JP2003525737A - 合成、分析または輸送プロセスを実行するための装置および方法 - Google Patents
合成、分析または輸送プロセスを実行するための装置および方法Info
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Abstract
(57)【要約】
本発明は、プロセス流体を用いて、合成、分析または輸送プロセスを実行するための装置および方法に関する。この種の装置および方法は、結合化学、in‐situ合成、パラレル合成、固相合成の分野、またはアレイの製造の分野、特に、DNA合成、例えば、DNAチップのようなDNA分析の分野、ならびにペプチド化学、製剤活性物質スクリーニング、高スループットスクリーニング(HTS)、ファーマコゲノミクスおよびそれに類するものの分野において使用される。
Description
【0001】
本発明は、プロセス流体を用いて合成、分析または輸送プロセスを実行するため
の装置および方法に関するものである。
の装置および方法に関するものである。
【0002】
この種の装置および方法は、組み合わせ化学、in‐situ合成、パラレル合
成、固相合成、またはアレイの製造の分野、とりわけ、DNA合成、例えば、D
NAチップのようなDNA分析の分野、ならびにペプチド化学、製剤活性物質ス
クリーニング、高スループットスクリーニング(HTS)、ファーマゲノミクス
およびそれに類するものの分野において使用されている。従来技術によれば、例
えば、DNAアレイは、組み合わせ合成によって(列および行内において)固体
上に製造される。US5,700,637は、これを行うためのサポート材料中
におけるセルの生産、およびこのサポート材料におけるヌクレオチドからの分離
について記載している。多数の必要なオリゴヌクレオチドを製造するために、例
えば、リトグラフ法が用いられ、この方法によれば、1cm2 当たり400個以
上の異なるオリゴヌクレオチドが結合せしめられ(US5,744,305)、
あるいは1cm2 当たり1000個以上の異なるオリゴヌクレオチドが結合せし
められる(US5,445,934)。
成、固相合成、またはアレイの製造の分野、とりわけ、DNA合成、例えば、D
NAチップのようなDNA分析の分野、ならびにペプチド化学、製剤活性物質ス
クリーニング、高スループットスクリーニング(HTS)、ファーマゲノミクス
およびそれに類するものの分野において使用されている。従来技術によれば、例
えば、DNAアレイは、組み合わせ合成によって(列および行内において)固体
上に製造される。US5,700,637は、これを行うためのサポート材料中
におけるセルの生産、およびこのサポート材料におけるヌクレオチドからの分離
について記載している。多数の必要なオリゴヌクレオチドを製造するために、例
えば、リトグラフ法が用いられ、この方法によれば、1cm2 当たり400個以
上の異なるオリゴヌクレオチドが結合せしめられ(US5,744,305)、
あるいは1cm2 当たり1000個以上の異なるオリゴヌクレオチドが結合せし
められる(US5,445,934)。
【0003】
さらには、従来技術によれば、オリゴヌクレオチドを備えたアレイを製造するた
めのスポット合成が知られており、この方法によれば、合成用の試薬がサポート
の明確な位置にピペットによって滴下される。洗浄およびアンブロッキング処理
が、サポートを対応する溶液中に浸漬することによって実行される。これは、例
えば、ベック‐ズィッキンガー,ゲー.外、「コンビナトリッシェ メトーデン イン ヒェミン ウント ビオロギー」,シュペクトルム アカデミッシャー フェアラーク,ハイデルベルク,1999年,第53頁には、サポートとして
のセルロースペーパーシートに関して開示されている。
めのスポット合成が知られており、この方法によれば、合成用の試薬がサポート
の明確な位置にピペットによって滴下される。洗浄およびアンブロッキング処理
が、サポートを対応する溶液中に浸漬することによって実行される。これは、例
えば、ベック‐ズィッキンガー,ゲー.外、「コンビナトリッシェ メトーデン イン ヒェミン ウント ビオロギー」,シュペクトルム アカデミッシャー フェアラーク,ハイデルベルク,1999年,第53頁には、サポートとして
のセルロースペーパーシートに関して開示されている。
【0004】
さらに、文献US5,561,646およびUS5,885,837には、試薬
を供給するためのスロットまたはチャネルを備えた可動ブロックを用いてオリゴ
ヌクレオチドを備えたアレイを製造することが記載されている。
を供給するためのスロットまたはチャネルを備えた可動ブロックを用いてオリゴ
ヌクレオチドを備えたアレイを製造することが記載されている。
【0005】
しかしながら、このような従来技術は、重大な欠点を有している。in‐sit
u合成においては、多数の個々の合成のために試薬をセル内にピペットで滴下す
る必要があり、それ故、アレイの製造にかかるコストは、非常に膨大なものとな
る。リトグラフ法の場合にもまた、途方もなくコストがかかり、さらには、合成
のための試薬とリトグラフのために使用されるフォトレジスト材料との間にコン
パチビリティの問題が生じる。さらには、合成の後、アレイは、測定の目的のた
めに適当なフロースルーセル内に独立に嵌め込まれなければならず、これは、分
析アレイの製造におけるコストを増大させている。
u合成においては、多数の個々の合成のために試薬をセル内にピペットで滴下す
る必要があり、それ故、アレイの製造にかかるコストは、非常に膨大なものとな
る。リトグラフ法の場合にもまた、途方もなくコストがかかり、さらには、合成
のための試薬とリトグラフのために使用されるフォトレジスト材料との間にコン
パチビリティの問題が生じる。さらには、合成の後、アレイは、測定の目的のた
めに適当なフロースルーセル内に独立に嵌め込まれなければならず、これは、分
析アレイの製造におけるコストを増大させている。
【0006】
スポット合成の場合には、合成のための微小液滴が基質に適用されるが、この場
合、蒸発の問題が生じる。洗浄およびアンブロッキング処理は、基質の全体を適
当な物質で満たすことによって行われるので、液滴を形成するための装置と種々
の溶液との間において、基質を繰り返し移すことが必要であり、この理由から基
質の調節が繰り返し必要となる。この場合、また、合成の後、アレイがフロース
ルーセル内に独立に嵌め込まれなければならない。
合、蒸発の問題が生じる。洗浄およびアンブロッキング処理は、基質の全体を適
当な物質で満たすことによって行われるので、液滴を形成するための装置と種々
の溶液との間において、基質を繰り返し移すことが必要であり、この理由から基
質の調節が繰り返し必要となる。この場合、また、合成の後、アレイがフロース
ルーセル内に独立に嵌め込まれなければならない。
【0007】
試薬を供給するためのチャネルを備えた可動ブロックを用いた合成の場合には、
ブロックおよび基質間のシールの問題、および調節の問題が生じる。この場合、
またアレイをフロースルーセル内に嵌め込むための引き続く処理が再び必要にな
る。
ブロックおよび基質間のシールの問題、および調節の問題が生じる。この場合、
またアレイをフロースルーセル内に嵌め込むための引き続く処理が再び必要にな
る。
【0008】
したがって、本発明の課題は、異なる化学的および生化学的プロセスが、単一の
フロースルー装置内において、簡単かつ自動的に実行され得るような、合成、分
析、または輸送プロセスを実行するための装置および方法を、自由に使用できる
ようにすることにある。この装置およびこれらの方法は、簡単な操作を可能とし
、また、コスト的に有利なものである。
フロースルー装置内において、簡単かつ自動的に実行され得るような、合成、分
析、または輸送プロセスを実行するための装置および方法を、自由に使用できる
ようにすることにある。この装置およびこれらの方法は、簡単な操作を可能とし
、また、コスト的に有利なものである。
【0009】
この課題は、請求項1に記載の装置および請求項41に記載の方法によって解決
される。本発明による装置および本発明による方法のより有利な実施形態が、従
属請求項のそれぞれに記載されている。
される。本発明による装置および本発明による方法のより有利な実施形態が、従
属請求項のそれぞれに記載されている。
【0010】
本発明は、少なくとも一つの接続手段を通じて外側から能動的または受動的にプ
ロセス流体(試薬またはサンプル)によって満たされる偏平な反応チャンバを備
えたミクロな流体のシステムを自由に使用可能とするものである。プロセス流体
は、別の接続手段を通じて外部に排出される。この流体システムは、制御流体(
例えば、ガス)が反応チャンバ内に導入される制御インターフェースを備えてい
る。この場合、制御流体ドメインが形成され、それによって、プロセス流体を反
応チャンバ内に完全にまたは部分的に輸送し、よって、隔室を形成することがで
きる。そして、この隔室においては、プロセス流体と、例えば、基質(固相)と
の間の相互作用は不可能となり、あるいは妨げられる。
ロセス流体(試薬またはサンプル)によって満たされる偏平な反応チャンバを備
えたミクロな流体のシステムを自由に使用可能とするものである。プロセス流体
は、別の接続手段を通じて外部に排出される。この流体システムは、制御流体(
例えば、ガス)が反応チャンバ内に導入される制御インターフェースを備えてい
る。この場合、制御流体ドメインが形成され、それによって、プロセス流体を反
応チャンバ内に完全にまたは部分的に輸送し、よって、隔室を形成することがで
きる。そして、この隔室においては、プロセス流体と、例えば、基質(固相)と
の間の相互作用は不可能となり、あるいは妨げられる。
【0011】
このことは、制御流体ドメインがアレイの個々の領域、すなわち、制御流体ドメ
インが存在する位置以外の位置において、アドレス指定されることを意味してい
る。この場合、制御流体ドメインは、プロセス流体が交換されるときでさえも気
泡接着によってその予め決定された位置に留まっている。
インが存在する位置以外の位置において、アドレス指定されることを意味してい
る。この場合、制御流体ドメインは、プロセス流体が交換されるときでさえも気
泡接着によってその予め決定された位置に留まっている。
【0012】
例えば、制御流体ドメインはまた、プロセス流体を備えた特定のエリアを含むこ
とができ、よって、新たなプロセス流体が反応チャンバ内に導入されるとき、制
御流体をドメインによって形成される領域内において、すでに存在する閉じ込め
られたプロセス流体を新たに導入されたプロセス流体と交換することを妨げる。
とができ、よって、新たなプロセス流体が反応チャンバ内に導入されるとき、制
御流体をドメインによって形成される領域内において、すでに存在する閉じ込め
られたプロセス流体を新たに導入されたプロセス流体と交換することを妨げる。
【0013】
制御流体によって、反応チャンバ内のプロセス流体(試薬、サンプル)の移し替
えがまた、移送作用(ポンプ作用)に基づいて実行され得る。したがって、本発
明によれば、簡単でかつ低コストの装置、および簡単でかつ自動的に実行され得
る方法を自由に使用することができ、それによって、同一の小型化された装置内
において、基質の合成および分析の両方が実行され、局所的に調節される。とり
わけ、mlレンジの試薬およびサンプル体積に加えて、また、nl〜μlレンジ
の微小体積が実現され得る。特に、如何なるピペットによる滴下作用も必要とな
らないし、如何なる高価なリトグラフ法も必要とされない。それ故、「チップ上
における実験(lab on a chip)」の形態の汎用性ある技術を自由
に使用可能とするものである。
えがまた、移送作用(ポンプ作用)に基づいて実行され得る。したがって、本発
明によれば、簡単でかつ低コストの装置、および簡単でかつ自動的に実行され得
る方法を自由に使用することができ、それによって、同一の小型化された装置内
において、基質の合成および分析の両方が実行され、局所的に調節される。とり
わけ、mlレンジの試薬およびサンプル体積に加えて、また、nl〜μlレンジ
の微小体積が実現され得る。特に、如何なるピペットによる滴下作用も必要とな
らないし、如何なる高価なリトグラフ法も必要とされない。それ故、「チップ上
における実験(lab on a chip)」の形態の汎用性ある技術を自由
に使用可能とするものである。
【0014】
制御装置(制御インターフェース)は、好都合なことに、反応チャンバの側壁に
少なくとも一つの制御アパーチャを備えている。このアパーチャは、完全にまた
は部分的に制御流体を透過し得るものであり、例えば、アパーチャはガス透過メ
ンブレンによって閉じられている。そのとき、制御流体は、過剰な圧力によって
反応チャンバの予め規定された領域内に導入され、さらに、負圧によって再び反
応チャンバから取り除かれ得る。もし、制御アパーチャに負圧が適用され、反応
チャンバからの制御流体の吸引が引き起こされ、制御アパーチャが過剰な圧力が
適用される制御アパーチャのまわりに配置されるならば、これらの負圧領域に沿
って制御流体ドメインの範囲が、予め決定された領域内に制限される。
少なくとも一つの制御アパーチャを備えている。このアパーチャは、完全にまた
は部分的に制御流体を透過し得るものであり、例えば、アパーチャはガス透過メ
ンブレンによって閉じられている。そのとき、制御流体は、過剰な圧力によって
反応チャンバの予め規定された領域内に導入され、さらに、負圧によって再び反
応チャンバから取り除かれ得る。もし、制御アパーチャに負圧が適用され、反応
チャンバからの制御流体の吸引が引き起こされ、制御アパーチャが過剰な圧力が
適用される制御アパーチャのまわりに配置されるならば、これらの負圧領域に沿
って制御流体ドメインの範囲が、予め決定された領域内に制限される。
【0015】
本発明による装置は、多数個の任意の形状の制御アパーチャを備えることができ
、これらのアパーチャは、例えば、アレイの形態で配置される。特定の制御アパ
ーチャの選択が、そのとき、構造を有するダイを制御流体を適用するための制御
インターフェース上に置くことによって実行される。その後、制御流体は、ダイ
によって形成される領域内に適用される。
、これらのアパーチャは、例えば、アレイの形態で配置される。特定の制御アパ
ーチャの選択が、そのとき、構造を有するダイを制御流体を適用するための制御
インターフェース上に置くことによって実行される。その後、制御流体は、ダイ
によって形成される領域内に適用される。
【0016】
あるいは、特定の制御アパーチャがまた、ブロッキング流体(例えば、流体、水
、アルコール、THF、またはそれに類するもの)を適用され、このブロッキン
グ流体は、制御流体の制御アパーチャを通じた如何なる浸透をも防止するもので
ある。こうして、制御流体に対する特定の制御アパーチャは、開放された状態ま
たはブロッキングされた状態に維持され得る。
、アルコール、THF、またはそれに類するもの)を適用され、このブロッキン
グ流体は、制御流体の制御アパーチャを通じた如何なる浸透をも防止するもので
ある。こうして、制御流体に対する特定の制御アパーチャは、開放された状態ま
たはブロッキングされた状態に維持され得る。
【0017】
ブロッキング流体は、好ましくは、マイクロドロップ法/インクジェット法によ
って、または電気的にアドレス可能なスクリーンシステムを介して、あるいはデ
ィスペンス法を介して、エレクトロスプレー法によって、またはスクリーンプリ
ンティングのようなプリンティング法によって、制御インターフェースに適用さ
れる。
って、または電気的にアドレス可能なスクリーンシステムを介して、あるいはデ
ィスペンス法を介して、エレクトロスプレー法によって、またはスクリーンプリ
ンティングのようなプリンティング法によって、制御インターフェースに適用さ
れる。
【0018】
もし、ブロッキング流体が容易に揮発するものであれば、ブロッキング流体が蒸
発した後、同一のまたは新たな制御のための構成が新たなアプリケーションによ
って実現される。これは、特に、マイクロドロップ法/インクジェット法、また
はエレクトロスプレー法によるブロッキング流体のアプリケーションに関して事
実である。もし、ブロッキング流体が極端な揮発性を有していなければ、この流
体は、例えば、ガス流を用いて制御インターフエースから吹き飛ばすことによっ
て除去される。さらに、制御インターフェース内に組み込まれた付加的なチャネ
ルを用いて、ブロッキング流体を取り出すことも可能である。しかしながら、制
御流体はまた、反応チャンバ内の電極によってガスの電気化学的発生を通じて反
応チャンバ内に導入される。選択された電極にのみ適用された電圧を伴った電極
の適当な配置によって、反応チャンバ内の選択された位置における制御流体およ
び制御流体ドメインの生成が、制御インターフエース上において可能となる。
発した後、同一のまたは新たな制御のための構成が新たなアプリケーションによ
って実現される。これは、特に、マイクロドロップ法/インクジェット法、また
はエレクトロスプレー法によるブロッキング流体のアプリケーションに関して事
実である。もし、ブロッキング流体が極端な揮発性を有していなければ、この流
体は、例えば、ガス流を用いて制御インターフエースから吹き飛ばすことによっ
て除去される。さらに、制御インターフェース内に組み込まれた付加的なチャネ
ルを用いて、ブロッキング流体を取り出すことも可能である。しかしながら、制
御流体はまた、反応チャンバ内の電極によってガスの電気化学的発生を通じて反
応チャンバ内に導入される。選択された電極にのみ適用された電圧を伴った電極
の適当な配置によって、反応チャンバ内の選択された位置における制御流体およ
び制御流体ドメインの生成が、制御インターフエース上において可能となる。
【0019】
反応チャンバの側壁は、好ましくは、反応チャンバを限定するような偏平な固体
からなっている。好ましくは、これらの側壁は、プラスチック材料、ガラス、セ
ラミック、およびそれに類するものからなっており、平坦で多孔質の、または構
造を有する表面を備えている。この形式の側壁はまた、反応インターフエースと
しても用いることができ、望まれた反応、例えば、合成反応がこの表面上におい
てなされる。あるいは、反応インターフェースはまた、側壁に適用され、または
反応チャンバ内に導入された粒子、ファブリック、マット、またはその他の材料
によって反応チャンバ内において実現される。
からなっている。好ましくは、これらの側壁は、プラスチック材料、ガラス、セ
ラミック、およびそれに類するものからなっており、平坦で多孔質の、または構
造を有する表面を備えている。この形式の側壁はまた、反応インターフエースと
しても用いることができ、望まれた反応、例えば、合成反応がこの表面上におい
てなされる。あるいは、反応インターフェースはまた、側壁に適用され、または
反応チャンバ内に導入された粒子、ファブリック、マット、またはその他の材料
によって反応チャンバ内において実現される。
【0020】
反応チャンバの側壁の一方、または両方は、分析インターフエースとして形成さ
れ得る。そして、平坦な固体が再びこのために適当なものとして使用される。こ
れは、例えば、従来技術による電気化学的センサ分析のためのサポートとして使
用されることができ、あるいは光学的な分析を実行するために光学的に透明に形
成され得る。
れ得る。そして、平坦な固体が再びこのために適当なものとして使用される。こ
れは、例えば、従来技術による電気化学的センサ分析のためのサポートとして使
用されることができ、あるいは光学的な分析を実行するために光学的に透明に形
成され得る。
【0021】
こうして、例えば、本発明による装置は、種々の分子(以下、分析分子と呼ぶ。
)の既に実行された選択的部位特異的合成によって標的分子を含む流体で満たさ
れ、個々の合成された分析分子の相互作用が調べられ得る。この目的のために、
例えば、蛍光によってマークを付された分子、または構造によってマークを付さ
れた分子、または例えば、異なるオリゴヌクレオチドのアレイ様の構造を伴った
すべての従来の検査フォーマットが適合している。
)の既に実行された選択的部位特異的合成によって標的分子を含む流体で満たさ
れ、個々の合成された分析分子の相互作用が調べられ得る。この目的のために、
例えば、蛍光によってマークを付された分子、または構造によってマークを付さ
れた分子、または例えば、異なるオリゴヌクレオチドのアレイ様の構造を伴った
すべての従来の検査フォーマットが適合している。
【0022】
分析インターフェースおよび反応インターフェースは、この場合同一のものであ
り、分析分子、例えば、オリゴヌクレオチドのアレイ合成の間に、反応チャンバ
の側壁の一方は、反応インターフェースとして機能し、その後、標的分子を検出
し、分析のための分析インターフェースとして使用される。
り、分析分子、例えば、オリゴヌクレオチドのアレイ合成の間に、反応チャンバ
の側壁の一方は、反応インターフェースとして機能し、その後、標的分子を検出
し、分析のための分析インターフェースとして使用される。
【0023】
本発明による装置は、数mm〜数cmの範囲の横方向の寸法を有し得る。制御流
体ドメインによって形成される個々のアレイエレメントは、0.001mm〜数
mmのオーダーの大きさを有し得る。アレイエレメントの大きさは、制御流体ド
メインの大きさを調整することによって変化させることができる。この目的のた
めに、制御プレートは、数μm〜数mmの厚さを有し、ガス透過メンブレンは、
数100nm〜数100μmの厚さを有し、分析または反応インターフエースは
、数μm〜数nmの厚さを有し、また、制御アパーチャは、数μm〜数mmの直
径を有し得る。
体ドメインによって形成される個々のアレイエレメントは、0.001mm〜数
mmのオーダーの大きさを有し得る。アレイエレメントの大きさは、制御流体ド
メインの大きさを調整することによって変化させることができる。この目的のた
めに、制御プレートは、数μm〜数mmの厚さを有し、ガス透過メンブレンは、
数100nm〜数100μmの厚さを有し、分析または反応インターフエースは
、数μm〜数nmの厚さを有し、また、制御アパーチャは、数μm〜数mmの直
径を有し得る。
【0024】
制御インターフェースおよび分析インターフェースの間の反応チャンバの高さは
、数10μm〜数mmに設定され得る。
、数10μm〜数mmに設定され得る。
【0025】
制御装置に対する材料としては、プラスチック材料、ガラス、セラミック、また
はガス透過メンブレンに局所的に適用れたシール層でさえもが適している。ガス
透過メンブレンとしては、シリコン、テフロン(登録商標)、およびそれに類す
るものが適している。分析インターフェースに関しては、ガラス、ポリカーボネ
ート、ポリビニルクロライド、ポリプロピレン、ポリウレタン、ポリエステル、
およびそれに類するものが適している。反応インターフェースに関しては、ポリ
マー、合成樹脂、ポリカーボネート、ガラス、セラミック、およびそれに類する
ものが適している。制御流体としては、稀ガス元素、例えば、アルゴンまたは窒
素のようなガスが使用可能である。この場合、このガスは、プロセス流体(反応
流体)とコンパチブルであるように選択されているということが本質的である。
水、アルコール、THF、またはそれ以外の流体としての流体材料が、ブロッキ
ング流体として適している。
はガス透過メンブレンに局所的に適用れたシール層でさえもが適している。ガス
透過メンブレンとしては、シリコン、テフロン(登録商標)、およびそれに類す
るものが適している。分析インターフェースに関しては、ガラス、ポリカーボネ
ート、ポリビニルクロライド、ポリプロピレン、ポリウレタン、ポリエステル、
およびそれに類するものが適している。反応インターフェースに関しては、ポリ
マー、合成樹脂、ポリカーボネート、ガラス、セラミック、およびそれに類する
ものが適している。制御流体としては、稀ガス元素、例えば、アルゴンまたは窒
素のようなガスが使用可能である。この場合、このガスは、プロセス流体(反応
流体)とコンパチブルであるように選択されているということが本質的である。
水、アルコール、THF、またはそれ以外の流体としての流体材料が、ブロッキ
ング流体として適している。
【0026】
反応チャンバの側壁は偏平に形成され、例えば、異なる表面張力を有する異なる
材料から形成され、あるいは、制御流体ドメイン境界が、その後に生じる。これ
は、改善された制御流体ドメイン接着(気泡接着)に寄与し得る。それらは、小
型化され、あるいは小片形状、またはファイバー形状を有し得る。それらの表面
は、改良されて、例えば、化学的または生物学的コンポーネントまで固定し得る
。さらに、反応インターフェースとして粒子、マット、またはファブリックが適
しており、それらは、反応チャンバの側壁の一方に適用され、反応チャンバ内部
に導入される。
材料から形成され、あるいは、制御流体ドメイン境界が、その後に生じる。これ
は、改善された制御流体ドメイン接着(気泡接着)に寄与し得る。それらは、小
型化され、あるいは小片形状、またはファイバー形状を有し得る。それらの表面
は、改良されて、例えば、化学的または生物学的コンポーネントまで固定し得る
。さらに、反応インターフェースとして粒子、マット、またはファブリックが適
しており、それらは、反応チャンバの側壁の一方に適用され、反応チャンバ内部
に導入される。
【0027】
制御インターフェースおよび透過性メンブレンは、フロースルー装置の一部とし
て強固に相互接続され得る。あるいはまた、制御インターフェースが、システム
ユニットの一部として可動にされ、ガス透過メンブレン上に置かれるようにする
こともできる。制御アパーチャは、望まれた制御流体ドメインに応じて、丸みを
帯びた形状、または四角形形状、または円錐形形状、またはそれ以外の形状を有
し得る。
て強固に相互接続され得る。あるいはまた、制御インターフェースが、システム
ユニットの一部として可動にされ、ガス透過メンブレン上に置かれるようにする
こともできる。制御アパーチャは、望まれた制御流体ドメインに応じて、丸みを
帯びた形状、または四角形形状、または円錐形形状、またはそれ以外の形状を有
し得る。
【0028】
制御流体ドメインによって、すなわち、制御装置、例えば、制御アパーチャまた
は電極の配置によって、制御流体ドメインによって互いに分離され得るプロセス
エリアのn列m行からなるアレイを製造することが可能となる。すなわち、例え
ば、100×100または10000×10000のプロセスエリアを有するア
レイが製造可能である。
は電極の配置によって、制御流体ドメインによって互いに分離され得るプロセス
エリアのn列m行からなるアレイを製造することが可能となる。すなわち、例え
ば、100×100または10000×10000のプロセスエリアを有するア
レイが製造可能である。
【0029】
本発明による装置は、射出成形、マイクロスタンピング、LIGA法によって、
またはフィルムラミネーションによって、または側壁の個々の層、制御インター
フェース、分析インターフェース、およびプロセスインターフェース、ガス透過
メンブレン、チャネルサポート、およびそれに類するものを接着またはラミネー
ションによって結合することによって、または一体形成することによって製造さ
れ得る。
またはフィルムラミネーションによって、または側壁の個々の層、制御インター
フェース、分析インターフェース、およびプロセスインターフェース、ガス透過
メンブレン、チャネルサポート、およびそれに類するものを接着またはラミネー
ションによって結合することによって、または一体形成することによって製造さ
れ得る。
【0030】
本発明による装置および本発明による方法は、それ故、単一のフロースルー装置
内において合成および分析を行うべく、流体の操作、並びに化学的および生化学
的反応を実行することを可能とする。このフロースルー装置は、システムユニッ
トの助けによって作動される。システムユニットは、例えば、プロセス流体、制
御流体、ブロッキング流体、およびそれに類するものを装置に供給する。さらに
、装置は、制御装置、および/または例えば、光源または検出器のような分析の
ための装置を備え得る。
内において合成および分析を行うべく、流体の操作、並びに化学的および生化学
的反応を実行することを可能とする。このフロースルー装置は、システムユニッ
トの助けによって作動される。システムユニットは、例えば、プロセス流体、制
御流体、ブロッキング流体、およびそれに類するものを装置に供給する。さらに
、装置は、制御装置、および/または例えば、光源または検出器のような分析の
ための装置を備え得る。
【0031】
本発明による装置および方法は、単一のフロースルー装置を非常に多数個のエレ
メントを備えた比較的大きな表面のシステムに対するミクロ流体のシステムとし
て利用可能にするという長所を有している。このフロースルー装置はまた、安価
な単発使用の製品として製造され、適当なシステムユニットとともに使用される
。任意の数の反応エリアが生成される結果として、in‐situ合成、または
マルチ分析を同一の装置内において平行して実行することが可能となる。特に、
合成および分析が、同一装置内において平行して、または時間的に前後して可能
となり、そしてそれは、適切な合成装置の適切な分析装置への転換を可能とする
。
メントを備えた比較的大きな表面のシステムに対するミクロ流体のシステムとし
て利用可能にするという長所を有している。このフロースルー装置はまた、安価
な単発使用の製品として製造され、適当なシステムユニットとともに使用される
。任意の数の反応エリアが生成される結果として、in‐situ合成、または
マルチ分析を同一の装置内において平行して実行することが可能となる。特に、
合成および分析が、同一装置内において平行して、または時間的に前後して可能
となり、そしてそれは、適切な合成装置の適切な分析装置への転換を可能とする
。
【0032】
制御流体のガスの気泡は、任意の大きさで生成され得るので、高集積度、よって
大きなアレイが、微小な表面を有するエレメントを用いて実現され得る。
大きなアレイが、微小な表面を有するエレメントを用いて実現され得る。
【0033】
本発明の実施例の幾つかが以下に説明される。
【0034】
図1aには、二つの側壁3または1および2によって制限された偏平な反応チャ
ンバ7が示されている。この場合、一方の側壁は、制御プレート1から形成され
ており、この制御プレート1上において、ガス透過メンブレン2が反応チャンバ
7に面する側に配置されている。制御プレート1内には、制御アパーチャ5が挿
入されていて、この制御アパーチャ5を貫通してガス透過メンブレン2が外側に
開いた状態で配置されている。反応チャンバ7の他方の側壁は、プレート上の分
析インターフェース3から形成されている。
ンバ7が示されている。この場合、一方の側壁は、制御プレート1から形成され
ており、この制御プレート1上において、ガス透過メンブレン2が反応チャンバ
7に面する側に配置されている。制御プレート1内には、制御アパーチャ5が挿
入されていて、この制御アパーチャ5を貫通してガス透過メンブレン2が外側に
開いた状態で配置されている。反応チャンバ7の他方の側壁は、プレート上の分
析インターフェース3から形成されている。
【0035】
反応チャンバ7内には、プロセス流体4が配置され、このプロセス流体4は、制
御流体のガスの気泡6(制御流体ドメイン6、60 )によってのみ妨げられる。
御流体のガスの気泡6(制御流体ドメイン6、60 )によってのみ妨げられる。
【0036】
本発明によれば、装置は、過剰な圧力によって制御流体が制御アパーチャ5おび
ガス透過メンブレン2を通じて、反応チャンバ内に導入され得るように操作され
る。制御流体は、その後、反応チャンバ内において制御流体ドメイン6を形成し
、プロセス流体4をこれらのサブエリアから移動させる。その結果、ここには、
プロセス流体4の如何なる反応も生じ得ない。また、プロセス流体の交換の間に
、これと同じことが生じる。なぜなら、制御流体ドメインは、気泡接着の結果と
して常に静止したまま留まっているからである。
ガス透過メンブレン2を通じて、反応チャンバ内に導入され得るように操作され
る。制御流体は、その後、反応チャンバ内において制御流体ドメイン6を形成し
、プロセス流体4をこれらのサブエリアから移動させる。その結果、ここには、
プロセス流体4の如何なる反応も生じ得ない。また、プロセス流体の交換の間に
、これと同じことが生じる。なぜなら、制御流体ドメインは、気泡接着の結果と
して常に静止したまま留まっているからである。
【0037】
図1aには、二つの異なる制御流体ドメイン6、60 が示されている。この場合
、制御流体ドメイン6は、制御インターフェース1および分析インターフェース
7の両方と接触する二重接触ドメインを形成する。これに対して、接触制御流体
ドメイン60 は、制御インターフェース1、5とだけ接触する。異なる制御流体
ドメインの形状は、この場合、説明のための一例としてのみ用いられる。当然、
もし、プロセスが制御アパーチャの領域において同じ過剰圧力条件下に同一の制
御アパーチャを用いて実行されるならば、同様の制御流体ドメインが生じる。
、制御流体ドメイン6は、制御インターフェース1および分析インターフェース
7の両方と接触する二重接触ドメインを形成する。これに対して、接触制御流体
ドメイン60 は、制御インターフェース1、5とだけ接触する。異なる制御流体
ドメインの形状は、この場合、説明のための一例としてのみ用いられる。当然、
もし、プロセスが制御アパーチャの領域において同じ過剰圧力条件下に同一の制
御アパーチャを用いて実行されるならば、同様の制御流体ドメインが生じる。
【0038】
プロセス流体4および分析インターフェース3、または制御流体ドメイン6の領
域における制御インターフェース1、2の間の接触は、制御流体ドメイン6によ
って妨げられる。それ故、制御流体の影響に起因して、プロセス流体4と、例え
ば、分析インターフェースに適用された基質との間の相互作用のみが、制御流体
ドメインの境界によって規定された領域内において生じる。プロセス流体が変化
せしめられるときでさえ、制御流体ドメイン6、60 は気泡接着に基づいて同じ
場所に留まっている。
域における制御インターフェース1、2の間の接触は、制御流体ドメイン6によ
って妨げられる。それ故、制御流体の影響に起因して、プロセス流体4と、例え
ば、分析インターフェースに適用された基質との間の相互作用のみが、制御流体
ドメインの境界によって規定された領域内において生じる。プロセス流体が変化
せしめられるときでさえ、制御流体ドメイン6、60 は気泡接着に基づいて同じ
場所に留まっている。
【0039】
分析インターフェース3は、その内側表面によって、例えば、以下により詳細に
説明するように、固相合成のための基質として機能し得る。
説明するように、固相合成のための基質として機能し得る。
【0040】
しかしながら、図1bには、さらに別の装置、すなわち、制御プレート1から形
成された制御インターフェースが示されており、ガス透過メンブレン2は、図1
aを比べて逆向きに構成されている。制御アパーチャ5’は、図1bに示される
ように反応チャンバ、そしてさらに、気泡接着による制御アパーチャ5’の領域
での制御流体ドメイン6、60 の接着の向きに円錐状に広がっている。
成された制御インターフェースが示されており、ガス透過メンブレン2は、図1
aを比べて逆向きに構成されている。制御アパーチャ5’は、図1bに示される
ように反応チャンバ、そしてさらに、気泡接着による制御アパーチャ5’の領域
での制御流体ドメイン6、60 の接着の向きに円錐状に広がっている。
【0041】
この場合、以下に説明するように、対応するエレメントは、対応する参照番号を
付され、その説明は、部分的に省略されている。
付され、その説明は、部分的に省略されている。
【0042】
図1cは、図1aの装置に対応する構造を示している。しかし、制御アパーチャ
5”は、反応チャンバ7の向きに円錐状に先細りになっている。
5”は、反応チャンバ7の向きに円錐状に先細りになっている。
【0043】
ブロッキング流体10が、二つの制御アパーチャ5”のうち一方に導入される。
もし、そのとき、制御流体の過剰な圧力がアパーチャ5”に適用されるならば、
ブロッキング流体10はブロックされたアパーチャ5”の領域における制御ドメ
インの形成を妨げる。ここで、ブロッキング流体10が、ダイ上に置くことによ
ってブロッキング流体を供給することによって、あるいは微小液滴/インクジェ
ット法によって、または電気的にアドレス可能なスクリーンシステムを用いたエ
レクトロスプレー法によって、またはディスペンス法によって、または例えば、
スクリーンプリンティングのようなプリンティング法によって、全く特定の制御
アパーチャ5”に適用され得る。
もし、そのとき、制御流体の過剰な圧力がアパーチャ5”に適用されるならば、
ブロッキング流体10はブロックされたアパーチャ5”の領域における制御ドメ
インの形成を妨げる。ここで、ブロッキング流体10が、ダイ上に置くことによ
ってブロッキング流体を供給することによって、あるいは微小液滴/インクジェ
ット法によって、または電気的にアドレス可能なスクリーンシステムを用いたエ
レクトロスプレー法によって、またはディスペンス法によって、または例えば、
スクリーンプリンティングのようなプリンティング法によって、全く特定の制御
アパーチャ5”に適用され得る。
【0044】
図2aは、図1aの構造にかなり対応する構造を示している。しかしながら、分
析インターフェース3’は凹部11を備えている。この凹部11は、分析インタ
ーフェース3’の内側面上の制御流体ドメイン6’の改善された接着をもたらす
。図2aにおいてさらに、制御アパーチャ5のうちの一つが、ブロッキング流体
によってブロックされ、制御流体ドメインの形成が妨げられる。さらに別の実施
例では、制御プレート1およびガス透過メンブレン2を備えた制御インターフェ
ースがまた、図1bに示したように、制御インターフェースによって置き換えら
れる。この場合、反応チャンバの高さは減じられ、制御インターフェース1、2
上の制御流体ドメインの接着が改善され、さらに、分析インターフェース3’上
における接着が達成される。
析インターフェース3’は凹部11を備えている。この凹部11は、分析インタ
ーフェース3’の内側面上の制御流体ドメイン6’の改善された接着をもたらす
。図2aにおいてさらに、制御アパーチャ5のうちの一つが、ブロッキング流体
によってブロックされ、制御流体ドメインの形成が妨げられる。さらに別の実施
例では、制御プレート1およびガス透過メンブレン2を備えた制御インターフェ
ースがまた、図1bに示したように、制御インターフェースによって置き換えら
れる。この場合、反応チャンバの高さは減じられ、制御インターフェース1、2
上の制御流体ドメインの接着が改善され、さらに、分析インターフェース3’上
における接着が達成される。
【0045】
図2bは、図2aの構造に類似の構造を示しているが、制御アパーチャ5’は、
反応チャンバ7’の向きに円錐状に先細りになっている。このとき、分析インタ
ーフェース3’における凹部11が、付加的な反応チャンバ7を形成する。加え
て、ガス透過メンブレン2および分析インターフェース3’の間の反応チャンバ
は、例えば、ファブリック、粒子、マット、およびそれに類するものから形成さ
れ得るマトリックス12によって被覆され、マトリックス12は、固相合成のた
めの基質として機能する。この場合、また、二つの引き込み制御アパーチャ5”
のうちの一つにおける制御流体ドメインの形成が、再びブロッキング流体10に
よって妨げられる。
反応チャンバ7’の向きに円錐状に先細りになっている。このとき、分析インタ
ーフェース3’における凹部11が、付加的な反応チャンバ7を形成する。加え
て、ガス透過メンブレン2および分析インターフェース3’の間の反応チャンバ
は、例えば、ファブリック、粒子、マット、およびそれに類するものから形成さ
れ得るマトリックス12によって被覆され、マトリックス12は、固相合成のた
めの基質として機能する。この場合、また、二つの引き込み制御アパーチャ5”
のうちの一つにおける制御流体ドメインの形成が、再びブロッキング流体10に
よって妨げられる。
【0046】
図2cはさらに、図1aにおける構造に対応する構造を示している。しかしなが
ら、反応チャンバ7”は、粒子、多孔質材料、ファブリック層、マット層、また
はそれに類するものから形成されたマトリックス13によって満たされる。
ら、反応チャンバ7”は、粒子、多孔質材料、ファブリック層、マット層、また
はそれに類するものから形成されたマトリックス13によって満たされる。
【0047】
この場合、制御流体ドメイン9もまた、マトリックス13の領域13* において
実現され、反応チャンバ7”の二つの側壁の間に広がるように形成される。マト
リックス13は、固相合成に対する基質として機能し得る。
実現され、反応チャンバ7”の二つの側壁の間に広がるように形成される。マト
リックス13は、固相合成に対する基質として機能し得る。
【0048】
図3は、装置を、図1aのような側面図において、また、図3bでは平面図にお
いて示したものである。制御アパーチャ5はリングを形成し、このリングを通じ
て制御流体ドメイン8がプロセス流体4内に生成され得ることがわかるだろう。
このリング状の制御流体ドメイン8を通じて、プロセス流体の一部4* が残りの
プロセス流体から分離され、例えば、プロセス流体4がリング状の制御流体ドメ
イン8のまわりの外側のスペース内において除去され、あるいは交換されるとき
に、その場に留まっている。
いて示したものである。制御アパーチャ5はリングを形成し、このリングを通じ
て制御流体ドメイン8がプロセス流体4内に生成され得ることがわかるだろう。
このリング状の制御流体ドメイン8を通じて、プロセス流体の一部4* が残りの
プロセス流体から分離され、例えば、プロセス流体4がリング状の制御流体ドメ
イン8のまわりの外側のスペース内において除去され、あるいは交換されるとき
に、その場に留まっている。
【0049】
図4は、図2aに示した装置に対応する装置を示している。この場合、反応チャ
ンバは、部分的な反応チャンバ7および7''' によって形成され、図4bは、図
4aに対応するこの装置の平面図である。この図から反応チャンバ7''' を形成
する凹部11が、十字パターンで配置されることがわかるだろう。すなわち、分
析インターフェース3’の側部における制御アパーチャ5に向き合う内側表面1
4の領域では、四角形の領域が制御流体ドメインを用いて反応チャンバ7から除
去され得る。
ンバは、部分的な反応チャンバ7および7''' によって形成され、図4bは、図
4aに対応するこの装置の平面図である。この図から反応チャンバ7''' を形成
する凹部11が、十字パターンで配置されることがわかるだろう。すなわち、分
析インターフェース3’の側部における制御アパーチャ5に向き合う内側表面1
4の領域では、四角形の領域が制御流体ドメインを用いて反応チャンバ7から除
去され得る。
【0050】
要するに、この四角形の領域14の配置の結果として、任意のサイズのアレイが
、個々の四角形のフィールド14(アレイエレメント)から生成される。オリゴ
ヌクレオチドアレイの生成において、各アレイエレメントは、独立に制御流体ド
メイン6”によって付加的なヌクレオチドに対するそれぞれの連結反応処理から
取り出されることができ、それによって、各アレイエレメントが連続的に特定の
オリゴヌクレオチドを得ることができる。そして、標的物質をアレイの全体にわ
たって流し、分析インターフエース3’によってオリゴヌクレオチドおよび標的
物質の間の対応する特定の反応に対するアレイ全体をスキャンすることができる
。図4に対応する構成によって、領域7''' 内における相対的に大きな反応チャ
ンバの高さを用いて、制御流体ドメインが生成されるべき領域14内において、
少なくともガス透過メンブレン2と分析インターフェース3’との間に、微小な
ギャップを形成することができる。
、個々の四角形のフィールド14(アレイエレメント)から生成される。オリゴ
ヌクレオチドアレイの生成において、各アレイエレメントは、独立に制御流体ド
メイン6”によって付加的なヌクレオチドに対するそれぞれの連結反応処理から
取り出されることができ、それによって、各アレイエレメントが連続的に特定の
オリゴヌクレオチドを得ることができる。そして、標的物質をアレイの全体にわ
たって流し、分析インターフエース3’によってオリゴヌクレオチドおよび標的
物質の間の対応する特定の反応に対するアレイ全体をスキャンすることができる
。図4に対応する構成によって、領域7''' 内における相対的に大きな反応チャ
ンバの高さを用いて、制御流体ドメインが生成されるべき領域14内において、
少なくともガス透過メンブレン2と分析インターフェース3’との間に、微小な
ギャップを形成することができる。
【0051】
図5は、図1aの装置に対応する別の装置を示しているが、多数個の制御アパー
チャ5を備えている点が相違する。制御インターフェース3”とガス透過メンブ
レン2との間のスペースは、この場合、分析インターフェース3’からガス透過
メンブレンの向きにのびるウエブとしてのスペース15によって保証される。こ
の例において、幾つかの制御アパーチャ5が、ブロッキング流体10によって占
有され、それによって、これらの占有された制御アパーチャ5上には、如何なる
制御流体ドメイン6も形成され得ない。したがって、これらの領域においては、
プロセス流体4が、分析インターフェース3”と反応し、あるいは可能ならば、
ガス透過メンブレン2と反応する。
チャ5を備えている点が相違する。制御インターフェース3”とガス透過メンブ
レン2との間のスペースは、この場合、分析インターフェース3’からガス透過
メンブレンの向きにのびるウエブとしてのスペース15によって保証される。こ
の例において、幾つかの制御アパーチャ5が、ブロッキング流体10によって占
有され、それによって、これらの占有された制御アパーチャ5上には、如何なる
制御流体ドメイン6も形成され得ない。したがって、これらの領域においては、
プロセス流体4が、分析インターフェース3”と反応し、あるいは可能ならば、
ガス透過メンブレン2と反応する。
【0052】
図6は、図5aに示した装置に類似した装置の詳細を示したものであ。分析イン
ターフェース3”とガス透過メンブレン2’との間のスペースは、多数個のスペ
ーサ15によって保証される。この場合、スペーサ15は、マトリックスの形態
に配置される。もし、個々のスペーサ15間において、制御インターフェースの
側部上に制御アパーチャの一つが存在するならば、四つのスペーサ15、すなわ
ち、表面エレメント16のそれぞれの間において、四角形状に閉じ込められた領
域が個々のスペーサ15の間の対応する制御流体ドメインを通じて反応チャンバ
7の残りの領域から分離され得る。これは例えば、図6bの座標Xa 、Ya によ
って一つの流体エレメントに対して代表される。
ターフェース3”とガス透過メンブレン2’との間のスペースは、多数個のスペ
ーサ15によって保証される。この場合、スペーサ15は、マトリックスの形態
に配置される。もし、個々のスペーサ15間において、制御インターフェースの
側部上に制御アパーチャの一つが存在するならば、四つのスペーサ15、すなわ
ち、表面エレメント16のそれぞれの間において、四角形状に閉じ込められた領
域が個々のスペーサ15の間の対応する制御流体ドメインを通じて反応チャンバ
7の残りの領域から分離され得る。これは例えば、図6bの座標Xa 、Ya によ
って一つの流体エレメントに対して代表される。
【0053】
図7は、本発明による別の装置を示したものであり、図7a1は、分析インター
フェース3を示している。図7a2は、分析インターフェース3および制御イン
ターフェース1の間に配置されたチャネルサポート17を示しており、このサポ
ート内には、供給チャネル20および排出チャネル21が導入される。2本のチ
ャネルの間には、チャンバ22へと接続するチャンバ供給チャネル23、24が
、それぞれ延びている。さらに、チャンバ供給チャネル23のそれぞれとチャン
バ22との間には、平行なチャネル25としての供給チャネル20および排出チ
ャネル21の間の直接的な接続が存在する。図7a3には、プロセス流体に対す
る供給アパーチャ18、プロセス流体に対する排出アパーチャ19、およびこれ
らのアパーチャ間の制御アパーチャ5を備えた制御プレート1* が示されている
。
フェース3を示している。図7a2は、分析インターフェース3および制御イン
ターフェース1の間に配置されたチャネルサポート17を示しており、このサポ
ート内には、供給チャネル20および排出チャネル21が導入される。2本のチ
ャネルの間には、チャンバ22へと接続するチャンバ供給チャネル23、24が
、それぞれ延びている。さらに、チャンバ供給チャネル23のそれぞれとチャン
バ22との間には、平行なチャネル25としての供給チャネル20および排出チ
ャネル21の間の直接的な接続が存在する。図7a3には、プロセス流体に対す
る供給アパーチャ18、プロセス流体に対する排出アパーチャ19、およびこれ
らのアパーチャ間の制御アパーチャ5を備えた制御プレート1* が示されている
。
【0054】
図7bは、制御プレート1* 、およびその上に配置されたガス透過メンブレン2
、およびその上に配置されたチャネルサポート17、およびその上に配置された
分析インターフェース3を備えた横方向の構成を示している。制御プレート1*
内における制御アパーチャ5は、この場合、それらがそれぞれチャンバ22の下
側に位置するように配置される。次に、反応チャンバが個々のチャンバ22によ
って形成される。しかし、個々のチャンバ22内においては、同時に制御流体ド
メインが制御アパーチャ5を通じてそれぞれ形成され得る。こうして、制御流体
に対する個々のチャンバ22を開放することによって、それらを通過させ、また
は妨げることが可能となる。制御アパーチャ5はまた、前述の例で示されたよう
に、それぞれブロッキング流体によってブロックされ、よって、制御流体の過剰
な圧力が制御アパーチャ5の全体に適用されるときにブロックされ、そして、関
係するチャンバ22内における制御流体ドメインの形成が妨げられ得る。
、およびその上に配置されたチャネルサポート17、およびその上に配置された
分析インターフェース3を備えた横方向の構成を示している。制御プレート1*
内における制御アパーチャ5は、この場合、それらがそれぞれチャンバ22の下
側に位置するように配置される。次に、反応チャンバが個々のチャンバ22によ
って形成される。しかし、個々のチャンバ22内においては、同時に制御流体ド
メインが制御アパーチャ5を通じてそれぞれ形成され得る。こうして、制御流体
に対する個々のチャンバ22を開放することによって、それらを通過させ、また
は妨げることが可能となる。制御アパーチャ5はまた、前述の例で示されたよう
に、それぞれブロッキング流体によってブロックされ、よって、制御流体の過剰
な圧力が制御アパーチャ5の全体に適用されるときにブロックされ、そして、関
係するチャンバ22内における制御流体ドメインの形成が妨げられ得る。
【0055】
その結果、プロセス流体が流れるとき、制御流体ドメインは、チャンバ22から
押し出されずに、チャンバの入口と出口の間におけるプロセス流体の圧力差が制
限されなければならない。平行なチャネル25は、例えば、これによって助けら
れ得る。しかしながらまた、このような平行なチャネルを用いることなく、動作
させることも可能である。
押し出されずに、チャンバの入口と出口の間におけるプロセス流体の圧力差が制
限されなければならない。平行なチャネル25は、例えば、これによって助けら
れ得る。しかしながらまた、このような平行なチャネルを用いることなく、動作
させることも可能である。
【0056】
図8は、図7に示された装置に対応する別の装置を示したものである。しかしな
がら、この場合、チャンバ22の多数の列が備えられる。こうして、同時にプロ
セス流体に適用されるべきチャンバ22の個数が、さらに増加し得る。
がら、この場合、チャンバ22の多数の列が備えられる。こうして、同時にプロ
セス流体に適用されるべきチャンバ22の個数が、さらに増加し得る。
【0057】
それぞれの場合に、チャンバ供給チャネル23、24の間に一つのチャンバ22
を配置する代わりに、二つまたそれ以上の相互接続されたチャンバが、列に並ん
で配置され得る。この場合、第1のチャンバは、制御流体によって擬似バルブ機
能を保証し、それによって、プロセス流体の隣接するチャンバ(例えば、反応チ
ャンバ)内への通過を可能とし、あるいは妨げる。
を配置する代わりに、二つまたそれ以上の相互接続されたチャンバが、列に並ん
で配置され得る。この場合、第1のチャンバは、制御流体によって擬似バルブ機
能を保証し、それによって、プロセス流体の隣接するチャンバ(例えば、反応チ
ャンバ)内への通過を可能とし、あるいは妨げる。
【0058】
図9aは、図1aに示された装置に対応する装置を示したものである。しかしな
がら、図1aの装置とは異なり、制御プレート1# は、(図示されない)ポンプ
装置に接続された負圧チャンバ28を備えている。負圧チャンバ28は、ガス透
過メンブレン2と接触し、制御アパーチャ5を横方向に取り囲んでいる。制御プ
レート1# に沿った断片としてのこの装置の平面図が、図9bに示されている。
がら、図1aの装置とは異なり、制御プレート1# は、(図示されない)ポンプ
装置に接続された負圧チャンバ28を備えている。負圧チャンバ28は、ガス透
過メンブレン2と接触し、制御アパーチャ5を横方向に取り囲んでいる。制御プ
レート1# に沿った断片としてのこの装置の平面図が、図9bに示されている。
【0059】
過剰圧力が制御アパーチャ5に適用される場合には、ブロッキング流体10によ
ってブロックされない制御アパーチャ5の上方に、再び制御流体ドメイン6# が
形成される。この制御流体ドメインはまた、反応チャンバ7内において、制御ア
パーチャ5の横に広がっている。しかしながら、制御流体ドメイン6# の横方向
の拡張部分は、負圧チャンバ28内の負圧によって制限される。もし制御流体ド
メイン6# が、負圧チャンバ28の領域内に入り込むならば、制御流体は、再び
吸引によってそこから取り出される。すなわち、制御流体の制御アパーチャ5を
通じた流入が、制御流体の負圧チャンバを通じた流出とバランスする。その結果
、制御流体ドメインの拡張の制限が負圧チャンバ28によって可能となる。
ってブロックされない制御アパーチャ5の上方に、再び制御流体ドメイン6# が
形成される。この制御流体ドメインはまた、反応チャンバ7内において、制御ア
パーチャ5の横に広がっている。しかしながら、制御流体ドメイン6# の横方向
の拡張部分は、負圧チャンバ28内の負圧によって制限される。もし制御流体ド
メイン6# が、負圧チャンバ28の領域内に入り込むならば、制御流体は、再び
吸引によってそこから取り出される。すなわち、制御流体の制御アパーチャ5を
通じた流入が、制御流体の負圧チャンバを通じた流出とバランスする。その結果
、制御流体ドメインの拡張の制限が負圧チャンバ28によって可能となる。
【0060】
図9に類似の方法で、負圧チャンバがまた、図7または図8による構成に導入さ
れる。このとき、負圧チャンバは、チャンバ供給チャネル23、24の下側に配
置される。そしてそこから、それらはガス透過メンブレンによって分離される。
れる。このとき、負圧チャンバは、チャンバ供給チャネル23、24の下側に配
置される。そしてそこから、それらはガス透過メンブレンによって分離される。
【0061】
図10aは、図1aに示された構成に対応する別の構成を示したものである。し
かしながら、分析インターフェース3の代わりに、第2の制御プレート29およ
び反応チャンバ7の側部に配置された第2のガス透過メンブレン30を備えた第
2の制御インターフェースが備えられる。この第2の制御インターフェースは、
再び制御アパーチャ31を備えている。図10aの実施例によれば、制御流体ド
メインを制御アパーチャ5.1を通じて、または制御アパーチャ31を通じて形
成することが可能である。図10aには、制御流体ドメインが、如何にして制御
アパーチャ5.1または5.2を通じて形成され、制御アパーチャ5.2が、如
何にしてブロッキング流体10によってブロックされるのかを示したものである
。
かしながら、分析インターフェース3の代わりに、第2の制御プレート29およ
び反応チャンバ7の側部に配置された第2のガス透過メンブレン30を備えた第
2の制御インターフェースが備えられる。この第2の制御インターフェースは、
再び制御アパーチャ31を備えている。図10aの実施例によれば、制御流体ド
メインを制御アパーチャ5.1を通じて、または制御アパーチャ31を通じて形
成することが可能である。図10aには、制御流体ドメインが、如何にして制御
アパーチャ5.1または5.2を通じて形成され、制御アパーチャ5.2が、如
何にしてブロッキング流体10によってブロックされるのかを示したものである
。
【0062】
図10bは、図10aの装置の断面図である。図10bに示されるように、第1
の制御インターフェース上には、さらに、拡張部分32が設けられている。拡張
部分32は、シール34によって、第1の制御インターフェースと漏れを生じな
いように強固に結合されている。第2の制御インターフェース上には、拡張部分
33が設けられている。拡張部分33は、シール35によって、第2の制御イン
ターフェースと漏れを生じないように強固に結合されている。拡張部分32また
は33の内部には、アパーチャ36または37が配置される。
の制御インターフェース上には、さらに、拡張部分32が設けられている。拡張
部分32は、シール34によって、第1の制御インターフェースと漏れを生じな
いように強固に結合されている。第2の制御インターフェース上には、拡張部分
33が設けられている。拡張部分33は、シール35によって、第2の制御イン
ターフェースと漏れを生じないように強固に結合されている。拡張部分32また
は33の内部には、アパーチャ36または37が配置される。
【0063】
動作の間、制御流体の過剰な圧力がアパーチャ36を通じて、第1の制御インタ
ーフェースの制御アパーチャに適用され、それによって、対応する制御流体ドメ
インが、反応チャンバ内に形成される。負圧をアパーチャ37に適用することに
よって、制御流体は、再び吸引によって制御流体ドメインから取り出され、それ
によって、制御流体ドメインの拡張が、第2の制御インターフェース上の負圧を
調節することによって制限され得る。制御アパーチャ5.1および31が、同一
の大きさとなるような制御流体ドメインのサイズが、拡張部分32における過剰
圧力および拡張部分33における負圧の間の関係から生じる。
ーフェースの制御アパーチャに適用され、それによって、対応する制御流体ドメ
インが、反応チャンバ内に形成される。負圧をアパーチャ37に適用することに
よって、制御流体は、再び吸引によって制御流体ドメインから取り出され、それ
によって、制御流体ドメインの拡張が、第2の制御インターフェース上の負圧を
調節することによって制限され得る。制御アパーチャ5.1および31が、同一
の大きさとなるような制御流体ドメインのサイズが、拡張部分32における過剰
圧力および拡張部分33における負圧の間の関係から生じる。
【0064】
図11aは、制御アパーチャ5.1〜5.3を備えた図1aによる制御プレート
1の詳細を示したものである。さらに、図11aには、制御流体のためのアパー
チャ36’を備えたダイ32’が示されている。ダイ32’は、制御プレート1
上に置かれ、そして、シール34によって、制御プレート1と漏れを生じないよ
うに結合されている。ダイ32’の形状によって、制御アパーチャ5.1および
5.3は、開いた状態に維持され、一方、制御アパーチャ5.1が被覆される。
もし、制御流体が過剰圧力の下にアパーチャ36’を通じてダイ32内に導入さ
れるならば、制御アパーチャ5.1および5.3を通じて制御流体ドメインが反
応チャンバ7内に形成される一方、制御アパーチャ5.1上には如何なる制御流
体ドメインも形成されない。
1の詳細を示したものである。さらに、図11aには、制御流体のためのアパー
チャ36’を備えたダイ32’が示されている。ダイ32’は、制御プレート1
上に置かれ、そして、シール34によって、制御プレート1と漏れを生じないよ
うに結合されている。ダイ32’の形状によって、制御アパーチャ5.1および
5.3は、開いた状態に維持され、一方、制御アパーチャ5.1が被覆される。
もし、制御流体が過剰圧力の下にアパーチャ36’を通じてダイ32内に導入さ
れるならば、制御アパーチャ5.1および5.3を通じて制御流体ドメインが反
応チャンバ7内に形成される一方、制御アパーチャ5.1上には如何なる制御流
体ドメインも形成されない。
【0065】
図11bは、ブロッキング流体10の制御アパーチャ5.1および5.3内への
導入を図説している。これは、微小液滴/インクジェット装置51を用いて実行
され、そして、それはブロッキング流体10を液滴の形態52または53におい
て制御アパーチャ5.1および5.3内に導入する。如何なるブロッキング流体
も制御アパーチャ5.2内には導入されないので、制御流体が過剰圧力の下に適
用されるとき、制御流体ドメインは反応チャンバ内のアパーチャ5.2上に形成
される。
導入を図説している。これは、微小液滴/インクジェット装置51を用いて実行
され、そして、それはブロッキング流体10を液滴の形態52または53におい
て制御アパーチャ5.1および5.3内に導入する。如何なるブロッキング流体
も制御アパーチャ5.2内には導入されないので、制御流体が過剰圧力の下に適
用されるとき、制御流体ドメインは反応チャンバ内のアパーチャ5.2上に形成
される。
【0066】
したがって、微小液滴/インクジェット法によって個々の反応処理に対して、ブ
ロックされたそして、ブロックされない制御アパーチャの任意の望まれた分野が
生成され得る。
ロックされたそして、ブロックされない制御アパーチャの任意の望まれた分野が
生成され得る。
【0067】
図11cは、ブロッキング流体10を制御アパーチャ5.1、5.2または5.
3内に導入するための別の可能な方法を図説したものである。この目的のために
、制御プレート1の外側面上には、電気的にアドレス可能なスクリーン54が配
置され、このスクリーン54は、スクリーンアパーチャ55.1、55.2また
は55.3を備えており、これらのスクリーンアパーチャは、制御プレート1の
制御アパーチャ5.1、5.2または5.3に関係付けられている。電気的にア
ドレス可能なスクリーン54の外側上には、電圧が適用され得る電気的な接触子
57.1〜57.3が配置される。電気的にアドレス可能なスクリーン54から
適当な間隔をあけた位置には、エレクトロスプレー源56が配置され、このエレ
クトロスプレー源56を通じてマイクロメーター以下の範囲の直径を有する電荷
を帯びた液滴(ここでは、図示されない)が、電気的にアドレス可能なスクリー
ン54上に反らせられる。次に、例えば、如何なる電圧もスクリーンアパーチャ
55.1のまわりの電気的接触子57.1および57.2に適用されないならば
、液滴はスクリーンアパーチャ55.1の通過して飛翔する。しかしながら、も
し、電圧が適用されるならば、液滴は極性にしたがって電極57.1または57
.2上に反らされ、あるいはそれらによってはねつけられる。
3内に導入するための別の可能な方法を図説したものである。この目的のために
、制御プレート1の外側面上には、電気的にアドレス可能なスクリーン54が配
置され、このスクリーン54は、スクリーンアパーチャ55.1、55.2また
は55.3を備えており、これらのスクリーンアパーチャは、制御プレート1の
制御アパーチャ5.1、5.2または5.3に関係付けられている。電気的にア
ドレス可能なスクリーン54の外側上には、電圧が適用され得る電気的な接触子
57.1〜57.3が配置される。電気的にアドレス可能なスクリーン54から
適当な間隔をあけた位置には、エレクトロスプレー源56が配置され、このエレ
クトロスプレー源56を通じてマイクロメーター以下の範囲の直径を有する電荷
を帯びた液滴(ここでは、図示されない)が、電気的にアドレス可能なスクリー
ン54上に反らせられる。次に、例えば、如何なる電圧もスクリーンアパーチャ
55.1のまわりの電気的接触子57.1および57.2に適用されないならば
、液滴はスクリーンアパーチャ55.1の通過して飛翔する。しかしながら、も
し、電圧が適用されるならば、液滴は極性にしたがって電極57.1または57
.2上に反らされ、あるいはそれらによってはねつけられる。
【0068】
図11Cの例においては、電極の適当なアドレス付け(電圧の適用)によって、
制御アパーチャ5.1および5.3のみがブロッキング流体10によって満たさ
れる。
制御アパーチャ5.1および5.3のみがブロッキング流体10によって満たさ
れる。
【0069】
ブロッキング流体10を制御アパーチャ5内に導入するためのさらに別の変形例
は、ブロッキング流体を(ここでは、説明されない)スクリーンプリンティング
法によって、制御アパーチャ内に導入することからなっている。
は、ブロッキング流体を(ここでは、説明されない)スクリーンプリンティング
法によって、制御アパーチャ内に導入することからなっている。
【0070】
図12は、図5に対応する本発明によるさらに別の装置を示しており、さらには
、化学的分析法を図説している。図12の装置においては、光学的に検出され得
る蛍光体が分析インターフェース3から反応チャンバ7への位相境界上に結合せ
しめられる。蛍光体を用いたこの種の分析法については、DE 196 2 0
02 C1を参照されたい。
、化学的分析法を図説している。図12の装置においては、光学的に検出され得
る蛍光体が分析インターフェース3から反応チャンバ7への位相境界上に結合せ
しめられる。蛍光体を用いたこの種の分析法については、DE 196 2 0
02 C1を参照されたい。
【0071】
本発明による装置の外側の分析インターフェース3の側部上には、蛍光を励起す
る光61を分析インターフェース3上に照射し得る光源60が配置される。これ
は、分析インターフェース3上の法線に対する角度αをなして実行される。さら
に、光学的な検出器64が配置され、分析インターフェース3に対して垂直に照
射された蛍光が検出される一方、散乱され、反射された光の成分62は光学的な
検出器64によって検出されない。
る光61を分析インターフェース3上に照射し得る光源60が配置される。これ
は、分析インターフェース3上の法線に対する角度αをなして実行される。さら
に、光学的な検出器64が配置され、分析インターフェース3に対して垂直に照
射された蛍光が検出される一方、散乱され、反射された光の成分62は光学的な
検出器64によって検出されない。
【0072】
そのとき、蛍光63の測定は、例えば、光学的な検出器64を用いた分析インタ
ーフェース3、および反応チャンバ7の間の境界面上におけるプロセス流体4に
よって供給された蛍光体を検出することを可能とする。
ーフェース3、および反応チャンバ7の間の境界面上におけるプロセス流体4に
よって供給された蛍光体を検出することを可能とする。
【0073】
ここには図示されない別の光学的測定法は、レーザスキャナを用いて分析インタ
ーフェース3をスキャニングして、散乱光または反射光の成分、あるいは蛍光成
分さえも一つの検出器によって検出することにある。
ーフェース3をスキャニングして、散乱光または反射光の成分、あるいは蛍光成
分さえも一つの検出器によって検出することにある。
【0074】
図13aは、本発明による装置のさらに別の例を示しており、この例では、反応
チャンバ7は、第1のガス透過メンブレン2および第2のガス透過メンブレン3
0の間に閉じ込められている。第1のガス透過メンブレン2上には、図1に対応
する制御プレート1が配置され、この制御プレート1は、制御流体ドメイン6を
反応チャンバ7内に導入するための制御アパーチャ5を備えている。制御アパー
チャ5に関係付けられた第2のガス透過メンブレン30の側部には、例えば、ポ
リカーボネートから形成された小片形状の基質エレメント70が、第2のガス透
過メンブレン30上に配置される。合成または他の化学的反応が、これらの小片
形状の基質70上において行われ得る。
チャンバ7は、第1のガス透過メンブレン2および第2のガス透過メンブレン3
0の間に閉じ込められている。第1のガス透過メンブレン2上には、図1に対応
する制御プレート1が配置され、この制御プレート1は、制御流体ドメイン6を
反応チャンバ7内に導入するための制御アパーチャ5を備えている。制御アパー
チャ5に関係付けられた第2のガス透過メンブレン30の側部には、例えば、ポ
リカーボネートから形成された小片形状の基質エレメント70が、第2のガス透
過メンブレン30上に配置される。合成または他の化学的反応が、これらの小片
形状の基質70上において行われ得る。
【0075】
図13aは、制御アパーチャ5上における制御流体ドメイン6の形成によって小
片形状の基質70が反応チャンバから取り出され、それによって、プロセス流体
4および小片形状の基質70の間の反応が、そこで妨げられるということを示し
ている。ブロッキング流体10によってブロックされ、それによって、如何なる
制御流体ドメイン6も形成され得ないような制御アパーチャ5の場合には、プロ
セス流体4は基質7に接触し、それによって、望まれた反応がそこで生じ得る。
片形状の基質70が反応チャンバから取り出され、それによって、プロセス流体
4および小片形状の基質70の間の反応が、そこで妨げられるということを示し
ている。ブロッキング流体10によってブロックされ、それによって、如何なる
制御流体ドメイン6も形成され得ないような制御アパーチャ5の場合には、プロ
セス流体4は基質7に接触し、それによって、望まれた反応がそこで生じ得る。
【0076】
図13bは、小片形状の基質70の平面図である。図13bからわかるように、
この小片形状の基質70は、エレメント71に接続する基質を通じて、横方向に
相互接続された個々の小片73を有している。
この小片形状の基質70は、エレメント71に接続する基質を通じて、横方向に
相互接続された個々の小片73を有している。
【0077】
図13cは、基質の別の構成を示しており、この構成においては、小片形状の基
質70’が、第2のガス透過メンブレン30’によって境界付けられ、個々の小
片70は、ガス透過メンブレン30’によって互いに接続されている。
質70’が、第2のガス透過メンブレン30’によって境界付けられ、個々の小
片70は、ガス透過メンブレン30’によって互いに接続されている。
【0078】
図13に示された装置は、例えば、蛍光を励起する光を基質接続エレメント71
の端面72内に照射することを可能とする(図13b参照)。もし、分析反応の
間に、蛍光体が、小片形状の基質70およびプロセス流体4間の位相の境界上に
おいて結合せしめられるならば、基質接続エレメント71および小片形状の基質
70は、蛍光励起光を蛍光体に導く。小片形状の基質70の境界面上において、
蛍光体によって照射された蛍光は、図13aに示されるような光学的検出器64
によって検出され得る。この場合、この化学的検出器64は、反応チャンバの全
体にわたって広がっている。しかしながら、また、化学的な検出器が空間的に分
散した方法で蛍光を検出することによって、個々の小片形状の基質70に対し、
蛍光を独立に検出し、評価できるようにすることが可能である。
の端面72内に照射することを可能とする(図13b参照)。もし、分析反応の
間に、蛍光体が、小片形状の基質70およびプロセス流体4間の位相の境界上に
おいて結合せしめられるならば、基質接続エレメント71および小片形状の基質
70は、蛍光励起光を蛍光体に導く。小片形状の基質70の境界面上において、
蛍光体によって照射された蛍光は、図13aに示されるような光学的検出器64
によって検出され得る。この場合、この化学的検出器64は、反応チャンバの全
体にわたって広がっている。しかしながら、また、化学的な検出器が空間的に分
散した方法で蛍光を検出することによって、個々の小片形状の基質70に対し、
蛍光を独立に検出し、評価できるようにすることが可能である。
【0079】
図14は、本発明による装置であって、ポンププロセスによってプロセス流体で
能動的に満たされ得る装置を示したものである。
能動的に満たされ得る装置を示したものである。
【0080】
図14aには、図1aに対応する装置が示されている。ここに二つの制御アパー
チャ5.1および5.2が、制御プレート内に形成される。
チャ5.1および5.2が、制御プレート内に形成される。
【0081】
図14b〜図14dは、ポンププロセスにおける異なる時刻における反応チャン
バ7(チャネルサポート)の構成を示した平面図である。
バ7(チャネルサポート)の構成を示した平面図である。
【0082】
この場合、チャネルサポートは、ガス透過メンブレンおよび分析インターフェー
ス3の間のスペーサの機能を有している。
ス3の間のスペーサの機能を有している。
【0083】
図14bは、制御アパーチャ5.1および5.2のそれぞれの上方に位置し、か
つ接続手段を介して互いに接続された二つの反応チャンバを示したものである。
第1の反応チャンバは、バルブV1 を備えた供給ラインを有する一方、第2の反
応チャンバは、バルブV2 を備えた排出ラインを備えている。
つ接続手段を介して互いに接続された二つの反応チャンバを示したものである。
第1の反応チャンバは、バルブV1 を備えた供給ラインを有する一方、第2の反
応チャンバは、バルブV2 を備えた排出ラインを備えている。
【0084】
ポンププロセスの開始時には、バルブV1 およびバルブV2 が開放されることに
よって、プロセス流体4.1が第1の反応チャンバを満たし得る。
よって、プロセス流体4.1が第1の反応チャンバを満たし得る。
【0085】
次に、図14cを参照して、バルブV1 がその後閉じられ、制御流体ドメインは
第1の反応チャンバ内に押し込められ、それによって、プロセス流体は第2の反
応チャンバ4.2内に導入される。
第1の反応チャンバ内に押し込められ、それによって、プロセス流体は第2の反
応チャンバ4.2内に導入される。
【0086】
図14dを参照して、その後、第2の制御アパーチャ5.2の上方には、制御流
体ドメインが形成され、この制御流体ドメインは、プロセス流体をバルブV2 を
通じて第2の反応チャンバ4.2から追い出す。それ故、ポンプ作用が本発明に
よるコンポーネントによって達成される。
体ドメインが形成され、この制御流体ドメインは、プロセス流体をバルブV2 を
通じて第2の反応チャンバ4.2から追い出す。それ故、ポンプ作用が本発明に
よるコンポーネントによって達成される。
【0087】
あるいは、ここに図示はされないけれども、ポンプ作用がまた、制御流体を負圧
を用いて一つまたはそれ以上の制御アパーチャを通じて、反応チャンバから吸い
出すことによって達成され得る。すなわち、例えば、バルブV1 が開かれるとき
、より多くのプロセス流体が装置内に流れ込み、その後、バルブV2 を通じて運
び出される。
を用いて一つまたはそれ以上の制御アパーチャを通じて、反応チャンバから吸い
出すことによって達成され得る。すなわち、例えば、バルブV1 が開かれるとき
、より多くのプロセス流体が装置内に流れ込み、その後、バルブV2 を通じて運
び出される。
【0088】
図15は、図14の構成に対応する別の構成を示したものであるが、この構成で
は、ポンプ作用に加えて、混合作用がまた実行される。
は、ポンプ作用に加えて、混合作用がまた実行される。
【0089】
図15bは、二つの異なるプロセス流体A1 またはA2 を伴って第1の反応チャ
ンバ49が、それぞれバルブV1 またはバルブV2 に接続された2本の供給ライ
ン45、46を備えていることを示している。この場合、第1の反応チャンバ4
9は、一定間隔をあけて配置され、かつ第1の反応チャンバ49内に導入された
プロセス流体をかき混ぜるための混合エレメントとして機能するスペーサ15#
を備えている。
ンバ49が、それぞれバルブV1 またはバルブV2 に接続された2本の供給ライ
ン45、46を備えていることを示している。この場合、第1の反応チャンバ4
9は、一定間隔をあけて配置され、かつ第1の反応チャンバ49内に導入された
プロセス流体をかき混ぜるための混合エレメントとして機能するスペーサ15#
を備えている。
【0090】
プロセス流体A1 およびA2 は、バルブV1 およびバルブV2 を通じて、制御ア
パーチャ5.1を通って第1の反応チャンバ49内に導入されることによって混
合される。この目的のために、バルブV1 〜V2 が開放される。
パーチャ5.1を通って第1の反応チャンバ49内に導入されることによって混
合される。この目的のために、バルブV1 〜V2 が開放される。
【0091】
これらの二つのプロセス流体A1 およびA2 が、流入したとき、混合がスペーサ
15# の位置で行われる。その後、バルブV1 およびV2 が閉じられ、ブロッキ
ング流体が制御アパーチャ5.2内に導入される。
15# の位置で行われる。その後、バルブV1 およびV2 が閉じられ、ブロッキ
ング流体が制御アパーチャ5.2内に導入される。
【0092】
過剰な圧力によって制御流体ドメインが、次に第1の反応チャンバ49内におい
て制御アパーチャ5.1によって生成され、混合されたプロセス流体を第1の反
応チャンバ49から第2の制御アパーチャ5.2の上方の第2の反応チャンバ5
0内へと押し出す。
て制御アパーチャ5.1によって生成され、混合されたプロセス流体を第1の反
応チャンバ49から第2の制御アパーチャ5.2の上方の第2の反応チャンバ5
0内へと押し出す。
【0093】
次に、ブロッキング流体が、例えば、蒸発によって第2の制御アパーチャ5.2
から取り除かれ、制御流体ドメインがまた、第2の制御アパーチャ5.2によっ
て第2の反応チャンバ50内に生成され、混合されたプロセス流体を本発明によ
る装置から開放されたバルブV3 を通じて運び出す。
から取り除かれ、制御流体ドメインがまた、第2の制御アパーチャ5.2によっ
て第2の反応チャンバ50内に生成され、混合されたプロセス流体を本発明によ
る装置から開放されたバルブV3 を通じて運び出す。
【0094】
図16は、本発明による装置であって、機能層、例えば、プロセス流体が存在す
る場合に、反応チャンバ7内への物質の電位を触媒作用によって生じさせる固定
化酵素が、選択されたサイトに導入されるような装置を示したものである。
る場合に、反応チャンバ7内への物質の電位を触媒作用によって生じさせる固定
化酵素が、選択されたサイトに導入されるような装置を示したものである。
【0095】
図16aは、図1aに対応する装置を示したものであるが、プロセス流体は図示
されない。図1aのガス透過メンブレン2、例えば、ネット、ファブリックまた
は多孔質材料から形成されたメンブレンサポート層74によって置き換えられて
いる。
されない。図1aのガス透過メンブレン2、例えば、ネット、ファブリックまた
は多孔質材料から形成されたメンブレンサポート層74によって置き換えられて
いる。
【0096】
図16dは、制御アパーチャ5.1の領域において、機能材料38をメンブレン
サポート層74に適用した状態を示したものである。機能材料は、例えば、メン
ブレンサポート層74上において動かないような構造からなっている。
サポート層74に適用した状態を示したものである。機能材料は、例えば、メン
ブレンサポート層74上において動かないような構造からなっている。
【0097】
図16cは、例えば、シリコンから形成されたガス透過メンブレン39.1およ
び39.2が、どのようにして反応チャンバ7から距離をおいて配置されたメン
ブレンサポート層70の側部上における制御アパーチャ5.1および5.2の領
域内において、それに引き続く溶剤の蒸発を伴って液層から適用され続けるのか
ということを説明している。
び39.2が、どのようにして反応チャンバ7から距離をおいて配置されたメン
ブレンサポート層70の側部上における制御アパーチャ5.1および5.2の領
域内において、それに引き続く溶剤の蒸発を伴って液層から適用され続けるのか
ということを説明している。
【0098】
図16に示されたようなコンポーネントの場合には、制御流体ドメインの制御ア
パーチャ5.1の領域における反応チャンバ内への導入は、前述の実施例と全く
同様にして行われる。しかしながら、アパーチャはまた、如何なる制御機能も有
しない状態で使用され得る。これは例えば、番号392を付されたシーリング層
において達成され、それによって、制御プレート1の外側反応チャンバ7に至る
ガスの通過は、もはや不可能となる。
パーチャ5.1の領域における反応チャンバ内への導入は、前述の実施例と全く
同様にして行われる。しかしながら、アパーチャはまた、如何なる制御機能も有
しない状態で使用され得る。これは例えば、番号392を付されたシーリング層
において達成され、それによって、制御プレート1の外側反応チャンバ7に至る
ガスの通過は、もはや不可能となる。
【0099】
図17aは、制御流体ドメインを保証するための別の可能な方法を示している。
しかしながら、上述のような構成とは対称的に、制御流体は、プロセス流体4か
ら反応チャンバ7の内側において本来的に電気分解作用的に保証される。この目
的のために、二つの電極40および41が制御プレート1上の陽極または陰極と
して位置される。陽極40および陰極41の間に、例えば、1V以上の電圧を適
用することによって、水素ガスおよび酸素ガス43が水性のプロセス流体4から
電気分解作用を通じて生成される。これらのガスは、制御流体として機能し、そ
して、電極40および41の上方に制御流体ドメインを形成する。要するに、こ
の種の装置によって反応チャンバを局所的に選択可能な方法で制限し、それによ
って、プロセス流体を分析インターフェース3または制御プレートの特定の領域
から分離し続け、または移動させ続けることが可能となる。
しかしながら、上述のような構成とは対称的に、制御流体は、プロセス流体4か
ら反応チャンバ7の内側において本来的に電気分解作用的に保証される。この目
的のために、二つの電極40および41が制御プレート1上の陽極または陰極と
して位置される。陽極40および陰極41の間に、例えば、1V以上の電圧を適
用することによって、水素ガスおよび酸素ガス43が水性のプロセス流体4から
電気分解作用を通じて生成される。これらのガスは、制御流体として機能し、そ
して、電極40および41の上方に制御流体ドメインを形成する。要するに、こ
の種の装置によって反応チャンバを局所的に選択可能な方法で制限し、それによ
って、プロセス流体を分析インターフェース3または制御プレートの特定の領域
から分離し続け、または移動させ続けることが可能となる。
【0100】
図17bは、電極40および41の上方の二つの制御流体ドメインまで一緒に結
合することによって生成される制御流体ドメインを示したものである。したがっ
て、制御流体ドメイン44の大きさは、プロセス流体4の電気化学的な分解の継
続、すなわち、電極40および41の適用された電圧の継続、あるいは適用され
る電圧のレベルにのみ依存する。
合することによって生成される制御流体ドメインを示したものである。したがっ
て、制御流体ドメイン44の大きさは、プロセス流体4の電気化学的な分解の継
続、すなわち、電極40および41の適用された電圧の継続、あるいは適用され
る電圧のレベルにのみ依存する。
【0101】
図17cは、本発明による装置の変形例を示したものであり、この例によって、
制御流体ドメインの制限が制御流体の電気分解による生成の間に可能となる。こ
の目的のために、分析インターフェースは、第2の制御プレート29’および第
2の制御プレート29’と、反応チャンバ7との間に配置された第2のガス透過
メンブレン30’によって置き換えられる。二つの電極40および41に向き合
って、第2の制御プレート内には、外側から第2のガス透過メンブレン30’へ
の自由なアクスを可能とするアパーチャが配置される。
制御流体ドメインの制限が制御流体の電気分解による生成の間に可能となる。こ
の目的のために、分析インターフェースは、第2の制御プレート29’および第
2の制御プレート29’と、反応チャンバ7との間に配置された第2のガス透過
メンブレン30’によって置き換えられる。二つの電極40および41に向き合
って、第2の制御プレート内には、外側から第2のガス透過メンブレン30’へ
の自由なアクスを可能とするアパーチャが配置される。
【0102】
第2の制御プレート29’におけるこのアパーチャに適用することによって、制
御流体ドメイン42および43が取り除かれ得る。さらに、負圧を適当に調節す
ることによって、制御流体ドメインの広がりを制限することが可能となる。制御
流体ドメインの大きさは、とりわけ、制御流体ドメイン42または43における
過剰な圧力と、第2の制御プレート29’におけるアパーチャ内の負圧との間の
関係からもたらされ得る。
御流体ドメイン42および43が取り除かれ得る。さらに、負圧を適当に調節す
ることによって、制御流体ドメインの広がりを制限することが可能となる。制御
流体ドメインの大きさは、とりわけ、制御流体ドメイン42または43における
過剰な圧力と、第2の制御プレート29’におけるアパーチャ内の負圧との間の
関係からもたらされ得る。
【0103】
ここに図示されないさらに別の実施例においては、光学的な分析の代わりに、電
気化学的な検出法がまた使用され得る。この目的のために、公知の方法で、電極
、例えば、作用電極およびそれと対をなす電極が、プロセス流体4および基質3
の間の位相の境界状態に適用される(また、図12を参照されたい)。同様にし
て、電極がガス透過メンブレン30’上に配置され得る。
気化学的な検出法がまた使用され得る。この目的のために、公知の方法で、電極
、例えば、作用電極およびそれと対をなす電極が、プロセス流体4および基質3
の間の位相の境界状態に適用される(また、図12を参照されたい)。同様にし
て、電極がガス透過メンブレン30’上に配置され得る。
【0104】
本発明による装置の応用例として異なるヌクレオチドとシーケンスを備えたDN
Aのアレイの製造方法が以下に説明される。
Aのアレイの製造方法が以下に説明される。
【0105】
この目的のために、第1のステップにおいてプロセス流体が制御流体ドメインに
よってブロックされない(装置の)基質のアレイエレメントにわたって、空間的
に選択された第1のヌクレオチドによる流れを形成する。この場合、アレイエレ
メントは、例えば、図4または図8に示されたように配置され得る。
よってブロックされない(装置の)基質のアレイエレメントにわたって、空間的
に選択された第1のヌクレオチドによる流れを形成する。この場合、アレイエレ
メントは、例えば、図4または図8に示されたように配置され得る。
【0106】
洗浄されたヌクレオチドは、保護基によって保護され、例えば、共有結合におい
て、図1aにおける反応チャンバ7および分析インターフェース3の間の境界面
上において基質表面に結合する反応基を生じさせる。
て、図1aにおける反応チャンバ7および分析インターフェース3の間の境界面
上において基質表面に結合する反応基を生じさせる。
【0107】
その後、第1ステップが第2のヌクレオチドを含むプロセス流体を用いて、また
は第2または付加的なヌクレオチドを含むプロセス流体の連続体を用いて繰り返
される。ここの制御アパーチャにおいて、制御流体ドメインを生成することによ
って、それぞれのプロセス流体を空間的に選択された方法で反応チャンバ内の特
定のサイトに到達させることが可能となる。さらに、基質表面は、その全エリア
にわたって、あるいは選択されたサイトにおいて、保護基を以前に結合せしめら
れたヌクレオチドから取り除くための試薬に接触せしめられる。こうして、保護
基が除去されたサイトにおいては、別のヌクレオチドをメンブレンサポート層7
0に結合させることのみが可能となる。次に、上述のステップが、n行m列のア
レイ中における個々の位置が個々の位置に対する望まれた特定のヌクレオチドシ
ーケンスを有すオリゴヌクレオチドを有するまで、異なるヌクレオチドを備えた
プロセス流体のシーケンスを用いて実行される。
は第2または付加的なヌクレオチドを含むプロセス流体の連続体を用いて繰り返
される。ここの制御アパーチャにおいて、制御流体ドメインを生成することによ
って、それぞれのプロセス流体を空間的に選択された方法で反応チャンバ内の特
定のサイトに到達させることが可能となる。さらに、基質表面は、その全エリア
にわたって、あるいは選択されたサイトにおいて、保護基を以前に結合せしめら
れたヌクレオチドから取り除くための試薬に接触せしめられる。こうして、保護
基が除去されたサイトにおいては、別のヌクレオチドをメンブレンサポート層7
0に結合させることのみが可能となる。次に、上述のステップが、n行m列のア
レイ中における個々の位置が個々の位置に対する望まれた特定のヌクレオチドシ
ーケンスを有すオリゴヌクレオチドを有するまで、異なるヌクレオチドを備えた
プロセス流体のシーケンスを用いて実行される。
【0108】
すなわち、オリゴヌクレオチドアレイの製造が、それによって、最も単純な方法
で可能となる。
で可能となる。
【0109】
しかしながら、合成はまた、粒子、ファブリック、マット、ガス透過メンブレン
、メンブレンサポート層、電極、またはそれに類するもののような別の基質上に
おいても実行され得る(例えば、図2b、図2c、図16、図17)。
、メンブレンサポート層、電極、またはそれに類するもののような別の基質上に
おいても実行され得る(例えば、図2b、図2c、図16、図17)。
【0110】
さらには、本発明による装置および方法が、エピトープ分析に対して、または抗
体結合試験のために使用され得る。この目的のために、適当な方法で、特定の抗
体が空間的に特定された方法で上述のような実施例の場合のように、装置の基質
の個々の位置に結合せしめられる。
体結合試験のために使用され得る。この目的のために、適当な方法で、特定の抗
体が空間的に特定された方法で上述のような実施例の場合のように、装置の基質
の個々の位置に結合せしめられる。
【0111】
さらに、本発明による装置および方法の可能な使用方法が、バイオアッセイ、例
えば、イムノアッセイの分野において生じる。この場合、本発明による単一の装
置内における多数のアッセイの実行が、いまや可能となる。制御装置による規定
された基質の表面エレメントは、機能化され、例えば、抗体、抗原、リンカー分
子およびそれに類するもののようなバイオコンポーネントを生じさせる。
えば、イムノアッセイの分野において生じる。この場合、本発明による単一の装
置内における多数のアッセイの実行が、いまや可能となる。制御装置による規定
された基質の表面エレメントは、機能化され、例えば、抗体、抗原、リンカー分
子およびそれに類するもののようなバイオコンポーネントを生じさせる。
【0112】
こうして、連続的におよび/または平行して複数のアッセイを実行することが可
能となり、そして、個々の表面エレメントに対する制御装置を用いることによっ
て、分析の間でさえも、個々にアドレス付けをすることが可能となる。この目的
のために、種々のサンプルが、ただ制御流体ドメインによってブロックされない
基質の選択されたアレイエレメントに対して適用されるのみである。
能となり、そして、個々の表面エレメントに対する制御装置を用いることによっ
て、分析の間でさえも、個々にアドレス付けをすることが可能となる。この目的
のために、種々のサンプルが、ただ制御流体ドメインによってブロックされない
基質の選択されたアレイエレメントに対して適用されるのみである。
【0113】
本発明によるフロースルー装置はさらに改良され、例えば、システムユニットを
用いて温度制御され得る。この目的のために、種々の温度制御法が、例えば、加
熱ブロックを接触させることにより、あるいは赤外線を照射することにより、あ
るいは温度制御された流体の流れを装置のまわりに生じさせることによって利用
可能となる。化学的または生化学的反応が基板上においてだけでなく、チャンバ
内においても生じ得る。
用いて温度制御され得る。この目的のために、種々の温度制御法が、例えば、加
熱ブロックを接触させることにより、あるいは赤外線を照射することにより、あ
るいは温度制御された流体の流れを装置のまわりに生じさせることによって利用
可能となる。化学的または生化学的反応が基板上においてだけでなく、チャンバ
内においても生じ得る。
【図1】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図2】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図3】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図4】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図5】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図6】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図7】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図8】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図9】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図10】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図11】
本発明による装置の異なる実施例を示したものである。
【図12】
光学的な分析方法を説明した図である。
【図13】
ライトガイドの形態の基質を示した図である。
【図14】
ポンピング法を説明した図である。
【図15】
ポンピングおよびミキシングプロセスを示した図である。
【図16】
選択された位置への機能層の導入を説明した図である。
【図17】
制御流体の電極を用いた製造法を説明した図である。
1 制御プレート
2 ガス透過メンブレン
3 側壁
4 プロセス流体
5 制御インターフェース
5’、5” 制御アパーチャ
6、60 制御流体ドメイン
7 分析インターフェース
10 ブロッキング流体
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
// C12N 15/09 C12N 15/00 A
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY,
DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I
T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),OA(BF
,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,
ML,MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,G
M,KE,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ
,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,
MD,RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,
AT,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,B
Z,CA,CH,CN,CO,CR,CU,CZ,DE
,DK,DM,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,
GE,GH,GM,HR,HU,ID,IL,IN,I
S,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,LK
,LR,LS,LT,LU,LV,MA,MD,MG,
MK,MN,MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,P
T,RO,RU,SD,SE,SG,SI,SK,SL
,TJ,TM,TR,TT,TZ,UA,UG,US,
UZ,VN,YU,ZA,ZW
Fターム(参考) 4B024 AA11 AA20 CA01 HA11 HA19
4B029 AA07 AA23 CC03 FA02 FA12
GB03 GB06 GB09
4G068 AA04 AB01 AB11 AC20 AD21
AF31
4G075 AA02 AA39 AA61 AA63 AA65
CA20 CA63 EB01 EC21 FB04
FB06 FB12
Claims (59)
- 【請求項1】 プロセス流体を用いて合成、分析または輸送プロセスを実行する
ための装置であって、プロセス流体を収容するための反応チャンバを備え、前記
反応チャンバは、その対向する2つの側部を第1および第2の偏平な側壁によっ
て制限され、かつプロセス流体を前記反応チャンバ内に導入するための導入アパ
ーチャを備えた装置において、 前記第1の側壁および/または前記第2の側壁が、その領域内において制御流体
を反応チャンバ内に導入するための少なくとも一つの制御装置を備えていること
を特徴とする装置。 - 【請求項2】 前記制御装置は、前記側壁における一つの開口の形態の制御アパ
ーチャとして形成されていることを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】 前記制御アパーチャは、円錐形状の側壁を備えていることを特徴
とする請求項2に記載の装置。 - 【請求項4】 前記制御アパーチャは、前記反応チャンバの向きに先細りに形成
されていることを特徴とする請求項3に記載の装置。 - 【請求項5】 前記制御アパーチャは、前記制御流体を透過するが前記プロセス
流体は透過しないメンブレンによって閉じられていることを特徴とする請求項2
〜請求項4のいずれかに記載の装置。 - 【請求項6】 前記制御装置は、前記プロセス流体中においてガスを電気化学的
に発生させるための少なくとも二つの電極を備えており、前記電極のうちの少な
くとも一つが、前記反応チャンバ内に配置されていることを特徴とする請求項1
に記載の装置。 - 【請求項7】 少なくとも二つの電極が、前記反応チャンバ内に配置されている
ことを特徴とする請求項6に記載の装置。 - 【請求項8】 前記電極のうちの少なくとも一つが、前記側壁のうちの一方に配
置されていることを特徴とする請求項6または請求項7に記載の装置。 - 【請求項9】 前記第1の側壁および/または前記第2の側壁は、その領域内に
おいて負圧を前記反応チャンバに適用する少なくとも一つの吸引装置を備えてい
ることを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれかに記載の装置。 - 【請求項10】 前記吸引装置は、前記側壁における開口の形態の吸引ポートと
して形成されていることを特徴とする請求項9に記載の装置。 - 【請求項11】 前記吸引ポートは、円錐形状の側壁を有していることを特徴と
する請求項10に記載の装置。 - 【請求項12】 前記吸引ポートは、前記反応チャンバの向きに先細りに形成さ
れていることを特徴とする請求項11に記載の装置。 - 【請求項13】 前記吸引ポートは、前記制御流体を透過するが前記プロセス流
体は透過しないメンブレンによって閉じられていることを特徴とする請求項10
〜請求項12のいずれかに記載の装置。 - 【請求項14】 前記吸引装置は、前記制御装置の横に隣接して配置されている
ことを特徴とする請求項9〜請求項13のいずれかに記載の装置。 - 【請求項15】 前記制御流体を導入するための制御装置は、規定された制御ア
パーチャの選択のためのマスクの形態のダイとして形成されていることを特徴と
する請求項1〜請求項14のいずれかに記載の装置。 - 【請求項16】 前記吸引装置は、前記反応チャンバの表面において前記制御装
置を完全に取り巻くように配置されていることを特徴とする請求項15に記載の
装置。 - 【請求項17】 前記制御装置をブロックするためのブロッキング装置は、如何
なる制御流体も前記制御装置によって前記反応チャンバ内に導入されないように
形成されていることを特徴とする請求項1〜請求項16のいずれかに記載の装置
。 - 【請求項18】 前記ブロッキング装置は、ブロッキング流体を前記制御アパー
チャに導入するための装置を備えていることを特徴とする請求項17に記載の装
置。 - 【請求項19】 前記ブロッキング流体を導入するための装置は、マスクの形態
で前記制御装置に持ち上げるダイとして形成されていることを特徴とする請求項
18に記載の装置。 - 【請求項20】 前記ブロッキング流体を導入するための装置は、前記ブロッキ
ング流体のためのエレクトロスプレー源と、前記エレクトロスプレー源および前
記制御装置の間に配置されたマスクとを備えていることを特徴とする請求項18
に記載の装置。 - 【請求項21】 前記ブロッキング流体を導入するための装置は、ディスペンシ
ング装置、または前記ブロッキング流体を前記制御装置上にプリントするための
装置を備えていることを特徴とする請求項18に記載の装置。 - 【請求項22】 前記プリントする装置は、微小液滴プリンティング装置、また
はインクジェットプリンティング装置、またはスクリーンプリンティング装置か
らなっていることを特徴とする請求項21に記載の装置。 - 【請求項23】 一方の側壁が、分析インターフェースとして形成されているこ
とを特徴とする請求項1〜請求項22のいずれかに記載の装置。 - 【請求項24】 前記分析インターフェースは、少なくとも予め決定された位置
において光を透過し得ることを特徴とする請求項23に記載の装置。 - 【請求項25】 前記分析インターフェースは、少なくとも前記反応チャンバに
向き合う面の予め決定された位置において、分析試薬で満たされることを特徴と
する請求項23または請求項24に記載の装置。 - 【請求項26】 一方の側壁が、反応インターフェースとして形成されているこ
とを特徴とする請求項1〜請求項25のいずれかに記載の装置。 - 【請求項27】 前記反応インターフェースは、少なくとも予め決定された位置
において光を透過し得ることを特徴とする請求項26に記載の装置。 - 【請求項28】 前記反応インターフェースが、少なくとも前記反応チャンバに
向き合う面の予め決定された位置において、試薬としての基質によって覆われ、
または、前記反応インターフェース内において予め決定された位置で、前記基質
に接合されることを特徴とする請求項26または請求項27に記載の装置。 - 【請求項29】 前記二つの側壁の間には、前記反応チャンバを個々のウエブが
広がっており、前記ウェブは、前記反応チャンバを個々の互いに接続され、およ
び/または互いに分離された反応チャンバに分割することを特徴とする請求項1
〜請求項28のいずれかに記載の装置。 - 【請求項30】 前記反応チャンバは、少なくとも二つの相互接続された反応隔
室に分割されており、第1の隔室は、少なくとも一つのプロセス媒体流入部に接
続され、第2の隔室は、少なくとも一つのプロセス媒体流出部に接続され、前記
二つの隔室はそれぞれ一つの制御装置を備えていることを特徴とする請求項1〜
請求項29のいずれかに記載の装置。 - 【請求項31】 前記少なくとも一つのプロセス媒体流入部のそれぞれ、および
/または前記少なくとも一つのプロセス媒体流出部のそれぞれは、各1つのバル
ブに接続されていることを特徴とする請求項30に記載の装置。 - 【請求項32】 前記側壁は、少なくとも部分的にプラスチック材料、またはガ
ラス、またはセラミック、またはそれに類するものから形成されていることを特
徴とする請求項1〜請求項31のいずれかに記載の装置。 - 【請求項33】 前記側壁は、少なくとも部分的に偏平な表面、または多孔質の
表面、または構造を有する表面を備えていることを特徴とする請求項1〜請求項
32のいずれかに記載の装置。 - 【請求項34】 前記反応チャンバおよび前記プロセス流体の温度を制御するた
めの装置を備えていることを特徴とする請求項1〜請求項33のいずれかに記載
の装置。 - 【請求項35】 前記反応チャンバの温度を制御するための装置は、加熱ブロッ
ク、赤外線源、および/または前記反応チャンバのまわりに温度制御された流体
の流れを形成する装置を備えていることを特徴とする請求項34に記載の装置。 - 【請求項36】 前記メンブレンは、少なくとも部分的にシリコン、テフロン(
登録商標)、またはそれに類するものから形成されていることを特徴とする請求
項5〜請求項35のいずれかに記載の装置。 - 【請求項37】 光を前記分析インターフェース上に照射するための少なくとも
一つの光源と、前記装置によって反射され、散乱され、蛍光として発せられ、ま
たは伝播せしめられた光を検出するための少なくとも一つの検出器とを備えてい
ることを特徴とする請求項23〜請求項26のいずれかに記載の装置。 - 【請求項38】 前記分析インターフェースは、少なくとも部分的にガラス、ポ
リカーボネート、ポリビニルクロライド(PVC)、ポリプロピレン(PP)、
ポリウレタン(PU)、ポリエステル、またはそれに類するものから形成されて
いることを特徴とする請求項23〜請求項37のいずれかに記載の装置。 - 【請求項39】 前記側壁は、少なくとも部分的にポリマー、合成樹脂、ポリカ
ーボネート、ガラス、セラミック、またはそれに類するものから形成されている
ことを特徴とする請求項1〜請求項38のいずれかに記載の装置。 - 【請求項40】 前記制御装置は、1μm〜1mmの厚さを有し、前記側壁、ま
たは前記反応面、または前記分析インターフェースのそれぞれは、数μm〜数m
mの厚さを有し、前記ガス透過メンブレンは、数100nm〜数100μmの厚
さを有し、および/または前記反応チャンバは、数10μm〜数10mmの厚さ
を有していることを特徴とする請求項1〜請求項39のいずれかに記載の装置。 - 【請求項41】 前記制御アパーチャは、1μm〜10mmの直径を有している
ことを特徴とする請求項2〜請求項40に記載の装置。 - 【請求項42】 プロセス流体を反応チャンバ内に導入し、前記プロセス流体を
用いて分析または合成を実行し、あるいは前記プロセス流体を輸送することによ
って、プロセス流体を用いた合成、分析または輸送プロセスを実行するための方
法において、 前記反応チャンバの少なくとも一つの予め決定された隔室内に制御流体を導入し
て、前記プロセス流体をこの隔室から排除することを特徴とする方法。 - 【請求項43】 前記隔室が前記制御流体によってブロックされ、または前記プ
ロセス流体が前記制御流体によって前記隔室から排除されることを特徴とする請
求項42に記載の方法。 - 【請求項44】 前記制御流体が、前記反応チャンバの側壁に設けられた開口と
して形成された制御アパーチャを通じて、前記反応チャンバ内に導入されること
を特徴とする請求項42または請求項43に記載の方法。 - 【請求項45】 前記制御アパーチャ内にブロッキング流体が導入される間に、
前記制御流体の前記制御アパーチャを通じての前記反応チャンバ内への導入がブ
ロックされることを特徴とする請求項42〜請求項44のいずれかに記載の方法
。 - 【請求項46】 前記ブロッキング流体は、エレクトロスプレー法、ディスペン
シング法、または微小液滴プリンティング、インクジェットプリンティング、ま
たはスクリーンプリンティングのようなプリンティング法によって、前記制御ア
パーチャ内に導入されることを特徴とする請求項42〜請求項45のいずれかに
記載の方法。 - 【請求項47】 高い揮発性を有する媒体が、前記ブロッキング流体として使用
されることを特徴とする請求項45または請求項46に記載の方法。 - 【請求項48】 液体状の媒体が、前記ブロッキング流体として使用されること
を特徴とする請求項45〜請求項47のいずれかに記載の方法。 - 【請求項49】 前記ブロッキング流体は、例えば、ガス流を用いた前記制御イ
ンターフェースからの吹き出しによって生成されることを特徴とする請求項48
に記載の方法。 - 【請求項50】 前記ブロッキング流体は、前記制御インターフェース内に組み
込まれた付加的なチャネルによって吸引排出されることを特徴とする請求項42
〜請求項49のいずれかに記載の方法。 - 【請求項51】 水、アルコール、THF、またはそれに類するものが、前記ブ
ロッキング流体として使用されることを特徴とする請求項47〜請求項50のい
ずれかに記載の方法。 - 【請求項52】 前記制御流体は、過剰な圧力の下に前記反応チャンバ内に導入
されることを特徴とする請求項44に記載の方法。 - 【請求項53】 前記制御流体は、前記反応チャンバ内における局所的な電気化
学的反応によって生成されることを特徴とする請求項42または請求項43に記
載の方法。 - 【請求項54】 前記制御流体は、負圧を適用することによって、前記反応チャ
ンバから排出されることを特徴とする請求項42〜請求項53のいずれかに記載
の方法。 - 【請求項55】 前記制御流体として、ガスが用いられることを特徴とする請求
項42〜請求項54のいずれかに記載の方法。 - 【請求項56】 前記制御流体として、稀ガス元素が用いられることを特徴とす
る請求項42〜請求項55のいずれかに記載の方法。 - 【請求項57】 前記制御流体として、アルゴンまたは窒素が用いられることを
特徴とする請求項42〜請求項56のいずれかに記載の方法。 - 【請求項58】 同一の装置内において、流体を輸送し、または合成および分析
、in‐situ合成、検出材料の合成、および/またはアナライト、およびそ
の都度、直後の分析を実行するために、あるいは、種々の検出材料のアレイをフ
ロースルー合成装置またはフロースルー分析装置として生産するために、請求項
1〜請求項41のいずれかに記載の装置を使用し、または請求項42〜請求項5
7のいずれかに記載の方法を使用する方法。 - 【請求項59】 DNA、RNA、オリゴヌクレオチドの合成、またはエピトー
プ分析、または抗体結合試験、または例えば、イムノアッセイのようなバイオア
ッセイのために使用することを特徴とする請求項58に記載の方法。
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