JP2004079128A - 光ディスク記録装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】記録可能な光ディスクへのデータ記録時に照射する記録用レーザ光強度、及び、トラッキング・フォーカス制御用レーザ光強度を、光ディスク記録面に付着した指紋等の汚れに追従し、かつ、記録面ぶれ等に対しては追従しないように制御する。
【解決手段】従来の指紋・汚れに対応した記録パワー補正装置において、指紋・汚れ検出精度を高めるための、スペース長選択信号を受信してＥＦＭ信号のスペース長を選択してサンプルホールド信号を生成するＥＦＭ入力インタフェース、及び、ライトＡＰＣ部生成のマークに対するライトパワーを指紋・汚れ検出時に補正する構成に加え、リードＡＰＣ部生成のスペースに対するリードパワーを指紋・汚れ検出時に補正する加算部を有する。
【選択図】 図１
【解決手段】従来の指紋・汚れに対応した記録パワー補正装置において、指紋・汚れ検出精度を高めるための、スペース長選択信号を受信してＥＦＭ信号のスペース長を選択してサンプルホールド信号を生成するＥＦＭ入力インタフェース、及び、ライトＡＰＣ部生成のマークに対するライトパワーを指紋・汚れ検出時に補正する構成に加え、リードＡＰＣ部生成のスペースに対するリードパワーを指紋・汚れ検出時に補正する加算部を有する。
【選択図】 図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、追記・書換え可能な光ディスクにデータ信号を安定に記録する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒ（オレンジブック規格）等の追記型光ディスクにデータ信号を記録する場合は、一般に、データ信号に誤り訂正のためのパリティが付加され、さらに、その信号をＥＦＭ方式により変調された信号が用いられる。この変調された信号には、信号のハイレベル又はローレベルの時間幅として、所定の基準時間幅Ｔを３から１１倍して得られる９通りの時間幅３Ｔ〜１１Ｔが与えられている。この信号に基づき、例えば信号がハイレベルである場合に、追記型光ディスクにパルス状のレーザ光を照射し、該追記型光ディスクの記録層にピットを形成する。これにより、追記型光ディスクにデータ信号が記録される。
【０００３】
上記信号記録を行う場合には、追記型光ディスクの記録層にレーザ光を照射する前に、記録レーザ光強度最適化（以下「ＯＰＣ」とする。）を行う。一般に、追記型光ディスクは、ＯＰＣを行うためのパワーキャリブレーションエリア（以下「ＰＣＡ」とする。）を有している。ＰＣＡは、テストエリアとカウントエリアとからなり、それぞれ１００パーティションを有し、テストエリアの１パーティションは、１５フレームを有している。
【０００４】
ＯＰＣは、上記ＰＣＡに所定の信号を記録し、その記録信号を再生することにより行われる。例えば、１５フレーム間で１５段階のレーザ光強度を用いてピット形成を行い、その中で最も記録状態の良いレーザ光強度を検出し、そのレーザ光強度によりデータ信号の記録を行う方法が知られている。
【０００５】
また、追記型光ディスクの記録層にデータ信号を記録している状態では、ランニングＯＰＣ（以下「ＲＯＰＣ」とする。）を行う。ＲＯＰＣは、上記ＯＰＣにより得られた最適レーザ光強度を、データ信号記録状態中一定に保持するために、上記ＯＰＣ時とデータ信号記録時とのピットの反射光強度を比較し、その結果に基づいて照射するレーザ光強度を随時補正するものである。反射光強度を検出するために用いられるピットは、時間幅１１Ｔを有するものであり、ピット後端の反射光強度が用いられる。この反射光強度をＢ値と呼ぶ。
【０００６】
図３は、従来の記録パワー補正装置を説明するためのブロック図である。この構成は特開２０００−２２２７３０などですでに知られている。これは、追記型光ディスクに照射した記録用レーザ光の反射光からＢ値を算出し、該Ｂ値に基づいて該レーザ光の照射強度を制御するものである。
【０００７】
上記記録パワー補正装置は、追記型光ディスクに記録用又は再生用レーザ光を照射する半導体レーザダイオード１０１と、上記レーザ光の照射強度をモニタするために、該レーザ光の一部を受け、その光強度に対応した電気信号を出力するモニタ用フォトダイオード１０２と、該出力を受け、半導体レーザダイオード１０１が照射する光強度を制御するリードＡＰＣ部１０８、ライトＡＰＣ部１０９と、上記レーザ光により生じる追記型光ディスクからの反射光を受け、その反射光強度に対応した電気信号を出力するサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３と、該反射光強度信号を元に各種信号（ＤＲＣ信号、トラッキング、フォーカス信号、Ｂ値信号）を生成する反射光演算部１０４と、該反射光演算部１０４が演算すべき反射光範囲（ピット記録部分或いはピット未記録部分の所定期間）をＥＦＭ信号を元に生成するＥＦＭ入力インタフェース１０５と、該Ｂ値に基づいてゲインを設定するＲＯＰＣ処理部１０７と、前記ＤＲＣ信号を受信して指紋・汚れ等を検知し最適ライトパワーを制御する指紋・汚れ検出部１１２と、指紋・汚れ等の検知期間中、通常のライトパワーに所定パワーを加算する加算部１１０と、該加算部１１０出力のライトパワーとリードＡＰＣ部１０８出力のリードパワーを、記録ＥＦＭ信号のピット形成（以下「マーク」とする。）期間とピット未形成（以下、「スペース」とする。）期間で選択するセレクタ１１１と、から構成されるものである。なお、レーザダイオード１０１、モニタ用フォトダイオード１０２、及び、セレクタ１１１をまとめて、一般にピックアップ１００と呼ぶ。
【０００８】
以下、上記記録パワー補正装置の動作について説明する。レーザダイオード１０１は、ＯＰＣにより得られた最適光強度の記録用レーザ光を追記型光ディスクに照射する。モニタ用フォトダイオード１０２は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が出力するサンプルホールド信号に従い、該レーザ光の一部をスペース期間とマーク期間に分けてサンプルホールドし、各期間の強度を電気信号に変換してそれぞれ（スペース期間の信号は）リードＡＰＣ部１０８、（マーク期間の信号は）ライトＡＰＣ１０９へ出力する。リードＡＰＣ部１０８は、該出力のうちスペース期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がスペース期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。また、ライトＡＰＣ部１０９は、該出力のうちマーク期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がマーク期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。
【０００９】
サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、記録用レーザ光により生ずる追記型光ディスクからの反射光を受け、その反射光強度を電気信号に変換して出力する。反射光演算部１０４は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が生成するサンプルホールド信号に従って、反射光をサンプルホールドし、該サンプルホールド信号を元に所定演算を行い、ＤＲＣ信号とＢ値信号を出力する。ＲＯＰＣ処理部１０７は、該Ｂ値と目標値との差に基づいてゲインを出力する。ライトＡＰＣ部１０９は、該ゲインに基づいて記録用レーザ光の光強度の目標値を更新する。これにより、上記レーザダイオード１０１から照射される記録用レーザ光強度は、Ｂ値が所定の目標値になるように制御される。
【００１０】
指紋・汚れ検出部１１２は、前記ＤＲＣ信号を観測して指紋・汚れ等を検知する。加算部１１０は、該検知期間においてのみ、適正な記録が可能となるように、ライトＡＰＣ部１０９が出力する通常の最適ライトパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２が出力する所定パワーを加算してピックアップ１００へ最終のライトパワーとして出力する。
【００１１】
このように、上記従来の記録パワー補正装置によれば、レーザダイオード１０１から照射される記録用レーザ光強度を、追記型光ディスクの反射光から検出するＢ値が常に目標値になるように制御するので、追記型光ディスクでのデータ信号記録状態中に、半導体レーザダイオードの温度変化によるレーザ光強度の変化、追記型光ディスクの形状変化、又は該ディスク記録層の記録感度変化などの要因が生じた場合にも、これらに追従したレーザパワー制御を行え、かつ、指紋・汚れ等の箇所を記録する状態においても、該指紋・汚れを検出して一時的にマーク期間のライトパワーを可変できるため、安定したデータ記録を行うことができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
通常、指紋等の汚れは数ｍｍから数十ｍｍ程度の大きさであるから、追記型光ディスクがトレースされる線速度を１．２ｍ／ｓとしたとき、１ｍｍの汚れが影響する時間は約０．８３ｍｓである。従来例の場合、記録すべきマーク部分においては、このような指紋・汚れ等に対応して記録パワーを一時的に変化させているので記録パワーは良好に制御されるが、スペース部分の指紋・汚れ等の影響で該スペース部分の反射光が乱れるために、該反射光を元に制御が行われるトラッキング／フォーカス制御が乱れ、トラッキングずれやレーザ光のビームスポットが不適な状態で記録されてしまう問題が生ずる。
【００１３】
図８に示すように、図８（ａ）の記録ＥＦＭ信号に対し、指紋・汚れ等が無い場合の反射光が図８（ｂ）であり、図８（ｅ）の斜線部分８０１のような指紋・汚れがある場合の反射光が図８（ｆ）である。図８（ｆ）に見られるように、指紋・汚れがある箇所では、マーク記録期間だけでなく、ライトパワーをかけていないスペース期間においても、反射光は乱れる。
【００１４】
このように、スペース部分の指紋・汚れ等の影響で該スペース部分の反射光が乱れるために、該反射光を元に制御が行われるトラッキング／フォーカス制御が乱れ、トラッキングずれやレーザ光のビームスポットが不適な状態となり、記録状態が不安定となる。
【００１５】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、追記型光ディスクへのデータ記録時に照射するマーク部分へのライト用レーザ光強度に加え、スペース部分へのリード用レーザ光強度においても、光ディスク面に付着した指紋等の汚れに追従し、かつ、記録面ぶれ等に対しては追従しないように制御し、これにより、光ディスクへのデータ記録状態を常に最適かつ安定なものとすることができる記録パワー補正装置を提供するものである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ディスク記録装置は、指紋・汚れ検出精度を高めるために、マーク・スペース長選択信号を受信してＥＦＭ信号のマーク長もしくはスペース長を選択してサンプルホールド信号、及びレーザダイオードへのパワー選択信号を生成するためのＥＦＭインターフェース、及びライトＡＰＣ部生成のマークに対するライトパワーを指紋・汚れ検出時に補正する構成に加え、リードＡＰＣ部生成のスペースに対するリードパワーを指紋・汚れ検出時に補正する加算部を有することで、レーザ光出力やディスク反射率の影響を受けずに指紋などを高精度に検出することが出来、光ディスクへのデータ記録状態を常に最適に出来る。
【００１７】
【発明の実施の形態】
請求項１に記載の発明は、記録するデータに基づいて光ディスク上にピットを形成する第１のレーザ光とピットを形成しない第２のレーザ光とを照射することによりレーザ光照射手段を備えた光ディスク装置において、上記光ディスクに照射した前記第１と第２のレーザ光の反射光を受光して前記反射光の強度に応じた反射光強度信号を出力する受光手段と、前記第１のレーザ光の反射光強度信号に応じてピットの反射光強度を表す第１の信号を出力するピット反射光検出手段と、前記第２のレーザ光の反射光強度信号が前記光ディスクのトラック溝上に照射されているか否かを表す第２の信号を出力するトラック検出手段と、前記第２の信号が所定の閾値以上である場合に第３の信号を出力する指紋・汚れ検出手段と、上記第３の信号が出力されている時に、前記第１の信号のレベルに応じて前記第１と第２のレーザ光の照射強度を制御するための制御信号を前記レーザ光照射手段に出力する記録パワー補正手段を備えたことを特徴とする光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００１８】
請求項２に記載の発明は、前記制御信号は、前記第一の信号のレベルに応じて前記第１あるいは第２のレーザ光照射手段に流れる電流値の補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００１９】
請求項３に記載の発明は、前記第２の信号を生成するための反射光強度取得手段が、予め設定されたピット未形成信号の反射光強度を取得するものであることを特徴とする請求項１ないし２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００２０】
請求項４に記載の発明は、前記レーザ光照射手段は、光ディスクのトラック溝上に第２のレーザ光を照射する第１の発光素子と、光ディスクのトラック溝間に第２のレーザ光を照射する第２の発光素子とを有し、上記受光手段は、前記第１の発光素子により生ずる光ディスクの反射光を受光してその光強度を表す反射光強度信号を出力する第１の受光素子と、前記第２の発光素子により生ずる光ディスクの反射光を受光してその光強度を表す反射光強度信号を出力する第２の受光素子とを有し、上記トラック検出手段は、前記第１の受光素子が出力する反射光強度信号と、前記第２の受光素子が出力する反射光強度信号とに基づいて、前記第２の信号を出力するものであることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００２１】
請求項５に記載の発明は、前記レーザ光照射手段は、前記第１と第２のレーザ光を受光してその光強度表す光強度信号を出力するモニタ用受光素子と、前記光強度信号を受けて前記第１と第２のレーザ光の照射強度を制御する制御回路とを有し、前記第３の信号が出力されない間は、前記第１と第２のレーザ光の照射強度を一定に保持するものであることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００２２】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１の記録パワー補正装置の構成を示すブロック図である。図の記録パワー補正装置は、追記型光ディスクにピットを形成する光強度である第１のレーザ光と、ピットを形成しない光強度である第２のレーザ光とを照射するレーザダイオード１０１を備え、光ディスク装置（図示せず）と接続されている。
【００２３】
上記記録パワー補正装置は、上記第１のレーザ光の一部を受光し、光強度を表す電気信号を出力するモニタ用フォトダイオード１０２と、該電気信号を受け、半導体レーザダイオード１０１が照射する第１のレーザ光強度が目標値を保持するように制御するライトＡＰＣ部１０９と、同じくレーザダイオード１０１が照射する第２のレーザ光強度が目標値を保持するように制御するリードＡＰＣ部１０８と、記録用又は第２のレーザ光により生ずる追記型光ディスクからの反射光を受け、該反射光強度を表す電気信号を出力するサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３と、該反射光強度信号を元に各種信号（ＤＲＣ信号、トラッキング／フォーカスエラー信号、Ｂ値信号）を生成する反射光演算部１０４と、該反射光演算部１０４が演算すべき反射光範囲（マーク部分或いはスペース部分の所定期間）をＥＦＭ信号を元に生成するＥＦＭ入力インタフェース１５１と、該Ｂ値に基づいてゲインを設定するＲＯＰＣ処理部１０７と、前記ＤＲＣ信号を受信して指紋・汚れ等を検知し最適ライトパワー及び最適リードパワーを制御する指紋・汚れ検出部１１２と、指紋・汚れ等の検知期間中、通常のライトパワーに所定パワーを加算する加算部１１０と、指紋・汚れ等の検知期間中、通常のリードパワーに所定パワーを加算する加算部１５２と、該加算部１１０出力のライトパワーと該加算部１５２出力のリードパワーを、記録ＥＦＭ信号のマーク期間とスペース期間で選択するセレクタ１１１と、から構成されるものである。なお、従来と同様、レーザダイオード１０１、モニタ用フォトダイオード１０２、及び、セレクタ１１１をまとめて、一般にピックアップ１００と呼ぶ。以下、上記記録パワー補正装置の詳細な構成について説明する。
【００２４】
図４は、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３、及び、反射光演算部１０４の構成を示す図であり、上記ＤＲＣ信号、Ｂ値信号、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号を生成するためのものである。図において、Ｔｒは追記型光ディスクのトラック溝であり、該トラック溝Ｔｒには、記録用又は第２のレーザ光を照射するメインビームＭｂと、トラック又はフォーカスエラーを検出するためのサブビームＳｂ１，Ｓｂ２が照射されている。メインビームＭｂとサブビームＳｂ１，Ｓｂ２は、その照射位置がトラック溝間の幅の半分だけずれたものとなるように配置されている。すなわち、メインビームＭｂの照射位置がトラック溝Ｔｒの中央に、サブビームＳｂ１の照射位置がトラック溝Ｔｒの一端側のトラック溝間に、サブビームＳｂ２の照射位置がトラック溝Ｔｒの他端側のトラック溝間になるように配置されているサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、メインビームＭｂの反射光を受光し、その光強度を表す電気信号を出力するメインビーム用フォトダイオード（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）と、サブビームＳｂ１の反射光を受光し、その光強度を表す電気信号を出力するサブビーム用フォトダイオード（Ｅ，Ｆ）と、サブビームＳｂ２の反射光を受光し、その光強度を表す電気信号を出力するサブビーム用フォトダイオード（Ｇ，Ｈ）を備えている。
【００２５】
上記メインビーム用フォトダイオードは４分割フォトダイオードであり、それぞれが受光した光強度に基づいて信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを出力するものである。一方、２個のサブビーム用フォトダイオードは各々２分割フォトダイオードであり、サブビームＳｂ１の反射光に基づいて信号Ｅ，Ｆを、サブビームＳｂ２の反射光に基づいて信号Ｇ，Ｈを出力するものである。
【００２６】
反射光演算部１０４は、信号Ａを保持するサンプルホールド回路４１ａと、信号Ｂを保持するサンプルホールド回路４１ｂと、信号Ｃを保持するサンプルホールド回路４１ｃと、信号Ｄを保持するサンプルホールド回路４１ｄと、信号Ｅ及びＧを保持するサンプルホールド回路４１ｅと、信号Ｆ及びＨを保持するサンプルホールド回路４１ｆと、サンプルホールド回路４１ａの出力とサンプルホールド回路４１ｂの出力とを加算する加算器４２ａと、サンプルホールド回路４１ｃの出力とサンプルホールド回路４１ｄの出力とを加算する加算器４２ｂと、サンプルホールド回路４１ｂの出力とサンプルホールド回路４１ｃの出力とを加算する加算器４２ｃと、サンプルホールド回路４１ｂの出力とサンプルホールド回路４１ｄの出力とを加算する加算器４２ｄと、加算器４２ａの出力と加算器４２ｂの出力とを加算する加算器４２ｅと、加算器４２ｃの出力と加算器４２ｄの出力とを減算する減算器４３ａと、加算器４２ａの出力と加算器４２ｂの出力とを減算する減算器４３ｂと、サンプルホールド回路４１ｅの出力とサンプルホールド回路４１ｆの出力とを減算する減算器４３ｃと、サンプルホールド回路４１ｅの出力とサンプルホールド回路４１ｆの出力とを加算する加算器４２ｆと、加算器４２ｆの出力をを増幅する増幅回路４４と、減算器４３ｃの出力を増幅する増幅回路４５と、加算器４２ｅの出力と増幅回路４４の出力とを減算する減算器４３ｄと、減算器４３ｂの出力と増幅回路４５の出力とを減算する減算器４３ｅとを備えている。
【００２７】
ここに、ＤＲＣ信号は減算器４３ｄ出力、トラックエラー信号は減算器４３ｅ出力、及び、フォーカスエラー信号は減算器４３ａ出力である。一方、前記Ｂ値信号は、メインビーム用フォトダイオードの各出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを加算する加算器４６出力を、サンプルホールド回路４７にて保持した信号である。
【００２８】
ＤＲＣ信号は、メインビームＭｂの反射光量からサブビームＳｂ１及びＳｂ２の反射光量を差し引いたものである。通常、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２は、メインビームＭｂと比べて光量が少ないので、増幅回路４４で電気信号をＰ倍に増幅している。Ｐは、メインビームＭｂとサブビームＳｂ１，Ｓｂ２の光量比から算出したものである。
【００２９】
メインビームＭｂを照射している領域の反射率と、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２を照射している領域の反射率とが等しい場合は、上記ＤＲＣ信号はゼロとなる。メインビームＭｂを照射している領域の反射率のほうが小さい場合は、ＤＲＣ信号は負となり、逆に、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２を照射している領域の反射率のほうが小さい場合は、ＤＲＣ信号は正となる。通常、メインビームＭｂの照射位置とサブビームＳｂ１，Ｓｂ２の照射位置とは、トラック溝半分だけずらした位置とする。したがって、メインビームＭｂがトラック溝Ｔｒ上（オントラック）にある場合は、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２は、トラック溝Ｔｒとトラック溝Ｔｒに隣接するトラック溝との間（オフトラック）に位置し、逆に、メインビームＭｂがオフトラックにある場合は、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２はオントラックにある。光ディスクにおいては、オントラックの反射率はオフトラックの反射率と比べて小さいので、ＤＲＣ信号の正／負により、メインビームＭｂのオフトラック／オントラックを判別することができる。
【００３０】
次に、指紋・汚れ検出部１１２は、ＤＲＣ信号を入力とし、該ＤＲＣ信号が所定の閾値を越えた場合にＤＲＣコンパレート信号を出力するウインドウ・コンパレータと、該ＤＲＣコンパレート信号から所定時間以下のＬｏパルスを取り除いて出力するワンショット・マルチバイブレータとを備えている。
【００３１】
図５に、ＤＲＣ信号による指紋等の汚れの検出を説明するための図を示す。図５（ａ）において，５０１は光ディスクであり、該光ディスク５０１の断面を表している。５０２は、対物レンズであり光ディスク５０１に照射されるレーザ光のフォーカスを制御する。斜線部分は、光ディスク５０１に付着した指紋等の汚れである。
【００３２】
図５（ｂ）は、前記ＤＲＣ信号を示しており、指紋等の汚れがある位置でＤＲＣ信号は大きく変動する。指紋等の汚れは、通常、光学的に一様でないので、メインビームの反射光量及びサブビームの反射光量は、該汚れにより大きく変動する。したがって、メインビームの反射光量とサブビームの反射光量との相対値であるＤＲＣ信号は図５（ｂ）に示すようにランダムに変動する。
【００３３】
前記ウィンドウコンパレータは、上記ＤＲＣ信号の変動を検出する。ＤＲＣ信号は、光ディスクの反射率のむらや電気回路により生じるノイズによっても多少変動するので、予め所定の閾値を設定し、ＤＲＣ信号が該閾値を超えた場合にＤＲＣコンパレート信号（図５（ｃ））を出力する。
【００３４】
前記ワンショットマルチバイブレータは、上記ＤＲＣコンパレート信号から所定パルス以下の信号を取り除いて、指紋検出信号を出力する（図５（ｄ））。例えば、光ディスクをトレースする線速度を１．２ｍ／ｓ、検出すべき汚れの大きさを１ｍｍとすれば、該汚れを通過する時間は０．８３ｍｓとなるので、０．８３ｍｓ以下のパルスを取り除く。
【００３５】
図６は、上記リードＡＰＣ部１０８の構成を示すブロック図である。図において、該リードＡＰＣ部１０８は、目標とするスペース読み取りパワーを保持するリードパワー目標値格納部６０１と、該リードパワー目標値格納部６０１の出力と、スペース期間のモニタ用フォトダイオード１０２の出力とを減算する減算器６０２と、該減算器６０２の出力を所定の周波数特性で制御するＡＰＣループフィルタ６０３ととを備えている。
【００３６】
図７は、上記ライトＡＰＣ部１０９及びＲＯＰＣ処理部１０７の構成を示すブロック図である。図において、該ライトＡＰＣ部１０９は、目標とするマーク記録パワーを保持するライトパワー目標値格納部７０１と、該ライトパワー目標値格納部７０１の出力とＲＯＰＣループフィルタ７１３の出力とを加算する加算器７０４と、該加算器７０４の出力とマーク記録時のモニタ用フォトダイオード１０２の出力とを減算する減算器７０２と、該減算器７０２の出力を所定の周波数特性で制御するＡＰＣループフィルタ７０３と、該ＡＰＣループフィルタ７０３の出力と記録電流補正部７１４の出力とを加算する加算器７０５とを備えている。
【００３７】
また、上記ＲＯＰＣ処理部１０７は、目標とするＢ値を保持するＢ値目標値格納部７１２と、該Ｂ値目標値格納部７１２の出力と反射光演算部１０４出力のＢ値とを減算する減算器７１１と、所定の周波数特性で制御するＲＯＰＣループフィルタ７１３と、該ＲＯＰＣループフィルタ７１３の出力に基づいて記録電流を補正する記録電流補正部７１４とを備えている。
【００３８】
ここに、上記ＡＰＣループフィルタ、及び、ＲＯＰＣループフィルタは、一般的な一次のＩＩＲデジタルフィルタとしては、サンプル入力値に対し所定係数を乗算して増幅した後、記憶素子に記憶する部分と、現在のサンプル入力値を増幅した増幅値と該記憶素子に記憶された記憶値に所定係数を乗算して増幅した値との加算結果を出力する例がある。
【００３９】
図２は、ＥＦＭ入力インタフェース１５１の構成を示すブロック図である。該ＥＦＭ入力インタフェース１５１は、記録ＥＦＭ信号において、ＤＲＣ信号、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号生成の元になるサンプルホールド回路４１ａ〜４１ｆに対するサンプルホールド信号をどのスペース長に対して生成するか、また、Ｂ値信号生成の元になるサンプルホールド回路４７に対するサンプルホールド信号をどのマーク長に対して生成するか、また、モニタ用フォトダイオード１０２がマーク期間及びスペース期間の各レーザモニタ信号をサンプルホールドする際にサンプルホールド信号をどのマーク長やスペース長に対して生成するか、を示すマークスペース長選択信号を受信して、必要なサンプルホールド信号を生成出力する点が、従来例と異なる点である。
【００４０】
構成と動作について解説する。ＥＦＭ幅カウンタ２０１は、外部からのＥＦＭ信号入力を観測し、各マークの長さを記録クロック（１Ｔを周期とする）にてカウントし、該カウント値をマーク幅記憶部２０２へ渡す。同様に各スペースの長さを記録クロックにてカウントし、該カウント値をスペース幅記憶部２０３へ渡す。マーク幅記憶部２０２、スペース幅記憶部２０３は、ともに所定段数のＦＩＦＯ記憶素子で構成されており、マークスペース観測部２０５は該マーク幅記憶部２０２とスペース幅記憶部２０３が開示している各マーク長とスペース長を観測して、再度、内部ＥＦＭ信号を生成する。該内部ＥＦＭ信号は記録ＥＦＭ生成部２０４、サンプルホールド信号生成部２０６に送られ、記録ＥＦＭ生成部２０４は、該内部ＥＦＭ信号を所定形状に波形整形して記録に適した記録ＥＦＭ信号を生成出力し、また、サンプルホールド信号生成部２０６は、該内部ＥＦＭ信号のうち前記マークスペース長選択信号で指定されるマーク部分、もしくはスペース部分のみを選択して、所定形状に波形整形して、サンプルホールド信号として出力する。
【００４１】
なお、前記記録ＥＦＭ信号は、セレクタ１１１のセレクト信号として機能し、該セレクタ１１１は、該記録ＥＦＭ信号がマーク期間を示す際は、加算部１１０出力の最適ライトパワーをレーザダイオード１０１へ送り、スペース期間を示す際は、加算部１５２出力の最適リードパワーをレーザダイオード１０１へ送る。
【００４２】
該ＥＦＭ入力インタフェース１５１は、前記各種サンプルホールド信号生成において、必要なマーク長もしくはスペース長の箇所を選択できるので、例えば、従来１１Ｔのスペースのみのサンプルホールド信号を生成していたものが、６Ｔ〜１１Ｔのスペースのサンプルホールド信号を生成することが可能となり、高速記録時においても高解像のサンプルホールド信号を生成可能となり、ひいては前記ＤＲＣ信号、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号、Ｂ値信号の時間解像度が高まり、例えばＤＲＣ信号を元にした指紋・汚れ検出の精度が向上する効果をもつ。
【００４３】
次に動作について説明する。レーザダイオード１０１は、ＯＰＣにより得られた最適光強度の記録用レーザ光を追記型光ディスクに照射する。モニタ用フォトダイオード１０２は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が出力するサンプルホールド信号に従い、該レーザ光の一部をスペース期間とマーク期間に分けてサンプルホールドし、各期間の強度を電気信号に変換してそれぞれ（スペース期間の信号は）リードＡＰＣ部１０８、（マーク期間の信号は）ライトＡＰＣ１０９へ出力する。リードＡＰＣ部１０８は、該出力のうちスペース期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がスペース期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。また、ライトＡＰＣ部１０９は、該出力のうちマーク期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がマーク期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。
【００４４】
サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、記録用レーザ光により生ずる追記型光ディスクからの反射光を受け、その反射光強度を電気信号に変換して出力する。反射光演算部１０４は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が生成するサンプルホールド信号に従って、反射光をサンプルホールドし、該サンプルホールド信号を元に所定演算を行い、ＤＲＣ信号とＢ値信号を出力する。ＲＯＰＣ処理部１０７は、該Ｂ値と目標値との差に基づいてゲインを出力する。ライトＡＰＣ部１０９は、該ゲインに基づいて記録用レーザ光の光強度の目標値を更新する。これにより、上記レーザダイオード１０１から照射される記録用レーザ光強度は、Ｂ値が所定の目標値になるように制御される。
【００４５】
指紋・汚れ検出部１１２は、前記ＤＲＣ信号を観測して指紋・汚れ等を検知する。加算部１１０は、該検知期間においてのみ、適正な記録が可能となるように、ライトＡＰＣ部１０９が出力する通常の最適ライトパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２が出力する所定パワーを加算してピックアップ１００へ最終のライトパワーとして出力する。また、加算部１５２は、該検知期間においてのみ、適正なスペース期間の反射光を取得可能となるように、リードＡＰＣ部１０８が出力する通常の最適リードパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２が出力する所定パワーを加算してピックアップ１００へ最終のリードパワーとして出力する。
【００４６】
図８は、上記サンプルホールドの詳細を説明するための図である。図８（ａ）は、追記型光ディスクに照射されるレーザ光の光出力波形を示したものであり、光ディスクに記録すべき記録ＥＦＭ信号に基づいて、半導体レーザダイオード１０１が照射する。メインビームＭｂは、ディスクの記録層にマークを形成する区間は強い光出力である第１のレーザ光を照射し、マークを形成しない区間は弱い光出力である第２のレーザ光を照射している。図８（ｂ）は、ディスク反射光の波形を示したものであり、マークの始点側で反射光強度が高く、その後徐々に低くなり、終端側付近で一定値に収束している。これは、追記型光ディスクに形成されるピットは、レーザ光を受けてから徐々に形成されるため、該ピットによる反射光の低下も徐々に起こることによるためである。従って、反射光レベルが一定値に収束するには、例えば時間幅１１Ｔのピットのような十分に長いピットである必要があり、例えば時間幅３Ｔのピットのような短いピットからの反射光レベルは、ピットの終端側でも収束しない。この収束した反射光レベルがＢ値であり、Ｂ値はピット形成のために照射されるレーザ光強度に対応して変化する。Ｂ値が最適な値になるようにレーザ光強度を制御することにより、追記型光ディスクへの記録状態を最適とすることができる。
【００４７】
図８（ｃ）は、スペース期間のサンプルホールド回路制御信号を示したものであり、第２のレーザ光が照射されている区間でＨｉとなり、第１のレーザ光が照射されている区間でＬｏとなっており、スペース期間のディスク反射光（図８（ｂ））をホールドする。サンプルホールド回路制御信号がＬｏからＨｉに遷移する位置は、第１のレーザ光から第２のレーザ光への遷移時に生じるディスク反射光（図８（ｂ））の応答（Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３）をサンプルしないようにするために、レーザ光が遷移する位置より若干遅延を設けている。このようにして、第２のレーザ光（スペース期間）が照射されているときのディスク反射光をサンプルホールドする。
【００４８】
また、図８（ｂ）は、加算器４６の出力波形であり、サンプルホールド回路４７は、該出力波形のうち長いマーク、例えば時間幅が６Ｔ以上のマークにおいて、波形始端部から一定期間経過後、例えば時間５Ｔ経過後にサンプルを行うことにより、波形後端部のＢ値をサンプルホールドする（図８（ｄ））。
【００４９】
図８（ｅ）の斜線部分８０１のような指紋・汚れがある場合の反射光が図８（ｆ）である。図８（ｆ）に見られるように、指紋・汚れがある箇所では、マーク記録期間だけでなく、ライトパワーをかけていないスペース期間においても、反射光は乱れる。このスペース期間における反射光の乱れの影響を除去するために、加算部１５２において、リードＡＰＣ１０８出力の通常リードパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２出力の所定パワー値を加算している。この処理により、スペース期間の反射光は安定し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号への悪影響を除去可能となる。
【００５０】
【発明の効果】
本発明に係る記録パワー補正装置によれば、光ディスクへ記録中に、レーザ光出力やディスク反射率の影響を受けずに、指紋等を高感度かつ高精度に検出し、トラッキングやフォーカスの制御も正常に行うことが可能となり、光ディスクへのデータ記録時に照射するレーザ光強度を、記録面に付着した指紋等の汚れに追従し、かつ、記録面ぶれ等には追従せずに制御可能となり、光ディスクへのデータ記録状態を常に最適なものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１における記録パワー補正装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態１におけるＥＦＭインタフェースの構成を示すブロック図
【図３】従来の記録パワー補正装置を説明するためのブロック図
【図４】反射光演算部１０４の構成を示す図
【図５】ＤＲＣ信号による指紋等の汚れの検出を説明するための図
【図６】リードＡＰＣ部１０８の構成を示すブロック図
【図７】ライトＡＰＣ部１０９、及び、ＲＯＰＣ処理部１０７の構成を示すブロック図
【図８】サンプルホールドの詳細、及び、指紋等の汚れによる反射光信号の影響を示す図
【符号の説明】
４１ａ〜ｆ サンプルホールド部（Ｓ／Ｈ）
４２ａ〜ｆ 加算器
４３ａ〜ｅ 減算器
４４ 増幅器
４５ 増幅器
４６ 加算器
４７ サンプルホールド部（Ｓ／Ｈ）
１００ ピックアップ
１０１ レーザダイオード
１０２ モニタ用フォトダイオード
１０３ サーボ／ＲＦ用フォトダイオード
１０４ 反射光演算部
１０７ ＲＯＰＣ処理部
１０８ リードＡＰＣ部
１０９ ライトＡＰＣ部
１１０ 加算部
１１１ セレクタ
１１２ 指紋・汚れ検出部
１５１ ＥＦＭ入力インタフェース
１５２ 加算部
２０１ ＥＦＭ幅カウンタ
２０２ マーク幅記憶部
２０３ スペース幅記憶部
２０４ 記録ＥＦＭ生成部
２０５ マークスペース観測部
２０６ サンプルホールド信号生成部
５０１ 追記型光ディスク
５０２ 対物レンズ
５０３、５０４ 閾値
６０１ リードパワー目標値格納部
６０２ 減算器
６０３ ＡＰＣループフィルタ
７０１ ライトパワー目標値格納部
７０２ 減算器
７０３ ＡＰＣループフィルタ
７０４、７０５ 加算器
７１１ 減算器
７１２ Ｂ値目標値格納部
７１３ ＲＯＰＣループフィルタ
７１４ 記録電流補正部
８０１ （トラック上の）指紋・汚れ
【発明の属する技術分野】
本発明は、追記・書換え可能な光ディスクにデータ信号を安定に記録する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−Ｒ（オレンジブック規格）等の追記型光ディスクにデータ信号を記録する場合は、一般に、データ信号に誤り訂正のためのパリティが付加され、さらに、その信号をＥＦＭ方式により変調された信号が用いられる。この変調された信号には、信号のハイレベル又はローレベルの時間幅として、所定の基準時間幅Ｔを３から１１倍して得られる９通りの時間幅３Ｔ〜１１Ｔが与えられている。この信号に基づき、例えば信号がハイレベルである場合に、追記型光ディスクにパルス状のレーザ光を照射し、該追記型光ディスクの記録層にピットを形成する。これにより、追記型光ディスクにデータ信号が記録される。
【０００３】
上記信号記録を行う場合には、追記型光ディスクの記録層にレーザ光を照射する前に、記録レーザ光強度最適化（以下「ＯＰＣ」とする。）を行う。一般に、追記型光ディスクは、ＯＰＣを行うためのパワーキャリブレーションエリア（以下「ＰＣＡ」とする。）を有している。ＰＣＡは、テストエリアとカウントエリアとからなり、それぞれ１００パーティションを有し、テストエリアの１パーティションは、１５フレームを有している。
【０００４】
ＯＰＣは、上記ＰＣＡに所定の信号を記録し、その記録信号を再生することにより行われる。例えば、１５フレーム間で１５段階のレーザ光強度を用いてピット形成を行い、その中で最も記録状態の良いレーザ光強度を検出し、そのレーザ光強度によりデータ信号の記録を行う方法が知られている。
【０００５】
また、追記型光ディスクの記録層にデータ信号を記録している状態では、ランニングＯＰＣ（以下「ＲＯＰＣ」とする。）を行う。ＲＯＰＣは、上記ＯＰＣにより得られた最適レーザ光強度を、データ信号記録状態中一定に保持するために、上記ＯＰＣ時とデータ信号記録時とのピットの反射光強度を比較し、その結果に基づいて照射するレーザ光強度を随時補正するものである。反射光強度を検出するために用いられるピットは、時間幅１１Ｔを有するものであり、ピット後端の反射光強度が用いられる。この反射光強度をＢ値と呼ぶ。
【０００６】
図３は、従来の記録パワー補正装置を説明するためのブロック図である。この構成は特開２０００−２２２７３０などですでに知られている。これは、追記型光ディスクに照射した記録用レーザ光の反射光からＢ値を算出し、該Ｂ値に基づいて該レーザ光の照射強度を制御するものである。
【０００７】
上記記録パワー補正装置は、追記型光ディスクに記録用又は再生用レーザ光を照射する半導体レーザダイオード１０１と、上記レーザ光の照射強度をモニタするために、該レーザ光の一部を受け、その光強度に対応した電気信号を出力するモニタ用フォトダイオード１０２と、該出力を受け、半導体レーザダイオード１０１が照射する光強度を制御するリードＡＰＣ部１０８、ライトＡＰＣ部１０９と、上記レーザ光により生じる追記型光ディスクからの反射光を受け、その反射光強度に対応した電気信号を出力するサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３と、該反射光強度信号を元に各種信号（ＤＲＣ信号、トラッキング、フォーカス信号、Ｂ値信号）を生成する反射光演算部１０４と、該反射光演算部１０４が演算すべき反射光範囲（ピット記録部分或いはピット未記録部分の所定期間）をＥＦＭ信号を元に生成するＥＦＭ入力インタフェース１０５と、該Ｂ値に基づいてゲインを設定するＲＯＰＣ処理部１０７と、前記ＤＲＣ信号を受信して指紋・汚れ等を検知し最適ライトパワーを制御する指紋・汚れ検出部１１２と、指紋・汚れ等の検知期間中、通常のライトパワーに所定パワーを加算する加算部１１０と、該加算部１１０出力のライトパワーとリードＡＰＣ部１０８出力のリードパワーを、記録ＥＦＭ信号のピット形成（以下「マーク」とする。）期間とピット未形成（以下、「スペース」とする。）期間で選択するセレクタ１１１と、から構成されるものである。なお、レーザダイオード１０１、モニタ用フォトダイオード１０２、及び、セレクタ１１１をまとめて、一般にピックアップ１００と呼ぶ。
【０００８】
以下、上記記録パワー補正装置の動作について説明する。レーザダイオード１０１は、ＯＰＣにより得られた最適光強度の記録用レーザ光を追記型光ディスクに照射する。モニタ用フォトダイオード１０２は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が出力するサンプルホールド信号に従い、該レーザ光の一部をスペース期間とマーク期間に分けてサンプルホールドし、各期間の強度を電気信号に変換してそれぞれ（スペース期間の信号は）リードＡＰＣ部１０８、（マーク期間の信号は）ライトＡＰＣ１０９へ出力する。リードＡＰＣ部１０８は、該出力のうちスペース期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がスペース期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。また、ライトＡＰＣ部１０９は、該出力のうちマーク期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がマーク期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。
【０００９】
サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、記録用レーザ光により生ずる追記型光ディスクからの反射光を受け、その反射光強度を電気信号に変換して出力する。反射光演算部１０４は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が生成するサンプルホールド信号に従って、反射光をサンプルホールドし、該サンプルホールド信号を元に所定演算を行い、ＤＲＣ信号とＢ値信号を出力する。ＲＯＰＣ処理部１０７は、該Ｂ値と目標値との差に基づいてゲインを出力する。ライトＡＰＣ部１０９は、該ゲインに基づいて記録用レーザ光の光強度の目標値を更新する。これにより、上記レーザダイオード１０１から照射される記録用レーザ光強度は、Ｂ値が所定の目標値になるように制御される。
【００１０】
指紋・汚れ検出部１１２は、前記ＤＲＣ信号を観測して指紋・汚れ等を検知する。加算部１１０は、該検知期間においてのみ、適正な記録が可能となるように、ライトＡＰＣ部１０９が出力する通常の最適ライトパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２が出力する所定パワーを加算してピックアップ１００へ最終のライトパワーとして出力する。
【００１１】
このように、上記従来の記録パワー補正装置によれば、レーザダイオード１０１から照射される記録用レーザ光強度を、追記型光ディスクの反射光から検出するＢ値が常に目標値になるように制御するので、追記型光ディスクでのデータ信号記録状態中に、半導体レーザダイオードの温度変化によるレーザ光強度の変化、追記型光ディスクの形状変化、又は該ディスク記録層の記録感度変化などの要因が生じた場合にも、これらに追従したレーザパワー制御を行え、かつ、指紋・汚れ等の箇所を記録する状態においても、該指紋・汚れを検出して一時的にマーク期間のライトパワーを可変できるため、安定したデータ記録を行うことができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
通常、指紋等の汚れは数ｍｍから数十ｍｍ程度の大きさであるから、追記型光ディスクがトレースされる線速度を１．２ｍ／ｓとしたとき、１ｍｍの汚れが影響する時間は約０．８３ｍｓである。従来例の場合、記録すべきマーク部分においては、このような指紋・汚れ等に対応して記録パワーを一時的に変化させているので記録パワーは良好に制御されるが、スペース部分の指紋・汚れ等の影響で該スペース部分の反射光が乱れるために、該反射光を元に制御が行われるトラッキング／フォーカス制御が乱れ、トラッキングずれやレーザ光のビームスポットが不適な状態で記録されてしまう問題が生ずる。
【００１３】
図８に示すように、図８（ａ）の記録ＥＦＭ信号に対し、指紋・汚れ等が無い場合の反射光が図８（ｂ）であり、図８（ｅ）の斜線部分８０１のような指紋・汚れがある場合の反射光が図８（ｆ）である。図８（ｆ）に見られるように、指紋・汚れがある箇所では、マーク記録期間だけでなく、ライトパワーをかけていないスペース期間においても、反射光は乱れる。
【００１４】
このように、スペース部分の指紋・汚れ等の影響で該スペース部分の反射光が乱れるために、該反射光を元に制御が行われるトラッキング／フォーカス制御が乱れ、トラッキングずれやレーザ光のビームスポットが不適な状態となり、記録状態が不安定となる。
【００１５】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、追記型光ディスクへのデータ記録時に照射するマーク部分へのライト用レーザ光強度に加え、スペース部分へのリード用レーザ光強度においても、光ディスク面に付着した指紋等の汚れに追従し、かつ、記録面ぶれ等に対しては追従しないように制御し、これにより、光ディスクへのデータ記録状態を常に最適かつ安定なものとすることができる記録パワー補正装置を提供するものである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ディスク記録装置は、指紋・汚れ検出精度を高めるために、マーク・スペース長選択信号を受信してＥＦＭ信号のマーク長もしくはスペース長を選択してサンプルホールド信号、及びレーザダイオードへのパワー選択信号を生成するためのＥＦＭインターフェース、及びライトＡＰＣ部生成のマークに対するライトパワーを指紋・汚れ検出時に補正する構成に加え、リードＡＰＣ部生成のスペースに対するリードパワーを指紋・汚れ検出時に補正する加算部を有することで、レーザ光出力やディスク反射率の影響を受けずに指紋などを高精度に検出することが出来、光ディスクへのデータ記録状態を常に最適に出来る。
【００１７】
【発明の実施の形態】
請求項１に記載の発明は、記録するデータに基づいて光ディスク上にピットを形成する第１のレーザ光とピットを形成しない第２のレーザ光とを照射することによりレーザ光照射手段を備えた光ディスク装置において、上記光ディスクに照射した前記第１と第２のレーザ光の反射光を受光して前記反射光の強度に応じた反射光強度信号を出力する受光手段と、前記第１のレーザ光の反射光強度信号に応じてピットの反射光強度を表す第１の信号を出力するピット反射光検出手段と、前記第２のレーザ光の反射光強度信号が前記光ディスクのトラック溝上に照射されているか否かを表す第２の信号を出力するトラック検出手段と、前記第２の信号が所定の閾値以上である場合に第３の信号を出力する指紋・汚れ検出手段と、上記第３の信号が出力されている時に、前記第１の信号のレベルに応じて前記第１と第２のレーザ光の照射強度を制御するための制御信号を前記レーザ光照射手段に出力する記録パワー補正手段を備えたことを特徴とする光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００１８】
請求項２に記載の発明は、前記制御信号は、前記第一の信号のレベルに応じて前記第１あるいは第２のレーザ光照射手段に流れる電流値の補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００１９】
請求項３に記載の発明は、前記第２の信号を生成するための反射光強度取得手段が、予め設定されたピット未形成信号の反射光強度を取得するものであることを特徴とする請求項１ないし２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００２０】
請求項４に記載の発明は、前記レーザ光照射手段は、光ディスクのトラック溝上に第２のレーザ光を照射する第１の発光素子と、光ディスクのトラック溝間に第２のレーザ光を照射する第２の発光素子とを有し、上記受光手段は、前記第１の発光素子により生ずる光ディスクの反射光を受光してその光強度を表す反射光強度信号を出力する第１の受光素子と、前記第２の発光素子により生ずる光ディスクの反射光を受光してその光強度を表す反射光強度信号を出力する第２の受光素子とを有し、上記トラック検出手段は、前記第１の受光素子が出力する反射光強度信号と、前記第２の受光素子が出力する反射光強度信号とに基づいて、前記第２の信号を出力するものであることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００２１】
請求項５に記載の発明は、前記レーザ光照射手段は、前記第１と第２のレーザ光を受光してその光強度表す光強度信号を出力するモニタ用受光素子と、前記光強度信号を受けて前記第１と第２のレーザ光の照射強度を制御する制御回路とを有し、前記第３の信号が出力されない間は、前記第１と第２のレーザ光の照射強度を一定に保持するものであることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の光ディスク記録装置であり、第１のレーザ光だけでなく第２のレーザ光の照射強度に対しても光ディスク上の指紋・汚れに応じてパワー制御を行うことが出来るので、前記指紋・汚れがある部位でのトラッキングやフォーカスの制御を正確に行うことが出来る。
【００２２】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１の記録パワー補正装置の構成を示すブロック図である。図の記録パワー補正装置は、追記型光ディスクにピットを形成する光強度である第１のレーザ光と、ピットを形成しない光強度である第２のレーザ光とを照射するレーザダイオード１０１を備え、光ディスク装置（図示せず）と接続されている。
【００２３】
上記記録パワー補正装置は、上記第１のレーザ光の一部を受光し、光強度を表す電気信号を出力するモニタ用フォトダイオード１０２と、該電気信号を受け、半導体レーザダイオード１０１が照射する第１のレーザ光強度が目標値を保持するように制御するライトＡＰＣ部１０９と、同じくレーザダイオード１０１が照射する第２のレーザ光強度が目標値を保持するように制御するリードＡＰＣ部１０８と、記録用又は第２のレーザ光により生ずる追記型光ディスクからの反射光を受け、該反射光強度を表す電気信号を出力するサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３と、該反射光強度信号を元に各種信号（ＤＲＣ信号、トラッキング／フォーカスエラー信号、Ｂ値信号）を生成する反射光演算部１０４と、該反射光演算部１０４が演算すべき反射光範囲（マーク部分或いはスペース部分の所定期間）をＥＦＭ信号を元に生成するＥＦＭ入力インタフェース１５１と、該Ｂ値に基づいてゲインを設定するＲＯＰＣ処理部１０７と、前記ＤＲＣ信号を受信して指紋・汚れ等を検知し最適ライトパワー及び最適リードパワーを制御する指紋・汚れ検出部１１２と、指紋・汚れ等の検知期間中、通常のライトパワーに所定パワーを加算する加算部１１０と、指紋・汚れ等の検知期間中、通常のリードパワーに所定パワーを加算する加算部１５２と、該加算部１１０出力のライトパワーと該加算部１５２出力のリードパワーを、記録ＥＦＭ信号のマーク期間とスペース期間で選択するセレクタ１１１と、から構成されるものである。なお、従来と同様、レーザダイオード１０１、モニタ用フォトダイオード１０２、及び、セレクタ１１１をまとめて、一般にピックアップ１００と呼ぶ。以下、上記記録パワー補正装置の詳細な構成について説明する。
【００２４】
図４は、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３、及び、反射光演算部１０４の構成を示す図であり、上記ＤＲＣ信号、Ｂ値信号、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号を生成するためのものである。図において、Ｔｒは追記型光ディスクのトラック溝であり、該トラック溝Ｔｒには、記録用又は第２のレーザ光を照射するメインビームＭｂと、トラック又はフォーカスエラーを検出するためのサブビームＳｂ１，Ｓｂ２が照射されている。メインビームＭｂとサブビームＳｂ１，Ｓｂ２は、その照射位置がトラック溝間の幅の半分だけずれたものとなるように配置されている。すなわち、メインビームＭｂの照射位置がトラック溝Ｔｒの中央に、サブビームＳｂ１の照射位置がトラック溝Ｔｒの一端側のトラック溝間に、サブビームＳｂ２の照射位置がトラック溝Ｔｒの他端側のトラック溝間になるように配置されているサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、メインビームＭｂの反射光を受光し、その光強度を表す電気信号を出力するメインビーム用フォトダイオード（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）と、サブビームＳｂ１の反射光を受光し、その光強度を表す電気信号を出力するサブビーム用フォトダイオード（Ｅ，Ｆ）と、サブビームＳｂ２の反射光を受光し、その光強度を表す電気信号を出力するサブビーム用フォトダイオード（Ｇ，Ｈ）を備えている。
【００２５】
上記メインビーム用フォトダイオードは４分割フォトダイオードであり、それぞれが受光した光強度に基づいて信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを出力するものである。一方、２個のサブビーム用フォトダイオードは各々２分割フォトダイオードであり、サブビームＳｂ１の反射光に基づいて信号Ｅ，Ｆを、サブビームＳｂ２の反射光に基づいて信号Ｇ，Ｈを出力するものである。
【００２６】
反射光演算部１０４は、信号Ａを保持するサンプルホールド回路４１ａと、信号Ｂを保持するサンプルホールド回路４１ｂと、信号Ｃを保持するサンプルホールド回路４１ｃと、信号Ｄを保持するサンプルホールド回路４１ｄと、信号Ｅ及びＧを保持するサンプルホールド回路４１ｅと、信号Ｆ及びＨを保持するサンプルホールド回路４１ｆと、サンプルホールド回路４１ａの出力とサンプルホールド回路４１ｂの出力とを加算する加算器４２ａと、サンプルホールド回路４１ｃの出力とサンプルホールド回路４１ｄの出力とを加算する加算器４２ｂと、サンプルホールド回路４１ｂの出力とサンプルホールド回路４１ｃの出力とを加算する加算器４２ｃと、サンプルホールド回路４１ｂの出力とサンプルホールド回路４１ｄの出力とを加算する加算器４２ｄと、加算器４２ａの出力と加算器４２ｂの出力とを加算する加算器４２ｅと、加算器４２ｃの出力と加算器４２ｄの出力とを減算する減算器４３ａと、加算器４２ａの出力と加算器４２ｂの出力とを減算する減算器４３ｂと、サンプルホールド回路４１ｅの出力とサンプルホールド回路４１ｆの出力とを減算する減算器４３ｃと、サンプルホールド回路４１ｅの出力とサンプルホールド回路４１ｆの出力とを加算する加算器４２ｆと、加算器４２ｆの出力をを増幅する増幅回路４４と、減算器４３ｃの出力を増幅する増幅回路４５と、加算器４２ｅの出力と増幅回路４４の出力とを減算する減算器４３ｄと、減算器４３ｂの出力と増幅回路４５の出力とを減算する減算器４３ｅとを備えている。
【００２７】
ここに、ＤＲＣ信号は減算器４３ｄ出力、トラックエラー信号は減算器４３ｅ出力、及び、フォーカスエラー信号は減算器４３ａ出力である。一方、前記Ｂ値信号は、メインビーム用フォトダイオードの各出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを加算する加算器４６出力を、サンプルホールド回路４７にて保持した信号である。
【００２８】
ＤＲＣ信号は、メインビームＭｂの反射光量からサブビームＳｂ１及びＳｂ２の反射光量を差し引いたものである。通常、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２は、メインビームＭｂと比べて光量が少ないので、増幅回路４４で電気信号をＰ倍に増幅している。Ｐは、メインビームＭｂとサブビームＳｂ１，Ｓｂ２の光量比から算出したものである。
【００２９】
メインビームＭｂを照射している領域の反射率と、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２を照射している領域の反射率とが等しい場合は、上記ＤＲＣ信号はゼロとなる。メインビームＭｂを照射している領域の反射率のほうが小さい場合は、ＤＲＣ信号は負となり、逆に、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２を照射している領域の反射率のほうが小さい場合は、ＤＲＣ信号は正となる。通常、メインビームＭｂの照射位置とサブビームＳｂ１，Ｓｂ２の照射位置とは、トラック溝半分だけずらした位置とする。したがって、メインビームＭｂがトラック溝Ｔｒ上（オントラック）にある場合は、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２は、トラック溝Ｔｒとトラック溝Ｔｒに隣接するトラック溝との間（オフトラック）に位置し、逆に、メインビームＭｂがオフトラックにある場合は、サブビームＳｂ１，Ｓｂ２はオントラックにある。光ディスクにおいては、オントラックの反射率はオフトラックの反射率と比べて小さいので、ＤＲＣ信号の正／負により、メインビームＭｂのオフトラック／オントラックを判別することができる。
【００３０】
次に、指紋・汚れ検出部１１２は、ＤＲＣ信号を入力とし、該ＤＲＣ信号が所定の閾値を越えた場合にＤＲＣコンパレート信号を出力するウインドウ・コンパレータと、該ＤＲＣコンパレート信号から所定時間以下のＬｏパルスを取り除いて出力するワンショット・マルチバイブレータとを備えている。
【００３１】
図５に、ＤＲＣ信号による指紋等の汚れの検出を説明するための図を示す。図５（ａ）において，５０１は光ディスクであり、該光ディスク５０１の断面を表している。５０２は、対物レンズであり光ディスク５０１に照射されるレーザ光のフォーカスを制御する。斜線部分は、光ディスク５０１に付着した指紋等の汚れである。
【００３２】
図５（ｂ）は、前記ＤＲＣ信号を示しており、指紋等の汚れがある位置でＤＲＣ信号は大きく変動する。指紋等の汚れは、通常、光学的に一様でないので、メインビームの反射光量及びサブビームの反射光量は、該汚れにより大きく変動する。したがって、メインビームの反射光量とサブビームの反射光量との相対値であるＤＲＣ信号は図５（ｂ）に示すようにランダムに変動する。
【００３３】
前記ウィンドウコンパレータは、上記ＤＲＣ信号の変動を検出する。ＤＲＣ信号は、光ディスクの反射率のむらや電気回路により生じるノイズによっても多少変動するので、予め所定の閾値を設定し、ＤＲＣ信号が該閾値を超えた場合にＤＲＣコンパレート信号（図５（ｃ））を出力する。
【００３４】
前記ワンショットマルチバイブレータは、上記ＤＲＣコンパレート信号から所定パルス以下の信号を取り除いて、指紋検出信号を出力する（図５（ｄ））。例えば、光ディスクをトレースする線速度を１．２ｍ／ｓ、検出すべき汚れの大きさを１ｍｍとすれば、該汚れを通過する時間は０．８３ｍｓとなるので、０．８３ｍｓ以下のパルスを取り除く。
【００３５】
図６は、上記リードＡＰＣ部１０８の構成を示すブロック図である。図において、該リードＡＰＣ部１０８は、目標とするスペース読み取りパワーを保持するリードパワー目標値格納部６０１と、該リードパワー目標値格納部６０１の出力と、スペース期間のモニタ用フォトダイオード１０２の出力とを減算する減算器６０２と、該減算器６０２の出力を所定の周波数特性で制御するＡＰＣループフィルタ６０３ととを備えている。
【００３６】
図７は、上記ライトＡＰＣ部１０９及びＲＯＰＣ処理部１０７の構成を示すブロック図である。図において、該ライトＡＰＣ部１０９は、目標とするマーク記録パワーを保持するライトパワー目標値格納部７０１と、該ライトパワー目標値格納部７０１の出力とＲＯＰＣループフィルタ７１３の出力とを加算する加算器７０４と、該加算器７０４の出力とマーク記録時のモニタ用フォトダイオード１０２の出力とを減算する減算器７０２と、該減算器７０２の出力を所定の周波数特性で制御するＡＰＣループフィルタ７０３と、該ＡＰＣループフィルタ７０３の出力と記録電流補正部７１４の出力とを加算する加算器７０５とを備えている。
【００３７】
また、上記ＲＯＰＣ処理部１０７は、目標とするＢ値を保持するＢ値目標値格納部７１２と、該Ｂ値目標値格納部７１２の出力と反射光演算部１０４出力のＢ値とを減算する減算器７１１と、所定の周波数特性で制御するＲＯＰＣループフィルタ７１３と、該ＲＯＰＣループフィルタ７１３の出力に基づいて記録電流を補正する記録電流補正部７１４とを備えている。
【００３８】
ここに、上記ＡＰＣループフィルタ、及び、ＲＯＰＣループフィルタは、一般的な一次のＩＩＲデジタルフィルタとしては、サンプル入力値に対し所定係数を乗算して増幅した後、記憶素子に記憶する部分と、現在のサンプル入力値を増幅した増幅値と該記憶素子に記憶された記憶値に所定係数を乗算して増幅した値との加算結果を出力する例がある。
【００３９】
図２は、ＥＦＭ入力インタフェース１５１の構成を示すブロック図である。該ＥＦＭ入力インタフェース１５１は、記録ＥＦＭ信号において、ＤＲＣ信号、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号生成の元になるサンプルホールド回路４１ａ〜４１ｆに対するサンプルホールド信号をどのスペース長に対して生成するか、また、Ｂ値信号生成の元になるサンプルホールド回路４７に対するサンプルホールド信号をどのマーク長に対して生成するか、また、モニタ用フォトダイオード１０２がマーク期間及びスペース期間の各レーザモニタ信号をサンプルホールドする際にサンプルホールド信号をどのマーク長やスペース長に対して生成するか、を示すマークスペース長選択信号を受信して、必要なサンプルホールド信号を生成出力する点が、従来例と異なる点である。
【００４０】
構成と動作について解説する。ＥＦＭ幅カウンタ２０１は、外部からのＥＦＭ信号入力を観測し、各マークの長さを記録クロック（１Ｔを周期とする）にてカウントし、該カウント値をマーク幅記憶部２０２へ渡す。同様に各スペースの長さを記録クロックにてカウントし、該カウント値をスペース幅記憶部２０３へ渡す。マーク幅記憶部２０２、スペース幅記憶部２０３は、ともに所定段数のＦＩＦＯ記憶素子で構成されており、マークスペース観測部２０５は該マーク幅記憶部２０２とスペース幅記憶部２０３が開示している各マーク長とスペース長を観測して、再度、内部ＥＦＭ信号を生成する。該内部ＥＦＭ信号は記録ＥＦＭ生成部２０４、サンプルホールド信号生成部２０６に送られ、記録ＥＦＭ生成部２０４は、該内部ＥＦＭ信号を所定形状に波形整形して記録に適した記録ＥＦＭ信号を生成出力し、また、サンプルホールド信号生成部２０６は、該内部ＥＦＭ信号のうち前記マークスペース長選択信号で指定されるマーク部分、もしくはスペース部分のみを選択して、所定形状に波形整形して、サンプルホールド信号として出力する。
【００４１】
なお、前記記録ＥＦＭ信号は、セレクタ１１１のセレクト信号として機能し、該セレクタ１１１は、該記録ＥＦＭ信号がマーク期間を示す際は、加算部１１０出力の最適ライトパワーをレーザダイオード１０１へ送り、スペース期間を示す際は、加算部１５２出力の最適リードパワーをレーザダイオード１０１へ送る。
【００４２】
該ＥＦＭ入力インタフェース１５１は、前記各種サンプルホールド信号生成において、必要なマーク長もしくはスペース長の箇所を選択できるので、例えば、従来１１Ｔのスペースのみのサンプルホールド信号を生成していたものが、６Ｔ〜１１Ｔのスペースのサンプルホールド信号を生成することが可能となり、高速記録時においても高解像のサンプルホールド信号を生成可能となり、ひいては前記ＤＲＣ信号、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号、Ｂ値信号の時間解像度が高まり、例えばＤＲＣ信号を元にした指紋・汚れ検出の精度が向上する効果をもつ。
【００４３】
次に動作について説明する。レーザダイオード１０１は、ＯＰＣにより得られた最適光強度の記録用レーザ光を追記型光ディスクに照射する。モニタ用フォトダイオード１０２は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が出力するサンプルホールド信号に従い、該レーザ光の一部をスペース期間とマーク期間に分けてサンプルホールドし、各期間の強度を電気信号に変換してそれぞれ（スペース期間の信号は）リードＡＰＣ部１０８、（マーク期間の信号は）ライトＡＰＣ１０９へ出力する。リードＡＰＣ部１０８は、該出力のうちスペース期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がスペース期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。また、ライトＡＰＣ部１０９は、該出力のうちマーク期間の出力値を受信し、レーザダイオード１０１がマーク期間において最適強度のレーザ光が一定となるように制御する。
【００４４】
サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、記録用レーザ光により生ずる追記型光ディスクからの反射光を受け、その反射光強度を電気信号に変換して出力する。反射光演算部１０４は、ＥＦＭ入力インタフェース１０５が生成するサンプルホールド信号に従って、反射光をサンプルホールドし、該サンプルホールド信号を元に所定演算を行い、ＤＲＣ信号とＢ値信号を出力する。ＲＯＰＣ処理部１０７は、該Ｂ値と目標値との差に基づいてゲインを出力する。ライトＡＰＣ部１０９は、該ゲインに基づいて記録用レーザ光の光強度の目標値を更新する。これにより、上記レーザダイオード１０１から照射される記録用レーザ光強度は、Ｂ値が所定の目標値になるように制御される。
【００４５】
指紋・汚れ検出部１１２は、前記ＤＲＣ信号を観測して指紋・汚れ等を検知する。加算部１１０は、該検知期間においてのみ、適正な記録が可能となるように、ライトＡＰＣ部１０９が出力する通常の最適ライトパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２が出力する所定パワーを加算してピックアップ１００へ最終のライトパワーとして出力する。また、加算部１５２は、該検知期間においてのみ、適正なスペース期間の反射光を取得可能となるように、リードＡＰＣ部１０８が出力する通常の最適リードパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２が出力する所定パワーを加算してピックアップ１００へ最終のリードパワーとして出力する。
【００４６】
図８は、上記サンプルホールドの詳細を説明するための図である。図８（ａ）は、追記型光ディスクに照射されるレーザ光の光出力波形を示したものであり、光ディスクに記録すべき記録ＥＦＭ信号に基づいて、半導体レーザダイオード１０１が照射する。メインビームＭｂは、ディスクの記録層にマークを形成する区間は強い光出力である第１のレーザ光を照射し、マークを形成しない区間は弱い光出力である第２のレーザ光を照射している。図８（ｂ）は、ディスク反射光の波形を示したものであり、マークの始点側で反射光強度が高く、その後徐々に低くなり、終端側付近で一定値に収束している。これは、追記型光ディスクに形成されるピットは、レーザ光を受けてから徐々に形成されるため、該ピットによる反射光の低下も徐々に起こることによるためである。従って、反射光レベルが一定値に収束するには、例えば時間幅１１Ｔのピットのような十分に長いピットである必要があり、例えば時間幅３Ｔのピットのような短いピットからの反射光レベルは、ピットの終端側でも収束しない。この収束した反射光レベルがＢ値であり、Ｂ値はピット形成のために照射されるレーザ光強度に対応して変化する。Ｂ値が最適な値になるようにレーザ光強度を制御することにより、追記型光ディスクへの記録状態を最適とすることができる。
【００４７】
図８（ｃ）は、スペース期間のサンプルホールド回路制御信号を示したものであり、第２のレーザ光が照射されている区間でＨｉとなり、第１のレーザ光が照射されている区間でＬｏとなっており、スペース期間のディスク反射光（図８（ｂ））をホールドする。サンプルホールド回路制御信号がＬｏからＨｉに遷移する位置は、第１のレーザ光から第２のレーザ光への遷移時に生じるディスク反射光（図８（ｂ））の応答（Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３）をサンプルしないようにするために、レーザ光が遷移する位置より若干遅延を設けている。このようにして、第２のレーザ光（スペース期間）が照射されているときのディスク反射光をサンプルホールドする。
【００４８】
また、図８（ｂ）は、加算器４６の出力波形であり、サンプルホールド回路４７は、該出力波形のうち長いマーク、例えば時間幅が６Ｔ以上のマークにおいて、波形始端部から一定期間経過後、例えば時間５Ｔ経過後にサンプルを行うことにより、波形後端部のＢ値をサンプルホールドする（図８（ｄ））。
【００４９】
図８（ｅ）の斜線部分８０１のような指紋・汚れがある場合の反射光が図８（ｆ）である。図８（ｆ）に見られるように、指紋・汚れがある箇所では、マーク記録期間だけでなく、ライトパワーをかけていないスペース期間においても、反射光は乱れる。このスペース期間における反射光の乱れの影響を除去するために、加算部１５２において、リードＡＰＣ１０８出力の通常リードパワーに対し、指紋・汚れ検出部１１２出力の所定パワー値を加算している。この処理により、スペース期間の反射光は安定し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号への悪影響を除去可能となる。
【００５０】
【発明の効果】
本発明に係る記録パワー補正装置によれば、光ディスクへ記録中に、レーザ光出力やディスク反射率の影響を受けずに、指紋等を高感度かつ高精度に検出し、トラッキングやフォーカスの制御も正常に行うことが可能となり、光ディスクへのデータ記録時に照射するレーザ光強度を、記録面に付着した指紋等の汚れに追従し、かつ、記録面ぶれ等には追従せずに制御可能となり、光ディスクへのデータ記録状態を常に最適なものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１における記録パワー補正装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態１におけるＥＦＭインタフェースの構成を示すブロック図
【図３】従来の記録パワー補正装置を説明するためのブロック図
【図４】反射光演算部１０４の構成を示す図
【図５】ＤＲＣ信号による指紋等の汚れの検出を説明するための図
【図６】リードＡＰＣ部１０８の構成を示すブロック図
【図７】ライトＡＰＣ部１０９、及び、ＲＯＰＣ処理部１０７の構成を示すブロック図
【図８】サンプルホールドの詳細、及び、指紋等の汚れによる反射光信号の影響を示す図
【符号の説明】
４１ａ〜ｆ サンプルホールド部（Ｓ／Ｈ）
４２ａ〜ｆ 加算器
４３ａ〜ｅ 減算器
４４ 増幅器
４５ 増幅器
４６ 加算器
４７ サンプルホールド部（Ｓ／Ｈ）
１００ ピックアップ
１０１ レーザダイオード
１０２ モニタ用フォトダイオード
１０３ サーボ／ＲＦ用フォトダイオード
１０４ 反射光演算部
１０７ ＲＯＰＣ処理部
１０８ リードＡＰＣ部
１０９ ライトＡＰＣ部
１１０ 加算部
１１１ セレクタ
１１２ 指紋・汚れ検出部
１５１ ＥＦＭ入力インタフェース
１５２ 加算部
２０１ ＥＦＭ幅カウンタ
２０２ マーク幅記憶部
２０３ スペース幅記憶部
２０４ 記録ＥＦＭ生成部
２０５ マークスペース観測部
２０６ サンプルホールド信号生成部
５０１ 追記型光ディスク
５０２ 対物レンズ
５０３、５０４ 閾値
６０１ リードパワー目標値格納部
６０２ 減算器
６０３ ＡＰＣループフィルタ
７０１ ライトパワー目標値格納部
７０２ 減算器
７０３ ＡＰＣループフィルタ
７０４、７０５ 加算器
７１１ 減算器
７１２ Ｂ値目標値格納部
７１３ ＲＯＰＣループフィルタ
７１４ 記録電流補正部
８０１ （トラック上の）指紋・汚れ
Claims (5)
- 記録するデータに基づいて光ディスク上にピットを形成する第１のレーザ光とピットを形成しない第２のレーザ光とを照射することによりレーザ光照射手段を備えた光ディスク装置において、上記光ディスクに照射した前記第１と第２のレーザ光の反射光を受光して前記反射光の強度に応じた反射光強度信号を出力する受光手段と、前記第１のレーザ光の反射光強度信号に応じてピットの反射光強度を表す第１の信号を出力するピット反射光検出手段と、前記第２のレーザ光の反射光強度信号が前記光ディスクのトラック溝上に照射されているか否かを表す第２の信号を出力するトラック検出手段と、前記第２の信号が所定の閾値以上である場合に第３の信号を出力する指紋・汚れ検出手段と、上記第３の信号が出力されている時に、前記第１の信号のレベルに応じて前記第１と第２のレーザ光の照射強度を制御するための制御信号を前記レーザ光照射手段に出力する記録パワー補正手段を備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
- 前記制御信号は、前記第一の信号のレベルに応じて前記第１あるいは第２のレーザ光照射手段に流れる電流値の補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
- 前記第２の信号を生成するための反射光強度取得手段が、予め設定されたピット未形成信号の反射光強度を取得するものであることを特徴とする請求項１ないし２のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
- 前記レーザ光照射手段は、光ディスクのトラック溝上に第２のレーザ光を照射する第１の発光素子と、光ディスクのトラック溝間に第２のレーザ光を照射する第２の発光素子とを有し、上記受光手段は、前記第１の発光素子により生ずる光ディスクの反射光を受光してその光強度を表す反射光強度信号を出力する第１の受光素子と、前記第２の発光素子により生ずる光ディスクの反射光を受光してその光強度を表す反射光強度信号を出力する第２の受光素子とを有し、上記トラック検出手段は、前記第１の受光素子が出力する反射光強度信号と、前記第２の受光素子が出力する反射光強度信号とに基づいて、前記第２の信号を出力するものであることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
- 前記レーザ光照射手段は、前記第１と第２のレーザ光を受光してその光強度表す光強度信号を出力するモニタ用受光素子と、前記光強度信号を受けて前記第１と第２のレーザ光の照射強度を制御する制御回路とを有し、前記第３の信号が出力されない間は、前記第１と第２のレーザ光の照射強度を一定に保持するものであることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
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