JP2003281996A - Method of manufacturing plasma display device, sandblast processing method, and plasma display device - Google Patents

Method of manufacturing plasma display device, sandblast processing method, and plasma display device

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JP2003281996A
JP2003281996A JP2002085126A JP2002085126A JP2003281996A JP 2003281996 A JP2003281996 A JP 2003281996A JP 2002085126 A JP2002085126 A JP 2002085126A JP 2002085126 A JP2002085126 A JP 2002085126A JP 2003281996 A JP2003281996 A JP 2003281996A
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JP
Japan
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mask
connection terminal
external connection
display device
plasma display
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JP2002085126A
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Japanese (ja)
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Hidehiro Kawaguchi
英広 川口
Eitaro Yoshikawa
英太郎 吉川
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a high definition plasma display device which improves the shape precision of partitions for forming the partitions by sandblasting while achieving the easy and secure peeling of resist patterns. <P>SOLUTION: A fine stripe-shaped resist pattern 25 conforming to the partition pitch is formed on a partition material layer 24A. When outside connection terminal portions 22A of address electrodes 22 are coated with a resist pattern 25, a notch 25D, for example a slit, is formed on the space 22D covering portions between the adjacent outside connection terminal portions 22A. By reducing the variations in the density of the resist patterns 25, that is, in the area of each solid pattern in the whole of the resist patterns 25 over the entire region of a back face substrate 21, a deviation in density of the resist patterns 25 can be decreased or eliminated. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマ放電を利
用して表示を行うプラズマ表示装置の製造方法およびサ
ンドブラスト加工方法、ならびにプラズマ表示装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a plasma display device and a method of sandblasting, and a plasma display device which performs display by utilizing plasma discharge.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在主流の陰極線管(CRT)に代わる
画像表示装置として、フラットパネルディスプレイが種
々検討されている。そのうち、プラズマディスプレイ
(PDP:Plasma Display Panel)は、ガス放電により
発生した真空紫外線を蛍光体に照射させて発光させるこ
とにより画像表示を行うものである。PDPは、CRT
では実現が難しいとされる薄型・大画面化に加え、広視
野角化が比較的容易であること、温度、磁気、振動等の
環境要因に対する耐性に優れること、長寿命であること
などの長所を有し、家庭用の壁掛けテレビの他、大型デ
ィスプレイへの今後の展開が期待されている。
2. Description of the Related Art Various flat panel displays have been studied as an image display device which replaces the currently mainstream cathode ray tube (CRT). Among them, a plasma display panel (PDP) displays an image by irradiating a fluorescent substance with vacuum ultraviolet rays generated by gas discharge to emit light. PDP is CRT
In addition to thin and large screens that are difficult to achieve with, it is relatively easy to widen the viewing angle, has excellent resistance to environmental factors such as temperature, magnetism, vibration, and has a long life. In addition to the wall-mounted TV for home use, it is expected to be expanded to large displays in the future.

【0003】従来のAC型プラズマ表示装置では、表示
面側にあたる前面基板の上に、対をなして並列する維持
電極およびバス電極が形成され、更にその上から、誘電
体層,酸化マグネシウム(MgО)からなる保護層が順
に形成されている。背面基板には、互いに並行なアドレ
ス電極、このアドレス電極を被覆する誘電体層、アドレ
ス電極の間に延設された隔壁および隔壁の側面を覆う蛍
光体が順に形成されている。前面基板と背面基板とは、
維持電極およびバス電極とアドレス電極および隔壁とを
直交させるようにして封止されている。このようなAC
型プラズマ表示装置では、前面基板上の維持電極ギャッ
プでの放電によってガスを励起させ真空紫外線を発生さ
せる。背面基板上に形成された蛍光体は、この真空紫外
線の照射を受けて各色に発光する。この可視光は、前面
基板を透過して表示発光色となる。通常は、維持電極と
アドレス電極との間に電圧を印加し、誘電体層上に電荷
を蓄積することにより、各画素における電極間の放電開
始電圧を制御するようになっている。
In a conventional AC type plasma display device, a sustain electrode and a bus electrode which are paired and arranged in parallel are formed on a front substrate which is a display surface side, and a dielectric layer and magnesium oxide (MgO) are further formed on the sustain electrode and the bus electrode. ) Is formed in order. Address electrodes that are parallel to each other, a dielectric layer that covers the address electrodes, partitions that extend between the address electrodes, and phosphors that cover the side surfaces of the partitions are sequentially formed on the back substrate. The front substrate and the rear substrate are
The sustain electrodes and the bus electrodes are orthogonal to the address electrodes and the partition walls, and they are sealed. AC like this
In the plasma display device, the gas is excited by the discharge in the sustain electrode gap on the front substrate to generate vacuum ultraviolet rays. The phosphors formed on the back substrate are irradiated with this vacuum ultraviolet ray and emit light of each color. This visible light passes through the front substrate and becomes a display emission color. Normally, a voltage is applied between the sustain electrode and the address electrode to accumulate charges on the dielectric layer, thereby controlling the discharge start voltage between the electrodes in each pixel.

【0004】ところで、隔壁の形成方法としては、例え
ば、ガラスペーストを背面基板上に一様に形成したあ
と、レジストを塗布、露光することによりパターニング
し、サンドブラストによる物理エッチングを行うように
している。例えば図8および図9に示したように、ま
ず、背面基板201上に、銀(Ag),アルミニウム
(Al)またはニッケル(Ni)などを用いて、アドレ
ス電極202をストライプ状に形成する。アドレス電極
202上には、例えば低融点ガラスペーストを印刷、焼
成することによって誘電体層203を形成する。誘電体
層203は、プラズマ表示装置の駆動時にアドレス動作
の特性を制御する働き、および隔壁形成時にサンドブラ
ストの研磨材が直接アドレス電極202に衝突すること
を防御する役割を果たしている。誘電体層203上に
は、隔壁の材料となるガラスペーストを均一に塗布し、
乾燥させて溶剤等を除去して、隔壁材料層204Aを形
成する。さらに、サンドブラスト用レジストを塗布、ま
たはドライフィルムレジストを圧着し、露光現像して、
所望の隔壁パターンを有するレジストパターン205を
形成する。
As a method of forming the partition wall, for example, a glass paste is uniformly formed on the back substrate, and then a resist is applied and exposed to be patterned, and physical etching by sandblasting is performed. For example, as shown in FIGS. 8 and 9, first, the address electrodes 202 are formed in stripes on the rear substrate 201 using silver (Ag), aluminum (Al), nickel (Ni), or the like. The dielectric layer 203 is formed on the address electrode 202 by printing and baking a low melting point glass paste, for example. The dielectric layer 203 has a function of controlling the characteristics of the address operation when the plasma display device is driven, and a role of preventing the sandblasting abrasive from directly colliding with the address electrode 202 when the partition wall is formed. On the dielectric layer 203, a glass paste, which is a material for the partition, is uniformly applied,
The partition wall material layer 204A is formed by drying to remove the solvent and the like. Furthermore, apply a resist for sandblasting, or press-bond a dry film resist, expose and develop,
A resist pattern 205 having a desired partition pattern is formed.

【0005】ここで、隔壁が形成される領域、すなわち
表示領域100では、アドレス電極202は誘電体層2
03で覆われており、サンドブラストの研磨剤によるア
ドレス電極202の損傷は回避される。しかし、アドレ
ス電極202は、通常、回路駆動系との接続のため表示
領域100の外側まで延設されて、外部接続端子部分2
02Aと一体に形成されなければならないので、背面基
板201の端部に位置する外部接続端子部分202A
は、誘電体層203で保護されておらず露出した状態と
なっている。アドレス電極202の外部接続端子部分2
02Aが露出した状態でサンドブラストを行うと、一般
的には研磨材によって露出した外部接続端子部分202
Aが損傷する。外部接続端子部分202Aが損傷すると
熱工程による酸化などにより線抵抗が増大し、駆動時に
悪影響を及ぼす虞がある。
Here, in the region where the partition wall is formed, that is, in the display region 100, the address electrode 202 serves as the dielectric layer 2.
03, the address electrodes 202 are prevented from being damaged by the sandblasting abrasive. However, the address electrode 202 is usually extended to the outside of the display region 100 for connection with the circuit drive system, and the external connection terminal portion 2
02A and the external connection terminal portion 202A located at the end of the rear substrate 201.
Is not protected by the dielectric layer 203 and is exposed. External connection terminal portion 2 of the address electrode 202
When sandblasting is performed with 02A exposed, generally, the external connection terminal portion 202 exposed by the abrasive material is exposed.
A is damaged. If the external connection terminal portion 202A is damaged, the line resistance increases due to oxidation due to a thermal process or the like, which may adversely affect driving.

【0006】したがって、従来では、図8および図9に
示したように、アドレス電極202の外部接続端子部分
202Aまでレジストパターン205を広げて塗布して
いた。このようにすることにより、上方から研磨材を噴
射させた場合でもアドレス電極202の外部接続端子部
分202Aはレジストパターン205によって保護され
る。また、表示領域100内では、サンドブラスト時に
研磨が進行して隔壁材料層204Aを貫通した場合で
も、アドレス電極202は誘電体層203によって保護
される。このような状態で上方からサンドブラストを行
い、隔壁材料層204Aの不要部分を除去することによ
り、例えば図10に示したように、隔壁204が完成さ
れる。なお、図10は、隔壁204の延長方向に対して
垂直な方向に沿った断面を表している。このように、従
来では、サンドブラスト加工によって隔壁を形成する際
にレジストパターン205でアドレス電極202の外部
接続端子部分202Aを覆うことで、研磨材の衝突に起
因した損壊から外部接続端子部分202Aを保護するよ
うにしていた。
Therefore, conventionally, as shown in FIGS. 8 and 9, the resist pattern 205 is spread and applied to the external connection terminal portion 202A of the address electrode 202. By doing so, the external connection terminal portion 202A of the address electrode 202 is protected by the resist pattern 205 even when the abrasive is sprayed from above. In the display area 100, the address electrode 202 is protected by the dielectric layer 203 even when polishing progresses during sandblasting and penetrates the partition wall material layer 204A. By sandblasting from above in such a state to remove unnecessary portions of the partition wall material layer 204A, the partition wall 204 is completed as shown in FIG. 10, for example. Note that FIG. 10 shows a cross section taken along a direction perpendicular to the extension direction of the partition wall 204. As described above, conventionally, when the partition wall is formed by sandblasting, the external connection terminal portion 202A of the address electrode 202 is covered with the resist pattern 205 to protect the external connection terminal portion 202A from damage caused by collision of the abrasive. I was trying to do it.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のレジ
ストパターン205では、隔壁のピッチを細かくした場
合に、レジストパターン205の剥離工程の際に以下の
ような問題が発生する虞があった。
However, in the conventional resist pattern 205, when the pitch of the partition walls is made fine, there is a possibility that the following problems may occur during the step of removing the resist pattern 205.

【0008】図11は、図9に示したレジストパターン
205を抽出して表している。なお、図11では、わか
りやすくするため、レジストパターン205で覆われて
いる領域に斜線を施している。表示領域100内では、
レジストパターン205は、隔壁のパターンに従って形
成される。隔壁のピッチは表示画素を規定する要素とな
る。プラズマ表示装置を小型化・高精細化するためには
表示画素ピッチは短小化することになるので、隔壁のピ
ッチも細かくならざるを得ない。例えば現在では42イ
ンチのXGA表示クラスで約0.3mmピッチの隔壁が
必要とされている。したがって、表示領域100内にお
けるレジストパターン205Aは微細なパターンとな
る。
FIG. 11 shows the resist pattern 205 shown in FIG. 9 in an extracted form. In FIG. 11, the region covered with the resist pattern 205 is shaded for the sake of clarity. In the display area 100,
The resist pattern 205 is formed according to the partition pattern. The pitch of the partition walls is a factor that defines the display pixel. Since the display pixel pitch must be shortened in order to reduce the size and increase the definition of the plasma display device, the pitch of the partition walls must be fine. For example, currently, a 42-inch XGA display class requires a partition having a pitch of about 0.3 mm. Therefore, the resist pattern 205A in the display area 100 is a fine pattern.

【0009】一方、表示領域100外では、隔壁を作る
ためのストライプ状のパターンは必要なく、代わりにア
ドレス電極202の外部接続端子部分202Aを保護す
るために、背面基板201端部まで一様な(ベタの)レ
ジストパターン205Bを形成していた。
On the other hand, outside the display area 100, a striped pattern for forming a partition is not necessary, and instead, to protect the external connection terminal portion 202A of the address electrode 202, a uniform pattern is formed up to the end of the rear substrate 201. The (solid) resist pattern 205B was formed.

【0010】すなわち、表示領域100内では高精細ピ
ッチのストライプ状のレジストパターン205Aが存在
し、表示領域100外では一様な(ベタの)レジストパ
ターン205Bが存在することになる。このような状況
においては、サンドブラスト加工後にレジストパターン
205の剥離を行う際に、狭いピッチのレジストパター
ン205Aは剥離が速く進み、一様な(ベタの)レジス
トパターン205Bでは剥離液の浸透が遅く、剥離が進
まないという不具合が起きる。
That is, a stripe-shaped resist pattern 205A having a high-definition pitch exists inside the display area 100, and a uniform (solid) resist pattern 205B exists outside the display area 100. In such a situation, when the resist pattern 205 is peeled off after sandblasting, the narrow-pitch resist pattern 205A is rapidly peeled off, and the uniform (solid) resist pattern 205B is slow in permeation of the peeling solution. The problem that the peeling does not proceed occurs.

【0011】レジストパターン205の剥離作業は、背
面基板201を剥離装置に投入し、背面基板201全体
を剥離液のシャワーに曝すことによって行うので、レジ
ストパターン205のパターン密度に面内で大きな偏り
があるとレジストパターン205の確実な剥離が困難と
なる。より具体的には、表示領域100の外側の(背面
基板201周縁部の)ベタのレジストパターン205B
を完全に剥離してしまおうとすると、表示領域100内
では剥離液の浸透が必要以上に進行し、隔壁材料層20
4Aを溶解してしまい、加工後に隔壁が屈曲したり高さ
が不足したりする場合がある。また、表示領域100内
で隔壁を正確に形成すべく剥離条件を合わせると、表示
領域100外のベタのレジストパターン205Bの一部
が剥離されずに残渣となって残ってしまうことがある。
このような不具合は、特にプラズマ表示装置の表示画素
のさらなる高精細化、隔壁ピッチのさらなる微細化が進
むにつれて、さらに無視できない問題となっていく傾向
にある。
The peeling operation of the resist pattern 205 is carried out by putting the back substrate 201 into a peeling apparatus and exposing the entire back substrate 201 to a shower of a peeling liquid, so that the pattern density of the resist pattern 205 has a large in-plane deviation. If so, it becomes difficult to reliably peel off the resist pattern 205. More specifically, a solid resist pattern 205B outside the display area 100 (on the periphery of the back substrate 201).
If the peeling liquid is to be completely peeled off, the penetration of the peeling liquid proceeds more than necessary in the display region 100, and the partition wall material layer 20
4A may be dissolved, and the partition wall may be bent or the height may be insufficient after processing. Further, if the peeling conditions are adjusted to accurately form the partition walls in the display area 100, a part of the solid resist pattern 205B outside the display area 100 may remain as a residue without being peeled.
Such a problem tends to become a non-negligible problem, especially as the definition of the display pixels of the plasma display device becomes higher and the partition pitch becomes finer.

【0012】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、サンドブラスト法によって隔壁を形
成する場合に隔壁の形状精度を向上させつつレジストパ
ターンの剥離作業を容易化および確実化することがで
き、延いては高歩留りで低コストに製造することが可能
で、高精細表示対応可能なプラズマ表示装置の製造方法
およびこれに好適なサンドブラスト加工方法、ならびに
プラズマ表示装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to facilitate and ensure the peeling work of a resist pattern while improving the shape accuracy of the partition wall when the partition wall is formed by a sandblast method. To provide a method for manufacturing a plasma display device capable of high-yield and low-cost manufacturing, capable of high-definition display, a sandblasting method suitable for the method, and a plasma display device. is there.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明による第1のプラ
ズマ表示装置の製造方法は、絶縁性基板にそれぞれ外部
接続端子部分を有する複数の短冊状または片状のアドレ
ス電極を、間隙を隔てて列設する工程と、外部接続端子
部分を回避してアドレス電極を誘電体層で被覆する工程
と、誘電体層の上に隔壁材料層を形成する工程と、少な
くともアドレス電極の外部接続端子部分をマスクで被覆
するとともに、マスクのうち、アドレス電極の外部接続
端子部分どうしの間隙を覆う部分に、マスクの剥離を促
進するための切り欠きを設ける工程と、マスクによって
アドレス電極の外部接続端子部分を保護した状態で隔壁
材料層をサンドブラスト法で加工して隔壁を形成する工
程と、サンドブラスト加工後にマスクを剥離する工程と
を含むようにしたものである。
According to a first method of manufacturing a plasma display device of the present invention, a plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes each having an external connection terminal portion are provided on an insulating substrate with a gap. A step of arranging in a row, a step of avoiding the external connection terminal portion to cover the address electrode with a dielectric layer, a step of forming a partition material layer on the dielectric layer, and at least an external connection terminal portion of the address electrode. While covering with a mask, a step of providing a notch for promoting peeling of the mask in a portion of the mask that covers the gap between the external connection terminal portions of the address electrode, and the external connection terminal portion of the address electrode by the mask The method includes a step of processing the partition wall material layer in a protected state by a sand blast method to form a partition wall, and a step of peeling the mask after the sand blast processing. Than it is.

【0014】本発明による第2のプラズマ表示装置の製
造方法は、絶縁性基板にそれぞれ外部接続端子部分を有
する複数の短冊状または片状のアドレス電極を、間隙を
隔てて列設するとともに、複数のアドレス電極の外部接
続端子部分どうしの複数の間隙のうち、少なくとも1ヶ
所を、他の間隙よりも広く設定する工程と、外部接続端
子部分を回避してアドレス電極を誘電体層で被覆する工
程と、誘電体層の上に隔壁材料層を形成する工程と、少
なくともアドレス電極の外部接続端子部分をマスクで被
覆するとともに、マスクのうち、広く設定した間隙を覆
う部分に、マスクの剥離を促進するための切り欠きを設
ける工程と、マスクによってアドレス電極の外部接続端
子部分を保護した状態で隔壁材料層をサンドブラスト法
で加工して隔壁を形成する工程と、サンドブラスト加工
後にマスクを剥離する工程とを含むようにしたものであ
る。
In the second method of manufacturing a plasma display device according to the present invention, a plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes each having an external connection terminal portion are provided in a row on an insulating substrate with a gap therebetween. Of at least one of the plurality of gaps between the external connection terminal portions of the address electrode, which is wider than the other gaps, and a step of avoiding the external connection terminal portions and covering the address electrodes with a dielectric layer. And a step of forming a barrier rib material layer on the dielectric layer, and at least covering the external connection terminal portion of the address electrode with a mask, and facilitating the peeling of the mask on the portion of the mask covering a wide gap. And a step of providing a notch for protecting the external connection terminal portion of the address electrode with a mask, and processing the partition material layer by sandblasting to form the partition. A step of forming, in which to include a step of removing the mask after the sandblasting.

【0015】本発明による第1のサンドブラスト加工方
法は、絶縁性基板に複数の短冊状または片状の被保護構
造を、間隙を隔てて形成する工程と、絶縁性基板の被保
護構造が形成されている側の面にサンドブラスト法によ
って加工されて所望の形状に形成される被加工層を、被
保護構造を露出させて形成する工程と、少なくとも被保
護構造をマスクで被覆するとともに、マスクのうち、被
保護構造どうしの間隙を覆う部分に、マスクの剥離を促
進する切り欠きを設ける工程とを含むようにしたもので
ある。
In the first sandblasting method according to the present invention, a step of forming a plurality of strip-shaped or piece-shaped protected structures on an insulating substrate with a gap, and a protected structure of the insulating substrate are formed. The surface to be processed by a sand blasting method to form a layer to be processed into a desired shape, exposing the structure to be protected, and at least covering the structure to be protected with a mask, And a step of providing a notch for promoting the peeling of the mask in a portion that covers the gap between the protected structures.

【0016】本発明による第2のサンドブラスト加工方
法は、絶縁性基板に複数の短冊状または片状の被保護構
造を、間隙を隔てて形成するとともに、複数の被保護構
造どうしの複数の間隙のうち、少なくとも1ヶ所を、他
の間隙よりも広く設定する工程と、絶縁性基板の被保護
構造が形成されている側の面にサンドブラスト法によっ
て加工されて所望の形状に形成される被加工層を、被保
護構造を露出させて形成する工程と、少なくとも被保護
構造をマスクで被覆するとともに、マスクのうち、広く
設定した間隙を覆う部分に、マスクの剥離を促進する切
り欠きを設ける工程とを含むようにしたものである。
In the second sandblasting method according to the present invention, a plurality of strip-shaped or piece-shaped protected structures are formed on an insulating substrate with a gap therebetween, and a plurality of gaps between the protected structures are formed. Of these, a step of setting at least one portion wider than other gaps, and a layer to be processed which is processed into a desired shape by sandblasting on the surface of the insulating substrate on the side where the structure to be protected is formed. A step of forming the exposed exposed structure, and a step of covering at least the protected structure with a mask and providing a notch for promoting separation of the mask in a portion of the mask covering a wide gap. Is included.

【0017】本発明によるプラズマ表示装置は、絶縁性
基板の上に間隙を隔てて列設され、それぞれ外部接続端
子部分を有する複数の短冊状または片状のアドレス電極
と、外部接続端子部分を回避してアドレス電極を被覆す
る誘電体層と、この誘電体層の上に形成された隔壁とを
有するものであって、複数のアドレス電極の外部接続端
子部分どうしの複数の間隙のうち、少なくとも1ヶ所
は、他の間隙よりも広く設定されているものである。
In the plasma display device according to the present invention, a plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes, each having an external connection terminal portion, are provided in a row on an insulating substrate with a gap, and the external connection terminal portion is avoided. A dielectric layer covering the address electrodes, and a partition formed on the dielectric layer, wherein at least one of a plurality of gaps between external connection terminal portions of the plurality of address electrodes is provided. The locations are set wider than other gaps.

【0018】本発明による第1のプラズマ表示装置の製
造方法では、アドレス電極の外部接続端子部分をマスク
で被覆するとともに、このマスクのうち、アドレス電極
の外部接続端子部分どうしの間隙を覆う部分に、マスク
の剥離を促進するための切り欠きを設けるようにしてい
る。この「切り欠き」とは、マスクを厚さ方向に貫通す
る開口部分をいう。このような切り欠きをマスクに設け
たことによって、マスク全体における端辺(エッジ)の
総延長が長くなり、マスクの剥離時には、その切り欠き
から剥離液がマスクとその下層の絶縁性基板等との間へ
と浸入し、マスクの剥離が促進される。
In the first method of manufacturing a plasma display device according to the present invention, the external connection terminal portion of the address electrode is covered with a mask, and the portion of the mask covering the gap between the external connection terminal portions of the address electrodes is covered. A notch is provided to promote peeling of the mask. The "cutout" refers to an opening that penetrates the mask in the thickness direction. By providing such a notch in the mask, the total length of the edges in the entire mask becomes longer, and when the mask is peeled off, the peeling liquid causes the peeling liquid to reach the mask and the insulating substrate below the mask. It penetrates into the space and promotes the peeling of the mask.

【0019】また、マスクに切り欠きを設けることによ
って、マスク密度、すなわち、マスク全体におけるひと
つながりのベタパターンごとの面積のばらつきが、絶縁
性基板の全領域に亘って、より均一化されて、マスク密
度の偏りが低減ないしは解消される。これにより、絶縁
性基板の全領域に亘って、剥離条件がさらに均等化さ
れ、隔壁のピッチの細かい高精細表示の場合でも、隔壁
の形状精度向上およびマスクの容易かつ確実な剥離が実
現される。
Further, by providing the notch in the mask, the mask density, that is, the variation in the area for each solid pattern in the entire mask is made more uniform over the entire area of the insulating substrate, The bias of the mask density is reduced or eliminated. As a result, the peeling conditions are further equalized over the entire area of the insulating substrate, and even in the case of high-definition display in which the pitch of the partition walls is fine, the shape accuracy of the partition walls and the easy and reliable peeling of the mask are realized. .

【0020】本発明による第2のプラズマ表示装置の製
造方法では、アドレス電極を形成する際に、複数のアド
レス電極の外部接続端子部分どうしの複数の間隙のう
ち、少なくとも1ヶ所を、他の間隙よりも広く設定し、
アドレス電極の外部接続端子部分をマスクで被覆する際
に、そのマスクのうち、広く設定した間隙を覆う部分
に、マスクの剥離を促進する切り欠きを設けるようにし
たので、微細なアドレス電極の外部接続端子部分どうし
の間にマスクの切り欠きを設ける際のパターニングが、
より容易なものとなる。
In the second plasma display device manufacturing method according to the present invention, at the time of forming the address electrodes, at least one of the plurality of gaps between the external connection terminal portions of the plurality of address electrodes is replaced with another gap. Set wider than
When the external connection terminal portion of the address electrode is covered with the mask, a notch for facilitating the peeling of the mask is provided in the portion of the mask that covers the widely set gap. Patterning when making a mask notch between connection terminal parts,
It will be easier.

【0021】本発明による第1のサンドブラスト加工方
法では、被保護構造をマスクで被覆する際に、このマス
クのうち、被保護構造どうしの間隙を覆う部分に、マス
クの剥離を促進するための切り欠きを設けるようにした
ので、マスク全体における端辺の総延長が長くなり、マ
スクの剥離時には、この切り欠きから剥離液がマスクと
その下層の絶縁性基板等との間へと浸入し、マスクの剥
離が促進される。
In the first sandblasting method according to the present invention, when the structure to be protected is covered with the mask, a portion of the mask covering the gap between the structures to be protected is cut to promote the peeling of the mask. Since the notch is provided, the total length of the edges of the entire mask becomes long, and when the mask is peeled off, the peeling liquid penetrates between the mask and the underlying insulating substrate, etc. Peeling is promoted.

【0022】本発明による第2のサンドブラスト加工方
法では、被保護構造を形成する際に、複数の被保護構造
どうしの複数の間隙のうち、少なくとも1ヶ所を、他の
間隙よりも広く設定し、この被保護構造をマスクで被覆
する際に、このマスクのうち、広く設定した間隙を覆う
部分に、マスクの剥離を促進するための切り欠きを設け
るようにしたので、微細な被保護構造どうしの間にマス
クの切り欠きを設ける際のパターニングが、より容易な
ものとなる。
In the second sandblasting method according to the present invention, at the time of forming the structure to be protected, at least one of the plurality of gaps between the plurality of structures to be protected is set wider than the other gaps. When covering this protected structure with a mask, a notch for facilitating peeling of the mask is provided in a portion of the mask that covers a widely set gap. Patterning when a mask notch is provided therebetween becomes easier.

【0023】本発明によるプラズマ表示装置では、複数
のアドレス電極の外部接続端子部分どうしの複数の間隙
のうち、少なくとも1ヶ所は、他の間隙よりも広く設定
されているので、微細なアドレス電極の外部接続端子部
分どうしの間にマスクの切り欠きを設ける際のパターニ
ングが、より容易なものとなる。したがって、このプラ
ズマ表示装置は、製造プロセスの簡易化および精度向上
に、より直結した構造となる。
In the plasma display device according to the present invention, at least one of the plurality of gaps between the external connection terminal portions of the plurality of address electrodes is set wider than the other gaps. Patterning when the mask notch is provided between the external connection terminal portions becomes easier. Therefore, this plasma display device has a structure more directly connected to the simplification of the manufacturing process and the improvement of accuracy.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0025】〔第1の実施の形態〕図2は、本発明の一
実施の形態に係るプラズマ表示装置の表示部の基本構造
を表す概略斜視図である。表示面側に位置する前面基板
11は、プラズマ表示装置内部で生じた光を透過させて
外部へ取り出すために透明性の高い材料からなる必要が
あり、例えば高歪点ガラスやソーダライムガラスが用い
られる。この前面基板11の上には、線形状の維持電極
12(12X,12Y)が対をなして並列するように配
置され、各維持電極12の長手方向の一方の縁部には、
抵抗低減のためのバス電極13が付設されている。維持
電極12は、例えば透明電極材料であるITOからな
り、バス電極13は例えばAl膜、Cr/Cu/Cr膜
などの金属薄膜からなる。
[First Embodiment] FIG. 2 is a schematic perspective view showing a basic structure of a display portion of a plasma display device according to an embodiment of the present invention. The front substrate 11 located on the display surface side needs to be made of a highly transparent material in order to transmit the light generated inside the plasma display device and take it out to the outside. For example, high strain point glass or soda lime glass is used. To be On the front substrate 11, linear sustain electrodes 12 (12X, 12Y) are arranged in pairs so as to be arranged in parallel, and one sustaining edge of each sustain electrode 12 in the longitudinal direction is
A bus electrode 13 for reducing resistance is attached. The sustain electrode 12 is made of, for example, ITO which is a transparent electrode material, and the bus electrode 13 is made of, for example, a metal thin film such as an Al film or a Cr / Cu / Cr film.

【0026】ここでは、維持電極12およびバス電極1
3の上には、誘電体層14が設けられ、更に、誘電体層
14の上に、例えばMgОからなりる保護層15が設け
られている。誘電体層14は、壁電荷を蓄積する機能、
過剰な放電電流を制限する抵抗体としての機能、放電状
態を維持するメモリ機能を有しており、例えば低融点ガ
ラスペーストあるいはSiO2 を塗布もしくは印刷する
か、SiO2 を真空成膜することにより形成される。保
護層15は、放電によるガスのイオンや電子のスパッタ
リングを防止し、かつ、放電時の2次電子放出を容易に
するためのものである。
Here, the sustain electrode 12 and the bus electrode 1
3, a dielectric layer 14 is provided, and a protective layer 15 made of, for example, MgO is further provided on the dielectric layer 14. The dielectric layer 14 has a function of accumulating wall charges,
It has a function as a resistor that limits an excessive discharge current, and a memory function that maintains a discharge state. For example, by coating or printing a low melting point glass paste or SiO 2 , or by vacuum-forming SiO 2. It is formed. The protective layer 15 is for preventing sputtering of gas ions and electrons due to discharge and for facilitating secondary electron emission during discharge.

【0027】維持電極12は、背面基板21の側のアド
レス電極22に対して、互いの長手方向を表示面側から
見て直交させる向きに並列しており、両者により電極マ
トリクスが形成されている。これらの対となった維持電
極12とアドレス電極22とが直交して形成される個々
の領域が、画素に相当する発光領域となっている。
The sustain electrodes 12 are arranged in parallel to the address electrodes 22 on the rear substrate 21 side in a direction in which their longitudinal directions are orthogonal to each other when viewed from the display surface side, and an electrode matrix is formed by both. . The individual regions in which the pair of sustain electrodes 12 and the address electrodes 22 are formed orthogonal to each other are light emitting regions corresponding to pixels.

【0028】背面基板21は、例えば前面基板11と同
様の材料からなり、その上には、例えばアルミニウム
(Al)などの金属薄膜からなる短冊状または片状のア
ドレス電極22が並列して配設されている。更に、アド
レス電極22の上には、例えば低融点ガラスペーストか
らなる誘電体層23が設けられ、その上には、前面基板
11と背面基板12との間の空間を区画すると共に両基
板11,12どうしの間隙を保持するための隔壁24が
設けられている。この隔壁24によって区画された空間
が放電空間となる。隔壁24は、例えばストライプ状に
形成され、アドレス電極22毎に放電空間を区画するよ
うになっている。これにより、アドレス電極22の幅方
向に隣接する各発光領域は、互いの発光のクロストーク
が防止される。また、隔壁24と誘電体層23の放電空
間に面する部分には、例えば、赤(R),緑(G)およ
び青(B)の3原色の蛍光体26が周期的に配列するよ
うに設けられており、各発光領域はこの配色で発光する
ようになっている。
The rear substrate 21 is made of the same material as the front substrate 11, for example, and strip-shaped or piece-shaped address electrodes 22 made of a metal thin film such as aluminum (Al) are arranged in parallel on the rear substrate 21. Has been done. Further, a dielectric layer 23 made of, for example, a low-melting glass paste is provided on the address electrodes 22, and a space between the front substrate 11 and the rear substrate 12 is defined on the dielectric layer 23, and both substrates 11, A partition wall 24 is provided for holding a gap between the 12 members. The space partitioned by the partition wall 24 becomes a discharge space. The barrier ribs 24 are formed, for example, in a stripe shape, and partition the discharge space for each address electrode 22. As a result, the light emitting regions adjacent to each other in the width direction of the address electrode 22 are prevented from crosstalk of light emitted from each other. Further, for example, phosphors 26 of three primary colors of red (R), green (G), and blue (B) are periodically arranged in a portion of the partition wall 24 and the dielectric layer 23 facing the discharge space. It is provided and each light emitting region emits light in this color scheme.

【0029】蛍光体26の材料としては、公知の材料の
中から量子効率が高く、真空紫外線に対する飽和が少な
い蛍光体材料を適宜選択して用いることができる。カラ
ー表示の場合は、色純度がNTSCで規定される3原色
に近い材料であって、3色を混合した際に白バランスが
とれ、残光時間が短く、かつ、3色の残光時間がほぼ等
しくなる蛍光体材料を組み合わせて用いることが好まし
い。真空紫外線の照射によって赤色に発光する蛍光材料
として、例えば(Y2 3 :Eu),(YBO 3 :E
u),(YVO4 :Eu),(Y0.960.60
0.404 :Eu0.04),[(Y,Gd)BO3 :E
u],(GdBO3 :Eu),(ScBO3 :Eu),
(3.5 MgO・0.5 MgF2 ・GeO2 :Mn)が挙げ
られる。真空紫外線の照射によって緑色に発光する蛍光
材料として、例えば(ZnSiO2 :Mn),(BaA
1219:Mn),(BaMg2 Al1627:Mn),
(MgGa2 4:Mn),(YBO3 :Tb),(L
uBO3 :Tb),(Sr4 Si3 8 Cl4 :Eu)
が挙げられる。また、真空紫外線の照射によって青色に
発光する蛍光材料として、例えば(Y2 SiO5 :C
e),(CaWO4 :Pb),(BaMgAl1423
Eu),(Sr2 2 7 :Eu),(Sr2
2 7 :Sn)を挙げることができる。
As the material of the phosphor 26, known materials can be used.
High quantum efficiency from the inside, less saturation to vacuum ultraviolet light
An appropriate phosphor material can be selected and used. Kara
-When displayed, the three primary colors whose color purity is specified by NTSC
Is a material close to
The afterglow time is short, and the afterglow times of the three colors are almost equal.
It is preferable to use a combination of phosphor materials
Yes. Fluorescent material that emits red light when irradiated with vacuum ultraviolet rays
For example, (Y2O3: Eu), (YBO 3: E
u), (YVOFour: Eu), (Y0.96P0.60V
0.40OFour: Eu0.04), [(Y, Gd) BO3: E
u], (GdBO3: Eu), (ScBO3: Eu),
(3.5 MgO ・ 0.5 MgF2・ GeO2: Mn)
To be Fluorescence that emits green light when irradiated with vacuum ultraviolet light
As a material, for example, (ZnSiO2: Mn), (BaA
l12O19: Mn), (BaMg2Al16O27: Mn),
(MgGa2OFour: Mn), (YBO3: Tb), (L
uBO3: Tb), (SrFourSi3O8ClFour: Eu)
Is mentioned. Also, it becomes blue by irradiation with vacuum ultraviolet rays.
Examples of the fluorescent material that emits light include (Y2SiOFive: C
e), (CaWOFour: Pb), (BaMgAl14Otwenty three:
Eu), (Sr2P2O7: Eu), (Sr2P
2O7: Sn) can be mentioned.

【0030】前面基板11と背面基板21は、放電空間
を介して対向配置され、表示領域の周囲においてフリッ
トガラスによって気密封止されている。放電空間には、
例えばHe,Ne,Ar,Xe,Krの希ガスのうちの
1種以上からなる放電ガスが封入されている。
The front substrate 11 and the rear substrate 21 are arranged so as to face each other with a discharge space therebetween, and are hermetically sealed by frit glass around the display area. In the discharge space,
For example, a discharge gas made of one or more of rare gases such as He, Ne, Ar, Xe, and Kr is enclosed.

【0031】図1は、背面基板21を隔壁24側から見
た平面構成の一例を表している。背面基板21上には、
隔壁24が所定ピッチで列設されている。隔壁24が形
成されている領域は、画像等が表示される表示領域10
として機能する。隔壁24の間には、複数の短冊状ない
し片状のアドレス電極22が列設されている。このアド
レス電極22は、表示領域10では、隔壁24のピッチ
に整合するピッチで、隔壁24が延設される方向に沿っ
た形状に形成されている。アドレス電極22は表示領域
10の外側まで延伸するように設けられて、背面基板2
1の周縁部の外部接続端子部分22Aまで一体に(ひと
つながりに)形成されている。
FIG. 1 shows an example of a plan view of the rear substrate 21 as seen from the partition wall 24 side. On the rear substrate 21,
The partition walls 24 are arranged in a row at a predetermined pitch. The area in which the partition wall 24 is formed is the display area 10 in which an image or the like is displayed.
Function as. A plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes 22 are arranged between the partition walls 24. The address electrodes 22 are formed in the display region 10 at a pitch that matches the pitch of the partition walls 24 and along the direction in which the partition walls 24 extend. The address electrode 22 is provided so as to extend to the outside of the display area 10, and the rear substrate 2
The external connection terminal portions 22A at the peripheral edge of the unit 1 are integrally formed (in one connection).

【0032】背面基板21の周縁部には、アドレス電極
22と図示しない駆動回路との接続のための駆動回路接
続領域21Aが設けられている。駆動回路接続領域21
Aでは、アドレス電極22の外部接続端子部分22A
は、露出した状態となっている。また、駆動回路接続領
域21Aでは、アドレス電極22の外部接続端子部分2
2Aは、隔壁24が延設される方向に沿った形状に形成
されているが、そのピッチは駆動回路に適合するピッチ
となっている。具体的には、アドレス電極22を所定本
数ずつに分けて別々の駆動回路等に接続するために、こ
の所定本数毎に、駆動回路接続用の間隙22Cが設けら
れ、それ以外の間隙22Dは例えばどこも等間隔となっ
ている。駆動回路接続用の間隙22Cの配置やそのピッ
チ、幅の大きさなどは、接続される回路駆動系の規模な
どとの兼ね合いを考慮して適宜に定めることができる。
A drive circuit connection region 21A for connecting the address electrode 22 and a drive circuit (not shown) is provided on the peripheral portion of the rear substrate 21. Drive circuit connection area 21
In A, the external connection terminal portion 22A of the address electrode 22
Is exposed. In the drive circuit connection region 21A, the external connection terminal portion 2 of the address electrode 22 is formed.
2A is formed in a shape along the direction in which the partition wall 24 extends, and its pitch is a pitch suitable for the drive circuit. Specifically, in order to divide the address electrodes 22 into a predetermined number and connect them to different drive circuits or the like, a gap 22C for connecting the drive circuits is provided for each predetermined number, and the other gaps 22D are, for example, Everywhere is evenly spaced. The arrangement of the gap 22C for connecting the drive circuit, the pitch, the size of the width, and the like can be appropriately determined in consideration of the balance with the scale of the circuit drive system to be connected.

【0033】表示領域10と駆動回路接続領域21Aと
の間の一部には、両者のピッチのずれを調整するために
ピッチ調整領域21Bが設けられている。ピッチ調整領
域21Bでは、アドレス電極22の外部接続端子部分2
2Aは、例えば隔壁24が延設された方向に対して斜め
に形成されている。これにより、アドレス電極22とひ
とつながりに形成された外部接続端子部分22Aのピッ
チが、駆動回路接続領域21A内で駆動回路に適合した
ピッチになるように調整されている。なお、表示領域1
0と駆動回路接続領域21Aとでアドレス電極22とそ
の外部接続端子部分22Aとのピッチが必ずしも異なっ
ている必要はなく、両者は同じであってもよい。
A pitch adjusting area 21B is provided in a part between the display area 10 and the drive circuit connecting area 21A in order to adjust the pitch deviation between the two areas. In the pitch adjustment region 21B, the external connection terminal portion 2 of the address electrode 22 is formed.
2A is formed obliquely with respect to the direction in which the partition wall 24 extends, for example. As a result, the pitch of the external connection terminal portions 22A formed so as to be connected to the address electrodes 22 is adjusted to be a pitch suitable for the drive circuit within the drive circuit connection region 21A. The display area 1
0 and the drive circuit connection region 21A do not necessarily have to have different pitches between the address electrode 22 and the external connection terminal portion 22A, and they may be the same.

【0034】誘電体層23は、表示領域10のほぼ全面
を覆うように一様な膜状に(ベタ状に)形成されてお
り、その部分でアドレス電極22を被覆している。ま
た、この誘電体層23は、表示領域10と駆動回路接続
領域21Aとの間に設けられているピッチ調整領域21
Bにおいても、アドレス電極22の外部接続端子部分2
2Aを被覆していることが好ましい。これにより、後述
する製造プロセスにおいてピッチ調整領域21Bにレジ
ストパターンを設ける必要がなくなり、ベタのレジスト
パターンの被覆面積を従来よりも低減することができる
からである。
The dielectric layer 23 is formed in a uniform film shape (solid shape) so as to cover almost the entire surface of the display region 10, and the address electrode 22 is covered at that portion. Further, the dielectric layer 23 is provided in the pitch adjustment region 21 provided between the display region 10 and the drive circuit connection region 21A.
Also in B, the external connection terminal portion 2 of the address electrode 22
2A is preferably coated. This eliminates the need to provide a resist pattern in the pitch adjustment region 21B in the manufacturing process described later, and the covered area of the solid resist pattern can be reduced as compared with the conventional case.

【0035】表示領域10の外側には、表示領域10の
周囲を額縁状に取り囲むように、素ガラスの背面基板2
1上にアドレス電極22を露出させて誘電体層23を設
けない封止領域10A(図1において斜線を施した領
域)を設けることが好ましい。その理由は、封止領域1
0Aの表面状態は、封止ガスのリーク等を排除するため
に、なるべく平滑であることが望ましく、表面がサンド
ブラスト等で荒らされていない素ガラスの状態が良いか
らである。仮に封止領域10Aに誘電体層23を設ける
だけでレジストパターンを形成せずにサンドブラスト加
工を行った場合、誘電体層23の表面がサンドブラスト
の研磨材によって荒らされてしまい、封止用のフリット
ガラスの付着性が損なわれて、放電空間に封止された希
ガスが漏れる虞がある。なお、封止領域10Aの幅は、
レジストパターン25形成時のトレランスを考慮して例
えば約6mm程度が好ましい。
On the outside of the display area 10, the rear substrate 2 made of raw glass is provided so as to surround the display area 10 in a frame shape.
It is preferable to provide the sealing region 10A (the hatched region in FIG. 1) on which the address electrode 22 is exposed and the dielectric layer 23 is not provided. The reason is that the sealing area 1
This is because the surface condition of 0A is preferably as smooth as possible in order to eliminate the leak of the sealing gas, and the condition of the raw glass whose surface is not roughened by sandblasting is good. If sandblasting is performed without forming a resist pattern by merely providing the dielectric layer 23 in the sealing region 10A, the surface of the dielectric layer 23 will be roughened by the sandblasting abrasive material, and the frit for sealing will be used. The adhesion of glass may be impaired, and the rare gas sealed in the discharge space may leak. The width of the sealing region 10A is
Considering the tolerance when forming the resist pattern 25, it is preferably about 6 mm, for example.

【0036】このプラズマ表示装置は、例えば、次のよ
うにして製造することができる。
This plasma display device can be manufactured, for example, as follows.

【0037】まず、前面基板11を用意し、その上に、
例えば、ITO,酸化スズ等の透明電極材料をスパッタ
リングあるいは真空蒸着等の薄膜技術によって成膜して
パターン形成を行い、面放電のための対をなす維持電極
12をストライプ状に形成する。続いて、これら維持電
極12の対をなす側と反対側の縁部において、所定の幅
のバス電極13を所定位置に形成する。バス電極13
は、例えば、Ag,Al,Ni,Cu,MoまたはCr
等の良導性の金属材料を、単体、もしくはMo/Alの
ように積層させて成膜することにより形成される。な
お、その成膜方法としては、スクリーン印刷法のほか、
スパッタリング法、真空蒸着法またはCVD法によって
成膜した後フォトリソグラフィ技術によってパターニン
グする方法等を用いることができる。
First, the front substrate 11 is prepared, and then,
For example, a transparent electrode material such as ITO or tin oxide is formed by a thin film technique such as sputtering or vacuum deposition to form a pattern, and the pair of sustain electrodes 12 for surface discharge is formed in a stripe shape. Then, a bus electrode 13 having a predetermined width is formed at a predetermined position at the edge of the sustain electrode 12 opposite to the paired side. Bus electrode 13
Is, for example, Ag, Al, Ni, Cu, Mo or Cr
It is formed by forming a film of a metal material having good conductivity such as, for example, as a single substance or by laminating it as Mo / Al. As the film forming method, in addition to the screen printing method,
A method in which a film is formed by a sputtering method, a vacuum evaporation method or a CVD method and then patterned by a photolithography technique can be used.

【0038】そののち、例えば、例えば低融点ガラスペ
ーストをスクリーン印刷法によって塗布し、焼成するこ
とによって誘電体層14を形成する。誘電体層14は、
あるいはSiO2 などを真空蒸着もしくはスパッタリン
グすることによって形成してもよい。更に、誘電体層1
4の上に、電子ビーム蒸着法によりMgОからなる保護
層15を形成する。
After that, for example, a low melting point glass paste is applied by a screen printing method and baked to form the dielectric layer 14. The dielectric layer 14 is
Alternatively, it may be formed by vacuum deposition or sputtering of SiO 2 or the like. Furthermore, the dielectric layer 1
A protective layer 15 made of MgO is formed on 4 by electron beam evaporation.

【0039】次に、背面基板21を用意し、その上に、
例えば良導性の金属材料、具体的にはAg,Al,N
i,Cu,Cr等を、スクリーン印刷法、または、真空
蒸着法などの薄膜技術で成膜した後エッチングによりパ
ターニングすることにより、アドレス電極22およびそ
の外部接続端子部分22Aを、図1を参照して説明した
ようなピッチおよび形状になるように、ひとつながりに
形成する。
Next, a back substrate 21 is prepared, and on top of that,
For example, a metal material having good conductivity, specifically, Ag, Al, N
Referring to FIG. 1, the address electrode 22 and its external connection terminal portion 22A are formed by patterning i, Cu, Cr, etc. by a screen printing method or a thin film technique such as a vacuum deposition method and then patterning by etching. It is formed in a single connection so as to have the pitch and shape described above.

【0040】続いて、例えば低融点ガラスペーストをス
クリーン印刷法により塗布し、焼成することによって、
誘電体層23を形成する。誘電体層23は、図1を参照
して説明したように、封止領域10Aには設けず、表示
領域10およびその周辺、ならびにピッチ調整領域21
Bに形成する。
Subsequently, for example, a low melting point glass paste is applied by a screen printing method and baked,
The dielectric layer 23 is formed. As described with reference to FIG. 1, the dielectric layer 23 is not provided in the sealing region 10A, but the display region 10 and its periphery, and the pitch adjustment region 21.
Form B.

【0041】次に、図3に示したように、誘電体層23
の上の所定の領域にガラスペーストを均一に塗布し、乾
燥させて溶剤等を除去して、隔壁材料層24Aを形成す
る。その後、例えばサンドブラスト用レジストを塗布ま
たはドライフィルムレジストを圧着し、露光現像するこ
とにより、レジストパターン25を形成する。
Next, as shown in FIG. 3, the dielectric layer 23
The glass paste is uniformly applied to a predetermined region on the base and dried to remove the solvent and the like, thereby forming the partition material layer 24A. After that, for example, a resist for sandblasting is applied or a dry film resist is pressure-bonded and exposed and developed to form a resist pattern 25.

【0042】レジストパターン(パターニングされたレ
ジスト)25は、図3に示したように、表示領域10、
封止領域10Aおよび駆動回路接続領域21Aに形成す
る。
The resist pattern (patterned resist) 25, as shown in FIG.
It is formed in the sealing region 10A and the drive circuit connection region 21A.

【0043】表示領域10では、レジストパターン25
は、隔壁24の形状およびピッチに対して1対1に対応
するように形成する。したがって、レジストパターン2
5は、図3に示したような微細なピッチのストライプ状
に形成される。
In the display area 10, the resist pattern 25
Are formed so as to have a one-to-one correspondence with the shape and pitch of the partition wall 24. Therefore, the resist pattern 2
5 are formed in stripes with a fine pitch as shown in FIG.

【0044】また、封止領域10Aでは、素ガラスの背
面基板21の表面およびその上のアドレス電極22を確
実に覆うようにレジストパターン25を形成する。な
お、封止領域10Aのみにレジストパターン25を形成
することは難しいので、レジストパターン25の端が誘
電体層23の縁に少しかかるようにしてもよい。
Further, in the sealing region 10A, a resist pattern 25 is formed so as to surely cover the surface of the rear substrate 21 made of raw glass and the address electrodes 22 thereon. Since it is difficult to form the resist pattern 25 only in the sealing region 10A, the end of the resist pattern 25 may slightly overlap the edge of the dielectric layer 23.

【0045】駆動回路接続領域21Aでは、レジストパ
ターン25でアドレス電極22の外部接続端子部分22
Aを被覆する。レジストパターン25のうち、アドレス
電極の外部接続端子部分22Aどうしの間隙22Dを覆
う部分には、レジストパターン25の剥離を促進するた
めの切り欠き25Dを設ける。この切り欠き25Dは、
レジストパターン25を厚さ方向に貫通するスリット状
(細隙状)の開口部分であり、この開口部分では例えば
背面基板21または誘電体層23などが露出している。
この切り欠き25Dによって、レジストパターン25全
体における端辺の総延長が長くなり、レジストパターン
25の剥離時には、切り欠き25Dから剥離液をレジス
トパターン25とその下層の背面基板21等との間へと
浸入させて、レジストパターン25の剥離を促進するこ
とができる。
In the drive circuit connection region 21A, the resist pattern 25 is used to form the external connection terminal portion 22 of the address electrode 22.
Coat A. A notch 25D for promoting peeling of the resist pattern 25 is provided in a portion of the resist pattern 25 that covers the gap 22D between the external connection terminal portions 22A of the address electrodes. This cutout 25D is
This is a slit-shaped (slit-like) opening portion that penetrates through the resist pattern 25 in the thickness direction, and for example, the rear substrate 21 or the dielectric layer 23 is exposed in this opening portion.
This notch 25D lengthens the total length of the edges in the entire resist pattern 25, and when the resist pattern 25 is peeled off, the peeling liquid is passed from the notch 25D to the space between the resist pattern 25 and the underlying back substrate 21 or the like. The penetration can be promoted to promote the peeling of the resist pattern 25.

【0046】ここで、切り欠き25Dは、例えば図3に
示したように、アドレス電極22の間隙22D内に収ま
るような細隙状に設けることのみには限られず、例えば
図5(A)に示したように、間隙22D内に、その長手
方向に沿って配置された、長孔状の1個の穴25Eとす
ることもできる。また、図5(B)に示したように、い
わゆるミシン目状に複数の穴25Fを設けるようにして
もよい。さらに、これらの穴25E,25Fの形状は、
図5(A),(B)に示したような矩形状に限られな
い。例えば図5(B)のミシン目状の穴25Fの場合で
は、図5(C)のような円形の穴25G,図5(D)の
ような楕円形の穴25H,図5(E)のような三角形の
穴25I、または図5(F)のような角に丸みを付けた
矩形の穴25Jなどとすることもできる。同様の変形
は、図5(A)の長孔状の1個の穴25Eの場合にも可
能であることは言うまでもない。
Here, the notch 25D is not limited to the slit-like shape that fits within the gap 22D of the address electrode 22 as shown in FIG. 3, for example, as shown in FIG. As shown, it is also possible to form one long hole 25E arranged in the gap 22D along the longitudinal direction thereof. Further, as shown in FIG. 5B, a plurality of holes 25F may be provided in a so-called perforated shape. Furthermore, the shapes of these holes 25E and 25F are
The shape is not limited to the rectangular shape shown in FIGS. For example, in the case of the perforated hole 25F of FIG. 5B, a circular hole 25G as shown in FIG. 5C, an elliptical hole 25H as shown in FIG. It is also possible to use such a triangular hole 25I or a rectangular hole 25J with rounded corners as shown in FIG. Needless to say, the same modification is possible in the case of the single elongated hole 25E shown in FIG.

【0047】また、切り欠き25Dは、原理的にはすべ
てのアドレス電極22の外部接続端子部分22Aどうし
の間隙22Dに設けることが可能であるが、本発明者ら
は、切り欠き25Dの分布密度について種々検討を重ね
た結果、レジストパターン25のパターニングの煩雑さ
と剥離の容易さおよび確実さとの兼ね合いという観点か
ら、切り欠き25Dを、アドレス電極22の外部接続端
子部分22Aの複数本おきに1箇所ずつ設けることが好
ましいことを見出した。具体的には、例えばアドレス電
極22の外部接続端子部分22Aの5〜10本程度おき
に1箇所ずつ設けることなどが好ましい。
In principle, the cutouts 25D can be provided in the gaps 22D between the external connection terminal portions 22A of all the address electrodes 22, but the present inventors have found that the distribution density of the cutouts 25D. As a result of various investigations regarding the above, from the viewpoint of the complexity of patterning the resist pattern 25 and the ease and reliability of peeling, the cutouts 25D are provided at every one of the external connection terminal portions 22A of the address electrode 22. It has been found that it is preferable to provide each of them. Specifically, for example, it is preferable to provide each of the external connection terminal portions 22A of the address electrode 22 at every 5 to 10 lines.

【0048】さらに、切り欠き25Dは、図3ではアド
レス電極22の外部接続端子部分22Aの5本おきに1
箇所ずつ、すなわち所定のピッチで設けられているが、
切り欠き25Dは、図3のような所定のピッチに限られ
ず、ランダムピッチ、あるいは3本おきと5本おきとを
交互に繰り返す、というような変則的ピッチで設けるこ
となども可能である。
Further, the cutouts 25D are formed every five lines of the external connection terminal portion 22A of the address electrode 22 in FIG.
It is provided at each place, that is, at a predetermined pitch,
The cutouts 25D are not limited to the predetermined pitch as shown in FIG. 3, but may be provided with a random pitch, or with an irregular pitch such as alternating every three and every five.

【0049】また、本実施の形態では、ピッチ調整領域
21Bを誘電体層23で被覆してレジストパターン25
を敢えて設けないようにし、そのレジストパターン25
が設けられていない部分によって、ピッチ調整領域21
B全体に、切り欠き25Dとは異なる切り欠き25Bを
設けるようにしている。この切り欠き25Bによって、
レジストパターン25の被覆面積をさらに低減すると共
にレジストパターン25全体における端辺の総延長をさ
らに長いものにして、レジストパターン25の剥離をさ
らに確実・効率的に行うことができる。
In this embodiment, the resist pattern 25 is formed by covering the pitch adjusting region 21B with the dielectric layer 23.
Resist pattern 25
The pitch adjustment region 21
A notch 25B different from the notch 25D is provided on the entire B. With this notch 25B,
By further reducing the covered area of the resist pattern 25 and further increasing the total length of the end sides of the entire resist pattern 25, the resist pattern 25 can be peeled off more reliably and efficiently.

【0050】なお、駆動回路接続領域21Aにおいて、
駆動回路接続用の間隙22Cには、保護すべきアドレス
電極22の外部接続端子部分22Aがないのでレジスト
パターン25を形成する必要はない。したがって、この
駆動回路接続用の間隙22Cにも、切り欠き25Cを設
けることができる。
In the drive circuit connection area 21A,
Since there is no external connection terminal portion 22A of the address electrode 22 to be protected in the drive circuit connecting gap 22C, it is not necessary to form the resist pattern 25. Therefore, the notch 25C can be provided in the gap 22C for connecting the drive circuit.

【0051】図4は、図3のレジストパターン25のみ
を抽出して表した図である。なお、図4においては、わ
かりやすくするため、レジストパターン25によって覆
われている領域に斜線を施している。従来では、図11
に示したように、表示領域100では微細なストライプ
状のレジストパターン205Aが存在するのに対して、
表示領域100外では一様なベタのレジストパターン2
05Bが存在しているので、微細なレジストパターン2
05Aとベタのレジストパターン205Bとで剥離液の
浸透速度に著しい差が生じる虞があった。
FIG. 4 is a view showing only the resist pattern 25 of FIG. 3 extracted. In FIG. 4, the region covered with the resist pattern 25 is shaded for the sake of clarity. Conventionally, FIG.
As shown in FIG. 5, in the display area 100, a fine stripe-shaped resist pattern 205A exists, while
A uniform solid resist pattern 2 outside the display area 100
Since 05B exists, a fine resist pattern 2
There is a possibility that the peeling solution permeation rate may significantly differ between 05A and the solid resist pattern 205B.

【0052】これに対して、本実施の形態では、図4に
示したように、表示領域10内のレジストパターン25
は図11と同様であるが、表示領域10外のレジストパ
ターン25には切り欠き25D,25C,25Bが設け
られている。このように、本実施の形態では、切り欠き
25D,25C,25Bを設けることによって、レジス
トパターン25の密度、すなわち、全レジストパターン
25におけるひとつながりのベタパターンごとの面積の
ばらつきを、背面基板21の全領域に亘って、より均一
化する(レジストパターン25の偏在を低減ないし解消
する)ことができる。これにより、背面基板21の全領
域に亘って剥離条件のさらなる均等化を達成して、隔壁
24のピッチの細かい高精細表示の場合でも、隔壁24
の形状精度向上およびレジストパターン25の容易かつ
確実な剥離が実現される。
On the other hand, in the present embodiment, as shown in FIG. 4, the resist pattern 25 in the display area 10 is formed.
11 is similar to FIG. 11, but the resist pattern 25 outside the display area 10 is provided with notches 25D, 25C, 25B. As described above, in the present embodiment, by providing the notches 25D, 25C, and 25B, the density of the resist pattern 25, that is, the variation in the area of each continuous solid pattern in the entire resist pattern 25 can be reduced. Can be made more uniform (the uneven distribution of the resist pattern 25 can be reduced or eliminated) over the entire area. As a result, further equalization of the peeling conditions is achieved over the entire area of the back substrate 21, and even in the case of high-definition display in which the pitch of the partition 24 is fine, the partition 24 is formed.
The accuracy of the shape is improved and the resist pattern 25 is easily and surely peeled off.

【0053】上述のような切り欠き25D,25C,2
5Bを有するレジストパターン25を形成した後、この
レジストパターン25によってアドレス電極22を保護
した状態でサンドブラスト法によって隔壁材料層24A
を加工し、不要な部分を除去する。このとき、サンドブ
ラストの研磨材は背面基板21の全面に衝突するので、
アドレス電極22はレジストパターン25によって確実
に保護されるが、切り欠き25D,25C,25Bには
サンドブラストの研磨材が当たり、下層の背面基板21
または誘電体層23の表面が研磨材によって荒らされる
ことは避けられない。したがって、レジストパターン2
5を剥離した後も、背面基板21の素ガラス部分や誘電
体層23の表面には、切り欠き25D,25C,25B
の形状どおりのサンドブラストの痕跡が残存することに
なるが、特に不都合が生起することはない。
Notches 25D, 25C, 2 as described above
After the resist pattern 25 having 5B is formed, the partition electrode material layer 24A is formed by sandblasting with the address electrode 22 protected by the resist pattern 25.
To remove unnecessary parts. At this time, since the sandblasting abrasive material collides with the entire surface of the rear substrate 21,
The address electrode 22 is surely protected by the resist pattern 25, but the notches 25D, 25C, and 25B come into contact with the abrasive material of sandblast, and the back substrate 21 of the lower layer.
Alternatively, it is unavoidable that the surface of the dielectric layer 23 is roughened by the abrasive. Therefore, the resist pattern 2
Even after peeling off 5, the cutouts 25D, 25C, 25B are formed in the raw glass portion of the rear substrate 21 and the surface of the dielectric layer 23.
Although the trace of sand blast according to the shape of 1 remains, there is no particular inconvenience.

【0054】こうして隔壁24をストライプ状に整形し
た後、背面基板21を剥離装置に投入し、レジストパタ
ーン25を剥離する。このとき、レジストパターン25
には切り欠き25D,25C,25Bが設けられている
ので、背面基板21全体に亘って、従来よりも剥離が均
一に進行し、隔壁24の形状の崩れやレジストパターン
25の残渣が生じる虞がなくなる。最後に焼成して隔壁
24を完成する。
After the partition wall 24 is shaped into a stripe shape in this way, the back substrate 21 is put into a peeling device to peel off the resist pattern 25. At this time, the resist pattern 25
Since the cutouts 25D, 25C, and 25B are provided in the rear surface, the peeling progresses more uniformly than in the conventional case over the entire rear substrate 21, and there is a possibility that the shape of the partition wall 24 may collapse and residue of the resist pattern 25 may occur. Disappear. Finally, it is fired to complete the partition wall 24.

【0055】次に、隣り合う隔壁24の両側面とそれに
挟まれた誘電体層23とにかけての、あたかもU字谷状
の各領域に、蛍光体26を所定の配置で形成する。蛍光
体26は、スクリーン印刷法により塗布するか、また
は、感光性機能を持たせたスラリー状にして隔壁24上
から塗布し、露光現像、焼成することにより形成するこ
とができる。
Next, the phosphors 26 are formed in a predetermined arrangement in each U-shaped valley-shaped region between both side surfaces of the adjacent partition walls 24 and the dielectric layer 23 sandwiched therebetween. The phosphor 26 can be formed by applying it by a screen printing method, or by applying it from the partition wall 24 in the form of a slurry having a photosensitivity function, exposing it to light, and baking it.

【0056】次に、前面基板11および背面基板21を
組み立てる。例えば、スクリーン印刷により前面基板1
1の周縁部にフリットガラスからなるシール層(図示せ
ず)を形成する。その後、維持電極12とアドレス電極
22とが直交するように前面基板11と背面基板12と
を精度良く位置決めして全体を仮止めし、例えば430
℃程度で本焼成する。
Next, the front substrate 11 and the rear substrate 21 are assembled. For example, the front substrate 1 by screen printing
A seal layer (not shown) made of frit glass is formed on the peripheral portion of 1. Then, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are accurately positioned so that the sustain electrodes 12 and the address electrodes 22 are orthogonal to each other, and the whole is temporarily fixed, for example, 430.
Main baking is performed at about ℃.

【0057】更に、前面基板11および背面基板12の
間に設けられ、隔壁24によって区切られた放電空間に
対し、排気、混合ガスの封入を行う。まず、背面基板2
1上に設置したチップ管(図示せず)によって放電空間
内部を排気することによって高真空状態とする。その
後、特定の放電ガスを封入することによって、放電空間
内部すなわちパネル表示部分を純度の高い放電ガスで充
満させることができる。最終的にチップ管を電気封止ま
たはガス封止して、本実施の形態のプラズマ表示装置が
完成する。
Further, the discharge space provided between the front substrate 11 and the rear substrate 12 and partitioned by the partition wall 24 is evacuated and filled with a mixed gas. First, the back substrate 2
The inside of the discharge space is evacuated by a tip tube (not shown) installed on the upper surface of the nozzle 1 to create a high vacuum state. After that, by enclosing a specific discharge gas, the inside of the discharge space, that is, the panel display portion can be filled with the high-purity discharge gas. Finally, the chip tube is electrically sealed or gas sealed to complete the plasma display device of the present embodiment.

【0058】このプラズマ表示装置は、サブフィールド
駆動法により動作させることができる。すなわち、一般
的な画像表示における1フィールドの表示画面を、発光
時間により輝度の重み付けをしたサブフィールドで構成
し、サブフィールド毎の発光制御により中間調を表示す
る。また、サブフィールドは、リセット期間,アドレス
期間および表示期間の3つの動作期間に分けられる。
This plasma display device can be operated by the subfield driving method. That is, a display screen of one field in a general image display is configured by subfields in which luminance is weighted by light emission time, and halftone is displayed by light emission control for each subfield. The subfield is divided into three operation periods, that is, a reset period, an address period, and a display period.

【0059】まず、リセット期間中に全ての発光領域の
初期化を行って、全ての発光領域の保護層15上に電荷
(壁電荷)を一様に形成する。次に、アドレス期間にお
いて、1画面分の表示データの書き込みを行い、発光さ
せない画素に対応する発光領域から選択的に壁電荷を消
去し、発光させたい発光領域のみに壁電荷を残す。次
に、表示期間において、対をなす維持電極12の間に交
流パルスの駆動電圧を印加すると、壁電荷が残っている
発光領域では、維持放電が生じる。維持放電によって放
電ガスが放つ紫外線によって蛍光体26が発光し、この
発光領域に対応する画素が点灯する。このようにして、
1つのサブフィールド内において所定のパターンとなる
ように発光が生じ、このサブフィールドが時系列的に重
ね合わせられることにより、階調制御された1フィール
ドの画像が表示される。
First, all the light emitting regions are initialized during the reset period, and charges (wall charges) are uniformly formed on the protective layer 15 in all the light emitting regions. Next, in the address period, display data for one screen is written, the wall charges are selectively erased from the light emitting regions corresponding to the pixels that are not to emit light, and the wall charges are left only in the light emitting regions that are desired to emit light. Next, when a drive voltage of an AC pulse is applied between the pair of sustain electrodes 12 in the display period, sustain discharge occurs in the light emitting region where the wall charges remain. The fluorescent substance 26 emits light by the ultraviolet rays emitted by the discharge gas due to the sustain discharge, and the pixel corresponding to this light emitting region is turned on. In this way
Light emission occurs in one subfield so as to form a predetermined pattern, and the subfields are time-sequentially overlapped with each other, so that a gradation-controlled image of one field is displayed.

【0060】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、アドレス電極22の外部接続端子部分22Aをレジ
ストパターン25で被覆する際に、レジストパターン2
5のうち、アドレス電極22の外部接続端子部分22A
どうしの間隙22Dを覆う部分に、レジストパターン2
5の剥離を促進するための切り欠き25Dを設けるよう
にしたので、レジストパターン25全体における端辺の
総延長が長くなり、レジストパターン25の剥離時に
は、切り欠き25Dから剥離液をレジストパターン25
とその下層の背面基板21等との間へと浸入させて、レ
ジストパターン25の剥離を促進することができる。
As described above, according to the present embodiment, when the external connection terminal portion 22A of the address electrode 22 is covered with the resist pattern 25, the resist pattern 2 is formed.
5, the external connection terminal portion 22A of the address electrode 22
The resist pattern 2 is formed on the portion that covers the gap 22D.
Since the notch 25D for promoting the peeling of No. 5 is provided, the total length of the end side in the entire resist pattern 25 becomes long, and at the time of peeling the resist pattern 25, the peeling liquid is fed from the notch 25D to the resist pattern 25.
It is possible to promote the peeling of the resist pattern 25 by infiltrating into the space between the back substrate 21 and the lower layer thereof.

【0061】また、レジストパターン25に切り欠き2
5Dを設けることによって、レジストパターン25の密
度、すなわち、全レジストパターン25におけるひとつ
ながりのベタパターンごとの面積のばらつきを、背面基
板21の全領域に亘って、より均一化して、レジストパ
ターン25の密度の偏りを低減ないしは解消することが
できる。これにより、背面基板21の全領域に亘って剥
離条件のさらなる均等化が可能となり、隔壁24のピッ
チの細かい高精細表示の場合でも、隔壁24の形状精度
向上およびレジストパターン25の容易かつ確実な剥離
が実現される。
Further, the notch 2 is formed in the resist pattern 25.
By providing 5D, the density of the resist pattern 25, that is, the variation in the area of each continuous solid pattern in the entire resist pattern 25 is made more uniform over the entire area of the back substrate 21, and the resist pattern 25 is formed. The bias in density can be reduced or eliminated. This makes it possible to further equalize the peeling conditions over the entire area of the back substrate 21, and even in the case of high-definition display in which the pitch of the partition walls 24 is fine, the shape accuracy of the partition walls 24 and the resist pattern 25 can be easily and reliably improved. Peeling is realized.

【0062】また、本実施の形態によれば、切り欠き2
5Dを、アドレス電極22の外部接続端子部分22Aの
複数本おきに1箇所ずつ、具体的には、例えばアドレス
電極22の外部接続端子部分22Aの5〜10本程度お
きに1箇所ずつ設けるようにしたので、レジストパター
ン25のパターニングが煩雑になることなく、レジスト
パターン25の剥離を容易かつ確実に行うことができ
る。
Further, according to the present embodiment, the notch 2
5D is provided at every one of the plurality of external connection terminal portions 22A of the address electrode 22, specifically, at every one of every 5 to 10 of the external connection terminal portions 22A of the address electrode 22, for example. Therefore, the patterning of the resist pattern 25 is not complicated, and the resist pattern 25 can be peeled easily and reliably.

【0063】さらに、本実施の形態では、ピッチ調整領
域21Bを誘電体層23で被覆して、この部分にはレジ
ストパターン25を敢えて設けないようにして、ピッチ
調整領域21B全体に、切り欠き25Dとは異なる切り
欠き25Bを設けたので、この切り欠き25Bによっ
て、誘電体層23上におけるレジストパターン25の被
覆面積を低減すると共にレジストパターン25全体にお
ける端辺の総延長をさらに長いものにして、レジストパ
ターン25の剥離を、さらに容易かつ確実なものとする
ことができる。
Further, in the present embodiment, the pitch adjustment region 21B is covered with the dielectric layer 23, and the resist pattern 25 is not intentionally provided in this portion, so that the pitch adjustment region 21B has a notch 25D. Since the notch 25B different from that is provided, the notch 25B reduces the covering area of the resist pattern 25 on the dielectric layer 23 and further increases the total extension of the end sides of the resist pattern 25 as a whole. The peeling of the resist pattern 25 can be made easier and more reliable.

【0064】また、本実施の形態では、表示領域10の
外側には、表示領域10の周囲を額縁状に取り囲むよう
に、素ガラスの背面基板21上にアドレス電極22を露
出させて誘電体層23を設けない封止領域10Aを設
け、その領域をレジストパターン25で覆ってサンドブ
ラストから保護する(荒らされない)ようにしたので、
封止用のフリットガラスを封止領域10Aに強固に付着
させて、前面基板11と背面基板21とを確実に封止す
ることができる。
Further, in the present embodiment, outside the display area 10, the address electrode 22 is exposed on the rear substrate 21 made of raw glass so as to surround the periphery of the display area 10 in a frame shape, and the dielectric layer. Since the sealing area 10A not provided with 23 is provided and the area is covered with the resist pattern 25 so as to be protected from sandblasting (not to be roughened),
It is possible to firmly adhere the frit glass for sealing to the sealing region 10A and reliably seal the front substrate 11 and the rear substrate 21.

【0065】〔第2の実施の形態〕図6は本発明の第2
の実施の形態に係るプラズマ表示装置の背面基板21を
隔壁24側から見た平面構成を表すものである。このプ
ラズマ表示装置は、所定のピッチまたはランダムピッチ
で、隣り合ったアドレス電極22の外部接続端子部分2
2Aどうしの間隔が他の間隙22Dよりも広く設定され
た幅広間隙22Kを設けたことを除き、第1の実施の形
態で説明したプラズマ表示装置と同一である。したがっ
て、同一の構成要素には同一の符号を付して、その詳細
な説明は省略する。
[Second Embodiment] FIG. 6 shows a second embodiment of the present invention.
2 is a plan view of the back substrate 21 of the plasma display device according to the embodiment viewed from the partition wall 24 side. In this plasma display device, the external connection terminal portions 2 of the adjacent address electrodes 22 are arranged at a predetermined pitch or a random pitch.
The plasma display device is the same as the plasma display device described in the first embodiment, except that a wide gap 22K is provided in which the gap between 2A is set wider than the other gap 22D. Therefore, the same components are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0066】幅広間隙22Kは、アドレス電極22の外
部接続端子部分22Aどうしの間隔を広くして、レジス
トパターン25の切り欠き25Dのパターニングをさら
に容易にするためのものである。したがって、上記第1
の実施の形態で切り欠き25Dについて説明したのと同
様に、レジストパターン25のパターニングの煩雑さと
剥離の容易さおよび確実さとの兼ね合いという観点か
ら、アドレス電極22の外部接続端子部分22Aの複数
本おきに1箇所ずつ、具体的には例えばアドレス電極2
2の外部接続端子部分22Aの5〜10本おきに1箇所
ずつ設けることなどが好ましい。また、図6に示したよ
うに5本おきに1箇所ずつ、所定のピッチで設けてもよ
いが、これに限られず、ランダムピッチあるいは変則的
ピッチで設けてもよい。
The wide gap 22K is for widening the interval between the external connection terminal portions 22A of the address electrode 22 to further facilitate the patterning of the notch 25D of the resist pattern 25. Therefore, the first
In the same manner as the description of the cutout 25D in the above embodiment, from the viewpoint of the complexity of patterning the resist pattern 25 and the ease and reliability of peeling, a plurality of external connection terminal portions 22A of the address electrode 22 are arranged. One at a time, specifically, for example, the address electrode 2
It is preferable to provide the external connection terminal portion 22A of No. 2 every 5 to 10 pieces and to provide one place. Further, as shown in FIG. 6, every five lines may be provided at a predetermined pitch, but not limited to this, they may be provided at a random pitch or an irregular pitch.

【0067】図7は、本実施の形態のプラズマ表示装置
の製造プロセスにおいて背面基板21にレジストパター
ン25を形成した状態を表している。図7に示したよう
に、表示領域10および封止領域10Aのレジストパタ
ーン25は、第1の実施の形態と同様であるが、駆動回
路接続領域21Aでは、レジストパターン25のうち、
幅広間隙22Kを覆う部分に切り欠き25Dを設けるよ
うにしている。これ以外の製造プロセスは、上記第1の
実施の形態で説明したのと同様であるので、その詳細な
説明は省略する。
FIG. 7 shows a state in which the resist pattern 25 is formed on the rear substrate 21 in the manufacturing process of the plasma display device of this embodiment. As shown in FIG. 7, the resist pattern 25 in the display area 10 and the sealing area 10A is the same as that in the first embodiment, but in the drive circuit connection area 21A, of the resist patterns 25,
A notch 25D is provided in a portion that covers the wide gap 22K. The manufacturing process other than this is the same as that described in the first embodiment, and therefore detailed description thereof will be omitted.

【0068】本実施の形態によれば、隣り合ったアドレ
ス電極22の外部接続端子部分22Aどうしの間隔が他
の間隙22Dよりも広く設定された幅広間隙22Kを設
け、レジストパターン25で外部接続端子部分22Aを
被覆する際に、レジストパターン25のうち、この幅広
間隙22Kを覆う部分に、切り欠き25Dを設けるよう
にしたので、微細なアドレス電極22の外部接続端子部
分22Aどうしの間にレジストパターン25の切り欠き
25Dを設ける際のパターニングが、より容易・確実な
ものになる。したがって、このプラズマ表示装置は、製
造プロセスの簡易化および精度向上に、より直結した構
造となり、歩留り向上による製造コストの低減や隔壁ピ
ッチの縮小による画素のさらなる精細化の達成が可能と
なる。その結果、欠陥が少なく低廉なコストで製造可能
な、高精細表示対応のプラズマ表示装置を実現すること
ができる。
According to the present embodiment, a wide gap 22K is provided in which the distance between the external connection terminal portions 22A of the adjacent address electrodes 22 is set wider than that of the other gap 22D, and the resist pattern 25 is used to form the external connection terminal. Since the notch 25D is provided in the portion of the resist pattern 25 that covers the wide gap 22K when the portion 22A is covered, the resist pattern is formed between the external connection terminal portions 22A of the fine address electrodes 22. The patterning when the 25 cutouts 25D are provided becomes easier and more reliable. Therefore, this plasma display device has a structure that is more directly connected to the simplification and accuracy improvement of the manufacturing process, and it is possible to reduce the manufacturing cost by improving the yield and achieve the further refinement of pixels by reducing the partition wall pitch. As a result, it is possible to realize a high-definition display-compatible plasma display device that has few defects and can be manufactured at low cost.

【0069】以上、実施の形態を挙げて本発明を説明し
たが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではな
く、種々変形が可能である。例えば、上記実施の形態で
は、プラズマ表示装置の構成を具体的に挙げて説明した
が、上記実施の形態において説明した全ての層を備える
必要はなく、また、他の層を更に備えていてもよい。例
えば上記実施の形態では、誘電体層14,23は単層と
して説明したが、多層膜とすることも可能である。ま
た、上記実施の形態では、隔壁24はストライプ状とし
て説明したが、格子状、あるいはデルタ配列型(ミアン
ダ)のような屈曲した形状など、その他の形状の場合で
も、隔壁24をサンドブラスト法によって形成するプラ
ズマ表示装置に本発明は適用可能である。
The present invention has been described above with reference to the embodiments, but the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made. For example, in the above-described embodiment, the structure of the plasma display device is specifically described, but it is not necessary to include all the layers described in the above-described embodiment, and further, it is possible to further include other layers. Good. For example, in the above-described embodiment, the dielectric layers 14 and 23 are described as a single layer, but may be a multilayer film. Further, in the above-described embodiment, the partition wall 24 is described as a stripe shape, but the partition wall 24 is formed by the sandblast method even in the case of other shapes such as a lattice shape or a bent shape such as a delta arrangement type (meaner). The present invention is applicable to a plasma display device that does.

【0070】さらに、上記実施の形態で説明した成膜方
法や成膜条件は、隔壁24がサンドブラスト法で形成さ
れること以外は、他の成膜方法や成膜条件に変更するこ
とも可能である。
Further, the film forming method and film forming conditions described in the above embodiments can be changed to other film forming methods and film forming conditions except that the partition wall 24 is formed by the sandblast method. is there.

【0071】また、上記実施の形態では、ピッチ調整領
域21Bを誘電体層23で被覆して、この部分にはレジ
ストパターン25を敢えて設けないようにし、ピッチ調
整領域21Bに切り欠き25Bを設けた場合について説
明したが、サンドブラスト加工時にアドレス電極22を
保護するためには、ピッチ調整領域21Bは必ずしも誘
電体層23でなくレジストパターン25で被覆すること
も可能である。さらに、ピッチ調整領域21Bをレジス
トパターン25で被覆した場合には、ピッチ調整領域2
1Bを覆うレジストパターン25にも切り欠き25Dを
斜め方向に延長ないし配置して、切り欠き25Dをアド
レス電極22の外部接続端子部分22Aの全長に亘って
設けることも考えられる。ただし、切り欠き25Dを斜
めに延長ないし配置することは、設計上煩雑であるか
ら、ピッチ調整領域21Bにレジストパターン25をベ
タに形成するよりは、剥離が不要な誘電体層23の方が
有利であり、好ましい。
Further, in the above embodiment, the pitch adjusting region 21B is covered with the dielectric layer 23, the resist pattern 25 is not intentionally provided in this portion, and the notch 25B is provided in the pitch adjusting region 21B. Although the case has been described, in order to protect the address electrodes 22 during sandblasting, the pitch adjustment region 21B can be covered with the resist pattern 25 instead of the dielectric layer 23. Further, when the pitch adjustment region 21B is covered with the resist pattern 25, the pitch adjustment region 2
It is also possible to extend or dispose the notch 25D in the resist pattern 25 covering 1B in an oblique direction so that the notch 25D is provided over the entire length of the external connection terminal portion 22A of the address electrode 22. However, since it is complicated in design to extend or dispose the notch 25D obliquely, the dielectric layer 23, which does not require peeling, is more advantageous than the solid formation of the resist pattern 25 in the pitch adjustment region 21B. Is preferred.

【0072】また、上記実施の形態では、本発明をプラ
ズマ表示装置の製造方法およびプラズマ表示装置に適用
した場合について説明したが、上記実施の形態のレジス
トパターン25を「マスク」とし、アドレス電極22の
外部接続端子部分22Aを「被保護構造」とし、また隔
壁材料層24Aを「被加工層」とすれば、サンドブラス
ト加工方法にも応用することができるものである。した
がって本発明は、プラズマ表示装置の隔壁の製造に限ら
ず、およそサンドブラスト加工を用いた種々の工業製品
や、その製造プロセスに広く適用可能な汎用性を備えて
いることは言うまでもない。
Further, in the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to the manufacturing method of the plasma display device and the plasma display device has been described. However, the resist pattern 25 of the above-mentioned embodiment is used as a “mask” and the address electrode 22 is used. If the external connection terminal portion 22A of "a" is a "protected structure" and the partition wall material layer 24A is a "processed layer", it can be applied to a sandblasting method. Therefore, needless to say, the present invention is not limited to the manufacture of the barrier ribs of the plasma display device, but has versatility that can be widely applied to various industrial products using sandblasting and manufacturing processes thereof.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上説明したように請求項1ないし請求
項6のいずれか1項に記載のプラズマ表示装置の製造方
法によれば、アドレス電極の外部接続端子部分をマスク
で被覆する際に、このマスクのうち、アドレス電極の外
部接続端子部分どうしの間隙を覆う部分に、マスクの剥
離を促進するための切り欠きを設けるようにしたので、
マスク全体における端辺の総延長が長くなり、マスクの
剥離時には、その切り欠きから剥離液をマスクとその下
層の絶縁性基板等との間へと浸入させて、マスクの剥離
を促進することが可能となる。
As described above, according to the plasma display device manufacturing method of any one of claims 1 to 6, when the external connection terminal portion of the address electrode is covered with a mask, Since a notch for promoting peeling of the mask is provided in a portion of the mask which covers the gap between the external connection terminal portions of the address electrode,
The total length of the edges of the entire mask becomes longer, and when the mask is peeled off, the peeling liquid can penetrate through the notch between the mask and the underlying insulating substrate, etc., to promote mask peeling. It will be possible.

【0074】また、マスクに切り欠きを設けることによ
って、マスク密度、すなわち、マスク全体におけるひと
つながりのベタパターンごとの面積のばらつきを、絶縁
性基板の全領域に亘って、より均一化して、マスク密度
の偏りを低減ないしは解消することができる。これによ
り、絶縁性基板の全領域に亘って剥離条件のさらなる均
等化が可能となり、隔壁のピッチの細かい高精細表示の
場合でも、隔壁の形状精度向上およびマスクの容易かつ
確実な剥離が実現される。
Further, by providing a notch in the mask, the mask density, that is, the variation in the area for each solid pattern in the entire mask is made more uniform over the entire area of the insulating substrate, and the mask is formed. The bias in density can be reduced or eliminated. As a result, it becomes possible to further equalize the peeling conditions over the entire area of the insulating substrate, and even in the case of high-definition display in which the pitch of the barrier ribs is fine, the shape accuracy of the barrier ribs and easy and reliable peeling of the mask are realized. It

【0075】特に、請求項2記載のプラズマ表示装置の
製造方法によれば、切り欠きを、アドレス電極の外部接
続端子部分の複数本おきに1箇所ずつ設けるようにした
ので、マスクに切り欠きを設ける際のパターニングが煩
雑になることなく、マスクの剥離を容易かつ確実に行う
ことができる。
Particularly, according to the manufacturing method of the plasma display device of the second aspect, since the notches are provided at every one of the plurality of external connection terminal portions of the address electrodes, the notches are formed in the mask. The mask can be easily and surely peeled off without complicated patterning at the time of providing.

【0076】また、特に、請求項5記載のプラズマ表示
装置の製造方法によれば、ピッチ調整領域では、アドレ
ス電極を誘電体層で被覆して、この部分にはマスクを敢
えて設けないようにして、ピッチ調整領域の全体に切り
欠きを設けたので、マスクの被覆面積を低減すると共に
マスク全体における端辺の総延長をさらに長いものにし
て、マスクの剥離を、さらに容易かつ確実なものとする
ことができる。
Further, in particular, according to the manufacturing method of the plasma display device of the fifth aspect, in the pitch adjustment region, the address electrode is covered with the dielectric layer, and the mask is not intentionally provided in this part. Since the notch is provided in the entire pitch adjusting region, the mask covering area is reduced and the total length of the end sides of the entire mask is made longer to make the mask peeling easier and more reliable. be able to.

【0077】加えて、特に、請求項6記載のプラズマ表
示装置の製造方法によれば、隔壁が形成される領域の周
囲を額縁状に取り囲むように、アドレス電極および絶縁
性基板を露出させて誘電体層を設けない封止領域を設
け、この封止領域をマスクで被覆してサンドブラストか
ら保護するようにしたので、封止用のフリットガラスを
封止領域に強固に付着させ、放電空間の確実な封止を実
現することができる。
In addition, in particular, according to the method of manufacturing a plasma display device of the sixth aspect, the address electrode and the insulating substrate are exposed so as to surround the area where the partition wall is formed in a frame shape, and the dielectric is formed. Since the sealing area without the body layer is provided and this sealing area is covered with a mask to protect it from sandblasting, the frit glass for sealing is firmly attached to the sealing area to ensure the discharge space. It is possible to realize various sealing.

【0078】請求項7記載のプラズマ表示装置の製造方
法によれば、複数のアドレス電極の外部接続端子部分ど
うしの複数の間隙のうち、少なくとも1ヶ所を、他の間
隙よりも広く設定し、アドレス電極の外部接続端子部分
をマスクで被覆する際に、このマスクのうち、広く設定
した間隙を覆う部分に、マスクの剥離を促進するための
切り欠きを設けるようにしたので、微細なアドレス電極
の外部接続端子部分どうしの間にマスクの切り欠きを設
ける際のパターニングがより容易になる。
According to the method of manufacturing a plasma display device of claim 7, at least one of the plurality of gaps between the external connection terminal portions of the plurality of address electrodes is set wider than the other gaps, and When the external connection terminal portion of the electrode is covered with a mask, a notch for promoting peeling of the mask is provided in a portion of the mask which covers a widely set gap. This facilitates patterning when the mask notch is provided between the external connection terminal portions.

【0079】請求項8記載のサンドブラスト加工方法で
は、複数の短冊状または片状の被保護構造をマスクで被
覆する際に、このマスクのうち、被保護構造どうしの間
隙を覆う部分に、マスクの剥離を促進するための切り欠
きを設けるようにしたので、マスク全体における端辺の
総延長が長くなり、マスクの剥離時には、その切り欠き
から剥離液をマスクとその下層の絶縁性基板等との間へ
と浸入させて、マスクの剥離を促進することができる。
In the sandblasting method according to the eighth aspect, when a plurality of strip-shaped or piece-shaped structures to be protected are covered with a mask, a portion of the mask covering the gap between the structures to be protected is covered with the mask. Since the notch for promoting peeling is provided, the total length of the edge side in the entire mask becomes long, and at the time of peeling the mask, the peeling liquid is separated from the mask and the insulating substrate of the lower layer by the notch. It can be penetrated into the space to promote the peeling of the mask.

【0080】また、マスクに切り欠きを設けることによ
って、マスク密度、すなわち、マスク全体におけるひと
つながりのベタパターンごとの面積のばらつきを、絶縁
性基板の全領域に亘って、より均一化して、マスク密度
の偏りを低減ないしは解消することができる。これによ
り、絶縁性基板の全領域に亘って剥離条件のさらなる均
等化が可能となり、サンドブラストによって加工された
後の被加工層の形状精度向上およびマスクの容易かつ確
実な剥離が実現される。
Further, by providing a notch in the mask, the mask density, that is, the variation in the area for each solid pattern in the entire mask can be made more uniform over the entire area of the insulating substrate, and the mask can be made uniform. The bias in density can be reduced or eliminated. As a result, the stripping conditions can be further equalized over the entire area of the insulating substrate, and the shape accuracy of the layer to be processed after sandblasting can be improved and the mask can be easily and surely stripped.

【0081】請求項9記載のサンドブラスト加工方法で
は、複数の被保護構造どうしの複数の間隙のうち、少な
くとも1ヶ所を、他の間隙よりも広く設定し、被保護構
造をマスクで被覆する際に、このマスクのうち、広く設
定した間隙を覆う部分に、マスクの剥離を促進するため
の切り欠きを設けるようにしたので、マスクに切り欠き
を設ける際のパターニングがより容易なものとなる。
In the sandblasting method according to the ninth aspect, at least one of the plurality of gaps between the plurality of structures to be protected is set wider than the other gaps, and the structure to be protected is covered with a mask. Since the notch for promoting the peeling of the mask is provided in the portion of the mask which covers the widely set gap, the patterning when the notch is provided in the mask becomes easier.

【0082】請求項10記載のプラズマ表示装置では、
複数のアドレス電極の外部接続端子部分どうしの複数の
間隙のうち、少なくとも1ヶ所は、他の間隙よりも広く
設定されているので、アドレス電極の外部接続端子部分
をマスクで被覆するにあたり、微細なアドレス電極の外
部接続端子部分どうしの間にマスクの切り欠きを設ける
際のパターニングが、より容易なものとなる。したがっ
て、このプラズマ表示装置は、製造プロセスの簡易化お
よび精度向上に、より直結した構造となり、歩留り向上
および製造コストの低減や隔壁ピッチの縮小による画素
のさらなる精細化の達成が可能となる。その結果、欠陥
が少なく低廉なコストで製造可能な、高精細表示対応の
プラズマ表示装置を実現することができる。
In the plasma display device according to claim 10,
Since at least one of the plurality of gaps between the external connection terminal portions of the plurality of address electrodes is set wider than the other gaps, it is necessary to cover the external connection terminal portions of the address electrodes with a mask. Patterning when the notch of the mask is provided between the external connection terminal portions of the address electrode becomes easier. Therefore, this plasma display device has a structure more directly connected to the simplification of the manufacturing process and the improvement of accuracy, and it is possible to improve the yield, reduce the manufacturing cost, and achieve the further refinement of pixels by reducing the partition wall pitch. As a result, it is possible to realize a high-definition display-compatible plasma display device that has few defects and can be manufactured at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図2に示したプラズマ表示装置の背面基板を隔
壁側から見た平面構成を表す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a planar configuration of a rear substrate of the plasma display device shown in FIG. 2 viewed from a partition side.

【図2】本発明の第1の実施の形態に係るプラズマ表示
装置の表示部の基本構造を表す概略斜視図である。
FIG. 2 is a schematic perspective view showing a basic structure of a display unit of the plasma display device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】図1および図2に示したプラズマ表示装置の製
造工程を説明するための平面図である。
FIG. 3 is a plan view for explaining a manufacturing process of the plasma display device shown in FIGS. 1 and 2.

【図4】図3に示したレジストパターンを抽出して表し
た平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing the resist pattern shown in FIG. 3 by extraction.

【図5】図3に示した切り欠きの変形例を表す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing a modification of the notch shown in FIG.

【図6】本発明の第2の実施の形態に係るプラズマ表示
装置の背面基板を隔壁側から見た平面構成を表す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a planar configuration of a rear substrate of a plasma display device according to a second embodiment of the present invention as seen from a partition side.

【図7】図6に示したプラズマ表示装置の製造工程を説
明するための平面図である。
FIG. 7 is a plan view for explaining a manufacturing process of the plasma display device shown in FIG.

【図8】図9のVIII−VIII線に沿った断面図で
ある。
8 is a cross-sectional view taken along the line VIII-VIII of FIG.

【図9】従来のプラズマ表示装置の製造工程を説明する
ための平面図である。
FIG. 9 is a plan view for explaining the manufacturing process of the conventional plasma display device.

【図10】従来のプラズマ表示装置の製造工程を説明す
るための断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view for explaining a manufacturing process of the conventional plasma display device.

【図11】図9のレジストパターンを抽出して表した平
面図である。
FIG. 11 is a plan view showing the resist pattern of FIG. 9 extracted.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…表示領域、10A…封止領域、11…前面基板、
12…維持電極、13…バス電極、14,23…誘電体
層、15…保護層、21…背面基板、21A…駆動回路
接続領域、21B…ピッチ調整領域、22…アドレス電
極、22A…外部接続端子部分(被保護構造)、22C
…駆動回路接続用の間隙、22D…間隙、22K…幅広
間隙、24…隔壁、24A…隔壁材料層(被加工層)、
25…レジストパターン(マスク)、25D,25C,
25B…切り欠き、26…蛍光体。
10 ... Display area, 10A ... Sealing area, 11 ... Front substrate,
12 ... Sustain electrode, 13 ... Bus electrode, 14, 23 ... Dielectric layer, 15 ... Protective layer, 21 ... Rear substrate, 21A ... Drive circuit connection area, 21B ... Pitch adjustment area, 22 ... Address electrode, 22A ... External connection Terminal part (protected structure), 22C
... gap for connecting drive circuit, 22D ... gap, 22K ... wide gap, 24 ... partition, 24A ... partition material layer (processed layer),
25 ... Resist pattern (mask), 25D, 25C,
25B ... Notch, 26 ... Phosphor.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5C027 AA01 AA06 AA09 AA10 5C040 FA01 FA04 GB03 GD01 GF02 GK05 JA17 LA05 MA23 MA24 MA26    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 5C027 AA01 AA06 AA09 AA10                 5C040 FA01 FA04 GB03 GD01 GF02                       GK05 JA17 LA05 MA23 MA24                       MA26

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性基板にそれぞれ外部接続端子部分
を有する複数の短冊状または片状のアドレス電極を、間
隙を隔てて列設する工程と、 前記外部接続端子部分を回避して前記アドレス電極を誘
電体層で被覆する工程と、 前記誘電体層の上に隔壁材料層を形成する工程と、 少なくとも前記アドレス電極の外部接続端子部分をマス
クで被覆するとともに、前記マスクのうち、前記アドレ
ス電極の外部接続端子部分どうしの間隙を覆う部分に、
前記マスクの剥離を促進するための切り欠きを設ける工
程と、 前記マスクによって前記アドレス電極の外部接続端子部
分を保護した状態で前記隔壁材料層をサンドブラスト法
で加工して隔壁を形成する工程と、 前記サンドブラスト加工後に前記マスクを剥離する工程
とを含むことを特徴とするプラズマ表示装置の製造方
法。
1. A step of arranging a plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes each having an external connection terminal portion on an insulating substrate in a row with a gap therebetween, and the address electrode avoiding the external connection terminal portion. With a dielectric layer, a step of forming a partition material layer on the dielectric layer, at least the external connection terminal portion of the address electrode is covered with a mask, and the address electrode of the mask In the part that covers the gap between the external connection terminal parts of
A step of providing a notch for promoting peeling of the mask, and a step of processing the partition material layer by a sandblast method in a state where the external connection terminal portion of the address electrode is protected by the mask to form a partition, And a step of removing the mask after the sandblasting.
【請求項2】 前記切り欠きを、前記アドレス電極の外
部接続端子部分の複数本おきに1箇所ずつ設けることを
特徴とする請求項1記載のプラズマ表示装置の製造方
法。
2. The method of manufacturing a plasma display device according to claim 1, wherein the cutout is provided at every one of the plurality of external connection terminal portions of the address electrode.
【請求項3】 前記切り欠きを、前記アドレス電極の外
部接続端子部分どうしの間隙内に収まるような細隙状に
設けることを特徴とする請求項1記載のプラズマ表示装
置の製造方法。
3. The method for manufacturing a plasma display device according to claim 1, wherein the notch is provided in a slit-like shape so as to be accommodated in a gap between the external connection terminal portions of the address electrode.
【請求項4】 前記切り欠きを、前記アドレス電極の外
部接続端子部分どうしの間隙内に、その間隙の長手方向
に沿って配置された、単数または複数の円形,楕円形,
多角形または角に丸みをつけた多角形状の穴として設け
ることを特徴とする請求項1記載のプラズマ表示装置の
製造方法。
4. The cutout is arranged in a gap between the external connection terminal portions of the address electrode along a longitudinal direction of the gap, and has one or more circular or elliptical shapes.
The method of manufacturing a plasma display device according to claim 1, wherein the hole is provided as a polygonal hole or a polygonal hole having rounded corners.
【請求項5】 前記アドレス電極を、前記隔壁が形成さ
れる領域では前記隔壁のピッチと整合するピッチで前記
隔壁が延設される方向に沿った形状に形成し、 前記アドレス電極の外部接続端子部分を、前記絶縁性基
板の周縁部の駆動回路接続領域では駆動回路に適合する
ピッチで前記隔壁が延設される方向に沿った形状に形成
し、前記隔壁が形成される領域と前記駆動回路接続領域
との間に設けられたピッチ調整領域では両者のピッチの
ずれを調整するために前記隔壁が延設される方向に対し
て斜めに形成し、 前記ピッチ調整領域では、前記アドレス電極の外部接続
端子部分を前記誘電体層で被覆し前記マスクは設けない
ようにして、そのマスクが設けられていない部分によっ
て、前記ピッチ調整領域に前記切り欠きとは異なる切り
欠きを設けることを特徴とする請求項1記載のプラズマ
表示装置の製造方法。
5. An external connection terminal of the address electrode, wherein the address electrode is formed in a shape along a direction in which the partition wall extends at a pitch matching a pitch of the partition wall in a region where the partition wall is formed. Portions are formed in a driving circuit connection region at a peripheral portion of the insulating substrate in a shape along the direction in which the partition wall extends at a pitch suitable for the driving circuit, and the region where the partition wall is formed and the driving circuit. In the pitch adjustment region provided between the connection region and the connection region, it is formed obliquely with respect to the direction in which the partition wall is extended in order to adjust the pitch deviation between the two, and in the pitch adjustment region, outside the address electrode. The connection terminal portion is covered with the dielectric layer and the mask is not provided, and a cutout different from the cutout is provided in the pitch adjustment region depending on the portion where the mask is not provided. Method of manufacturing a plasma display device according to claim 1, wherein Rukoto.
【請求項6】 前記隔壁が形成される領域の周囲を額縁
状に取り囲むように、前記複数のアドレス電極および前
記絶縁性基板を露出させて前記誘電体層を設けない封止
領域を設け、その封止領域をさらに前記マスクで被覆す
ることを特徴とする請求項1記載のプラズマ表示装置の
製造方法。
6. A sealing region is provided so that the plurality of address electrodes and the insulating substrate are exposed and the dielectric layer is not provided so as to surround the region where the partition wall is formed in a frame shape. The method of manufacturing a plasma display device according to claim 1, wherein the sealing region is further covered with the mask.
【請求項7】 絶縁性基板にそれぞれ外部接続端子部分
を有する複数の短冊状または片状のアドレス電極を、間
隙を隔てて列設するとともに、前記複数のアドレス電極
の外部接続端子部分どうしの複数の間隙のうち、少なく
とも1ヶ所を、他の間隙よりも広く設定する工程と、 前記外部接続端子部分を回避して前記アドレス電極を誘
電体層で被覆する工程と、 前記誘電体層の上に隔壁材料層を形成する工程と、 少なくとも前記アドレス電極の外部接続端子部分をマス
クで被覆するとともに、前記マスクのうち、前記広く設
定した間隙を覆う部分に、前記マスクの剥離を促進する
ための切り欠きを設ける工程と、 前記マスクによって前記アドレス電極の外部接続端子部
分を保護した状態で前記隔壁材料層をサンドブラスト法
で加工して隔壁を形成する工程と、 前記サンドブラスト加工後に前記マスクを剥離する工程
とを含むことを特徴とするプラズマ表示装置の製造方
法。
7. A plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes each having an external connection terminal portion on an insulating substrate are arranged in a row with a gap therebetween, and a plurality of external connection terminal portions of the plurality of address electrodes are arranged. Setting at least one of the gaps to be wider than the other gaps; a step of avoiding the external connection terminal portion and covering the address electrodes with a dielectric layer; A step of forming a partition wall material layer, and covering at least the external connection terminal portion of the address electrode with a mask, and cutting a portion of the mask covering the wide gap to promote peeling of the mask. A step of providing a notch, and the partition wall material layer is processed by a sand blast method in a state where the external connection terminal portion of the address electrode is protected by the mask to form the partition wall. A step of forming, method of manufacturing a plasma display device characterized by comprising the step of removing the mask after the sandblasting.
【請求項8】 絶縁性基板に複数の短冊状または片状の
被保護構造を、間隙を隔てて形成する工程と、 前記絶縁性基板の前記被保護構造が形成されている側の
面にサンドブラスト法によって加工されて所望の形状に
形成される被加工層を、前記被保護構造を露出させて形
成する工程と、 少なくとも前記被保護構造をマスクで被覆するととも
に、前記マスクのうち、前記被保護構造どうしの間隙を
覆う部分に、前記マスクの剥離を促進する切り欠きを設
ける工程とを含むことを特徴とするサンドブラスト加工
方法。
8. A step of forming a plurality of strip-shaped or piece-shaped protected structures on an insulating substrate with a gap, and sandblasting the surface of the insulating substrate on the side where the protected structures are formed. Forming a layer to be processed which is processed into a desired shape by exposing the structure to be protected, and at least covering the structure to be protected with a mask, And a step of providing a notch for promoting peeling of the mask in a portion covering a gap between the structures, the sandblasting method.
【請求項9】 絶縁性基板に複数の短冊状または片状の
被保護構造を、間隙を隔てて形成するとともに、前記複
数の被保護構造どうしの複数の間隙のうち、少なくとも
1ヶ所を、他の間隙よりも広く設定する工程と、 前記絶縁性基板の前記被保護構造が形成されている側の
面にサンドブラスト法によって加工されて所望の形状に
形成される被加工層を、前記被保護構造を露出させて形
成する工程と、 少なくとも前記被保護構造をマスクで被覆するととも
に、前記マスクのうち、前記広く設定した間隙を覆う部
分に、前記マスクの剥離を促進する切り欠きを設ける工
程とを含むことを特徴とするサンドブラスト加工方法。
9. A plurality of strip-shaped or piece-shaped protected structures are formed on an insulating substrate with a gap, and at least one of the plurality of gaps between the protected structures is And a process target layer formed in a desired shape by a sand blasting method on the surface of the insulating substrate on the side where the protected structure is formed. And exposing at least the structure to be protected with a mask, and providing a notch for promoting peeling of the mask in a portion of the mask covering the widely set gap. A method for sandblasting, which comprises:
【請求項10】 絶縁性基板の上に間隙を隔てて列設さ
れ、それぞれ外部接続端子部分を有する複数の短冊状ま
たは片状のアドレス電極と、前記外部接続端子部分を回
避して前記アドレス電極を被覆する誘電体層と、この誘
電体層の上に形成された隔壁とを有するプラズマ表示装
置であって、 前記複数のアドレス電極の外部接続端子部分どうしの複
数の間隙のうち、少なくとも1ヶ所は、他の間隙よりも
広く設定されていることを特徴とするプラズマ表示装
置。
10. A plurality of strip-shaped or piece-shaped address electrodes, which are arranged in a row on an insulating substrate with a gap and each have an external connection terminal portion, and the address electrode avoiding the external connection terminal portion. A plasma display device having a dielectric layer covering the dielectric layer and a partition formed on the dielectric layer, wherein at least one of a plurality of gaps between external connection terminal portions of the plurality of address electrodes is provided. Is a plasma display device characterized by being set wider than other gaps.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100730206B1 (en) * 2006-03-02 2007-06-19 삼성에스디아이 주식회사 Plasma display panel
JP2008147141A (en) * 2006-12-13 2008-06-26 Pioneer Electronic Corp Manufacturing method of display panel
CN100403484C (en) * 2003-10-16 2008-07-16 三星Sdi株式会社 Plasma display panel

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