JP2004036906A - 火炎検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】火炎が発する紫外線を検出するUVチューブと、このUVチューブの受光部前面に選択的に位置付けられるシャッタと、UVチューブにより検出された紫外線強度に応じて所定時間に亘ってシャッタを閉じるシャッタ駆動回路と、シャッタが所定の周期で開閉駆動されたときにオン動作して火炎検出信号を出力するフレームリレー回路とを備える。更にフレームリレー回路および/またはシャッタ駆動回路の動作とUVチューブの出力とを所定時間に亘る履歴として記憶し、フレームリレー回路のオフ時における記憶情報に従って消炎検出時における火炎検出動作の挙動を診断する診断手段を備える。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、消炎検出時における検出動作の挙動から、装置各部の機能を診断する機能を備えた火炎検出装置に関する。
【0002】
【関連する背景技術】
紫外線センサの一種である紫外線検出用放電管(UVチューブ)は、紫外線を受けて放電を生起する一対の放電電極を円筒形のガラス管内に封入したもので、例えばガスバーナの燃焼状態をモニタする火炎検出器として用いられる。この種のUVチューブを用いた火炎検出装置は、概略的には図8に示すようにUVチューブ1の受光部前面に選択的に位置付けられて紫外線の入力を阻止するシャッタ2を備える。そしてUVチューブ駆動回路3により高電圧が印加されて駆動されるUVチューブ1の放電電流をUVレベル検出回路4にて検出し、UVチューブ1が受光した紫外線強度に相当するUV出力電圧(UVレベル)を求めるように構成される。尚、典型的には特公昭44−1039号公報に紫外線検出用放電管(UVチューブ)の構成が示され、また特公昭47−7878号公報にその検出回路が開示される。
【0003】
ちなみに火炎検出装置においては前記UVチューブ1の自己放電を防ぐべく、一般的にはレベル判定回路5を用いて上記UVレベルを所定の判定閾値と比較して、UVレベルが上記判定閾値を越えたときにはシャッタ周期設定回路6の制御の下でシャッタ駆動回路7を駆動して、所定時間に亘って前記UVチューブ1への紫外線の入力を遮断するようにしている。尚、図中2aは前記シャッタ駆動回路7により導通駆動されて前記シャッタ2を開くソレノイドコイルである。
【0004】
具体的には、図9にその動作波形を示すようにシャッタ2が開いているときのUVチューブ1の放電電流から紫外線強度に対応したUV出力電圧を求めて、このUV出力電圧が所定の判定閾値Vthに達したとき、所定時間Toffに亘って前記シャッタ2を閉じている。そして上述したUV電圧の検出とシャッタ2の閉動作が周期的に繰り返されるとき、フレームリレー回路8をオン動作させて火炎検出を示すフレームリレー信号を出力するものとなっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところでUVチューブ1は真空管の一種であり、使用時間の経過に伴ってその特性が次第に劣化することが否めない。そしてUVチューブ1の性能劣化は、そのまま火炎検出装置における火炎検出性能の低下の要因となる。しかしUVチューブ1は高価な電子部品なので、一般的には所期の性能が維持されている限り最大限に使用することが望ましい。そこで本出願人は、例えば特開平5−12581号公報に開示するように、シャッタ2を閉じた後のUVチューブの出力を監視することで、UVチューブ1の特性劣化を判定することを提唱した。
【0006】
しかしながらこのようなUVチューブ1の特性判定機能を備えていても、従来一般的には、火炎検出装置から出力されるフレームリレー信号からガスバーナ等の燃焼状態(火炎の有無)をモニタしているだけなので、火炎検出装置として正常に消炎を検出したのか、或いは誤動作等により消炎検出状態となったのかを判定することができないと言う不具合がある。即ち、例えばUVチューブ1の性能が劣化してその出力が低下した場合、これを消炎として誤検出してフレームリレー信号(火炎検出信号)がオフする虞がある。またシャッタ機構に故障が生じてシャッタ2が閉じたままの状態となった場合にも、これを消炎として誤検出して前記フレームリレー信号がオフする虞がある。
【0007】
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、その目的は、装置各部の機能、特にUVチューブの性能やシャッタ機構の動作等を自己診断することのできる機能を備えた火炎検出装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上述した目的を達成するべく本発明に係る火炎検出装置は、火炎が発する紫外線を検出するUVチューブ等の紫外線センサと、この紫外線センサの受光部前面に選択的に位置付けられて前記紫外線の入力を阻止するシャッタと、前記紫外線センサにより検出された紫外線強度に応じて所定時間に亘って前記シャッタを閉じるシャッタ駆動回路と、前記シャッタが所定の周期で開閉駆動されたときにオン動作して火炎検出信号を出力するフレームリレー回路とを備えたものであって、
特に前記フレームリレー回路および/または前記シャッタ駆動回路の動作と前記紫外線センサの出力とを所定時間に亘る履歴として記憶する履歴記憶手段と、
前記フレームリレー回路のオフ時における上記履歴記憶手段の記憶情報に従って消炎検出時における火炎検出動作の挙動を診断する診断手段と
を備えたことを特徴としている。
【0009】
より具体的には前記紫外線センサは、紫外線を受けて放電を生起する紫外線検出用放電管(UVチューブ)であって、前記履歴記憶手段は、所定時間毎に前記フレームリレー回路の出力、前記シャッタ駆動回路の動作状態、および前記紫外線検出用放電管の平均出力(フレーム電圧)とその放電回数をそれぞれ記憶するように構成される。そして前記診断手段においては、フレームリレー信号がオフとなったとき(消炎を検出したとき)、前記履歴記憶手段に残されている所定時間に亘るフレーム電圧の変化やシャッタの開閉回数、更にはUVチューブの放電回数等から、その消炎検出が正常の行われたか否か、また異常である場合には、その異常原因が何であるかを推定し得るようにしたことを特徴としている。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の一実施形態に係る火炎検出装置について説明する。
図1はこの実施形態に係る火炎検出装置の要部概略構成を示すもので、前述した図4に示した火炎検出装置と同一部分には同一符号を付して示してある。この装置が特徴とするところは、前記UVチューブ1の放電パルスを検出してその放電回数を計測するための放電パルス検出回路11を備えると共に、前記シャッタ周期設定回路6が出力する前記シャッタ2のオン/オフ制御信号、前記フレームリレー回路8の動作状態を示すフレームリレー信号およびフレーム電圧を入力する診断装置12を備える点にある。
【0011】
この診断装置12は、例えばマイクロコンピュータからなるもので、所定のサンプリング周期ΔT毎に前記フレームリレー回路8から出力されるフレームリレー信号Fを検出し、更に前記シャッタ2の開閉状態(シャッタ信号S)と上記サンプリング周期ΔT内におけるUVセンサ1の平均出力(フレーム電圧Vf)とその放電回数Nとをそれぞれ検出するように構成される。特に診断装置12は、RAM等からなる内部メモリ13を備え、上述した如く所定のサンプリング周期ΔT毎に検出した火炎検出装置の動作を示す情報(フレームリレー信号F,フレーム電圧Vf,シャッタ信号S,および放電回数N)を所定時間Tに亘る動作履歴として記憶するものとなっている。
【0012】
即ち、UVチューブ1は、例えば図2に示すように倍電圧整流回路からなるUVチューブ駆動回路3により高電圧が印加されて駆動されるもので、前記放電パルス検出回路11は、このUVチューブ1に流れる放電電流によって発光駆動される発光ダイオード11aの光をフォトトランジスタ11bを介して検出し、これによって前記UVチューブ1のパルス放電を検出する如く構成される。尚、UVチューブ駆動回路3の出力として表れる放電電流量に相当するUV出力電圧の変化からその放電を検出することも勿論可能である。しかしUV出力電圧の出力レベルが低い場合、或いは1回の放電しか生じないような場合には、その放電を確実に検出することが困難となる虞があるので、上述したようにUVチューブ1に流れる放電電流そのものを検出して該UVチューブのパルス放電を検出することが好ましい。
【0013】
一方、前述したフレームリレー回路8は、例えば図3に示すように前記シャッタ周期設定回路6が出力するシャッタ閉信号(シャッタ信号Sに相当)を受けてスイッチ動作する相補型スイッチ回路8aを備え、このスイッチ回路8aを介してコンデンサ8b,8cの充電を制御することで、リレー8dを十分に長い時定数でオン・オフ制御するように構成される。
【0014】
ちなみに図3に例示するフレームリレー回路8においてはシャッタ閉信号がないとき(Lレベル)、npnトランジスタを介してコンデンサ8bが所定電圧まで充電されている。この状態においてシャッタ閉信号(Hレベル)が与えられると、前記npnトランジスタに代えてpnpトランジスタが導通して前記コンデンサ8bに蓄えられた電荷によりコンデンサ8cが充電されてリレー8dがオンする。そしてコンデンサ8b,8cの電荷が完全に放電される前に再び前記シャッタ閉信号がなくなると、これによって前記コンデンサ8bが再度充電される。この動作が繰り返される間、前記コンデンサ8cに所定の電荷が蓄えられて前記リレー8dがオン状態に保たれる。そして前記UVチューブ1による火炎の検出がなくなり、これに伴って前記シャッタ閉信号の入力がなくなると前記コンデンサ8cの充電電荷が放電され、前記リレー8dがオフ動作する。このようなリレー8dのオン・オフ動作が、例えばそのリレー接点の出力として、或いはこのリレー8dによって動作制御される第2のリレー8eを介して前述したフレームリレー信号(火炎検出信号)Fとして出力される。
【0015】
また前述したフレーム電圧Vfは、前記UVチューブ1の放電に伴う前記UVレベル変換回路4の出力(UV出力電圧)をフィルタリングするフレーム電圧変換回路14により、その平均出力として求められる。ちなみにこのフレーム電圧(平均出力)Vfは、前述したシャッタ2が開いている期間において、前記UVチューブ1の放電回数が多くなるほど次第に高くなり、放電回数が少なくなるに従って次第に低下する。
【0016】
さて上述した如く構成された放電パルス検出回路11により求められる放電パルス、前記シャッタ周期設定回路6から得られるシャッタ信号S(シャッタ閉信号)、前記フレームリレー回路8の動作状態を示すフレームリレー信号Fおよび前記フレーム電圧変換回路14により求められたフレーム電圧Vfを入力する診断装置12は、例えば図4に示す処理手順に従って動作する。即ち、診断装置12は、火炎検出装置の電源が投入されたとき、先ず前記内部メモリ13に対するデータ格納位置を初期化すると共に、サンプリング周期ΔTを管理するタイマを初期化する〈ステップS1,S2〉。しかる後、前記フレームリレー信号Fがオンであるかオフであるか判定する〈ステップS3〉。
【0017】
そしてフレームリレー信号Fがオンであるならば、前記フレームリレー回路8におけるフレーム電圧Vfを取得する〈ステップS4〉。具体的には図4(b)に示すように監視装置(マイクロコンピュータ)12のA/Dポートに入力される電圧ADを調べ〈ステップS4a〉、先に求められている平均電圧ADaveと今回求めた電圧ADとの平均値を、新たな平均電圧ADavr[=(ADave+AD)/2]として求めている〈ステップS4b〉。
【0018】
次いで前記シャッタ2の状態を監視して、該シャッタ2が開であるか、閉であるか、或いは閉状態に移行するエッジであるかを判定する〈ステップS5〉。特にシャッタ2が開であることを確認する。その後、前記UVチューブ1における放電を監視する〈ステップS6〉。この放電の監視は、図4(c)に示すように前記放電パルス検出回路11により求められる放電パルスの有無から放電が生じているか否かを判定し〈ステップS6a〉、放電パルスが存在している場合には、その放電パルス数Nを計数する〈ステップS6b〉。尚、シャッタが閉であるにも拘わらず放電パルスが検出されるような場合には、後述するようにシャッタ動作不良(故障)に対する処理を実行する。
【0019】
このようなステップS4〜S6の処理を、前述したタイマにより管理されているサンプリング周期ΔTが到来するまで繰り返し実行する〈ステップS7〉。そしてタイマーにより管理されている所定の時間ΔTに達したとき、上記タイマを再び初期化した後〈ステップS8〉、次に前記データ格納位置が、その最大アドレスに達したか否かを判定する〈ステップS9〉。そして最大アドレスに達していない場合には、前記データ格納位置(アドレス)に従って前述したステップS4〜S6において求めた監視データを内部メモリ13に格納する〈ステップS11〉。このデータの格納は、図4(d)に示すように内部メモリ13のデータ格納位置(アドレス)を指定し〈ステップS11a〉、そのアドレスに前述した平均電圧ADavr、シャッタ信号S、放電パルス数Nをそれぞれ書き込むことによってなされる〈ステップS11b,11c,11d〉。
【0020】
しかる後、前述したデータ格納位置を次のアドレス(データ格納位置)に更新し〈ステップS12〉、前述したステップS3からの処理を繰り返し実行する。この繰り返し処理によって前記内部メモリ13には、例えば図5に示すように所定のサンプリング周期ΔT毎に検出された監視データが順に動作状態履歴として記録される。
【0021】
この際、前述したステップS9において、前記データ格納位置(アドレス)がその最大アドレスに達した場合には、そのデータ格納位置(アドレス)を再度初期化した上で〈ステップS10〉、前記内部メモリ13への監視データの記録が実行される。この処理によって内部メモリ13には、最も古いデータから順に最新の監視データが上書きされる。この結果、内部メモリ13には常に最新の所定の時間(サンプリング周期ΔT×サンプリング回数n)に亘る監視データが登録されることになる。
【0022】
尚、上述した処理過程において、例えばステップS3による判定からフレームリレー信号Fがオンからオフに移行したことが検出された場合には、つまり消炎が検出された場合には、その直前に監視データが書き込まれた内部メモリ13のデータ格納位置に終了マークを付し、火炎検出時における最後の監視データである旨を識別表示することが好ましい。このような終了マークを記録しておけば、以下に示す火炎検出装置の動作状態解析を実行する上でのデータ処理を容易に行うことが可能となる。
【0023】
さて火炎検出装置の動作状態解析は、例えば前述したフレームリレー信号Fがオフに変位し、消炎が検出されたことを以て起動される。
この動作解析は、前述した終了マークが記録されたデータ格納位置を基準として内部メモリ13のデータ格納位置を遡りながら、消炎検出直前の所定時間(サンプリング周期ΔT×サンプリング回数n)に亘る監視データを求め、これらの監視データを、例えば図6または図7に示すようにグラフ化して実行される。そして上記所定時間におけるフレーム電圧Vfの変化の動向や、シャッタ信号Sの変化の様子、更にはUVチューブ1の前述したサンプリング周期ΔT毎の放電回数Nをそれぞれ調べることによって、消炎検出時直前の火炎検出動作の挙動を調べることで、異常(故障)の有無や、異常(故障)発生箇所の推定が行われる。
【0024】
具体的には図6に示すようにフレーム信号Fがオフとなる前にシャッタ2が開き、これに伴ってフレーム電圧Vfが徐々に低下しており、またシャッタ2が開いているにも拘わらずUVチューブ1の放電がなくなっていることが示された場合には、火炎検出装置の各部がそれぞれ正常に機能して火炎がなくなったこと(消炎したこと)を検出したとして判定される。
【0025】
これに対して図7に示すようにフレームリレー信号Fがオフとなる前にシャッタ2が閉じたにも拘わらずフレーム電圧Vfが次第に上昇すると共に、放電パルスも検出されていることが示されるような場合には、例えばフレームリレー回路8が故障している、或いはシャッタ駆動回路7が故障している、若しくはUVチューブ1が故障している判定される。このような故障判定と、その故障原因の推定は、火炎検出装置における他の動作の挙動を調べることにより、より精度良く調べることができる。
【0026】
具体的にはシャッタ2を閉じたときのUVチューブ1の放電回数を調べれば、シャッタ2を閉じたにも拘わらず多くの放電が検出された場合には、UVチューブ1の特性が劣化していると判定することができる。またフレームリレー信号FがオフであるときのUVチューブ1の放電回数を調べることにより、UVチューブ1の善し悪しを判定することができる。更にはシャッタ2が開のときの放電回数と、シャッタ2が閉のときの放電回数とを対比すれば、UVチューブ1の相対的な感度の劣化を判断することができる。
【0027】
更には上記各条件下での初期状態における放電回数を記憶しておき、各放電回数の初期状態からの変化の程度を調べれば、例えば火炎から発せられた紫外線を受光する窓部の汚れに起因して、その出力が低下していることを推定することも可能となる。また前述した図2に示した如く発光ダイオード11aの発光をフォトトランジスタ11bにて検出してUVチューブ1の放電を検出する放電パルス検出回路11によれば、UVチューブ1を介して流れる電流そのものを検出するので、放電時に流れる電流波形と短絡時に流れる電流波形との違いから、つまり電流波形の違いに起因する検出パルス幅の違いからUVチューブ1の短絡を検出することも可能となる。
【0028】
従って上述した如く構成された火炎検出装置によれば、フレームリレー信号Fがオフした直前の所定時間に亘る監視データから、正常に機能して消炎を検出したか、或いはUVチューブ1から得られた偽信号によりフレームリレー信号Fがオフしたのかを容易に、しかも的確に判定することができる。従って火炎検出装置のメインテナンスの容易化を図ると共に、UVチューブ1の特性劣化に伴う交換時期等を的確に判断することができる等の実用上多大なる効果が奏せられる。更には動作の不具合が検出された場合には、どの部位に不具合が発生したのかを容易に推定することが可能となる等の効果が奏せられる。
【0029】
尚、本発明は上述した実施形態に限られるものではない。例えばフレームリレー回路8の構成や、放電パルス検出回路11の構成は、上述した回路例に限定されるものではない。またここでは診断装置12をマイクロコンピュータにて実現するものとしたが、専用のハードウェア回路を構築しても良いことは言うまでもない。
【0030】
更にはUVチューブ1に代えて半導体等を用いた固体紫外線センサを用いる場合も同様に適用することができる。但し、この場合には、放電回数に代えてUV検出出力そのものを監視データとして収集するようにすれば良い。また前述した所定時間Tに亘る監視データの収集は、例えばサンプリング周期ΔTを0.5秒とした場合、10秒程度に設定すれば十分である。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、フレームリレー回路および/または前記シャッタ駆動回路の動作と前記紫外線センサの出力とを所定時間に亘る履歴として記憶し、前記フレームリレー回路のオフ時における上記記憶情報に従って消炎検出時における検出動作の挙動を診断するので、装置が正常に機能している状態は勿論のこと、異常がある場合にはその異常発生箇所を容易に推定することができる。従ってそのメインテナンスの容易化を図ると共に、紫外線センサの特性劣化に伴う交換時期を適切に判定することができる等の実用上多大なる効果が奏せられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る火炎検出装置の要部概略構成図。
【図2】図1に示す火炎検出装置における放電パルス検出回路の構成例を示す図。
【図3】図1に示す火炎検出装置におけるフレームリレー回路の構成例を示す図。
【図4】診断装置における監視データの収集処理手順の例を示す図。
【図5】内部メモリに記憶される監視データの例を示す図。
【図6】内部メモリに記憶された履歴データに基づく火炎検出動作の挙動を示すグラフ化データの例を示す図。
【図7】内部メモリに記憶された履歴データに基づく火炎検出動作の挙動を示すグラフ化データの別の例を示す図。
【図8】従来の火炎検出装置の要部概略構成図。
【図9】火炎検出装置の基本動作を示す波形図。
【符号の説明】
1 UVチューブ(紫外線センサ)
2 シャッタ
3 UVチューブ駆動回路
4 UVレベル検出回路
6 シャッタ周期設定回路
7 シャッタ駆動回路
8 フレームリレー回路
11 放電パルス検出回路
12 診断装置
13 内部メモリ
14 フレーム電圧変換回路
Claims (2)
- 火炎が発する紫外線を検出する紫外線センサと、
この紫外線センサの受光部前面に選択的に位置付けられて前記紫外線の入力を阻止するシャッタと、
前記紫外線センサにより紫外線強度に応じて所定時間に亘って前記シャッタを閉じるシャッタ駆動回路と、
前記シャッタが所定の周期で開閉駆動されたときにオン動作して火炎検出信号を出力するフレームリレー回路と、
このフレームリレー回路および/または前記シャッタ駆動回路の動作と前記紫外線センサの出力とを所定時間に亘る履歴として記憶する履歴記憶手段と、
前記フレームリレー回路のオフ時における上記履歴記憶手段の記憶情報に従って消炎検出時における検出動作の挙動を診断する診断手段と
を備えたことを特徴とする火炎検出装置。 - 前記紫外線センサは、紫外線を受けて放電を生起する紫外線検出用放電管であって、
前記履歴記憶手段は、所定時間毎に前記フレームリレー回路の出力、前記シャッタ駆動回路の動作状態、および前記紫外線検出用放電管の平均出力とその放電回数をそれぞれ記憶するものである請求項1に記載の火炎検出装置。
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- 2002-06-28 JP JP2002190320A patent/JP3909490B2/ja not_active Expired - Lifetime
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