JP2003242662A - 光ディスク再生装置 - Google Patents
光ディスク再生装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光検出器よりの光検出出力から、欠陥検出信
号が検出されたときは、フォーカシングサーボ回路及び
トラッキングサーボ回路をそれぞれホールド状態に切換
えるようにした光ディスク再生装置において、光検出器
よりの光検出出力から欠陥検出信号が検出されたとき
は、全サーボ回路の破綻を確実に回避する。 【解決手段】 光検出器を構成する主光検出部よりの主
光検出出力Ｓ−Ｍから主欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＭを形成
する主欠陥検出信号形成手段と、複数の副光検出部より
の複数の副光検出出力Ｓ−Ｅ、Ｓ−Ｆから複数の副欠陥
検出信号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦを形成する複数の副欠
陥検出信号形成手段と、主欠陥検出信号形成手段よりの
主欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＭ及び複数の副欠陥検出信号形
成手段よりの複数の副欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−Ｄ
ＦＦを供給して、その論理和である総合欠陥検出信号Ｓ
−ＤＦを出力する論理和手段とを有する。
号が検出されたときは、フォーカシングサーボ回路及び
トラッキングサーボ回路をそれぞれホールド状態に切換
えるようにした光ディスク再生装置において、光検出器
よりの光検出出力から欠陥検出信号が検出されたとき
は、全サーボ回路の破綻を確実に回避する。 【解決手段】 光検出器を構成する主光検出部よりの主
光検出出力Ｓ−Ｍから主欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＭを形成
する主欠陥検出信号形成手段と、複数の副光検出部より
の複数の副光検出出力Ｓ−Ｅ、Ｓ−Ｆから複数の副欠陥
検出信号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦを形成する複数の副欠
陥検出信号形成手段と、主欠陥検出信号形成手段よりの
主欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＭ及び複数の副欠陥検出信号形
成手段よりの複数の副欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−Ｄ
ＦＦを供給して、その論理和である総合欠陥検出信号Ｓ
−ＤＦを出力する論理和手段とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学ヘッドの光検
出器よりの光検出出力から欠陥検出信号が検出さされた
ときは、サーボ手段をホールド状態に切換えるようにし
た光ディスク記録装置に関する。、
出器よりの光検出出力から欠陥検出信号が検出さされた
ときは、サーボ手段をホールド状態に切換えるようにし
た光ディスク記録装置に関する。、
【０００２】
【従来の技術】図６及び図７を参照して、３スポット法
について説明する。図６において、Ｐは、光ディスクの
記録面に形成された各トラック毎のピットを示す。ＭＢ
ＳＰは光ディスクの記録面上の主収束ビームスポット、
ＥＢＳＰ及びＦＢＳＰは、光ディスクの記録面上の両サ
イド収束ビームスポットで、主収束ビームスポットＭＢ
ＳＰをトラック方向に挟む如く、それぞれ主収束ビーム
スポットＭＢＳＰに対しそれぞれ同じ所定間隔を置いて
配されている。これら収束ビームスポットＭＢＳＰ、Ｅ
ＢＳＰ及びＦＢＳＰは、光学ヘッドの対物レンズから出
射された主収束ビーム及び両サイド収束ビームが、光デ
ィスクの記録面上に照射されて形成されたものである。
について説明する。図６において、Ｐは、光ディスクの
記録面に形成された各トラック毎のピットを示す。ＭＢ
ＳＰは光ディスクの記録面上の主収束ビームスポット、
ＥＢＳＰ及びＦＢＳＰは、光ディスクの記録面上の両サ
イド収束ビームスポットで、主収束ビームスポットＭＢ
ＳＰをトラック方向に挟む如く、それぞれ主収束ビーム
スポットＭＢＳＰに対しそれぞれ同じ所定間隔を置いて
配されている。これら収束ビームスポットＭＢＳＰ、Ｅ
ＢＳＰ及びＦＢＳＰは、光学ヘッドの対物レンズから出
射された主収束ビーム及び両サイド収束ビームが、光デ
ィスクの記録面上に照射されて形成されたものである。
【０００３】図７は、光検出器の一例を示し、この光検
出器は、主収束ビームが光ディスクの記録面上を反射
し、その反射ビームが光学系によって再び収束せしめら
れて入射する主光検出部Ｍ及び両サイド収束ビームが光
ディスクの記録面上を反射し、その反射ビームが光学系
によって再び収束せしめられて入射する一対の副光検出
部Ｅ、Ｆから構成される。主光検出部Ｍは、更に、４分
割された各光検出部Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから構成される。
出器は、主収束ビームが光ディスクの記録面上を反射
し、その反射ビームが光学系によって再び収束せしめら
れて入射する主光検出部Ｍ及び両サイド収束ビームが光
ディスクの記録面上を反射し、その反射ビームが光学系
によって再び収束せしめられて入射する一対の副光検出
部Ｅ、Ｆから構成される。主光検出部Ｍは、更に、４分
割された各光検出部Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから構成される。
【０００４】光検出部Ａ〜Ｄよりの各光検出出力ＤA 、
ＤB 、ＤC 、ＤD の和が、光ディスクから再生された再
生信号であるＲＦ信号となる。又、各光検出出力ＤA 、
ＤB、ＤC 、ＤD の加減算出力（ＤA ＋ＤC ）−（ＤB
＋ＤD ）又は（ＤB ＋ＤD ）−（ＤA ＋ＤC ）が、フォ
ーカシングスエラー信号となる。両サイド光検出部Ｅ、
Ｆよりの光検出出力（ＤE −ＤF ）又は（ＤF −ＤE ）
がトラッキングエラー信号となる。
ＤB 、ＤC 、ＤD の和が、光ディスクから再生された再
生信号であるＲＦ信号となる。又、各光検出出力ＤA 、
ＤB、ＤC 、ＤD の加減算出力（ＤA ＋ＤC ）−（ＤB
＋ＤD ）又は（ＤB ＋ＤD ）−（ＤA ＋ＤC ）が、フォ
ーカシングスエラー信号となる。両サイド光検出部Ｅ、
Ｆよりの光検出出力（ＤE −ＤF ）又は（ＤF −ＤE ）
がトラッキングエラー信号となる。
【０００５】さて、光ディスクの記録面に傷や汚れがあ
ると、光学ヘッドの光検出器よりの光検出出力に欠陥が
生じる。このときは、光検出器の出力光検出部Ｍよりの
主光検出出力に基づいて、欠陥検出信号を生成し、この
欠陥検出信号をフォーカシングサーボ回路及びトラッキ
ングサーボ回路に供給して、これらサーボ回路をホール
ド状態にして、各サーボ回路が破綻するのを回避するよ
うにしていた。
ると、光学ヘッドの光検出器よりの光検出出力に欠陥が
生じる。このときは、光検出器の出力光検出部Ｍよりの
主光検出出力に基づいて、欠陥検出信号を生成し、この
欠陥検出信号をフォーカシングサーボ回路及びトラッキ
ングサーボ回路に供給して、これらサーボ回路をホール
ド状態にして、各サーボ回路が破綻するのを回避するよ
うにしていた。
【０００６】次に、図８及び図９を参照して、この欠陥
検出信号の形成回路の一例について説明する。図８は、
欠陥検出信号の形成回路の構成を示し、図９は、図８の
欠陥検出信号の形成回路の各部の出力信号の波形を示
す。図８において、光検出器の主光検出部Ｍよりの主光
検出出力Ｓ−Ｍ（欠陥ＤＦを有する）が、入力端子Ｔ１
を通じて、速い時定数のトップホールド回路（ローパス
フィルタも可）Ｃ−ＴＨ１及び遅い時定数のトップホー
ルド回路〔ローパスフィルタも可）Ｃ−ＴＨ２に供給さ
れ、速い時定数のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ１の出力
ＴＨ１及び遅い時定数のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ２
の出力ＴＨ２を減算器（差動増幅器）ＳＵＢに供給し
て、出力ＴＨ１から出力ＴＨ２を減算し、その減算出力
ＴＨ（＝ＴＨ１−ＴＨ２）をレベル比較回路ＣＭＰに供
給して、閾値出力端子Ｔthからの閾値レベルｔｈと比較
し、その比較出力を欠陥検出信号Ｓ−ＤＦとして出力端
子Ｔ２から出力する。
検出信号の形成回路の一例について説明する。図８は、
欠陥検出信号の形成回路の構成を示し、図９は、図８の
欠陥検出信号の形成回路の各部の出力信号の波形を示
す。図８において、光検出器の主光検出部Ｍよりの主光
検出出力Ｓ−Ｍ（欠陥ＤＦを有する）が、入力端子Ｔ１
を通じて、速い時定数のトップホールド回路（ローパス
フィルタも可）Ｃ−ＴＨ１及び遅い時定数のトップホー
ルド回路〔ローパスフィルタも可）Ｃ−ＴＨ２に供給さ
れ、速い時定数のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ１の出力
ＴＨ１及び遅い時定数のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ２
の出力ＴＨ２を減算器（差動増幅器）ＳＵＢに供給し
て、出力ＴＨ１から出力ＴＨ２を減算し、その減算出力
ＴＨ（＝ＴＨ１−ＴＨ２）をレベル比較回路ＣＭＰに供
給して、閾値出力端子Ｔthからの閾値レベルｔｈと比較
し、その比較出力を欠陥検出信号Ｓ−ＤＦとして出力端
子Ｔ２から出力する。
【０００７】次に、図１０及び図１１を参照して、ＤＰ
Ｐ（Differential Push-Pull) 法について説明する。図
１０は、光ディスク（ＣＤ−Ｒ）の記録面上のランド及
びグルーブ上の各収束ビームスポットを示す。ＭＢＳＰ
は光ディスクの記録面上の主収束ビームスポット、ＥＦ
ＢＳＰ及びＧＨＢＳＰは、ＣＤ−Ｒの記録面上の両サイ
ド収束ビームスポットで、主収束ビームスポットＭＢＳ
Ｐをトラック方向に挟む如く、それぞれ主収束ビームス
ポットＭＢＳＰに対しそれぞれ同じ所定間隔を置いて配
されている。これら収束ビームスポットＭＢＳＰ、ＥＦ
ＢＳＰ及びＧＨＢＳＰは、光学ヘッドの対物レンズから
出射された主収束ビーム及び両サイド収束ビームが、光
ディスクの記録面上に照射されて形成されたものであ
る。
Ｐ（Differential Push-Pull) 法について説明する。図
１０は、光ディスク（ＣＤ−Ｒ）の記録面上のランド及
びグルーブ上の各収束ビームスポットを示す。ＭＢＳＰ
は光ディスクの記録面上の主収束ビームスポット、ＥＦ
ＢＳＰ及びＧＨＢＳＰは、ＣＤ−Ｒの記録面上の両サイ
ド収束ビームスポットで、主収束ビームスポットＭＢＳ
Ｐをトラック方向に挟む如く、それぞれ主収束ビームス
ポットＭＢＳＰに対しそれぞれ同じ所定間隔を置いて配
されている。これら収束ビームスポットＭＢＳＰ、ＥＦ
ＢＳＰ及びＧＨＢＳＰは、光学ヘッドの対物レンズから
出射された主収束ビーム及び両サイド収束ビームが、光
ディスクの記録面上に照射されて形成されたものであ
る。
【０００８】図１１は、光検出器の一例を示し、この光
検出器は、主収束ビームが光ディスクの記録面上を反射
し、その反射ビームが光学系によって再び収束せしめら
れて入射する主光検出部Ｍ及び両サイド収束ビームが光
ディスクの記録面上を反射し、その反射ビームが光学系
によって再び収束せしめられて入射する２組の副光検出
部Ｅ、Ｆ及びＧ、Ｈから構成される。主光検出部Ｍは、
更に、４分割された各光検出部Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから構成
される。
検出器は、主収束ビームが光ディスクの記録面上を反射
し、その反射ビームが光学系によって再び収束せしめら
れて入射する主光検出部Ｍ及び両サイド収束ビームが光
ディスクの記録面上を反射し、その反射ビームが光学系
によって再び収束せしめられて入射する２組の副光検出
部Ｅ、Ｆ及びＧ、Ｈから構成される。主光検出部Ｍは、
更に、４分割された各光検出部Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから構成
される。
【０００９】光検出部Ａ〜Ｄよりの各光検出出力ＤA 、
ＤB 、ＤC 、ＤD の和が、光ディスクから再生された再
生信号であるＲＦ信号となる。又、各光検出出力ＤA 、
ＤB、ＤC 、ＤD の加減算出力（ＤA ＋ＤC ）−（ＤB
＋ＤD ）又は（ＤB ＋ＤD ）−（ＤA ＋ＤC ）が、フォ
ーカシングスエラー信号となる。光検出部Ｅ〜Ｇの各光
検出出力をＤE 、ＤF 、ＤG 、ＤH とするとき、トラッ
キングエラー信号は、次のように表される。 （ＤA ＋ＤD ）−（ＤB ＋ＤC ）＋（ＤE ＋ＤG ）−
（ＤF ＋ＤH ）
ＤB 、ＤC 、ＤD の和が、光ディスクから再生された再
生信号であるＲＦ信号となる。又、各光検出出力ＤA 、
ＤB、ＤC 、ＤD の加減算出力（ＤA ＋ＤC ）−（ＤB
＋ＤD ）又は（ＤB ＋ＤD ）−（ＤA ＋ＤC ）が、フォ
ーカシングスエラー信号となる。光検出部Ｅ〜Ｇの各光
検出出力をＤE 、ＤF 、ＤG 、ＤH とするとき、トラッ
キングエラー信号は、次のように表される。 （ＤA ＋ＤD ）−（ＤB ＋ＤC ）＋（ＤE ＋ＤG ）−
（ＤF ＋ＤH ）
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
の記録面に傷や汚れがあって、主光検出部Ｍよりの再生
信号に欠陥が生じるタイミングを基準タイミングとした
とき、両サイド光検出部Ｅ、Ｆよりの再生信号に欠陥が
生じるタイミングは、基準タイミングに対し、一方は早
まり、他方は遅れる。
の記録面に傷や汚れがあって、主光検出部Ｍよりの再生
信号に欠陥が生じるタイミングを基準タイミングとした
とき、両サイド光検出部Ｅ、Ｆよりの再生信号に欠陥が
生じるタイミングは、基準タイミングに対し、一方は早
まり、他方は遅れる。
【００１１】従って、光検出器の出力光検出部Ｍよりの
主光検出出力に基づいてのみ、欠陥検出信号を生成し、
この欠陥検出信号をフォーカシングサーボ回路及びトラ
ッキングサーボ回路に供給して、これらサーボ回路をホ
ールド状態にした場合、両サイド光検出部Ｅ、Ｆよりの
再生信号に欠陥が生じて、サーボ回路、特に、トラッキ
ングサーボ回路が破綻するおそれがある。
主光検出出力に基づいてのみ、欠陥検出信号を生成し、
この欠陥検出信号をフォーカシングサーボ回路及びトラ
ッキングサーボ回路に供給して、これらサーボ回路をホ
ールド状態にした場合、両サイド光検出部Ｅ、Ｆよりの
再生信号に欠陥が生じて、サーボ回路、特に、トラッキ
ングサーボ回路が破綻するおそれがある。
【００１２】上述のＤＰＰ法においても、このような問
題が生じる。
題が生じる。
【００１３】かかる点に鑑み、本発明は、光検出器より
の光検出出力から、欠陥検出信号が検出されたときは、
フォーカシングサーボ回路及びトラッキングサーボ回路
をそれぞれホールド状態に切換えるようにした光ディス
ク再生装置において、光検出器よりの光検出出力から、
欠陥検出信号が検出されたときは、全サーボ回路の破綻
を確実に回避することのできるものを提案しようとする
ものである。
の光検出出力から、欠陥検出信号が検出されたときは、
フォーカシングサーボ回路及びトラッキングサーボ回路
をそれぞれホールド状態に切換えるようにした光ディス
ク再生装置において、光検出器よりの光検出出力から、
欠陥検出信号が検出されたときは、全サーボ回路の破綻
を確実に回避することのできるものを提案しようとする
ものである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】第１の発明は、光ディス
クのトラック方向の位置が互いに異なる主光検出部及び
複数の副光検出部から構成される光検出器を備える光学
ヘッドと、主光検出部を構成する複数の光検出部よりの
各光検出出力に基づいて得られた第１のエラー信号を基
にして第１のサーボ信号を形成すると共に、その第１の
サーボ信号をホールドして第１のホールド出力を得る第
１のホールド手段及び第１のサーボ信号及び第１のホー
ルド出力を切換える第１の切換え手段を備える第１のサ
ーボ手段と、複数の副光検出部よりの各光検出出力に基
づいて得られた第２のエラー信号を基にして第２のサー
ボ信号を形成すると共に、その第２のサーボ信号をホー
ルドして第２のホールド出力を得る第２のホールド手段
及び第２のサーボ信号及び第２のホールド出力を切換え
る第２の切換え手段を備える第２のサーボ手段と、第１
のサーボ手段の第１の切換え手段の切換え出力が供給さ
れる第１のサーボ対象と、第２のサーボ手段の第２の切
換え手段の切換え出力が供給される第２のサーボ対象
と、光検出器を構成する主光検出部よりの主光検出出力
から主欠陥検出信号を形成する主欠陥検出信号形成手段
と、複数の副光検出部よりの複数の副光検出出力から複
数の副欠陥検出信号を形成する複数の副欠陥検出信号形
成手段と、主欠陥検出信号形成手段よりの主欠陥検出信
号及び複数の副欠陥検出信号形成手段よりの複数の副欠
陥検出信号を供給して、その論理和である総合欠陥検出
信号を出力する論理和手段とを有し、第１及び第２のサ
ーボ手段の第１及び第２の切換え手段は、通常は第１及
び第２のサーボ信号が、それぞれ第１及び第２のサーボ
対象に供給されるように切換えられれ、その論理和手段
より、総合欠陥検出信号が出力されたときは、第１及び
第２のホールド手段よりの第１及び第２のホールド出力
が、それぞれ第１及び第２のサーボ対象に供給されるよ
うに、総合欠陥検出信号によって、第１及び第２の切換
え手段を制御するようにした光ディスク再生装置であ
る。
クのトラック方向の位置が互いに異なる主光検出部及び
複数の副光検出部から構成される光検出器を備える光学
ヘッドと、主光検出部を構成する複数の光検出部よりの
各光検出出力に基づいて得られた第１のエラー信号を基
にして第１のサーボ信号を形成すると共に、その第１の
サーボ信号をホールドして第１のホールド出力を得る第
１のホールド手段及び第１のサーボ信号及び第１のホー
ルド出力を切換える第１の切換え手段を備える第１のサ
ーボ手段と、複数の副光検出部よりの各光検出出力に基
づいて得られた第２のエラー信号を基にして第２のサー
ボ信号を形成すると共に、その第２のサーボ信号をホー
ルドして第２のホールド出力を得る第２のホールド手段
及び第２のサーボ信号及び第２のホールド出力を切換え
る第２の切換え手段を備える第２のサーボ手段と、第１
のサーボ手段の第１の切換え手段の切換え出力が供給さ
れる第１のサーボ対象と、第２のサーボ手段の第２の切
換え手段の切換え出力が供給される第２のサーボ対象
と、光検出器を構成する主光検出部よりの主光検出出力
から主欠陥検出信号を形成する主欠陥検出信号形成手段
と、複数の副光検出部よりの複数の副光検出出力から複
数の副欠陥検出信号を形成する複数の副欠陥検出信号形
成手段と、主欠陥検出信号形成手段よりの主欠陥検出信
号及び複数の副欠陥検出信号形成手段よりの複数の副欠
陥検出信号を供給して、その論理和である総合欠陥検出
信号を出力する論理和手段とを有し、第１及び第２のサ
ーボ手段の第１及び第２の切換え手段は、通常は第１及
び第２のサーボ信号が、それぞれ第１及び第２のサーボ
対象に供給されるように切換えられれ、その論理和手段
より、総合欠陥検出信号が出力されたときは、第１及び
第２のホールド手段よりの第１及び第２のホールド出力
が、それぞれ第１及び第２のサーボ対象に供給されるよ
うに、総合欠陥検出信号によって、第１及び第２の切換
え手段を制御するようにした光ディスク再生装置であ
る。
【００１５】かかる第１の発明によれば、第１及び第２
のサーボ手段の第１及び第２の切換え手段は、通常は第
１及び第２のサーボ信号が、それぞれ第１及び第２のサ
ーボ対象に供給されるように切換えられれ、その論理和
手段より、総合欠陥検出信号が出力されたときは、第１
及び第２のホールド手段よりの第１及び第２のホールド
出力が、それぞれ第１及び第２のサーボ対象に供給され
るように、総合欠陥検出信号によって、第１及び第２の
切換え手段を制御する。
のサーボ手段の第１及び第２の切換え手段は、通常は第
１及び第２のサーボ信号が、それぞれ第１及び第２のサ
ーボ対象に供給されるように切換えられれ、その論理和
手段より、総合欠陥検出信号が出力されたときは、第１
及び第２のホールド手段よりの第１及び第２のホールド
出力が、それぞれ第１及び第２のサーボ対象に供給され
るように、総合欠陥検出信号によって、第１及び第２の
切換え手段を制御する。
【００１６】第２の発明は、第１の発明の光ディスク再
生装置において、第１のエラー信号は、フォーカシング
エラー信号であり、第２のエラー信号は、トラッキング
エラー信号であり、第１のサーボ信号は、フォーカシン
グサーボ信号であり、第２のサーボ信号は、トラッキン
グサーボ信号であり、第１のサーボ対象は、光学ヘッド
のフォーカシングアクチュエータであり、第２のサーボ
対象は、光学ヘッドのトラッキングアクチュエータであ
る光ディスク再生装置である。
生装置において、第１のエラー信号は、フォーカシング
エラー信号であり、第２のエラー信号は、トラッキング
エラー信号であり、第１のサーボ信号は、フォーカシン
グサーボ信号であり、第２のサーボ信号は、トラッキン
グサーボ信号であり、第１のサーボ対象は、光学ヘッド
のフォーカシングアクチュエータであり、第２のサーボ
対象は、光学ヘッドのトラッキングアクチュエータであ
る光ディスク再生装置である。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して、本発明
の実施の形態の光ディスク再生装置の一例を詳細に説明
する。先ず、図１を参照して、光ディスク再生装置の概
要を説明する。１は光ディスクで、スピンドル２に装填
されて、そのスピンドル２を介して、スピンドルモータ
３によって回転せしめられる。４は光学ヘッドで、その
対物レンズよりの収束ビームを光ディスク１の記録面に
照射し、その反射ビームをその光学系によって収束し
て、光学ヘッド４に設けられた光検出器（図７参照）に
入射せしめて、光検出部Ａ〜Ｆよりの各光検出出力がＲ
Ｆアンプ１５に供給されて増幅された後、デジタルシグ
ナルプロセッサ（ＤＳＰ）１３に供給される。又、光検
出部Ａ〜Ｄよりの各光検出出力Ａ〜Ｄは、ＲＦアンプ１
５において加算されて、ＲＦ信号として出力端子１６に
出力される。
の実施の形態の光ディスク再生装置の一例を詳細に説明
する。先ず、図１を参照して、光ディスク再生装置の概
要を説明する。１は光ディスクで、スピンドル２に装填
されて、そのスピンドル２を介して、スピンドルモータ
３によって回転せしめられる。４は光学ヘッドで、その
対物レンズよりの収束ビームを光ディスク１の記録面に
照射し、その反射ビームをその光学系によって収束し
て、光学ヘッド４に設けられた光検出器（図７参照）に
入射せしめて、光検出部Ａ〜Ｆよりの各光検出出力がＲ
Ｆアンプ１５に供給されて増幅された後、デジタルシグ
ナルプロセッサ（ＤＳＰ）１３に供給される。又、光検
出部Ａ〜Ｄよりの各光検出出力Ａ〜Ｄは、ＲＦアンプ１
５において加算されて、ＲＦ信号として出力端子１６に
出力される。
【００１８】ＲＦアンプ１５において、光検出部Ａ、Ｃ
の各光検出出力が加算され、光検出部Ｂ、Ｄの各光検出
出力が加算されるとと共に、これらの加算出力の一方か
ら他方が減算されて、フォーカシングエラー信号が得ら
れ、このフォーカシングエラー信号のフォーカシングエ
ラーを小さくするように、ＤＳＰ１３により、フォーカ
シングサーボ信号ＦＳが出力される。又、光検出部Ｅ、
Ｆの一方から他方が減算されて、トラッキングエラー信
号が得られ、このトラッキングエラー信号のトラッキン
グエラーを小さくするトラッキングサーボ信号ＴＳが出
力される。
の各光検出出力が加算され、光検出部Ｂ、Ｄの各光検出
出力が加算されるとと共に、これらの加算出力の一方か
ら他方が減算されて、フォーカシングエラー信号が得ら
れ、このフォーカシングエラー信号のフォーカシングエ
ラーを小さくするように、ＤＳＰ１３により、フォーカ
シングサーボ信号ＦＳが出力される。又、光検出部Ｅ、
Ｆの一方から他方が減算されて、トラッキングエラー信
号が得られ、このトラッキングエラー信号のトラッキン
グエラーを小さくするトラッキングサーボ信号ＴＳが出
力される。
【００１９】ここで、図２を参照して、ＤＳＰ１３にお
ける欠陥検出手段による総合欠陥検出信号の形成方法を
説明する。図２Ａ、Ｂ、Ｃは、それぞれ図７で説明した
光検出器の主検出部Ｍ及び両サイド光検出部Ｅ、Ｆの各
光検出出力Ｓ−Ｍ、Ｓ−Ｅ、Ｓ−Ｆを示し、それぞれ互
いにタイミングを異にする欠陥ＤＦＭ、ＤＦＥ、ＤＦＦ
を有する。
ける欠陥検出手段による総合欠陥検出信号の形成方法を
説明する。図２Ａ、Ｂ、Ｃは、それぞれ図７で説明した
光検出器の主検出部Ｍ及び両サイド光検出部Ｅ、Ｆの各
光検出出力Ｓ−Ｍ、Ｓ−Ｅ、Ｓ−Ｆを示し、それぞれ互
いにタイミングを異にする欠陥ＤＦＭ、ＤＦＥ、ＤＦＦ
を有する。
【００２０】これら各光検出出力Ｓ−Ｍ、Ｓ−Ｅ、Ｓ−
Ｆを、図８について説明した欠陥検出信号の形成回路を
用いて処理すると、それぞれ図２Ｄ、Ｅ、Ｆに示す如
き、主欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＭ、両副欠陥検出信号Ｓ−
ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦが得られる。これら欠陥検出信号Ｓ
−ＤＦＭ、Ｓ−ＤＦＥ及びＳ−ＤＦＦの論理和を取る
と、図２Ｇに示す如き、総合欠陥検出信号Ｓ−ＤＦが得
られる。この総合欠陥検出信号Ｓ−ＤＦは、欠陥検出信
号Ｓ−ＤＦＥ及びＳ−ＤＦＦのみの論理和でもある。こ
れは、光ディスクの記録面上の主収束ビームスポットＭ
ＢＳＰが、光ディスクの記録面上の両サイド収束ビーム
スポットＥＢＳＰ及びＦＢＳＰの中間に位置し、しか
も、収束ビームスポットＭＢＳＰ、ＥＢＳＰ及びＦＢＳ
Ｐの位置のトラック方向と直角な方向における距離が小
さいことによる。従って、この総合欠陥検出信号Ｓ−Ｄ
Ｆを得るための総合欠陥検出信号の形成回路は、図３の
ように構成されることになる。尚、この図３の総合欠陥
検出信号の形成回路は、ＤＳＰ１３の機能を回路化して
示したものである。
Ｆを、図８について説明した欠陥検出信号の形成回路を
用いて処理すると、それぞれ図２Ｄ、Ｅ、Ｆに示す如
き、主欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＭ、両副欠陥検出信号Ｓ−
ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦが得られる。これら欠陥検出信号Ｓ
−ＤＦＭ、Ｓ−ＤＦＥ及びＳ−ＤＦＦの論理和を取る
と、図２Ｇに示す如き、総合欠陥検出信号Ｓ−ＤＦが得
られる。この総合欠陥検出信号Ｓ−ＤＦは、欠陥検出信
号Ｓ−ＤＦＥ及びＳ−ＤＦＦのみの論理和でもある。こ
れは、光ディスクの記録面上の主収束ビームスポットＭ
ＢＳＰが、光ディスクの記録面上の両サイド収束ビーム
スポットＥＢＳＰ及びＦＢＳＰの中間に位置し、しか
も、収束ビームスポットＭＢＳＰ、ＥＢＳＰ及びＦＢＳ
Ｐの位置のトラック方向と直角な方向における距離が小
さいことによる。従って、この総合欠陥検出信号Ｓ−Ｄ
Ｆを得るための総合欠陥検出信号の形成回路は、図３の
ように構成されることになる。尚、この図３の総合欠陥
検出信号の形成回路は、ＤＳＰ１３の機能を回路化して
示したものである。
【００２１】次に、この図３の総合欠陥検出信号の形成
回路について説明する。ＤＤ−Ｅ、ＤＤ−Ｆは、同じ構
成の欠陥検出信号の形成回路を示し、それぞれの入力端
子Ｔ１には、図７の両サイド光検出器Ｅ、Ｆよりの光検
出出力Ｓ−Ｅ、Ｓ−Ｆがそれぞれ供給され、それぞれの
出力端子Ｔ２に、欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦ
が出力される。
回路について説明する。ＤＤ−Ｅ、ＤＤ−Ｆは、同じ構
成の欠陥検出信号の形成回路を示し、それぞれの入力端
子Ｔ１には、図７の両サイド光検出器Ｅ、Ｆよりの光検
出出力Ｓ−Ｅ、Ｓ−Ｆがそれぞれ供給され、それぞれの
出力端子Ｔ２に、欠陥検出信号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦ
が出力される。
【００２２】欠陥検出信号の形成回路ＤＤ−Ｅ、ＤＤ−
Ｆにおいては、入力端子Ｔ１が速い時定数のトップホー
ルド回路（ローパスフィルタも可）Ｃ−ＴＨ１及び遅い
時定数のトップホールド回路（ローパスフィルタも可）
Ｃ−ＴＨ２の各入力側にそれぞれ接続され、速い時定数
のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ１の出力ＴＨ１及び遅い
時定数のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ２の出力ＴＨ２を
減算器（差動増幅器）ＳＵＢに供給して、出力ＴＨ１か
ら出力ＴＨ２を減算し、その減算出力ＴＨ（＝ＴＨ１−
ＴＨ２）をレベル比較回路ＣＭＰに供給して、閾値出力
端子Ｔthからの閾値レベルｔｈと比較し、その比較出力
が出力端子Ｔ2 に出力される。
Ｆにおいては、入力端子Ｔ１が速い時定数のトップホー
ルド回路（ローパスフィルタも可）Ｃ−ＴＨ１及び遅い
時定数のトップホールド回路（ローパスフィルタも可）
Ｃ−ＴＨ２の各入力側にそれぞれ接続され、速い時定数
のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ１の出力ＴＨ１及び遅い
時定数のトップホールド回路Ｃ−ＴＨ２の出力ＴＨ２を
減算器（差動増幅器）ＳＵＢに供給して、出力ＴＨ１か
ら出力ＴＨ２を減算し、その減算出力ＴＨ（＝ＴＨ１−
ＴＨ２）をレベル比較回路ＣＭＰに供給して、閾値出力
端子Ｔthからの閾値レベルｔｈと比較し、その比較出力
が出力端子Ｔ2 に出力される。
【００２３】そして、欠陥検出信号の形成回路ＤＤ−
Ｅ、ＤＤ−Ｆの各出力端子Ｔ１、Ｔ２よりの欠陥検出信
号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦが論理和回路ＬＳに供給され
て、その論理和出力である総合欠陥検出信号Ｓ−ＤＦ
が、出力端子Ｔ３に出力される。
Ｅ、ＤＤ−Ｆの各出力端子Ｔ１、Ｔ２よりの欠陥検出信
号Ｓ−ＤＦＥ、Ｓ−ＤＦＦが論理和回路ＬＳに供給され
て、その論理和出力である総合欠陥検出信号Ｓ−ＤＦ
が、出力端子Ｔ３に出力される。
【００２４】再び、図１に戻って説明する。ＤＳＰ１３
よりのフォーカシングサーボ信号ＦＳ及びトラッキング
サーボ信号ＴＳが、それぞれスルー／ホールド切換え回
路１１、１２に供給される。これらスルー／ホールド切
換え回路１１、１２は、図４に示すような同一の回路構
成を有している。
よりのフォーカシングサーボ信号ＦＳ及びトラッキング
サーボ信号ＴＳが、それぞれスルー／ホールド切換え回
路１１、１２に供給される。これらスルー／ホールド切
換え回路１１、１２は、図４に示すような同一の回路構
成を有している。
【００２５】図４において、２１は入力端子、２２は出
力端子、２２はホールド回路、２３は切り換えスイッチ
である。切り換えスイッチ２３は、固定接点ｔ、ｈ及び
可動接点ｍを備えている。入力端子２１は、直接、切り
換えスイッチ２３の固定接点ｔに接続されると共に、ホ
ールド回路２２を通じて、切り換えスイッチ２３の固定
接点ｈに接続される。切り換えスイッチ２３の可動接点
ｍが、出力端子２４に接続される。
力端子、２２はホールド回路、２３は切り換えスイッチ
である。切り換えスイッチ２３は、固定接点ｔ、ｈ及び
可動接点ｍを備えている。入力端子２１は、直接、切り
換えスイッチ２３の固定接点ｔに接続されると共に、ホ
ールド回路２２を通じて、切り換えスイッチ２３の固定
接点ｈに接続される。切り換えスイッチ２３の可動接点
ｍが、出力端子２４に接続される。
【００２６】スルー／ホールド回路１１、１２の切り換
えスイッチ２３の可動接点ｍは、通常は固定接点ｔ側に
切換えられて、入力端子２１よりのフォーカシングサー
ボ信号及びトラッキングサーボ信号がそのまま、出力端
子２４に出力される。ＤＳＰ１３から総合欠陥検出信号
Ｓ−ＤＦが得られたときのみ、その検出信号Ｓ−ＤＦの
期間に亘って、固定接点ｈ側に切換えられて、入力端子
２１よりのそれぞれ直前のフォーカシングサーボ信号Ｆ
Ｓ及びトラッキングサーボ信号がそれぞれホールド信号
として出力端子２４に出力される。
えスイッチ２３の可動接点ｍは、通常は固定接点ｔ側に
切換えられて、入力端子２１よりのフォーカシングサー
ボ信号及びトラッキングサーボ信号がそのまま、出力端
子２４に出力される。ＤＳＰ１３から総合欠陥検出信号
Ｓ−ＤＦが得られたときのみ、その検出信号Ｓ−ＤＦの
期間に亘って、固定接点ｈ側に切換えられて、入力端子
２１よりのそれぞれ直前のフォーカシングサーボ信号Ｆ
Ｓ及びトラッキングサーボ信号がそれぞれホールド信号
として出力端子２４に出力される。
【００２７】スルー／ホールド回路１１、１２よりのフ
ォーカシングサーボ信号及びトラッキングサーボ信号
は、駆動回路７、８をそれぞれ通じて、２軸アクチュエ
ータ（フォーカシングアクチュエータ及びトラッキング
アクチュエータ）５に供給される。
ォーカシングサーボ信号及びトラッキングサーボ信号
は、駆動回路７、８をそれぞれ通じて、２軸アクチュエ
ータ（フォーカシングアクチュエータ及びトラッキング
アクチュエータ）５に供給される。
【００２８】ＤＳＰ１３よりのスレッドサーボ信号ＴＨ
が駆動回路９を通じて、スレッドモータ６に供給され
る。ＤＳＰ１３よりのスピンドルサーボ信号ＳＰＳが、
駆動回路１０を通じて、スピンドルモータ３に供給され
る。
が駆動回路９を通じて、スレッドモータ６に供給され
る。ＤＳＰ１３よりのスピンドルサーボ信号ＳＰＳが、
駆動回路１０を通じて、スピンドルモータ３に供給され
る。
【００２９】図５に示すように、光検出器が、光ディス
クのトラック方向の位置が互いに異なる複数Ｎ個の光検
出部（主光検出部及び複数の副光検出部から構成され
る）から構成される場合、その各欠陥検出信号の形成回
路ＤＤ−１、ＤＤ−２、‥‥‥‥、ＤＤ−（Ｎ−１）、
ＤＤ−Ｎそれぞれよりの欠陥検出信号Ｓ−ＤＦ１、Ｓ−
ＤＦ２、‥‥‥‥、Ｓ−ＤＦ（Ｎ−１）、Ｓ−ＤＦＮを
論理和回路ＬＳに供給して、その論理和出力を総合欠陥
検出信号Ｓ−ＤＦとする。尚、この場合、欠陥検出信号
の形成回路ＤＤ−１、ＤＤ−２、‥‥‥‥、ＤＤ−（Ｎ
−１）、ＤＤ−Ｎのうち、一部を省略しても、総合欠陥
検出信号Ｓ−ＤＦに影響を与えない場合は、その一部を
省略することができる。
クのトラック方向の位置が互いに異なる複数Ｎ個の光検
出部（主光検出部及び複数の副光検出部から構成され
る）から構成される場合、その各欠陥検出信号の形成回
路ＤＤ−１、ＤＤ−２、‥‥‥‥、ＤＤ−（Ｎ−１）、
ＤＤ−Ｎそれぞれよりの欠陥検出信号Ｓ−ＤＦ１、Ｓ−
ＤＦ２、‥‥‥‥、Ｓ−ＤＦ（Ｎ−１）、Ｓ−ＤＦＮを
論理和回路ＬＳに供給して、その論理和出力を総合欠陥
検出信号Ｓ−ＤＦとする。尚、この場合、欠陥検出信号
の形成回路ＤＤ−１、ＤＤ−２、‥‥‥‥、ＤＤ−（Ｎ
−１）、ＤＤ−Ｎのうち、一部を省略しても、総合欠陥
検出信号Ｓ−ＤＦに影響を与えない場合は、その一部を
省略することができる。
【００３０】
【発明の効果】上述せる第１の発明によれば、光ディス
クのトラック方向の位置が互いに異なる主光検出部及び
複数の副光検出部から構成される光検出器を備える光学
ヘッドと、主光検出部を構成する複数の光検出部よりの
各光検出出力に基づいて得られた第１のエラー信号を基
にして第１のサーボ信号を形成すると共に、その第１の
サーボ信号をホールドして第１のホールド出力を得る第
１のホールド手段及び第１のサーボ信号及び第１のホー
ルド出力を切換える第１の切換え手段を備える第１のサ
ーボ手段と、複数の副光検出部よりの各光検出出力に基
づいて得られた第２のエラー信号を基にして第２のサー
ボ信号を形成すると共に、その第２のサーボ信号をホー
ルドして第２のホールド出力を得る第２のホールド手段
及び第２のサーボ信号及び第２のホールド出力を切換え
る第２の切換え手段を備える第２のサーボ手段と、第１
のサーボ手段の第１の切換え手段の切換え出力が供給さ
れる第１のサーボ対象と、第２のサーボ手段の第２の切
換え手段の切換え出力が供給される第２のサーボ対象
と、光検出器を構成する主光検出部よりの主光検出出力
から主欠陥検出信号を形成する主欠陥検出信号形成手段
と、複数の副光検出部よりの複数の副光検出出力から複
数の副欠陥検出信号を形成する複数の副欠陥検出信号形
成手段と、主欠陥検出信号形成手段よりの主欠陥検出信
号及び複数の副欠陥検出信号形成手段よりの複数の副欠
陥検出信号を供給して、その論理和である総合欠陥検出
信号を出力する論理和手段とを有し、第１及び第２のサ
ーボ手段の第１及び第２の切換え手段は、通常は第１及
び第２のサーボ信号が、それぞれ第１及び第２のサーボ
対象に供給されるように切換えられれ、その論理和手段
より、総合欠陥検出信号が出力されたときは、第１及び
第２のホールド手段よりの第１及び第２のホールド出力
が、それぞれ第１及び第２のサーボ対象に供給されるよ
うに、総合欠陥検出信号によって、第１及び第２の切換
え手段を制御するようにしたので、光検出器よりの光検
出出力から、欠陥検出信号が検出されたときは、フォー
カシングサーボ回路及びトラッキングサーボ回路をそれ
ぞれホールド状態に切換えるようにした光ディスク再生
装置において、光検出器よりの光検出出力から、欠陥検
出信号が検出されたときは、全サーボ回路の破綻を確実
に回避することのできる光ディスク再生装置を得ること
ができる。
クのトラック方向の位置が互いに異なる主光検出部及び
複数の副光検出部から構成される光検出器を備える光学
ヘッドと、主光検出部を構成する複数の光検出部よりの
各光検出出力に基づいて得られた第１のエラー信号を基
にして第１のサーボ信号を形成すると共に、その第１の
サーボ信号をホールドして第１のホールド出力を得る第
１のホールド手段及び第１のサーボ信号及び第１のホー
ルド出力を切換える第１の切換え手段を備える第１のサ
ーボ手段と、複数の副光検出部よりの各光検出出力に基
づいて得られた第２のエラー信号を基にして第２のサー
ボ信号を形成すると共に、その第２のサーボ信号をホー
ルドして第２のホールド出力を得る第２のホールド手段
及び第２のサーボ信号及び第２のホールド出力を切換え
る第２の切換え手段を備える第２のサーボ手段と、第１
のサーボ手段の第１の切換え手段の切換え出力が供給さ
れる第１のサーボ対象と、第２のサーボ手段の第２の切
換え手段の切換え出力が供給される第２のサーボ対象
と、光検出器を構成する主光検出部よりの主光検出出力
から主欠陥検出信号を形成する主欠陥検出信号形成手段
と、複数の副光検出部よりの複数の副光検出出力から複
数の副欠陥検出信号を形成する複数の副欠陥検出信号形
成手段と、主欠陥検出信号形成手段よりの主欠陥検出信
号及び複数の副欠陥検出信号形成手段よりの複数の副欠
陥検出信号を供給して、その論理和である総合欠陥検出
信号を出力する論理和手段とを有し、第１及び第２のサ
ーボ手段の第１及び第２の切換え手段は、通常は第１及
び第２のサーボ信号が、それぞれ第１及び第２のサーボ
対象に供給されるように切換えられれ、その論理和手段
より、総合欠陥検出信号が出力されたときは、第１及び
第２のホールド手段よりの第１及び第２のホールド出力
が、それぞれ第１及び第２のサーボ対象に供給されるよ
うに、総合欠陥検出信号によって、第１及び第２の切換
え手段を制御するようにしたので、光検出器よりの光検
出出力から、欠陥検出信号が検出されたときは、フォー
カシングサーボ回路及びトラッキングサーボ回路をそれ
ぞれホールド状態に切換えるようにした光ディスク再生
装置において、光検出器よりの光検出出力から、欠陥検
出信号が検出されたときは、全サーボ回路の破綻を確実
に回避することのできる光ディスク再生装置を得ること
ができる。
【００３１】第２の発明によれば、第１の発明の光ディ
スク再生装置において、第１のエラー信号は、フォーカ
シングエラー信号であり、第２のエラー信号は、トラッ
キングエラー信号であり、第１のサーボ信号は、フォー
カシングサーボ信号であり、第２のサーボ信号は、トラ
ッキングサーボ信号であり、第１のサーボ対象は、光学
ヘッドのフォーカシングアクチュエータであり、第２の
サーボ対象は、光学ヘッドのトラッキングアクチュエー
タであるので、フォーカシングサーボ回路及びトラッキ
ングサーボ回路の破綻を確実に回避することのできる光
ディスク再生装置を得ることができる。
スク再生装置において、第１のエラー信号は、フォーカ
シングエラー信号であり、第２のエラー信号は、トラッ
キングエラー信号であり、第１のサーボ信号は、フォー
カシングサーボ信号であり、第２のサーボ信号は、トラ
ッキングサーボ信号であり、第１のサーボ対象は、光学
ヘッドのフォーカシングアクチュエータであり、第２の
サーボ対象は、光学ヘッドのトラッキングアクチュエー
タであるので、フォーカシングサーボ回路及びトラッキ
ングサーボ回路の破綻を確実に回避することのできる光
ディスク再生装置を得ることができる。
【図１】本発明の実施の形態の光ディスク再生装置の一
例の概要を示すブロック線図である。
例の概要を示すブロック線図である。
【図２】総合欠陥検出信号の形成方法を示すタイミング
チャートである。
チャートである。
【図３】総合欠陥検出信号の形成回路の一例を示すブロ
ック線図である。
ック線図である。
【図４】スルー／ホールド切換え回路を示すブロック線
図である。
図である。
【図５】総合欠陥検出信号の形成回路の他の例を示すブ
ロック線図である。
ロック線図である。
【図６】光ディスクの記録面上のピットに対する収束ビ
ームスポットの位置関係を示す線図である。
ームスポットの位置関係を示す線図である。
【図７】光検出器の一例を示す配置図である。
【図８】欠陥検出信号の形成回路である。
【図９】欠陥検出信号の形成方法を示すタイミングチャ
ートである。
ートである。
【図１０】光ディスク（ＣＤ−Ｒ）の記録面上のランド
及びグルーブに対するビームスポットの位置関係を示す
線図である。
及びグルーブに対するビームスポットの位置関係を示す
線図である。
【図１１】光検出器の他の一例を示す配置図である。
ＤＤ−Ｅ、ＤＤ−Ｆ 欠陥検出信号の形成回路、Ｃ−Ｔ
Ｈ１ 速い時定数のトップホールド回路、Ｃ−ＴＨ２
遅い時定数のトップホールド回路、ＳＵＢ 減算器（差
動増幅器）、ＣＭＰ レベル比較回路、ＬＳ 論理和回
路。
Ｈ１ 速い時定数のトップホールド回路、Ｃ−ＴＨ２
遅い時定数のトップホールド回路、ＳＵＢ 減算器（差
動増幅器）、ＣＭＰ レベル比較回路、ＬＳ 論理和回
路。
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクのトラック方向の位置が互い
に異なる主光検出部及び複数の副光検出部から構成され
る光検出器を備える光学ヘッドと、 上記主光検出部を構成する複数の光検出部よりの各光検
出出力に基づいて得られた第１のエラー信号を基にして
第１のサーボ信号を形成すると共に、該第１のサーボ信
号をホールドして第１のホールド出力を得る第１のホー
ルド手段及び上記第１のサーボ信号及び上記第１のホー
ルド出力を切換える第１の切換え手段を備える第１のサ
ーボ手段と、 上記複数の副光検出部よりの各光検出出力に基づいて得
られた第２のエラー信号を基にして第２のサーボ信号を
形成すると共に、該第２のサーボ信号をホールドして第
２のホールド出力を得る第２のホールド手段及び上記第
２のサーボ信号及び上記第２のホールド出力を切換える
第２の切換え手段を備える第２のサーボ手段と、 上記第１のサーボ手段の上記第１の切換え手段の切換え
出力が供給される第１のサーボ対象と、 上記第２のサーボ手段の上記第２の切換え手段の切換え
出力が供給される第２のサーボ対象と、 上記光検出器を構成する上記主光検出部よりの主光検出
出力から主欠陥検出信号を形成する主欠陥検出信号形成
手段と、 上記複数の副光検出部よりの複数の副光検出出力から複
数の副欠陥検出信号を形成する複数の副欠陥検出信号形
成手段と、 上記主欠陥検出信号形成手段よりの主欠陥検出信号及び
上記複数の副欠陥検出信号形成手段よりの複数の副欠陥
検出信号を供給して、その論理和である総合欠陥検出信
号を出力する論理和手段とを有し、 上記第１及び第２のサーボ手段の上記第１及び第２の切
換え手段は、通常は上記第１及び第２のサーボ信号が、
それぞれ上記第１及び第２のサーボ対象に供給されるよ
うに切換えられれ、該論理和手段より、上記総合欠陥検
出信号が出力されたときは、上記第１及び第２のホール
ド手段よりの上記第１及び第２のホールド出力が、それ
ぞれ上記第１及び第２のサーボ対象に供給されるよう
に、上記総合欠陥検出信号によって、上記第１及び第２
の切換え手段を制御するようにしたことを特徴とする光
ディスク再生装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の光ディスク再生装置に
おいて、 上記第１のエラー信号は、フォーカシングエラー信号で
あり、 上記第２のエラー信号は、トラッキングエラー信号であ
り、 上記第１のサーボ信号は、フォーカシングサーボ信号で
あり、 上記第２のサーボ信号は、トラッキングサーボ信号であ
り、 上記第１のサーボ対象は、上記光学ヘッドのフォーカシ
ングアクチュエータであり、 上記第２のサーボ対象は、上記光学ヘッドのトラッキン
グアクチュエータであることを特徴とする光ディスク再
生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002034540A JP2003242662A (ja) | 2002-02-12 | 2002-02-12 | 光ディスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002034540A JP2003242662A (ja) | 2002-02-12 | 2002-02-12 | 光ディスク再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003242662A true JP2003242662A (ja) | 2003-08-29 |
Family
ID=27777003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002034540A Pending JP2003242662A (ja) | 2002-02-12 | 2002-02-12 | 光ディスク再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003242662A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006013879A1 (ja) * | 2004-08-06 | 2008-05-01 | パイオニア株式会社 | 光状態認識装置、情報処理装置、および、光状態認識方法 |
| JP2008287799A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Alpine Electronics Inc | ドロップアウト検出装置、ディスク再生装置及びドロップアウト検出方法 |
-
2002
- 2002-02-12 JP JP2002034540A patent/JP2003242662A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006013879A1 (ja) * | 2004-08-06 | 2008-05-01 | パイオニア株式会社 | 光状態認識装置、情報処理装置、および、光状態認識方法 |
| JP4608496B2 (ja) * | 2004-08-06 | 2011-01-12 | パイオニア株式会社 | 光状態認識装置、情報処理装置、および、光状態認識方法 |
| JP2008287799A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Alpine Electronics Inc | ドロップアウト検出装置、ディスク再生装置及びドロップアウト検出方法 |
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