JP2003294798A - Environment testing device - Google Patents

Environment testing device

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JP2003294798A
JP2003294798A JP2002103426A JP2002103426A JP2003294798A JP 2003294798 A JP2003294798 A JP 2003294798A JP 2002103426 A JP2002103426 A JP 2002103426A JP 2002103426 A JP2002103426 A JP 2002103426A JP 2003294798 A JP2003294798 A JP 2003294798A
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temperature
test
tank
testing
work
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Japanese (ja)
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Takashi Takeuchi
孝 竹内
Teruhisa Gomyo
輝久 五明
Akira Shimizu
明 清水
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Orion Machinery Co Ltd
Original Assignee
Orion Machinery Co Ltd
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    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
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    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To propose an environment testing device allowing the temperature of a testing object to quickly reach a prescribed temperature by uniformly cooling or heating the testing object without nonuniformity of a temperature and capable of stabilizing even the testing object having a large heat capacity in that state. <P>SOLUTION: This environment testing device 1 cools or heats the testing object 5 placed on a work placing surface 6a in a testing tank 3 by circulating temperature-controlled air formed by a tank inside temperature control mechanism 4 in the testing tank 3, and at the same time, directly cools or heats the testing object 5 by heat transfer from the work placing surface 6a controlled in a prescribed temperature by a work placing surface temperature control mechanism 7. Thus, even the temperature of the testing object 5 having a large heat capacity quickly reaches a prescribed testing temperature, and transfers to a prescribed testing temperature state without nonuniformity of the temperature because of being uniformly cooled or heated as a whole. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子などの
電気、電子部品に対して様々な温度環境の下で通電など
の環境試験を行うために用いる環境試験装置に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an environmental test apparatus used for conducting an environmental test such as energization on electric and electronic parts such as semiconductor elements under various temperature environments.

【0002】[0002]

【従来の技術】被試験品を所望の温度に保持した状態で
各種の環境試験を行うために用いる環境試験装置として
は、独立した恒温槽に被試験品を入れて環境試験を行う
ものや、複数の試験槽を経由する搬送ラインに沿って被
試験品を搬送して、各試験槽において各種の環境試験を
行う、所謂ライン型環境試験装置と呼ばれるものが知ら
れている。これらの環境試験装置においては、被試験品
を所定の試験温度に到達させるために、空気温調方式、
あるいは、プレート温調方式が一般的に採用されてい
る。
2. Description of the Related Art As an environmental test apparatus used to perform various environmental tests in a state in which a DUT is kept at a desired temperature, an environmental test is carried out by putting the DUT in an independent thermostatic chamber, 2. Description of the Related Art A so-called line-type environmental test device is known in which a product under test is carried along a carrying line passing through a plurality of test tanks to perform various environmental tests in each test tank. In these environmental testing devices, in order to reach the predetermined test temperature of the DUT, an air temperature control system,
Alternatively, a plate temperature control method is generally adopted.

【0003】空気温調方式は、試験槽内に温度制御され
た空気を循環させることにより、試験槽に入れた被試験
品を所定の試験温度に加熱あるいは冷却して、その温度
状態に保持する方式である。例えば、特公平8−141
9号公報にこのような空気温調方式のライン型環境試験
装置が開示されており、特開平7−209373号公報
にはドライエアを供給して被試験品であるICを所定の
試験温度まで冷却する冷却試験装置が開示されている。
In the air temperature control method, temperature-controlled air is circulated in the test tank to heat or cool the DUT placed in the test tank to a predetermined test temperature and maintain that temperature state. It is a method. For example, Japanese Patent Publication No. 8-141
No. 9 discloses such an air temperature control type line type environmental test device, and Japanese Patent Laid-Open No. 7-209373 discloses supplying dry air to cool an IC to be tested to a predetermined test temperature. A cooling test device is disclosed.

【0004】後者のプレート温調方式は、試験槽内に配
置されているワークを載せるためのプレートを直接に冷
却機構あるいは加熱機構によって冷却あるいは加熱して
所定の温度状態に保持し、このプレートによって、そこ
に載せた被試験品を冷却あるいは加熱して所定の試験温
度状態に保持する方式である。例えば、特公平6−27
698号公報、特開平11−284037号公報にプレ
ート温調方式の環境試験装置が開示されている。
In the latter plate temperature control method, a plate for placing a work placed in a test tank is directly cooled or heated by a cooling mechanism or a heating mechanism to maintain a predetermined temperature state, and this plate is used. In this method, the DUT placed on the test piece is cooled or heated to maintain a predetermined test temperature state. For example, Japanese Patent Publication 6-27
698 and Japanese Patent Laid-Open No. 11-284037 disclose a plate temperature control type environmental test device.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、空気温
調方式の環境試験装置では、被試験品を加熱、冷却する
ための媒体である空気の熱容量が小さいので、被試験品
を所定の試験温度に到達させるまでに時間が掛かる。こ
のため、環境試験にかかる時間が長くなってしまうとい
う問題点がある。
However, in the air temperature control type environmental test apparatus, since the heat capacity of air, which is a medium for heating and cooling the DUT, is small, the DUT is heated to a predetermined test temperature. It takes time to reach it. Therefore, there is a problem that the environmental test takes a long time.

【0006】特に、熱容量の大きな被試験品の場合に
は、被試験品を所定の試験温度状態に到達させるための
時間が長く掛かってしまう。また、熱容量の大きな被試
験品を載せてあるワーク載置台の側が被試験品との間の
熱交換によって冷却あるいは加熱されて所定温度から外
れた温度状態に遷移する可能性が高く、このような状態
になると、被試験品を所定の試験温度状態に保持するこ
とが困難になってしまう。
Particularly, in the case of a DUT having a large heat capacity, it takes a long time to bring the DUT to a predetermined test temperature state. In addition, there is a high possibility that the side of the work mounting table on which the DUT having a large heat capacity is placed is cooled or heated by heat exchange with the DUT and transitions to a temperature state deviating from the predetermined temperature. In this state, it becomes difficult to maintain the DUT at a predetermined test temperature state.

【0007】これに対して、プレート温調方式の環境試
験装置では、被試験品を載せた冷却あるいは加熱プレー
トにより直接に被試験品を冷却あるいは加熱するので、
空気温調方式に比べ、被試験品を冷却あるいは加熱して
所定の試験温度状態にするための所要時間が短くて済
む。
On the other hand, in the plate temperature control type environmental test device, the test object is directly cooled or heated by the cooling or heating plate on which the test object is placed.
Compared with the air temperature control method, the time required to cool or heat the DUT to a predetermined test temperature state is shorter.

【0008】しかし、被試験品におけるプレートに接し
ていない部分、特にプレートから離れている部分を充分
に冷却あるいは加熱できない場合があり、場合によって
は、そのような部分がプレート温度とは異なる温度状態
に安定してしまうという問題点がある。
However, there are cases in which the portion of the DUT that is not in contact with the plate, especially the portion that is distant from the plate, cannot be sufficiently cooled or heated, and in some cases, such a portion has a temperature condition different from the plate temperature. There is a problem that it becomes stable.

【0009】特に、熱容量が大きく、熱伝導率の悪い材
質あるいは熱伝導率の異なる材質からなる被試験品の場
合や、熱容量が大きく、プレートから離れた突起部分な
どを備えた形状の被試験品の場合には、かかる弊害が発
生し易い。このために、プレート温調方式により環境試
験を行うことのできる被試験品に制約があるという問題
点もある。
In particular, in the case of a DUT having a large heat capacity and a poor heat conductivity or a material having a different heat conductivity, or a DUT having a large heat capacity and having a protruding portion separated from the plate. In the case of, such a harmful effect is likely to occur. For this reason, there is a problem that there is a limitation on the DUT that can perform the environmental test by the plate temperature control method.

【0010】本発明の課題は、熱容量の大きな被試験品
であっても、試験槽内において迅速に所定の温度状態に
移行させることができ、また、被試験品の全体を温度む
らなく所定の温度状態を得ることが可能な環境試験装置
を提案することにある。
An object of the present invention is to enable a test product having a large heat capacity to be quickly brought to a predetermined temperature state in a test tank, and to test the whole test product with a predetermined temperature without unevenness. It is to propose an environmental test device capable of obtaining a temperature state.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明は、所定の温度状態の被試験品に対して環
境試験を行うために用いる環境試験装置において、被試
験品を入れる試験槽と、被試験品を載せるために前記試
験槽内に配置されたワーク載置台と、前記試験槽の内部
に温度制御された空気を循環させることにより当該試験
槽の内部温度を所定温度となるように制御する槽内温度
制御機構と、前記ワーク載置台におけるワーク載置面が
所定温度となるように、当該ワーク載置面を冷却および
/または加熱するワーク載置面温度制御機構とを有して
いることを特徴としている。
In order to solve the above problems, the present invention provides an environment test apparatus used for performing an environment test on a product under test in a predetermined temperature state, in which the product under test is inserted. A test tank, a work placement table arranged in the test tank for mounting the test object, and an internal temperature of the test tank to a predetermined temperature by circulating temperature-controlled air inside the test tank. And a work placement surface temperature control mechanism for cooling and / or heating the work placement surface so that the work placement surface of the work placement table has a predetermined temperature. It is characterized by having.

【0012】本発明の環境試験装置においては、試験槽
内のワーク載置台に載せた被試験品は、空気温調方式に
よる槽内温度制御機構によって冷却あるいは加熱されて
所定の試験温度状態に移行する。これと同時に、ワーク
載置面がワーク載置面温度制御機構によって所定温度状
態に保持されているので、ワーク載置面に載せた被試験
品は当該ワーク載置面によって直接に冷却あるいは加熱
されて所定の試験温度状態に移行する。
In the environment testing apparatus of the present invention, the test object placed on the work table in the test tank is cooled or heated by the tank temperature control mechanism based on the air temperature control method and is transferred to a predetermined test temperature state. To do. At the same time, since the workpiece mounting surface is kept at a predetermined temperature state by the workpiece mounting surface temperature control mechanism, the DUT placed on the workpiece mounting surface is directly cooled or heated by the workpiece mounting surface. And shift to a predetermined test temperature state.

【0013】このように被試験品は、槽内温度制御機構
およびワーク載置面温度制御機構の双方によって冷却あ
るいは加熱されるので、熱容量の大きな被試験品であっ
ても、それが所定の試験温度に到達するまでの遷移時間
を短くできる。
As described above, the product under test is cooled or heated by both the in-tank temperature control mechanism and the work placement surface temperature control mechanism. Therefore, even if the test product has a large heat capacity, it is subjected to a predetermined test. The transition time to reach the temperature can be shortened.

【0014】また、被試験品はワーク載置面からの熱伝
導によって冷却あるいは加熱され、ワーク載置台に接し
ていない部分は温度制御された空気によって冷却あるい
は加熱される。よって、プレート温調方式の場合とは異
なり、被試験品の全体が一様に冷却あるいは加熱される
ので、被試験品に温度むらが発生することがなく、被試
験品の全体を一様に所定の試験温度の状態にすることが
できる。
The product under test is cooled or heated by heat conduction from the work mounting surface, and the portion not in contact with the work mounting table is cooled or heated by air whose temperature is controlled. Therefore, unlike the case of the plate temperature control method, the entire DUT is uniformly cooled or heated, so that the unevenness of temperature does not occur in the DUT, and the entire DUT is made uniform. A predetermined test temperature can be obtained.

【0015】ここで、前記槽内温度制御機構は、前記ワ
ーク載置面に温度制御された空気を直接に供給する構成
とすることが望ましい。被試験品に対して直接に温度制
御された空気を供給することにより、空気による被試験
品の冷却あるいは加熱を促進できるので、ワーク載置面
に接していない被試験品の部分を速やかに所定の試験温
度に到達させることができる。特に、被試験品が熱容量
が大きく、しかも、熱伝導率の悪い材質から形成されて
いる場合などにおいて有効である。
Here, it is preferable that the in-vessel temperature control mechanism be configured to directly supply temperature-controlled air to the work mounting surface. By supplying the temperature-controlled air directly to the DUT, it is possible to accelerate the cooling or heating of the DUT by air, so that the portion of the DUT that is not in contact with the workpiece mounting surface can be quickly specified. The test temperature can be reached. This is particularly effective when the DUT is made of a material having a large heat capacity and a poor thermal conductivity.

【0016】次に、前記ワーク載置面温度制御機構は、
電子冷凍方式あるいは冷媒循環方式により前記ワーク載
置面を冷却および/または加熱する機構とすることがで
きる。
Next, the work placement surface temperature control mechanism is
A mechanism for cooling and / or heating the work mounting surface by an electronic refrigeration system or a refrigerant circulation system can be used.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明を
適用した環境試験装置の例を説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An example of an environment test apparatus to which the present invention is applied will be described below with reference to the drawings.

【0018】図1は、本発明を適用した環境試験装置の
概略構成図である。本例の環境試験装置1は、断熱パネ
ルで形成された断熱箱2と、この断熱箱2の内部に区画
形成された試験槽3と、この試験槽3の槽内温度を制御
するための空気温調方式の槽内温度制御機構4と、試験
槽3内に設置された被試験品5を載せるためのワーク載
置台6を有している。また、ワーク載置台6におけるワ
ーク載置面6aを所定温度となるように冷却あるいは加
熱するための冷媒循環方式によるワーク載置面温度制御
機構7を有している。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an environment test apparatus to which the present invention is applied. The environmental test apparatus 1 of this example includes a heat insulating box 2 formed of a heat insulating panel, a test tank 3 partitioned inside the heat insulating box 2, and an empty space for controlling the temperature inside the test tank 3. It has an in-tank temperature control mechanism 4 of an air temperature control system, and a work placing table 6 for placing an article under test 5 installed in the test tank 3. Further, it has a work placement surface temperature control mechanism 7 of a refrigerant circulation system for cooling or heating the work placement surface 6a of the work placement table 6 to a predetermined temperature.

【0019】断熱箱2の内部は仕切り板30によって二
つの区画に仕切られており、一方の区画が試験槽3とさ
れ、他方の区画には槽内温度制御機構4を構成している
冷却器41、加熱器42および空気攪拌用のファン43
が配置されている。仕切り板30は、垂直に延びる側板
部分31と、この側板部分31の上端から水平に折れ曲
がって延びている天井板部分32を備えており、側板部
分31と断熱箱2の内側面21との間に冷却器41およ
び加熱器42が配置され、天井板部分32と断熱箱2の
天板面22の間に空気攪拌用のファン43が下向きに配
置されている。このファン43の空気吹き出し口32a
はワーク載置台6の真上に位置しており、ワーク載置台
6の側方に配置されている側板部分31の下端部分には
空気流通口31aが開いている。
The inside of the heat insulating box 2 is divided into two compartments by a partition plate 30, one compartment being a test tank 3 and the other compartment being a cooler constituting a tank temperature control mechanism 4. 41, heater 42 and fan 43 for air agitation
Are arranged. The partition plate 30 includes a side plate portion 31 that extends vertically and a ceiling plate portion 32 that horizontally bends and extends from the upper end of the side plate portion 31, and the partition plate 30 is provided between the side plate portion 31 and the inner surface 21 of the heat insulating box 2. A cooler 41 and a heater 42 are disposed in the air conditioner, and a fan 43 for agitating air is disposed downward between the ceiling plate portion 32 and the top plate surface 22 of the heat insulating box 2. The air outlet 32a of the fan 43
Is located directly above the work mounting table 6, and an air circulation port 31a is opened at the lower end portion of the side plate portion 31 arranged on the side of the work mounting table 6.

【0020】従って、ファン43の空気吹き出し口32
aから試験槽3内に吹き出された空気は、図において矢
印で示すように、ワーク載置台6に吹き付けられた後
は、その側方の下側に位置している空気流通口31aを
介して冷却器41の空気吸引口の側に吸引され、この冷
却器41を経由した後に加熱器42を経由してその空気
排出口から排出されてファン43によって吸引され、再
び試験槽3内に吹き出される。空気は、かかる空気循環
経路を経由して循環すると共に、槽内温度制御機構4の
冷却器41および加熱器42を経由する間に、所定の温
度状態となるように制御される。
Accordingly, the air outlet 32 of the fan 43
The air blown from the a into the test tank 3 is blown onto the work mounting table 6 as shown by an arrow in the figure, and thereafter, through the air circulation port 31a located on the lower side of the side. The air is sucked toward the air suction port of the cooler 41, and after passing through the cooler 41, is discharged from the air discharge port through the heater 42, is sucked by the fan 43, and is blown into the test tank 3 again. It The air is circulated through the air circulation path, and is controlled to have a predetermined temperature state while passing through the cooler 41 and the heater 42 of the in-tank temperature control mechanism 4.

【0021】次に、ワーク載置台6は、上面が平坦なワ
ーク載置面6aとなっているアルミニウム製などのプレ
ート61と、このプレート61を水平に支持している一
対の支持脚62とを備えている。ワーク載置面6aを所
定の温度となるように冷却あるいは加熱するためのワー
ク載置面温度制御機構7は、プレート61内を貫通して
多重に折り曲げた状態に引き回されている冷媒循環パイ
プ63からなる熱交換部71と、断熱箱2の外部に配置
された冷媒供給・回収部72とを備えている。冷媒供給
・回収部72は、所定温度に制御された冷媒を冷媒循環
パイプ63を介して熱交換部71に供給し、熱交換部7
1で熱交換を行った後の冷媒を回収して所定温度に調節
する一般的なものである。
Next, the work placing table 6 includes a plate 61 made of aluminum or the like having a work placing surface 6a having a flat upper surface, and a pair of support legs 62 horizontally supporting the plate 61. I have it. The work placement surface temperature control mechanism 7 for cooling or heating the work placement surface 6a to a predetermined temperature is a refrigerant circulation pipe that penetrates through the plate 61 and is bent in a multiple-folded state. The heat exchanging unit 71 composed of 63 and the refrigerant supply / recovery unit 72 arranged outside the heat insulating box 2 are provided. The refrigerant supply / recovery section 72 supplies the refrigerant whose temperature is controlled to a predetermined temperature to the heat exchange section 71 via the refrigerant circulation pipe 63, and the heat exchange section 7
In general, the refrigerant after heat exchange in 1 is recovered and adjusted to a predetermined temperature.

【0022】このように構成した本例の環境試験装置1
においては、槽内温度制御機構4を駆動して、所定温度
の空気を試験槽3を経由して循環させることにより、試
験槽3の内部温度を所定温度状態にする。同時に、ワー
ク載置面温度調整機構7を駆動してワーク載置台6のワ
ーク載置面6aを所定温度状態にする。
The environmental test apparatus 1 of this example configured as described above
In 1, the internal temperature of the test tank 3 is brought to a predetermined temperature state by driving the in-tank temperature control mechanism 4 to circulate air having a predetermined temperature through the test tank 3. At the same time, the work placement surface temperature adjusting mechanism 7 is driven to bring the work placement surface 6a of the work placement table 6 into a predetermined temperature state.

【0023】次に、試験槽3に被試験品5を入れて、ワ
ーク載置台6のワーク載置面6aに載せる。被試験品5
は試験槽3内を循環する空気によって冷却あるいは加熱
されると共に、ワーク載置面6aからの熱伝達によって
冷却あるいは加熱される。すなわち、被試験品5は空気
およびワーク載置面6aとの間で熱交換を行って所定の
試験温度状態に移行する。従って、空気温調方式のみに
よる場合に比べて、被試験品5が所定の試験温度に到達
するまでの遷移時間を短縮できる。特に、被試験品5の
熱容量が大きい場合であっても、ワーク載置面温度制御
機構7による直接冷却あるいは直接加熱によって迅速に
所定の試験温度状態に到達する。
Next, the DUT 5 is put in the test tank 3 and placed on the work placing surface 6a of the work placing table 6. DUT 5
Is cooled or heated by the air circulating in the test tank 3, and is also cooled or heated by heat transfer from the work mounting surface 6a. That is, the DUT 5 exchanges heat with the air and the work mounting surface 6a to shift to a predetermined test temperature state. Therefore, compared with the case where only the air temperature adjusting method is used, the transition time until the DUT 5 reaches the predetermined test temperature can be shortened. In particular, even if the heat capacity of the DUT 5 is large, a predetermined test temperature state is quickly reached by direct cooling or direct heating by the workpiece mounting surface temperature control mechanism 7.

【0024】また、被試験品5は、ワーク載置面6aに
接している部分がここからの熱伝導によって直接に冷却
あるいは加熱され、ワーク載置台6に接していない部分
は温度制御された空気によって冷却あるいは加熱され
る。よって、プレート温調方式の場合とは異なり、被試
験品5の全体が一様に冷却あるいは加熱されるので、被
試験品5に温度むらが発生することがなく、被試験品5
の全体を一様に所定の試験温度の状態にすることができ
る。
Further, in the DUT 5, a portion in contact with the work mounting surface 6a is directly cooled or heated by heat conduction from here, and a portion not in contact with the work mounting table 6 is temperature-controlled air. Cooled or heated by. Therefore, unlike the case of the plate temperature control method, the entire DUT 5 is uniformly cooled or heated, so that there is no temperature unevenness in the DUT 5, and
Can be brought to a state of a predetermined test temperature uniformly.

【0025】さらに、本例では、ファン43から吹き出
された空気がワーク載置面6aに直接に吹き付ける等に
よって供給される。すなわち、ここに載せてある被試験
品5に直接に吹き付けられる。あるいは、循環空気によ
って供給される。よって、空気による被試験品5の冷却
あるいは加熱を促進できるので、ワーク載置面6aに接
していない被試験品5の部分を速やかに所定の試験温度
に到達させることができる。従って、被試験品5の熱容
量が大きい場合や、それが熱伝導率の悪い材質から形成
されている場合などにおいても、温度むらを発生させる
ことなく、被試験品5の全体を一様に所定の試験温度に
到達させることができ、また、その温度状態を安定的に
維持させることができる。
Further, in this example, the air blown out from the fan 43 is supplied by directly blowing on the work mounting surface 6a. That is, it is directly sprayed on the DUT 5 placed here. Alternatively, it is supplied by circulating air. Therefore, the cooling or heating of the DUT 5 with air can be promoted, so that the portion of the DUT 5 which is not in contact with the work mounting surface 6a can be quickly brought to the predetermined test temperature. Therefore, even if the DUT 5 has a large heat capacity or is made of a material having a poor thermal conductivity, the entire DUT 5 can be uniformly specified without causing temperature unevenness. The test temperature can be reached, and the temperature state can be stably maintained.

【0026】このように、本例の環境試験装置1では、
試験槽3に入れた被試験品5が熱容量の大きなものであ
っても、それを短時間で所定の試験温度状態に到達させ
ることができ、また、全体を温度むらなく一様に所定の
試験温度状態にすることができる。
As described above, in the environment test apparatus 1 of this example,
Even if the DUT 5 put in the test tank 3 has a large heat capacity, it can reach a predetermined test temperature state in a short time, and the whole test can be uniformly performed in a predetermined test without temperature unevenness. Can be brought to a temperature condition.

【0027】(その他の実施の形態)なお、ワーク載置
台6のプレート61は熱伝導率の高い素材であればアル
ミニウム以外のものであっても良いことは勿論である。
また、ワーク載置面6aを所定温度に制御するためのワ
ーク載置面温度制御機構7は、上記のような冷媒循環方
式だけでなく、電子冷凍方式などの他の方式のものであ
ってもよい。
(Other Embodiments) It goes without saying that the plate 61 of the work mounting table 6 may be made of a material other than aluminum as long as it has a high thermal conductivity.
Further, the work placement surface temperature control mechanism 7 for controlling the work placement surface 6a to a predetermined temperature may be not only the above-mentioned refrigerant circulation type but also other types such as an electronic refrigeration type. Good.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の環境試験
装置では、試験槽内に温度制御された空気を循環させる
ことによりワーク載置台に載せた被試験品を冷却あるい
は加熱して所定の試験温度状態にすると共に、ワーク載
置面も冷媒循環方式や電子冷凍方式などの温度制御機構
によって所定温度に制御するようにしている。
As described above, in the environmental test apparatus of the present invention, the temperature of the temperature-controlled air is circulated in the test chamber to cool or heat the DUT placed on the work mounting table so as to obtain a predetermined temperature. In addition to the test temperature state, the workpiece mounting surface is also controlled to a predetermined temperature by a temperature control mechanism such as a refrigerant circulation system or an electronic refrigeration system.

【0029】従って、ワーク載置面に載せた被試験品
は、温度制御された空気によって冷却あるいは加熱され
ると同時にワーク載置面によって直接に冷却あるいは加
熱される。従って、熱容量の大きな被試験品であって
も、それを所定の試験温度状態に到達させるために必要
な時間を短縮化できる。また、被試験品の全体を、温度
むら無く一様に冷却あるいは加熱して所定の試験温度状
態に到達させることができる。よって、環境試験装置の
小型化および試験時間の短縮化を図ることが可能にな
る。
Therefore, the DUT placed on the work mounting surface is cooled or heated by the temperature-controlled air, and at the same time, directly cooled or heated by the work mounting surface. Therefore, even for a DUT having a large heat capacity, the time required to reach the predetermined test temperature state can be shortened. Further, the entire DUT can be cooled or heated uniformly without temperature unevenness to reach a predetermined test temperature state. Therefore, it is possible to reduce the size of the environmental test device and shorten the test time.

【0030】また、本発明では、ワーク載置面に載せた
被試験品に対して温度制御された空気を直接吹き付ける
ようにしているので、空気と被試験品との間の熱交換効
率を高めることができ、熱容量の大きな被試験品であっ
ても、それをむらなく迅速に所定の試験温度状態に到達
させることができる。
Further, according to the present invention, the temperature-controlled air is blown directly to the DUT placed on the work mounting surface, so that the heat exchange efficiency between the air and the DUT is enhanced. Therefore, even a device under test having a large heat capacity can be quickly and uniformly reached a predetermined test temperature state.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を適用した環境試験装置の一例を示す概
略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an example of an environment test apparatus to which the present invention is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 環境試験装置 2 断熱箱 3 試験槽 31a 空気流通口 32a 空気吹き出し口 4 槽内温度制御機構 41 冷却器 42 加熱器 43 空気攪拌用のファン 5 被試験品 6 ワーク載置台 6a ワーク載置面 61 プレート 62 支持脚 63 冷媒循環用パイプ 7 ワーク載置面温度制御機構 71 熱交換部 72 冷媒供給・回収部 1 Environmental test equipment 2 insulation box 3 test tanks 31a Air circulation port 32a Air outlet 4 Tank temperature control mechanism 41 Cooler 42 heater 43 Fan for stirring air 5 DUT 6 Work stand 6a Work surface 61 plate 62 support legs 63 Refrigerant circulation pipe 7 Work placement surface temperature control mechanism 71 heat exchange section 72 Refrigerant supply / recovery section

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 明 長野県須坂市大字幸高246番地 オリオン 機械株式会社内 Fターム(参考) 2G036 AA28 CA12 2G050 AA07 CA02 CA06 CA10 DA01 EA01 EC05 4M106 AA01 AA02 DH02 DH44 DH45 DH46 DH47    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Akira Shimizu             Orion 246 Kodaka, Suzaka City, Nagano Prefecture             Machinery Co., Ltd. F-term (reference) 2G036 AA28 CA12                 2G050 AA07 CA02 CA06 CA10 DA01                       EA01 EC05                 4M106 AA01 AA02 DH02 DH44 DH45                       DH46 DH47

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の温度状態の被試験品に対して環境
試験を行う環境試験装置において、 被試験品を入れる試験槽と、 被試験品を載せるために前記試験槽内に配置されたワー
ク載置台と、 前記試験槽の内部に温度制御された空気を循環させるこ
とにより当該試験槽の内部温度を所定温度となるように
制御する槽内温度制御機構と、 前記ワーク載置台におけるワーク載置面が所定温度とな
るように、当該ワーク載置面を冷却および/または加熱
するワーク載置面温度制御機構とを有していることを特
徴とする環境試験装置。
1. An environmental test apparatus for performing an environmental test on a product under test in a predetermined temperature state, and a test tank in which the product under test is placed, and a workpiece arranged in the test tank for mounting the product under test. A mounting table, an in-vessel temperature control mechanism for controlling the internal temperature of the test tank to a predetermined temperature by circulating temperature-controlled air inside the test tank, and a work mounting table on the work mounting table. An environment test apparatus, comprising: a work placement surface temperature control mechanism for cooling and / or heating the work placement surface so that the surface reaches a predetermined temperature.
【請求項2】 請求項1において、 前記槽内温度制御機構は、前記ワーク載置面に温度制御
された空気を供給することを特徴とする環境試験装置。
2. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the tank temperature control mechanism supplies temperature-controlled air to the work placement surface.
【請求項3】 請求項1または2において、 前記ワーク載置面温度制御機構は、電子冷凍方式あるい
は冷媒循環方式により前記ワーク載置面を冷却および/
または加熱する機構であることを特徴とする環境試験装
置。
3. The work mounting surface temperature control mechanism according to claim 1 or 2, wherein the work mounting surface is cooled and / or cooled by an electronic refrigeration system or a refrigerant circulation system.
Alternatively, an environmental test device having a heating mechanism.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103487684A (en) * 2013-09-16 2014-01-01 广东省东莞市质量监督检测中心 Mean time between failure (MTBF) testing machine and testing method thereof
CN110470415A (en) * 2019-09-20 2019-11-19 上海迦锐自动化检测科技有限公司 A kind of temperature sensor temperature impact test equipment and its control method
KR102371376B1 (en) * 2020-08-25 2022-03-04 현종석 Constant temperature and humidity chamber for testing with precise local control

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