JP2004012279A - Pulse interval measurement circuit - Google Patents
Pulse interval measurement circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004012279A JP2004012279A JP2002165618A JP2002165618A JP2004012279A JP 2004012279 A JP2004012279 A JP 2004012279A JP 2002165618 A JP2002165618 A JP 2002165618A JP 2002165618 A JP2002165618 A JP 2002165618A JP 2004012279 A JP2004012279 A JP 2004012279A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- logic
- signal
- pulse
- initial
- logic signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば、光ファイバに放射線が入射したときに発するパルス信号の光ファイバ両端の時間差を求めることで放射線入射位置を測定する放射線計測装置のパルス間隔測定回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図13、及び図14は、例えば特開平4−244971号公報に示された従来のパルス間隔測定回路の構成を示す図、及びその動作を示すタイミングチャートである。
【0003】
図13において、91はタイミングコントローラ、92はタイミングコントローラ91のスタートパルスイネーブル、プリセット(PRST)及びリセット(RST)信号を反転するインバータ、93は被測定パルス入力とスタートパルスイネーブルによりプリセット信号を発生するANDゲート、94は被測定パルス間隔をクロック(CK)入力でカウンタアップするカウンタ、95はカウンタ94の初期値を設定する初期値発生器、96、98、910、912はクロック(CK)と遅延した被測定パルスの位相検出を行う位相メモリ回路、97、99、911はクロック(CK)の周期Tを等分した遅延増分だけ順次遅延させる遅延素子である。
【0004】
また、同図において、913はカウンタ94の計数値を格納する第一のレジスタ、914、915、916は隣接する2つの位相メモリ回路間の論理出力値の変化点を検出するE−ORゲート、917は論理出力値の変化点が検出できなかった場合の処理としての3入力NORゲート、918は変化点に対応する遅延時間を発生する固定値発生器、919はレジスタ913の計数値と固定値発生器918の遅延時間を加算する加算器、920は最も遅延した被測定パルスにより起動され、ストローブ信号(STB)を発生するストローブジェネレータ、921は加算器919の加算値をストローブ信号(STB)によりラッチする第2のレジスタ、922は位相メモリ回路96、98、910、912のリセット信号(RST)を発生するORゲートである。
【0005】
さらに、同図において、961、981、9101、9121は被測定パルス入力をタイミングコントローラ91のスタートパルスイネーブル、プリセット(PRST)及びリセット(RST)信号で位相メモリ回路に入力するANDゲート、962、982、9102、9122は被測定パルスをラッチするRS−F/F、963、983、9103、9123はRS−F/F962、982、9102、9122の出力をラッチするD−F/Fである。
【0006】
つぎに、従来のパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0007】
タイミングコントローラ91からスタートパルスイネーブル、プリセット信号(PRST)及びリセット信号(RST)がORゲート922を介して出力されて、各位相メモリ回路96、98、910、912におけるRS−F/F962、982、9102、9122及びD−F/F963、983、9103、9123がリセットされると共に、タイミングコントローラ91から与えられるイネーブル信号(ENB)によりバイナリカウンタ94が動作状態になる。
【0008】
次に、被測定パルス入力端子から最初のパルスであるスタートパルスP0が与えられると、ANDゲート93を経てプリセット信号(PRST)が与えられることにより、初期値発生器95から−1をロードし、タイミングコントローラ91からのクロック(CK)によって−1からカウントアップを開始する。
【0009】
この場合には、前述のスタートパルスイネーブル、プリセット信号(PRST)及びリセット信号(RST)によって、ANDゲート961、981、9101、9121が閉じられるので、スタートパルスP0はRS−F/F962、982、9102、9122に伝達されない。
【0010】
次に、被測定パルス入力端子にスタートパルスP0から1番目のパルスP1が与えられると、ANDゲート961はP1をそのまま出力し、また、ANDゲート981、9101、9121にはそれぞれ遅延素子97(T/4)、99(2T/4)、911(3T/4)を介して順次遅延出力がRS−F/F962、982、9102、9122に入力され、これらRS−F/F962、982、9102、9122がセットされる。
【0011】
次に、RS−F/F962、982、9102、9122の出力は、クロック(CK)のタイミングで対応するD−F/F963、983、9103、9123にラッチされる。
【0012】
カウンタ94及びレジスタ913はmビットで構成され、ANDゲート9121から出力パルスが与えられたときのカウンタ94の計数値がレジスタ913にラッチされる。
【0013】
図14においては、真の計数値をNkとしたとき、Nk+5/8のタイミングパルスPlで発生した場合を例示している。
【0014】
この例において、ANDゲート961の出力はカウンタ94の計数値Nk−1の時点で発生している。ANDゲート981、9101、9121の出力はANDゲート961の出力からそれぞれ1/4、2/4、3/4遅れて発生するので、レジスタ913の計数値はNkである。
【0015】
パルスPlのタイミングをmビットのLSBの1/4に分解能、すなわちm+2ビットで計測するが、その際の演算処理は次のように行われる。
【0016】
D−F/F963、983の論理出力が1であり、D−F/F9103、9123の論理出力は0であるから、E−ORゲート914、915、916のうち論理出力1を発生しているのは、E−ORゲート915のみである。
【0017】
このように、E−ORゲート914、915、916はいずれか1個のみ出力を発生するか、パルスPlのタイミングによっては、出力を発生しないかのいずれかである。
【0018】
固定値発生器918は、E−ORゲート914、915、916から論理出力1が出力された場合、それずれに対応する3/4、2/4、1/4の固定値を、バイナリ2ビット出力として送出し、各E−ORゲート914、915、916から出力されなかった場合には、NORゲート917により1の固定値をバイナリ2ビットで表し出力する。
【0019】
従って、固定値発生器918から2/4を表すバイナリ2ビット値が出力される。加算器919は、レジスタ913の出力値と固定値発生器918の出力値を加算して加算結果を出力する。ストローブジェネレータ920は、ANDゲート9121の出力パルス信号に応じてストローブ信号(STB)を発生し、レジスタ921はこの信号を受けた時の加算器919の出力値をラッチしてm+2ビットで出力する。
【0020】
ストローブ信号(STB)が発生するとレジスタ913、位相メモリ96、98、910、912がリセットされる。レジスタ913の出力値は、バイナリNkであり、固定値発生器918の出力値は2/4のバイナリ2ビット値であるから、レジスタ921の出力は(Nk+2/4)に対応した1/4をLSBとするバイナリのm+2ビット値となる。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】
上述したような従来のパルス間隔測定回路では、パルス入力P0によりスタートクロックの同期をとらなければならず、高精度の同期回路が必要であり、連続したパルスのパルス間隔を測定する場合は構成が複雑になるという問題点があった。
【0022】
また、パルス間隔が短くなった場合に部品構成の多さから各部品の遅延時間の制約による影響を大きく受けるという問題点があった。
【0023】
この発明は、前述した問題点を解決するためになされたもので、パルス入力P0によるスタートクロックの同期回路なしで、連続したパルスのパルス間隔も容易に構成でき、パルス間隔の短い場合でも計測することができるパルス間隔測定回路を得ることを目的とする。
【0024】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るパルス間隔測定回路は、クロック信号を発生するクロック回路と、初期パルス入力を初期ロジック信号に変換する初期パルス用D−F/Fと、次期パルス入力を次期ロジック信号に変換する次期パルス用D−F/Fと、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止するカウンタと、前記初期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる初期ロジック用D−F/Fと、前記次期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる次期ロジック用D−F/Fと、前記同期した初期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる初期パルス用遅延回路と、前記同期した次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる次期パルス用遅延回路と、前記遅延した初期ロジック信号をラッチする初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記遅延した次期ロジック信号をラッチする次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記カウンタの計数値と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する加算器と、前記加算器の出力から前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算する減算器とを備えたものである。
【0025】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、前記初期パルス用D−F/Fと前記次期パルス用D−F/Fをカスケード接続したものである。
【0026】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、クロック信号を発生するクロック回路と、初期パルス入力を初期ロジック信号に変換する初期パルス用D−F/Fと、次期パルス入力を次期ロジック信号に変換する次期パルス用D−F/Fと、第3パルス入力を第3ロジック信号に変換する第3パルス用D−F/Fと、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第1のカウンタと、前記次期ロジック信号、前記第3パルス入力が無しの場合の第3ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記第3パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、前記初期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる初期ロジック用D−F/Fと、前記次期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる次期ロジック用D−F/Fと、前記第3ロジック信号を前記クロック信号と同期させる第3ロジック用D−F/Fと、前記同期した初期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる初期パルス用遅延回路と、前記同期した次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる次期パルス用遅延回路と、前記同期した第3ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる第3パルス用遅延回路と、前記遅延した初期ロジック信号をラッチする初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記遅延した次期ロジック信号をラッチする次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記遅延した第3ロジック信号をラッチする第3ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記第1のカウンタの計数値と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算し、この加算値から前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算する加減算器と、前記第2のカウンタの計数値と前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する加算器と、前記加算器の出力から前記第3ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記次期及び第3パルス入力のパルス間隔を演算する減算器とを備えたものである。
【0027】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、前記次期パルス用遅延回路を削除し、前記初期パルス用遅延回路は、前記同期した初期及び次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させ、前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fを削除し、前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fは、前記遅延した初期及び次期ロジック信号をラッチし、前記加算器は、前記カウンタの計数値と前記ラッチされた初期ロジック信号を加算し、前記減算器は、前記加算器の出力から前記ラッチされた次期ロジック信号を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算し、初期パルス用と次期パルス用の遅延回路を共用するものである。
【0028】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、前記カウンタ及び前記第2のカウンタの計数値が不確定な場合にはエラーを出力する比較回路とをさらに備えたものである。
【0029】
さらに、この発明に係るパルス間隔測定回路は、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び第1の時間だけ遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び第2の時間だけ遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第3のカウンタと、前記初期及び次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力の所定の条件に基づいて、前記カウンタ、前記第2のカウンタ、又は前記第3のカウンタの計数値のいずれかを前記加算器へ出力する比較回路とをさらに備え、前記加算器は、前記比較回路の出力と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算するものである。
【0030】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
この発明の実施の形態1に係るパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図1は、この発明の実施の形態1に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
【0031】
図1において、1及び2はパルス入力信号をロジック入力信号に変換するD−F/F、3及び4はクロック信号とタイミングをとるための遅延回路、5はクロック信号を発生するクロック回路、6はロジック入力信号とクロック信号のANDゲート、7はクロック数を計数するカウンタ、8及び9はロジック入力信号をクロック信号と同期させるためのD−F/Fである。
【0032】
また、同図において、10及び11はクロック信号の周期TのT/4遅延回路、12及び13はクロック信号の周期Tの2T/4遅延回路、14及び15はクロック信号の周期Tの3T/4遅延回路、16〜23は遅延したロジック信号をラッチするD−F/Fである。
【0033】
さらに、同図において、24はカウンタ7の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20及び22の出力を加算する加算器、25は加算器24の出力から遅延ロジック信号ラッチ回路17、19、21及び23の出力を減じる減算器、26は減算器25の演算完了信号によりラッチを解除するリセット回路である。
【0034】
つぎに、この実施の形態1に係るパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0035】
図2は、この発明の実施の形態1に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【0036】
測定回路の起動時は、リセット回路26からリセット信号を送出し、すべてのラッチをリセットする。
【0037】
パルス間隔の測定は、被測定パルス入力端子1と被測定パルス入力端子2の間隔を測定する。
【0038】
被測定パルス入力端子1にパルス入力P0が入力されると、ロジック信号変換D−F/F1によりロジック出力L0はロジックHの信号が出力される。ロジック出力L0は遅延回路3を経てANDゲート6に入力され、ロジック出力L0のロジックH、パルス入力Plの入力無しのロジックH、クロック信号のロジックHの3入力ANDの条件でクロック数をカウンタ7で計数する。
【0039】
また、遅延回路3の出力は、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0040】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L0がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20及び22がラッチされる。
【0041】
被測定パルス入力端子2にパルス入力P1が入力されると、ロジック信号変換D−F/F2によりロジック出力L1はロジックHの信号が出力される。
【0042】
ロジック出力L1は、遅延回路4を経て、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、T/4遅延回路11を経てロジック信号ラッチ用D−F/F19、2T/4遅延回路13を経てロジック信号ラッチ用D−F/F21、更に3T/4遅延回路15を経てロジック信号ラッチ用D−F/F23に送出される。
【0043】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L1がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、19、21及び23がラッチされる。
【0044】
クロック回路5のクロック信号は、カウンタ7の計数に使用すると同時に、入力パルスのクロック信号との遅延時間計測にも使用する。
【0045】
パルス入力Pl信号が未入力の状態で、パルス入力P0信号が入力されると、ロジックL0信号はロジックHとなり、このロジックL0信号は遅延回路10、12、14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、20、22に入力されており、パルス入力P0信号入力後の最初のクロック信号のロジックHの条件でラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチし、更にカウンタ7の計数を1とする。
【0046】
次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Plが未入力であり、カウンタ7の計数を2にカウントアップする。パルス入力P1信号が入力され、ロジックL1がロジックHになると、カウンタ入力のANDゲート6が閉となり、カウンタ7の計数は停止となると同時に、ロジックL1信号は遅延回路11、13、15を経てロジック信号が順次ロジックHとなる。
【0047】
更に、次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Pl信号が入力され、ロジックL1がロジックHとなっていることより、ラッチ用D−F/F17、19、21、23をラッチする。
【0048】
タイミングチャート例では、ロジック信号のラッチ結果は、パルス入力P0側の回路において、ロジックL0信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHでラッチされ、パルス入力Pl側の回路において、ロジックL1信号、T/4遅延信号はロジックH、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はロジックLである。
【0049】
更に、カウンタ7の計数値は2となっている。パルス間隔は、クロック信号の周期Tとラッチ回路のロジックを加減算することで求められる。
【0050】
すなわち、パルス入力P0側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを意味している。
【0051】
一方、パルス入力P1側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックLであり、T/4時間経過したことを示している。これらのラッチ結果はカウンタ7の計数値を補正するためのもので、加算器24でカウンタ7の計数値2とパルス入力P0側のラッチ結果より、2T+3T/4の結果を得る。
【0052】
次に、減算器25で加算器24の結果とパルス入力P1側のラッチ結果より、2T+3T/4−T/4、すなわち、2T+2T/4=2.5Tの結果を得る。
【0053】
以上説明したように、被測定パルス入力端子1のパルス入力P0信号と、被測定パルス入力端子2のパルス入力P1信号のパルス間隔を、クロック周期T以下をT/n分割する遅延回路を使用することでクロック周期T以下の周期で精度良く計測することが可能となる。
【0054】
遅延回路としては、ディレイライン、プログラマブルディレイライン、ロジックIC、プリントパターン等を、他の構成回路用デバイスとして、CMOS、ECL、FPGA等で構成しても高精度で計測が可能となる。
【0055】
実施の形態2.
この発明の実施の形態2に係るパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図3は、この発明の実施の形態2に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【0056】
図3において、1、2はパルス入力信号をロジック入力信号に変換するD−F/F、3、4はクロック信号とタイミングをとるための遅延回路、5はクロック信号を発生するクロック回路、6はロジック入力信号とクロック信号のANDゲート、7はクロック数を計数するカウンタ、8、9はロジック信号入力をクロック信号と同期させるためのD−F/Fである。なお、D−F/F1及び2は、図3に示すようにカスケード接続されている。
【0057】
また、同図において、10、11はクロック信号の周期TのT/4遅延回路、12、13はクロック信号の周期Tの2T/4遅延回路、14、15はクロック信号の周期Tの3T/4遅延回路、16〜23は遅延したロジック信号をラッチするD−F/F
【0058】
さらに、同図において、24はカウンタ7の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20、22の出力を加算する加算器、25は加算器24の出力から遅延ロジック信号ラッチ回路17、19、21、23の出力を減じる減算器、26は減算器25の演算完了信号によりラッチを解除するリセット回路である。
【0059】
つぎに、この実施の形態2に係るパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0060】
図4は、この発明の実施の形態2に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【0061】
測定回路の起動時は、リセット回路26からリセット信号を送出し、すべてのラッチをリセットする。
【0062】
リセットにより、パルス入力のD−F/F1はロジックH変換可能状態に、D−F/F2はロジックH変換が停止した状態となる。
【0063】
被測定パルス入力端子に最初のパルス入力P0が入力されると、ロジック信号変換用D−F/F1によりロジック出力L0はロジックHの信号が出力され、パルス入力のD−F/F2がロジックH変換可能状態になる。
【0064】
ロジック出力L0は、遅延回路3を経てANDゲート6に入力され、ロジック出力L0のロジックH、パルス入力Plの入力無しのロジックH、クロック信号のロジックHの3入力ANDの条件でクロック数をカウンタ7で計数する。
【0065】
また、遅延回路3の出力は、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0066】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L0がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20、22がラッチされる。
【0067】
次に、被測定パルス入力端子にパルス入力Plが入力されると、ロジック信号変換用D−F/F2によりロジック出力L1はロジックHの信号が出力される。
【0068】
ロジック出力L1は、遅延回路4を経て、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、T/4遅延回路11を経てロジック信号ラッチ用D−F/F19、2T/4遅延回路13を経てロジック信号ラッチ用D−F/F21、更に3T/4遅延回路15を経てロジック信号ラッチ用D−F/F23に送出される。
【0069】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L1がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、19、21、23がラッチされる。
【0070】
クロック回路5のクロック信号はカウンタ7の計数に使用すると同時に、入力パルスのクロック信号との遅延時間計測にも使用する。
【0071】
パルス入力Pl信号が未入力の状態で、パルス入力P0信号が入力されると、ロジックL0信号はロジックHとなり、このロジックL0信号は遅延回路10、12、14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、20、22に入力されており、パルス入力P0信号入力後の最初のクロック信号のロジックHの条件でラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチし、更にカウンタ7の計数を1とする。
【0072】
次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Plが未入力であり、カウンタ7の計数を2にカウントアップする。
【0073】
パルス入力P1信号が入力され、ロジックL1がロジックHになると、カウンタ入力のANDゲート6が閉となり、カウンタ7の計数は停止となると同時に、ロジックL1信号は遅延回路11、13、15を経てロジック信号が順次ロジックHとなる。
【0074】
更に、次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Pl信号が入力され、ロジックL1がロジックHとなっていることより、ラッチ用D−F/F17、19、21、23をラッチする。
【0075】
タイミングチャート例では、ロジック信号のラッチ結果は、パルス入力P0側の回路において、ロジックL0信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHでラッチされ、パルス入力Pl側の回路において、ロジックL1信号、T/4遅延信号はロジックH、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はロジックLである。
【0076】
更に、カウンタ7の計数値は2となっている。
【0077】
パルス間隔は、クロック信号の周期Tとラッチ回路のロジックを加減算することで求められる。
【0078】
すなわち、パルス入力P0側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを意味している。
【0079】
一方、パルス入力Pl側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックLであり、T/4時間経過したことを示している。
【0080】
これらのラッチ結果はカウンタ7の計数値を補正するためのもので、加算器24でカウンタ7の計数2とパルス入力P0側のラッチ結果より、2T+3T/4の結果を得る。
【0081】
次に、減算器25で加算器24の結果とパルス入力Pl側のラッチ結果より、2T+3T/4−T/4、すなわち、2T+2T/4=2.5Tの結果を得る。
【0082】
以上説明したように、被測定パルス入力端子の最初のパルス入力P0信号と次のパルス入力Pl信号のパルス間隔をクロック周期T以下をT/n分割する遅延回路を使用することでクロック周期T以下の周期で精度良く計測できる効果がある。
【0083】
遅延回路としては、ディレイライン、プログラマブルディレイライン、ロジックIC、プリントパターン等を、他の構成回路用デバイスとして、CMOS、ECL、FPGA等で構成しても高精度で計測が可能となる。
【0084】
実施の形態3.
この発明の実施の形態3に係るパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図5は、この発明の実施の形態3に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【0085】
図5において、1、2、31はパルス入力信号をロジック入力信号に変換するD−F/F、3、4、32はクロック信号とタイミングをとるための遅延回路、5はクロック信号を発生するクロック回路、6、27はロジック入力信号とクロック信号のANDゲート、7、28はクロック数を計数するカウンタ、8、9、33はロジック信号入力をクロック信号と同期させるためのD−F/Fである。なお、D−F/F1、2及び31は、図5に示すようにカスケード接続されている。
【0086】
また、同図において、10、11、34はクロック信号の周期TのT/4遅延回路、12、13、35はクロック信号の周期Tの2T/4遅延回路、14、15、36はクロック信号の周期Tの3T/4遅延回路、16〜23、37〜40は遅延したロジック信号をラッチするD−F/Fである。
【0087】
さらに、同図において、26は減算器41の演算完了信号によりラッチを解除するリセット回路、29はカウンタ7の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20、22の加算と遅延信号ラッチ回路17、19、21、23の減算を行う加減算器、30はカウンタ28の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路17、19、21、23の加算を行う加算器、41は加算器30から遅延ロジック信号ラッチ回路37、38、39、40を減じる減算器である。
【0088】
つぎに、この実施の形態3に係るパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0089】
図6は、この発明の実施の形態3に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【0090】
測定回路の起動時は、リセット回路26からリセット信号を送出し、すべてのラッチをリセットする。
【0091】
リセットにより、パルス入力のD−F/F1はロジックH変換可能状態に、D−F/F2はロジックH変換が停止した状態となる。
【0092】
被測定パルス入力端子に最初のパルス入力P0が入力されると、ロジック信号変換D−F/F1によりロジック出力L0はロジックHの信号が出力され、パルス入力のD−F/F2がロジックH変換可能状態になる。
【0093】
ロジック出力L0は、遅延回路3を経てANDゲート6に入力され、ロジック出力L0のロジックH、パルス入力Plの入力無しのロジックH、クロック信号のロジックHの3入力ANDの条件でクロック数をカウンタ7で計数する。
【0094】
また、遅延回路3の出力は、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0095】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L0がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20、22がラッチされる。
【0096】
次に、被測定パルス入力端子にパルス入力Plが入力されると、ロジック信号変換D−F/F2によりロジック出力L1はロジックHの信号が出力される。
【0097】
ロジック出力L1は、遅延回路4を経て、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、T/4遅延回路11を経てロジック信号ラッチ用D−F/F19、2T/4遅延回路13を経てロジック信号ラッチ用D−F/F21、更に3T/4遅延回路15を経てロジック信号ラッチ用D−F/F23に送出される。
【0098】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L1がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、19、21、23がラッチされる。
【0099】
クロック回路5のクロック信号はカウンタ7、28の計数に使用すると同時に、入力パルスのクロック信号との遅延時間計測にも使用する。
【0100】
パルス入力Pl信号が未入力の状態で、パルス入力P0信号が入力されると、ロジックL0信号はロジックHとなり、このロジックL0信号は、遅延回路10、12、14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、20、22に入力されており、パルス入力P0信号入力後の最初のクロック信号のロジックHの条件でラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチし、更にカウンタ7の計数を1とする。
【0101】
次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Plが未入力であり、カウンタ7の計数を2にカウントアップする。
【0102】
パルス入力P1信号が入力され、ロジックL1がロジックHになると、カウンタ入力のANDゲート6が閉となり、カウンタ7の計数は停止となると同時に、ロジックL1信号は遅延回路11、13、15を経てロジック信号が順次ロジックHになると共に、パルス入力P2のロジック変換D−F/Fの入力待ち状態となる。
【0103】
更に、次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力P1信号が入力され、ロジックL1がロジックHとなっていることより、ラッチ用D−F/F17、19、21、23をラッチし、更にカウンタ28の計数を1とする。
【0104】
次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力P2が未入力であり、カウンタ28の計数を2にカウントアップする。
【0105】
パルス入力P2信号が入力され、ロジックL2がロジックHになると、カウンタ入力のANDゲート27が閉となり、カウンタ28の計数は停止となると同時に、ロジックL2信号は遅延回路34、35、36を経てロジック信号が順次ロジックHとなる。
【0106】
タイミングチャート例では、ロジック信号のラッチ結果は、パルス入力P0側の回路において、ロジックL0信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHでラッチされ、パルス入力Pl側の回路において、ロジックL1信号、T/4遅延信号はロジックH、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はロジックLでラッチされ、パルス入力P2側の回路において、ロジックL2信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHである。
【0107】
更に、カウンタ7、28の計数値は2となっている。
【0108】
パルス間隔は、クロック信号の周期Tとラッチ回路のロジックを加減算することで求められる。
【0109】
すなわち、パルス入力P0側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを意味している。
【0110】
一方、パルス入力P1側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックLであり、T/4時間経過したことを示している。
【0111】
これらのラッチ結果はカウンタ7の計数値を補正するためのもので、加減算器29でカウンタ7の計数2とパルス入力P0側のラッチ結果より、加算値として2T+3T/4の結果を得る。
【0112】
次に、パルス入力Pl側のラッチ結果を減算することで、2T+3T/4−T/4、すなわち、パルス入力P0とパルス入力Plの時間間隔は2T+2T/4=2.5Tの結果を得る。
【0113】
同様に、パルス入力Pl側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックLであり、T/4時間経過したことを意味している。
【0114】
一方、パルス入力P2側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを示している。
【0115】
これらのラッチ結果はカウンタ28の計数値を補正するためのもので、加算器30でカウンタ28の計数2とパルス入力P1側のラッチ結果より、2T+T/4の結果を得る。
【0116】
次に、減算器41で加算器30の結果とパルス入力P2側のラッチ結果より、2T+T/4−3T/4、すなわち、パルス入力Plとパルス入力P2の時間間隔2T−2T/4=1.5Tの結果を得る。
【0117】
以上説明したように、被測定パルス入力端子の最初のパルス入力P0信号と次のパルス入力P1信号、更に次のパルス入力信号P2信号のパルス間隔をクロック周期T以下をT/n分割する遅延回路を使用することでクロック周期T以下の周期でパルス列のパルス入力間隔を連続して精度良く計測できる効果がある。
【0118】
本例ではパルス入力数をP0、P1、P2の3つとしたが、回路構成を増やすことでパルス入力数を増やすことができ、間隔計測時の初期パルス入力P0と次のパルス入力Plは、更に次の初期パルスとして使用できるため回路数が少なくて済む利点がある。
【0119】
更に、サイクリックに処理することも可能であり、連続したパルス入力の間隔を簡易な回路で連続して計装できる。
【0120】
遅延回路としては、ディレイライン、プログラマブルディレイライン、ロジックIC、プリントパターン等を、他の構成回路用デバイスとして、CMOS、ECL、FPGA等で構成しても高精度で計測が可能となる。
【0121】
実施の形態4.
この発明の実施の形態4に係るパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図7は、この発明の実施の形態4に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【0122】
図7において、1、2はパルス入力信号をロジック入力信号に変換するD−F/F、5はクロック信号を発生するクロック回路、6はロジック入力信号とクロック信号のANDゲート、7はクロック数を計数するカウンタ、8、9はロジック信号入力をクロック信号と同期させるためのD−F/Fである。なお、D−F/F1及び2は、図7に示すようにカスケード接続されている。
【0123】
また、同図において、10はクロック信号の周期TのT/4遅延回路、12はクロック信号の周期Tの2T/4遅延回路、14はクロック信号の周期Tの3T/4遅延回路、16、18、20、22は遅延したロジック信号をラッチするD−F/Fである。
【0124】
さらに、同図において、24はカウンタ7の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20、22の出力を加算する加算器、25は加算器24の出力から遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20、22の出力を減じる減算器、26は減算器25の演算完了信号によりラッチを解除するリセット回路、42は遅延回路のロジック状態を保持するレジスタ、43はレジスタ42の入力許可を与えるENABLE信号を発生するD−F/F、44は遅延ロジック信号ラッチ回路のラッチ信号発生用ORゲートである。
【0125】
つぎに、この実施の形態4に係るパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0126】
図8は、この発明の実施の形態4に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【0127】
測定回路の起動時は、リセット回路26からリセット信号を送出し、すべてのラッチをリセットする。
【0128】
リセットにより、パルス入力のD−F/F1はロジックH変換可能状態に、D−F/F2はロジックH変換が停止した状態となる。
【0129】
被測定パルス入力端子に最初のパルス入力P0が入力されると、ロジック信号変換D−F/F1によりロジック出力L0はロジックHの信号が出力され、パルス入力のD−F/F2がロジックH変換可能状態になる。
【0130】
ロジック出力L0は、ANDゲート6に入力され、ロジック出力L0のロジックH、パルス入力P1の入力無しのロジックH、クロック信号のロジックHの3入力ANDの条件でクロック数をカウンタ7で計数する。
【0131】
また、ロジック出力L0は、ANDゲート6を経て、更にロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0132】
ANDゲート6の出力は、パルス入力P0信号のクロックとの端数を求めるためにD−F/F8に入力され、クロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用信号によりORゲート44を経てロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20、22で遅延回路出力ロジック信号をラッチする。
【0133】
また、ロジック信号ラッチ用信号はレジスタ42のENABLE信号を発生するD−F/F43のデータ入力信号として与えられる。
【0134】
ENABLE信号は、ロジック信号ラッチ用信号を発生させたクロック信号の次のクロック信号でENABLE信号をロジックLにして、レジスタ42へのデータの読み込みを停止する。
【0135】
次に、被測定パルス入力端子にパルス入力P1が入力されると、ロジック信号変換用D−F/F2のQ出力よりロジック出力L1はロジックHの信号、(−)Q出力よりロジック出力(−)L1はロジックLが出力される。ロジック出力L1はロジック信号ラッチ用D−F/F9へ送出される。なお、例えば(−)Qにおいて、(−)はQのオーバーラインを表す。
【0136】
ロジック出力(−)L1は、ロジック信号変換用D−F/F1に送出されると共に、ANDゲート6を経て、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0137】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L1がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20、22がラッチされる。
【0138】
クロック回路5のクロック信号はカウンタ7の計数に使用すると同時に、入力パルスのクロック信号との遅延時間計測にも使用する。
【0139】
パルス入力P1信号が未入力の状態で、パルス入力P0信号が入力されると、ロジックL0信号はロジックHとなり、このロジックL0信号はANDゲート6を経て、更に遅延回路10、12、14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、20、22に入力されており、パルス入力P0信号入力後の最初のクロック信号のロジックHの条件でラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチし、更にカウンタ7の計数を1とする。
【0140】
次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Plが未入力であり、カウンタ7の計数を2にカウントアップする。
【0141】
パルス入力Pl信号が入力され、ロジック信号変換用D−F/F2の(−)Q出力のロジック(−)L1がロジックLになると、カウンタ入力のANDゲート6が閉となり、カウンタ7の計数は停止となると同時に、ANDゲート6の出力信号は遅延回路10、12、14を経てロジック信号が順次ロジックLとなる。
【0142】
更に、次のクロック信号のロジックHでは、ロジックL1がロジックHとなっていることより、D−F/F9のロジック出力はロジックHとなり、ORゲート44を経て、ラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチする。但し、ラッチしたロジック信号は遅延回路のロジックがHからL側に変化するときに行うため、実施の形態1〜3とロジックレベルの方向は逆転している。
【0143】
タイミングチャート例では、ロジック信号のラッチ結果は、パルス入力P0側の回路において、ロジックL0信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHでラッチされ、パルス入力Pl側の回路において、ロジックL1信号、T/4遅延信号はロジックL、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はロジックHである。
【0144】
更に、カウンタ7の計数値は2となっている。
【0145】
パルス間隔は、クロック信号の周期Tとラッチ回路のロジックを加減算することで求められる。
【0146】
すなわち、パルス入力P0側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを意味している。
【0147】
一方、パルス入力Pl側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックHであり、T/4時間経過したことを示している。
【0148】
これらのラッチ結果はカウンタ7の計数値を補正するためのもので、加算器24でカウンタ7の計数2とパルス入力P0側のラッチ結果より、2T+3T/4の結果を得る。
【0149】
次に、減算器25で加算器24の結果とパルス入力Pl側のラッチ結果より、2T+3T/4−T/4、すなわち、2T+2T/4=2.5Tの結果を得る。
【0150】
以上説明したように、被測定パルス入力端子の最初のパルス入力P0信号と次のパルス入力Pl信号のパルス間隔をクロック周期T以下をT/n分割する同一の遅延回路を使用することでクロック周期T以下の周期で精度良く計測できる効果がある。
【0151】
遅延回路としては、ディレイライン、プログラマブルディレイライン、ロジックIC、プリントパターン等を、他の構成回路用デバイスとして、CMOS、ECL、FPGA等で構成しても高精度で計測が可能となる。
【0152】
実施の形態5.
この発明の実施の形態5に係るパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図9は、この発明の実施の形態5に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【0153】
図9において、1、2はパルス入力信号をロジック入力信号に変換するD−F/F、5はクロック信号を発生するクロック回路、6はロジック入力信号とクロック信号のANDゲート、7はクロック数を計数するカウンタ、8、9はロジック信号入力をクロック信号と同期させるためのD−F/Fである。なお、D−F/F1及び2は、図9に示すようにカスケード接続されている。
【0154】
また、同図において、10、11はクロック信号の周期TのT/4遅延回路、12、13はクロック信号の周期Tの2T/4遅延回路、14、15はクロック信号の周期Tの3T/4遅延回路、16〜23は遅延したロジック信号をラッチするD−F/Fである。
【0155】
さらに、同図において、24はカウンタ7の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20、22の出力を加算する加算器、25は加算器24の出力から遅延ロジック信号ラッチ回路17、19、21、23の出力を減じる減算器、26は減算器25の演算完了信号によりラッチを解除するリセット回路、45はクロック数を計数するカウンタ、46はロジック信号とクロック信号のANDゲート、47はクロック信号を遅延させる遅延回路、48はカウンタ7、45及びT/4遅延回路の出力を比較する比較回路である。
【0156】
つぎに、この実施の形態5に係るパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0157】
図10は、この発明の実施の形態5に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【0158】
測定回路の起動時は、リセット回路26からリセット信号を送出し、すべてのラッチをリセットする。
【0159】
リセットにより、パルス入力のD−F/F1はロジックH変換可能状態に、D−F/F2はロジックH変換が停止した状態となる。
【0160】
被測定パルス入力端子に最初のパルス入力P0が入力されると、ロジック信号変換用D−F/F1によりロジック出力L0はロジックHの信号が出力され、パルス入力のD−F/F2がロジックH変換可能状態になる。
【0161】
ロジック出力L0は、ANDゲート6、46に入力され、ロジック出力L0のロジックH、パルス入力Plの入力無しのロジックH、クロック信号のロジックHの3入力ANDの条件でクロック数をカウンタ7、45で計数する。但し、カウンタ45のクロック信号は、T/4遅延時間を越え、2T/4遅延時間未満の遅延回路を経て入力される。
【0162】
また、ロジック出力L0は、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0163】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L0がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20、22がラッチされる。
【0164】
次に、被測定パルス入力端子にパルス入力Plが入力されると、ロジック信号変換用D−F/F2によりロジック出力L1はロジックHの信号が出力される。
【0165】
ロジック出力L1は、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、T/4遅延回路11を経てロジック信号ラッチ用D−F/F19、2T/4遅延回路13を経てロジック信号ラッチ用D−F/F21、更に3T/4遅延回路15を経てロジック信号ラッチ用D−F/F23に送出される。
【0166】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L1がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、19、21、23がラッチされる。
【0167】
クロック回路5のクロック信号はカウンタ7、45の計数に使用すると同時に、入力パルスのクロック信号との遅延時間計測にも使用する。
【0168】
パルス入力Pl信号が未入力の状態で、パルス入力P0信号が入力されると、ロジックL0信号はロジックHとなり、このロジックL0信号は遅延回路10、12、14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、20、22に入力されており、パルス入力P0信号入力後の最初のクロック信号のロジックHの条件でラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチし、更にカウンタ7の計数を1とするが、ロジックL0信号とクロック信号が同時に入力した場合は、カウンタ7の計数は不確定となり1又は0となる。但し、カウンタ45は、カウンタ7に入力するクロック信号が遅延回路47を経てその入力とロジックL0信号で計数するため、クロック信号とロジックL0信号のロジックHに時間差があり計数を1とする。
【0169】
次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力P1が未入力であり、カウンタ7の計数をカウントアップし、計数は2又は1となる、カウンタ45も計数をカウントアップし、計数は2となる。
【0170】
パルス入力P1信号が入力され、ロジック信号L1がロジックHになると、カウンタ入力のANDゲート6、46が閉となり、カウンタ7、45の計数は停止となると同時に、ロジックL1信号は遅延回路11、13、15を経てロジック信号が順次ロジックHとなる。
【0171】
更に、次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力P1信号が入力され、ロジックL1がロジックHとなっていることより、ラッチ用D−F/F17、19、21、23をラッチする。
【0172】
タイミングチャート例では、ロジック信号のラッチ結果は、パルス入力P0側の回路において、ロジックL0信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHでラッチされ、パルス入力P1側の回路において、ロジックL1信号、T/4遅延信号はロジックH、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はロジックLである。
【0173】
しかし、パルス入力P1のロジック信号Hとクロック信号が同時に入力した場合は、カウンタ7の計数は不確定となり2又は1又は0となる。但し、カウンタ45は、カウンタ7に入力するクロック信号が遅延回路47を経てその入力とロジック出力L1のロジックH信号で計数するため、クロック信号とロジック信号L1のロジックH信号に時間差があり計数を2とする。
【0174】
比較回路48は、カウンタ7とカウンタ45の計数値に不一致が発生した場合に正しい計数を使用するための演算回路で、次の動作を行う。
【0175】
上述の例は、パルス入力P0のロジックH信号とクロック信号が同時に入力し、パルス入力PlのロジックH信号とクロック信号が同時に入力した場合で、カウンタ7の計数値が不確定となるが、T/4遅延信号はロジックL0信号、ロジックL1信号ともロジックL信号となることから、T/4遅延信号がロジックL0、L1信号がともにロジックL時はカウンタ45の計数値を使用して加減演算する。
【0176】
パルス入力P0のロジックH信号と遅延回路47を経たクロック信号が同時に入力し、パルス入力PlのロジックH信号と遅延回路47を経たクロック信号が同時に入力した場合は、カウンタ45の計数値が不確定となるが、T/4遅延信号はロジックL0信号、ロジックL1信号ともロジックH信号となることから、T/4遅延信号がロジック信号L0、L1ともにロジックH信号時はカウンタ7の計数値を使用して加減演算する。
【0177】
但し、パルス入力P0のロジックH信号とクロック信号が同時に入力し、パルス入力P1のロジックH信号と遅延回路47を経たクロック信号が同時に入力した場合、及びパルス入力P0のロジックH信号と遅延回路47を経たクロック信号が同時に入力し、パルス入力P1のロジックH信号とクロック信号が同時に入力した場合は、カウンタ7あるいはカウンタ45の計数値が不確定となり、T/4遅延信号のロジックL0信号、ロジックL1信号のロジック信号が不一致となり、計数できないことからエラーとして出力する。
【0178】
パルス間隔は、クロック信号の周期Tとラッチ回路のロジックを加減算することで求められる。
【0179】
すなわち、パルス入力P0側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを意味している。
【0180】
一方、パルス入力Pl側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックLであり、T/4時間経過したことを示している。
【0181】
これらのラッチ結果はカウンタ7の計数値を補正するためのもので、加算器24でカウンタ7の計数2とパルス入力P0側のラッチ結果より、2T+3T/4の結果を得る。
【0182】
次に、減算器25で加算器24の結果とパルス入力Pl側のラッチ結果より、2T+3T/4−T/4、すなわち、2T+2T/4=2.5Tの結果を得る。
【0183】
以上説明したように、クロック信号を計数するカウンタの計数値が不確定な場合にエラー出力し、不確定な値を排除する効果がある。
【0184】
遅延回路としては、ディレイライン、プログラマブルディレイライン、ロジックIC、プリントパターン等を、他の構成回路用デバイスとして、CMOS、ECL、FPGA等で構成しても高精度で計測が可能となる。
【0185】
実施の形態6.
この発明の実施の形態6に係るパルス間隔測定回路について図面を参照しながら説明する。図11は、この発明の実施の形態6に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【0186】
図11において、1、2はパルス入力信号をロジック入力信号に変換するD−F/F、5はクロック信号を発生するクロック回路、6はロジック入力信号とクロック信号のANDゲート、7はクロック数を計数するカウンタ、8、9はロジック信号入力をクロック信号と同期させるためのD−F/Fである。なお、D−F/F1及び2は、図11に示すようにカスケード接続されている。
【0187】
また、同図において、10、11はクロック信号の周期TのT/4遅延回路、12、13はクロック信号の周期Tの2T/4遅延回路、14、15はクロック信号の周期Tの3T/4遅延回路、16〜23は遅延したロジック信号をラッチするD−F/Fである。
【0188】
さらに、同図において、24はカウンタ7の計数値と遅延ロジック信号ラッチ回路16、18、20、22の出力を加算する加算器、25は加算器24の出力から遅延ロジック信号ラッチ回路17、19、21、23の出力を減じる減算器、26は減算器25の演算完了信号によりラッチを解除するリセット回路、45、49はクロック数を計数するカウンタ、46、50はロジック信号とクロック信号のANDゲート、47、51はクロック信号を遅延させる遅延回路、48はカウンタ7、45、49及びT/4遅延回路及び2T/4遅延回路のロジック出力を比較する比較回路である。
【0189】
つぎに、この実施の形態6に係るパルス間隔測定回路の動作について図面を参照しながら説明する。
【0190】
図12は、この発明の実施の形態6に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【0191】
測定回路の起動時は、リセット回路26からリセット信号を送出し、すべてのラッチをリセットする。
【0192】
リセットにより、パルス入力のD−F/F1はロジックH変換可能状態に、D−F/F2はロジックH変換が停止した状態となる。
【0193】
被測定パルス入力端子に最初のパルス入力P0が入力されると、ロジック信号変換用D−F/F1によりロジック出力L0はロジックHの信号が出力され、パルス入力のD−F/F2がロジックH変換可能状態になる。
【0194】
ロジック出力L0は、ANDゲート6、46、50に入力され、ロジック出力L0のロジックH、パルス入力P1の入力無しのロジックH、クロック信号のロジックHの3入力ANDの条件でクロック数をカウンタ7、45、49で計数する。但し、カウンタ45のクロック信号はT/4遅延時間を越え、2T/4遅延時間未満の遅延回路47を経て入力され、カウンタ49のクロック信号も同様にT/4遅延時間を越え、2T/4遅延時間未満の遅延回路51を経て入力される。
【0195】
また、ロジック出力L0は、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、T/4遅延回路10を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、2T/4遅延回路12を経てロジック信号ラッチ用D−F/F20、更に3T/4遅延回路14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F22に送出される。
【0196】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L0がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F16、18、20、22がラッチされる。
【0197】
次に、被測定パルス入力端子にパルス入力Plが入力されると、ロジック信号変換用D−F/F2によりロジック出力L1はロジックHの信号が出力される。
【0198】
ロジック出力L1は、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、T/4遅延回路11を経てロジック信号ラッチ用D−F/F19、2T/4遅延回路13を経てロジック信号ラッチ用D−F/F21、更に3T/4遅延回路15を経てロジック信号ラッチ用D−F/F23に送出される。
【0199】
ロジック信号のラッチ条件は、ロジック出力L1がロジックHでクロック信号がロジックHになる時、ロジック信号ラッチ用D−F/F17、19、21、23がラッチされる。
【0200】
クロック回路5のクロック信号はカウンタ7、45、49の計数に使用すると同時に、入力パルスのクロック信号との遅延時間計測にも使用する。
【0201】
パルス入力Pl信号が未入力の状態で、パルス入力P0信号が入力されると、ロジックL0信号はロジックHとなり、このロジックL0信号は遅延回路10、12、14を経てロジック信号ラッチ用D−F/F18、20、22に入力されており、パルス入力P0信号入力後の最初のクロック信号のロジックHの条件でラッチ用D−F/F16、18、20、22をラッチし、更にカウンタ7の計数を1とするが、ロジックL0信号とクロック信号が同時に入力した場合は、カウンタ7の計数は不確定となり1又は0となる。
【0202】
但し、カウンタ45は、カウンタ7に入力するクロック信号が遅延回路47を経てその入力とロジックL0信号で計数するため、クロック信号とロジック出力L0のロジックH信号に時間差があり計数を1とし、カウンタ49もカウンタ45と同様に計数を1とする。次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力P1が未入力であり、カウンタ7の計数をカウントアップし、計数は2又は1となる。カウンタ45、49も計数をカウントアップし、計数は2となる。
【0203】
パルス入力Pl信号が入力され、ロジックL1がロジックHになると、カウンタ入力のANDゲート6が閉となり、カウンタ7、45の計数は停止となると同時に、ロジックL1信号は遅延回路11、13、15を経てロジック信号が順次ロジックHとなる。
【0204】
更に、次のクロック信号のロジックHでは、パルス入力Pl信号が入力され、ロジックL1がロジックHとなっていることより、ラッチ用D−F/F17、19、21、23をラッチする。
【0205】
タイミングチャート例では、ロジック信号のラッチ結果は、パルス入力P0側の回路において、ロジックL0信号、T/4遅延信号、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はすべてロジックHでラッチされ、パルス入力Pl側の回路において、ロジックL1信号、T/4遅延信号はロジックH、2T/4遅延信号、3T/4遅延信号はロジックLである。
【0206】
しかし、パルス入力P1のロジック信号Hと遅延回路47を経たクロック信号が同時に入力した場合は、カウンタ45の計数は不確定となり3又は2となる。但し、カウンタ49は、カウンタ45に入力するクロック信号が遅延回路51を経てその入力とロジック出力L1のロジックH信号で計数するため、クロック信号とロジック出力L1のロジックH信号に時間差があり計数を2とする。
【0207】
比較回路48は、カウンタ7、カウンタ45及びカウンタ47の計数値に不一致が発生した場合に正しい計数を使用するための演算回路で、次の動作を行う。
【0208】
上述の例は、パルス入力P0のロジックH信号とクロック信号が同時に入力し、パルス入力P1のロジックH信号と遅延回路47を経たクロック信号が同時に入力した場合で、カウンタ7及びカウンタ45の計数値が不確定となるが、T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号となることから、この条件が成立した場合はカウンタ49の計数値を使用して加減演算する。
【0209】
パルス入力P0、PlのロジックL0、L1信号とクロック信号、遅延回路47を経たクロック信号及び遅延回路51を経たクロック信号の同時入力の組み合わせから上記以外の組み合わせは次のようにする。
【0210】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号時は、カウンタ49の計数値とする。
【0211】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号時は、カウンタ45の(計数値−1)とする。
【0212】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号時は、カウンタ45の計数値とする。
【0213】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号時は、カウンタ45の計数値とする。
【0214】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックL信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号時は、カウンタ7の(計数値−1)とする。
【0215】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号時は、カウンタ49の(計数値−1)とする。
【0216】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックL信号時は、カウンタ7の計数値とする。
【0217】
T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL0信号でロジックH信号、T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号、2T/4遅延信号はロジックL1信号でロジックH信号時は、カウンタ7の計数値とする。
【0218】
パルス間隔は、クロック信号の周期Tとラッチ回路のロジックを加減算することで求められる。
【0219】
すなわち、パルス入力P0側のラッチはすべてロジックHであり、これは3T/4時間経過したことを意味している。
【0220】
一方、パルス入力P1側は2T/4遅延信号、3T/4遅延信号がロジックLであり、T/4時間経過したことを示している。
【0221】
これらのラッチ結果はカウンタ7の計数値を補正するためのもので、加算器24でカウンタ7の計数2とパルス入力P0側のラッチ結果より、2T+3T/4の結果を得る。
【0222】
次に、減算器25で加算器24の結果とパルス入力Pl側のラッチ結果より、2T+3T/4−T/4、すなわち、2T+2T/4=2.5Tの結果を得る。
【0223】
以上説明したように、クロック信号を計数するカウンタの計数値の不確定な場合に遅延回路のロジックレベルを比較して正確な計数値で演算する比較回路48を設け、精度良く計測できる効果がある。
【0224】
遅延回路としては、ディレイライン、プログラマブルディレイライン、ロジックIC、プリントパターン等を・他の構成回路用デバイスとして、CMOS、ECL、FPGA等で構成しても高精度で計測が可能となる。
【0225】
【発明の効果】
この発明に係るパルス間隔測定回路は、以上説明したとおり、クロック信号を発生するクロック回路と、初期パルス入力を初期ロジック信号に変換する初期パルス用D−F/Fと、次期パルス入力を次期ロジック信号に変換する次期パルス用D−F/Fと、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止するカウンタと、前記初期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる初期ロジック用D−F/Fと、前記次期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる次期ロジック用D−F/Fと、前記同期した初期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる初期パルス用遅延回路と、前記同期した次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる次期パルス用遅延回路と、前記遅延した初期ロジック信号をラッチする初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記遅延した次期ロジック信号をラッチする次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記カウンタの計数値と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する加算器と、前記加算器の出力から前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算する減算器とを備えたので、クロック信号の周期以下の周期でパルス間隔を高い精度で計測できるという効果を奏する。
【0226】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、以上説明したとおり、前記初期パルス用D−F/Fと前記次期パルス用D−F/Fをカスケード接続したので、クロック信号の周期以下の周期でパルス間隔を高い精度で計測できるという効果を奏する。
【0227】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、以上説明したとおり、クロック信号を発生するクロック回路と、初期パルス入力を初期ロジック信号に変換する初期パルス用D−F/Fと、次期パルス入力を次期ロジック信号に変換する次期パルス用D−F/Fと、第3パルス入力を第3ロジック信号に変換する第3パルス用D−F/Fと、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第1のカウンタと、前記次期ロジック信号、前記第3パルス入力が無しの場合の第3ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記第3パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、前記初期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる初期ロジック用D−F/Fと、前記次期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる次期ロジック用D−F/Fと、前記第3ロジック信号を前記クロック信号と同期させる第3ロジック用D−F/Fと、前記同期した初期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる初期パルス用遅延回路と、前記同期した次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる次期パルス用遅延回路と、前記同期した第3ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる第3パルス用遅延回路と、前記遅延した初期ロジック信号をラッチする初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記遅延した次期ロジック信号をラッチする次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記遅延した第3ロジック信号をラッチする第3ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、前記第1のカウンタの計数値と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算し、この加算値から前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算する加減算器と、前記第2のカウンタの計数値と前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する加算器と、前記加算器の出力から前記第3ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記次期及び第3パルス入力のパルス間隔を演算する減算器とを備えたので、クロック信号の周期以下の周期でパルス間隔を高い精度で計測できるという効果を奏する。
【0228】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、以上説明したとおり、前記次期パルス用遅延回路を削除し、前記初期パルス用遅延回路は、前記同期した初期及び次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させ、前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fを削除し、前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fは、前記遅延した初期及び次期ロジック信号をラッチし、前記加算器は、前記カウンタの計数値と前記ラッチされた初期ロジック信号を加算し、前記減算器は、前記加算器の出力から前記ラッチされた次期ロジック信号を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算し、初期パルス用と次期パルス用の遅延回路を共用するので、クロック信号の周期以下の周期でパルス間隔を高い精度で計測できるという効果を奏する。
【0229】
また、この発明に係るパルス間隔測定回路は、以上説明したとおり、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、前記カウンタ及び前記第2のカウンタの計数値が不確定な場合にはエラーを出力する比較回路とをさらに備えたので、クロック信号の周期以下の周期でパルス間隔を高い精度で計測できるという効果を奏する。
【0230】
さらに、この発明に係るパルス間隔測定回路は、以上説明したとおり、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び第1の時間だけ遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び第2の時間だけ遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第3のカウンタと、前記初期及び次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力の所定の条件に基づいて、前記カウンタ、前記第2のカウンタ、又は前記第3のカウンタの計数値のいずれかを前記加算器へ出力する比較回路とをさらに備え、前記加算器は、前記比較回路の出力と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算するので、クロック信号の周期以下の周期でパルス間隔を高い精度で計測できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態1に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図2】この発明の実施の形態1に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図3】この発明の実施の形態2に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図4】この発明の実施の形態2に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図5】この発明の実施の形態3に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図6】この発明の実施の形態3に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図7】この発明の実施の形態4に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図8】この発明の実施の形態4に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図9】この発明の実施の形態5に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図10】この発明の実施の形態5に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図11】この発明の実施の形態6に係るパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図12】この発明の実施の形態6に係るパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図13】従来のパルス間隔測定回路の構成を示す図である。
【図14】従来のパルス間隔測定回路の動作を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
1、2 D−F/F、3、4 遅延回路、5 クロック回路、6 ANDゲート、7 カウンタ、8、9 D−F/F、10、11 T/4遅延回路、12、13 2T/4遅延回路、14、15 3T/4遅延回路、16〜23 D−F/F、24 加算器、25 減算器、26 リセット回路、27 ANDゲート、28 カウンタ、29 加減算器、30 加算器、31 D−F/F、32 遅延回路、33 D−F/F、34 T/4遅延回路、35 2T/4遅延回路、36 3T/4遅延回路、37〜40 D−F/F、41 減算器、42 レジスタ、43 D−F/F、44 ORゲート、45 カウンタ、46 ANDゲート、47 遅延回路、48 比較回路、49 カウンタ、50 ANDゲート、51 遅延回路。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a pulse interval measuring circuit of a radiation measuring apparatus that measures a radiation incident position by obtaining a time difference between both ends of an optical fiber of a pulse signal generated when radiation enters the optical fiber.
[0002]
[Prior art]
A conventional pulse interval measuring circuit will be described with reference to the drawings. FIG. 13 and FIG. 14 are a diagram showing a configuration of a conventional pulse interval measuring circuit disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. H4-244971, and a timing chart showing its operation.
[0003]
In FIG. 13,
[0004]
In the same figure, 913 is a first register for storing the count value of the
[0005]
Further, in the figure,
[0006]
Next, the operation of the conventional pulse interval measuring circuit will be described with reference to the drawings.
[0007]
A start pulse enable signal, a preset signal (PRST), and a reset signal (RST) are output from the
[0008]
Next, when a start pulse P0, which is the first pulse, is supplied from the pulse input terminal to be measured, a preset signal (PRST) is supplied through an
[0009]
In this case, the
[0010]
Next, when the first pulse P1 from the start pulse P0 is applied to the pulse input terminal to be measured, the
[0011]
Next, the outputs of the RS-F /
[0012]
The
[0013]
FIG. 14 illustrates a case where a true count value is Nk and the timing pulse Pl is Nk + 5/8.
[0014]
In this example, the output of the
[0015]
The timing of the pulse Pl is measured with a resolution of 1/4 of the LSB of m bits, that is, with m + 2 bits, and the arithmetic processing at that time is performed as follows.
[0016]
Since the logical outputs of the DF /
[0017]
As described above, either one of the
[0018]
When the
[0019]
Therefore, the
[0020]
When the strobe signal (STB) is generated, the
[0021]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional pulse interval measuring circuit as described above, the start clock must be synchronized by the pulse input P0, a high-precision synchronous circuit is required, and the configuration is required when measuring the pulse interval of continuous pulses. There was a problem that it became complicated.
[0022]
In addition, when the pulse interval is shortened, there is a problem that the delay time of each component is greatly affected by the large number of component configurations.
[0023]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and a pulse interval between consecutive pulses can be easily configured without a synchronization circuit for a start clock by a pulse input P0, and measurement is performed even when the pulse interval is short. It is an object of the present invention to obtain a pulse interval measuring circuit capable of performing the above.
[0024]
[Means for Solving the Problems]
A pulse interval measuring circuit according to the present invention includes a clock circuit for generating a clock signal, a DF / F for initial pulse for converting an initial pulse input into an initial logic signal, and a next circuit for converting a next pulse input into a next logic signal. When the pulse DF / F, the initial logic signal, the next logic signal when there is no next pulse input, and the clock signal is logic H, the number of clocks of the clock signal is counted, and the next pulse input is performed. When there is a counter, the counter for stopping the counting, the DF / F for initial logic for synchronizing the initial logic signal with the clock signal, and the D for next logic for synchronizing the next logic signal with the clock signal. F / F and the synchronized initial logic signal are sequentially delayed by a delay equal to the period of the clock signal. An initial pulse delay circuit, a next pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal, and an initial logic signal latch for latching the delayed initial logic signal DF / F, a next logic signal latching DF / F that latches the delayed next logic signal, and the count value of the counter and the output of the initial logic signal latching DF / F. An adder; and a subtractor for subtracting an output of the next logic signal latch DF / F from an output of the adder to calculate a pulse interval between the initial and next pulse inputs.
[0025]
In the pulse interval measuring circuit according to the present invention, the DF / F for the initial pulse and the DF / F for the next pulse are cascaded.
[0026]
The pulse interval measurement circuit according to the present invention includes a clock circuit for generating a clock signal, an initial pulse DF / F for converting an initial pulse input into an initial logic signal, and a next pulse input being converted into a next logic signal. DF / F for the next pulse to be converted, DF / F for the third pulse for converting a third pulse input into a third logic signal, the initial logic signal, and the next logic in the absence of the next pulse input A first counter that counts the number of clocks of the clock signal when the signal and the clock signal are at logic H, and stops counting when the next pulse is input; The third logic signal when there is no pulse input, and counting the number of clocks of the clock signal when the clock signal is logic H, A second counter for stopping the counting when there is a pulse input, a DF / F for initial logic for synchronizing the initial logic signal with the clock signal, and synchronizing the next logic signal with the clock signal. The next logic DF / F to be synchronized, the third logic DF / F for synchronizing the third logic signal with the clock signal, and the synchronized initial logic signal are equally divided into periods of the clock signal. An initial pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal, a next pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal, and the synchronized third logic signal. A third pulse delay circuit for sequentially delaying the clock signal by an equal delay, and latching the delayed initial logic signal D / F for latching the next logic signal, D / F for latching the next logic signal that latches the delayed next logic signal, and D for latching the third logic signal that latches the delayed third logic signal -F / F, the count value of the first counter, and the output of the initial logic signal latch DF / F, and the output of the next logic signal latch DF / F is calculated from the added value. An adder / subtractor for calculating the pulse interval of the initial and next pulse input by subtracting the adder, an adder for adding the count value of the second counter and the output of the next logic signal latch DF / F, and the adder And a subtractor for subtracting the output of the third logic signal latch DF / F from the output of the second logic signal to calculate the pulse interval of the next and third pulse inputs.
[0027]
In the pulse interval measuring circuit according to the present invention, the delay circuit for the next pulse may be omitted, and the delay circuit for the initial pulse may be obtained by dividing the synchronized initial and next logic signals by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal. And the next logic signal latch DF / F is deleted, the initial logic signal latch DF / F latches the delayed initial and next logic signals, and the adder The count value of the counter is added to the latched initial logic signal, and the subtracter subtracts the latched next logic signal from the output of the adder to calculate a pulse interval of the initial and next pulse inputs. , The delay circuit for the initial pulse and the delay circuit for the next pulse are shared.
[0028]
Further, the pulse interval measurement circuit according to the present invention counts the number of clocks of the clock signal when the initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the delayed clock signal is logic H, The apparatus further includes a second counter that stops the counting when the next pulse input is present, and a comparison circuit that outputs an error when the count values of the counter and the second counter are indeterminate. Things.
[0029]
Further, the pulse interval measuring circuit according to the present invention is characterized in that the initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the clock of the clock signal when the clock signal delayed by the first time is logic H A second counter that counts the number and stops the counting if the next pulse input is present, the initial logic signal, the next logic signal without the next pulse input, and the second time When the delayed clock signal is logic H, the number of clocks of the clock signal is counted, and when the next pulse is input, a third counter that stops the counting is provided. The count value of the counter, the second counter, or the third counter is determined based on a predetermined condition of the output of the F / F. Further comprising a comparison circuit for outputting to the adder Zureka, said adder is for adding the outputs of said initial logic signal latch D-F / F of the comparator circuit.
[0030]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
First Embodiment A pulse interval measuring circuit according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to
[0031]
In FIG. 1, 1 and 2 are DF / Fs for converting a pulse input signal into a logic input signal, 3 and 4 are delay circuits for taking timing with a clock signal, 5 is a clock circuit for generating a clock signal, and 6 Is an AND gate for a logic input signal and a clock signal, 7 is a counter for counting the number of clocks, and 8 and 9 are DF / Fs for synchronizing the logic input signal with the clock signal.
[0032]
Also, in the figure, 10 and 11 are T / 4 delay circuits of the clock signal period T, 12 and 13 are 2T / 4 delay circuits of the clock signal period T, and 14 and 15 are 3T / 3 of the clock signal period T. Four delay circuits, 16 to 23, are DF / Fs for latching delayed logic signals.
[0033]
Further, in the figure,
[0034]
Next, the operation of the pulse interval measuring circuit according to the first embodiment will be described with reference to the drawings.
[0035]
FIG. 2 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to the first embodiment of the present invention.
[0036]
When the measuring circuit is started, a reset signal is sent from the
[0037]
The pulse interval is measured by measuring the interval between the measured
[0038]
When the pulse input P0 is input to the measured
[0039]
The output of the
[0040]
The logic signal latch condition is such that when the logic output L0 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0041]
When the pulse input P1 is input to the measured
[0042]
The logic output L1 passes through the
[0043]
The logic signal latch condition is that when the logic output L1 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latching DF /
[0044]
The clock signal of the
[0045]
When the pulse input P0 signal is input while the pulse input P1 signal is not input, the logic L0 signal becomes logic H, and the logic L0 signal passes through the
[0046]
In the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl has not been input, and the
[0047]
Further, in the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl signal is input and the logic L1 is in the logic H, so that the latch DF /
[0048]
In the example of the timing chart, the latch result of the logic signal indicates that the logic L0 signal, the T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all latched by the logic H in the circuit on the pulse input P0 side. In the circuit on the input Pl side, the logic L1 signal and the T / 4 delay signal are logic H, the 2T / 4 delay signal is logic L, and the 3T / 4 delay signal is logic L.
[0049]
Further, the count value of the
[0050]
That is, all the latches on the pulse input P0 side are at logic H, which means that 3T / 4 time has elapsed.
[0051]
On the other hand, the pulse input P1 indicates that the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic L, and that T / 4 time has elapsed. These latch results are for correcting the count value of the
[0052]
Next, a result of 2T + 3T / 4−T / 4, that is, 2T + 2T / 4 = 2.5T is obtained from the result of the
[0053]
As described above, the delay circuit that divides the pulse interval between the pulse input P0 signal of the
[0054]
Even if delay lines, programmable delay lines, logic ICs, print patterns, and the like are configured as delay circuits, and CMOS, ECL, FPGA, and the like are configured as other component circuit devices, measurement can be performed with high accuracy.
[0055]
Second Embodiment A pulse interval measuring circuit according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to
[0056]
In FIG. 3,
[0057]
Also, in the figure,
[0058]
Further, in the figure,
[0059]
Next, the operation of the pulse interval measuring circuit according to the second embodiment will be described with reference to the drawings.
[0060]
FIG. 4 is a timing chart showing the operation of the pulse interval measuring circuit according to
[0061]
When the measuring circuit is started, a reset signal is sent from the
[0062]
By the reset, the pulse input DF / F1 is in a state where logic H conversion is possible, and the DF / F2 is in a state where logic H conversion is stopped.
[0063]
When the first pulse input P0 is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L0 outputs a logic H signal by the logic signal conversion DF / F1, and the pulse input DF / F2 changes to the logic H. It will be in a convertible state.
[0064]
The logic output L0 is input to the AND
[0065]
The output of the
[0066]
The logic signal latch condition is that when the logic output L0 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0067]
Next, when the pulse input Pl is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L1 outputs a logic H signal by the logic signal conversion DF / F2.
[0068]
The logic output L1 passes through the
[0069]
The logic signal latch condition is that when the logic output L1 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0070]
The clock signal of the
[0071]
When the pulse input P0 signal is input while the pulse input P1 signal is not input, the logic L0 signal becomes logic H, and the logic L0 signal passes through the
[0072]
In the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl has not been input, and the
[0073]
When the pulse input P1 signal is input and the logic L1 becomes a logic H, the AND
[0074]
Further, in the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl signal is input and the logic L1 is in the logic H, so that the latch DF /
[0075]
In the example of the timing chart, the latch result of the logic signal indicates that the logic L0 signal, the T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all latched by the logic H in the circuit on the pulse input P0 side. In the circuit on the input Pl side, the logic L1 signal and the T / 4 delay signal are logic H, the 2T / 4 delay signal is logic L, and the 3T / 4 delay signal is logic L.
[0076]
Further, the count value of the
[0077]
The pulse interval is obtained by adding and subtracting the period T of the clock signal and the logic of the latch circuit.
[0078]
That is, all the latches on the pulse input P0 side are at logic H, which means that 3T / 4 time has elapsed.
[0079]
On the other hand, the pulse input P1 indicates that the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic L, and that T / 4 time has elapsed.
[0080]
These latch results are for correcting the count value of the
[0081]
Next, a result of 2T + 3T / 4-T / 4, that is, 2T + 2T / 4 = 2.5T is obtained from the result of the
[0082]
As described above, by using the delay circuit that divides the pulse interval between the first pulse input P0 signal and the next pulse input P1 signal of the measured pulse input terminal by T / n, the clock cycle T or less, the clock cycle T or less is used. This has the effect of being able to measure accurately with a period of
[0083]
Even if delay lines, programmable delay lines, logic ICs, print patterns, and the like are configured as delay circuits, and CMOS, ECL, FPGA, and the like are configured as other component circuit devices, measurement can be performed with high accuracy.
[0084]
Third Embodiment A pulse interval measuring circuit according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to
[0085]
In FIG. 5,
[0086]
In the same figure, 10, 11, and 34 are T / 4 delay circuits with a clock signal period T, 12, 13, and 35 are 2T / 4 delay circuits with a clock signal period T, and 14, 15, and 36 are
[0087]
Further, in the figure,
[0088]
Next, the operation of the pulse interval measuring circuit according to the third embodiment will be described with reference to the drawings.
[0089]
FIG. 6 is a timing chart showing the operation of the pulse interval measuring circuit according to
[0090]
When the measuring circuit is started, a reset signal is sent from the
[0091]
By the reset, the pulse input DF / F1 is in a state where logic H conversion is possible, and the DF / F2 is in a state where logic H conversion is stopped.
[0092]
When the first pulse input P0 is input to the pulse input terminal to be measured, a logic H signal is output from the logic output L0 by the logic signal conversion DF / F1, and the pulse input DF / F2 is converted to the logic H. It becomes possible.
[0093]
The logic output L0 is input to the AND
[0094]
The output of the
[0095]
The logic signal latch condition is that when the logic output L0 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0096]
Next, when the pulse input Pl is input to the pulse input terminal to be measured, a logic H signal is output from the logic output L1 by the logic signal conversion DF / F2.
[0097]
The logic output L1 passes through the
[0098]
The logic signal latch condition is that when the logic output L1 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0099]
The clock signal of the
[0100]
When the pulse input P0 signal is input in a state where the pulse input P1 signal is not input, the logic L0 signal becomes logic H, and this logic L0 signal passes through the
[0101]
In the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl has not been input, and the
[0102]
When the pulse input P1 signal is input and the logic L1 becomes a logic H, the AND
[0103]
Further, in the logic H of the next clock signal, the pulse input P1 signal is input and the logic L1 is at the logic H, so that the latch DF /
[0104]
In the logic H of the next clock signal, the pulse input P2 has not been input, and the counter 28 counts up to 2.
[0105]
When the pulse input P2 signal is input and the logic L2 becomes a logic H, the AND
[0106]
In the example of the timing chart, the result of latching the logic signal is that the logic L0 signal, the T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all latched by the logic H in the circuit on the pulse input P0 side. In the circuit on the input Pl side, the logic L1 signal and the T / 4 delay signal are latched by logic H, the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are latched by logic L, and in the circuit on the pulse input P2 side, the logic L2 signal and The T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all logic H.
[0107]
Further, the count values of the
[0108]
The pulse interval is obtained by adding and subtracting the period T of the clock signal and the logic of the latch circuit.
[0109]
That is, all the latches on the pulse input P0 side are at logic H, which means that 3T / 4 time has elapsed.
[0110]
On the other hand, the pulse input P1 indicates that the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic L, and that T / 4 time has elapsed.
[0111]
These latch results are for correcting the count value of the
[0112]
Next, a result of 2T + 3T / 4−T / 4, that is, a time interval between the pulse input P0 and the pulse input P1 is 2T + 2T / 4 = 2.5T is obtained by subtracting the latch result on the pulse input P1 side.
[0113]
Similarly, the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic L on the pulse input Pl side, which means that T / 4 time has elapsed.
[0114]
On the other hand, the latches on the pulse input P2 side are all logic H, which indicates that 3T / 4 time has elapsed.
[0115]
These latch results are for correcting the count value of the counter 28, and the
[0116]
Next, based on the result of the
[0117]
As described above, the delay circuit which divides the pulse interval of the first pulse input P0 signal and the next pulse input P1 signal of the pulse input terminal to be measured and the pulse interval of the next pulse input signal P2 by T / n by the clock period T or less. Is effective in that the pulse input interval of the pulse train can be continuously and accurately measured at a cycle equal to or less than the clock cycle T.
[0118]
In this example, the number of pulse inputs is three, P0, P1, and P2. However, the number of pulse inputs can be increased by increasing the circuit configuration, and the initial pulse input P0 and the next pulse input P1 at the time of interval measurement are further increased. Since it can be used as the next initial pulse, there is an advantage that the number of circuits can be reduced.
[0119]
Further, the processing can be cyclically performed, and the interval between successive pulse inputs can be continuously instrumented by a simple circuit.
[0120]
Even if delay lines, programmable delay lines, logic ICs, print patterns, and the like are configured as delay circuits, and CMOS, ECL, FPGA, and the like are configured as other component circuit devices, measurement can be performed with high accuracy.
[0121]
Fourth Embodiment A pulse interval measuring circuit according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to
[0122]
7,
[0123]
In the same figure, 10 is a T / 4 delay circuit with a clock signal period T, 12 is a 2T / 4 delay circuit with a clock signal period T, 14 is a 3T / 4 delay circuit with a clock signal period T, 16,
[0124]
Further, in the figure,
[0125]
Next, the operation of the pulse interval measuring circuit according to the fourth embodiment will be described with reference to the drawings.
[0126]
FIG. 8 is a timing chart showing the operation of the pulse interval measuring circuit according to
[0127]
When the measuring circuit is started, a reset signal is sent from the
[0128]
By the reset, the pulse input DF / F1 is in a state where logic H conversion is possible, and the DF / F2 is in a state where logic H conversion is stopped.
[0129]
When the first pulse input P0 is input to the pulse input terminal to be measured, a logic H signal is output from the logic output L0 by the logic signal conversion DF / F1, and the pulse input DF / F2 is converted to the logic H. It becomes possible.
[0130]
The logic output L0 is input to the AND
[0131]
The logic output L0 passes through the AND
[0132]
The output of the AND
[0133]
The logic signal latch signal is provided as a data input signal of the DF /
[0134]
The ENABLE signal sets the ENABLE signal to logic L with a clock signal following the clock signal that generated the logic signal latch signal, and stops reading data into the
[0135]
Next, when the pulse input P1 is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L1 is a logic H signal from the Q output of the DF / F2 for logic signal conversion, and the logic output (−) is from the (−) Q output. ) L1 outputs logic L. The logic output L1 is sent to a logic signal latch DF / F9. Note that, for example, in (-) Q, (-) represents an overline of Q.
[0136]
The logic output (-) L1 is sent to the logic signal conversion DF / F1, passed through the AND
[0137]
The logic signal latch condition is that when the logic output L1 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0138]
The clock signal of the
[0139]
When the pulse input P0 signal is input while the pulse input P1 signal is not input, the logic L0 signal becomes logic H, and the logic L0 signal passes through the AND
[0140]
In the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl has not been input, and the
[0141]
When the pulse input Pl signal is input and the logic (-) L1 of the (-) Q output of the logic signal conversion DF / F2 becomes logic L, the AND
[0142]
Further, in the logic H of the next clock signal, since the logic L1 is logic H, the logic output of the DF / F9 becomes logic H, and passes through the
[0143]
In the example of the timing chart, the latch result of the logic signal indicates that the logic L0 signal, the T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all latched by the logic H in the circuit on the pulse input P0 side. In the circuit on the input Pl side, the logic L1 signal and the T / 4 delay signal are logic L, the 2T / 4 delay signal is logic H, and the 3T / 4 delay signal is logic H.
[0144]
Further, the count value of the
[0145]
The pulse interval is obtained by adding and subtracting the period T of the clock signal and the logic of the latch circuit.
[0146]
That is, all the latches on the pulse input P0 side are at logic H, which means that 3T / 4 time has elapsed.
[0147]
On the other hand, the pulse input P1 side indicates that the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic H, and that T / 4 time has elapsed.
[0148]
These latch results are for correcting the count value of the
[0149]
Next, a result of 2T + 3T / 4-T / 4, that is, 2T + 2T / 4 = 2.5T is obtained from the result of the
[0150]
As described above, by using the same delay circuit that divides the pulse interval between the first pulse input P0 signal of the pulse input terminal to be measured and the next pulse input P1 signal by T / n below the clock cycle T, the clock cycle can be increased. There is an effect that measurement can be performed with high accuracy in a cycle of T or less.
[0151]
Even if delay lines, programmable delay lines, logic ICs, print patterns, and the like are configured as delay circuits, and CMOS, ECL, FPGA, and the like are configured as other component circuit devices, measurement can be performed with high accuracy.
[0152]
Embodiment 5 A pulse interval measuring circuit according to
[0153]
In FIG. 9,
[0154]
Also, in the figure,
[0155]
Further, in the figure,
[0156]
Next, the operation of the pulse interval measuring circuit according to the fifth embodiment will be described with reference to the drawings.
[0157]
FIG. 10 is a timing chart showing the operation of the pulse interval measuring circuit according to
[0158]
When the measuring circuit is started, a reset signal is sent from the
[0159]
By the reset, the pulse input DF / F1 is in a state where logic H conversion is possible, and the DF / F2 is in a state where logic H conversion is stopped.
[0160]
When the first pulse input P0 is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L0 outputs a logic H signal by the logic signal conversion DF / F1, and the pulse input DF / F2 changes to the logic H. It will be in a convertible state.
[0161]
The logic output L0 is input to the AND
[0162]
The logic output L0 passes through the logic signal latching DF / F16, the T / 4
[0163]
The logic signal latch condition is that when the logic output L0 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0164]
Next, when the pulse input Pl is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L1 outputs a logic H signal by the logic signal conversion DF / F2.
[0165]
The logic output L1 is passed through a logic signal latch DF /
[0166]
The logic signal latch condition is that when the logic output L1 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0167]
The clock signal of the
[0168]
When the pulse input P0 signal is input while the pulse input P1 signal is not input, the logic L0 signal becomes logic H, and the logic L0 signal passes through the
[0169]
In the logic H of the next clock signal, the pulse input P1 is not input, the count of the
[0170]
When the pulse input P1 signal is input and the logic signal L1 becomes logic H, the AND
[0171]
Further, in the logic H of the next clock signal, the pulse input P1 signal is input and the logic L1 is at the logic H, so that the latch DF /
[0172]
In the example of the timing chart, the latch result of the logic signal indicates that the logic L0 signal, the T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all latched by the logic H in the circuit on the pulse input P0 side. In the circuit on the input P1 side, the logic L1 signal and the T / 4 delay signal are logic H, the 2T / 4 delay signal is logic L, and the 3T / 4 delay signal is logic L.
[0173]
However, when the logic signal H of the pulse input P1 and the clock signal are input at the same time, the count of the
[0174]
The
[0175]
In the above example, the logic H signal of the pulse input P0 and the clock signal are input simultaneously, and the logic H signal of the pulse input P1 and the clock signal are input simultaneously, and the count value of the
[0176]
When the logic H signal of the pulse input P0 and the clock signal passing through the
[0177]
However, the logic H signal of the pulse input P0 and the clock signal are input simultaneously, the logic H signal of the pulse input P1 and the clock signal passed through the
[0178]
The pulse interval is obtained by adding and subtracting the period T of the clock signal and the logic of the latch circuit.
[0179]
That is, all the latches on the pulse input P0 side are at logic H, which means that 3T / 4 time has elapsed.
[0180]
On the other hand, the pulse input P1 indicates that the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic L, and that T / 4 time has elapsed.
[0181]
These latch results are for correcting the count value of the
[0182]
Next, a result of 2T + 3T / 4-T / 4, that is, 2T + 2T / 4 = 2.5T is obtained from the result of the
[0183]
As described above, when the count value of the counter that counts the clock signal is uncertain, an error is output, and there is an effect of eliminating the uncertain value.
[0184]
Even if delay lines, programmable delay lines, logic ICs, print patterns, and the like are configured as delay circuits, and CMOS, ECL, FPGA, and the like are configured as other component circuit devices, measurement can be performed with high accuracy.
[0185]
Embodiment 6 A pulse interval measuring circuit according to
[0186]
In FIG. 11,
[0187]
Also, in the figure,
[0188]
Further, in the figure,
[0189]
Next, the operation of the pulse interval measuring circuit according to the sixth embodiment will be described with reference to the drawings.
[0190]
FIG. 12 is a timing chart showing the operation of the pulse interval measuring circuit according to
[0191]
When the measuring circuit is started, a reset signal is sent from the
[0192]
By the reset, the pulse input DF / F1 is in a state where logic H conversion is possible, and the DF / F2 is in a state where logic H conversion is stopped.
[0193]
When the first pulse input P0 is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L0 outputs a logic H signal by the logic signal conversion DF / F1, and the pulse input DF / F2 changes to the logic H. It will be in a convertible state.
[0194]
The logic output L0 is input to AND
[0195]
The logic output L0 passes through the logic signal latching DF / F16, the T / 4
[0196]
The logic signal latch condition is that when the logic output L0 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0197]
Next, when the pulse input Pl is input to the pulse input terminal to be measured, the logic output L1 outputs a logic H signal by the logic signal conversion DF / F2.
[0198]
The logic output L1 is passed through a logic signal latch DF /
[0199]
The logic signal latch condition is that when the logic output L1 is logic H and the clock signal is logic H, the logic signal latch DF /
[0200]
The clock signal of the
[0201]
When the pulse input P0 signal is input while the pulse input P1 signal is not input, the logic L0 signal becomes logic H, and the logic L0 signal passes through the
[0202]
However, the
[0203]
When the pulse input P1 signal is input and the logic L1 becomes logic H, the AND
[0204]
Further, in the logic H of the next clock signal, the pulse input Pl signal is input and the logic L1 is in the logic H, so that the latch DF /
[0205]
In the example of the timing chart, the latch result of the logic signal indicates that the logic L0 signal, the T / 4 delay signal, the 2T / 4 delay signal, and the 3T / 4 delay signal are all latched by the logic H in the circuit on the pulse input P0 side. In the circuit on the input Pl side, the logic L1 signal and the T / 4 delay signal are logic H, the 2T / 4 delay signal is logic L, and the 3T / 4 delay signal is logic L.
[0206]
However, when the logic signal H of the pulse input P1 and the clock signal passed through the
[0207]
The
[0208]
In the above example, the logic H signal of the pulse input P0 and the clock signal are input simultaneously, and the logic H signal of the pulse input P1 and the clock signal passed through the
[0209]
From the combination of the simultaneous input of the logic signals L0 and L1 of the pulse inputs P0 and P1 and the clock signal, the clock signal passed through the
[0210]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic L signal, the count value of the
[0211]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic L signal, the count of the
[0212]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic L signal, the count value of the
[0213]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic L signal, the count value of the
[0214]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic H signal, the count of the
[0215]
The T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic L signal, the count of the
[0216]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic L signal, the count value of the
[0219]
The T / 4 delay signal is a logic L signal with a logic L0 signal, the 2T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L0 signal, the T / 4 delay signal is a logic H signal with a logic L1 signal, and the 2T / 4 delay signal is a logic L1. When the signal is a logic H signal, the count value of the
[0218]
The pulse interval is obtained by adding and subtracting the period T of the clock signal and the logic of the latch circuit.
[0219]
That is, all the latches on the pulse input P0 side are at logic H, which means that 3T / 4 time has elapsed.
[0220]
On the other hand, the pulse input P1 indicates that the 2T / 4 delay signal and the 3T / 4 delay signal are at logic L, and that T / 4 time has elapsed.
[0221]
These latch results are for correcting the count value of the
[0222]
Next, a result of 2T + 3T / 4-T / 4, that is, 2T + 2T / 4 = 2.5T is obtained from the result of the
[0223]
As described above, when the count value of the counter that counts the clock signal is uncertain, the
[0224]
As the delay circuit, a delay line, a programmable delay line, a logic IC, a print pattern, and the like can be measured with high accuracy even if the device is configured with a CMOS, ECL, FPGA, or the like as another component circuit device.
[0225]
【The invention's effect】
As described above, the pulse interval measuring circuit according to the present invention includes a clock circuit for generating a clock signal, a DF / F for initial pulse for converting an initial pulse input into an initial logic signal, and a next logic for inputting the next pulse. The next pulse DF / F to be converted into a signal, the initial logic signal, the next logic signal when there is no next pulse input, and the number of clocks of the clock signal when the clock signal is logic H are counted. A counter for stopping the counting when the next pulse is input, a DF / F for initial logic for synchronizing the initial logic signal with the clock signal, and synchronizing the next logic signal with the clock signal. The next logic DF / F to be synchronized, and a delay obtained by dividing the synchronized initial logic signal into equal periods of the clock signal. An initial pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal, a next pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal, and latching the delayed initial logic signal. DF / F for initial logic signal latch, DF / F for next logic signal latch for latching the delayed next logic signal, DF / F for the count value of the counter, and DF / F for initial logic signal latch And an subtractor that subtracts the output of the next logic signal latch DF / F from the output of the adder to calculate the pulse interval of the initial and next pulse inputs. This has the effect that the pulse interval can be measured with high accuracy at a cycle equal to or less than the cycle of the clock signal.
[0226]
Further, as described above, the pulse interval measurement circuit according to the present invention cascade-connects the DF / F for the initial pulse and the DF / F for the next pulse. This has the effect that the pulse interval can be measured with high accuracy.
[0227]
Further, as described above, the pulse interval measuring circuit according to the present invention includes a clock circuit for generating a clock signal, a DF / F for initial pulse for converting an initial pulse input into an initial logic signal, and a next pulse input. A next pulse DF / F for converting to a next logic signal, a third pulse DF / F for converting a third pulse input to a third logic signal, and no initial logic signal and no next pulse input A first counter that counts the number of clocks of the clock signal when the next logic signal and the clock signal are at logic H, and stops counting when the next pulse is input; Signal, a third logic signal in the absence of the third pulse input, and a clock of the clock signal when the clock signal is logic H A second counter for stopping the counting when the third pulse input is present; a DF / F for initial logic for synchronizing the initial logic signal with the clock signal; A DF / F for next logic for synchronizing a signal with the clock signal, a DF / F for third logic for synchronizing the third logic signal with the clock signal, and the clock for the synchronized initial logic signal. An initial pulse delay circuit for sequentially delaying the signal cycle by an equal delay, a next pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal by an equal delay of the clock signal cycle, A third pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized third logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal; DF / F for latching the initial logic signal, latching the delayed logic signal, DF / F for latching the delayed next logic signal, and a third latching the delayed third logic signal. A logic signal latch DF / F, a count value of the first counter, and an output of the initial logic signal latch DF / F are added, and the next logic signal latch DF is added based on the added value. / F for subtracting the output of / F to calculate the pulse interval of the initial and next pulse input, and an adder for adding the count value of the second counter and the output of the next logic signal latch DF / F. And a subtractor for subtracting the output of the third logic signal latch DF / F from the output of the adder to calculate the pulse interval of the next and third pulse inputs, so that the clock signal This has the effect that the pulse interval can be measured with high accuracy in a cycle shorter than the cycle of.
[0228]
Further, as described above, the pulse interval measurement circuit according to the present invention eliminates the next-pulse delay circuit, and the initial-pulse delay circuit converts the synchronized initial and next logic signals to the cycle of the clock signal. The next logic signal latch DF / F is deleted sequentially by the equal delay, and the initial logic signal latch DF / F latches the delayed initial and next logic signals. The adder adds the count value of the counter and the latched initial logic signal, and the subtractor subtracts the latched next logic signal from the output of the adder to generate the initial and next pulse inputs. Since the pulse interval is calculated and the delay circuit for the initial pulse and the next pulse is shared, the pulse interval can be measured with high accuracy in a cycle shorter than the cycle of the clock signal. There is an effect that that.
[0229]
Further, as described above, the pulse interval measuring circuit according to the present invention may be configured such that the initial logic signal, the next logic signal when there is no next pulse input, and the clock of the clock signal when the delayed clock signal is logic H. A second counter for counting the number and stopping the count when the next pulse input is present, and outputting an error when the count values of the counter and the second counter are indeterminate And the pulse interval can be measured with high accuracy in a cycle shorter than the cycle of the clock signal.
[0230]
Further, as described above, the pulse interval measurement circuit according to the present invention is configured such that when the initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the clock signal delayed by the first time are logic H, A second counter that counts the number of clocks of the clock signal and stops the counting when the next pulse input is present, the initial logic signal, the next logic signal when the next pulse input is absent, and A third counter for counting the number of clocks of the clock signal when the clock signal delayed by the second time is logic H, and stopping the counting when the next pulse is input; The counter, the second counter, or the third counter based on a predetermined condition of the output of the signal latch DF / F. A comparison circuit that outputs any one of the count values of the counter to the adder; and the adder adds the output of the comparison circuit and the output of the initial logic signal latch DF / F. There is an effect that the pulse interval can be measured with high accuracy in a cycle shorter than the cycle of the clock signal.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measurement circuit according to
FIG. 2 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to the second embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to
FIG. 6 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measuring circuit according to a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to the fifth embodiment of the present invention.
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a pulse interval measurement circuit according to
FIG. 12 is a timing chart showing an operation of the pulse interval measuring circuit according to
FIG. 13 is a diagram showing a configuration of a conventional pulse interval measurement circuit.
FIG. 14 is a timing chart showing the operation of a conventional pulse interval measurement circuit.
[Explanation of symbols]
1, 2 DF / F, 3, 4 delay circuit, 5 clock circuit, 6 AND gate, 7 counter, 8, 9 DF / F, 10, 11 T / 4 delay circuit, 12, 132T / 4 Delay circuit, 14, 15 3T / 4 delay circuit, 16 to 23 DF / F, 24 adder, 25 subtractor, 26 reset circuit, 27 AND gate, 28 counter, 29 adder / subtracter, 30 adder, 31D -F / F, 32 delay circuits, 33 DF / F, 34 T / 4 delay circuits, 352 T / 4 delay circuits, 363 T / 4 delay circuits, 37 to 40 DF / F, 41 subtractor, 42 registers, 43 DF / F, 44 OR gate, 45 counter, 46 AND gate, 47 delay circuit, 48 comparison circuit, 49 counter, 50 AND gate, 51 delay circuit.
Claims (6)
初期パルス入力を初期ロジック信号に変換する初期パルス用D−F/Fと、
次期パルス入力を次期ロジック信号に変換する次期パルス用D−F/Fと、
前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止するカウンタと、
前記初期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる初期ロジック用D−F/Fと、
前記次期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる次期ロジック用D−F/Fと、
前記同期した初期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる初期パルス用遅延回路と、
前記同期した次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる次期パルス用遅延回路と、
前記遅延した初期ロジック信号をラッチする初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、
前記遅延した次期ロジック信号をラッチする次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、
前記カウンタの計数値と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する加算器と、
前記加算器の出力から前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算する減算器と
を備えたことを特徴とするパルス間隔測定回路。A clock circuit for generating a clock signal;
An initial pulse DF / F for converting an initial pulse input into an initial logic signal;
A next pulse DF / F for converting the next pulse input into the next logic signal;
The initial logic signal, the next logic signal when there is no next pulse input, and the number of clocks of the clock signal when the clock signal is logic H, and the count when there is the next pulse input. A counter to stop,
An initial logic DF / F for synchronizing the initial logic signal with the clock signal;
A next logic DF / F for synchronizing the next logic signal with the clock signal;
An initial pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized initial logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal;
A next pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal;
An initial logic signal latch DF / F for latching the delayed initial logic signal;
A next logic signal latch DF / F for latching the delayed next logic signal;
An adder for adding the count value of the counter and the output of the initial logic signal latch DF / F;
A pulse interval measuring circuit, comprising: a subtracter for subtracting an output of the next logic signal latch DF / F from an output of the adder to calculate a pulse interval between the initial and next pulse inputs.
ことを特徴とする請求項1記載のパルス間隔測定回路。2. The pulse interval measuring circuit according to claim 1, wherein the DF / F for the initial pulse and the DF / F for the next pulse are cascaded.
初期パルス入力を初期ロジック信号に変換する初期パルス用D−F/Fと、
次期パルス入力を次期ロジック信号に変換する次期パルス用D−F/Fと、
第3パルス入力を第3ロジック信号に変換する第3パルス用D−F/Fと、
前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第1のカウンタと、
前記次期ロジック信号、前記第3パルス入力が無しの場合の第3ロジック信号、及び前記クロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記第3パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第2のカウンタと、
前記初期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる初期ロジック用D−F/Fと、
前記次期ロジック信号を前記クロック信号と同期させる次期ロジック用D−F/Fと、
前記第3ロジック信号を前記クロック信号と同期させる第3ロジック用D−F/Fと、
前記同期した初期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる初期パルス用遅延回路と、
前記同期した次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる次期パルス用遅延回路と、
前記同期した第3ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させる第3パルス用遅延回路と、
前記遅延した初期ロジック信号をラッチする初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、
前記遅延した次期ロジック信号をラッチする次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、
前記遅延した第3ロジック信号をラッチする第3ロジック信号ラッチ用D−F/Fと、
前記第1のカウンタの計数値と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算し、この加算値から前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算する加減算器と、
前記第2のカウンタの計数値と前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する加算器と、
前記加算器の出力から前記第3ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を減じて前記次期及び第3パルス入力のパルス間隔を演算する減算器と
を備えたことを特徴とするパルス間隔測定回路。A clock circuit for generating a clock signal;
An initial pulse DF / F for converting an initial pulse input into an initial logic signal;
A next pulse DF / F for converting the next pulse input into the next logic signal;
A third pulse DF / F for converting the third pulse input into a third logic signal;
The initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the number of clocks of the clock signal when the clock signal is logic H, and the count in the case of the next pulse input. A first counter to stop;
When the next logic signal, the third logic signal when there is no third pulse input, and the clock signal are logic H, the number of clocks of the clock signal is counted, and when the third pulse input is present, A second counter for stopping the counting;
An initial logic DF / F for synchronizing the initial logic signal with the clock signal;
A next logic DF / F for synchronizing the next logic signal with the clock signal;
A third logic DF / F for synchronizing the third logic signal with the clock signal;
An initial pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized initial logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal;
A next pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized next logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal;
A third pulse delay circuit for sequentially delaying the synchronized third logic signal by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal;
An initial logic signal latch DF / F for latching the delayed initial logic signal;
A next logic signal latch DF / F for latching the delayed next logic signal;
A third logic signal latch DF / F for latching the delayed third logic signal;
The count value of the first counter is added to the output of the initial logic signal latch DF / F, and the output of the next logic signal latch DF / F is subtracted from the added value to obtain the initial and next output values. An adder / subtractor that calculates a pulse interval of a pulse input;
An adder for adding the count value of the second counter and the output of the next logic signal latch DF / F;
And a subtractor for subtracting an output of the third logic signal latch DF / F from an output of the adder to calculate a pulse interval of the next and third pulse inputs. circuit.
前記初期パルス用遅延回路は、前記同期した初期及び次期ロジック信号を前記クロック信号の周期を等分した遅延分だけ順次遅延させ、
前記次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fを削除し、
前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fは、前記遅延した初期及び次期ロジック信号をラッチし、
前記加算器は、前記カウンタの計数値と前記ラッチされた初期ロジック信号を加算し、
前記減算器は、前記加算器の出力から前記ラッチされた次期ロジック信号を減じて前記初期及び次期パルス入力のパルス間隔を演算し、
初期パルス用と次期パルス用の遅延回路を共用する
ことを特徴とする請求項2記載のパルス間隔測定回路。Delete the next pulse delay circuit,
The initial pulse delay circuit sequentially delays the synchronized initial and next logic signals by a delay obtained by equally dividing the cycle of the clock signal,
Deleting the next logic signal latch DF / F,
The initial logic signal latch DF / F latches the delayed initial and next logic signals,
The adder adds the count value of the counter and the latched initial logic signal,
The subtractor subtracts the latched next logic signal from the output of the adder to calculate a pulse interval of the initial and next pulse inputs,
3. The pulse interval measuring circuit according to claim 2, wherein a delay circuit for the initial pulse and a delay circuit for the next pulse are shared.
前記カウンタ及び前記第2のカウンタの計数値が不確定な場合にはエラーを出力する比較回路と
をさらに備えたことを特徴とする請求項2記載のパルス間隔測定回路。The number of clocks of the clock signal is counted when the initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the delayed clock signal are logic H, and the count is performed in the presence of the next pulse input. A second counter to stop
3. The pulse interval measurement circuit according to claim 2, further comprising: a comparison circuit that outputs an error when the count values of the counter and the second counter are uncertain.
前記初期ロジック信号、前記次期パルス入力が無しの場合の次期ロジック信号、及び第2の時間だけ遅延したクロック信号がロジックHのときには前記クロック信号のクロック数を計数し、前記次期パルス入力が有りの場合には前記計数を停止する第3のカウンタと、
前記初期及び次期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力の所定の条件に基づいて、前記カウンタ、前記第2のカウンタ、又は前記第3のカウンタの計数値のいずれかを前記加算器へ出力する比較回路と
をさらに備え、
前記加算器は、前記比較回路の出力と前記初期ロジック信号ラッチ用D−F/Fの出力を加算する
ことを特徴とする請求項2記載のパルス間隔測定回路。When the initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the clock signal delayed by the first time are logic H, the number of clocks of the clock signal is counted, and the presence of the next pulse input is counted. A second counter for stopping the counting in case
When the initial logic signal, the next logic signal in the absence of the next pulse input, and the clock signal delayed by the second time are logic H, the number of clocks of the clock signal is counted, and the presence of the next pulse input is counted. A third counter for stopping the counting in the case;
One of the counter, the second counter, and the third counter is output to the adder based on a predetermined condition of the output of the initial and next logic signal latch DF / F. And a comparing circuit that performs
3. The pulse interval measurement circuit according to claim 2, wherein the adder adds an output of the comparison circuit and an output of the initial logic signal latch DF / F.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002165618A JP2004012279A (en) | 2002-06-06 | 2002-06-06 | Pulse interval measurement circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002165618A JP2004012279A (en) | 2002-06-06 | 2002-06-06 | Pulse interval measurement circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004012279A true JP2004012279A (en) | 2004-01-15 |
Family
ID=30433413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002165618A Withdrawn JP2004012279A (en) | 2002-06-06 | 2002-06-06 | Pulse interval measurement circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004012279A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009031151A (en) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Tetsuo Hashimoto | Pulse signal data analysis device |
KR20120028337A (en) * | 2009-05-28 | 2012-03-22 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | A method to improve the time resolution of digital silicon photomultipliers |
JP2012154856A (en) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Koko Res Kk | Frequency measurement device and frequency phase difference comparison device |
RU2529447C2 (en) * | 2012-12-18 | 2014-09-27 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Method of determining ionising radiation characteristics and apparatus therefor |
CN104485932A (en) * | 2014-11-17 | 2015-04-01 | 威海北洋光电信息技术股份公司 | External trigger pulse width predicting circuit |
RU213911U1 (en) * | 2022-03-25 | 2022-10-04 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" | BETA-SENSITIVE ELEMENT OF FIBER-OPTIC DOSIMETRY SYSTEM |
-
2002
- 2002-06-06 JP JP2002165618A patent/JP2004012279A/en not_active Withdrawn
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009031151A (en) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Tetsuo Hashimoto | Pulse signal data analysis device |
KR20120028337A (en) * | 2009-05-28 | 2012-03-22 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | A method to improve the time resolution of digital silicon photomultipliers |
JP2012528321A (en) * | 2009-05-28 | 2012-11-12 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | A method for improving the time resolution of digital silicon photomultiplier tubes. |
US8822935B2 (en) | 2009-05-28 | 2014-09-02 | Koninklijke Philips N.V. | Method to improve the time resolution of digital silicon photomultipliers |
US9405024B2 (en) | 2009-05-28 | 2016-08-02 | Koninklijke Philips N.V. | Method to improve the time resolution of digital silicon photomultipliers |
KR101690318B1 (en) | 2009-05-28 | 2016-12-27 | 코닌클리케 필립스 엔.브이. | A method to improve the time resolution of digital silicon photomultipliers |
JP2012154856A (en) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Koko Res Kk | Frequency measurement device and frequency phase difference comparison device |
RU2529447C2 (en) * | 2012-12-18 | 2014-09-27 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Method of determining ionising radiation characteristics and apparatus therefor |
CN104485932A (en) * | 2014-11-17 | 2015-04-01 | 威海北洋光电信息技术股份公司 | External trigger pulse width predicting circuit |
CN104485932B (en) * | 2014-11-17 | 2017-02-22 | 威海北洋光电信息技术股份公司 | External trigger pulse width predicting circuit |
RU213911U1 (en) * | 2022-03-25 | 2022-10-04 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" | BETA-SENSITIVE ELEMENT OF FIBER-OPTIC DOSIMETRY SYSTEM |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI644516B (en) | A circuit delay monitoring apparatus and method | |
WO2013069173A1 (en) | Digital time difference converter | |
GB2397709A (en) | Digital timing apparatus | |
JP2004012279A (en) | Pulse interval measurement circuit | |
KR19980019184A (en) | Time interval measurement system and time interval measurement method (TIME INTERVAL MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD APPLIED THEREIN) | |
US6950375B2 (en) | Multi-phase clock time stamping | |
KR101639064B1 (en) | Heterogeneous sampling delay-line time-to-digital converter | |
US7782241B2 (en) | Signal processing method and device, and analog/digital converting device | |
TWI399562B (en) | Measure device,parallel measure devices, test device and device under test | |
CN113574473B (en) | Time measuring circuit | |
RU2260830C1 (en) | Time interval meter | |
JP2014140107A (en) | Pulse measurement circuit and data processing device | |
US6944099B1 (en) | Precise time period measurement | |
JP2005221466A (en) | Rotational position detector | |
JPH0743406A (en) | Pulse phase measuring apparatus | |
JP2009098019A (en) | Timing circuit | |
JP2019124478A (en) | Time measuring circuit | |
JP2563366B2 (en) | Signal cycle measuring device | |
SU1665491A2 (en) | Digital multiplier of pulse sequence frequency | |
JP5055016B2 (en) | Phase difference measurement circuit | |
JPH1028110A (en) | Phase difference measuring circuit | |
US20040066221A1 (en) | Non-iterative signal synchronization | |
KR0181401B1 (en) | Clock error detection or selection circuit | |
JPH03162622A (en) | Counting circuit | |
JP2912680B2 (en) | Digital phase synchronizer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050906 |