JP2003338404A - 分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法 - Google Patents

分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法

Info

Publication number
JP2003338404A
JP2003338404A JP2002146272A JP2002146272A JP2003338404A JP 2003338404 A JP2003338404 A JP 2003338404A JP 2002146272 A JP2002146272 A JP 2002146272A JP 2002146272 A JP2002146272 A JP 2002146272A JP 2003338404 A JP2003338404 A JP 2003338404A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic substrate
dividing groove
dividing
ceramic
recess
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002146272A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3847210B2 (ja
Inventor
Noboru Nakamura
昇 中村
Katsuichi Takao
克一 高尾
Osuke Hirano
央介 平野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2002146272A priority Critical patent/JP3847210B2/ja
Publication of JP2003338404A publication Critical patent/JP2003338404A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3847210B2 publication Critical patent/JP3847210B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】表面に縦横の分割溝を有するセラミックス基板
において、分割時に発生する裏面のバリを低減する。 【解決手段】表面の分割溝の交差部に対向する裏面に凹
部4を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、分割溝を有するセ
ラミックス基板、とりわけ小型のチップ抵抗器等の電子
部品を製造するためのセラミックス基板に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図5は一般的な分割溝を有するセラミッ
クス基板101であり、その表面には一次分割溝10
2、二次分割溝103を備えている。
【0003】また、図6はこのセラミックス基板101
を用いて製造される一般的なチップ抵抗器114を示し
ており、チップ抵抗器114は、セラミックス体115
の表面に抵抗体膜118を備え、該抵抗体膜118は両
端の電極膜117及び端面電極膜119とそれぞれ電気
的に接続されるとともに、保護膜116によって覆われ
ている。
【0004】このようなチップ抵抗器114を形成する
には、図5に示すセラミックス基板101の両主面の所
定位置に電極膜117を印刷、焼き付けした後、セラミ
ックス基板101の一方の主面側に抵抗体膜118を印
刷、焼き付けし、次にレーザートリミングにより抵抗体
膜118の抵抗値を設定した後、抵抗体膜118上に保
護膜116を印刷、焼き付けし、次いで一次分割溝10
2に沿って一次ブレイクした後、分割された短冊状基板
の端面に端面電極膜119を印刷、焼き付けし、しかる
後、二次分割溝103に沿って二次ブレイクすることに
より、図6に示すようなチップ抵抗器114を製造する
ようになっていた。
【0005】ところで、図5に示すセラミックス基板1
01を製造するには、まず、セラミックス基板101を
形成する材質のセラミックスグリーンシートを用意し、
図7に示すように、下パンチ105上に載せたセラミッ
クスグリーンシート104の表面に、断面形状がV字状
をした刃先部106aを有する金型106を押し当てて
縦横の分割溝を形成した後、セラミックスグリーンシー
ト104を焼成することにより製造するようになってい
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このセラミ
ックス基板101を一次分割溝102、二次分割溝10
3に沿って一次ブレイク、二次ブレイクする際に、セラ
ミックス基板101の裏面にバリが発生するという問題
があった。
【0007】これは、図8に示すように、一次分割溝1
02または二次分割溝103から分割を開始すると分割
溝先端には引っ張り応力がかかり、その分割溝先端の延
長線上の裏面には圧縮応力がかかることになる。このた
め、分割溝先端からのクラックの進行はこの圧縮応力に
さえぎられ、この部分を避けようとしてバリが発生する
のである。
【0008】そこで、このバリを解消するために、図9
(a)に示すようにセラミックス基板109の裏面にも
分割溝112,113を設けたものがあり、特に表面の
分割溝110,111の交差部に対向する裏面に十字状
の分割溝112,113を形成したものが提案されてい
る(特許第2633309号公報参照)。
【0009】しかしながら、セラミックス基板109の
表裏の分割溝を全くズレなく、安定して生産することは
困難であり、表裏の分割溝には10〜20μm程度のズ
レが発生することを避けられない。そのため、図9
(b)に示すように表裏の分割溝が繋がるように分割さ
れた場合、上記ズレ量分のバリは発生するという問題が
あった。
【0010】また、図9のように表裏面に分割溝を備え
たセラミックス基板109の場合、分割工程以外の搬送
工程などで誤って分割されてしまうという恐れもあっ
た。
【0011】特に、近年、電子部品は小型化の一途をた
どっており、0.6mm×0.3mmのサイズのチップ
抵抗器が実用化されている。このような小型の電子部品
を製造する場合は、10〜20μmのバリでさえも実装
時の問題となり、特にバリがコーナー部に発生するとチ
ップ抵抗となった際に端面電極剥がれ等の大きな問題と
なる。
【0012】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明は上記課
題に鑑み、表面に縦横の分割溝を有するセラミックス基
板であって、上記分割溝の交差部に対向する裏面に、凹
部を設けたことを特徴とする。
【0013】このように、裏面に凹部を形成することに
より、裏面に発生する圧縮応力の集中を緩和することが
でき、その為、分割時に発生するバリを防止することが
できる。また、裏面に形成するものはある程度の面積を
持った凹部であるため、表面の分割溝との位置ずれが生
じてもバリを生じることを防止できる。
【0014】また、上記凹部の平面形状は、円状、楕円
状、多角形状のいずれかであることを特徴とする。さら
に、上記凹部の幅は15〜30μm、深さは基板厚みの
2.5〜15%であることを特徴とする。
【0015】また、上記分割溝は先に分割する一次分割
溝と後から分割する二次分割溝からなり、上記凹部の平
面形状は、二次分割溝に沿った方向に長いことを特徴と
する。
【0016】即ち、分割後のチップサイズが小さくなる
と一次ブレイクよりも二次ブレイクのほうが難しくなる
り、二次ブレイク時のほうがバリの発生率は高くなる。
例えば、0.6×0.3mmのサイズの場合、一次ブレ
イクのピッチが0.6mmであるのに対し、二次ブレイ
クのピッチは0.3mmとなる。その為、凹部を二次分
割溝方向に長い形状にすることにより、さらに分割性を
向上する効果が得られる。
【0017】また、本発明は、セラミックスグリーンシ
ートの表面に、刃先部を有する金型を押圧して縦横の分
割溝を形成するとともに、該分割溝の交差部に対向する
裏面に、凸部を有する金型を押圧して凹部を形成した
後、上記セラミックスグリーンシートを焼成する工程か
ら分割溝を有するセラミックス基板を製造することを特
徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態の一例を
説明する。
【0019】図1(a)は本発明の分割溝を有するセラ
ミックス基板1であり、その表面には一次分割溝2、二
次分割溝3を備え、図1(b)に示すように上記一次分
割溝2と上記二次分割溝3の交差部に対向する裏面には
凹部4を備えている。
【0020】また、図2はこのセラミックス基板1を用
いて製造される一般的なチップ抵抗器11を示してお
り、チップ抵抗器11は、セラミックス体12の表面に
抵抗体膜13を備え、該抵抗体膜13は両端の電極膜1
5及び端面電極膜16とそれぞれ電気的に接続されると
ともに、保護膜14によって覆われている。
【0021】このようなチップ抵抗器11を形成するに
は、図1に示すセラミックス基板1の両主面の所定位置
に電極膜15を印刷、焼き付けした後、セラミックス基
板1の一方の主面側に抵抗体膜13を印刷、焼き付け
し、次にレーザートリミングにより抵抗体膜13の抵抗
値を設定した後、抵抗体膜13上に保護膜14を印刷、
焼き付けし、次いで横方向の一次分割溝2に沿って一次
ブレイクした後、分割された短冊状基板の端面に端面電
極膜16を印刷、焼き付けし、しかる後、縦方向の二次
分割溝3に沿って二次ブレイクすることにより、図2に
示すようなチップ抵抗器11を製造するようになってい
る。
【0022】ここで、前述した図1(b)に示す凹部4
はある程度の面積を持ったものであるため、表面の一次
分割溝2、二次分割溝3との間で位置ずれが生じたとし
ても、必ず交差部に対向する位置を含むように凹部4を
形成することができる。そのため、セラミックス基板1
を一次分割溝2、二次分割溝3で分割する際に、バリが
生じることを防止できる。
【0023】しかも、図9(a)に示した従来例のよう
な裏面の分割溝112,113とは異なり、凹部4であ
るため、必要以上に分割されることを防止し、搬送工程
等で誤って分割されることを防止できる。
【0024】また、凹部4は分割溝の交差部に対向する
裏面に設けることにより、チップ抵抗器では重大な欠点
となるコーナー部のバリを吸収することができる。
【0025】さらに、このようなセラミックス基板1を
用いて製造したチップ抵抗器では、その回路基板実装に
おいてコーナー部に凹部4による窪みが形成されること
になり、この窪みが半田溜まりとなって、半田のはみ出
しを防止することもできる。
【0026】本発明のセラミックス基板1において、凹
部4の平面形状は円状、楕円状、多角形状などさまざま
なものとすることができ、凹部4の内面形状は半球状や
錐状などさまざまなものとすることができる。
【0027】例えば、図3(a)に示すものは半球状の
凹部4であり、図3(b)に示すものは楕円半球状の凹
部4である。また図3(c)に示すものは四角錐状の凹
部4であり、図3(d)に示すものは半円柱状の凹部4
である。さらに、図3(e)に示すように二次分割溝3
方向にそって裏面全面に備えた長溝状の凹部4とするこ
ともできる。
【0028】これらの凹部4はその幅を15〜30μm
とし、深さを基板厚みの2.5〜15%とすることが好
ましい。これは幅が15μm未満であると、表面の分割
溝の交差部と裏面の凹部4の位置に若干のズレが生じた
場合斜めに割れてしまい分割断面の形状不良が発生す
る。また、幅が30μmを越えると分割時に基板裏面に
発生する圧縮応力が効果的に分散されないため、応力が
集中しバリとなってしまうためである。また深さが基板
厚みの2.5%未満であると、凹部4のある部分とない
部分で基板強度の差がほとんどなくなり、分割溝先端よ
り発生するクラックが凹部4を通過せず、斜めに割れて
しまうといった問題があり、15%を越えると基板強度
が極端に低くなり、取り扱いにおいて割れやすくなって
しまうためである。
【0029】なお、凹部4の幅とは凹部の表面形状の短
径をいう。
【0030】また、凹部4は、図3(b)(d)(e)
のように、二次分割溝3に沿った方向に長い形状とすれ
ば、さらに分割性を向上することができる。
【0031】即ち、分割後のチップサイズが小さくなる
と一次ブレイクよりも二次ブレイクのほうが難しくなる
り、二次ブレイク時のほうがバリの発生率は高くなる。
例えば、0.6×0.3mmのサイズの場合、一次ブレ
イクのピッチが0.6mmであるのに対し、二次ブレイ
クのピッチは0.3mmとなる。その為、凹部4を二次
分割溝3方向に長い形状にすることにより、さらに分割
性を向上する効果が得られる。
【0032】次に、本発明のセラミックス基板の製造方
法を説明する。
【0033】まず、セラミックスグリーンシートを用意
する。セラミックスグリーンシートは、セラミックス原
料に対して溶剤とバインダーを添加混練して製作した泥
漿をドクターブレード法等のテープ成形型法にて形成す
る。
【0034】次に、図4に示すように、得られたセラミ
ックスグリーンシート5を凸部6aを有する下パンチ6
上に配置し、セラミックスグリーンシート5の表面に、
断面形状がV字状をした刃先部7aを有する金型7を押
し当てて、縦横の分割溝を形成するとともに、裏面に凹
部4を形成する。
【0035】しかる後、縦横の分割溝と凹部4が形成さ
れたセラミックスグリーンシート5を所定の温度で焼成
することにより、一次分割溝2、二次分割溝3と、上記
分割溝の交差点の裏面に凹部4を持った本発明のセラミ
ックス基板1を得ることができる。
【0036】このように、下パンチ6に凹部4に対応す
る凸部6aを形成することで、容易に所定形状の凹部4
を形成することができる。
【0037】なお、本発明のセラミックス基板1におい
て、分割溝と凹部4の形成方法としては、上述したよう
なグリーンシートの金型加工に限らず、セラミックス焼
成後の加工により形成することもできる。
【0038】以上のようにして得られた本発明のセラミ
ックス基板1は、特に寸法が0.6×0.3mm以下と
なるような小型のチップ抵抗器用として好適に用いるこ
とができる。また、その他に、チップコンデンサ用セラ
ミックス基板等の製造にも用いることができる。
【0039】
【実施例】ここで、縦横の分割溝の交差点の裏面に凹部
4を持った本発明のセラミックス基板1と、片面のみに
縦横の分割溝を持った従来のセラミックス基板101
(比較例1)と、両面に縦横の分割溝を持った従来のセ
ラミックス基板109(比較例2)を用いて、0.6×
0.3mmサイズのチップ抵抗器用セラミックス基板を
作製し、その変形度合いについて調べる実験を行った。
【0040】Al23含有量が93.0〜99.6重量
%のアルミナ粉末に対し、SiO2、MgO、CaO等
の焼結助剤と溶媒及びバインダーを添加混練して泥漿を
作製し、ドクターブレード法にてセラミックスグリーン
シートを製作した。
【0041】次に、得られたセラミックスグリーンシー
トの表面に、断面形状がV字状をした刃先部を有する金
型を所定の深さまで押し当てて縦横の分割溝を形成する
と同時に分割溝の交差点の裏面に半球状の凸部を設けた
同金型の下パンチで加工を行った。このようにして、図
3(a)のような凹部4を有する本発明のセラミックス
基板1を得た。なお、上記凹部4の大きさは、直径φ6
0μm、深さ50μmになるもの、直径φ30μm、深
さ20μmになるもの、直径φ15μm、深さ5μmの
ものを準備した。
【0042】一方、比較例1のセラミックス基板101
は、上記本発明実施例と同様にセラミックスグリーンシ
ートの表面に断面形状がV字状をした刃先部を有する金
型を所定の深さまで押し当てて一次分割溝102,二次
分割溝103を形成した。又、比較例2のセラミックス
基板109については、セラミックスグリーンシートの
表面に断面形状がV字状をした刃先部を有する金型を所
定の深さまで押し当てて一次分割溝110、二次分割溝
111を形成すると同時に、裏面にも一次分割溝11
2、二次分割溝113を同時加工した。
【0043】その後、各セラミックスグリーンシートを
1600℃前後の大気雰囲気中で焼成することによって
チップ抵抗器用セラミックス基板を製作した。
【0044】なお、製作したチップ抵抗器用セラミック
ス基板は、外辺寸法が60.0mm×50.0mm、厚
みが0.20mmの板状体で、一次分割溝2、102,
110のピッチが0.6mmで45本、二次分割溝3、
103,111のピッチが0.3mmで64本を有する
基板とした。また、一つの抵抗器の大きさとしては、外
辺寸法が0.6mm×0.3mmで2880個のチップ
抵抗器を得られるものとした。
【0045】又、分割溝の深さは、いずれのセラミック
ス基板も、一次分割溝2、102,110が90μm、
二次分割溝3、103,111が50μmになるように
設定した。比較例2の両面分割溝セラミックス基板にお
いては、表側の一次分割溝112が15μm、二次分割
溝113が15μmとなるように設定した。
【0046】そして、得られた各チップ抵抗器用セラミ
ックス基板を一次ブレイク、二次ブレイクし、チップ形
状とした。工具顕微鏡により、このチップ抵抗器形状の
バリの大きさを測定した。測定はランダムに計20個測
定し、最大値と平均値を算出した。
【0047】結果は表1に示す通りである。
【0048】
【表1】
【0049】表1により判るように、片面のみに分割溝
を有する比較例1では最大25μmのバリが発生してお
り、表裏面に分割溝を有する比較例2でも、表裏の分割
溝のズレ量に応じたバリの発生となり、最大で15μm
のバリが発生している。
【0050】これに対し、裏面に凹部4を有する本発明
実施例は、凹部4の直径φ30μm、深さ20μmのも
ので最大でも7μmのバリであり、凹部4の直径φ15
μm、深さ5μmのもので最大でも10μmのバリであ
り、比較例1、2に対してバリを低減することができ、
優れていた。
【0051】なお、凹部4のが直径φ60μm、深さ5
0μmになるものは途中工程で割れが発生するものが生
じた。したがって、凹部4の径は15μm以上で裏電極
印刷にかからないように30μm以下とすること望まし
い。
【0052】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、表面に
縦横の分割溝を有するセラミックス基板であって、上記
分割溝の交差部に対向する裏面に凹部を設けることによ
って、セラミックス基板の分割時に発生する裏面のバリ
を低減させることができる。
【0053】特にチップ抵抗器用セラミックス基板、と
りわけ小型のチップ抵抗器用セラミックス基板として好
適に使用することができる。
【0054】また、本発明は、凸部を備えた金型をグリ
ーンシートに押圧して上記凹部を形成することによっ
て、容易に所定形状の凹部を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の分割溝を有するセラミックス
基板を示す斜視図で、(b)はその断面図である。
【図2】本発明のセラミックス基板を用いて製造したチ
ップ抵抗器を示す斜視図である。
【図3】(a)〜(e)は本発明のセラミックス基板に
おける凹部のさまざまな実施形態を示す平面図である。
【図4】本発明のセラミックス基板の製造方法を説明す
るための図である。
【図5】従来のセラミックス基板の斜視図である。
【図6】従来のセラミックス基板を用いて製造したチッ
プ抵抗器を示す斜視図である。
【図7】従来のセラミックス基板の製造方法を説明する
ための図である。
【図8】従来のセラミックス基板の分割溝近傍の断面図
である。
【図9】(a)(b)は従来のセラミックス基板の断面
図である。
【符号の説明】
1:セラミックス基板 2:一次分割溝 3:二次分割溝 4:凹部 5:セラミックスグリーンシート 6:下パンチ 6a:凸部 7:金型 7a:刃先部 11:チップ抵抗器 12:セラミックス体 13:抵抗体膜 14:保護膜 15:電極膜 16:端面電極膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E032 BA04 BB01 CA02 CC03 CC06 CC18

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】表面に縦横の分割溝を有するセラミックス
    基板であって、上記分割溝の交差部に対向する裏面に、
    凹部を設けたことを特徴とする分割溝を有するセラミッ
    クス基板。
  2. 【請求項2】上記凹部の平面形状は、円状、楕円状、多
    角形状のいずれかであることを特徴とする請求項1記載
    の分割溝を有するセラミックス基板。
  3. 【請求項3】上記凹部の幅は15〜30μm、深さは基
    板厚みの2.5〜15%であることを特徴とする請求項
    1または2記載の分割溝を有するセラミックス基板。
  4. 【請求項4】上記分割溝は先に分割する一次分割溝と後
    から分割する二次分割溝からなり、上記凹部の平面形状
    は、二次分割溝に沿った方向に長いことを特徴とする請
    求項1〜3のいずれかに記載の分割溝を有するセラミッ
    クス基板。
  5. 【請求項5】セラミックスグリーンシートの表面に、刃
    先部を有する金型を押圧して縦横の分割溝を形成すると
    ともに、該分割溝の交差部に対向する裏面に、凸部を有
    する金型を押圧して凹部を形成した後、上記セラミック
    スグリーンシートを焼成する工程からなる分割溝を有す
    るセラミックス基板の製造方法。
JP2002146272A 2002-05-21 2002-05-21 分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法 Expired - Fee Related JP3847210B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002146272A JP3847210B2 (ja) 2002-05-21 2002-05-21 分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002146272A JP3847210B2 (ja) 2002-05-21 2002-05-21 分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003338404A true JP2003338404A (ja) 2003-11-28
JP3847210B2 JP3847210B2 (ja) 2006-11-22

Family

ID=29705308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002146272A Expired - Fee Related JP3847210B2 (ja) 2002-05-21 2002-05-21 分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3847210B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112863793A (zh) * 2021-01-12 2021-05-28 南充三环电子有限公司 一种大规格的陶瓷基板
CN116631716A (zh) * 2023-07-18 2023-08-22 合肥矽迈微电子科技有限公司 一种可变电阻器件的制作方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112863793A (zh) * 2021-01-12 2021-05-28 南充三环电子有限公司 一种大规格的陶瓷基板
CN116631716A (zh) * 2023-07-18 2023-08-22 合肥矽迈微电子科技有限公司 一种可变电阻器件的制作方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3847210B2 (ja) 2006-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7426971B2 (ja) 窒化珪素系セラミックス集合基板
WO2020189526A1 (ja) 窒化物セラミック基板の製造方法及び窒化物セラミック基材
JP2003338404A (ja) 分割溝を有するセラミックス基板とその製造方法
JP4018933B2 (ja) セラミックス基板及びその製造方法
JP2011091411A (ja) 電子部品
JP3838810B2 (ja) 電子部品用セラミック基板
JP3574730B2 (ja) 電子部品用セラミック基板及びチップ抵抗器
JP2004167963A (ja) 分割溝を有するセラミック基板の製造方法
JP3610173B2 (ja) 分割溝を有するセラミック基板
JP2007258264A (ja) 集合基板および個別基板の製造方法
JP4442964B2 (ja) 電子部品用セラミックス基板
JP2612843B2 (ja) セラミック基板及びチップ部品の絶縁基板
JPH09107158A (ja) チップ部品の絶縁基板
JP3325483B2 (ja) サーマルヘッド用グレーズ基板の製造方法
JP2000030917A (ja) セラミック基板及びチップ部品の絶縁基板
JP2003046206A (ja) 分割溝を有するセラミック基板及びその分割方法
JP3301927B2 (ja) 分割溝を有するセラミック基板の製造方法
JPH10156821A (ja) 分割溝を有するセラミック基板及びこれを用いた抵抗器
JP4760253B2 (ja) セラミック電子部品の製造方法および焼成済みセラミック母基板
JP4132026B2 (ja) 大型セラミック基板
JP2829276B2 (ja) セラミック基板の製造方法及びその製造装置
JP2005101231A (ja) 電子部品用セラミック基板
JPH11186011A (ja) セラミック基板
JPH0631989U (ja) セラミック基板の分割溝形成用加工刃
JP4317856B2 (ja) 個別基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041115

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060425

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060623

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060808

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060822

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090901

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100901

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110901

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130901

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees