JP2003257630A - Vacuum evaporation method - Google Patents
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Landscapes
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、本発明は真空蒸着
方法に関し、特に、真空蒸着装置内でマグネットと磁性
材料から成る蒸着マスクとの間に絶縁性基板を介挿し
て、前記マグネットを介して前記絶縁性基板と前記蒸着
マスクとを密着させた状態で、蒸着源から前記蒸着マス
クの開口部を通して前記絶縁性基板の表面に蒸着材料の
蒸着を行うことによりパターン形成を行う真空蒸着方法
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum vapor deposition method, and in particular, an insulating substrate is interposed between a magnet and a vapor deposition mask made of a magnetic material in a vacuum vapor deposition apparatus, and the magnet is interposed therebetween. A vacuum deposition method for forming a pattern by depositing a deposition material on a surface of the insulating substrate from a deposition source through an opening of the deposition mask in a state where the insulating substrate and the deposition mask are in close contact with each other. .
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、エレクトロルミネッセンス(Elec
tro Luminescence:以下、「EL」と称する。)素子
を用いたEL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示
装置として注目されており、例えば、そのEL素子を駆
動させるスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Th
in Film Transistor:以下、「TFT」と称する。)を
備えたEL表示装置の研究開発も進められている。2. Description of the Related Art In recent years, electroluminescence (Elec
tro Luminescence: Hereinafter referred to as "EL". ) EL display device using an element has attracted attention as a display device replacing a CRT or LCD. For example, a thin film transistor (Th) is used as a switching element for driving the EL element.
in Film Transistor: Hereinafter referred to as "TFT". ) Are also being researched and developed.
【0003】図7に有機EL表示装置の表示画素付近を
示す平面図を示し、図8(a)に図1中のA−A線に沿
った断面図を示し、図8(b)に図7中のB−B線に沿
った断面図を示す。FIG. 7 is a plan view showing the vicinity of the display pixel of the organic EL display device, FIG. 8A is a sectional view taken along the line AA in FIG. 1, and FIG. 7 is a sectional view taken along line BB in FIG.
【0004】図7及び図8に示すように、ゲート信号線
51とドレイン信号線52とに囲まれた領域に表示画素
115が形成されており、マトリクス状に配置されてい
る。As shown in FIGS. 7 and 8, the display pixels 115 are formed in a region surrounded by the gate signal lines 51 and the drain signal lines 52 and are arranged in a matrix.
【0005】この表示画素115には、自発光素子であ
る有機EL素子60と、この有機EL素子60に電流を
供給するタイミングを制御するスイッチング用TFT3
0と、有機EL素子60に電流を供給する駆動用TFT
40と、保持容量とが配置されている。なお、有機EL
素子60は、第1の電極である陽極61と発光材料から
なる発光素子層と、第2の電極である陰極63とから成
っている。In the display pixel 115, an organic EL element 60, which is a self-luminous element, and a switching TFT 3 for controlling the timing of supplying a current to the organic EL element 60.
0 and a driving TFT that supplies a current to the organic EL element 60
40 and a storage capacitor are arranged. In addition, organic EL
The element 60 includes an anode 61 which is a first electrode, a light emitting element layer which is made of a light emitting material, and a cathode 63 which is a second electrode.
【0006】即ち、両信号線51,52の交点付近には
スイッチング用TFTである第1のTFT30が備えら
れており、そのTFT30のソース33sは保持容量電
極線54との間で容量をなす容量電極55を兼ねるとと
もに、EL素子駆動用TFTである第2のTFT40の
ゲート41に接続されており、第2のTFTのソース4
3sは有機EL素子60の陽極61に接続され、他方の
ドレイン43dは有機EL素子60に供給される電流源
である駆動電源線53に接続されている。That is, a first TFT 30, which is a switching TFT, is provided near the intersection of both signal lines 51 and 52, and the source 33 s of the TFT 30 has a capacitance forming a capacitance with the storage capacitance electrode line 54. It also serves as the electrode 55 and is connected to the gate 41 of the second TFT 40, which is the EL element driving TFT, and the source 4 of the second TFT.
3s is connected to the anode 61 of the organic EL element 60, and the other drain 43d is connected to the drive power supply line 53 which is a current source supplied to the organic EL element 60.
【0007】また、ゲート信号線51と並行に保持容量
電極線54が配置されている。この保持容量電極線54
はクロム等から成っており、ゲート絶縁膜12を介して
TFTのソース33sと接続された容量電極55との間
で電荷を蓄積して容量を成している。この保持容量56
は、第2のTFT40のゲート電極41に印加される電
圧を保持するために設けられている。A storage capacitor electrode line 54 is arranged in parallel with the gate signal line 51. This storage capacitor electrode line 54
Is made of chrome or the like and accumulates charges between the source 33 s of the TFT and the capacitance electrode 55 connected to the source 33 s via the gate insulating film 12 to form a capacitance. This holding capacity 56
Are provided for holding the voltage applied to the gate electrode 41 of the second TFT 40.
【0008】図8に示すように、有機EL表示装置は、
ガラスや合成樹脂などから成る基板又は導電性を有する
基板あるいは半導体基板等の基板10上に、TFT及び
有機EL素子を順に積層形成して成る。ただし、基板1
0として導電性を有する基板及び半導体基板を用いる場
合には、これらの基板10上にSiO2やSiNなどの
絶縁膜を形成した上に第1、第2のTFT及び有機EL
素子を形成する。いずれのTFTともに、ゲート電極が
ゲート絶縁膜を介して能動層の上方にあるいわゆるトッ
プゲート構造である。As shown in FIG. 8, the organic EL display device is
A TFT and an organic EL element are sequentially laminated on a substrate 10 such as a substrate made of glass or synthetic resin, a substrate having conductivity, or a semiconductor substrate. However, substrate 1
When a conductive substrate and a semiconductor substrate are used as 0, an insulating film such as SiO 2 or SiN is formed on the substrate 10 and then the first and second TFTs and the organic EL are formed.
Form an element. Each of the TFTs has a so-called top gate structure in which the gate electrode is above the active layer via the gate insulating film.
【0009】まず、スイッチング用TFTである第1の
TFT30について説明する。First, the first TFT 30, which is a switching TFT, will be described.
【0010】図8(a)に示すように、石英ガラス、無
アルカリガラス等からなる絶縁性基板10上に、非晶質
シリコン膜(以下、「a−Si膜」と称する。)をCV
D法等にて成膜し、そのa−Si膜にレーザ光を照射し
て溶融再結晶化させて多結晶シリコン膜(以下、「p−
Si膜」と称する。)とし、これを能動層33とする。
その上に、SiO2膜、SiN膜の単層あるいは積層体
をゲート絶縁膜32として形成する。更にその上に、C
r、Moなどの高融点金属からなるゲート電極31を兼
ねたゲート信号線51及びAlから成るドレイン信号線
52を備えており、有機EL素子の駆動電源でありAl
から成る駆動電源線53が配置されている。As shown in FIG. 8A, an amorphous silicon film (hereinafter referred to as "a-Si film") is CV on an insulating substrate 10 made of quartz glass, non-alkali glass or the like.
A film is formed by the D method or the like, and the a-Si film is irradiated with laser light to be melted and recrystallized to form a polycrystalline silicon film (hereinafter referred to as “p-
"Si film". ), And this is the active layer 33.
A single layer or a laminated body of a SiO 2 film and a SiN film is formed thereon as the gate insulating film 32. On top of that, C
It is provided with a gate signal line 51 also serving as a gate electrode 31 made of a refractory metal such as r and Mo and a drain signal line 52 made of Al, which is a driving power source for an organic EL element and is Al.
Drive power supply line 53 is arranged.
【0011】そして、ゲート絶縁膜32及び能動層33
上の全面には、SiO2膜、SiN膜及びSiO2膜の順
に積層された層間絶縁膜15が形成されており、ドレイ
ン33dに対応して設けたコンタクトホールにAl等の
金属を充填したドレイン電極36が設けられ、更に全面
に有機樹脂から成り表面を平坦にする平坦化絶縁膜17
が形成されている。Then, the gate insulating film 32 and the active layer 33.
An interlayer insulating film 15 in which a SiO 2 film, a SiN film, and a SiO 2 film are laminated in this order is formed on the entire upper surface, and a drain in which a metal such as Al is filled in a contact hole provided corresponding to the drain 33d. An electrode 36 is provided, and a flattening insulating film 17 made of an organic resin is formed on the entire surface to make the surface flat.
Are formed.
【0012】次に、有機EL素子の駆動用TFTである
第2のTFT40について説明する。図8(b)に示す
ように、石英ガラス、無アルカリガラス等からなる絶縁
性基板10上に、a−Si膜にレーザ光を照射して多結
晶化してなる能動層43、ゲート絶縁膜12、及びC
r、Moなどの高融点金属からなるゲート電極41が順
に形成されており、その能動層43には、チャネル43
cと、このチャネル43cの両側にソース43s及びド
レイン43dが設けられている。そして、ゲート絶縁膜
12及び能動層43上の全面に、SiO2膜、SiN膜
及びSiO2膜の順に積層された層間絶縁膜15を形成
し、ドレイン43dに対応して設けたコンタクトホール
にAl等の金属を充填して駆動電源に接続された駆動電
源線53が配置されている。更に全面に例えば有機樹脂
から成り表面を平坦にする平坦化絶縁膜17を備えてい
る。そして、その平坦化絶縁膜17のソース43sに対
応した位置にコンタクトホールを形成し、このコンタク
トホールを介してソース43sとコンタクトしたITO
から成る透明電極、即ち有機EL素子の陽極61を平坦
化絶縁膜17上に設けている。この陽極61は各表示画
素ごとに島状に分離形成されている。Next, the second TFT 40, which is a driving TFT for the organic EL element, will be described. As shown in FIG. 8B, on the insulating substrate 10 made of quartz glass, non-alkali glass or the like, the active layer 43 and the gate insulating film 12 are formed by irradiating the a-Si film with laser light to polycrystallize it. , And C
A gate electrode 41 made of a refractory metal such as r and Mo is formed in order, and a channel 43 is formed in the active layer 43.
c, and a source 43s and a drain 43d are provided on both sides of the channel 43c. Then, an interlayer insulating film 15 in which a SiO 2 film, a SiN film, and a SiO 2 film are laminated in this order is formed on the entire surface of the gate insulating film 12 and the active layer 43, and Al is formed in a contact hole provided corresponding to the drain 43d. A driving power supply line 53 filled with a metal such as the above and connected to the driving power supply is arranged. Further, a flattening insulating film 17 made of, for example, an organic resin for flattening the surface is provided on the entire surface. Then, a contact hole is formed in the flattening insulating film 17 at a position corresponding to the source 43s, and the ITO is brought into contact with the source 43s through the contact hole.
A transparent electrode made of, that is, an anode 61 of an organic EL element is provided on the flattening insulating film 17. The anode 61 is separately formed in an island shape for each display pixel.
【0013】有機EL素子60は、一般的な構造であ
り、ITO(Indium Thin Oxide)等の透明電極から成
る陽極61、MTDATA(4,4-bis(3-methylphenylph
enylamino)biphenyl)から成る第1ホール輸送層、TP
D(4,4,4-tris(3-methylphenylphenylamino)triphenyl
anine)からなる第2ホール輸送層から成るホール輸送
層62、キナクリドン(Quinacridone)誘導体を含むB
ebq2(10-ベンゾ〔h〕キノリノール−ベリリウム錯
体)から成る発光層63、及びBebq2から成る電子
輸送層64、マグネシウム・インジウム合金もしくはア
ルミニウム、もしくはアルミニウム合金から成る陰極6
5が、この順番で積層形成された構造である。The organic EL element 60 has a general structure and includes an anode 61 made of a transparent electrode such as ITO (Indium Thin Oxide), MTDATA (4,4-bis (3-methylphenylph).
first hole transport layer composed of enylamino) biphenyl), TP
D (4,4,4-tris (3-methylphenylphenylamino) triphenyl
a hole transporting layer 62 comprising a second hole transporting layer comprising anine) and B containing a quinacridone derivative
luminescent layer 63 made of ebq2 (10-benzo [h] quinolinol-beryllium complex), electron transport layer 64 made of Bebq2, cathode 6 made of magnesium-indium alloy or aluminum, or aluminum alloy.
5 is a structure in which layers are formed in this order.
【0014】有機EL素子60は、陽極61から注入さ
れたホールと、陰極65から注入された電子とが発光層
の内部で再結合し、発光層を形成する有機分子を励起し
て励起子が生じる。この励起子が放射失活する過程で発
光層から光が放たれ、この光が透明な陽極61から透明
絶縁基板を介して外部へ放出されて発光する。In the organic EL element 60, the holes injected from the anode 61 and the electrons injected from the cathode 65 are recombined inside the light emitting layer to excite the organic molecules forming the light emitting layer to generate excitons. Occurs. Light is emitted from the light emitting layer in the process of radiation deactivation of the excitons, and this light is emitted to the outside from the transparent anode 61 through the transparent insulating substrate.
【0015】なお、上述した技術は、例えば特開平11
−283182号公報に記載されている。The above-mentioned technique is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No.
No. 283182.
【0016】上述した有機EL素子60のホール輸送層
62、発光層63、電子輸送層64に用いられる有機E
L材料は、耐溶剤性が低く、水分にも弱いという特性が
あるため、半導体プロセスにおけるフォトリソグラフィ
技術を利用することができない。そこで、いわゆるシャ
ドウマスクを用いた蒸着により有機EL素子60のホー
ル輸送層62、発光層63、電子輸送層64のパターン
形成を行っていた。Organic E used in the hole transport layer 62, the light emitting layer 63, and the electron transport layer 64 of the organic EL device 60 described above.
Since the L material has the characteristics of low solvent resistance and weakness to moisture, the photolithography technique in the semiconductor process cannot be used. Therefore, the hole transport layer 62, the light emitting layer 63, and the electron transport layer 64 of the organic EL element 60 are patterned by vapor deposition using a so-called shadow mask.
【0017】係る有機EL材料の蒸着によるパターン形
成方法の問題点について、図9及び図10を参照して説
明する。100は真空蒸着装置であり、101は真空蒸
着装置100に併設された排気系、110は真空蒸着装
置のチャンバー内に設置された支持台であり、この支持
台110上に、ニッケル(Ni)やインバー合金(Fe64N
i36)等の磁性材料から成るシャドウマスク(蒸着マス
ク)111が載置される。シャドウマスク111の所定
の位置には開口部112が複数設けられている。Problems of the pattern forming method by vapor deposition of the organic EL material will be described with reference to FIGS. 9 and 10. Reference numeral 100 is a vacuum vapor deposition apparatus, 101 is an exhaust system attached to the vacuum vapor deposition apparatus 100, 110 is a support stand installed in the chamber of the vacuum vapor deposition apparatus, and nickel (Ni) or Invar alloy (Fe 64 N
A shadow mask (vapor deposition mask) 111 made of a magnetic material such as i 36 ) is placed. A plurality of openings 112 are provided at predetermined positions on the shadow mask 111.
【0018】そして、マグネット120によってシャド
ウマスク111はガラス基板130に密着され、蒸着源
140から、シャドウマスク111の開口部112を通
してガラス基板130の表面に蒸着材料の蒸着を行うこ
とによりパターン形成を行う。Then, the shadow mask 111 is brought into close contact with the glass substrate 130 by the magnet 120, and a pattern is formed by depositing a vapor deposition material from the vapor deposition source 140 on the surface of the glass substrate 130 through the opening 112 of the shadow mask 111. .
【0019】そして、係る蒸着によるパターン形成終了
後は、図9に示すように、マグネット120を上方に移
動させ、ガラス基板130から剥離し、更に、図10に
示すように、ガラス基板130をシャドウマスク111
から剥離する。そして、ガラス基板130は、不図示の
搬送機構により、次の作業位置まで搬送される。After the pattern formation by the vapor deposition is completed, the magnet 120 is moved upward to separate it from the glass substrate 130 as shown in FIG. 9, and the glass substrate 130 is shadowed as shown in FIG. Mask 111
Peel from. Then, the glass substrate 130 is transported to the next work position by a transport mechanism (not shown).
【0020】[0020]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図9に
示すように、マグネット120をガラス基板130から
剥離する時に、剥離帯電が起こり、ガラス基板130は
例えばプラスの静電気を帯びる。そのため、ガラス基板
130の表面電位は数Kボルトという高電圧状態にな
る。そうすると、ガラス基板130に形成された表示画
素115のTFTが破壊されたり、例えばそのしきい値
Vthが変動したりするため、表示画素115が不良とな
るおそれがあった。However, as shown in FIG. 9, when the magnet 120 is peeled from the glass substrate 130, peeling charge occurs, and the glass substrate 130 is charged with, for example, positive static electricity. Therefore, the surface potential of the glass substrate 130 is in a high voltage state of several KV. Then, the TFT of the display pixel 115 formed on the glass substrate 130 is destroyed, or the threshold value Vth thereof fluctuates, for example, so that the display pixel 115 may be defective.
【0021】また、このような剥離帯電は、図10に示
すように、ガラス基板130をシャドウマスク111か
ら剥離する時にも起こると考えられる。It is considered that such peeling charging also occurs when the glass substrate 130 is peeled from the shadow mask 111 as shown in FIG.
【0022】本発明は上述した従来技術の課題に鑑みて
なされたものであり、剥離帯電によりデバイスの破壊や
特性変動を防止した真空蒸着方法を提供することを目的
とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a vacuum vapor deposition method in which device destruction and characteristic variation due to peeling charging are prevented.
【0023】[0023]
【課題を解決するための手段】本発明の真空蒸着方法
は、真空蒸着装置内でマグネットと磁性材料から成る蒸
着マスクとの間に絶縁性基板を介挿して、前記マグネッ
トによって前記絶縁性基板と前記蒸着マスクとを密着さ
せる工程と、蒸着源から前記蒸着マスクの開口部を通し
て前記絶縁性基板の表面に蒸着材料の蒸着を行うことに
よりパターン形成を行う工程と、前記パターン形成終了
後に前記絶縁性基板と前記マグネットとを互いに剥離す
る工程と、前記真空蒸着装置内に紫外線を照射する工程
と、を有することを特徴とするものである。According to the vacuum vapor deposition method of the present invention, an insulating substrate is inserted between a magnet and a vapor deposition mask made of a magnetic material in a vacuum vapor deposition apparatus, and the magnet is used to form the insulating substrate. A step of bringing the vapor deposition mask into close contact, a step of forming a pattern by vapor depositing a vapor deposition material from the vapor deposition source on the surface of the insulating substrate through an opening of the vapor deposition mask, and the insulating property after the pattern formation is completed. It is characterized by including a step of separating the substrate and the magnet from each other, and a step of irradiating the vacuum vapor deposition apparatus with ultraviolet rays.
【0024】本発明によれば、真空蒸着装置内に紫外線
を照射する工程、を新たに設けたので、この紫外線照射
により真空蒸着装置内には正及び負に帯電したイオンが
生成され、このイオンが、剥離帯電により帯電した前記
絶縁性基板の電荷を中和するように作用するため、絶縁
性基板はすみやかに徐電され、絶縁性基板上に形成され
たデバイスの破壊や特性変動を防止することができる。According to the present invention, since a step of irradiating the vacuum vapor deposition apparatus with ultraviolet rays is newly provided, positively and negatively charged ions are generated in the vacuum vapor deposition apparatus by the ultraviolet ray irradiation, and the ions are charged. However, since it acts so as to neutralize the electric charge of the insulating substrate charged by the peeling charge, the insulating substrate is promptly diminished to prevent destruction of the device formed on the insulating substrate and characteristic fluctuation. be able to.
【0025】[0025]
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照しながら詳細に説明する。図1乃至図6は本
発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明する図であ
る。なお、図1乃至6において、図9、図10と同一の
構成部分については同一の符号を付している。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. 1 to 6 are diagrams illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention. 1 to 6, the same components as those in FIGS. 9 and 10 are designated by the same reference numerals.
【0026】まず、図1において、100は真空蒸着装
置、101は真空蒸着装置100に併設された排気系、
110は真空蒸着装置のチャンバー内に設置された支持
台であり、この支持台110上に、ニッケル(Ni)やイ
ンバー合金(Fe64Ni36)等の磁性材料から成るシャド
ウマスク(蒸着マスク)111が載置される。シャドウ
マスク111の所定の位置には開口部112が複数設け
られている。この開口部112は、蒸着材料をガラス基
板130上に蒸着する位置に対応して設けられている。First, in FIG. 1, 100 is a vacuum vapor deposition apparatus, 101 is an exhaust system attached to the vacuum vapor deposition apparatus 100,
Reference numeral 110 denotes a support table installed in the chamber of the vacuum vapor deposition apparatus. On the support table 110, a shadow mask (deposition mask) 111 made of a magnetic material such as nickel (Ni) or Invar alloy (Fe 64 Ni 36 ). Is placed. A plurality of openings 112 are provided at predetermined positions on the shadow mask 111. The opening 112 is provided at a position where the vapor deposition material is vapor deposited on the glass substrate 130.
【0027】支持台110上に載置されるシャドウマス
ク111上にはマグネット120が上下方向に可動に配
置されている。130はマグネット120とシャドウマ
スク111の間に介挿されるマザーガラスと呼ばれるガ
ラス基板である。このガラス基板140にはすでにEL
素子を駆動するTFTが形成されている。140はシャ
ドウマスク111の下方に配置され、シャドウマスク1
11に沿って左右方向に移動可能な蒸着源である。ま
た、200は、真空蒸着装置100に併設された紫外線
照射装置である。A magnet 120 is vertically movably arranged on a shadow mask 111 placed on a support 110. Reference numeral 130 is a glass substrate called mother glass which is interposed between the magnet 120 and the shadow mask 111. This glass substrate 140 is already EL
A TFT that drives the element is formed. 140 is disposed below the shadow mask 111, and the shadow mask 1
11 is a vapor deposition source that can be moved in the left and right directions. Further, reference numeral 200 is an ultraviolet irradiation device provided alongside the vacuum vapor deposition device 100.
【0028】図1において、いま真空蒸着装置100の
チャンバー内は排気系101によって真空状態に保たれ
ているとする。そこで、ガラス基板130は不図示の搬
送機構によってマグネット120とシャドウマスク11
1の間に介挿される。そして、図2に示すように、ガラ
ス基板130は搬送機構によりシャドウマスク111上
に載置される。In FIG. 1, it is assumed that the inside of the chamber of the vacuum vapor deposition apparatus 100 is kept in a vacuum state by the exhaust system 101. Therefore, the glass substrate 130 is transferred to the magnet 120 and the shadow mask 11 by a transport mechanism (not shown).
It is inserted between 1. Then, as shown in FIG. 2, the glass substrate 130 is placed on the shadow mask 111 by the transport mechanism.
【0029】次に、図3に示すように、マグネット12
0をガラス基板130の上面と接触する位置まで下方向
に移動させる。すると、シャドウマスク111はマグネ
ット120の磁力を受けてガラス基板130の下面、す
なわちパターン形成面に密着される。Next, as shown in FIG.
0 is moved downward to a position where it contacts the upper surface of the glass substrate 130. Then, the shadow mask 111 receives the magnetic force of the magnet 120 and is brought into close contact with the lower surface of the glass substrate 130, that is, the pattern forming surface.
【0030】次に、図4に示すように、蒸着源140を
不図示の移動機構によりガラス基板130左端から右端
まで水平方向に移動させながら、シャドウマスク111
の開口部112を通してガラス基板130の表面に上記
有機EL材料、陰極65の材料(例えばアルミニウム)
の蒸着を行う。ここで、蒸着源140は図1の紙面の垂
直方向に細長く延びたるつぼによって構成され、るつぼ
内に収納された蒸着材料はヒーターによって加熱され蒸
発される。Next, as shown in FIG. 4, the shadow mask 111 is moved while the vapor deposition source 140 is moved horizontally from the left end to the right end of the glass substrate 130 by a moving mechanism (not shown).
The organic EL material and the material of the cathode 65 (for example, aluminum) on the surface of the glass substrate 130 through the opening 112 of
Vapor deposition is performed. Here, the vapor deposition source 140 is composed of a crucible extending in a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1, and the vapor deposition material housed in the crucible is heated by a heater to be vaporized.
【0031】そして、蒸着によるパターン形成が終了す
ると、マグネット120は上方に移動させ、ガラス基板
130から剥離される。この時、剥離帯電により、ガラ
ス基板130上には、例えば正の電荷が生じる。そこ
で、図5に示すように、紫外線照射装置200から紫外
線を真空蒸着装置100のチャンバー内に照射する。す
ると、チャンバー内に残留していた分子に紫外線が照射
されることにより、正及び負のイオンが生成される。When the pattern formation by vapor deposition is completed, the magnet 120 is moved upward and separated from the glass substrate 130. At this time, for example, positive charge is generated on the glass substrate 130 due to peeling charging. Therefore, as shown in FIG. 5, ultraviolet rays are emitted from the ultraviolet ray irradiation device 200 into the chamber of the vacuum vapor deposition device 100. Then, the molecules remaining in the chamber are irradiated with ultraviolet rays to generate positive and negative ions.
【0032】この負イオンがガラス基板130上の正電
荷に引き寄せられ、これらが結合することで互いの電荷
が打ち消されることにより、ガラス基板130が除電さ
れる。これにより、TFT等のデバイスの破壊や特性変
動は防止される。The negative ions are attracted to the positive charges on the glass substrate 130, and the combined charges cancel each other's charges, whereby the glass substrate 130 is discharged. As a result, destruction of devices such as TFTs and characteristic fluctuations are prevented.
【0033】ここで、紫外線照射装置200からの紫外
線は、真空蒸着装置100のチャッバーの壁に設けられ
た紫外線を通過させる透明部から照射されるようにして
いるが、この構成に限られず、スペースの制約はある
が、チャンバー内に紫外線照射装置200を設置しても
よい。Here, the ultraviolet ray from the ultraviolet ray irradiating device 200 is radiated from the transparent portion which is provided on the wall of the chabber of the vacuum vapor deposition device 100 and which allows the ultraviolet ray to pass therethrough. However, the ultraviolet irradiation device 200 may be installed in the chamber.
【0034】また、紫外線照射時のチャンバー内の真空
度は10-2〜10-6torrであることが好ましい。必
要な徐電時間はおよそ1秒以内である。この範囲より低
真空では紫外線照射によるイオンの動きが遅くなり、徐
電時間が長くなってしまう。また、これ範囲より高真空
ではイオン化に寄与する分子が少なくなり、やはり徐電
時間が長くなってしまう。Further, the degree of vacuum in the chamber during the ultraviolet irradiation is preferably from 10- 2 ~10- 6 torr. The required slow electrification time is about 1 second or less. If the vacuum is lower than this range, the movement of ions due to the irradiation of ultraviolet rays becomes slow, and the time required for the slow discharge becomes long. Further, if the vacuum is higher than this range, the number of molecules that contribute to ionization decreases, and the slow electric charge time also increases.
【0035】また、紫外線照射は、ガラス基板130と
上方に移動されたマグネット120との間の空間に行う
ことが好ましい。紫外線照射により生成するイオンの生
成位置とガラス基板130との距離が短くなり、係るイ
オンがすみやかにガラス基板130に到達するためであ
る。Further, it is preferable that the ultraviolet irradiation is performed in the space between the glass substrate 130 and the magnet 120 moved upward. This is because the distance between the generation position of ions generated by ultraviolet irradiation and the glass substrate 130 is shortened, and the ions reach the glass substrate 130 promptly.
【0036】次に、図6に示すように、ガラス基板13
0は搬送機構によりシャドウマスク111から剥離さ
れ、次工程の作業位置まで搬送される。この時も、剥離
帯電により、ガラス基板130上には、例えばプラスの
電荷が生じる。そこで、同様に、紫外線照射装置200
から紫外線を真空蒸着装置100のチャンバー内に照射
することにより、ガラス基板130の徐電を行った後
に、次工程の搬作業位置まで搬送する。Next, as shown in FIG. 6, the glass substrate 13
0 is stripped from the shadow mask 111 by the transport mechanism and is transported to the work position of the next process. Also at this time, for example, a positive charge is generated on the glass substrate 130 due to the peeling charge. Therefore, similarly, the ultraviolet irradiation device 200
By irradiating the inside of the chamber of the vacuum vapor deposition device 100 with ultraviolet light, the glass substrate 130 is gradually discharged, and then the glass substrate 130 is transported to the carrying position of the next step.
【0037】ここで、紫外線照射は、ガラス基板130
とシャドウマスク111との間の空間に行うことが好ま
しい。紫外線照射により生成するイオンの生成位置とガ
ラス基板130との距離が短くなり、係るイオンがすみ
やかにガラス基板130に到達するためである。Here, the UV irradiation is performed on the glass substrate 130.
Is preferably performed in a space between the shadow mask 111 and the shadow mask 111. This is because the distance between the generation position of ions generated by ultraviolet irradiation and the glass substrate 130 is shortened, and the ions reach the glass substrate 130 promptly.
【0038】また、紫外線照射を一括して行う場合に
は、ガラス基板130が搬送機構によりシャドウマスク
111から剥離される際に、ガラス基板130とシャド
ウマスク111との間の空間及び、マグネット120と
ガラス基板130との間の空間にそれぞれ照射するのが
好ましいと考えられる。Further, in the case where the ultraviolet irradiation is collectively performed, when the glass substrate 130 is peeled from the shadow mask 111 by the transport mechanism, the space between the glass substrate 130 and the shadow mask 111 and the magnet 120 are removed. It is considered preferable to irradiate each of the spaces with the glass substrate 130.
【0039】なお、上述した実施形態においては、蒸着
によるパターン形成後に、マグネット120を移動させ
て、ガラス基板130から剥離される場合を示したが、
ガラス基板130を移動させてマグネット120を剥離
した後に、紫外線照射をしても同様の効果が得られる。In the above-described embodiment, the case where the magnet 120 is moved and peeled from the glass substrate 130 after the pattern formation by vapor deposition has been described.
Similar effects can be obtained by irradiating ultraviolet rays after moving the glass substrate 130 to separate the magnet 120.
【0040】また、図6に示すように、ガラス基板13
0がシャドウマスク111から剥離される場合を示した
が、ガラス基板130からシャドウマスク111を剥離
した後に紫外線照射をしても同様の効果が得られる。As shown in FIG. 6, the glass substrate 13
Although 0 is peeled from the shadow mask 111, the same effect can be obtained by irradiating ultraviolet rays after peeling the shadow mask 111 from the glass substrate 130.
【0041】[0041]
【発明の効果】本発明の真空蒸着方法によれば、真空蒸
着装置内に紫外線を照射する工程、を新たに設けたの
で、蒸着によりパターン形成が施される絶縁性基板は、
すみやかに徐電され、当該絶縁性基板上に形成されたデ
バイスの破壊や特性変動を防止することができる。特
に、有機EL表示装置の製造に適用することにより、表
示装置の歩留まり向上、その品質を向上に寄与すること
ができる。According to the vacuum vapor deposition method of the present invention, since a step of irradiating ultraviolet rays in the vacuum vapor deposition apparatus is newly provided, the insulating substrate on which the pattern is formed by vapor deposition is
It is possible to prevent the device formed on the insulative substrate from being destroyed or the characteristics thereof to be changed, as soon as the electricity is gradually reduced. In particular, by applying it to the manufacture of an organic EL display device, it is possible to contribute to the improvement of the yield and the quality of the display device.
【図1】本発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明す
る図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明す
る図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明す
る図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention.
【図4】本発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明す
る図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention.
【図5】本発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明す
る図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention.
【図6】本発明の実施形態に係る真空蒸着方法を説明す
る図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to an embodiment of the present invention.
【図7】従来のEL表示装置の平面図である。FIG. 7 is a plan view of a conventional EL display device.
【図8】図7中のB−B線に沿った断面図である。8 is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG.
【図9】従来例に係る真空蒸着方法を説明する図であ
る。FIG. 9 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to a conventional example.
【図10】従来例に係る真空蒸着方法を説明する図であ
る。FIG. 10 is a diagram illustrating a vacuum vapor deposition method according to a conventional example.
100 真空蒸着装置 110 排気系 111
シャドウマスク
112 開口部 120 マグネット 130 ガ
ラス基板
140 蒸着源 200 紫外線照射装置100 vacuum deposition apparatus 110 exhaust system 111
Shadow mask 112 Opening 120 Magnet 130 Glass substrate 140 Deposition source 200 Ultraviolet irradiation device
Claims (4)
から成る蒸着マスクとの間に絶縁性基板を介挿して、前
記マグネットによって前記絶縁性基板と前記蒸着マスク
とを密着させる工程と、 蒸着源から前記蒸着マスクの開口部を通して前記絶縁性
基板の表面に蒸着材料の蒸着を行うことによりパターン
形成を行う工程と、 前記パターン形成終了後に前記絶縁性基板と前記マグネ
ットとを互いに剥離する工程と、前記真空蒸着装置内に
紫外線を照射する工程と、を有することを特徴とする真
空蒸着方法。1. A step of inserting an insulating substrate between a magnet and a vapor deposition mask made of a magnetic material in a vacuum vapor deposition apparatus, and bringing the magnet into close contact with the insulating substrate and the vapor deposition mask. From the step of performing pattern formation by performing vapor deposition of a vapor deposition material on the surface of the insulating substrate through the opening of the vapor deposition mask, and a step of peeling the insulating substrate and the magnet from each other after the pattern formation is completed, And a step of irradiating the inside of the vacuum vapor deposition apparatus with ultraviolet rays.
工程において、前記絶縁性基板と前記マグネットとの間
の空間に紫外線を照射することを特徴とする請求項1記
載の真空蒸着方法。2. The vacuum vapor deposition method according to claim 1, wherein in the step of irradiating the vacuum vapor deposition apparatus with ultraviolet light, the space between the insulating substrate and the magnet is irradiated with ultraviolet light.
から成る蒸着マスクとの間に絶縁性基板を介挿して、前
記マグネットによって前記絶縁性基板と前記蒸着マスク
とを密着させる工程と、 蒸着源から前記蒸着マスクの開口部を通して前記絶縁性
基板の表面に蒸着材料の蒸着を行うことによりパターン
形成を行う工程と、 前記パターン形成終了後に前記絶縁性基板と前記マグネ
ットとを互いに剥離する工程と、 前記絶縁性基板と前記蒸着マスクとを互いに剥離する工
程と、 前記真空蒸着装置内に紫外線を照射する工程と、を有す
ることを特徴とする真空蒸着方法。3. A step of inserting an insulating substrate between a magnet and a vapor deposition mask made of a magnetic material in a vacuum vapor deposition apparatus, and bringing the magnet into close contact with the insulating substrate and the vapor deposition mask. From the step of performing pattern formation by performing vapor deposition of a vapor deposition material on the surface of the insulating substrate through the opening of the vapor deposition mask, and a step of peeling the insulating substrate and the magnet from each other after the pattern formation is completed, A vacuum vapor deposition method comprising: a step of separating the insulating substrate and the vapor deposition mask from each other; and a step of irradiating the vacuum vapor deposition apparatus with ultraviolet rays.
工程は、前記マグネットと前記絶縁性基板との間の空間
又は/及び前記絶縁性基板と前記蒸着マスクの間の空間
に紫外線を照射することを特徴とする真空蒸着方法。4. The step of irradiating ultraviolet rays into the vacuum vapor deposition apparatus irradiates ultraviolet rays to a space between the magnet and the insulating substrate or / and a space between the insulating substrate and the vapor deposition mask. A vacuum vapor deposition method characterized by the above.
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
JP2011127218A (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Samsung Mobile Display Co Ltd | Thin film deposition device and manufacturing method of organic emission display device utilizing it |
-
2002
- 2002-02-27 JP JP2002052007A patent/JP2003257630A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011127218A (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Samsung Mobile Display Co Ltd | Thin film deposition device and manufacturing method of organic emission display device utilizing it |
CN102148234A (en) * | 2009-12-15 | 2011-08-10 | 三星移动显示器株式会社 | Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing organic light emitting display device thereused |
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