JP2003259658A - 電力変換装置 - Google Patents
電力変換装置Info
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Abstract
数配置したときに、半導体モジュールを配置したヒート
シンクの温度勾配を小さくする電力変換装置を提供す
る。 【解決手段】 吸い込み方式の冷却用ファン21A,2
1Bの吸い込み側に、冷却用ファン21A,21Bの通
風路に沿ってヒートシンクを複数に分割して複数の分割
ヒートシンク部23U,23Dを形成し、これら分割ヒ
ートシンク部23U及び23D上に半導体モジュール2
4A〜24C及び24D〜24Fを配置する。通風路2
2A,22Bの下流側の分割ヒートシンク部23Dの熱
抵抗値を上流側の分割ヒートシンク部23Uの熱抵抗値
より小さい値に設定する。
Description
を駆動するインバータ装置、無停電電源装置、アクティ
ブフィルタ等の半導体素子を含んで構成される複数の半
導体モジュールを冷却用ヒートシンクで冷却するように
した電力変換装置に関する。
は、例えば図9に示すように、商用電源からある設定さ
れた周波数と電圧を出力するインバータ装置が挙げられ
る。このインバータ装置は、3相の商用電源1から供給
される3相交流を6組のダイオードで構成されるダイオ
ード整流器2で直流電圧に変換し、変換した直流電圧を
直流平滑用コンデンサ3で平滑化してからインバータ回
路4に供給して、このインバータ回路4で直流から3相
交流に変換し、変換した三相交流をモータ等の負荷5に
供給するように構成されている。
されたIGBT(Insulated Gate Bipolar Transister)
等の半導体スイッチング素子6と、この半導体スイッチ
ング素子6と逆並列に接続されたダイオード7とで構成
される素子ユニットを2つずつ直列に接続した3つの直
列回路8A〜8Cを並列に接続した構成を有し、各素子
ユニットが個別に半導体モジュール9として形成されて
いる。
ード7などの半導体素子は、自身の発生損失(定常損失
やスイッチング損失)による温度上昇を抑制するため、
ヒートシンク等の冷却体を必ず接続する必要がある。通
常、インバータ運転の場合、モータは3相平衡運転とな
るので、インバータ回路4を構成する半導体モジュール
9からの発生損失は全て等しくなる。
は、ある程度の容量以上のクラスでは、装置を小型化に
すること、及びインバータ回路4と直流平滑用コンデン
サ3間の配線インダクタンスを小さくする必要性がある
ことなどから、インバータ装置内の部品配置は概ね図1
0及び図11に示すように、複数の平滑用コンデンサ
3、半導体モジュール9を設置したヒートシンク10及
び吸い込み方式の複数の冷却用ファン11の順で設置さ
れることが多い。
11は図12に示すように概略直方体であり、冷却用フ
ァン11を省略した図14に示すように、ベース板12
と放熱フィン13とで構成されている。通常、ベース板
12の上部に半導体モジュール9を設置している。実際
には、ダイオード整流器2を構成するダイオードも整流
器モジュールに構成されて、ベース板12の上部に設置
する必要があるが、説明を簡略化するために、その説明
は省略する。
に、ヒートシンク10に、6個の半導体モジュール9を
設置するため、これら半導体モジュール9は、冷却用フ
ァン11による通風路に対して上流側の半導体モジュー
ル9Aと下流側の半導体モジュール9Bとに分けて配置
することになる。このとき、上流側の半導体モジュール
9Aと下流側の半導体モジュール9Bの素子温度とモジ
ュール直下のヒートシンク温度とを比較した場合、下流
側の半導体モジュール9Bは上流側の半導体モジュール
9Aの発熱の影響を受け、モジュール直下温度及び素子
温度が上流側の半導体モジュール9Aに比較して高くな
る。よって、装置設定は、下流側に設置されている半導
体モジュール9Bを考慮して設定するか、或いはあるデ
ィレーティングを設定して設定する必要がある。
から見た図を示す。斜線で示した部分が夫々半導体モジ
ュール9A及び9Bの発生損失の影響で温度が高くなる
部分イメージ化したものである。重なっている個所(熱
干渉が発生している個所)が量モジュール9A及び9B
の影響で特に高くなる。この場合、図13のa点で示す
ヒートシンクの温度の高い個所と図13のb点で示すヒ
ートシンク温度の低い個所との温度差が大きくなり、す
なわち温度勾配が大きくなって、結果的にこのヒートシ
ンク10は有効利用されていないものとなるという未解
決の課題がある。
課題に着目してもされたものであり、ヒートシンク内の
温度勾配を小さくすることにより、ヒートシンクの有効
利用を図ることができる電力変換装置を提供することを
目的としている。
に、請求項1に係る電力変換装置は、半導体素子を含ん
で構成される複数の半導体モジュールを使用して電力の
変換を行い、前記複数の半導体モジュールを、冷却ファ
ンで冷却される冷却用ヒートシンク上に、冷却ファンの
通風路に沿って配置した電力変換装置において、前記冷
却用ヒートシンクを前記通風路に沿う熱抵抗値の異なる
複数の分割ヒートシンク部で構成するようにしたことを
特徴としている。
求項1に係る発明において、前記複数の分割ヒートシン
ク部が、高さを異ならせることにより熱抵抗値を異なら
せるように構成されていることを特徴としている。さら
に、請求項3に係る電力変換装置は、請求項1に係る発
明において、前記複数の分割ヒートシンク部が、ベース
板面積を異ならせることにより熱抵抗値を異ならせるよ
うに構成されていることを特徴としている。
は、請求項1に係る発明において、前記複数の分割ヒー
トシンク部が、ベース板厚を異ならせることにより熱抵
抗値を異ならせるように構成されていることを特徴とし
ている。なおさらに、請求項5に係る電力変換装置は、
請求項1に係る発明において、前記複数の分割ヒートシ
ンク部が、フィン数、フィンピッチ、及びフィン形状の
何れかを異ならせることにより熱抵抗値を異ならせるよ
うに構成されていることを特徴としている。
について説明する。図1は本発明を前述した図5のイン
バータ装置に適用した場合の第1の実施形態を示す平面
図、図2はその要部の斜視図である。図中、21A及び
21Bは吸い込み方式の冷却用ファンであって、これら
冷却用ファン21A及び21Bの吸い込み側に、冷却用
ファン21A及び21Bで形成される通風路22A及び
22Bに沿って2つに分割された冷却用の分割ヒートシ
ンク部23U及び23Dが配設されている。
分割ヒートシンク部23Uには、その上面にインバータ
回路4を構成する6つの半導体モジュール24A〜24
Fの内の3つの半導体モジュール24A〜24Cが通風
路22A及び22Bと直交する方向に所定間隔を保って
設置されている。また、通風路22A及び22Bの下流
側における分割ヒートシンク部23Dには、その上面に
半導体モジュール24A〜24Fの内の残りの3つの半
導体モジュール24D〜24Fが通風路22A及び22
Bと直交する方向に所定間隔を保って配置されている。
Dは、異なる熱抵抗値RU 及びRDに設定され、上流側
の分割ヒートシンク部23Uの熱抵抗値RU に比較して
下流側の分割ヒートシンク部23Dの熱抵抗値RD が小
さい値(RU >RD )に設定されている。この第1の実
施形態においても、インバータ回路4を構成する半導体
モジュール24A〜24Fについて説明しているが、ダ
イオード整流器2を構成するダイオードをモジュール化
した6つのモジュールについても同様に冷却ファンの通
風路の上流側及び下流側に分割した分割ヒートシンク部
上に3つずつ分けて配置する。
る。今、インバータ装置を運転状態とすると、前述した
ように、半導体モジュール24A〜24Fの発生損失の
影響で分割ヒートシンク部23U及び23Dの温度が高
くなる。このとき、分割ヒートシンク部23U及び23
Dで、半導体モジュール24A〜24Fの発生損失の影
響で温度が高くなる部分をイメージ化すると図3に示す
ようになる。
ン21A及び21Bの通風路の下流側の分割ヒートシン
ク部23Dの熱抵抗値RD が上流側の分割ヒートシンク
部23Uの熱抵抗値RU に比較して小さい値に設定され
ているので、下流側の分割ヒートシンク部23Dの方が
冷却能力が高いため、下流側の分割ヒートシンク部23
Dでの半導体モジュール24A〜24Cによって高温と
なっている個所と半導体モジュール24D〜24Fによ
って高温となっている個所とが重なり合う熱干渉領域が
前述した図9に示す従来例の熱干渉領域の広さに比較し
て大幅に狭くなり、上流側の半導体モジュール24A〜
24Cと下流側の半導体モジュールとの温度差現象を解
消することができる。
図5について説明する。この第2の実施形態では、下流
側の分割ヒートシンク部の高さを上流側の分割ヒートシ
ンク部の高さより高く設定するようにしたものである。
すなわち、第2の実施形態では、図4に示すように、前
述した第1の実施形態における下流側の分割ヒートシン
ク部23Dの高さを上流側の分割ヒートシンク部23U
の高さに比較して高くすることにより体積を増加させ
て、下流側の分割ヒートシンク部23Dの熱抵抗値RD
を上流側の分割ヒートシンク部23Uの熱抵抗値RU に
比較して低下させている。
割ヒートシンク部23Dの高さが上流側の分割ヒートシ
ンク部23Uの高さより高いので、上流側の分割ヒート
シンク部23Uに設置された半導体モジュール24A〜
24Cの発生損失による影響で温度が高くなる領域が図
5に示すように、下流側の分割ヒートシンク部23D上
に配置された半導体モジュール24D〜24Fの直下に
及ぶことがないと共に、上流側の半導体モジュール24
A〜24Cと下流側の半導体モジュール24D〜24F
との間の熱干渉を第1の実施形態よりも減少させること
ができ、下流側の分割ヒートシンク部23Dでの高温と
なる領域を極端に狭くすることができる。
いて説明する。この第3の実施形態では、上記第2の実
施形態における下流側の分割ヒートシンク部23Dの高
さを上流側の分割ヒートシンク部23Uの高さより高く
する場合に代えて、図6に示すように、下流側の分割ヒ
ートシンク部23Dの平面から見た面積を上流側のヒー
トシンク23Uの平面から見た面積に比較して広く構成
することにより、この下流側のヒートシンク23Dの熱
抵抗値RD を上流側のシートシンク23Uの熱抵抗値R
U に比較して小さくするようにしている。
1の実施形態と同様に、下流側の分割ヒートシンク部2
3Dに対する上流側の分割ヒートシンク部23Uに配置
された半導体モジュール24A〜24Dの発生損失によ
る熱の影響が下流側の分割ヒートシンク部23Dに配置
された半導体モジュール24D〜24Fに及ばないよう
にすることができ、第1の実施形態と同様の作用効果を
得ることができる。
いて説明する。この第4の実施形態では、前述した第2
の実施形態における下流側の分割ヒートシンク部23D
の高さを上流側の分割ヒートシンク部23Uの高さより
高くする場合に代えて、下流側の分割ヒートシンク部2
3Dを構成するベース板25Dの厚みtD を上流側の分
割シートシンク23Uを構成するベース板25Uの厚み
tU に比較して厚くすることにより、この下流側のヒー
トシンク23Dの熱抵抗値RD を上流側のシートシンク
23Uの熱抵抗値RU に比較して小さくするようにして
いる。
1の実施形態と同様に、下流側の分割ヒートシンク部2
3Dに対する上流側の分割ヒートシンク部23Uに配置
された半導体モジュール24A〜24Dの発生損失によ
る熱の影響が下流側の分割ヒートシンク部23Dに配置
された半導体モジュール24D〜24Fに及ばないよう
にすることができ、第1の実施形態と同様の作用効果を
得ることができる。
いて説明する。この第4の実施形態では、上述した第4
の実施形態における下流側の分割ヒートシンク部23D
のベース板25Dの厚みを上流側の分割ヒートシンク部
23Uのベース板25Uの厚みより厚くする場合に代え
て、図8に示すように、両分割ヒートシンク部23U及
び23Dのベース板25U及び25Dの厚みを同一厚み
とし、下流側の分割ヒートシンク部23Dにおけるベー
ス板25Dの下側に配設される冷却フィン26Dのフィ
ン数を、上流側の分割ヒートシンク部23Uにおけるベ
ース板25Uの下側に配設される冷却フィン26Uのフ
ィン数を増加させることにより、この下流側のヒートシ
ンク23Dの熱抵抗値RD を上流側のシートシンク23
Uの熱抵抗値RU に比較して小さくするようにしてい
る。
実施形態と同様に、下流側の分割ヒートシンク部23D
に対する上流側の分割ヒートシンク部23Uに配置され
た半導体モジュール24A〜24Dの発生損失による熱
の影響が下流側の分割ヒートシンク部23Dに配置され
た半導体モジュール24D〜24Fに及ばないようにす
ることができ、第1の実施形態と同様の作用効果を得る
ことができる。
却フィン26U及び26Dのフィン数を異ならすことに
より分割ヒートシンク部23U及び23Dの熱抵抗値を
異ならせた場合について説明したが、これに限定される
ものではなく、冷却フィン間のピッチや冷却フィン形状
を異ならすことにより、分割ヒートシンク部23U及び
23Dの熱抵抗値を異ならせるようにしてもよく、さら
にはフィン数、フィンピッチ、フィン形状の組み合わせ
を変えることにより、分割ヒートシンク部23U及び2
3Dの熱抵抗値を異ならすようにしてもよい。
は、2つの分割ヒートシンク部23U及び23Dでヒー
トシンクを構成する場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、冷却用ファン21A及び21B
の通風路に沿って配置する半導体モジュール数が3以上
である場合には、これに応じて分割ヒートシンク部を3
つ以上設けるようにすればよい。
ては、吸い込み方式の冷却用ファンを適用した場合につ
いて説明したが、これに限定されるものではなく、吐き
出し方式の冷却用ファンを適用するようにしてもよい。
さらにまた、上記第1〜第5の実施形態においては、本
発明をインバータ装置に適用した場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、無停電電源(UP
S)やアクティブフィルタ等の電力用半導体素子を使用
した全ての電力変換装置に本発明を適用することができ
る。さらに、電力変換装置の大容量かのために半導体素
子モジュールを上下に配置して並列接続する場合にも本
発明を適用することができる。
電力変換装置の熱設計の最にディレーティングを考慮す
る必要がなくなるため、同一半導体素子の適用でより大
容量装置化が可能となると共に、半導体モジュール間の
熱干渉を抑制することができるため、分割ヒートシンク
部内の温度勾配が小さくなり、その結果、分割ヒートシ
ンク部の小型軽量化が可能となるという効果が得られ
る。
トシンクの斜視図である。
である。
である。
ある。
図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 半導体素子を含んで構成される複数の半
導体モジュールを使用して電力の変換を行い、前記複数
の半導体モジュールを、冷却ファンで冷却される冷却用
ヒートシンク上に、冷却ファンの通風路に沿って配置し
た電力変換装置において、前記冷却用ヒートシンクを前
記通風路に沿う熱抵抗値の異なる複数の分割ヒートシン
ク部で構成するようにしたことを特徴とする電力変換装
置。 - 【請求項2】 前記複数の分割ヒートシンク部は、高さ
を異ならせることにより熱抵抗値を異ならせるように構
成されていることを特徴とする請求項1記載の電力変換
装置。 - 【請求項3】 前記複数の分割ヒートシンク部は、ベー
ス板面積を異ならせることにより熱抵抗値を異ならせる
ように構成されていることを特徴とする請求項1記載の
電力変換装置。 - 【請求項4】 前記複数の分割ヒートシンク部は、ベー
ス板厚を異ならせることにより熱抵抗値を異ならせるよ
うに構成されていることを特徴とする請求項1記載の電
力変換装置。 - 【請求項5】 前記複数の分割ヒートシンク部は、フィ
ン数、フィンピッチ、及びフィン形状の何れかを異なら
せることにより熱抵抗値を異ならせるように構成されて
いることを特徴とする請求項1記載の電力変換装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002060978A JP2003259658A (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | 電力変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002060978A JP2003259658A (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | 電力変換装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003259658A true JP2003259658A (ja) | 2003-09-12 |
Family
ID=28670128
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002060978A Pending JP2003259658A (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | 電力変換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2003259658A (ja) |
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- 2002-03-06 JP JP2002060978A patent/JP2003259658A/ja active Pending
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