JP2004078002A - 光学部品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光学部品10は、(1)第1光導波路14と、(2)第1光カプラ28及び第2光カプラ30それぞれを介して第1光導波路14と光結合され、第1光導波路14と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路16と、(3)第1光カプラ28と第2光カプラ30との間における第1光導波路14及び第2光導波路16の少なくとも一方に設けられた第1ヒータ18と、(4)第1光導波路14の入力端22と光学的に結合された半導体レーザ20と、を備え、第1〜第2光導波路14,16、第1ヒータ18、及び半導体レーザ20は同一の基板12上に集積されている。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は光学部品に関し、より詳細には光増幅器の励起用光源として好適な光学部品に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、波長多重伝送(WDM)システムは長距離系の大容量伝送だけでなく、メトロアクセス系での実用化も進んでいる。このとき、図5に示すように、OADM(Optical Add−Drop Multiplexer)システム100内に光増幅器102を並列に配置し、各チャンネルを増幅し、かつパワーを均一化することが考えられる。
【0003】
このようなシステム100において、従来では1つの光増幅器102に対して1つかもしくはそれ以上の励起用の半導体レーザ(LD)を使用していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記したような波長分波後にそれぞれのチャンネルに光増幅器を配置するシステムにおいて、1つの光増幅器に対して1つかもしくはそれ以上の励起用の半導体レーザを使用すると、システム的に非常に高価なものとなる。
【0005】
本発明は、上記課題を解決するために為されたものであり、少ない半導体レーザの使用個数で、パワー制御自在なより多くの光出力を得ることを可能とする光学部品を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光学部品は、半導体レーザとマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積してなる複数の出力ポートを備える光学部品であって、半導体レーザへの注入電流とマッハツェンダ干渉計のアーム部の温度とを調整することで、複数の出力ポートそれぞれから出力される光の強度を調整することを特徴とする。
【0007】
この光学部品では、半導体レーザとマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積して構成されているため、半導体レーザへの注入電流とマッハツェンダ干渉計のアーム部の温度とを調整することで、複数の出力ポートそれぞれから出力される光の強度を調整することができる。このように、この光学部品によれば、少ない半導体レーザの使用個数で、パワー制御自在なより多くの光出力を得ることが可能となる。
【0008】
本発明に係る光学部品は、一の半導体レーザと、一のマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積してなり、二つの出力ポートを備えることを特徴としてもよい。このようにすれば、一つの半導体レーザに対し、パワーを任意に制御することができる二つの光出力を得ることが可能となる。
【0009】
本発明に係る光学部品は、一の半導体レーザと、三つのマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積してなり、四つの出力ポートを備えることを特徴としてもよい。このようにすれば、一つの半導体レーザに対し、パワーを任意に制御することができる四つの光出力を得ることが可能となる。
【0010】
本発明に係る光学部品は、一対の入力端と一の出力端とを有する一組の非対称マッハツェンダ干渉計を備え、一組の非対称マッハツェンダ干渉計それぞれの一対の入力端の一方は、マッハツェンダ干渉計の一対の出力端のそれぞれと接続されていることを特徴としてもよい。このようにすれば、半導体レーザからの光(励起光)と他の光(信号光)との合波機能を有する二入力二出力の回路を、一つの基板上に小型に形成することができる。
【0011】
本発明に係る光学部品は、光増幅器の励起用光源として用いられることを特徴としてもよい。このように、この光学部品は、光増幅器の励起用光源として好適に用いることができる。特に、波長分波後にそれぞれのチャンネルに光増幅器を配置するシステムにおいて、1つの光増幅器に対して1つかもしくはそれ以上の励起用の半導体レーザを使用する必要がなく、半導体レーザの使用個数の低減が図られ、コストの低減を図ることが可能となる。
【0012】
本発明に係る光学部品は、(1)第1光導波路と、(2)第1光カプラ及び第2光カプラそれぞれを介して第1光導波路と光結合され、第1光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路と、(3)第1光カプラと第2光カプラとの間における第1光導波路及び第2光導波路の少なくとも一方に設けられた第1ヒータと、(4)第1光導波路の入力端と光学的に結合された半導体レーザと、を備え、第1〜第2光導波路、第1ヒータ、及び半導体レーザは同一の基板上に集積されていることを特徴とする。
【0013】
この光学部品では、半導体レーザへの注入電流と第1ヒータの温度とを調整することで、第1及び第2光導波路の出力端それぞれから出力される光の強度を調整することができる。このように、この光学部品によれば、一つの半導体レーザに対し、パワーを任意に制御することができる二つの光出力を得ることができ、少ない半導体レーザの使用個数で、パワー制御自在なより多くの光出力を得ることが可能となる。
【0014】
本発明に係る光学部品は、(1)第1光導波路と、(2)第1光カプラ及び第2光カプラそれぞれを介して第1光導波路と光結合され、第1光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路と、(3)第1光カプラと前記第2光カプラとの間における第1光導波路及び第2光導波路の少なくとも一方に設けられた第1ヒータと、(4)第1光導波路の入力端と光学的に結合された半導体レーザと、(5)第3光導波路と、(6)第3光カプラ及び第4光カプラそれぞれを介して第3光導波路と光結合され、第3光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第4光導波路と、(7)第3光カプラと第4光カプラとの間における第3光導波路及び第4光導波路の少なくとも一方に設けられた第2ヒータと、(8)第5光導波路と、(9)第5光カプラ及び第6光カプラそれぞれを介して第5光導波路と光結合され、第5光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第6光導波路と、(10)第5光カプラと第6光カプラとの間における第5光導波路及び第6光導波路の少なくとも一方に設けられた第3ヒータと、を備え、第1〜第6光導波路、第1〜第3ヒータ、及び半導体レーザは同一の基板上に集積され、第1光導波路の出力端と第4光導波路の入力端とは光学的に結合され、第2光導波路の出力端と第5光導波路の入力端とは光学的に結合されていることを特徴とする。
【0015】
この光学部品では、半導体レーザへの注入電流と第1〜第3ヒータの温度とを調整することで、第3〜第6光導波路の出力端それぞれから出力される光の強度を調整することができる。このように、この光学部品によれば、一つの半導体レーザに対し、パワーを任意に制御することができる四つの光出力を得ることができ、少ない半導体レーザの使用個数で、パワー制御自在なより多くの光出力を得ることを可能となる。
【0016】
本発明に係る光学部品は、(1)第1光導波路と、(2)第1光カプラ及び第2光カプラそれぞれを介して第1光導波路と光結合され、第1光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路と、(3)第1光カプラと前記第2光カプラとの間における第1光導波路及び第2光導波路の少なくとも一方に設けられた第1ヒータと、(4)第1光導波路の入力端と光学的に結合された半導体レーザと、(5)第3光導波路と、(6)第3光カプラ及び第4光カプラそれぞれを介して第3光導波路と光結合され、第3光導波路と共に非対称マッハツェンダ干渉計を構成する第4光導波路と、(7)第5光導波路と、(8)第5光カプラ及び第6光カプラそれぞれを介して第5光導波路と光結合され、第5光導波路と共に非対称マッハツェンダ干渉計を構成する第6光導波路と、を備え、第1〜第6光導波路、第1ヒータ、及び半導体レーザは同一の基板上に集積され、第1光導波路の出力端と第4光導波路の入力端とは光学的に結合され、第2光導波路の出力端と第5光導波路の入力端とは光学的に結合されていることを特徴とする。
【0017】
この光学部品では、半導体レーザへの注入電流と第1ヒータの温度とを調整することで、第1〜第2光導波路の出力端それぞれから出力される光の強度を調整することができる。このように、この光学部品によれば、一つの半導体レーザに対し、パワーを任意に制御することができる二つの光出力を得ることができ、少ない半導体レーザの使用個数で、パワー制御自在なより多くの光出力を得ることを可能となる。また、第1〜第2光導波路の出力端それぞれから出力された光と、第3及び第6光導波路の入力端それぞれから入力された光との合波機能を有する二入力二出力の回路を、一つの基板上に小型に形成することができる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【0019】
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る光学部品を示す平面図である。図1に示すように、本実施形態に係る光学部品10は、シリコン等からなる基板12上に集積された、第1光導波路14、第2光導波路16、ヒータ(第1ヒータ)18、及び半導体レーザ20を備えている。
【0020】
第1光導波路14は、光入力端22と基板12の一端面に設けられた光出力端24とを有している。第2光導波路16は、基板12の一端面に設けられた光出力端26を有している。第2光導波路16は、基板12上において第1光導波路14に沿うように設けられている。これら第1及び第2光導波路14,16は、2箇所で近接するように設けられて光学的な結合が図られており、これら近接部分により第1光カプラ28及び第2光カプラ30が構成されている。そして、これら第1及び第2光導波路14,16と第1及び第2光カプラ28,30とで、マッハツェンダ干渉計が構成されている。
【0021】
これら第1及び第2光導波路14,16は、積層型の平面導波路であり、基板12上に設けられたコア領域として設けられている。そして、このコア領域は、コア領域よりも屈折率の低いクラッド領域により覆われている。コア領域は、例えば、石英(SiO2)中にゲルマニウム(Ge)を添加して形成されており、石英(SiO2)のみからなるクラッド領域に対し高屈折率とされている。
【0022】
ヒータ18は、第1光カプラ28と第2光カプラ30との間における第1光導波路14上(第1光導波路14のアーム部上)と、第1光カプラ28と第2光カプラ30との間における第2光導波路16上(第2光導波路16のアーム部上)とに設けられている。ただし、ヒータ18は第1及び第2光導波路14,16上のいずれかにのみ設けてもよい。このヒータ18は、例えば、第1及び第2光導波路14,16上にタンタルシリサイド(TaSi2)等の金属を蒸着してなる、いわゆる薄膜ヒータと呼ばれるものである。このヒータ18は、光導波路の温度を調整して屈折率を調整することにより、光導波路を伝搬する光の位相を調整する。
【0023】
半導体レーザ20は、第1光導波路14の光入力端22が設けられている側に配置されており、光入力端22と光学的な結合が図られている。
【0024】
この光学部品10では、半導体レーザ20から出射され光入力端22から第1光導波路14に入力された光は、第1光カプラ28において分岐されて第1及び第2光導波路14,16内をそれぞれ伝搬し、第2光カプラ30で干渉された後、出力ポートとしての第1及び第2光導波路14,16の光出力端24,26それぞれから、所定のパワーで出力される。このとき、外部に設けられた制御部32により、半導体レーザ20の注入電流とヒータ18の温度とを制御することにより、光出力端24,26それぞれから出力される光のパワーを任意に制御することができる。
【0025】
ここで、第1及び第2光カプラ28,30の結合率をCとしたとき、光出力端24,26それぞれから出力される光のパワーP1,P2は、次の(1)式及び(2)式により表される。
P1/P0=4・C・(1−C)・cos2(Δφ/2) ・・・ (1)
P2=P0−P1 ・・・ (2)
【0026】
ここで、P0は半導体レーザ20から出力され第1光導波路14の光入力端22に入力される光のパワーを示し、Δφは第2光カプラ30に到達した第1及び第2光導波路14,16を伝搬してきた光の位相差(位相シフト量)を示す。
【0027】
図2は、上記した(1)式及び(2)式に基づいて、第1及び第2光カプラ28,30の結合率Cを0.5として、光パワーP0と位相シフト量Δφとを種々に変えたときの出力光の光パワーP1,P2を計算した結果を示すグラフである。図2において、L1及びL2はそれぞれ光パワーP0が500mWのときの結果を示し、L3及びL4はそれぞれ光パワーP0が350mWのときの結果を示し、L5及びL6はそれぞれ光パワーP0が200mWのときの結果を示している。
【0028】
図2に示すように、光パワーP1,P2をそれぞれ100mWとしたいときには、半導体レーザ20への注入電流を調整して光パワーP0を200mWとし、ヒータ18の温度を調整して位相シフト量Δφを90度とすればよい。また、光パワーP1,P2をそれぞれ250mW,100mWとしたいときには、半導体レーザ20への注入電流を調整して光パワーP0を350mWとし、ヒータ18の温度を調整して位相シフト量Δφを64.6度とすればよい。さらに、光パワーP1,P2をそれぞれ400mW,100mWとしたいときには、半導体レーザ20への注入電流を調整して光パワーP0を500mWとし、ヒータ18の温度を調整して位相シフト量Δφを53.1度とすればよい。
【0029】
このように、本実施形態に係る光学部品10によれば、ヒータ18の電力供給により調整可能なΔφと、半導体レーザ20の注入電流により調整可能な光パワーP0とを制御することにより、出力ポートとしての第1及び第2光導波路14,16の光出力端24,26それぞれから出力される光のパワーを任意に調整することができる。従って、この光学部品10を図示しない光増幅器の励起用光源として利用したとき、一つの半導体レーザだけで二つの光増幅器へ入力する励起光のパワーを調整することができる。その結果、従来のように一つの光増幅器に対して1つかもしくはそれ以上の励起用の半導体レーザを使用する必要がなく、半導体レーザの使用個数の低減が図られる。例えば、8チャンネルのシステムに適用するとき、本実施形態に係る光学部品を使用すれば、必要な半導体レーザの個数は8個から4個へと低減され、コストの低減を図ることが可能となる。
【0030】
(第2実施形態)
次に、本発明に係る光学部品の第2実施形態について説明する。なお、上記した第1実施形態において説明した要素と同一の要素には同一の符号を附し、重複する説明を省略する。
【0031】
上記した第1実施形態では二出力の光学部品10について説明したが、本実施形態では四出力の光学部品40について説明する。
【0032】
本実施形態に係る光学部品40は、図3に示すように、シリコン等からなる基板12上に集積された、第1光導波路14、第2光導波路16、ヒータ(第1ヒータ)18、及び半導体レーザ20を備えている他に、更に、第3〜第6光導波路42〜48、ヒータ(第2ヒータ)50、及びヒータ(第3ヒータ)52を備えている。
【0033】
第4光導波路44は、光入力端54と基板12の一端面に設けられた光出力端56とを有している。そして、第1光導波路14の光出力端24と第4光導波路44の光入力端54とは光学的に結合されている。第3光導波路42は、基板12の一端面に設けられた光出力端58を有している。第3光導波路42は、基板12上において第4光導波路44に沿うように設けられている。これら第3及び第4光導波路42,44は、2箇所で近接するように設けられて光学的な結合が図られており、これら近接部分により第3光カプラ60及び第4光カプラ62が構成されている。そして、これら第3及び第4光導波路42,44と第3及び第4光カプラ60,62とで、マッハツェンダ干渉計が構成されている。
【0034】
ヒータ50は、第3光カプラ60と第4光カプラ62との間における第3光導波路42上(第3光導波路42のアーム部上)と、第3光カプラ60と第4光カプラ62との間における第4光導波路44上(第4光導波路44のアーム部上)とに設けられている。ただし、ヒータ50は第3及び第4光導波路42,44上のいずれかにのみ設けてもよい。
【0035】
第5光導波路46は、光入力端64と基板12の一端面に設けられた光出力端66とを有している。そして、第2光導波路16の光出力端26と第5光導波路46の光入力端64とは光学的に結合されている。第6光導波路48は、基板12の一端面に設けられた光出力端68を有している。第6光導波路48は、基板12上において第5光導波路46に沿うように設けられている。これら第5及び第6光導波路46,48は、2箇所で近接するように設けられて光学的な結合が図られており、これら近接部分により第5光カプラ70及び第6光カプラ72が構成されている。そして、これら第5及び第6光導波路46,48と第5及び第6光カプラ70,72とで、マッハツェンダ干渉計が構成されている。
【0036】
ヒータ52は、第5光カプラ70と第6光カプラ72との間における第5光導波路46上(第5光導波路46のアーム部上)と、第5光カプラ70と第6光カプラ72との間における第6光導波路48上(第6光導波路48のアーム部上)とに設けられている。ただし、ヒータ52は第5及び第6光導波路46,48上のいずれかにのみ設けてもよい。
【0037】
この光学部品40では、半導体レーザ20から出射され光入力端22から第1光導波路14に入力された光は、第1光カプラ28において分岐されて第1及び第2光導波路14,16内をそれぞれ伝搬し、第2光カプラ30で干渉された後、第1及び第2光導波路14,16の光出力端24,26それぞれに至る。そして、第4光導波路44の光入力端54に入力された光は、第3光カプラ60において分岐されて第3及び第4光導波路42,44内をそれぞれ伝搬し、第4光カプラ62で干渉された後、出力ポートとしての第3及び第4光導波路42,44の光出力端58,56から、所定のパワーで出力される。また、第5光導波路46の光入力端64に入力された光は、第5光カプラ70において分岐されて第5及び第6光導波路46,48内をそれぞれ伝搬し、第6光カプラ72で干渉された後、出力ポートとしての第5及び第6光導波路46,48の光出力端66,68から、所定のパワーで出力される。
【0038】
このとき、外部に設けられた制御部32により、半導体レーザ20の注入電流とヒータ18,50,52の温度とを制御することにより、光出力端68,66,56,58それぞれから出力される光のパワーP1〜P4を任意に制御することができる。
【0039】
このように、本実施形態に係る光学部品40においても、ヒータ18,50,52の電力供給により調整可能な位相シフト量Δφと、半導体レーザ20の注入電流により調整可能な光パワーP0とを制御することにより、出力ポートとしての第3〜第6光導波路42〜48の光出力端58,56,66,68それぞれから出力される光のパワーを任意に調整することができる。従って、この光学部品40を図示しない光増幅器の励起用光源として利用したとき、一つの半導体レーザだけで四つの光増幅器へ入力する励起光のパワーを調整することができる。その結果、従来のように一つの光増幅器に対して1つかもしくはそれ以上の励起用の半導体レーザを使用する必要がなく、半導体レーザの使用個数の低減が図られる。例えば、8チャンネルのシステムに適用するとき、本実施形態に係る光学部品40を使用すれば、必要な半導体レーザの個数は8個から2個へと低減され、コストの低減を図ることが可能となる。
【0040】
(第3実施形態)
次に、本発明に係る光学部品の第3実施形態について説明する。なお、上記した第1実施形態において説明した要素と同一の要素には同一の符号を附し、重複する説明を省略する。
【0041】
上記した第1及び第2実施形態では任意のパワーの光を出力可能な複数の出力ポートを有する光学部品10,40について説明したが、本実施形態では更に外部からの入力光の合波機能を有する二入力二出力の光学部品80について説明する。
【0042】
本実施形態に係る光学部品80は、図4に示すように、シリコン等からなる基板12上に集積された、第1光導波路14、第2光導波路16、ヒータ(第1ヒータ)18、及び半導体レーザ20を備えている他に、更に、第3〜第6光導波路42〜48を備えている。
【0043】
第4光導波路44は、光入力端54を有している。そして、第1光導波路14の光出力端24と第4光導波路44の光入力端54とは光学的に結合されている。第3光導波路42は、基板12の一端面に設けられた光入力端82と、他端面に設けられた光出力端58を有している。第3光導波路42は、基板12上において第1及び第4光導波路14,44に沿うように設けられている。これら第3及び第4光導波路42,44は、2箇所で近接するように設けられて光学的な結合が図られており、これら近接部分により第3光カプラ60及び第4光カプラ62が構成されている。そして、これら第3及び第4光導波路42,44と第3及び第4光カプラ60,62とで、非対称マッハツェンダ干渉計が構成されている。ここで非対称マッハツェンダ干渉計とは、第3光カプラ60と第4光カプラ62との間の第3及び第4光導波路42,44の長さが異なるものを指す。
【0044】
第5光導波路46は、光入力端64を有している。そして、第2光導波路16の光出力端26と第5光導波路46の光入力端64とは光学的に結合されている。第6光導波路48は、基板12の一端面に設けられた光入力端84と、他端面に設けられた光出力端68を有している。第6光導波路48は、基板12上において第2及び第5光導波路16,46に沿うように設けられている。これら第5及び第6光導波路46,48は、2箇所で近接するように設けられて光学的な結合が図られており、これら近接部分により第5光カプラ70及び第6光カプラ72が構成されている。そして、これら第5及び第6光導波路46,48と第5及び第6光カプラ70,72とで、非対称マッハツェンダ干渉計が構成されている。ここで非対称マッハツェンダ干渉計とは、第5光カプラ70と第6光カプラ72との間の第5及び第6光導波路46,48の長さが異なるものを指す。
【0045】
この光学部品80では、半導体レーザ20から出射され光入力端22から第1光導波路14に入力された光は、第1光カプラ28において分岐されて第1及び第2光導波路14,16内をそれぞれ伝搬し、第2光カプラ30で干渉された後、第1及び第2光導波路14,16の光出力端24,26それぞれに至る。そして、第4光導波路44の光入力端54に入力された光は、第3光カプラ60及び第4カプラ62を介して光入力端82から入力され第3光導波路42を伝搬してきた波長λ2の光と合波され、出力ポートとしての第3光導波路42の光出力端58から出力される。また、第5光導波路46の光入力端64に入力された光は、第5光カプラ70及び第6カプラ72を介して光入力端84から入力され第6光導波路48を伝搬してきた波長λ1の光と合波され、出力ポートとしての第6光導波路48の光出力端68から出力される。
【0046】
このとき、外部に設けられた制御部32により、半導体レーザ20の注入電流とヒータ18の温度とを制御することにより、光出力端58,68それぞれから出力される半導体レーザ20からの光のパワーP1,P2を任意に制御することができる。
【0047】
このように、本実施形態に係る光学部品80においても、ヒータ18の電力供給により調整可能な位相シフト量Δφと、半導体レーザ20の注入電流により調整可能な光パワーP0とを制御することにより、出力ポートとしての第3及び第6光導波路42,48の光出力端58,68それぞれから出力される光のパワーP2,P1任意に調整することができる。従って、この光学部品80を図示しない光増幅器の励起用光源として利用したとき、一つの半導体レーザだけで二つの光増幅器へ入力する励起光のパワーを調整することができる。その結果、従来のように一つの光増幅器に対して1つかもしくはそれ以上の励起用の半導体レーザを使用する必要がなく、半導体レーザの使用個数の低減が図られる。
【0048】
特に、この光学部品80では、光入力端82,84から入力された光を合波する合波機能を有するため、二入力二出力の光回路を小型に形成することが可能となる。
【0049】
尚、本発明は上記した実施形態に限定されることなく、種々の変形が可能である。
【0050】
例えば、上記した第1及び第2実施形態では、マッハツェンダ干渉計を一段で構成した二出力の光学部品10、及びマッハツェンダ干渉計を二段縦列で構成した四出力の光学部品40について説明したが、マッハツェンダ干渉計を更に多段化して出力ポートを増やすことが可能である。
【0051】
また、上記した第3実施形態に係る光学部品80では、第3及び第6光導波路42,48の光出力端58,68から光を取り出すように構成したが、第4及び第5光導波路44,46から光を取り出すように構成してもよい。
【0052】
【発明の効果】
本発明によれば、少ない半導体レーザの使用個数で、パワー制御自在なより多くの光出力を得ることを可能とする光学部品が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態に係る光学部品の構成を示す平面図である。
【図2】光パワーP0と位相シフト量Δφとを種々に変えたときの出力光の光パワーP1,P2を計算した結果を示すグラフである(第1及び第2光カプラの結合率Cを0.5とした)。
【図3】第2実施形態に係る光学部品の構成を示す平面図である。
【図4】第3実施形態に係る光学部品の構成を示す平面図である。
【図5】波長分波後にそれぞれのチャンネルに光増幅器が配置されたOADM(Optical Add−Drop Multiplexer)システムを示す図である。
【符号の説明】
10,40,80…光学部品、12…基板、14…第1光導波路、16…第2光導波路、18…第1ヒータ、20…半導体レーザ、28…第1光カプラ、30…第2光カプラ、42…第3光導波路、44…第4光導波路、46…第5光導波路、48…第6光導波路、50…第2ヒータ、52…第3ヒータ、60…第3光カプラ、62…第4光カプラ、70…第5光カプラ、72…第6光カプラ。
Claims (8)
- 半導体レーザとマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積してなる複数の出力ポートを備える光学部品であって、
前記半導体レーザへの注入電流と前記マッハツェンダ干渉計のアーム部の温度とを調整することで、前記複数の出力ポートそれぞれから出力される光の強度を調整することを特徴とする光学部品。 - 一の半導体レーザと、一のマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積してなり、二つの出力ポートを備えることを特徴とする請求項1に記載の光学部品。
- 一の半導体レーザと、三つのマッハツェンダ干渉計とを基板上に集積してなり、四つの出力ポートを備えることを特徴とする請求項1に記載の光学部品。
- 一対の入力端と一の出力端とを有する一組の非対称マッハツェンダ干渉計を備え、
前記一組の非対称マッハツェンダ干渉計それぞれの前記一対の入力端の一方は、前記マッハツェンダ干渉計の一対の出力端のそれぞれと接続されていることを特徴とする請求項2に記載の光学部品。 - 光増幅器の励起用光源として用いられることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の光学部品。
- 第1光導波路と、
第1光カプラ及び第2光カプラそれぞれを介して前記第1光導波路と光結合され、該第1光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路と、
前記第1光カプラと前記第2光カプラとの間における前記第1光導波路及び前記第2光導波路の少なくとも一方に設けられた第1ヒータと、
前記第1光導波路の入力端と光学的に結合された半導体レーザと、を備え、
前記第1〜第2光導波路、前記第1ヒータ、及び前記半導体レーザは同一の基板上に集積されていることを特徴とする光学部品。 - 第1光導波路と、
第1光カプラ及び第2光カプラそれぞれを介して前記第1光導波路と光結合され、該第1光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路と、
前記第1光カプラと前記第2光カプラとの間における前記第1光導波路及び前記第2光導波路の少なくとも一方に設けられた第1ヒータと、
前記第1光導波路の入力端と光学的に結合された半導体レーザと、
第3光導波路と、
第3光カプラ及び第4光カプラそれぞれを介して前記第3光導波路と光結合され、該第3光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第4光導波路と、
前記第3光カプラと前記第4光カプラとの間における前記第3光導波路及び前記第4光導波路の少なくとも一方に設けられた第2ヒータと、
第5光導波路と、
第5光カプラ及び第6光カプラそれぞれを介して前記第5光導波路と光結合され、該第5光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第6光導波路と、
前記第5光カプラと前記第6光カプラとの間における前記第5光導波路及び前記第6光導波路の少なくとも一方に設けられた第3ヒータと、を備え、
前記第1〜第6光導波路、前記第1〜第3ヒータ、及び前記半導体レーザは同一の基板上に集積され、前記第1光導波路の出力端と前記第4光導波路の入力端とは光学的に結合され、前記第2光導波路の出力端と前記第5光導波路の入力端とは光学的に結合されていることを特徴とする光学部品。 - 第1光導波路と、
第1光カプラ及び第2光カプラそれぞれを介して前記第1光導波路と光結合され、該第1光導波路と共にマッハツェンダ干渉計を構成する第2光導波路と、
前記第1光カプラと前記第2光カプラとの間における前記第1光導波路及び前記第2光導波路の少なくとも一方に設けられた第1ヒータと、
前記第1光導波路の入力端と光学的に結合された半導体レーザと、
第3光導波路と、
第3光カプラ及び第4光カプラそれぞれを介して前記第3光導波路と光結合され、該第3光導波路と共に非対称マッハツェンダ干渉計を構成する第4光導波路と、
第5光導波路と、
第5光カプラ及び第6光カプラそれぞれを介して前記第5光導波路と光結合され、該第5光導波路と共に非対称マッハツェンダ干渉計を構成する第6光導波路と、を備え、
前記第1〜第6光導波路、前記第1ヒータ、及び前記半導体レーザは同一の基板上に集積され、前記第1光導波路の出力端と前記第4光導波路の入力端とは光学的に結合され、前記第2光導波路の出力端と前記第5光導波路の入力端とは光学的に結合されていることを特徴とする光学部品。
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