JP2003264832A - 画像処理装置および画像処理方法、並びにプログラムおよび記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＭＰＥＧストリームを、高画質の画像に復号
する。 【解決手段】 前処理部１１は、ＭＰＥＧストリーム中
の２次元ＤＣＴ係数を逆量子化して出力する。クラス分
類部１３は、前処理部１１が出力する２次元ＤＣＴ係数
を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣＴ
係数を求め、その１次元ＤＣＴ係数に基づいて、画像デ
ータを構成する画素を、複数のクラスのうちのいずれか
のクラスにクラス分けするクラス分類を行う。タップ係
数記憶部１４は、クラス分類部１３が出力するクラスに
対応するタップ係数を取得して出力し、画像再構成部１
５は、前処理部１１が出力する２次元ＤＣＴ係数と、タ
ップ係数記憶部１４が出力するタップ係数とを用いた線
形１次予測演算を行うことにより、復号画像を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画像処理装置およ
び画像処理方法、並びにプログラムおよび記録媒体に関
し、特に、例えば、画像データをＭＰＥＧ符号化した符
号化データを、高画質の画像データに復号することがで
きるようにする画像処理装置および画像処理方法、並び
にプログラムおよび記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＭＰＥＧ(Moving Picture Experts Grou
p)１や２等の符号化方式では、画像データが、８×８画
素のブロック単位で、ＤＣＴ(Discrete Cosine Transfo
rm)変換され、さらに量子化されることにより、符号化
データとされる。このため、ＭＰＥＧの規格に準拠した
ＭＰＥＧデコーダでは、符号化データが、逆量子化さ
れ、さらに逆ＤＣＴ変換されることにより復号される。

【０００３】上述のように、ＭＰＥＧ符号化方式では、
画像データが、ブロック単位でＤＣＴ変換され、その結
果得られるＤＣＴ係数が量子化されるため、ＭＰＥＧの
規格に準拠したＭＰＥＧデコーダにおいて得られる復号
画像には、符号化時の量子化の影響により、ブロック歪
みやモスキートノイズといった各種の歪みが生じる。

【０００４】復号画像に生じする歪みを低減する方法と
しては、例えば、特開平１１−１８７４００号公報や特
開平１１−２０５７９２号公報に記載されているよう
に、復号画像に対して後処理を施すことにより、その復
号画像に生じている歪みを検知して補正する方法があ
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように、歪みを検知して補正する方法では、ブロック境
界の位置を検出する必要がある。さらに、符号化データ
がＭＰＥＧ２方式で、画像データを符号化したものであ
る場合には、マクロブロック単位で設定可能なＤＣＴタ
イプが、フレームＤＣＴまたはフィールドＤＣＴのうち
のいずれであったかを判別する必要もある。従って、ブ
ロック境界の位置の検出や、ＤＣＴタイプの判別を誤る
と、復号画像に生じている歪みを、十分に除去すること
が困難なことがある。

【０００６】さらに、上述の方法は、復号画像に生じる
歪み波形の基底をなすコサイン波形の位相とは無関係
に、補正のためのフィルタ処理を施すものとなってお
り、従って、必ずしも、最適な歪み除去方式とは言えな
い。

【０００７】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、各種の歪みを十分に低減した高画質の復
号画像を得ることができるようにするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の画像処理
装置は、２次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換する
ことにより、１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ
変換手段と、１次元ＤＣＴ係数に基づいて、画像データ
を構成する画素を、複数のクラスのうちのいずれかのク
ラスにクラス分けするクラス分類を行うクラス分類手段
と、クラス分類手段によるクラス分類の結果得られるク
ラスごとに、符号化データを処理する処理手段とを備え
ることを特徴とする。

【０００９】本発明の第１の画像処理方法は、２次元Ｄ
ＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次
元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換ステップと、
１次元ＤＣＴ係数に基づいて、画像データを構成する画
素を、複数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス
分けするクラス分類を行うクラス分類ステップと、クラ
ス分類ステップによるクラス分類の結果得られるクラス
ごとに、符号化データを処理する処理ステップとを備え
ることを特徴とする。

【００１０】本発明の第１のプログラムは、２次元ＤＣ
Ｔ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元
ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換ステップと、１
次元ＤＣＴ係数に基づいて、画像データを構成する画素
を、複数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分
けするクラス分類を行うクラス分類ステップと、クラス
分類ステップによるクラス分類の結果得られるクラスご
とに、符号化データを処理する処理ステップとを備える
ことを特徴とする。

【００１１】本発明の第１の記録媒体は、２次元ＤＣＴ
係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元Ｄ
ＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換ステップと、１次
元ＤＣＴ係数に基づいて、画像データを構成する画素
を、複数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分
けするクラス分類を行うクラス分類ステップと、クラス
分類ステップによるクラス分類の結果得られるクラスご
とに、符号化データを処理する処理ステップとを備える
プログラムが記録されていることを特徴とする。

【００１２】本発明の第２の画像処理装置は、学習用の
画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換することに
より符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化データを
出力する符号化手段と、符号化データに含まれる２次元
ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１
次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換手段と、学
習用の画像データから得られる、学習の教師となる教師
データを、１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複数のクラス
のうちのいずれかのクラスにクラス分けするクラス分類
を行うクラス分類手段と、教師データと、学習用の画像
データから得られる、学習の生徒となる生徒データとを
用いて、教師データのクラスごとに学習を行うことによ
り、クラスごとのタップ係数を求める学習手段とを備え
ることを特徴とする。

【００１３】本発明の第２の画像処理方法は、学習用の
画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換することに
より符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化データを
出力する符号化ステップと、符号化データに含まれる２
次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することによ
り、１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換ステ
ップと、学習用の画像データから得られる、学習の教師
となる教師データを、１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複
数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けする
クラス分類を行うクラス分類ステップと、教師データ
と、学習用の画像データから得られる、学習の生徒とな
る生徒データとを用いて、教師データのクラスごとに学
習を行うことにより、クラスごとのタップ係数を求める
学習ステップとを備えることを特徴とする。

【００１４】本発明の第２のプログラムは、学習用の画
像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換することによ
り符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化データを出
力する符号化ステップと、符号化データに含まれる２次
元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、
１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換ステップ
と、学習用の画像データから得られる、学習の教師とな
る教師データを、１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複数の
クラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けするクラ
ス分類を行うクラス分類ステップと、教師データと、学
習用の画像データから得られる、学習の生徒となる生徒
データとを用いて、教師データのクラスごとに学習を行
うことにより、クラスごとのタップ係数を求める学習ス
テップとを備えることを特徴とする。

【００１５】本発明の第２の記録媒体は、学習用の画像
データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換することにより
符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化データを出力
する符号化ステップと、符号化データに含まれる２次元
ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１
次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換ステップ
と、学習用の画像データから得られる、学習の教師とな
る教師データを、１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複数の
クラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けするクラ
ス分類を行うクラス分類ステップと、教師データと、学
習用の画像データから得られる、学習の生徒となる生徒
データとを用いて、教師データのクラスごとに学習を行
うことにより、クラスごとのタップ係数を求める学習ス
テップとを備えるプログラムが記録されていることを特
徴とする。

【００１６】本発明の第１の画像処理装置および画像処
理方法、並びにプログラムにおいては、２次元ＤＣＴ係
数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣ
Ｔ係数が求められ、その１次元ＤＣＴ係数に基づいて、
画像データを構成する画素を、複数のクラスのうちのい
ずれかのクラスにクラス分けするクラス分類が行われ
る。そして、その結果得られるクラスごとに、符号化デ
ータが処理される。

【００１７】本発明の第２の画像処理装置および画像処
理方法、並びにプログラムにおいては、学習用の画像デ
ータが、少なくとも２次元ＤＣＴ変換されることにより
符号化され、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化データが出
力される。さらに、符号化データに含まれる２次元ＤＣ
Ｔ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元
ＤＣＴ係数が求められる。そして、学習用の画像データ
から得られる、学習の教師となる教師データを、１次元
ＤＣＴ係数に基づいて、複数のクラスのうちのいずれか
のクラスにクラス分けするクラス分類が行われ、教師デ
ータと、学習用の画像データから得られる、学習の生徒
となる生徒データとを用いて、教師データのクラスごと
に学習を行うことにより、クラスごとのタップ係数が求
められる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明するが、その前に、ＭＰＥＧに準拠した復号方式
について、簡単に説明する。

【００１９】図１は、例えば、ＭＰＥＧ２方式で符号化
された符号化データを、ＭＰＥＧに準拠して復号するＭ
ＰＥＧデコーダの構成例を示している。

【００２０】画像データをＭＰＥＧ２方式で符号化する
ことにより得られる符号化データ（ビデオストリーム）
は、分離部１に供給される。分離部１は、符号化データ
から、コーデッドブロックパターン(Coded Block Patte
rn)（以下、適宜、ＣＢＰという）、ＤＣＴタイプ、量
子化されたＤＣＴ係数のＶＬＣ（可変長符号化）コー
ド、量子化スケール、動きベクトル、動き補償タイプ
（frame motion type, field motion type）等を分離し
て出力する。

【００２１】ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２は、分離部
１が出力する、量子化されたＤＣＴ係数（以下、適宜、
量子化ＤＣＴ係数という）のＶＬＣコード、量子化スケ
ール、およびＤＣＴタイプを受信し、ＤＣＴ係数を復号
する。即ち、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２は、分離部
１が出力する量子化ＤＣＴ係数のＶＬＣコードを可変長
復号し、８×８画素のブロックごとの量子化ＤＣＴ係数
を求める。さらに、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２は、
ブロックごとの量子化ＤＣＴ係数を、分離部１が出力す
る量子化スケールによって逆量子化し、ブロックごとの
ＤＣＴ係数を求める。ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２で
得られたブロックごとのＤＣＴ係数は、逆ＤＣＴ変換部
３に供給される。

【００２２】逆ＤＣＴ変換部３は、ＤＣＴ係数抽出／逆
量子化部２からのブロックごとのＤＣＴ係数を逆ＤＣＴ
変換し、動き補償加算部６に供給される。

【００２３】動き補償加算部６には、逆ＤＣＴ変換部３
が出力する逆ＤＣＴ変換結果の他、分離部１が出力する
ＣＢＰおよびＤＣＴタイプが供給される。動き補償加算
部６は、ＣＢＰやＤＣＴタイプに基づき、必要に応じ
て、逆ＤＣＴ変換部３からの逆ＤＣＴ結果に対して、画
像メモリ５に記憶された予測画像を加算することで、８
×８の画素値のブロックを復号して出力する。

【００２４】即ち、ＭＰＥＧ符号化では、Ｉピクチャの
ブロックは、イントラ(intra)符号化され、Ｐピクチャ
のブロックは、イントラ符号化、または前方予測符号化
され、Ｂピクチャのブロックは、イントラ符号化、前方
予測符号化、後方予測符号化、または両方向予測符号化
される。

【００２５】ここで、前方予測符号化では、符号化対象
のブロックのフレーム（またはフィールド）より時間的
に先行するフレーム（またはフィールド）の画像を参照
画像として、その参照画像を動き補償することにより得
られる、符号化対象のブロックの予測画像と、符号化対
象のブロックとの差分が求められ、その差分値（以下、
適宜、残差画像という）がＤＣＴ変換される。

【００２６】また、後方予測符号化では、符号化対象の
ブロックのフレームより時間的に後行するフレームの画
像を参照画像として、その参照画像を動き補償すること
により得られる、符号化対象のブロックの予測画像と、
符号化対象のブロックとの差分が求められ、その差分値
（残差画像）がＤＣＴ変換される。

【００２７】さらに、両方向予測符号化では、符号化対
象のブロックのフレームより時間的に先行するフレーム
と後行するフレームの２フレーム（またはフィールド）
の画像を参照画像として、その参照画像を動き補償する
ことにより得られる、符号化対象のブロックの予測画像
と、符号化対象のブロックとの差分が求められ、その差
分値（残差画像）がＤＣＴ変換される。

【００２８】従って、ブロックが、ノンイントラ(non-i
ntra)符号化（前方予測符号化、後方予測符号化、また
は両方向予測符号化）されている場合、逆ＤＣＴ変換部
３が出力する逆ＤＣＴ変換結果は、残差画像（元の画像
と、その予測画像との差分値）であり、動き補償加算部
６は、この残差画像と、画像メモリ５に記憶された予測
画像とを加算することで、ノンイントラ符号化されたブ
ロックを復号する。

【００２９】一方、動き補償加算部６は、逆ＤＣＴ変換
部４が出力するブロックが、イントラ符号化されたもの
であった場合には、そのブロックを、そのまま復号結果
とする。

【００３０】動き補償加算部６は、１フレーム（または
フィールド）分のブロックの復号結果、即ち、１フレー
ム（またはフィールド）の復号画像を得ると、その復号
画像を、画像メモリ（Ｉ，Ｐピクチャ用画像メモリ）７
と、ピクチャ選択部８に供給する。

【００３１】画像メモリ７は、動き補償加算部６から供
給される復号画像が、ＩピクチャまたはＰピクチャの画
像である場合、その復号画像を、その後に復号される符
号化データの参照画像として一時記憶する。なお、ＭＰ
ＥＧ２では、Ｂピクチャは参照画像とされないことか
ら、動き補償加算部６から供給される復号画像が、Ｂピ
クチャの画像である場合には、その復号画像は、画像メ
モリ７に記憶されない。

【００３２】ピクチャ選択部８は、動き補償加算部６が
出力する復号画像、または画像メモリ７に記憶された復
号画像のフレーム（またはフィールド）を、表示順に選
択して出力する。即ち、ＭＰＥＧ２方式では、画像のフ
レーム（またはフィールド）の表示順と復号順（符号化
順）とが一致していないため、ピクチャ選択部８は、復
号順に並んでいる復号画像のフレーム（またはフィール
ド）を表示順に並べ替えて出力する。

【００３３】このようにして表示順の並びとされた復号
画像は、例えば、図示せぬディスプレイ等に供給されて
表示される。

【００３４】一方、動き補償部４は、分離部１が出力す
る動きベクトルや動き補償タイプを受信し、その動き補
償タイプに基づいて、参照画像となるフレーム（または
フィールド）を、画像メモリ７から読み出す。さらに、
動き補償部４は、画像メモリ７から読み出した参照画像
に対して、分離部１が出力する動きベクトルにしたがっ
た動き補償を施し、その結果得られる予測画像を、画像
メモリ５に供給して記憶させる。

【００３５】このようにして画像メモリ５に記憶された
予測画像は、上述したように、動き補償加算部６におい
て、逆ＤＣＴ変換部３が出力する残差画像と加算され
る。

【００３６】なお、図１のＭＰＥＧデコーダにおいて
は、各ブロックにおける遅延時間を吸収するためのタイ
ミング調整用のメモリと同期信号を必要とするが、その
図示は、省略してある。後述する画像処理装置や学習装
置においても同様である。

【００３７】次に、図２は、本発明を適用した画像処理
装置の一実施の形態の構成例を示している。なお、図
中、図１のＭＰＥＧデコーダにおける場合と対応する部
分については、同一の符号を付してあり、以下では、そ
の説明は、適宜省略する。

【００３８】図２の画像処理装置は、前処理部１１、バ
ッファメモリ１２、クラス分類部１３、タップ係数記憶
部１４、および画像再構成部１５から構成されており、
例えば、画像データをＭＰＥＧ２方式で符号化すること
により得られる符号化データを復号するようになってい
る。

【００３９】即ち、符号化データは、前処理部１１に供
給されるようになっている。また、前処理部１１には、
符号化データの他、画像再構成部１５から、既に復号さ
れた画像が、参照画像として供給されるようになってい
る。

【００４０】前処理部１１は、分離部１、ＤＣＴ係数抽
出／逆量子化部２、動き補償部４、画像メモリ５、ＤＣ
Ｔ変換部２１、周波数領域動き補償加算部２２から構成
されており、符号化データに対して、前処理を施すよう
になっている。

【００４１】即ち、ＤＣＴ変換部２１には、分離部１か
ら、ＤＣＴタイプが供給されるとともに、画像メモリ５
から、動き補償部４において参照画像に動き補償処理を
施すことにより得られた予測画像が供給される。

【００４２】ここで、いま、復号の対象となっているブ
ロックを、以下、適宜、注目ブロックという。

【００４３】また、以下、適宜、画素値で構成されるブ
ロックを、画素ブロックというとともに、ＤＣＴ係数で
構成されるブロックを、ＤＣＴブロックという。

【００４４】さらに、以下、適宜、注目ブロックとなっ
ている画素ブロックまたはＤＣＴブロックを、それぞ
れ、注目画素ブロックまたは注目ＤＣＴブロックとい
う。

【００４５】ＤＣＴ変換部２１は、分離部１から供給さ
れるＤＣＴタイプに基づき、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化
部２が出力する注目ブロックのＤＣＴタイプを認識す
る。さらに、ＤＣＴ変換部２１は、注目ブロックのＤＣ
Ｔタイプに基づいて、画像メモリ５に記憶された予測画
像から、ブロックと同一の大きさの８×８画素を選択
し、ＤＣＴ係数に変換する。この予測画像から得られた
ＤＣＴ係数（以下、適宜、予測ＤＣＴ係数という）は、
ＤＣＴ変換部２１から周波数領域動き補償加算部２２に
供給される。

【００４６】周波数領域動き補償加算部２２には、ＤＣ
Ｔ変換部２１から、８×８の予測ＤＣＴ係数が供給され
る他、分離部１から、注目ブロックを含むマクロブロッ
ク（以下、適宜、注目マクロブロックという）のＣＢＰ
が供給されるとともに、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２
から、注目ブロックが供給される。

【００４７】周波数領域動き補償加算部２２は、注目マ
クロブロックのＣＢＰに基づき、必要に応じて、注目ブ
ロックの各ＤＣＴ係数と、対応する予測ＤＣＴ係数とを
加算することで、注目ブロックの画素値をＤＣＴ変換し
た注目ＤＣＴブロックを求める。

【００４８】即ち、注目ブロックがイントラ符号化され
ているものである場合、その注目ブロックのＤＣＴ係数
は、画素値のブロック（画素ブロック）をＤＣＴ変換し
たものとなっているから、周波数領域動き補償加算部２
２は、その注目ブロックを、そのまま、注目ＤＣＴブロ
ックとする。

【００４９】また、注目ブロックがノンイントラ符号化
されているものである場合、その注目ブロックは、画素
値のブロック（画素ブロック）と、予測画像との差分値
（残差画像）をＤＣＴ変換したものとなっているから、
周波数領域動き補償加算部２２は、その注目ブロックの
各ＤＣＴ係数と、ＤＣＴ変換部２１において８×８画素
の予測画像をＤＣＴ変換して得られる８×８の予測ＤＣ
Ｔ係数のうちの対応するものとを加算することにより、
注目ＤＣＴブロックを求める。

【００５０】周波数領域動き補償加算部２２において求
められた注目ＤＣＴブロックは、分離部１が出力する、
その注目ＤＣＴブロック（を含むマクロブロック）のＤ
ＣＴタイプと対応付けられ、前処理部１１からバッファ
メモリ１２に供給される。

【００５１】バッファメモリ１２は、前処理部１１から
供給される注目ＤＣＴブロックとそのＤＣＴタイプとの
セットを、一時記憶する。なお、クラス分類部１３で
は、後述するように、注目ブロックの情報の他、その注
目ブロックの上下左右にそれぞれ隣接する４つのブロッ
クの情報も用いて処理が行われるようになっている。こ
のため、バッファメモリ１２は、画面２行分のマクロブ
ロックに、１つのマクロブロックを加えた分の２次元Ｄ
ＣＴ係数およびＤＣＴタイプを記憶することのできる記
憶容量を、少なくとも有している。

【００５２】ここで、バッファメモリ１２に記憶される
ブロックのＤＣＴ係数は、前処理部１１の周波数領域動
き補償加算部２２が出力するものであるから、ブロック
のピクチャタイプによらず、また、ブロックがイントラ
符号化またはノンイントラ符号化されたかによらず、元
の画像の画素値（残差画像ではなく、元の画像）をＤＣ
Ｔ変換したものとなっている。

【００５３】なお、ここでいう元の画像は、残差画像と
予測画像とを加算して得られるものを意味し、ＭＰＥＧ
符号化の対象となった原画像そのものではない。

【００５４】クラス分類部１３は、１次元逆ＤＣＴ変換
部３１、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２、ＡＣ
パワー算出部３３、ＡＣ内積計算部３４、隣接タップデ
ータ生成部３５、クラスコード生成部３６および３７か
ら構成され、バッファメモリ１２に記憶されたブロック
のＤＣＴ係数とＤＣＴタイプに基づき、注目ブロックの
各画素を、複数のクラスのうちのいずれかのクラスにク
ラス分けするクラス分類を行う。

【００５５】即ち、１次元逆ＤＣＴ変換部３１は、バッ
ファメモリ１２に記憶されたブロックのＤＣＴ係数を、
１次元逆ＤＣＴ変換することにより、水平方向の空間周
波数成分を表す水平１次元ＤＣＴ係数と、垂直方向の空
間周波数成分を表す垂直１次元ＤＣＴ係数とを求める。

【００５６】ここで、以下、適宜、垂直１次元ＤＣＴ係
数と水平１次元ＤＣＴ係数とをまとめて、１次元ＤＣＴ
係数という。

【００５７】また、ＭＰＥＧ符号化された符号化データ
に含まれるＤＣＴ係数は、水平方向と垂直方向の２方向
の空間周波数成分を表すものであり、１次元ＤＣＴ係数
と区別するために、以下、適宜、２次元ＤＣＴ係数とい
う。

【００５８】さらに、以下、適宜、画素値から２次元Ｄ
ＣＴ係数への変換を、２次元ＤＣＴ変換と、２次元ＤＣ
Ｔ係数から画素値への変換を、２次元逆ＤＣＴ変換と、
それぞれいう。図２のＤＣＴ変換部２１で行われるＤＣ
Ｔ変換は、２次元ＤＣＴ変換であり、図１の逆ＤＣＴ変
換部３で行われる逆ＤＣＴ変換は、２次元逆ＤＣＴ変換
である。

【００５９】１次元逆ＤＣＴ変換部３１で得られる１次
元ＤＣＴ係数は、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３
２、ＡＣパワー算出部３３、ＡＣ内積計算部３４、隣接
タップデータ生成部３５、およびクラスコード生成部３
６に供給される。

【００６０】隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２
は、バッファメモリ１２から、注目ブロックのＤＣＴタ
イプを受信し、そのＤＣＴタイプに基づき、注目ブロッ
クに隣接する画素（列）の１次元ＤＣＴ係数（以下、適
宜、隣接１次元ＤＣＴ係数という）を、１次元逆ＤＣＴ
変換部３１から供給される１次元ＤＣＴ係数から取得
し、ＡＣパワー算出部３３、ＡＣ内積計算部３４、隣接
タップデータ生成部３５、およびクラスコード生成部３
６に供給する。

【００６１】ＡＣパワー算出部３３は、１次元逆ＤＣＴ
係数変換部３１から供給される１次元ＤＣＴ係数の交流
成分のパワー（以下、適宜、ＡＣパワーという）を求め
るとともに、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２か
ら供給される１次元ＤＣＴ係数のＡＣパワーを求め、ク
ラスコード生成部３６および３７に供給する。

【００６２】ＡＣ内積計算部３４は、１次元逆ＤＣＴ係
数変換部３１から供給される注目ブロックの境界部分の
１次元ＤＣＴ係数の交流成分と、隣接１次元ＤＣＴ係数
選択／変換部３２から供給される隣接１次元ＤＣＴ係数
の交流成分とを、それぞれベクトルのコンポーネントと
みなして、その２つのベクトルの内積（以下、適宜、Ａ
Ｃ内積という）を求める。ＡＣ内積計算部３４で求めら
れるＡＣ内積は、クラスコード生成部３６に供給され
る。

【００６３】隣接タップデータ生成部３５は、１次元逆
ＤＣＴ変換部３１から供給される１次元ＤＣＴ係数と、
隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２から供給される
隣接１次元ＤＣＴ係数の中から、後述する適応処理部５
１において構成される予測タップとなる１次元ＤＣＴ係
数を選択し、適応処理部５１に供給する。

【００６４】クラスコード生成部３６は、輝度信号Ｙの
ブロックを構成する画素のクラス分類を行い、クラスコ
ード生成部３７は、色差信号（色信号）Ｃのブロックを
構成する画素のクラス分類を行う。

【００６５】ここで、符号化データは、カラーの画像デ
ータをＭＰＥＧ符号化したものとなっている。

【００６６】そして、１次元逆ＤＣＴ変換部３１は、注
目ブロックが輝度信号のブロックである場合の、その注
目ブロックの１次元ＤＣＴ係数を、隣接１次元ＤＣＴ係
数選択／変換部３２は、注目ブロックが輝度信号のブロ
ックである場合の、その注目ブロックに隣接する隣接１
次元ＤＣＴ係数を、ＡＣパワー算出部３３は、注目ブロ
ックが輝度信号のブロックである場合の、その注目ブロ
ックについて得られたＡＣパワーを、ＡＣ内積計算部３
４は、注目ブロックが輝度信号のブロックである場合
の、その注目ブロックについて得られたＡＣ内積を、そ
れぞれ、クラスコード生成部３６に供給するようになっ
ており、クラスコード生成部３６は、そこに供給される
情報に基づいて、注目ブロックの各画素をクラス分類す
る。

【００６７】さらに、クラスコード生成部３６は、注目
ブロックの輝度信号の画素のクラス分類を行うことによ
り得られるクラスを表すクラスコードを生成し、タップ
係数記憶部１４に供給する。ここで、クラスコード生成
部３６において得られる、輝度信号のブロックの画素に
ついてのクラスコードを、以下、適宜、輝度クラスコー
ドという。

【００６８】クラスコード生成部３６が出力する注目ブ
ロックの各画素についての輝度クラスコードは、クラス
コード生成部３７にも供給される。また、クラスコード
生成部３７には、ＡＣパワー算出部３３から、注目ブロ
ックが色差信号のブロックである場合の、その注目ブロ
ックについて得られたＡＣパワーも供給されるようにな
っている。

【００６９】クラスコード生成部３７は、ＡＣパワー算
出部３３から供給される注目ブロックのＡＣパワーと、
クラスコード生成部３６から供給される、色差信号の注
目ブロックに対応する輝度信号のブロックの画素の輝度
クラスコードとに基づいて、注目ブロックの各画素をク
ラス分類する。

【００７０】そして、クラスコード生成部３７は、注目
ブロックの色差信号の画素のクラス分類を行うことによ
り得られるクラスを表すクラスコードを生成し、タップ
係数記憶部１４に供給する。ここで、クラスコード生成
部３７において得られる、色差信号のブロックの画素に
ついてのクラスコードを、以下、適宜、色差クラスコー
ドという。

【００７１】タップ係数記憶部１４は、タップ係数選択
部４１および４２、並びに係数メモリ４３および４４か
ら供給され、クラス分類部１３のクラスコード生成部３
６または３７から供給されるクラスコードに対応するタ
ップ係数を取得し、画像再構成部１５に供給する。

【００７２】即ち、タップ係数選択部４１には、クラス
コード生成部３６が出力する輝度クラスコードが供給さ
れるようになっており、タップ係数選択部４２には、ク
ラスコード生成部３７が出力する色差クラスコードが供
給されるようになっている。

【００７３】また、係数メモリ４３には、輝度信号の画
素について、後述する学習により得られたクラスごとの
タップ係数が記憶されており、係数メモリ４４には、色
差信号の画素について、学習により得られたクラスごと
のタップ係数が記憶されている。

【００７４】そして、タップ係数選択部４１は、クラス
コード生成部３６から供給される輝度クラスコード（に
対応するクラス）のタップ係数を、係数メモリ４３から
読み出し、画像再構成部１５の適応処理部５１に供給す
る。

【００７５】また、タップ係数選択部４２は、クラスコ
ード生成部３７から供給される色差クラスコード（に対
応するクラス）のタップ係数を、係数メモリ４４から読
み出し、画像再構成部１５の適応処理部５１に供給す
る。

【００７６】画像再構成部１５は、画像メモリ７、ピク
チャ選択部８、および適応処理部５１から構成されてお
り、バッファメモリ１２に記憶された２次元ＤＣＴ係数
および隣接タップデータ生成部３５から供給される１次
元ＤＣＴ係数、並びにタップ係数記憶部１４の係数メモ
リ４３と４４から供給されるタップ係数を用いて、画像
を復号（再構成）する。

【００７７】即ち、適応処理部５１は、バッファメモリ
１２に記憶された注目ブロックの２次元ＤＣＴ係数およ
び隣接タップデータ生成部３５から供給される１次元Ｄ
ＣＴ係数を、タップ係数記憶部１４の係数メモリ４３と
４４から供給されるタップ係数を用いて適応処理するこ
とにより、注目ブロックの画素値に変換する。さらに、
適応処理部５１は、１フレーム（またはフィールド）分
の画素値、即ち、１フレーム（またはフィールド）の画
像データを復号すると、その復号画像データを、画像メ
モリ７とピクチャ選択部８に供給する。

【００７８】画像メモリ７は、適応処理部５１から供給
される復号画像データのうち、ＩピクチャとＰピクチャ
の復号画像データを、参照画像として記憶する。ピクチ
ャ選択部８は、適応処理部５１から供給される復号画像
データ、または画像メモリ７に記憶された復号画像デー
タを、表示順で選択して出力する。

【００７９】ここで、適応処理部５１では、上述したよ
うに、ＤＣＴ係数を、タップ係数を用いて画素値に変換
する適応処理が行われる。

【００８０】即ち、適応処理では、例えば、ＤＣＴ係数
と、所定のタップ係数との線形結合により、元の画素の
予測値を求めることで、ＤＣＴ係数が、元の画素値に復
号される。

【００８１】具体的には、例えば、いま、画像の画素値
を教師データとするとともに、その画像を、ブロック単
位でＤＣＴ変換し、さらに量子化、逆量子化をして得ら
れるＤＣＴ係数を生徒データとして、教師データである
画素の画素値ｙの予測値Ｅ［ｙ］を、幾つかのＤＣＴ係
数ｘ₁，ｘ₂，・・・の集合と、所定のタップ係数ｗ₁，
ｗ₂，・・・の線形結合により規定される線形１次結合
モデルにより求めることを考える。この場合、予測値Ｅ
［ｙ］は、次式で表すことができる。

【００８２】 Ｅ［ｙ］＝ｗ₁ｘ₁＋ｗ₂ｘ₂＋・・・ ・・・（１）

【００８３】式（１）を一般化するために、タップ係数
ｗ_jの集合でなる行列Ｗ、生徒データｘ_ijの集合でなる
行列Ｘ、および予測値Ｅ［ｙ_j］の集合でなる行列Ｙ’
を、

【数１】 で定義すると、次のような観測方程式が成立する。

【００８４】 ＸＷ＝Ｙ’ ・・・（２）

【００８５】ここで、行列Ｘの成分ｘ_ijは、ｉ件目の生
徒データの集合（ｉ件目の教師データｙ_iの予測に用い
る生徒データの集合）（予測タップ）の中のｊ番目の生
徒データを意味し、行列Ｗの成分ｗ_jは、生徒データの
集合の中のｊ番目の生徒データとの積が演算されるタッ
プ係数を表す。また、ｙ_iは、ｉ件目の教師データを表
し、従って、Ｅ［ｙ_i］は、ｉ件目の教師データの予測
値を表す。なお、式（１）の左辺におけるｙは、行列Ｙ
の成分ｙ_iのサフィックスｉを省略したものであり、ま
た、式（１）の右辺におけるｘ₁，ｘ₂，・・・も、行列
Ｘの成分ｘ_ijのサフィックスｉを省略したものである。

【００８６】式（２）の観測方程式に最小自乗法を適用
して、元の画素値ｙに近い予測値Ｅ［ｙ］を求めること
を考える。この場合、教師データとなる真の画素値ｙの
集合でなる行列Ｙ、および画素値ｙに対する予測値Ｅ
［ｙ］の残差ｅの集合でなる行列Ｅを、

【数２】 で定義すると、式（２）から、次のような残差方程式が
成立する。

【００８７】 ＸＷ＝Ｙ＋Ｅ ・・・（３）

【００８８】この場合、元の画素値ｙに近い予測値Ｅ
［ｙ］を求めるためのタップ係数ｗ_jは、自乗誤差

【数３】 を最小にすることで求めることができる。

【００８９】従って、上述の自乗誤差をタップ係数ｗ_j
で微分したものが０になる場合、即ち、次式を満たすタ
ップ係数ｗ_jが、元の画素値ｙに近い予測値Ｅ［ｙ］を
求めるため最適値ということになる。

【００９０】

【数４】 ・・・（４）

【００９１】そこで、まず、式（３）を、タップ係数ｗ
_jで微分することにより、次式が成立する。

【００９２】

【数５】 ・・・（５）

【００９３】式（４）および（５）より、式（６）が得
られる。

【００９４】

【数６】 ・・・（６）

【００９５】さらに、式（３）の残差方程式における生
徒データｘ_ij、タップ係数ｗ_j、教師データｙ_i、および
残差ｅ_iの関係を考慮すると、式（６）から、次のよう
な正規方程式を得ることができる。

【００９６】

【数７】 ・・・（７）

【００９７】なお、式（７）に示した正規方程式は、行
列（共分散行列）Ａおよびベクトルｖを、

【数８】 で定義するとともに、ベクトルＷを、数１で示したよう
に定義すると、式 ＡＷ＝ｖ ・・・（８） で表すことができる。

【００９８】式（７）における各正規方程式は、生徒デ
ータｘ_ijおよび教師データｙ_iのセットを、ある程度の
数だけ用意することで、求めるべきタップ係数ｗ_jの数
Ｊと同じ数だけたてることができ、従って、式（８）
を、ベクトルＷについて解くことで（但し、式（８）を
解くには、式（８）における行列Ａが正則である必要が
ある）、最適なタップ係数（ここでは、自乗誤差を最小
にするタップ係数）ｗ_jを求めることができる。なお、
式（８）を解くにあたっては、例えば、掃き出し法（Ga
uss-Jordanの消去法）などを用いることが可能である。

【００９９】以上のようにして、最適なタップ係数、即
ち、画素値の予測値の統計的な誤差を最小にするタップ
係数ｗ_jを求めておき、さらに、そのタップ係数ｗ_jを用
いて、式（１）により、元の画素値ｙに近い予測値Ｅ
［ｙ］を求めるのが適応処理である。

【０１００】なお、上述のように、画像の画素値を教師
データとするとともに、その画像を、ブロック単位でＤ
ＣＴ変換し、さらに量子化、逆量子化をして得られるＤ
ＣＴ係数を生徒データとする場合には、ＤＣＴ係数（画
素値をＤＣＴ変換し、量子化し、さらに、逆量子化して
得られるＤＣＴ係数）を、式（１）の線形予測演算によ
って、元の画素値（の予測値）に変換するのに最適なタ
ップ係数を得ることができる。そして、ＤＣＴ係数は、
周波数領域のデータであり、画素値は時間領域の信号で
あるから、上述のようなタップ係数を用いて、ＤＣＴ係
数を画素値に変換する適応処理は、周波数(Frequency)
と時間(Time)の頭文字をとって、ＦＴ変換と呼ぶことが
できる。

【０１０１】ここで、上述の場合には、画像を２次元Ｄ
ＣＴ変換し、さらに量子化、逆量子化して得られるＤＣ
Ｔ係数を生徒データとするとともに、原画像を教師デー
タとして、タップ係数を求めるようにしたが、タップ係
数は、その他、例えば、原画像を２次元ＤＣＴ変換し、
さらに量子化、逆量子化して得られるＤＣＴ係数を生徒
データとするとともに、原画像を２次元ＤＣＴ変換して
得られるＤＣＴ係数を教師データとして求めるようにす
ることも可能である。この場合、量子化誤差のあるＤＣ
Ｔ係数を、量子化誤差のないＤＣＴ係数（の予測値）に
変換するのに最適なタップ係数を得ることができる。

【０１０２】また、タップ係数は、原画像を２次元ＤＣ
Ｔ変換し、さらに、量子化、逆量子化、２次元逆ＤＣＴ
変換して得られる復号画像を生徒データとするととも
に、原画像を教師データとして求めるようにすることも
可能である。この場合、復号画像を、原画像（の予測
値）に変換するのに最適なタップ係数を得ることができ
る。

【０１０３】次に、図３は、図２のＤＣＴ変換部２１お
よび周波数領域動き補償加算部２２の構成例を示してい
る。

【０１０４】ＤＣＴ変換部２１は、（８×８画素）サン
プリング部６１とＤＣＴ部６２から構成され、画像メモ
リ５に記憶された予測画像を２次元ＤＣＴ変換した予測
ＤＣＴ係数を生成するようになっている。

【０１０５】即ち、サンプリング部６１には、画像メモ
リ５に記憶された予測画像と、分離部１（図２）が出力
する注目ブロック（を含むマクロブロック）のＤＣＴタ
イプが供給されるようになっている。

【０１０６】ここで、画像メモリ５には、動き補償部４
（図２）から、マクロブロックと同一の大きさである１
６×１６画素の予測画像が供給されるようになってお
り、画像メモリ５は、注目ブロックに対応する１６×１
６画素の予測画像を記憶する。従って、画像メモリ５
は、少なくとも１６×１６画素の画像を記憶することの
できる記憶容量を有している。

【０１０７】サンプリング部６１は、画像メモリ５に記
憶された１６×１６画素の予測画像を、注目ブロックの
ＤＣＴタイプにしたがってサンプリングし、ブロックと
同一の大きさの８×８画素の予測画像を生成する。

【０１０８】即ち、画像メモリ５に記憶された１６×１
６画素の予測画像は、フレーム構造になっており、注目
ブロックの構造と一致している場合と、一致していない
場合とがある。

【０１０９】具体的には、注目ブロックがフレーム構造
である場合には、注目ブロックと、画像メモリ５に記憶
された１６×１６画素の予測画像とは、一致した構造の
ものとなる。

【０１１０】従って、注目ブロックが、図４（Ａ）に示
すように、マクロブロック（注目マクロブロック）の左
上、左下、右上、または右下のブロックである場合、サ
ンプリング部６１は、図４（Ｂ）に示すように、画像メ
モリ５に記憶された１６×１６画素の予測画像のうち、
左上、左下、右上、または右下の８×８画素を、それぞ
れサンプリングし、これにより、注目ブロックの各画素
と空間的に対応する位置にある８×８画素の予測画像を
得て、ＤＣＴ部６２に供給する。

【０１１１】ここで、図４において（後述する図５にお
いても同様）、影を付してあるラインは、奇数ライン
（トップフィールド）を表し、影を付していないライン
は、偶数ライン（ボトムフィールド）を表す。

【０１１２】一方、注目ブロックがフィールド構造であ
る場合は、注目ブロックと、画像メモリ５に記憶された
１６×１６画素の予測画像とは、異なる構造のものとな
る。

【０１１３】即ち、この場合、注目ブロックを含むマク
ロブロック（注目マクロブロック）は、図５（Ａ）に示
すように、上側の８ラインが奇数ライン（トップフィー
ルド）で構成され、下側の８ラインが偶数ライン（ボト
ムフィールド）で構成される。

【０１１４】従って、注目ブロックが、注目マクロブロ
ックの左上のブロックである場合、その注目ブロックの
８×８画素は、図５（Ｂ）に示すように、画像メモリ５
に記憶された１６×１６画素の予測画像のうちの、８つ
の奇数ライン（影を付してあるライン）の左側の８画素
に対応する。また、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックである場合、その注目ブロックの８
×８画素は、図５（Ｂ）に示すように、画像メモリ５に
記憶された１６×１６画素の予測画像のうちの、８つの
偶数ライン（影を付してないライン）の左側の８画素に
対応する。さらに、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックである場合には、その注目ブロック
の８×８画素は、図５（Ｂ）に示すように、画像メモリ
５に記憶された１６×１６画素の予測画像のうちの、８
つの奇数ライン（影を付してあるライン）の右側の８画
素に対応し、また、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックである場合には、その注目ブロック
の８×８画素は、図５（Ｂ）に示すように、画像メモリ
５に記憶された１６×１６画素の予測画像のうちの、８
つの偶数ライン（影を付してないライン）の右側の８画
素に対応する。

【０１１５】そこで、サンプリング部６１は、注目ブロ
ックが、フィールド構造である場合には、画像メモリ５
に記憶された１６×１６画素の予測画像のうち、注目マ
クロブロックにおける注目ブロックの位置に対応する、
上述のような８×８画素をサンプリングし、これによ
り、注目ブロックの各画素と空間的に対応する位置にあ
る８×８画素の予測画像を得て、ＤＣＴ部６２に供給す
る。

【０１１６】ＤＣＴ部６２は、サンプリング部６１から
供給される、注目ブロックの各画素と空間的に対応する
位置にある８×８画素の予測画像を２次元ＤＣＴ変換
し、これにより、８×８の予測ＤＣＴ係数を得て、周波
数領域動き補償加算部２２に供給する。

【０１１７】なお、サンプリング部６１において、注目
ブロックの構造は、分離部１（図２）が出力する注目ブ
ロック（を含む注目マクロブロック）のＤＣＴタイプに
基づいて認識される。

【０１１８】周波数領域動き補償加算部２２は、ＤＣＴ
係数選択部７１、加算部７２、および選択部７３から構
成され、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２（図２）から供
給される注目ブロックの２次元ＤＣＴ係数と、ＤＣＴ変
換部２１から供給される予測ＤＣＴ係数とを、必要に応
じて加算することにより、注目ブロックの元の画像の２
次元ＤＣＴ係数を求める。

【０１１９】即ち、ＤＣＴ係数選択部７１には、ＤＣＴ
係数抽出／逆量子化部２（図２）が出力する注目ブロッ
クの２次元ＤＣＴ係数と、分離部１（図２）が出力する
注目ブロック（を含む注目マクロブロック）のＣＢＰが
供給されるようになっている。

【０１２０】注目ブロックがイントラ符号化されたもの
である場合、その注目ブロックの２次元ＤＣＴ係数は、
注目ブロックの元の画像を２次元ＤＣＴ変換したもので
あるから、ＤＣＴ係数選択部７１は、注目ブロックを、
そのまま出力する。ＤＣＴ係数選択部７１の出力は、加
算部７２と選択部７３に供給される。

【０１２１】注目ブロックがイントラ符号化されたもの
である場合、加算部７２は、特に処理を行わず、また、
選択部７３は、ＤＣＴ係数選択部７１の出力を選択し、
後段のバッファメモリ１２（図２）に供給する。

【０１２２】従って、注目ブロックがイントラ符号化さ
れたものである場合、即ち、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化
部２（図２）が出力する注目ブロックの２次元ＤＣＴ係
数が、注目ブロックの元の画像を２次元ＤＣＴ変換した
ものである場合には、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２
（図２）が出力する注目ブロックが、そのまま、バッフ
ァメモリ１２（図２）に供給される。

【０１２３】一方、ＤＣＴ係数選択部７１は、注目ブロ
ックがノンイントラ符号化されたものである場合、その
注目ブロックのＣＢＰを参照し、残差画像の２次元ＤＣ
Ｔ係数の有無を認識する。即ち、注目ブロックがノンイ
ントラ符号化されたものである場合には、その注目ブロ
ックには、原則として、残差画像の２次元ＤＣＴ係数が
配置されるが、残差画像の２次元ＤＣＴ係数がすべて０
となるときには、ＣＢＰが０とされ、２次元ＤＣＴ係数
は配置されない。そして、この場合、注目ブロックの画
像は、予測画像に一致する。

【０１２４】そこで、ＤＣＴ係数選択部７１は、注目ブ
ロックがノンイントラ符号化されたものであり、そのＣ
ＢＰが０である場合には、残差画像の２次元ＤＣＴ係数
として０を出力する。

【０１２５】また、ＤＣＴ係数選択部７１は、注目ブロ
ックがノンイントラ符号化されたものであり、そのＣＢ
Ｐが１である場合、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２（図
２）が出力する注目ブロックには、残差画像の２次元Ｄ
ＣＴ係数が配置されているから、その２次元ＤＣＴ係数
を出力する。

【０１２６】ＤＣＴ係数選択部７１の出力は、上述した
ように、加算部７２と選択部７３に供給される。

【０１２７】加算部７２は、注目ブロックがノンイント
ラ符号化されたものである場合、ＤＣＴ係数選択部７１
の出力と、ＤＣＴ変換部２１（のＤＣＴ部６２）が出力
する予測画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算し、これによ
り、注目ブロックについて、元の画像の２次元ＤＣＴ係
数を得て、選択部７３に供給する。

【０１２８】選択部７３は、注目ブロックがノンイント
ラ符号化されたものである場合、演算部７２の出力を選
択し、後段のバッファメモリ１２（図２）に供給する。

【０１２９】従って、注目ブロックがノンイントラ符号
化されたものである場合において、注目ブロックのＣＢ
Ｐが０であるときには、注目ブロックの画像が、予測画
像に一致するため、加算部７２において、ＤＣＴ係数選
択部７１が出力する０と、ＤＣＴ部６２が出力する予測
画像のＤＣＴ係数（予測ＤＣＴ係数）とが加算されるこ
とにより、注目ブロックの元の画像の２次元ＤＣＴ係数
が求められる。

【０１３０】また、注目ブロックのＣＢＰが１であると
きには、加算部７２において、ＤＣＴ係数選択部７１が
出力する注目ブロックの残差画像のＤＣＴ係数と、ＤＣ
Ｔ部６２が出力する予測画像のＤＣＴ係数（予測ＤＣＴ
係数）とが加算されることにより、やはり、注目ブロッ
クの元の画像の２次元ＤＣＴ係数が求められる。

【０１３１】そして、選択部７３では、加算部７２にお
いて上述したようにして得られる、注目ブロックの元の
画像の２次元ＤＣＴ係数が選択されて出力される。

【０１３２】なお、前処理部１１（図２）では、周波数
領域において、残差画像と予測画像とを加算して、元の
画像の２次元ＤＣＴ係数を求めるようにしたが、即ち、
残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、予測画像の２次元ＤＣ
Ｔ係数とを加算して、元の画像の２次元ＤＣＴ係数を求
めるようにしたが、これは、後段のクラス分類部１３に
おいて、周波数領域のＤＣＴ係数を用いて処理を行うた
め、前処理部１１とクラス分類部１３の処理を、周波数
領域で行うように統一した方が都合が良いと考えられる
ためである。

【０１３３】従って、元の画像の２次元ＤＣＴ係数は、
残差画像と予測画像とを、時間領域において加算し、そ
の加算結果を、２次元ＤＣＴ変換することによって求め
ても良い。

【０１３４】次に、図６および図７を参照して、図２の
１次元逆ＤＣＴ変換部３１の処理について説明する。

【０１３５】ＭＰＥＧやＪＰＥＧ(Joint Photographic
Experts Group)等のＤＣＴ変換を利用した画像の符号化
方式では、画像データが、水平方向および垂直方向の２
次元のＤＣＴ変換（２次元ＤＣＴ変換）／逆ＤＣＴ変換
（２次元逆ＤＣＴ変換）が行われる。

【０１３６】図３（Ａ）に示すような８×８画素のブロ
ックにおける画素値を、８行×８列の行列Ｘで表すとと
もに、図３（Ｂ）に示すような８×８のブロックにおけ
るＤＣＴ係数を、８行×８列の行列Ｆで表すこととする
と、２次元ＤＣＴ変換／２次元逆ＤＣＴ変換は、次式で
表すことができる。

【０１３７】 ＣＸＣ^T＝Ｆ ・・・（９） Ｃ^TＦＣ＝Ｘ ・・・（１０）

【０１３８】ここで、上付のＴは、転置を表す。また、
Ｃは、８行×８列のＤＣＴ変換行列で、その第ｉ＋１行
第ｊ＋１列のコンポーネントｃ_ijは、次式で表される。

【０１３９】 ｃ_ij＝Ａ_i×ｃｏｓ（（２ｊ＋１）×ｉ×π／１６） ・・・（１１）

【０１４０】但し、式（１１）において、ｉ＝０のとき
は、Ａ_i＝１／（２√２）であり、ｉ≠０のときは、Ａ_i
＝１／２である。また、ｉとｊは、０乃至７の範囲の整
数値である。

【０１４１】式（９）は、画素値Ｘを、２次元ＤＣＴ係
数Ｆに変換する２次元ＤＣＴ変換を表し、式（１０）
は、２次元ＤＣＴ係数Ｆを、画素値Ｘに変換する２次元
逆ＤＣＴ変換を表す。

【０１４２】従って、式（１０）によれば、２次元ＤＣ
Ｔ係数Ｆは、その左側から行列Ｃ^Tをかけるとともに、
その右側から行列Ｃをかけることにより、画素値Ｘに変
換されるが、１次元逆ＤＣＴ変換部３１は、２次元ＤＣ
Ｔ係数Ｆに対して、その左側から行列Ｃ^Tをかけるだけ
か、または、その右側から行列Ｃをかけるだけかするこ
とにより、１次元ＤＣＴ係数を求める。

【０１４３】即ち、１次元逆ＤＣＴ変換部３１は、２次
元ＤＣＴ係数Ｆに対して、その左側から行列Ｃ^Tだけを
かける。この場合、図６（Ｃ）に示すように、２次元Ｄ
ＣＴ係数Ｆにおける垂直方向が空間領域に変換され、水
平方向が周波数領域のままとされる垂直１次元逆ＤＣＴ
変換が行われることとなり、その結果、水平方向の空間
周波数成分を表す水平１次元ＤＣＴ係数ｖＸｈＦを得る
ことができる。

【０１４４】また、１次元逆ＤＣＴ変換部３１は、２次
元ＤＣＴ係数Ｆに対して、その右側から行列Ｃだけをか
ける。この場合、図６（Ｄ）に示すように、２次元ＤＣ
Ｔ係数Ｆにおける水平方向が空間領域に変換され、垂直
方向が周波数領域のままとされる水平１次元逆ＤＣＴ変
換が行われることとなり、その結果、垂直方向の空間周
波数成分を表す垂直１次元ＤＣＴ係数ｈＸｖＦを得るこ
とができる。

【０１４５】なお、横×縦が８×８の２次元ＤＣＴ係数
Ｆを、垂直１次元逆ＤＣＴ変換した場合には、８×１の
水平１次元ＤＣＴ係数が、８セット（８行分）得られる
ことになる（図６（Ｃ））。また、２次元ＤＣＴ係数Ｆ
を、水平１次元逆ＤＣＴ変換した場合には、１×８の垂
直１次元ＤＣＴ係数が、８セット（８列分）得られるこ
とになる（図６（Ｄ））。

【０１４６】そして、ある行における８×１の水平１次
元ＤＣＴ係数については、その左端のＤＣＴ係数が、そ
の行の８画素の画素値の直流成分（ＤＣ成分）（８画素
の画素値の平均値）を表し、他の７つのＤＣＴ係数が、
その行の水平方向の交流成分を表す。また、ある列にお
ける１×８の垂直１次元ＤＣＴ係数については、その最
上行のＤＣＴ係数が、その列の８画素の画素値の直流成
分を表し、他の７つのＤＣＴ係数が、その列の垂直方向
の交流成分を表す。

【０１４７】ここで、式（９）によれば、水平１次元Ｄ
ＣＴ係数は、２次元ＤＣＴ係数Ｆに対応する画素値Ｘに
対して、その右側から行列Ｃ^Tをかける水平１次元ＤＣ
Ｔ変換を行うことによっても求めることができる。ま
た、垂直１次元ＤＣＴ係数は、２次元ＤＣＴ係数Ｆに対
応する画素値Ｘに対して、その左側から行列Ｃをかける
垂直１次元ＤＣＴ変換を行うことによっても求めること
ができる。

【０１４８】図７は、実際の画像と、その画像について
の２次元ＤＣＴ係数、水平１次元ＤＣＴ係数、および垂
直１次元ＤＣＴ係数を示している。

【０１４９】なお、図７は、８×８ブロックの画像と、
その画像についての２次元ＤＣＴ係数、水平１次元ＤＣ
Ｔ係数、および垂直１次元ＤＣＴ係数を示している。ま
た、図７（Ａ）が、実際の画像を、図７（Ｂ）が、２次
元ＤＣＴ係数を、図７（Ｃ）が、水平１次元ＤＣＴ係数
を、図７（Ｄ）が、垂直１次元ＤＣＴ係数を、それぞれ
示している。

【０１５０】ここで、図７（Ａ）の画像は、８ビットの
画素値を有するものであり、そのような画素値から求め
られるＤＣＴ係数は、負の値も取り得る。但し、図７
（Ｂ）乃至図７（Ｄ）の実施の形態では、求められたＤ
ＣＴ係数に対して、１２８（＝２⁷）を加算し、その加
算値が０未満となるものは０にクリップするとともに、
加算値が２５６以上となるものは２５５にクリップする
ことにより、０乃至２５５の範囲のＤＣＴ係数を、図示
してある。

【０１５１】２次元ＤＣＴ係数には、８×８画素のブロ
ック全体の情報が反映されているため、２次元ＤＣＴ係
数からでは、ブロック内の特定の画素の情報等の局所的
な情報を把握するのは困難である。これに対して、水平
１次元ＤＣＴ係数または垂直１次元ＤＣＴ係数には、ブ
ロックのある１行または１列だけの情報が、それぞれ反
映されているため、２次元ＤＣＴ係数に比較して、ブロ
ック内の局所的な情報を容易に把握することができる。

【０１５２】即ち、ブロックのある行の特徴は、その行
の８×１の水平１次元ＤＣＴ係数から把握することがで
き、ある列の特徴は、その列の１×８の垂直１次元ＤＣ
Ｔ係数から把握することができる。さらに、ブロックの
ある画素の特徴は、その画素が位置する行の８×１の水
平１次元ＤＣＴ係数と、その画素が位置する列の１×８
の垂直１次元ＤＣＴ係数とから把握することができる。

【０１５３】また、左右に隣接するブロックどうしの境
界の状態は、ブロック全体の情報が反映された２次元Ｄ
ＣＴ係数よりも、ブロックの境界部分の垂直方向の空間
周波数成分を表す垂直１次元ＤＣＴ係数を用いた方が、
より正確に把握することができる。さらに、上下に隣接
するブロックどうしの境界の状態も、ブロック全体の情
報が反映された２次元ＤＣＴ係数よりも、ブロックの境
界部分の水平方向の空間周波数成分を表す水平１次元Ｄ
ＣＴ係数を用いた方が、より正確に把握することができ
る。

【０１５４】次に、図２の隣接次元ＤＣＴ係数選択／変
換部３２は、上述したように、１次元逆ＤＣＴ変換部３
１から供給される１次元ＤＣＴ係数の中から、注目ブロ
ックに隣接する画素（列）の１次元ＤＣＴ係数（隣接１
次元ＤＣＴ係数）を取得するが、この隣接１次元ＤＣＴ
係数は、注目ブロックと、その注目ブロックと空間的に
隣接するブロック（以下、適宜、隣接ブロックという）
との間のブロック境界の状態を分析するのに用いられる
ものであるため、空間領域において、注目ブロックの境
界と隣接する画素列を１次元ＤＣＴ変換したものである
必要がある。

【０１５５】しかしながら、ＭＰＥＧ２では、マクロブ
ロック単位で、フレーム構造とフィールド構造の選択が
可能であることから、注目ブロックを含む注目マクロブ
ロックの構造や、注目マクロブロックに隣接するマクロ
ブロック（以下、適宜、隣接マクロブロックという）の
構造によっては、注目ブロックに隣接する隣接ブロック
における、注目ブロックに隣接する１次元ＤＣＴ係数
が、空間領域において、注目ブロックの境界と隣接する
画素列を１次元ＤＣＴ変換したものとなっていない場合
がある。

【０１５６】そこで、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換
部３２は、バッファメモリ１２から供給されるＤＣＴタ
イプによって、注目ブロックと隣接ブロックの構造を認
識し、注目ブロックの構造を基準として、空間領域にお
いて、その注目ブロックの境界と隣接する隣接ブロック
の画素列を１次元ＤＣＴ変換した１次元ＤＣＴ係数（隣
接１次元ＤＣＴ係数）を取得するようになっている。

【０１５７】ここで、図８乃至図２３を参照して、注目
ブロックの構造を基準とした場合に、空間領域におい
て、その注目ブロックの境界と隣接する隣接ブロックの
画素列を１次元ＤＣＴ変換したものとなる１次元ＤＣＴ
係数について説明する。

【０１５８】なお、図８乃至図２３では、注目マクロブ
ロックをＭＢ_Nと、注目マクロブロックＭＢ_N上下左右に
隣接するマクロブロックを、それぞれＭＢ_U，ＭＢ_D，Ｍ
Ｂ_L，ＭＢ_Rと表す。

【０１５９】さらに、注目マクロブロックＭＢ_Nの左
上、左下、右上、右下のブロックを、それぞれ、
Ｂ_NUL，Ｂ_NDL，Ｂ_NUR，Ｂ_NDRと表し、上隣接マクロブロ
ック（注目ブロックの上に隣接するマクロブロック）Ｍ
Ｂ_Uの左上、左下、右上、右下のブロックを、それぞ
れ、Ｂ_UUL，Ｂ_UDL，Ｂ_UUR，Ｂ_UDRと表す。また、下隣接
マクロブロック（注目ブロックの下に隣接するマクロブ
ロック）ＭＢ_Dの左上、左下、右上、右下のブロック
を、それぞれ、Ｂ_DUL，Ｂ_DDL，Ｂ_DUR，Ｂ_DDRと表し、左
隣接マクロブロック（注目ブロックの左に隣接するマク
ロブロック）ＭＢ_Lの左上、左下、右上、右下のブロッ
クを、それぞれ、Ｂ_LUL，Ｂ_LDL，Ｂ_LUR，Ｂ_LDRと表す。
さらに、右隣接マクロブロック（注目ブロックの右に隣
接するマクロブロック）ＭＢ_Rの左上、左下、右上、右
下のブロックを、それぞれ、Ｂ_RUL，Ｂ_RDL，Ｂ_{R UR}，Ｂ
_RDRと表す。

【０１６０】図８は、注目マクロブロックＭＢ_Nの左上
のブロックＢ_NULが注目ブロックであるとした場合に、
空間領域において、注目ブロックＢ_NULの上側の境界、
即ち、最上行の８画素に隣接する隣接ブロックの画素列
（以下、適宜、上隣接画素列という）を示している。

【０１６１】なお、図８において、影を付してあるライ
ンが、注目ブロックＢ_NULの最上行の画素列を表し、斜
線を付してあるラインが、上隣接画素列を表している。

【０１６２】注目マクロブロックＭＢ_Nの左上のブロッ
クＢ_NULが注目ブロックである場合の上に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない上隣接マクロブロックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_UDL
となるから、注目ブロックＢ_{NU L}の最上行の画素列の上
に隣接する上隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Uの両方の構造を考慮する必要がある。

【０１６３】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと上隣接
マクロブロックＭＢ_UのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NULは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの左上の８×８画素であり、図８
（Ａ）に示すように、その最上行の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の上隣
接マクロブロックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_UDLの最下行
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NULの最上行の水平１次元ＤＣＴ係
数に対し、空間領域において上側に隣接する画素列の水
平１次元ＤＣＴ係数（以下、適宜、上隣接１次元ＤＣＴ
係数という）は、ブロックＢ_UDLの最下行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１６４】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、上隣接マクロブロックＭＢ
_UのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの左上の８
×８画素であり、図８（Ｂ）に示すように、その最上行
の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の上隣接マクロブロックＭＢ_Uの左
下のブロックＢ_UDLの最下行の８画素（斜線を付してあ
る部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NULの最
上行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する上隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数は、ブロックＢ_UDLの最下行の８画素を水平１次
元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１６５】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_UのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの奇
数ラインの左側の８画素であり、図８（Ｃ）に示すよう
に、その最上行の８画素（影を付してある部分）は、空
間領域において、フレーム構造の上隣接マクロブロック
ＭＢ_Uの左下ブロックＢ_UDLの第７行目（上から７行目）
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NULの最上行の水平１次元ＤＣＴ係
数に対する上隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UDL
の第７行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０１６６】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_UのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
奇数ラインの左側の８画素であり、図８（Ｄ）に示すよ
うに、その最上行の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フィールド構造の上隣接マクロブロ
ックＭＢ_Uの左上のブロックＢ_UULの最下行の８画素（斜
線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブロッ
クＢ_NULの最上行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する上隣
接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UULの最下行の８画
素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数に
なる。

【０１６７】次に、図９は、注目マクロブロックＭＢ_N
の左上のブロックＢ_NULが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NULの下側の
境界、即ち、最下行の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（以下、適宜、下隣接画素列という）を示してい
る。

【０１６８】なお、図９において、影を付してあるライ
ンが、注目ブロックＢ_NULの最下行の画素列を表し、斜
線を付してあるラインが、下隣接画素列を表している。

【０１６９】注目マクロブロックＭＢ_Nの左上のブロッ
クＢ_NULが注目ブロックである場合の下に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の左下のブロッ
クＢ_NDLとなるから、注目ブロックＢ_NULの最下行の画素
列の下に隣接する下隣接画素列がいずれの画素列になる
かは、注目マクロブロックＭＢ_Nの構造のみを考慮すれ
ば良い。

【０１７０】即ち、注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴ
タイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ
_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの左上の８×８画素で
あり、図９（Ａ）に示すように、その最下行の８画素
（影を付してある部分）は、空間領域において、フレー
ム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの左下のブロックＢ
_NDLの最上行の８画素（斜線を付してある部分）と隣接
する。従って、注目ブロックＢ_NULの最下行の水平１次
元ＤＣＴ係数に対し、空間領域において下側に隣接する
画素列の水平１次元ＤＣＴ係数（以下、適宜、下隣接１
次元ＤＣＴ係数という）は、ブロックＢ_NDLの最上行の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０１７１】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴである場合は、注目ブロックＢ
_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの奇数ラインの
左側の８画素であり、図９（Ｂ）に示すように、その最
下行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域にお
いて、フレーム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの下に
隣接する下隣接マクロブロックＭＢ_Dの左上のブロック
Ｂ_DULの最上行の８画素（斜線を付してある部分）と隣
接する。従って、注目ブロックＢ_NULの最下行の水平１
次元ＤＣＴ係数に対する下隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブ
ロックＢ_DULの最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換
した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１７２】次に、図１０は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの左上のブロックＢ_NULが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NULの左側の
境界、即ち、最左列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（以下、適宜、左隣接画素列という）を示してい
る。

【０１７３】なお、図１０において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NULの最左列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、左隣接画素列を表してい
る。

【０１７４】注目マクロブロックＭＢ_Nの左上のブロッ
クＢ_NULが注目ブロックである場合の左に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LUR
となるから、注目ブロックＢ_{NU L}の最左列の画素列の左
に隣接する左隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、左隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Lの両方の構造を考慮する必要がある。

【０１７５】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと左隣接
マクロブロックＭＢ_UのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NULは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの左上の８×８画素であり、図１０
（Ａ）に示すように、その最左列の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の左隣
接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURの最右列
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NULの最左列の垂直１次元ＤＣＴ係
数に対し、空間領域において左側に隣接する画素列の垂
直１次元ＤＣＴ係数（以下、適宜、左隣接１次元ＤＣＴ
係数という）は、ブロックＢ_LURの最右列の８画素を垂
直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１７６】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、左隣接マクロブロックＭＢ
_LのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの左上の８
×８画素であり、図１０（Ｂ）に示すように、その最左
列の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右
上のブロックＢ_LURにおける最右列の上４画素と、その
右下のブロックＢ_LDRにおける最右列の上４画素の合計
８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、
注目ブロックＢ_{NU L}の最左列の垂直１次元ＤＣＴ係数に
対する左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LURにお
ける最右列の上４画素とブロックＢ_LDRにおける最右列
の上４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂
直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１７７】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、左隣接マクロブロックＭ
Ｂ_LのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの奇
数ラインの左側の８画素であり、図１０（Ｃ）に示すよ
うに、その最左列の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の左隣接マクロブロッ
クＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURにおける最右列の奇数行
の４画素と、その右下のブロックＢ_LDRにおける奇数行
の４画素の合計８画素（斜線を付してある部分）と隣接
する。従って、注目ブロックＢ_NULの最左列の垂直１次
元ＤＣＴ係数に対する左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロ
ックＢ_LURにおける最右列の奇数行の４画素とブロック
Ｂ_LDRにおける奇数行の４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１７８】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、左隣接マクロブロックＭ
Ｂ_LのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NULは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
奇数ラインの左側の８画素であり、図１０（Ｄ）に示す
ように、その最左列の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の左隣接マクロ
ブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURの最右列の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NULの最左列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する
左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LURの最右列の
８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０１７９】次に、図１１は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの左上のブロックＢ_NULが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NULの右側の
境界、即ち、最右列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（以下、適宜、右隣接画素列という）を示してい
る。

【０１８０】なお、図１１において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NULの最右列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、右隣接画素列を表してい
る。

【０１８１】注目マクロブロックＭＢ_Nの左上のブロッ
クＢ_NULが注目ブロックである場合の右に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の右上のブロッ
クＢ_NURになるから、注目ブロックＢ_NULの最右列の画素
列の右に隣接する右隣接画素列は、必ず、ブロック_NUR
の最左列の８画素となるので、注目マクロブロックＭＢ
_Nや、その注目マクロブロックＭＢ_Nに隣接するマクロブ
ロックの構造を考慮する必要はない。

【０１８２】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nの左上の
ブロックＢ_NULが注目ブロックである場合には、図１１
に示すように、その最右列の８画素（影を付してある部
分）は、空間領域において、注目ブロックＢ_NULの右隣
のブロックＢ_NURの最左列の８画素（斜線を付してある
部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NULの最右
列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対し、空間領域において右
側に隣接する画素列の垂直１次元ＤＣＴ係数（以下、適
宜、右隣接１次元ＤＣＴ係数という）は、ブロックＢ
_NURの最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直
１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１８３】次に、図１２は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの左下のブロックＢ_NDLが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDLの上側の
境界、即ち、最上行の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（上隣接画素列）を示している。

【０１８４】なお、図１２において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDLの最上行の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、上隣接画素列を表してい
る。

【０１８５】注目マクロブロックＭＢ_Nの左下のブロッ
クＢ_NDLが注目ブロックである場合の上に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の左上のブロッ
クＢ_NULとなるから、注目ブロックＢ_NDLの最上行の画素
列の上に隣接する上隣接画素列がいずれの画素列になる
かは、注目マクロブロックＭＢ_Nの構造のみを考慮すれ
ば良い。

【０１８６】即ち、注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴ
タイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ
_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの左下の８×８画素で
あり、図１２（Ａ）に示すように、その最上行の８画素
（影を付してある部分）は、空間領域において、フレー
ム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの左上ブロックＢ_NUL
の最下行の８画素（斜線を付してある部分）と隣接す
る。従って、注目ブロックＢ_NDLの最上行の水平１次元
ＤＣＴ係数に対する上隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロッ
クＢ_NULの最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した
水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１８７】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴである場合は、注目ブロックＢ
_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの偶数ラインの
左側の８画素であり、図１２（Ｂ）に示すように、その
最上行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域に
おいて、フレーム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの上
に隣接する上隣接マクロブロックＭＢ_Uの左下のブロッ
クＢ_UDLの最下行の８画素（斜線を付してある部分）と
隣接する。従って、注目ブロックＢ_NDLの最上行の水平
１次元ＤＣＴ係数に対する上隣接１次元ＤＣＴ係数は、
ブロックＢ_UDLの最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変
換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１８８】次に、図１３は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの左下のブロックＢ_NDLが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDLの下側の
境界、即ち、最下行の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（下隣接画素列）を示している。

【０１８９】なお、図１３において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDLの最下行の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、下隣接画素列を表してい
る。

【０１９０】注目マクロブロックＭＢ_Nの左下のブロッ
クＢ_NDLが注目ブロックである場合の下に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない下隣接マクロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DUL
となるから、注目ブロックＢ_{ND L}の最下行の画素列の下
に隣接する下隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、下隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Dの両方の構造を考慮する必要がある。

【０１９１】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと下隣接
マクロブロックＭＢ_DのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NDLは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの左下の８×８画素であり、図１３
（Ａ）に示すように、その最下行の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の下隣
接マクロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの最上行
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NDLの最下行の水平１次元ＤＣＴ係
数に対する下隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DUL
の最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０１９２】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、下隣接マクロブロックＭＢ
_DのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの左下の８
×８画素であり、図１３（Ｂ）に示すように、その最下
行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の下隣接マクロブロックＭＢ_Dの左
上のブロックＢ_DULの最上行の８画素（斜線を付してあ
る部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_{ND L}の最
下行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する下隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数は、ブロックＢ_DULの最上行の８画素を水平１次
元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０１９３】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、下隣接マクロブロックＭ
Ｂ_DのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの偶
数ラインの左側の８画素であり、図１３（Ｃ）に示すよ
うに、その最下行の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の下隣接マクロブロッ
クＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの第２行目の８画素（斜
線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブロッ
クＢ_NDLの最下行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する下隣
接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DULの第２行目の８
画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
になる。

【０１９４】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、下隣接マクロブロックＭ
Ｂ_DのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
偶数ラインの左側の８画素であり、図１３（Ｄ）に示す
ように、その最下行の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の下隣接マクロ
ブロックＭＢ_Dの左下のブロックＢ_DDLの最上行の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NDLの最下行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する
下隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DDLの最上行の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０１９５】次に、図１４は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの左下のブロックＢ_NDLが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDLの左側の
境界、即ち、最左列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（左隣接画素列）を示している。

【０１９６】なお、図１４において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDLの最左列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、左隣接画素列を表してい
る。

【０１９７】注目マクロブロックＭＢ_Nの左下のブロッ
クＢ_NDLが注目ブロックである場合の左に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右下のブロックＢ_LDR
となるから、注目ブロックＢ_{ND L}の最左列の画素列の左
に隣接する左隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、左隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Lの両方の構造を考慮する必要がある。

【０１９８】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと左隣接
マクロブロックＭＢ_LのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NDLは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの左下の８×８画素であり、図１４
（Ａ）に示すように、その最左列の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の左隣
接マクロブロックＭＢ_Lの右下のブロックＢ_LDRの最右列
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NDLの最左列の垂直１次元ＤＣＴ係
数に対する左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LDR
の最右列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０１９９】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、左隣接マクロブロックＭＢ
_LのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの左下の８
×８画素であり、図１４（Ｂ）に示すように、その最左
列の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右
上のブロックＢ_LURにおける最右列の下４画素と、その
右下のブロックＢ_LDRにおける最右列の下４画素の合計
８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、
注目ブロックＢ_{ND L}の最左列の垂直１次元ＤＣＴ係数に
対する左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LURにお
ける最右列の下４画素とブロックＢ_LDRにおける最右列
の下４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂
直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２００】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、左隣接マクロブロックＭ
Ｂ_LのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの偶
数ラインの左側の８画素であり、図１４（Ｃ）に示すよ
うに、その最左列の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の左隣接マクロブロッ
クＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURにおける最右列の偶数行
の４画素と、その右下のブロックＢ_LDRにおける偶数行
の４画素の合計８画素（斜線を付してある部分）と隣接
する。従って、注目ブロックＢ_NDLの最左列の垂直１次
元ＤＣＴ係数に対する左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロ
ックＢ_LURにおける最右列の偶数行の４画素とブロック
Ｂ_LDRにおける偶数行の４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２０１】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、左隣接マクロブロックＭ
Ｂ_LのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NDLは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
偶数ラインの左側の８画素であり、図１４（Ｄ）に示す
ように、その最左列の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の左隣接マクロ
ブロックＭＢ_Lの右下のブロックＢ_LDRの最右列の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NDLの最左列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する
左隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LDRの最右列の
８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０２０２】次に、図１５は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの左下のブロックＢ_NDLが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDLの右側の
境界、即ち、最右列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（右隣接画素列）を示している。

【０２０３】なお、図１５において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDLの最右列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、右隣接画素列を表してい
る。

【０２０４】注目マクロブロックＭＢ_Nの左下のブロッ
クＢ_NDLが注目ブロックである場合の右に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の右下のブロッ
クＢ_NDRになるから、注目ブロックＢ_NDLの最右列の画素
列の右に隣接する右隣接画素列は、必ず、ブロック_NDR
の最左列の８画素となるので、注目マクロブロックＭＢ
_Nや、その注目マクロブロックＭＢ_Nに隣接するマクロブ
ロックの構造を考慮する必要はない。

【０２０５】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nの左下の
ブロックＢ_NDLが注目ブロックである場合には、図１５
に示すように、その最右列の８画素（影を付してある部
分）は、空間領域において、注目ブロックＢ_NDLの右隣
のブロックＢ_NDRの最左列の８画素（斜線を付してある
部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NDLの最右
列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する右隣接１次元ＤＣＴ
係数は、ブロックＢ_NDRの最左列の８画素を垂直１次元
ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２０６】図１６は、注目マクロブロックＭＢ_Nの右
上のブロックＢ_NURが注目ブロックであるとした場合
に、空間領域において、注目ブロックＢ_NURの上側の境
界、即ち、最上行の８画素に隣接する隣接ブロックの画
素列（上隣接画素列）を示している。

【０２０７】なお、図１６において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NURの最上行の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、上隣接画素列を表してい
る。

【０２０８】注目マクロブロックＭＢ_Nの右上のブロッ
クＢ_NURが注目ブロックである場合の上に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない上隣接マクロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDR
となるから、注目ブロックＢ_{NU R}の最上行の画素列の上
に隣接する上隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Uの両方の構造を考慮する必要がある。

【０２０９】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと上隣接
マクロブロックＭＢ_UのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NURは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの右上の８×８画素であり、図１６
（Ａ）に示すように、その最上行の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の上隣
接マクロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRの最下行
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NURの最上行の水平１次元ＤＣＴ係
数に対する上隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UDR
の最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０２１０】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、上隣接マクロブロックＭＢ
_UのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの右上の８
×８画素であり、図１６（Ｂ）に示すように、その最上
行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の上隣接マクロブロックＭＢ_Uの右
下ブロックＢ_UDRの最下行の８画素（斜線を付してある
部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NURの最上
行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する上隣接１次元ＤＣＴ
係数は、ブロックＢ_UDRの最下行の８画素を水平１次元
ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２１１】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_UのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの奇
数ラインの右側の８画素であり、図１６（Ｃ）に示すよ
うに、その最上行の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の上隣接マクロブロッ
クＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRの第７行目の８画素（斜
線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブロッ
クＢ_NURの最上行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する上隣
接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UDRの第７行の８画
素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数に
なる。

【０２１２】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_UのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
奇数ラインの右側の８画素であり、図１６（Ｄ）に示す
ように、その最上行の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の上隣接マクロ
ブロックＭＢ_Uの右上のブロックＢ_UURの最下行の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NURの最上行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する
上隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UURの最下行の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０２１３】次に、図１７は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右上のブロックＢ_NURが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NURの下側の
境界、即ち、最下行の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（下隣接画素列）を示している。

【０２１４】なお、図１７において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NURの最下行の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、下隣接画素列を表してい
る。

【０２１５】注目マクロブロックＭＢ_Nの右上のブロッ
クＢ_NURが注目ブロックである場合の下に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の右下のブロッ
クＢ_NDRとなるから、注目ブロックＢ_NURの最下行の画素
列の下に隣接する下隣接画素列がいずれの画素列になる
かは、注目マクロブロックＭＢ_Nの構造のみを考慮すれ
ば良い。

【０２１６】即ち、注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴ
タイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ
_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの右上の８×８画素で
あり、図１７（Ａ）に示すように、その最下行の８画素
（影を付してある部分）は、空間領域において、フレー
ム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロックＢ_N
DRの最上行の８画素（斜線を付してある部分）と隣接す
る。従って、注目ブロックＢ_NURの最下行の水平１次元
ＤＣＴ係数に対する下隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロッ
クＢ_NDRの最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した
水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２１７】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴである場合は、注目ブロックＢ
_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの奇数ラインの
右側の８画素であり、図１７（Ｂ）に示すように、その
最下行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域に
おいて、フレーム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの下
に隣接する下隣接マクロブロックＭＢ_Dの右上のブロッ
クＢ_DURの最上行の８画素（斜線を付してある部分）と
隣接する。従って、注目ブロックＢ_NURの最下行の水平
１次元ＤＣＴ係数に対する下隣接１次元ＤＣＴ係数は、
ブロックＢ_DURの最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変
換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２１８】次に、図１８は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右上のブロックＢ_NURが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NURの左側の
境界、即ち、最左列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（左隣接画素列）を示している。

【０２１９】なお、図１８において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NURの最左列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、左隣接画素列を表してい
る。

【０２２０】注目マクロブロックＭＢ_Nの右上のブロッ
クＢ_NURが注目ブロックである場合の左に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の左上のブロッ
クＢ_NULになるから、注目ブロックＢ_NURの最左列の画素
列の左に隣接する左隣接画素列は、必ず、ブロックＢ
_NULの最右列の８画素となるので、注目マクロブロック
ＭＢ_Nや、その注目マクロブロックＭＢ_Nに隣接するマク
ロブロックの構造を考慮する必要はない。

【０２２１】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nの右上の
ブロックＢ_NURが注目ブロックである場合には、図１８
に示すように、その最左列の８画素（影を付してある部
分）は、空間領域において、注目ブロックＢ_NURの左隣
のブロックＢ_NULの最右列の８画素（斜線を付してある
部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NURの最左
列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する左隣接１次元ＤＣＴ
係数は、ブロックＢ_NULの最右列の８画素を垂直１次元
ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２２２】次に、図１９は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右上のブロックＢ_NURが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NURの右側の
境界、即ち、最右列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（右隣接画素列）を示している。

【０２２３】なお、図１９において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NURの最右列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、右隣接画素列を表してい
る。

【０２２４】注目マクロブロックＭＢ_Nの右上のブロッ
クＢ_NURが注目ブロックである場合の右に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RUL
となるから、注目ブロックＢ_{NU R}の最右列の画素列の右
に隣接する右隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、右隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Rの両方の構造を考慮する必要がある。

【０２２５】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと右隣接
マクロブロックＭＢ_RのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NURは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの右上の８×８画素であり、図１９
（Ａ）に示すように、その最右列の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の右隣
接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULの最左列
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NURの最右列の垂直１次元ＤＣＴ係
数に対する右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RUL
の最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０２２６】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、右隣接マクロブロックＭＢ
_RのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの右上の８
×８画素であり、図１９（Ｂ）に示すように、その最左
列の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の右隣接マクロブロックＭＢ_Lの左
上のブロックＢ_RULにおける最左列の上４画素と、その
左下のブロックＢ_RDLにおける最左列の上４画素の合計
８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、
注目ブロックＢ_{NU R}の最右列の垂直１次元ＤＣＴ係数に
対する右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RULにお
ける最左列の上４画素とブロックＢ_RDLにおける最左列
の上４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂
直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２２７】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、右隣接マクロブロックＭ
Ｂ_RのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの奇
数ラインの右側の８画素であり、図１９（Ｃ）に示すよ
うに、その最右列の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の右隣接マクロブロッ
クＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULにおける最左列の奇数行
の４画素と、その左下のブロックＢ_RDLにおける奇数行
の４画素の合計８画素（斜線を付してある部分）と隣接
する。従って、注目ブロックＢ_NURの最右列の垂直１次
元ＤＣＴ係数に対する右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロ
ックＢ_RULにおける最右列の奇数行の４画素とブロック
Ｂ_RDLにおける奇数行の４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２２８】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、右隣接マクロブロックＭ
Ｂ_RのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NURは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
奇数ラインの右側の８画素であり、図１９（Ｄ）に示す
ように、その最右列の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の右隣接マクロ
ブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULの最左列の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NURの最右列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する
右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RULの最左列の
８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０２２９】次に、図２０は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右下のブロックＢ_NDRが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDRの上側の
境界、即ち、最上行の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（上隣接画素列）を示している。

【０２３０】なお、図２０において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDRの最上行の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、上隣接画素列を表してい
る。

【０２３１】注目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロッ
クＢ_NDRが注目ブロックである場合の上に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の右上のブロッ
クＢ_NURとなるから、注目ブロックＢ_NDRの最上行の画素
列の上に隣接する上隣接画素列がいずれの画素列になる
かは、注目マクロブロックＭＢ_Nの構造のみを考慮すれ
ば良い。

【０２３２】即ち、注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴ
タイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ
_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの右下の８×８画素で
あり、図２０（Ａ）に示すように、その最上行の８画素
（影を付してある部分）は、空間領域において、フレー
ム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロックＢ_N
DRの最上行の８画素（斜線を付してある部分）と隣接す
る。従って、注目ブロックＢ_NDRの最上行の水平１次元
ＤＣＴ係数に対する上隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロッ
クＢ_NDRの最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した
水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２３３】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴである場合は、注目ブロックＢ
_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの偶数ラインの
右側の８画素であり、図２０（Ｂ）に示すように、その
最上行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域に
おいて、フレーム構造の注目マクロブロックＭＢ_Nの上
に隣接する上隣接マクロブロックＭＢ_Uの右下のブロッ
クＢ_UDRの最下行の８画素（斜線を付してある部分）と
隣接する。従って、注目ブロックＢ_NDRの最上行の水平
１次元ＤＣＴ係数に対する上隣接１次元ＤＣＴ係数は、
ブロックＢ_UDRの最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変
換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２３４】次に、図２１は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右下のブロックＢ_NDRが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDRの下側の
境界、即ち、最下行の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（下隣接画素列）を示している。

【０２３５】なお、図２１において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDRの最下行の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、下隣接画素列を表してい
る。

【０２３６】注目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロッ
クＢ_NDRが注目ブロックである場合の下に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない下隣接マクロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DUR
となるから、注目ブロックＢ_{ND R}の最下行の画素列の下
に隣接する下隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、下隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Dの両方の構造を考慮する必要がある。

【０２３７】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと下隣接
マクロブロックＭＢ_DのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NDRは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの右下の８×８画素であり、図２１
（Ａ）に示すように、その最下行の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の下隣
接マクロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURの最上行
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NDRの最下行の水平１次元ＤＣＴ係
数に対する下隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DUR
の最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０２３８】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、下隣接マクロブロックＭＢ
_DのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの右下の８
×８画素であり、図２１（Ｂ）に示すように、その最下
行の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の下隣接マクロブロックＭＢ_Dの右
上のブロックＢ_DURの最上行の８画素（斜線を付してあ
る部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_{ND R}の最
下行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する下隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数は、ブロックＢ_DURの最上行の８画素を水平１次
元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２３９】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、下隣接マクロブロックＭ
Ｂ_DのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの偶
数ラインの右側の８画素であり、図２１（Ｃ）に示すよ
うに、その最下行の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の下隣接マクロブロッ
クＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURの第２行目の８画素（斜
線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブロッ
クＢ_NDRの最下行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する下隣
接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DURの第２行目の８
画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
になる。

【０２４０】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、下隣接マクロブロックＭ
Ｂ_DのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
偶数ラインの右側の８画素であり、図２１（Ｄ）に示す
ように、その最下行の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の下隣接マクロ
ブロックＭＢ_Dの右下のブロックＢ_DDRの最上行の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NDRの最下行の水平１次元ＤＣＴ係数に対する
下隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DDRの最上行の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０２４１】次に、図２２は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右下のブロックＢ_NDRが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDRの左側の
境界、即ち、最左列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（左隣接画素列）を示している。

【０２４２】なお、図２２において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDRの最左列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、左隣接画素列を表してい
る。

【０２４３】注目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロッ
クＢ_NDRが注目ブロックである場合の左に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中の左下のブロッ
クＢ_NDLになるから、注目ブロックＢ_NDRの最左列の画素
列の左に隣接する左隣接画素列は、必ず、ブロック_NDL
の最右列の８画素となるので、注目マクロブロックＭＢ
_Nや、その注目マクロブロックＭＢ_Nに隣接するマクロブ
ロックの構造を考慮する必要はない。

【０２４４】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nの右下の
ブロックＢ_NDRが注目ブロックである場合には、図２２
に示すように、その最左列の８画素（影を付してある部
分）は、空間領域において、注目ブロックＢ_NDRの左隣
のブロックＢ_NDLの最右列の８画素（斜線を付してある
部分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NDRの最左
列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する左隣接１次元ＤＣＴ
係数は、ブロックＢ_NDLの最右列の８画素を垂直１次元
ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２４５】次に、図２３は、注目マクロブロックＭＢ
_Nの右下のブロックＢ_NDRが注目ブロックであるとした場
合に、空間領域において、注目ブロックＢ_NDRの右側の
境界、即ち、最右列の８画素に隣接する隣接ブロックの
画素列（右隣接画素列）を示している。

【０２４６】なお、図２３において、影を付してあるラ
インが、注目ブロックＢ_NDRの最右列の画素列を表し、
斜線を付してあるラインが、右隣接画素列を表してい
る。

【０２４７】注目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロッ
クＢ_NDRが注目ブロックである場合の右に隣接するブロ
ックは、注目マクロブロックＭＢ_Nの中のブロックでは
ない右隣接マクロブロックＭＢ_Rの右下のブロックＢ_RDL
となるから、注目ブロックＢ_{ND R}の最右列の画素列の右
に隣接する右隣接画素列がいずれの画素列になるかは、
注目マクロブロックＭＢ_Nと、右隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Rの両方の構造を考慮する必要がある。

【０２４８】即ち、注目マクロブロックＭＢ_Nと右隣接
マクロブロックＭＢ_RのＤＣＴタイプが、いずれもフレ
ームＤＣＴの場合は、注目ブロックＢ_NDRは、注目マク
ロブロックＭＢ_Nの右下の８×８画素であり、図２３
（Ａ）に示すように、その最右列の８画素（影を付して
ある部分）は、空間領域において、フレーム構造の右隣
接マクロブロックＭＢ_Rの左下のブロックＢ_RDLの最左列
の８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従っ
て、注目ブロックＢ_NDRの最右列の垂直１次元ＤＣＴ係
数に対する右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RDL
の最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次
元ＤＣＴ係数になる。

【０２４９】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フレームＤＣＴであり、右隣接マクロブロックＭＢ
_RのＤＣＴタイプが、フィールドＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの右下の８
×８画素であり、図２３（Ｂ）に示すように、その最右
列の８画素（影を付してある部分）は、空間領域におい
て、フィールド構造の右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左
上のブロックＢ_RULにおける最左列の下４画素と、その
左下のブロックＢ_RDLにおける最左列の下４画素の合計
８画素（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、
注目ブロックＢ_{ND R}の最右列の垂直１次元ＤＣＴ係数に
対する右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RULにお
ける最左列の下４画素とブロックＢ_RDLにおける最左列
の下４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂
直１次元ＤＣＴ係数になる。

【０２５０】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、右隣接マクロブロックＭ
Ｂ_RのＤＣＴタイプが、フレームＤＣＴの場合は、注目
ブロックＢ_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの偶
数ラインの左側の８画素であり、図２３（Ｃ）に示すよ
うに、その最右列の８画素（影を付してある部分）は、
空間領域において、フレーム構造の右隣接マクロブロッ
クＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULにおける最左列の偶数行
の４画素と、その左下のブロックＢ_RDLにおける最左列
の偶数行の４画素の合計８画素（斜線を付してある部
分）と隣接する。従って、注目ブロックＢ_NDRの最左列
の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する右隣接１次元ＤＣＴ係
数は、ブロックＢ_RULにおける最左列の偶数行の４画素
とブロックＢ_RDLにおける偶数行の４画素の合計８画素
を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数にな
る。

【０２５１】注目マクロブロックＭＢ_NのＤＣＴタイプ
が、フィールドＤＣＴであり、右隣接マクロブロックＭ
ＢＲのＤＣＴタイプも、フィールドＤＣＴの場合は、注
目ブロックＢ_NDRは、注目マクロブロックＭＢ_Nの８つの
偶数ラインの右側の８画素であり、図２３（Ｄ）に示す
ように、その最右列の８画素（影を付してある部分）
は、空間領域において、フィールド構造の右隣接マクロ
ブロックＭＢ_Rの左下のブロックＢ_RDLの最左列の８画素
（斜線を付してある部分）と隣接する。従って、注目ブ
ロックＢ_NDRの最右列の垂直１次元ＤＣＴ係数に対する
右隣接１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RDLの最左列の
８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係
数になる。

【０２５２】次に、図２４は、図８乃至図２３で説明し
たような、注目ブロックに対する隣接１次元ＤＣＴ係数
（上隣接１次元ＤＣＴ係数、下隣接１次元ＤＣＴ係数、
左隣接１次元ＤＣＴ係数、および右隣接１次元ＤＣＴ係
数）を取得する、図２の隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変
換部３２の構成例を示している。

【０２５３】隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２に
おいて、１次元逆ＤＣＴ変換部３１（図２）が出力する
１次元ＤＣＴ係数（水平１次元ＤＣＴ係数および垂直１
次元ＤＣＴ係数）は、メモリ８１に供給されるようにな
っており、バッファメモリ１２に記憶された注目マクロ
ブロックと隣接マクロブロック（上隣接マクロブロッ
ク、下隣接マクロブロック、左隣接マクロブロック、お
よび右隣接マクロブロック）のＤＣＴタイプは、サンプ
リング部８３および選択部８５に供給されるようになっ
ている。

【０２５４】制御部８０は、隣接１次元ＤＣＴ係数選択
／変換部３２を構成する各ブロックを制御する。

【０２５５】メモリ８１は、１次元逆ＤＣＴ変換部３１
（図２）が出力する１次元ＤＣＴ係数を、一時記憶す
る。

【０２５６】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、メモリ
８１に記憶された垂直１次元ＤＣＴ係数を読み出して、
垂直１次元逆ＤＣＴ変換し、これにより、横×縦が１×
８の画素列を得て出力する。垂直１次元逆ＤＣＴ変換部
８２が出力する１×８の画素列は、サンプリング部８３
に供給される。

【０２５７】サンプリング部８３は、バッファメモリ１
２（図２）に記憶された注目マクロブロックと隣接マク
ロブロックのＤＣＴタイプに基づき、垂直１次元逆ＤＣ
Ｔ変換部８３から供給される画素列を対象としたサンプ
リングを行い、そのサンプリングの結果得られる画素か
ら、１×８の画素列を再構成して、垂直１次元ＤＣＴ変
換部８４に供給する。

【０２５８】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３から供給される１×８の画素列を、垂直１次
元ＤＣＴ変換し、これにより、横×縦が１×８の垂直１
次元ＤＣＴ係数を得て、選択部８５に供給する。

【０２５９】選択部８５は、メモリ８１に記憶された水
平１次元ＤＣＴ係数もしくは垂直１次元ＤＣＴ係数、ま
たは垂直１次元ＤＣＴ変換部８４が出力する垂直１次元
ＤＣＴ係数を選択し、隣接１次元ＤＣＴ係数として出力
する。

【０２６０】次に、図２５のフローチャートを参照し
て、図２４の隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２の
処理（隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換処理）について
説明する。

【０２６１】メモリ８１には、注目マクロブロック、上
隣接マクロブロック、下隣接マクロブロック、左隣接マ
クロブロック、および右隣接マクロブロックの１次元Ｄ
ＣＴ係数が供給されて記憶される。また、サンプリング
部８３および選択部８５には、注目マクロブロック、上
隣接マクロブロック、下隣接マクロブロック、左隣接マ
クロブロック、および右隣接マクロブロックのＤＣＴタ
イプが供給される。

【０２６２】そして、ステップＳ１において、制御部８
０は、注目マクロブロックにおける注目ブロックの位置
を判定する。ステップＳ１において、注目ブロックが、
注目ブロックの左上、左下、右上、または右下のブロッ
クであると判定された場合、ステップＳ２，Ｓ３，Ｓ
４、またはＳ５にそれぞれ進み、左上ブロック処理、左
下ブロック処理、右上ブロック処理、または右下ブロッ
ク処理がそれぞれ行われ、処理を終了する。

【０２６３】なお、図２５のフローチャートに示した処
理は、例えば、注目ブロックが変更されるごとに行われ
る。

【０２６４】次に、図２６のフローチャートを参照し
て、図２５のステップＳ２における左上ブロック処理に
ついて説明する。

【０２６５】左上ブロック処理では、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULについて、上隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数、下隣接１次元ＤＣＴ係数、左隣接１次元ＤＣＴ
係数、右隣接１次元ＤＣＴ係数が取得される。

【０２６６】即ち、左上ブロック処理では、まず最初
に、ステップＳ１１において、選択部８５が、注目マク
ロブロックと上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプを判
定する。

【０２６７】ステップＳ１１において、注目マクロブロ
ックと上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
１２に進み、選択部８５は、図８（Ａ）で説明したよう
に、上隣接マクロブロックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_UDL
における最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水
平１次元ＤＣＴ係数を、上隣接１次元ＤＣＴ係数として
取得する。

【０２６８】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックと上隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、上隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図８（Ａ）で説明したように、上隣接マクロブロックＭ
Ｂ_Uの左下のブロックＢ_UDLにおける最下行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であり、
この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UDLの第８行
の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_UDLの第８
行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ１２において、メモリ
８１から、ブロックＢ_UDLの第８行の水平１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、上隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０２６９】また、ステップＳ１１において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、上
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ１３に進み、選択
部８５は、図８（Ｂ）で説明したように、上隣接マクロ
ブロックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_UDLの最下行の８画素
を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、
上隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０２７０】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、上隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図８（Ｂ）で説明したように、上隣接マク
ロブロックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_UDLにおける最下行
の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ
係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_UDLの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_UDLの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ１３にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_UDLの第８行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０２７１】また、ステップＳ１１において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ１４に進み、選択
部８５は、図８（Ｃ）で説明したように、上隣接マクロ
ブロックＭＢ_Uの左下ブロックＢ_UDLの第７行目の８画素
を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、
上隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０２７２】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、上隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図８（Ｃ）で説明したように、上隣接マク
ロブロックＭＢ_Uの左下ブロックＢ_UDLの第７行目の８画
素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数で
あり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UDLの
第７行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_UDL
の第７行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶
されており、選択部８５は、ステップＳ１４において、
メモリ８１から、ブロックＢ_UDLの第７行の水平１次元
ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元ＤＣＴ係
数として出力する。

【０２７３】また、ステップＳ１１において、注目マク
ロブロックと上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ１５に進み、選択部８５は、図８（Ｄ）で説明
したように、上隣接マクロブロックＭＢ_Uの左上のブロ
ックＢ_UULの最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換し
た水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣接１次元ＤＣＴ係数と
して取得する。

【０２７４】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックと上隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、上隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図８（Ｄ）で説明したように、上隣接マクロブロッ
クＭＢ_Uの左上のブロックＢ_UULの最下行の８画素を水平
１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であり、こ
の水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UULの第８行の
水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_UULの第８行
の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ１５において、メモリ８
１から、ブロックＢ_UULの第８行の水平１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、上隣接１次元ＤＣＴ係数として
出力する。

【０２７５】ステップＳ１２乃至Ｓ１５の処理後は、い
ずれも、ステップＳ１６に進み、選択部８５が、注目マ
クロブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０２７６】ステップＳ１６において、注目マクロブロ
ックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであると判定され
た場合、ステップＳ１７に進み、選択部８５は、図９
（Ａ）で説明したように、注目マクロブロックＭＢ_Nの
左下のブロックＢ_NDLの最上行の８画素を水平１次元Ｄ
ＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として取得する。

【０２７７】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であるときには、下隣接１
次元ＤＣＴ係数は、図９（Ａ）で説明したように、注目
マクロブロックＭＢ_Nの左下のブロックＢ_NDLの最上行の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_NDLの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_NDLの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ１７にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_NDLの第１行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０２７８】また、ステップＳ１６において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであると
判定された場合、ステップＳ１８に進み、選択部８５
は、図９（Ｂ）で説明したように、下隣接マクロブロッ
クＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの最上行の８画素を水平
１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接
１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０２７９】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であるときには、下隣接
１次元ＤＣＴ係数は、図９（Ｂ）で説明したように、下
隣接マクロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの最上
行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣ
Ｔ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロック
Ｂ_DULの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロッ
クＢ_DULの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８
１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ１８に
おいて、メモリ８１から、ブロックＢ_DULの第１行の水
平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元
ＤＣＴ係数として出力する。

【０２８０】ステップＳ１７およびＳ１８の処理後は、
いずれも、ステップＳ１９に進み、サンプリング部８３
および選択部８５が、注目マクロブロックと左隣接マク
ロブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０２８１】ステップＳ１９において、注目マクロブロ
ックと左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
２０に進み、選択部８５は、図１０（Ａ）で説明したよ
うに、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ
_LURの最右列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直
１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１次元ＤＣＴ係数として取
得する。

【０２８２】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックと左隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、左隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図１０（Ａ）で説明したように、左隣接マクロブロック
ＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURの最右列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、この
垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LURの第８列（左
から８列目）の垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ２０にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_LURの第８列の垂直
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、左隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０２８３】また、ステップＳ１９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、左
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ２１乃至Ｓ２３に
順次進み、選択部８５は、図１０（Ｂ）で説明したよう
に、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_{L UR}
における最右列の上４画素と、その右下のブロックＢ
_LDRにおける最右列の上４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１次
元ＤＣＴ係数として取得する。

【０２８４】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、左隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、左隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１０（Ｂ）で説明したように、左隣接マ
クロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURにおける最右
列の上４画素と、その右下のブロックＢ_LDRにおける最
右列の上４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換し
た垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、このような垂直１次
元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０２８５】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０２８６】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ２１におい
て、ブロックＢ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_LURの第８列の８画素と、ブロックＢ_LDR
の第８列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ２２に進む。

【０２８７】ステップＳ２２では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_LURの第８列の８画素のうちの上４画素をサンプ
リングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ変換部
８２から供給されるブロックＢ_LDRの第８列の８画素の
うちの上４画素をサンプリングし、ブロックＢ_LURの第
８列からサンプリングした上４画素を奇数行（トップフ
ィールド）に配置するとともに、ブロックＢ_LDRの第８
列からサンプリングした上４画素を偶数行（ボトムフィ
ールド）に配置することにより、注目マクロブロックと
同一のフレーム構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、垂
直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０２８８】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ２３において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、左隣接マクロブロックＭＢ_L
の右上のブロックＢ_LURにおける最右列の上４画素と、
その右下のブロックＢ_LDRにおける最右列の上４画素の
合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣ
Ｔ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５は、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１次元
ＤＣＴ係数を選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数として出
力する。

【０２８９】また、ステップＳ１９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ２４乃至Ｓ２６に
順次進み、選択部８５は、図１０（Ｃ）で説明したよう
に、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_{L UR}
における最右列の奇数行の４画素と、その右下のブロッ
クＢ_LDRにおける奇数行の４画素の合計８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０２９０】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、左隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、左隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１０（Ｃ）で説明したように、左隣接マ
クロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURにおける最右
列の奇数行の４画素と、その右下のブロックＢ_LDRにお
ける奇数行の４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変
換した垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、そのような垂直
１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０２９１】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０２９２】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ２４におい
て、ブロックＢ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_LURの第８列の８画素と、ブロックＢ_LDR
の第８列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ２５に進む。

【０２９３】ステップＳ２５では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_LURの第８列の８画素のうちの奇数行の４画素を
サンプリングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ
変換部８２から供給されるブロックＢ_LDRの第８列の８
画素のうちの奇数行の４画素をサンプリングし、ブロッ
クＢ_LURの第８列からサンプリングした奇数行の４画素
を上側に配置するとともに、ブロックＢ_LDRの第８列か
らサンプリングした奇数行の４画素を下側に配置するこ
とにより、注目マクロブロックと同一のフィールド（ト
ップフィールド）構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０２９４】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ２６において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、左隣接マクロブロックＭＢ_L
の右上のブロックＢ_LURにおける最右列の奇数行の４画
素と、その右下のブロックＢ_LDRにおける奇数行の４画
素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元
ＤＣＴ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５
は、垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１
次元ＤＣＴ係数を選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０２９５】また、ステップＳ１９において、注目マク
ロブロックと左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ２７に進み、選択部８５は、図１０（Ｄ）で説
明したように、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブ
ロックＢ_LURの最右列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換
した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０２９６】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合において、注目マ
クロブロックと左隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、左隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図１０（Ｄ）で説明したように、左隣接マクロブロ
ックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURの最右列の８画素を垂
直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、
この垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LURの第８列
の垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_LURの第８
列の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ２７において、メモリ
８１から、ブロックＢ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０２９７】ステップＳ２０，Ｓ２３，Ｓ２６、および
Ｓ２７の処理後は、いずれも、ステップＳ２８に進み、
選択部８５は、図１１で説明したように、注目ブロック
Ｂ_{NU L}の右隣のブロックＢ_NURの最左列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０２９８】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左上のブロックＢ_NULである場合には、右隣接１次
元ＤＣＴ係数は、図１１で説明したように、注目ブロッ
クＢ _NULの右隣のブロックＢ_NURの最左列の８画素を垂直
１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、こ
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_NURの第１列の
垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_NURの第１列
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ２８において、メモリ８
１から、ブロックＢ_NURの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数として
出力して、左上ブロック処理を終了する。

【０２９９】次に、図２７のフローチャートを参照し
て、図２５のステップＳ３における左下ブロック処理に
ついて説明する。

【０３００】左下ブロック処理では、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLについて、上隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数、下隣接１次元ＤＣＴ係数、左隣接１次元ＤＣＴ
係数、右隣接１次元ＤＣＴ係数が取得される。

【０３０１】即ち、左下ブロック処理では、まず最初
に、ステップＳ３１において、選択部８５が、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０３０２】ステップＳ３１において、注目マクロブロ
ックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであると判定され
た場合、ステップＳ３２に進み、選択部８５は、図１２
（Ａ）で説明したように、注目マクロブロックＭＢ_Nの
左上のブロックＢ_NULの最下行の８画素を水平１次元Ｄ
ＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として取得する。

【０３０３】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であるときには、上隣接１
次元ＤＣＴ係数は、図１２（Ａ）で説明したように、注
目マクロブロックＭＢ_Nの左上のブロックＢ_NULの最下行
の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ
係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_NULの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_NULの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ３２にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_NULの第８行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０３０４】また、ステップＳ３１において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであると
判定された場合、ステップＳ３３に進み、選択部８５
は、図１２（Ｂ）で説明したように、上隣接マクロブロ
ックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_{U DL}の最下行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣
接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３０５】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であるときには、上隣接
１次元ＤＣＴ係数は、図１２（Ｂ）で説明したように、
上隣接マクロブロックＭＢ_Uの左下のブロックＢ_UDLの最
下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元Ｄ
ＣＴ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロッ
クＢ_UDLの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロ
ックＢ_UDLの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ
８１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ３３
において、メモリ８１から、ブロックＢ_UDLの第１行の
水平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次
元ＤＣＴ係数として出力する。

【０３０６】ステップＳ３２およびＳ３３の処理後は、
いずれも、ステップＳ３４に進み、選択部８５が、注目
マクロブロックと下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプ
を判定する。

【０３０７】ステップＳ３４において、注目マクロブロ
ックと下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
３５に進み、選択部８５は、図１３（Ａ）で説明したよ
うに、下隣接マクロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ
_DULにおける最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換し
た水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接１次元ＤＣＴ係数と
して取得する。

【０３０８】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックと下隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、下隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図１３（Ａ）で説明したように、下隣接マクロブロック
ＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULにおける最上行の８画素を
水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であ
り、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DULの第
１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_{D UL}の
第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶さ
れており、選択部８５は、ステップＳ３５において、メ
モリ８１から、ブロックＢ_DULの第１行の水平１次元Ｄ
ＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元ＤＣＴ係数
として出力する。

【０３０９】また、ステップＳ３４において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、下
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ３６に進み、選択
部８５は、図１３（Ｂ）で説明したように、下隣接マク
ロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの最上行の８画
素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
を、下隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３１０】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、下隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１３（Ｂ）で説明したように、下隣接マ
クロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULにおける最下
行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣ
Ｔ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロック
Ｂ_DULの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロッ
クＢ_DULの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８
１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ３６に
おいて、メモリ８１から、ブロックＢ_{DU L}の第１行の水
平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元
ＤＣＴ係数として出力する。

【０３１１】また、ステップＳ３４において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ３７に進み、選択
部８５は、図１３（Ｃ）で説明したように、下隣接マク
ロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの第２行目の８
画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
を、下隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３１２】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、下隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１３（Ｃ）で説明したように、下隣接マ
クロブロックＭＢ_Dの左上のブロックＢ_DULの第２行目の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_DULの第２行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_DULの第２行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ３７にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_DULの第２行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０３１３】また、ステップＳ３４において、注目マク
ロブロックと下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ３８に進み、選択部８５は、図１３（Ｄ）で説
明したように、下隣接マクロブロックＭＢ_Dの左下のブ
ロックＢ_DDLの最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換
した水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０３１４】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックと下隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、下隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図１３（Ｄ）で説明したように、下隣接マクロブロ
ックＭＢ_Dの左下のブロックＢ_DDLの最上行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であり、
この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DDLの第１行
の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_DDLの第１
行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ３８において、メモリ
８１から、ブロックＢ_DDLの第１行の水平１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、下隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３１５】ステップＳ３５乃至Ｓ３８の処理後は、い
ずれも、ステップＳ３９に進み、サンプリング部８３お
よび選択部８５が、注目マクロブロックと左隣接マクロ
ブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０３１６】ステップＳ３９において、注目マクロブロ
ックと左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
４０に進み、選択部８５は、図１４（Ａ）で説明したよ
うに、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右下のブロックＢ
_LDRの最右列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直
１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１次元ＤＣＴ係数として取
得する。

【０３１７】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックと左隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、左隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図１４（Ａ）で説明したように、左隣接マクロブロック
ＭＢ_Lの右下のブロックＢ_LDRの最右列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、この
垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LDRの第８列の垂
直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_LDRの第８列の
垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ４０において、メモリ８
１から、ブロックＢ_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数として
出力する。

【０３１８】また、ステップＳ３９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、左
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ４１乃至Ｓ４３に
順次進み、選択部８５は、図１４（Ｂ）で説明したよう
に、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_{L UR}
における最右列の下４画素と、その右下のブロックＢ
_LDRにおける最右列の下４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１次
元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３１９】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、左隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、左隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１４（Ｂ）で説明したように、左隣接マ
クロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURにおける最右
列の上４画素と、その右下のブロックＢ_LDRにおける最
右列の上４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換し
た垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、このような垂直１次
元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０３２０】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０３２１】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ４１におい
て、ブロックＢ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_LURの第８列の８画素と、ブロックＢ_LDR
の第８列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ４２に進む。

【０３２２】ステップＳ４２では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_LURの第８列の８画素のうちの下４画素をサンプ
リングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ変換部
８２から供給されるブロックＢ_LDRの第８列の８画素の
うちの下４画素をサンプリングし、ブロックＢ_LURの第
８列からサンプリングした上４画素を奇数行（トップフ
ィールド）に配置するとともに、ブロックＢ_LDRの第８
列からサンプリングした上４画素を偶数行（ボトムフィ
ールド）に配置することにより、注目マクロブロックと
同一のフレーム構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、垂
直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０３２３】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ４３において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、左隣接マクロブロックＭＢ_L
の右上のブロックＢ_LURにおける最右列の上４画素と、
その右下のブロックＢ_LDRにおける最右列の上４画素の
合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣ
Ｔ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５は、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１次元
ＤＣＴ係数を選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数として出
力する。

【０３２４】また、ステップＳ３９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ４４乃至Ｓ４６に
順次進み、選択部８５は、図１４（Ｃ）で説明したよう
に、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_{L UR}
における最右列の偶数行の４画素と、その右下のブロッ
クＢ_LDRにおける偶数行の４画素の合計８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３２５】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、左隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、左隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１４（Ｃ）で説明したように、左隣接マ
クロブロックＭＢ_Lの右上のブロックＢ_LURにおける最右
列の偶数行の４画素と、その右下のブロックＢ_LDRにお
ける偶数行の４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変
換した垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、そのような垂直
１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０３２６】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０３２７】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ４４におい
て、ブロックＢ_LURの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_LURの第８列の８画素と、ブロックＢ_LDR
の第８列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ４５に進む。

【０３２８】ステップＳ４５では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_LURの第８列の８画素のうちの偶数行の４画素を
サンプリングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ
変換部８２から供給されるブロックＢ_LDRの第８列の８
画素のうちの偶数行の４画素をサンプリングし、ブロッ
クＢ_LURの第８列からサンプリングした偶数行の４画素
を上側に配置するとともに、ブロックＢ_LDRの第８列か
らサンプリングした偶数行の４画素を下側に配置するこ
とにより、注目マクロブロックと同一のフィールド（ボ
トムフィールド）構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０３２９】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ４６において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、左隣接マクロブロックＭＢ_L
の右上のブロックＢ_LURにおける最右列の偶数行の４画
素と、その右下のブロックＢ_LDRにおける偶数行の４画
素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元
ＤＣＴ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５
は、垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１
次元ＤＣＴ係数を選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３３０】また、ステップＳ３９において、注目マク
ロブロックと左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ４７に進み、選択部８５は、図１４（Ｄ）で説
明したように、左隣接マクロブロックＭＢ_Lの右下のブ
ロックＢ_LDRの最右列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換
した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０３３１】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合において、注目マ
クロブロックと左隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、左隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図１４（Ｄ）で説明したように、左隣接マクロブロ
ックＭＢ_Lの右下のブロックＢ_LDRの最右列の８画素を垂
直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、
この垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_LDRの第８列
の垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_LDRの第８
列の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ４７において、メモリ
８１から、ブロックＢ_LDRの第８列の垂直１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、左隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３３２】ステップＳ４０，Ｓ４３，Ｓ４６、および
Ｓ４７の処理後は、いずれも、ステップＳ４８に進み、
選択部８５は、図１５で説明したように、注目ブロック
Ｂ_{ND L}の右隣のブロックＢ_NDRの最左列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３３３】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの左下のブロックＢ_NDLである場合には、右隣接１次
元ＤＣＴ係数は、図１５で説明したように、注目ブロッ
クＢ _NDLの右隣のブロックＢ_NDRの最左列の８画素を垂直
１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、こ
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_NDRの第１列の
垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_NDRの第１列
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ４８において、メモリ８
１から、ブロックＢ_NDRの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、右隣接垂直１次元ＤＣＴ係数と
して出力して、左下ブロック処理を終了する。

【０３３４】次に、図２８のフローチャートを参照し
て、図２５のステップＳ４における右上ブロック処理に
ついて説明する。

【０３３５】右上ブロック処理では、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURについて、上隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数、下隣接１次元ＤＣＴ係数、左隣接１次元ＤＣＴ
係数、右隣接１次元ＤＣＴ係数が取得される。

【０３３６】即ち、右上ブロック処理では、まず最初
に、ステップＳ５１において、選択部８５が、注目マク
ロブロックと上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプを判
定する。

【０３３７】ステップＳ５１において、注目マクロブロ
ックと上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
５２に進み、選択部８５は、図１６（Ａ）で説明したよ
うに、上隣接マクロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ
_UDRにおける最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換し
た水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣接１次元ＤＣＴ係数と
して取得する。

【０３３８】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックと上隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、上隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図１６（Ａ）で説明したように、上隣接マクロブロック
ＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRにおける最下行の８画素を
水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であ
り、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UDRの第
８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_{U DR}の
第８行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶さ
れており、選択部８５は、ステップＳ５２において、メ
モリ８１から、ブロックＢ_UDRの第８行の水平１次元Ｄ
ＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元ＤＣＴ係数
として出力する。

【０３３９】また、ステップＳ５１において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、上
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ５３に進み、選択
部８５は、図１６（Ｂ）で説明したように、上隣接マク
ロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRの最下行の８画
素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
を、上隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３４０】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、上隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１６（Ｂ）で説明したように、上隣接マ
クロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRにおける最下
行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣ
Ｔ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロック
Ｂ_UDRの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロッ
クＢ_UDRの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８
１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ５３に
おいて、メモリ８１から、ブロックＢ_{UD R}の第８行の水
平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元
ＤＣＴ係数として出力する。

【０３４１】また、ステップＳ５１において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ５４に進み、選択
部８５は、図１６（Ｃ）で説明したように、上隣接マク
ロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRの第７行目の８
画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
を、上隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３４２】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、上隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１６（Ｃ）で説明したように、上隣接マ
クロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRの第７行目の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_UDRの第７行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_UDRの第７行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ５４にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_UDRの第７行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０３４３】また、ステップＳ５１において、注目マク
ロブロックと上隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ５５に進み、選択部８５は、図１６（Ｄ）で説
明したように、上隣接マクロブロックＭＢ_Uの右上のブ
ロックＢ_UURの最下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換
した水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０３４４】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックと上隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、上隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図１６（Ｄ）で説明したように、上隣接マクロブロ
ックＭＢ_Uの右上のブロックＢ_UURの最下行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であり、
この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_UULの第８行
の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_UURの第８
行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ５５において、メモリ
８１から、ブロックＢ_UURの第８行の水平１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、上隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３４５】ステップＳ５２乃至Ｓ５５の処理後は、い
ずれも、ステップＳ５６に進み、選択部８５が、注目マ
クロブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０３４６】ステップＳ５６において、注目マクロブロ
ックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであると判定され
た場合、ステップＳ５７に進み、選択部８５は、図１７
（Ａ）で説明したように、注目マクロブロックＭＢ_Nの
右下のブロックＢ_NDRの最上行の８画素を水平１次元Ｄ
ＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として取得する。

【０３４７】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であるときには、下隣接１
次元ＤＣＴ係数は、図１７（Ａ）で説明したように、注
目マクロブロックＭＢ_Nの右下のブロックＢ_NDRの最上行
の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ
係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_NDRの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_NDRの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ５７にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_NDRの第１行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０３４８】また、ステップＳ５６において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであると
判定された場合、ステップＳ５８に進み、選択部８５
は、図１７（Ｂ）で説明したように、下隣接マクロブロ
ックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_{D UR}の最上行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣
接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３４９】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であるときには、下隣接
１次元ＤＣＴ係数は、図１７（Ｂ）で説明したように、
下隣接マクロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURの最
上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元Ｄ
ＣＴ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロッ
クＢ_DURの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロ
ックＢ_DURの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ
８１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ５８
において、メモリ８１から、ブロックＢ_DURの第１行の
水平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次
元ＤＣＴ係数として出力する。

【０３５０】ステップＳ５７およびＳ５８の処理後は、
いずれも、ステップＳ５９に進み、サンプリング部８３
および選択部８５が、注目マクロブロックと右隣接マク
ロブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０３５１】ステップＳ５９において、注目マクロブロ
ックと右隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
６０に進み、選択部８５は、図１９（Ａ）で説明したよ
うに、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ
_RULの最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直
１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１次元ＤＣＴ係数として取
得する。

【０３５２】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックと右隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、右隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図１９（Ａ）で説明したように、右隣接マクロブロック
ＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULの最左列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、この
垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RULの第１列の垂
直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_RULの第１列の
垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ６０において、メモリ８
１から、ブロックＢ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数として
出力する。

【０３５３】また、ステップＳ５９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、右
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ６１乃至Ｓ６３に
順次進み、選択部８５は、図１９（Ｂ）で説明したよう
に、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_{R UL}
における最左列の上４画素と、その左下のブロックＢ
_RDLにおける最左列の上４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１次
元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３５４】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、右隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、右隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１９（Ｂ）で説明したように、右隣接マ
クロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULにおける最左
列の上４画素と、その左下のブロックＢ_RDLにおける最
左列の上４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換し
た垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、このような垂直１次
元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０３５５】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０３５６】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ６１におい
て、ブロックＢ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_RULの第１列の８画素と、ブロックＢ_RDL
の第１列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ６２に進む。

【０３５７】ステップＳ６２では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_RULの第１列の８画素のうちの上４画素をサンプ
リングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ変換部
８２から供給されるブロックＢ_RDLの第１列の８画素の
うちの上４画素をサンプリングし、ブロックＢ_RULの第
１列からサンプリングした上４画素を奇数行（トップフ
ィールド）に配置するとともに、ブロックＢ_RDLの第１
列からサンプリングした上４画素を偶数行（ボトムフィ
ールド）に配置することにより、注目マクロブロックと
同一のフレーム構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、垂
直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０３５８】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ６３において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、右隣接マクロブロックＭＢ_R
の左上のブロックＢ_RULにおける最左列の上４画素と、
その左下のブロックＢ_RDLにおける最左列の上４画素の
合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣ
Ｔ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５は、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１次元
ＤＣＴ係数を選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数として出
力する。

【０３５９】また、ステップＳ５９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
右隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ６４乃至Ｓ６６に
順次進み、選択部８５は、図１９（Ｃ）で説明したよう
に、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_{R UL}
における最左列の奇数行の４画素と、その左下のブロッ
クＢ_RDLにおける奇数行の４画素の合計８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３６０】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、右隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、右隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図１９（Ｃ）で説明したように、右隣接マ
クロブロックＭＢ_Lの左上のブロックＢ_RULにおける最左
列の奇数行の４画素と、その左下のブロックＢ_RDLにお
ける奇数行の４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変
換した垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、そのような垂直
１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０３６１】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０３６２】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ６４におい
て、ブロックＢ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_RULの第１列の８画素と、ブロックＢ_RDL
の第１列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ６５に進む。

【０３６３】ステップＳ６５では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_RULの第１列の８画素のうちの奇数行の４画素を
サンプリングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ
変換部８２から供給されるブロックＢ_RDLの第１列の８
画素のうちの奇数行の４画素をサンプリングし、ブロッ
クＢ_RULの第１列からサンプリングした奇数行の４画素
を上側に配置するとともに、ブロックＢ_RDLの第１列か
らサンプリングした奇数行の４画素を下側に配置するこ
とにより、注目マクロブロックと同一のフィールド（ト
ップフィールド）構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０３６４】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ６６において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、右隣接マクロブロックＭＢ_R
の左上のブロックＢ_RULにおける最左列の奇数行の４画
素と、その左下のブロックＢ_RDLにおける奇数行の４画
素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元
ＤＣＴ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５
は、垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１
次元ＤＣＴ係数を選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３６５】また、ステップＳ５９において、注目マク
ロブロックと右隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ６７に進み、選択部８５は、図１９（Ｄ）で説
明したように、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブ
ロックＢ_RULの最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換
した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０３６６】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合において、注目マ
クロブロックと右隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、右隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図１９（Ｄ）で説明したように、右隣接マクロブロ
ックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULの最左列の８画素を垂
直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、
この垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RULの第１列
の垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_RULの第１
列の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ６７において、メモリ
８１から、ブロックＢ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３６７】ステップＳ６０，Ｓ６３，Ｓ６６、および
Ｓ６７の処理後は、いずれも、ステップＳ６８に進み、
選択部８５は、図１８で説明したように、注目ブロック
Ｂ_{NU R}の左隣のブロックＢ_NULの最右列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３６８】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右上のブロックＢ_NURである場合には、左隣接１次
元ＤＣＴ係数は、図１８で説明したように、注目ブロッ
クＢ _NURの左隣のブロックＢ_NULの最右列の８画素を垂直
１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、こ
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_NULの第８列の
垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_NURの第８列
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ６８において、メモリ８
１から、ブロックＢ_NULの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、左隣接垂直１次元ＤＣＴ係数と
して出力して、右上ブロック処理を終了する。

【０３６９】次に、図２９のフローチャートを参照し
て、図２５のステップＳ５における右下ブロック処理に
ついて説明する。

【０３７０】右下ブロック処理では、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRについて、上隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数、下隣接１次元ＤＣＴ係数、左隣接１次元ＤＣＴ
係数、右隣接１次元ＤＣＴ係数が取得される。

【０３７１】即ち、右下ブロック処理では、まず最初
に、ステップＳ７１において、選択部８５が、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０３７２】ステップＳ７１において、注目マクロブロ
ックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであると判定され
た場合、ステップＳ７２に進み、選択部８５は、図２０
（Ａ）で説明したように、注目マクロブロックＭＢ_Nの
右上のブロックＢ_NURの最下行の８画素を水平１次元Ｄ
ＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として取得する。

【０３７３】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であるときには、上隣接１
次元ＤＣＴ係数は、図２０（Ａ）で説明したように、注
目マクロブロックＭＢ_Nの右上のブロックＢ_NURの最下行
の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ
係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_NURの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_NURの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ７２にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_NURの第８行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０３７４】また、ステップＳ７１において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであると
判定された場合、ステップＳ７３に進み、選択部８５
は、図２０（Ｂ）で説明したように、上隣接マクロブロ
ックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_{U DR}の最下行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数を、上隣
接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３７５】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であるときには、上隣接
１次元ＤＣＴ係数は、図２０（Ｂ）で説明したように、
上隣接マクロブロックＭＢ_Uの右下のブロックＢ_UDRの最
下行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元Ｄ
ＣＴ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロッ
クＢ_UDRの第８行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロ
ックＢ_UDRの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ
８１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ７３
において、メモリ８１から、ブロックＢ_UDRの第８行の
水平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、上隣接１次
元ＤＣＴ係数として出力する。

【０３７６】ステップＳ７２およびＳ７３の処理後は、
いずれも、ステップＳ７４に進み、選択部８５が、注目
マクロブロックと下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプ
を判定する。

【０３７７】ステップＳ７４において、注目マクロブロ
ックと下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
７５に進み、選択部８５は、図２１（Ａ）で説明したよ
うに、下隣接マクロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ
_DURにおける最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換し
た水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接１次元ＤＣＴ係数と
して取得する。

【０３７８】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックと下隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、下隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図２１（Ａ）で説明したように、下隣接マクロブロック
ＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURにおける最上行の８画素を
水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であ
り、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DURの第
１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_{D UR}の
第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶さ
れており、選択部８５は、ステップＳ７５において、メ
モリ８１から、ブロックＢ_DURの第１行の水平１次元Ｄ
ＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元ＤＣＴ係数
として出力する。

【０３７９】また、ステップＳ７４において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、下
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ７６に進み、選択
部８５は、図２１（Ｂ）で説明したように、下隣接マク
ロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURの最上行の８画
素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
を、下隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３８０】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、下隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図２１（Ｂ）で説明したように、下隣接マ
クロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURにおける最下
行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣ
Ｔ係数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロック
Ｂ_DURの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロッ
クＢ_DURの第１行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８
１に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ７６に
おいて、メモリ８１から、ブロックＢ_{DU R}の第１行の水
平１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元
ＤＣＴ係数として出力する。

【０３８１】また、ステップＳ７４において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ７７に進み、選択
部８５は、図２１（Ｃ）で説明したように、下隣接マク
ロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURの第２行目の８
画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数
を、下隣接１次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３８２】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、下隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図２１（Ｃ）で説明したように、下隣接マ
クロブロックＭＢ_Dの右上のブロックＢ_DURの第２行目の
８画素を水平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係
数であり、この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ
_DURの第２行の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロック
Ｂ_DURの第２行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１
に記憶されており、選択部８５は、ステップＳ７７にお
いて、メモリ８１から、ブロックＢ_DURの第２行の水平
１次元ＤＣＴ係数を読み出して選択し、下隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数として出力する。

【０３８３】また、ステップＳ７４において、注目マク
ロブロックと下隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ７８に進み、選択部８５は、図２１（Ｄ）で説
明したように、下隣接マクロブロックＭＢ_Dの右下のブ
ロックＢ_DDRの最上行の８画素を水平１次元ＤＣＴ変換
した水平１次元ＤＣＴ係数を、下隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０３８４】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックと下隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、下隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図２１（Ｄ）で説明したように、下隣接マクロブロ
ックＭＢ_Dの右下のブロックＢ_DDRの最上行の８画素を水
平１次元ＤＣＴ変換した水平１次元ＤＣＴ係数であり、
この水平１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_DDRの第１行
の水平１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_DDRの第１
行の水平１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ７８において、メモリ
８１から、ブロックＢ_DDRの第１行の水平１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、下隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０３８５】ステップＳ７５乃至Ｓ７８の処理後は、い
ずれも、ステップＳ７９に進み、サンプリング部８３お
よび選択部８５が、注目マクロブロックと左隣接マクロ
ブロックのＤＣＴタイプを判定する。

【０３８６】ステップＳ７９において、注目マクロブロ
ックと左隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、いずれ
もフレームＤＣＴであると判定された場合、ステップＳ
８０に進み、選択部８５は、図２３（Ａ）で説明したよ
うに、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左下のブロックＢ
_RDLの最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直
１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１次元ＤＣＴ係数として取
得する。

【０３８７】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックと右隣接マクロブロックが、いずれもフレ
ーム構造であるときには、右隣接１次元ＤＣＴ係数は、
図２３（Ａ）で説明したように、右隣接マクロブロック
ＭＢ_Rの左下のブロックＢ_RDLの最左列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、この
垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RDLの第１列の垂
直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_RDLの第１列の
垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ８０において、メモリ８
１から、ブロックＢ_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数として
出力する。

【０３８８】また、ステップＳ７９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴであり、右
隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ８１乃至Ｓ８３に
順次進み、選択部８５は、図２３（Ｂ）で説明したよう
に、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_{R UL}
における最左列の下４画素と、その左下のブロックＢ
_RDLにおける最左列の下４画素の合計８画素を垂直１次
元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１次
元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３８９】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックがフレーム構造であり、右隣接マクロブロ
ックがフィールド構造であるときには、右隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図２３（Ｂ）で説明したように、右隣接マ
クロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_RULにおける最左
列の下４画素と、その左下のブロックＢ_RDLにおける最
左列の下４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換し
た垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、このような垂直１次
元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０３９０】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０３９１】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ８１におい
て、ブロックＢ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_RULの第１列の８画素と、ブロックＢ_RDL
の第１列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ８２に進む。

【０３９２】ステップＳ８２では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_RULの第１列の８画素のうちの下４画素をサンプ
リングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ変換部
８２から供給されるブロックＢ_RDLの第１列の８画素の
うちの下４画素をサンプリングし、ブロックＢ_RULの第
１列からサンプリングした上４画素を奇数行（トップフ
ィールド）に配置するとともに、ブロックＢ_RDLの第１
列からサンプリングした上４画素を偶数行（ボトムフィ
ールド）に配置することにより、注目マクロブロックと
同一のフレーム構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、垂
直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０３９３】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ８３において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、右隣接マクロブロックＭＢ_L
の左上のブロックＢ_RULにおける最左列の下４画素と、
その左下のブロックＢ_RDLにおける最左列の下４画素の
合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣ
Ｔ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５は、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１次元
ＤＣＴ係数を選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数として出
力する。

【０３９４】また、ステップＳ７９において、注目マク
ロブロックのＤＣＴタイプがフィールドＤＣＴであり、
右隣接マクロブロックのＤＣＴタイプがフレームＤＣＴ
であると判定された場合、ステップＳ８４乃至Ｓ８６に
順次進み、選択部８５は、図２３（Ｃ）で説明したよう
に、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左上のブロックＢ_{R UL}
における最左列の偶数行の４画素と、その左下のブロッ
クＢ_RDLにおける偶数行の４画素の合計８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０３９５】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックがフィールド構造であり、右隣接マクロブ
ロックがフレーム構造であるときには、右隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数は、図２３（Ｃ）で説明したように、右隣接マ
クロブロックＭＢ_Lの左上のブロックＢ_RULにおける最左
列の偶数行の４画素と、その左下のブロックＢ_RDLにお
ける偶数行の４画素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変
換した垂直１次元ＤＣＴ係数となるが、そのような垂直
１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に存在しない。

【０３９６】そこで、サンプリング部８３は、ブロック
Ｂ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数と、ブロックＢ
_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数の垂直１次元逆Ｄ
ＣＴ変換を、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２に要求す
る。

【０３９７】垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２は、サンプ
リング部８３からの要求に応じ、ステップＳ８４におい
て、ブロックＢ_RULの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
と、ブロックＢ_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
を、メモリ８１から読み出し、垂直１次元逆ＤＣＴ変換
を施す。これにより、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２
は、ブロックＢ_RULの第１列の８画素と、ブロックＢ_RDL
の第１列の８画素を得て、サンプリング部８３に供給
し、ステップＳ８５に進む。

【０３９８】ステップＳ８５では、サンプリング部８３
は、垂直１次元逆ＤＣＴ変換部８２から供給されるブロ
ックＢ_RULの第１列の８画素のうちの偶数行の４画素を
サンプリングするとともに、同じく垂直１次元逆ＤＣＴ
変換部８２から供給されるブロックＢ_RDLの第１列の８
画素のうちの偶数行の４画素をサンプリングし、ブロッ
クＢ_RULの第１列からサンプリングした偶数行の４画素
を上側に配置するとともに、ブロックＢ_RDLの第１列か
らサンプリングした偶数行の４画素を下側に配置するこ
とにより、注目マクロブロックと同一のフィールド（ボ
トムフィールド）構造とした垂直方向に並ぶ８画素を、
垂直１次元ＤＣＴ変換部８４に供給する。

【０３９９】垂直１次元ＤＣＴ変換部８４は、サンプリ
ング部８３でサンプリングされた８画素を受信すると、
ステップＳ８６において、その８画素を、垂直１次元Ｄ
ＣＴ変換し、これにより、右隣接マクロブロックＭＢ_R
の左上のブロックＢ_RULにおける最左列の偶数行の４画
素と、その左下のブロックＢ_RDLにおける偶数行の４画
素の合計８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元
ＤＣＴ係数を得て、選択部８５に供給する。選択部８５
は、垂直１次元ＤＣＴ変換部８４から供給される垂直１
次元ＤＣＴ係数を選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０４００】また、ステップＳ７９において、注目マク
ロブロックと右隣接マクロブロックのＤＣＴタイプが、
いずれもフィールドＤＣＴであると判定された場合、ス
テップＳ８７に進み、選択部８５は、図２３（Ｄ）で説
明したように、右隣接マクロブロックＭＢ_Rの左下のブ
ロックＢ_RDLの最左列の８画素を垂直１次元ＤＣＴ変換
した垂直１次元ＤＣＴ係数を、右隣接１次元ＤＣＴ係数
として取得する。

【０４０１】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合において、注目マ
クロブロックと右隣接マクロブロックが、いずれもフィ
ールド構造であるときには、右隣接１次元ＤＣＴ係数
は、図２３（Ｄ）で説明したように、右隣接マクロブロ
ックＭＢ_Rの左下のブロックＢ_RDLの最左列の８画素を垂
直１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、
この垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_RDLの第１列
の垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_RDLの第１
列の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されて
おり、選択部８５は、ステップＳ８７において、メモリ
８１から、ブロックＢ_RDLの第１列の垂直１次元ＤＣＴ
係数を読み出して選択し、右隣接１次元ＤＣＴ係数とし
て出力する。

【０４０２】ステップＳ８０，Ｓ８３，Ｓ８６、および
Ｓ８７の処理後は、いずれも、ステップＳ８８に進み、
選択部８５は、図２２で説明したように、注目ブロック
Ｂ_{ND R}の左隣のブロックＢ_NDLの最右列の８画素を垂直１
次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数を、左隣接１
次元ＤＣＴ係数として取得する。

【０４０３】即ち、注目ブロックが、注目マクロブロッ
クの右下のブロックＢ_NDRである場合には、左隣接１次
元ＤＣＴ係数は、図２２で説明したように、注目ブロッ
クＢ _NDRの左隣のブロックＢ_NDLの最右列の８画素を垂直
１次元ＤＣＴ変換した垂直１次元ＤＣＴ係数であり、こ
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、ブロックＢ_NDLの第８列の
垂直１次元ＤＣＴ係数である。ブロックＢ_NDLの第８列
の垂直１次元ＤＣＴ係数は、メモリ８１に記憶されてお
り、選択部８５は、ステップＳ８８において、メモリ８
１から、ブロックＢ_NDLの第８列の垂直１次元ＤＣＴ係
数を読み出して選択し、左隣接垂直１次元ＤＣＴ係数と
して出力して、右下ブロック処理を終了する。

【０４０４】次に、図２のＡＣパワー算出部３３の処理
について説明する。

【０４０５】ＡＣパワー算出部３３は、上述したよう
に、１次元逆ＤＣＴ係数変換部３１から供給される１次
元ＤＣＴ係数の交流成分のパワー（ＡＣパワー）を求め
るとともに、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２か
ら供給される隣接１次元ＤＣＴ係数のＡＣパワーを求め
るようになっている。

【０４０６】即ち、ＡＣパワー算出部３３は、図３０に
示すように、注目ブロックにおける注目画素の位置の行
の水平１次元ＤＣＴ係数から、水平方向のＡＣパワーを
求めるとともに、注目画素の位置の列の垂直１次元ＤＣ
Ｔ係数から、垂直方向のＡＣパワーを求める。

【０４０７】ここで、１次元ＤＣＴ係数の７つの交流成
分をＡＣ_nと表すこととすると（ｎ＝１，２，・・・，
７）、ＡＣパワーＰ_ACは、次式によって計算される。

【０４０８】 Ｐ_AC＝ΣＡＣ_n ² ・・・（１２）

【０４０９】但し、式（１２）において、Σは、変数ｎ
を１から７に変えてのサメーションを表す。

【０４１０】また、ＡＣパワー算出部３３は、注目ブロ
ックについての上隣接１次元ＤＣＴ係数、下隣接１次元
ＤＣＴ係数、左隣接１次元ＤＣＴ係数、右隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数それぞれについても、式（１２）にしたがい、
ＡＣパワーを求める。なお、上隣接１次元ＤＣＴ係数と
下隣接１次元ＤＣＴ係数は、いずれも水平１次元ＤＣＴ
係数であり、従って、これらから求められるＡＣパワー
は、水平方向のＡＣパワーである。また、左隣接１次元
ＤＣＴ係数と右隣接１次元ＤＣＴ係数は、いずれも垂直
１次元ＤＣＴ係数であり、従って、これらから求められ
るＡＣパワーは、垂直方向のＡＣパワーである。

【０４１１】ＡＣパワー算出部３３は、さらに、注目ブ
ロックの１次元ＤＣＴ係数のうち、その境界に隣接する
もの（以下、適宜、境界１次元ＤＣＴ係数という）につ
いても、式（１２）にしたがい、ＡＣパワーを求める。

【０４１２】即ち、ＡＣパワー算出部３３は、注目ブロ
ックの上側の境界に隣接する第１行の水平１次元ＤＣＴ
係数（以下、適宜、上境界１次元ＤＣＴ係数という）か
ら、水平方向のＡＣパワーを求める。さらに、ＡＣパワ
ー算出部３３は、注目ブロックの下側の境界に隣接する
第８行の水平１次元ＤＣＴ係数（以下、適宜、下境界１
次元ＤＣＴ係数という）から、水平方向のＡＣパワーを
求める。また、ＡＣパワー算出部３３は、注目ブロック
の左側の境界に隣接する第１列の垂直１次元ＤＣＴ係数
（以下、適宜、左境界１次元ＤＣＴ係数という）から、
垂直方向のＡＣパワーを求めるとともに、注目ブロック
の右側の境界に隣接する第８列の垂直１次元ＤＣＴ係数
（以下、適宜、右境界１次元ＤＣＴ係数という）から、
垂直方向のＡＣパワーを求める。

【０４１３】次に、図３１は、以上のようにしてＡＣパ
ワーを求める図２のＡＣパワー算出部３３の構成例を示
している。

【０４１４】水平１次元ＤＣＴ係数抽出部９１および垂
直１次元ＤＣＴ係数抽出部９２には、１次元逆ＤＣＴ変
換部３１（図２）と、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換
部３２から、１次元ＤＣＴ係数が供給されるようになっ
ている。

【０４１５】水平１次元ＤＣＴ係数抽出部９１は、そこ
に供給される１次元ＤＣＴ係数から、ＡＣパワーの計算
対象とするものを抽出し、水平ＡＣパワー計算部９３に
供給する。即ち、水平１次元ＤＣＴ係数抽出部９１は、
そこに供給される１次元ＤＣＴ係数から、注目ブロック
における注目画素の位置の行の水平１次元ＤＣＴ係数、
注目ブロックについての上隣接１次元ＤＣＴ係数および
下隣接１次元ＤＣＴ係数、並びに注目ブロックの上境界
１次元ＤＣＴ係数および下境界１次元ＤＣＴ係数を抽出
し、水平ＡＣパワー計算部９３に供給する。

【０４１６】垂直１次元ＤＣＴ係数抽出部９２には、そ
こに供給される１次元ＤＣＴ係数から、ＡＣパワーの計
算対象とするものを抽出し、垂直ＡＣパワー計算部９４
に供給する。即ち、垂直１次元ＤＣＴ係数抽出部９２
は、そこに供給される１次元ＤＣＴ係数から、注目ブロ
ックにおける注目画素の位置の列の垂直１次元ＤＣＴ係
数、注目ブロックについての左隣接１次元ＤＣＴ係数お
よび右隣接１次元ＤＣＴ係数、並びに注目ブロックの左
境界１次元ＤＣＴ係数および右境界１次元ＤＣＴ係数を
抽出し、垂直ＡＣパワー計算部９４に供給する。

【０４１７】水平ＡＣパワー計算部９３は、水平１次元
ＤＣＴ係数抽出部９１から供給される水平１次元ＤＣＴ
係数から、式（１２）にしたがって、水平方向のＡＣパ
ワーを計算して出力する。即ち、水平ＡＣパワー計算部
９３は、注目ブロックにおける注目画素の位置の行の水
平１次元ＤＣＴ係数、注目ブロックについての上隣接１
次元ＤＣＴ係数および下隣接１次元ＤＣＴ係数、並びに
注目ブロックの上境界１次元ＤＣＴ係数および下境界１
次元ＤＣＴ係数それぞれから、水平方向のＡＣパワーを
計算する。

【０４１８】垂直ＡＣパワー計算部９４は、垂直１次元
ＤＣＴ係数抽出部９２から供給される垂直１次元ＤＣＴ
係数から、式（１２）にしたがって、垂直方向のＡＣパ
ワーを計算して出力する。即ち、垂直ＡＣパワー計算部
９４は、注目ブロックにおける注目画素の位置の列の垂
直１次元ＤＣＴ係数、注目ブロックについての左隣接１
次元ＤＣＴ係数および右隣接１次元ＤＣＴ係数、並びに
注目ブロックの左境界１次元ＤＣＴ係数および右境界１
次元ＤＣＴ係数それぞれから、垂直方向のＡＣパワーを
計算する。

【０４１９】なお、以上のようにして、１次元ＤＣＴ係
数から求められるＡＣパワーは、その１次元ＤＣＴ係数
に対応する８画素の交流成分の電力と捉えることがで
き、従って、画像のアクティビティを表す。

【０４２０】次に、図２のＡＣ内積計算部３４の処理に
ついて説明する。

【０４２１】ＡＣ内積計算部３４は、上述したように、
１次元逆ＤＣＴ係数変換部３１から供給される注目ブロ
ックの境界部分の１次元ＤＣＴ係数（境界１次元ＤＣＴ
係数）の交流成分と、隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換
部３２から供給される隣接１次元ＤＣＴ係数の交流成分
とを、それぞれベクトルのコンポーネントとみなして、
その２つのベクトルの内積（ＡＣ内積）を求める。

【０４２２】即ち、ＡＣ内積計算部３４は、図３２に示
すように、注目ブロックについての上境界１次元ＤＣＴ
係数の交流成分と、上隣接１次元ＤＣＴ係数の交流成分
とを、それぞれベクトルのコンポーネントとみなして、
その２つのベクトルのＡＣ内積（以下、上内積という）
を、次式にしたがって求める。

【０４２３】 Ｉ＝Σ（ＡＣ_n×ＡＣ_n’） ・・・（１３）

【０４２４】但し、式（１３）において、Ｉは、ＡＣ内
積を表す。さらに、ＡＣ_nは、注目ブロックについての
上境界１次元ＤＣＴ係数のｎ番目の交流成分を表し、Ａ
Ｃ_n’は、注目ブロックについての上隣接１次元ＤＣＴ
係数のｎ番目の交流成分を表す。また、Σは、ｎを１か
ら７に変えてのサメーションを表す。

【０４２５】ＡＣ内積計算部３４は、注目ブロックにつ
いての下境界１次元ＤＣＴ係数と下隣接１次元ＤＣＴ係
数、左境界１次元ＤＣＴ係数と左隣接１次元ＤＣＴ係
数、または右境界１次元ＤＣＴ係数と右隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数それぞれについても、式（１３）にしたがい、Ａ
Ｃ内積を求める。

【０４２６】ここで、以下、適宜、注目ブロックについ
ての下境界１次元ＤＣＴ係数と下隣接１次元ＤＣＴ係数
とから求められるＡＣ内積を、下内積と、左境界１次元
ＤＣＴ係数と左隣接１次元ＤＣＴ係数とから求められる
ＡＣ内積を、左内積と、右境界１次元ＤＣＴ係数と右隣
接１次元ＤＣＴ係数とから求められるＡＣ内積を、右内
積と、それぞれいう。

【０４２７】ＡＣ内積は、注目ブロックの境界を挟む境
界１次元ＤＣＴ係数と隣接１次元ＤＣＴ係数の交流成分
が類似する場合、即ち、境界１次元ＤＣＴ係数の交流成
分をコンポーネントとするベクトルと、隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数の交流成分をコンポーネントとするベクトルとが
つくる角度が９０度未満（以上）である場合に正の値
（０以上の値）となる。従って、ＡＣ内積が正の値であ
ることは、注目ブロックの境界を挟む境界１次元ＤＣＴ
係数に対応する８画素と、隣接１次元ＤＣＴ係数に対応
する８画素の波形パターンが似ていることを表してお
り、例えば、注目ブロックとそれに隣接するブロックの
境界において、その境界を横切る形で連続しているエッ
ジが存在することを表す。

【０４２８】次に、図３３は、注目ブロックについて、
上述のようなＡＣ内積（上内積、下内積、左内積、右内
積）を計算する図２のＡＣ内積計算部３４の構成例を示
している。

【０４２９】１次元逆ＤＣＴ変換部３１と隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数選択／変換部３２が出力する１次元ＤＣＴ係数
は、上内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部１０１、下内積用
１次元ＤＣＴ係数抽出部１０２、左内積用１次元ＤＣＴ
係数抽出部１０３、および右内積用１次元ＤＣＴ係数抽
出部１０４に供給されるようになっている。

【０４３０】上内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部１０１
は、注目ブロックについて、上内積を計算するのに用い
る上境界１次元ＤＣＴ係数と上隣接１次元ＤＣＴ係数
を、そこに供給される１次元ＤＣＴ係数から抽出し、上
内積演算部１０５に供給する。

【０４３１】上内積演算部１０５は、上内積用１次元Ｄ
ＣＴ係数抽出部１０１から供給される上境界１次元ＤＣ
Ｔ係数と上隣接１次元ＤＣＴ係数から、式（１３）にし
たがって、上内積を計算して出力する。

【０４３２】下内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部１０２
は、注目ブロックについて、下内積を計算するのに用い
る下境界１次元ＤＣＴ係数と下隣接１次元ＤＣＴ係数
を、そこに供給される１次元ＤＣＴ係数から抽出し、下
内積演算部１０６に供給する。

【０４３３】下内積演算部１０６は、下内積用１次元Ｄ
ＣＴ係数抽出部１０２から供給される下境界１次元ＤＣ
Ｔ係数と下隣接１次元ＤＣＴ係数から、式（１３）にし
たがって、下内積を計算して出力する。

【０４３４】左内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部１０３
は、注目ブロックについて、左内積を計算するのに用い
る左境界１次元ＤＣＴ係数と左隣接１次元ＤＣＴ係数
を、そこに供給される１次元ＤＣＴ係数から抽出し、左
内積演算部１０７に供給する。

【０４３５】左内積演算部１０７は、左内積用１次元Ｄ
ＣＴ係数抽出部１０３から供給される左境界１次元ＤＣ
Ｔ係数と左隣接１次元ＤＣＴ係数から、式（１３）にし
たがって、左内積を計算して出力する。

【０４３６】右内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部１０４
は、注目ブロックについて、右内積を計算するのに用い
る右境界１次元ＤＣＴ係数と右隣接１次元ＤＣＴ係数
を、そこに供給される１次元ＤＣＴ係数から抽出し、右
内積演算部１０８に供給する。

【０４３７】右内積演算部１０８は、右内積用１次元Ｄ
ＣＴ係数抽出部１０４から供給される右境界１次元ＤＣ
Ｔ係数と右隣接１次元ＤＣＴ係数から、式（１３）にし
たがって、右内積を計算して出力する。

【０４３８】次に、図３４は、図２のクラスコード生成
部３６の構成例を示している。

【０４３９】クラスコード生成部３６は、輝度信号のブ
ロックを対象に、そのブロックを構成する画素をクラス
分類するようになっている。

【０４４０】即ち、比較部１１１および１１２には、Ａ
Ｃパワー算出部３３（図２）が出力するＡＣパワーが供
給される。平坦性条件判定部１１３には、ＡＣパワー算
出部３３（図２）が出力するＡＣパワー、並びに１次元
逆ＤＣＴ変換部３１および隣接１次元ＤＣＴ係数選択／
変換部３２が出力する１次元ＤＣＴ係数が供給される。
連続性判定部１１４には、ＡＣ内積計算部３４（図２）
が出力するＡＣ内積が供給される。境界部エッジ条件判
定部１１５には、１次元逆ＤＣＴ変換部３１および隣接
１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２が出力する１次元Ｄ
ＣＴ係数が供給される。

【０４４１】比較部１１１は、ＡＣパワー算出部３３
（図２）が出力するＡＣパワーのうちの、注目画素の行
の水平１次元ＤＣＴ係数から求められた水平方向のＡＣ
パワーを、所定の閾値Ａと比較し、その比較結果を、ク
ラスコード作成部１１６に供給する。

【０４４２】比較部１１２は、ＡＣパワー算出部３３
（図２）が出力するＡＣパワーのうちの、注目画素の列
の垂直１次元ＤＣＴ係数から求められた垂直方向のＡＣ
パワーを、所定の閾値Ａと比較し、その比較結果を、ク
ラスコード作成部１１６に供給する。

【０４４３】平坦性条件判定部１１３は、注目ブロック
について、境界１次元ＤＣＴ係数から求められたＡＣパ
ワー、隣接１次元ＤＣＴ係数から求められたＡＣパワ
ー、さらには、境界１次元ＤＣＴ係数の直流成分、隣接
１次元ＤＣＴ係数の直流成分に基づき、注目ブロックの
上下左右それぞれの境界について、各境界部分における
画像の平坦性を判定し、その判定結果を、クラスコード
生成部１１６に供給する。

【０４４４】連続性条件判定部１１４は、注目ブロック
について求められた上内積、下内積、左内積、右内積に
基づき、注目ブロックの上下左右それぞれの境界につい
て、各協会部分における画像の連続性を判定し、その判
定結果を、クラスコード生成部１１６に供給する。

【０４４５】境界部エッジ条件判定部１１５は、注目ブ
ロックについての境界１次元ＤＣＴ係数の直流成分と、
隣接１次元ＤＣＴ係数の直流成分とに基づき、注目ブロ
ックの上下左右それぞれの境界について、その境界に沿
ってエッジが存在するかどうかを判定し、その判定結果
を、クラスコード生成部１１６に供給する。

【０４４６】クラスコード作成部１１６は、比較部１１
１および１１２、平坦性条件判定部１１３、連続性条件
判定部１１４、並びに境界部エッジ条件判定部１１５の
出力に基づき、注目画素をクラス分類し、そのクラスを
表すクラスコード（輝度クラスコード）を作成（生成）
して出力する。

【０４４７】ここで、図３５は、クラスコード作成部１
１６が出力するクラスコードのフォーマットを示してい
る。

【０４４８】図３５の実施の形態では、クラスコード
は、１０ビットとされており、その先頭から、２ビット
のＡＣパワークラスコード、４ビットのブロック平坦性
クラスコード、４ビットのブロック間連続性クラスコー
ドが順次配置されて構成される。

【０４４９】２ビットのＡＣパワークラスコードは、注
目画素を、その垂直方向のＡＣパワーと水平方向のＡＣ
パワーによってクラス分けするもので、その先頭のビッ
トは、注目画素の列の垂直１次元ＤＣＴ係数から求めら
れた垂直方向のＡＣパワーによって決定され、２番目の
ビットは、注目画素の行の水平１次元ＤＣＴ係数から求
められた水平方向のＡＣパワーによって決定される。従
って、ＡＣパワークラスコードは、画素ごとに決定され
る。

【０４５０】４ビットのブロック平坦性クラスコード
は、注目画素を含むブロック（注目ブロック）を、その
上下左右それぞれの境界部分の平坦性（注目ブロックと
それに隣接するブロックとの間における画像の平坦さ）
によってクラス分けするもので、その１乃至４番目のビ
ットは、注目ブロックの上、下、左、右それぞれの境界
の平坦性によって決定される。従って、ブロック平坦性
クラスコードは、ブロックごとに決定される。

【０４５１】４ビットのブロック間連続性クラスコード
は、注目画素を含むブロック（注目ブロック）を、その
上下左右それぞれの境界部分の連続性（注目ブロックと
それに隣接するブロックとの間における画像のつながり
具合）によってクラス分けするもので、その１乃至４番
目のビットは、注目ブロックの上、下、左、右それぞれ
の境界の連続性によって決定される。従って、ブロック
連続性クラスコードも、ブロック平坦性クラスコードと
同様に、ブロックごとに決定される。

【０４５２】以上から、ＡＣパワークラスコードは、基
本的に、画素ごとに異なるが、ブロック平坦性クラスコ
ードとブロック間連続性クラスコードは、同一ブロック
の画素については、同一となる。

【０４５３】次に、図３６のフローチャートを参照し
て、図３４のクラスコード生成部３６の処理（クラス分
類処理）について説明する。

【０４５４】クラスコード生成部３６では、まず最初
に、ステップＳ９１において、比較部１１１が、ＡＣパ
ワー算出部３３（図２）が出力するＡＣパワーのうち
の、注目画素の行の水平１次元ＤＣＴ係数から求められ
た水平方向のＡＣパワーを、所定の閾値Ａと比較し、そ
の比較結果を、クラスコード作成部１１６に供給する。
さらに、ステップＳ９１では、比較部１１２が、ＡＣパ
ワー算出部３３（図２）が出力するＡＣパワーのうち
の、注目画素の列の垂直１次元ＤＣＴ係数から求められ
た垂直方向のＡＣパワーを、所定の閾値Ａと比較し、そ
の比較結果を、クラスコード作成部１１６に供給する。

【０４５５】そして、クラスコード作成部１１６は、比
較部１１１と１１２の出力に基づいて、注目画素のＡＣ
パワークラスコードを決定する。

【０４５６】即ち、クラスコード作成部１１６は、注目
画素の列の垂直１次元ＤＣＴ係数から求められた垂直方
向のＡＣパワーが、所定の閾値Ａより大の場合は、２ビ
ットのＡＣパワークラスコードのうちの１番目のビット
を、例えば１とし、その垂直方向のＡＣパワーが、所定
の閾値Ａより大でない場合は、ＡＣパワークラスコード
の１番目のビットを、例えば、０とする。さらに、クラ
スコード作成部１１６は、注目画素の行の水平１次元Ｄ
ＣＴ係数から求められた水平方向のＡＣパワーが、所定
の閾値Ａより大の場合は、２ビットのＡＣパワークラス
コードのうちの２番目のビットを、例えば１とし、その
水平方向のＡＣパワーが、所定の閾値Ａより大でない場
合は、ＡＣパワークラスコードの２番目のビットを、例
えば、０とする。

【０４５７】その後、ステップＳ９２に進み、境界部エ
ッジ条件判定部１１５は、注目ブロックについての境界
１次元ＤＣＴ係数の直流成分と、隣接１次元ＤＣＴ係数
の直流成分とに基づき、注目ブロックの境界について、
その境界に沿ってエッジが存在するという境界部エッジ
条件が満たされるかどうかを判定する。

【０４５８】即ち、境界部エッジ条件判定部１１５は、
例えば、注目ブロックについての境界１次ＤＣＴ係数の
直流成分ＤＣと、隣接１次ＤＣＴ係数の直流成分ＤＣ’
との差分絶対値｜ＤＣ−ＤＣ’｜が、所定の閾値Ｅより
も大きい（または以上である）という条件を、境界部エ
ッジ条件として、そのような境界部エッジ条件が満たさ
れるかどうかを判定する。

【０４５９】ステップＳ９２において、境界部エッジ条
件が満たされると判定した場合、即ち、注目ブロックに
ついての境界１次ＤＣＴ係数の直流成分ＤＣと、隣接１
次ＤＣＴ係数の直流成分ＤＣ’との差が非常に大きく、
従って、注目ブロックの境界部分にエッジが存在し、注
目ブロックとそれに隣接するブロックの画像パターンに
つながりがないと考えられる場合、境界部エッジ条件判
定部１１５は、その旨を、クラスコード作成部１１６に
出力し、ステップＳ９７に進む。ステップＳ９７では、
クラスコード作成部１１６は、ブロック平坦性クラスコ
ードおよびブロック間連続性クラスコードを、いずれ
も、例えば０とし、ステップＳ９８に進む。

【０４６０】また、ステップＳ９２において、境界部エ
ッジ条件が満たされないと判定された場合、ステップＳ
９３に進み、平坦性条件判定部１１３は、注目ブロック
について、境界１次元ＤＣＴ係数から求められたＡＣパ
ワー、隣接１次元ＤＣＴ係数から求められたＡＣパワ
ー、さらには、境界１次元ＤＣＴ係数の直流成分、隣接
１次元ＤＣＴ係数の直流成分に基づき、注目ブロックの
境界部分が平坦であるという平坦性条件が満たされるか
どうかを判定する。

【０４６１】即ち、平坦性条件判定部１１３は、例え
ば、次式で表される条件を、平坦性条件として、そのよ
うな平坦性条件が満たされるかどうかを判定する。

【０４６２】 （Ｐ_AC≦Ｂ）∩（Ｐ_AC’≦Ｂ）∩（｜ＤＣ−ＤＣ’｜≦Ｄ） ・・・（１４）

【０４６３】 Ｐ_AC’≦Ｃ ・・・（１５）

【０４６４】但し、式（１４）および（１５）におい
て、Ｂ，Ｃ，Ｄは、所定の閾値であり、閾値Ｃは、閾値
Ｂよりも十分小さいものとする。また、式（１４）およ
び（１５）において、Ｐ_ACは、注目ブロックについての
境界１次元ＤＣＴ係数から求められたＡＣパワーを表
し、Ｐ_AC’は、注目ブロックについての隣接１次元ＤＣ
Ｔ係数から求められたＡＣパワーを表す。さらに、式
（１４）において、ＤＣは、注目ブロックについての境
界１次元ＤＣＴ係数の直流成分を表し、ＤＣ’は、注目
ブロックについての隣接１次元ＤＣＴ係数の直流成分を
表す。また、∩は、論理積を表す。

【０４６５】式（１４）は、注目ブロックについての境
界１次元ＤＣＴ係数と隣接１次元ＤＣＴ係数からそれぞ
れ求められるＡＣパワーＰ_ACとＰ_AC’が、いずれも閾値
Ｂ以下で（または未満で）、かつ、それぞれの直流成分
ＤＣとＤＣ’の差分絶対値｜ＤＣ−ＤＣ’｜が、閾値Ｄ
以下（または未満）の場合に、真となる。また、式（１
５）は、注目ブロックについての隣接１次元ＤＣＴ係数
から求められたＡＣパワーＰ_AC’が、閾値Ｃ以下（また
は未満）の場合に、真となる。

【０４６６】ここで、閾値Ｃは、上述したように、閾値
Ｂよりも十分小さい、例えば、０に近い値であり、従っ
て、式（１５）は、注目ブロックについての隣接１次元
ＤＣＴ係数から求められたＡＣパワーＰ_AC’が０に近い
場合に、真となる。

【０４６７】なお、ここでは、平坦性条件は、例えば、
式（１４）および（１５）のうちのいずれか一方が真で
あれば満たされるものとする。

【０４６８】ステップＳ９３において、平坦性条件が満
たされると判定された場合、平坦性条件判定部１１３
は、その旨を、クラスコード作成部１１６に供給して、
ステップＳ９４に進む。

【０４６９】ステップＳ９４では、クラスコード作成部
１１６は、ブロック平坦性クラスコードおよびブロック
間連続性クラスコードを、いずれも、例えば１とし、ス
テップＳ９８に進む。

【０４７０】また、ステップＳ９３において、平坦性条
件が満たされないと判定された場合、ステップＳ９５に
進み、連続性条件判定部１１４は、注目ブロックについ
て求められたＡＣ内積に基づき、注目ブロックの境界部
分に連続性があるという連続性条件が満たされるかどう
かを判定する。

【０４７１】即ち、連続性条件判定部１１４は、例え
ば、注目ブロックについてのＡＣ内積Ｉが、正の値（ま
たは０以上）であるという条件を、連続性条件として、
そのような連続性条件が満たされるかどうかを判定す
る。

【０４７２】ステップＳ９５において、連続性条件が満
たされると判定された場合、連続性条件判定部１１４
は、その旨を、クラスコード作成部１１６に供給して、
ステップＳ９６に進む。

【０４７３】ステップＳ９６では、クラスコード作成部
１１６は、ブロック平坦性クラスコードを、例えば、０
とするとともに、ブロック間連続性クラスコードを、例
えば、１とし、ステップＳ９８に進む。

【０４７４】一方、ステップＳ９６において、連続性条
件が満たされないと判定された場合、連続性条件判定部
１１４は、その旨を、クラスコード作成部１１６に供給
して、ステップＳ９７に進む。ステップＳ９７では、ク
ラスコード作成部１１６は、上述したように、ブロック
平坦性クラスコードおよびブロック間連続性クラスコー
ドを、いずれも０とし、ステップＳ９８に進む。

【０４７５】なお、ステップＳ９２乃至Ｓ９７の処理
は、注目ブロックの上下左右の境界それぞれについて、
独立に行われ、これにより、ブロック平坦性クラスコー
ドとブロック間連続性クラスコードは、注目ブロックの
上下左右の境界それぞれについて求められる。

【０４７６】ステップＳ９８では、クラスコード作成部
１１６は、ステップＳ９１乃至Ｓ９７の処理によって求
められたＡＣパワークラスコード、ブロック平坦性クラ
スコード、およびブロック間連続性クラスコードから、
図３５に示した１０ビットのクラスコードを作成し、処
理を終了する。

【０４７７】なお、図３６のフローチャートに示した処
理は、新たな画素が注目画素とされるごとに行われる。
但し、上述したように、ブロック平坦生クラスコードと
ブロック間連続性クラスコードは、同一ブロックの画素
については同一となるため、同一ブロックを構成する画
素については、最初の画素に対してのみ、ステップＳ９
１乃至９８の処理を行い、他の画素に対しては、ステッ
プＳ９１とＳ９８の処理だけを行い、ブロック平坦生ク
ラスコードとブロック間連続性クラスコードは、最初の
画素に対して得られたものを流用するようにすることが
可能である。

【０４７８】ここで、本実施の形態では、図３５に示し
たように、クラスコードを１０ビットとしているため、
そのような１０ビットのクラスコードによれば、１０２
４（＝２¹⁰）通りのクラスを表すことができる。

【０４７９】しかしながら、図３６に示したクラス分類
処理では、ブロック平坦性クラスコードが１で、ブロッ
ク間連続性クラスコードが０となるケースは、存在しな
い。即ち、ここでは、ブロックの境界部分が平坦である
のに、連続性がないということはありえないとして、ブ
ロック平坦性クラスコードが１となる場合には、ブロッ
ク間連続性クラスコードも、必ず１とするようにしてい
る。

【０４８０】従って、例えば、ブロックの上の境界につ
いてのブロック平坦性クラスコードとブロック間連続性
クラスコードとの組（ｂ１，ｂ２）は、（０，０），
（０，１），（１，１）の３通りしか取り得ない。その
結果、ブロックの上下左右の４つの境界すべてについて
の４ビットのブロック平坦性クラスコード、および４ビ
ットのブロック間連続性クラスコードで表現されるクラ
ス数は、８１（＝３⁴）通りとなる。

【０４８１】また、２ビットのＡＣパワークラスコード
で表現されるクラス数は、４（＝２ ²）通りである。

【０４８２】従って、ここでは、図３５の１０ビットの
クラスコードで表現されるクラス数は、３２４（＝８１
×４）通りとなる。

【０４８３】ここで、上述の場合において、ブロック平
坦性クラスコードとブロック間連続性クラスコードとの
組（ｂ１，ｂ２）が、（０，０）となるケースは、注目
ブロックとそれに隣接する隣接ブロックにおける画像ど
うしにつながりがなく、注目ブロックと隣接ブロックと
が、いわば「無関係」であることを表す。また、（ｂ
１，ｂ２）が、（０，１）となるケースは、注目ブロッ
クと隣接ブロックにおける画像が、平坦ではないが、
「連続」していることを表す。さらに、（ｂ１，ｂ２）
が、（１，１）となるケースは、注目ブロックと隣接ブ
ロックにおける画像が、「平坦」であること（従って、
「連続」でもある）ことを表す。

【０４８４】なお、上述の場合には、ブロック平坦性ク
ラスコードとブロック間連続性クラスコードとの組（ｂ
１，ｂ２）を、３通りとして、１０ビットのクラスコー
ドにより、３２４通りのクラスを表現するようにした
が、（ｂ１，ｂ２）は、３通りではなく、（０，０），
（０，１），（１，０）、（１，１）の４通りを取り得
るようにして、１０ビットのクラスコードにより、１０
２４（＝２¹⁰）通りのクラスを表現することができるよ
うにすることも可能である。

【０４８５】即ち、上述の場合には、式（１４）または
（１５）のいずれか一方のみが満たされれば、平坦性条
件が満たされることとして、（ｂ１，ｂ２）に（１，
１）を割り当てるようにしたが、例えば、式（１４）と
（１５）の両方が満たされる場合と、式（１４）だけが
満たされる場合とを区別するようにし、式（１４）と
（１５）の両方が満たされる場合には、（ｂ１，ｂ２）
に、（１，１）を割り当てるとともに、式（１４）だけ
が満たされる場合には、（ｂ１，ｂ２）に、（１，０）
を割り当てるようにすることが可能である。

【０４８６】この場合、（ｂ１，ｂ２）が、（１，１）
となるケースは、注目ブロックと隣接ブロックにおける
画像が、「注目ブロック側と隣接ブロック側の両方で平
坦」であることを表し、（ｂ１，ｂ２）が、（１，０）
となるケースは、注目ブロックと隣接ブロックにおける
画像が、「隣接ブロック側だけで平坦」であることを表
す。

【０４８７】また、図３６のフローチャートでは、境界
エッジ条件が満たされるケースであっても、平坦性条件
と連続性条件のいずれもが満たされないケースであって
も、（ｂ１，ｂ２）を、（０，０）とするようにした
が、境界エッジ条件が満たされるケースか、平坦性条件
と連続性条件のいずれもが満たされないケースのうちの
いずれか一方を、（１，０）に割り当てることにより、
ブロック平坦性クラスコードとブロック間連続性クラス
コードとの組（ｂ１，ｂ２）が、４通りを取り得るよう
にすることも可能である。

【０４８８】さらに、式（１４）と（１５）の両方が満
たされるケースと、式（１４）だけが満たされるケース
とを区別するとともに、境界エッジ条件が満たされるケ
ースと、平坦性条件と連続性条件のいずれもが満たされ
ないケースとを区別するようにすることも可能である。
但し、この場合、注目ブロックと隣接ブロックにおける
画像が「連続」しているケース、および注目ブロックと
隣接ブロックにおける画像が「平坦」であるケースとあ
わせると、注目ブロックの１つ（１辺）の境界につい
て、５通りの場合分けが必要となる。従って、この場
合、注目ブロックの境界によるクラスの場合の数は、６
２５通りとなり、その結果、２ビットのＡＣパワークラ
スコードも考慮すると、全クラス数は、２５００とな
る。

【０４８９】次に、図３７は、図２のクラスコード生成
部３７の構成例を示している。

【０４９０】クラスコード生成部３７は、色差信号のブ
ロックを対象に、そのブロックを構成する画素をクラス
分類するようになっている。

【０４９１】従って、クラスコード生成部３７は、輝度
クラスコードを出力するクラスコード生成部３６と同様
に構成することも可能である。

【０４９２】しかしながら、色差信号のブロックは、一
般に、輝度信号のブロックに比較して、画像のアクティ
ビティが低く、１次元ＤＣＴ係数の交流成分の値が小さ
くなるため、クラスコード生成部３６と同一の処理を行
うと、効果的なクラス分類が困難な場合がある。

【０４９３】そこで、ここでは、クラスコード生成部３
７は、クラスコード生成部３６で得られた輝度クラスコ
ードをも用いて、色差信号の画素のクラス分類を行うよ
うになっている。

【０４９４】即ち、図３７の実施の形態において、比較
部１２１および１２２には、ＡＣパワー算出部３３（図
２）が出力するＡＣパワーが供給される。

【０４９５】比較部１２１は、図３４の比較部１１１と
同様に、ＡＣパワー算出部３３（図２）が出力するＡＣ
パワーのうちの、注目画素の行の水平１次元ＤＣＴ係数
から求められた水平方向のＡＣパワーを、所定の閾値Ａ
と比較し、その比較結果を、クラスコード作成部１２３
に供給する。

【０４９６】比較部１２２は、図３３の比較部１１２と
同様に、ＡＣパワー算出部３３（図２）が出力するＡＣ
パワーのうちの、注目画素の列の垂直１次元ＤＣＴ係数
から求められた垂直方向のＡＣパワーを、所定の閾値Ａ
と比較し、その比較結果を、クラスコード作成部１２３
に供給する。

【０４９７】なお、クラスコード生成部３７では、色差
信号のブロックを対象に処理が行われるが、上述したよ
うに、色差信号については、その１次元ＤＣＴ係数の交
流成分の値が小さくなることから、ＡＣパワーも小さく
なる。このため、比較部１２１と１２２で用いられる閾
値Ａは、図３３の比較部１１１と１１２で用いられるも
のよりも小さい値のものを用いるのが望ましい。

【０４９８】クラスコード作成部１２３には、比較部１
２１および１２２の出力の他、クラスコード作成部３６
が出力する図３５の輝度クラスコードも供給されるよう
になっており、クラスコード作成部１２３は、これらの
比較部１２１および１２２の出力、並びに輝度クラスコ
ードに基づき、注目画素をクラス分類し、そのクラスを
表すクラスコード（色差クラスコード）を作成（生成）
して出力する。

【０４９９】ここで、クラスコード作成部１２３は、図
３５に示した輝度クラスコードと同一フォーマットの色
差クラスコードを作成するようになっている。

【０５００】即ち、クラスコード作成部１２３は、注目
画素のＡＣパワークラスコードについては、比較部１２
１と１２２の出力に基づき、図３３のクラスコード作成
部１１６と同様にして作成する。

【０５０１】また、クラスコード作成部１２３は、注目
画素のブロック平坦性クラスコードと、ブロック間連続
性クラスコードについては、その注目画素を含む色差信
号のブロック（注目ブロック）と空間的に同一位置にあ
る輝度信号のブロックにおける画素の輝度クラスコード
を用いて作成する。

【０５０２】即ち、例えば、いま、画像データがＹＵＶ
形式で表されるものとし、その画像フォーマットが、
４：２：２であるとすると、図３８（Ａ）に示すよう
に、左右に並ぶ２つの輝度ブロックＹ１およびＹ２と、
１つの色差ブロックＵと、１つの色差ブロックＶとが対
応する。

【０５０３】そして、この場合、色差ブロックＵの上の
境界は、左の輝度ブロックＹ１の上の境界ａと右の輝度
ブロックＹ２の上の境界ｂに、色差ブロックＵの下の境
界は、輝度ブロックＹ１の下の境界ｅと輝度ブロックＹ
２の下の境界ｆに、色差ブロックＵの左の境界は、輝度
ブロックＹ１の左の境界ｃに、色差ブロックＵの右の境
界は、輝度ブロックＹ２の右の境界ｄに、それぞれ対応
する。

【０５０４】そこで、図３８（Ａ）に点線で示してある
ように、色差ブロックＵを、横×縦が４×８画素の、左
右に隣接する２つの小ブロックＵｌとＵｒに分割する
と、図３８（Ｂ）に示すように、左の小ブロックＵｌの
上の境界は、輝度ブロックＹ１の上の境界ａに、小ブロ
ックＵｌの下の境界は、輝度ブロックＹ１の下の境界ｅ
に、小ブロックＵｌの左の境界は、輝度ブロックＹ１の
左の境界ｃに、小ブロックＵｌの右の境界は、輝度ブロ
ックＹ２の右の境界ｄに、それぞれ対応する。また、右
の小ブロックＵｒの上の境界は、輝度ブロックＹ２の上
の境界ｂに、小ブロックＵｒの下の境界は、輝度ブロッ
クＹ２の下の境界ｆに、小ブロックＵｒの左の境界は、
輝度ブロックＹ１の左の境界ｃに、小ブロックＵｒの右
の境界は、輝度ブロックＹ２の右の境界ｄに、それぞれ
対応する。

【０５０５】ここで、図３５のクラスコードにおいて、
ブロックの上下左右の境界について求められたブロック
平坦性クラスコードを、以下、適宜、上境界平坦性コー
ド、下境界平坦性コード、左境界平坦性コード、右境界
平坦性コードと、それぞれいう。また、ブロックの上下
左右の境界について求められたブロック間連続性クラス
コードを、以下、適宜、上境界連続性コード、下境界連
続性コード、左境界連続性コード、右境界連続性コード
と、それぞれいう。さらに、以下、適宜、上境界平坦性
コードと上境界連続性コードをまとめて、上境界コード
と、下境界平坦性コードと下境界連続性コードをまとめ
て、下境界コードと、左境界平坦性コードと左境界連続
性コードをまとめて、左境界コードと、右境界平坦性コ
ードと右境界連続性コードをまとめて、右境界コード
と、それぞれいう。また、以下、適宜、上境界コード、
下境界コード、左境界コード、および右境界コードをま
とめて、境界コードという。

【０５０６】輝度ブロックＹ１およびＹ２の境界と、小
ブロックＵｌやＵｒの境界との間には、上述のような対
応関係があることから、クラスコード作成部１２３は、
小ブロックＵｌとＵｒそれぞれの画素の色差クラスコー
ドにおける境界コードとして、輝度ブロックＹ１および
Ｙ２の対応する境界について求められたものを、そのま
ま用いるようになっている。

【０５０７】即ち、クラスコード作成部１２３は、小ブ
ロックＵｌの画素については、その色差クラスコードに
おける上境界コード、下境界コード、左境界コード、右
境界コードとして、それぞれ、輝度ブロックＹ１の上境
界コード、輝度ブロックＹ１の下境界コード、輝度ブロ
ックＹ１の左境界コード、輝度ブロックＹ２の右境界を
セットする。

【０５０８】また、クラスコード作成部１２３は、小ブ
ロックＵｒの画素については、その色差クラスコードに
おける上境界コード、下境界コード、左境界コード、右
境界コードとして、それぞれ、輝度ブロックＹ２の上境
界コード、輝度ブロックＹ２の下境界コード、輝度ブロ
ックＹ１の左境界コード、輝度ブロックＹ２の右境界コ
ードをセットする。

【０５０９】色差ブロックＶと、輝度ブロックＹ１およ
びＹ２との対応関係も、色差ブロックＵと、輝度ブロッ
クＹ１およびＹ２との対応関係と同一であり、クラスコ
ード作成部１２３は、色差ブロックＵにおける場合と同
様に、色差ブロックＶを、横×縦が４×８画素の２つの
小ブロックＶｌとＶｒに分割し、小ブロックＶｌとＶｒ
の色差クラスコードにおける境界コードとして、輝度ブ
ロックＹ１およびＹ２の境界コードを、色差ブロックＵ
における場合と同様にしてセットする。

【０５１０】その結果、クラスコード作成部１２３で
は、小ブロックＵｌ，Ｕｒ，Ｖｌ，Ｖｒの画素につい
て、次のような色差クラスコードが作成される。

【０５１１】即ち、例えば、いま、図３９（Ａ）に示す
ように、色差ブロックＵ，Ｖに対応する２つの輝度ブロ
ックＹ１またはＹ２の画素について得られている１０ビ
ットの輝度クラスコードの第ｉビット（最下位ビットか
らｉビット目）を、ＢＬ＃ｉ−１またはＢＲ＃ｉ−１
と、それぞれ表すこととすると、小ブロックＵｌ，Ｕ
ｒ，Ｖｌ，Ｖｒの画素については、図３９（Ｂ）に示す
ようなクラスコードが作成される。

【０５１２】即ち、小ブロックＵｌ，Ｖｌの画素の色差
クラスコードの第１乃至第８ビットには、ＢＲ０，ＢＬ
１，ＢＬ２，ＢＬ３，ＢＲ４，ＢＬ５，ＢＬ６，ＢＬ７
がそれぞれ配置される。また、小ブロックＵｒ，Ｖｒの
画素の色差クラスコードの第１乃至第８ビットには、Ｂ
Ｒ０，ＢＬ１，ＢＲ２，ＢＲ３，ＢＲ４，ＢＬ５，ＢＲ
６，ＢＲ７がそれぞれ配置される。

【０５１３】ここで、色差クラスコードの第９ビットと
第１０ビットは、輝度クラスコードにおける場合と同様
に、注目画素のＡＣパワーに基づいて決定される。

【０５１４】次に、画像フォーマットが、例えば、４：
２：０である場合には、図４０（Ａ）に示すように、左
上、左下、右上、右下の位置関係にある４つの隣接する
輝度ブロックＹ１，Ｙ２，Ｙ３，Ｙ４と、１つの色差ブ
ロックＵと、１つの色差ブロックＶとが対応する。

【０５１５】そして、この場合、図４０（Ａ）に点線で
示してあるように、色差ブロックＵを、横×縦が４×４
画素の左上、左下、右上、右下の位置関係にある４つの
小ブロックＵｕｌ，Ｕｌｌ，Ｕｕｒ，Ｕｌｒに分割する
と、図４０（Ｂ）に示すように、小ブロックＵｕｌの上
の境界は、輝度ブロックＹ１の上の境界ａに、小ブロッ
クＵｕｌの下の境界は、輝度ブロックＹ３の下の境界ｇ
に、小ブロックＵｕｌの左の境界は、輝度ブロックＹ１
の左の境界ｃに、小ブロックＵｕｌの右の境界は、輝度
ブロックＹ２の右の境界ｄに、それぞれ対応する。ま
た、小ブロックＵｌｌの上の境界は、輝度ブロックＹ１
の上の境界ａに、小ブロックＵｌｌの下の境界は、輝度
ブロックＹ３の下の境界ｇに、小ブロックＵｌｌの左の
境界は、輝度ブロックＹ３の左の境界ｅに、小ブロック
Ｕｌｌの右の境界は、輝度ブロックＹ４の右の境界ｆ
に、それぞれ対応する。さらに、小ブロックＵｕｒの上
の境界は、輝度ブロックＹ２の上の境界ｂに、小ブロッ
クＵｕｒの下の境界は、輝度ブロックＹ４の下の境界ｈ
に、小ブロックＵｕｒの左の境界は、輝度ブロックＹ１
の左の境界ｃに、小ブロックＵｕｒの右の境界は、輝度
ブロックＹ２の右の境界ｄに、それぞれ対応する。さら
に、小ブロックＵｌｒの上の境界は、輝度ブロックＹ２
の上の境界ｂに、小ブロックＵｌｒの下の境界は、輝度
ブロックＹ４の下の境界ｈに、小ブロックＵｌｒの左の
境界は、輝度ブロックＹ３の左の境界ｅに、小ブロック
Ｕｌｒの右の境界は、輝度ブロックＹ４の右の境界ｆ
に、それぞれ対応する。

【０５１６】輝度ブロックＹ１乃至Ｙ４の境界と、小ブ
ロックＵｕｌや、Ｕｌｌ，Ｕｕｒ，Ｕｌｒの境界との間
には、上述のような対応関係があることから、クラスコ
ード作成部１２３は、画像フォーマットが４：２：２で
ある場合と同様に、小ブロックＵｕｌ，Ｕｌｌ，Ｕｕ
ｒ，Ｕｌｒそれぞれの画素の色差クラスコードにおける
境界コードとして、輝度ブロックＹ１乃至Ｙ４の対応す
る境界について求められたものを、そのまま用いるよう
になっている。

【０５１７】即ち、クラスコード作成部１２３は、小ブ
ロックＵｕｌの画素については、その色差クラスコード
における上境界コード、下境界コード、左境界コード、
右境界コードとして、それぞれ、輝度ブロックＹ１の上
境界コード、輝度ブロックＹ３の下境界コード、輝度ブ
ロックＹ１の左境界コード、輝度ブロックＹ２の右境界
をセットする。

【０５１８】また、クラスコード作成部１２３は、小ブ
ロックＵｌｌの画素については、その色差クラスコード
における上境界コード、下境界コード、左境界コード、
右境界コードとして、それぞれ、輝度ブロックＹ１の上
境界コード、輝度ブロックＹ３の下境界コード、輝度ブ
ロックＹ３の左境界コード、輝度ブロックＹ４の右境界
をセットする。

【０５１９】さらに、クラスコード作成部１２３は、小
ブロックＵｕｒの画素については、その色差クラスコー
ドにおける上境界コード、下境界コード、左境界コー
ド、右境界コードとして、それぞれ、輝度ブロックＹ２
の上境界コード、輝度ブロックＹ４の下境界コード、輝
度ブロックＹ１の左境界コード、輝度ブロックＹ２の右
境界コードをセットする。

【０５２０】また、クラスコード作成部１２３は、小ブ
ロックＵｌｒの画素については、その色差クラスコード
における上境界コード、下境界コード、左境界コード、
右境界コードとして、それぞれ、輝度ブロックＹ２の上
境界コード、輝度ブロックＹ４の下境界コード、輝度ブ
ロックＹ３の左境界コード、輝度ブロックＹ４の右境界
コードをセットする。

【０５２１】色差ブロックＶと、輝度ブロックＹ１乃至
Ｙ４との対応関係も、色差ブロックＵと、輝度ブロック
Ｙ１乃至Ｙ４との対応関係と同一であり、クラスコード
作成部１２３は、色差ブロックＵにおける場合と同様
に、色差ブロックＶを、横×縦が４×４画素の４つの小
ブロックＶｕｌ，Ｖｌｌ，Ｖｕｒ，Ｖｌｒに分割し、小
ブロックＶｕｌ，Ｖｌｌ，Ｖｕｒ，Ｖｌｒの色差クラス
コードにおける境界コードとして、輝度ブロックＹ１乃
至Ｙ４の境界コードを、色差ブロックＵにおける場合と
同様にしてセットする。

【０５２２】その結果、クラスコード作成部１２３で
は、小ブロックＵｕｌ，Ｕｌｌ，Ｕｕｒ，Ｕｌｒ、およ
びＶｕｌ，Ｖｌｌ，Ｖｕｒ，Ｖｌｒの画素について、次
のような色差クラスコードが作成される。

【０５２３】即ち、例えば、いま、図４１（Ａ）に示す
ように、色差ブロックＵ，Ｖに対応する２つの輝度ブロ
ックＹ１乃至Ｙ４の画素について得られている１０ビッ
トの輝度クラスコードの第ｉビットを、ＢＵＬ＃ｉ−
１，ＢＵＲ＃ｉ−１，ＢＤＬ＃ｉ−１，ＢＤＲ＃ｉ−１
と、それぞれ表すこととすると、小ブロックＵｕｌ，Ｕ
ｌｌ，Ｕｕｒ，Ｕｌｒ、およびＶｕｌ，Ｖｌｌ，Ｖｕ
ｒ，Ｖｌｒの画素については、図４１（Ｂ）に示すよう
なクラスコードが作成される。

【０５２４】即ち、小ブロックＵｕｌ，Ｖｕｌの画素の
色差クラスコードの第１乃至第８ビットには、ＢＵＲ
０，ＢＵＬ１，ＢＤＬ２，ＢＵＬ３，ＢＵＲ４，ＢＵＬ
５，ＢＤＬ６，ＢＵＬ７がそれぞれ配置される。また、
小ブロックＵｌｌ，Ｖｌｌの画素の色差クラスコードの
第１乃至第８ビットには、ＢＤＲ０，ＢＤＬ１，ＢＤＬ
２，ＢＵＬ３，ＢＤＲ４，ＢＤＬ５，ＢＤＬ６，ＢＵＬ
７がそれぞれ配置される。さらに、小ブロックＵｕｒ，
Ｖｕｒの画素の色差クラスコードの第１乃至第８ビット
には、ＢＵＲ０，ＢＵＬ１，ＢＤＲ２，ＢＵＲ３，ＢＵ
Ｒ４，ＢＵＬ５，ＢＤＲ６，ＢＵＲ７がそれぞれ配置さ
れる。また、小ブロックＵｌｒ，Ｖｌｒの画素の色差ク
ラスコードの第１乃至第８ビットには、ＢＤＲ０，ＢＤ
Ｌ１，ＢＤＲ２，ＢＵＲ３，ＢＤＲ４，ＢＤＬ５，ＢＤ
Ｒ６，ＢＵＲ７がそれぞれ配置される。

【０５２５】ここで、色差クラスコードの第９ビットと
第１０ビットは、輝度クラスコードにおける場合と同様
に、注目画素のＡＣパワーに基づいて決定される。

【０５２６】なお、ここでは、画像データが、Ｙ，Ｕ，
Ｖ形式で表されるものとして説明したが、画像データ
が、その他、例えば、Ｙ，Ｃｂ，Ｃｒ形式で表される場
合も、同様のクラス分類を行うことが可能である。

【０５２７】さらに、ここでは、画像フォーマットが、
４：２：２の場合と、４：２：０の場合について説明し
たが、画像フォーマットが、４：４：４の場合（例え
ば、画像データが、Ｒ(red)，Ｇ(green)，Ｂ(blue)形式
の場合）は、各信号について、同一のクラス分類を行っ
ても良いし、ある信号について行ったクラス分類により
得られたクラスコードを、そのまま、他の信号に用いる
ようにしても良い。

【０５２８】次に、図４２は、図２の適応処理部５１の
構成例を示している。

【０５２９】予測タップ生成部１３１は、バッファメモ
リ１２（図２）から２次元ＤＣＴ係数を読み出すととも
に、隣接タップデータ生成部３５が出力する１次元ＤＣ
Ｔ係数を受信することにより、注目画素を予測する式
（１）の線形１次予測演算を行うための予測タップを生
成し、積和演算部１３３に供給する。

【０５３０】即ち、予測タップ生成部１３１は、例え
ば、バッファメモリ１２に記憶された注目ブロックの２
次元ＤＣＴ係数すべてを、予測タップとする。この場
合、予測タップは、６４（＝８×８）タップで構成され
ることになる。

【０５３１】また、予測タップ生成部１３１は、例え
ば、バッファメモリ１２に記憶された注目ブロックの２
次元ＤＣＴ係数すべてと、その注目ブロックの上下左右
それぞれに隣接する４つのブロックの２次元ＤＣＴ係数
すべてとを、予測タップとする。この場合、予測タップ
は、３２０（＝８×８×５）タップで構成されることに
なる。

【０５３２】さらに、予測タップ生成部１３１は、例え
ば、バッファメモリ１２に記憶された注目ブロックの２
次元ＤＣＴ係数すべてと、隣接タップデータ生成部３５
から供給される、注目ブロックについての上隣接１次元
ＤＣＴ係数、下隣接１次元ＤＣＴ係数、左隣接１次元Ｄ
ＣＴ係数、および右隣接１次元ＤＣＴ係数を、予測タッ
プとする。この場合、予測タップは、９６（＝８×８＋
８×４）タップで構成されることになる。

【０５３３】ここで、予測タップは、その他、注目ブロ
ックの１次元ＤＣＴ係数等を含めて構成することも可能
である。

【０５３４】なお、以下では、説明を簡単にするため、
予測タップは、注目ブロックのすべての２次元ＤＣＴ係
数（６４の２次元ＤＣＴ係数）で構成されるものとす
る。

【０５３５】タップ係数バッファ１３２は、タップ係数
記憶部１４（図２）から供給されるタップ係数を一時記
憶する。

【０５３６】積和演算部１３１は、予測タップ生成部１
３１から供給される予測タップと、タップ係数バッファ
１３２に記憶されたタップ係数とを用いて、式（１）の
線形１次予測演算を行い、注目画素の復号値を出力す
る。

【０５３７】次に、図４３のフローチャートを参照し
て、図４２の適応処理部５１の処理（適応処理）につい
て説明する。

【０５３８】まず最初に、ステップＳ１０１において、
予測タップ生成部１３１は、注目ブロックの各画素を予
測する式（１）の線形１次予測演算を行うための予測タ
ップを、例えば、バッファメモリ１２に記憶された注目
ブロックのすべての２次元ＤＣＴ係数を用いて生成し、
積和演算部１３３に供給して、ステップＳ１０２に進
む。

【０５３９】ステップＳ１０２では、積和演算部１３３
が、画素位置モードを表す変数ｉを、例えば１に初期化
する。

【０５４０】ここで、ブロックの２次元ＤＣＴ係数を逆
ＤＣＴ変換する場合は、そのブロックにおける各画素の
空間上の位置を表す位置情報が、式（１１）に示した変
換行列Ｃのコンポーネントｃ_ijを定義するｃｏｓ（（２
ｊ＋１）×ｉ×π／１６）の位相という形で考慮され
る。

【０５４１】一方、適応処理では、予測タップを構成す
るＤＣＴ係数と、タップ係数とを用いた式（１）の線形
１次予測演算が行われるが、この線形１次予測演算で
は、復号しようとしている画素（注目画素）の位置情報
が考慮されない。そこで、注目画素の位置情報を考慮し
た線形１次予測演算を行うために、ここでは、注目画素
の位置によって異なるタップ係数が用いられるようにな
っている。即ち、同一のクラスに分類される画素であっ
ても、ブロックの位置が異なる場合には、異なるタップ
係数を用いて、線形１次予測演算が行われるようになっ
ている。この場合、線形１次予測演算に用いるタップ係
数が、ブロックにおける注目画素の位置によって切り替
えられることとなるが、この注目画素の位置を表す情報
が、画素位置モードである。

【０５４２】いまの場合、ブロックは８×８画素で構成
されるから、６４カ所の位置が存在し、ここでは、例え
ば、ラスタスキャン順で、ｉ番目の位置を、画素位置モ
ード＃ｉと表すこととする。

【０５４３】その後、画素位置モード＃ｉの画素が注目
画素とされ、クラス分類部１３（図２）において、その
注目画素についてクラス分類が行われることにより、タ
ップ係数記憶部１４から、注目画素のクラスコードに対
応するタップ係数が供給されてくるのを待って、ステッ
プＳ１０３に進む。

【０５４４】ステップＳ１０３では、タップ係数記憶部
１４からのタップ係数が、タップ係数バッファ１３２に
供給されて記憶される。

【０５４５】ここで、上述のように、同一のクラスに分
類される画素であっても、ブロックにおける位置（画素
位置モード）が異なる場合には、異なるタップ係数が用
いられる。従って、タップ係数記憶部１４からは、注目
画素のクラスのタップ係数として、画素位置モードの総
数である６４セットのタップ係数が供給されるようにな
っており、タップ係数バッファ１３２は、そのような６
４セットのタップ係数を記憶する。

【０５４６】その後、ステップＳ１０４に進み、積和演
算部１３３は、画素位置モード＃ｉに対応するタップ係
数のセット（式（１）におけるｗ１，ｗ２，・・・）
を、タップ係数バッファ１３２から読み出し、ステップ
Ｓ１０５に進む。

【０５４７】ステップＳ１０５では、積和演算部１３３
は、予測タップ生成部１３１からの予測タップと、タッ
プ係数バッファ１３２から読み出したタップ係数とを用
いて、式（１）の線形１次予測演算を行い、これによ
り、注目画素の画素値を復号する。

【０５４８】そして、ステップＳ１０６に進み、積和演
算部１３３は、画素位置モード＃ｉが、注目ブロックの
画素数である６４（＝８×８）に等しいかどうかを判定
する。

【０５４９】ステップＳ１０６において、画素位置モー
ド＃ｉが６４に等しくないと判定された場合、ステップ
Ｓ１０７に進み、積和演算部１３３は、画素位置モード
＃ｉを１だけインクリメントして、ステップＳ１０３に
戻り、以下、同様の処理が繰り返される。

【０５５０】また、ステップＳ１０６において、画素位
置モード＃ｉが６４に等しいと判定された場合、即ち、
注目ブロックのすべての画素値を復号した場合、処理を
終了する。

【０５５１】なお、適応処理部５１では、バッファメモ
リ１２（図２）に記憶されるブロックを、順次、注目ブ
ロックとして、図４３の適応処理を繰り返し行う。

【０５５２】また、積和演算部１３３は、１フレーム
（またはフィールド）の復号画像を得るまでは、復号し
たブロックを一時記憶しており、１フレームの復号画像
が得られると、その１フレームの復号画像を出力する。

【０５５３】ここで、ＭＰＥＧ符号化では、８ビットの
画像データを符号化する場合、画素値および２次元ＤＣ
Ｔ係数を、０を中心とした正側と負側に均等に分布させ
るため、原画像の画素値から１２８（＝２⁷）を減算し
て得られる画素値が符号化される。

【０５５４】このため、積和演算部１３３では、復号画
像として、各画素値のレベルが、１２８だけ低いものが
得られる。そこで、積和演算部１３３は、復号画像の各
画素値に、１２８を加算して出力するようになってい
る。

【０５５５】次に、図２の係数メモリ４３および４４に
記憶させるタップ係数の学習について説明する。

【０５５６】ＭＰＥＧでは、予測方式の違いにより、Ｉ
ピクチャ、Ｐピクチャ、Ｂピクチャの３つのピクチャタ
イプがあるので、タップ係数の学習も、ピクチャタイプ
ごとに行われる。

【０５５７】図４４は、Ｉピクチャ用のタップ係数を学
習する場合の学習装置の一実施の形態の構成例を示して
いる。

【０５５８】教師データストレージ１４１は、学習用の
画像データを、教師データとして記憶している。

【０５５９】生徒データ生成部１４２は、ＭＰＥＧエン
コーダ１５１、分離部１５２、およびＤＣＴ係数抽出／
逆量子化部１５３から構成され、教師データストレージ
１４１に記憶された学習用の画像データ（ここでは、教
師データでもある）から、生徒データを生成するように
なっている。

【０５６０】即ち、ＭＰＥＧエンコーダ１５１は、教師
データストレージ１４１に記憶された学習用の画像デー
タを読み出して、ＭＰＥＧ符号化し、その結果得られる
符号化データを、分離部１５２に供給する。分離部１５
２とＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１５３は、図２の分離
部１とＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２とそれぞれ同様に
構成されており、符号化データから、量子化ＤＣＴ係数
を分離、抽出し、逆量子化して出力する。

【０５６１】なお、分離部１５２およびＤＣＴ係数抽出
／逆量子化部１５３は、Ｉピクチャのみを対象に処理を
行う。また、分離部１５２は、符号化データから、量子
化ＤＣＴ係数の他、量子化スケールやＤＣＴタイプ等
の、いわゆるサイドインフォメーションも、必要に応じ
て分離する。

【０５６２】従って、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１５
３からは、Ｉピクチャについての２次元ＤＣＴ係数の
他、ＤＣＴタイプ等の必要なサイドインフォメーション
も出力される。

【０５６３】ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１５３が出力
するＩピクチャについての２次元ＤＣＴ係数やＤＣＴタ
イプ等は、生徒データとして、生徒データストレージ１
４３に供給される。

【０５６４】生徒データストレージ１４３は、生徒デー
タ生成部１４２（のＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１５
３）から供給される生徒データを記憶する。

【０５６５】予測タップ生成部１４４は、生徒データス
トレージ１４３に記憶された生徒データから、図４２の
予測タップ生成部１３１が生成するのと同一の予測タッ
プを生成し、足し込み部１４６に供給する。従って、こ
こでは、予測タップ生成部１４４は、生徒データストレ
ージ１４３に記憶された生徒データとしての２次元ＤＣ
Ｔ係数のうち、注目ブロックを構成するすべての２次元
ＤＣＴ係数を読み出して、予測タップとする。

【０５６６】なお、図４２の予測タップ生成部１３１が
注目ブロックの２次元ＤＣＴ係数の他、注目ブロックに
隣接するブロックの２次元ＤＣＴ係数や１次元ＤＣＴ係
数、注目ブロックの１次元ＤＣＴ係数等を用いて予測タ
ップを生成する場合には、予測タップ生成部１４４も、
注目ブロックの２次元ＤＣＴ係数の他、注目ブロックに
隣接する２次元ＤＣＴ係数や１次元ＤＣＴ係数、注目ブ
ロックの１次元ＤＣＴ係数等を用いて、予測タップ生成
部１３１が生成するのと同一構造の予測タップを生成す
る。この場合、予測タップ生成部１４４では、注目ブロ
ックに隣接するブロックの２次元ＤＣＴ係数は、生徒デ
ータストレージ１４３から取得され、注目ブロックとそ
れに隣接するブロックの１次元ＤＣＴ係数は、後述する
クラス分類部１４５から取得される。

【０５６７】クラス分類部１４５は、図２のクラス分類
部１３と同様にされ、生徒データストレージ１４３に記
憶された生徒データとしての２次元ＤＣＴ係数から１次
元ＤＣＴ係数を求め、さらに、その１次元ＤＣＴ係数に
基づき、図２のクラス分類部１３における場合と同様に
して、注目ブロックにおける注目画素をクラス分類し、
注目画素のクラスを表すクラスコードを、足し込み部１
４６に出力する。

【０５６８】足し込み部１４６は、生徒データストレー
ジ１４３に記憶された生徒データとしての２次元ＤＣＴ
係数のブロックを、順次、注目ブロックとし、さらに、
注目ブロックの画素を、順次、注目画素として、予測タ
ップ生成部１４４からの生徒データとしての予測タップ
（を構成する２次元ＤＣＴ係数）、および注目画素を対
象とした足し込みを行う。

【０５６９】即ち、足し込み部１４６は、クラス分類部
１４５から供給されるクラスコードに対応するクラスご
とに、予測タップ（生徒データ）を用い、式（８）の行
列Ａにおける各コンポーネントとなっている、生徒デー
タどうしの乗算（ｘ_inｘ_im）と、サメーション（Σ）に
相当する演算を行う。

【０５７０】さらに、足し込み部１４６は、やはり、ク
ラス分類部１４５から供給されるクラスコードに対応す
るクラスごとに、予測タップ（生徒データ）および注目
画素（教師データ）を用い、式（８）のベクトルｖにお
ける各コンポーネントとなっている、生徒データと教師
データの乗算（ｘ_inｙ_i）と、サメーション（Σ）に相
当する演算を行う。

【０５７１】なお、足し込み部１４６における、上述の
ような足し込みは、各クラスについて、注目画素に対す
る画素位置モードごとに行われる。

【０５７２】足し込み部１４６は、以上の足し込みを、
生徒データストレージ１４３に記憶されている生徒デー
タとしての２次元ＤＣＴ係数を構成するブロックすべて
を注目ブロックとして行い、これにより、各クラスにつ
いて、画素位置モードごとに、式（８）に示した正規方
程式をたてる。

【０５７３】タップ係数演算部１４７は、足し込み部１
４６においてクラスごとに、かつ、画素位置モードごと
に生成された各正規方程式を解くことにより、クラスご
とに、６４の画素位置モードに対応した６４セットのタ
ップ係数を求める。

【０５７４】なお、学習用の画像として用意する画像の
枚数や、その画像の内容等によっては、足し込み部１４
６において、タップ係数を求めるのに必要な数の正規方
程式が得られないクラス、さらには画素位置モードが生
じる場合があり得るが、タップ係数演算部１４７は、そ
のようなクラスや画素位置モードについては、例えば、
デフォルトのタップ係数を出力する。

【０５７５】次に、図４５のフローチャートを参照し
て、図４４の学習装置の処理（学習処理）について説明
する。

【０５７６】まず最初に、ステップＳ１１１において、
生徒データ生成部１４２は、上述したように、教師デー
タストレージ１４１に記憶された学習用の画像データか
ら、Ｉピクチャについての生徒データを生成し、生徒デ
ータストレージ１４３に供給して記憶させる。

【０５７７】そして、ステップＳ１１２に進み、足し込
み部１４６は、生徒データストレージ１４３に記憶され
た生徒データとしての２次元ＤＣＴ係数のブロックのう
ち、まだ、注目ブロックとしていないものの１つを選択
して、注目ブロックとし、ステップＳ１１３に進む。

【０５７８】ステップＳ１１３では、予測タップ生成部
１４４が、注目ブロックの生徒データとしての２次元Ｄ
ＣＴ係数すべてを、生徒データストレージ１４３から読
み出すことにより、予測タップを生成し、ステップＳ１
１４に進む。

【０５７９】ステップＳ１１４では、足し込み部１４６
が、画素位置モードを表す変数ｉを、例えば１に初期化
し、ステップＳ１１５に進む。ステップＳ１１５では、
クラス分類部１４５が、注目ブロックにおける画素位置
モード＃ｉが表す位置の画素を注目画素として、図２の
クラス分類部１３における場合と同様にして、注目画素
のクラス分類を行い、その結果得られるクラスコード
を、足し込み部１４６に出力する。

【０５８０】足し込み部１４６は、ステップＳ１１６に
おいて、教師データストレージ１４１から、注目画素と
なっている教師データ（画素値）を読み出し、生徒デー
タとしての予測タップ（を構成する２次元ＤＣＴ係
数）、および教師データとしての注目画素を対象とし
て、式（８）の行列Ａとベクトルｖの、上述したような
足し込みを行う。なお、この足し込みは、クラス分類部
１４５からのクラスコードに対応するクラスごとに、か
つ注目画素に対する画素位置モード＃ｉごとに行われ
る。

【０５８１】そして、ステップＳ１１７に進み、足し込
み部１４６は、画素位置モード＃ｉが、注目ブロックの
画素数である６４に等しいかどうかを判定する。

【０５８２】ステップＳ１１７において、画素位置モー
ド＃ｉが６４に等しくないと判定された場合、ステップ
Ｓ１１８に進み、足し込み部１４６は、画素位置モード
＃ｉを１だけインクリメントして、ステップＳ１１５に
戻り、以下、同様の処理が繰り返される。

【０５８３】また、ステップＳ１１７において、画素位
置モード＃ｉが６４に等しいと判定された場合、即ち、
注目ブロックのすべての画素を注目画素として足し込み
を行った場合、ステップＳ１１９に進み、足し込み部１
４６は、生徒データストレージ１４３に記憶された生徒
データとしての２次元ＤＣＴ係数のブロックのうち、ま
だ、注目ブロックとしていないもの（以下、適宜、未処
理ブロックという）があるかどうかを判定する。

【０５８４】ステップＳ１１９において、未処理ブロッ
クがあると判定された場合、ステップＳ１１２に戻り、
その未処理ブロックの中から、新たに注目ブロックとす
るものが選択され、以下、同様の処理が繰り返される。

【０５８５】また、ステップＳ１１９において、未処理
ブロックがないと判定された場合、即ち、足し込み部１
４６において、各クラスについて、画素位置モードごと
の正規方程式が得られた場合、ステップＳ１２０に進
み、タップ係数演算部１４７は、各クラスの画素位置モ
ードごとに生成された正規方程式を解くことにより、各
クラスごとに、そのクラスの６４の画素位置モードそれ
ぞれに対応する６４セットのタップ係数を求め、学習処
理を終了する。

【０５８６】次に、図４６は、Ｐピクチャ用のタップ係
数を学習する場合の学習装置の一実施の形態の構成例を
示している。なお、図中、図４４における場合と対応す
る部分については、同一の符号を付してあり、以下で
は、その説明は、適宜省略する。即ち、図４６の学習装
置は、生徒データ生成部１５１に代えて、生徒データ生
成部１６２が設けられている他は、図４４における場合
と基本的に同様に構成されている。

【０５８７】ここで、Ｐピクチャは、時間的に先行して
復号（符号化）されるＩまたはＰピクチャを参照画像と
して予測符号化（ノンイントラ符号化）されるため、即
ち、原画像から予測画像を減算した残差画像が２次元Ｄ
ＣＴ変換されるため、図２の画像処理装置では、前処理
部１１において、先に復号されたＩまたはＰピクチャに
動き補償を施し、その結果得られる予測画像の２次元Ｄ
ＣＴ係数と、残差画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算した
後に、適応処理部５１において、適応処理を施すように
なっている。

【０５８８】従って、Ｐピクチャ用のタップ係数の学習
においては、残差画像の２次元ＤＣＴ係数に、予測画像
の２次元ＤＣＴ係数を加算したものを、生徒データとし
て用いる必要がある。

【０５８９】ところで、Ｐピクチャの予測画像は、先に
復号されたＩまたはＰピクチャを参照画像として、その
参照画像に、動き補償が施されることで得ることができ
るが、いまの場合、Ｐピクチャのタップ係数を学習しよ
うとしているので、Ｐピクチャ用のタップ係数は存在し
ない。

【０５９０】一方、Ｉピクチャ用のタップ係数は、図４
４の学習装置において、あらかじめ求めておくことがで
きる。

【０５９１】そこで、図４６の学習装置では、生徒デー
タ生成部１６２において、Ｉピクチャを参照画像として
予測符号化されるＰピクチャのブロックについて、生徒
データが生成されるようになっている。

【０５９２】即ち、ＭＰＥＧエンコーダ１７１は、教師
データストレージ１４１に記憶された学習用の画像デー
タを読み出して、ＭＰＥＧ符号化し、その結果得られる
符号化データを、分離部１７２に供給する。分離部１７
２とＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１７３は、図２の分離
部１とＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２とそれぞれ同様に
構成されており、符号化データから、量子化ＤＣＴ係数
を分離、抽出し、逆量子化する。

【０５９３】なお、分離部１７２およびＤＣＴ係数抽出
／逆量子化部１７３は、Ｉピクチャと、Ｐピクチャの予
測符号化されたブロックのみを対象に処理を行う。ま
た、分離部１７２は、符号化データから、量子化ＤＣＴ
係数の他、量子化スケールやＤＣＴタイプや動きベクト
ル等のサイドインフォメーションも、必要に応じて分離
する。

【０５９４】ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１７３は、Ｉ
ピクチャの２次元ＤＣＴ係数を得た場合、そのＩピクチ
ャの２次元ＤＣＴ係数を、クラス分類部１７４および適
応処理部１７６に供給する。

【０５９５】また、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１７３
は、Ｐピクチャの予測符号化されたブロックの２次元Ｄ
ＣＴ係数、即ち、残差画像の２次元ＤＣＴ係数を得た場
合、その残差画像の２次元ＤＣＴ係数を、周波数領域動
き補償加算部１８１に供給する。

【０５９６】さらに、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１７
３は、Ｐピクチャの予測符号化されたブロックの動きベ
クトルを得た場合、その動きベクトルを、動き補償部１
７８に供給する。

【０５９７】クラス分類部１７４は、ＤＣＴ係数抽出／
逆量子化部１７３から供給されるＩピクチャのブロック
の画素を、順次、注目画素として、その注目画素につい
て、図２のクラス分類部１３における場合と同様にして
クラス分類を行い、その結果得られるクラスコードを、
タップ係数記憶部１７５に供給する。タップ係数記憶部
１７５は、図４４の学習装置で得られたＩピクチャ用の
タップ係数を記憶しており、図２のタップ係数記憶部１
４と同様に、クラス分類部１７４から供給されるクラス
コードに対応するタップ係数を取得して、適応処理部１
７６に供給する。

【０５９８】適応処理部１７６は、図２の適応処理部５
１と同様に、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１７３から供
給される、注目画素を含むブロックの２次元ＤＣＴ係数
すべてを予測タップとして、その予測タップと、タップ
係数記憶部１７５から供給されるタップ係数とを用いた
線形１次予測演算、即ち、適応処理を行う。

【０５９９】適応処理部１７６において適応処理が行わ
れることにより得られるＩピクチャの復号画像は、Ｉピ
クチャストレージ１７７に供給されて記憶される。

【０６００】その後、動き補償部１７８は、ＤＣＴ係数
抽出／逆量子化部１７３から供給される動きベクトルに
よって動き補償を施すべき参照画像としてのＩピクチャ
を、Ｉピクチャストレージ１７７から読み出し、そのＩ
ピクチャに動き補償を施すことで、予測画像を生成す
る。この予測画像は、画像メモリ１７９に供給されて記
憶される。画像メモリ１７９に記憶された予測画像は、
ＤＣＴ変換部１８０において２次元ＤＣＴ係数に変換さ
れ、周波数領域動き補償加算部１８１に供給される。周
波数領域動き補償加算部１８１は、ＤＣＴ係数抽出／逆
量子化部１７３から供給されるＰピクチャの残差画像の
２次元ＤＣＴ係数と、ＤＣＴ変換部１８０から供給され
る予測画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算する。

【０６０１】即ち、動き補償部１７８、画像メモリ１７
９、ＤＣＴ変換部１８０、および周波数領域動き補償加
算部１８１は、図２の動き補償部４、画像メモリ５、Ｄ
ＣＴ変換部２１、周波数領域動き補償加算部２２と同様
に構成されるものであり、従って、周波数領域動き補償
加算部１８１において、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１
７３からのＰピクチャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数
と、ＤＣＴ変換部１８０からの予測画像の２次元ＤＣＴ
係数とが加算されることにより、Ｐピクチャの元の画像
（上述したように、原画像ではない）を２次元ＤＣＴ変
換した２次元ＤＣＴ係数が得られる。

【０６０２】周波数領域動き補償加算部１８１で得られ
たＰピクチャの元の画像の２次元ＤＣＴ係数は、生徒デ
ータとして、生徒データストレージ１４３に供給されて
記憶される。

【０６０３】以降は、図４４の学習装置における場合と
同様の処理が行われ、これにより、Ｐピクチャ用（正確
には、Ｐピクチャの予測符号化されたブロック用）のタ
ップ係数が求められる。

【０６０４】次に、図４７は、Ｂピクチャ用のタップ係
数を学習する場合の学習装置の一実施の形態の構成例を
示している。なお、Ｂピクチャ用のタップ係数を学習す
る学習装置も、図４６のＰピクチャ用のタップ係数を学
習する学習装置と同様に、生徒データ生成部だけが、図
４４のＩピクチャ用のタップ係数を学習する学習装置と
異なるだけであるため、図４７においては、Ｂピクチャ
用のタップ係数を学習する学習装置の生徒データ生成部
だけを図示してある。

【０６０５】Ｂピクチャも、Ｐピクチャと同様に、時間
的に先行して復号されるＩまたはＰピクチャを参照画像
として予測符号化（ノンイントラ符号化）されるため、
即ち、原画像から予測画像を減算した残差画像が２次元
ＤＣＴ変換されるため、図２の画像処理装置では、前処
理部１１において、先に復号されたＩまたはＰピクチャ
に動き補償を施し、その結果得られる予測画像の２次元
ＤＣＴ係数と、残差画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算し
た後に、適応処理部５１において、適応処理を施すよう
になっている。

【０６０６】従って、Ｂピクチャ用のタップ係数の学習
においては、残差画像の２次元ＤＣＴ係数に、予測画像
の２次元ＤＣＴ係数を加算したものを、生徒データとし
て用いる必要がある。

【０６０７】そこで、図４７の学習装置では、そのよう
な生徒データを生成して、学習を行うようになってい
る。

【０６０８】即ち、ＭＰＥＧエンコーダ１９１には、学
習用の画像データ（ここでは、教師データに等しい）が
供給されるようになっており、ＭＰＥＧエンコーダ１９
１は、その学習用の画像データをＭＰＥＧ符号化し、そ
の結果得られる符号化データを、分離部１９２に供給す
る。分離部１９２とＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３
は、図２の分離部１とＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２と
それぞれ同様に構成されており、符号化データから、量
子化ＤＣＴ係数を分離、抽出し、逆量子化して出力す
る。

【０６０９】ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３が出力
するＩピクチャの２次元ＤＣＴ係数は、クラス分類部１
９４と適応処理部１９６に供給される。また、ＤＣＴ係
数抽出／逆量子化部１９３が出力するＰピクチャの２次
元ＤＣＴ係数は、周波数領域動き補償加算部２０１に供
給される。さらに、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３
が出力するＢピクチャの２次元ＤＣＴ係数は、周波数領
域動き補償加算部２０９に供給される。

【０６１０】ここで、分離部１９２は、符号化データか
ら、量子化ＤＣＴ係数の他、量子化スケールやＤＣＴタ
イプや動くベクトル等のサイドインフォメーションも、
必要に応じて分離し、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９
３を介して、必要なブロックに供給する。なお、サイド
インフォメーションについては、図４７の実施の形態で
は、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３から動き補償部
１９８へのＰピクチャの動きベクトルの供給と、ＤＣＴ
係数抽出／逆量子化部１９３から動き補償部２０６への
Ｂピクチャの動きベクトルの供給だけを、図示してあ
る。

【０６１１】また、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３
は、Ｂピクチャの予測符号化されたブロックの２次元Ｄ
ＣＴ係数、即ち、残差画像の２次元ＤＣＴ係数だけを、
周波数領域動き補償加算部２０９に供給する。

【０６１２】さらに、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９
３は、Ｐピクチャについては、予測符号化されたブロッ
クの２次元ＤＣＴ係数だけを、周波数領域動き補償加算
部２０１に供給する。さらに、ＤＣＴ係数抽出／逆量子
化部１９３では、Ｐピクチャのイントラ符号化されたブ
ロックの２次元ＤＣＴ係数は、クラス分類部１９４およ
び適応処理部１９６に供給され、以下、イントラ符号化
されたＩピクチャと同様に処理される。

【０６１３】クラス分類部１９４は、ＤＣＴ係数抽出／
逆量子化部１９３から供給されるＩピクチャおよびＰピ
クチャのイントラ符号化されたブロックの画素を、順
次、注目画素として、その注目画素について、図２のク
ラス分類部１３における場合と同様にしてクラス分類を
行い、その結果得られるクラスコードを、タップ係数記
憶部１９５に供給する。タップ係数記憶部１９５は、図
４４の学習装置で得られたＩピクチャ用のタップ係数を
記憶しており、図２のタップ係数記憶部１４と同様に、
クラス分類部１９４から供給されるクラスコードに対応
するタップ係数を取得して、適応処理部１９６に供給す
る。

【０６１４】適応処理部１９６は、図２の適応処理部５
１と同様に、注目画素を含むブロックの２次元ＤＣＴ係
数すべてを予測タップとして、その予測タップと、タッ
プ係数記憶部１９５から供給されるタップ係数とを用い
た線形１次予測演算、即ち、適応処理を行う。

【０６１５】適応処理部１９６において適応処理が行わ
れることにより得られるＩピクチャの復号画像は、Ｉピ
クチャストレージ１９７に供給されて記憶される。な
お、適応処理部１９６では、イントラ符号化されたＰピ
クチャのブロックの復号画像も得られるが、このＰピク
チャの復号画像は、適応処理部１９６からＰピクチャス
トレージ２０５に供給されて記憶される。

【０６１６】その後、動き補償部１９８は、ＤＣＴ係数
抽出／逆量子化部１９３から供給される動きベクトルに
よって動き補償を施すべき参照画像としてのＩピクチャ
を、Ｉピクチャストレージ１９７から読み出し、そのＩ
ピクチャに動き補償を施すことで、Ｐピクチャの予測画
像を生成する。このＰピクチャの予測画像は、画像メモ
リ１９９に供給されて記憶される。画像メモリ１９９に
記憶された予測画像は、ＤＣＴ変換部２００において２
次元ＤＣＴ係数に変換され、周波数領域動き補償加算部
２０１に供給される。周波数領域動き補償加算部２０１
は、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３から供給される
Ｐピクチャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、ＤＣＴ変
換部２００から供給される予測画像の２次元ＤＣＴ係数
とを加算する。

【０６１７】即ち、動き補償部１９８、画像メモリ１９
９、ＤＣＴ変換部２００、および周波数領域動き補償加
算部２０１は、図２の動き補償部４、画像メモリ５、Ｄ
ＣＴ変換部２１、周波数領域動き補償加算部２２と同様
に構成されるものであり、従って、周波数領域動き補償
加算部２０１において、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１
９３からのＰピクチャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数
と、ＤＣＴ変換部２００からの予測画像の２次元ＤＣＴ
係数とが加算されることにより、Ｐピクチャの元の画像
（上述したように、原画像ではない）を２次元ＤＣＴ変
換した２次元ＤＣＴ係数が得られる。

【０６１８】周波数領域動き補償加算部２０１で得られ
たＰピクチャの元の画像の２次元ＤＣＴ係数は、クラス
分類部２０２および適応処理部２０４に供給される。

【０６１９】クラス分類部２０２は、周波数領域動き補
償加算部２０１から供給されるＰピクチャの予測符号化
されたブロックの画素を、順次、注目画素として、その
注目画素について、図２のクラス分類部１３における場
合と同様にしてクラス分類を行い、その結果得られるク
ラスコードを、タップ係数記憶部２０３に供給する。タ
ップ係数記憶部２０３は、図４６の学習装置で得られた
Ｐピクチャ用のタップ係数を記憶しており、図２のタッ
プ係数記憶部１４と同様に、クラス分類部２０２から供
給されるクラスコードに対応するタップ係数を取得し
て、適応処理部２０４に供給する。

【０６２０】適応処理部２０４は、図２の適応処理部５
１と同様に、注目画素を含むブロックの２次元ＤＣＴ係
数すべてを予測タップとして、その予測タップと、タッ
プ係数記憶部２０３から供給されるタップ係数とを用い
た線形１次予測演算、即ち、適応処理を行う。

【０６２１】適応処理部２０４において適応処理が行わ
れることにより得られる、予測符号化されたＰピクチャ
のブロックの復号画像は、Ｐピクチャストレージ２０５
に供給されて記憶される。なお、上述したように、Ｐピ
クチャストレージ２０５は、適応処理部１９６から供給
される、イントラ符号化されたＰピクチャのブロックの
復号画像も記憶する。

【０６２２】その後、動き補償部２０６は、ＤＣＴ係数
抽出／逆量子化部１９３から供給されるＢピクチャの動
きベクトルによって動き補償を施すべき参照画像として
のＩまたはＰピクチャを、Ｉピクチャストレージ１９７
またはＰピクチャストレージ２０５から読み出し、その
ＩまたはＰピクチャに動き補償を施すことで、Ｂピクチ
ャの予測画像を生成する。このＢピクチャの予測画像
は、画像メモリ２０７に供給されて記憶される。画像メ
モリ２０７に記憶された予測画像は、ＤＣＴ変換部２０
８において２次元ＤＣＴ係数に変換され、周波数領域動
き補償加算部２０９に供給される。周波数領域動き補償
加算部２０９は、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１９３か
ら供給されるＢピクチャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数
と、ＤＣＴ変換部２０８から供給される予測画像の２次
元ＤＣＴ係数とを加算する。

【０６２３】即ち、動き補償部２０６、画像メモリ２０
７、ＤＣＴ変換部２０８、および周波数領域動き補償加
算部２０９は、図２の動き補償部４、画像メモリ５、Ｄ
ＣＴ変換部２１、周波数領域動き補償加算部２２と同様
に構成されるものであり、従って、周波数領域動き補償
加算部２０９において、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１
９３からのＢピクチャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数
と、ＤＣＴ変換部２０８からの予測画像の２次元ＤＣＴ
係数とが加算されることにより、Ｂピクチャの元の画像
（上述したように、原画像ではない）を２次元ＤＣＴ変
換した２次元ＤＣＴ係数が得られる。

【０６２４】周波数領域動き補償加算部２０９で得られ
たＢピクチャの元の画像の２次元ＤＣＴ係数は、生徒デ
ータとして出力される。そして、以降は、図４４の学習
装置における場合と同様の処理が行われ、これにより、
Ｂピクチャ用（正確には、Ｂピクチャの予測符号化され
たブロック用）のタップ係数が求められる。

【０６２５】図２の係数メモリ４３および４４には、以
上のような学習によって、各クラスごとに求められた６
４の画素位置モードそれぞれごとの、Ｉ，Ｐ，Ｂピクチ
ャ用のタップ係数が記憶されている。

【０６２６】従って、係数メモリ４３および４４に記憶
されたタップ係数は、線形１次予測演算を行うことによ
り得られる元の画素値の予測値の予測誤差（ここでは、
自乗誤差）が、統計的に最小になるように学習を行うこ
とにより求められたものであり、その結果、図２の適応
処理部５１によれば、ＭＰＥＧ符号化された画像を、元
の画像に限りなく近い画像、即ち、ブロック歪みやモス
キートノイズ等の各種の歪みを十分に低減した、画質の
良い画像に復号することができる。

【０６２７】ここで、学習装置では、輝度信号と色差信
号について、別々に正規方程式がたてられ、輝度信号か
らたてられた正規方程式を解くことにより得られるタッ
プ係数は、係数メモリ４３に記憶され、色差信号からた
てられた正規方程式を解くことにより得られるタップ係
数は、係数メモリ４４に記憶される。

【０６２８】また、上述したように、ＭＰＥＧ符号化で
は、原画像の画素値から１２８（＝２⁷）を減算して得
られる画素値が符号化される。このため、足し込み部１
４６は、足し込みにおいて、教師データストレージ１４
１に記憶された教師データとしての画素値から、１２８
を減算した値を用いるようになっている。

【０６２９】なお、図２の画像処理装置において、Ｉピ
クチャのブロックについては、Ｉピクチャ用のタップ係
数を用いて適応処理が行われる。また、Ｐピクチャまた
はＢピクチャのブロックについては、そのブロックが予
測符号化（ノンイントラ符号化）されている場合には、
ＰピクチャまたはＢピクチャ用のタップ係数を用いて適
応処理が行われるが、ブロックがイントラ符号化されて
いる場合には、Ｉピクチャ用のタップ係数を用いて適応
処理が行われる。

【０６３０】また、上述の場合には、Ｉ，Ｐ，Ｂピクチ
ャそれぞれ用のタップ係数を学習するようにしたが、Ｂ
ピクチャ用のタップ係数の学習は省略することが可能で
ある。この場合、図２の画像処理装置では、Ｐピクチャ
とＢピクチャの予測符号化されたブロックについて、例
えば、いずれも、Ｐピクチャ用のタップ係数を用いて適
応処理が行われる。

【０６３１】次に、図４８および図４９は、図２の画像
処理装置で、ＭＰＥＧ符号化された画像を復号するシミ
ュレーションを行って得られたシミュレーション結果を
示している。

【０６３２】なお、シミュレーションにおいては、４：
２：２フォーマットの画像を、約３．３Ｍｂｐｓのデー
タレートでＭＰＥＧ２方式により符号化して得られた符
号化データを用いた。また、シミュレーションでは、Ｉ
ピクチャとＰピクチャを、それぞれ偶数フレームと奇数
フレームとして、１フレームごとに交代する画像シーケ
ンスを用いた。さらに、シミュレーションでは、上述の
閾値Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅとして、それぞれ、７００，７
００，３５０，１２０，１２０を用いた。但し、色差信
号については、閾値Ａとして、８０を用いた。

【０６３３】図４８は、シミュレーションによって得ら
れた復号画像の輝度信号についてのＳ／Ｎ(Signal to N
oise ratio)を示している。

【０６３４】図４８において、実線で示すＳ／Ｎは、図
２の画像処理装置による復号画像のものを示しており、
点線で示すＳ／Ｎは、ＭＰＥＧの規格に準拠した従来の
ＭＰＥＧソフトウェアデコーダによる復号画像のものを
示している。図４８から、図２の画像処理装置による復
号画像のＳ／Ｎが、従来のＭＰＥＧソフトウェアデコー
ダによる復号画像と比較して、約１ｄＢ程度向上してい
ることが分かる。

【０６３５】図４９は、シミュレーションによって得ら
れた復号画像を示している。

【０６３６】即ち、図４９（Ａ）は、原画像を、図４９
（Ｂ）は、従来のＭＰＥＧソフトウェアデコーダによる
復号画像を、図４９（Ｃ）は、図２の画像処理装置によ
る復号画像を、それぞれ示している。なお、図４９
（Ａ）乃至図４９（Ｃ）において、その右側の約１／３
の部分が、瓶の全体が表示されている全体の画像を示し
ており、左側の約２／３の部分が、その瓶のラベルの部
分を拡大した画像を示している。また、図４９に示した
画像は、Ｉピクチャの画像である。

【０６３７】図４９（Ａ）の原画像と、図４９（Ｂ）の
従来のＭＰＥＧソフトウェアデコーダによる復号画像を
比較すると、図４９（Ｂ）の復号画像には、ブロックの
境界が顕著に現れるブロック歪みが生じ、さらに、瓶の
ラベルにおける「Ｚ」の文字の部分に、モスキートノイ
ズが顕著に現れている。

【０６３８】これに対して、図４９（Ｃ）の図２の画像
処理装置による復号画像においては、ブロック歪みが十
分に低減されており、さらに、モスキートノイズも低減
されている。

【０６３９】次に、図５０は、本発明を適用した画像処
理装置の第２実施の形態の構成例を示している。なお、
図中、図２における場合と対応する部分については、同
一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省
略する。即ち、図５０の画像処理装置は、画像再構成部
１５において、逆ＤＣＴ変換部５２が新たに設けられて
いる他は、図２における場合と基本的に同様に構成され
ている。

【０６４０】逆ＤＣＴ変換部５２は、適応処理部５１の
出力を２次元逆ＤＣＴ変換することにより、復号画像を
求め、画像メモリ７およびピクチャ選択部８に出力する
ようになっている。

【０６４１】即ち、図２の実施の形態においては、タッ
プ係数記憶部１４において、画素値を、教師データとす
るとともに、その画素値を２次元ＤＣＴ変換、量子化し
（ＭＰＥＧ符号化し）、さらに逆量子化した２次元ＤＣ
Ｔ係数を生徒データとして学習を行うことにより得られ
たタップ係数が記憶され、適応処理部５１において、そ
のようなタップ係数を用いて適応処理を行うことによ
り、２次元ＤＣＴ係数を画素値に変換するＦＴ変換が行
われるようになっていた。

【０６４２】これに対して、図５０の実施の形態におい
ては、タップ係数記憶部１４において、画素値を２次元
ＤＣＴ変換した２次元ＤＣＴ係数を教師データとすると
ともに、その２次元ＤＣＴ係数を量子化し、さらに逆量
子化した２次元ＤＣＴ係数を生徒データとして学習を行
うことにより得られたタップ係数が記憶されており、適
応処理部５１において、そのようなタップ係数を用いて
適応処理を行うことにより、そのまま逆２次元ＤＣＴ変
換したのではブロック歪み等の目立つ復号画像となって
しまう２次元ＤＣＴ係数を、ブロック歪み等が目立たな
い復号画像が得られる２次元ＤＣＴ係数に変換するよう
になっている。

【０６４３】そして、図５０の実施の形態では、適応処
理部５１で得られる２次元ＤＣＴ係数が、逆ＤＣＴ変換
部５２において２次元逆ＤＣＴ変換され、これにより、
ブロック歪み等が十分に低減された復号画像を得ること
ができるようになっている。

【０６４４】ここで、上述のように、画素値を２次元Ｄ
ＣＴ変換した２次元ＤＣＴ係数を教師データとするとと
もに、その２次元ＤＣＴ係数を量子化し、さらに逆量子
化した２次元ＤＣＴ係数を生徒データとする場合には、
量子化され、さらに逆量子化された２次元ＤＣＴ係数
を、式（１）の線形予測演算によって、元の２次元ＤＣ
Ｔ係数（量子化される前の２次元ＤＣＴ係数）に変換す
るのに最適なタップ係数を得ることができる。そして、
２次元ＤＣＴ係数は、周波数領域のデータであるから、
上述のようなタップ係数を用いて、そのまま逆２次元Ｄ
ＣＴ変換したのではブロック歪み等の目立つ復号画像と
なってしまう２次元ＤＣＴ係数を、ブロック歪み等が目
立たない復号画像が得られる２次元ＤＣＴ係数に変換す
る適応処理は、周波数(Frequency)の頭文字をとって、
ＦＦ変換と呼ぶことができる。

【０６４５】次に、図５１は、上述のようなＦＦ変換を
行う場合に用いるタップ係数を学習する学習装置の一実
施の形態の構成例を示している。なお、図中、図４４に
おける場合と対応する部分については、同一の符号を付
してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。

【０６４６】学習用データストレージ２２１は、学習用
の画像データを記憶している。

【０６４７】教師データ生成部２２２は、学習用データ
ストレージ２２１から学習用の画像データを読み出し
て、ＭＰＥＧ符号化における場合と同様に、ブロック単
位で、２次元ＤＣＴ変換し、その結果得られる２次元Ｄ
ＣＴ係数を、教師データとして出力する。ここで、教師
データ生成部２２２が出力する２次元ＤＣＴ係数は、学
習用の画像データを２次元ＤＣＴ変換のみしたものであ
り、従って量子化、逆量子化されていないので、その２
次元ＤＣＴ係数を、２次元逆ＤＣＴ変換することによ
り、原画像と同一の復号画像を得ることができる。

【０６４８】教師データ生成部２２２が出力する教師デ
ータとしての２次元ＤＣＴ係数は、教師データストレー
ジ１４１に供給されて記憶される。

【０６４９】生徒データ生成部２２３は、学習用データ
ストレージ２２１から学習用の画像データを読み出し、
図４４、図４６、図４７における場合とそれぞれ同様に
して、生徒データとなる２次元ＤＣＴ係数を生成して出
力する。生徒データ生成部２２３が出力する生徒データ
としての２次元ＤＣＴ係数は、生徒データストレージ１
４３に供給されて記憶される。

【０６５０】以降は、教師データストレージ１４１に記
憶された２次元ＤＣＴ係数を教師データとするととも
に、生徒データストレージ１４３に記憶された２次元Ｄ
ＣＴ係数を生徒データとして、図４４の学習装置におけ
る場合と同様の処理が行われ、これにより、上述のよう
なＦＦ変換を行うためのＩ，Ｐ，Ｂピクチャそれぞれ用
のタップ係数が求められる。

【０６５１】次に、上述の場合には、ＦＴ変換を行うた
めのタップ係数や、ＦＦ変換を行うためのタップ係数を
用いて適応処理を行うことにより、各種の歪みが低減さ
れた復号画像を得るようにしたが、その他、例えば、後
述するＴＴ変換を行うためのタップ係数を用いて適応処
理を行うことにより、各種の歪みが低減された復号画像
を得るようにすることも可能である。

【０６５２】即ち、図２の画像処理装置においては、図
５２（Ａ）に示すように、適応処理部５１において、符
号化データから得た２次元ＤＣＴ係数から予測タップを
生成し、ＦＴ変換を行うためのタップ係数を用いて適応
処理を行うことにより、復号画像を得るようにした。さ
らに、図５０の画像処理装置においては、図５２（Ｂ）
に示すように、適応処理部５１において、符号化データ
から得た２次元ＤＣＴ係数から予測タップを生成し、Ｆ
Ｆ変換を行うためのタップ係数を用いて適応処理を行う
ことにより得た２次元ＤＣＴ係数を、２次元逆ＤＣＴ変
換することにより、復号画像を得るようにした。

【０６５３】その他、図５２（Ｃ）に示すように、適応
処理部５１において、従来のＭＰＥＧエンコーダが出力
する画像から予測タップを生成して適応処理を施すこと
により、各種の歪みが低減された復号画像を得るように
することが可能である。

【０６５４】図５３は、そのような画像処理装置の一実
施の形態の構成例を示している。なお、図中、図２にお
ける場合と対応する部分については、同一の符号を付し
てあり、以下では、その説明は、適宜省略する。

【０６５５】図５３において、ＭＰＥＧデコーダ３０１
には、ＭＰＥＧ符号化された符号化データが供給される
ようになっている。ＭＰＥＧデコーダ３０１は、ＭＰＥ
Ｇの規格に準拠したデコーダで、そこに供給される符号
化データをＭＰＥＧデコードし、その結果得られる復号
画像（以下、適宜、ＭＰＥＧ復号画像という）を画像再
構成部１５およびＤＣＴ変換部３０２に供給する。な
お、ＭＰＥＧデコーダ３０１は、符号化データに含まれ
るＤＣＴタイプその他のサイドインフォメーションを、
クラス分類部１３に供給するようにもなっている。

【０６５６】ＤＣＴ変換部３０２は、ＭＰＥＧデコーダ
３０１からのＭＰＥＧ復号画像を、ブロック単位で２次
元ＤＣＴ変換し、その結果得られる２次元ＤＣＴ係数
を、クラス分類部１３に供給する。クラス分類部１３お
よびタップ係数記憶部１４では、図２における場合と同
様の処理が行われ、これにより、必要なタップ係数が、
画像再構成部１５に供給される。

【０６５７】なお、タップ係数記憶部１４においては、
後述するＴＴ変換用のタップ係数が記憶されている。

【０６５８】画像再構成部１５は、適応処理部５１だけ
で構成されており、ＭＰＥＧデコーダ３０１からのＭＰ
ＥＧ復号画像から予測タップを生成し、即ち、例えば、
ＭＰＥＧ復号画像の注目画素を含むブロックの画素値す
べてを予測タップとし、その予測タップと、タップ係数
記憶部１４から供給されるタップ係数とを用いて、式
（１）の線形１次予測演算を行うことにより、各種の歪
みが除去された復号画像を得て出力する。

【０６５９】次に、図５４は、図５３のタップ係数記憶
部１４に記憶されるタップ係数を学習する学習装置の一
実施の形態の構成例を示している。なお、図中、図４４
における場合と対応する部分については、同一の符号を
付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。

【０６６０】図５４の実施の形態においては、生徒デー
タ生成部１４２が、ＭＰＥＧエンコーダ３１１とＭＰＥ
Ｇデコーダ３１２とから構成されている。ＭＰＥＧエン
コーダ３１１は、教師データストレージ１４１に記憶さ
れた画像データをＭＰＥＧ符号化し、その結果得られる
符号化データを、ＭＰＥＧデコーダ３１２に出力する。
ＭＰＥＧデコーダ３１２は、ＭＰＥＧエンコーダ３１１
からの符号化データをＭＰＥＧデコードし、その結果得
られるＭＰＥＧ復号画像を、生徒データとして出力す
る。

【０６６１】ＭＰＥＧデコーダ３１２が生徒データとし
て出力するＭＰＥＧ復号画像は、生徒データストレージ
１４３に供給されて記憶される。

【０６６２】なお、ＭＰＥＧデコーダ３１２は、ＭＰＥ
Ｇエンコーダ３１１が出力する符号化データから、ＤＣ
Ｔタイプ等の必要なサイドインフォメーションを抽出
し、このサイドインフォメーションも、生徒データスト
レージ１４３に供給して記憶させるようになっている。

【０６６３】ＤＣＴ変換部３２１は、生徒データストレ
ージ１４３に記憶された生徒データとしてのＭＰＥＧ復
号画像を読み出し、ブロック単位で２次元ＤＣＴ変換す
ることにより、２次元ＤＣＴ係数を得て、クラス分類部
１４５に供給する。クラス分類部１４５は、ＤＣＴ変換
部３２１からの２次元ＤＣＴ係数に基づき、必要に応じ
て、生徒データストレージ１４３に記憶されたサイドイ
ンフォメーションを参照しながら、図２のクラス分類部
１３における場合と同様にクラス分類を行う。

【０６６４】以降は、教師データストレージ１４１に記
憶された画像データを教師データとするとともに、生徒
データストレージ１４３に記憶されたＭＰＥＧ復号画像
を生徒データとして、図４４の学習装置における場合と
同様の処理が行われ、これにより、タップ係数が求めら
れる。なお、予測タップ生成部１４４では、図５３の適
応処理部５１が生成するのと同一構造の予測タップが生
成される。

【０６６５】ここで、上述のように、画像データ（原画
像）を教師データとするとともに、その画像データをＭ
ＰＥＧ符号化し、さらにＭＰＥＧ復号して得られるＭＰ
ＥＧ復号画像を生徒データとする場合には、ＭＰＥＧ復
号画像を、式（１）の線形予測演算によって、ブロック
歪み等のない原画像データ（の予測値）に変換するのに
最適なタップ係数を得ることができる。そして、原画像
データおよびＭＰＥＧ復号画像は、時間領域のデータで
あるから、上述のようなタップ係数を用いて、ＭＰＥＧ
復号画像を、原画像データが得られる２次元ＤＣＴ係数
に変換する適応処理は、時間(Time)の頭文字をとって、
ＴＴ変換と呼ぶことができ、図５４の学習装置で学習さ
れるタップ係数は、ＴＴ変換用のタップ係数ということ
ができる。

【０６６６】なお、ここでは、ＴＴ変換用のタップ係数
を、ピクチャタイプ別に学習するようにしなかったが、
ＴＴ変換用のタップ係数も、ＦＴ変換用のタップ係数と
同様に、ピクチャタイプ別に学習するようにすることが
可能である。

【０６６７】次に、図５５は、本発明を適用した画像処
理装置のさらに他の実施の形態の構成例を示している。
なお、図中、図２における場合と対応する部分について
は、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、
適宜省略する。即ち、図５５の画像処理装置は、図２の
画像処理装置と基本的に同様に構成されている。但し、
適応処理部５１には、バッファメモリ１２に記憶された
２次元ＤＣＴ係数ではなく、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化
部２が出力する２次元ＤＣＴ係数と、画像メモリ５に記
憶された予測画像が供給されるようになっている。

【０６６８】従って、適応処理部５１では、ＤＣＴ係数
抽出／逆量子化部２が出力する２次元ＤＣＴ係数と、画
像メモリ５に記憶された予測画像とから、予測タップが
生成される。即ち、適応処理部５１は、例えば、ＤＣＴ
係数抽出／逆量子化部２が出力する注目ブロックの６４
個の２次元ＤＣＴ係数と、画像メモリ５に記憶された、
注目ブロックに対応する８×８画素の予測画像の６４個
の画素値との合計で１２８タップからなる予測タップを
生成する。

【０６６９】ここで、イントラ符号化されたブロックに
ついては、予測画像は存在せず、ＤＣＴ係数抽出／逆量
子化部２が出力する２次元ＤＣＴ係数は、元の画像を２
次元ＤＣＴ変換したものとなっている。また、ノンイン
トラ符号化されたブロックについては、予測画像が存在
し、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２が出力する２次元Ｄ
ＣＴ係数は、元の画像から予測画像を減算して得られる
残差画像を２次元ＤＣＴ変換したものとなっているが、
ＭＰＥＧでは、残差画像の画素値がほとんど０である場
合には、残差画像の２次元ＤＣＴ係数が存在しないこと
がある。

【０６７０】このため、適応処理部５１では、イントラ
符号化されたブロックが注目ブロックとされた場合に
は、予測画像から生成される６４の予測タップは、例え
ば０とされる。また、適応処理部５１では、ノンイント
ラ符号化されたブロックが注目ブロックとされ、その注
目ブロックにおける残差画像の２次元ＤＣＴ係数が存在
しない場合には、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２が出力
する２次元ＤＣＴ係数から生成される６４の予測タップ
は、例えば０とされる。

【０６７１】図５５の画像処理装置では、適応処理部５
１における予測タップの生成以外については、図２にお
ける場合と同様の処理が行われ、これにより、画像再構
成部１５からは、ブロック歪み等が低減された復号画像
が出力される。

【０６７２】ここで、図５５の適応処理部５１では、上
述したように、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部２が出力す
る注目ブロックの６４個の２次元ＤＣＴ係数と、画像メ
モリ５に記憶された、注目ブロックに対応する８×８画
素の予測画像の６４個の画素値との合計で１２８タップ
からなる予測タップが生成され、その予測タップを用い
て適応処理が行われることにより、原画像の予測値、即
ち、ブロック歪み等の低減された復号画像が求められ
る。即ち、ノンイントラ符号化されたブロックについて
は、残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、予測画像の画素値
からなる予測タップから、画像が復号される。

【０６７３】従って、この場合、適応処理部５１での適
応処理では、ブロック歪み等の低減とともに、残差画像
に対する予測画像の加算が一括して行われているという
ことができる。

【０６７４】次に、図５５の画像処理装置において用い
られるタップ係数の学習について説明する。

【０６７５】まず、Ｉピクチャ用のタップ係数の学習
は、図４４の学習装置で行うことができる。但し、図４
４の予測タップ生成部１４４では、図５５の適応処理部
５１における場合と同様に、注目ブロックの６４個の２
次元ＤＣＴ係数と、注目ブロックに対応する８×８画素
の予測画像の６４個の画素値との合計で１２８タップか
らなる予測タップが生成される。また、上述したよう
に、イントラ符号化されるＩピクチャのブロックについ
ては、予測画像から生成される６４の予測タップは０と
される。

【０６７６】次に、図５６は、図５５のタップ係数記憶
部１４に記憶されるＰピクチャ用のタップ係数を学習す
る学習装置の一実施の形態の構成例を示している。な
お、図中、図４６における場合と対応する部分について
は、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、
適宜省略する。即ち、図５６の学習装置は、基本的に、
図４６における場合と同様に構成されている。

【０６７７】但し、生徒データストレージ１４３には、
周波数領域動き補償加算部１８１から、元の画像の２次
元ＤＣＴ係数（残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、予測画
像の２次元ＤＣＴ係数とを加算したもの）が供給される
他、ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部１７３から、Ｐピクチ
ャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数が供給されるととも
に、画像メモリ１７９に記憶された予測画像が供給され
るようになっている。

【０６７８】そして、クラス分類部１４５では、図２の
クラス分類部１３における場合と同様に、生徒データス
トレージ１４３に記憶された元の画像の２次元ＤＣＴ係
数を用いてクラス分類が行われる。

【０６７９】また、予測タップ生成部１４４では、生徒
データストレージ１４３に記憶されたＰピクチャの残差
画像の２次元ＤＣＴ係数と、予測画像とから、図５の適
応処理部５１で生成されるのと同一構造の予測タップが
生成される。

【０６８０】次に、図５７は、図５５のタップ係数記憶
部１４に記憶されるＢピクチャ用のタップ係数を学習す
る学習装置の一実施の形態の構成例を示している。な
お、図中、図４７における場合と対応する部分について
は、同一の符号を付してある。また、図５７において
も、図４７における場合と同様に、生徒データ生成部以
外のブロックの図示は省略してある。

【０６８１】図５７の学習装置は、基本的には、図４７
の学習装置と同様に構成されている。但し、周波数領域
動き補償加算部２０９から、Ｂピクチャの元の画像の２
次元ＤＣＴ係数（残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、予測
画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算したもの）が、生徒デ
ータとして出力される他、Ｂピクチャの残差画像の２次
元ＤＣＴ係数と、予測画像も、ＤＣＴ係数抽出／逆量子
化部１９３と、画像メモリ２０７それぞれから、生徒デ
ータとして出力されるようになっている。

【０６８２】そして、以降の処理では、図５６の学習装
置における場合と同様に、Ｂピクチャの元の画像の２次
元ＤＣＴ係数を用いてクラス分類が行われるとともに、
Ｂピクチャの残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、予測画像
とから、予測タップが生成される。

【０６８３】なお、図５５の実施の形態では、予測画像
と、残差画像の２次元ＤＣＴ係数（あるいは元の画像の
２次元ＤＣＴ係数）とから生成した予測タップを用いて
適応処理を行うことにより、ブロック歪み等を低減した
復号画像を得るようにしたが、その他、例えば、予測画
像と、残差画像の２次元ＤＣＴ係数とから生成した予測
タップを用いて、ブロック歪み等を低減した２次元ＤＣ
Ｔ係数を得て、その２次元ＤＣＴ係数を２次元逆ＤＣＴ
変換することにより、ブロック歪み等を低減した復号画
像を得るようにすることも可能である。

【０６８４】この場合、タップ係数の学習は、画像デー
タ（原画像）を教師データとするのではなく、画像デー
タをブロック単位で２次元ＤＣＴ変換して得られる２次
元ＤＣＴ係数を教師データとして行うようにすれば良
い。

【０６８５】次に、上述した一連の処理は、ハードウェ
アにより行うこともできるし、ソフトウェアにより行う
こともできる。一連の処理をソフトウェアによって行う
場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、
汎用のコンピュータ等にインストールされる。

【０６８６】そこで、図５８は、上述した一連の処理を
実行するプログラムがインストールされるコンピュータ
の一実施の形態の構成例を示している。

【０６８７】プログラムは、コンピュータに内蔵されて
いる記録媒体としてのハードディスク４０５やＲＯＭ４
０３に予め記録しておくことができる。

【０６８８】あるいはまた、プログラムは、フレキシブ
ルディスク、CD-ROM(Compact DiscRead Only Memory)，
MO(Magneto Optical)ディスク，DVD(Digital Versatile
Disc)、磁気ディスク、半導体メモリなどのリムーバブ
ル記録媒体４１１に、一時的あるいは永続的に格納（記
録）しておくことができる。このようなリムーバブル記
録媒体４１１は、いわゆるパッケージソフトウエアとし
て提供することができる。

【０６８９】なお、プログラムは、上述したようなリム
ーバブル記録媒体４１１からコンピュータにインストー
ルする他、ダウンロードサイトから、ディジタル衛星放
送用の人工衛星を介して、コンピュータに無線で転送し
たり、LAN(Local Area Network)、インターネットとい
ったネットワークを介して、コンピュータに有線で転送
し、コンピュータでは、そのようにして転送されてくる
プログラムを、通信部４０８で受信し、内蔵するハード
ディスク４０５にインストールすることができる。

【０６９０】コンピュータは、CPU(Central Processing
Unit)４０２を内蔵している。CPU４０２には、バス４
０１を介して、入出力インタフェース４１０が接続され
ており、CPU４０２は、入出力インタフェース４１０を
介して、ユーザによって、キーボードや、マウス、マイ
ク等で構成される入力部４０７が操作等されることによ
り指令が入力されると、それにしたがって、ROM(Read O
nly Memory)４０３に格納されているプログラムを実行
する。あるいは、また、CPU４０２は、ハードディスク
４０５に格納されているプログラム、衛星若しくはネッ
トワークから転送され、通信部４０８で受信されてハー
ドディスク４０５にインストールされたプログラム、ま
たはドライブ４０９に装着されたリムーバブル記録媒体
４１１から読み出されてハードディスク４０５にインス
トールされたプログラムを、RAM(Random Access Memor
y)４０４にロードして実行する。これにより、CPU４０
２は、上述したフローチャートにしたがった処理、ある
いは上述したブロック図の構成により行われる処理を行
う。そして、CPU４０２は、その処理結果を、必要に応
じて、例えば、入出力インタフェース４１０を介して、
LCD(Liquid CryStal Display)やスピーカ等で構成され
る出力部４０６から出力、あるいは、通信部４０８から
送信、さらには、ハードディスク４０５に記録等させ
る。

【０６９１】ここで、本明細書において、コンピュータ
に各種の処理を行わせるためのプログラムを記述する処
理ステップは、必ずしもフローチャートとして記載され
た順序に沿って時系列に処理する必要はなく、並列的あ
るいは個別に実行される処理（例えば、並列処理あるい
はオブジェクトによる処理）も含むものである。

【０６９２】また、プログラムは、１のコンピュータに
より処理されるものであっても良いし、複数のコンピュ
ータによって分散処理されるものであっても良い。さら
に、プログラムは、遠方のコンピュータに転送されて実
行されるものであっても良い。

【０６９３】以上のように、１次元ＤＣＴ係数に基づい
てクラス分類を行い、各クラスごとに処理を行うように
したので、ブロック間における水平方向や垂直方向の平
坦さや連続性が反映された、効果的なクラス分けをする
ことができ、そのようなクラスごとに、適応処理を行う
ことで、ブロック歪みやモスキートノイズ等の歪みを十
分に低減した高画質の復号画像を得ることが可能とな
る。

【０６９４】なお、本実施の形態では、教師データの予
測値を、式（１）の線形１次予測演算によって求めるよ
うにしたが、教師データの予測値は、その他、例えば、
２次以上の高次の式を用いて求めるようにすることが可
能である。

【０６９５】また、本実施の形態では、クラス分類を、
注目ブロックとそれに隣接するブロックの１次元ＤＣＴ
係数を用いて行うようにしたが、その他、クラス分類
は、注目ブロックと空間的または時間的に近いブロック
の１次元ＤＣＴ係数をも用いて行うことが可能である。
さらに、クラス分類は、１次元ＤＣＴ係数の他、２次元
ＤＣＴ係数も用いて行うことが可能である。また、クラ
ス分類は、注目ブロックに対して、時間方向に近接する
ブロックの１次元ＤＣＴ係数をも用いて行うことが可能
である。

【０６９６】さらに、本実施の形態では、ＭＰＥＧ符号
化された動画像を対象としたが、本発明は、２次元ＤＣ
Ｔ変換を用いる、ＭＰＥＧ以外の符号化方式により符号
化された動画像や、ＪＰＥＧ符号化された静止画等を復
号する場合にも適用可能である。

【０６９７】

【発明の効果】本発明の第１の画像処理装置および画像
処理方法、並びにプログラムによれば、２次元ＤＣＴ係
数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣ
Ｔ係数が求められ、その１次元ＤＣＴ係数に基づいて、
画像データを構成する画素を、複数のクラスのうちのい
ずれかのクラスにクラス分けするクラス分類が行われ
る。そして、その結果得られるクラスごとに、符号化デ
ータが処理される。従って、例えば、高画質の画像を復
号することが可能となる。

【０６９８】本発明の第２の画像処理装置および画像処
理方法、並びにプログラムによれば、学習用の画像デー
タが、少なくとも２次元ＤＣＴ変換されることにより符
号化され、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化データが出力
される。さらに、符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ
係数を、１次元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元Ｄ
ＣＴ係数が求められる。そして、学習用の画像データか
ら得られる、学習の教師となる教師データを、１次元Ｄ
ＣＴ係数に基づいて、複数のクラスのうちのいずれかの
クラスにクラス分けするクラス分類が行われ、教師デー
タと、学習用の画像データから得られる、学習の生徒と
なる生徒データとを用いて、教師データのクラスごとに
学習を行うことにより、クラスごとのタップ係数が求め
られる。従って、そのタップ係数を用いることにより、
高画質の画像を復号することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ＭＰＥＧデコーダの構成例を示すブロック図で
ある。

【図２】本発明を適用した画像処理装置の第１実施の形
態の構成例を示すブロック図である。

【図３】ＤＣＴ変換部２１と周波数領域動き補償加算部
２２の構成例を示すブロック図である。

【図４】サンプリング部６１の処理を説明するための図
である。

【図５】サンプリング部６１の処理を説明するための図
である。

【図６】２次元ＤＣＴ変換および２次元逆ＤＣＴ変換、
並びに１次元ＤＣＴ変換および１次元逆ＤＣＴ変換を説
明するための図である。

【図７】原画像、水平１次元ＤＣＴ係数、垂直１次元Ｄ
ＣＴ係数、および２次元ＤＣＴ係数を示すディスプレイ
上に表示された中間階調の写真である。

【図８】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接す
る隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図９】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接す
る隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１０】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１１】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１２】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１３】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１４】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１５】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１６】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１７】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１８】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図１９】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図２０】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図２１】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図２２】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図２３】注目ブロックの境界の画素列に空間的に隣接
する隣接ブロックの画素列を説明するための図である。

【図２４】隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２の構
成例を示すブロック図である。

【図２５】隣接１次元ＤＣＴ係数選択／変換部３２の処
理を説明するフローチャートである。

【図２６】左上ブロック処理の詳細を説明するフローチ
ャートである。

【図２７】左下ブロック処理の詳細を説明するフローチ
ャートである。

【図２８】右上ブロック処理の詳細を説明するフローチ
ャートである。

【図２９】右下ブロック処理の詳細を説明するフローチ
ャートである。

【図３０】ＡＣパワーを説明するための図である。

【図３１】ＡＣパワー算出部３３の構成例を示すブロッ
ク図である。

【図３２】ＡＣ内積を説明するための図である。

【図３３】ＡＣ内積計算部３４の構成例を示すブロック
図である。

【図３４】クラスコード生成部３６の構成例を示すブロ
ック図である。

【図３５】クラスコードのフォーマットを示す図であ
る。

【図３６】クラスコード生成部３６の処理を説明するフ
ローチャートである。

【図３７】クラスコード生成部３７の構成例を示すブロ
ック図である。

【図３８】４：２：２フォーマットにおける輝度ブロッ
クと色差ブロックとの対応関係を示す図である。

【図３９】輝度クラスコードを利用した色差クラスコー
ドの生成を説明する図である。

【図４０】４：２：０フォーマットにおける輝度ブロッ
クと色差ブロックとの対応関係を示す図である。

【図４１】輝度クラスコードを利用した色差クラスコー
ドの生成を説明する図である。

【図４２】適応処理部５１の構成例を示すブロック図で
ある。

【図４３】適応処理部５１の処理を説明するフローチャ
ートである。

【図４４】タップ係数を学習する学習装置の第１実施の
形態の構成例を示すブロック図である。

【図４５】学習装置による学習処理を説明するフローチ
ャートである。

【図４６】タップ係数を学習する学習装置の第２実施の
形態の構成例を示すブロック図である。

【図４７】タップ係数を学習する学習装置の第３実施の
形態の構成例を示すブロック図である。

【図４８】シミュレーションにより得られた復号画像の
Ｓ／Ｎを示す図である。

【図４９】シミュレーションにより得られた復号画像を
示すディスプレイ上に表示された中間階調の写真であ
る。

【図５０】本発明を適用した画像処理装置の第２実施の
形態の構成例を示すブロック図である。

【図５１】タップ係数を学習する学習装置の第４の実施
の形態の構成例を示すブロック図である。

【図５２】本発明を適用した画像処理装置の第３実施の
形態の概要を説明する図である。

【図５３】本発明を適用した画像処理装置の第３実施の
形態の構成例を示すブロック図である。

【図５４】タップ係数を学習する学習装置の第５の実施
の形態の構成例を示すブロック図である。

【図５５】本発明を適用した画像処理装置の第４実施の
形態の構成例を示すブロック図である。

【図５６】タップ係数を学習する学習装置の第６の実施
の形態の構成例を示すブロック図である。

【図５７】タップ係数を学習する学習装置の第７の実施
の形態の構成例を示すブロック図である。

【図５８】本発明を適用したコンピュータの一実施の形
態の構成例を示すブロック図である。

【符号の説明】

１ 分離部， ２ ＤＣＴ係数抽出／逆量子化部， ４
動き補償部， ５画像メモリ， １１ 前処理部，
１２ バッファメモリ， １３ クラス分類部， １４
タップ係数記憶部， １５ 画像再構成部， ２１
ＤＣＴ変換部， ２２ 周波数領域動き補償加算部，
３１ １次元逆ＤＣＴ変換部， ３２隣接１次元ＤＣＴ
係数選択／変換部， ３３ ＡＣパワー算出部， ３４
ＡＣ内積計算部， ３５ 隣接タップデータ生成部，
３６，３７ クラスコード生成部， ４１，４２ タ
ップ係数選択部， ４３，４４ 係数メモリ， ５１適
応処理部， ５２ 逆ＤＣＴ変換部， ６１ サンプリ
ング部， ６２ ＤＣＴ部， ７１ ＤＣＴ係数選択
部， ７２ 加算部， ７３ 選択部， ８０制御部，
８１ メモリ， ８２ 垂直１次元逆ＤＣＴ変換部，
８３ サンプリング部， ８４ 垂直１次元ＤＣＴ変
換部， ８５ 選択部， ９１ 水平１次元ＤＣＴ係数
抽出部， ９２ 垂直１次元ＤＣＴ係数抽出部， ９３
水平ＡＣパワー計算部， ９４ 垂直ＡＣパワー計算
部， １０１ 上内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部， １
０２ 下内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部， １０３ 左
内積用１次元ＤＣＴ係数抽出部， １０４ 右内積用１
次元ＤＣＴ係数抽出部，１０５ 上内積演算部， １０
６ 下内積演算部， １０７ 左内積演算部，１０８
右内積演算部， １１１，１１２ 比較部， １１３
平坦性条件判定部， １１４ 連続性条件判定部， １
１５ 境界部エッジ条件判定部， １１６ クラスコー
ド作成部， １２１，１２２ 比較部， １２３ クラ
スコード作成部， １３１ 予測タップ生成部， １３
２ タップ係数バッファ， １３３ 積和演算部， １
４１ 教師データストレージ， １４２ 生徒データ生
成部， １４３ 生徒データストレージ， １４４ 予
測タップ生成部， １４５ クラス分類部， １４６
足し込み部， １４７ タップ係数演算部， １５１
ＭＰＥＧエンコーダ， １５２ 分離部， １５３ Ｄ
ＣＴ係数抽出／逆量子化部， １７１ ＭＰＥＧエンコ
ーダ， １７２ 分離部， １７３ ＤＣＴ係数抽出／
逆量子化部， １７４ クラス分類部， １７５ タッ
プ係数記憶部， １７６ 適応処理部， １７７ Ｉピ
クチャストレージ， １７８ 動き補償部， １７９
画像メモリ， １８０ ＤＣＴ変換部， １８１ 周波
数領域動き補償加算部， １９１ ＭＰＥＧエンコー
ダ， １９２ 分離部， １９３ ＤＣＴ係数抽出／逆
量子化部， １９４ クラス分類部， １９５ タップ
係数記憶部， １９６ 適応処理部， １９７ Ｉピク
チャストレージ， １９８ 動き補償部， １９９ 画
像メモリ， ２００ ＤＣＴ変換部， ２０１周波数領
域動き補償加算部， ２０２ クラス分類部， ２０３
タップ係数記憶部， ２０４ 適応処理部， ２０５
Ｐピクチャストレージ， ２０６ 動き補償部， ２
０７ 画像メモリ， ２０８ ＤＣＴ変換部， ２０９
周波数領域動き補償加算部， ２２１ 学習用データ
ストレージ， ２２２ 教師データ生成部， ２２３
生徒データ生成部， ３０１ ＭＰＥＧデコーダ， ３
０２ ＤＣＴ変換部， ３１１ ＭＰＥＧエンコーダ，
３１２ ＭＰＥＧデコーダ， ４０１ バス， ４０
２ CPU， ４０３ ROM， ４０４ RAM， ４０５
ハードディスク， ４０６ 出力部， ４０７ 入力
部， ４０８ 通信部， ４０９ ドライブ， ４１０
入出力インタフェース， ４１１ リムーバブル記録
媒体

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 浜松 俊彦 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 大塚 秀樹 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 西片 丈晴 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 國弘 威 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 森藤 孝文 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 Ｆターム(参考） 5C057 EA02 EA07 EL01 EM04 EM09 GG01 5C059 KK03 KK04 MA00 MA04 MA05 MA14 MA23 MC11 MC30 MC34 ME01 PP05 PP06 PP07 PP25 UA02 UA05 UA33 5C078 AA04 BA32 BA57 CA02 CA21 DA01 5J064 AA01 BA16 BB14 BC01 BC08 BC14 BC16 BD03

Claims (99)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ
   (Discrete Cosine Transform)変換して得られる２次元
   ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号する画像処理装置
   であって、 前記２次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換すること
   により、１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換
   手段と、 前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、前記画像データを構
   成する画素を、複数のクラスのうちのいずれかのクラス
   にクラス分けするクラス分類を行うクラス分類手段と、 前記クラス分類手段によるクラス分類の結果得られるク
   ラスごとに、前記符号化データを処理する処理手段とを
   備えることを特徴とする画像処理装置。
2. 【請求項２】 前記符号化データは、前記画像データ
   を、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換した前記２
   次元ＤＣＴ係数を含み、 前記クラス分類手段は、注目している画素である注目画
   素を含むブロックである注目ブロックにおける前記１次
   元ＤＣＴ係数に基づいて、前記注目画素のクラス分類を
   行うことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 【請求項３】 前記１次元逆ＤＣＴ変換手段は、前記注
   目ブロックの２次元ＤＣＴ係数を、水平方向の空間周波
   数成分を表す水平１次元ＤＣＴ係数と、垂直方向の空間
   周波数成分を表す垂直１次元ＤＣＴ係数に変換し、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックの水平１次元
   ＤＣＴ係数のうちの、前記注目画素の位置に対応するも
   のと、前記注目ブロックの垂直１次元ＤＣＴ係数のうち
   の、前記注目画素の位置に対応するものとに基づいて、
   前記注目画素のクラス分類を行うことを特徴とする請求
   項２に記載の画像処理装置。
4. 【請求項４】 前記注目ブロックにおける前記注目画素
   の位置に対応する前記水平１次元ＤＣＴ係数と垂直１次
   元ＤＣＴ係数から、それぞれの交流成分のパワーを求め
   るパワー算出手段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記交流成分のパワーに基づい
   て、前記注目画素のクラス分類を行うことを特徴とする
   請求項３に記載の画像処理装置。
5. 【請求項５】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロッ
   クにおける前記１次元ＤＣＴ係数から、前記注目画素の
   アクティビティを求め、そのアクティビティに基づい
   て、前記注目画素のクラス分類を行うことを特徴とする
   請求項２に記載の画像処理装置。
6. 【請求項６】 前記クラス分類手段は、前記１次元ＤＣ
   Ｔ係数の交流成分の自乗和を、前記アクティビティとし
   て求めることを特徴とする請求項５に記載の画像処理装
   置。
7. 【請求項７】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロッ
   クにおける前記１次元ＤＣＴ係数と、その注目ブロック
   以外のブロックにおける前記１次元ＤＣＴ係数に基づい
   て、前記注目画素のクラス分類を行うことを特徴とする
   請求項２に記載の画像処理装置。
8. 【請求項８】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロッ
   クにおける前記１次元ＤＣＴ係数と、その注目ブロック
   に隣接するブロックである隣接ブロックにおける前記１
   次元ＤＣＴ係数とに基づいて、前記注目画素のクラス分
   類を行うことを特徴とする請求項７に記載の画像処理装
   置。
9. 【請求項９】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロッ
   クにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元Ｄ
   ＣＴ係数と、前記隣接ブロックにおける、前記注目ブロ
   ックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数とに基づいて、前
   記注目画素のクラス分類を行うことを特徴とする請求項
   ８に記載の画像処理装置。
10. 【請求項１０】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックと空間上において隣接するブロックを、前記隣接ブ
    ロックとして、前記注目ブロックにおける、前記隣接ブ
    ロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数と、前記隣接ブ
    ロックにおける、前記注目ブロックに隣接する前記１次
    元ＤＣＴ係数とに基づいて、前記注目画素のクラス分類
    を行うことを特徴とする請求項９に記載の画像処理装
    置。
11. 【請求項１１】 前記符号化データは、前記画像データ
    をＭＰＥＧ(MovingPicture Experts Group)符号化した
    ものであり、 前記注目ブロックを含むマクロブロックである注目マク
    ロブロックのＤＣＴタイプと、前記注目マクロブロック
    に隣接するマクロブロックのＤＣＴタイプに基づいて、
    前記注目ブロックと空間上において隣接する前記隣接ブ
    ロックにおける、前記注目ブロックに隣接する前記１次
    元ＤＣＴ係数を取得する隣接１次元ＤＣＴ係数取得手段
    をさらに備えることを特徴とする請求項１０に記載の画
    像処理装置。
12. 【請求項１２】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の交流成分のパワーと、前記隣接ブロックに
    おける、前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ
    係数の交流成分のパワーとに基づいて、前記注目画素の
    クラス分類を行うことを特徴とする請求項９に記載の画
    像処理装置。
13. 【請求項１３】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の直流成分と、前記隣接ブロックにおける、
    前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数の直
    流成分とに基づいて、前記注目画素のクラス分類を行う
    ことを特徴とする請求項９に記載の画像処理装置。
14. 【請求項１４】 前記注目ブロックにおける、前記隣接
    ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数をコンポーネ
    ントとするベクトルと、前記隣接ブロックにおける、前
    記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数をコン
    ポーネントとするベクトルとの内積を求める内積演算手
    段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックと隣接ブロッ
    クの前記１次元ＤＣＴ係数から求められる内積に基づい
    て、前記注目画素のクラス分類を行うことを特徴とする
    請求項８に記載の画像処理装置。
15. 【請求項１５】 前記注目ブロックにおける前記１次元
    ＤＣＴ係数と、前記隣接ブロックにおける前記１次元Ｄ
    ＣＴ係数とから、前記注目ブロックと隣接ブロックとの
    間の平坦性を判定する平坦性判定手段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックと隣接ブロッ
    クとの間の平坦性に基づいて、前記注目画素のクラス分
    類を行うことを特徴とする請求項８に記載の画像処理装
    置。
16. 【請求項１６】 前記平坦性判定手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の交流成分のパワーと、前記隣接ブロックに
    おける、前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ
    係数の交流成分のパワーとに基づいて、前記注目ブロッ
    クと隣接ブロックとの間の平坦性を判定することを特徴
    とする請求項１５に記載の画像処理装置。
17. 【請求項１７】 前記平坦性判定手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の直流成分と、前記隣接ブロックにおける、
    前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数の直
    流成分に基づいて、前記注目ブロックと隣接ブロックと
    の間の平坦性を判定することを特徴とする請求項１５に
    記載の画像処理装置。
18. 【請求項１８】 前記注目ブロックにおける前記１次元
    ＤＣＴ係数と、前記隣接ブロックにおける前記１次元Ｄ
    ＣＴ係数とから、前記注目ブロックと隣接ブロックとの
    間の連続性を判定する連続性判定手段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックと隣接ブロッ
    クとの間の連続性に基づいて、前記注目画素のクラス分
    類を行うことを特徴とする請求項８に記載の画像処理装
    置。
19. 【請求項１９】 前記連続性判定手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数をコンポーネントとするベクトルと、前記隣
    接ブロックにおける、前記注目ブロックに隣接する前記
    １次元ＤＣＴ係数をコンポーネントとするベクトルとの
    内積に基づいて、前記注目ブロックと隣接ブロックとの
    間の連続性を判定することを特徴とする請求項１８に記
    載の画像処理装置。
20. 【請求項２０】 前記画像データは、カラーの画像デー
    タであり、 前記クラス分類手段は、輝度信号の画素と、色信号の画
    素とを別にクラス分類することを特徴とする請求項１に
    記載の画像処理装置。
21. 【請求項２１】 前記クラス分類手段は、前記輝度信号
    の画素のクラス分類の結果を用いて、前記色信号の画素
    のクラス分類を行うことを特徴とする請求項２０に記載
    の画像処理装置。
22. 【請求項２２】 前記符号化データは、前記画像データ
    をＭＰＥＧ(MovingPicture Experts Group)符号化した
    ものであり、 前記クラス分類手段は、輝度信号のマクロブロックを構
    成するブロックの画素のクラス分類の結果を用いて、対
    応する色信号のマクロブロックを構成するブロックの画
    素のクラス分類を行うことを特徴とする請求項２０に記
    載の画像処理装置。
23. 【請求項２３】 前記処理手段は、前記符号化データに
    含まれる前記２次元ＤＣＴ係数を、画素値に変換するこ
    とを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
24. 【請求項２４】 前記処理手段は、 所定の学習によって得られるクラスごとのタップ係数の
    うちの、注目している画素である注目画素のクラスに対
    応するものを取得する取得手段と、 前記取得手段によって取得された前記タップ係数との所
    定の予測演算に用いる予測タップを、前記２次元ＤＣＴ
    係数から生成する予測タップ生成手段と、 前記注目画素のクラスのタップ係数と、前記予測タップ
    とを用いて、前記所定の予測演算を行うことにより、前
    記注目画素の画素値を求める予測演算手段とを有するこ
    とを特徴とする請求項２３に記載の画像処理装置。
25. 【請求項２５】 前記タップ係数は、前記２次元ＤＣＴ
    係数とタップ係数とを用いて予測演算を行うことにより
    得られる前記注目画素の画素値の予測値の予測誤差が統
    計的に最小になるように学習を行うことにより求められ
    たものであることを特徴とする請求項２４に記載の画像
    処理装置。
26. 【請求項２６】 前記符号化データは、前記画像データ
    を、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換した前記２
    次元ＤＣＴ係数を含み、 前記予測タップ生成手段は、前記注目画素を含むブロッ
    クである注目ブロックの前記２次元ＤＣＴ係数すべてを
    用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする請
    求項２４に記載の画像処理装置。
27. 【請求項２７】 前記取得手段は、前記注目画素のクラ
    スについて、前記ブロックにおける画素の位置ごとのタ
    ップ係数を取得し、 前記予測演算手段は、前記注目画素のクラスの、その注
    目画素の注目ブロックにおける位置に対応するタップ係
    数を用いて、前記所定の予測演算を行うことを特徴とす
    る請求項２６に記載の画像処理装置。
28. 【請求項２８】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロック以外のブロックの情報をも用いて、前記予測タ
    ップを生成することを特徴とする請求項２６に記載の画
    像処理装置。
29. 【請求項２９】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロックに隣接するブロックである隣接ブロックの情報
    をも用いて、前記予測タップを生成することを特徴とす
    る請求項２８に記載の画像処理装置。
30. 【請求項３０】 前記予測タップ生成手段は、前記隣接
    ブロックの２次元ＤＣＴ係数または１次元ＤＣＴ係数を
    も用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする
    請求項２９に記載の画像処理装置。
31. 【請求項３１】 前記処理手段は、所定の学習によって
    得られるクラスごとのタップ係数のうちの、注目してい
    る画素である注目画素のクラスに対応するものを取得す
    る取得手段と、 前記取得手段によって取得された前記タップ係数との所
    定の予測演算に用いる予測タップを、前記２次元ＤＣＴ
    係数から生成する予測タップ生成手段と、 前記注目画素のクラスのタップ係数と、前記予測タップ
    とを用いて、前記所定の予測演算を行うことにより、前
    記注目画素に対する新たな２次元ＤＣＴ係数を求める予
    測演算手段と、 前記新たな２次元ＤＣＴ係数を、２次元逆ＤＣＴ変換す
    ることにより、前記注目画素の画素値を求める２次元逆
    ＤＣＴ変換手段とを有することを特徴とする請求項１に
    記載の画像処理装置。
32. 【請求項３２】 前記タップ係数は、前記２次元ＤＣＴ
    係数とタップ係数とを用いて予測演算を行うことにより
    得られる前記注目画素に対する新たな２次元ＤＣＴ係数
    の予測値の予測誤差が統計的に最小になるように学習を
    行うことにより求められたものであることを特徴とする
    請求項３１に記載の画像処理装置。
33. 【請求項３３】 前記符号化データは、前記画像データ
    を、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換した前記２
    次元ＤＣＴ係数を含み、 前記予測タップ生成手段は、前記注目画素を含むブロッ
    クである注目ブロックの前記２次元ＤＣＴ係数すべてを
    用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする請
    求項３１に記載の画像処理装置。
34. 【請求項３４】 前記取得手段は、前記注目画素のクラ
    スについて、前記ブロックにおける画素の位置ごとのタ
    ップ係数を取得し、 前記予測演算手段は、前記注目画素のクラスの、その注
    目画素の注目ブロックにおける位置に対応するタップ係
    数を用いて、前記所定の予測演算を行うことを特徴とす
    る請求項３３に記載の画像処理装置。
35. 【請求項３５】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロック以外のブロックの情報をも用いて、前記予測タ
    ップを生成することを特徴とする請求項３３に記載の画
    像処理装置。
36. 【請求項３６】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロックに隣接するブロックである隣接ブロックの情報
    をも用いて、前記予測タップを生成することを特徴とす
    る請求項３５に記載の画像処理装置。
37. 【請求項３７】 前記予測タップ生成手段は、前記隣接
    ブロックの２次元ＤＣＴ係数または１次元ＤＣＴ係数を
    も用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする
    請求項３６に記載の画像処理装置。
38. 【請求項３８】 前記符号化データを、前記画像データ
    に復号する復号手段と、 前記復号手段により復号された前記画像データを、２次
    元ＤＣＴ変換することにより、２次元ＤＣＴ係数を求め
    る２次元ＤＣＴ変換手段とをさらに備え、 前記１次元逆ＤＣＴ変換手段は、前記２次元ＤＣＴ変換
    手段が出力する前記２次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣ
    Ｔ変換することにより、１次元ＤＣＴ係数を求め、 前記クラス分類手段は、前記１次元ＤＣＴ係数に基づい
    て、前記画像データを構成する画素を、複数のクラスの
    うちのいずれかのクラスにクラス分けするクラス分類を
    行い、 前記処理手段は、前記クラス分類手段によるクラス分類
    の結果得られるクラスごとに、前記符号化データから復
    号された前記画像データを処理することを特徴とする請
    求項１に記載の画像処理装置。
39. 【請求項３９】 前記処理手段は、 所定の学習によって得られるクラスごとのタップ係数の
    うちの、注目している画素である注目画素のクラスに対
    応するものを取得する取得手段と、 前記取得手段によって取得された前記タップ係数との所
    定の予測演算に用いる予測タップを、前記復号手段が出
    力する前記画像データを構成する画素から生成する予測
    タップ生成手段と、 前記注目画素のクラスのタップ係数と、前記予測タップ
    とを用いて、前記所定の予測演算を行うことにより、前
    記注目画素の画素値を求める予測演算手段とを有するこ
    とを特徴とする請求項３８に記載の画像処理装置。
40. 【請求項４０】 前記タップ係数は、前記予測タップと
    タップ係数とを用いて予測演算を行うことにより得られ
    る前記注目画素の画素値の予測値の予測誤差が統計的に
    最小になるように学習を行うことにより求められたもの
    であることを特徴とする請求項３９に記載の画像処理装
    置。
41. 【請求項４１】 前記符号化データは、前記画像データ
    を、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換した前記２
    次元ＤＣＴ係数を含み、 前記予測タップ生成手段は、前記注目画素を含むブロッ
    クである注目ブロックの画素すべてを用いて、前記予測
    タップを生成することを特徴とする請求項３９に記載の
    画像処理装置。
42. 【請求項４２】 前記取得手段は、前記注目画素のクラ
    スについて、前記ブロックにおける画素の位置ごとのタ
    ップ係数を取得し、 前記予測演算手段は、前記注目画素のクラスの、その注
    目画素の注目ブロックにおける位置に対応するタップ係
    数を用いて、前記所定の予測演算を行うことを特徴とす
    る請求項４１に記載の画像処理装置。
43. 【請求項４３】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロック以外のブロックの情報をも用いて、前記予測タ
    ップを生成することを特徴とする請求項４１に記載の画
    像処理装置。
44. 【請求項４４】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロックに隣接するブロックである隣接ブロックの情報
    をも用いて、前記予測タップを生成することを特徴とす
    る請求項４３に記載の画像処理装置。
45. 【請求項４５】 前記予測タップ生成手段は、前記隣接
    ブロックの２次元ＤＣＴ係数または１次元ＤＣＴ係数を
    も用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする
    請求項４４に記載の画像処理装置。
46. 【請求項４６】 前記符号化データは、前記画像データ
    から、その予測画像を減算して得られる残差画像を２次
    元ＤＣＴ変換した２次元ＤＣＴ係数を含み、 前記処理手段が前記符号化データを処理することにより
    得られる、前記画像データの復号画像から、前記予測画
    像を生成する予測画像生成手段と、 前記予測画像を２次元ＤＣＴ変換し、２次元ＤＣＴ係数
    を出力する２次元ＤＣＴ変換手段と、 前記残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、対応する前記予測
    画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算し、元の画像の２次元
    ＤＣＴ係数を求める加算手段とをさらに備え、 前記１次元逆ＤＣＴ変換手段は、前記元の画像の２次元
    ＤＣＴ係数を、１次元ＤＣＴ係数に変換することを特徴
    とする請求項１に記載の画像処理装置。
47. 【請求項４７】 前記予測画像生成手段は、前記画像デ
    ータの復号画像を参照画像として、動き補償を施すこと
    により、前記予測画像を生成することを特徴とする請求
    項４６に記載の画像処理装置。
48. 【請求項４８】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号する画像処理方法
    であって、 前記２次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換すること
    により、１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換
    ステップと、 前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、前記画像データを構
    成する画素を、複数のクラスのうちのいずれかのクラス
    にクラス分けするクラス分類を行うクラス分類ステップ
    と、 前記クラス分類ステップによるクラス分類の結果得られ
    るクラスごとに、前記符号化データを処理する処理ステ
    ップとを備えることを特徴とする画像処理方法。
49. 【請求項４９】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号する画像処理を、
    コンピュータに行わせるプログラムであって、 前記２次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換すること
    により、１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換
    ステップと、 前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、前記画像データを構
    成する画素を、複数のクラスのうちのいずれかのクラス
    にクラス分けするクラス分類を行うクラス分類ステップ
    と、 前記クラス分類ステップによるクラス分類の結果得られ
    るクラスごとに、前記符号化データを処理する処理ステ
    ップとを備えることを特徴とするプログラム。
50. 【請求項５０】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号する画像処理を、
    コンピュータに行わせるプログラムが記録されている記
    録媒体であって、 前記２次元ＤＣＴ係数を、１次元逆ＤＣＴ変換すること
    により、１次元ＤＣＴ係数を求める１次元逆ＤＣＴ変換
    ステップと、 前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、前記画像データを構
    成する画素を、複数のクラスのうちのいずれかのクラス
    にクラス分けするクラス分類を行うクラス分類ステップ
    と、 前記クラス分類ステップによるクラス分類の結果得られ
    るクラスごとに、前記符号化データを処理する処理ステ
    ップとを備えるプログラムが記録されていることを特徴
    とする記録媒体。
51. 【請求項５１】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号するのに用いるタ
    ップ係数を学習する画像処理装置であって、 学習用の画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換す
    ることにより符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化
    データを出力する符号化手段と、 前記符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を、１次
    元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣＴ係数を求
    める１次元逆ＤＣＴ変換手段と、 前記学習用の画像データから得られる、学習の教師とな
    る教師データを、前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複
    数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けする
    クラス分類を行うクラス分類手段と、 前記教師データと、前記学習用の画像データから得られ
    る、学習の生徒となる生徒データとを用いて、前記教師
    データのクラスごとに学習を行うことにより、前記クラ
    スごとの前記タップ係数を求める学習手段とを備えるこ
    とを特徴とする画像処理装置。
52. 【請求項５２】 前記学習手段は、前記タップ係数と前
    記生徒データとを用いて予測演算を行うことにより得ら
    れる前記教師データの予測値の予測誤差が統計的に最小
    になるように学習を行うことにより、前記タップ係数を
    求めることを特徴とする請求項５１に記載の画像処理装
    置。
53. 【請求項５３】 前記符号化手段は、前記学習用の画像
    データを、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換する
    ことにより符号化し、 前記クラス分類手段は、前記学習用の画像データを構成
    する画素を前記教師データとして、注目している教師デ
    ータである注目教師データを含むブロックである注目ブ
    ロックにおける前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、前記
    注目教師データのクラス分類を行うことを特徴とする請
    求項５１に記載の画像処理装置。
54. 【請求項５４】 前記１次元逆ＤＣＴ変換手段は、前記
    注目ブロックの２次元ＤＣＴ係数を、水平方向の空間周
    波数成分を表す水平１次元ＤＣＴ係数と、垂直方向の空
    間周波数成分を表す垂直１次元ＤＣＴ係数に変換し、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックの水平１次元
    ＤＣＴ係数のうちの、前記注目教師データの位置に対応
    するものと、前記注目ブロックの垂直１次元ＤＣＴ係数
    のうちの、前記注目教師データの位置に対応するものと
    に基づいて、前記注目教師データのクラス分類を行うこ
    とを特徴とする請求項５３に記載の画像処理装置。
55. 【請求項５５】 前記注目ブロックにおける前記注目教
    師データの位置に対応する前記水平１次元ＤＣＴ係数と
    垂直１次元ＤＣＴ係数から、それぞれの交流成分のパワ
    ーを求めるパワー算出手段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記交流成分のパワーに基づい
    て、前記注目教師データのクラス分類を行うことを特徴
    とする請求項５４に記載の画像処理装置。
56. 【請求項５６】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける前記１次元ＤＣＴ係数から、前記注目教師
    データのアクティビティを求め、そのアクティビティに
    基づいて、前記注目教師データのクラス分類を行うこと
    を特徴とする請求項５３に記載の画像処理装置。
57. 【請求項５７】 前記クラス分類手段は、前記１次元Ｄ
    ＣＴ係数の交流成分の自乗和を、前記アクティビティと
    して求めることを特徴とする請求項５６に記載の画像処
    理装置。
58. 【請求項５８】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける前記１次元ＤＣＴ係数と、その注目ブロッ
    ク以外のブロックにおける前記１次元ＤＣＴ係数に基づ
    いて、前記注目教師データのクラス分類を行うことを特
    徴とする請求項５３に記載の画像処理装置。
59. 【請求項５９】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける前記１次元ＤＣＴ係数と、その注目ブロッ
    クに隣接するブロックである隣接ブロックにおける前記
    １次元ＤＣＴ係数とに基づいて、前記注目教師データの
    クラス分類を行うことを特徴とする請求項５８に記載の
    画像処理装置。
60. 【請求項６０】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数と、前記隣接ブロックにおける、前記注目ブ
    ロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数とに基づいて、
    前記注目教師データのクラス分類を行うことを特徴とす
    る請求項５９に記載の画像処理装置。
61. 【請求項６１】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックと空間上において隣接するブロックを、前記隣接ブ
    ロックとして、前記注目ブロックにおける、前記隣接ブ
    ロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数と、前記隣接ブ
    ロックにおける、前記注目ブロックに隣接する前記１次
    元ＤＣＴ係数とに基づいて、前記注目教師データのクラ
    ス分類を行うことを特徴とする請求項６０に記載の画像
    処理装置。
62. 【請求項６２】 前記符号化手段が、前記学習用の画像
    データをＭＰＥＧ(Moving Picture Experts Group)符号
    化する場合において、 前記注目ブロックを含むマクロブロックである注目マク
    ロブロックのＤＣＴタイプと、前記注目マクロブロック
    に隣接するマクロブロックのＤＣＴタイプに基づいて、
    前記注目ブロックと空間上において隣接する前記隣接ブ
    ロックにおける、前記注目ブロックに隣接する前記１次
    元ＤＣＴ係数を取得する隣接１次元ＤＣＴ係数取得手段
    をさらに備えることを特徴とする請求項６１に記載の画
    像処理装置。
63. 【請求項６３】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の交流成分のパワーと、前記隣接ブロックに
    おける、前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ
    係数の交流成分のパワーとに基づいて、前記注目教師デ
    ータのクラス分類を行うことを特徴とする請求項６０に
    記載の画像処理装置。
64. 【請求項６４】 前記クラス分類手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の直流成分と、前記隣接ブロックにおける、
    前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数の直
    流成分とに基づいて、前記注目教師データのクラス分類
    を行うことを特徴とする請求項６０に記載の画像処理装
    置。
65. 【請求項６５】 前記注目ブロックにおける、前記隣接
    ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数をコンポーネ
    ントとするベクトルと、前記隣接ブロックにおける、前
    記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数をコン
    ポーネントとするベクトルとの内積を求める内積演算手
    段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックと隣接ブロッ
    クの前記１次元ＤＣＴ係数から求められる内積に基づい
    て、前記注目教師データのクラス分類を行うことを特徴
    とする請求項５９に記載の画像処理装置。
66. 【請求項６６】 前記注目ブロックにおける前記１次元
    ＤＣＴ係数と、前記隣接ブロックにおける前記１次元Ｄ
    ＣＴ係数とから、前記注目ブロックと隣接ブロックとの
    間の平坦性を判定する平坦性判定手段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックと隣接ブロッ
    クとの間の平坦性に基づいて、前記注目教師データのク
    ラス分類を行うことを特徴とする請求項５９に記載の画
    像処理装置。
67. 【請求項６７】 前記平坦性判定手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の交流成分のパワーと、前記隣接ブロックに
    おける、前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ
    係数の交流成分のパワーとに基づいて、前記注目ブロッ
    クと隣接ブロックとの間の平坦性を判定することを特徴
    とする請求項６６に記載の画像処理装置。
68. 【請求項６８】 前記平坦性判定手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数の直流成分と、前記隣接ブロックにおける、
    前記注目ブロックに隣接する前記１次元ＤＣＴ係数の直
    流成分に基づいて、前記注目ブロックと隣接ブロックと
    の間の平坦性を判定することを特徴とする請求項６６に
    記載の画像処理装置。
69. 【請求項６９】 前記注目ブロックにおける前記１次元
    ＤＣＴ係数と、前記隣接ブロックにおける前記１次元Ｄ
    ＣＴ係数とから、前記注目ブロックと隣接ブロックとの
    間の連続性を判定する連続性判定手段をさらに備え、 前記クラス分類手段は、前記注目ブロックと隣接ブロッ
    クとの間の連続性に基づいて、前記注目教師データのク
    ラス分類を行うことを特徴とする請求項５９に記載の画
    像処理装置。
70. 【請求項７０】 前記連続性判定手段は、前記注目ブロ
    ックにおける、前記隣接ブロックに隣接する前記１次元
    ＤＣＴ係数をコンポーネントとするベクトルと、前記隣
    接ブロックにおける、前記注目ブロックに隣接する前記
    １次元ＤＣＴ係数をコンポーネントとするベクトルとの
    内積に基づいて、前記注目ブロックと隣接ブロックとの
    間の連続性を判定することを特徴とする請求項６９に記
    載の画像処理装置。
71. 【請求項７１】 前記学習用の画像データは、カラーの
    画像データであり、 前記クラス分類手段は、輝度信号の画素である前記教師
    データと、色信号の画素である前記教師データとを別に
    クラス分類することを特徴とする請求項５１に記載の画
    像処理装置。
72. 【請求項７２】 前記クラス分類手段は、前記輝度信号
    の画素のクラス分類の結果を用いて、前記色信号の画素
    のクラス分類を行うことを特徴とする請求項７１に記載
    の画像処理装置。
73. 【請求項７３】 前記符号化手段が、前記学習用の画像
    データをＭＰＥＧ(Moving Picture Experts Group)符号
    化する場合において、 前記クラス分類手段は、輝度信号のマクロブロックを構
    成するブロックの画素のクラス分類の結果を用いて、対
    応する色信号のマクロブロックを構成するブロックの画
    素のクラス分類を行うことを特徴とする請求項７１に記
    載の画像処理装置。
74. 【請求項７４】 前記学習手段は、前記学習用の画像デ
    ータを教師データとするとともに、前記符号化手段が出
    力する符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を生徒
    データとして、学習を行うことを特徴とする請求項５１
    に記載の画像処理装置。
75. 【請求項７５】 前記学習手段は、 注目している前記教師データである注目教師データを予
    測するのに前記タップ係数とともに用いる前記生徒デー
    タを、予測タップとして抽出して出力する予測タップ生
    成手段と、 前記予測タップおよびタップ係数を用いて予測演算を行
    うことにより得られる前記注目教師データの予測値の予
    測誤差を、統計的に最小にする前記タップ係数を求める
    タップ係数演算手段とを有することを特徴とする請求項
    ７４に記載の画像処理装置。
76. 【請求項７６】 前記符号化手段は、前記学習用の画像
    データを、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換して
    得られる符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を、
    前記生徒データとして出力し、 前記予測タップ生成手段は、注目している教師データで
    ある注目教師データを含むブロックである注目ブロック
    の生徒データである２次元ＤＣＴ係数すべてを用いて、
    前記予測タップを生成することを特徴とする請求項７５
    に記載の画像処理装置。
77. 【請求項７７】 前記タップ係数演算手段は、前記予測
    タップおよびタップ係数を用いて予測演算を行うことに
    より得られる前記注目教師データの予測値の予測誤差
    を、統計的に最小にする前記タップ係数を、前記教師デ
    ータのクラスごとに、かつ前記教師データの前記ブロッ
    クにおける位置ごとに求めることを特徴とする請求項７
    ６に記載の画像処理装置。
78. 【請求項７８】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロック以外のブロックの情報をも用いて、前記予測タ
    ップを生成することを特徴とする請求項７６に記載の画
    像処理装置。
79. 【請求項７９】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロックに隣接するブロックである隣接ブロックの情報
    をも用いて、前記予測タップを生成することを特徴とす
    る請求項７８に記載の画像処理装置。
80. 【請求項８０】 前記予測タップ生成手段は、前記隣接
    ブロックの２次元ＤＣＴ係数または１次元ＤＣＴ係数を
    も用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする
    請求項７９に記載の画像処理装置。
81. 【請求項８１】 前記学習手段は、前記学習用の画像デ
    ータを２次元ＤＣＴ変換して得られる２次元ＤＣＴ係数
    を教師データとするとともに、前記符号化手段が出力す
    る符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を生徒デー
    タとして、学習を行うことを特徴とする請求項５１に記
    載の画像処理装置。
82. 【請求項８２】 前記学習手段は、 注目している前記教師データである注目教師データを予
    測するのに前記タップ係数とともに用いる前記生徒デー
    タを、予測タップとして抽出して出力する予測タップ生
    成手段と、 前記予測タップおよびタップ係数を用いて予測演算を行
    うことにより得られる前記注目教師データの予測値の予
    測誤差を、統計的に最小にする前記タップ係数を求める
    タップ係数演算手段とを有することを特徴とする請求項
    ８１に記載の画像処理装置。
83. 【請求項８３】 前記符号化データは、前記画像データ
    を、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換した前記２
    次元ＤＣＴ係数を含み、 前記予測タップ生成手段は、前記注目教師データを含む
    ブロックである注目ブロックの前記２次元ＤＣＴ係数す
    べてを用いて、前記予測タップを生成することを特徴と
    する請求項８２に記載の画像処理装置。
84. 【請求項８４】 前記タップ係数演算手段は、前記予測
    タップおよびタップ係数を用いて予測演算を行うことに
    より得られる前記注目教師データの予測値の予測誤差
    を、統計的に最小にする前記タップ係数を、前記教師デ
    ータのクラスごとに、かつ前記教師データの前記ブロッ
    クにおける位置ごとに求めることを特徴とする請求項８
    ３に記載の画像処理装置。
85. 【請求項８５】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロック以外のブロックの情報をも用いて、前記予測タ
    ップを生成することを特徴とする請求項８３に記載の画
    像処理装置。
86. 【請求項８６】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロックに隣接するブロックである隣接ブロックの情報
    をも用いて、前記予測タップを生成することを特徴とす
    る請求項８５に記載の画像処理装置。
87. 【請求項８７】 前記予測タップ生成手段は、前記隣接
    ブロックの２次元ＤＣＴ係数または１次元ＤＣＴ係数を
    も用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする
    請求項８６に記載の画像処理装置。
88. 【請求項８８】 前記学習手段は、前記学習用の画像デ
    ータを教師データとするとともに、前記符号化手段が出
    力する符号化データを復号した復号画像データを生徒デ
    ータとして、学習を行うことを特徴とする請求項５１に
    記載の画像処理装置。
89. 【請求項８９】 前記学習手段は、 注目している前記教師データである注目教師データを予
    測するのに前記タップ係数とともに用いる前記生徒デー
    タを、予測タップとして抽出して出力する予測タップ生
    成手段と、 前記予測タップおよびタップ係数を用いて予測演算を行
    うことにより得られる前記注目教師データの予測値の予
    測誤差を、統計的に最小にする前記タップ係数を求める
    タップ係数演算手段とを有することを特徴とする請求項
    ８８に記載の画像処理装置。
90. 【請求項９０】 前記符号化データは、前記画像データ
    を、所定のブロック単位で２次元ＤＣＴ変換した前記２
    次元ＤＣＴ係数を含み、 前記予測タップ生成手段は、前記注目教師データを含む
    ブロックである注目ブロックの画素すべてを用いて、前
    記予測タップを生成することを特徴とする請求項８９に
    記載の画像処理装置。
91. 【請求項９１】 前記タップ係数演算手段は、前記予測
    タップおよびタップ係数を用いて予測演算を行うことに
    より得られる前記注目教師データの予測値の予測誤差
    を、統計的に最小にする前記タップ係数を、前記教師デ
    ータのクラスごとに、かつ前記教師データの前記ブロッ
    クにおける位置ごとに求めることを特徴とする請求項９
    ０に記載の画像処理装置。
92. 【請求項９２】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロック以外のブロックの情報をも用いて、前記予測タ
    ップを生成することを特徴とする請求項９０に記載の画
    像処理装置。
93. 【請求項９３】 前記予測タップ生成手段は、前記注目
    ブロックに隣接するブロックである隣接ブロックの情報
    をも用いて、前記予測タップを生成することを特徴とす
    る請求項９２に記載の画像処理装置。
94. 【請求項９４】 前記予測タップ生成手段は、前記隣接
    ブロックの２次元ＤＣＴ係数または１次元ＤＣＴ係数を
    も用いて、前記予測タップを生成することを特徴とする
    請求項９３に記載の画像処理装置。
95. 【請求項９５】 前記符号化手段は、前記画像データか
    ら、その予測画像を減算して得られる残差画像を２次元
    ＤＣＴ変換した２次元ＤＣＴ係数を少なくとも含む符号
    化データを出力し、 前記符号化データを復号し、復号画像を出力する復号手
    段と、 前記復号画像から、前記予測画像を生成する予測画像生
    成手段と、 前記予測画像を２次元ＤＣＴ変換し、２次元ＤＣＴ係数
    を出力する２次元ＤＣＴ変換手段と、 前記残差画像の２次元ＤＣＴ係数と、対応する前記予測
    画像の２次元ＤＣＴ係数とを加算し、元の画像の２次元
    ＤＣＴ係数を求める加算手段とをさらに備え、 前記１次元逆ＤＣＴ変換手段は、前記元の画像の２次元
    ＤＣＴ係数を、１次元ＤＣＴ係数に変換することを特徴
    とする請求項５１に記載の画像処理装置。
96. 【請求項９６】 前記予測画像生成手段は、前記復号画
    像を参照画像として、動き補償を施すことにより、前記
    予測画像を生成することを特徴とする請求項９５に記載
    の画像処理装置。
97. 【請求項９７】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号するのに用いるタ
    ップ係数を学習する画像処理方法であって、 学習用の画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換す
    ることにより符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化
    データを出力する符号化ステップと、 前記符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を、１次
    元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣＴ係数を求
    める１次元逆ＤＣＴ変換ステップと、 前記学習用の画像データから得られる、学習の教師とな
    る教師データを、前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複
    数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けする
    クラス分類を行うクラス分類ステップと、 前記教師データと、前記学習用の画像データから得られ
    る、学習の生徒となる生徒データとを用いて、前記教師
    データのクラスごとに学習を行うことにより、前記クラ
    スごとの前記タップ係数を求める学習ステップとを備え
    ることを特徴とする画像処理方法。
98. 【請求項９８】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号するのに用いるタ
    ップ係数を学習する画像処理を、コンピュータに行わせ
    るプログラムであって、 学習用の画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換す
    ることにより符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化
    データを出力する符号化ステップと、 前記符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を、１次
    元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣＴ係数を求
    める１次元逆ＤＣＴ変換ステップと、 前記学習用の画像データから得られる、学習の教師とな
    る教師データを、前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複
    数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けする
    クラス分類を行うクラス分類ステップと、 前記教師データと、前記学習用の画像データから得られ
    る、学習の生徒となる生徒データとを用いて、前記教師
    データのクラスごとに学習を行うことにより、前記クラ
    スごとの前記タップ係数を求める学習ステップとを備え
    ることを特徴とするプログラム。
99. 【請求項９９】 画像データを、少なくとも２次元ＤＣ
    Ｔ(Discrete CosineTransform)変換して得られる２次元
    ＤＣＴ係数を含む符号化データを復号するのに用いるタ
    ップ係数を学習する画像処理を、コンピュータに行わせ
    るプログラムが記録されている記録媒体であって、 学習用の画像データを、少なくとも２次元ＤＣＴ変換す
    ることにより符号化し、２次元ＤＣＴ係数を含む符号化
    データを出力する符号化ステップと、 前記符号化データに含まれる２次元ＤＣＴ係数を、１次
    元逆ＤＣＴ変換することにより、１次元ＤＣＴ係数を求
    める１次元逆ＤＣＴ変換ステップと、 前記学習用の画像データから得られる、学習の教師とな
    る教師データを、前記１次元ＤＣＴ係数に基づいて、複
    数のクラスのうちのいずれかのクラスにクラス分けする
    クラス分類を行うクラス分類ステップと、 前記教師データと、前記学習用の画像データから得られ
    る、学習の生徒となる生徒データとを用いて、前記教師
    データのクラスごとに学習を行うことにより、前記クラ
    スごとの前記タップ係数を求める学習ステップとを備え
    るプログラムが記録されていることを特徴とする記録媒
    体。