JP2003502621A - 電気的または電子的ハードウェアユニットの１つのハードウェア可変素子を特徴づける方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 素子の可変値に依存して相異なる機能ブロック（１４．１、１４．２、１４．３）を有する電子工学的サブアセンブリの複数の可変素子（１．１、１．２、１．３）において、該可変素子（１．１、１．２、１．３）に装着される抵抗（６．１、６．２、６．３）の抵抗値を測定することにより現行の可変素子（１．１、１．２、１．３）が識別される。必要な測定および試験の装置は外部試験装置へ一体化され、該外部試験装置はプラグのコネクタ（４）により可変素子に取付けられることができる。したがって試験装置は、機能ブロックを機能試験し該試験された機能が該抵抗（６．１、６．２、６．３）の抵抗値の測定にもとづいて決定される可変素子に対応するかどうかを決定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 技術分野 本発明は、電気的または電子的ハードウェアユニットの少なくとも２種類のハ
ードウェア可変素子（Hardwarevariante）の一方を特徴づける方法に関する。さ
らに本発明は、電気的または電子的ハードウェアユニットのハードウェア可変素
子、そのようなハードウェア可変素子のセット、特徴づけられたハードウェア可
変素子を規定する方法、およびこの規定方法を実施する装置に関する。

【０００２】 従来の技術 グロバリゼーションの進展により、これまではたいてい地理的に制限された唯
一の市場のためにのみ開発されてきた多くの製品が、今日では世界中で販売され
ている。しかし、たとえばエネルギー供給網あるいはまた通信網に関して（たと
えば電源電圧、信号レベル、信号周波数などに関して）、多くの国では種々異な
る規格や規則が適用されている。この理由から、製品を世界中で唯一の仕様で製
造して販売することはしばしば不可能である。これに加えて、たとえばエレクト
ロニクスの分野では技術革新のサイクルが短く、数多くの製品が大なり小なり頻
繁に変更されている。その結果、唯一の電気的または電子的ハードウェアユニッ
ト（たとえば通信装置用の電子的アセンブリー、試験装置自体またはコンピュー
ターシステム全体）について、しばしば多数の種々異なる可能なハードウェア可
変素子が併存している。それゆえ、異なるハードウェア可変素子を互いに区別し
、該ハードウェア可変素子を識別できることが重要である。

【０００３】 電子的アセンブリーの種々異なる取付け可変素子を識別する可能性は、これら
を相応に表示することにある。この表示は直接アセンブリー自体の上で行われる
か、またはアセンブリーに所望の情報を記載したラベルまたはステッカーを張る
。しかしこれらの情報を電子的方法で把握し、さらに加工することはできないか
、または限られている。その上、この種類の情報提供は追加の工程を必要とする
が、その結果として製造はより複雑でコスト高になる。

【０００４】 差込みまたははんだ付けで固定した短絡回路（ブリッジ）またはスイッチをア
センブリーに取り付けて、情報をコード化（たとえば２値式）できるようにする
ことも知られている。しかしこのようなコード化のための手段はアセンブリー上
に多くのスペースを必要とし、コンパクト化が普通となっている今日では非常に
不利である。さらに、情報を当該アセンブリーの外部、たとえば試験装置や、当
該アセンブリーと一緒に他の装置または設備に埋設されたアセンブリーから呼び
出せるようにしようとすると、多くのプラグ位置を確保しなければならない。そ
の結果として製造がより複雑になるとともに、アセンブリーが大きくなり、コス
トも相応に増える。

【０００５】 さらに、必要な情報を、すでにハードウェアユニット上に存在するか、または
特にこのためにハードウェアユニット上もしくはハードウェアユニット内に組み
付けた、プログラム可能な記憶装置の特定のセルに書き込むことも知られている
。この場合も、あらかじめプログラムを組み込むことが必要なので追加工程が生
じ、それによって製作の手間もコストも増える。その上、貴重な記憶装置スペー
スが消費されて、ハードウェアユニットの機能を実行するために利用できなくな
る。

【０００６】 発明の説明 本発明の課題は、従来の公知技術に存在する問題を回避して、特に電気ハード
ウェアユニットまたは電子ハードウェアユニットの種々異なるハードウェア可変
素子を識別するための単純で廉価な可能性を提供することである。

【０００７】 上記の課題は請求項１の特徴部に記載した特徴によって解決される。本発明に
より、電気ハードウェアユニットまたは電子ハードウェアユニットのハードウェ
ア可変素子を特徴づけるために、特にこの目的のために設けた場所で、ハードウ
ェアユニットの上または中に電気的または電子的装置が取付けられる。この場合
、各々の異なる可変素子に、各々全く特定の測定可能な電気的性質を有する異な
る装置をそれぞれ１つ取付ける。特徴づけを行った後、取付けられた装置の電気
的性質の測定に基づき、あるハードウェア可変素子を別のハードウェア可変素子
から区別し、識別できる。

【０００８】 標準化された電子デバイスを使用することにより、取付け過程、すなわちハー
ドウェア可変素子の特徴を通常の製造プロセスに組み込むことができる。さらに
相応の装置は小さく好都合である。またそのようにしてアセンブリー上に設けた
情報は電気的性質を測定することによって簡単に把握でき、その後で任意に二次
加工できる。ハードウェア可変素子を識別するには、原理的にハードウェアユニ
ットの追加機能を実行するために用いられ、可変素子に応じて異なる値を有する
装置も使用できるが、可変素子の識別の目的のためにのみ取付けられる装置を使
用する方が好ましい。

【０００９】 装置の電気的性質は、たいてい簡単に特性曲線の形で表すことができる。この
場合、特性曲線は他の電気的な値の関数としての電気的な値か、または時間の関
数としての電気的な値によって表される。抵抗において、特性曲線は、たとえば
抵抗に印加された電圧の関数として抵抗を通って流れる電流であり、したがって
電流電圧グラフの原点を通る直線である。これに対してダイオードの電流電圧特
性曲線は、放電開始電圧において折れ目により接続されている、多かれ少なかれ
直線的な２つの領域を有している。キャパシタ（たとえばＲＣ素子＝キャパシタ
と抵抗の直列回路）では異なる。この場合には、特性曲線は、たとえばキャパシ
タにおける電圧として、ＲＣ素子に印加された一定の電圧における時間の関数で
表される。

【００１０】 本発明によりハードウェア可変素子を表示するために使用される各々の構成要
素は、特定の装置グループに割り当てられる。この場合、装置グループは、特性
曲線がいずれも定性的にはほぼ等しいが、少なくとも１つの特徴的な値において
異なる装置のグループとして定義される。たとえば装置グループ「抵抗」装置の
電流電圧特性曲線はすべて直線であるが、抵抗の抵抗値に応じてそれらの勾配に
より互いに区別される。装置グループ「ダイオード」の場合は、折れ目、すなわ
ち放電開始電圧がどこにあるか、および２つの直線部分がどのような勾配を有す
るかによって区別される。

【００１１】 測定により特性曲線の特徴的な値（たとえば抵抗の抵抗値またはダイオードの
放電開始電圧）を決めることによって、ハードウェアユニットの該ハードウェア
可変素子は他のハードウェア可変素子から区別され、また特性曲線性質の値と可
能なハードウェア可変素子との対応割当てをあらかじめ実行して知られているの
で識別することもできる。

【００１２】 或るハードウェアユニットの種々異なるハードウェア可変素子に異なる装置グ
ループの装置を実装することが考えられよう。たとえば抵抗とダイオードを一緒
に使用できよう。ダイオードも、電極における電圧に応じて特定の抵抗を有して
おり、それに基づいてアセンブリーを識別できるからである。しかし、種々異な
るハードウェア可変素子に同一の装置グループの種々異なる装置を実装すること
が好ましい。こうすると唯一の装置グループの装置のみを在庫すればよく、製造
だけでなく、特性曲線の特徴的な値の測定も簡単になる。なぜならば、特性曲線
の定性的な形はすでにあらかじめ知られているからである。

【００１３】 本発明の好適な実施形態は、シンプルかつ廉価で、多くの種々異なる値が得ら
れる唯一の装置を使用することである。たとえば使用された特性曲線性質の値が
、あらかじめ定義した規格値であるような装置。抵抗、キャパシタンスまたはイ
ンダクタンスにおいてだけでなく、他の多くの装置グループにおいても、そのよ
うな規格列が存在する。それゆえ相応の装置は、単純かつ廉価なあらゆる可変素
子で得ることができる。もちろん唯一の装置の代わりに、等しい装置グループま
たは異なる装置グループの、まとめて接続された複数の装置を使用することもで
きる。特定の値の抵抗は、周知のように他の値の複数の抵抗の直列回路または並
列回路で問題なく置き換えることができ、しかも全抵抗値が等しいままであるよ
うに値を選択できる。

【００１４】 ディジタルの構成要素も本発明による可変素子識別に適しているが、個々の装
置、たとえば抵抗、キャパシタ、コイル、ダイオードおよび類似の装置を使用す
ると有利である。

【００１５】 ときどき電気的または電子的ハードウェアユニットに対する複数の区別基準も
存在する。たとえば種々の国、種々の製造業者、種々の世代または種々の更新状
態である。したがって複数の装置を設け、各々の装置がこれらの基準のいずれか
１つに関してハードウェア可変素子を識別するように使用することもできる。こ
の場合、使用された装置がすべて同じ装置グループのものか否かは重要ではない
。

【００１６】 本発明の好ましい実施形態は、電子的装置として抵抗を使用することである。
周知のように抵抗の電流電圧特性曲線は、原点を通る直線である。特性曲線の特
徴的な値はこの直線の勾配、すなわち抵抗値であり、これは単に特性曲線の別の
点を決めることによって簡単に測定できる。その上、抵抗は多くの可変素子で存
在し、およそ最も安い装置に属している。

【００１７】 上述したように複数の区別基準の各々に固有の装置を使用する代わりに、種々
異なる複数の特性曲線性質を有する唯一の装置を使用することもできる。たとえ
ばダイオードは、（おおまかにいって）２つの部分からなる電流電圧特性曲線、
すなわち遮断領域と通過領域を有している。特性曲線性質として、一方では１つ
の領域、さらには両方の領域における特性曲線の勾配を、他方では２つの領域の
間の移行点を選択できる。それによりダイオードを巧みに選択することによって
、２種類以上の区別特徴に関してアセンブリーを識別できる。

【００１８】 本発明による種々異なる可変素子の表示は、ハードウェアユニットについて互
いに区別可能でなければならない複数のハードウェア可変素子が併存する場合に
、考えられるすべての電気的または電子的ハードウェアユニットに応用できる。
ハードウェアユニットの例は、個々のモジュールや、装置全体、さらには比較的
大きいシステムであってよい。しかし本発明の応用は、複数の異なる取付け可変
素子が存在する電子的アセンブリーで行われることが好ましい。

【００１９】 本発明による電気的または電子的ハードウェアユニットのハードウェア可変素
子は、特性曲線が特徴的な値を有している電気的または電子的装置を取付けられ
ている。この値を測定することによってハードウェアユニットのハードウェア可
変素子を規定できる。

【００２０】 電気的または電子的ハードウェアユニットについてしばしば種々異なるハード
ウェア可変素子の完全なセットが存在し、「取付けられた装置の特性曲線の特徴
的な値」と特定の「ハードウェア可変素子」との対応関係が知られている。種々
異なるハードウェア可変素子は、少なくともこの装置の特性曲線の特徴的な値に
おいて区別される。通常ハードウェア可変素子はさらに他の装置または構成部品
、さらにはまたアセンブリーの可変素子特有の機能を実行するための機能ブロッ
クの値において異なっている。しかしこれは必ずしも必要ではない。

【００２１】 特徴づけのために、２つの電気接続部を有する装置を使用する。これには対称
的な装置（すなわち装置は極性を有しない）も非対称的な装置（すなわち装置は
極性を有する）も適している。ハードウェアユニットの取付けは、装置の接続部
と、電気的または電子的ハードウェアユニット上の相応の接点との間に導電接続
（たとえばはんだ付けまたは挿入結合）を形成することによって行われる。これ
ら２つの接点はそれ自体試験点であるか、またはこのような試験点と導電接続し
ている。別の可能性は、２つの接点をプラグ接点と導電接続し、外部からも装置
にアクセスできるようにすることである。しかしたいていは、２つの接点の１つ
は、アセンブリーの接地点と導電接続されているが、これは同時にアセンブリー
の試験点であってもよい。通常、アセンブリーの接地点は１つ以上のプラグ接点
と導電接続されている。

【００２２】 特性曲線性質の値の測定は、装置の２つの接続部の間か、それぞれこれらの接
続部と導電接続している試験点またはプラグ接点の間か、または試験点またはプ
ラグ接点であってもよい、ハードウェアユニットの任意の接地点と、デバイスの
他の接続部と接続している試験点またはプラグ接点との間で行われる。測定が具
体的にどのように行われるかは、取付けられる装置に依存している。抵抗の場合
は、たとえば周知の値の標準電圧を印加し、流れる電流を測定する。放電開始電
圧またはダイオードの特性曲線の勾配の測定は面倒ではあるが、よく知られ、慣
用的である。同様にキャパシタの静電容量またはコイルのインダクタンス、なら
びに他のほとんどの電気的または電子的装置のための測定法も存在する。

【００２３】 キャパシタやコイルなど、幾つかの装置では、特定の特性曲線性質を直接測定
することは、たとえ不可能でないとしても、しばしば困難である。しかし２つ以
上の装置の並列回路および／または直列回路により特性曲線のポイントを規定す
ることは、たいていの場合に問題なく可能である。たとえばＲＣ素子（キャパシ
タと抵抗の直列回路）において時定数は比較的簡単に規定でき、またそれにより
抵抗の抵抗値が知られているときはキャパシタの静電容量も計算できる。装置が
相応の装置との直列回路または並列回路内に設けられている場合には、直接ハー
ドウェアユニット上にあるか、測定装置内にあるか、またはそれらの間で独立の
回路として存在しているかは、副次的である。重要なのはこれらの装置が互いに
導電接続していて、所望の値を測定できることである。

【００２４】 ハードウェアユニットのハードウェア可変素子を識別するための装置は、ハー
ドウェアユニットと、このハードウェアユニットの上または中に実装された電気
的または電子的装置とからなる。ハードウェアユニットに装置を取付ける作業は
、ハードウェアユニット自体の製造中に行われるか、または明確なハードウェア
可変素子が後に決められる場合には、別の時点で行われる。さらに測定装置が設
けられていて、取付けられる装置の特性曲線の特徴的な値を測定できるように構
成されている。このために測定装置の電極は、装置の接続部と導電接続している
。

【００２５】 測定装置は直接ハードウェアユニット上にあるか、または独立の装置を形成し
ているか、もしくは独立の装置内に組み入れられている。ハードウェアユニット
自体の上または中に組み入れられている場合は、電気接続はたいてい直接ハード
ウェアユニット内に設けられていて、製造プロセス中に同時に作成される。しか
し外部装置の場合は、ハードウェアユニットまたは装置との電気接続が、さしあ
たりケーブルなどを用いて形成できなければならない。好適な可能性は、測定装
置を内蔵した別の装置にハードウェアユニットを直接差し込み、差し込むとすぐ
にプラグ接点を介して必要な電気接続を形成するというものである。

【００２６】 取付けられる電気的または電子的装置は、好ましくは専ら電気的または電子的
ハードウェアユニットのハードウェア可変素子を規定する目的で用いられ、その
他の目的は有していない。

【００２７】 ハードウェアユニット、たとえば電子的アセンブリーの取付け可変素子を識別
した後で何が行われるかは、まったく任意である。たとえば測定された値を二次
加工のためにアセンブリー上の装置または外部装置に送るか、あるいは直接プロ
グラムの制御に利用できる。

【００２８】 これについて幾つか例を挙げる。アセンブリー上に取付けられた測定装置で、
構成要件の値を測定する。アセンブリーの識別、ここではたとえば国による可変
素子に関する情報は、アセンブリー上のマイクロプロセッサーに送られ、このマ
イクロプロセッサーが求めたバージョンに基づいて特定の値を、同様にアセンブ
リー上に存在する記憶装置の特定のセルに格納する。記憶セルはまた制御プログ
ラムの作動に影響して、たとえばアセンブリー上のディスプレイに示されるテキ
ストが、相応の国による可変素子に対応する国の言語で現れるようにする。ある
いは、制御プログラムが国による可変素子に応じて、国により種々異なるパルス
長を有する選択パルスの形成に影響する。

【００２９】 しかしアセンブリーは外部装置に埋設することもできる。測定装置と表示装置
をアセンブリー自体の上に設ける代わりに、これらのコンポーネントをアセンブ
リー内に組み入れ、差込み継手を介してアセンブリー上の相応の回路部分と導電
接続することもできる。該国による可変素子に関する情報の二次加工は、上述し
た例と同様に行われる。

【００３０】 別の例では、識別すべきアセンブリーはケーブルを介して試験装置に接続され
る。このアセンブリータイプについて、たとえば２つの世代が存在し、これらは
音声生成器が第１の周波数か第２の周波数の音声を生成するかだけで区別される
。装置の接続部は、使用したプラグのそれぞれ１つのピンと接続している。まず
、試験装置はケーブルとプラグを介して最初に装置の値を測定し、アセンブリー
を、たとえば第２の周波数の音声を生成する第２世代のアセンブリーとして識別
する。次に試験装置でアセンブリーをテストすると、音声生成器が実際に第２の
周波数の音声を生成し、したがって誤りなく作動していることを確認できる。

【００３１】 本発明のその他の有利な実施形態および特徴の組み合わせが、以下の詳細な説
明および請求項全体に記載されている。

【００３２】 発明実施の手段 以下に、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。 図１は、電子的アセンブリー（１）の実装可変素子を示す。実装可変素子（１
）は多数の接点（２.１〜２.２０）を有している。これらの接点（２.１〜２.２
０）は必要なコンポーネントを実装するために利用でき、部分的に導体路（３.
１〜３.１０）により互いに導電接続されている。実装可変素子（１）上にはプ
ラグストリップ（４）が組み付けられており、そのプラグ接点（４.１〜４.６）
は複数の接点（２.１〜２.６）を介して実装可変素子（１）と接続されている。
実装可変素子（１）上には別の２つの接点（２.７，２.９）を介して測定装置（
５）が、さらに別の２つの接点（２.１３，２.１４）を介して抵抗（６）が実装
されている。実装可変素子（１）の特有の機能を実行するために該実装可変素子
（１）上に存在しているコンポーネントは記入されていない。これらコンポーネ
ントは、たとえば給電装置、信号生成器、記憶装置およびその他の電気コンポー
ネントもしくは電子的コンポーネントを含むことができよう。外部装置と信号を
交換するために、プラグストリップ（４）の別のプラグ接点（４.１〜４.３）を
使用することができよう。

【００３３】 説明のために、アセンブリーは電話センターの音声生成器として働くと仮定す
る。このアセンブリーは世界中の電話センターで使用される。しかし多くの国は
、個々の音声の周波数に関して異なる規則を持っている。各々の国に対して固有
の音声生成器を製造するために、このアセンブリーについて各々の国に固有の実
装可変素子（１）を作成する。この場合、実装可変素子は、次のいずれかの形式
で設計できる。すなわち、（世界中で）必要な音声を生成でき、抵抗（６）が設
けられていて、これを用いて種々異なる国別可変素子が識別されて互いに区別さ
れ、音声生成器の国別可変素子に対応する部分が作動される。または、実装可変
素子上に音声生成器が実現されていて、この音声生成器が唯一の国別可変素子に
対応する音声のみを生成でき、したがって特定の回路部分が可変素子毎に異なる
ように実現されている。この場合も、抵抗（６）は該国別可変素子を規定する働
きをする。実装可変素子（１）に抵抗（６）を実装する作業は、通常の製造プロ
セスに組み入れることが好ましい。測定装置（５）の実装についても同様である
。

【００３４】 実装可変素子（１）を規定するために、測定装置（５）は接点（２.７、２.９
）と導体路（３.４、３.６、３.１、３.３、３.７、３.８）を介して抵抗（６）
の接点（２.１３、２.１４）に周知の値の電圧を印加し、次いで抵抗（２.７、
２.９）の間で抵抗（６）を通って流れる電流を測定する。このときこの電流に
基づいて、アセンブリーの該国別可変素子を識別できる。

【００３５】 この情報の二次加工については、本発明により規定されていない。この例では
、測定された電流の値を、たとえば実装可変素子（１）上の記憶装置の特定の記
憶セルに書き込むことができよう。音声生成の前にその都度記憶セルの照会が行
われ、相応の国別可変素子に対して指定された周波数で音声を形成できる。

【００３６】 図２には、図１と同じ電子的アセンブリーの実装可変素子（１）が示されてい
る。やはり抵抗（６）とプラグストリップ（４）が組み付けられている。しかし
実装可変素子（１）に組み込まれた測定装置（５）の代わりに外部測定装置（７
）が設けられていて、電気接続線（８.１、８.２）とプラグ（９）を介してプラ
グストリップ（４）の相応のプラグ接点（４.４、４.６）と接続されている。

【００３７】 実装可変素子（１）の規定は、図１と同じ原理で行われる。この場合は測定が
外部測定装置（７）によって行われる点だけが異なり、この外部測定装置（７）
電気接続線（８.１、８.２）、プラグストリップのプラグ接点（４.４、４.６）
および導体路（３.１、３.３、３.７、３.８）を介して抵抗（６）と導電接続さ
れている。

【００３８】 アセンブリー（１）の識別に関する情報の二次加工がどのように行われるかは
任意である。この情報は測定装置からアセンブリー（１）にフィードバックされ
、アセンブリーの上または外の記憶装置に格納され、アセンブリーの上または外
のマイクロプロセッサーに送られるか、別途加工され得る。

【００３９】 図３は、再度図１および図２と同じ実装可変素子（１）を示している。接点（
２.１３、２.１４）の間の第１の抵抗（４）の横には、接点（２.１５、２.１６
）の間の別の抵抗（１０）が設けられており、また２極測定装置（７）の代わり
に３極測定装置（１１）が設けられている。測定装置（１１）は電気接続線（１
２.１、１２.２、１２.３）とプラグ（１３）を介してプラグストリップ（４）
のプラグ接点（４.４、４.５、４.６）と接続される。

【００４０】 抵抗（６）は図２について説明したのと同じ機能を有している。抵抗（６）は
アセンブリーの国別可変素子を識別する働きをする。ある電子アセンブリーの特
定のバージョンについて、しばしば種々異なる更新状態（たとえばエラーの修正
）が併存しているので、抵抗（１０）はこの更新状態を規定する働きをする。そ
れゆえ測定装置（１１）で抵抗（６）の測定に加えて、抵抗（１０）の測定値も
規定しなければならない。このために測定装置は別の入力端を有している。これ
により測定装置（１１）は電気接続線（１２.１、１２.２、１２.３）、プラグ
（１３）、プラグストリップ（４）のプラグ接点（４.４、４.５、４.６）およ
び導体路（３.１、３.２、３.３、３.７、３.８、３.９、３.１０）を介して２
つの抵抗と接続される。抵抗（６、１０）の測定は、国別可変素子および更新状
態に関する情報の二次加工と同様、上述のように行われる。

【００４１】 多くの場合、固定した値を有する抵抗（４、１０）の代わりに、抵抗値を人手
で、または自動的に調節できる抵抗（４、１０）を使用すると合理的である（摺
動抵抗、電位差計）。たとえばアセンブリーを修理する場合、更新状態の変更に
伴い抵抗（４、１０）を交換する必要はなく、単に人手または自動で、新しい値
に調節すればよい。

【００４２】 図４には、電子的アセンブリーの複数の種々異なる実装可変素子（１.１、１.
２、１.３）が示されている。各々の実装可変素子（１.１、１.２、１.３）は抵
抗（６.１、６.２、６.３）、プラグストリップ（４）および機能ブロック（１
４.１、１４.２、１４.３）を実装されている。このほかの回路部分、すなわち
すべての実装可変素子（１.１、１.２、１.３）で同一の回路部分も、種々異な
る回路部分も存在するが、示されていない。接点、試験点、導体路なども、見や
すさのため示されていない。抵抗（６.１、６.２、６.３）はすべての異なる抵
抗値を有しているので、互いに区別できる。各々の実装可変素子（１.１、１.２
、１.３）の機能ブロック（１４.１、１４.２、１４.３）は、たとえば音声生成
器であり、その出力端に実装可変素子（１.１、１.２、１.３）に対応する特定
の周波数と振幅の音声信号を供給する。周波数と振幅の組み合わせは、３つすべ
ての実装可変素子（１.１、１.２、１.３）で異なっている。

【００４３】 抵抗（６.１、６.２、６.３）と機能ブロック（１４.１、１４.２、１４.３）
の周波数と振幅の組み合わせもしくは実装可変素子（１.１、１.２、１.３）と
の間には、次の対応関係が成り立つ。第１の抵抗（６.１）は、機能ブロック（
１４.１）が第１の周波数と振幅を組み合わせた音声を形成する第１の実装可変
素子（１.１）に付属している。第２の抵抗（６.２）は、機能ブロック（１４.
２）が第２の周波数と振幅を組み合わせた音声を形成する第２の実装可変素子（
１.２）に付属している。そして第３の抵抗（６.３）は、機能ブロック（１４.
３）が第３の周波数と振幅を組み合わせた音声を形成する第３の実装可変素子（
１.３）に付属している。

【００４４】 実装可変素子（１.１、１.２、１.３）を製造した後、たいてい機能試験が行
われる。このために、たとえば実装可変素子（１.１、１.２、１.３）のプラグ
ストリップ（４）に外部試験装置を接続する。試験装置（図２または図３で説明
したような）で抵抗（６.１、６.２、６.３）の抵抗値を測定することによって
、たとえばその実装可変素子（１.１、１.２、１.３）であるか、また機能ブロ
ック（１４.１、１４.２、１４.３）が正しい周波数と振幅を組み合わせた音声
を形成するかを確認し、試験結果を相応に表示し、記憶し、あるいはまた二次加
工できる。

【００４５】 図５には抵抗の電流電圧特性曲線が示されている。この特性曲線は周知のよう
に原点を通る直線で、抵抗の抵抗値に依存した勾配を有している。１つの抵抗で
特性曲線を規定するのは非常に簡単である。特性曲線の唯一の点を決めればよく
、これは周知の第２の点（原点）と一緒に特性曲線を完全に定義する。

【００４６】 抵抗を測定するために、周知の値の電圧を抵抗の両方の端子に印加することが
好都合である。抵抗を通って流れる電流を測定することにより、直線の第２の点
と、したがってまた直線の勾配（抵抗の抵抗値）は知られている。

【００４７】 以上総括すれば、抵抗値が該実装可変素子に対応する抵抗を装置に取り付ける
と、抵抗値の測定によりアセンブリの実装可変素子を識別する、単純で廉価な可
能性が提供される。

【図面の簡単な説明】

【図１】 図１は、電気的または電子的装置、測定装置およびプラグを取付けた電子的ア
センブリーの取付け可変素子を示す図である。

【図２】 図２は、電気的または電子的装置、プラグおよび外部測定装置を取付けた電子
的アセンブリーの取付け可変素子を示す図である。

【図３】 図３は、２つの電気的または電子的装置、プラグおよび外部測定装置を取付け
た電子的アセンブリーの取付け可変素子を示す図である。

【図４】 図４は、電子的アセンブリーの取付け可変素子のセットを示す図である。

【図５】 図５は、抵抗の電流電圧特性曲線グラフである。

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電気的または電子的ハードウェアユニットの少なくとも２種
   類のハードウェア可変素子の一方を特徴づける方法であって、特徴づけられるべ
   きハードウェアユニットにこの目的のために設けた場所で、該ハードウェアユニ
   ットに対応する少なくとも１つの電気的または電子的装置を配置し、異なるハー
   ドウェア可変素子にはそれぞれ１つの異なる装置を配置することにより、該装置
   の電気的性質の測定に基づいてハードウェア可変素子を識別し、他の異なるハー
   ドウェア可変素子から区別することができるようにされた方法。
2. 【請求項２】 該装置の電気的性質が該装置の特性曲線の特徴的な値であり
   、該特性曲線が他の電気的または時間的な値の関数としての電気的な値である、
   請求項１記載の方法。
3. 【請求項３】 各々のハードウェア可変素子に特定の装置グループの１つの
   装置を配置し、この装置グループのすべての装置の特性曲線は定性的に等しいが
   、少なくとも１つの特徴的な値において相異なる、請求項１または２記載の方法
   。
4. 【請求項４】 ハードウェア可変素子に複数の電気的または電子的装置を配
   置し、それぞれ１つの装置がそれぞれ１つの区別基準に関して種々異なるハード
   ウェア可変素子を特徴づける働きをする、請求項１ないし３のいずれか１項記載
   の方法。
5. 【請求項５】 該電気的または電子的装置として抵抗を使用し、抵抗の特徴
   的な特性曲線が電流電圧グラフにおいて直線であり、特徴的な値がこの直線の勾
   配である、請求項１ないし４のいずれか１項記載の方法。
6. 【請求項６】 複数の区別基準に関して表示するためにハードウェア可変素
   子に１つの電気的および電子的装置を配置し、この装置の特性曲線が特徴的な値
   を有し、それぞれ１つの特徴的な値がそれぞれ１つの区別基準に関し種々異なる
   ハードウェア可変素子を特徴づける働きをする、請求項２または３記載の方法。
7. 【請求項７】 ハードウェアユニットが電子的アセンブリーであり、種々異
   なるハードウェア可変素子が電子的アセンブリーの相異なる取付け可変素子であ
   る、請求項１ないし６のいずれか１項記載の方法。
8. 【請求項８】 該ハードウェア可変素子が電気的または電子的装置を配置し
   、該装置の特性曲線の特徴的な値がハードウェア可変素子を規定する働きをする
   ことを特徴とする、電気的または電子的ハードウェアユニットのハードウェア可
   変素子。
9. 【請求項９】 ハードウェア可変素子が電気的または電子的装置の少なくと
   も１つの電気的性質において異なる、請求項８記載の電気的または電子的ハード
   ウェアユニットのハードウェア可変素子のセット。
10. 【請求項１０】 ハードウェアユニットの接地点か、任意の接点か、試験点
    か、またはプラグ接点と接続している、装置の第１の接続部と、ハードウェアユ
    ニットの任意の接点か、試験点か、またはプラグ接点と接続している、装置の第
    ２の接続部との間で、装置の電気的性質の測定を行う請求項１記載の方法で特徴
    づけられる電気的または電子的ハードウェアユニットのハードウェア可変素子を
    規定する方法。
11. 【請求項１１】 電気的または電子的ハードウェアユニットのハードウェア
    可変素子上に電気的または電子的装置および測定装置が設けられ、該測定装置が
    該電気的または電子的装置と電気的に接続され、該測定装置が該電気的または電
    子的装置の電気的性質を測定できるように構成されている請求項１０記載の方法
    を実施する装置。
12. 【請求項１２】 前記測定装置が、ハードウェア可変素子と電気的に接続さ
    れた外部装置に組み込まれている、請求項１１記載の装置。
13. 【請求項１３】 前記電気的または電子的装置が電気的または電子的ハード
    ウェアユニットを専ら規定する働きをする、請求項１１または１２記載の装置。