JP2004031996A - Wiring board and its manufacturing method - Google Patents

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Tomoe Suzuki
鈴木 友恵
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring board which improves a connecting accuracy of an electronic part by substantially equalizing diameters of top faces of flattened solder bumps irrespective of the presence or absence of a solid layer, and to provide a method for manufacturing the same. <P>SOLUTION: The method for manufacturing the board 1 comprises a solder paste printing step of coating a plurality of pads 22 opened on a main surface 2 side with solder pastes, a reflowing step of forming a substantially semispherical solder bump by melting the coated solder paste, and a flattening step of forming the flattened solder bump 25 by pressing a top of the substantially semispherical solder bump by a flat pressing surface. In the solder paste printing step, the first pad 22B is coated with a smaller amount of the solder paste than a second pad 22C according to whether the pad 22 is the first pad 22B formed with the solid layer 21 on a region to which oneself is projected to a rear surface side via one or a plurality of resin insulating layers or not, or whether the pad 22 is the second pad 22C in which the solid layer 21 does not exist on a region in which oneself is projected on the rear surface side or not. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

 本発明は、主面側に突出するハンダバンプの頂面が平坦化された平坦化ハンダバンプを備える配線基板及びその製造方法に関する。 {Circle over (1)} The present invention relates to a wiring board having flattened solder bumps in which the top surfaces of the solder bumps protruding toward the main surface are flattened, and a method of manufacturing the same.

 従来より、樹脂絶縁層とこの上に形成された所定パターンの導体層とを有する配線基板の一例として、図5に主面側の部分拡大断面図を示す基板101が知られている。この基板101は、その中心にコア基板(樹脂絶縁層)103を備える。コア基板103の両面には1又は複数の樹脂絶縁層105が積層され、さらにその外側には、ソルダーレジスト層(樹脂絶縁層)107が積層されて、主面を構成している。 Conventionally, as an example of a wiring substrate having a resin insulating layer and a conductor layer of a predetermined pattern formed thereon, a substrate 101 shown in FIG. This substrate 101 includes a core substrate (resin insulating layer) 103 at the center thereof. One or a plurality of resin insulating layers 105 are laminated on both surfaces of the core substrate 103, and a solder resist layer (resin insulating layer) 107 is laminated on the outside thereof to form a main surface.

 このうち、コア基板103には、これを貫通する略筒状のスルーホール導体111が所定の位置に複数形成され、その内側には樹脂製穴埋め材112が充填されている。また、樹脂絶縁層105には、これを貫通するビア用貫通孔113が、所定の位置に複数形成され、各ビア用貫通孔113には、ビア導体115が形成されている。また、ソルダーレジスト層107には、これを貫通し底面にパッド116が露出するパッド用開口117が所定の位置に複数形成されている。さらに、コア基板103と樹脂絶縁層105との層間には、配線やパッド等の所定パターンの第1導体層118が形成され、コア基板103のスルーホール導体111や樹脂絶縁層105のビア導体115と接続している。また、樹脂絶縁層105とソルダーレジスト層107との層間にも、配線やパッド等の所定パターンの第2導体層119が形成され、ビア導体115と接続している。複数の樹脂絶縁層105が積層される場合には、その複数の樹脂絶縁層105同士の層間にも、導体層が形成される。 A plurality of substantially cylindrical through-hole conductors 111 penetrating the core substrate 103 are formed at predetermined positions, and the inside of the core substrate 103 is filled with a resin filling material 112. In the resin insulating layer 105, a plurality of via through holes 113 penetrating therethrough are formed at predetermined positions, and a via conductor 115 is formed in each via through hole 113. In the solder resist layer 107, a plurality of pad openings 117 that penetrate the solder resist layer 107 and expose the pads 116 on the bottom surface are formed at predetermined positions. Further, a first conductor layer 118 having a predetermined pattern such as a wiring or a pad is formed between the core substrate 103 and the resin insulation layer 105, and a through-hole conductor 111 of the core substrate 103 and a via conductor 115 of the resin insulation layer 105 are formed. Is connected to Further, a second conductor layer 119 having a predetermined pattern such as a wiring and a pad is formed between the resin insulating layer 105 and the solder resist layer 107, and is connected to the via conductor 115. When a plurality of resin insulation layers 105 are stacked, a conductor layer is also formed between the plurality of resin insulation layers 105.

 このような基板101のソルダーレジスト層107に形成されたパッド116には、電気的接続のための端子として、ハンダや金などによって盛り上がったバンプが形成される。さらに、基板101に搭載される電子部品(例えば、ICチップやチップコンデンサ、チップ抵抗など)との接続を確実にするため、それぞれのバンプの頂面が平坦な押圧面で平坦化されて、平坦化ハンダバンプ120が形成されている。 (4) On the pads 116 formed on the solder resist layer 107 of the substrate 101, bumps raised by solder, gold, or the like are formed as terminals for electrical connection. Further, in order to ensure connection with electronic components (for example, IC chips, chip capacitors, chip resistors, etc.) mounted on the substrate 101, the top surfaces of the respective bumps are flattened by flat pressing surfaces, and Solder bumps 120 are formed.

 ところが、このような基板101では、樹脂絶縁層105としてほぼ均一な厚さの樹脂が用いられる。そのため、層間の第1導体層118や第2導体層119に、配線やパターンが形成された部分の樹脂絶縁層105は、やや盛り上がった状態となる。樹脂絶縁層105を形成する際には、加熱しながらプレスするので、その表面はある程度平滑化される。しかし、例えば、図6に示すように、第1導体層118の一部としてある程度の面積を持って拡がるベタ層121が形成された部分については、その上に形成された樹脂絶縁層105は、他の部分に比較してやや盛り上がった状態となることが避けられない。そのため、ベタ層121を主面側に投影した領域内に設けられている第1パッド116Bは、その他の領域の第2パッド116Cと比較して相対的に盛り上がった位置に形成されることとなる。 However, in such a substrate 101, a resin having a substantially uniform thickness is used as the resin insulating layer 105. Therefore, the portion of the resin insulating layer 105 where the wiring and the pattern are formed in the first conductive layer 118 and the second conductive layer 119 between the layers is in a slightly raised state. When the resin insulating layer 105 is formed, the surface is smoothed to some extent because pressing is performed while heating. However, for example, as shown in FIG. 6, the resin insulating layer 105 formed on the portion where the solid layer 121 which spreads with a certain area as a part of the first conductor layer 118 is formed It is inevitable that the state will be slightly raised compared to other parts. Therefore, the first pad 116B provided in the area where the solid layer 121 is projected on the main surface side is formed at a relatively raised position as compared with the second pad 116C in the other area. .

 そのため、第1パッド116Bに形成されたハンダバンプ122Bと、第2パッド116Cに形成されたハンダバンプ122Cとは、図6に点線で示したように、同じ大きさであっても、その頂点の位置はやや異なる。これらのハンダバンプ122B,122Cを、同一の平坦な押圧面123で押圧して平坦化することで、それぞれの頂面が押圧面123まで押圧され、第1平坦化ハンダバンプ120B、第2平坦化ハンダバンプ120Cが形成される。すなわち、頂面の位置が異なった分、平坦化されるために押しつぶされたハンダの量も異なり、平坦化ハンダバンプ120Bの頂面の径M1は、平坦化ハンダバンプ120Cの頂面の径M2に比較して、大きくなる。測定したところ、パッド位置の高さの差が2〜3μmでも、平坦化ハンダバンプ120の頂面の径の差が10μm程度であることがわかった。 Therefore, even if the solder bumps 122B formed on the first pad 116B and the solder bumps 122C formed on the second pad 116C have the same size as shown by the dotted line in FIG. Somewhat different. By pressing these solder bumps 122B and 122C with the same flat pressing surface 123 and flattening, the respective top surfaces are pressed to the pressing surface 123, and the first flattening solder bump 120B and the second flattening solder bump 120C are formed. Is formed. That is, the amount of the solder crushed for flattening differs by the difference in the position of the top surface, and the diameter M1 of the top surface of the flattened solder bump 120B is compared with the diameter M2 of the top surface of the flattened solder bump 120C. Then it gets bigger. As a result of the measurement, it was found that the difference in the diameter of the top surface of the flattened solder bump 120 was about 10 μm even when the difference in height between the pad positions was 2 to 3 μm.

 このような基板101に搭載される電子部品の接続端子は非常に均一に形成されているのに対し、基板101の平坦化ハンダバンプ120の頂面の径に差があることから、基板101に電子部品等を搭載する際に、接続の精度にばらつきが生じる場合があった。 The connection terminals of the electronic components mounted on the substrate 101 are formed very uniformly, whereas the diameter of the top surface of the flattening solder bump 120 of the substrate 101 is different, so that the When mounting components or the like, the connection accuracy sometimes varies.

 本発明はかかる現状に鑑みてなされたものであって、ベタ層の有無にかかわらず、平坦化ハンダバンプの頂面の径をほぼ等しくすることで、電子部品との接続精度を向上させた配線基板およびその製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such a situation, and a wiring board having improved connection accuracy with an electronic component by making the diameter of the top surface of a flattening solder bump substantially equal regardless of the presence or absence of a solid layer. And a method for producing the same.

 その解決手段は、主面と裏面を有し、上記主面側に突出し、頂面がそれぞれ平坦化された複数の平坦化ハンダバンプを備える配線基板の製造方法であって、上記主面側に開口する複数のパッドにそれぞれハンダペーストを塗布するハンダペースト印刷工程であって、上記複数のパッドは、自己を上記裏面側に投影した領域に1又は複数の樹脂絶縁層を介してベタ層が形成されている第1パッドと、自己を上記裏面側に投影した領域にベタ層は存在しない第2パッドと、を有し、上記第1パッドには、上記第2パッドよりも少量の上記ハンダペーストを塗布するハンダペースト印刷工程と、塗布された上記ハンダペーストを溶解して略半球状のハンダバンプを形成するリフロー工程と、上記略半球状のハンダバンプの頂部を平坦な押圧面で押圧して上記平坦化ハンダバンプを形成する平坦化工程と、を備える配線基板の製造方法である。 The solution is a method of manufacturing a wiring board having a plurality of flattened solder bumps having a main surface and a back surface, protruding toward the main surface, and each having a top surface flattened. A solder paste printing step of applying a solder paste to each of the plurality of pads, wherein the plurality of pads are formed with a solid layer via one or a plurality of resin insulating layers in a region where the plurality of pads are projected on the back surface side. A first pad, and a second pad having no solid layer in a region where the self-projection is projected on the back surface side. The first pad is coated with a smaller amount of the solder paste than the second pad. A solder paste printing step of applying, a reflow step of dissolving the applied solder paste to form a substantially hemispherical solder bump, and pressing a top of the substantially hemispherical solder bump with a flat pressing surface. A method of manufacturing a wiring board and a planarization step of forming the flattening solder bumps with.

 本発明によれば、主面側に開口する複数のパッドに、ハンダペーストを塗布する。次に、その塗布されたハンダペーストを溶解して略半球状のハンダバンプにする。その後、ハンダバンプの頂部を平坦な押圧面で押圧して平坦化ハンダバンプを形成する。このうち、ハンダペーストを塗布するハンダペースト印刷工程においては、その塗布されるパッドを、自己を裏面側に投影した領域にベタ層が形成されているかどうかによって区分し、ベタ層が形成されている第1パッドには、ベタ層が形成されていない第2パッドよりも少量のハンダペーストを塗布する。 According to the present invention, a solder paste is applied to a plurality of pads opened on the main surface side. Next, the applied solder paste is dissolved to form a substantially hemispherical solder bump. Thereafter, the top of the solder bump is pressed with a flat pressing surface to form a flattened solder bump. Among these, in the solder paste printing step of applying a solder paste, the pad to be applied is divided according to whether or not a solid layer is formed in a region where the self is projected on the back surface side, and a solid layer is formed. A smaller amount of solder paste is applied to the first pad than to the second pad on which no solid layer is formed.

 一般に、配線基板全体の厚さは、層間にベタ層が形成されている部分では、ベタ層が形成されていない部分と比較して、相対的に厚くなる。そのため、平坦な押圧面で平坦化した場合には、第1パッドと押圧面との距離は、第2パッドと押圧面との距離よりも小さくなる。つまり、平坦化工程後のハンダバンプのパッドからの高さは、第1パッドでは、第2パッドより低いものとなる。そのため、第1パッドと第2パッドとに同一量のハンダペーストを塗布した場合には、第1パッドに形成される平坦化ハンダバンプは、第2パッドの場合より低く押圧されるために、その頂面の径は、第2パッドに形成される平坦化ハンダバンプの頂面の径に比較して大きいものとなる。 Generally, the thickness of the entire wiring board is relatively thick in a portion where a solid layer is formed between layers as compared with a portion where a solid layer is not formed. Therefore, when flattening is performed on the flat pressing surface, the distance between the first pad and the pressing surface is smaller than the distance between the second pad and the pressing surface. That is, the height of the solder bump from the pad after the planarization process is lower in the first pad than in the second pad. Therefore, when the same amount of solder paste is applied to the first pad and the second pad, the flattened solder bump formed on the first pad is pressed lower than in the case of the second pad. The diameter of the surface is larger than the diameter of the top surface of the flattened solder bump formed on the second pad.

 これに対して、本発明では、第1パッドに塗布するハンダペーストを、第2パッドに塗布するハンダペーストより少量としたので、第2パッドに形成されたハンダバンプの大きさより、第1パッドに形成されたハンダバンプの大きさの方が小さいものとなる。これらから、第2平坦化ハンダバンプの頂面の径と、第1平坦化ハンダバンプの頂面の径との差を小さくできる。従って、後でこの配線基板に電子部品を搭載するに際して、電子部品の接続端子との接続状態に関し、ベタ層の有無による第1パッドと第2パッドとについての差を小さくすることができる。 On the other hand, in the present invention, the amount of the solder paste applied to the first pad is smaller than that of the solder paste applied to the second pad. Therefore, the size of the solder paste formed on the second pad is smaller than that of the solder bump formed on the second pad. The size of the solder bump is smaller. Accordingly, the difference between the diameter of the top surface of the second flattened solder bump and the diameter of the top surface of the first flattened solder bump can be reduced. Therefore, when the electronic component is mounted on the wiring board later, the difference between the first pad and the second pad due to the presence or absence of the solid layer can be reduced with respect to the connection state between the electronic component and the connection terminal.

 なお、樹脂絶縁層の材質としては、絶縁性を有する樹脂であれば良く、例えば、エポキシ樹脂、BT樹脂等が用いられる。さらには、ガラス−エポキシ複合材料など、ガラス繊維やセラミック粉末などと樹脂との複合材料も含む。また、ベタ層は、樹脂絶縁層の層間に設けられる導体層であって、ある程度の面積を持って層間に拡がる部分である。また、ハンダバンプをなす金属としては、搭載される電子部品の接続端子等の材質等に応じて適宜選択すればよいが、90Pb−10Sn、95Pb−5Sn、40Pb−60SnなどのPb−Sn系ハンダ、Sn−Sb系ハンダ、Sn−Ag系ハンダ、Sn−Ag−Cu系ハンダ、Au−Ge系ハンダ、Au−Sn系ハンダなどのハンダが挙げられる。また、押圧面は鋼材などの金属材、あるいはセラミック材などによって平坦面に構成される。 The material of the resin insulating layer may be any resin having an insulating property, such as an epoxy resin or a BT resin. Further, a composite material of a resin such as a glass fiber or a ceramic powder and a resin such as a glass-epoxy composite material is also included. The solid layer is a conductor layer provided between layers of the resin insulating layer, and is a portion having a certain area and extending between the layers. The metal forming the solder bumps may be appropriately selected according to the material of the connection terminals and the like of the electronic component to be mounted. Pb-Sn based solders such as 90Pb-10Sn, 95Pb-5Sn, and 40Pb-60Sn may be used. Examples of the solder include Sn-Sb solder, Sn-Ag solder, Sn-Ag-Cu solder, Au-Ge solder, and Au-Sn solder. The pressing surface is formed as a flat surface by a metal material such as a steel material or a ceramic material.

 さらに、パッドの形態としては、様々なものが挙げられる。例えば、パッドがビアの直上に設けられるパッドオンビアや、パッドがビアの直上に位置しないパッドオフビアがある。これらは、同一の配線基板内に混在することもある。また、ビアの形態として、ビア内部がメッキによって埋められて、上面が平坦なフィルドビアや、完全には埋められず、中央部にへこみがあるアンフィルドビアがある。 Furthermore, there are various types of pads. For example, there are a pad-on via in which a pad is provided directly above a via, and a pad-off via in which a pad is not located directly above a via. These may be mixed in the same wiring board. Examples of the form of the via include a filled via in which the inside of the via is filled with plating and the upper surface is flat, and an unfilled via which is not completely filled and has a dent at the center.

 パッドに塗布するハンダペーストの量を決定する上で、これらの形態を考慮する必要がある。例えば、アンフィルドビアにおける、パッドオンビアとパッドオフビアの違いである。また、配線基板によっては、パッドの面積(開口寸法)が異なる場合もある。そのため、この発明は、一つの配線基板について異なる形態や寸法のパッドを有する場合には、同一形態、同一寸法の第1、第2パッド同士で比較することを要する。つまり、第1パッドと、自己を裏面側に投影した領域にベタ層が存在せず、第1パッドと形態・寸法が同一の第2パッドとを有することを要する。 形態 These forms must be considered when determining the amount of solder paste to be applied to the pad. For example, there is a difference between a pad-on via and a pad-off via in an unfilled via. Further, depending on the wiring board, the area (opening size) of the pad may be different. Therefore, in the present invention, when one wiring board has pads of different forms and dimensions, it is necessary to compare the first and second pads of the same form and dimensions. In other words, it is necessary to have the first pad and the second pad having the same form and size as the first pad without a solid layer in the region where the self is projected on the back surface side.

 さらに、上記の配線基板の製造方法であって、前記平坦化工程は、前記第1パッドに形成された第1平坦化ハンダバンプの頂面の径と、前記第2パッドに形成された第2平坦化ハンダバンプの頂面の径と、がほぼ等しい平坦化ハンダバンプを形成する平坦化工程を備える配線基板の製造方法とすると良い。 Further, in the above-described method for manufacturing a wiring board, the flattening step may include a step of: determining a diameter of a top surface of a first flattening solder bump formed on the first pad, and a second flattening shape formed on the second pad. It is preferable to provide a method of manufacturing a wiring board including a flattening step of forming a flattened solder bump having substantially the same diameter as the top surface of the solder bump.

 本発明によれば、平坦化工程において、第1パッドに形成される第1平坦化ハンダバンプの頂面の径と、第2パッドに形成される第2平坦化ハンダバンプの頂面の径とが、ほぼ等しくされる。従って、後でこの配線基板に電子部品を搭載するに際して、電子部品の接続端子との接続状態に関し、第1パッドと第2パッドとについてほぼ均一とすることができる。 According to the present invention, in the flattening step, the diameter of the top surface of the first flattening solder bump formed on the first pad and the diameter of the top surface of the second flattening solder bump formed on the second pad are: Almost equal. Therefore, when the electronic component is mounted on the wiring board later, the connection state between the electronic component and the connection terminal can be made substantially uniform between the first pad and the second pad.

 さらに、上記の配線基板の製造方法であって、前記ハンダペースト印刷工程において使用する印刷マスクは、前記第1パッドに対応する第1透孔の径が、前記第2パッドに対応する第2透孔の径よりも小さい配線基板の製造方法とすると良い。 Further, in the above-described method for manufacturing a wiring board, the print mask used in the solder paste printing step may be such that the diameter of the first through hole corresponding to the first pad is equal to the second transparent hole corresponding to the second pad. It is preferable to use a method for manufacturing a wiring board smaller than the diameter of the hole.

 本発明によれば、ハンダペースト印刷工程において、印刷マスクに設けられる透孔の径が、第1パッド用では、第2パッド用に比較して小さく形成される。そのため、同じようにハンダペーストを塗布しても、パッド上に透過するハンダペーストの量は、第1パッドでは、第2パッドより少なくなる。従って、平坦化ハンダバンプの頂面の径に関して、ベタ層の有無による差を小さくできるので、第1パッドと第2パッドとの接続性の差を小さくできる。 According to the present invention, in the solder paste printing step, the diameter of the through-hole provided in the print mask is formed smaller for the first pad than for the second pad. Therefore, even if the solder paste is applied in the same manner, the amount of the solder paste transmitted through the pad is smaller in the first pad than in the second pad. Therefore, the difference in the diameter of the top surface of the flattened solder bump due to the presence or absence of the solid layer can be reduced, so that the difference in the connectivity between the first pad and the second pad can be reduced.

 さらに、平坦化ハンダバンプの頂面の径を、ベタ層の有無にかかわらずほぼ等しくすることができれば、後でこの配線基板に電子部品を搭載するに際して、電子部品の接続端子との接続状態に関し、第1パッドと第2パッドとについてほぼ均一とすることができるのでさらに都合がよい。 Furthermore, if the diameter of the top surface of the flattened solder bumps can be made substantially equal regardless of the presence or absence of the solid layer, when mounting the electronic component on this wiring board later, regarding the connection state with the connection terminal of the electronic component, It is more convenient because the first pad and the second pad can be made substantially uniform.

 なお、印刷マスクとしては、ハンダペーストを透過させる透孔が設けられていれば良く、例えば、ステンレス板等の金属板に孔を開けたメタルマスクや、スクリーンマスク等が用いられる。 Note that the print mask only needs to be provided with a through-hole for transmitting the solder paste, and for example, a metal mask having a hole in a metal plate such as a stainless steel plate or a screen mask is used.

 さらに他の解決手段は、主面と裏面を有し、上記主面側に突出し、頂面がそれぞれ平坦化された複数の平坦化ハンダバンプを備える配線基板であって、上記主面側に開口する複数のパッドであって、自己を上記裏面側に投影した領域に1又は複数の樹脂絶縁層を介してベタ層が形成されている第1パッドと、自己を上記裏面側に投影した領域にベタ層は存在しない第2パッドと、を有し、上記第1パッドに形成された第1平坦化ハンダバンプの頂面の径と、上記第2パッドに形成された第2平坦化ハンダバンプの頂面の径と、がほぼ等しい配線基板である。 Still another solution is a wiring board having a plurality of flattened solder bumps having a main surface and a back surface, protruding toward the main surface, and each having a top surface flattened, and having an opening on the main surface. A first pad in which a solid layer is formed via one or more resin insulating layers in a region where the self is projected on the back surface side, and a solid pad is formed in a region where the self is projected on the back surface side; A second pad having no layer, a diameter of a top surface of the first flattening solder bump formed on the first pad, and a diameter of a top surface of the second flattening solder bump formed on the second pad. The wiring board has a diameter substantially equal to that of the wiring board.

 本発明の配線基板は、その主面側に開口する複数のパッドに形成されたハンダバンプの頂面の径が、そのパッドを裏面側に投影した領域にベタ層が形成されているかどうかにかかわらず、ほぼ等しい。従って、後でこの配線基板に電子部品を搭載するに際して、電子部品の接続端子との接続状態に関し、第1パッドと第2パッドとについてほぼ均一とすることができる。 In the wiring board of the present invention, the diameter of the top surface of the solder bump formed on the plurality of pads opened on the main surface side is independent of whether or not a solid layer is formed in a region where the pad is projected on the back surface side. , Almost equal. Therefore, when the electronic component is mounted on the wiring board later, the connection state between the electronic component and the connection terminal can be made substantially uniform between the first pad and the second pad.

 以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しつつ説明する。まず、本実施形態にかかる配線基板の概要を説明する。
 図1に、本実施形態の基板1の主面2側の部分拡大断面図を示す。この基板1は、主面2と図示しない裏面とを有する略矩形の略板形状を成し、その中心には、ガラス繊維布にエポキシ樹脂を含浸させた複合材からなる厚さ約600μmの略板形状のコア基板(樹脂絶縁層)3を備える。そして、その両面には、エポキシ樹脂等からなる厚さ約30μmの樹脂絶縁層5が積層されている。また、樹脂絶縁層5上には、エポキシ樹脂等からなる厚さ約25μmのソルダーレジスト層(樹脂絶縁層)7が積層されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, an outline of the wiring board according to the present embodiment will be described.
FIG. 1 shows a partially enlarged cross-sectional view of the main surface 2 side of the substrate 1 of the present embodiment. The substrate 1 has a substantially rectangular substantially plate shape having a main surface 2 and a back surface (not shown), and has a central portion formed of a composite material obtained by impregnating glass fiber cloth with an epoxy resin and having a thickness of about 600 μm. A plate-shaped core substrate (resin insulating layer) 3 is provided. A resin insulation layer 5 of about 30 μm in thickness made of epoxy resin or the like is laminated on both surfaces. On the resin insulating layer 5, a solder resist layer (resin insulating layer) 7 made of epoxy resin or the like and having a thickness of about 25 μm is laminated.

 このうち、コア基板3には、これを貫通する直径約250μmのスルーホール導体用貫通孔10が所定の位置に複数形成され、それらの内周面には、略筒状のスルーホール導体11がそれぞれ形成されている。そして、各スルーホール導体11内には、エポキシ樹脂等からなる略円柱形状の樹脂製穴埋め材12が充填されている。樹脂絶縁層5には、これを貫通するビア用貫通孔13が所定の位置に複数形成され、各ビア用貫通孔13には、略円柱状のビア導体15が形成されている。また、ソルダーレジスト層7には、これを貫通する直径約120μmのパッド用開口17が所定の位置に複数形成されている。 Of these, a plurality of through-hole conductor through holes 10 having a diameter of about 250 μm are formed at predetermined positions in the core substrate 3, and a substantially cylindrical through-hole conductor 11 is formed on the inner peripheral surface thereof. Each is formed. Each through-hole conductor 11 is filled with a substantially cylindrical resin filling material 12 made of epoxy resin or the like. A plurality of via through holes 13 penetrating the resin insulating layer 5 are formed at predetermined positions, and a substantially cylindrical via conductor 15 is formed in each of the via through holes 13. The solder resist layer 7 has a plurality of pad openings 17 having a diameter of about 120 μm penetrating the solder resist layer 7 at predetermined positions.

 さらに、コア基板3と樹脂絶縁層5との層間には、ある程度の面積を持ってその層間に拡がるベタ層21を含む第1導体層18が形成され、コア基板3のスルーホール導体11や樹脂絶縁層5のビア導体15と接続している。また、樹脂絶縁層5とソルダーレジスト層7との層間には、配線やパッド等の所定パターンの第2導体層19が形成され、樹脂絶縁層5のビア導体15と接続している。図1に示すように、ベタ層21の上に形成された樹脂絶縁層5の厚さは、コア基板3に直接接している樹脂絶縁層5と同程度であり、従って、樹脂絶縁層5の上面までの高さは、ベタ層21を主面側に投影した領域内においては、それ以外の領域と比較して高くなっている。 Further, a first conductor layer 18 including a solid layer 21 extending between the core substrate 3 and the resin insulation layer 5 with a certain area is formed between the core substrate 3 and the resin insulation layer 5. It is connected to the via conductor 15 of the insulating layer 5. A second conductor layer 19 having a predetermined pattern such as a wiring or a pad is formed between the resin insulating layer 5 and the solder resist layer 7, and is connected to the via conductor 15 of the resin insulating layer 5. As shown in FIG. 1, the thickness of the resin insulating layer 5 formed on the solid layer 21 is substantially the same as that of the resin insulating layer 5 directly in contact with the core substrate 3. The height up to the upper surface is higher in a region where the solid layer 21 is projected on the main surface side than in other regions.

 樹脂絶縁層5とソルダーレジスト層7との層間に形成された一部のパッド22は、この基板1にICチップなどの電子部品を搭載するため、ソルダーレジスト層7のパッド用開口17内に露出している。なお、このパッド22の表面には、酸化防止のため、Niメッキ層が形成され、さらにその表面にはAuメッキ層が形成されている(図示しない)。ここで、ベタ層21を主面側に投影した領域内では樹脂絶縁層5の上面が高くなっているので、その領域内に形成された第1パッド22Bは、それ以外の領域に形成された第2パッド22Cと比較して、コア基板3から高い位置にある。 Some pads 22 formed between the resin insulating layer 5 and the solder resist layer 7 are exposed in the pad openings 17 of the solder resist layer 7 in order to mount electronic components such as IC chips on the substrate 1. are doing. A Ni plating layer is formed on the surface of the pad 22 to prevent oxidation, and an Au plating layer is formed on the surface (not shown). Here, since the upper surface of the resin insulating layer 5 is higher in a region where the solid layer 21 is projected on the main surface side, the first pads 22B formed in that region are formed in other regions. It is located higher than the core substrate 3 as compared with the second pad 22C.

 複数のパッド22には、基板1の主面2より突出して第1パッド22B上に第1平坦化ハンダバンプ25Bが、第2パッド22C上に第2平坦化ハンダバンプ25Cがそれぞれ形成されている。各平坦化ハンダバンプ25B,25Cは、40Pb−60Snハンダからなり、その底面は各パッド22B,22Cの全体を覆っている。第1平坦化ハンダバンプ25Bは、第2平坦化ハンダバンプ25Cと比較して、その高さや体積が小さく、主面2からの突出高さは、第1平坦化ハンダバンプ25Bの方が、第2平坦化ハンダバンプ25Cよりも低い。しかし、第1パッド22Bと第2パッド22Cとはコア基板3からの高さが違うので、第1平坦化ハンダバンプ25Bの頂面26Bと第2平坦化ハンダバンプ25Cの頂面26Cとは、ほぼ同一平面に含まれる。さらに、それらの頂面26B,26Cは、平坦な面状にされており、その径はいずれも約105μmである。 {Circle around (2)} The plurality of pads 22 are formed with first planarized solder bumps 25B on the first pads 22B and second planarized solder bumps 25C on the second pads 22C, respectively, protruding from the main surface 2 of the substrate 1. Each of the flattening solder bumps 25B and 25C is made of 40Pb-60Sn solder, and the bottom surface covers each of the pads 22B and 22C. The first flattened solder bump 25B is smaller in height and volume than the second flattened solder bump 25C, and the height of the first flattened solder bump 25B from the main surface 2 is smaller than that of the second flattened solder bump 25B. It is lower than the solder bump 25C. However, since the first pad 22B and the second pad 22C have different heights from the core substrate 3, the top surface 26B of the first flattening solder bump 25B and the top surface 26C of the second flattening solder bump 25C are almost the same. Included in the plane. Further, the top surfaces 26B and 26C are formed into a flat surface, and the diameter thereof is about 105 μm.

 この基板1は、次のようにして製造する。
 まず、図2を参照にして説明する。公知の手法により、コア基板3にスルーホール導体11を形成するとともに、コア基板3上にベタ層21を含む所定パターンの第1導体層18を形成し、スルーホール導体11の内側には樹脂製穴埋め材12を充填する。次に、コア基板3及び第1導体層18の上に、樹脂絶縁層5と厚さ約5μmのCu箔とを積層し、加熱しながらプレスして、表面にCu箔が張られた樹脂絶縁層5を形成する。さらに、所定の位置をレーザ等で穿孔し、Cu箔及び樹脂絶縁層5を貫通するビア用貫通孔13を複数形成する。
This substrate 1 is manufactured as follows.
First, a description will be given with reference to FIG. The through-hole conductor 11 is formed on the core substrate 3 by a known method, and the first conductor layer 18 having a predetermined pattern including the solid layer 21 is formed on the core substrate 3. The filling material 12 is filled. Next, the resin insulating layer 5 and a Cu foil having a thickness of about 5 μm are laminated on the core substrate 3 and the first conductor layer 18 and pressed while being heated. The layer 5 is formed. Further, a predetermined position is pierced with a laser or the like, and a plurality of via through holes 13 penetrating the Cu foil and the resin insulating layer 5 are formed.

 次に、公知の手法により、ビア用貫通孔13に略円柱状のビア導体15を形成するとともに、樹脂絶縁層5上に所定パターンの第2導体層19を形成する。次に、樹脂絶縁層5及び第2導体層19の上に、パッド用開口17を有するソルダーレジスト層7を形成する。その後、ソルダーレジスト層7から露出するパッド22に、酸化防止のため、Niメッキ層を形成し、さらにその上にAuメッキ層を形成する(図示しない)。 (4) Next, a substantially cylindrical via conductor 15 is formed in the via hole 13 and a second conductor layer 19 having a predetermined pattern is formed on the resin insulating layer 5 by a known method. Next, a solder resist layer 7 having a pad opening 17 is formed on the resin insulating layer 5 and the second conductor layer 19. Thereafter, a Ni plating layer is formed on the pad 22 exposed from the solder resist layer 7 to prevent oxidation, and an Au plating layer is further formed thereon (not shown).

 次に、ハンダペースト印刷工程において、各パッド22にそれぞれ40Pb−60Snハンダからなるハンダペースト31を塗布する(図2参照)。具体的には、基板1上に印刷マスク32を配置し、印刷マスク32の上からスキージ(図示しない)でハンダペースト31を塗布する。これによって、印刷マスク32に設けられた透孔33を透過したハンダペースト31がパッド22に付着する。また、印刷マスク32は、ステンレス板によって基板1と同様の略矩形に形成され、各パッド22に対応した位置に、透孔33が形成されている。 Next, in a solder paste printing step, a solder paste 31 made of 40Pb-60Sn solder is applied to each pad 22 (see FIG. 2). Specifically, a print mask 32 is arranged on the substrate 1 and the solder paste 31 is applied from above the print mask 32 with a squeegee (not shown). As a result, the solder paste 31 that has passed through the through holes 33 provided in the print mask 32 adheres to the pads 22. The print mask 32 is formed in a substantially rectangular shape similar to the substrate 1 using a stainless steel plate, and through holes 33 are formed at positions corresponding to the respective pads 22.

 ここで、ベタ層21を主面側に投影した領域に形成された第1パッド22Bに対応する第1透孔33Bの径D1は、それ以外の領域に形成された第2パッド22Cに対応した第2透孔33Cの径D2より小さくされている。ここでは、第1透孔33Bの径D1=約130μm、第2透孔33Cの径D2=約150μmとした。そのため、第1パッド22Bに塗布されるハンダペースト31の量は、第2パッド22Cに塗布されるハンダペースト31の量より少なくなる。 Here, the diameter D1 of the first through hole 33B corresponding to the first pad 22B formed in the area where the solid layer 21 is projected on the main surface side corresponds to the second pad 22C formed in the other area. The diameter is smaller than the diameter D2 of the second through hole 33C. Here, the diameter D1 of the first through-hole 33B was about 130 μm, and the diameter D2 of the second through-hole 33C was about 150 μm. Therefore, the amount of the solder paste 31 applied to the first pad 22B is smaller than the amount of the solder paste 31 applied to the second pad 22C.

 次に、リフロー工程において、ハンダペースト31を溶解して略半球状のハンダバンプ35を形成する(図3参照)。ハンダペースト31を溶解すると、その表面張力によって、略半球状のハンダバンプ35となる。ここで、第1パッド22Bに塗布されたハンダペースト31の量は、第2パッド22Cより少ないので、図3に示すように、第1パッド22Bに形成される第1ハンダバンプ35Bの体積や第1パッド22Bからの高さは、第2パッド22Cに形成される第2ハンダバンプ35Cの体積や第2パッド22Cからの高さより小さくなる。 Next, in a reflow process, the solder paste 31 is dissolved to form a substantially hemispherical solder bump 35 (see FIG. 3). When the solder paste 31 is dissolved, the solder paste 31 becomes a substantially hemispherical solder bump 35 due to its surface tension. Here, since the amount of the solder paste 31 applied to the first pad 22B is smaller than that of the second pad 22C, as shown in FIG. 3, the volume of the first solder bump 35B formed on the first pad 22B and the amount of the first solder bump 35B are reduced. The height from the pad 22B is smaller than the volume of the second solder bump 35C formed on the second pad 22C and the height from the second pad 22C.

 次に、平坦化工程において、ハンダバンプ35の頂部を平坦な押圧面37を持つ押圧具39によって押圧して平坦化ハンダバンプ25を形成する(図4参照)。例えば、エアプレスを利用して、平坦な押圧面37を基板1に押しつける平坦化装置(図示しない)によって、約75〜100kgのプレス圧力でハンダバンプ35を押しつぶす。このとき、加熱した押圧面37を利用して、押圧と同時にハンダバンプ35を加熱して変形容易にしても良い。 Next, in the flattening step, the top of the solder bump 35 is pressed by a pressing tool 39 having a flat pressing surface 37 to form the flattened solder bump 25 (see FIG. 4). For example, the solder bump 35 is crushed by a flattening device (not shown) that presses the flat pressing surface 37 against the substrate 1 using an air press with a pressing pressure of about 75 to 100 kg. At this time, the solder bump 35 may be heated by using the heated pressing surface 37 simultaneously with the pressing to make the solder bump 35 easily deformable.

 図4に示すように、ベタ層21が下方に形成されているため、押圧された状態での押圧面37と第1パッド22Bとの距離T1は、押圧面37と第2パッド22Cとの距離T2よりも小さい。しかし、第1パッド22Bに形成された第1ハンダバンプ35Bは、第2パッド22Cに形成された第2ハンダバンプ35Cより体積が小さく、第1ハンダバンプ35Bの第1パッド22Bからの高さは、第2ハンダバンプ35Cの第2パッド22Cからの高さより低い。従って、第1ハンダバンプ35Bと第2ハンダバンプ35Cとの、押圧面37によって押しつぶされるハンダの量の差は小さくなる。そのため、第1ハンダバンプ35Bから形成される第1平坦化ハンダバンプ25Bの頂面26Bの径L1と、第2ハンダバンプ35Cから形成される第2平坦化ハンダバンプ25Cの頂面26Cの径L2との差は、小さくなる。 As shown in FIG. 4, since the solid layer 21 is formed below, the distance T1 between the pressing surface 37 and the first pad 22B in the pressed state is the distance between the pressing surface 37 and the second pad 22C. It is smaller than T2. However, the first solder bump 35B formed on the first pad 22B has a smaller volume than the second solder bump 35C formed on the second pad 22C, and the height of the first solder bump 35B from the first pad 22B is equal to the second solder bump 35B. The height is lower than the height of the solder bump 35C from the second pad 22C. Therefore, the difference in the amount of solder crushed by the pressing surface 37 between the first solder bump 35B and the second solder bump 35C becomes smaller. Therefore, the difference between the diameter L1 of the top surface 26B of the first flattening solder bump 25B formed from the first solder bump 35B and the diameter L2 of the top surface 26C of the second flattening solder bump 25C formed from the second solder bump 35C is , Become smaller.

 なお、印刷マスク32に形成された第1透孔33Bと第2透孔33Cとの径を適宜に調節することによって、第1平坦化ハンダバンプ25Bの頂面26Bの径L1と、第2平坦化ハンダバンプ25Cの頂面26Cの径L2とを、ほぼ同じ大きさにすることもできる。
 このようにして、基板1が完成する。
By appropriately adjusting the diameter of the first through hole 33B and the second through hole 33C formed in the print mask 32, the diameter L1 of the top surface 26B of the first flattening solder bump 25B and the second flattening solder bump 25B can be adjusted. The diameter L2 of the top surface 26C of the solder bump 25C may be substantially the same.
Thus, the substrate 1 is completed.

 この基板1に形成された平坦化ハンダバンプ25の頂面26の径は、平均105.4μm、最大133.9μm、最小74.4μm、レンジ59.5μm、標準偏差8.1であった。従来の基板101では、平均118.9μm、最大182.9μm、最小62.9μm、レンジ120.0μm、標準偏差10.4であったので、レンジ、標準偏差とも大きく改善されていることがわかる。 径 The diameter of the top surface 26 of the flattened solder bump 25 formed on the substrate 1 was 105.4 μm on average, 133.9 μm at maximum, 74.4 μm at minimum, 59.5 μm in range, and standard deviation 8.1. In the conventional substrate 101, the average was 118.9 μm, the maximum was 182.9 μm, the minimum was 62.9 μm, the range was 120.0 μm, and the standard deviation was 10.4. Therefore, it can be seen that both the range and the standard deviation were greatly improved.

 以上において、本発明を実施形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できることはいうまでもない。
 例えば、上記実施形態では、ビア用貫通孔13にフィルドビア形態のビア導体15を形成したが、中央部にへこみのある略椀状(アンフィルドビア形態)のビア導体を形成することもできる。但し、この場合は、第1パッド22Bと第2パッド22Cとの比較は、ベタ層以外の条件(パッドオンビアかパッドオフビアかの形態の違い)が同一なパッド同士について適用することができる。
In the above, the present invention has been described in accordance with the embodiments. However, it is needless to say that the present invention is not limited to the above embodiments, and can be appropriately modified and applied without departing from the gist thereof.
For example, in the above-described embodiment, the via conductor 15 in the form of a filled via is formed in the via-hole 13 for via, but a via conductor in a substantially bowl shape (unfilled via form) having a dent at the center may be formed. However, in this case, the comparison between the first pad 22B and the second pad 22C can be applied to pads having the same condition (difference in pad-on via or pad-off via) other than the solid layer.

 また、上記実施形態では、第1パッド22Bと第2パッド22Cとの区分に際して、そのパッド22を裏面側に投影した領域にベタ層21が設けられているかどうかだけに着目した。しかし、これ以外に、例えば、そのパッド22を裏面側に投影した領域に、ベタ層21の端部やベタ層21以外の配線等が形成されているパッド22等も考慮に入れることができる。この場合は、それぞれのパッド22の条件によって、印刷マスク32の透孔33の径を変更して形成すればよい。このようにすることにより、各平坦化ハンダバンプ25の頂面26の径を、さらに均一にすることができる。 In addition, in the above embodiment, when the first pad 22B and the second pad 22C are divided, attention is paid only to whether or not the solid layer 21 is provided in a region where the pad 22 is projected on the back surface side. However, besides this, for example, a pad 22 or the like in which an end of the solid layer 21 or a wiring other than the solid layer 21 is formed in a region where the pad 22 is projected on the back surface side can be considered. In this case, the diameter of the through hole 33 of the print mask 32 may be changed depending on the condition of each pad 22. By doing so, the diameter of the top surface 26 of each flattened solder bump 25 can be made more uniform.

 また、上記実施形態では、基板1には、1層の樹脂絶縁層5が形成されているが、コア基板3とソルダーレジスト層7との間に複数の樹脂絶縁層5を積層して形成してもよい。その場合は、ベタ層21が、コア基板3と樹脂絶縁層5との層間でなく、複数の樹脂絶縁層5の層間に形成されている場合にも、本発明を適用することができる。 In the above embodiment, one layer of the resin insulating layer 5 is formed on the substrate 1. However, a plurality of resin insulating layers 5 are stacked between the core substrate 3 and the solder resist layer 7. You may. In this case, the present invention can be applied to a case where the solid layer 21 is formed not between the core substrate 3 and the resin insulating layer 5 but between a plurality of resin insulating layers 5.

実施形態に係る基板の部分拡大断面図である。FIG. 3 is a partial enlarged cross-sectional view of the substrate according to the embodiment. パッドにハンダペーストを塗布した様子を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory view showing a state where a solder paste is applied to a pad. パッド上にハンダバンプを形成した様子を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory view showing a state in which solder bumps are formed on pads. ハンダバンプを押圧して平坦化ハンダバンプを形成した様子を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows a mode that the solder bump was pressed and the flattened solder bump was formed. 従来の基板の部分拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view of the conventional substrate. 従来の基板の部分拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view of the conventional substrate.

符号の説明Explanation of reference numerals

1   基板
2   主面
3   コア基板(樹脂絶縁層)
5   樹脂絶縁層
7   ソルダーレジスト層(樹脂絶縁層)
21  ベタ層
22  パッド
22B 第1パッド
22C 第2パッド
25  平坦化ハンダバンプ
25B 第1平坦化ハンダバンプ
25C 第2平坦化ハンダバンプ
26  頂面
31  ハンダペースト
32  印刷マスク
33B 第1透孔
33C 第2透孔
35  ハンダバンプ
37  押圧面
1 substrate 2 main surface 3 core substrate (resin insulation layer)
5 Resin insulation layer 7 Solder resist layer (resin insulation layer)
21 solid layer 22 pad 22B first pad 22C second pad 25 flattened solder bump 25B first flattened solder bump 25C second flattened solder bump 26 top surface 31 solder paste 32 print mask 33B first through hole 33C second through hole 35 solder bump 37 pressing surface

Claims (4)

主面と裏面を有し、上記主面側に突出し、頂面がそれぞれ平坦化された複数の平坦化ハンダバンプを備える配線基板の製造方法であって、
 上記主面側に開口する複数のパッドにそれぞれハンダペーストを塗布するハンダペースト印刷工程であって、
  上記複数のパッドは、自己を上記裏面側に投影した領域に1又は複数の樹脂絶縁層を介してベタ層が形成されている第1パッドと、自己を上記裏面側に投影した領域にベタ層は存在しない第2パッドと、を有し、
  上記第1パッドには、上記第2パッドよりも少量の上記ハンダペーストを塗布するハンダペースト印刷工程と、
 塗布された上記ハンダペーストを溶解して略半球状のハンダバンプを形成するリフロー工程と、
 上記略半球状のハンダバンプの頂部を平坦な押圧面で押圧して上記平坦化ハンダバンプを形成する平坦化工程と、
を備える配線基板の製造方法。
A method of manufacturing a wiring board comprising a plurality of flattened solder bumps having a main surface and a back surface, protruding toward the main surface, and having a top surface each flattened,
A solder paste printing step of applying a solder paste to each of the plurality of pads opened on the main surface side,
The plurality of pads include a first pad in which a solid layer is formed via one or more resin insulating layers in a region where the self is projected on the back surface side, and a solid layer in a region where the self is projected on the back surface side. Has no second pad, and
A solder paste printing step of applying a smaller amount of the solder paste than the second pad to the first pad;
A reflow step of dissolving the applied solder paste to form a substantially hemispherical solder bump,
A flattening step of pressing the top of the substantially hemispherical solder bump with a flat pressing surface to form the flattened solder bump;
The manufacturing method of the wiring board provided with.
請求項1に記載の配線基板の製造方法であって、
 前記平坦化工程は、前記第1パッドに形成された第1平坦化ハンダバンプの頂面の径と、前記第2パッドに形成された第2平坦化ハンダバンプの頂面の径と、がほぼ等しい平坦化ハンダバンプを形成する平坦化工程
を備える配線基板の製造方法。
It is a manufacturing method of the wiring board of Claim 1, Comprising:
In the flattening step, the diameter of the top surface of the first flattened solder bump formed on the first pad is substantially equal to the diameter of the top surface of the second flattened solder bump formed on the second pad. A method of manufacturing a wiring board, comprising: a flattening step of forming solder bumps.
請求項1又は請求項2に記載の配線基板の製造方法であって、
 前記ハンダペースト印刷工程において使用する印刷マスクは、
  前記第1パッドに対応する第1透孔の径が、前記第2パッドに対応する第2透孔の径よりも小さい
配線基板の製造方法。
A method of manufacturing a wiring board according to claim 1 or 2,
The print mask used in the solder paste printing step,
A method of manufacturing a wiring board, wherein a diameter of a first through hole corresponding to the first pad is smaller than a diameter of a second through hole corresponding to the second pad.
主面と裏面を有し、上記主面側に突出し、頂面がそれぞれ平坦化された複数の平坦化ハンダバンプを備える配線基板であって、
 上記主面側に開口する複数のパッドであって、自己を上記裏面側に投影した領域に1又は複数の樹脂絶縁層を介してベタ層が形成されている第1パッドと、自己を上記裏面側に投影した領域にベタ層は存在しない第2パッドと、を有し、
  上記第1パッドに形成された第1平坦化ハンダバンプの頂面の径と、上記第2パッドに形成された第2平坦化ハンダバンプの頂面の径と、がほぼ等しい
配線基板。
A wiring substrate having a main surface and a back surface, protruding toward the main surface, and including a plurality of flattened solder bumps each having a flattened top surface,
A first pad having a plurality of pads opened on the main surface side, wherein a first pad having a solid layer formed thereon via one or a plurality of resin insulating layers in a region where the self is projected on the back surface side; A second pad having no solid layer in the area projected to the side,
A wiring board wherein the diameter of the top surface of the first flattening solder bump formed on the first pad is substantially equal to the diameter of the top surface of the second flattening solder bump formed on the second pad.
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