JP2003344754A - 測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】高価で特殊なセンサを用いることなく、ライン
センサと受光レンズの組み立て誤差が生じても正しい無
限判定を行うことができる測距装置を提供すること。 【解決手段】一対の被写体像を上に結像させる受光レン
ズ101a，101bと、この一対の被写体像を光強度に応じて
電気信号に変換する一対のラインセンサ102a，102bと、
一対のラインセンサの動作制御を行う制御手段103と、
一対のラインセンサから出力される被写体像データをＡ
／Ｄ変換して読み出す読み出し手段104と、読み出され
た被写体像データに基づいて被写体距離に応じたデータ
を演算する演算手段105とを有した測距装置において、
測距領域内の被写体像データのパターンが単調に増加ま
たは単調に減少している場合、無限判定値を通常よりも
近距離側にシフトした値に設定するものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラなどに搭載
される測距装置に係り、特にラインセンサを用いたパッ
シブ方式の測距装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、コンパクトカメラなどに採用され
ている外光パッシブ方式の測距装置は、被写体光束を一
対の受光レンズによってそれぞれ一対のラインセンサに
結像し、一対のラインセンサのそれぞれの画素出力に基
づいて、一対のラインセンサ上に形成された被写体像の
間隔を検出し、基線長（即ち一対の受光レンズの間隔）
に基づいて三角測量の原理によって被写体までの距離を
求めている。

【０００３】そして、上記測距装置は、その距離に基づ
いてカメラの撮影レンズのフォーカスレンズ群を移動さ
せている。ラインセンサとしては、ＣＭＯＳ型ラインセ
ンサやＣＣＤラインセンサなどの受光素子列が使用され
ている。

【０００４】外光パッシブ方式の測距装置の受光部は、
図１４に示すように一対の受光レンズＬ1，Ｌ2と一対の
ラインセンサＳ1，Ｓ2とから構成され、一対の受光レン
ズＬ1，Ｌ2の光軸を結んだ線ＢLと、一対のラインセン
サＳ1，Ｓ2の中心を結んだ線Ｂsが組立後に平行になっ
ていることが理想的である。しかしながら、実際には組
み立て誤差や部品のばらつき等により、図１４に示すよ
うにレンズ光軸を結んだ線ＢLとセンサ中心を結んだ線
Ｂsは平行ではなく角度θを持ってしまう。

【０００５】図１５は被写体パターンによるラインセン
サ上での結像位置を示す図である。図１５において、
(a)は右肩上がり斜めパターン被写体、(b)は垂直パター
ン被写体、(c)は左肩上がり斜めパターン被写体、(d)は
右肩上がり斜めパターン被写体のラインセンサＳ１、Ｓ
２上での結像位置、(e)は垂直パターン被写体のライン
センサＳ１、Ｓ２上での結像位置、(f)は左肩上がり斜
めパターン被写体のラインセンサＳ１、Ｓ２上での結像
位置、をそれぞれ示している。ただし、図１５(d)〜(f)
は、図１４のように一対のラインセンサＳ1，Ｓ2の中心
を結んだ線Ｂsに対して一対の受光レンズＬ1，Ｌ2の光
軸を結んだ線ＢLが平行とならず回転誤差θを持ってい
る場合である。また、Ｄ1は(d)における右肩上がり斜め
パターン被写体測距時の像Ｐ1，Ｐ2間隔、Ｄ2は垂直パ
ターン被写体測距時の像Ｐ1，Ｐ2間隔、Ｄ3は左肩上が
り斜めパターン被写体測距時の像Ｐ1，Ｐ2間隔を示して
いる。

【０００６】図１４のように上記の線ＢLと線Ｂsが角度
θを持って組み立てられた測距装置の場合、同じ距離に
存在する被写体であっても被写体のパターンＰの角度
〔図１５(a)〜(c)参照〕により、一対のラインセンサＳ
1，Ｓ2上に結像される像Ｐ1，Ｐ2の間隔Ｄが、図１５
(d)〜(f)に示すＤ1〜Ｄ3（Ｄ1＞Ｄ2＞Ｄ3）のように変
化してしまい、測距誤差となる。

【０００７】例えば、後述の図２(a)に示すような風景
撮影を行う場合、山の稜線が右上がり斜めのパターンで
あるので、図１５(d)のＤ1に示すように像Ｐ1，Ｐ2の間
隔が広くなり、測距データが近距離側にシフトして無限
が出なくなる可能性があった。

【０００８】このような問題を解決する為に、特開２０
００−２０６４０３号公報に開示されているような、図
１６に示すように一対のラインセンサＳ1，Ｓ2の一方の
ラインセンサＳ2側に基線長方向と垂直な方向にｈだけ
ずらした位置にラインセンサＳ3を配置し、ラインセン
サＳ2、ラインセンサＳ3上に結像された被写体のパター
ンＰ2位置の差Ｘより被写体のパターンＰの角度ψを求
め、この角度ψと上記の線ＢLと線Ｂsのなす角度θ（図
１４参照）とにより、像Ｐ1，Ｐ2の間隔Ｄを補正する技
術が知られている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開２
０００−２０６４０３号公報に開示されているような方
法の場合、通常のパッシブ方式の測距に用いる一対のラ
インセンサＳ1，Ｓ2の他にラインセンサＳ3を必要とす
るので、測距センサつまりＡＦセンサのチップ面積が増
大し、コストアップを招いてしまう。また、被写体のパ
ターンが単純な直線状のパターンである場合は、前記の
補正は有効であるが、複数のパターンが混在していた
り、基線長方向と垂直な方向に配置された二つのライン
センサＳ2，Ｓ3の一方にしか被写体パターンが結像しな
い場合は、正しい補正を行うことができず、最悪の場合
には補正を行う前よりも測距誤差が大きくなり、正しい
無限判定ができなくなる虞れがある。

【００１０】本発明は、上記の事情に鑑み、高価で特殊
なセンサを用いることなく、ラインセンサと受光レンズ
の組み立て誤差が生じても正しい無限判定を行うことが
できる測距装置を提供することを目的とするものであ
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発による明測距装置
は、一対の被写体像を一対のラインセンサ上に結像させ
る受光レンズと、この受光レンズにより結像させられた
一対の被写体像を光強度に応じて電気信号に変換する一
対のラインセンサと、この一対のラインセンサの動作制
御を行う制御手段と、前記一対のラインセンサから出力
される被写体像データを読み出す読み出し手段と、この
読み出し手段により読み出された被写体像データに基づ
いて被写体距離に対応したデータを演算する演算手段と
を具備した測距装置において、測距領域内の被写体像デ
ータが単調に増加または減少しているパターンである場
合、無限判定値を通常よりも近距離側にシフトすること
を特徴とするものである。

【００１２】このような構成によれば、山の稜線のよう
な斜めのパターンの被写体を測距する場合に、ラインセ
ンサと受光レンズで構成される測距光学系に回転誤差θ
があると、回転誤差θにより測距データが近距離側にシ
フトしカメラが無限判定の基準値（以下、無限判定値）
との比較により無限と判断できずに前側ピントの写真
（即ちピンボケ写真）になってしまうのを防ぐためもの
で、山の稜線などは単調にデータが増加または減少する
像パターンとなることから無限判定を行う前に像パター
ンが単調増加または減少像パターンであるかどうかを判
定し、このような単調増加または減少像パターンである
場合は無限判定値を近距離側にシフトして無限判定を行
うことにより、測距データが近距離側にシフトしていて
も風景撮影時にピンボケ写真が撮影されるのを防ぐこと
ができる。

【００１３】上記測距領域は、被写体像データを分割し
た複数の測距領域の中で、最も近距離のデータが算出さ
れた測距領域であることが好ましい。

【００１４】また、上記の測距領域内の被写体像データ
が単調に増加または減少しているかどうかの判定は、測
距領域を複数のブロックに分割して、複数のブロック毎
の被写体像データの平均値を求め、隣接するブロックの
被写体像データの平均値の差をとった時の符号が、全て
の隣接ブロックで同一であるかどうかにより行うことが
好ましい。

【００１５】或いは、上記の測距領域内の被写体像デー
タが単調に増加または減少しているかどうかの判定は、
測距領域内の所定センサ間隔だけ離れた被写体像データ
の差を１センサ分ずつずらしながらとった時の符号が、
全て同じであるかどうかにより行うことが好ましい。

【００１６】

【発明の実施の形態】発明の実施の形態について図面を
参照して説明する。 〔第１の実施の形態〕図１は本発明の第１の実施の形態
の測距装置の構成を示すブロック図である。

【００１７】図１において、測距装置100は、被写体像
をラインセンサ102a，102b上に結像させる為の一対の受
光レンズ101a，101bと、受光レンズ101a，101bにより結
像された被写体像をその光強度に応じて光電変換し、電
気信号に変換する一対のラインセンサ102a，102bと、ラ
インセンサ102a，102bの積分動作の制御を行う制御手段
としての積分制御回路103と、ラインセンサ102a，102b
のそれぞれより出力される、２つの被写体像を光電変換
したアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換して被写体像データ
として読み出す読み出し手段としてのＡ／Ｄ変換回路10
4と、各種制御信号の出力や、相関・補間演算等の各種
演算を行う演算手段としてのＣＰＵ105と、を具備して
構成されている。一対の受光レンズ101a，101bによって
それぞれ結像された２つの被写体像を測距センサとして
の一対のラインセンサ102a，102bにて検出し、その２つ
の像出力をＡ／Ｄ変換したものを、被写体像データとし
て上記ＣＰＵ105に出力する。ＣＰＵ105はこの被写体像
データに基づいて測距演算を行い、ＡＦ制御を行う。

【００１８】図１に示す測距装置において、図２(a)に
示すような風景撮影を行う場合、撮影画面111内の測距
視野（測距エリア）112が山の稜線を見ているので、図
２(b)に示すような被写体像データ113が測定される。こ
の被写体像データ113はラインセンサ102a，102bの一方
のセンサから出力されるデータを示しており、他方のセ
ンサからも同様なデータが出力される。このような斜め
パターンの被写体条件の場合、受光レンズ101a，101bと
ラインセンサ102a，102b間に図１４で示したような回転
ずれθがあると、この回転ずれにより測距誤差が発生す
る。

【００１９】そこで、第１の実施の形態では、図２(b)
に示すような測距エリア内の被写体像データ113を図中
の１〜５に示すような五つのブロックに分割し、それぞ
れのブロック内のデータの平均値Ａ（１）〜Ａ（５）を
求め、互いに隣接するブロック間の平均値の差Ａ（１）
−Ａ（２）、Ａ（２）−Ａ（３）、Ａ（３）−Ａ
（４）、Ａ（４）−Ａ（５）の演算結果が全て正または
負である場合、被写体条件が受光レンズ101a，101bとラ
インセンサ102a，102bの回転ずれにより測距誤差を生じ
る単調増加または単調減少被写体であると判定し、この
場合には無限判定値を、被写体条件が単調増加または単
調減少被写体でない時よりも近距離の値に切り換えるよ
うにしたものである。なお、ブロック内のデータの平均
値とは、ブロックを構成する複数のセンサのデータの平
均値の意である。

【００２０】上記の被写体条件が単調増加または単調減
少被写体である場合の無限判定値は、通常、無限の被写
体距離を基準に、受光レンズ101a，101bとラインセンサ
102a，102bの回転ずれと、被写体条件により発生する最
大の測距誤差の範囲内に設定される。例えば、無限の被
写体を距離８ｍの被写体であると誤測距する可能性があ
る場合の無限判定値は、通常の無限判定値〜８ｍの間に
設定される。

【００２１】図３は第１の実施の形態における測距シー
ケンスを示すフローチャートである。まず、測光デー
タ、プリ積分データ等に基づいてラインセンサ102a，10
2bのセンサ感度の設定を行う（ステップＳ101）。次
に、ステップＳ101で設定したセンサ感度で積分を行
う。積分の制御は積分制御手段103により行われる（ス
テップＳ102)。そして、ステップＳ102の積分によるセ
ンサデータをＡ／Ｄ変換回路104でＡ／Ｄ変換して読み
出す（ステップＳ103）。

【００２２】次に、ステップＳ104で、一対のウインド
（各センサデータの抽出範囲）のデータの一致度が最も
高くなるデータのシフト量を求める相関演算を行い、ス
テップＳ105へ進む。

【００２３】ステップＳ105では、ステップＳ104で求め
た離散的なシフト量の小数点以下を求める補間演算を行
う。

【００２４】次に、ステップＳ106に進み、ステップＳ1
04，ステップＳ105で求めた被写体像の相対的な位置ず
れ量であるシフト量Ｓを、（１）式により被写体距離Ｌ
の逆数のデータ（１／Ｌ）に変換する。

【００２５】

【数１】 １／Ｌ＝Ｋ×Ｓ＋α ……（１） Ｋ、αは測距光学系、ラインセンサのセンサピッチ及び
相関演算のシフト基準位置の設定により定まる定数。こ
こで、シフト量Ｓを１／Ｌに変換するのは、撮影レンズ
のピント位置と１／Ｌがほぼ比例関係にあり、また三角
測距の出力も原理的に１／Ｌに比例するので１／Ｌで扱
った方が演算も単純になるためである。

【００２６】そして、ステップＳ107で、被写体条件が
単調増加、単調減少被写体であるかどうかの判定を行
う。

【００２７】次に、ステップＳ108では、単調増加、減
少フラグ（ｆ__ｍｏｎｏ）がセットされているかどうか
を判定し、セットされていればステップＳ109に進み、
セットされていなければステップＳ110に進む。

【００２８】ステップＳ109では、単調増加、単調減少
被写体用の無限判定値を設定する。

【００２９】ステップＳ110では、通常被写体用の無限
判定値を設定する。

【００３０】次に、無限判定を行い、ステップＳ106で
算出した１／Ｌデータが無限判定値よりも遠距離であれ
ばステップＳ112に進み、近距離であれば測距シーケン
スを終了する（ステップＳ111）。

【００３１】ステップＳ111で１／Ｌデータが無限判定
値よりも遠距離であれば、被写体像データとして無限の
データを設定する（ステップＳ112)。

【００３２】図４は図３の上記ステップＳ107におけ
る、単調増加、単調減少被写体判定の手順を示すフロー
チャートである。

【００３３】まず、単調増加、減少フラグ（ｆ__ｍｏｎ
ｏ）、マイナス符号カウンタ（ＭＮＳ）、プラス符号カ
ウンタ（ＰＬＳ）をクリアする（ステップＳ121)。

【００３４】次に、単調増加、単調減少判定用ブロック
１内の被写体像データの平均値Ａ（１）を算出する（ス
テップＳ122）。

【００３５】同様に、単調増加、単調減少判定用ブロッ
クｎ内の被写体像データの平均値Ａ（ｎ）を算出し（ス
テップＳ123）、ステップＳ124へ進む。

【００３６】そして、ステップＳ124ではブロックｎ−
１の平均値Ａ（ｎ−１）とブロックｎの平均値Ａ（ｎ）
との差が負のデータであるかどうかを判定し、負のデー
タであればステップＳ125に進み、正のデータであれば
ステップＳ126に進む。

【００３７】ステップＳ125では、マイナス符号カウン
タ（ＭＮＳ）をインクリメントする。

【００３８】ステップＳ126では、プラス符号カウンタ
（ＰＬＳ）をインクリメントする。

【００３９】次に、ステップＳ127では、全ブロックの
平均値の算出及び隣接ブロックとの差の符号との判定が
終了しているか否かを判断し、終了していればステップ
Ｓ128に進み、終了していなければステップＳ123に戻
る。

【００４０】ステップＳ128において、マイナス符号カ
ウンタ（ＭＮＳ）またはプラス符号カウンタ（ＰＬＳ）
の値が単調増加、単調減少被写体用ブロック数−１と同
じであればステップＳ129に進み、同じでなければ単調
増加、単調減少被写体判定を終了する。

【００４１】ステップＳ129では、単調増加、減少フラ
グ（ｆ__ｍｏｎｏ）をセットする。

【００４２】次に、図３の測距シーケンスにおける上記
ステップＳ104における相関演算について説明する。

【００４３】図５(a)，(b)に示すように、ラインセンサ
５ａ、５ｂ（図１の102a，102bに相当する）は複数の光
電変換素子により構成され、それぞれセンサデータａ
1，ａ2，…ａN、ｂ1，ｂ2，…ｂNを出力する。このセン
サデータより所定抽出範囲（以下、ウインド）６ａ、６
ｂのデータを抽出する。抽出の方法としては、一方のウ
インド６ａは固定し、他方のウインド６ｂを１センサず
つシフトさせていくのが最も単純な方法である。固定側
とシフト側は逆でもよい。抽出される一対のウインドの
データを用いて（２）式により相関量Ｆ（ｎ）を求め
る。

【００４４】

【数２】 （ｎ：シフト量、ｗ：ウインド内データ数、ｉ：ウイン
ド内データＮｏ．ｋ：演算エリア先頭センサデータＮ
ｏ．） 一対のウインド６ａ、６ｂのデータの一致度が最も高く
なるのは、図６に示すように、ウインド６ｂを１センサ
分ずつシフトさせて求めた相関量Ｆ（ｎ）が極小値〔Ｆ
（ｎ）＝Ｆmin〕となる場合で、シフト量ｎ＝ｎFminが
被写体像の相対的な位置ずれ量となる。

【００４５】ウインドの抽出の方法としては、図７
(a)，(b)に示すように、ウインド６ａ、６ｂを交互にシ
フトさせていくような方法を用いてもよい。この場合の
相関量Ｆ（ｎa、ｎb）を求める式は（３）式のようにな
る。

【００４６】

【数３】 （ｎa：ウインド６ａのシフト量、ｎb：ウインド６ｂの
シフト量） 相対的な位置ずれ量ｎFminは、Ｆ（ｎa、ｎb）が最小と
なる時のｎa，ｎbの和（ｎa＋ｎb）となる。

【００４７】次に、図３の測距シーケンスにおける上記
ステップＳ105における補間演算について説明する。

【００４８】上記の相関演算で求まるラインセンサ５
ａ、５ｂ上に結像された被写体像の相対的な位置ずれ量
は、図６に示すように、ラインセンサのセンサピッチに
応じた離散的な値であり、このピッチ幅が測距の最小分
解能となる。よって、相関演算で求まる像ずれ量のみで
測距を行うと、その測距精度は粗いものになってしま
う。そこで、測距精度を高める為に、離散的な相関量Ｆ
（ｎ）を用いて以下のような補間演算を行う。

【００４９】一般的に補間演算は、図８(a)，(b) に示
すように、相関量Ｆ（ｎ）の極小値であるＦminとその
前後のシフト量ｎFmin−１、ｎFmin＋１における相関量
Ｆmns、Ｆplsを用いて、Ｆminを与えるシフト量ｎFmin
と真の極小値ＦminRを与えるシフト量ｎFminRとのずれ
量Δｎを、Ｆmin、Ｆplsの大小関係に応じて（４）式ま
たは（５）式により求めるものである。

【００５０】なお、図８で、Ｆminは最小の相関値、Ｆm
nsはシフト量がｎFmns（ｎFmin−１）の時の相関値、Ｆ
plsはシフト量がｎFpls（ｎFmin＋１）の時の相関値、
ＦminRは補間演算により求まるシフト量ｎFminRの時の
相関値、ｎFminは相関値が最小となる場合のシフト量、
ｎFmnsはｎFmin−１のシフト量、ｎFplsはｎFmin＋１の
シフト量、ｎFminRは補間演算により求まるシフト量、
である。

【００５１】Ｆmns＞Ｆplsの時（図 ８(a)）

【数４】 Ｆmns≦Ｆplsの時（図８(b)）

【数５】 以上で求めた補間量Δｎにより、真の像ずれ量ｎFminR
は、 Ｆmns＞Ｆplsの時（図８(a)）

【数６】 ｎFminR＝ｎFmin＋Δｎ ……（６） Ｆmns≦Ｆplsの時（図８(b)）

【数７】 ｎFminR＝ｎFmin−Δｎ ……（７） となる。

【００５２】なお、無限判定値は、図９(a)，(b)に示す
ような−４５°と＋４５°のパターンのチャートをそれ
ぞれ測距した場合の測距データ差、もしくはそのデータ
差に所定の係数をかけた値を求める調整を、図１０のフ
ローチャートに示すような手順で行い、決定するように
してもよい。

【００５３】図１０は、測距装置の受光レンズとライン
センサの回転ずれにより発生する測距誤差範囲に応じた
値である調整値Ａの算出手段を示すフローチャートであ
る。

【００５４】まず、図９(a)の−４５°チャートを所定
位置にセットする（ステップＳ131)。そして、図９(a)
の−４５°チャートを測距し、測距データＡＦＭＮＳを
求める(ステップＳ132)。

【００５５】次に、図９(b)の＋４５°チャートを所定
位置にセットする(ステップＳ133)。そして、図９(b)の
＋４５°チャートを測距し、測距データＡＦＰＬＳを求
める(ステップＳ134)。

【００５６】次に、調整値Ａを（８）式により算出す
る。所定の係数Ｋをかける場合は（９）式より求める
(ステップＳ135)。

【００５７】

【数８】 Ａ＝｜ＡＦＭＮＳ−ＡＦＰＬＳ｜ ……（８） Ａ＝｜ＡＦＭＮＳ−ＡＦＰＬＳ｜×Ｋ ……（９） 以上、第１の実施の形態によれば、被写体条件が 単調
増加または単調減少被写体であるかどうかを検出し、無
限判定値を切り換えることにより、正しい無限判定を行
うことができる。

【００５８】〔第２の実施の形態〕第２の実施の形態の
測距装置の構成は、図１に示した測距装置の構成と同様
である。

【００５９】第２の実施の形態は、図１のような構成の
測距装置において、測距視野（測距エリア）を複数のエ
リアに分割し、撮影画面内の複数の領域を測距する、所
謂マルチＡＦを行う場合に、複数の測距エリアの中で最
も近距離の測距データが算出される測距エリアを選択
し、この測距エリアについて、第１の実施の形態と同様
な単調増加、単調減少被写体判定を行い、この測距エリ
ア内の被写体条件が単調増加または単調減少被写体であ
る時には、無限判定値を、被写体条件が単調増加または
単調減少被写体でない時よりも近距離の値に切り換える
ようにしたものである。

【００６０】例えば、図１１(a)に示すような風景撮影
を行う場合、撮影画面211内の測距視野（測距エリア）2
12を複数のエリアＬ、Ｃ、Ｒに分割し、撮影画面211内
の複数の領域を測距する場合に、、図１１(b)に示すよ
うな被写体像データ213が測定され、この被写体像デー
タ213は測距エリアＬ、Ｃ、Ｒに分割されてそれぞれの
測距エリア内のデータを用いて測距データが算出され
る。この時、測距エリアＬまたはＲの測距データが最至
近データである場合は、これらの測距エリア内の被写体
像データのパターンは、単調増加または単調減少ではな
いので、通常の無限判定が行われる。一方、測距エリア
Ｃの測距データが最至近データである場合は、測距エリ
アＣ内の被写体像データのパターンは、単調増加または
単調減少であるので、無限判定値を通常より近距離の判
定値に切り換えて無限判定が行われる。

【００６１】図１２は第２の実施の形態における測距シ
ーケンスを示すフローチャートである。まず、測光デー
タ、プリ積分データ等に基づいてラインセンサ102a、10
2bのセンサ感度の設定を行う（ステップＳ201)。次に、
ステップＳ201で設定したセンサ感度で積分を行う。積
分の制御は積分制御回路103により行われる（ステップ
Ｓ202)。そして、ステップＳ203では、ステップＳ202の
積分によるセンサデータを、Ａ／Ｄ変換回路104でＡ／
Ｄ変換して読み出す。

【００６２】次に、次段のステップＳ205における相関
演算を行う測距エリアを設定する（ステップＳ204)。そ
して、ステップＳ205では、一対のウインドのデータの
一致度が最も高くなるデータのシフト量を求める相関演
算を行う。ステップＳ206では、ステップＳ205で求めた
離散的なシフト量の小数点以下を求める補間演算を行
う。

【００６３】次に、ステップＳ207では、全測距エリア
の演算が終了しているか否かを判定し、全測距エリアの
演算が終了していればステップＳ208に進み、終了して
いなければステップＳ204に戻る。

【００６４】ステップＳ208では、測距エリアの中で最
も近距離の測距データが算出された測距エリアを選択す
る。

【００６５】そして、ステップＳ208で選択された測距
エリアのステップＳ205、S206で求めた被写体像の相対
的な位置ずれ量であるシフト量Ｓを被写体距離Ｌの逆数
のデータ（１／Ｌ）に変換する（ステップＳ209)。

【００６６】次に、ステップＳ210では、被写体条件が
単調増加、単調減少被写体であるかどうかの判定を行
い、ステップＳ211に進む。

【００６７】ステップＳ211では、単調増加、減少フラ
グ（ｆ__ｍｏｎｏ）がセットされているかどうかを判定
し、セットされていればステップＳ212に進み、セット
されていなければステップＳ213に進む。

【００６８】ステップＳ212では、単調増加、単調減少
被写体用の無限判定値を設定する。ステップＳ213で
は、通常被写体用の無限判定値を設定する。

【００６９】そして、ステップＳ214で無限判定を行
い、ステップＳ209で算出した１／Ｌデータが無限判定
値よりも遠距離であればステップＳ215に進み、近距離
であれば測距シーケンスを終了する。

【００７０】ステップＳ215では、被写体像データとし
て無限のデータを設定する。

【００７１】図１３は図１２の第２の実施の形態におけ
る上記ステップＳ210における単調増加、単調減少被写
体判定の手順を示すフローチャートである。

【００７２】まず、単調増加、減少フラグ（ｆ__ｍｏｎ
ｏ）、マイナス符号カウンタ（ＭＮＳ）、プラス符号カ
ウンタ（ＰＬＳ）、符号判定ループカウンタ（ｎ）をク
リアする（ステップＳ321)。

【００７３】次に、ステップＳ322で、単調増加、単調
減少判定を行う測距エリア内のセンサ数から、データ差
を求めるセンサ組のセンサ間隔（α）を引いて、符号判
定ループのループ回数（ｍ）を算出する。

【００７４】そして、ステップＳ323では、所定のセン
サ間隔（α）だけ離れたセンサのデータの差が負のデー
タであるか否かを判定し、負のデータであればステップ
Ｓ324に進み、正のデータであればステップＳ325に進
む。

【００７５】ステップＳ324では、マイナス符号カウン
タ（ＭＮＳ）をインクリメントする。ステップＳ325で
は、プラス符号カウンタ（ＰＬＳ）をインクリメントす
る。

【００７６】そして、ステップＳ326で、符号判定ルー
プカウンタ（ｎ）をインクリメントする。

【００７７】次に、符号判定ループカウンタ（ｎ）が、
符号判定ループ回数（ｍ）を超えているか否かを判定し
（ステップＳ327）、超えていればステップＳ328に進
み、超えていなければステップＳ323に戻る。

【００７８】ステップＳ328では、マイナス符号カウン
タ（ＭＮＳ）またはプラス符号カウンタ（ＰＬＳ）の値
が符号判定ループ回数（ｍ）と同じか否かを判定し、同
じであればステップＳ329に進み、同じでなければ単調
増加、単調減少被写体判定を終了する。

【００７９】そして、ステップＳ329で、単調増加、減
少フラグ（ｆ__ｍｏｎｏ）をセットする。

【００８０】以上、第２の実施の形態によれば、撮影画
面内の複数の領域を測距する、所謂マルチＡＦを行う場
合にも正しい無限判定を行うことができる。

【００８１】〔第３の実施の形態〕第３の実施の形態の
測距装置の構成は、図１に示した測距装置の構成と同様
である。

【００８２】第１の実施の形態では、測距エリア内を複
数のブロックに分割して隣接ブロック毎の平均値の差を
とった時の符号の変化により、被写体条件が単調増加、
単調減少被写体であるかどうかの判定を行っていたのに
対して、第３の実施の形態では、測距エリア内の所定セ
ンサ数分だけ離れたセンサの組毎のデータの差をとった
時の符号の変化により、被写体条件が単調増加、単調減
少被写体であるかどうかの判定を行うようにしたもので
ある。

【００８３】つまり、所定センサ数分だけ離れたセンサ
の組を１センサ分ずつシフトさせながらデータの差をと
った時の符号が全て正または負である場合、被写体条件
が単調増加、単調減少被写体であると判定される。

【００８４】以上、第３の実施の形態によれば、第１の
実施の形態と同様に正しい無限判定を行うことができ
る。

【００８５】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、高価
で特殊なセンサを用いることなく、ラインセンサと受光
レンズの測距光学系の組み立て誤差が生じても正しい無
限判定を行うことができる測距装置を実現することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る測距装置の構成を示すブロック
図。

【図２】単調増加、単調減少被写体の例とそれを検出す
る為の測距エリアのブロック分割の例を示す図。

【図３】本発明の第１の実施の形態の測距シーケンスを
示すフローチャート。

【図４】単調増加、単調減少被写体判定の手順を示すフ
ローチャート。

【図５】相関演算のウインドシフト方法を説明する図。

【図６】各シフト値毎の相関値を示す相関データグラ
フ。

【図７】相関演算のウインドシフト方法の別例を説明す
る図。

【図８】補間演算を説明する図。

【図９】測距装置の受光レンズとラインセンサの回転ず
れにより発生する測距誤差範囲に応じた値である調整値
Ａを求める為のチャート。

【図１０】測距装置の受光レンズとラインセンサの回転
ずれにより発生する測距誤差範囲に応じた値である調整
値Ａの算出手段を示すフローチャート。

【図１１】単調増加、単調減少被写体を含む被写体の例
とマルチＡＦ時の測距エリアの分割の例を示す図。

【図１２】本発明の第２の実施の形態の測距シーケンス
を示すフローチャート。

【図１３】図１２における単調増加、単調減少被写体判
定の手順を示すフローチャート。

【図１４】一対の受光レンズの光軸を結んだ線と一対の
ラインセンサの中心を結んだ線が角度を持って組み立て
られた測距装置の正面図。

【図１５】被写体パターンによるラインセンサ上での結
像位置を示す図。

【図１６】先行例に開示されている、一対のラインセン
サの一方のラインセンサに垂直な方向に第３のラインセ
ンサを配置したパッシブ測距用センサを示す図。

【符号の説明】

101a，101b…受光レンズ 102a，102b…ラインセンサ 103…積分制御手段（制御手段） 104…Ａ／Ｄ変換回路（読み出し手段） 105…ＣＰＵ（演算手段）

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一対の被写体像を一対のラインセンサ上
   に結像させる受光レンズと、この受光レンズにより結像
   させられた一対の被写体像を光強度に応じて電気信号に
   変換する一対のラインセンサと、この一対のラインセン
   サの動作制御を行う制御手段と、前記一対のラインセン
   サから出力される被写体像データを読み出す読み出し手
   段と、この読み出し手段により読み出された被写体像デ
   ータに基づいて被写体距離に対応したデータを演算する
   演算手段とを具備した測距装置において、 測距領域内の被写体像データが単調に増加または減少し
   ているパターンである場合、無限判定値を通常よりも近
   距離側にシフトすることを特徴とする測距装置。
2. 【請求項２】 上記測距領域は、被写体像データを分割
   した複数の測距領域の中で、最も近距離のデータが算出
   された測距領域であることを特徴とする請求項１に記載
   の測距装置。
3. 【請求項３】 上記の測距領域内の被写体像データが単
   調に増加または減少しているかどうかの判定は、測距領
   域を複数のブロックに分割して、複数のブロック毎の被
   写体像データの平均値を求め、隣接するブロックの被写
   体像データの平均値の差をとった時の符号が、全ての隣
   接ブロックで同一であるかどうかにより行うことを特徴
   とする請求項１に記載の測距装置。
4. 【請求項４】 上記の測距領域内の被写体像データが単
   調に増加または減少しているかどうかの判定は、測距領
   域内の所定センサ間隔だけ離れた被写体像データの差を
   １センサ分ずつずらしながらとった時の符号が、全て同
   じであるかどうかにより行うことを特徴とする請求項１
   に記載の測距装置。