いているため、水蒸気とオゾンガスとが混合した状態で供給され、均一な剥離処理を行なうことができる。
【0056】
本実施の形態の膜剥離方法は、基板処理後に、処理室10を減圧することと、加圧することを繰り返すことにより、処理室10に残存しているオゾンガスを排出することができる。従来の技術では、ドライエアーや酸素ガスや窒素ガスなどを処理室10内に単に導入することのみによりオゾンガスを排出していたため、時間がかかり、また、高価なガスを多量に消費することとなり、コストがかかることがあった。しかし、本実施の形態の方法によれば、排出効率を高めることができ、処理時間の短縮、コストの削減を図ることができる。
【0057】
本発明は、上述の実施の形態に制限されず、本発明の要旨の範囲内で変形することが可能である。以下に変形例について述べる。
【0058】
本発明の膜剥離装置は、水蒸気を処理室10に導入するキャリアガスとして、オゾンガスを用いる他に、ドライエアー、窒素ガス、酸素ガスなどを用いることができる。この場合、処理室と、オゾンガス供給装置とを供給管を介して接続することにより、オゾンガスを処理室に供給することができる。
【0059】
本発明の膜剥離装置は、排気から回収されたオゾンガスを集めるための、オゾンガス回収容器を設け、さらにこの回収容器に、オゾンガスを分解するための紫外線照射装置や、薬液供給装置を設けることができる。この態様では、オゾンガスを廃棄する際に無害化することができる。
【0060】
また、本発明の膜剥離装置において、処理室からオゾンガスを排出させるための他の機構として図2に示すような構成を用いることができる。図2では、図1に示した本実施の形態に係る膜剥離装置との主要な相違点についてのみ図示する。
【0061】
かかる変形例においては、図2に示すように、処理室20の排気部14とポンプ16との間に排気室21が設けられている。この排気室21は、処理室との間にゲートバルブ21aを有し、ポンプ16との間にゲートバルブ21bを有する。
【0062】
かかる排気室21を用いた処理室からのオゾンガスの排出は、以下のようにして行われる。
【0063】
まず、処理室20での剥離処理中にゲートバルブ21aを閉じて、かつゲートバルブ21bを開いた状態で排気室21内をポンプ16で減圧状態としておく。そして、排気室21内の減圧状態が保たれるように排気室21に対して排気を行った後はゲートバルブ21bを閉じた状態としておく。
【0064】
次に、処理室20での剥離処理が終わった後に、ゲートバルブ21aを開いて処理室20と排気室21との接続を開放し、処理室20内に残存するオゾンガスを排気室21側に引き込む。このとき、ガス供給装置24aから処理室20にドライエアー又は不活性ガスを供給して加圧を行うことで、処理室20からのガス排出効率を高めることができる。
【0065】
次に、ゲートバルブ21aを閉じて排気管21cを経由して排気室21内のガスを装置外へ排出する。このとき、ガス供給装置24aから排気室21にドライエアー又は不活性ガスを供給して加圧を行うことで、排気室21からのガス排出効率を高めることができる。その後、排気室21は、次の剥離処理に備えてゲートバルブ21bが開放されてポンプにより室内の排気が行われる。
【0066】
以上に述べたように、本変形例に係る残存オゾンガスの排出機構を用いれば、剥離処理後に処理室20に残存するオゾンガスを瞬時に室外へ排出することができる。これにより、処理室20に残存するオゾンガスによりウェハ1などの被処理体に必要以上の反応処理が行われるような事態を防止することができ、工程管理及び製品の品質管理が容易となる。また、本変形例の排出機構を用いることにより、処理室20を減圧するための排気室21を剥離処理中に予めポンプで吸引して減圧状態としておくことができるため、剥離処理と排気室21の減圧処理を並列して行うことができ、工程時間の短縮を図ることができる。さらには、排気室21からのガスの排出をポンプ16を経由せずに排気管21cを経由して行うことで、ポンプ16のみを用いて処理室20内を減圧して残存オゾンガスを排気する場合に比べて、ポンプ16に反応性の強いオゾンガスが流入することがないので、排気系列の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態の膜剥離装置を模式的に示す断面図である。
【図2】本実施の形態の膜剥離装置の変形例を模式的に示す図である。
【符号の説明】
1 ウエハ、2 ウエハカセット、10 処理室、12 ホットプレート、14排気部、16 ポンプ、18 ドレイン、20 紫外線照射装置、21 排気室、21a ゲートバルブ(第1の開閉機構)、21b ゲートバルブ(第2の開閉機構)、21c 排気管、22a 薬液供給装置、22b 供給管、24aガス供給装置、24b 供給管、26a 水蒸気発生装置、26b 水蒸気供給管、26c 超純水、28a オゾンガス供給装置(キャリアガス供給装置)、28b オゾンガス供給管、100 オゾン水洗浄槽、102 オゾン水供給装置、104a 薬液添加装置、104b 注入管路、106  ポンプ、110 超純水リンス槽、1000 膜剥離装置、1000A 処理部、1000B
洗浄部

Claims (13)

  1. 基板上に形成された膜の剥離処理を行なう処理室と、
    前記処理室に供給する水蒸気を発生させる水蒸気発生装置と、
    前記水蒸気発生装置に、キャリアガスを供給するキャリアガス供給装置と、を含む、膜剥離装置。
  2. 請求項1において、
    前記キャリアガスとして、オゾンガスを用いる、膜剥離装置。
  3. 請求項1において、
    前記処理室にオゾンガスを供給するオゾンガス供給装置が設けられている、膜剥離装置。
  4. 請求項1〜3のいずれかにおいて、
    前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを分解するための紫外線照射装置が設けられている、膜剥離装置。
  5. 請求項1〜4のいずれかにおいて、
    前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを分解するための薬液供給装置が設けられている、膜剥離装置。
  6. 請求項1〜5のいずれかにおいて、
    前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを排出するための排出手段を含み、
    前記排出手段は、
    オゾンガスを排出するために前記処理室を減圧する減圧手段と、
    所定のガスを供給し前記処理室を加圧する加圧手段と、
    を含む、膜剥離装置。
  7. 請求項1〜5のいずれかにおいて、
    前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを排出する排出手段を含み、
    前記排出手段は、
    前記処理室と接続され、オゾンガスを排出するために前記処理室を減圧する排気室と、
    前記排気室と接続され、該排気室を減圧する減圧手段と、
    を含み、
    前記排気室は、前記処理室との間に第1の開閉機構を有し、かつ前記減圧手段との間に第2の開閉機構を有する、膜剥離装置。
  8. 請求項7において、
    前記排出手段は、前記処理室に接続され、所定のガスを供給して前記処理室を加圧する前記加圧手段を含む、膜剥離装置。
  9. 請求項7において、
    前記排出手段は、前記処理室及び前記排気室に接続され、所定のガスを供給して前記処理室及び前記排気室を加圧する加圧手段を含む、膜剥離装置。
  10. 水蒸気発生装置にて水蒸気を発生させ、
    前記水蒸気発生装置に、キャリアガス供給装置によりキャリアガスを供給し、前記水蒸気を、前記キャリアガスにより処理室に導入し、基板上に形成された膜の剥離処理を行なうこと、を含む、膜剥離方法。
  11. 請求項10において、
    前記キャリアガスとして、オゾンガスを用いる、膜剥離方法。
  12. 請求項10において、
    オゾンガス供給装置により、前記処理室にオゾンガスを供給し膜の剥離処理を行なう、膜剥離方法。
  13. 請求項10〜12のいずれかにおいて、
    前記剥離処理後に前記処理室中に残存するオゾンガスを排出する排出工程を含み、
    前記排出工程は、
    (a)オゾンガスを排出するために前記処理室を減圧すること、
    (b)前記(a)の後に、所定のガスを供給し前記処理室を加圧すること、
    を有し、前記(a)および(b)を繰り返し行なう、膜剥離方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005047560A1 (ja) * 2003-11-17 2005-05-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 結晶膜の製造方法、結晶膜付き基体の製造方法、熱電変換素子の製造方法、および熱電変換素子
JP2010034203A (ja) * 2008-07-28 2010-02-12 Tokyo Electron Ltd 半導体製造装置の洗浄装置及び洗浄方法
WO2022044508A1 (ja) * 2020-08-28 2022-03-03 野村マイクロ・サイエンス株式会社 レジスト剥離方法、レジスト剥離装置、及び、前処理方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005047560A1 (ja) * 2003-11-17 2005-05-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 結晶膜の製造方法、結晶膜付き基体の製造方法、熱電変換素子の製造方法、および熱電変換素子
US7351906B2 (en) 2003-11-17 2008-04-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of manufacturing crystalline film, method of manufacturing crystalline-film-layered substrate, method of manufacturing thermoelectric conversion element, and thermoelectric conversion element
JP2010034203A (ja) * 2008-07-28 2010-02-12 Tokyo Electron Ltd 半導体製造装置の洗浄装置及び洗浄方法
US8297292B2 (en) 2008-07-28 2012-10-30 Tokyo Electron Limited Cleaning device and cleaning method of semiconductor manufacturing apparatus
WO2022044508A1 (ja) * 2020-08-28 2022-03-03 野村マイクロ・サイエンス株式会社 レジスト剥離方法、レジスト剥離装置、及び、前処理方法
JP2022039179A (ja) * 2020-08-28 2022-03-10 野村マイクロ・サイエンス株式会社 レジスト剥離方法、レジスト剥離装置、及び、前処理方法
JP7186751B2 (ja) 2020-08-28 2022-12-09 野村マイクロ・サイエンス株式会社 レジスト剥離方法、レジスト剥離装置、及び、前処理方法

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