JP2004047222A - フラットパネルディスプレイおよびその製造方法 - Google Patents
フラットパネルディスプレイおよびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004047222A JP2004047222A JP2002201422A JP2002201422A JP2004047222A JP 2004047222 A JP2004047222 A JP 2004047222A JP 2002201422 A JP2002201422 A JP 2002201422A JP 2002201422 A JP2002201422 A JP 2002201422A JP 2004047222 A JP2004047222 A JP 2004047222A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- panel
- wiring
- substrate
- flat panel
- common
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 55
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 25
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 25
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 17
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 13
- 239000003550 marker Substances 0.000 abstract description 5
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 29
- 239000000463 material Substances 0.000 description 28
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 20
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 12
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 12
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 12
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 10
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 10
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 6
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- BRSRUYVJULRMRQ-UHFFFAOYSA-N 1-phenylanthracene Chemical class C1=CC=CC=C1C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C12 BRSRUYVJULRMRQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 3
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 3
- 229960003540 oxyquinoline Drugs 0.000 description 3
- MCJGNVYPOGVAJF-UHFFFAOYSA-N quinolin-8-ol Chemical compound C1=CN=C2C(O)=CC=CC2=C1 MCJGNVYPOGVAJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- VPUGDVKSAQVFFS-UHFFFAOYSA-N coronene Chemical compound C1=C(C2=C34)C=CC3=CC=C(C=C3)C4=C4C3=CC=C(C=C3)C4=C2C3=C1 VPUGDVKSAQVFFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000003248 quinolines Chemical class 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- UWRZIZXBOLBCON-VOTSOKGWSA-N (e)-2-phenylethenamine Chemical class N\C=C\C1=CC=CC=C1 UWRZIZXBOLBCON-VOTSOKGWSA-N 0.000 description 1
- KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 1,4,4-triphenylbuta-1,3-dienylbenzene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(C=1C=CC=CC=1)=CC=C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XFYQEBBUVNLYBR-UHFFFAOYSA-N 12-phthaloperinone Chemical class C1=CC(N2C(=O)C=3C(=CC=CC=3)C2=N2)=C3C2=CC=CC3=C1 XFYQEBBUVNLYBR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 2-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017073 AlLi Inorganic materials 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical compound N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- 239000004840 adhesive resin Substances 0.000 description 1
- 229920006223 adhesive resin Polymers 0.000 description 1
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical class [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 and the like Substances 0.000 description 1
- 229940027991 antiseptic and disinfectant quinoline derivative Drugs 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000434 metal complex dye Substances 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- DCZNSJVFOQPSRV-UHFFFAOYSA-N n,n-diphenyl-4-[4-(n-phenylanilino)phenyl]aniline Chemical class C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 DCZNSJVFOQPSRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QZXNDEONRUSYFB-UHFFFAOYSA-N n-[4-(4-aminophenyl)phenyl]-3-methylaniline Chemical group CC1=CC=CC(NC=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 QZXNDEONRUSYFB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N orlistat Chemical compound CCCCCCCCCCC[C@H](OC(=O)[C@H](CC(C)C)NC=O)C[C@@H]1OC(=O)[C@H]1CCCCCC AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N 0.000 description 1
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 1
- CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N peryrene Natural products C1=CC(C2=CC=CC=3C2=C2C=CC=3)=C3C2=CC=CC3=C1 CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 239000012508 resin bead Substances 0.000 description 1
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 1
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005504 styryl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
【解決手段】複数のパネル2が同一基板上1に形成され、各パネル2のスキャン側配線2aとデータ側配線2bが前記同一基板1上で共通配線4を介して接続されて同電位化され、この共通配線4が、対応するパネル2の切断ライン3よりも外側であって、隣接して形成されているパネルの非表示領域であるかパネルが形成されていない基板の周縁部に形成されている構成のフラットパネルディスプレイとした。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、EL素子、特に有機EL素子などのフラットパネルディスプレイ(FPD)に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、有機ELディスプレイの製造工程内の様々な箇所において、配線パターンが帯電し、それによる電位差が生じて、静電破壊を引き起こし、歩留まりを低下させていた。これに対し、液晶ディスプレイパネルで一般に用いられてきた手法は、マトリクス型の各配線を共通配線で短絡することにより同電位化させ、静電破壊を無くそうとしてきた。
【0003】
例えば、特開平5−232511号公報には、短絡線を残した状態で切断し、駆動用ICを実装してから、短絡線を切り離す技術が開示されている。また、実開平5−4137号公報等には、走査電極同士、データ電極同士をトランジスタを介して接続可能とし、前記全てのトランジスタのゲートに電圧を供給可能なラインを設け、ショートリング、ガードリングによる静電破壊対策としたLCDが開示されている。
【0004】
ところが、従来の手法では、共通配線を配置する為のスペースをパネルとパネルの間に設けなければならず、同一基板サイズに対する基板の利用効率が低下し、効率的に複数のパネルを配置する事が困難であった。また、工程で用いる各種マーカーとの干渉を避ける為に、更に無駄なスペースを消費してしまうという欠点があった。
【0005】
図5,6は、従来のフラットパネルディスプレイの構成例を示す平面図で、図6は図5の一部平面図に相当する。この例では、同一基板である共通基板1上には、スキャン側配線2aと、データ側配線2bとからなるグリッド上に形成される各パネル2が複数形成されている。
【0006】
これらの図から明らかなように、スキャン側配線2aと、データ側配線2bとを接続するための共通配線を設けようとすると、スキャン側配線2aとデータ側配線2bの形成領域を拡張するか、パネルとパネルとの間の領域を新たに形成しなければならず、表示に直接寄与しない無駄な空間が増加してしまうことがわかる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、さらなるスペースを必要とすることなく、基板の利用効率を低下させずに静電破壊から素子を保護することのできるフラットパネルディスプレイを提供することである。
【0008】
また、基板周縁部に形成されるマーカーとの干渉が避けられるか、極めて少ないフラットパネルディスプレイを提供することである。
【0009】
さらに、各成膜工程において、確実に接地電位に固定することができ、より強力に静電破壊から保護することのできるフラットパネルディスプレイを提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
すなわち上記目的は、以下の本発明の構成により達成される。
(1) 複数のパネルが同一基板上に形成され、
各パネルのスキャン側配線とデータ側配線が前記同一基板上で共通配線を介して接続されて同電位化され、
この共通配線が、対応するパネルの切断ラインよりも外側であって、隣接して形成されているパネルの非表示領域であるかパネルが形成されていない基板の周縁部に形成されているフラットパネルディスプレイ。
(2) 前記共通配線は、透明導電膜で形成されている上記(1)のフラットパネルディスプレイ。
(3) 有機成膜時及び陰極成膜時のメタルマスクを固定するマグネットを装着するエリアに、前記共通配線と接続され同電位となるパッドが形成されている上記(1)または(2)のフラットパネルディスプレイ。
(4) 複数のパネルが同一基板上に形成されているフラットパネルディスプレイの製造方法であって、
各パネルのスキャン側配線とデータ側配線が前記同一基板上で共通配線を介して接続されて同電位化され、
この共通配線が対応するパネルの切断ラインよりも外側に位置し、
さらに有機成膜時及び陰極成膜時のメタルマスクを固定するマグネットを装着するエリアに前記共通配線と同電位となるパッド設け、
前記メタルマスクを基板に装着して接地して成膜するフラットパネルディスプレイの製造方法。
(5) 前記共通配線を、透明導電膜で形成する上記(4)のフラットパネルディスプレイの製造方法。
【0011】
上記(1)の構成によれば、新たなスペースを要求しないので、基板の利用効率が変わらない。
【0012】
上記(2)の構成によれば、共通電極が透明なためにマーカーとの干渉が生じない。
【0013】
上記(3)の構成によれば、メタルマスクとの電気的な接続が可能となり、各種構成層の成膜時に、スキャン側配線、データ側配線、共通配線等、全ての配線が接地され、静電破壊が発生しにくくなる。
【0014】
【発明の実施の形態】
本発明のフラットパネルディスプレイは、複数のパネルが同一基板上に形成され、各パネルのスキャン側配線とデータ側配線が前記同一基板上で共通配線を介して接続されて同電位化され、この共通配線が少なくとも対応するパネルの切断ラインよりも外側であって、隣接して形成されているパネルの非表示領域であるか基板のパネルが形成されていない周縁部に形成されているものである。
【0015】
このように、共通配線が対応するスキャン側配線とデータ側配線が形成されているパネルのスクライブ(切断)ラインよりも外側に位置しているフラットパネルディスプレイであって、前記共通配線は、隣接配置されたパネルの(封止領域等の)非表示領域に配置することにより、基板利用効率を損なうことなく、静電破壊に対する対策を可能にすることができる。また、その共通配線に透明導電膜を用いて形成することにより、パネル近傍に設けられたマーカー類との干渉も避けられる。
【0016】
また、共通配線を有機成膜時に使用するメタルマスクを装着する際のマグネットの位置にもパッドとして設け、そのメタルマスクを接地することで、有機成膜時に全ての配線が接地されたことになり、静電破壊が起き難い構造となった。
【0017】
次ぎに、図を参照しつつ本発明のフラットパネルディスプレイについてより具体的に説明する。
【0018】
図1,2は、本発明のフラットパネルディスプレイの第1の態様を示す平面図で、図2は図1の一部平面図に相当する。図において、同一基板である共通基板1上には、スキャン側配線2aと、データ側配線2bとからなるグリッド上に形成される各パネル2が複数形成されている。なお、各パネル2は、例えば有機EL素子、無機EL素子、液晶素子等、平面状、好ましくは薄膜で形成された構成層を有する表示素子により構成されるが、その詳細な構造については省略する。
【0019】
前記パネル2のスキャン側配線2aと、データ側配線2bとは、共通配線4により接続され、同電位化される。共通配線4は、同一パネル2のスキャン側配線2aと、データ側配線2bとを接続するだけではなく、同一基板1上の他のパネル2のスキャン側配線2a、データ側配線2bをも接続し、同電位化する。また、共通配線4は、各パネル2の切断(スクライブ)ライン3よりも外側の領域に形成される。すなわち、共通配線4は、パネル2のスキャン側配線2aと、データ側配線2bとを、そのパネル2の切断ライン3より外側の領域で接続する。
【0020】
前記外側の領域は、複数のパネルが形成されている共通基板1上においては、好ましくは隣接する他のパネルの余剰領域や、共通基板1の周縁部となる。このように、共通配線4をパネル2の切断ライン3より外側の領域に形成、配置することにより、パネル2が元来有する余剰領域や、共通基板1のパネル2が形成されていない周縁部を有効に活用することができ、新たに共通配線4を形成するための領域を設ける必要がないので、基板の利用効率を変えることが無く、空間効率、材料の利用効率に優れたフラットパネルディスプレイを得ることができる。
【0021】
つまり、前記余剰領域は、パネル2の非表示領域であり、通常、封止のための接着剤塗布領域であったり、搬送や緩衝のために設けられた領域であったりして、工程上必要なマージンであり、本来は素子として必要な構造部材等を有さない領域である。また、周縁部も各種マーカなどが形成、配置されている点を除けば、パネル製造過程では必要とされるが、その後切断されて捨てられている領域である。従って、これらの領域に共通配線を形成することで、新たに有効活用されない領域を作ることなく共通配線を配置することができる。
【0022】
共通配線4は、スキャン側配線2a、データ側配線2bのうち、いずれか一方のみを共通に接続して同電位とするものであってもよいが、好ましくはスキャン側配線2aと、データ側配線2bの双方を接続して同電位とするものがよい。
【0023】
共通配線4の材料としては、Au,Ag,Cu,Ni,Al等の配線材として高い導電性を有する金属材料を用いることが望ましいが、共通配線の目的が数kV以上に達する高電圧を通電させて静電破壊を防止することにあるので、高電圧に対してある程度の導電性を示す材料を用いることもできる。このため、前記金属の合金や不純物が混入した材料を用いてもよい。また、切断ラインを跨いで形成される部分では、酸化物等の硬い材料の使用は避けるべきであり、金属を用いることが好ましい。
【0024】
これらのなかでもスキャン側配線2a、データ側配線2b等の配線電極と同様な材料を用いることが好ましい。具体的には、AlまたはAlを主成分とする合金を用いることが好ましい。Al合金としては、AlとSiまたはSc,Nb,Zr,Hf,Nd,Ta,Cu,Si,Cr,Mo,Mn,Ni,Pd,PtおよびW等の中の1種類以上の遷移元素との合金が挙げられる。その際、Alは90at%以上、特に95at%以上であることが好ましい。
【0025】
ところで、共通基板1の周縁部には、成膜工程におけるフォトマスク等のアライメントマーカーや、切断を行う際のマーカー等、種々のマーカーが形成、配置されている。このため、これらのマーカーとの干渉を避けるためには、透明電極を用いるとよい。透明電極を用いることで、各種マーカなどとの干渉を避けることができ、不要な配線の引き回しや、配線のための新たな領域を設けることを防止することができる。
【0026】
透明電極としては、透明導電膜材料であるITO(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ZnO、SnO2、In2O3等が挙げられるが、好ましくはITO(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、特にITOが好ましい。これらのなかでも、パネルの電極材料と共通の材料を用いることが好ましい。パネルの電極材料と共通の材料を用いることにより、製造工程を共通化したり、材料を共用することによるコスト削減効果が得られる。
【0027】
共通電極の膜厚は、特に制限されるものではなく、電極の幅などによっても異なるが、通常、好ましくは10〜2000nm、特に20〜1000nm、さらには100〜500nm程度である。また、共通電極の幅も特に制限されるものではないが、太すぎるとスペースの利用効率が低下したり、形成可能な領域に制限が生じたりする。一方、細すぎると断線などの問題が生じてくる。このため、好ましくは20μm 〜0.5mm、より好ましくは50μm 〜0.2mmである。
【0028】
共通電極は、パネル、例えば有機EL表示装置、または配線構造等の製造プロセスと同様なプロセスにより製造することができる。すなわち、スパッタ法、蒸着法、CVD法等を用いて容易に形成することができる。その際、例えば、蒸着やスパッタの際にマスクを設けて配線構造を形成してもよいし、成膜された配線構造の層をエッチングしてもよい。
【0029】
さらに、共通電極4は、図1に示すように、共通基板1の周縁部に形成されたパッド5と接続され、電気的に導通するようになっていると良い。パッド5は、例えば、有機成膜時及び陰極成膜時のメタルマスクを固定するマグネットを装着するエリアに設けられる。そして、メタルマスクを接地することで、パッドを介して共通電極が接地され、全て同電位のアース電位となる。
【0030】
電極パッドは、共通電極と異なった材料、特に上記共通電極材料で列挙した材料のなかから選択される材料により形成されていてもよいが、好ましくは共通電極4と同一の材料により形成されているとよい。同一の材料により形成することにより、共通電極4とパッド5を同一工程、同一マスク、同一パターンで形成することができ、製造工程を共通化したり、材料を共用することによるコスト削減効果が得られる。
【0031】
電極パッドの大きさとしては、共通基板の周縁部の大きさや、装着するマグネットの大きさ、マスクの大きさ、形状などにより最適なものとすればよい。通常、パッドは1〜20mm角、特に2〜10mm角程度とされる。
【0032】
このようなパッド5を有する基板1を用いて、パネル、好ましくは有機EL素子を製造する場合、電極や構成薄膜層、特に有機層などを蒸着、スパッタする際に、パッド5部分に接触するようにパターニング用メタルマスクを配置する。そして、基板1のパッド5形成面と反対側に磁石を装着して、メタルマスクを固定すると、パッド5とメタルマスクの十分な電気的な接続が得られる。そして、メタルマスクを接地することで、メタルマスク、パッド、共通電極、スキャン側配線2a、データ側配線2bの全てが電気的に接続され、同電位、つまり接地電位となる。
【0033】
図3,4は、本発明のフラットパネルディスプレイの第2の態様を示した平面図であり、図4は図3の一部平面図に相当する。この例では、図3において4行8列あるパネル2グループのうち、上2行と、下2行とを分割し、データ側配線2bの取り出し方向をそれぞれ逆方向としたものである。また、上2行と、下2行の各パネルグループ内で、スキャン側配線2aを共通にしている。さらに、図3に示すように、各パネルグループを分割した中央部で接続し、同電位としてもよい。
【0034】
その他の構成は、図1,2の第1の態様と同様であり、同一構成要素には同一符号を付して説明を省略する。
【0035】
このように、第1の態様のようにパネルの向きを全て揃えるか、第2の形態のようにパネルグループを分割し、電極の取り出し方向を異なるようにするかは、製造条件か、生産管理上の条件等により決められ、例えば各パネルを均一な性能とするために、成膜分布などの影響が極力すくなるような配置となるように決定すればよい。
【0036】
次に、本発明のフラットパネルディスプレイに好ましく用いられる有機EL素子について説明する。
【0037】
有機EL素子は、少なくとも、一対の電極間に、発光機能に関与する1層または2層以上の有機薄膜を有するものである。そして、前記透明電極が前記一対の電極のいずれかと共通の材料を用いることができ、さらに前記一対の電極および/または有機層成膜時におけるパターニング用マスクを前記電極パッドに対応するマスクとして用いることができる。
【0038】
一対の電極のうちの一方の電極は、陰極側の電極として電子注入電極が用いられる。電子注入電極としては、低仕事関数の物質が好ましく、例えば、K、Li、Na、Mg、La、Ce、Ca、Sr、Ba、Al、Ag、In、Sn、Zn、Zr等の金属元素単体、または安定性を向上させるためにそれらを含む2成分、3成分の合金系を用いることが好ましい。合金系としては、例えばAg・Mg(Ag:0.1〜50at%)、Al・Li(Li:0.01〜14at%)、In・Mg(Mg:50〜80at%)、Al・Ca(Ca:0.01〜20at%)等が好ましい。電子注入電極は、上記配線電極と兼用してもよいし、別々に形成してもよい。電子注入電極は蒸着法やスパッタ法で形成することが可能である。
【0039】
電子注入電極薄膜の厚さは、電子注入を十分行える一定以上の厚さとすれば良く、0.1nm以上、好ましくは1nm以上とすればよい。また、その上限値には特に制限はないが、通常膜厚は1〜500nm程度とすればよい。
【0040】
他方の電極は、陽極側電極としてホール注入電極が用いられる。ホール注入電極は、通常パネル基板側から発光した光を取り出す構成であるため、透明ないし半透明な電極が好ましい。透明電極としては、上記同様に透明導電膜材料であるITO(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ZnO、SnO2、In2O3等が挙げられるが、好ましくはITO(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)が好ましい。
【0041】
ホール注入電極は、発光波長帯域、通常350〜800nm、特に各発光光に対する光透過率が50%以上、特に60%以上であることが好ましい。通常、発光光はホール注入電極を通って取り出されるため、その透過率が低くなると、発光層からの発光自体が減衰され、発光素子として必要な輝度が得られなくなる傾向がある。ただし、一方のみから発光光を取り出すときには、取り出す側が上記以上であればよい。
【0042】
ホール注入電極の厚さは、ホール注入を十分行える一定以上の厚さを有すれば良く、好ましくは50〜500nm、さらには50〜300nmの範囲が好ましい。また、その上限は特に制限はないが、あまり厚いと剥離などの心配が生じる。厚さが薄すぎると、製造時の膜強度やホール輸送能力、抵抗値の点で問題がある。このホール注入電極層は蒸着法やスパッタ法等により形成できる。
【0043】
次に、有機EL素子の有機層について説明する。
【0044】
発光層には発光機能を有する化合物である蛍光性物質が用いられる。このような蛍光性物質としては、例えば、特開昭63−264692号公報に開示されているような化合物、例えばキナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の化合物から選択される少なくとも1種が挙げられる。また、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノールないしその誘導体を配位子とする金属錯体色素などのキノリン誘導体、テトラフェニルブタジエン、アントラセン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘導体等が挙げられる。さらには、特開平8−12600号公報(特願平6−110569号)に記載のフェニルアントラセン誘導体、特開平8−12969号公報(特願平6−114456号)に記載のテトラアリールエテン誘導体等を用いることができる。
【0045】
このような蛍光物質はそれ自体で発光が可能なホスト物質と組み合わせ、ドーパントとして使用することができる。その場合、発光層における蛍光性物質の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上する。
【0046】
ホスト物質としては、キノリノラト錯体が好ましく、さらには8−キノリノールないしその誘導体を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。このようなアルミニウム錯体としては、特開昭63−264692号、特開平3−255190号、特開平5−70773号、特開平5−258859号、特開平6−215874号等に開示されているものを挙げることができる。
【0047】
このほかのホスト物質としては、特開平8−12600号公報に記載のフェニルアントラセン誘導体や、特開平8−12969号公報に記載のテトラアリールエテン誘導体なども好ましい。
【0048】
発光層は電子注入輸送層を兼ねたものであってもよく、このような場合はトリス(8−キノリノラト)アルミニウム等を使用することが好ましい。
【0049】
電子注入輸送性の化合物としては、キノリン誘導体、さらには8−キノリノールないしその誘導体を配位子とする金属錯体、特にトリス(8−キノリノラト)アルミニウム(Alq3 )を用いることが好ましい。また、上記のフェニルアントラセン誘導体、テトラアリールエテン誘導体を用いるのも好ましい。
【0050】
ホール注入輸送層用の化合物としては、強い蛍光を持ったアミン誘導体、例えばトリフェニルジアミン誘導体、スチリルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン誘導体を用いるのが好ましい。
【0051】
なお、上記電子注入輸送層、ホール注入輸送層を無機物質(シリコン、ゲルマニウム、ストロンチウム、ルビジウム等の酸化物など)を用いて形成することもできる。
【0052】
有機EL素子各層を成膜した後に、SiOX 等の無機材料、テフロン(登録商標)、塩素を含むフッ化炭素重合体等の有機材料等を用いた保護膜を形成してもよい。保護膜は透明でも不透明であってもよく、保護膜の厚さは50〜1200nm程度とする。保護膜は、前記の反応性スパッタ法の他に、一般的なスパッタ法、蒸着法、PECVD法等により形成すればよい。
【0053】
有機EL構造体、配線電極等を形成するパネル基板としては、非晶質基板たとえばガラス、石英など、結晶基板たとえば、Si、GaAs、ZnSe、ZnS、GaP、InPなどがあげられ、またこれらの結晶基板に結晶質、非晶質あるいは金属のバッファ層を形成した基板も用いることができる。また金属基板としては、Mo、Al、Pt、Ir、Au、Pdなどを用いることができ、好ましくはガラス基板が用いられる。パネル基板は、通常光取り出し側となるため、上記電極と同様な光透過性を有することが好ましい。
【0054】
さらに、有機層や電極の劣化を防ぐために、有機EL構造体上を封止板等により封止することが好ましい。封止板は、湿気の浸入を防ぐために、接着性樹脂層を用いて、封止板を接着し密封する。封止ガスは、Ar、He、N2 等の不活性ガス等が好ましい。また、この封止ガスの水分含有量は、100ppm 以下、より好ましくは10ppm 以下、特には1ppm 以下であることが好ましい。この水分含有量に下限値は特にないが、通常0.1ppm 程度である。
【0055】
封止板の材料としては、好ましくは平板状であって、ガラス、セラミック、金属、樹脂等の材料が挙げられるが、特にガラスが好ましい。封止板は、スペーサーを用いて高さを調整し、所望の高さに保持してもよい。スペーサーの材料としては、樹脂ビーズ、シリカビーズ、ガラスビーズ、ガラスファイバー等が挙げられ、特にガラスビーズ等が好ましい。
【0056】
接着剤としては、安定した接着強度が保て、気密性が良好なものであれば特に限定されるものではないが、カチオン硬化タイプの紫外線硬化型エポキシ樹脂接着剤を用いることが好ましい。
【0057】
各画素となる有機EL素子は、直流駆動やパルス駆動等される。印加電圧は、通常、2〜30V 程度である。
【0058】
【実施例】
図1,2に示すように、大きさ14×18インチの共通基板1上に、256×64画素のパネル2を、4×8個形成されるように、ITO透明電極、配線電極層等を形成し、パターニングした。このとき図1,2に示すように共通電極4により、スキャン側配線2a、データ側配線2bを接続した。共通電極4は、Al合金(Al:95原子%以上)により形成し、膜厚300nm、幅0.2mmとした。また、共通電極形成時に、同一材料により図に示すようなパッド5を形成した。このときのパッドの大きさは5mm角とした。また、一部マーカーと重なったり、干渉する部分は、ITOを用いて同様に形成した。
【0059】
電極構造が形成されているパネル基板の表面をUV/O3 洗浄した後、例えば特願平9−41663号に示されているような、有機層の遮蔽機能のあるひさし構造を有する素子分離構造体を形成した。
【0060】
次いで、真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、槽内を1×10−4Pa以下まで減圧した。4,4’,4”−トリス(−N−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ)トリフェニルアミン(以下、m−MTDATA)を蒸着速度0.2nm/sec で40nmの厚さに蒸着し、ホール注入層とし、次いで減圧状態を保ったまま、N,N’−ジフェニル−N,N’−m−トリル−4,4’−ジアミノ−1,1’−ビフェニル(以下、TPD)を蒸着速度0.2nm/sec で35nmの厚さに蒸着し、ホール輸送層とした。さらに、減圧を保ったまま、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以下、Alq3 )を蒸着速度0.2nm/sec で50nmの厚さに蒸着して、電子注入輸送・発光層とした。これら各有機層成膜時に用いたメタルマスクを、マグネットにより上記パッド部分にて固定し、かつマスク自体を接地した。これにより、メタルマスクおよび共通電極が全て接地電位となった。
【0061】
次いで減圧を保ったまま、このEL素子構造体基板を真空蒸着装置からスパッタ装置に移し、スパッタ圧力1.0PaにてAlLi電子注入電極(Li濃度:7.2at%)を50nmの厚さに成膜した。その際スパッタガスにはArを用い、投入電力は100W、ターゲットの大きさは4インチ径、基板とターゲットの距離は90mmとした。このとき成膜時に用いたメタルマスクを、マグネットにより上記パッド部分にて固定し、かつマスク自体を接地した。
【0062】
さらに、減圧を保ったまま、このEL素子基板を他のスパッタ装置に移し、Alターゲットを用いたDCスパッタ法により、スパッタ圧力0.3PaにてAl保護電極を200nmの厚さに成膜した。この時スパッタガスにはArを用い、投入電力は500W、ターゲットの大きさは4インチ径、基板とターゲットの距離は90mmとした。このとき成膜時に用いたメタルマスクを、マグネットにより上記パッド部分にて固定し、かつマスク自体を接地した。前記マスクは、全ての成膜が終了した時点で取り外した。
【0063】
最後にガラス封止板を貼り合わせ、有機ELディスプレイパネルとした。また、比較例として、共通電極を形成しないで素子を形成したサンプルも作製した。
【0064】
得られたディスプレイパネルは、発明サンプルも比較サンプルも同じ基板サイズ内に同じ大きさのパネルを形成することができることがわかった。また、得られた各ディスプレイパネルのリーク電流の発生について評価したところ、各共通パネルのパネル内、パネル間の総計で、発明サンプルではリーク電流の発生が確認できなかったが、比較サンプルではリークの発生箇所が20ヶ所以上確認された。
【0065】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、さらなるスペースを必要とすることなく、基板の利用効率を低下させずに静電破壊から素子を保護することのできるフラットパネルディスプレイを提供することができる。
【0066】
また、基板周縁部に形成されるマーカーとの干渉が避けられるか、極めて少ないフラットパネルディスプレイを提供することができる。
【0067】
さらに、各成膜工程において、確実に接地電位に固定することができ、より強力に静電破壊から保護することのできるフラットパネルディスプレイを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のフラットパネルディスプレイの第1の態様を示す平面図である。
【図2】図1の一部平面図である。
【図3】本発明のフラットパネルディスプレイの第2の態様を示す平面図である。
【図4】図3の一部平面図である。
【図5】従来のフラットパネルディスプレイの構成例を示す平面図である。
【図6】図5の一部平面図である。
【符号の説明】
1 共通基板
2 パネル
2a スキャン側配線
2b データ側配線
3 切断ライン
4 共通配線
5 パッド
Claims (5)
- 複数のパネルが同一基板上に形成され、
各パネルのスキャン側配線とデータ側配線が前記同一基板上で共通配線を介して接続されて同電位化され、
この共通配線が、対応するパネルの切断ラインよりも外側であって、隣接して形成されているパネルの非表示領域であるかパネルが形成されていない基板の周縁部に形成されているフラットパネルディスプレイ。 - 前記共通配線は、透明導電膜で形成されている請求項1のフラットパネルディスプレイ。
- 有機成膜時及び陰極成膜時のメタルマスクを固定するマグネットを装着するエリアに、前記共通配線と接続され同電位となるパッドが形成されている請求項1または2のフラットパネルディスプレイ。
- 複数のパネルが同一基板上に形成されているフラットパネルディスプレイの製造方法であって、
各パネルのスキャン側配線とデータ側配線が前記同一基板上で共通配線を介して接続されて同電位化され、
この共通配線が対応するパネルの切断ラインよりも外側に位置し、
さらに有機成膜時及び陰極成膜時のメタルマスクを固定するマグネットを装着するエリアに前記共通配線と同電位となるパッド設け、
前記メタルマスクを基板に装着して接地して成膜するフラットパネルディスプレイの製造方法。 - 前記共通配線を、透明導電膜で形成する請求項4のフラットパネルディスプレイの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002201422A JP4231665B2 (ja) | 2002-07-10 | 2002-07-10 | フラットパネルディスプレイの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002201422A JP4231665B2 (ja) | 2002-07-10 | 2002-07-10 | フラットパネルディスプレイの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004047222A true JP2004047222A (ja) | 2004-02-12 |
JP4231665B2 JP4231665B2 (ja) | 2009-03-04 |
Family
ID=31707967
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002201422A Expired - Fee Related JP4231665B2 (ja) | 2002-07-10 | 2002-07-10 | フラットパネルディスプレイの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4231665B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005243571A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Optrex Corp | 有機el表示素子用基板及び有機el表示素子の製造方法 |
JP2008117588A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機el素子、及び有機elパネルの製造方法 |
JP2009016231A (ja) * | 2007-07-06 | 2009-01-22 | Sony Corp | 有機el表示装置の製造方法および有機el表示装置 |
JP2009059497A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Kyocera Corp | 有機elパネルの製造方法及び有機elディスプレイの製造方法 |
US7915070B2 (en) | 2008-06-11 | 2011-03-29 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Method for fabricating organic light emitting display device |
WO2016178370A1 (ja) * | 2015-05-07 | 2016-11-10 | コニカミノルタ株式会社 | 薄膜電子デバイスの製造方法 |
-
2002
- 2002-07-10 JP JP2002201422A patent/JP4231665B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005243571A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Optrex Corp | 有機el表示素子用基板及び有機el表示素子の製造方法 |
JP4486833B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2010-06-23 | オプトレックス株式会社 | 有機el表示素子用基板及び有機el表示素子の製造方法 |
JP2008117588A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機el素子、及び有機elパネルの製造方法 |
JP2009016231A (ja) * | 2007-07-06 | 2009-01-22 | Sony Corp | 有機el表示装置の製造方法および有機el表示装置 |
TWI457041B (zh) * | 2007-07-06 | 2014-10-11 | Sony Corp | 有機電激發光顯示器、有機電激發光顯示器用之基板及有機電激發光顯示器之製造方法 |
US8901813B2 (en) | 2007-07-06 | 2014-12-02 | Sony Corporation | Method for manufacturing organic EL display and organic EL display |
US8926390B2 (en) | 2007-07-06 | 2015-01-06 | Sony Corporation | Method for manufacturing organic EL display and organic EL display |
US9136314B2 (en) | 2007-07-06 | 2015-09-15 | Joled Inc. | Method for manufacturing organic EL display and organic EL display |
US9508781B2 (en) | 2007-07-06 | 2016-11-29 | Joled Inc. | Method for manufacturing organic EL display and organic EL display |
JP2009059497A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Kyocera Corp | 有機elパネルの製造方法及び有機elディスプレイの製造方法 |
US7915070B2 (en) | 2008-06-11 | 2011-03-29 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Method for fabricating organic light emitting display device |
WO2016178370A1 (ja) * | 2015-05-07 | 2016-11-10 | コニカミノルタ株式会社 | 薄膜電子デバイスの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4231665B2 (ja) | 2009-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5722453B2 (ja) | 表示装置の製造方法 | |
JP4185002B2 (ja) | El表示素子 | |
JP3078257B2 (ja) | 有機el表示装置及びその製造方法 | |
JP5384751B2 (ja) | 蒸着膜の形成方法及び表示装置の製造方法 | |
US20010043043A1 (en) | Organic electroluminescent display panel and organic electroluminescent device used therefor | |
US6114805A (en) | Organic electroluminescent display with filter layer | |
CN102053435B (zh) | 液晶显示设备及其制造方法 | |
US6259204B1 (en) | Organic electroluminescent device | |
KR100994120B1 (ko) | 유기 발광 표시 장치 | |
JPH1187068A (ja) | 有機el素子およびその製造方法 | |
JP3758369B2 (ja) | 有機el表示装置とその製造方法 | |
KR20040027286A (ko) | 유기 일렉트로 루미네센스 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
JP4774787B2 (ja) | 表示装置 | |
JPH09115672A (ja) | 有機光学的素子及びその製造方法 | |
EP1107335A2 (en) | Organic EL display device | |
JP4231665B2 (ja) | フラットパネルディスプレイの製造方法 | |
US7098591B1 (en) | Transparent electrode material for quality enhancement of OLED devices | |
KR101296657B1 (ko) | 유기전계발광소자 및 그 제조방법 | |
JP2008076987A (ja) | 有機elディスプレイパネルおよびその製造方法 | |
TW201320429A (zh) | 顯示裝置之製造方法及顯示裝置 | |
JPH11260546A (ja) | 有機el素子 | |
JP3724733B2 (ja) | 有機el発光素子およびその製造方法 | |
JP2006054098A (ja) | 透明導電膜の製造方法および有機el発光素子 | |
JP2002203686A (ja) | 自発光ディスプレイモジュール | |
JP2000091079A (ja) | 有機el素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20040601 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050705 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080314 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081202 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081208 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4231665 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111212 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111212 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121212 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121212 Year of fee payment: 4 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121212 Year of fee payment: 4 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121212 Year of fee payment: 4 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131212 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131212 Year of fee payment: 5 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131212 Year of fee payment: 5 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131212 Year of fee payment: 5 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |