JP2003243248A - Method of manufacturing electronic chip component - Google Patents

Method of manufacturing electronic chip component

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JP2003243248A
JP2003243248A JP2002044410A JP2002044410A JP2003243248A JP 2003243248 A JP2003243248 A JP 2003243248A JP 2002044410 A JP2002044410 A JP 2002044410A JP 2002044410 A JP2002044410 A JP 2002044410A JP 2003243248 A JP2003243248 A JP 2003243248A
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JP
Japan
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component
holder
component body
holding hole
chip
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JP2002044410A
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Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Fujii
昭宏 藤井
Mitsuru Nagashima
満 永島
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method by which external electrodes can be formed surely only on end faces of a component body of each electronic chip component by dry-plating. <P>SOLUTION: A holder 21 composed of an elastic material 23 having holes 24 is prepared, and the component bodies 2 of the electronic chip components are respectively inserted into the holding holes 24 with the end faces 5 of the component bodies 2 on opening sides 25 of the holes 24 so that peripheral walls 26 specifying the openings of the holes 24 may cover the peripheral sections of the end faces 5 due to the elasticity of the elastic material 23. In this state, the external electrodes 3 are formed on the end faces 5 directed to the openings 25 of the holes 24 of the component bodies 2 held by the holder 21 by dry- plating. Other external electrodes are also formed on the other end faces 6 of the component bodies 2 of the electronic chip components by also performing the same step on the end faces 6. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、チップ状電子部
品の製造方法に関するもので、特に、チップ状電子部品
の外部電極の形成方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a chip-shaped electronic component, and more particularly to a method for forming an external electrode of the chip-shaped electronic component.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば積層セラミックコンデンサのよ
うなチップ状電子部品は、一般的に、図3に示すような
外観を有している。
2. Description of the Related Art A chip-shaped electronic component such as a monolithic ceramic capacitor generally has an appearance as shown in FIG.

【0003】図3を参照して、チップ状電子部品1は、
チップ状の部品本体2を備え、部品本体2の各端部に
は、外部電極3および4が形成されている。
Referring to FIG. 3, the chip-shaped electronic component 1 is
A chip-shaped component body 2 is provided, and external electrodes 3 and 4 are formed at each end of the component body 2.

【0004】上述の外部電極3および4は、通常、図3
に示すように、部品本体2の端面5および6の各々上に
形成されながらも、端面5および6間に位置する周面7
の一部にまで延びる延長部8および9を有している。
The above-mentioned external electrodes 3 and 4 are usually shown in FIG.
As shown in FIG. 3, the peripheral surface 7 located between the end surfaces 5 and 6 while being formed on each of the end surfaces 5 and 6 of the component body 2.
Has extensions 8 and 9 extending to a part of the.

【0005】しかしながら、チップ状電子部品1が、た
とえば高電圧用の積層セラミックコンデンサのように、
高電圧下で使用されるものである場合、外部電極3およ
び4間での放電が、延長部8および9の存在のために、
より生じやすくなる。このことから、図3に示したよう
に、延長部8および9を有する外部電極3および4を備
えるチップ状電子部品1は、耐電圧性に劣るという問題
を有している。
However, if the chip-shaped electronic component 1 is, for example, a monolithic ceramic capacitor for high voltage,
When used under high voltage, the discharge between the outer electrodes 3 and 4 is due to the presence of the extensions 8 and 9,
More likely to occur. For this reason, as shown in FIG. 3, the chip-shaped electronic component 1 including the external electrodes 3 and 4 having the extension portions 8 and 9 has a problem of poor withstand voltage.

【0006】上述した問題を解決するため、図4に示す
ような形態のチップ状電子部品11が提案されている。
図4において、図3に示した要素に相当する要素には同
様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
In order to solve the above-mentioned problems, a chip-shaped electronic component 11 having a form as shown in FIG. 4 has been proposed.
In FIG. 4, elements corresponding to those shown in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0007】図4を参照して、チップ状電子部品11に
おいては、外部電極3および4は、部品本体2の端面5
および6上にのみそれぞれ形成され、周面7にまで延び
る延長部を有していない。
Referring to FIG. 4, in the chip-shaped electronic component 11, the external electrodes 3 and 4 are the end faces 5 of the component body 2.
And 6 respectively, and has no extension extending to the peripheral surface 7.

【0008】図4に示したチップ状電子部品11によれ
ば、外部電極3および4間での放電を生じにくくするこ
とができ、したがって、耐電圧性を向上させることがで
きる。
According to the chip-shaped electronic component 11 shown in FIG. 4, discharge between the external electrodes 3 and 4 can be made difficult to occur, and therefore the withstand voltage can be improved.

【0009】他方、図3に示したチップ状電子部品1お
よび図4に示したチップ状電子部品11のいずれについ
ても、外部電極3および4を形成するため、たとえば蒸
着やスパッタリングのような乾式めっき法が適用される
ことがある。乾式めっき法によって外部電極3および4
を形成しようとする場合、部品本体2の端面5および6
の各々に向かって金属粒子を飛ばし、端面5および6の
各々上で外部電極3および4となる金属膜を成膜するこ
とが行なわれる。
On the other hand, in both the chip-shaped electronic component 1 shown in FIG. 3 and the chip-shaped electronic component 11 shown in FIG. 4, in order to form the external electrodes 3 and 4, dry plating such as vapor deposition or sputtering is performed. Laws may apply. External electrodes 3 and 4 by dry plating
End faces 5 and 6 of the component body 2 are to be formed.
The metal particles are blown toward each of the end surfaces 5 and 6 to form metal films to be the external electrodes 3 and 4 on the end surfaces 5 and 6, respectively.

【0010】この成膜工程において、金属粒子は、部品
本体2の端面5および6の各々上だけでなく、周面7上
にまで回り込むので、図3に示した外部電極3および4
ならびに図4に示した外部電極3および4のいずれを形
成する場合であっても、不所望な箇所に金属粒子が回り
込まないようにするため、通常、適当なマスクが用いら
れる。
In this film forming process, the metal particles wrap around not only on the end surfaces 5 and 6 of the component body 2 but also on the peripheral surface 7, so that the external electrodes 3 and 4 shown in FIG.
Also, in any case of forming any of the external electrodes 3 and 4 shown in FIG. 4, a suitable mask is usually used in order to prevent the metal particles from wrapping around at an undesired place.

【0011】特開平6−53097号公報には、図4に
示したような外部電極3および4を形成するのに適した
方法が記載されている。この公報では、支持プレート
に、部品本体の寸法より若干大きい寸法を有する収納部
を設けて、この収納部に部品本体を装填した後、支持プ
レートの表面に、部品本体の端面よりも若干小さい寸法
のマスク孔を備えたマスク板を装着して、次いで、支持
プレートに往復振動を付与した状態で、支持プレートの
上面に対してスパッタリングを施すことが記載されてい
る。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-53097 describes a method suitable for forming the external electrodes 3 and 4 as shown in FIG. In this publication, the support plate is provided with an accommodating portion having a size slightly larger than the size of the component main body, and after the component main body is loaded into this accommodating part, the surface of the support plate is slightly smaller than the end face of the component main body. It is described that a mask plate having a mask hole is attached, and then sputtering is performed on the upper surface of the support plate in a state where reciprocating vibration is applied to the support plate.

【0012】また、上述の公報には、図4に示したよう
な外部電極3および4を形成するのに適した従来の方法
として、図5に示すような方法も記載されている。
The above-mentioned publication also discloses a method as shown in FIG. 5 as a conventional method suitable for forming the external electrodes 3 and 4 as shown in FIG.

【0013】図5を参照して、弾性体からなるホルダ1
3が用意される。ホルダ13には、部品本体2を受け入
れかつ部品本体2の周面7に密着する保持孔14が設け
られている。
Referring to FIG. 5, a holder 1 made of an elastic body.
3 is prepared. The holder 13 is provided with a holding hole 14 that receives the component body 2 and is in close contact with the peripheral surface 7 of the component body 2.

【0014】次に、保持孔14内に部品本体2が挿入さ
れる。このとき、ホルダ13を構成する弾性体の弾性に
基づき、部品本体2の周面7に保持孔14が密着するこ
とによって、部品本体2がホルダ13に保持される。ま
た、部品本体2は、その一方の端面、たとえば端面5が
ホルダ13の上面と面一となるように位置決めされる。
Next, the component body 2 is inserted into the holding hole 14. At this time, the component body 2 is held by the holder 13 because the holding hole 14 is brought into close contact with the peripheral surface 7 of the component body 2 based on the elasticity of the elastic body forming the holder 13. Further, the component body 2 is positioned so that one end surface thereof, for example, the end surface 5 is flush with the upper surface of the holder 13.

【0015】次に、ホルダ13の上面がターゲット15
と対向するように配置され、スパッタリング工程が実施
される。これによって、矢印16で示すように、金属粒
子を部品本体2の端面5およびホルダ13の上面に向か
って飛ばし、金属膜17が成膜され、部品本体2の端面
5上に成膜された金属膜17によって、外部電極3が与
えられる。
Next, the upper surface of the holder 13 is the target 15
And a sputtering process is performed. As a result, as shown by the arrow 16, the metal particles are blown toward the end surface 5 of the component body 2 and the upper surface of the holder 13 to form the metal film 17, and the metal film formed on the end surface 5 of the component body 2 is deposited. The outer electrode 3 is provided by the membrane 17.

【0016】同様の工程が、部品本体2の他方の端面6
に対しても実施される。
The same process is performed by the other end surface 6 of the component body 2.
Will also be implemented.

【0017】図5に示した方法によれば、ホルダ13
を、単に部品本体2を保持するためのものだけでなく、
部品本体2の周面7に金属膜17が形成されないように
するためのマスクとしても機能させることができる。
According to the method shown in FIG. 5, the holder 13
Not only for holding the component body 2,
It can also function as a mask for preventing the metal film 17 from being formed on the peripheral surface 7 of the component body 2.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た特開平6−53097号公報に記載された方法および
図5に示した方法には、いずれも、解決されるべき課題
がある。
However, both the method described in JP-A-6-53097 and the method shown in FIG. 5 have problems to be solved.

【0019】まず、特開平6−53097号公報に記載
された方法では、収納部に部品本体を装填している支持
プレートに往復振動を与えるようにしている。したがっ
て、このような往復振動を与えるための機構が必要であ
り、装置のコスト上昇を招く。また、往復振動が与えら
れたとき、部品本体は収納部内で繰り返し移動されるこ
とになり、部品本体の磨耗の問題が生じるとともに、繰
り返される衝突により、部品本体が割れたり欠けたりす
るなどの損傷の問題をも引き起こす。
First, in the method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-53097, reciprocating vibration is applied to the support plate in which the component main body is loaded in the storage portion. Therefore, a mechanism for giving such a reciprocating vibration is required, which causes an increase in the cost of the device. In addition, when reciprocating vibration is applied, the component body will be repeatedly moved within the storage part, which will cause wear of the component body and damage such as cracking or chipping of the component body due to repeated collisions. Cause the problem of.

【0020】次に、図5に示した方法では、ホルダ13
の上面と部品本体2の端面5とを面一になるように位置
決めして端面5のみに外部電極3を形成するものである
が、しばしば、図6に示すような不都合を招くことがあ
る。すなわち、保持孔14の開口を規定する周壁部が部
品本体2の周面7からわずかに離れ、そこに隙間18が
形成されてしまうことがある。このような不都合は、1
個のホルダ13に、行および列方向に配列されながら、
多数個の保持孔14が設けられている場合に生じやすい
傾向がある。その原因は、次のとおりであると考えられ
る。
Next, in the method shown in FIG. 5, the holder 13
The upper surface and the end surface 5 of the component body 2 are positioned so as to be flush with each other and the external electrode 3 is formed only on the end surface 5, but this often causes the inconvenience as shown in FIG. That is, the peripheral wall portion defining the opening of the holding hole 14 may be slightly separated from the peripheral surface 7 of the component body 2, and the gap 18 may be formed there. Such inconvenience is 1
While being arranged in the row and column directions in the individual holders 13,
This tends to occur when a large number of holding holes 14 are provided. The cause is considered to be as follows.

【0021】すなわち、保持孔14内への部品本体2の
挿入は、ホルダ13を構成する弾性体の弾性に抗して行
なわれ、そのため、保持孔14の周囲において、ホルダ
13が変形する。多数個の保持孔14がホルダ13に設
けられていると、このような変形が累積され、この変形
の累積によって、図6に示すような隙間18が形成され
てしまうのである。
That is, the insertion of the component main body 2 into the holding hole 14 is carried out against the elasticity of the elastic body forming the holder 13, so that the holder 13 is deformed around the holding hole 14. If a large number of holding holes 14 are provided in the holder 13, such deformation is accumulated, and the accumulation of this deformation forms a gap 18 as shown in FIG.

【0022】なお、ホルダ13における保持孔14の位
置によって、上述した変形の累積の度合いが異なり、通
常、ホルダ13の特定の箇所に位置する保持孔14にお
いて、図6に示すような隙間18が生じることが多い。
また、保持孔14の全周にわたって、隙間18が生じる
ことはむしろ稀であり、通常、保持孔14の周囲の一部
において、隙間18が形成されることが多い。このよう
な隙間18は、ホルダ13の保持孔14の寸法ばらつき
や位置ばらつきによって、さらに形成されることが多く
なる。
It should be noted that the degree of accumulation of the above-mentioned deformation differs depending on the position of the holding hole 14 in the holder 13, and normally, in the holding hole 14 located at a specific position of the holder 13, a gap 18 as shown in FIG. Often occurs.
Further, the gap 18 is rather rare to be formed over the entire circumference of the holding hole 14, and normally, the gap 18 is often formed in a part of the periphery of the holding hole 14. Such a gap 18 is more often formed due to variations in the dimensions and positions of the holding holes 14 of the holder 13.

【0023】また、一般に、部品本体2には、その割れ
や欠けなどの損傷を低減するため、面取りが施される。
このような面取りが施された部品本体2をホルダ13の
保持孔14へ挿入すると、図7に示すように、保持孔1
4の角部において隙間18aが形成される。
In general, the component body 2 is chamfered in order to reduce damage such as cracks and chips.
When the chamfered component body 2 is inserted into the holding hole 14 of the holder 13, as shown in FIG.
A gap 18a is formed at the corner of No. 4.

【0024】図6または図7に示すように、隙間18ま
たは18aが形成されてしまうと、スパッタリング工程
において、金属粒子が隙間18または18a内にも入り
込み、そのため、金属膜17は、部品本体2の周面7の
一部にまで形成されてしまう。その結果、図4に示した
チップ状電子部品11において、外部電極3および4を
部品本体2の端面5および6上にのみ安定して形成する
ことが困難になる場合がある。
When the gap 18 or 18a is formed as shown in FIG. 6 or 7, the metal particles also enter the gap 18 or 18a in the sputtering process, so that the metal film 17 is formed on the component body 2 as shown in FIG. Is formed even on a part of the peripheral surface 7. As a result, in the chip-shaped electronic component 11 shown in FIG. 4, it may be difficult to stably form the external electrodes 3 and 4 only on the end surfaces 5 and 6 of the component body 2.

【0025】また、図5に示した方法では、金属膜17
が、部品本体2の端面5または6からホルダ13の上面
にわたって連続的に形成されるため、部品本体2をホル
ダ13の保持孔14から取り出そうとするとき、金属膜
17における外部電極3または4となるべき部分が、金
属膜17におけるホルダ13上に形成された部分に伴わ
れて、部品本体2から剥離されやすい傾向がある。
In the method shown in FIG. 5, the metal film 17 is used.
Are continuously formed from the end surface 5 or 6 of the component body 2 to the upper surface of the holder 13, so that when the component body 2 is taken out from the holding hole 14 of the holder 13, the external electrode 3 or 4 in the metal film 17 is removed. The portion to be formed is likely to be separated from the component main body 2 due to the portion of the metal film 17 formed on the holder 13.

【0026】以上のようなことから、図5に示した方法
を採用しながらも、結局は、図6に想像線で示すような
マスク19の使用が強いられることが多い。マスク19
は、部品本体2の端面5および6の各々と実質的に同じ
かわずかに小さい寸法の開口20を有している。
From the above, although the method shown in FIG. 5 is adopted, the mask 19 as shown by an imaginary line in FIG. 6 is often used eventually. Mask 19
Has an opening 20 of substantially the same size as or slightly smaller than each of the end faces 5 and 6 of the component body 2.

【0027】以上のような問題は、スパッタリングに限
らず、たとえば蒸着等の他の乾式めっき法によって外部
電極3および4を形成する場合にも同様に遭遇する。
The above-mentioned problems are not limited to sputtering, but are similarly encountered when the external electrodes 3 and 4 are formed by another dry plating method such as vapor deposition.

【0028】そこで、この発明の目的は、上述のような
問題を解決し得る、チップ状電子部品の製造方法、より
特定的には、チップ状電子部品の外部電極の形成方法を
提供しようとすることである。
Therefore, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a chip-shaped electronic component, and more specifically a method for forming an external electrode of the chip-shaped electronic component, which can solve the above problems. That is.

【0029】[0029]

【課題を解決するための手段】この発明は、チップ状の
部品本体を作製する工程と、乾式めっき法によって、部
品本体の各端面上に外部電極を形成する工程とを備え
る、チップ状電子部品の製造方法に向けられるものであ
って、次のような構成を備えることを特徴としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention comprises a chip-shaped electronic component including a step of producing a chip-shaped component body and a step of forming an external electrode on each end face of the component body by a dry plating method. The present invention is directed to a manufacturing method of, and is characterized by having the following configuration.

【0030】すなわち、この発明に係るチップ状電子部
品の製造方法は、弾性体を備え、この弾性体には、部品
本体を受け入れかつ部品本体の各端面間に位置する周面
に密着する保持孔が設けられている、ホルダを用意する
工程と、部品本体の少なくとも一方の端面が保持孔の開
口側に向く状態であって、保持孔の開口を規定する周壁
部が弾性体の弾性に基づき部品本体の端面の周縁部を覆
う状態となるように、部品本体を保持孔内に挿入し、そ
れによって、ホルダが部品本体を保持した状態とする工
程とをさらに備える。そして、前述した外部電極を形成
する工程は、ホルダによって保持された部品本体におけ
る、保持孔の開口側に向いた端面に対して実施される。
That is, the method for manufacturing a chip-shaped electronic component according to the present invention comprises an elastic body, and the elastic body receives a component body and holds a holding hole which is in close contact with the peripheral surface located between the end faces of the component body. In the step of preparing the holder, in which at least one end surface of the component body faces the opening side of the holding hole, the peripheral wall portion defining the opening of the holding hole is a component based on the elasticity of the elastic body. The method further comprises the step of inserting the component body into the holding hole so that the peripheral portion of the end surface of the body is covered, and thereby the holder holds the component body. Then, the step of forming the external electrode described above is performed on the end surface of the component body held by the holder, which is facing the opening side of the holding hole.

【0031】この発明において、ホルダが部品本体を保
持した状態とする工程は、部品本体の両方の端面が、そ
れぞれ、保持孔の両方の開口側に向く状態であって、保
持孔の各開口を規定する周壁部が弾性体の弾性に基づき
部品本体の各端面の周縁部を覆う状態となるように、部
品本体を保持孔内に挿入する工程を備えていてもよい。
In the present invention, the step of holding the component main body by the holder is such that both end faces of the component main body face the respective opening sides of the holding holes, and A step of inserting the component body into the holding hole may be provided so that the defining peripheral wall portion is in a state of covering the peripheral edge portions of the respective end faces of the component body based on the elasticity of the elastic body.

【0032】上述の場合、外部電極を形成する工程は、
ホルダによって保持された部品本体の両方の端面に対し
て同時に実施されることが好ましい。
In the above case, the step of forming the external electrode is
It is preferably carried out simultaneously on both end faces of the component body held by the holder.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】図1は、この発明の第1の実施形
態を説明するための図5に相当する図である。この実施
形態では、図4に示すように、外部電極3および4が部
品本体2の端面5および6上にのみそれぞれ形成された
チップ状電子部品11が製造される。なお、図1におい
て、前述した図4に示した要素に相当する要素には同様
の参照符号を付し、重複する説明は省略することがあ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a diagram corresponding to FIG. 5 for explaining a first embodiment of the present invention. In this embodiment, as shown in FIG. 4, the chip-shaped electronic component 11 in which the external electrodes 3 and 4 are formed only on the end faces 5 and 6 of the component body 2 is manufactured. In FIG. 1, the elements corresponding to the elements shown in FIG. 4 described above are denoted by the same reference numerals, and duplicated description may be omitted.

【0034】まず、部品本体2が作製される。First, the component body 2 is manufactured.

【0035】得ようとするチップ状電子部品11が積層
セラミックコンデンサである場合には、部品本体2は、
積層された複数の誘電体セラミック層とこれら誘電体セ
ラミック層間の特定の界面に沿って形成される複数の内
部電極とからなる積層構造を有している。内部電極は、
部品本体2の一方の端面5にまで引き出される第1の内
部電極と他方の端面6にまで引き出される第2の内部電
極とを備え、これら第1および第2の内部電極が、静電
容量を形成するように、誘電体セラミック層を介して交
互に配置されている。一方の外部電極3は第1の内部電
極に接続され、他方の外部電極4は第2の内部電極に接
続され、上述した静電容量は、これら外部電極3および
4によって取り出される。
When the chip-shaped electronic component 11 to be obtained is a laminated ceramic capacitor, the component body 2 is
It has a laminated structure composed of a plurality of laminated dielectric ceramic layers and a plurality of internal electrodes formed along a specific interface between these dielectric ceramic layers. The internal electrodes are
The component main body 2 is provided with a first internal electrode drawn out to one end surface 5 and a second internal electrode drawn to the other end surface 6, and these first and second internal electrodes provide a capacitance. As formed, they are interleaved with dielectric ceramic layers. One external electrode 3 is connected to the first internal electrode, the other external electrode 4 is connected to the second internal electrode, and the above-mentioned capacitance is taken out by these external electrodes 3 and 4.

【0036】また、図1に示すようなホルダ21が用意
される。ホルダ21は、全体として板状であり、たとえ
ば複数個の貫通孔が設けられた金属板からなる補強材2
2と、この補強材22を覆うように形成された、たとえ
ばシリコーン系またはフッ素系のゴムからなる弾性体2
3とを備えている。
A holder 21 as shown in FIG. 1 is prepared. The holder 21 has a plate shape as a whole, and is, for example, a reinforcing member 2 made of a metal plate provided with a plurality of through holes.
2 and an elastic body 2 formed so as to cover the reinforcing member 22 and made of, for example, silicone-based or fluorine-based rubber
3 and 3.

【0037】弾性体23には、部品本体2をたとえば長
手方向に受け入れる保持孔24が設けられる。保持孔2
4の内寸は、部品本体2の断面寸法より小さく、ここに
挿入された部品本体2の周面7に密着するようにされ
る。通常、1個のホルダ21には、行および列方向に配
列されて、多数個の保持孔24が設けられる。
The elastic body 23 is provided with a holding hole 24 for receiving the component body 2 in the longitudinal direction, for example. Holding hole 2
The inner size of 4 is smaller than the cross-sectional size of the component body 2 and is designed to be in close contact with the peripheral surface 7 of the component body 2 inserted therein. Usually, one holder 21 is provided with a large number of holding holes 24 arranged in rows and columns.

【0038】次に、図1に示すように、各保持孔24内
に部品本体2が挿入され、それによって、ホルダ21が
部品本体2を保持した状態とされる。この部品本体2の
保持孔24内への挿入にあたって、次のような状態が実
現されるように、挿入の度合いが調整される。
Next, as shown in FIG. 1, the component body 2 is inserted into each holding hole 24, whereby the holder 21 holds the component body 2. When inserting the component body 2 into the holding hole 24, the degree of insertion is adjusted so that the following state is realized.

【0039】すなわち、部品本体2の一方の端面、たと
えば端面5が保持孔24の一方の開口25側に向く状態
であって、保持孔24の開口25を規定する周壁部26
が、弾性体23の弾性に基づき、部品本体2の端面5の
周縁部を覆う状態を実現するように、部品本体2の保持
孔24内への挿入度合いが調整される。
That is, when one end surface of the component body 2, for example, the end surface 5 faces the one opening 25 side of the holding hole 24, the peripheral wall portion 26 defining the opening 25 of the holding hole 24.
However, based on the elasticity of the elastic body 23, the degree of insertion of the component body 2 into the holding hole 24 is adjusted so that the peripheral edge portion of the end surface 5 of the component body 2 is covered.

【0040】次に、乾式めっき法によって、部品本体2
の端面5上に外部電極3を形成する工程が実施される。
乾式めっき方法として、たとえばスパッタリングが適用
されるとき、ターゲット27に対向するようにホルダ2
1が配置され、ホルダ21によって保持された部品本体
2における、保持孔24の開口25側に向いた端面5に
向かって、矢印28で示すように、金属粒子が飛ばさ
れ、端面5上で金属膜を成膜することによって、外部電
極3が形成される。このとき、ホルダ21の、ターゲッ
ト27側に向く面上にも、金属膜29が形成される。
Next, the component body 2 is formed by dry plating.
The step of forming the external electrode 3 on the end surface 5 of is performed.
As a dry plating method, for example, when sputtering is applied, the holder 2 is placed so as to face the target 27.
As shown by the arrow 28, metal particles are blown toward the end surface 5 of the component body 2 in which the holder 1 is held and which is held by the holder 21 toward the opening 25 side of the holding hole 24. The external electrode 3 is formed by forming a film. At this time, the metal film 29 is also formed on the surface of the holder 21 facing the target 27 side.

【0041】なお、乾式めっき法として、上述したよう
なスパッタリングの他、たとえば蒸着等も適用すること
ができる。
As the dry plating method, for example, vapor deposition or the like can be applied in addition to the above-described sputtering.

【0042】このような乾式めっき工程において、ホル
ダ21は、部品本体2を保持するように機能するばかり
でなく、外部電極3が不所望な箇所に形成されないよう
にするためのマスクとしても機能する。すなわち、ホル
ダ21は、保持孔24の開口25を規定する周壁部26
が部品本体2の端面5の周縁部を覆う状態となるよう
に、弾性体23の弾性に基づき変形するので、部品本体
2の周面27への保持孔24の密着状態がより確実に得
られるようになるとともに、たとえ適正な密着状態が一
部において達成されなかったとしても、金属粒子が部品
本体2の周面7にまで回り込むことを有利に防止するこ
とができる。このようにして、部品本体2の端面5上に
のみ外部電極3を確実に形成することができる。
In such a dry plating process, the holder 21 not only functions to hold the component body 2 but also functions as a mask for preventing the external electrodes 3 from being formed in undesired locations. . That is, the holder 21 includes the peripheral wall portion 26 that defines the opening 25 of the holding hole 24.
Is deformed based on the elasticity of the elastic body 23 so as to cover the peripheral portion of the end surface 5 of the component body 2, so that the holding state of the holding hole 24 to the peripheral surface 27 of the component body 2 can be more reliably obtained. As a result, even if the proper close contact state is not achieved in part, it is possible to advantageously prevent metal particles from reaching the peripheral surface 7 of the component body 2. In this way, the external electrode 3 can be reliably formed only on the end surface 5 of the component body 2.

【0043】このような乾式めっき工程を終えた後、部
品本体2がホルダ21の保持孔24から取り出される。
このとき、保持孔24の開口25の周壁部26の位置
で、部品本体2の端面5上の外部電極3を与える金属膜
とホルダ21上の金属膜29との間の連続性が断たれて
いるので、外部電極3の少なくとも一部が端面5から剥
離することを有利に防止することができる。
After completing such a dry plating process, the component body 2 is taken out from the holding hole 24 of the holder 21.
At this time, at the position of the peripheral wall portion 26 of the opening 25 of the holding hole 24, the continuity between the metal film that provides the external electrode 3 on the end surface 5 of the component body 2 and the metal film 29 on the holder 21 is broken. Therefore, it is possible to advantageously prevent at least a part of the external electrode 3 from peeling from the end surface 5.

【0044】上述のような端面5に対する外部電極3の
形成工程と同様の工程が、他方の端面6に対しても実施
され、それによって他方の外部電極4が端面6上に形成
される。
A step similar to the step of forming the external electrode 3 on the end surface 5 as described above is performed on the other end surface 6 as well, whereby the other external electrode 4 is formed on the end surface 6.

【0045】以上のような工程を終えたとき、図4に示
すようなチップ状電子部品11が得られる。
When the above steps are completed, the chip-shaped electronic component 11 as shown in FIG. 4 is obtained.

【0046】図2は、この発明の第2の実施形態を説明
するための図1に相当する図である。図2において、図
1に示した要素に相当する要素には同様の参照符号を付
し、重複する説明は省略する。
FIG. 2 is a diagram corresponding to FIG. 1 for explaining the second embodiment of the present invention. In FIG. 2, elements corresponding to those shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0047】図2に示した実施形態では、ホルダ31と
して、その厚みが部品本体2の長手方向寸法より所定の
寸法分だけ厚いものが用いられる。そして、ホルダ31
が部品本体2を保持した状態では、部品本体2の両方の
端面5および6が、それぞれ、保持孔24の両方の開口
25および32側に向く状態であって、保持孔24の開
口25および32の各々を規定する周壁部26および3
3が、弾性体23の弾性に基づき部品本体2の端面5お
よび6の各々の周縁部を覆う状態となるようにされる。
In the embodiment shown in FIG. 2, the holder 31 whose thickness is thicker than the longitudinal dimension of the component body 2 by a predetermined dimension is used. And the holder 31
In the state where the component body 2 is held by the component body 2, both end surfaces 5 and 6 of the component body 2 face the openings 25 and 32 of the holding hole 24, respectively. The peripheral wall portions 26 and 3 which define the
3 is made to be in a state of covering the peripheral portions of the end surfaces 5 and 6 of the component body 2 based on the elasticity of the elastic body 23.

【0048】また、図2に示した実施形態では、スパッ
タリングを実施するにあたり、ホルダ31を挟むよう
に、ターゲット27および34が配置され、矢印28お
よび35で示すように、金属粒子が、部品本体2の両方
の端面5および6に向かって同時に飛ばされ、外部電極
3および4が同時に形成される。
In the embodiment shown in FIG. 2, the targets 27 and 34 are arranged so as to sandwich the holder 31 in carrying out the sputtering, and as shown by the arrows 28 and 35, the metal particles are separated from the component body. The outer electrodes 3 and 4 are simultaneously formed by being simultaneously blown toward both end surfaces 5 and 6 of the second electrode 2.

【0049】なお、図2に示した第2の実施形態の変形
例として、図2に示すようなホルダ31を用い、かつこ
のホルダ31によって部品本体2を保持した状態としな
がらも、外部電極3および4の各々の形成工程を同時に
実施するのではなく、別の段階で実施するようにしても
よい。
As a modified example of the second embodiment shown in FIG. 2, the holder 31 as shown in FIG. 2 is used, and the external electrode 3 is held while the component body 2 is held by the holder 31. The forming steps of 4 and 4 may not be simultaneously performed, but may be performed at different stages.

【0050】次に、この発明に従って実施した実験例に
ついて説明する。この実験例は、図2に示した実施形態
に従って実施した。
Next, experimental examples carried out according to the present invention will be described. This experimental example was performed according to the embodiment shown in FIG.

【0051】まず、部品本体2として、4.5mm×
2.0mm×1.5mmの寸法を有する積層セラミック
コンデンサのための部品本体を用いた。他方、ホルダ3
1として、その内寸が、部品本体2の上述した4.5m
m×2.0mmの寸法より小さい4.3mm×1.8m
mである断面角形の保持孔24が設けられたものを用い
た。
First, as the component body 2, 4.5 mm ×
A component body for a monolithic ceramic capacitor having dimensions of 2.0 mm × 1.5 mm was used. On the other hand, holder 3
1, the inner size is 4.5 m of the component body 2 described above.
4.3 mm x 1.8 m smaller than m x 2.0 mm
A holding hole 24 having a rectangular cross section, which is m, was used.

【0052】次に、図2に示す状態となるように、各保
持孔24内に部品本体2を挿入し、ホルダ31が部品本
体2を保持した状態を得た。
Next, the component body 2 was inserted into each holding hole 24 so that the state shown in FIG. 2 was obtained, and the holder 31 held the component body 2.

【0053】次に、部品本体2を保持したホルダ21
を、スパッタリング装置内に入れ、10-2Paの真空中
で100℃の温度になるように加熱した後、スパッタリ
ングを実施し、部品本体2の端面5および6上に、Ni
−Ti合金(Ti:7.5重量%含有)からなる厚み
0.5μmの膜、その上にCuからなる厚み0.5μm
の膜、およびその上にSnからなる厚み0.5μmの膜
を順次形成し、外部電極3および4とした。
Next, the holder 21 holding the component body 2
Was placed in a sputtering apparatus and heated to a temperature of 100 ° C. in a vacuum of 10 −2 Pa, and then sputtering was performed to form Ni on the end faces 5 and 6 of the component body 2.
-0.5 μm thick film made of Ti alloy (containing Ti: 7.5% by weight) and 0.5 μm thick made of Cu on the film.
And a film of Sn having a thickness of 0.5 μm were sequentially formed thereon to form external electrodes 3 and 4.

【0054】次に、部品本体2を保持孔24から取り出
し、部品本体2上に形成された外部電極3および4を目
視観察すると、いずれも、部品本体2の端面5および6
上にのみ形成されていた。また、外部電極3および4に
おいて、剥離も生じていなかった。
Next, when the component body 2 is taken out from the holding hole 24 and the external electrodes 3 and 4 formed on the component body 2 are visually observed, both of the end surfaces 5 and 6 of the component body 2 are observed.
It was formed only on the top. Further, the external electrodes 3 and 4 were not peeled off.

【0055】このようにして得られたチップ状電子部品
11について、パルスの立ち上がり時間を1.2μ秒と
して、パルス破壊電圧(パルスBDV)を測定したとこ
ろ、8.2kVといった比較的高い値が得られた。
For the chip-shaped electronic component 11 thus obtained, the pulse breakdown voltage (pulse BDV) was measured with a pulse rise time of 1.2 μsec. A relatively high value of 8.2 kV was obtained. Was given.

【0056】なお、上述した実験例において用いたNi
−Ti合金の代わりに、Ti、Mo、W、V、Cr、N
i、Fe、ZnもしくはAlまたはそれらの合金を用い
ても、また、CuおよびSnの代わりに、AuおよびA
gを用いても、同様の効果が得られることが確認されて
いる。
The Ni used in the above-mentioned experimental example
-Ti, Mo, W, V, Cr, N instead of Ti alloy
With i, Fe, Zn or Al or their alloys, Au and A instead of Cu and Sn are also used.
It has been confirmed that the same effect can be obtained by using g.

【0057】以上、この発明を、特定的な実施形態に関
連して説明したが、この発明の範囲内において、その
他、種々の変形例が可能である。
Although the present invention has been described above with reference to a specific embodiment, various other modifications are possible within the scope of the present invention.

【0058】たとえば、この発明が適用されるチップ状
電子部品は、積層セラミックコンデンサには限らない。
要するに、部品本体の各端面上に外部電極が形成される
チップ状電子部品であれば、どのようなチップ状電子部
品に対しても適用することができ、たとえば、部品本体
が積層構造を有していなくても、あるいは、部品本体が
セラミックをもって構成されないものであってもよい。
また、部品本体の形状は、たとえば直方体のような六面
体形状に限らず、たとえば円柱形状であってもよい。
For example, the chip-shaped electronic component to which the present invention is applied is not limited to the monolithic ceramic capacitor.
In short, it can be applied to any chip-shaped electronic component as long as it is a chip-shaped electronic component in which external electrodes are formed on each end face of the component main body. For example, the component main body has a laminated structure. Alternatively, the component body may not be made of ceramic.
Further, the shape of the component body is not limited to a hexahedron shape such as a rectangular parallelepiped, but may be a cylindrical shape, for example.

【0059】また、ホルダの保持孔に挿入される部品本
体の向きは、外部電極が形成されるべき端面が保持孔の
開口側に向くように選ばれるものであるので、図1また
は図2に示すように、部品本体2の長手方向が保持孔2
4の軸線方向に向く場合に限らず、前述した実験例のよ
うに、部品本体の長手方向が保持孔の径方向に向いた状
態で保持孔に挿入される場合もある。
The orientation of the component body inserted into the holding hole of the holder is selected so that the end surface on which the external electrode is to be formed faces the opening side of the holding hole. As shown, the longitudinal direction of the component body 2 is the holding hole 2
It is not limited to the case of being oriented in the axial direction of No. 4, but may be inserted into the holding hole in a state in which the longitudinal direction of the component body is oriented in the radial direction of the holding hole as in the experimental example described above.

【0060】[0060]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、ホル
ダに設けられた保持孔内に部品本体が挿入されたとき、
保持孔の開口を規定する周壁部が弾性体の弾性に基づき
部品本体の端面の周縁部を覆う状態となるようにされる
ので、保持孔の部品本体の周面に対する密着状態がより
確実に達成されるとともに、乾式めっきにおいて、金属
粒子が部品本体の周面にまで届くように回り込むことが
確実に防止される。したがって、高い信頼性をもって、
外部電極が不所望な箇所に形成されないようにするため
のマスクとして、ホルダを機能させることができ、部品
本体の端面上にのみ外部電極を確実に形成することがで
きる。
As described above, according to the present invention, when the component body is inserted into the holding hole provided in the holder,
Since the peripheral wall portion that defines the opening of the holding hole is configured to cover the peripheral edge portion of the end surface of the component body based on the elasticity of the elastic body, the close contact state of the holding hole with the peripheral surface of the component body is more reliably achieved. In addition, in the dry plating, the metal particles are surely prevented from wrapping around so as to reach the peripheral surface of the component body. Therefore, with high reliability,
The holder can function as a mask for preventing the external electrodes from being formed in undesired locations, and the external electrodes can be reliably formed only on the end faces of the component body.

【0061】その結果、この発明を実施して得られたチ
ップ状電子部品の高電圧に対する信頼性を高めることが
でき、より具体的には、耐電圧性を高めることができ、
また、耐湿性の向上も期待することができる。
As a result, the reliability of the chip-shaped electronic component obtained by implementing the present invention with respect to high voltage can be enhanced, and more specifically, the withstand voltage can be enhanced.
Further, improvement in moisture resistance can also be expected.

【0062】また、乾式めっき法によって形成された金
属膜は、保持孔の開口の周壁部の位置で、部品本体の端
面上の外部電極を与える部分とホルダ上の部分との間の
連続性が断たれているので、部品本体がホルダの保持孔
から取り出されるとき、外部電極の少なくとも一部が部
品本体の端面から剥離することがない。
Further, in the metal film formed by the dry plating method, at the position of the peripheral wall of the opening of the holding hole, there is continuity between the portion providing the external electrode on the end face of the component body and the portion on the holder. Since it is cut, at least a part of the external electrode does not peel off from the end surface of the component body when the component body is taken out from the holding hole of the holder.

【0063】この発明において、ホルダが部品本体を保
持した状態とするにあたり、部品本体の両方の端面が、
それぞれ、保持孔の両方の開口側に向く状態であって、
保持孔の各開口を規定する周壁部が弾性体の弾性に基づ
き部品本体の各端面の周縁部を覆う状態となるように、
部品本体を保持孔内に挿入するようにすれば、部品本体
をホルダによって保持した状態としたとき、この状態の
ままで、部品本体の両方の端面に対して外部電極を形成
することができ、外部電極の形成工程の能率化を図るこ
とができる。
In the present invention, when the holder holds the component body, both end surfaces of the component body are
Each of them is facing both openings of the holding hole,
The peripheral wall portion defining each opening of the holding hole is in a state of covering the peripheral edge portion of each end surface of the component body based on the elasticity of the elastic body,
By inserting the component body into the holding hole, when the component body is held by the holder, external electrodes can be formed on both end surfaces of the component body in this state. It is possible to improve the efficiency of the external electrode forming process.

【0064】上述の場合において、外部電極を形成する
工程が、ホルダによって保持された部品本体の両方の端
面に対して同時に実施されると、外部電極の形成工程の
さらなる能率化を図ることができる。
In the above-mentioned case, if the step of forming the external electrodes is simultaneously performed on both end surfaces of the component body held by the holder, the step of forming the external electrodes can be further streamlined. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の第1の実施形態によるチップ状電子
部品の製造方法を説明するためのもので、部品本体2が
ホルダ21によって保持され、かつスパッタリングを実
施している状態を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a chip-shaped electronic component according to a first embodiment of the present invention, showing a state in which a component body 2 is held by a holder 21 and sputtering is performed. Is.

【図2】この発明の第2の実施形態によるチップ状電子
部品の製造方法を説明するための図1に相当する図であ
る。
FIG. 2 is a diagram corresponding to FIG. 1 for explaining a method of manufacturing a chip-shaped electronic component according to a second embodiment of the present invention.

【図3】従来の典型的なチップ状電子部品の一例の外観
を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing an appearance of an example of a conventional typical chip-shaped electronic component.

【図4】この発明によって製造しようとするチップ状電
子部品の一例の外観を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing an appearance of an example of a chip-shaped electronic component to be manufactured according to the present invention.

【図5】この発明にとって興味ある従来のチップ状電子
部品の製造方法を説明するための図1に相当する図であ
る。
FIG. 5 is a diagram corresponding to FIG. 1 for explaining a conventional method for manufacturing a chip-shaped electronic component, which is of interest to the present invention.

【図6】図5に示した製造方法において遭遇し得る問題
を説明するための図5の一部を拡大して示した断面図で
ある。
6 is a cross-sectional view showing an enlarged part of FIG. 5 for explaining a problem that may be encountered in the manufacturing method shown in FIG.

【図7】図5に示した製造方法において遭遇し得る他の
問題を説明するための図5の一部を拡大して示した横断
面図である。
7 is a cross-sectional view showing an enlarged part of FIG. 5 for explaining another problem that may be encountered in the manufacturing method shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 部品本体 3,4 外部電極 5,6 端面 7 周面 11 チップ状電子部品 21,31 ホルダ 23 弾性体 24 保持孔 25,32 開口 26,33 周壁部 27,34 ターゲット 2 parts body 3,4 External electrode 5, 6 end face 7 circumference 11 Chip-shaped electronic components 21,31 holder 23 Elastic body 24 holding hole 25,32 openings 26,33 Peripheral wall 27,34 targets

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 チップ状の部品本体を作製する工程と、
乾式めっき法によって、前記部品本体の各端面上に外部
電極を形成する工程とを備える、チップ状電子部品の製
造方法であって、 弾性体を備え、前記弾性体には、前記部品本体を受け入
れかつ前記部品本体の各前記端面間に位置する周面に密
着する保持孔が設けられている、ホルダを用意する工程
と、 前記部品本体の少なくとも一方の前記端面が前記保持孔
の開口側に向く状態であって、前記保持孔の前記開口を
規定する周壁部が前記弾性体の弾性に基づき前記部品本
体の前記端面の周縁部を覆う状態となるように、前記部
品本体を前記保持孔内に挿入し、それによって、前記ホ
ルダが前記部品本体を保持した状態とする工程とをさら
に備え、 前記外部電極を形成する工程は、前記ホルダによって保
持された前記部品本体における、前記保持孔の開口側に
向いた前記端面に対して実施される、チップ状電子部品
の製造方法。
1. A step of producing a chip-shaped component body,
A method of manufacturing a chip-shaped electronic component, comprising the step of forming external electrodes on each end surface of the component body by dry plating, comprising an elastic body, wherein the elastic body receives the component body. And a step of preparing a holder, in which a holding hole is provided that is in close contact with a peripheral surface located between the end faces of the component body, and at least one of the end faces of the component body faces the opening side of the holding hole. In the state, the component main body is placed in the holding hole so that the peripheral wall portion defining the opening of the holding hole covers the peripheral edge portion of the end surface of the component main body based on the elasticity of the elastic body. Further comprising the step of inserting the holder so that the holder holds the component body, and the step of forming the external electrode includes the step of forming the external electrode in the component body held by the holder. Is performed on the end face facing the opening side of the hole, the chip-like electronic component manufacturing method.
【請求項2】 前記ホルダが前記部品本体を保持した状
態とする工程は、前記部品本体の両方の前記端面が、そ
れぞれ、前記保持孔の両方の開口側に向く状態であっ
て、前記保持孔の各前記開口を規定する周壁部が前記弾
性体の弾性に基づき前記部品本体の各前記端面の周縁部
を覆う状態となるように、前記部品本体を前記保持孔内
に挿入する工程を備える、請求項1に記載のチップ状電
子部品の製造方法。
2. The step of holding the component main body by the holder is a state in which both the end surfaces of the component main body face the opening sides of both of the holding holes, respectively. A step of inserting the component body into the holding hole so that the peripheral wall portion defining each of the openings is in a state of covering the peripheral edge portion of each end surface of the component body based on the elasticity of the elastic body, The method for manufacturing a chip-shaped electronic component according to claim 1.
【請求項3】 前記外部電極を形成する工程は、前記ホ
ルダによって保持された前記部品本体の両方の前記端面
に対して同時に実施される、請求項2に記載のチップ状
電子部品の製造方法。
3. The method of manufacturing a chip-shaped electronic component according to claim 2, wherein the step of forming the external electrode is performed simultaneously on both of the end faces of the component body held by the holder.
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