JP2003332527A - Large semiconductor module - Google Patents
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は電鉄、車両用のパワ
ーデバイスとして使用されるIGBTの半導体モジュー
ルを複数個集合して構成される大型半導体モジュールに
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a large-sized semiconductor module constructed by assembling a plurality of IGBT semiconductor modules used as power devices for electric railways and vehicles.
【0002】[0002]
【従来の技術】図5は従来のプラスチックモジュール型
IGBTモジュールの内部構造例を示した断面図であ
る。冷却用金属板1の端部にプラスチック製の側壁2が
接着されており、このプラスチックの側壁2の上面をプ
ラスチック製の端子キャップ3が覆っている。冷却用金
属板1の上には、セラミック基板4の下面にダイレクト
ボンド又は銀ロー付けしてある銅板5が半田6により半
田付けされている。セラミック基板4の上面には配線パ
ターンを形成する銅板7が張り付けてあり、この銅板7
にIGBT等の半導体チップ8が半田13により半田付
けされている。2. Description of the Related Art FIG. 5 is a sectional view showing an example of the internal structure of a conventional plastic module type IGBT module. A side wall 2 made of plastic is adhered to an end portion of the cooling metal plate 1, and an upper surface of the side wall 2 made of plastic is covered with a terminal cap 3 made of plastic. On the cooling metal plate 1, a copper plate 5 that is directly bonded or silver-bonded to the lower surface of the ceramic substrate 4 is soldered with solder 6. A copper plate 7 that forms a wiring pattern is attached to the upper surface of the ceramic substrate 4.
A semiconductor chip 8 such as an IGBT is soldered with a solder 13.
【0003】半導体チップ8はアルミワイヤー9をワイ
ヤーボンディングすることにより銅板7の配線パターン
に電気的に接続されている。又、この銅板7の配線パタ
ーンには、銅製のエミッタターミナル10、コレクター
ターミナル11、ゲートターミナル12がそれぞれ半田
13により半田付で立設され、頭部は端子キャップ3の
外部に露出し、又、端子キャップ3はこれらエミッタタ
ーミナル10、コレクターターミナル11、ゲートター
ミナル12を支持している。更に、半導体チップ8を外
気から遮断するために、内部にはシリコン樹脂14が充
填され、このシリコン樹脂14の上方にはエポキシ系の
樹脂15が充填されている。The semiconductor chip 8 is electrically connected to the wiring pattern of the copper plate 7 by wire bonding an aluminum wire 9. Further, on the wiring pattern of the copper plate 7, an emitter terminal 10, a collector terminal 11, and a gate terminal 12 made of copper are erected by soldering with solder 13, respectively, and the head is exposed to the outside of the terminal cap 3, and The terminal cap 3 supports these emitter terminal 10, collector terminal 11 and gate terminal 12. Further, in order to shield the semiconductor chip 8 from the outside air, a silicone resin 14 is filled inside, and an epoxy resin 15 is filled above the silicone resin 14.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のプ
ラスチックモジュール型IGBTモジュールでは、シリ
コン樹脂14やエポキシ系の樹脂15による樹脂封止さ
れた構造を有しているが、この樹脂封止は半気密構造で
あるため、従来のプラスチックモジュール型IGBTモ
ジュールは半気密構造である。The conventional plastic module type IGBT module as described above has a structure in which the resin is sealed with the silicon resin 14 or the epoxy resin 15, but this resin sealing is Since it has a semi-hermetic structure, the conventional plastic module type IGBT module has a semi-hermetic structure.
【0005】従って、耐湿性に弱く、高温高湿環境下に
おいて、水分がモジュール内部に進入し、半導体チップ
8の特性劣化を引き起こすという問題があった。また、
樹脂封止に使用するシリコン樹脂には不純物(ナトリウ
ム、クローム等)が混入する可能性があり、この不純物
が半導体チップ8を侵し、その信頼性を損ねる恐れがあ
るという問題があった。Therefore, there is a problem that the moisture resistance is weak, and moisture enters the inside of the module in a high temperature and high humidity environment to cause deterioration of the characteristics of the semiconductor chip 8. Also,
Impurities (sodium, chrome, etc.) may be mixed in the silicon resin used for resin sealing, and there is a problem that the impurities may attack the semiconductor chip 8 and impair its reliability.
【0006】更に、モジュールを構成する外郭部材はプ
ラスチックであるため、機械的強度も弱く、半導体チッ
プ8が短絡事故などにより爆発する際の防爆耐量がほと
んど無いという問題があった。又、半導体チップ8と銅
板7の配線パターンはアルミワイヤボンディング接続に
より接続されているため、パワーサイクル耐量が低い
(例えば100万回程度のパワーサイクル耐量の要求に
対して例えば10万回程度しかない)という問題があっ
た。更に、冷却用金属板1とセラミック4の熱膨張差が
大きく、これにより生じる熱応力によるクラックが半田
6に発生し、モジュールのTCT信頼性を損ねるという
問題があった。Further, since the outer member forming the module is made of plastic, the mechanical strength is weak, and there is a problem that there is almost no explosion-proof capacity when the semiconductor chip 8 explodes due to a short circuit accident or the like. Further, since the wiring patterns of the semiconductor chip 8 and the copper plate 7 are connected by aluminum wire bonding connection, the power cycle withstand capability is low (for example, only about 100,000 times with respect to the power cycle withstand requirement of about 1,000,000 times). ) Was a problem. Furthermore, there is a problem that the difference in thermal expansion between the cooling metal plate 1 and the ceramic 4 is large, and cracks due to the thermal stress generated thereby occur in the solder 6, impairing the TCT reliability of the module.
【0007】本発明は、上述の如き従来の課題を解決す
るためになされたもので、その目的は、耐湿性に強く、
防爆耐量が大きく、TCT信頼性が高く、パワ一サイク
ル耐量の優れた半導体モジュールを集合させて構成され
る大型半導体モジュールを提供することである。The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional problems, and its purpose is to have high moisture resistance,
It is an object of the present invention to provide a large-sized semiconductor module configured by assembling semiconductor modules having a large explosion-proof resistance, a high TCT reliability, and an excellent power cycle durability.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の特徴は、複数の開口部を有する板状の金属
枠と、この金属枠の開口部に取り付けられる半導体モジ
ュールと、半導体モジュールが取り付けられた金属枠の
一方の面を覆うプラスチック製のカバーと、このカバー
内に充填される樹脂とを備えたことにある。To achieve the above object, the present invention is characterized by a plate-shaped metal frame having a plurality of openings, a semiconductor module attached to the openings of the metal frame, and a semiconductor. It is provided with a plastic cover covering one surface of the metal frame to which the module is attached, and a resin filled in the cover.
【0009】本発明の特徴によれば、金属枠に所望の個
数の開口部を設けておけば、金属枠に所望の個数の例え
ばIGBTなどの半導体モジュールが取り付けられ、ユ
ーザーの各種仕様に容易に対応することができる。According to a feature of the present invention, if a desired number of openings are provided in the metal frame, a desired number of semiconductor modules such as IGBTs can be attached to the metal frame, which facilitates various specifications of the user. Can respond.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は本発明の実施の形態に係る
大型半導体モジュールに用いる半導体モジュールを示し
た断面図である。セラミック基板31の上面には銅板3
3が銀ロー付けにより結合している。セラミック基板3
1の銅板の外側には円形の低膨張金属製のフランジ32
が銀ロー付けにより結合している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing a semiconductor module used in a large-sized semiconductor module according to an embodiment of the present invention. A copper plate 3 is provided on the upper surface of the ceramic substrate 31.
3 is connected by silver brazing. Ceramic substrate 3
A circular low expansion metal flange 32 is provided on the outer side of the copper plate 1
Are connected by silver brazing.
【0011】銅板33の上に半田34により半導体チッ
プ35が半田付けされている。A semiconductor chip 35 is soldered on the copper plate 33 with solder 34.
【0012】半導体チップ35の主面にはモリブデン製
のエミッタ電極部材36がバネ37により押圧され、エ
ミッタ電極部材36が半導体チップ35のエミッタ電極
に圧接して、エミッタ電極経路が形成されている。バネ
37はセラミックハウジング38により上から押しつけ
られて、押圧力を発生している。セラミックハウジング
38の端部は円環状の低膨張金属製部材39が銀ロー付
けされていて、この円環状の部材39の上部がフランジ
32の上端部と溶接されている。An emitter electrode member 36 made of molybdenum is pressed against the main surface of the semiconductor chip 35 by a spring 37, and the emitter electrode member 36 is pressed against the emitter electrode of the semiconductor chip 35 to form an emitter electrode path. The spring 37 is pressed from above by the ceramic housing 38 to generate a pressing force. A ring-shaped low expansion metal member 39 is brazed to the end of the ceramic housing 38 by silver brazing, and the upper portion of the ring-shaped member 39 is welded to the upper end of the flange 32.
【0013】銅板33には半導体チップ35のコレクタ
である底面が半田付けされているため、銅板33はコレ
クタとなっている。この銅板33の中央付近から銅のコ
レクタ導電部材40が半田付けにより立設され、これが
エミッタ電極部材36を貫通し、更にセラミックハウジ
ング38を貫通して外部に突出している。Since the bottom surface, which is the collector of the semiconductor chip 35, is soldered to the copper plate 33, the copper plate 33 serves as the collector. A copper collector conductive member 40 is erected from the vicinity of the center of the copper plate 33 by soldering, which penetrates the emitter electrode member 36 and further penetrates the ceramic housing 38 to project to the outside.
【0014】又、エミッタ電極部材36の上に銅のエミ
ッタ導電部材41が立設され、これがセラミックハウジ
ング38を貫通して外部に突出している。コレクタ導電
部材40はセラミックハウジング38に銀ロー付けによ
り立設された銅のキャップ形状のコレクタ電極42によ
りカシメにより結合され、エミッタ導電部材41はセラ
ミックハウジング38に銀ロー付けにより立設された銅
のキャップ形状のエミッタ電極43によりカシメにより
結合されている。尚、本例では4個の半導体チップ35
が上記した半導体モジュール内に収容されている。Further, a copper emitter conductive member 41 is erected on the emitter electrode member 36, which penetrates the ceramic housing 38 and projects to the outside. The collector conductive member 40 is joined by caulking by a copper cap-shaped collector electrode 42 erected on the ceramic housing 38 by silver brazing, and the emitter conductive member 41 is made of copper erected on the ceramic housing 38 by silver brazing. The emitter electrodes 43 having a cap shape are joined by crimping. In this example, four semiconductor chips 35
Are housed in the semiconductor module described above.
【0015】図1に示した半導体モジュールによれば、
低膨張金属製のフランジ32の円形の上下の開口部をセ
ラミック基板31とセラミックハウジング38で銀ロー
付けや溶接などにより気密的に塞いで、密閉容器を形成
し、更に、セラミックハウジング38の上に突出してい
るコレクタ導電部材40、エミッタ導電部材41の貫通
口をキャップ形状のコレクタ電極42、キャップ形状の
エミッタ電極41により銀ロー付けにより気密的に塞い
でいるため、容器は極めて高い気密性(10-9tor
r)を有している。これによって、耐湿性を極めて高く
することができ、内部に湿気や腐食性ガスなどの侵入を
完全に防止して、半導体チップ35の故障を防止し、そ
の信頼性を著しく高めることができる。According to the semiconductor module shown in FIG.
The circular upper and lower openings of the flange 32 made of low-expansion metal are hermetically closed by the ceramic substrate 31 and the ceramic housing 38 by silver brazing, welding or the like to form a closed container, and further on the ceramic housing 38. Since the through-holes of the protruding collector conductive member 40 and emitter conductive member 41 are hermetically closed by the cap-shaped collector electrode 42 and the cap-shaped emitter electrode 41 by silver brazing, the container has an extremely high airtightness (10 -9tor
r). As a result, the moisture resistance can be made extremely high, the intrusion of moisture or corrosive gas into the inside can be completely prevented, the failure of the semiconductor chip 35 can be prevented, and the reliability thereof can be remarkably enhanced.
【0016】又、金属とセラミックを溶接と銀ローで接
合して半導体チップ35の密閉容器を形成しているた
め、機械的強度がプラスチックなどに比べて極めて大き
く、半導体チップ35が短絡などで爆発しても、十分な
防爆耐量があり、密閉容器が破壊されることはなく、安
全性が向上している。Further, since metal and ceramic are welded and joined by silver brazing to form a closed container for the semiconductor chip 35, the mechanical strength is extremely larger than that of plastic or the like, and the semiconductor chip 35 explodes due to a short circuit or the like. Even so, it has a sufficient explosion-proof capacity, the sealed container is not destroyed, and the safety is improved.
【0017】更に、半導体チップ35は、アルミワイヤ
ーなどを用いずにエミッタ電極部材36などの圧接や、
銅板33への半田付けによりエミッタ電極43やコレク
タ電極42と接続され、通電容量の大きな導電部材によ
り電極経路が形成されているため、パワーサイクル耐量
(100万回以上)を著しく向上させることができる。Further, the semiconductor chip 35 does not use an aluminum wire or the like, but is pressed against the emitter electrode member 36 or the like,
Since it is connected to the emitter electrode 43 and the collector electrode 42 by soldering to the copper plate 33 and the electrode path is formed by a conductive member having a large current-carrying capacity, the power cycle resistance (1 million times or more) can be significantly improved. .
【0018】又、冷却用金属板1を使用せずとも良くな
るので、セラミック基板31と銅板33の熱膨張率が異
なっていても、クラックが入ったりせず、TCT耐量を
向上させることができる。Further, since it is not necessary to use the cooling metal plate 1, even if the ceramic substrate 31 and the copper plate 33 have different thermal expansion coefficients, cracks do not occur and the TCT resistance can be improved. .
【0019】また、モジュールの寸法などは従来例と同
一にできるため、同様の寸法仕様にて使用することがで
きる。Further, since the dimensions of the module can be made the same as those of the conventional example, they can be used with the same dimensional specifications.
【0020】図2は本発明の実施の形態に係る大型半導
体モジュールに用いる半導体モジュールの他の例を示し
た断面図である。FIG. 2 is a sectional view showing another example of a semiconductor module used in the large-sized semiconductor module according to the embodiment of the present invention.
【0021】セラミック基板31の上部に銀ロー付けに
て結合している銅板33上に筒型の低膨張金属製のフラ
ンジ32が銀ロー付けにより結合している。この銅板3
3に半導体チップ35の底面が半田34により半田付け
され、半導体チップ35の底面はコレクタになっている
ため、銅板33はコレクタに接続されている。しかも、
低膨張金属製のフランジ32は銅板33に電気的に結合
しているため、フランジ32はコレクタ電極を兼ねてい
ることになる。A cylindrical low expansion metal flange 32 is joined by silver brazing on a copper plate 33 which is joined by silver brazing on the top of the ceramic substrate 31. This copper plate 3
3, the bottom surface of the semiconductor chip 35 is soldered with the solder 34, and the bottom surface of the semiconductor chip 35 serves as a collector, so that the copper plate 33 is connected to the collector. Moreover,
Since the flange 32 made of low expansion metal is electrically coupled to the copper plate 33, the flange 32 also serves as a collector electrode.
【0022】従って、本例ではセラミックハウジング3
8の上には、エミッタ電極部材36に立設されたエミッ
タ電極部材41にカシメにより結合しているキャップ形
状のエミッタ電極43のみが銀ロー付けにより立設して
いる。他の構成は図1に示した例と同様である。Therefore, in this example, the ceramic housing 3
Only the cap-shaped emitter electrode 43, which is joined by caulking to the emitter electrode member 41 that is erected on the emitter electrode member 36, is erected on the upper part of FIG. 8 by silver brazing. Other configurations are the same as the example shown in FIG.
【0023】図2に示す半導体モジュールによれば、銅
板33の上に低膨張金属製のフランジ32が銀ロー付け
により結合しているため、銅板33の熱膨張が抑えら
れ、その分、図1に示す半導体モジュールよりもTCT
耐量を向上させることができる。According to the semiconductor module shown in FIG. 2, since the flange 32 made of a low expansion metal is joined onto the copper plate 33 by silver brazing, thermal expansion of the copper plate 33 is suppressed, and as a result, FIG. TCT than the semiconductor module shown in
The withstand amount can be improved.
【0024】又、パワーサイクル耐量を損なうことな
く、フランジ32がコレクタ電極を兼ねているため、コ
レクタ電極をセラミックハウジング38の上に設ける必
要がなく、この分、装置を小型にできると共に、その組
み立て性を向上させることができる。他の構成は図1に
示した半導体モジュールと同様で、同様の効果がある。Further, since the flange 32 also serves as the collector electrode without impairing the power cycle resistance, it is not necessary to provide the collector electrode on the ceramic housing 38, and the device can be downsized and the assembly thereof. It is possible to improve the sex. Other configurations are similar to those of the semiconductor module shown in FIG. 1 and have similar effects.
【0025】図3は本発明の大型半導体モジュールの一
実施の形態を示した縦断面図である。図4は同大型の半
導体モジュールの横断面図である。大型半導体モジュー
ルの外郭を構成するネジ止めフランジ(金属枠)51は
その平面が四角形状を有し、小型の半導体モジュール8
0を収容する複数の円形の開口部52(この例では円形
だがくけいでも良い)を有している。これら開口部52
にはシーリングラバー53を介して円形の小型の半導体
モジュール80が図示されないネジにより取り付けてあ
る。この小型の半導体モジュール80は例えば図2に示
したものである。FIG. 3 is a vertical sectional view showing an embodiment of a large-sized semiconductor module of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view of the same large-sized semiconductor module. The screwing flange (metal frame) 51 forming the outer shell of the large semiconductor module has a quadrangular plane, and the small semiconductor module 8
It has a plurality of circular openings 52 for accommodating 0 (in this example, circular openings may be used). These openings 52
A circular small semiconductor module 80 is attached to this via a sealing rubber 53 by a screw (not shown). This small semiconductor module 80 is, for example, the one shown in FIG.
【0026】ネジ止めフランジ51の上部はプラスチッ
クのカバー54が接着結合され、小型の半導体モジュー
ル80を覆っている。これら半導体モジュール80のエ
ミッタ電極36やコレクタ電極32は導電材55、56
により並列接続され、これら導電材55、56はプラス
チックのカバー54の上部に大型半導体モジュールの電
極として配置されているエミッタ電極57やコレクタ電
極58に接続されている。更に、プラスチックのカバー
54の内部は、機械的強度、絶縁強度を高めるためのゲ
ル状のシリコン樹脂59もしくはエポキシ樹脂などによ
り充填されている。A plastic cover 54 is adhesively bonded to the upper portion of the screwing flange 51 to cover the small semiconductor module 80. The emitter electrodes 36 and collector electrodes 32 of these semiconductor modules 80 are made of conductive materials 55, 56.
Are connected in parallel with each other, and these conductive materials 55 and 56 are connected to an emitter electrode 57 and a collector electrode 58, which are arranged as electrodes of a large-sized semiconductor module on the plastic cover 54. Further, the inside of the plastic cover 54 is filled with a gel silicone resin 59 or an epoxy resin or the like for improving mechanical strength and insulation strength.
【0027】尚、上記のような大型半導体モジュールの
下部は図3に示すように大型のヒートシンク60に図示
されないネジ止めにより密着されて使用される。The lower portion of the large-sized semiconductor module as described above is used in close contact with a large-sized heat sink 60 by screwing (not shown) as shown in FIG.
【0028】本実施の形態によれば、所望の容量が得ら
れる個数(本例では4個)の半導体モジュール80をネ
ジ止めフランジ51に取り付けることにより、大型半導
体モジュールを構成することができるため、ユーザーの
要求する電力仕様に迅速且つ容易に対応することができ
る。尚、上記実施の形態にて、半導体モジュール80は
電気的に並列接続されているが、直列接続されていても
よく、この場合は、ユーザーの要求する耐圧モジュール
回路仕様に迅速且つ容易に対応することができる。According to the present embodiment, since a large number of semiconductor modules 80 (four in this example) capable of obtaining a desired capacity are attached to the screw flange 51, a large semiconductor module can be constructed. It is possible to quickly and easily meet the power specifications required by the user. Although the semiconductor modules 80 are electrically connected in parallel in the above-described embodiment, they may be connected in series. In this case, the withstand voltage module circuit specifications required by the user can be quickly and easily met. be able to.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の大
型半導体モジュールによれば、金属枠に取り付ける半導
体チップの数を調整することにより、半導体チップの電
力容量を迅速且つ容易に変更でき、ユーザーの各種仕様
に迅速且つ安価に対応することができる。As described in detail above, according to the large-sized semiconductor module of the present invention, the power capacity of the semiconductor chip can be changed quickly and easily by adjusting the number of semiconductor chips mounted on the metal frame. It is possible to quickly and inexpensively respond to various specifications of the user.
【図1】本発明の実施の形態に係る大型半導体モジュー
ルに用いる半導体モジュールの例を示した断面図であ
る。FIG. 1 is a sectional view showing an example of a semiconductor module used for a large-sized semiconductor module according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施の形態に係る大型半導体モジュー
ルに用いる半導体モジュールの他の例を示した断面図で
ある。FIG. 2 is a cross-sectional view showing another example of the semiconductor module used for the large-sized semiconductor module according to the embodiment of the invention.
【図3】本発明の実施の形態に係る大型半導体モジュー
ルを示した断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing a large-sized semiconductor module according to an embodiment of the present invention.
【図4】図3に示した大型半導体モジュールの横断面図
である。4 is a cross-sectional view of the large-sized semiconductor module shown in FIG.
【図5】従来の半導体モジュールの構成例を示した断面
図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a configuration example of a conventional semiconductor module.
31 セラミック基板 32 フランジ 33 銅板 34 半田 35 半導体チップ 36 エミッタ電極部材 37 バネ 38 セラミックハウジング 39 低膨張金属製部材 40 コレクタ導電部材 41 エミッタ導電部材 42、58 コレクタ電極 43、57 エミッタ電極 51 ネジ止めフランジ 52 開口部 53 シーリンクバラバー 54 カバー 55、56 導電材 59 シリコン樹脂 60 ヒートシンク 80 半導体モジュール 31 Ceramic substrate 32 flange 33 Copper plate 34 Solder 35 Semiconductor chips 36 Emitter electrode member 37 spring 38 ceramic housing 39 Low expansion metal member 40 collector conductive member 41 emitter conductive member 42, 58 collector electrode 43,57 Emitter electrode 51 screwed flange 52 opening 53 Sea Link Barabers 54 cover 55, 56 Conductive material 59 Silicone resin 60 heat sink 80 Semiconductor Module
Claims (5)
ールと、 前記半導体モジュールが取り付けられた金属枠の一方の
面を覆うプラスチック製のカバーと、 このカバー内に充填される樹脂とを備えたことを特徴と
する大型半導体モジュール。1. A plate-shaped metal frame having a plurality of openings, a semiconductor module attached to the openings of the metal frame, and a plastic cover that covers one surface of the metal frame to which the semiconductor module is attached. A large semiconductor module comprising a cover and a resin filled in the cover.
ュールの各電極は並列接続又は直列接続されて前記カバ
ーの上面に突設されている電極に接続されることを特徴
とする請求項1記載の大型半導体モジュール。2. The electrodes of the semiconductor module attached to the metal frame are connected in parallel or in series and connected to the electrodes protruding from the upper surface of the cover. Large semiconductor module.
金属枠の前記カバーに覆われている面と反対の面をヒー
トシンクに取り付けることを特徴とする請求項1記載の
大型半導体モジュール。3. The large-sized semiconductor module according to claim 1, wherein a surface of the metal frame to which the semiconductor module is attached, which is opposite to the surface covered with the cover, is attached to the heat sink.
けにて金属板を結合したセラミック製の基板と、 この基板の外周部で前記金属板の外側の表面にロー付け
により気密的に結合した円筒形の金属製フランジと、 この金属製フランジの開口部を気密的に塞ぐセラミック
製の円板状のハウンジング部と、 前記セラミック製の基板表面の金属板に半田付けされた
少なくとも1個以上の半導体チップとを有することを特
徴とする請求項1記載の大型半導体モジュール。4. The semiconductor module comprises a ceramic substrate having a metal plate bonded to the surface by brazing, and a cylinder hermetically bonded to the outer surface of the metal plate by brazing at an outer peripheral portion of the substrate. -Shaped metal flange, a ceramic disk-shaped hounding portion that hermetically closes the opening of the metal flange, and at least one semiconductor soldered to the metal plate on the surface of the ceramic substrate The large-sized semiconductor module according to claim 1, further comprising a chip.
けにて金属板を結合したセラミック製の基板と、 この基板の外周部で前記金属板の表面にロー付けにより
気密的に結合した円筒形の金属製フランジと、 この金属製フランジの開口部を気密的に塞ぐセラミック
製の円板状のハウンジング部と、 前記セラミック製の基板表面の金属板に半田付けされた
少なくとも1個以上の半導体チップとを有することを特
徴とする請求項1記載の大型半導体モジュール。5. The semiconductor module comprises a ceramic substrate having a surface to which a metal plate is joined by brazing, and a cylindrical shape in which an outer peripheral portion of the substrate is airtightly joined to the surface of the metal plate by brazing. A metal flange, a ceramic disk-shaped housing for hermetically closing an opening of the metal flange, and at least one semiconductor chip soldered to the metal plate on the surface of the ceramic substrate. The large-sized semiconductor module according to claim 1, further comprising:
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