JP2004039967A - Semiconductor production apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体製造装置に関し、特に、基板を加熱するヒータユニットの改良に係り、例えば、半導体集積回路装置(以下、ICという。)が作り込まれる半導体ウエハ(以下、ウエハという。)に窒化シリコン(Si3 N4 )やポリシリコン等を堆積(デポジション)させる減圧CVD装置や、酸化膜形成装置や拡散装置、イオン打ち込み後のキャリア活性化や平坦化のためのリフローおよびアニール等の熱処理(thermal treatment )に使用される熱処理装置(furnace )等の半導体製造装置に利用して有効なものに関する。
【0002】
【従来の技術】
ICの製造方法において、ウエハに窒化シリコンやポリシリコン等のCVD膜をデポジションするのにバッチ式縦形ホットウオール形減圧CVD装置が広く使用されている。バッチ式縦形ホットウオール形減圧CVD装置(以下、CVD装置という。)は、ウエハが搬入される処理室を形成するインナチューブおよびこのインナチューブを取り囲むアウタチューブから構成されて縦形に設置されたプロセスチューブと、被処理基板である複数枚のウエハを保持してインナチューブの処理室に搬入するボートと、インナチューブ内に原料ガスを導入するガス導入管と、プロセスチューブ内を排気する排気管と、プロセスチューブ外に敷設されてプロセスチューブ内を加熱するヒータユニットとを備えており、複数枚のウエハがボートによって垂直方向に整列されて保持された状態でインナチューブ内に下端の炉口から搬入(ボートローディング)され、インナチューブ内に原料ガスがガス導入管から導入されるとともに、ヒータユニットによってプロセスチューブ内が加熱されることにより、ウエハにCVD膜がデポジションされるように構成されている。
【0003】
従来のこの種のCVD装置において、ヒータユニットはアルミナやシリカ等の断熱材が使用されてバキュームフォーム(真空吸着成形)法によってプロセスチューブを全体的に被覆する長い円筒形状に形成された断熱壁体と、鉄−クロム−アルミニウム(Fe−Cr−Al)合金やモリブデンシリサイド(MoSi2 )が使用されて長大に形成された発熱体と、断熱壁体を被覆するケースとを備えており、発熱体が断熱壁体の内周に敷設されて構成されている。
【0004】
このようなヒータユニットにおいて30℃/分以上の急速加熱を実施する場合には、発熱有効面積を大きくするために板形状に形成された発熱体が使用されている。そして、この板形状の発熱体が使用される場合には、この発熱体に通電させるための給電部は次のように構成されている。板形状の発熱体が厚さ方向に直角に屈曲されて断熱壁体を貫通され、この貫通部がさらに直角に屈曲され、この屈曲部に給電端子が接続される。この給電部の屈曲部には発熱時の熱膨張によって暴れるのを防止するために補強を兼ねて別体の発熱体が溶接される。また、外側の屈曲部での上下間の発熱体同士を接続するための渡り線には、発熱体と同形の板形状の別体の発熱体が使用されている。給電端子も同様に板形状の別体の発熱体が使用されており、ケースの外部に引き出されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、発熱体同士の屈曲部の間には発熱体が存在しない状態になることにより加熱温度が低くなるため、ウエハ面内の温度分布がこの屈曲部に向かって低くなる。ウエハ面内の温度分布の偏りはそのまま成膜結果に影響するため、この屈曲部側の成膜速度が遅くなり、膜厚分布に重大な悪影響が及ぶ。
【0006】
本発明の目的は、発熱体の無い給電部での温度低下を防止することができる半導体製造装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための第一の手段は、一対の給電部を有する発熱体が筒形状に形成された断熱壁体の内周に敷設されており、前記一対の給電部が耐熱性のホルダによって互いに絶縁された状態で保持されていることを特徴とする。
【0008】
前記した第一の手段によれば、ホルダによって保持された一対の給電部を互いに接近させることができるため、発熱体の無い給電部での温度低下を最小限度に抑制することができる。
【0009】
前記課題を解決するための第二の手段は、一対の給電部を有する複数の発熱体が筒形状に形成された断熱壁体の内周に前記筒心と同方向に配列されており、これら発熱体の前記一対の給電部同士が周方向にずらされていることを特徴とする。
【0010】
前記した第二の手段によれば、発熱体の無い給電部が一列に並ばないため、温度が低下する部分を分散させることができ、複数の発熱体の加熱温度分布への影響を抑制することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態を図面に即して説明する。
【0012】
本発明に係る半導体製造装置の一実施の形態であるCVD装置(バッチ式縦形ホットウオール形減圧CVD装置)は、図1に示されているように、垂直に配されて固定的に支持された縦形のプロセスチューブ1を備えている。プロセスチューブ1はインナチューブ2とアウタチューブ3とから構成されており、インナチューブ2は石英(SiO2 )もしくは炭化シリコン(SiC)が使用されて円筒形状に一体成形され、アウタチューブ3は石英ガラスが使用されて円筒形状に一体成形されている。インナチューブ2は上下両端が開口した円筒形状に形成されており、インナチューブ2の筒中空部はボート11によって垂直方向に整列した状態に保持された複数枚のウエハが搬入される処理室4を形成している。インナチューブ2の下端開口はウエハを出し入れするための炉口5を構成している。
【0013】
アウタチューブ3は内径がインナチューブ2の外径よりも大きく上端が閉塞し下端が開口した円筒形状に形成されており、インナチューブ2にその外側を取り囲むように同心円に被せられている。インナチューブ2とアウタチューブ3との間の下端部は円形リング形状に形成されたマニホールド6によって気密封止されており、マニホールド6はインナチューブ2およびアウタチューブ3についての交換等のためにインナチューブ2およびアウタチューブ3にそれぞれ着脱自在に取り付けられている。マニホールド6がCVD装置の筐体17に支持されることにより、プロセスチューブ1は垂直に据え付けられた状態になっている。
【0014】
マニホールド6の側壁の上部には排気管7が接続されており、排気管7は排気装置(図示せず)に接続されて処理室4を所定の真空度に真空排気し得るように構成されている。排気管7はインナチューブ2とアウタチューブ3との間に形成された隙間に連通した状態になっており、インナチューブ2とアウタチューブ3との隙間によって排気路8が、横断面形状が一定幅の円形リング形状に構成されている。排気管7がマニホールド6に接続されているため、排気管7は円筒形状の中空体を形成されて垂直に延在した排気路8の最下端部に配置された状態になっている。マニホールド6の側壁の下部にはガス導入管9がインナチューブ2の炉口5に連通するように接続されており、ガス導入管9には原料ガス供給装置およびキャリアガス供給装置(いずれも図示せず)に接続されている。ガス導入管9によって炉口5に導入されたガスはインナチューブ2の処理室4内を流通して排気路8を通って排気管7によって排気される。
【0015】
マニホールド6には下端開口を閉塞するシールキャップ10が垂直方向下側から当接されるようになっている。シールキャップ10はアウタチューブ3の外径と略等しい円盤形状に形成されており、プロセスチューブ1の外部に垂直に設備されたエレベータ(図示せず)によって垂直方向に昇降されるように構成されている。シールキャップ10の中心線上には被処理基板としてのウエハWを保持するためのボート11が垂直に立脚されて支持されるようになっている。
【0016】
ボート11は上下で一対の上側端板12および下側端板13と、上側端板12と下側端板13との間に垂直に立脚された複数本(本実施の形態においては三本とする。)の保持部材14とを備えており、三本の保持部材14には多数の保持溝15が長手方向に等間隔に配されて互いに対向して開口するように刻設されている。ボート11は三本の保持部材14の保持溝15間にウエハWを挿入されることにより、複数枚のウエハWを水平にかつ互いに中心を揃えた状態に整列させて保持するようになっている。ボート11とシールキャップ10との間には断熱キャップ部16が配置されており、断熱キャップ部16はボート11をシールキャップ10の上面から持ち上げた状態に支持することにより、ボート11の下端を炉口5の位置から適当な距離だけ離間させるように構成されている。
【0017】
アウタチューブ3の外部にはプロセスチューブ1の内部を加熱するヒータユニット20がアウタチューブ3の周囲を包囲するように同心円に設備されている。ヒータユニット20はステンレス鋼(SUS)が使用されて上端閉塞で下端開口の円筒形状に形成されたケース21を備えており、ケース21の内径および全長はアウタチューブ3の外径および全長よりも大きく設定されている。ケース21の内部にはアウタチューブ3の外径および全長よりも若干大きめの円筒形状に構築された断熱壁体23が、ケース21の内周面との間に空冷のための空間としての隙間22をとって同心円に設置されている。断熱壁体23はケース21の内径と等しい外径を有する円盤形状の天井壁部24と、アウタチューブ3の外径よりも若干大径の内径およびケース21の内径よりも小径の外径を有する円筒形状の側壁部25とを備えている。天井壁部24は側壁部25の上端面に開口を閉塞するように被せられており、天井壁部24の上端面はケース21の天井壁の下面に当接されている。側壁部25の外径がケース21の内径よりも小径に設定されていることにより、側壁部25とケース21との間には空冷空間としての隙間22が形成されている。そして、断熱壁体23の側壁部25は図2に示された断熱ブロック26が複数個、垂直方向に積み重ねられて一本の筒体に構築されている。
【0018】
図2に示されているように、断熱ブロック26は短尺の円筒形状であるドーナツ形状の本体27を備えており、本体27は繊維状または球状のアルミナやシリカ等の断熱材が使用されてバキュームフォーム法の成形型によって一体成形されている。本体27の下端部には印籠結合雄部28が外周の一部を円形リング形状に切り欠かれた状態に形成されており、本体27の上端部には印籠結合雌部29が内周の一部を円形リング形状に切り欠かれた状態に形成されている。本体27の内周面における下端と印籠結合雌部29の上端との間には、発熱体を取り付けるための取付溝30が一定深さ一定高さに没設されており、取付溝30の内周面には発熱体を位置決め保持するための保持具31が複数個、周方向に等間隔に配置されて取り付けられている。
【0019】
発熱体32はFe−Cr−Al合金やMOSi2 およびSiC等の抵抗発熱材料が使用されて、図2に示されているように、波形の平板形状にプレス加工やレーザ切断加工等によって一体成形されており、断熱ブロック26の取付溝30の内径よりも若干だけ小径であって一部に切欠部34を有する円形リング形状に丸められている。図2に示されているように、発熱体32は取付溝30の内周面に当接された状態で、各保持具31、31が波形の隙間33にそれぞれ嵌入されることにより保持されている。図2および図3に示されているように、発熱体32の切欠部34の両端部には一対の給電部35、36が径方向外向きの直角にそれぞれ屈曲されて形成されており、一対の給電部35、36の先端部には一対の接続部37、38が互いに外向きの直角にそれぞれ屈曲されて形成されている。一対の給電部35、36における区間抵抗値を上げることにより給電部35、36でも有効に発熱させるために、一対の給電部35、36の断面積は従来よりも小さく設定されている。
【0020】
断熱ブロック26の本体27の取付溝30における一対の給電部35、36にそれぞれ対応する位置には一対の挿入溝39、40がそれぞれ径方向に延在するように形成されており、両給電部35、36は両挿入溝39、40に取付溝30側から本体27の外周側にそれぞれ挿入されている。取付溝30の内周面における両挿入溝39、40の間にはホルダ嵌入穴41が径方向に没設されており、ホルダ嵌入穴41にはホルダ42が嵌入されている。図3(a)、(b)に示されているように、ホルダ42はアルミナやシリカ等の耐熱性を有するセラミックが使用されて焼結法等の適当な製法によって略直方体に一体成形されており、ホルダ嵌入穴41に嵌入されることにより本体27に固定されている。ホルダ42の上面における両挿入溝39、40に対応する位置には一対の保持溝43、44がそれぞれ形成されており、両保持溝43、44には両挿入溝39、40に挿入された両給電部35、36がそれぞれ挿入されている。ホルダ42の両保持溝43、44は発熱体32の給電部35、36を保持することにより発熱体32の暴れを抑えることができるように構成されており、両保持溝43、44の間隔および本体27の挿入溝39、40は比較的に狭く(小さく)設定されている。
【0021】
図3に示されているように、上段側の発熱体32の一方の接続部(以下、プラス側接続部という。)37には給電端子45が溶接されており、他方の接続部(以下、マイナス側接続部という。)38には渡り線46の上端部が溶接されている。渡り線46の下端部は下段側の発熱体32のプラス側接続部37に接続されている。したがって、下段側の発熱体32のプラス側接続部37は上段側の発熱体32のマイナス側接続部38の真下に位置しており、その分だけ下段側の発熱体32の切欠部34は上段側の発熱体32の切欠部34よりも周方向にずれた状態になっている。このように上下で隣合う発熱体32、32の切欠部34、34同士が周方向にずれることにより、発熱体32における発熱しない部分である切欠部34が一直線上に整列しないため、非発熱部分を分散させることができ、複数の発熱体32の加熱温度分布への影響を防止することができる。渡り線46はこの渡り線46の表面からの放熱を小さく抑制するために、Fe−Cr−Al合金やMOSi2 およびSiC等の抵抗発熱材料が使用されて、丸棒形状に形成されている。ちなみに、渡り線46を丸棒形状に形成することにより、表面積を同一の断面積の角棒形状の20%程度減少させることができる。但し、渡り線の電流容量の都合によっては、渡り線46は角棒形状に形成してもよい。
【0022】
図4に示されているように、ヒータユニット20のケース21の外周面における給電端子45の設置場所に対応する位置には、両接続部37、38や渡り線46を被覆する端子ケース47が被せ付けられており、端子ケース47の内部にはガラスウール等の断熱材(図示せず)が充填されている。端子ケース47には複数個の給電端子45が絶縁碍子48を介して挿入されている。
【0023】
次に、ヒータユニット20の構築作業について説明する。
【0024】
ヒータユニット20の構築に当たり、前記構成に係る断熱ブロック26は断熱壁体23の側壁部25の長さに対応して指定された個数が準備される。この際、断熱ブロック26は断熱壁体23の長さ仕様に関わらず同一のものを複数個、バキュームフォーム法の成形型によって一体成形すればよいため、断熱壁体23の製造コストをきわめて小さく抑えることができる。複数個の断熱ブロック26による断熱壁体23の組み立て作業の前に、各断熱ブロック26の取付溝30には発熱体32が取り付けられる。上段の断熱ブロック26の印籠結合雄部28に下段の断熱ブロック26の印籠結合雌部29が嵌入されて上下の断熱ブロック26、26が印籠結合されつつ、複数個の断熱ブロック26が次々に積み重ねられて行くことにより、指定された長さの断熱壁体23の側壁部25が組み立てられる。上下の断熱ブロック26、26の積み重ねに際して、上下の断熱ブロック26、26の発熱体32、32同士が互いに電気的に直列に接続される。これにより、一本の断熱壁体23が組み立てられた状態において、図1に示されているように、複数本の発熱体32は一本の螺旋状のヒータ49の状態になる。しかも、各発熱体32は波形に形成されているため、ヒータ49の全長はきわめて長大のものとなる。したがって、ヒータ49の線密度はきわめて大きくなり、温度リカバリー時間等のヒータ特性はきわめて良好なものとなる。
【0025】
以上のようにして組み立てられた側壁部25には天井壁部24が被せられる。その後、側壁部25と天井壁部24との組立体である断熱壁体23にはケース21が被せられ、ヒータユニット20が構築される。ちなみに、天井壁部24が天井壁下面に敷設されたケース21を側壁部25に被せてもよい。断熱壁体23にケース21が被せられてなるヒータユニット20における断熱壁体23の外周とケース21の内周との間に形成された隙間22は、それ自体で良好な断熱層を形成する。但し、隙間22に送風すると、断熱壁体23を強制冷却することができるため、ヒータユニット20の温度下降速度を早く設定することができる。
【0026】
以上のように構築されたヒータユニット20の成膜工程における作用は従来のヒータユニットのそれと同様であるから、前記構成に係るCVD装置による成膜工程の作用の説明は省略する。
【0027】
前記実施の形態によれば、次の効果が得られる。
【0028】
1) 発熱体の一対の給電部を耐熱性のホルダによって互いに絶縁された状態で保持することにより、ホルダによって保持した一対の給電部を互いに接近させることができるため、発熱体の無い給電部での温度低下を最小限度に抑制することができる。
【0029】
2) 複数の発熱体の一対の給電部同士を周方向にずらすことにより、発熱体の温度が低下する部分である給電部を分散させることができるため、複数の発熱体の加熱温度分布への影響を抑制することができる。
【0030】
3) 一対の給電部の断面積を小さく設定することにより、給電部における区間抵抗値を上げて給電部でも有効に発熱させることができるため、非発熱部分である給電部での温度の低下を防止することができる。
【0031】
4) 渡り線を丸棒形状に形成することにより、渡り線の表面からの放熱を小さく抑制することができるため、発熱体の給電部における温度の低下を防止することができる。
【0032】
5) ヒータユニットのケースの外周面における給電端子の設置場所に対応する位置に接続部や渡り線を被覆する端子ケースを被せ付け、端子ケースの内部にガラスウール等の断熱材を充填することにより、接続部や渡り線における放熱を抑制することができるため、発熱体の給電部における温度の低下を防止することができる。
【0033】
なお、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変更が可能であることはいうまでもない。
【0034】
例えば、発熱体は断熱ブロックに一つのターン(一巻き)だけ巻回するに限らず、二つのターン(二巻き)以上巻回してもよい。また、発熱体の取付構造は前記実施の形態のように取付溝に保持具によって取り付けるように構成するに限らず、発熱体に突設したアンカを断熱ブロックの本体に挿入して取り付けるように構成してもよいし、発熱体を断熱ブロックに取付ピンによって取り付けるように構成してもよい。
【0035】
断熱壁体とケースとの間に隙間を介設するに限らず、ケースは断熱壁体に密着するように被せてもよい。
【0036】
ヒータユニット、断熱壁体およびケース等は円筒形状に形成するに限らず、四角形筒形状や多角形筒形状に形成してもよい。
【0037】
CVD装置はバッチ式縦形ホットウオール形減圧CVD装置に限らず、横形ホットウオール形減圧CVD装置等の他のCVD装置であってもよい。
【0038】
さらに、半導体製造装置はCVD装置に限らず、酸化膜形成装置や拡散装置、イオン打ち込み後のキャリア活性化や平坦化のためのリフローおよびアニール等の熱処理(thermal treatment )に使用される熱処理装置(furnace )等の半導体製造装置全般に適用することができる。
【0039】
【発明の効果】
本発明によれば、基板面内の温度分布を改善することができるため、単位時間内に処理する枚数を増加させてスループットや生産効率の向上に大きく貢献し、経済性や製品の品質および信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態であるCVD装置を示す正面断面図である。
【図2】ヒータユニットの主要部を示しており、(a)は斜視図、(b)は側面断面端面図である。
【図3】同じくヒータユニットの主要部を示しており、(a)は平面図、(b)は(a)のb−b線に沿う矢視図、(c)は正面図である。
【図4】ヒータユニットの斜視図である。
【符号の説明】
W…ウエハ(基板)、1…プロセスチューブ、2…インナチューブ、3…アウタチューブ、4…処理室、5…炉口、6…マニホールド、7…排気管、8…排気路、9…ガス導入管、10…シールキャップ、11…ボート、12、13…端板、14…保持部材、15…保持溝、16…断熱キャップ部、17…筐体、20…ヒータユニット、21…ケース、22…隙間、23…断熱壁体、24…天井壁部、25…側壁部、26…断熱ブロック、27…本体、28…印籠結合雄部、29…印籠結合雌部、30…取付溝、31…保持具、32…発熱体、33…隙間、34…切欠部、35、36…給電部、37、38…接続部、39、40…挿入溝、41…ホルダ嵌入穴、42…ホルダ、43、44…保持溝、45…給電端子、46…渡り線、47…端子ケース、48…絶縁碍子、49…ヒータ。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and more particularly to an improvement of a heater unit for heating a substrate, for example, nitriding a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a wafer) in which a semiconductor integrated circuit device (hereinafter, referred to as an IC) is formed. Low-pressure CVD apparatus for depositing (deposition) silicon (Si 3 N 4 ), polysilicon, etc., oxide film forming apparatus and diffusion apparatus, heat treatment such as reflow and annealing for carrier activation and planarization after ion implantation. The present invention relates to a heat treatment apparatus (furnace) used for (thermal treatment) or the like, which is effective when used in a semiconductor manufacturing apparatus.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In a method of manufacturing an IC, a batch type vertical hot wall type reduced pressure CVD apparatus is widely used to deposit a CVD film such as silicon nitride or polysilicon on a wafer. A batch-type vertical hot-wall-type reduced-pressure CVD apparatus (hereinafter, referred to as a CVD apparatus) is a vertically installed process tube that includes an inner tube that forms a processing chamber into which a wafer is loaded, and an outer tube that surrounds the inner tube. A boat that holds a plurality of wafers as substrates to be processed and carries the wafer into the processing chamber of the inner tube, a gas introduction pipe that introduces a source gas into the inner tube, and an exhaust pipe that exhausts the inside of the process tube, A heater unit laid outside the process tube to heat the inside of the process tube, and a plurality of wafers are loaded into the inner tube from the furnace port at the lower end while being aligned and held vertically by the boat ( Boat loading) and the raw material gas is introduced into the inner tube from the gas inlet pipe. By the process tube is heated by the heater unit, CVD film is configured to be deposited on the wafer.
[0003]
In a conventional CVD apparatus of this type, a heat insulating unit such as alumina or silica is used as a heater unit, and a heat insulating wall formed into a long cylindrical shape that entirely covers a process tube by a vacuum foam (vacuum suction molding) method. A heating element formed by using an iron-chromium-aluminum (Fe-Cr-Al) alloy or molybdenum silicide (MoSi 2 ), and a case for covering a heat insulating wall. Is laid on the inner periphery of the heat insulating wall.
[0004]
When performing rapid heating at 30 ° C./min or more in such a heater unit, a heating element formed in a plate shape is used to increase the effective heating area. When this plate-shaped heating element is used, a power supply section for supplying electricity to the heating element is configured as follows. The plate-shaped heating element is bent at a right angle in the thickness direction and penetrates the heat insulating wall, and the penetrating portion is further bent at a right angle, and the power supply terminal is connected to the bent portion. A separate heating element is also welded to the bent portion of the power supply section to reinforce the power supply section in order to prevent the ramp from being caused by thermal expansion during heat generation. In addition, a separate heating element having the same plate shape as the heating element is used as a crossover connecting the upper and lower heating elements at the outer bent portion. Similarly, a separate heating element having a plate shape is used as the power supply terminal, and is drawn out of the case.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, since there is no heating element between the bent portions of the heating elements, the heating temperature is reduced, so that the temperature distribution in the wafer surface decreases toward the bent portion. Since the deviation of the temperature distribution in the wafer surface directly affects the film formation result, the film formation speed on the bent portion side becomes slow, and the film thickness distribution is seriously affected.
[0006]
An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of preventing a temperature drop in a power supply unit without a heating element.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
A first means for solving the problem is that a heating element having a pair of power supply portions is laid on an inner periphery of a heat insulating wall formed in a cylindrical shape, and the pair of power supply portions is a heat-resistant holder. Are held in a state of being insulated from each other.
[0008]
According to the above-described first means, the pair of power supply units held by the holder can be brought close to each other, so that a temperature drop in the power supply unit without a heating element can be suppressed to a minimum.
[0009]
A second means for solving the problem is that a plurality of heating elements having a pair of power supply portions are arranged in the same direction as the cylinder core on the inner periphery of a heat-insulating wall formed in a cylindrical shape. It is characterized in that the pair of power supply portions of the heating element are shifted in the circumferential direction.
[0010]
According to the above-described second means, since the power supply units without the heating elements are not arranged in a line, it is possible to disperse the portion where the temperature decreases, and to suppress the influence on the heating temperature distribution of the plurality of heating elements. Can be.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0012]
As shown in FIG. 1, a CVD apparatus (batch type vertical hot wall type reduced pressure CVD apparatus) which is an embodiment of a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention is disposed vertically and fixedly supported. A vertical process tube 1 is provided. The process tube 1 includes an
[0013]
The
[0014]
An
[0015]
A
[0016]
The boat 11 has a pair of upper and
[0017]
Outside the
[0018]
As shown in FIG. 2, the
[0019]
[0020]
A pair of insertion grooves 39 and 40 are formed at positions corresponding to the pair of
[0021]
As shown in FIG. 3, a
[0022]
As shown in FIG. 4, a
[0023]
Next, construction work of the
[0024]
In constructing the
[0025]
The
[0026]
Since the operation of the
[0027]
According to the embodiment, the following effects can be obtained.
[0028]
1) By holding the pair of power supply units of the heating element in a state in which they are insulated from each other by the heat-resistant holder, the pair of power supply units held by the holder can be brought close to each other. Can be suppressed to a minimum.
[0029]
2) By displacing the pair of power supply units of the plurality of heating elements in the circumferential direction, the power supply unit, which is a part where the temperature of the heating elements decreases, can be dispersed. The influence can be suppressed.
[0030]
3) By setting the cross-sectional area of the pair of power supply sections to be small, the section resistance value in the power supply section can be increased and the power supply section can also generate heat effectively. Can be prevented.
[0031]
4) By forming the crossover in the shape of a round bar, heat radiation from the surface of the crossover can be suppressed to a small extent, so that it is possible to prevent a decrease in temperature at the power supply section of the heating element.
[0032]
5) By covering a terminal case for covering the connection portion and the crossover wire at a position corresponding to the installation position of the power supply terminal on the outer peripheral surface of the heater unit case, and filling the inside of the terminal case with a heat insulating material such as glass wool. In addition, since the heat radiation at the connection portion and the crossover can be suppressed, it is possible to prevent the temperature at the power supply portion of the heating element from decreasing.
[0033]
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that various changes can be made without departing from the gist of the present invention.
[0034]
For example, the heating element is not limited to winding one turn (one turn) around the heat insulating block, and may be wound two turns (two turns) or more. Further, the mounting structure of the heating element is not limited to being configured to be mounted in the mounting groove by the holding tool as in the above-described embodiment, and is configured such that an anchor protruding from the heating element is inserted into the main body of the heat insulating block and mounted. Alternatively, the heating element may be configured to be attached to the heat insulating block by an attachment pin.
[0035]
The case is not limited to providing a gap between the heat insulating wall and the case, and the case may be covered so as to be in close contact with the heat insulating wall.
[0036]
The heater unit, the heat insulating wall, the case, and the like are not limited to being formed in a cylindrical shape, and may be formed in a square cylindrical shape or a polygonal cylindrical shape.
[0037]
The CVD apparatus is not limited to the batch type vertical hot wall type reduced pressure CVD apparatus, and may be another CVD apparatus such as a horizontal hot wall type reduced pressure CVD apparatus.
[0038]
Further, the semiconductor manufacturing apparatus is not limited to the CVD apparatus, but may be an oxide film forming apparatus, a diffusion apparatus, or a heat treatment apparatus (thermal treatment) such as reflow and annealing for carrier activation or planarization after ion implantation (thermal treatment). Furnace) can be applied to all semiconductor manufacturing apparatuses.
[0039]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the temperature distribution in the substrate surface can be improved, the number of sheets processed in a unit time is increased, which greatly contributes to the improvement of the throughput and the production efficiency. Performance can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front sectional view showing a CVD apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 2A and 2B show a main part of the heater unit, wherein FIG. 2A is a perspective view and FIG. 2B is a side sectional end view.
3 (a) is a plan view, FIG. 3 (b) is a view along arrow bb in FIG. 3 (a), and FIG. 3 (c) is a front view.
FIG. 4 is a perspective view of a heater unit.
[Explanation of symbols]
W: Wafer (substrate), 1: Process tube, 2: Inner tube, 3: Outer tube, 4: Processing chamber, 5: Furnace, 6: Manifold, 7: Exhaust pipe, 8: Exhaust path, 9:
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007088325A (en) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Heat insulation wall, heating element hold structure, heating device, and substrate processing equipment |
JP2007088324A (en) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Heating element holding structure, insulated structure, heating unit and substrate processing equipment |
US7974525B2 (en) | 2007-02-28 | 2011-07-05 | Tokyo Electron Limited | Heat processing furnace and vertical-type heat processing apparatus |
JP2012033926A (en) * | 2011-07-19 | 2012-02-16 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Insulation structure, heating apparatus and substrate processing apparatus |
US8395096B2 (en) | 2009-02-05 | 2013-03-12 | Sandvik Thermal Process, Inc. | Precision strip heating element |
JP2015179820A (en) * | 2014-03-18 | 2015-10-08 | ユ−ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド | Board processing device having heater that can adjust heating temperature in accordance with height of process space |
CN111261548A (en) * | 2018-12-03 | 2020-06-09 | 昭和电工株式会社 | SiC chemical vapor deposition apparatus and method for manufacturing SiC epitaxial wafer |
-
2002
- 2002-07-05 JP JP2002197082A patent/JP3881937B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007088325A (en) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Heat insulation wall, heating element hold structure, heating device, and substrate processing equipment |
JP2007088324A (en) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Heating element holding structure, insulated structure, heating unit and substrate processing equipment |
KR100719307B1 (en) | 2005-09-26 | 2007-05-18 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | Supporting structure of a heating element, insulating structure, heating device and substrate processing apparatus |
KR100742451B1 (en) | 2005-09-26 | 2007-07-25 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | Supporting structure of a heating element, insulating structure, heating device and substrate processing apparatus |
CN100452291C (en) * | 2005-09-26 | 2009-01-14 | 株式会社日立国际电气 | Retainer tectosome, insulation tectosome and heating arrangement of heater |
TWI401728B (en) * | 2007-02-28 | 2013-07-11 | Tokyo Electron Ltd | Heat treatment furnace and vertical heat treatment device |
KR101148728B1 (en) * | 2007-02-28 | 2012-05-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | Heat treatment furnace and vertical heat treatment apparatus |
US7974525B2 (en) | 2007-02-28 | 2011-07-05 | Tokyo Electron Limited | Heat processing furnace and vertical-type heat processing apparatus |
US8395096B2 (en) | 2009-02-05 | 2013-03-12 | Sandvik Thermal Process, Inc. | Precision strip heating element |
JP2012033926A (en) * | 2011-07-19 | 2012-02-16 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Insulation structure, heating apparatus and substrate processing apparatus |
JP2015179820A (en) * | 2014-03-18 | 2015-10-08 | ユ−ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド | Board processing device having heater that can adjust heating temperature in accordance with height of process space |
CN111261548A (en) * | 2018-12-03 | 2020-06-09 | 昭和电工株式会社 | SiC chemical vapor deposition apparatus and method for manufacturing SiC epitaxial wafer |
CN111261548B (en) * | 2018-12-03 | 2024-02-06 | 株式会社力森诺科 | SiC chemical vapor deposition apparatus and method for manufacturing SiC epitaxial wafer |
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