JP2003332591A - Light receiving device - Google Patents

Light receiving device

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JP2003332591A
JP2003332591A JP2002141337A JP2002141337A JP2003332591A JP 2003332591 A JP2003332591 A JP 2003332591A JP 2002141337 A JP2002141337 A JP 2002141337A JP 2002141337 A JP2002141337 A JP 2002141337A JP 2003332591 A JP2003332591 A JP 2003332591A
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JP
Japan
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light receiving
upper electrode
receiving element
receiving device
metal substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP2002141337A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junichi Iwai
淳一 岩井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP2002141337A priority Critical patent/JP2003332591A/en
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high performance light receiving device which can be manufactured conveniently while being reduced in size. <P>SOLUTION: The light receiving device comprises a metal substrate 10, a parallel plate capacitor 16 composed of a lower electrode, a dielectric film and an upper electrode with the lower electrode being bonded to the metallic substrate 10 while being connected electrically therewith, and a light receiving element 12 for converting an optical signal into an electrical signal bonded to the parallel plate capacitor 16 while being connected electrically with the upper electrode wherein a specified voltage is fed to the light receiving element through the upper electrode and the lower electrode has ground potential. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は受光装置に係り、さ
らに詳しくは、光通信などに用いられる受光装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light receiving device, and more particularly to a light receiving device used for optical communication and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、受光装置として、金属製のステム
の上に受光素子とプリアンプICとチップコンデンサと
を配置したものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is a light receiving device in which a light receiving element, a preamplifier IC, and a chip capacitor are arranged on a metal stem.

【0003】図6は従来の受光装置の一例を示す斜視図
である。図6に示すように、従来の受光装置は円形状の
ステム100を備えている。このステム100には硬質
ガラスなどからなる3つの絶縁体100a,100b,
100cが設けられている。その絶縁体100a,10
0b,100cの中心部にはそれぞれ第1信号出力用ピ
ン114a、第2信号出力用ピン114b及び電源(V
cc)用ピン114cが挿通して設けられており、これ
らのピン114a,114b,114cはステム100
に対して電気的に絶縁されている。またステム100に
はグランド用ピン114dがステム100と一体的とな
って繋がって設けられている。
FIG. 6 is a perspective view showing an example of a conventional light receiving device. As shown in FIG. 6, the conventional light receiving device includes a circular stem 100. The stem 100 includes three insulators 100a, 100b made of hard glass,
100c is provided. The insulators 100a, 10
The first signal output pin 114a, the second signal output pin 114b, and the power source (V
cc) pin 114c is provided so as to pass through, and these pins 114a, 114b, 114c are used for the stem 100.
Electrically isolated from. Further, the stem 100 is provided with a ground pin 114d integrally with and connected to the stem 100.

【0004】このように構成されたステム100上の中
央部には絶縁膜を金属膜で挟んだ構造のサブマウント1
08を介してフォトダイオードからなる受光素子102
がダイボンドされている。受光素子102がサブマウン
ト108上にダイボンドされる理由は、受光素子102
の裏面(例えばカソード)にはバイアス電圧を印加する
必要があることから受光素子102の裏面とステム10
0(グランド電位)とを絶縁する必要があるためであ
る。
A submount 1 having a structure in which an insulating film is sandwiched between metal films is formed in the central portion on the stem 100 thus constructed.
A light receiving element 102 formed of a photodiode via 08
Is die-bonded. The reason why the light receiving element 102 is die-bonded onto the submount 108 is that the light receiving element 102 is
Since it is necessary to apply a bias voltage to the back surface (eg, cathode) of the light receiving element 102 and the stem 10.
This is because it is necessary to insulate 0 (ground potential).

【0005】また、受光装置の性能を向上させるため、
電源ノイズをフィルタリングするコンデンサが受光素子
とグランドの間に挿入される場合が多い。このため、ス
テム100上にはチップコンデンサ106がダイボンド
されている。さらに、ステム100上には、受光素子1
02の電気信号を増幅するプリアンプIC104がダイ
ボンドされている。
In order to improve the performance of the light receiving device,
A capacitor for filtering power supply noise is often inserted between the light receiving element and the ground. Therefore, the chip capacitor 106 is die-bonded on the stem 100. Further, on the stem 100, the light receiving element 1
A preamplifier IC 104 that amplifies the electrical signal 02 is die-bonded.

【0006】プリアンプIC104は、その電源用端子
がワイヤ116aを介して電源(Vcc)用ピン114
cに接続され、また、その2つの信号出力用端子がそれ
ぞれワイヤ116b,116cを介して第1信号出力用
ピン114a及び第2信号出力用ピン114bに接続さ
れている。また、プリアンプIC104は、その第1〜
第3接地端子がそれぞれワイヤ116d,116e,1
16fを介してステム100に接続されてグランド用ピ
ン114dに電気的に接続されている。
The power supply terminal of the preamplifier IC 104 is a power supply (Vcc) pin 114 via a wire 116a.
Further, the two signal output terminals are connected to the first signal output pin 114a and the second signal output pin 114b via wires 116b and 116c, respectively. In addition, the preamplifier IC 104 is
The third ground terminals are wires 116d, 116e, 1 respectively.
It is connected to the stem 100 via 16f and electrically connected to the ground pin 114d.

【0007】また、プリアンプIC104の電圧出力用
端子は、ワイヤ116gを介してサブマウント108の
上面(金属膜)に接続されていて、受光素子102の裏
面(例えばカソード)に電気的に接続されている。
The voltage output terminal of the preamplifier IC 104 is connected to the upper surface (metal film) of the submount 108 via a wire 116g and electrically connected to the back surface (eg, cathode) of the light receiving element 102. There is.

【0008】さらにサブマウント108の上面(金属
膜)はワイヤ116h介してチップコンデンサ106の
上部電極に接続されている。そして、チップコンデンサ
106の下部電極はステム100に接続されていてグラ
ンド用ピン114dに電気的に接続されている。
Further, the upper surface (metal film) of the submount 108 is connected to the upper electrode of the chip capacitor 106 via a wire 116h. The lower electrode of the chip capacitor 106 is connected to the stem 100 and electrically connected to the ground pin 114d.

【0009】一方、受光素子102は、その露出面(例
えばアノード)側の電極がワイヤ116iを介してプリ
アンプIC104の信号入力用端子に接続されている。
On the other hand, in the light receiving element 102, the electrode on the exposed surface (for example, anode) side is connected to the signal input terminal of the preamplifier IC 104 via the wire 116i.

【0010】また、受光素子102の裏面(例えばカソ
ード)は、サブマウント108の上面(金属膜)及びワ
イヤ116gを介してプリアンプ素子104の電圧出力
用端子に接続されていると共に、サブマウント108の
上面(金属膜)、ワイヤ116h及びチップコンデンサ
106及びステム100を介してグランド用ピン114
dに電気的に接続されている。
The back surface (for example, cathode) of the light receiving element 102 is connected to the voltage output terminal of the preamplifier element 104 via the upper surface (metal film) of the submount 108 and the wire 116g, and at the same time, the submount 108 of the submount 108 is connected. The ground pin 114 through the upper surface (metal film), the wire 116h, the chip capacitor 106, and the stem 100.
It is electrically connected to d.

【0011】そして、ステム100の周縁部には金属製
の凹型のキャップ110が溶着されていると共に、キャ
ップ110の天井壁にはガラス板で覆われた光透過窓1
12が設けられている。このようにしてキャップ110
の凹部内に受光素子102、プリアンプIC104及び
チップコンデンサ106が気密封止された状態で収容さ
れている。
A metallic concave cap 110 is welded to the peripheral portion of the stem 100, and the ceiling wall of the cap 110 is covered with a glass plate for a light transmitting window 1.
12 are provided. In this way the cap 110
The light receiving element 102, the preamplifier IC 104, and the chip capacitor 106 are housed in the concave portion in a hermetically sealed state.

【0012】従来の受光装置は、このような構成になっ
ており、受光素子102のカソード(裏面側)にはプリ
アンプIC104の電圧出力用端子からサブマウント1
08の上面(金属膜)を介してバイアス電圧が印加され
る。このときサブマウント108の上面(金属膜)はチ
ップコンデンサ106に接続されているため、バイアス
電圧はノイズが除かれて安定した状態で受光素子112
に供給される。
The conventional light-receiving device has such a structure, and the cathode (back surface side) of the light-receiving element 102 is connected to the submount 1 from the voltage output terminal of the preamplifier IC 104.
A bias voltage is applied through the upper surface (metal film) of 08. At this time, since the upper surface (metal film) of the submount 108 is connected to the chip capacitor 106, noise is removed from the bias voltage and the light receiving element 112 is stable.
Is supplied to.

【0013】受光素子102はバイアス電圧が印加され
た状態で、半導体レーザ装置などから放出された光信号
を受信してこれを電気信号に変換してプリアンプIC1
04に供給する。そして、プリアンプIC104はこの
電気信号を増幅して第1信号出力用ピン114a又は第
2信号出力用ピン114bに出力する。
The light receiving element 102 receives an optical signal emitted from a semiconductor laser device or the like while a bias voltage is applied, converts the optical signal into an electric signal, and preamplifier IC1.
Supply to 04. Then, the preamplifier IC 104 amplifies this electric signal and outputs it to the first signal output pin 114a or the second signal output pin 114b.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の受光装置では、受光素子102、プリアンプ1
04及びチップコンデンサ106が、ステム100上に
平面的に配置されることから広い実装面積を必要とする
ため、受光装置を小型化することが困難である。また、
実装される部品点数が多いため、製造工程が複雑にな
り、製造コストの上昇を招くといった問題がある。
However, in the above-described conventional light receiving device, the light receiving element 102 and the preamplifier 1 are used.
Since 04 and the chip capacitor 106 are arranged in a plane on the stem 100, a large mounting area is required, and it is difficult to downsize the light receiving device. Also,
Since the number of components to be mounted is large, there is a problem that the manufacturing process becomes complicated and the manufacturing cost rises.

【0015】また、チップコンデンサ106は、受光素
子102又はプリアンプ素子104から比較的離れた領
域に実装されることから、回路構成における電気経路が
長くなって電源のインピーダンスが実効的に上がってし
まうため、受光装置の受光性能が劣化する恐れがある。
Further, since the chip capacitor 106 is mounted in a region relatively distant from the light receiving element 102 or the preamplifier element 104, the electric path in the circuit configuration becomes long and the impedance of the power source effectively rises. , The light receiving performance of the light receiving device may be deteriorated.

【0016】本発明は以上の問題点を鑑みて創作された
ものであり、製造が簡易であると共に、小型化すること
ができ、かつ高性能な受光装置を提供することを目的と
する。
The present invention was created in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a high-performance light receiving device which can be manufactured easily and can be miniaturized.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は受光装置に係り、金属基板と、下部電極と
誘電体膜と上部電極とにより構成され、前記金属板の上
に前記下部電極が該金属基板と電気的に接続された状態
で固着された平行平板型コンデンサと、前記平行平板型
コンデンサの上に前記上部電極と電気的に接続された状
態で固着され、光信号を電気信号に変換する受光素子と
を有し、前記上部電極を介して前記受光素子に所定電圧
が供給されると共に、前記下部電極はグランド電位であ
ることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention relates to a light receiving device, which comprises a metal substrate, a lower electrode, a dielectric film and an upper electrode, and the lower part is placed on the metal plate. A parallel plate type capacitor having electrodes fixed to the metal substrate in an electrically connected state, and a parallel plate type capacitor fixed to the parallel plate type capacitor electrically connected to the upper electrode to generate an optical signal. A light receiving element for converting into a signal, a predetermined voltage is supplied to the light receiving element via the upper electrode, and the lower electrode has a ground potential.

【0018】本発明は、受光装置の部品点数を削減して
小型化するために、従来技術に係る受光素子と金属基板
(ステム)とを絶縁するサブマウントを省略し、その代
わりに平行平板型コンデンサでその機能を兼ねるように
したものである。
In the present invention, in order to reduce the number of parts of the light receiving device and reduce the size thereof, a submount for insulating the light receiving element and the metal substrate (stem) according to the prior art is omitted, and a parallel plate type is used instead. It is a capacitor that doubles as its function.

【0019】本発明では、誘電体膜を上部電極及び下部
電極で挟んだ構造を有する平行平板型コンデンサが、グ
ランド電位となる金属基板の上に電気的に接続された状
態で固着されている。また、この平行平板型コンデンサ
の上部電極の上に受光素子(例えばフォトダイード)が
電気的に接続された状態で固着されている。
In the present invention, a parallel plate type capacitor having a structure in which a dielectric film is sandwiched between an upper electrode and a lower electrode is fixed on a metal substrate having a ground potential in an electrically connected state. Further, a light receiving element (eg, photodiode) is fixed on the upper electrode of the parallel plate type capacitor in a state of being electrically connected.

【0020】このように、平行平板型コンデンサ上に受
光素子を3次元的に実装することで、平行平板型コンデ
ンサの上部電極を介して受光素子に直流のバイアス電圧
を印加する際に、直流電流がグランド側に流れないよう
に平行平板型コンデンサにより直流電流を絶縁すること
ができる。このとき同時に、バイアス電圧を供給するラ
インは、平行平板型コンデンサに接続されているため、
平行平板型コンデンサを受光素子のバイアス電圧を安定
させるフィルタリング用コンデンサとして機能させるこ
とができる。
As described above, the light receiving element is three-dimensionally mounted on the parallel plate type capacitor, so that a DC current is applied when a DC bias voltage is applied to the light receiving element via the upper electrode of the parallel plate type capacitor. DC current can be insulated by a parallel plate type capacitor so that the current does not flow to the ground side. At the same time, the line that supplies the bias voltage is connected to the parallel plate capacitor,
The parallel plate type capacitor can function as a filtering capacitor that stabilizes the bias voltage of the light receiving element.

【0021】このように、本発明は、平行平板型コンデ
ンサが受光素子の電源に係るフィルタリング用コンデン
サとしての機能と直流電流を絶縁する機能とを兼務でき
ることに着目して工夫されたものである。これにより、
従来のサブマウントの代わりに平行平板型コンデンサが
配置され、その上に受光素子が3次元的に配置されるこ
とから、実装面積を小さくすることができるので、受光
装置を小型化することができる。
As described above, the present invention has been devised by paying attention to the fact that the parallel plate type capacitor can have both the function as a filtering capacitor related to the power supply of the light receiving element and the function of insulating DC current. This allows
Since a parallel plate type capacitor is arranged in place of the conventional submount and the light receiving element is three-dimensionally arranged thereon, the mounting area can be reduced and the light receiving device can be downsized. .

【0022】また、サブマウントを省略して平行平板型
コンデンサ上に受光素子を直接固着するようにしたの
で、実装する部品点数を削減できると共に、ワイヤボン
ディングに係る工程数も削減することができるようにな
る。従って、受光装置の製造工程が簡易になり、これに
より製造コストを低減させることができる。
Further, since the submount is omitted and the light receiving element is directly fixed on the parallel plate type capacitor, the number of parts to be mounted can be reduced and the number of steps for wire bonding can be reduced. become. Therefore, the manufacturing process of the light receiving device is simplified, and thereby the manufacturing cost can be reduced.

【0023】上記した受光装置において、一つの好適な
態様では、前記金属基板の上に固着され、前記電気信号
を増幅する半導体素子をさらに有するようにしてもよ
い。また、平行平板型コンデンサの上部電極を介して受
光素子に供給される電圧は、上記半導体素子から供給さ
れるようにしてもよいし、また金属基板と絶縁された状
態で金属基板に設けられた電源用ピンから供給されるよ
うにしてもよい。また、電源用ピンが平行平板型コンデ
ンサの上部電極に電気的に接続され、かつ上部電極が半
導体素子の電源端子に接続されていて、平行平板型コン
デンサが受光素子及び半導体素子の両方の電源に係るフ
ィルタリング用コンデンサとして機能するようにしても
よい。
In a preferred aspect, the above-described light receiving device may further include a semiconductor element fixed on the metal substrate and amplifying the electric signal. Further, the voltage supplied to the light receiving element via the upper electrode of the parallel plate type capacitor may be supplied from the semiconductor element, or may be provided on the metal substrate while being insulated from the metal substrate. It may be supplied from a power supply pin. Further, the power supply pin is electrically connected to the upper electrode of the parallel plate type capacitor, and the upper electrode is connected to the power supply terminal of the semiconductor element, and the parallel plate type capacitor is used as the power source for both the light receiving element and the semiconductor element. You may make it function as such a filtering capacitor.

【0024】また、本発明では、平行平板型コンデンサ
上に受光素子が配置されるようにしたことから平行平板
型コンデンサを半導体素子の接地端子の極近傍に配置す
ることができる。このため、特にグランド側の電気経路
が短くなって電源のインピーダンスを下げることができ
るので、受光装置の受光性能を向上させることができ
る。
Further, in the present invention, since the light receiving element is arranged on the parallel plate type capacitor, the parallel plate type capacitor can be arranged very close to the ground terminal of the semiconductor element. For this reason, the electric path on the ground side is particularly shortened and the impedance of the power source can be lowered, so that the light receiving performance of the light receiving device can be improved.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について、図
を参照しながら説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0026】図1は本発明の第1実施形態の受光装置を
示す部分断面斜視図、図2は第1実施形態の受光装置に
係るステム上の様子を示す平面図、図3は図1のI−I
に沿った部分断面図であって、チップコンデンサと受光
素子の実装構造を示すもの、図4は本発明の第1実施形
態の受光装置に係る回路構成の一例を示す模式図であ
る。
FIG. 1 is a partial cross-sectional perspective view showing a light receiving device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view showing a state on a stem of the light receiving device according to the first embodiment, and FIG. II
FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing the mounting structure of the chip capacitor and the light receiving element, and FIG. 4 is a schematic view showing an example of the circuit configuration of the light receiving device of the first embodiment of the present invention.

【0027】図1及び図2に示すように、本発明の実施
形態の受光装置1は、金属製の円形状のステム10(金
属基板)を備えており、このステム10には、硬質ガラ
スなどからなる3つの絶縁体10a,10b,10cが
設けられている。その絶縁体10a,10b,10cの
中心部にはそれぞれ第1信号出力(OUT-)用ピン2
4a、第2信号出力用(OUT+)ピン24b及び電源
(Vcc)用ピン24cが挿通して設けられており、こ
れらのピン24a,24b,24cはステム10に対し
て電気的に絶縁された状態になっている。また、ステム
10にはグランド用ピン24dがステム10と一体的と
なって繋がって設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 2, a light receiving device 1 according to an embodiment of the present invention includes a metal circular stem 10 (metal substrate), and the stem 10 includes hard glass or the like. Is provided with three insulators 10a, 10b, 10c. As the insulator 10a, 10b, 10c heart respective first signal output to the (OUT -) pin 2
4a, a second signal output (OUT + ) pin 24b, and a power supply (Vcc) pin 24c are inserted and provided, and these pins 24a, 24b, and 24c are electrically insulated from the stem 10. It is in a state. Further, the stem 10 is provided with a ground pin 24d integrally with and connected to the stem 10.

【0028】ステム10は、例えば、銅(Cu)、銅
(Cu)−タングステン(W)合金、銅(Cu)−モリ
ブデン(Mo)合金、銅(Cu)−タングステン(W)
−モリブデン(Mo)合金などの高熱伝導性材料により
構成されている。
The stem 10 is, for example, copper (Cu), copper (Cu) -tungsten (W) alloy, copper (Cu) -molybdenum (Mo) alloy, copper (Cu) -tungsten (W).
-It is composed of a high thermal conductivity material such as molybdenum (Mo) alloy.

【0029】このようなステム10上の中心部にはチッ
プコンデンサ16が固着され、このチップコンデンサ1
6の上にはフォトダイオードからなる受光素子12が固
着されている。またステム10上のチップコンデンサ1
6の近傍には、プリアンプIC14(半導体素子)が固
着されている。このプリアンプIC14は、受光素子1
2からの信号を増幅する機能や受光素子12にバイアス
電圧を供給する機能などを備えたものである。
A chip capacitor 16 is fixed to the center of the stem 10 as described above.
A light-receiving element 12 made of a photodiode is fixed on top of 6. Also, the chip capacitor 1 on the stem 10
In the vicinity of 6, a preamplifier IC 14 (semiconductor element) is fixed. The preamplifier IC 14 is a light receiving element 1
It has a function of amplifying the signal from the optical fiber 2 and a function of supplying a bias voltage to the light receiving element 12.

【0030】ここで、チップコンデンサ16及び受光素
子12の実装構造をさらに詳しく説明する。図3に示す
ように、チップコンデンサ16は、平行平板型コンデン
サであって、下から順に、金(Au)や白金(Pt)な
どの金属膜からなる下部電極16a、セラミックなどか
らなる誘電体膜16b及び下部電極16aと同一材料か
らなる上部電極16cにより構成されている。ステム1
0上には、このチップコンデンサ16が金属ロウ材など
の接合材層13aを介してステム10に電気的に接続さ
れた状態でダイボンドされている。
Here, the mounting structure of the chip capacitor 16 and the light receiving element 12 will be described in more detail. As shown in FIG. 3, the chip capacitor 16 is a parallel plate type capacitor, and includes, in order from the bottom, a lower electrode 16a made of a metal film such as gold (Au) or platinum (Pt), and a dielectric film made of ceramic or the like. 16b and an upper electrode 16c made of the same material as the lower electrode 16a. Stem 1
The chip capacitor 16 is die-bonded on the surface of the semiconductor chip 10 while being electrically connected to the stem 10 through a bonding material layer 13a such as a metal brazing material.

【0031】また、チップコンデンサ16上には、フォ
トダイオードからなる受光素子12が、例えばカソード
電極(裏面側)がチップコンデンサ16側になるように
して金属ロウ材などの接合材層13bを介して上部電極
16cに電気的に接続された状態でダイボンドされてい
る。本実施形態では、受光素子12として光通信に用い
られるAPD(アバランシェ・フォトダイオード)を例
示している。
Further, on the chip capacitor 16, the light receiving element 12 formed of a photodiode is provided with a bonding material layer 13b such as a metal brazing material so that the cathode electrode (back surface side) is on the chip capacitor 16 side. It is die-bonded while being electrically connected to the upper electrode 16c. In this embodiment, an APD (avalanche photodiode) used for optical communication is illustrated as the light receiving element 12.

【0032】受光素子12としてのAPDは、図3に示
すように、裏面側のカソード電極12yの上に、下から
順に、n型+層12a、I層(高比抵抗層)12b、p
型層12cが形成されており、p型層12cの周縁部に
は導電型不純物が深く拡散されたガードリング層12d
が形成されている。p型層12c上には開口部を有する
透明なキャップ絶縁膜12eが形成されていて、この開
口部を介してp型層12cにアノード電極12xが接続
されている。受光素子12はこのようにして構成されて
おり、キャップ絶縁膜12eを通して光信号を受信して
これを電気信号に変換することができる。
As shown in FIG. 3, the APD as the light receiving element 12 has an n-type + layer 12a, an I layer (high specific resistance layer) 12b, and a p on the cathode electrode 12y on the back surface in this order from the bottom.
The p-type layer 12c is formed, and the guard ring layer 12d in which conductive impurities are deeply diffused is formed in the peripheral portion of the p-type layer 12c.
Are formed. A transparent cap insulating film 12e having an opening is formed on the p-type layer 12c, and the anode electrode 12x is connected to the p-type layer 12c through the opening. The light receiving element 12 is configured in this way, and can receive an optical signal through the cap insulating film 12e and convert it into an electric signal.

【0033】APDを構成する材料としては、シリコン
(Si)、インジウム・ガリウム・ヒ素・リン(InG
aAsP)又はゲルマニウム(Ge)などを使用するこ
とができる。チップコンデンサ16の容量は、受光素子
12として上記したAPDを使用する場合、例えば10
0pF程度のものを使用することができる。受光装置1
の回路構成や受光素子12の種類に応じしてチップコン
デンサ16の容量は適宜調整されることはもちろんであ
る。
As materials constituting the APD, silicon (Si), indium gallium arsenide phosphorus (InG) are used.
For example, aAsP) or germanium (Ge) can be used. The capacitance of the chip capacitor 16 is, for example, 10 when the above APD is used as the light receiving element 12.
It is possible to use a material of about 0 pF. Light receiving device 1
It goes without saying that the capacitance of the chip capacitor 16 is appropriately adjusted according to the circuit configuration and the type of the light receiving element 12.

【0034】このようにしてステム10上に配置された
チップコンデンサ16、受光素子12及びプリアンプI
C14は次のようにしてワイヤで結線されている。図2
及び図3に示すように、受光素子12のカソード電極1
2y(裏面側)に接続されたチップコンデンサ16の上
部電極16cは、ワイヤ18aを介してプリアンプIC
14の電圧出力用端子14aに接続されている。すなわ
ち、受光素子12のカソード電極12yとプリアンプI
C14の電圧出力端子14aとは、チップコンデンサ1
6の上部電極16c及びワイヤ18aを介して電気的に
接続されている。
In this way, the chip capacitor 16, the light receiving element 12, and the preamplifier I arranged on the stem 10 are arranged.
C14 is connected by a wire as follows. Figure 2
And as shown in FIG. 3, the cathode electrode 1 of the light receiving element 12
The upper electrode 16c of the chip capacitor 16 connected to 2y (back side) is connected to the preamplifier IC via the wire 18a.
14 is connected to the voltage output terminal 14a. That is, the cathode electrode 12y of the light receiving element 12 and the preamplifier I
The voltage output terminal 14a of C14 is the chip capacitor 1
6 are electrically connected via the upper electrode 16c and the wire 18a.

【0035】また、受光素子12のアノード電極12x
(露出面側)はワイヤ18bを介してプリアンプIC1
4の信号入力用端子14bに接続されている。
In addition, the anode electrode 12x of the light receiving element 12
The (exposed surface side) is the preamplifier IC1 via the wire 18b.
4 is connected to the signal input terminal 14b.

【0036】一方、プリアンプIC14の電源用端子1
4cはワイヤ18cを介して電源(vcc)用ピン24
cに接続されている。またプリアンプIC14の第1信
号出力端子14d及び第2信号出力端子14eは、ワイ
ヤ18d,18eを介してそれぞれ第1信号出力(OU
-)用ピン24a及び第2信号出力(OUT+)用ピン
24bに接続されている。またプリアンプIC14の入
力リファレンス用端子14fは、ワイヤ18eを介して
ステム10の上面に接続されていてグランド用ピン24
dに電気的に接続されている。またプリアンプIC14
の第1、第2グランド用端子14g,14hは、それぞ
れワイヤ18f,18gを介してステム10の上面に接
続されていてグランド用ピン24dに電気的に接続され
ている。
On the other hand, the power supply terminal 1 of the preamplifier IC 14
4c is a power source (vcc) pin 24 via a wire 18c
connected to c. Further, the first signal output terminal 14d and the second signal output terminal 14e of the preamplifier IC 14 are respectively connected to the first signal output (OU) via the wires 18d and 18e.
It is connected to the T ) pin 24a and the second signal output (OUT + ) pin 24b. The input reference terminal 14f of the preamplifier IC 14 is connected to the upper surface of the stem 10 via the wire 18e, and the ground pin 24
It is electrically connected to d. In addition, preamplifier IC14
The first and second ground terminals 14g and 14h are connected to the upper surface of the stem 10 via wires 18f and 18g, respectively, and are electrically connected to the ground pin 24d.

【0037】そして、図1に示すように、ステム10の
周縁部には金属製の凹型のキャップ20が溶着されてい
ると共に、キャップ20の天井壁にはガラス板で覆われ
た光透過窓22が設けられている。このようにしてキャ
ップ20の凹部内に受光素子12、プリアンプIC14
及びチップコンデンサ16が気密封止された状態で収容
されている。
As shown in FIG. 1, a metallic concave cap 20 is welded to the peripheral edge of the stem 10, and the ceiling wall of the cap 20 is covered with a light transmission window 22 covered with a glass plate. Is provided. In this way, the light receiving element 12 and the preamplifier IC 14 are provided in the recess of the cap 20.
The chip capacitor 16 is housed in a hermetically sealed state.

【0038】本実施形態の受光装置1は以上のように構
成されており、次のように作用する。すなわち、図4に
示すように、プリアンプIC14はプリアンプ27と電
圧調整機能を有するバイアス発生器25とを備えてい
て、このバイアス発生器25に電源(Vcc)用ピン2
4cからワイヤ18cを介して電源電圧が供給される。
そして、バイアス発生器25からワイヤ18a及びチッ
プコンデンサ16の上部電極16cを介して受光素子1
2のカソード電極12yにそのpn接合に対して逆バイ
アスとなる所定の直流のバイアス電圧V1が供給され
る。
The light receiving device 1 of this embodiment is configured as described above, and operates as follows. That is, as shown in FIG. 4, the preamplifier IC 14 includes a preamplifier 27 and a bias generator 25 having a voltage adjusting function, and the bias generator 25 has a power supply (Vcc) pin 2
The power supply voltage is supplied from 4c through the wire 18c.
Then, the light receiving element 1 from the bias generator 25 through the wire 18 a and the upper electrode 16 c of the chip capacitor 16.
The second cathode electrode 12y is supplied with a predetermined DC bias voltage V1 that is reverse biased with respect to the pn junction.

【0039】このとき、バイアス電圧V1の供給ライン
であるワイヤ18aはチップコンデンサ16に接続され
ているため、直流のバイアス電圧V1は、ノイズが除か
れた状態で受光素子12のカソード電極12yに安定し
て供給される。しかも、チップコンデンサ16は直流電
流を絶縁するため、バイアス電圧V1による直流電流が
ステム10を介してグランド用ピン24d側に流れるこ
とはない。
At this time, since the wire 18a which is the supply line of the bias voltage V1 is connected to the chip capacitor 16, the DC bias voltage V1 is stabilized on the cathode electrode 12y of the light receiving element 12 in a state where noise is removed. And then supplied. Moreover, since the chip capacitor 16 insulates the DC current, the DC current due to the bias voltage V1 does not flow to the ground pin 24d side via the stem 10.

【0040】このようにしてバイアス電圧V1が印加さ
れた状態で光信号を受信した受光素子12はその光信号
を電気信号に変換して出力電流I2を出力し、その出力
電流I2はワイヤ18bを介してプリアンプIC14の
プリアンプ27に供給される。このプリアンプ27は受
光素子12からの出力電流I2を電圧に変換、増幅して
出力電圧V3を出力する。そして、出力電圧V3がワイ
ヤ18d又はワイヤ18eを介して第1信号出力用(O
UT-)ピン24a又は第2信号出力用(OUT+)ピン
24bに出力される。
In this way, the light receiving element 12 which receives the optical signal in the state where the bias voltage V1 is applied converts the optical signal into an electric signal and outputs the output current I2. The output current I2 is transmitted through the wire 18b. It is supplied to the preamplifier 27 of the preamplifier IC 14 via. The preamplifier 27 converts the output current I2 from the light receiving element 12 into a voltage, amplifies it, and outputs an output voltage V3. Then, the output voltage V3 is output via the wire 18d or the wire 18e for the first signal output (O
It is output to the UT ) pin 24a or the second signal output (OUT + ) pin 24b.

【0041】以上のように、本実施形態の受光装置1で
は、グランド電位となるステム10上にチップコンデン
サ16がダイボンドされ、その上に受光素子12がダイ
ボンドされている。そして受光素子12にはチップコン
デンサ16の上部電極16cを介してバイアス電圧V1
が印加される。
As described above, in the light receiving device 1 of the present embodiment, the chip capacitor 16 is die-bonded on the stem 10 having the ground potential, and the light-receiving element 12 is die-bonded thereon. A bias voltage V1 is applied to the light receiving element 12 via the upper electrode 16c of the chip capacitor 16.
Is applied.

【0042】本願発明者は、コンデンサが直流電流を絶
縁する特性を有することに着目し、チップコンデンサ1
6が受光素子12とグランド用ピン24dに繋がるステ
ム10との間に設けられることから、従来技術で用いら
れるサブマウントの機能をチップコンデンサ16で兼用
することができることを見出した。
The inventor of the present application paid attention to the fact that the capacitor has the characteristic of insulating a direct current, and the chip capacitor 1
Since 6 is provided between the light receiving element 12 and the stem 10 connected to the ground pin 24d, it has been found that the chip capacitor 16 can also function as the submount used in the conventional technique.

【0043】つまり、チップコンデンサ16上に受光素
子12を実装することで、チップコンデンサ16の上部
電極16cを介して受光素子12のカソード電極12y
に直流のバイアス電圧V1を印加する際に、直流電流が
グランド側に流れないようにチップコンデンサ16によ
って直流電流を絶縁することができる。このとき同時
に、バイアス電圧V1を供給するラインは、下部電極1
6aがグランド電位となるチップコンデンサ16に接続
されているため、チップコンデンサ16を受光素子12
のバイアス電圧V1のフィルタリング用コンデンサとし
て機能させることができる。
That is, by mounting the light receiving element 12 on the chip capacitor 16, the cathode electrode 12y of the light receiving element 12 is inserted through the upper electrode 16c of the chip capacitor 16.
When the DC bias voltage V1 is applied to, the DC current can be insulated by the chip capacitor 16 so that the DC current does not flow to the ground side. At the same time, the line that supplies the bias voltage V1 is
Since 6a is connected to the chip capacitor 16 having the ground potential, the chip capacitor 16 is connected to the light receiving element 12
Can function as a filtering capacitor for the bias voltage V1.

【0044】このように、本実施形態の受光装置1で
は、従来のサブマウントを省略してチップコンデンサ1
6の上に受光素子12を3次元的に実装することによ
り、チップコンデンサ16が受光素子12に係る電源の
フィルタリング用コンデンサとしての機能と直流電流を
絶縁する機能とを兼ねるようにしている。このため、実
装面積を小さくすることができるようになることから、
ステム10の外形寸法を小さくすることが可能になり、
受光装置を小型化することができる。
As described above, in the light receiving device 1 of this embodiment, the conventional submount is omitted, and the chip capacitor 1 is omitted.
By mounting the light receiving element 12 three-dimensionally on the chip 6, the chip capacitor 16 has both a function as a filtering capacitor of the power source of the light receiving element 12 and a function of insulating a direct current. Therefore, since the mounting area can be reduced,
It becomes possible to reduce the external dimensions of the stem 10,
The light receiving device can be downsized.

【0045】また、サブマウントを省略してチップコン
デンサ16上に受光素子12を直接ダイボンドするよう
にしたので、実装する部品点数を削減できると共に、ワ
イヤボンディングに係る工程数を削減することができ
る。このため、受光装置の製造が簡易になり、製造コス
トを低減させることができる。
Further, since the submount is omitted and the light receiving element 12 is directly die-bonded on the chip capacitor 16, the number of components to be mounted can be reduced and the number of steps for wire bonding can be reduced. Therefore, the manufacturing of the light receiving device is simplified, and the manufacturing cost can be reduced.

【0046】また、受光装置1の受光性能は、チップコ
ンデンサ16とプリアンプIC14又は受光素子12と
の配置関係にも影響される。すなわち、回路構成におけ
る電気経路が長くなると電源のインピーダンスが増加し
て受光装置の受光性能が低下する。
The light receiving performance of the light receiving device 1 is also affected by the positional relationship between the chip capacitor 16 and the preamplifier IC 14 or the light receiving element 12. That is, when the electric path in the circuit configuration becomes long, the impedance of the power source increases and the light receiving performance of the light receiving device deteriorates.

【0047】本実施形態では、チップコンデンサ16上
に受光素子12が配置されるようにしたことから、チッ
プコンデンサ15をプリアンプIC14の入力リファレ
ンス用端子14f(グランドに接続される端子)の極近
傍に配置することができるようになる。これにより、受
光素子12とチップコンデンサ16との電気経路を短く
することができるばかりではなく、チップコンデンサ1
6の下部電極16aとプリアンプIC14のグランドラ
インとの間の電気経路を短くすることができる。このた
め、電源のインピーダンスを下げることができるので受
光装置1の受光性能を向上させることができる。
In the present embodiment, since the light receiving element 12 is arranged on the chip capacitor 16, the chip capacitor 15 is placed very close to the input reference terminal 14f (terminal connected to the ground) of the preamplifier IC 14. You will be able to arrange. As a result, not only can the electric path between the light receiving element 12 and the chip capacitor 16 be shortened, but also the chip capacitor 1
The electrical path between the lower electrode 16a of No. 6 and the ground line of the preamplifier IC 14 can be shortened. Therefore, since the impedance of the power source can be lowered, the light receiving performance of the light receiving device 1 can be improved.

【0048】(第2の実施の形態)図5は本発明の第2
実施形態の受光装置に係るステム上の様子を示す平面図
である。第2実施形態の受光装置が第1実施形態と異な
る点は、チップコンデンサが受光素子に係る電源ノイズ
をフィルタリングするばかりではなく、プリアンプIC
に係る電源ノイズをもフィルタリングするようにしたこ
とである。なお、図5において図2と同一要素について
はその詳しい説明を省略する。
(Second Embodiment) FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention.
It is a top view showing a situation on a stem concerning a light sensing device of an embodiment. The light receiving device of the second embodiment is different from that of the first embodiment in that the chip capacitor not only filters the power source noise related to the light receiving element, but also the preamplifier IC.
The power supply noise related to is also filtered. Detailed description of the same elements in FIG. 5 as those in FIG. 2 will be omitted.

【0049】図5に示すように、第2実施形態の受光装
置1aは、第1実施形態と同様に、ステム10の中心部
に、チップコンデンサ16がダイボンドされ、この上に
APDなどからなる受光素子12がダイボンドされてい
る。
As shown in FIG. 5, in the light receiving device 1a of the second embodiment, the chip capacitor 16 is die-bonded to the central portion of the stem 10 as in the first embodiment, and the light receiving device made of APD or the like is formed thereon. The element 12 is die-bonded.

【0050】第2実施形態では、電源(Vcc)用ピン
24xは、受光素子12及びプリアンプIC14の共通
電源用ピンとなっており、チップコンデンサ16の上面
の上部電極16cにワイヤ18xを介して接続されてい
る。また、チップコンデンサ16の上部電極16cは、
ワイヤ18yを介してプリアンプIC14の電源用端子
14cに接続されている。
In the second embodiment, the power source (Vcc) pin 24x is a common power source pin for the light receiving element 12 and the preamplifier IC 14, and is connected to the upper electrode 16c on the upper surface of the chip capacitor 16 via the wire 18x. ing. The upper electrode 16c of the chip capacitor 16 is
It is connected to the power supply terminal 14c of the preamplifier IC 14 via the wire 18y.

【0051】つまり、電源(Vcc)用ピン24xから
ワイヤ18x及びチップコンデンサ16の上部電極16
cを介して受光素子12のカソード電極12yにバイア
ス電圧V1が印加されると共に、チップコンデンサ16
の上部電極16c及びワイヤ18yを介してプリアンプ
IC14の電源用端子14cに電源電圧V1が供給され
る。
That is, from the power supply (Vcc) pin 24x to the wire 18x and the upper electrode 16 of the chip capacitor 16.
The bias voltage V1 is applied to the cathode electrode 12y of the light receiving element 12 via the chip capacitor 16c.
The power supply voltage V1 is supplied to the power supply terminal 14c of the preamplifier IC 14 through the upper electrode 16c and the wire 18y.

【0052】なお、第2実施形態では、受光素子12に
供給されるバイアス電圧が電源用ピン24xから供給さ
れるようにしたので、プリアンプIC14は受光素子1
2にバイアス電圧を印加するバイアス発生器25をもた
ないものであってもよい。
In the second embodiment, the bias voltage supplied to the light receiving element 12 is supplied from the power supply pin 24x.
It may not have the bias generator 25 for applying the bias voltage to 2.

【0053】第2実施形態は第1実施形態と同様な効果
を奏すると共に、受光素子12及びプリアンプIC14
に繋がる電源ラインには共にチップコンデンサ16が接
続されるようにしたため、受光素子12に係る電源ノイ
ズばかりではなく、プリアンプIC14に係る電源ノイ
ズをもフィルタリングすることができるようになる。こ
れにより、受光装置1aの受光性能をさらに向上させる
ことができる。
The second embodiment has the same effects as the first embodiment, and also has the light receiving element 12 and the preamplifier IC 14.
Since the chip capacitors 16 are both connected to the power supply lines connected to, it is possible to filter not only the power supply noise of the light receiving element 12 but also the power supply noise of the preamplifier IC 14. Thereby, the light receiving performance of the light receiving device 1a can be further improved.

【0054】以上、第1及び第2の実施形態により、こ
の発明の詳細を説明したが、この発明の範囲は上記実施
形態に具体的に示した例に限られるものではなく、この
発明を逸脱しない要旨の範囲における上記実施の形態の
変更はこの発明の範囲に含まれる。
Although the details of the present invention have been described above with reference to the first and second embodiments, the scope of the present invention is not limited to the examples specifically shown in the above embodiments, and deviates from the present invention. Modifications of the above embodiment within the scope of the present invention are included in the scope of the present invention.

【0055】例えば、第1及び第2実施形態で説明した
受光装置の回路構成は単なる例示であって、他の回路構
成を有する受光装置にも適用することができる。また、
所定のピンを備えた円形状のステム10にチップコンデ
ンサ16、受光素子12及びプリアンプIC14が実装
された形態を例示したが、これに限定されるものでな
い。さらには、受光素子12としてアノード電極側から
光信号を受信するものを例示したが、逆にカソード電極
側から光信号を受信するものを使用してもよい。
For example, the circuit configuration of the light receiving device described in the first and second embodiments is merely an example, and can be applied to the light receiving devices having other circuit configurations. Also,
The form in which the chip capacitor 16, the light receiving element 12, and the preamplifier IC 14 are mounted on the circular stem 10 having a predetermined pin is illustrated, but the present invention is not limited to this. Further, although the light receiving element 12 has been exemplified as one receiving an optical signal from the anode electrode side, conversely, one receiving an optical signal from the cathode electrode side may be used.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
金属基板上に平行平板型コンデンサがその下部電極が電
気的に接続された状態で固着され、さらに平行平板型コ
ンデンサの上部電極上に受光素子が電気的に接続された
状態で3次元的に実装されている。そして、平行平板型
コンデンサの上部電極を介して受光素子に所定電圧が供
給されると共に、平行平板型コンデンサの下部電極はグ
ランド電位になっている。
As described above, according to the present invention,
A parallel plate type capacitor is fixed on a metal substrate with its lower electrode electrically connected, and a light receiving element is three-dimensionally mounted on the parallel plate type capacitor's upper electrode electrically connected. Has been done. Then, a predetermined voltage is supplied to the light receiving element via the upper electrode of the parallel plate type capacitor, and the lower electrode of the parallel plate type capacitor is at the ground potential.

【0057】このため、従来技術のサブマウントの実装
領域に平行平板型コンデンサを実装し平行平板型コンデ
ンサの上部電極を介して受光素子に直流のバイアス電圧
を印加する際に、直流電流が平行平板型コンデンサによ
り絶縁されると同時に、バイアス電圧を供給するライン
が平行平板型コンデンサに接続されているため、受光素
子にはノイズが除かれて安定したバイアス電圧が供給さ
れる。
Therefore, when a parallel plate type capacitor is mounted in the mounting area of the submount of the prior art and a DC bias voltage is applied to the light receiving element via the upper electrode of the parallel plate type capacitor, a DC current is applied to the parallel plate type. At the same time as being insulated by the mold capacitor, the line for supplying the bias voltage is connected to the parallel plate capacitor, so that noise is removed from the light receiving element and a stable bias voltage is supplied.

【0058】このように、従来のサブマウントの代わり
にその機能を兼ねて平行平板型コンデンサが配置され、
その上に受光素子が3次元的に配置されることから、実
装面積を小さくすることができるので、受光装置を小型
化することができる。
Thus, instead of the conventional submount, the parallel plate type capacitor having the function thereof is arranged,
Since the light receiving elements are three-dimensionally arranged on the light receiving element, the mounting area can be reduced, and the light receiving device can be downsized.

【0059】また、従来のサブマウントを省略して平行
平板型コンデンサに受光素子を直接固着するようにした
ので、実装する部品点数を削減できると共に、ワイヤボ
ンディングに係る工程数を削減することができるように
なるため、受光装置の製造が簡易になり、製造コストを
低減させることができる。
Further, since the conventional submount is omitted and the light receiving element is directly fixed to the parallel plate type capacitor, the number of components to be mounted can be reduced and the number of steps for wire bonding can be reduced. As a result, the manufacturing of the light receiving device is simplified and the manufacturing cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は本発明の第1実施形態の受光装置を示す
部分断面斜視図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional perspective view showing a light receiving device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2は本発明の第1実施形態の受光装置に係る
ステム上の様子を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a state on a stem according to the light receiving device of the first embodiment of the present invention.

【図3】図3は図1のI−Iに沿った部分断面図であっ
て、チップコンデンサと受光素子の実装構造を示すもの
である。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view taken along the line I-I of FIG. 1, showing a mounting structure of a chip capacitor and a light receiving element.

【図4】図4は本発明の第1実施形態の受光装置に係る
回路構成の一例を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a circuit configuration according to the light receiving device of the first embodiment of the present invention.

【図5】図5は本発明の第2実施形態の受光装置に係る
ステム上の様子を示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view showing a state on a stem according to a light receiving device of a second embodiment of the present invention.

【図6】図6は従来の受光装置の一例を示す斜視図であ
る。
FIG. 6 is a perspective view showing an example of a conventional light receiving device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1a…受光装置、10…ステム(金属基板)、10
a〜10c…絶縁体、12…受光素子、12a…n型+
層、12b…I層(高比抵抗層)12c…p型層、12
d…ガードリング層、12e…キャップ絶縁膜、12x
…アノード電極、12y…カソード電極、13a,13
b…接合材層、14…プリアンプIC(半導体素子)、
14a…電圧出力用端子、14b…信号入力用端子、1
4c…電源用端子、14d…第1信号出力端子、14e
…第2信号出力端子、14f…入力リファレンス用端
子、14g,14h…グランド用端子、16…チップコ
ンデンサ、16a…下部電極、16b…誘電体膜、16
c…上部電極、18a〜18g,18x,18y…ワイ
ヤ、20…キャップ部材、22…光透過窓、24a…第
1信号出力(OUT-)用ピン、24b…第2信号出力
(OUT+)用ピン、24c,24x…電源(Vcc)
用ピン、24d…グランド用ピン、25…バイアス発生
器、27…プリアンプ。
1, 1a ... Light receiving device, 10 ... Stem (metal substrate), 10
a to 10c ... Insulator, 12 ... Light receiving element, 12a ... N type +
Layer, 12b ... I layer (high resistivity layer) 12c ... p-type layer, 12
d ... Guard ring layer, 12e ... Cap insulating film, 12x
... Anode electrode, 12y ... Cathode electrode, 13a, 13
b ... Bonding material layer, 14 ... Preamplifier IC (semiconductor element),
14a ... voltage output terminal, 14b ... signal input terminal, 1
4c ... Power supply terminal, 14d ... First signal output terminal, 14e
... second signal output terminal, 14f ... input reference terminal, 14g, 14h ... ground terminal, 16 ... chip capacitor, 16a ... lower electrode, 16b ... dielectric film, 16
c ... upper electrode, 18a to 18g, 18x, 18y ... wire, 20 ... cap member 22 ... transparent window, 24a ... first signal output (OUT -) pin, for 24b ... second signal output (OUT +) Pins, 24c, 24x ... Power supply (Vcc)
Pin, 24d ... Ground pin, 25 ... Bias generator, 27 ... Preamplifier.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 金属基板と、 下部電極と誘電体膜と上部電極とにより構成され、前記
金属基板の上に前記下部電極が該金属基板と電気的に接
続された状態で固着された平行平板型コンデンサと、 前記平行平板型コンデンサの上に前記上部電極と電気的
に接続された状態で固着され、光信号を電気信号に変換
する受光素子とを有し、 前記上部電極を介して前記受光素子に所定電圧が供給さ
れると共に、前記下部電極はグランド電位であることを
特徴とする受光装置。
1. A parallel plate including a metal substrate, a lower electrode, a dielectric film, and an upper electrode, and the lower electrode fixed on the metal substrate in a state of being electrically connected to the metal substrate. Type capacitor and a light receiving element fixed on the parallel plate type capacitor in a state of being electrically connected to the upper electrode and converting a light signal into an electric signal, and the light receiving element via the upper electrode. A light receiving device, wherein a predetermined voltage is supplied to the element and the lower electrode has a ground potential.
【請求項2】 前記金属基板の上に固着され、前記電気
信号を増幅する半導体素子をさらに有することを特徴と
する請求項1に記載の受光装置。
2. The light receiving device according to claim 1, further comprising a semiconductor element fixed on the metal substrate and amplifying the electric signal.
【請求項3】 前記半導体素子の電圧出力端子が前記平
行平板型コンデンサの上部電極に接続されており、前記
半導体素子から前記上部電極を介して前記受光素子に所
定電圧が供給されることを特徴とする請求項2に記載の
受光装置。
3. A voltage output terminal of the semiconductor element is connected to an upper electrode of the parallel plate type capacitor, and a predetermined voltage is supplied from the semiconductor element to the light receiving element via the upper electrode. The light receiving device according to claim 2.
【請求項4】 前記金属基板には、該金属基板と絶縁さ
れた電源用ピン及び信号出力用ピンが設けられ、かつ該
金属基板に電気的に接続されたグランド用ピンが設けら
れ、前記電源用ピン及び前記信号出力用ピンは、前記半
導体素子の電源用端子及び信号出力端子にそれぞれ電気
的に接続されていることを特徴とする請求項3に記載の
受光装置。
4. The power source and the signal output pin insulated from the metal substrate and the ground pin electrically connected to the metal substrate are provided on the metal substrate, and the power source is provided. The light-receiving device according to claim 3, wherein the power supply pin and the signal output pin are electrically connected to a power supply terminal and a signal output terminal of the semiconductor element, respectively.
【請求項5】 前記金属基板には該金属基板と絶縁され
た電源用ピンが設けられ、前記電源用ピンは前記平行平
板型コンデンサの上部電極に電気的に接続され、前記電
源用ピンから前記上部電極を介して前記受光素子に前記
所定電圧が供給されることを特徴とする請求項1又は2
に記載の受光装置。
5. The metal substrate is provided with a power supply pin insulated from the metal substrate, the power supply pin is electrically connected to an upper electrode of the parallel plate capacitor, and the power supply pin is connected to the upper electrode. The predetermined voltage is supplied to the light receiving element via an upper electrode.
The light receiving device according to.
【請求項6】 前記平行平板型コンデンサの上部電極は
前記半導体素子の電源用端子に電気的に接続されてお
り、前記電源用ピンから前記上部電極を介して前記半導
体素子に電源電圧が供給されることを特徴とする請求項
5に記載の受光装置。
6. An upper electrode of the parallel plate capacitor is electrically connected to a power supply terminal of the semiconductor element, and a power supply voltage is supplied from the power supply pin to the semiconductor element via the upper electrode. The light receiving device according to claim 5, wherein:
【請求項7】 前記平行平板型コンデンサは、セラミッ
クからなる前記誘電体膜が金属膜からなる前記上部電極
及び下部電極で挟まれた構造を有し、かつ前記受光素子
はフォトダイオードであって、前記半導体素子はプリア
ンプ素子であることを特徴とする請求項2乃至4のいず
れか一項に記載の受光装置。
7. The parallel plate type capacitor has a structure in which the dielectric film made of ceramic is sandwiched between the upper electrode and the lower electrode made of a metal film, and the light receiving element is a photodiode, The light receiving device according to any one of claims 2 to 4, wherein the semiconductor element is a preamplifier element.
【請求項8】 前記金属基板の周縁部には前記受光素子
が光信号を受信する光透過窓を備えたキャップ部材が設
けられていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれ
か一項に記載の受光装置。
8. The cap member having a light transmission window through which the light receiving element receives an optical signal is provided on a peripheral portion of the metal substrate. The light receiving device according to.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN117458256A (en) * 2023-10-25 2024-01-26 无锡市博精电子有限公司 TO tube seat and preparation method thereof

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