JP2003523048A - 強化コーティングを有するマイクロチャネルプレート - Google Patents
強化コーティングを有するマイクロチャネルプレートInfo
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/06—Electrode arrangements
- H01J43/18—Electrode arrangements using essentially more than one dynode
- H01J43/24—Dynodes having potential gradient along their surfaces
- H01J43/246—Microchannel plates [MCP]
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
チャネルプレートに関する。
進化したが、そのような装置の性能を強化することが常に目標である。
されるマイクロチャネルプレートを改良することである。標準的なマイクロチャ
ネルプレートにおいて、そのマイクロチャネルプレートの入力側及び出力側は電
子を加速するのを助けるべく電気的ポテンシャルが設定されるように適用された
コーティングを有する。しかし、このコーティングは二次電子の製造に対し、若
しくはイオンがマイクロチャネルプレートを離れ光電陰極にダメージを与えるの
を防止するための不動態化層として最適化されていない。
レートが与えられる。該マイクロチャネル信号プレートは以前開発されたマイク
ロチャネルプレートに対して利点をもたらす。
。該マイクロチャネルプレートは入力側及び出力側を有する。コーティングは二
次電子の製造を増加させかつイオンがマイクロチャネルプレート面を離れ光電陰
極にダメージを与えるのを防止するように、入力側に適用される。
中にイオンがマイクロチャネルプレートを離れ光電陰極に衝突するのを防止する
よう作用するということである。付加的に、コーティングは二次放出電子の生成
を増加させる。さらなる技術的な利点は以下の詳細な説明及び図面から明らかと
なる。
解できる。ここで図中、同じ部品は同符号で示される。
強装置10はイメージから光子を受取りそれを可視イメージに変換するよう動作す
る。イメージ増強装置10は、情景が通常の視力で見える状態及び情景が星明り若
しくは他の赤外線ソースによってのみ照らされているため通常の視力では全体と
して見ることができない状態を含むさまざまな光の状態において、視界を強化す
るよう設計されている。しかし、イメージ増強装置10は視界を強化するために使
用されるが、イメージ増強装置10はまた半導体を検査するための光子検出システ
ムを含む他の応用に使用されてもよいことがわかる。
メージ増強管16は入力側17a及び出力側17bを有する。イメージ増強装置10は光子
検出器及びイメージ生成器として作動することができる。電源18はイメージ増強
管16に接続されている。イメージ増強管16はイメージ増強管16によって生成され
たイメージを強化するためのディスプレイ20を含む。
型的な実施例において、電源18は連続DC電力をイメージ増強管16に与える。電源
18の使用はさらに図2との関連で説明される。
らはとりわけ電源16を制御するのに使用されるエレクトロニクスを含む。イメー
ジ増強装置の所望の応用によって、エレクトロニクス14は電源のゲート及び管利
得の調整のような機能を実行する。
ィスプレイとして与えられる。ディスプレイ20はイメージ増強管16によって生成
されたイメージをユーザーに提供する光学機器であり、イメージ増強管16によっ
て生成されたイメージを陰極線管(CRT)ディスプレイ若しくは他のディスプレ
イ装置に表示するためにカメラのような必要なエレクトロニクスを含んでもよい
。
側22a及び出力側22bを有する光電陰極22から成る。光電陰極22に結合されている
のは、MCP入力側24a及びMCP出力側24bを有するマイクロチャネルプレート(MCP)2
4である。また、マイクロチャネルプレート24に結合された燐スクリーン26も含
まれる。燐スクリーン26とマイクロチャネルプレート24との間には第2の電場25
が存在する。
光子を電子に変換し、それはオリジナルイメージを表すパターンで光電陰極22の
出力側から放出される。典型的に、光電陰極22は周知技術のように基板上に成長
された半導体材料から製造された円盤状構造である。ひとつの適当な構造は、ガ
ラス、光ファイバー若しくは類似の透明基板上に成長されたガリウムヒ素(GaAs)
から成る。他の構造はインジウム・ガリウム・ヒ素(InGaAs)、アルミニウム・ガ
リウム・ヒ素(AlGaAs)、非晶質ダイヤモンド、ビアルカリ材料、他のIII-V族合
金若しくはいくつかの半導体材料から成る多層構造体を含む。
電源18によって生成される。第1の電場23内で加速された後、電子はマイクロチ
ャネルプレート24の入力側24aに衝突する。典型的に、マイクロチャネルプレー
ト24は入射電子に関してわずかに軸外しされて方向付けされた多くの中空繊維か
ら形成された薄いガラスのウエハから成る。典型的にマイクロチャネルプレート
24はMCP入力側24a及びMCP出力側24bに配置された導電電極層33を有する。電源18
によって供給される差動電圧はMCP入力24a及びMCP出力24bを横切って印加される
。光電陰極22からの電子はそれらが二次電子を生成するところのマイクロチャネ
ルプレート24内に進入し、それが差動電圧によって加速される。加速された二次
電子はMCP出力24bにおいてマイクロチャネルプレート24を離れる。
属コーティング33を有するよう要求される。これによって、MCPを横切って電場
が印加されることができる。デポジットされた金属電極は二次電子の生成を補助
する。しかし、金属コーティングは必ずしも二次電子放出の生成用に最適化され
ない。
24がイメージ増強装置内で使用するために与えられる。しかし本発明において、
MCP24の入力面24aは金属コーティングより多くの二次電子を生成しかつ光電陰極
22にダメージを与えるイオンのガス抜きを防止するのを助けるその上に配置され
たコーティングを有する。
燐スクリーン26上に衝突し、そこでオリジナルイメージを写したパターンが形成
される。荷電結合装置を使用するようなイメージを表示する他の方法が使用され
てもよい。
イクロチャネルプレート24は、マイクロチャネルプレートチャネル30及びガラス
ボーダー32から成る。図3に示されるように、入射電子34はMCP24内の相互作用
によって二次放出電子36を生成する。
。マイクロチャネルプレート24を製造するのに使用されるクラッディングガラス
はニクロムのような従来のコーティング33を付加することによって二次電子放出
電子を生成するべく導電性に作られる。先に議論されたように、入力面(MCP入
力側24a)は第2コーティング38によって覆われる。このコーティングはAl2O3、
Si3N4、GaP若しくはSi2Oのような材料である。そのような材料は単結晶、多結晶
若しくは非晶質である。コーティング38はスパッタされた石英、ドープされたガ
ラス若しくは高い二次電子放出量を生成する他の材料から成る。例えば、Ti若し
くはTi合金、Au、Ag、W若しくはW合金、Al若しくはAl合金若しくは他の適当な金
属及び合金のような導体材料、または例えばSi及び合金、Ge及び合金、GaN若し
くはSiCのような高ドープ半導体材料もまた層38を形成するのに使用される。こ
の実施例はMCPの入力側で層33及び38が単一層38に置き換えられるという利点を
有する。コーティング38は上で議論されたいくつかの材料の薄い層若しくは量子
井戸を含む多層構造から成る。付加的に、コーティング38はマイクロチャネルプ
レート24の表面を不動態化するよう働く。これは、真空中で動作中にイオンがMC
P24から離れるのを防止することを意味し、したがって光電陰極22をイオンダメ
ージから保護する。コーティングの厚さは使用される材料のタイプ及びその結晶
構造に依存する。厚さは、MCPから光電陰極へ流れる電子の数の減少を最小化し
ながら、光電陰極からMCP内への電子の流れに対する障害を最小化するために最
適化される。ひとつの実施例において、ドープされたガラスの厚さ10nmのコーテ
ィングが適用される。発明は詳細な説明によって示されかつ説明されてきたが、
発明の思想及び態様から離れることなくさまざまな変更が可能であることは当業
者の知るところである。
。マイクロチャネルプレート24を製造するのに使用されるクラッディングガラス
はニクロムのような従来のコーティング33を付加することによって二次電子放出
電子を生成するべく導電性に作られる。先に議論されたように、入力面(MCP入
力側24a)は第2コーティング38によって覆われる。このコーティングはAl2O3、
Si3N4、GaP若しくはSi2Oのような材料である。そのような材料は単結晶、多結晶
若しくは非晶質である。コーティング38はスパッタされた石英、ドープされたガ
ラス若しくは高い二次電子放出量を生成する他の材料から成る。例えば、Ti若し
くはTi合金、Au、Ag、W若しくはW合金、Al若しくはAl合金若しくは他の適当な金
属及び合金のような導体材料、または例えばSi及び合金、Ge及び合金、GaN若し
くはSiCのような高ドープ半導体材料もまた層38を形成するのに使用される。こ
の実施例はMCPの入力側で層33及び38が単一層38に置き換えられるという利点を
有する。コーティング38は上で議論されたいくつかの材料の薄い層若しくは量子
井戸を含む多層構造から成る。付加的に、コーティング38はマイクロチャネルプ
レート24の表面を不動態化するよう働く。これは、真空中で動作中にイオンがMC
P24から離れるのを防止することを意味し、したがって光電陰極22をイオンダメ
ージから保護する。図3に示されるように、不動態化層と呼ばれるコーティング
38はチャネル30を覆うことなくチャネル30の中空内に伸長する。コーティングの
厚さは使用される材料のタイプ及びその結晶構造に依存する。厚さは、MCPから
光電陰極へ流れる電子の数の減少を最小化しながら、光電陰極からMCP内への電
子の流れに対する障害を最小化するために最適化される。ひとつの実施例におい
て、ドープされたガラスの厚さ10nmのコーティングが適用される。発明は詳細な
説明によって示されかつ説明されてきたが、発明の思想及び態様から離れること
なくさまざまな変更が可能であることは当業者の知るところである。
Claims (19)
- 【請求項1】入力側及び出力側を有するマイクロチャネルプレートから成り
、該入力側が二次電子を製造するよう作用する不動態化層によって被覆された改
良されたマイクロチャネルプレート。 - 【請求項2】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層はAl2O3の層から成る、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項3】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層は窒化シリコンの層から成る、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項4】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層はリン化ガリウムの層から成る、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項5】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層は窒化ガリウムの層から成る、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項6】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層は窒化アルミニウムの層から成る、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項7】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層はマイクロチャネルプレートの従来のコーティングより多くの二次電子を製
造する材料から成る、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項8】請求項1に記載のマイクロチャネルプレートであって、不動態
化層はイオンのガス抜きを防止する、ところのマイクロチャネルプレート。 - 【請求項9】入力側及び出力側を有するマイクロチャネルプレートから成り
、該入力側が二次電子を製造するよう作用する不動態化層によって被覆された光
子検出器。 - 【請求項10】請求項9に記載の光子検出器であって、不動態化層はAl2O3
の層から成る、ところの光子検出器。 - 【請求項11】請求項9に記載の光子検出器であって、不動態化層は窒化シ
リコンの層から成る、ところの光子検出器。 - 【請求項12】請求項9に記載の光子検出器であって、不動態化層はマイク
ロチャネルプレートの従来のコーティングより多くの二次電子を製造する材料か
ら成る、ところの光子検出器。 - 【請求項13】請求項9に記載の光子検出器であって、該光子検出器はさら
にマイクロチャネルプレートに結合された光電陰極から成り、該光電陰極は入射
光子をマイクロチャネルプレートに送られる電子に変換するよう作用する、 ところの光子検出器。 - 【請求項14】請求項9に記載の光子検出器であって、不動態化層はイオン
のガス抜きを防止する、ところの光子検出器。 - 【請求項15】強化されたマイクロチャネルプレートを製造するための方法
であって、 マイクロチャネルプレートを与える工程と、 二次電子放出を生成するよう作用する不動態化層でマイクロチャネルプレート
の入力側を被覆する工程と、 から成る方法。 - 【請求項16】請求項15に記載の方法であって、不動態化層はAl2O3の層
から成る、ところの方法。 - 【請求項17】請求項15に記載の方法であって、不動態化層は窒化シリコ
ンの層から成る、ところの方法。 - 【請求項18】請求項15に記載の方法であって、不動態化層はマイクロチ
ャネルプレートの従来のコーティングより多くの二次電子を製造する材料から成
る、ところの方法。 - 【請求項19】請求項15に記載の方法であって、不動態化層はイオンのガ
ス抜きを防止する、ところの方法。
Applications Claiming Priority (3)
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US09/494,879 US6396049B1 (en) | 2000-01-31 | 2000-01-31 | Microchannel plate having an enhanced coating |
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