JP2003283174A - Sealing cover-equipped board - Google Patents

Sealing cover-equipped board

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JP2003283174A
JP2003283174A JP2002085937A JP2002085937A JP2003283174A JP 2003283174 A JP2003283174 A JP 2003283174A JP 2002085937 A JP2002085937 A JP 2002085937A JP 2002085937 A JP2002085937 A JP 2002085937A JP 2003283174 A JP2003283174 A JP 2003283174A
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JP
Japan
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substrate
cover
ccd
board
slit
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JP2002085937A
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Japanese (ja)
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Kazuhiro Makino
和浩 牧野
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To moderate stress produced in a board owing to a force applied to a mounting region where parts are mounted in a sealing cover-equipped board, and improve cooling efficiency upon cooling the parts. <P>SOLUTION: Between a mounting region 11 for mounting a CCD device 1 in a board 10, and a holding region 12 held between a pair of surface side cover 20 and a back side cover 21 for holding the surroundings of the mounting region 11 from the surface and the back surface and containing the CCD device 1 therein to close the same there is formed a slit 40 penetrating the surface and the back of the board 10. Further, the CCD device 1 is cooled by a Peltier device 30 disposed on the back side cover 21. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、密閉カバー付き基
板に関し、詳しくは、密閉して収容されている実装部品
を冷却する機能を備えた密閉カバー付き基板に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate with a hermetic cover, and more particularly to a substrate with a hermetic cover having a function of cooling mounted components that are hermetically housed.

【0002】[0002]

【従来の技術】CCDには温度に応じた暗電流が発生
し、この暗電流は温度の上昇とともに増加する。上記暗
電流はCCDで光電変換された信号にノイズとして混入
するため、特に上記信号を高いS/Nで取得しようとす
るときには、CCDをペルチェ素子により冷却してこの
暗電流を減少させて上記信号に混入するノイズを抑制し
ている。さらに、上記冷却による結露を防ぐために、冷
却されるCCDが実装されている基板中の実装領域の周
囲をこの基板の表裏両側から一対の表側カバーおよび裏
側カバーで挟んで上記CCDを内部に収容する手法も知
られている。
2. Description of the Related Art A dark current is generated in a CCD depending on the temperature, and this dark current increases as the temperature rises. Since the dark current is mixed as noise in the signal photoelectrically converted by the CCD, the CCD is cooled by a Peltier element to reduce the dark current, especially when trying to acquire the signal with a high S / N. The noise mixed in is suppressed. Further, in order to prevent dew condensation due to the cooling, the periphery of the mounting area in the substrate on which the CCD to be cooled is mounted is sandwiched by a pair of front and back covers from the front and back sides of the substrate, and the CCD is housed inside. Techniques are also known.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ペルチ
ェ素子の冷却によりCCDから熱を奪っても、上記一対
の表側カバーおよび裏側カバーの間に挟まれている、C
CDが実装されている基板を介して外部から熱が伝導さ
れこのCCDに熱が付与されるので、CCDを冷却する
冷却効率が低下してしまうという問題がある。
However, even if heat is taken from the CCD by cooling the Peltier element, it is sandwiched between the pair of front cover and back cover, C
Since heat is conducted from the outside through the substrate on which the CD is mounted and heat is applied to this CCD, there is a problem that the cooling efficiency for cooling the CCD is reduced.

【0004】また、CCDから熱を奪うためにこのCC
Dに密着されるペルチェ素子の冷却面の位置と、この冷
却面に密着される上記基板に実装されているCCDの被
冷却面の位置とが一致しないときには、ペルチェ素子に
押されてCCDが実装されている基板に加えられた力に
より上記基板が歪んでこの基板中に応力が発生し、基板
配線の断線の原因になったり、表裏カバーの密閉特性が
劣化するという問題がある。
In order to remove heat from the CCD, the CC
When the position of the cooling surface of the Peltier element that is in close contact with D does not match the position of the cooled surface of the CCD that is in close contact with this cooling surface and that is mounted on the substrate, the CCD is pressed by the Peltier element and the CCD is mounted. There is a problem that the above-mentioned substrate is distorted by the force applied to the substrate and a stress is generated in the substrate, which causes a disconnection of the substrate wiring and deteriorates the sealing property of the front and back covers.

【0005】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、部品が実装されている基板中の実装領域に加え
られた力によってこの基板中に生じる応力を緩和し、か
つこの部品を冷却する際の冷却効率を高めることができ
る密閉カバー付き基板を提供することを目的とするもの
である。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and alleviates the stress generated in the substrate by the force applied to the mounting area in the substrate on which the component is mounted, and cools the component. It is an object of the present invention to provide a substrate with a hermetic cover, which can enhance the cooling efficiency when performing.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の密閉カバー付き
基板は、部品が実装されている基板と、この基板の前記
部品が実装されている実装領域の周囲を該基板の表裏両
側から挟んで前記部品を内部に収容して密閉する一対の
表側カバーおよび裏側カバーと、この表側カバーまたは
裏側カバーに配設され前記部品を冷却する冷却手段とを
備えた密閉カバー付き基板であって、この基板中の、前
記表側カバーと裏側カバーとに挟まれている狭持領域と
前記実装領域との間に、この基板を表裏に貫通するスリ
ットが形成されていることを特徴とするものである。
A substrate with a hermetic cover according to the present invention sandwiches a substrate on which a component is mounted and a mounting region of the substrate on which the component is mounted from both front and back sides of the substrate. A substrate with a hermetically-sealing cover, comprising a pair of front and back covers for accommodating and hermetically sealing the components therein, and cooling means arranged on the front or back cover to cool the components. A slit is formed between the sandwiching region sandwiched between the front cover and the back cover, and the mounting region, the slit penetrating the substrate to the front and back.

【0007】前記スリットは、実装領域の周囲の1/3
以上、2/3以下に亘って形成されていることが好まし
い。
The slit is 1/3 of the circumference of the mounting area.
It is preferably formed over 2/3 or less.

【0008】前記部品をCCDとし、前記冷却手段をペ
ルチェ素子とすることができる。また、前記基板はフレ
キシブルプリント基板(FPC基板とも言う)とするこ
とができる。
The component may be a CCD, and the cooling means may be a Peltier element. Further, the substrate can be a flexible printed circuit board (also referred to as an FPC board).

【0009】なお、上記スリットは実装領域の周囲に連
続的に形成されている場合に限らず、断続的に形成され
ているものであってもよい。
The slits are not limited to being formed continuously around the mounting area, but may be formed intermittently.

【0010】[0010]

【発明の効果】本発明の密閉カバー付き基板によれば、
基板中の、表側カバーと裏側カバーとに挟まれている狭
持領域と実装領域との間に、この基板を表裏に貫通する
スリットを形成するようにしたので、このスリットによ
り、狭持領域に対して実装領域が変位しやすくなり、部
品が実装されている基板中の実装領域に加えられた力に
よってこの基板中に生じる応力を緩和することができ
る。これと共に、このスリットによって上記狭持領域を
通して実装領域に伝えられる熱の伝導経路の一部が遮断
され、スリットが形成されていない場合に比して狭持領
域からこの実装領域に伝えられる単位時間当りの熱量が
少なくなるので、実装領域の部品を冷却する際の冷却効
率を高めることができる。
According to the substrate with the hermetic cover of the present invention,
In the board, between the holding area sandwiched between the front cover and the back cover and the mounting area, a slit is formed so as to penetrate the board to the front and back sides. On the other hand, the mounting region is easily displaced, and the stress generated in the substrate by the force applied to the mounting region in which the component is mounted can be relieved. Along with this, a part of the heat conduction path transmitted to the mounting area through the holding area is blocked by the slit, and the unit time transmitted from the holding area to the mounting area is greater than when the slit is not formed. Since the amount of heat per hit is reduced, it is possible to improve the cooling efficiency when cooling the components in the mounting area.

【0011】また、上記スリットを、実装領域の周囲の
1/3以上、2/3以下に亘って形成されているものと
すれば、スリットを実装領域の周囲の2/3以下に亘っ
て形成したことによる効果、すなわち、配線に必要な領
域および実装領域の保持に必要な領域を確実に確保して
おく効果を得ることができるとともに、スリットを実装
領域の周囲の1/3以上に亘って形成したことによる効
果、すなわち、スリットが無い場合に比して上記実装領
域の部品を冷却する冷却効率を確実に高める効果を得る
ことができる。
If the slits are formed over 1/3 or more and 2/3 or less of the circumference of the mounting area, the slits are formed over 2/3 or less of the circumference of the mounting area. It is possible to obtain the effect of doing so, that is, the effect of surely securing the area necessary for wiring and the area necessary for holding the mounting area, and the slit extends over 1/3 or more of the circumference of the mounting area. It is possible to obtain the effect of the formation, that is, the effect of surely increasing the cooling efficiency for cooling the components in the mounting area as compared with the case where there is no slit.

【0012】さらに、上記部品をCCDとし、上記冷却
手段をペルチェ素子とすれば、特に、CCDに生じる暗
電流は温度の上昇に対して敏感に増加するため、上記冷
却効率の向上により暗電流を減少させる大きな効果を享
受することができると共に、このCCDの冷却を確実に
行なうことができる。また、上記基板をフレキシブルプ
リント基板とすれば、フレキシブルプリント基板は他の
タイプの基板に比して熱伝導率が比較的高いため、スリ
ットを形成して実装領域に伝導される単位時間当りの熱
量を少なくして冷却効率を向上させる大きな効果を享受
することができる。
Further, if the above component is a CCD and the cooling means is a Peltier element, the dark current generated in the CCD increases sensitively to a rise in temperature. Therefore, the dark current is improved by improving the cooling efficiency. It is possible to enjoy a great effect of reducing the temperature and surely cool the CCD. Also, if the above-mentioned board is a flexible printed board, since the flexible printed board has a relatively high thermal conductivity compared to other types of boards, the amount of heat per unit time that is formed by forming a slit and is conducted to the mounting area. It is possible to enjoy a great effect of improving the cooling efficiency by reducing the amount.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施の形
態について、図面を用いて説明する。図1は、本発明の
実施の形態の密閉カバー付き基板の構成を示す概略図で
あり、図1(a)は表側カバーを外して上記密閉カバー
付き基板を上から見た平面図、図1(b)はこの密閉カ
バー付き基板の側面を示す断面図、図2はペルチェ素子
によってCCD素子が冷却される様子を示した図であ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view showing the configuration of a substrate with a hermetic cover according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1A is a plan view of the substrate with a hermetic cover seen from above with the front cover removed. FIG. 2B is a cross-sectional view showing a side surface of the substrate with the hermetic cover, and FIG. 2 is a view showing how the Peltier device cools the CCD device.

【0014】本発明の実施の形態による密閉カバー付き
基板50は、部品であるCCD素子1が実装されている
フレキシブルプリント基板(以後FPC基板10と呼
ぶ)と、このFPC基板10中のCCD素子1が実装さ
れている実装領域11の周囲をこのFPC基板10の表
裏両側から挟んで上記CCD素子1を内部に収容して密
閉する一対の表側カバー20および裏側カバー21と、
裏側カバー21に配設されてCCD素子1を冷却するペ
ルチェ素子30とを備え、上記FPC基板10中の実装
領域11と、表側カバー20と裏側カバー21とに挟ま
れている狭持領域12との間に、FPC基板10を表裏
に貫通するスリット40が形成されている。
The substrate 50 with a hermetic cover according to the embodiment of the present invention includes a flexible printed circuit board (hereinafter referred to as an FPC board 10) on which the CCD element 1 which is a component is mounted, and the CCD element 1 in the FPC board 10. A pair of front and back covers 20 and 21 for sandwiching the periphery of the mounting area 11 on which is mounted from both sides of the front and back of the FPC board 10 to accommodate and seal the CCD element 1 therein.
The mounting area 11 in the FPC board 10 and the sandwiching area 12 sandwiched between the front cover 20 and the back cover 21 are provided with a Peltier element 30 arranged on the back cover 21 to cool the CCD element 1. In between, a slit 40 that penetrates the FPC board 10 on the front and back is formed.

【0015】なお、上記スリット40は、実装領域11
の周囲の1/3以上、2/3以下に亘って連続的に形成
されている。
The slit 40 is provided in the mounting area 11
Is continuously formed over 1/3 or more and 2/3 or less of the circumference.

【0016】CCD素子1の駆動電力および光電変換さ
れた信号等はFPC基板10の引出部15に配設されて
いるコネクタ16から入出力される。また、表側カバー
20は、CCD素子1の受光面2に対向する位置に受光
窓21を有し、外部の光がこの受光窓21を通して入射
されこの光が受光面2で受光される。
The driving power of the CCD element 1, the photoelectrically converted signal, and the like are input and output from a connector 16 provided in the lead-out portion 15 of the FPC board 10. The front cover 20 has a light receiving window 21 at a position facing the light receiving surface 2 of the CCD element 1, and external light enters through the light receiving window 21 and is received by the light receiving surface 2.

【0017】また、ペルチェ素子30は裏側カバー21
の内側面22上に固定されている。また、このペルチェ
素子30はCCD素子1にネジ固定されており、ペルチ
ェ素子30の冷却面31がCCD素子1の受光面2の反
対側の被冷却面3にグリスを介して密着されている。し
たがって、CCD素子1の位置は、FPC基板10中の
狭持領域12の位置に拘らず実質的にペルチェ素子30
の冷却面31の位置に応じて定められる。このとき、ペ
ルチェ素子30により実装領域11に力が加えられこの
狭持領域12の位置に対して実装領域11の位置が変動
するが、この変動は実装領域11の配置の自由度の範囲
内で吸収され、基板10中に大きな応力が発生すること
はない。なお、ペルチェ素子30を駆動させる電力等の
供給は、裏側カバー21に配設されているコネクタ35
を介して行なわれる。
Further, the Peltier device 30 has a back cover 21.
It is fixed on the inner surface 22 of the. The Peltier element 30 is screwed to the CCD element 1, and the cooling surface 31 of the Peltier element 30 is in close contact with the cooled surface 3 of the CCD element 1 opposite to the light receiving surface 2 via grease. Therefore, the position of the CCD element 1 is substantially irrespective of the position of the holding area 12 in the FPC board 10, and the Peltier element 30 is substantially located.
It is determined according to the position of the cooling surface 31 of the. At this time, a force is applied to the mounting area 11 by the Peltier element 30 and the position of the mounting area 11 changes with respect to the position of the holding area 12. It is absorbed and no large stress is generated in the substrate 10. The power supply for driving the Peltier device 30 is supplied by the connector 35 provided on the back cover 21.
Through.

【0018】なお、上記密閉カバー付き基板50は、裏
側カバー21を介して、放熱用フィン61を有する熱伝
導率が高いベース台60に固定されている。
The substrate 50 with the hermetic cover is fixed to the base table 60 having the heat dissipation fins 61 and having a high thermal conductivity via the back cover 21.

【0019】ここで、ペルチェ素子30によるCCD素
子1の冷却について図2を参照して説明する。
Here, cooling of the CCD element 1 by the Peltier element 30 will be described with reference to FIG.

【0020】ペルチェ素子30を駆動すると、このペル
チェ素子30は冷却面31を通してCCD素子1から熱
を奪いCCD素子1が冷却される。ペルチェ素子30が
CCD素子1から奪った熱は冷却面31の反対側の放熱
面32から裏側カバー21を通してベース台60に伝導
され放熱される。
When the Peltier element 30 is driven, the Peltier element 30 draws heat from the CCD element 1 through the cooling surface 31 to cool the CCD element 1. The heat taken by the Peltier element 30 from the CCD element 1 is conducted from the heat radiation surface 32 opposite to the cooling surface 31 to the base 60 through the back cover 21 and is radiated.

【0021】一方、CCD素子1が冷却されてこのCC
D素子1の温度下がると、FPC基板10を通して伝え
られた熱がCCD素子のピン5を通してCCD素子1に
付与される。すなわち、熱伝達により外部の気体から裏
側カバー21と表側カバー20とに付与された熱(図中
矢印H1参照)、および熱伝導によりペルチェ素子30
の放熱面32から裏側カバー21へ伝えられた熱(図中
矢印H2参照)等が、FPC基板10の狭持領域12お
よび実装領域11を通してCCD素子1に伝導される
(図中矢印H3参照)。しかしながら、FPC基板10
の狭持領域12と実装領域11との間にはスリット40
が形成されているので、狭持領域12からCCD素子1
が実装されている実装領域11に伝えられる単位時間当
りの熱量は少なく、ペルチェ素子30によってCCD素
子1を効率良く冷却することができる。
On the other hand, when the CCD element 1 is cooled, the CC
When the temperature of the D element 1 is lowered, the heat transferred through the FPC board 10 is applied to the CCD element 1 through the pin 5 of the CCD element. That is, the heat applied to the back cover 21 and the front cover 20 from the outside gas by heat transfer (see arrow H1 in the figure), and the Peltier element 30 by heat conduction.
The heat (see the arrow H2 in the figure) transferred from the heat radiation surface 32 of the device to the back cover 21 is conducted to the CCD element 1 through the holding area 12 and the mounting area 11 of the FPC board 10 (see the arrow H3 in the figure). . However, the FPC board 10
The slit 40 is provided between the holding area 12 and the mounting area 11 of
Are formed, the CCD element 1 is
The amount of heat per unit time transmitted to the mounting area 11 where is mounted is small, and the Peltier device 30 can efficiently cool the CCD device 1.

【0022】なお、上記実施の形態においては、ペルチ
ェ素子を裏側カバーに配設するようにしたが、表側カバ
ーに配設してCCD素子を冷却するようにしてもよい。
In the above embodiment, the Peltier element is arranged on the back cover, but it may be arranged on the front cover to cool the CCD element.

【0023】また、上記実施の形態においては、スリッ
トを実装領域の周囲の1/3以上、2/3以下に亘って
形成されているものとしたが、このスリットの形成範囲
は必ずしも上記範囲に限定されるものではなく、スリッ
トが実装領域の周囲の1/3以下の範囲、あるいはスリ
ットが実装領域の周囲の2/3以上の範囲に形成されて
いても上記と同様の効果を得ることができる。
Further, in the above embodiment, the slit is formed over 1/3 or more and 2/3 or less of the periphery of the mounting area, but the formation range of this slit is not necessarily the above range. The present invention is not limited to this, and even if the slit is formed in a range of 1/3 or less around the mounting area, or even if the slit is formed in a range of 2/3 or more around the mounting area, the same effect as above can be obtained. it can.

【0024】また、必ずしも上記部品をCCDとし、上
記冷却手段をペルチェ素子とする必要はなく、上記部品
は、他のタイプの撮像素子やCPU等、冷却することに
より特性が向上する部品であればどのような部品であっ
てもよく、また、冷却手段とは、上記部品から熱を奪う
ものであればどのような方式であってもよい。
Further, it is not always necessary to use CCD as the above component and the Peltier device as the cooling means, and the above component may be another type of image pickup device, CPU, or any other component whose characteristics are improved by cooling. Any component may be used, and the cooling means may be of any type as long as it removes heat from the component.

【0025】また、上記実施の形態においては、基板を
FPC基板としたが、他のタイプの基板、例えばガラス
エポキシ基板等であっても、上記と同様の効果を得るこ
とができる。
Further, in the above-mentioned embodiment, the substrate is the FPC substrate, but the same effect as above can be obtained even if the substrate is another type such as a glass epoxy substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態による密閉カバー付き基板
の構成を示す概略図
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a substrate with a hermetic cover according to an embodiment of the present invention.

【図2】ペルチェ素子によってCCD素子が冷却される
様子を側面から示す断面図
FIG. 2 is a sectional view showing a state in which a CCD element is cooled by a Peltier element from a side surface.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CCD素子 10 FPC基板 11 実装領域 12 狭持領域 20 表側カバー 21 裏側カバー 30 ペルチェ素子 40 スリット 50 密閉カバー付き基板 60 ベース台 1 CCD element 10 FPC board 11 mounting area 12 Narrow area 20 Front cover 21 Back cover 30 Peltier element 40 slits 50 Substrate with airtight cover 60 base stand

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01R 13/516 H05K 5/00 A 5E322 H04N 5/225 7/14 A 5E348 5/335 C 5F036 H05K 5/00 H01L 23/12 J 7/14 27/14 D B Fターム(参考) 4E360 AB02 AB13 CA02 CA03 EA18 FA02 GA13 GA24 GB97 4M118 AA08 AA10 AB01 BA10 HA20 HA27 HA36 5C022 AC42 AC43 AC63 AC70 AC78 5C024 CY48 EX26 GY01 5E087 FF18 JJ05 JJ08 JJ09 LL17 LL29 MM09 PP08 QQ06 RR07 5E322 AB09 DC01 5E348 AA02 AA08 AA31 CC09 EE29 EE35 FF03 5F036 AA01 BA33 BB05 BC03 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01R 13/516 H05K 5/00 A 5E322 H04N 5/225 7/14 A 5E348 5/335 C 5F036 H05K 5 / 00 H01L 23/12 J 7/14 27/14 D B F term (reference) 4E360 AB02 AB13 CA02 CA03 EA18 FA02 GA13 GA24 GB97 4M118 AA08 AA10 AB01 BA10 HA20 HA27 HA36 5C022 AC42 AC43 AC63 AC70 AC78 5C024 CY48 EX26 GY01 5EJ0587FF18 JJ08 JJ09 LL17 LL29 MM09 PP08 QQ06 RR07 5E322 AB09 DC01 5E348 AA02 AA08 AA31 CC09 EE29 EE35 FF03 5F036 AA01 BA33 BB05 BC03

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 部品が実装されている基板と、該基板の
前記部品が実装されている実装領域の周囲を該基板の表
裏両側から挟んで前記部品を内部に収容して密閉する一
対の表側カバーおよび裏側カバーと、該表側カバーまた
は裏側カバーに配設され前記部品を冷却する冷却手段と
を備えた密閉カバー付き基板であって、 前記基板中の、前記表側カバーと裏側カバーとに挟まれ
ている狭持領域と前記実装領域との間に、該基板を表裏
に貫通するスリットが形成されていることを特徴とする
密閉カバー付き基板。
1. A board on which a component is mounted, and a pair of front sides for accommodating and sealing the component inside by sandwiching the periphery of a mounting area of the substrate on which the component is mounted from both front and back sides of the substrate. A substrate with a hermetic cover, comprising a cover and a back cover, and cooling means arranged on the front cover or the back cover to cool the component, the substrate being sandwiched between the front cover and the back cover in the substrate. A substrate with a hermetic cover, characterized in that a slit is formed between the sandwiching region and the mounting region, the slit penetrating the substrate to the front and back.
【請求項2】 前記スリットが前記実装領域の周囲の1
/3以上、2/3以下に亘って形成されていることを特
徴とする請求項1記載の密閉カバー付き基板。
2. The slit is formed around the mounting area.
The substrate with a hermetic cover according to claim 1, wherein the substrate is formed over / 3 or more and 2/3 or less.
【請求項3】 前記部品がCCDであり、前記冷却手段
がペルチェ素子であることを特徴とする請求項1または
2記載の密閉カバー付き基板。
3. The substrate with a hermetic cover according to claim 1, wherein the component is a CCD and the cooling means is a Peltier device.
【請求項4】 前記基板がフレキシブルプリント基板で
あることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記
載の密閉カバー付き基板。
4. The board with a hermetic cover according to claim 1, wherein the board is a flexible printed board.
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