JP2003297531A - セラミック温調器およびセラミック温調ユニット - Google Patents

セラミック温調器およびセラミック温調ユニット

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JP2003297531A
JP2003297531A JP2002101611A JP2002101611A JP2003297531A JP 2003297531 A JP2003297531 A JP 2003297531A JP 2002101611 A JP2002101611 A JP 2002101611A JP 2002101611 A JP2002101611 A JP 2002101611A JP 2003297531 A JP2003297531 A JP 2003297531A
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ceramic
external terminal
wiring
ceramic substrate
heating element
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JP2002101611A
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English (en)
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Yasutaka Ito
康隆 伊藤
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 長期間使用した場合でも、外部端子や電源か
らの配線が外れることがなく、回路と配線との接続を確
実に行なうことができ、耐久性に優れるセラミック温調
器、および、回路と配線との接続を確実に行なうことが
できるとともに、腐食性ガス等に晒されても劣化の発生
しにくいセラミック温調ユニットを提供すること。 【解決手段】 セラミック基板の表面または内部に温調
のための回路が形成され、前記回路の端部に外部端子が
接続されたセラミック温調器であって、前記外部端子に
は、ネジ溝が形成され、電源からの配線と前記外部端子
とが電気的に接続されるとともに、前記外部端子が前記
回路の端部に設けられたネジ穴にねじ込まれて固定さ
れ、これにより、前記外部端子を介して前記配線と前記
回路との接続が図られていることを特徴とするセラミッ
ク温調器。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、主に、半導体製
造、検査装置、光分野等において使用されるセラミック
温調器(セラミックヒータ、ホットプレート)およびセ
ラミック温調ユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】エッチング装置や、化学的気相成長装置
等を含む半導体製造、検査装置等においては、従来、ス
テンレス鋼やアルミニウム合金等の金属製基材を用いた
ヒータが使用されていた。
【0003】ところが、このような金属製のヒータは、
以下のような問題があった。まず、金属製であるため、
セラミック基板の厚みは、15mm程度と厚くしなけれ
ばならない。なぜなら、薄い金属板では、加熱に起因す
る熱膨張により、反りや歪みが発生してしまい、金属板
上に載置した半導体ウエハが破損したり傾いたりしてし
まうからである。しかしながら、セラミック基板の厚み
を厚くすると、ヒータの重量が重くなり、また、嵩張っ
てしまうという問題があった。
【0004】さらに、発熱体に印加する電圧や電流量を
変えることにより、加熱温度を制御するのであるが、金
属板が厚いために、電圧や電流量の変化に対してセラミ
ック基板の温度が迅速に追従せず、温度制御しにくいと
いう問題もあった。また、金属製であるため、腐食性ガ
スに対する耐蝕性も悪いという問題を抱えていた。
【0005】これに対し、特開平11−40330号公
報等では、金属製のものに代えて、熱伝導率が高く、強
度も大きい窒化物セラミックや炭化物セラミックを使用
し、これらのセラミックからなるセラミック基板の表面
に、金属粒子を焼結して形成した抵抗発熱体を有するセ
ラミックヒータが開示されている。このようなセラミッ
クヒータでは、抵抗発熱体の端部に半田を用いて外部端
子を接着し、外部端子に配線が接続されたソケット等を
差し込むことにより、電源との接続を行なっていた。
【0006】このようなヒータでは、セラミック基板を
構成するセラミック自体の強度が高いため、加熱の際に
熱膨張しても、セラミック基板に反り、歪み等は発生し
にくく、また、セラミック基板を薄くすることができる
ため、印加電圧や電流量の変化に対する温度追従性も良
好であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成のセラミックヒータでは、加熱・冷却が長期間
にわたって繰り返された際、半田等の接合材の熱膨張・
収縮等に起因して接合材の機械的な強度の低下や、化学
的な劣化が発生し、外部端子が抵抗発熱体より外れて落
下する等の事故が発生しやすいという問題があった。
【0008】また、上述したような外部端子が露出した
セラミックヒータを備えたホットプレートユニットで
は、CF等の腐食性ガスに晒されると、外部端子や半
田等の接合材が腐食されやすく、これに起因して、腐食
性ガス雰囲気下に使用した場合、やはり外部端子が外れ
て落下してしまうという等の問題があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した問題
点に鑑みてなされたものであり、長期間使用した場合で
も、外部端子や電源からの配線が外れることがなく、回
路と配線との接続を確実に行なうことができ、耐久性に
優れるセラミック温調器(セラミックヒータ、ホットプ
レート)、および、回路と配線との接続を確実に行なう
ことができるとともに、腐食性ガス等に晒されても劣化
の発生しにくいセラミック温調ユニット(セラミックヒ
ータユニット、ホットプレートユニット)を提供するこ
とを目的とする。
【0010】すなわち、第一の本発明のセラミック温調
器は、セラミック基板の表面または内部に温調のための
回路が形成され、上記回路の端部に外部端子が接続され
たセラミック温調器であって、上記外部端子には、ネジ
溝が形成され、電源からの配線と上記外部端子とが電気
的に接続されるとともに、上記外部端子が上記回路の端
部に設けられたネジ穴にねじ込まれて固定され、これに
より、上記外部端子を介して上記配線と上記回路との接
続が図られていることを特徴とする。
【0011】第一の本発明のセラミック温調器によれ
ば、電源からの配線と外部端子とが電気的に接続される
とともに、外部端子が回路端部に設けられたネジ穴にね
じ込まれて固定されているので、長期間にわたって配線
と回路との接続を確実に行なうことができる。また、外
部端子は、ネジ穴にねじ込まれることにより、物理的に
固定されているため、長期間使用した場合にも上記外部
端子が外れることはなく、耐久性および信頼性に優れた
セラミック温調器となる。
【0012】また、第一の本発明のセラミック温調ユニ
ットは、上記第一の本発明のセラミック温調器と、配線
類を収納するための接合部材と、上記セラミック温調器
底面の回路および外部端子を含む領域に設置された保護
部材とからなり、上記保護部材の内部に電源からの配線
が収容されるとともに、上記保護部材を介して底面に上
記接合部材が接着され、上記接合部材の内部に電源から
の配線が収納されていることを特徴とする。
【0013】第一の本発明のセラミック温調ユニットに
よれば、このセラミック温調ユニットを構成するセラミ
ック温調器は、上記した第一の本発明のセラミック温調
器よりなるので、長期間使用した場合でも、外部端子や
電源からの配線が外れることがなく、回路と配線との接
続を確実に行うことができる。また、セラミック温調器
の底面には、保護部材が設置され、その内部に配線が収
容されるとともに、接合部材の内部に配線が収納されて
おり、上記保護部材の内部や接合部材の内部は周囲から
隔離されているため、腐食性ガス等に晒された場合であ
っても配線が腐食することはなく、耐久性および信頼性
に優れたセラミック温調ユニットとなる。
【0014】第二の本発明のセラミック温調器は、セラ
ミック基板の表面または内部に温調のための回路が形成
され、上記回路の端部に外部端子が接続されたセラミッ
ク温調器であって、上記外部端子には、ネジ溝が形成さ
れるとともに貫通孔が形成され、上記セラミック基板の
底部には、上記回路と電気的に接触するネジ穴が設けら
れ、電源からの配線が上記外部端子の貫通孔を挿通した
状態で、上記外部端子が上記ネジ穴にねじ込まれて固定
され、これにより、上記外部端子を介して上記配線と上
記回路との接続が図られていることを特徴とする。
【0015】第二の本発明のセラミック温調器によれ
ば、電源からの配線が外部端子の貫通孔を挿通した状態
で、セラミック基板表面または内部の回路と電気的に接
触するネジ穴に外部端子がねじ込まれて固定されている
ので、長期間にわたって配線と回路との接続を確実に行
なうことができる。また、外部端子は、ネジ穴にねじ込
まれることにより、物理的に固定されているため、長期
間使用した場合にも上記外部端子が外れることはなく、
耐久性および信頼性に優れたセラミック温調器となる。
【0016】第二の本発明のセラミック温調ユニット
は、上記第二の本発明のセラミック温調器と、配線類を
収納するための接合部材と、上記セラミック温調器底面
の回路および外部端子を含む領域に設置された保護部材
とからなり、上記保護部材の内部に電源からの配線が収
容されるとともに、上記保護部材を介して底面に接合部
材が接着され、上記接合部材の内部に電源からの配線が
収納されていることを特徴とする。
【0017】第二の本発明のセラミック温調ユニットに
よれば、このセラミック温調ユニットを構成するセラミ
ック温調器は、上記した本発明のセラミック温調器より
なるので、長期間使用した場合でも、外部端子や電源か
らの配線が外れることがなく、回路と配線との接続を確
実に行なうことができる。また、セラミック温調器の底
面には、保護部材が設置され、その内部に配線が収容さ
れるとともに、接合部材の内部に配線が収納されてお
り、上記保護部材の内部や接合部材の内部は、周囲から
隔離されているため、腐食性ガス等に晒された場合であ
っても配線が腐食することはなく、耐久性および信頼性
に優れたセラミック温調ユニットとなる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態について説明す
る。なお、本実施の形態では、一例として、セラミック
温調器はセラミックヒータ、セラミック温調ユニットは
ホットプレートユニットである場合を説明する。
【0019】すなわち、実施の形態に係る第一の本発明
のセラミックヒータは、セラミック基板の表面または内
部に抵抗発熱体からなる回路が形成され、上記回路の端
部に外部端子が接続されたセラミックヒータであって、
上記外部端子には、ネジ溝が形成され、電源からの配線
と上記外部端子とが電気的に接続されるとともに、上記
外部端子が上記回路の端部に設けられたネジ穴にねじ込
まれて固定され、これにより、上記外部端子を介して上
記配線と上記回路との接続が図られていることを特徴と
する。
【0020】また、実施の形態に係る第一の本発明のホ
ットプレートユニットは、上記第一の本発明のセラミッ
クヒータと、配線類を収納するための接合部材と、上記
セラミックヒータ底面の抵抗発熱体および外部端子を含
む領域に設置された保護部材とからなり、上記保護部材
の内部に電源からの配線が収容されるとともに、上記保
護部材を介して底面に上記接合部材が接着され、上記接
合部材の内部に電源からの配線が収納されていることを
特徴とする。
【0021】第一の本発明のセラミックヒータおよび第
一の本発明のホットプレートユニットの実施の形態につ
いて、図面に基づいて説明する。図1は、第一の本発明
のセラミックヒータの一例を模式的に示す底面図であ
り、図2は、図1に示すセラミックヒータの部分拡大断
面図である。また、図3は、上記セラミックヒータが支
持容器に設置された第一の本発明のホットプレートユニ
ットの一例を模式的に示した断面図である。
【0022】まず、セラミックヒータについて説明す
る。図1に示すように、セラミック基板11は、円板状
に形成されており、このセラミック基板11の底面11
bには、同心円形状からなる複数の抵抗発熱体12が形
成されている。これら抵抗発熱体12は、互いに近い二
重の同心円同士が一組の回路として、一本の線になるよ
うに形成され、これらの回路を組み合わせて、加熱面1
1aでの温度が均一になるように設計されている。
【0023】また、図示はしないが、抵抗発熱体12に
は、酸化等を防止するために、必要により金属被覆層が
形成され、その回路の両端部分には、抵抗発熱体12を
貫通するとともに、セラミック基板11の一部を削り取
ることにより、ネジ穴16が設けられており、ネジ溝1
3aおよび貫通孔13bを有する外部端子13の貫通孔
13bに配線17が挿通された状態で、このネジ穴16
に外部端子13がねじ込まれ、円環状の拡径部を有する
下部は抵抗発熱体12としっかり接触している。また、
配線17も外部端子13の上端面によりセラミック基板
11に押しつけられて外部端子13としっかり接触して
おり、図示しない他端は電源と接続され、これにより、
抵抗発熱体12と電源との接続が図られている。
【0024】また、セラミック基板11の底面11bに
は、測温素子を挿入するための有底孔14が形成され、
この有底孔14の内部に、熱電対等の測温素子18が埋
設されるようになっている。また、中央に近い部分に
は、棒状のリフターピン8を挿通するための貫通孔15
が3個設けられている(図3参照)。
【0025】リフターピン8は、その上にシリコンウエ
ハ9を載置して上下させることができるようになってお
り、これにより、シリコンウエハ9を図示しない搬送機
に渡したり、搬送機からシリコンウエハ9を受け取った
りすることができるとともに、シリコンウエハ9をセラ
ミック基板11の加熱面11aに載置して加熱したり、
シリコンウエハ9を加熱面11aから50〜2000μ
m離間させた状態で支持し、加熱することができるよう
になっている。
【0026】また、セラミック基板11に貫通孔や凹部
を設け、この貫通孔または凹部に先端が尖塔状または半
球状の支持ピンを挿入した後、支持ピンをセラミック基
板11よりわずかに突出させた状態で固定し、この支持
ピンでシリコンウエハ9を支持することにより、加熱面
11aから50〜2000μm離間させた状態で加熱し
てもよい。
【0027】このセラミックヒータ10では、上記のよ
うに電源からの配線17が外部端子13の貫通孔13b
を挿通した状態で、外部端子13が回路の端部に設けら
れたネジ穴16にねじ込まれて固定され、これにより、
外部端子13を介して配線17と抵抗発熱体12との接
続が図られている。従って、長期間にわたって配線17
と抵抗発熱体12との接続を確実に行なうことができ、
また、外部端子13は、ネジ穴16にねじ込まれること
により、物理的に固定されているため、長期間使用した
場合にも外部端子13が外れることはなく、耐久性およ
び信頼性に優れたセラミックヒータとなる。
【0028】次に、このようなセラミックヒータが支持
容器に設置された第一の本発明のホットプレートユニッ
トについて説明する。なお、第一の本発明のホットプレ
ートユニットにおいては、必ずしも、支持容器が設置さ
れていなくてもよい。
【0029】このホットプレートユニット100では、
図1、2に示した構成のセラミックヒータ10が支持容
器20に断熱リング24を介して嵌め込まれており、セ
ラミック基板11の貫通孔15が形成された部分の下に
は、貫通孔15に連通するガイド管28が設けられ、こ
の貫通孔15にリフターピン8が挿通され、シリコンウ
エハ9をセラミック基板11の表面から離間させた状態
で支持することができるようになっている。
【0030】セラミックヒータ10を構成するセラミッ
ク基板11の底部には、抵抗発熱体12が形成されると
ともに、有底孔14が形成され、この有底孔14には、
リード線18aが接続された測温素子18が埋め込まれ
ており、リード線18aの周囲には、保護管140が設
けられている。
【0031】また、上述したように、抵抗発熱体12か
らなる回路の端部に設けられたネジ穴16には、外部端
子13がねじ込まれ、配線17が導出されているが、こ
の抵抗発熱体12および外部端子13を含む領域に保護
部材19が設置されている。この保護部材19には、抵
抗発熱体12や外部端子13を収容するための凹部19
aが形成されるとともに、貫通孔19bが形成され、こ
の貫通孔19bに配線17が挿通されている。また、保
護部材19は、無機系または有機系の接着剤または半田
等によりセラミック基板11の底面に接着されるか、ま
たは、底面に密着して形成されており、その内部は、外
部雰囲気から隔離されている。
【0032】なお、抵抗発熱体12、外部端子13を収
容するために設けられた凹部19aは、余裕を持って収
納することができるように、図3に示すように、抵抗発
熱体12や外部端子13より大きいものであってもよ
く、抵抗発熱体12や外部端子13をぴったりと納める
ことができるように、抵抗発熱体12や外部端子13の
大きさと略同じ大きさであってもよい。
【0033】配線17を挿通するための貫通孔は、配線
17を後述する接合部材29の内部に収納するために、
図3に示すように、配線17がセラミック基板11の中
心部付近に集中するように中心部分に向け、屈曲して形
成されていてもよい。また、外部端子13がセラミック
基板11の中央部付近に取り付けられている場合には、
セラミック基板11の主面と垂直な方向に直線的に形成
されていてもよい。
【0034】保護部材19の材料は、特に限定されず、
例えば、樹脂、金属、セラミック等が挙げられるが、こ
れらのなかでも、フッ化物ガス等の腐食性ガスに対する
耐久性を有するものが好ましい。また、保護部材19
は、底面11bに液状の樹脂を塗布した後、硬化させる
ことにより形成してもよい。
【0035】図3では、ガイド管28や保護管140が
設けられた部分を除く底面11bのほぼ全体に、保護部
材19が設置されている。これは、セラミック基板11
の外周部分の近傍に外部端子13を配設する必要がある
場合には、外部端子13や配線17を腐食性ガス等から
確実に保護するため、底面11bのほぼ全体に、保護部
材19を設置する必要があるからである。なお、中央部
付近のみに外部端子13が存在する場合には、底面31
bの中央部付近に保護部材19が設置されていてもよ
い。
【0036】保護部材19には、円筒形状の接合部材2
9が接合されており、保護部材19から引き出された配
線17は、接合部材29の内部に収納され、ホットプレ
ートユニット100の外に導出されている。また、接合
部材29は、保護部材19に密着するように接着剤や半
田等を介して配設されているため、接合部材29の内側
と外側とは完全に隔離されている。
【0037】さらに、接合部材29の内部に不活性ガス
等をゆっくり流し込んで、反応性ガスやハロゲンガス等
が接合部材29の内部に流れ込まないようにすることに
より、一層確実に配線17等の腐食を防止することがで
きる。
【0038】接合部材29は、セラミック基板11をし
っかりと支持する働きも有しているので、セラミック基
板11が高温に加熱された際にも、自重により反るのを
防止することができ、その結果、シリコンウエハ9等の
被処理物の破損を防止するとともに、該被処理物を均一
な温度になるように加熱することもできる。
【0039】さらに、ホットプレートユニット100で
は、セラミックヒータ10が、断面視L字形状の断熱リ
ング24を介して略円筒形状の支持容器20に嵌め込ま
れ、固定されている。この支持容器20は、略円筒形状
の外枠部21と、外枠部21内側下部の底板受け部21
cに固定された円板状の底板22と、外枠部21内側中
段部の中底板受け部21bに固定された中底板23とか
ら構成されている。また、外枠部21内側上部には、断
熱リング24を支持するための円環形状の断熱リング受
け部21aが設けられている。セラミックヒータ10
は、断熱リング24を挿通するとともに、断熱リング受
け部21aにねじ込まれたボルト25を介し、固定金具
26で固定されている。すなわち、ボルト25には、固
定金具26が取り付けられ、セラミックヒータ10は固
定金具26で押しつけられることにより固定されてい
る。
【0040】底板22には、冷媒導入管27が取り付け
てられており、支持容器20の内部に強制冷却用の冷媒
等を導入することができるようになっており、また、導
入した強制冷却用の冷媒等を排出するための貫通孔22
aも形成されている。従って、ホットプレートユニット
100に通電して、加熱し、シリコンウエハ9を所定温
度まで昇温させた後、冷媒導入管27から冷媒を吹き込
むことにより、セラミック基板11を冷却することがで
きる。
【0041】中底板23には、底板22に固定されてい
る冷媒導入管27、リフターピン8を保護するガイド管
28等の邪魔にならないように貫通孔が形成されてい
る。
【0042】第一の本発明のホットプレートユニット1
00は、本発明のセラミックヒータ10を有するため、
長期間使用した場合でも、外部端子13や電源からの配
線が外れることがなく、抵抗発熱体12と配線17との
接続を確実に行うことができる。
【0043】また、セラミックヒータ10の底面には、
保護部材19が設置され、その内部に配線17が収容さ
れるとともに、接合部材29の内部に配線17が収納さ
れているため、腐食性ガス等に晒された場合であっても
外部端子13や配線17が腐食することはなく、耐久性
および信頼性に優れる。
【0044】次に、第一の本発明のセラミックヒータの
材質や形状等について、さらに詳しく説明する。
【0045】第一の本発明のセラミックヒータにおい
て、上記外部端子の形状は、ネジ溝を有するものであれ
ば、特に限定されないが、図3に示すような断面視T字
形状で軸部分に貫通孔を有する形状であることが望まし
い。上記外部端子をセラミック基板に固定できるととも
に、外部端子と抵抗発熱体との接続を確実に行うことが
できるからである。
【0046】さらに、上記外部端子の材質についても、
良電性の材質であれば特に限定されず、例えば、ニッケ
ル、コバール等の金属が挙げられる。
【0047】第一の本発明のセラミックヒータにおけ
る、セラミック基板の直径は、200mm以上が望まし
い。大きな直径を持つセラミックヒータほど、加熱時に
半導体ウエハの温度が不均一化しやすいため、本発明の
構成が有効に機能するからである。また、このような大
きな直径を持つ基板は、大口径の半導体ウエハを載置す
ることができるからである。セラミック基板の直径は、
特に12インチ(300mm)以上であることが望まし
い。次世代の半導体ウエハの主流となるからである。
【0048】また、第一の本発明のセラミックヒータの
セラミック基板の厚さは、25mm以下であることが望
ましい。上記セラミック基板の厚さが25mmを超える
と温度追従性が低下するからである。また、その厚さ
は、0.5mm以上であることが望ましい。0.5mm
より薄いと、セラミック基板の強度自体が低下するため
破損しやすくなる。より望ましくは、1.5を超え5m
m以下である。5mmより厚くなると、熱が伝搬しにく
くなり、加熱の効率が低下する傾向が生じ、一方、1.
5mm以下であると、セラミック基板中を伝搬する熱が
充分に拡散しないため加熱面に温度ばらつきが発生する
ことがあり、また、セラミック基板の強度が低下して破
損する場合があるからである。
【0049】第一の本発明のセラミックヒータ10にお
いて、セラミック基板11には、被加熱物を載置する加
熱面11aの反対側から加熱面11aに向けて有底孔1
4を設けるとともに、有底孔14の底を抵抗発熱体12
よりも相対的に加熱面11aに近く形成し、この有底孔
14に熱電対等の測温素子(図示せず)を設けることが
望ましい。
【0050】また、有底孔14の底と加熱面11aとの
距離は、0.1mm〜セラミック基板の厚さの1/2で
あることが望ましい。これにより、測温場所が抵抗発熱
体12よりも加熱面11aに近くなり、より正確な半導
体ウエハの温度の測定が可能となるからである。
【0051】有底孔14の底と加熱面11aとの距離が
0.1mm未満では、放熱してしまい、加熱面11aに
温度分布が形成され、厚さの1/2を超えると、抵抗発
熱体の温度の影響を受けやすくなり、温度制御できなく
なり、やはり加熱面11aに温度分布が形成されてしま
うからである。
【0052】有底孔14の直径は、0.3mm〜5mm
であることが望ましい。これは、大きすぎると放熱性が
大きくなり、また小さすぎると加工性が低下して加熱面
11aとの距離を均等にすることができなくなるからで
ある。
【0053】有底孔14は、図1に示したように、セラ
ミック基板11の中心に対して対称で、かつ、十字を形
成するように複数配列することが望ましい。これは、加
熱面全体の温度を測定することができるからである。
【0054】上記測温素子としては、例えば、熱電対、
白金測温抵抗体、サーミスタ等が挙げられる。また、上
記熱電対としては、例えば、JIS−C−1602(1
980)に挙げられるように、K型、R型、B型、S
型、E型、J型、T型熱電対等が挙げられるが、これら
のなかでは、K型熱電対が好ましい。
【0055】上記熱電対の接合部の大きさは、素線の径
と同じが、または、それよりも大きく、0.5mm以下
であることが望ましい。これは、接合部が大きい場合
は、熱容量が大きくなって応答性が低下してしまうから
である。なお、素線の径より小さくすることは困難であ
る。
【0056】上記測温素子は、金ろう、銀ろうなどを使
用して、有底孔14の底に接着してもよく、有底孔14
に挿入した後、耐熱性樹脂で封止してもよく、両者を併
用してもよい。上記耐熱性樹脂としては、例えば、熱硬
化性樹脂、特にはエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビス
マレイミド−トリアジン樹脂などが挙げられる。これら
の樹脂は、単独で用いてもよく、2種以上を併用しても
よい。
【0057】上記金ろうとしては、37〜80.5重量
%Au−63〜19.5重量%Cu合金、81.5〜8
2.5重量%:Au−18.5〜17.5重量%:Ni
合金から選ばれる少なくとも1種が望ましい。これら
は、溶融温度が、900℃以上であり、高温領域でも溶
融しにくいためである。銀ろうとしては、例えば、Ag
−Cu系のものを使用することができる。
【0058】第一の本発明のセラミックヒータを形成す
るセラミックは、窒化物セラミック、炭化物セラミック
または酸化物セラミックであることが望ましい。窒化物
セラミック、炭化物セラミックおよび酸化物セラミック
は、熱膨張係数が金属よりも小さく、機械的な強度が金
属に比べて格段に高いため、セラミック基板の厚さを薄
くしても、加熱により反ったり、歪んだりしない。その
ため、セラミック基板を薄くて軽いものとすることがで
きる。さらに、セラミック基板の熱伝導率が高く、セラ
ミック基板自体が薄いため、セラミック基板の表面温度
が、抵抗発熱体の温度変化に迅速に追従する。即ち、電
圧、電流値を変えて抵抗発熱体の温度を変化させること
により、セラミック基板の表面温度を制御することがで
きるのである。
【0059】上記窒化物セラミックとしては、例えば、
窒化アルミニウム、窒化ケイ素、窒化ホウ素、窒化チタ
ン等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2
種以上を併用してもよい。
【0060】また、炭化物セラミックとしては、例え
ば、炭化ケイ素、炭化ジルコニウム、炭化チタン、炭化
タンタル、炭化タングステン等が挙げられる。これら
は、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
【0061】さらに、酸化物セラミックとしては、金属
酸化物セラミック、例えば、アルミナ、ジルコニア、コ
ージュライト、ムライト等が挙げられる。これらのセラ
ミックは単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよ
い。
【0062】これらのなかでは、窒化アルミニウムが最
も好ましい。熱伝導率が180W/m・Kと最も高く、
温度追従性に優れるからである。
【0063】なお、第一の本発明のセラミックヒータに
おいて、セラミック基板として窒化物セラミック、炭化
物セラミックまたは酸化物セラミック等を使用する際、
必要により、絶縁層を形成してもよい。窒化物セラミッ
クは酸素固溶等により、高温で体積抵抗値が低下しやす
く、また炭化物セラミックは特に高純度化しない限り導
電性を有しており、絶縁層を形成することにより、高温
時あるいは不純物を含有していても回路間の短絡を防止
して温度制御性を確保できるからである。
【0064】上記絶縁層としては、酸化物セラミックが
望ましく、具体的には、シリカ、アルミナ、ムライト、
コージェライト、ベリリア等を使用することができる。
このような絶縁層としては、アルコキシドを加水分解重
合させたゾル溶液をセラミック基板にスピンコートして
乾燥、焼成を行ったり、スパッタリング、CVD等で形
成してもよい。また、セラミック基板表面を酸化処理し
て酸化物層を設けてもよい。
【0065】上記絶縁層は、0.1〜1000μmであ
ることが望ましい。0.1μm未満では、絶縁性を確保
できず、1000μmを超えると抵抗発熱体からセラミ
ック基板への熱伝導性を阻害してしまうからである。さ
らに、上記絶縁層の体積抵抗率は、上記セラミック基板
の体積抵抗率の10倍以上(同一測定温度)であること
が望ましい。10倍未満では、回路の短絡を防止できな
いからである。
【0066】また、第一の本発明のセラミック基板は、
カーボンを含有し、その含有量は、200〜5000p
pmであることが望ましい。電極を隠蔽することがで
き、また黒体輻射を利用しやすくなるからである。
【0067】なお、上記セラミック基板は、明度がJI
S Z 8721の規定に基づく値でN6以下のもので
あることが望ましい。この程度の明度を有するものが輻
射熱量、隠蔽性に優れるからである。ここで、明度のN
は、理想的な黒の明度を0とし、理想的な白の明度を1
0とし、これらの黒の明度と白の明度との間で、その色
の明るさの知覚が等歩度となるように各色を10分割
し、N0〜N10の記号で表示したものである。そし
て、実際の測定は、N0〜N10に対応する色票と比較
して行う。この場合の小数点1位は0または5とする。
【0068】また、セラミック基板の表面に抵抗発熱体
を設ける場合は、加熱面は抵抗発熱体形成面の反対側で
あることが望ましい。セラミック基板が熱拡散の役割を
果たすため、加熱面の温度均一性を向上させることがで
きるからである。
【0069】第一の本発明のセラミックヒータにおいて
は、金属粒子を含む導体ペーストをセラミック基板の表
面に塗布して所定パターンの導体ペースト層を形成した
後、これを焼き付け、セラミック基板の表面で金属粒子
を焼結させる方法が好ましい。なお、金属の焼結は、金
属粒子同士および金属粒子とセラミックとが融着してい
れば充分である。
【0070】セラミック基板の表面に抵抗発熱体を形成
する場合、抵抗発熱体の厚さは、1〜30μmが好まし
く、1〜10μmがより好ましい。さらに、抵抗発熱体
の幅は、0.1〜20mmが好ましく、0.1〜5mm
がより好ましい。抵抗発熱体は、その幅や厚さにより抵
抗値に変化を持たせることができるが、上記した範囲が
最も実用的である。抵抗値は、薄く、また、細くなる程
大きくなる。
【0071】抵抗発熱体の形成位置をこのように設定す
ることにより、抵抗発熱体から発生した熱が伝搬してい
くうちに、セラミック基板全体に拡散し、被加熱物(半
導体ウエハ)を加熱する面の温度分布が均一化され、そ
の結果、被加熱物の各部分における温度が均一化され
る。
【0072】また、第一の本発明のセラミックヒータに
おける抵抗発熱体のパターンとしては、図1に示したパ
ターンに限らず、例えば、渦巻き状のパターン、偏心円
状のパターン、屈曲線の繰り返しパターン等も用いるこ
とができる。また、これらは併用してもよい。また、最
外周に形成された抵抗発熱体パターンを、円周方向に分
割されたパターンとすることで、温度が低下しやすいセ
ラミックヒータの最外周で細かい温度制御を行うことが
可能となり、セラミックヒータの温度のばらつきを抑え
ることが可能である。さらに、円周方向に分割された抵
抗発熱体のパターンは、セラミック基板の最外周に限ら
ず、その内部にも形成してもよい。
【0073】抵抗発熱体は、断面が矩形であっても楕円
であってもよいが、偏平であることが望ましい。偏平の
方が加熱面に向かって放熱しやすいため、加熱面の温度
分布ができにくいからである。断面のアスペクト比(抵
抗発熱体の幅/抵抗発熱体の厚さ)は、10〜5000
であることが望ましい。この範囲に調整することによ
り、抵抗発熱体の抵抗値を大きくすることができるとと
もに、加熱面の温度の均一性を確保することができるか
らである。
【0074】抵抗発熱体の厚さを一定とした場合、アス
ペクト比が上記範囲より小さいと、セラミック基板の加
熱面方向への熱の伝搬量が小さくなり、抵抗発熱体のパ
ターンに近似した熱分布が加熱面に発生してしまい、逆
にアスペクト比が大きすぎると抵抗発熱体の中央の直上
部分が高温となってしまい、結局、抵抗発熱体のパター
ンに近似した熱分布が加熱面に発生してしまう。従っ
て、温度分布を考慮すると、断面のアスペクト比は、1
0〜5000であることが好ましいのである。第一の本
発明のセラミックヒータにおいては、アスペクト比を1
0〜200とすることが望ましい。
【0075】また、抵抗発熱体を形成する際に用いる、
導体ペーストとしては特に限定されないが、導電性を確
保するための金属粒子または導電性セラミックが含有さ
れているほか、樹脂、溶剤、増粘剤などを含むものが好
ましい。
【0076】上記金属粒子としては、例えば、貴金属
(金、銀、白金、パラジウム)、鉛、タングステン、モ
リブデン、ニッケルなどが好ましく、中でも、貴金属
(金、銀、白金、パラジウム)がより好ましい。また、
これらは、単独で用いてもよいが、2種以上を併用する
ことが望ましい。これらの金属は、比較的酸化しにく
く、発熱するに充分な抵抗値を有するからである。上記
導電性セラミックとしては、例えば、タングステン、モ
リブデンの炭化物などが挙げられる。これらは、単独で
用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
【0077】これら金属粒子または導電性セラミック粒
子の粒径は、0.1〜100μmが好ましい。0.1μ
m未満と微細すぎると、酸化されやすく、一方、100
μmを超えると、焼結しにくくなり、抵抗値が大きくな
るからである。
【0078】上記金属粒子の形状は、球状であっても、
リン片状であってもよい。これらの金属粒子を用いる場
合、上記球状物と上記リン片状物との混合物であってよ
い。上記金属粒子がリン片状物、または、球状物とリン
片状物との混合物の場合は、金属粒子間の金属酸化物を
保持しやすくなり、抵抗発熱体と窒化物セラミック等と
の密着性を確実にし、かつ、抵抗値を大きくすることが
できるため有利である。
【0079】導体ペーストに使用される樹脂としては、
例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂などが挙げられ
る。また、溶剤としては、例えば、イソプロピルアルコ
ールなどが挙げられる。増粘剤としては、セルロースな
どが挙げられる。
【0080】導体ペーストには、上記したように、金属
粒子に金属酸化物を添加し、抵抗発熱体を金属粒子およ
び金属酸化物を焼結させたものとすることが望ましい。
このように、金属酸化物を金属粒子とともに焼結させる
ことにより、セラミック基板である窒化物セラミックま
たは炭化物セラミックと金属粒子とを密着させることが
できる。
【0081】金属酸化物を混合することにより、窒化物
セラミックまたは炭化物セラミックと密着性が改善され
る理由は明確ではないが、金属粒子表面や窒化物セラミ
ック、炭化物セラミックの表面は、わずかに酸化されて
酸化膜が形成されており、この酸化膜同士が金属酸化物
を介して焼結して一体化し、金属粒子と窒化物セラミッ
クまたは炭化物セラミックとが密着するのではないかと
考えられる。
【0082】上記金属酸化物としては、例えば、酸化
鉛、酸化亜鉛、シリカ、酸化ホウ素(B )、アル
ミナ、イットリアおよびチタニアからなる群から選ばれ
る少なくとも1種が好ましい。
【0083】これらの酸化物は、抵抗発熱体の抵抗値を
大きくすることなく、金属粒子と窒化物セラミックまた
は炭化物セラミックとの密着性を改善することができる
からである。
【0084】上記酸化鉛、酸化亜鉛、シリカ、酸化ホウ
素(B)、アルミナ、イットリア、チタニアの割
合は、金属酸化物の全量を100重量部とした場合、重
量比で、酸化鉛が1〜10、シリカが1〜30、酸化ホ
ウ素が5〜50、酸化亜鉛が20〜70、アルミナが1
〜10、イットリアが1〜50、チタニアが1〜50で
あって、その合計が100重量部を超えない範囲で調整
されていることが望ましい。これらの範囲で、これらの
酸化物の量を調整することにより、特に窒化物セラミッ
クとの密着性を改善することができる。上記金属酸化物
の金属粒子に対する添加量は、0.1重量%以上10重
量%未満が好ましい。
【0085】また、抵抗発熱体として金属箔や金属線を
使用することもできる。上記金属箔としては、ニッケル
箔、ステンレス箔をエッチング等でパターン形成して抵
抗発熱体としたものが望ましい。パターン化した金属箔
は、樹脂フィルム等ではり合わせてもよい。金属線とし
ては、例えば、タングステン線、モリブデン線等が挙げ
られる。
【0086】また、抵抗発熱体を形成した際の面積抵抗
率は、0.1mΩ〜10Ω/□が好ましい。面積抵抗率
が0.1mΩ/□未満の場合、発熱量を確保するため
に、抵抗発熱体パターンの幅を0.1〜1mm程度と非
常に細くしなければならず、このため、パターンのわず
かな欠け等で断線したり、抵抗値が変動し、また、面積
抵抗率が10Ω/□を超えると、抵抗発熱体パターンの
幅を大きくしなければ、発熱量を確保できず、その結
果、パターン設計の自由度が低下し、加熱面の温度を均
一にすることが困難となるからである。
【0087】セラミック基板の表面に抵抗発熱体を形成
する場合は、抵抗発熱体の表面部分に、金属被覆層が設
置されていることが望ましい。内部の金属焼結体が酸化
されて抵抗値が変化するのを防止するためである。形成
する金属被覆層の厚さは、0.1〜10μmが好まし
い。
【0088】金属被覆層を形成する際に使用される金属
は、非酸化性の金属であれば特に限定されないが、具体
的には、例えば、金、銀、パラジウム、白金、ニッケル
などが挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2
種以上を併用してもよい。これらのなかでは、ニッケル
が好ましい。
【0089】次に、第一の本発明を構成するホットプレ
ートユニットの材質や形状等について説明することとす
る。
【0090】第一の本発明のホットプレートユニットを
構成する保護部材は、セラミック、金属、耐熱性樹脂等
からなることが望ましい。上記セラミックとしては、例
えば、上記セラミック基板と同様に、窒化物セラミッ
ク、炭化物セラミック、酸化物セラミック等が挙げら
れ、上記耐熱性樹脂としては、熱硬化性樹脂、熱可塑性
樹脂を使用することができる。上記熱硬化性樹脂として
は、例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレ
イミドートリアジン樹脂、フェノール樹脂から選ばれる
少なくとも1種を使用することができる。また、熱可塑
性樹脂としては、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフ
ォン、ポリエーテーエーテルケトン、ポリスルフィド、
フッ素樹脂から選ばれる少なくとも1種を利用すること
ができる。これらのなかで、フッ化物ガス等の腐食性ガ
スに対して耐久性を有する耐食性のものが好ましい。
【0091】また、上記保護部材は、抵抗発熱体、外部
端子、配線等を保護できる形状であれば特に限定されな
いが、上記セラミック基板と同様に、平面視が円形であ
ることが好ましい。セラミック基板と同様の形状とする
ことにより、セラミック基板の加熱面に温度のばらつき
が発生するおそれ少なくすることができるからである。
さらに、上記保護部材の厚さは、0.5〜10mmが望
ましい。0.5mm未満では、保護部材が薄すぎるた
め、抵抗発熱体、外部端子、配線等を充分に保護するこ
とができず、10mmを超えると、熱容量が大きくな
り、昇温速度が低下するおそれがあるからである。
【0092】また、第一の本発明のホットプレートユニ
ットを構成する接合部材は、セラミック、耐熱性樹脂等
からなることが望ましい。上記セラミックおよび上記耐
熱性樹脂としては、例えば、上記したセラミック基板と
同様のものを用いることができる。
【0093】上記接合部材の形状は、柱状、特に円筒が
望ましく、その内径は、20mm以上であることが望ま
しい。20mm未満であると、セラミック基板をしっか
りと固定とすることが困難となり、セラミック基板が高
温に加熱された際、セラミック基板が自重によって反っ
てしまうおそれがあるからである。
【0094】また、上記接合部材の厚さは、1〜10m
mであることが望ましい。1mm未満では、接合部材の
厚さが薄すぎるため、機械的強度が乏しくなり、昇温と
降温を繰り返すことによって、上記接合部材が破損して
しまうおそれがあり、10mmを超えると、厚すぎるた
め、熱容量が大きくなり、昇温速度が低下するおそれが
あるからである。
【0095】上記支持容器は、外枠部と底板とが、一体
化されていてもよく、底板が外枠部に連結固定されてい
てもよいが、外枠部と底板とが、一体的に形成されてい
ることが望ましい。支持容器全体の強度を確保すること
ができるからである。また、上記支持容器には、中底板
が設置されていてもよい。
【0096】上記外枠部は、円筒形状であることが望ま
しく、上記底板は、円板形状であることが望ましい。ま
た、上記外枠部および上記底板の厚みは、0.1〜5m
mであることが望ましい。0.1mm未満では、強度に
乏しく、5mmを超えると熱容量が大きくなるからであ
る。
【0097】上記外枠部および上記底板は、加工等が容
易で機械的特性に優れるとともに、支持容器全体の強度
を確保できるように、SUS、アルミニウム、インコネ
ル(クロム16%、鉄7%を含むニッケル系の合金)等
の金属により構成されることが望ましい。なお、上記外
枠部と上記底板とが、一体化されていない場合、上記底
板には、遮熱性に優れるように、例えば、耐熱性樹脂、
セラミック板、これらに耐熱性の有機繊維や無機繊維が
配合された複合板等、余り熱伝導率が大きくなく、か
つ、耐熱性に優れたものを用いることも可能である。
【0098】また、上記底板には、冷媒導入管が取り付
けてあることが望ましい。支持容器の内部に効率よく、
セラミックヒータを冷却するための強制冷却用の冷媒等
を導入することができるからである。さらに、上記底板
には、導入した強制冷却用の冷媒等を排出するための貫
通孔が形成されていることが望ましい。
【0099】上記中底板は、配線等の固定や遮熱等を目
的として設けられるものであるが、本発明のホットプレ
ートユニットにおいて、支持容器に中底板は設けられて
いてもよく、設けられていなくてもよい。また、上記中
底板には、底板に固定されている冷媒導入管、貫通孔等
が形成されていることが望ましい。また、上記断熱リン
グの材質としては、樹脂製が好ましく、例えば、フッ素
樹脂等が挙げられる。
【0100】このように、セラミックヒータ10の底面
11bには保護部材19が設置され、その内部に外部端
子13や配線17が収容されるとともに、接合部材29
の内部に配線17が収納され、外部端子13等が外部か
ら隔離されているため、腐食性ガス等に晒された場合で
あっても外部端子13や配線17が腐食することはな
く、耐久性および信頼性に優れたホットプレートユニッ
ト100となる。
【0101】次に、実施の形態に係る第二の本発明のセ
ラミックヒータおよび第二の本発明のホットプレートユ
ニットの実施の形態について、図面に基づいて説明す
る。実施の形態に係る第二の本発明のセラミックヒータ
は、セラミック基板の表面または内部に抵抗発熱体から
なる回路が形成され、上記回路の端部に外部端子が接続
されたセラミックヒータであって、上記外部端子には、
ネジ溝が形成されるとともに貫通孔が形成され、上記セ
ラミック基板の底部には、上記回路と電気的に接触する
ネジ穴が設けられ、電源からの配線が上記外部端子の貫
通孔を挿通した状態で、上記外部端子が上記ネジ穴にね
じ込まれて固定され、これにより、上記外部端子を介し
て上記配線と上記回路との接続が図られていることを特
徴とする。
【0102】実施の形態に係る第二の本発明のホットプ
レートユニットは、上記第二の本発明のセラミックヒー
タと、配線類を収納するための接合部材と、上記セラミ
ックヒータ底面の抵抗発熱体および外部端子を含む領域
に設置された保護部材とからなり、上記保護部材の内部
に電源からの配線が収容されるとともに、上記保護部材
を介して底面に接合部材が接着され、上記接合部材の内
部に電源からの配線が収納されていることを特徴とす
る。
【0103】図4は、第二の本発明のセラミックヒータ
の一例を模式的に示す底面図であり、図5(a)は、図
4に示すセラミックヒータの部分拡大断面図である。ま
た、図5(b)は、本発明のセラミックヒータの別の一
例を模式的に示す部分拡大断面図である。
【0104】図4に示すように、円板状のセラミック基
板31の内部には、複数の回路からなる抵抗発熱体32
が埋設されており、抵抗発熱体32は、セラミック基板
31の最外周に、円周方向に分割された屈曲線の繰り返
しパターンからなる抵抗発熱体32a〜32hが形成さ
れ、その内周に、同様の屈曲線の繰り返しパターンから
なる抵抗発熱体32i〜32lが形成されている。さら
に、その内周に、同心円形状からなる抵抗発熱体32m
〜32pが形成されている。
【0105】また、セラミック基板31の内部に形成さ
れた抵抗発熱体32の端部の直下には、スルーホール4
0が配設されるとともに、スルーホール40には、その
底部にネジ穴36が形成されており、ネジ溝33aおよ
び貫通孔33bを有する外部端子33の貫通孔33bに
配線17が挿通された状態で、このネジ穴36に外部端
子33がねじ込まれている。この配線17は電源と接続
されているため、これにより、スルーホール40を介し
て、抵抗発熱体32と電源との接続が図られるようにな
っている。
【0106】また、セラミック基板31の底面31bに
は、測温素子を挿入するための有底孔34が形成されて
おり、この有底孔34の内部に、熱電対等の測温素子
(図示せず)が埋設されるようになっている。また、中
央に近い部分には、棒状のリフターピンを挿通するため
の貫通孔35が設けられている。
【0107】このセラミックヒータ30では、上記のよ
うに電源からの配線17が外部端子33の貫通孔33b
を挿通した状態で、外部端子33が回路の端部の直下に
設けられたスルーホール40のネジ穴36にねじ込まれ
て固定され、これにより、外部端子33およびスルーホ
ール40を介して配線17と抵抗発熱体32との接続が
図られている。従って、長期間にわたって配線17と抵
抗発熱体32との接続を確実に行なうことができ、ま
た、外部端子33は、ネジ穴36にねじ込まれることに
より、物理的に固定されているため、長期間使用した場
合にも外部端子33が外れることはなく、耐久性および
信頼性に優れたセラミックヒータとなる。
【0108】図5(b)は、本発明のセラミックヒータ
の別の一例を模式的に示す部分拡大断面図である。この
セラミックヒータでは、セラミック基板41の底面に、
セラミック基板41の内部に形成された抵抗発熱体42
を貫通するネジ穴46が形成されている。また、外部端
子43には、ネジ溝43aおよび貫通孔43bが設けら
れており、貫通孔43bに配線47が挿通された状態
で、ネジ穴46に外部端子43がねじ込まれている。配
線47は電源と接続されているため、これにより、抵抗
発熱体42と電源との接続が図られるようになってい
る。従って、長期間にわたって配線47と抵抗発熱体4
2との接続を確実に行なうことができ、また、外部端子
43は、ネジ穴46にねじ込まれることにより、物理的
に固定されているため、長期間使用した場合にも外部端
子43が外れることはなく、耐久性および信頼性に優れ
たセラミックヒータとなる。
【0109】図6は、セラミックヒータが支持容器に設
置された第二の本発明のホットプレートユニットを模式
的に示した断面図である。なお、第二の本発明のホット
プレートユニットにおいては、必ずしも、支持容器が設
置されていなくてもよい。このホットプレートユニット
200では、図4、5(a)に示した構成のセラミック
ヒータ30が支持容器20に断熱リング24を介して嵌
め込まれている。
【0110】また、上述したように、抵抗発熱体32か
らなる回路の端部に設けられたスルーホール40のネジ
穴36には、外部端子33がねじ込まれ、配線17が導
出されているが、この抵抗発熱体32および外部端子3
3を含む領域には、保護部材39が設置され、保護部材
39の内部には、配線17が収容されている。保護部材
39には、外部端子33を収納するため凹部39aが形
成されており、さらに、配線17を挿通させるための貫
通孔39bが形成されている。また、保護部材39は、
無機系または有機系の接着剤または半田等によりセラミ
ック基板31の底面に接着されているか、または、表面
に密着して形成されており、その内部は、外部の雰囲気
から隔離されている。
【0111】なお、外部端子33を収容するために設け
られた凹部39aは、余裕を持って収納することができ
るように、図6に示すように、外部端子33より大きい
ものであってもよく、外部端子33をぴったりと納める
ことができるように、外部端子33の大きさと略同じ大
きさであってもよい。
【0112】配線17を挿通するための貫通孔39b
は、配線17を接合部材29の内部に収納するために、
図6に示すように、配線17がセラミック基板31の中
心部付近に集中するように、中心部に向けて屈曲して形
成されていてもよい。また、外部端子33がセラミック
基板31の中央部付近に取り付けられている場合には、
セラミック基板31の主面と垂直な方向に直線的に形成
されていてもよい。
【0113】図6では、底面31bの中央部付近に保護
部材39が設置されているが、ガイド管28や保護管1
40が設けられた部分を除く底面31bのほぼ全体に、
保護部材39が設置されていてもよい。セラミック基板
31の外周部分の近傍に外部端子33を配設する必要が
ある場合には、外部端子33や配線17を保護するた
め、底面31bのほぼ全体に、保護部材39を設置する
必要があるからである。
【0114】保護部材39には、円筒形状の接合部材2
9が接合されており、保護部材39の内部にその一部が
収容された配線17が、接合部材29の内部に収納され
ている。また、接合部材29は、支持容器の底板22に
密着するように配設されているため、接合部材29の内
側と外側とは完全に隔離されている。
【0115】このように、セラミックヒータ30の底面
31bには保護部材39が設置され、その内部に外部端
子33や配線17が収容されるとともに、接合部材29
の内部に配線17が収納され、外部端子33等が外部か
ら隔離されているため、腐食性ガス等に晒された場合で
あっても外部端子33や配線17が腐食することはな
く、耐久性および信頼性に優れたホットプレートユニッ
ト200となる。
【0116】なお、ホットプレートユニット200のそ
の他の部分については、ホットプレートユニット100
と同様の構成であるため、その説明を省略する。
【0117】次に、第二の本発明を構成するセラミック
ヒータの材質や形状等について、さらに詳しく説明す
る。
【0118】第二の本発明のセラミックヒータにおい
て、上記外部端子の形状は、貫通孔を有するとともに、
ネジ溝を有するものであれば、特に限定されないが、図
5に示すような断面視T字型で軸部分に貫通孔を有する
形状であることが望ましい。上記外部端子をセラミック
基板に固定できるとともに、外部端子とスルーホールと
の接触面積を大きくすることにより、これらを確実に接
続することが可能となるからである。また、スルーホー
ルは必ずしも形成されていなくてもよく、上記外部端子
が、内部の回路を貫通するか、または、内部の回路に接
触していればよい。すなわち、上記回路と電源とが電気
的に接続していればよい。
【0119】さらに、上記外部端子の材質についても、
良電性の材質であれば特に限定されず、例えば、ニッケ
ル、コバール等の金属が挙げられる。
【0120】また、セラミック基板の内部に抵抗発熱体
を形成する場合、抵抗発熱体は、加熱面の反対側の面か
ら厚さ方向に60%以下の位置に形成されていることが
望ましい。60%を超えると、加熱面に近すぎるため、
上記セラミック基板内を伝搬する熱が充分に拡散され
ず、加熱面に温度ばらつきが発生してしまうからであ
る。
【0121】また、セラミック基板の内部に抵抗発熱体
を形成する場合、抵抗発熱体形成層を複数層設けてもよ
い。この場合は、各層のパターンは、相互に補完するよ
うにどこかの層に抵抗発熱体が形成され、加熱面の上方
から見ると、どの領域にもパターンが形成されている状
態が望ましい。このような構造としては、例えば、互い
に千鳥の配置になっている構造が挙げられる。なお、抵
抗発熱体をセラミック基板の内部に設け、かつ、その抵
抗発熱体を一部露出させてもよい。
【0122】また、セラミック基板の内部に抵抗発熱体
が形成されている場合は、抵抗発熱体の厚さは、1〜5
0μmが好ましく、抵抗発熱体の幅は、5〜20μmが
好ましい。
【0123】抵抗発熱体は、その幅や厚さにより抵抗値
に変化を持たせることができるが、上記した範囲が最も
実用的である。抵抗値は、薄く、また、細くなる程大き
くなる。抵抗発熱体は、セラミック基板の内部に形成し
た場合の方が、厚み、幅とも大きくなるが、抵抗発熱体
を内部に設けると、加熱面と抵抗発熱体との距離が短く
なり、表面の温度の均一性が低下するため、抵抗発熱体
自体の幅を広げる必要があること、内部に抵抗発熱体を
設けるために、窒化物セラミック等との密着性を考慮す
る必要性がないため、タングステン、モリブデンなどの
高融点金属やタングステン、モリブデンなどの炭化物を
使用することができ、抵抗値を高くすることが可能とな
るため、断線等を防止する目的で厚み自体を厚くしても
よい。そのため、抵抗発熱体は、上記した厚みや幅とす
ることが望ましい。
【0124】また、上記抵抗発熱体のアスペクト比は2
00〜5000とすることが望ましい。抵抗発熱体は、
セラミック基板の内部に形成した場合の方が、アスペク
ト比が大きくなるが、これは、抵抗発熱体を内部に設け
ると、加熱面と抵抗発熱体との距離が短くなり、表面の
温度均一性が低下するため、抵抗発熱体自体を偏平にす
る必要があるからである。
【0125】なお、抵抗発熱体をセラミック基板の内部
に形成する場合には、抵抗発熱体表面が酸化されること
がないため、被覆は不要である。抵抗発熱体をセラミッ
ク基板内部に形成する場合、抵抗発熱体の一部が表面に
露出していてもよく、抵抗発熱体を接続するためのスル
ーホールが端子部分に設けられ、このスルーホールに端
子が接続、固定されていてもよい。
【0126】なお、上記以外の第二の本発明のセラミッ
クヒータの形状、材質等に関しては、第一の本発明のセ
ラミックヒータと同様であるため、その説明を省略する
こととする。
【0127】次に、第二の本発明を構成するホットプレ
ートユニットの材質や形状等について説明することとす
る。第二の本発明のホットプレートユニットを構成する
保護部材は、第一の本発明のホットプレートユニットと
同様に、セラミック、金属、耐熱性樹脂等からなること
が望ましく、特に、耐食性を有する材料からなることが
好ましい。
【0128】また、上記保護部材は、外部端子、配線等
を保護できる形状であれば特に限定されないが、上記セ
ラミック基板と同様に、平面視が円形であることが好ま
しい。セラミック基板と同様の形状とすることにより、
セラミック基板の加熱面に温度のばらつきが発生するお
それ少なくすることができるからである。さらに、上記
保護部材の厚さは、0.1〜10mmが望ましい。0.
1mm未満では、保護部材が薄すぎるため、外部端子、
配線等を充分に保護することができず、10mmを超え
ると、熱容量が大きくなり、昇温速度が低下するおそれ
があるからである。
【0129】なお、セラミック基板の内部に抵抗発熱体
を形成する場合、保護部材においては、セラミック基板
の表面に抵抗発熱体を形成する場合と異なり、抵抗発熱
体がセラミック基板の内部に形成されているため、抵抗
発熱体を保護するための凹部を形成する必要がない。
【0130】なお、上記以外の第二の本発明のホットプ
レートユニットの形状、材質等に関しては、第一の本発
明のホットプレートユニットと同様であるため、その説
明を省略することとする。
【0131】次に、第一の本発明のセラミックヒータお
よび第一の本発明のホットプレートユニットの製造方法
の一例について図7に基づいて説明する。 (1)セラミック基板の作製工程 上述した窒化アルミニウムや炭化珪素などの窒化物等の
セラミックの粉末に必要に応じてイットリア(Y
)やBC等の焼結助剤、Na、Caを含む化合
物、バインダ等を配合してスラリーを調製した後、この
スラリーをスプレードライ等の方法で顆粒状にし、この
顆粒を金型に入れて加圧することにより板状などに成形
し、生成形体(グリーン)を作製する。
【0132】次に、この生成形体を加熱、焼成して焼結
させ、セラミック製の板状体を製造する。この後、所定
の形状に加工することにより、セラミック基板11を作
製するが、焼成後にそのまま使用することができる形状
としてもよい。加圧しながら加熱、焼成を行うことによ
り、気孔のないセラミック基板11を製造することが可
能となる。加熱、焼成は、焼結温度以上であればよい
が、窒化物セラミックや炭化物セラミックでは、100
0〜2500℃である。また、酸化物セラミックでは、
1500〜2000℃である。
【0133】さらに、ドリル加工を実施し、熱電対など
の測温素子を埋め込むための有底孔14、リフターピン
を挿通するための貫通孔15を形成する。(図7(a)
参照)。
【0134】(2)セラミック基板に導体ペーストを印
刷する工程 導体ペーストは、一般に、金属粒子、樹脂、溶剤からな
る粘度の高い流動物である。この導体ペーストをスクリ
ーン印刷などを用い、抵抗発熱体12を設けようとする
部分に印刷を行うことにより、導体ペースト層を形成す
る。導体ペースト層は、焼成後の抵抗発熱体12の断面
が、方形で、偏平な形状となるように形成することが望
ましい。
【0135】(3)導体ペーストの焼成 セラミック基板11の底面に印刷した導体ペースト層を
加熱焼成して、樹脂、溶剤を除去するとともに、金属粒
子を焼結させ、セラミック基板11の底面に焼き付け、
抵抗発熱体12を形成する(図7(b)参照)。加熱焼
成の温度は、500〜1000℃が好ましい。導体ペー
スト中に上述した酸化物を添加しておくと、金属粒子、
セラミック基板および酸化物が焼結して一体化するた
め、抵抗発熱体12とセラミック基板11との密着性が
向上する。
【0136】(4)金属被覆層の形成 次に、抵抗発熱体12表面に、金属被覆層(図示せず)
を形成する。金属被覆層は、電解めっき、無電解めっ
き、スパッタリング等により形成することができるが、
量産性を考慮すると、無電解めっきが最適である。
【0137】(5)ネジ穴の形成 次に、セラミック基板11の底面に、外部端子13を固
定するためのネジ穴16を形成する。ネジ穴16は、ド
リル加工やサンドブラスト等のブラスト処理等により有
底孔を形成した後、有底孔の内壁面にネジ溝を設けるこ
とにより形成することができる。なお、ネジ穴16は、
外部端子をねじ込んだ場合に、抵抗発熱体と外部端子と
が電気的接続を図れるような位置に形成されていればよ
いが、図2に示すように、抵抗発熱体12の両端部に抵
抗発熱体12を貫通するように形成されていることが望
ましい。より確実に、外部端子13と抵抗発熱体12と
を接続することができるからである。
【0138】(6)保護部材の製造 次に、セラミック基板11に形成される抵抗発熱体1
2、外部端子13および配線17を保護するための保護
部材19を製造する。保護部材19としてセラミック製
のものを用いる場合、窒化アルミニウム等のセラミック
粉末等を成形したものを加熱温度1000〜2000
℃、常温で焼結させ、板状体を製造した後、上記板状体
に、サンドブラスト等のブラスト処理等により抵抗発熱
体12、外部端子13を保護するための凹部を形成し、
ドリル加工等により、配線17を挿通するための貫通孔
を形成することにより製造する。なお、上記板状体の成
形時に、両端部が閉塞したパイプ状のセラミック製部材
を埋め込み、焼成した後、この両端部と連通するよう
に、板状体の上面側および下面側からドリル加工等によ
り穿孔することで、図3に示す保護部材19のような貫
通孔を形成することができる。このような貫通孔を形成
することにより、セラミック基板11の外周部分の近傍
に配設された外部端子13からの配線を接合部材29の
内部に収容することができる。
【0139】また、上記板状体は、フッ素樹脂等の耐熱
性樹脂を成形することによっても製造することができ
る。さらに、セラミック基板に外部端子等を設置した
後、液状の樹脂を底面に塗布等することにより樹脂の層
を形成し、これを硬化させることにより保護部材19を
形成してもよい。この場合には、接着剤等を必要としな
い。
【0140】(7)接合部材の製造、取り付け そして、配線17を保護するための接合部材29を製造
し、(6)の工程で形成された保護部材19に接合部材
29を無機接着剤等を用いて接合する。接合部材29
は、窒化アルミニウム等のセラミック粉末を筒状成形型
に入れて成形し、必要に応じて切断加工する。これを加
熱温度1000〜2000℃、常温で焼結させてセラミ
ック製の接合部材29を製造する。なお、上記接合部材
29は、耐熱性樹脂を成形することによっても製造する
ことができる。
【0141】(8)外部端子等の取り付け 次に、外部電源と接続されている配線17を、保護部材
19に形成された貫通孔に挿通するとともに、外部端子
13に設けられた貫通孔13bにも挿通した後、外部端
子13を抵抗発熱体12のパターンの端部に形成された
ネジ穴16にねじ込むことにより、外部端子13をセラ
ミック基板11に取り付ける。これにより、外部端子1
3と抵抗発熱体12とが電気的に接続される。
【0142】(9)保護部材の設置 次に、接合部材29が取り付けられた保護部材19をセ
ラミック基板11の底面に接着することにより、セラミ
ック基板11の底部に保護部材19を設置する。上記接
着は、シリカゾル、アルミナゾル等の無機接着剤、シリ
コーン樹脂、ポリイミド樹脂等からなる耐熱性接着剤等
を用いることにより行う。また、セラミック基板11と
保護部材19との接着においては、一定の圧力でセラミ
ック基板11に押し付けることにより接着することが望
ましい。このように押圧した状態で接着することによ
り、セラミック基板11と保護部材19との間に生ずる
隙間を少なくすることが可能となるため、より強固に両
者を接着することができるからである。
【0143】また、セラミック基板11に外部端子1
3、配線17を取り付けた後、ポッティング処理等を用
いて、耐熱性樹脂からなる保護部材19を直接セラミッ
ク基板11の底面11bに直接形成してもよい。この場
合、上記保護部材19の厚さは、均一な厚さとすること
が望ましい。
【0144】(10)支持容器の作製 次に、図3に示したような支持容器20を作製する。支
持容器20は、有底円筒形状であり、外枠部と底板とを
一体的に形成することが望ましい。なお、底板22に
は、強制冷却用の冷媒を供給する冷媒導入管27を設け
ることや、供給した冷媒を排出する貫通孔22aを形成
することも可能である。さらに、本発明のホットプレー
トユニットにおいては、必ずしも、支持容器を設けなく
てもよい。
【0145】(11)ホットプレートユニットの組み立
て この後、保護部材19等が設置されたセラミックヒータ
10を、図3に示したように、セラミックヒータ10と
支持容器20の底板22とが、一定距離離間し、支持容
器20を構成する外枠部とセラミックヒータ10とが断
熱リング24を介して、基板受け部21aと固定金具2
6との間で、ボルト25により固定されるように、支持
容器20に支持、固定する。そして、測温素子18や抵
抗発熱体12からの配線を底板22から引き出すことに
より、ホットプレートユニット100の製造を完了す
る。
【0146】以上、ホットプレートユニットについて説
明したが、本発明のホットプレートユニットの一部であ
るセラミックヒータは、セラミック基板の表面または内
部に抵抗発熱体を設けるとともに、セラミック基板の内
部に静電電極を設けることにより静電チャックとするこ
とができる。また、表面にチャックトップ導体層を設
け、内部にガード電極やグランド電極を設けることによ
り、ウエハプローバに使用されるチャックトップ板とす
ることができる。
【0147】次に、第二の本発明のセラミックヒータお
よび第二の本発明のホットプレートユニットの製造方法
の一例について図8に基づいて説明することとする。
【0148】(1)セラミック基板の作製工程 まず、窒化物セラミック等のセラミックの粉末をバイン
ダ、溶剤等と混合してペーストを調製し、これを用いて
グリーンシート300を作製する。
【0149】上述した窒化物等のセラミック粉末として
は、窒化アルミニウム等を使用することができ、必要に
応じて、イットリア等の焼結助剤、Na、Caを含む化
合物等を加えてもよい。また、バインダとしては、アク
リル系バインダ、エチルセルロース、ブチルセロソル
ブ、ポリビニルアルコールから選ばれる少なくとも1種
が望ましい。
【0150】さらに溶媒としては、α−テルピネオー
ル、グリコールから選ばれる少なくとも1種が望まし
い。これらを混合して得られるペーストをドクターブレ
ード法でシート状に成形してグリーンシートを作製す
る。グリーンシートの厚さは、0.1〜5mmが好まし
い。
【0151】(2)グリーンシート上に導体ペーストを
印刷する工程 グリーンシート300上に、抵抗発熱体32を形成する
ための金属ペーストまたは導電性セラミックを含む導体
ペーストを印刷し、導体ペースト層320を形成し、貫
通孔にスルーホール40用の導体ペースト充填層400
を形成する。これらの導電ペースト中には、金属粒子ま
たは導電性セラミック粒子が含まれている。
【0152】タングステン粒子またはモリブデン粒子の
平均粒子径は、0.1〜5μmが好ましい。平均粒子が
0.1μm未満であるか、5μmを超えると、導体ペー
ストを印刷しにくいからである。このような導体ペース
トとしては、例えば、金属粒子または導電性セラミック
粒子85〜87重量部;アクリル系、エチルセルロー
ス、ブチルセロソルブ、ポリビニルアルコールから選ば
れる少なくとも1種のバインダ1.5〜10重量部;お
よび、α−テルピネオール、グリコールから選ばれる少
なくとも1種の溶媒を1.5〜10重量部混合した組成
物(ペースト)が挙げられる。
【0153】(3)グリーンシートの積層工程 導体ペーストを印刷していないグリーンシート300
を、導体ペーストを印刷したグリーンシート300の上
側に積層する(図8(a)参照)。このとき、導体ペー
ストを印刷したグリーンシート300が積層したグリー
ンシートの厚さに対して、底面から60%以下の位置に
なるように積層する。具体的には、上側のグリーンシー
トの積層数は20〜50枚が好ましい。
【0154】(4)グリーンシート積層体の焼成工程 グリーンシート積層体の加熱、加圧を行い、グリーンシ
ートおよび内部の導体ペーストを焼結させる。また、加
熱温度は、1000〜2000℃が好ましく、加圧の圧
力は、10〜20MPaが好ましい。加熱は、不活性ガ
ス雰囲気中で行う。不活性ガスとしては、例えば、アル
ゴン、窒素などを使用することができる。
【0155】次に、得られた焼結体に、熱電対などの測
温素子を埋め込むための有底孔34、リフターピンを挿
通するための貫通孔35、抵抗発熱体32を外部端子3
3と接続するためのスルーホール40等を形成する。
(図8(b)参照)
【0156】上述の有底孔34や貫通孔35を形成する
工程は、上記グリーンシート積層体に対して行ってもよ
いが、上記焼結体に対して行うことが望ましい。焼結過
程において、変形するおそれがあるからである。
【0157】なお、有底孔34、貫通孔35は、表面研
磨後に、サンドブラスト等のブラスト処理を行うことに
より形成することができる。
【0158】(5)ネジ穴の形成 次に、スルーホール40の底面に、外部端子33を固定
するためのネジ穴36を形成する。ネジ穴36は、ドリ
ル加工やサンドブラスト等のブラスト処理により、スル
ーホール40の底面に有底孔を形成した後、この有底孔
の壁面にネジ溝を切ることにより、形成することができ
る。
【0159】(6)保護部材の製造 次に、セラミック基板31に配設される外部端子33、
配線17を保護するための保護部材39を製造する。保
護部材の製造方法は、第一の本発明の場合とほぼ同様で
あるため、ここではその説明を省略する。
【0160】(7)接合部材の製造、取り付け そして、配線17を保護するための接合部材29を製造
し、(6)の工程で形成された保護部材39に接合部材
29を、無機接着剤等を用いて接合する。接合部材29
は、第一の本発明で説明したものと同様に構成されてい
るため、ここではその詳しい説明を省略する。窒化アル
ミニウム等のセラミック粉末を筒状成形型に入れて成形
し、必要に応じて切断加工する。これを加熱温度100
0〜2000℃、常温で焼結させてセラミック製の接合
部材29を製造する。なお、上記接合部材29は、耐熱
性樹脂を成形することによっても製造することができ
る。
【0161】(8)外部端子等の取り付け 外部電源と接続されている配線17を保護部材39に形
成された貫通孔に挿通するとともに、外部端子33に設
けられた貫通孔33bにも挿通した後、外部端子33を
スルーホール40の底面に形成されたネジ穴36にねじ
込むことにより、外部端子33をセラミック基板31に
取り付ける。これにより、外部端子33がスルーホール
40を介して、抵抗発熱体32と接続されることとな
る。
【0162】(9)保護部材の設置 次に、接合部材29が取り付けられた保護部材39をセ
ラミック基板31に接着する。上記接着は、シリカゾ
ル、アルミナゾル等の無機接着剤、シリコーン樹脂、ポ
リイミド樹脂等からなる耐熱性接着剤等を用いることに
より行う。また、セラミック基板31と保護部材39と
の接着においては、一定の圧力でセラミック基板31に
押し付け、その状態で接着することが望ましい。このよ
うに押圧した状態で接合することにより、セラミック基
板31と保護部材39との間に生ずる隙間を少なくする
ことが可能となるため、より強固に両者を接合すること
ができるからである。
【0163】また、セラミック基板31に、外部端子3
3、配線17を取り付けた後、ポッティング処理等を用
いて、耐熱性樹脂からなる保護部材39を直接セラミッ
ク基板31の底面31bに直接設置してもよい。この場
合、上記保護部材39の厚さは、均一な厚さとすること
が望ましい。
【0164】(10)支持容器の製造、ホットプレート
ユニットの組み立て そして、第一の本発明のホットプレートユニットの製造
方法における(10)、(11)と同様の方法により、
支持容器20を製造した後、セラミックヒータ30を支
持容器20に支持、固定し、ホットプレートユニット2
00の製造を完了する。なお、本発明のホットプレート
ユニットにおいては、必ずしも、支持容器を設けなくて
もよい。
【0165】
【実施例】以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説
明する。
【0166】(実施例1) ホットプレートユニット(図1、2および図7参照)の
製造 (1)窒化アルミニウム粉末(平均粒径:0.6μm)
100重量部、イットリア(平均粒径:0.4μm)4
重量部、アクリルバインダ12重量部およびアルコール
からなる組成物のスプレードライを行い、顆粒状の粉末
を作製した。
【0167】(2)次に、この顆粒状の粉末を金型に入
れ、平板状に成形して生成形体(グリーン)を得た。
【0168】(3)次に、この生成形体を1800℃、
圧力:20MPaでホットプレスし、厚さが3mmの窒
化アルミニウム板状体を得た。次に、この板状体から直
径230mmの円板体を切り出し、セラミック製の板状
体(セラミック基板11)とした。このセラミック基板
11にドリル加工を施し、熱電対を埋め込むための有底
孔14およびリフターピンを挿通するための貫通孔を形
成した(図7(a)参照)。
【0169】(4)上記(3)で得たセラミック基板1
1に、スクリーン印刷にて導体ペースト層を形成した。
印刷パターンは、図1に示したような、同心円形状から
なる抵抗発熱体が複数形成されているパターンとした。
上記導体ペーストとしては、Ag48重量%、Pt21
重量%、SiO1.0重量%、B2.2重量
%、ZnO4.1重量%、PbO3.4重量%、酢酸エ
チル3.4重量%、ブチルカルビトール17.9重量%
からなる組成のものを使用した。この導体ペーストは、
Ag−Ptペーストであり、銀粒子は、平均粒径が4.
5μmで、リン片状のものであった。また、Pt粒子
は、平均粒子径0.5μmの球状であった。
【0170】(5)さらに、発熱体パターンの導体ペー
スト層を形成した後、セラミック基板11を780℃で
加熱、焼成して、導体ペースト中のAg、Ptを焼結さ
せるとともにセラミック基板11に焼き付け、抵抗発熱
体12を形成した。(図7(b)参照)抵抗発熱体12
は、厚さが5μm、幅が2.4mm、面積抵抗率が7.
7mΩ/□であった。
【0171】(6)硫酸ニッケル80g/l、次亜リン
酸ナトリウム24g/l、酢酸ナトリウム12g/l、
ほう酸8g/l、塩化アンモニウム6g/lの濃度の水
溶液からなる無電解ニッケルめっき浴に上記(5)で作
製したセラミック基板11を浸漬し、銀−鉛の抵抗発熱
体12の表面に厚さ1μmの金属被覆層(ニッケル層)
を析出させた。
【0172】(7)次に、電源との接続を確保するため
の外部端子13を取り付ける部分に、ドリル加工によ
り、外部端子13を接続するため直径5mm、深さ5m
mの有底孔を設けた後、有底孔の壁面に外部端子13を
固定するためのネジ溝を形成した(図7(c)参照)。
なお、ネジ穴16は、抵抗発熱体12の両端部に、抵抗
発熱体12を貫通するように形成した。
【0173】(8)次に、(1)の工程で使用したもの
と同様の粉末を使用して、生成形体を成形した後、18
00℃、20MPaでホットプレスし、セラミック基板
11の底面に取り付けるための円板体(直径210m
m、厚さ15mm)を製造した。なお、成形時に両端部
が閉鎖したパイプ状の窒化アルミニウム製部材を、円板
体の中心に近い部分に埋め込んだ。そして、この円板体
をダイヤモンド砥石で研磨した後、レジンボンド砥石に
よるNC研削により、抵抗発熱体12および外部端子1
3を納めるための凹部を形成した。なお、形成された凹
部は、抵抗発熱体12および外部端子13の大きさより
もわずかに大きいものであった。また、上記窒化アルミ
ニウム製部材の両端部と連通するように、円板体の上面
側および下面側からドリル加工により穿孔し、図3に示
すような配線17を通すための貫通孔を形成し、保護部
材19とした。なお、この保護部材19は、セラミック
基板11の底面11bのほぼ全体を保護できるような形
状とした。
【0174】(9)この後、(1)の工程で使用したも
のと同様の粉末をパイプ状の金型に入れ、常圧、189
0℃で焼結させ、長さ150mm、外径50mm、内径
45mmの窒化アルミニウム製の接合部材29を製造し
た。その後、(8)の工程で製造した保護部材19に、
この接合部材29をセラミック接着剤(東亜合成社製
アロンセラミック)を用いて接合した。
【0175】(10)次に、保護部材19に形成された
貫通孔および外部端子13に設けられた貫通孔13bに
外部電源と接続された配線17を挿通した後、外部端子
13をネジ穴16にねじ込み、外部端子13をセラミッ
ク基板11に固定した。そして、保護部材19の接合面
にセラミック接着剤(東亜合成社製 アロンセラミッ
ク)を塗布し、セラミック基板11と接合部材29が形
成された保護部材19とを接合した。
【0176】(11)そして、上記(1)〜(10)の
工程により、製造された保護部材19および接合部材2
9が設置されたセラミックヒータ10を、図3に示すよ
うな支持容器20に支持し固定するとともに、配線17
および測温素子18からのリード線を引き出し、ホット
プレートユニット100の製造を完了した。
【0177】(実施例2) ホットプレートユニット(図1、2および図8参照)の
製造 (1)窒化アルミニウム粉末(トクヤマ社製、平均粒径
0.6μm)100重量部、アルミナ4重量部、アクリ
ル系樹脂バインダ11.5重量部、分散剤0.5重量部
および1−ブタノールとエタノールとからなるアルコー
ル53重量部を混合したペーストを用い、ドクターブレ
ード法により成形を行って、厚さ0.47mmのグリー
ンシートを作製した。
【0178】(2)次に、このグリーンシートを80℃
で5時間乾燥させた後、スルーホール40となる部分を
パンチングにより設けた。
【0179】(3)平均粒径1μmのタングステンカー
バイト粒子100重量部、アクリル系バインダ3.0重
量部、α−テルピネオール溶媒3.5重量部および分散
剤0.3重量部を混合して導体ペーストAを調整した。
平均粒径3μmのタングステン粒子100重量部、アク
リル系バインダ1.9重量部、α−テルピネオール溶媒
3.7重量部および分散剤0.2重量部を混合して導体
ペーストBを調整した。
【0180】この導体ペーストAをグリーンシート上に
スクリーン印刷で印刷し、抵抗発熱体用の導体ペースト
層320を形成した。印刷パターンは、図4に示すよう
なパターンとした。さらに、外部端子33を接続するた
めのスルーホール40となる部分に導体ペーストBを充
填し、充填層400を形成した。
【0181】上記処理の終わったグリーンシートに、さ
らに、導体ペーストを印刷していないグリーンシートを
上側(加熱面)に50枚積層し、130℃、8MPaの
圧力で圧着して積層体を形成した(図8(a)参照)。
【0182】(4)次に、得られた積層体を窒素ガス
中、600℃で5時間脱脂し、1890℃、圧力15M
Paで10時間ホットプレスし、厚さ3mmのセラミッ
ク板状体を得た。これを230mmの円板状に切り出
し、内部に厚さ6μm、幅10mmの抵抗発熱体32を
有するとともに、スルーホール40を有するセラミック
板状体とした。
【0183】(5)次に、(4)で得られたセラミック
板状体にマスクを載置し、SiC等によるブラスト処理
で表面に測温素子を挿通するための有底孔34およびリ
フターピンを挿通させるための貫通孔35を設けた(図
8(b)参照)。
【0184】(6)次に、スルーホール40の底面に、
ブラスト処理により、直径5mm、深さ5mmの有底孔
を形成した後、この有底孔の内壁面にネジ溝を切ること
により、スルーホール40の底面にネジ溝36を形成し
た(図8(c)参照)。
【0185】(7)次に、(1)の工程で使用したもの
と同様の粉末を使用して、生成形体を成形した後、18
00℃、20MPaでホットプレスし、直径80mm、
厚さ15mmの円板体を製造した。なお、成形時に両端
部が閉塞したパイプ状の窒化アルミニウム製部材を埋め
込んだ。そして、この円板体をダイヤモンド砥石で研磨
した後、レジンボンド砥石によるNC研削により、外部
端子33を納めるための凹部を形成した。また、上記窒
化アルミニウム製部材の両端部と連通するように、円板
体の上面側および下面側からドリル加工により穿孔し、
図6に示すような、配線17を通すための貫通孔を形成
し、保護部材39とした。なお、この保護部材39は、
セラミック基板31の底面31bのほぼ全体を保護する
ものではなく、セラミック基板31の中心部付近に配設
された外部端子13を保護できるような形状とした。
【0186】(8)そして、(1)の工程で使用したも
のと同様の粉末をパイプ状の金型に入れ、常圧、189
0℃で焼結させ、長さ150mm、外径50mm、内径
45mmの窒化アルミニウム製の接合部材29を製造し
た。その後、(7)の工程で製造した保護部材39に、
この接合部材29をセラミック接着剤(東亜合成社製
アロンセラミック)を用いて接合した。
【0187】(9)次に、保護部材39に形成された貫
通孔および外部端子33に設けられた貫通孔33bに外
部電源と接続された配線17を挿通した後、外部端子3
3をネジ穴36にねじ込み、外部端子33をセラミック
基板31に固定した。そして、保護部材39の接合面に
セラミック接着剤(東亜合成社製 アロンセラミック)
を塗布し、セラミック基板31と接合部材29が形成さ
れた保護部材39とを接合した。(10)そして、上記
(1)〜(9)の工程により、製造された保護部材39
および接合部材29が設置されたセラミックヒータ30
を、図6に示すような支持容器20に支持し固定すると
ともに、配線17および測温素子18からのリード線を
引き出し、ホットプレートユニット200の製造を完了
した。
【0188】(実施例3)実施例1の(1)〜(7)の
工程を行った後、外部端子13に設けられた貫通孔13
bに外部電源と接続された配線17を挿通し、外部端子
13をネジ穴16にねじ込み、外部端子13をセラミッ
ク基板11に固定した。
【0189】セラミック基板11の底面で、保護部材を
形成する領域の外側に、ポリテトラフルオロエチレン製
の樹脂流出防止用部材を載置した後、その内側に、ポリ
アミック酸を溶剤に溶かした液体を流し込み、400℃
で乾燥することにより、セラミック基板11の底面に、
ポリイミド樹脂からなる保護部材を形成した。そして、
樹脂流出防止用部材を取り除いた後、この保護部材にポ
リイミド樹脂製の接合部材をポリアミック酸を主成分と
する耐熱性接着剤により接合した。その後、実施例1の
(11)の工程を行うことにより、上記セラミックヒー
タを支持容器により支持、固定し、ホットプレートユニ
ットを製造した。
【0190】(実施例4)実施例2の(1)〜(6)の
工程を行った後、外部端子33に設けられた貫通孔33
bに外部電源と接続された配線17を挿通し、外部端子
33をネジ穴36にねじ込み、外部端子33をセラミッ
ク基板31に固定した。
【0191】セラミック基板31の底面で、保護部材を
形成する領域の外側に、ポリテトラフルオロエチレン製
の樹脂流出防止用部材を載置した後、その内側に、ポリ
アミック酸を溶剤に溶かした液体を流し込み、400℃
で乾燥することにより、セラミック基板31の底面に、
ポリイミド樹脂からなる保護部材を形成した。そして、
樹脂流出防止用部材を取り除いた後、この保護部材にポ
リイミド樹脂製の接合部材をポリアミック酸を主成分と
する耐熱性接着剤により接合した。その後、実施例2の
(10)の工程を行うことにより、上記セラミックヒー
タを支持容器により支持、固定し、ホットプレートユニ
ットを製造した。
【0192】(比較例1)実施例1の(1)〜(6)の
工程を行った後、抵抗発熱体の外部端子を取り付ける部
分に、スクリーン印刷により、銀−鉛半田ペースト(田
中貴金属社製)を印刷して半田層を形成した。次いで、
半田層の上に断面視T字形状でコバール製の外部端子を
載置して、420℃で加熱リフローし、外部端子を抵抗
発熱体の表面に取り付けることにより、セラミック基板
の底面に抵抗発熱体が形成されたセラミックヒータを製
造した。その後、実施例1の(11)の工程を行うこと
により、上記セラミックヒータを支持容器により支持、
固定し、ホットプレートユニットを製造した。
【0193】(比較例2)実施例2の(1)〜(5)の
工程を行った後、スルーホールの底面にNi−Auから
なる金ろうを用い、700℃で加熱リフローして、断面
視T字形状でコバール製の外部端子を取り付けることに
より、セラミック基板の内部に抵抗発熱体が形成された
セラミックヒータを製造した。その後、実施例2の(1
0)の工程を行うことにより、上記セラミックヒータを
支持容器により支持、固定し、ホットプレートユニット
を製造した。
【0194】実施例1〜4および比較例1、2に係るホ
ットプレートユニットについて、以下の評価試験を行っ
た。
【0195】(1)ヒートサイクル試験後の接続の有無 実施例および比較例に係るホットプレートユニットに、
電圧を印加し、800℃まで昇温した後、室温まで降温
させるヒートサイクル試験を1000回繰り返し行い、
抵抗発熱体と外部端子との接続の有無を確認した。ま
た、上記ヒートサイクル試験を行った後の外部端子付近
の状態を目視にて観察した。
【0196】(2)配線等の腐食状態 実施例および比較例に係るホットプレートユニットを、
1000Wでプラズマ化したCFガス雰囲気下に2時
間放置し、配線、外部端子等の腐食状態を調べた。な
お、、実施例1〜4に係るホットプレートユニットにつ
いては、上記試験の際に、接合部材の内部に窒素ガスを
導入した。
【0197】その結果、実施例1〜4に係るホットプレ
ートユニットでは、抵抗発熱体と外部端子や配線との接
続は確実に行われており、外部端子付近の状態にも異常
は見られなかった。また、腐食性ガス雰囲気下に放置し
た場合であっても、ホットプレートユニットを構成する
外部端子、配線等に腐食は見られなかった。
【0198】一方、比較例1、2に係るホットプレート
ユニットでは、外部端子と抵抗発熱体やスルーホールと
を接続するろう材が劣化し、ヒートサイクル試験の途中
で、外部端子の脱落が見られた。また、腐食性ガス雰囲
気下に放置した場合には、外部端子、配線の一部にCF
ガスにより腐食している部分が観察された。
【0199】
【発明の効果】以上説明したように、第一および第二の
本発明のセラミック温調器によれば、外部端子を介し
て、電源からの配線と回路との接続が図られ、外部端子
が回路端部に設けられたネジ穴にねじ込まれて固定され
ているので、長期間にわたって配線と回路との接続を確
実に行なうことができる。また、外部端子は、ネジ穴に
ねじ込まれることにより、物理的に固定されているた
め、長期間使用した場合にも上記外部端子が外れること
はなく、耐久性および信頼性に優れたセラミック温調器
となる。
【0200】また、第一および第二の本発明のセラミッ
ク温調ユニットによれば、長期間使用した場合でも、外
部端子や電源からの配線が外れることがなく、回路と配
線との接続を確実に行うことができる。また、セラミッ
ク温調器の底面には、保護部材が設置され、その内部に
配線が収容されるとともに、接合部材の内部に配線が収
納されているため、腐食性ガス等に晒された場合であっ
ても配線が腐食することはなく、耐久性および信頼性に
優れたセラミック温調ユニットとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第一の本発明に係るセラミックヒータの一例を
模式的に示す底面図である。
【図2】図1に示したセラミックヒータの一部を模式的
に示す部分拡大断面図である。
【図3】第一の本発明に係るホットプレートユニットの
一例を模式的に示す断面図である。
【図4】第二の本発明に係るセラミックヒータの一例を
模式的に示す底面図である。
【図5】(a)は、図4に示したセラミックヒータの一
部を模式的に示す部分拡大断面図である。(b)は、本
発明のセラミックヒータの別の一例を模式的に示す部分
拡大断面図である。
【図6】第二の本発明に係るホットプレートユニットの
一例を模式的に示す断面図である。
【図7】(a)〜(d)は、第一の本発明に係るセラミ
ックヒータおよび第一の本発明に係るホットプレートユ
ニットの製造工程の一例の一部を模式的に示す断面図で
ある。
【図8】(a)〜(d)は、第二の本発明に係るセラミ
ックヒータおよび第二の本発明に係るホットプレートユ
ニットの製造工程の一例の一部を模式的に示す断面図で
ある。
【符号の説明】
8 リフターピン 9 シリコンウエハ 10、30 セラミックヒータ 11、31 セラミック基板 11a、31a 加熱面 11b、31b 底面 12、32(32a〜32p) 抵抗発熱体 13、33 外部端子 13a、33a ねじ溝 13b、33b 貫通孔 14、34 有底孔 15、35 貫通孔 16、36 ネジ穴 17、37 配線 18、38 測温素子 19、39 保護部材 20 支持容器 21 外枠部 22 底板 23 中底板 24 断熱リング 25 ボルト 26 固定用金具 27 冷媒導入管 28 ガイド管 29 接合部材 40 スルーホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05B 3/20 309 H05B 3/20 311 311 328 328 3/74 3/74 H01L 21/30 567 Fターム(参考) 3K034 AA02 AA03 AA08 AA15 AA33 AA37 BB06 BB14 BC12 BC17 DA04 EA06 EA07 JA01 3K092 PP20 QA05 QB02 QB04 QB31 QB43 QB59 QC02 QC15 QC18 QC31 QC43 QC59 QC64 RF03 RF06 RF11 RF19 RF22 RF27 TT08 VV09 VV28 VV31 5F046 KA04

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック基板の表面または内部に温調
    のための回路が形成され、前記回路の端部に外部端子が
    接続されたセラミック温調器であって、前記外部端子に
    は、ネジ溝が形成され、電源からの配線と前記外部端子
    とが電気的に接続されるとともに、前記外部端子が前記
    回路の端部に設けられたネジ穴にねじ込まれて固定さ
    れ、これにより、前記外部端子を介して前記配線と前記
    回路との接続が図られていることを特徴とするセラミッ
    ク温調器。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のセラミック温調器と、配
    線類を収納するための接合部材と、前記セラミック温調
    器底面の回路および外部端子を含む領域に設置された保
    護部材とからなり、前記保護部材の内部に電源からの配
    線が収容されるとともに、前記保護部材を介して底面に
    前記接合部材が接着され、前記接合部材の内部に電源か
    らの配線が収納されていることを特徴とするセラミック
    温調ユニット。
  3. 【請求項3】 セラミック基板の表面または内部に温調
    のための回路が形成され、前記回路の端部に外部端子が
    接続されたセラミック温調器であって、前記外部端子に
    は、ネジ溝が形成されるとともに貫通孔が形成され、前
    記セラミック基板の底部には、前記回路と電気的に接触
    するネジ穴が設けられ、電源からの配線が前記外部端子
    の貫通孔を挿通した状態で、前記外部端子が前記ネジ穴
    にねじ込まれて固定され、これにより、前記外部端子を
    介して前記配線と前記回路との接続が図られていること
    を特徴とするセラミック温調器。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のセラミック温調器と、配
    線類を収納するための接合部材と、前記セラミック温調
    器底面の回路および外部端子を含む領域に設置された保
    護部材とからなり、前記保護部材の内部に電源からの配
    線が収容されるとともに、前記保護部材を介して底面に
    接合部材が接着され、前記接合部材の内部に電源からの
    配線が収納されていることを特徴とするセラミック温調
    ユニット。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005166451A (ja) * 2003-12-03 2005-06-23 Sumitomo Electric Ind Ltd 通電発熱ヒータ及び該ヒータを搭載した半導体製造装置
JP2009043589A (ja) * 2007-08-09 2009-02-26 Sei Hybrid Kk 半導体又はフラットパネルディスプレイ製造・検査装置用のヒータユニット及びそれを備えた装置
JP2012516054A (ja) * 2009-01-23 2012-07-12 アクセリス テクノロジーズ, インコーポレイテッド 結露のない熱チャック
JP2018185972A (ja) * 2017-04-26 2018-11-22 京セラ株式会社 試料保持具

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