JP2004050318A

JP2004050318A - Wire saw

Info

Publication number: JP2004050318A
Application number: JP2002208503A
Authority: JP
Inventors: Naoki Toge; 峠　直樹; Daisuke Hadate; 羽立　大祐
Original assignee: Noritake Co Ltd; Noritake Super Abrasive Co Ltd
Current assignee: Noritake Co Ltd; Noritake Super Abrasive Co Ltd
Priority date: 2002-07-17
Filing date: 2002-07-17
Publication date: 2004-02-19
Anticipated expiration: 2022-07-17
Also published as: JP3725098B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the cutting performance after holding a favorable machining quality and to suppress the degradation of the cutting performance and falling of abrasive grains by the use in a wire saw suited to the cutting of a silicon wafer. <P>SOLUTION: This wire saw is formed by fixing an abrasive grain layer 3 to a core wire 1 via an adhesive resin layer 2. The core wire 1 is a piano wire of 0.15mm in wire diameter. The abrasive grain layer 3 is formed by fixing composite abrasive grains 4 by a resin bond layer 3a. The composite abrasive grains 4 are formed by bonding 10-100 diamond abrasive grains D by vitrified bond V and the bond layer includes pores H. The pores H are formed by mixing water as a pore forming agent in the vitrifies bond V and vaporizing the water in a post process of sintering. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、切れ味を向上させ、使用に伴う切れ味の低下と砥粒の脱落を抑制したワイヤソーに関する。
【０００２】
【従来の技術】
各種半導体デバイスの製造分野における大口径シリコンインゴットからのシリコンウエハの切り出しに、レジンボンドワイヤソーが用いられている。このレジンボンドワイヤソーとしては、たとえば特開平１０−１３８１１４号公報に記載されたものがある。この公報に記載のレジンボンドワイヤソーは、高抗張力金属を芯線として用い、ポリアミドイミド樹脂を結合剤とした砥粒層を芯線の外周面に形成させたものである。
【０００３】
この種のワイヤソーについては、切れ味や寿命の向上を目的とした各種の改良が提案されており、たとえば特許第３０７８０２０号公報には、高強度の芯線の外周面上に、粒子径がレジンボンド層厚の２／３以上で上記芯線径の１／２以下の砥粒が、樹脂中にフィラーを含有するレジンボンド中に固着されているワイヤソーが記載されている。このワイヤソーにおいては、砥粒の粒子径がレジンボンド層厚の２／３以上であることから、砥粒がレジンボンド層の表面から隆起突出しているので、その突出端が切断加工開始より切れ刃となり、チップポケットの作用も伴うので、高い切断能力が得られる、とされている。
【０００４】
また、特開２０００−２６３４５２号公報には、シリコンウエハの切り出し用ではないが、切断面幅の小さいＶＴＲなどのフェライトヘッドやセラミックス、シリコンなどの電子部品などの切断加工や、水晶音叉の溝入れ加工などに適するワイヤソーとして、芯線の表面にレジンボンドをバインダーとして多数の超砥粒を固着し、一部の砥粒を部分的にボンドの表面から突出させ、残りの砥粒をボンド中に分散埋設させた多層構造としたワイヤソーが記載されている。このワイヤソーは多層構造にすることで、切断速度は劣るものの、ボンド層の摩粍に伴いボンド層中の砥粒が表面に露出して有効に働く砥粒数が常に略一定となるので、切断後の面状が一貫して変わることなくかつ良好であるため、後工程での仕上げ加工を不要とするか、もしくは大幅に能率アップする、とされている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特許第３０７８０２０号公報記載のワイヤソーは、加工初期においては切れ味は良好であっても、加工に伴う砥粒の脱落および摩耗により突出量が減少してチップポケットの効果が減少するため、切れ味が低下するといった点に問題を残している。とくに加工点においては、ワイヤソーの撓みにより１個の砥粒が被加工材に食い込み、量は少ないにもかかわらず大きな径の砥粒が用いられているために、加工に寄与する砥粒の先端は鈍角になり切れ味が悪く、また、チッピングなどによる加工品位の低下も誘発する。また、砥粒にかかる負荷も大きいため、砥粒の脱落や摩耗を引き起こし、ワイヤ寿命の低下も招く、という問題がある。この特性は、マルチ切断の際の加工安定性に大きく関わるため、その改善が必要とされている。
【０００６】
使用に伴う切れ味の低下は、たとえば、ワークとして２０ｍｍ幅のシリコンブロックを用い、（１）加工開始から５分間の切り溝長さ（初期切れ味）、（２）加工開始１８０分後の５分間の切り溝長さ（中期切れ味）、（３）加工開始３６０分後の５分間の切り溝長さ（終期切れ味）を実測し、初期切れ味を指数で１００としたときの中期切れ味および終期切れ味を指数により示す。従来のレジンボンドダイヤモンドワイヤソーの場合、加工中期および加工終期における切れ味は、加工初期の切れ味の５０％〜４０％程度と低く、改善の余地が大であった。
【０００７】
また上記特開２０００−２６３４５２号公報に記載のワイヤソーは、加工品位を重視し細粒砥粒を使用しているため、砥粒突出量が少なくチップポケットの効果が少なくなり、切れ味が低下するという問題がある。
【０００８】
本発明が解決すべき課題は、シリコンウエハの切り出し用にも適したワイヤソーにおいて、良好な加工品位を維持したうえで、切れ味を向上させ、使用に伴う切れ味の低下と砥粒の脱落を抑制することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、芯線の外周面にレジンボンドを結合剤として砥粒を固着させた砥粒層を有するワイヤソーにおいて、前記砥粒として複数個の砥粒をビトリファイドボンドにより結合して集合化した複合砥粒を用いたことを特徴とする。
【００１０】
ワイヤソーの砥粒として複合砥粒を用いたことにより、被加工材に食い込む砥粒の切れ刃が鋭角となり切れ味の向上が可能となる。また、複合砥粒として使用する個々の砥粒に、従来用いられているワイヤソーの砥粒より細かい砥粒を用いることで、加工品位の向上が可能となる。
本発明に使用する砥粒はその種類を問わないが、ダイヤモンド砥粒やｃＢＮ砥粒などの超砥粒が最適である。また、複数個の砥粒をビトリファイドボンドにより結合したことにより、砥粒が適度に脱落して新たな砥粒が切れ刃として表面に現れるため、切れ味の低下を防止する。
【００１１】
ここで、前記複合砥粒中に気孔を形成することが望ましい。複合砥粒中に気孔を形成することにより、レジンボンドがこの気孔に入り込んでアンカー効果が生じ、レジンボンドによる複合砥粒の固着力が増大する。複合砥粒中に気孔を形成するには、一定の大きさの有気孔砥粒成形体を粉砕する方法が採用可能である。また粉砕前の砥粒成形体中に気孔を形成するには、気孔形成剤を用いる手法や一般砥石の製法を用いることができる。気孔形成剤としては、水、エタノールなど成形中に気体として蒸発するものを使用することができる。
【００１２】
複合砥粒として使用する個々の砥粒の粒径は、レジンボンド層の層厚の１／３〜１／１５の範囲とするのが好ましい。砥粒の粒径がこの良好な範囲内にあるときには、ビトリファイドボンドと砥粒との接着面積が大きくなり、砥粒保持力が高い。ワークは一度に２〜３個の砥粒にしか接触しないため、砥粒は段階的に脱落し、良好な切れ味を維持することができる。
これに対し、砥粒粒径がレジンボンド層厚の１／１５より小さいと、ビトリファイドボンドと砥粒との接着面積が小さくなり、砥粒保持力が下がる。ワークは一度に数個の砥粒に接触するため、砥粒にかかる負荷が大きく、脱落しやすくなる。また、砥粒粒径がレジンボンド層厚の１／３より大きいと、切れ刃が鈍角となり、切れ味低下を招く。
【００１３】
上記のワイヤソーは、前記の適正な粒径の砥粒をビトリファイドボンドにより結合し、粉砕・分級することにより調整した気孔入りの複合砥粒を用い、芯線表面の金属酸化膜を除去した後、芯線外周面に感光性樹脂にて前記複合砥粒を固着した砥粒層を形成する製造方法により製造することができる。
【００１４】
複合砥粒の製造方法は、ビトリファイドボンドと砥粒を混合し室温中でコールドプレスした後、無加圧で焼成又は、気孔形成剤を含んだビトリファイドボンドと砥粒を焼成することにより得られる有気孔砥粒成形体を粉砕・分級することで製造することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の実施形態におけるワイヤソーの一部を模式的に示す断面図である。ワイヤソーは、芯線１に接着用樹脂層２を介して砥粒層３を固着させたもので、芯線１は、線径０．１５ｍｍのピアノ線である。砥粒層３は、レジンボンド層３ａにより複合砥粒４を固着させたものである。接着用樹脂層２は、ウレタンアクリレートとフェノールアクリレートとノニルフェノールアクリレートと２−ヒドロキシエチル−３−フェノキシプロピルアクリレートの混合樹脂であり、レジンボンド層３ａはペンタエリスリトールトリアクリレートとビスフェノールジアクリレートとトリメチロールプロパントリアクリレートとペンタエリスリトールテトラアクリレートの混合樹脂である。
【００１６】
複合砥粒４は、１０〜１００個のダイヤモンド砥粒ＤをビトリファイドボンドＶで結合したものであり、ボンド層中には気孔Ｈを含んでいる。複合砥粒４の大きさは４０〜６０μｍで、従来の砥粒を単層に配設したワイヤソーの砥粒の大きさと同程度の大きさである。ダイヤモンド砥粒Ｄの大きさは、粒径３〜１０μｍで、レジンボンド層３ａの層厚の約１／３〜１／１５である。気孔Ｈは、ビトリファイドボンドＶ中に気孔形成剤として水を混合し、後工程である焼結の際に水を蒸発させて気孔を生成させたものである。
【００１７】
図２は本発明に係るワイヤソーの製造方法の説明図である。製造方法の主要工程は以下の通りである。ダイヤモンド砥粒と気孔形成剤とビトリファイドボンドの混合体を仮成形し、ストップモールド焼結した後、粉砕・分級し、気孔入りの複合砥粒を製造する。
【００１８】
金属酸化膜を除去したピアノ線からなる芯線１０を、図示しないリールから捲き戻して一定の速度で送り出し、液状の接着用樹脂２０を貯留する貯留槽２１内を通過させて、芯線１０の表面に液状樹脂を被覆する。貯留槽２１を通過した被覆ワイヤ１１の被覆厚さをダイス２２により均一化し、その後、紫外線照射装置２３により被覆層の液状樹脂を硬化させる。
【００１９】
続いて、被覆ワイヤ１１を複合砥粒と補強用フィラーと液状のレジンボンドの混合物３０を貯留する貯留槽３１内を通過させて、被覆ワイヤ１１の接着用樹脂層表面に混合物３０を被覆する。貯留槽３１を通過した被覆ワイヤ１２の被覆厚さをダイス３２により均一化し、その後、紫外線照射装置３３により被覆層の液状樹脂を硬化させ複合砥粒を固定してワイヤソー素線１３とし、このワイヤソー素線１３をボビン（図示せず）に巻き取り、ワイヤソー製品とする。
【００２０】
〔試験例〕
本発明の効果を確認するために、上記実施形態のワイヤソー（発明品）と、発明品と同じ構造で、複合砥粒とほぼ同じ大きさの単体のダイヤモンド砥粒を用いたワイヤソー（比較品）を製造し、以下の試験条件で切断試験を行った。
【００２１】
試験条件
切断装置：単線切断装置
ワイヤ速度：平均４００ｍ／ｍｉｎ
ワイヤテンション：１９．５Ｎ
被切断材：シリコンブロック　２０ｍｍ幅
【００２２】
表１に試験結果を示す。
【表１】

注）切れ味は加工開始後５分間の切り溝長さを指標（従来品の指標を１００）とし、切れ味低下率は加工開始後５分間と加工開始２４０分後５分間の切れ味の比率を指標とした。加工面粗さは試験後のワークを５ヶ所測定したデータの平均値を示す。
【００２３】
表１からわかるように、複合砥粒を用いた発明品は比較品に比して切れ味は１０％、切れ味低下率は５０％向上し、加工面粗さは約５倍向上している。
【００２４】
【発明の効果】
（１）ワイヤソーの砥粒として複合砥粒を用いたことにより、被加工材に食い込む砥粒の切れ刃が鋭角となり、切れ味が向上する。また、複合砥粒として使用する個々の砥粒が従来のワイヤソーの砥粒に比して小さいので、加工品位が向上する。複数個の砥粒をビトリファイドボンドにより結合することにより、砥粒が適度に脱落して新たな砥粒が切れ刃として表面に現れるため、切れ味の低下を防止する。
【００２５】
（２）複合砥粒中に気孔を形成することにより、レジンボンドがこの気孔に入り込んでアンカー効果が生じ、レジンボンドによる複合砥粒の固着力が増大して、使用時の複合砥粒の脱落が抑制される。
【００２６】
（３）複合砥粒に使用する個々の砥粒の粒径を適正な範囲に設定することにより、加工品位の向上と切れ味低下の抑制が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態におけるワイヤソーの一部を模式的に示す断面図である。
【図２】本発明に係るワイヤソーの製造方法の説明図である。
【符号の説明】
１　芯線
２　接着用樹脂層
３　砥粒層
３ａ　レジンボンド層
４　複合砥粒
Ｄ　ダイヤモンド砥粒
Ｖ　ビトリファイドボンド
Ｈ　気孔
１０　芯線
１１　被覆ワイヤ
１２　被覆ワイヤ
１３　ワイヤソー素線
２０　接着用樹脂
２１　貯留槽
２２　ダイス
２３　紫外線照射装置
３０　砥粒と樹脂の混合物
３１　貯留槽
３２　ダイス
３３　紫外線照射装置[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a wire saw that improves sharpness and suppresses a decrease in sharpness and use of abrasive grains during use.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art A resin bond wire saw is used for cutting a silicon wafer from a large-diameter silicon ingot in the field of manufacturing various semiconductor devices. As this resin bond wire saw, for example, there is a resin bond wire saw described in JP-A-10-138114. The resin bond wire saw described in this publication uses a high tensile strength metal as a core wire and forms an abrasive layer using a polyamideimide resin as a binder on the outer peripheral surface of the core wire.
[0003]
For this type of wire saw, various improvements have been proposed for the purpose of improving sharpness and life. For example, Japanese Patent No. 3078020 discloses a resin bond layer having a particle diameter on the outer peripheral surface of a high-strength core wire. It describes a wire saw in which abrasive grains having a thickness of 2/3 or more and 1/2 or less of the core wire diameter are fixed in a resin bond containing a filler in a resin. In this wire saw, since the particle diameter of the abrasive grains is 2/3 or more of the thickness of the resin bond layer, the abrasive grains protrude from the surface of the resin bond layer. It is said that a high cutting ability can be obtained because of the action of the chip pocket.
[0004]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-263452 discloses a method for cutting a ferrite head such as a VTR having a small cut surface width, an electronic component such as ceramics and silicon, and a groove for a quartz tuning fork. As a wire saw suitable for processing, etc., a large number of superabrasives are fixed to the surface of the core wire using a resin bond as a binder, some abrasives are partially projected from the surface of the bond, and the remaining abrasives are dispersed in the bond A wire saw with a buried multilayer structure is described. Although this wire saw has a multilayer structure, the cutting speed is inferior, but the abrasive grains in the bond layer are exposed to the surface with the abrasion of the bond layer and the number of effective working grains is always substantially constant. It is said that since the subsequent surface state does not change consistently and is good, the finishing process in the subsequent process is not required or the efficiency is greatly improved.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, the wire saw described in the above-mentioned Japanese Patent No. 3078020 has a good sharpness in the initial stage of processing, but the amount of protrusion decreases due to the removal and wear of abrasive grains accompanying the processing, and the effect of the tip pocket is reduced. There remains a problem in that the sharpness is reduced. In particular, at the processing point, one abrasive grain bites into the workpiece due to the bending of the wire saw, and the abrasive grains having a large diameter are used despite the small amount, so the tip of the abrasive grains contributing to the processing Becomes obtuse and becomes poorly sharp, and also causes a decrease in the processing quality due to chipping or the like. Further, since the load applied to the abrasive grains is large, there is a problem that the abrasive grains fall off or wear, and the life of the wire is shortened. Since this property greatly affects the processing stability at the time of multi-cutting, its improvement is required.
[0006]
For example, the use of a silicon block having a width of 20 mm can be used to reduce the sharpness due to use. (1) Cut groove length for 5 minutes from the start of processing (initial sharpness); The kerf length (medium sharpness), (3) The kerf length (final sharpness) for 5 minutes after 360 minutes from the start of processing is measured, and the middle sharpness and the final sharpness are indexed when the initial sharpness is set to 100 as an index. Indicated by In the case of the conventional resin-bonded diamond wire saw, the sharpness in the middle stage and the final stage of processing is as low as about 50% to 40% of the initial sharpness, and there is much room for improvement.
[0007]
In addition, the wire saw described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-263452 uses fine-grained abrasive grains with emphasis on the processing quality, so that the amount of abrasive grains projected is small, the effect of the tip pocket is reduced, and the sharpness is reduced. There's a problem.
[0008]
The problem to be solved by the present invention is to improve the sharpness of a wire saw that is also suitable for cutting out silicon wafers while maintaining good processing quality, and to suppress the decrease in sharpness and the dropout of abrasive grains due to use. It is in.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The present invention relates to a wire saw having an abrasive layer in which abrasive grains are fixed to an outer peripheral surface of a core wire using a resin bond as a binder, and wherein a plurality of abrasive grains as the abrasive grains are aggregated by vitrified bond. It is characterized by using grains.
[0010]
By using the composite abrasive grains as the abrasive grains of the wire saw, the cutting edge of the abrasive grains that bite into the workpiece becomes an acute angle, and the sharpness can be improved. In addition, by using finer abrasive grains than those of a conventionally used wire saw as individual abrasive grains used as composite abrasive grains, it is possible to improve the processing quality.
The type of abrasive used in the present invention is not limited, but superabrasives such as diamond abrasives and cBN abrasives are optimal. In addition, since a plurality of abrasive grains are bonded by vitrified bond, the abrasive grains fall off appropriately and new abrasive grains appear on the surface as cutting edges, thereby preventing a decrease in sharpness.
[0011]
Here, it is desirable to form pores in the composite abrasive grains. By forming the pores in the composite abrasive grains, the resin bond enters the pores to generate an anchor effect, and the bonding strength of the composite abrasive grains by the resin bond increases. In order to form pores in the composite abrasive grains, a method of pulverizing a porous abrasive grain molded body having a fixed size can be adopted. Further, in order to form pores in the abrasive grain compact before pulverization, a method using a pore forming agent or a method for producing a general whetstone can be used. As the pore-forming agent, those which evaporate as a gas during molding, such as water and ethanol, can be used.
[0012]
The particle size of each abrasive used as the composite abrasive is preferably in the range of 1/3 to 1/15 of the thickness of the resin bond layer. When the grain size of the abrasive grains is within this favorable range, the bonding area between the vitrified bond and the abrasive grains increases, and the abrasive grain holding power is high. Since the work comes into contact with only a few abrasive grains at a time, the abrasive grains fall off step by step, and good sharpness can be maintained.
On the other hand, if the abrasive grain diameter is smaller than 1/15 of the resin bond layer thickness, the bonding area between the vitrified bond and the abrasive grains becomes small, and the abrasive grain holding power decreases. Since the workpiece comes in contact with several abrasive grains at a time, the load on the abrasive grains is large, and the workpiece is likely to fall off. On the other hand, if the abrasive grain size is larger than 1/3 of the resin bond layer thickness, the cutting edge becomes obtuse, resulting in a decrease in sharpness.
[0013]
The above wire saw uses abrasive grains of the appropriate particle size bonded by vitrified bonds, and uses composite abrasive grains with pores adjusted by grinding and classifying, removing the metal oxide film on the core wire surface, and then removing the core wire. It can be manufactured by a manufacturing method of forming an abrasive layer in which the composite abrasive is fixed on the outer peripheral surface with a photosensitive resin.
[0014]
A method for producing a composite abrasive is obtained by mixing a vitrified bond and an abrasive and cold-pressing the mixture at room temperature, followed by firing without pressure or by firing a vitrified bond containing a pore-forming agent and the abrasive. It can be manufactured by pulverizing and classifying the porous abrasive compact.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a part of a wire saw according to an embodiment of the present invention. The wire saw is obtained by fixing an abrasive grain layer 3 to a core wire 1 via an adhesive resin layer 2, and the core wire 1 is a piano wire having a wire diameter of 0.15 mm. The abrasive grain layer 3 is obtained by fixing the composite abrasive grains 4 with a resin bond layer 3a. The adhesive resin layer 2 is a mixed resin of urethane acrylate, phenol acrylate, nonylphenol acrylate, and 2-hydroxyethyl-3-phenoxypropyl acrylate, and the resin bond layer 3a is pentaerythritol triacrylate, bisphenol diacrylate, trimethylolpropane triacrylate. It is a mixed resin of acrylate and pentaerythritol tetraacrylate.
[0016]
The composite abrasive grains 4 are obtained by bonding 10 to 100 diamond abrasive grains D with vitrified bonds V, and include pores H in the bond layer. The size of the composite abrasive grains 4 is 40 to 60 μm, which is about the same as the size of the abrasive grains of a wire saw in which conventional abrasive grains are arranged in a single layer. The size of the diamond abrasive grains D is 3 to 10 μm in particle diameter, and is about 1/3 to 1/15 of the thickness of the resin bond layer 3a. The pores H are obtained by mixing water as a pore-forming agent in the vitrified bond V and evaporating the water during sintering in a later step to generate pores.
[0017]
FIG. 2 is an explanatory diagram of a method for manufacturing a wire saw according to the present invention. The main steps of the manufacturing method are as follows. A mixture of diamond abrasive grains, a pore-forming agent, and a vitrified bond is preliminarily formed, stop-molded and sintered, and then pulverized and classified to produce pore-containing composite abrasive grains.
[0018]
A core wire 10 made of a piano wire from which a metal oxide film has been removed is rewound from a reel (not shown), sent out at a constant speed, passed through a storage tank 21 for storing a liquid adhesive resin 20, and Coat the liquid resin. The coating thickness of the coating wire 11 that has passed through the storage tank 21 is made uniform by the die 22, and then the liquid resin of the coating layer is cured by the ultraviolet irradiation device 23.
[0019]
Subsequently, the coated wire 11 is passed through a storage tank 31 for storing a mixture 30 of the composite abrasive grains, the reinforcing filler, and the liquid resin bond, so that the surface of the bonding resin layer of the coated wire 11 is coated with the mixture 30. The coating thickness of the coating wire 12 that has passed through the storage tank 31 is made uniform by a die 32, and thereafter, the liquid resin of the coating layer is cured by an ultraviolet irradiation device 33 and the composite abrasive grains are fixed to form a wire saw element wire 13. The wire 13 is wound around a bobbin (not shown) to obtain a wire saw product.
[0020]
(Test example)
In order to confirm the effects of the present invention, a wire saw (invention) having the same structure as the invention and a single diamond abrasive having substantially the same size as the composite abrasive was used in order to confirm the effects of the present invention (comparative). Was manufactured and subjected to a cutting test under the following test conditions.
[0021]
Test conditions Cutting device: Single wire cutting device Wire speed: 400m / min on average
Wire tension: 19.5N
Material to be cut: Silicon block 20 mm wide [0022]
Table 1 shows the test results.
[Table 1]

Note) The sharpness is defined as the index of the kerf length for 5 minutes after the start of processing (index of the conventional product is 100), and the sharpness reduction rate is defined as the ratio of the sharpness between 5 minutes after the start of processing and 5 minutes after 240 minutes from the start of processing. did. The machined surface roughness indicates the average value of data obtained by measuring the work at five locations after the test.
[0023]
As can be seen from Table 1, the inventive product using the composite abrasive has improved sharpness by 10%, the sharpness reduction rate by 50%, and the processed surface roughness by about 5 times as compared with the comparative product.
[0024]
【The invention's effect】
(1) By using the composite abrasive grains as the abrasive grains of the wire saw, the cutting edge of the abrasive grains that bite into the workpiece becomes an acute angle, and the sharpness is improved. Further, since the individual abrasive grains used as the composite abrasive grains are smaller than those of the conventional wire saw, the processing quality is improved. By bonding a plurality of abrasive grains by vitrified bond, the abrasive grains fall off appropriately and new abrasive grains appear on the surface as cutting edges, thereby preventing a decrease in sharpness.
[0025]
(2) By forming pores in the composite abrasive grains, the resin bond penetrates into the pores to cause an anchor effect, and the bonding force of the composite abrasive grains by the resin bond increases, and the composite abrasive grains fall off during use. Is suppressed.
[0026]
(3) By setting the particle diameter of each abrasive grain used in the composite abrasive grains in an appropriate range, it is possible to improve the processing quality and suppress the decrease in sharpness.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating a part of a wire saw according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram of a method for manufacturing a wire saw according to the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Core wire 2 Adhesive resin layer 3 Abrasive grain layer 3a Resin bond layer 4 Composite abrasive grain D Diamond abrasive grain V Vitrified bond H Pores 10 Core wire 11 Coated wire 12 Coated wire 13 Wire saw strand 20 Adhesive resin 21 Storage tank 22 Dies 23 UV irradiation device 30 Mixture of abrasive grains and resin 31 Storage tank 32 Dice 33 UV irradiation device

Claims

In a wire saw having an abrasive layer in which abrasive grains are fixed to the outer peripheral surface of a core wire using a resin bond as a binder, a composite abrasive grain obtained by combining a plurality of superabrasive grains by vitrified bond as the abrasive grains is used. A wire saw characterized by the presence.

The wire saw according to claim 1, wherein pores are formed in the composite abrasive grains.

3. The wire saw according to claim 1, wherein the diameter of each superabrasive used as the composite abrasive is in the range of １／ to 1/15 of the thickness of the resin bond layer. 4.