JP2004055189A - Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube - Google Patents

Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube Download PDF

Info

Publication number
JP2004055189A
JP2004055189A JP2002207993A JP2002207993A JP2004055189A JP 2004055189 A JP2004055189 A JP 2004055189A JP 2002207993 A JP2002207993 A JP 2002207993A JP 2002207993 A JP2002207993 A JP 2002207993A JP 2004055189 A JP2004055189 A JP 2004055189A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
panel
pin
panel pin
pin hole
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002207993A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Oe
大江　慎一
Yasuhiko Matsunaga
松永　泰彦
Koji Kawamura
川村　浩司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2002207993A priority Critical patent/JP2004055189A/en
Publication of JP2004055189A publication Critical patent/JP2004055189A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a panel pin chuck mechanism for a color cathode-ray tube capable of detecting an engagement condition between a panel and a pin hole and correcting deficient engagement between them if the deficient engagement is detected. <P>SOLUTION: This mechanism chucking the panel pin 2 arranged on an annular part 11 inside face of the panel 1 is formed with the pin hole 31 for engaging the panel pin, a panel pin chuck member 3 having a guide 32 guiding the pin hole to engage it with the panel pin, and an engagement condition detection means detecting defective engagement between the panel pin and the pin hole. The panel pin chuck member is provided with an oscillation means 5 oscillating the panel pin chuck member. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、カラー陰極線管のパネルに埋設されたパネルピンをチャックする機構に関するものであり、このようなパネルピンチャック機構は例えばパネルピンの位置を計測するのに用いられる。
【０００２】
【従来の技術】
カラー陰極線管のガラスパネルは、通常３〜４本の金属ピン（パネルピン）がパネルの環状部の内面に植込まれている。これらのパネルピンは色選別電極の取付けに使用されるものであり、それらの位置精度は非常に重要な事柄である。そこで、パネルに埋設されたパネルピンの位置を測定し、その値を基にパネルと色選別電極との組立てを行っている。
このパネルピンの位置の計測は、例えば実公昭５１−１６６９２号公報に記載されているように、パネルピン先端の形状と正確に合致する形状寸法を有するピン穴と、そのピン穴へパネルピンを挿入しやすくするためのガイド溝を持ったピンチャックと呼ばれる部品をパネルピンの本数分配置し、一度に複数のパネルピンをそれぞれのピンチャックのピン穴に挿入させ、その状態における各ピンチャックの位置を検出することにより各パネルピンの位置を計測している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、複数のパネルピンをそれぞれのピンチャックのピン穴に一度に挿入しようとした場合、そのうちのいくつかのパネルピンが嵌合位置ずれし、すなわちピン穴の途中で引っかかり（抉り：こじり）、所定位置まで挿入できない場合があるといった問題があった。
このような嵌合位置ずれ（係合不具合）が発生した状態で測定したパネルピン位置の計測値を基にパネルと色選別電極を組み立ててしまった場合には、精度良くパネルと色選別電極を組み立てることができなかった。
また、嵌合位置ずれが発生した場合、パネルピン位置の測定を最初からやりなおす必要があり、作業時間のロスとなっていた。
【０００４】
本発明は、上記のような従来のものの問題点を解決するためになされたものであり、パネルピンとピン穴との係合状態を検出することができるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を提供することを第１の目的とする。
また、係合不具合が検出された場合に、その係合不具合を改善できるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を提供することを第２の目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るカラー陰極線管用パネルピンチャック機構は、パネルの環状部内面に設けられたパネルピンをチャックする機構であって、上記パネルピンが係合するピン穴と、上記ピン穴が上記パネルピンに係合するよう案内するガイドとを有するパネルピンチャック部材、および上記パネルピンと上記ピン穴との係合不具合を検出するための係合状態検知手段を備えたものである。
【０００６】
また、パネルピンはパネルの環状部内面の複数箇所に設けられており、パネルピンチャック部材および係合状態検知手段を、上記各パネルピンに対応して複数個備えたものである。
【０００７】
また、パネルピンチャック部材を振動させる振動手段を、各パネルピンチャック部材にそれぞれ備えたものである。
【０００８】
また、ピン穴は貫通穴であり、係合状態検知手段は、上記ピン穴をパネルピンが係合する側と反対側の開口部から吸引する真空吸引装置と、上記ピン穴の真空度を測定する手段とを備えるものである。
【０００９】
また、ピン穴は貫通穴であり、係合状態検出手段は、上記ピン穴のパネルピンが係合する側の開口部の様子をその反対側の開口部から撮影する撮影手段を備えるものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
図１〜図４は本発明の実施の形態１によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図であり、より具体的には、図１はパネルピンとパネルピンチャック部材の配置を示す斜視図、図２は図１のＡ−Ａ線断面図、図３はパネルピンチャック機構を拡大して示す正面図、図４は真空度の変化量と隙間量（ピン穴３１とパネルピン２とのズレ量）との関係を示す特性図である。
【００１１】
図において、１はカラー陰極線管のパネルであり、ガラスで形成されるのが一般的である。１１はパネル１の環状部であり、一般にスカート部と呼ばれている。１２はパネル１のシール面である。２は例えば金属で形成されたパネルピンであり、パネル１の環状部１１内面の複数箇所（図１では４箇所）に設けられている。３はパネルピンチャック部材である。３１はパネルピン２が係合するピン穴であり、本実施の形態ではパネルピン２先端部の形状と正確に合致する形状寸法を有し、パネルピン２の先端部が嵌るピン穴である。本実施の形態では、図３に示すように、パネルピン２の先端部にはテーパ２１が形成されており、ピン穴３１はパネルピン２がテーパ２１の途中まで挿入された状態で止まる。また、ピン穴３１は貫通穴である。３２はピン穴３１がパネルピン２へ係合するよう案内するガイド（本実施の形態ではガイド溝）である。各パネルピンチャック部材３は各パネルピン２にそれぞれ対応して配置され、Ｘ方向、Ｙ方向の２方向に微小移動（約３ｍｍ程度）可能に載置台（図示せず）に設置されている。４はパネル受け台である。５はパネルピンチャック部材３を振動させる振動手段に相当する振動素子であり、例えばエアシリンダ、油圧シリンダ、油圧モータとしての揺動モータ等のアクチュエータが用いられる。Ｓはピン位置データ信号であり、例えばコンピュータ等に送られて、その後のパネルと色選別電極との組立てに利用される。
なお、図１において、明確のため、パネルピンチャック部材３のパネル１で隠れている部分、並びにパネルピン２のパネル１およびパネルピンチャック部材３で隠れている部分も破線で示さず、実線で示している。
【００１２】
次に、上記のようなパネルピンチャック機構を用いたパネルピンチャック手順およびパネルピン位置測定手順について説明する。
まず、所定位置に図１のような複数のピンチャック部材３を予め配置しているパネル受け台４に、環状部１１内面の複数箇所にパネルピン２が埋め込まれているブラウン管のパネル１をそのシール面１２基準で設置する。この時、パネルピンチャック部材３のピン穴３１とパネルピン２との高さ関係は、図２のように、ピン穴３１の方が下になるように設定されている。各パネルピンチャック部材３を各パネルピンに例えばバネなどにより押し付けた状態で、各パネルピンチャック部材３を載置台ごとＺ方向に上昇させると、各パネルピン２が各パネルピンチャック部材３のガイド溝３２を滑り、各パネルピン２の先端部がそれぞれ対応するピンチャック部材３のピン穴３１に係合する。
【００１３】
次に、係合状態検知手順を実施する。上記のようにして、一度に複数のパネルピン２をそれぞれのピンチャック部材３のピン穴３１に挿入させ後、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、各ピン穴３１をパネルピン２が係合する側と反対側の開口部から例えば真空エジェクタなどの真空吸引装置（図示せず）で矢印の方向に真空吸引し、各ピン穴３１の真空度を真空度センサ（図示せず）などにより計測する。本実施の形態では、真空吸引装置とピン穴の真空度を測定する手段によりパネルピン２とピン穴３１との係合不具合を検出する係合状態検知手段を構成している。図３（ａ）に示すように、ピン穴３１にパネルピン２がきっちり嵌っている場合は真空吸引時にパネルピン２のテーパ２１面とピン穴３１との間（図３（ａ）に楕円で囲って示す部分）が隙間無くシールされるので真空度が高く、図３（ｂ）に示すように、パネルピン２がピン穴３１の途中で抉り、係合不具合となっている場合には、パネルピン２のテーパ２１面とピン穴３１との間に隙間（図３（ｂ）に楕円で囲って示す部分）があるので真空度が低くなる。
そこで、例えば、ピン穴３１にパネルピン２がきっちり嵌っている（ピン穴３１とパネルピン２とのズレ量がゼロである）ときに予め計測しておいた真空度と、計測された真空度との比較を行い、真空度が所定値（この値は任意に設定）低下している場合、ピン穴３１とパネルピン２とが抉っている（係合不具合である）と判定する。
【００１４】
図４および表１に本発明者らが実験により求めた真空度の変化量と隙間量（ピン穴３１とパネルピン２とのズレ量）との関係を示す。実験条件は、ピン穴３１のパネルピン２係合側の開口部の直径が５．６１ｍｍ、パネルピン２先端部のテーパ２１の角度が２４度、ピン穴３１の深さは径の大きな部分が１０ｍｍ、径の小さな部分が４ｍｍであり、ピン穴３１とパネルピン２が係合しているのと反対側より真空エジェクタを用いてピン穴部を真空吸引した。
図４および表１より、例えば、真空度が３ｋＰａ以上変化量した場合、パネルピン２のズレは５μｍ以上発生していることがわかる。これにより、従来では検知できなかったパネルピンのピンチャックへの微小な勘合ズレが精度良く測定できる。実際には、容認されるズレ量に応じて係合不具合と判定する真空度変化量を決定する。一例としては、パネル内面と色選別電極の間隔のバラツキが全画面において約０．１ｍｍ程度に抑える必要があるので、パネルピン２の係合ズレ量を１０μｍに抑える必要がある。すなわち、真空度変化量が５ｋＰａ以上である場合に係合不具合と判定する。
なお、係合不具合の判定は例えばコンピュータのソフトウェアプログラムにより自動的に行なってもよいし、人間が行なってもよい。
【００１５】
【表１】

Figure 2004055189
【００１６】
次に、係合不具合が検出された場合、係合不具合が検出されたピンチャック部材３に付属されている振動素子を駆動して係合不具合が検出されたパネルピンチャック部材のみを振動させ、ピン穴３１の位置を微小量変化させることで係合不具合を解消する。係合不具合が検出されなかったピンチャック部材３については、そのままで振動させない。
なお、パネルピンチャック部材を振動させる方向としては、パネルピンの軸方向に沿って振動させるのが望ましい。このようにパネルピンの軸方向に沿って振動させることにより、ピン穴の途中で引っかかっている状態を解放することができる。
【００１７】
上記の係合不具合解消動作終了後、再度、当該ピン穴３１をパネルピン２が係合する側と反対側の開口部から真空に引き、当該ピン穴３１の真空度を計測する。ピン穴３１の真空度が所定値に到達していれば、パネルピンチャック手順が完了する。真空度が所定値に達していない場合、係合不具合解消動作を再度行う。係合不具合解消動作と真空度計測動作の繰り返し回数は任意に設定し、設定した回数繰り返しても真空度が所定値に達していない場合には、各パネルピンチャック部材３を載置台ごとＺ方向に下降させた後、再び上昇させ、その後のパネルピンチャック手順を再度実施する。
【００１８】
パネルピンチャック手順が完了した後、図示していない各々のピンチャック部材３に付属の計測手段により、原点からのピンチャック部材３の移動量計測を行う。原点からのピンチャック部材３の移動量計測結果は、ピン位置データ信号Ｓとして、例えばコンピュータ等に送られて、その後のパネルと色選別電極との組立てに用いられる。
【００１９】
このように、本実施の形態によれば、パネルピン２とピン穴３１との係合不具合を検出するための係合状態検知手段を備えたので、係合不具合がある状態でその後の作業を続行するのを防止することができる。したがって、パネルピンチャック機構を用いてパネルピンの位置を計測し、その計測値を基にパネル１と色選別電極を組み立てる場合、パネルピン位置の計測が精度良く行えるため、パネルと色選別電極との組立て品質が向上する。
【００２０】
また、パネルピンチャック部材３を振動させる振動手段を、各パネルピンチャック部材３にそれぞれ備えたので、係合不具合が検出されたパネルピンチャック部材のみを振動手段によって振動させることにより、複数のパネルピンをそれぞれのピンチャックのピン穴に挿入する作業をやり直すことなく、係合不具合を解消することができる。したがってパネルピンチャック機構を用いてパネルピンの位置を測定する場合、再測定時間が大幅に短縮される。
【００２１】
また、係合状態検知手段として、ピン穴３１をパネルピン２が係合する側と反対側の開口部から吸引する真空吸引装置と、ピン穴３１の真空度を測定する手段とを備え、ピン穴３１の真空度によって係合不具合を検出するので、複雑な機構を用いることなく簡単に係合不具合を確認することができるとともに、従来装置に対しても簡単な改造を行うことで取り付けることが可能である。
【００２２】
なお、上記実施の形態では、ピン穴３１が直線的に貫通している場合について示したが、これに限るものではなく、例えばピン穴が直角方向に貫通している場合にも、パネルピン２が係合する側と反対側の開口部から吸引することにより同様の効果が得られる。
【００２３】
実施の形態２．
図５は本発明の実施の形態２によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図であり、より具体的には、パネルピンチャック機構を拡大して示す正面図である。
図において、６は例えばカメラ等の撮像素子であり、ピン穴３１のパネルピン２が係合する側の開口部の様子をその反対側の開口部から撮影する撮影手段に相当する。他の構成は実施の形態１と同様である。
実施の形態１では、ピン穴３１の真空度によってパネルピン２とピン穴３１との係合不具合を検出する場合について示したが、本実施の形態では、ピン穴３１とパネルピン２との隙間からの光の漏れ（ピン穴３１のパネルピン２が係合する側の開口部の明るさ）を見ることによって、係合不具合を検出する。
【００２４】
以下、係合状態検知手順について説明する。他のパネルピンチャック手順およびパネルピン位置測定手順については実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
実施の形態１と同様にして、一度に複数のパネルピン２をそれぞれのピンチャック部材３のピン穴３１に挿入させ後、各ピン穴３１のパネルピン２が係合する側の開口部の様子をその反対側の開口部から撮像素子６で撮影し、撮影データを画像処理等することにより、ピン穴３１のパネルピン２が係合する側の開口部近傍の明るさ（明度）を計測する。
【００２５】
図５（ｂ）に示すように、パネルピン２がピン穴３１の途中で抉り、係合不具合となっている場合には、パネルピン２のテーパ２１面とピン穴３１と間に隙間（図３（ｂ）に楕円で囲って示す部分）があり、この隙間からピン穴３１に光が入射するため明るく（明度が高く）、図５（ａ）に示すように、ピン穴３１にパネルピン２がきっちり嵌っている場合はパネルピン２のテーパ２１面とピン穴３１と間（図５（ａ）に楕円で囲って示す部分）に隙間が無くピン穴３１に光が入射しないため暗い（明度が低い）。
そこで、係合不具合の判定は、予めピン穴３１とピンチャックがきっちり勘合した時に計測していた明度との比較を行い、明度が所定値（この値は任意に設定）以上高い場合、係合不具合である（ピン穴３１とパネルピン２とが抉っている）と判定する。
【００２６】
このように、本実施の形態によれば、係合状態検知手段として、ピン穴３１のパネルピン２が係合する側の開口部の様子をその反対側の開口部から撮影する撮像素子６を備えたので、ピン穴３１とパネルピン２との隙間からピン穴３１への光の漏れ（ピン穴のパネルピンが係合する側の開口部近傍の明るさ）を見ることで、係合不具合を検出することができる。
【００２７】
なお、撮影手段以外でも光度計を用いてピン穴３１とパネルピン２との隙間からの光の漏れを検知しても同様の効果が得られる。
【００２８】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、パネルの環状部内面に設けられたパネルピンをチャックする機構であって、上記パネルピンが係合するピン穴と、上記ピン穴が上記パネルピンに係合するよう案内するガイドとを有するパネルピンチャック部材、および上記パネルピンと上記ピン穴との係合不具合を検出するための係合状態検知手段を備えたので、パネルピンとピン穴との係合不具合を検出することができ、係合不具合がある状態でその後の作業を続行するのを防止することができる。
【００２９】
また、パネルピンはパネルの環状部内面の複数箇所に設けられており、パネルピンチャック部材および係合状態検知手段を、上記各パネルピンに対応して複数個備えたので、何れかのパネルピンがピン穴と係合不具合であった場合にそれを検出することができ、係合不具合がある状態でその後の作業を続行するのを防止することができる。
【００３０】
また、パネルピンチャック部材を振動させる振動手段を、各パネルピンチャック部材にそれぞれ備えたので、係合状態検知手段で係合不具合が検出された場合に、係合不具合が検出されたパネルピンチャック部材のみを振動手段によって振動させることにより、複数のパネルピンをそれぞれのピンチャックのピン穴に挿入する作業をやり直すことなく、係合不具合を解消することができる。
【００３１】
また、ピン穴は貫通穴であり、係合状態検知手段は、上記ピン穴をパネルピンが係合する側と反対側の開口部から吸引する真空吸引装置と、上記ピン穴の真空度を測定する手段とを備えるので、ピン穴の真空度によって係合不具合を検出することができる。
【００３２】
また、ピン穴は貫通穴であり、係合状態検出手段は、上記ピン穴のパネルピンが係合する側の開口部の様子をその反対側の開口部から撮影する撮影手段を備えるので、ピン穴とパネルピンとの隙間からピン穴への光の漏れ（ピン穴のパネルピンが係合する側の開口部近傍の明るさ）を見ることで、係合不具合を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図である。
【図２】本発明の実施の形態１によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図である。
【図３】本発明の実施の形態１によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図である。
【図４】本発明の実施の形態１によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図である。
【図５】本発明の実施の形態２によるカラー陰極線管用パネルピンチャック機構を説明するための図である。
【符号の説明】
１　パネル、１１　パネル１の環状部、２　パネルピン、２１　テーパ、３　パネルピンチャック部材、３１　ピン穴、３２　ガイド、４　パネル受け台、５
振動素子、６　撮像素子。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a mechanism for chucking a panel pin embedded in a panel of a color cathode ray tube, and such a panel pin chuck mechanism is used, for example, for measuring the position of a panel pin.
[0002]
[Prior art]
The glass panel of the color cathode ray tube usually has three to four metal pins (panel pins) implanted on the inner surface of the annular portion of the panel. These panel pins are used for attaching color selection electrodes, and their positional accuracy is a very important matter. Therefore, the positions of panel pins embedded in the panel are measured, and the panel and the color selection electrode are assembled based on the measured values.
The measurement of the position of the panel pin is performed by, for example, as described in Japanese Utility Model Publication No. Sho 51-16692, a pin hole having a shape and a dimension that exactly matches the shape of the end of the panel pin, and the panel pin is easily inserted into the pin hole. A part called a pin chuck with a guide groove to perform the operation is arranged for the number of panel pins, multiple panel pins are inserted into the pin holes of each pin chuck at a time, and the position of each pin chuck in that state is detected. Is used to measure the position of each panel pin.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, when trying to insert a plurality of panel pins into the pin holes of the respective pin chucks at the same time, some of the panel pins are displaced in the fitting position, that is, are caught in the middle of the pin holes (gouge: pry), and the predetermined position is determined. There is a problem that it may not be possible to insert it.
When the panel and the color selection electrode have been assembled based on the measured values of the panel pin positions in a state where such a fitting position shift (engagement failure) has occurred, the panel and the color selection electrode are assembled with high accuracy. I couldn't do that.
In addition, when the fitting position shift occurs, it is necessary to repeat the measurement of the panel pin position from the beginning, which causes a loss of work time.
[0004]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems of the related art, and provides a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube which can detect an engagement state between a panel pin and a pin hole. As a first object.
It is a second object of the present invention to provide a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube which can improve the engagement failure when the engagement failure is detected.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
A panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to the present invention is a mechanism for chucking a panel pin provided on an inner surface of an annular portion of a panel, wherein a pin hole in which the panel pin engages, and the pin hole engages with the panel pin. A panel pin chuck member having a guide for guiding the engagement of the panel pin, and an engagement state detecting means for detecting an engagement failure between the panel pin and the pin hole.
[0006]
Further, the panel pins are provided at a plurality of positions on the inner surface of the annular portion of the panel, and a plurality of panel pin chuck members and engagement state detecting means are provided corresponding to the respective panel pins.
[0007]
Further, each panel pin chuck member is provided with a vibration means for vibrating the panel pin chuck member.
[0008]
Further, the pin hole is a through hole, and the engagement state detecting means measures a vacuum suction device for sucking the pin hole from an opening opposite to a side where the panel pin is engaged, and a degree of vacuum of the pin hole. Means.
[0009]
Further, the pin hole is a through hole, and the engagement state detecting means includes photographing means for photographing the state of the opening of the pin hole on the side where the panel pin engages from the opening on the opposite side.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
FIGS. 1 to 4 are views for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to a first embodiment of the present invention. More specifically, FIG. 1 is a perspective view showing the arrangement of panel pins and panel pin chuck members. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 1, FIG. 3 is an enlarged front view of the panel pin chuck mechanism, and FIG. FIG. 4 is a characteristic diagram showing a relationship with the amount of displacement.
[0011]
In the figure, reference numeral 1 denotes a panel of a color cathode ray tube, which is generally formed of glass. Reference numeral 11 denotes an annular portion of the panel 1, which is generally called a skirt portion. Reference numeral 12 denotes a sealing surface of the panel 1. Reference numeral 2 denotes a panel pin formed of, for example, metal, and is provided at a plurality of locations (four locations in FIG. 1) on the inner surface of the annular portion 11 of the panel 1. Reference numeral 3 denotes a panel pin chuck member. Reference numeral 31 denotes a pin hole with which the panel pin 2 engages. In the present embodiment, the pin hole has a shape and a size that exactly matches the shape of the tip of the panel pin 2 and fits the tip of the panel pin 2. In this embodiment, as shown in FIG. 3, a taper 21 is formed at the tip of the panel pin 2, and the pin hole 31 stops when the panel pin 2 is partially inserted into the taper 21. The pin hole 31 is a through hole. Reference numeral 32 denotes a guide (a guide groove in the present embodiment) for guiding the pin hole 31 to engage with the panel pin 2. Each of the panel pin chuck members 3 is arranged corresponding to each of the panel pins 2, and is installed on a mounting table (not shown) so as to be able to move minutely (about 3 mm) in two directions of the X direction and the Y direction. Reference numeral 4 denotes a panel support. Reference numeral 5 denotes a vibration element corresponding to a vibration means for vibrating the panel pin chuck member 3, and an actuator such as an air cylinder, a hydraulic cylinder, and a rocking motor as a hydraulic motor is used. S is a pin position data signal, which is sent to, for example, a computer or the like, and is used for assembling a panel and a color selection electrode thereafter.
In FIG. 1, for clarity, a portion of the panel pin chuck member 3 hidden by the panel 1 and a portion of the panel pin 2 hidden by the panel 1 and the panel pin chuck member 3 are not shown by broken lines but are shown by solid lines. ing.
[0012]
Next, a panel pin chucking procedure and a panel pin position measuring procedure using the panel pin chuck mechanism as described above will be described.
First, a panel 1 of a CRT in which panel pins 2 are embedded at a plurality of positions on the inner surface of an annular portion 11 is sealed on a panel receiving base 4 in which a plurality of pin chuck members 3 as shown in FIG. It is installed on the basis of surface 12. At this time, the height relationship between the pin holes 31 of the panel pin chuck member 3 and the panel pins 2 is set so that the pin holes 31 are lower as shown in FIG. When each panel pin chuck member 3 is raised in the Z direction together with the mounting table in a state where each panel pin chuck member 3 is pressed against each panel pin by, for example, a spring or the like, each panel pin 2 is brought into the guide groove 32 of each panel pin chuck member 3. , And the tip of each panel pin 2 engages with the corresponding pin hole 31 of the pin chuck member 3.
[0013]
Next, an engagement state detection procedure is performed. As described above, after a plurality of panel pins 2 are inserted into the pin holes 31 of the respective pin chuck members 3 at a time, as shown in FIGS. A vacuum suction device (not shown) such as a vacuum ejector (not shown) suctions vacuum from the opening opposite to the side to be engaged in the direction of the arrow, and measures the degree of vacuum of each pin hole 31 by a vacuum sensor (not shown) or the like. Measured by In the present embodiment, an engagement state detection unit configured to detect an engagement failure between the panel pin 2 and the pin hole 31 is configured by a vacuum suction device and a unit that measures a degree of vacuum in the pin hole. As shown in FIG. 3A, when the panel pin 2 is tightly fitted in the pin hole 31, the space between the tapered 21 surface of the panel pin 2 and the pin hole 31 during vacuum suction (the ellipse is enclosed in FIG. 3A). 3) is sealed without gaps, so that the degree of vacuum is high. As shown in FIG. 3 (b), when the panel pin 2 is Since there is a gap between the surface of the taper 21 and the pin hole 31 (a portion surrounded by an ellipse in FIG. 3B), the degree of vacuum is reduced.
Therefore, for example, the degree of vacuum measured in advance when the panel pin 2 is fitted in the pin hole 31 exactly (the amount of displacement between the pin hole 31 and the panel pin 2 is zero) and the measured vacuum degree When the degree of vacuum is reduced by a predetermined value (this value is arbitrarily set), it is determined that the pin hole 31 and the panel pin 2 are gouged (improper engagement).
[0014]
FIG. 4 and Table 1 show the relationship between the amount of change in the degree of vacuum and the amount of gap (the amount of displacement between the pin hole 31 and the panel pin 2) determined by the present inventors through experiments. The experimental conditions were as follows: the diameter of the opening of the pin hole 31 on the panel pin 2 engaging side was 5.61 mm; the angle of the taper 21 at the tip of the panel pin 2 was 24 degrees; The portion having a small diameter was 4 mm, and the pin hole was evacuated from the side opposite to the position where the pin hole 31 was engaged with the panel pin 2 using a vacuum ejector.
FIG. 4 and Table 1 show that, for example, when the degree of vacuum changes by 3 kPa or more, the displacement of the panel pin 2 occurs by 5 μm or more. As a result, it is possible to accurately measure a small displacement of the panel pin to the pin chuck, which could not be detected conventionally. In practice, the amount of change in the degree of vacuum that is determined to be an engagement failure is determined in accordance with the amount of deviation allowed. As an example, since the variation in the distance between the inner surface of the panel and the color selection electrode needs to be suppressed to about 0.1 mm in the entire screen, the amount of displacement of the panel pins 2 needs to be suppressed to 10 μm. That is, when the degree of vacuum change is 5 kPa or more, it is determined that there is an engagement failure.
The determination of the engagement failure may be performed automatically by a software program of a computer, for example, or may be performed by a human.
[0015]
[Table 1]
Figure 2004055189
[0016]
Next, when an engagement failure is detected, the vibration element attached to the pin chuck member 3 where the engagement failure is detected is driven to vibrate only the panel pin chuck member where the engagement failure is detected, By changing the position of the pin hole 31 by a small amount, the engagement failure is eliminated. The pin chuck member 3 for which no engagement failure has been detected is not vibrated as it is.
It is desirable that the panel pin chuck member be vibrated along the axial direction of the panel pin as the direction of vibration. By vibrating in the axial direction of the panel pin in this way, the state of being stuck in the middle of the pin hole can be released.
[0017]
After the end of the above-described engagement failure elimination operation, the pin hole 31 is again evacuated from the opening opposite to the side where the panel pin 2 is engaged, and the degree of vacuum of the pin hole 31 is measured. If the degree of vacuum of the pin hole 31 has reached a predetermined value, the panel pin chucking procedure is completed. If the degree of vacuum has not reached the predetermined value, the operation for eliminating the engagement defect is performed again. The number of repetitions of the engagement failure elimination operation and the degree of vacuum measurement operation is set arbitrarily. If the degree of vacuum does not reach the predetermined value even after the set number of times, each panel pin chuck member 3 is placed in the Z direction together with the mounting table. , Then raise it again, and repeat the subsequent panel pin chuck procedure.
[0018]
After the panel pin chucking procedure is completed, the amount of movement of the pin chuck member 3 from the origin is measured by measuring means attached to each pin chuck member 3 (not shown). The measurement result of the movement amount of the pin chuck member 3 from the origin is sent to, for example, a computer or the like as a pin position data signal S, and is used for the subsequent assembly of the panel and the color selection electrode.
[0019]
As described above, according to the present embodiment, since the engagement state detecting means for detecting the engagement failure between the panel pin 2 and the pin hole 31 is provided, the subsequent work is continued with the engagement failure. Can be prevented. Therefore, when the position of the panel pin is measured by using the panel pin chuck mechanism and the panel 1 and the color selection electrode are assembled based on the measured value, the measurement of the panel pin position can be performed with high accuracy. Quality is improved.
[0020]
In addition, since each panel pin chuck member 3 is provided with a vibrating means for vibrating the panel pin chuck member 3, a plurality of panel pins are vibrated by vibrating only the panel pin chuck member in which an engagement failure is detected. Can be eliminated without re-doing the operation of inserting the pin holes into the pin holes of the respective pin chucks. Therefore, when measuring the position of the panel pin using the panel pin chuck mechanism, the re-measurement time is greatly reduced.
[0021]
Further, as the engagement state detecting means, a vacuum suction device for sucking the pin hole 31 from the opening opposite to the side where the panel pin 2 is engaged, and a means for measuring the degree of vacuum of the pin hole 31 are provided. Since the engagement failure is detected based on the degree of vacuum of 31, it is possible to easily confirm the engagement failure without using a complicated mechanism, and it is possible to attach the conventional device by performing a simple modification. It is.
[0022]
In the above-described embodiment, the case where the pin hole 31 penetrates linearly is shown. However, the present invention is not limited to this. For example, even when the pin hole penetrates in the A similar effect can be obtained by suctioning from the opening opposite to the side to be engaged.
[0023]
Embodiment 2 FIG.
FIG. 5 is a view for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to a second embodiment of the present invention, and more specifically, is an enlarged front view showing the panel pin chuck mechanism.
In the figure, reference numeral 6 denotes an image pickup device such as a camera, which corresponds to a photographing means for photographing the state of the opening of the pin hole 31 on the side where the panel pin 2 engages from the opening on the opposite side. Other configurations are the same as in the first embodiment.
In the first embodiment, the case where the engagement failure between the panel pin 2 and the pin hole 31 is detected based on the degree of vacuum of the pin hole 31 has been described, but in the present embodiment, the gap between the pin hole 31 and the panel pin 2 is detected. By checking the light leakage (the brightness of the opening of the pin hole 31 on the side where the panel pin 2 engages), an engagement failure is detected.
[0024]
Hereinafter, the engagement state detection procedure will be described. The other panel pin chucking procedure and panel pin position measuring procedure are the same as those in the first embodiment, and thus description thereof will be omitted.
After a plurality of panel pins 2 are inserted into the pin holes 31 of each pin chuck member 3 at a time in the same manner as in the first embodiment, the state of the opening of each pin hole 31 on the side where the panel pin 2 engages is shown. An image is taken by the image sensor 6 from the opening on the opposite side, and the image data is subjected to image processing or the like to measure the brightness (brightness) near the opening of the pin hole 31 on the side where the panel pin 2 is engaged.
[0025]
As shown in FIG. 5 (b), when the panel pin 2 is hollowed out in the middle of the pin hole 31 and an engagement failure occurs, a gap is formed between the surface of the taper 21 of the panel pin 2 and the pin hole 31 (FIG. FIG. 5B shows a portion surrounded by an ellipse), and light enters the pin hole 31 from this gap, so that the pin hole 31 is bright (high brightness). As shown in FIG. When it is fitted, there is no gap between the taper 21 surface of the panel pin 2 and the pin hole 31 (portion enclosed by an ellipse in FIG. 5A), and light does not enter the pin hole 31 and is dark (low brightness). .
Therefore, the determination of the engagement defect is made by comparing the brightness measured in advance when the pin hole 31 and the pin chuck are fitted exactly, and when the brightness is higher than a predetermined value (this value is arbitrarily set), the engagement is determined. It is determined that there is a defect (the pin hole 31 and the panel pin 2 are gouged).
[0026]
As described above, according to the present embodiment, as the engagement state detection unit, the imaging element 6 that captures the state of the opening of the pin hole 31 on the side where the panel pin 2 engages from the opening on the opposite side is provided. Therefore, by detecting light leaking into the pin hole 31 from the gap between the pin hole 31 and the panel pin 2 (brightness near the opening on the side where the panel pin engages with the pin hole), an engagement failure is detected. be able to.
[0027]
A similar effect can be obtained by detecting light leakage from the gap between the pin hole 31 and the panel pin 2 using a photometer other than the photographing means.
[0028]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, there is provided a mechanism for chucking a panel pin provided on an inner surface of an annular portion of a panel, wherein the pin hole engages with the panel pin and the pin hole engages with the panel pin. Since a panel pin chuck member having a guide for guiding and an engagement state detecting means for detecting an engagement failure between the panel pin and the pin hole are provided, the engagement failure between the panel pin and the pin hole is detected. Thus, it is possible to prevent the subsequent operation from being continued in a state where there is an engagement failure.
[0029]
Further, the panel pins are provided at a plurality of positions on the inner surface of the annular portion of the panel, and a plurality of panel pin chuck members and engagement state detecting means are provided corresponding to the respective panel pins. In the case where there is an engagement failure, it can be detected, and it is possible to prevent subsequent work from continuing in a state where there is an engagement failure.
[0030]
Also, since each panel pin chuck member is provided with a vibration means for vibrating the panel pin chuck member, the panel pin chuck detects the engagement failure when the engagement state detection means detects the engagement failure. By vibrating only the member by the vibrating means, it is possible to eliminate the engagement defect without re-doing the operation of inserting the plurality of panel pins into the pin holes of the respective pin chucks.
[0031]
Further, the pin hole is a through hole, and the engagement state detecting means measures a vacuum suction device for sucking the pin hole from an opening opposite to a side where the panel pin is engaged, and a degree of vacuum of the pin hole. With this configuration, it is possible to detect an engagement failure based on the degree of vacuum of the pin hole.
[0032]
Further, the pin hole is a through hole, and the engagement state detecting means includes photographing means for photographing the state of the opening of the pin hole on the side where the panel pin engages from the opening on the opposite side. By observing the leakage of light from the gap between the pin and the panel pin to the pin hole (the brightness near the opening of the pin hole on the side where the panel pin is engaged), it is possible to detect an engagement failure.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a view for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a view for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a view for explaining a panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to a second embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 panel, 11 annular part of panel 1, 2 panel pin, 21 taper, 3 panel pin chuck member, 31 pin hole, 32 guide, 4 panel receiving stand, 5
Vibration element, 6 imaging element.

Claims (5)

パネルの環状部内面に設けられたパネルピンをチャックする機構であって、上記パネルピンが係合するピン穴と、上記ピン穴が上記パネルピンに係合するよう案内するガイドとを有するパネルピンチャック部材、および上記パネルピンと上記ピン穴との係合不具合を検出するための係合状態検知手段を備えたことを特徴とするカラー陰極線管用パネルピンチャック機構。A mechanism for chucking a panel pin provided on an inner surface of an annular portion of a panel, the panel pin chuck member having a pin hole engaged with the panel pin, and a guide for guiding the pin hole to be engaged with the panel pin, A panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube, comprising: an engagement state detecting means for detecting an engagement failure between the panel pin and the pin hole. パネルピンはパネルの環状部内面の複数箇所に設けられており、パネルピンチャック部材および係合状態検知手段を、上記各パネルピンに対応して複数個備えたことを特徴とする請求項１記載のカラー陰極線管用パネルピンチャック機構。2. The collar according to claim 1, wherein a plurality of panel pins are provided at a plurality of positions on the inner surface of the annular portion of the panel, and a plurality of panel pin chuck members and engagement state detecting means are provided corresponding to the respective panel pins. Panel pin chuck mechanism for cathode ray tube. パネルピンチャック部材を振動させる振動手段を、各パネルピンチャック部材にそれぞれ備えたことを特徴とする請求項２記載のカラー陰極線管用パネルピンチャック機構。3. The panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to claim 2, wherein a vibration means for vibrating the panel pin chuck member is provided for each panel pin chuck member. ピン穴は貫通穴であり、係合状態検知手段は、上記ピン穴をパネルピンが係合する側と反対側の開口部から吸引する真空吸引装置と、上記ピン穴の真空度を測定する手段とを備えることを特徴とする請求項１または２記載のカラー陰極線管用パネルピンチャック機構。The pin hole is a through hole, the engagement state detecting means includes a vacuum suction device that suctions the pin hole from an opening opposite to a side where the panel pin is engaged, and a unit that measures a degree of vacuum of the pin hole. 3. The panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to claim 1, further comprising: ピン穴は貫通穴であり、係合状態検出手段は、上記ピン穴のパネルピンが係合する側の開口部の様子をその反対側の開口部から撮影する撮影手段を備えることを特徴とする請求項１または２記載のカラー陰極線管用パネルピンチャック機構。The pin hole is a through hole, and the engagement state detecting means includes photographing means for photographing the state of the opening of the pin hole on the side where the panel pin engages from the opening on the opposite side. Item 3. A panel pin chuck mechanism for a color cathode ray tube according to Item 1 or 2.
JP2002207993A 2002-07-17 2002-07-17 Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube Pending JP2004055189A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002207993A JP2004055189A (en) 2002-07-17 2002-07-17 Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002207993A JP2004055189A (en) 2002-07-17 2002-07-17 Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004055189A true JP2004055189A (en) 2004-02-19

Family

ID=31932259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002207993A Pending JP2004055189A (en) 2002-07-17 2002-07-17 Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004055189A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4851361B2 (en) Electronic circuit component mounting device
JP2005191387A (en) Method and device for testing image pickup element
JP4234661B2 (en) Ball inspection method in wire bonding
JP2004055189A (en) Panel pin chuck mechanism for color cathode-ray tube
KR101660452B1 (en) Test apparatus for tip of spot wellding gun
JP2007283368A (en) Device for determining grinding quality of cap tip
JP3042190B2 (en) Device and method for detecting displacement of electronic component suction nozzle
JP2012084287A (en) Sem type appearance inspection device
KR100383258B1 (en) measurement error detecting method of measurement apparatus using scanning electron microscope
KR950004592B1 (en) Method of inspecting jointed portion
KR100517324B1 (en) Method for inspecting dot badness in a flat panel display module
KR200201713Y1 (en) Anode testing apparatus for crt funnel and testing method of the same
US6036564A (en) Method and device for inspecting an electron gun
TWI400502B (en) Calibration device and method for assembling lenses
JP7130779B2 (en) Backup pin status confirmation system for mounters
JPH08163312A (en) Support structure for member to be adjusted
JP3221160B2 (en) Electron gun inspection equipment
JP2000228147A (en) Inspecting method for cathode ray tube
KR200151020Y1 (en) A setting device of inserting position of electron gun for a crt
JPS5812972B2 (en) TV Brown Kanno Fannel Network
KR20220074742A (en) Test apparatus, change kit, and method of exchanging change kit
KR0137589B1 (en) Measurement apparatus for the distance and the flatness between the panel and the frame of braun tube and the method thereof
JP2003016940A (en) Method of manufacturing color cathode-ray tube, inspection device therefor, and color cathode-ray tube
JPH10142158A (en) Method and apparatus for inspection of defect in axis-symmetric pattern
JPH09266238A (en) Defect inspection apparatus for electronic circuit

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Effective date: 20040712

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050202

A02 Decision of refusal

Effective date: 20050607

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02