JP2004045434A - 熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光学顕微鏡において、励起光(A)を入射し、励起光(A)が試料(10)中に照射されることにより形成される熱レンズに検出光(B)を入射し、熱レンズによる検出光(B)の試料透過後の拡散を測定することにより試料(10)中の物質を検出を行う熱レンズ顕微鏡を用いた超微量分析方法であって、光学的調整により、試料(10)中における励起光(A)および検出光(B)の焦点位置が一致しないようにする。
【選択図】図1
Description
この出願の発明に係る熱レンズ顕微鏡超微量分析の空間分解能を、図1の構成の装置において、銀薄膜を蒸着したガラス基板を用いた分析として評価した。励起光源として、アルゴンレーザー光源を用いた。また、検出光源として、ヘリウムネオンレーザー光源を用いた。励起光と検出光の焦点位置が一致しないように色収差のあるレンズを対物レンズ(8)として用いた。
実施例2
熱レンズ信号が吸光度に比例することを利用して、この出願の発明に係る熱レンズ顕微鏡超微量分析による濃度分布の定量的な画像化を試みた。
実施例3
さらに、この出願の発明に係る熱レンズ顕微鏡超微量分析を、小型ゲルを用いた短距離電気泳動によるDNAの高空間分解検出に適用した。
B 検出光
C 合成光
1 励起光源
2 チョッパ
3 検出光源
4 ダイクロックミラー
5 反射ミラー
6 接眼レンズ
7 光学顕微鏡
8 対物レンズ
9 ステージ
10 試料
11 ピンホール
12 反射ミラー
13 レンズ
14 フィルタ
15 フォトダイオード
16 プリアンプ
17 ロックインアンプ
18 チョッパ制御装置
19 コンピュータ
20 ビームエキスパンダー
51 励起光
52 検出光
53 ゲル
54 試料バンド
55 熱レンズ
56 ピンホール
57 フィルター
58 集光レンズ
59 フォトダイオード
60 対物レンズ
Claims (6)
- 光学顕微鏡において、励起光を入射し、励起光が試料中に照射されることにより形成される熱レンズに検出光を入射し、熱レンズによる試料透過後の検出光の拡散を測定することにより試料中の物質の検出を行う熱レンズ顕微鏡を用いた超微量分析方法であって、光学的調整により、試料中における励起光および検出光の焦点位置が一致しないようにすることを特徴とする熱レンズ顕微鏡超微量分析方法。
- 励起光と検出光の周波数を異なるものとし、色収差のあるレンズを対物レンズとして用いることにより、試料中における励起光および検出光の焦点位置が一致しないようにする請求項1記載の熱レンズ顕微鏡超微量分析方法。
- 励起光または検出光のいずれかを角度を持たせて光学顕微鏡へ入射することにより、試料中における励起光および検出光の焦点位置が一致しないようにする請求項1記載の熱レンズ顕微鏡超微量分析方法。
- 光学顕微鏡としての接眼レンズと対物レンズ並びに試料ステージを備えた請求項1の方法のための装置であって、励起光と検出光の光源と、試料中での励起光と検出光の焦点位置を一致させない光学調整装置と、試料透過光の集光装置とを有し、励起光と検出光とは接眼レンズに入射されて対物レンズより試料ステージ上の試料に放射され、光学調整装置によって励起光と検出光の試料中の焦点位置は一致しないようにされ、試料透過光は集光装置により集光されて透過光のうちの検出光のみから分析が行われることを特徴とする熱レンズ顕微鏡超微量分析装置。
- 励起光と検出光の周波数を異なるものとした請求項4の装置であって、色収差のあるレンズを対物レンズとして光学調整装置を構成している熱レンズ顕微鏡超微量分析装置。
- 請求項4の装置であって、ビームエキスパンダーにより、励起光または検出光のいずれかを角度を持たせて光学顕微鏡に入射するようにして光学調整装置を構成している熱レンズ顕微鏡超微量分析装置。
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JP2003354393A JP2004045434A (ja) | 2003-10-14 | 2003-10-14 | 熱レンズ顕微鏡超微量分析方法とその装置 |
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