JP2003225586A - Fine metal particles having narrow particle distribution - Google Patents

Fine metal particles having narrow particle distribution

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JP2003225586A
JP2003225586A JP2002024940A JP2002024940A JP2003225586A JP 2003225586 A JP2003225586 A JP 2003225586A JP 2002024940 A JP2002024940 A JP 2002024940A JP 2002024940 A JP2002024940 A JP 2002024940A JP 2003225586 A JP2003225586 A JP 2003225586A
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precision
sieving
sieve
particles
hole
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Hiroshi Yamada
浩 山田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain fine metal particles with a mean particle size of 1-10 μm having a narrow particle distribution and hard to flocculate by an atomizing method. <P>SOLUTION: Fine metal particles obtained by the atomizing method are classified using a precise sieve. The precise sieve used in classification has a thickness of 10-100 μm and the sieve perforations of the precise sieve are formed in a predetermined arrangement so that the opening ratio of them becomes 20-80%. The size of the sieve perforations is 1-10 μm as a diameter in such a case that the plane shape of the sieve perforations is circular and the standard deviation of a pore size distribution is 25% or less of a pore size. Further, when the aspect ratio of each of the perforations defined by the ratio of the depth of perforations to the pore size is not less than 1.5 and the plane shape of each of the sieve perforations is polygonal, the shortest side thereof is 1-10 μm and the standard deviation of a shortest side distribution is 25% or less of the mean value of the shortest sides and the ratio of the depth of each perforation to the length of the shortest side in the projection surface of each perforation is not less than 1.5. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の端子接
続に用いる異方性を有する導電性接着シートを製造する
際に使用する粒子径分布の狭い導電性微粒子、あるいは
多数の微粒子を加熱圧縮して作製する多孔質金属板の製
造に用いる粒子径分布の狭い導電性微粒子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to heating and compression of conductive fine particles having a narrow particle size distribution or a large number of fine particles used for producing an anisotropic conductive adhesive sheet used for connecting terminals of electronic parts. The present invention relates to conductive fine particles having a narrow particle size distribution used for producing a porous metal plate produced in the above manner.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、特に複数の電子部品間の電気的な
接続において、接続端子の寸法が縮小しているのみなら
ず、端子の配列ピッチも一段と狭くなりつつある。これ
は、部品の高密度化をねらった動きであり、高密度接続
用の材料の果たす役割も極めて重要となっている。した
がって、微小端子間の狭ピッチ接続において通常用いら
れている異方性を有する導電性接着シート内の導電性微
粒子の寸法に関する特性は極めて重要であり、粒子径分
布の狭い金属微粒子が求められている。
2. Description of the Related Art In recent years, particularly in the electrical connection between a plurality of electronic components, not only the size of connection terminals has been reduced, but also the arrangement pitch of the terminals is becoming narrower. This is a movement aimed at increasing the density of parts, and the role played by the material for high-density connection is also extremely important. Therefore, the characteristics relating to the size of the conductive fine particles in the conductive adhesive sheet having anisotropy which is usually used in the narrow pitch connection between the fine terminals are extremely important, and the metal fine particles having a narrow particle size distribution are required. There is.

【0003】また、金属微粒子を加熱圧着して形成し、
フィルター等の用途で用いられる多孔質金属板の作製に
関して、細孔径の制御において金属微粒子の粒子径分布
は重要であり、粒子径分布の狭い金属微粒子が求められ
ている。従来より、金属微粒子の製造方法としては、電
解法、化学気相析出法(CVD法)、湿式化学還元法な
どが用いられていた。また、溶融させた金属液体を不活
性ガス中で急冷却するアトマイズ法も、複数金属成分の
含有量を制御することができる利点があるため、良く用
いられる手段の一つである。これらの方法によって作製
された金属微粒子を分級する方法としては、気流分級
法、沈降分級法あるいはふるいを用いた分級法で分級
し、粒子径分布を狭めた金属微粒子が形成されていた。
Further, the fine metal particles are formed by thermocompression bonding,
Regarding the production of porous metal plates used for applications such as filters, the particle size distribution of metal particles is important in controlling the pore size, and metal particles having a narrow particle size distribution are required. Conventionally, an electrolytic method, a chemical vapor deposition method (CVD method), a wet chemical reduction method, or the like has been used as a method for producing metal fine particles. Further, the atomization method, in which the molten metal liquid is rapidly cooled in an inert gas, is also one of the commonly used means because it has the advantage that the content of a plurality of metal components can be controlled. As a method for classifying the metal fine particles produced by these methods, a metal fine particle having a narrowed particle size distribution is formed by classifying by a gas stream classification method, a sedimentation classification method or a classification method using a sieve.

【0004】しかしながら、気流分級法、沈降分級法等
によって分級された金属微粒子の粒子径分布は広く決し
て満足できるものではなかった。比較的粒子径分布の狭
い金属微粒子を得る方法として、ふるいによる分級方法
がある。ふるいによる粒子の分級方法は古くから存在
し、金属またはプラスチック繊維からなる線材を、所定
の大きさのふるい孔(開口部)が形成されるように網目
状に編んだふるいが用いられてきた。
However, the particle size distribution of the metal fine particles classified by the air flow classification method, the sedimentation classification method, etc., has never been wide and satisfactory. As a method for obtaining fine metal particles having a relatively narrow particle size distribution, there is a classification method using a sieve. A method of classifying particles by sieving has existed for a long time, and a sieving in which a wire made of metal or plastic fiber is knitted in a mesh shape so as to form sieving holes (openings) of a predetermined size has been used.

【0005】しかしながら、このような従来のふるい
は、機械的強度の点から線材の直径を数10μm以上に
する必要がある。また、ふるい孔の寸法を小さくしよう
としても、数10μm程度が限界である。また、仮にふ
るい孔を一辺が10μmの正方形とし、使用する線材の
直径を例えば20μmとすると、ふるい孔のふるい全面
に対する面積比率は約10%となるため、分級速度が極
めて低い。さらに、機械的に編むことで作製するため、
ふるい孔の寸法を精密に制御することが極めて困難であ
る。従来の方法では、10μm以下の孔径を有し、ふる
いとしての強度を有し、かつ開口部の広いふるいを作製
することは不可能であった。すなわち、従来の分級方法
では平均粒子径10μm以下の粒子径分布の揃った微粒
子を作成することができなかった。
However, in such a conventional sieve, it is necessary to make the wire diameter several tens of μm or more from the viewpoint of mechanical strength. Further, even if it is attempted to reduce the size of the sieve hole, the limit is about several tens of μm. If the sieving hole is a square having a side of 10 μm and the diameter of the wire used is, for example, 20 μm, the area ratio of the sieving hole to the entire surface of the sieving is about 10%, so that the classification speed is extremely low. Furthermore, because it is made by mechanically knitting,
Precise control of the size of the sieve holes is extremely difficult. It has been impossible to produce a sieve having a pore size of 10 μm or less, a strength as a sieve, and a wide opening by the conventional method. That is, the conventional classification method could not produce fine particles having an average particle diameter of 10 μm or less and a uniform particle diameter distribution.

【0006】更に、アトマイズ法は融解した金属液体を
不活性ガス中で急冷却する方法であり、球状の金属微粒
子の他、複数の粒子が接合した直線あるいは屈曲した棒
状の金属微粒子が存在する。しかし、従来のふるいでは
この棒状金属微粒子を分離することができなかった。湿
式化学還元法は、粒子径が1μm未満で比較的粒子径分
布の狭い金属微粒子を作製することが可能であるが、こ
の方法で平均粒径1〜10μmの、粒子径分布の狭い金
属微粒子を作製することはできなかった。また、粒子径
が10μmを越えて大きな金属微粒子は、ふるい法を用
いて分級可能であるが、高密度接続を用途とする異方性
を有する導電性接着シート用金属微粒子、あるいは微細
な細孔を有する多孔質金属板用の金属微粒子としては好
ましくない。
Further, the atomization method is a method of rapidly cooling a molten metal liquid in an inert gas, and in addition to spherical metal fine particles, linear or bent rod-shaped metal fine particles in which a plurality of particles are joined are present. However, the conventional sieve could not separate the rod-shaped metal fine particles. The wet chemical reduction method can produce metal fine particles having a particle size of less than 1 μm and a relatively narrow particle size distribution. With this method, metal fine particles having an average particle size of 1 to 10 μm and a narrow particle size distribution can be produced. It could not be made. In addition, fine metal particles having a particle size of more than 10 μm can be classified by using a sieving method. However, anisotropic metal fine particles for conductive adhesive sheets or fine pores for high-density connection are used. Is not preferable as the metal fine particles for the porous metal plate having

【0007】つまり、従来技術では、平均粒子径が1μ
m〜10μmの範囲の金属微粒子を粒子径分布を狭くか
つ効率的に分級することが出来なかった。
That is, in the prior art, the average particle size is 1 μm.
It was not possible to classify the metal fine particles in the range of m to 10 μm narrowly and efficiently.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
従来技術の問題点に着目してなされたものであり、精密
ふるいを用いた分級操作で粒子径分布が狭い金属微粒子
を提供することを課題とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems of the prior art, and provides metal fine particles having a narrow particle size distribution by a classification operation using a precision sieve. Is an issue.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決した本発
明は、次の通りの構成を有する。 1.平均粒子径が1μmから10μmであり、かつ粒子
径分布の標準偏差が平均粒子径の25%以下であること
を特徴とする金属微粒子。 2.金属微粒子中の異形粒子(短手方向の長さに対する
長手方向の長さの比が2以上である粒子)の存在比率が
1%以下であることを特徴とする1記載の金属微粒子。
The present invention, which has solved the above-mentioned problems, has the following constitution. 1. Metal fine particles having an average particle diameter of 1 μm to 10 μm and a standard deviation of the particle diameter distribution of 25% or less of the average particle diameter. 2. 2. The metal fine particles according to 1, wherein the odd-shaped particles (particles in which the ratio of the length in the longitudinal direction to the length in the lateral direction is 2 or more) in the metal fine particles is 1% or less.

【0010】3.1または2に記載の金属微粒子が、
銅、金、銀、白金、ニッケル、パラジウム、インジウ
ム、鉄、クロム、タンタル、錫、鉛、亜鉛、コバルト、
チタン、タングステン、ビスマス、シリコン、アンチモ
ン、アルミニウム、マグネシウム、希土類元素の単独ま
たはこれらいずれかの金属の合金、あるいは表面に金属
被覆を有する微粒子であることを特徴とする金属微粒
子。
The metal fine particles according to 3.1 or 2 are
Copper, gold, silver, platinum, nickel, palladium, indium, iron, chromium, tantalum, tin, lead, zinc, cobalt,
Metal fine particles characterized by being titanium, tungsten, bismuth, silicon, antimony, aluminum, magnesium, a rare earth element alone or an alloy of any of these metals, or fine particles having a metal coating on the surface.

【0011】4.金属微粒子を、精密ふるい板によって
分級して粒子径分布の狭い金属微粒子を製造する方法で
あって、金属微粒子はアトマイズ法で作製されたもので
あり、かつ、分級に用いられる精密ふるい板が、厚さが
10μm以上100μm以下であり、ふるい孔は開口率
が20%以上80%以下となるように所定配置で形成さ
れ、ふるい孔の平面形状は円形または多角形であり、ふ
るい孔の大きさは、ふるい孔の平面形状が円形である場
合にはその直径が1〜10μmであり、かつ孔径分布の
標準偏差が孔径の平均値の25%以下であり、更に孔径
に対する孔の深さの比で定義される孔のアスペクト比が
1.5以上、ふるい孔の平面形状が多角形である場合に
はその最短辺が1〜10μm、かつ最短辺の分布の標準
偏差が最短辺の平均値の25%以下であり、孔の投影面
における最短辺の長さに対する孔の深さの比が1.5以
上であることを特徴とする金属微粒子の製造方法。
4. A method for producing metal fine particles having a narrow particle size distribution by classifying metal fine particles with a precision sieving plate, wherein the metal fine particles are those produced by an atomizing method, and the precision sieving plate used for classification is The thickness is 10 μm or more and 100 μm or less, the sieving holes are formed in a predetermined arrangement so that the opening ratio is 20% or more and 80% or less, and the sieving holes have a circular or polygonal plan shape, and the size of the sieving holes is When the sieving hole has a circular planar shape, the diameter is 1 to 10 μm, the standard deviation of the hole diameter distribution is 25% or less of the average value of the hole diameter, and the ratio of the hole depth to the hole diameter is If the aspect ratio of the hole is 1.5 or more and the planar shape of the sieve hole is a polygon, the shortest side is 1 to 10 μm, and the standard deviation of the distribution of the shortest side is the average value of the shortest side. Below 25% Ri, method for producing metal microparticles, wherein the ratio of the depth of the hole to the length of the shortest side in the projection plane of the holes is 1.5 or more.

【0012】5.金属微粒子を、2枚の精密ふるい板か
らなる精密ふるい板ユニットによって分級して粒子径分
布の狭い金属微粒子を製造する方法であって、金属微粒
子はアトマイズ法で作製されたものであり、該精密ふる
い板ユニットが、2枚の、孔の配列ピッチが同一である
項4記載の精密ふるい板を、一定間隔に平行に配置し、
2枚の精密ふるいの孔を同一平面に投影した時の孔の重
なりの面積が90%以下となるように2枚の精密ふるい
板を配置し、2枚の精密ふるい板の間隔が孔の最短長の
1.1倍から2.5倍とした精密ふるい板ユニットであ
ることを特徴とする金属微粒子の製造方法。
5. A method for producing fine metal particles having a narrow particle size distribution by classifying fine metal particles with a precision sieving plate unit consisting of two precision sieving plates, wherein the fine metal particles are produced by an atomizing method. In the sieving plate unit, two precision sieving plates according to item 4 having the same hole arrangement pitch are arranged in parallel at a constant interval,
The two precision sieving plates are arranged so that the overlapping area of the holes is 90% or less when the holes of the two precision sieving plates are projected on the same plane. The distance between the two precision sieving plates is the shortest. A method for producing fine metal particles, which is a precision sieving plate unit having a length of 1.1 to 2.5 times.

【0013】6.ふるい分けを行う紛体を投入する筒状
の投入部の底部に項4記載の精密ふるい板または項5記
載の精密ふるい板ユニットを装着した精密ふるいを組み
立て、この精密ふるいを精密ふるい板または精密ふるい
板ユニットが下面になるように精密ふるいを通過した紛
体を受けるための容器に入れ、さらにこの容器内に液状
物質を入れた状態で容器に超音波振動を加えることを特
徴とする金属微粒子の製造方法。
6. Assembling a precision sieve plate having the precision sieve plate according to item 4 or the precision sieve plate unit according to item 5 at the bottom of the cylindrical feeding portion for feeding powder for sieving, and assembling the precision sieve plate or precision sieve plate. A method for producing fine metal particles, characterized in that the unit is placed in a container for receiving powder that has passed through a precision sieve so that the unit is on the lower surface, and ultrasonic vibration is applied to the container while the liquid substance is further placed in the container. .

【0014】[金属微粒子について]本発明で得られる
金属微粒子の平均粒子径は、1μm〜10μmの範囲で
あり、粒子径分布の標準偏差は、平均粒子径の25%以
下、好ましくは15%以下、更に好ましくは10%以下
である。平均粒子径が1μm未満である場合、接続端子
の高さのばらつきを吸収できないので好ましくなく、ま
た10μmを越えて大きい場合、微小端子の狭ピッチ接
続用途として不向きである。
[About Metal Fine Particles] The average particle size of the metal fine particles obtained in the present invention is in the range of 1 μm to 10 μm, and the standard deviation of the particle size distribution is 25% or less, preferably 15% or less of the average particle size. , And more preferably 10% or less. If the average particle diameter is less than 1 μm, variations in height of the connection terminals cannot be absorbed, which is not preferable. If the average particle diameter exceeds 10 μm, it is unsuitable for narrow pitch connection of minute terminals.

【0015】本発明の金属微粒子は、電子部品の接続に
用いる異方性を有する導電性接着シートあるいは加熱圧
縮法による多孔質金属シートの製造に使用するため、粒
子径分布が狭いことが必要となる。粒子径分布の標準偏
差が平均粒子径の25%を超えて大きな場合、異方性導
電接着シートでは、接続するバンプ間の高さばらつきを
吸収することが困難である。また、多孔質金属シートを
製造する場合、粒子の充填率が高くなり、多孔質を作製
することが困難となる。
Since the metal fine particles of the present invention are used for producing an anisotropic conductive adhesive sheet used for connecting electronic parts or a porous metal sheet by a heat compression method, it is necessary that the particle size distribution is narrow. Become. When the standard deviation of the particle size distribution is large, exceeding 25% of the average particle size, it is difficult for the anisotropic conductive adhesive sheet to absorb the height variation between the connected bumps. In addition, when a porous metal sheet is manufactured, the packing rate of particles becomes high, which makes it difficult to manufacture a porous metal sheet.

【0016】本発明の金属微粒子は、異形粒子存在比率
が1%以下であることが好ましい。異形粒子とは、短手
方向の長さに対する長手方向の長さの比が2以上である
粒子のことを示す。異形粒子が1%より多く混入する
と、異方性を有する導電性接着シートの場合、該接着シ
ートの膜厚方向と金属微粒子の長手方向が一致する確率
が増え、該異形粒子で接続される端子が破壊されたり、
周囲の端子において接続不良が発生することがあるた
め、可能な限り該異形粒子を除去することが好ましい。
The fine metal particles of the present invention preferably have a deformed particle existence ratio of 1% or less. The irregular-shaped particles are particles having a ratio of the length in the longitudinal direction to the length in the lateral direction of 2 or more. If more than 1% of irregular particles are mixed, in the case of a conductive adhesive sheet having anisotropy, the probability that the film thickness direction of the adhesive sheet and the longitudinal direction of the metal fine particles coincide with each other increases, and the terminals connected by the irregular particles are increased. Is destroyed,
Since irregular connection may occur at the peripheral terminals, it is preferable to remove the irregularly shaped particles as much as possible.

【0017】本発明の金属微粒子は、銅、金、銀、白
金、ニッケル、パラジウム、インジウム、鉄、クロム、
タンタル、錫、鉛、亜鉛、コバルト、チタン、タングス
テン、ビスマス、シリコン、アンチモン、アルミニウ
ム、マグネシウム、希土類元素の単独またはこれらいず
れかの金属の合金、あるいは表面に金属被覆を有する微
粒子であることが好ましい。分級前の金属微粒子の作成
方法は、電解法、化学気相析出法(CVD法)、湿式化
学還元法等の方法があるが、特に、溶融させた金属液体
を不活性ガス中で急冷却するアトマイズ法が好適に用い
られる。この方法では、1種類の金属の微粒子のみなら
ず、複数の元素からなる合金微粒子をその組成をコント
ロールして作製することが可能である。また、作製され
た金属微粒子の表面を同一あるいは異種の金属で薄く被
覆することもできる。被覆する金属はアトマイズ法で作
製された金属微粒子を構成する元素であっても、別の元
素であっても構わない。金属微粒子の表面を金属で被覆
する方法としては、電解めっき法、無電解めっき法、置
換型めっき法、プラズマCVD法、MOCVD法、湿式
化学還元法等を挙げることができる。いずれの手法にお
いても金属微粒子表面に薄い金属層を形成する必要があ
るので、均一に金属を析出させるためには振動を加える
などの工夫が必要となる。
The fine metal particles of the present invention include copper, gold, silver, platinum, nickel, palladium, indium, iron, chromium,
Tantalum, tin, lead, zinc, cobalt, titanium, tungsten, bismuth, silicon, antimony, aluminum, magnesium, rare earth elements alone or an alloy of any of these metals, or fine particles having a metal coating on the surface are preferable. . There are methods such as an electrolytic method, a chemical vapor deposition method (CVD method), and a wet chemical reduction method as a method for producing the fine metal particles before classification. In particular, a molten metal liquid is rapidly cooled in an inert gas. The atomizing method is preferably used. According to this method, not only fine particles of one kind of metal but also fine alloy particles composed of a plurality of elements can be produced by controlling the composition thereof. Further, the surface of the produced metal fine particles can be thinly coated with the same or different metals. The metal to be coated may be an element that constitutes the metal fine particles produced by the atomizing method or another element. Examples of the method for coating the surface of the metal fine particles with a metal include an electrolytic plating method, an electroless plating method, a displacement type plating method, a plasma CVD method, a MOCVD method, and a wet chemical reduction method. In any of the methods, it is necessary to form a thin metal layer on the surface of the metal fine particles, and therefore, in order to uniformly deposit the metal, it is necessary to devise such as applying vibration.

【0018】[分級に用いる精密ふるいについて]本発
明で用いる精密ふるい板の材質は、金属、樹脂等汎用の
材料が用いられる。製造方法によって、適する材質が異
なるが、これは追って説明する。合成樹脂製のふるい板
の場合には、静電気の影響によってふるいの性能が低下
することを防止する目的で、表面に金属薄膜を形成する
ことが好ましい。本願発明で用いるふるい板の孔の形状
は円あるいは多角形である。これらの形状は、目的に応
じて適宜選択すればよい。例えば、長方形や楕円形の場
合、棒状の粒子が長手方向のみならず、短手方向にも孔
を通過する可能性があるが、分級効率は良好である。一
方、正円または正多角形の場合、分級効率は孔の形状が
長方形や楕円形であるものに比べて若干劣るものの、粒
度分布の狭い粒子を得ることが可能である。
[Regarding Precision Sieve Used for Classification] As the material of the precision sieving plate used in the present invention, general-purpose materials such as metal and resin are used. Suitable materials differ depending on the manufacturing method, which will be described later. In the case of a synthetic resin sieve plate, it is preferable to form a metal thin film on the surface thereof in order to prevent the performance of the sieve from being deteriorated by the influence of static electricity. The shape of the holes of the sieve plate used in the present invention is a circle or a polygon. These shapes may be appropriately selected according to the purpose. For example, in the case of a rectangle or an ellipse, rod-shaped particles may pass through the holes not only in the longitudinal direction but also in the lateral direction, but the classification efficiency is good. On the other hand, in the case of a perfect circle or a regular polygon, classification efficiency is slightly inferior to that of a hole having a rectangular shape or an elliptical shape, but it is possible to obtain particles having a narrow particle size distribution.

【0019】開口している孔の形状が円形の場合、孔径
が1μmから10μmの範囲にあり、また開口している
孔の形状が多角形である場合、最短辺の長さが1μmか
ら10μmの範囲にあり、かつ孔径分布の標準偏差は孔
径の平均値の25%以下である。ふるい板の開口率(ふ
るい孔の合計面積/ふるい板の面積)は20%〜80%
とするのが好ましい。開口率の数値(%)は、(ふるい
孔の合計面積/ふるい板の面積)*100で与えられ
る。開口率がこれより小さいと分級効率が悪く、開口率
がこの範囲を超えると逆にふるい板の強度が低くなる。
When the shape of the open hole is circular, the hole diameter is in the range of 1 μm to 10 μm, and when the shape of the open hole is polygonal, the length of the shortest side is 1 μm to 10 μm. And the standard deviation of the pore size distribution is 25% or less of the average value of the pore size. Aperture ratio of sieve plate (total area of sieve holes / area of sieve plate) is 20% to 80%
Is preferred. The numerical value (%) of the aperture ratio is given by (total area of sieving holes / area of sieving plate) * 100. If the aperture ratio is smaller than this range, the classification efficiency is poor, and if the aperture ratio exceeds this range, the strength of the sieving plate becomes low.

【0020】精密ふるいの孔のアスペクト比は1.5以
上である。アスペクト比とは、孔の形状が円形の場合、
円の直径に対する孔の深さで定義し、また、孔の形状が
多角形の場合、最短辺の長さに対する孔の深さで定義す
るものである。本発明の分級操作で用いる精密ふるい
は、従来技術で1μmから10μmの金属微粒子を分級
する場合に大きな問題であった、分級効率が低いことお
よび分級した金属微粒子の粒子径分布が広いことを解決
できる。また更に、孔のアスペクト比が1.5以上を大
きい精密ふるいを用いること、分級操作において液体中
で超音波振動を併用することにより、分級された金属微
粒子が凝集しにくいという現象も見出された。
The aspect ratio of the holes in the precision sieve is 1.5 or more. Aspect ratio means that when the hole shape is circular,
It is defined by the depth of the hole relative to the diameter of the circle, and when the shape of the hole is a polygon, it is defined by the depth of the hole relative to the length of the shortest side. The precision sieving used in the classification operation of the present invention solves a large problem when classifying metal fine particles of 1 μm to 10 μm in the prior art, low classification efficiency and wide particle size distribution of classified metal fine particles. it can. Furthermore, it has been found that the classified metal fine particles are less likely to aggregate by using a precision sieve having a large aspect ratio of 1.5 or more and by using ultrasonic vibration in a liquid in the classification operation. It was

【0021】〔精密ふるい板の製造方法〕アスペクト比
の大きな孔を高密度に形成する方法としては、フォトリ
ソグラフィーを用いて導電性基板上の感光性樹脂層をパ
ターン化し、その後、電解めっき法を用いて感光性樹脂
パターンの存在しない部分に金属を析出させる方法、あ
るいは導電性基板上の樹脂層をレーザアブレーション法
を用いてパターン化しその後電解めっき法を用いて樹脂
パターンの存在しない部分に金属を析出させる方法があ
る。また、別法として、シート状の金属、樹脂、セラミ
ックスにレーザアブレーションを用いて直接孔を形成す
る方法、絶縁性流体内で針状電極を金属シートに接近さ
せ針状電極と金属シート間で放電させながら、針状電極
を徐々に金属シートに挿入することにより貫通孔を形成
する方法、突起を有する雄型と、前記突起を受ける凹部
を有する雌型とからなるプレス用金型を用いて金属シー
トあるいは樹脂シートをプレスで打ち抜くことにより貫
通孔を形成する方法がある。
[Method for Manufacturing Precision Sieve Plate] As a method for forming holes having a large aspect ratio at a high density, a photosensitive resin layer on a conductive substrate is patterned by using photolithography, and then an electrolytic plating method is used. Using the method of depositing metal on the part where the photosensitive resin pattern does not exist, or patterning the resin layer on the conductive substrate using the laser ablation method, and then using the electroplating method to deposit the metal on the part where the resin pattern does not exist. There is a method of precipitation. Alternatively, a method of directly forming holes in a sheet of metal, resin, or ceramics by using laser ablation, or bringing a needle electrode close to a metal sheet in an insulating fluid to cause discharge between the needle electrode and the metal sheet. A method of forming a through hole by gradually inserting a needle-shaped electrode into a metal sheet while making a metal using a pressing die including a male die having a protrusion and a female die having a recess for receiving the protrusion. There is a method of forming a through hole by punching a sheet or a resin sheet with a press.

【0022】また、本発明においてフォトリソグラフィ
ーを用いて孔を形成する場合、孔の形状に感光性樹脂を
パターン化する必要がある。例えば孔の形状が円形であ
るとき、孔の直径は1μmから10μmと極めて小さ
く、更に孔のアスペクト比が1.5以上、好ましくは2
以上、更に好ましくは3以上であるので、微細かつ高い
感光性樹脂のパターンを形成する必要がある。そのた
め、用いる感光性樹脂は、解像度の極めて高いものを用
いる必要がある。本発明で用いる感光性樹脂としては、
通常の高解像度感光性樹脂を使用することができるが、
特に好ましい組成として、ジカルボン酸成分とジオール
成分との縮合によって得られる数平均分子量が500以
上5000以下の不飽和ポリエステルからなり、ジカル
ボン酸成分が下記の(1)式で示される第1化合物と
(2)式で示される第2化合物とを有し、全ジカルボン
酸成分を1とした時に、第1化合物の含有率がモル比で
0.1以上0.4以下であり、第2化合物の含有率がモ
ル比で0.1以上0.75以下であるプレポリマーと、
In the present invention, when the holes are formed by photolithography, it is necessary to pattern the photosensitive resin in the shape of the holes. For example, when the shape of the hole is circular, the diameter of the hole is extremely small, from 1 μm to 10 μm, and the aspect ratio of the hole is 1.5 or more, preferably 2 or more.
As described above, more preferably 3 or more, it is necessary to form a fine and highly photosensitive resin pattern. Therefore, it is necessary to use a photosensitive resin having extremely high resolution. As the photosensitive resin used in the present invention,
Normal high resolution photosensitive resin can be used,
A particularly preferred composition is an unsaturated polyester having a number average molecular weight of 500 or more and 5000 or less obtained by condensation of a dicarboxylic acid component and a diol component, and the dicarboxylic acid component is a first compound represented by the following formula (1): 2) a second compound represented by the formula, and when the total dicarboxylic acid component is 1, the content ratio of the first compound is 0.1 or more and 0.4 or less in molar ratio, and the content of the second compound is A prepolymer having a molar ratio of 0.1 or more and 0.75 or less,

【0023】[0023]

【化1】 (式中、R1,R2は、COOHまたはCH2COOH
を表す。)
[Chemical 1] (In the formula, R1 and R2 are COOH or CH 2 COOH
Represents )

【0024】[0024]

【化2】 (式中、R1、R2は、COOHまたはCH2COOH
を、R3、R4は、HまたはCH3を表す。) 反応性モノマーと、光重合開始剤とを含有する感光性樹
脂を挙げることができる。
[Chemical 2] (In the formula, R1 and R2 are COOH or CH 2 COOH.
And R3 and R4 represent H or CH 3 . ) A photosensitive resin containing a reactive monomer and a photopolymerization initiator can be mentioned.

【0025】本発明においてフォトリソグラフィーを用
いて精密ふるいを作製する方法を図1を用いて説明す
る。先ず、アルミニウム板やステンレス板等の導電性基
板7を用意し、その表面に亜鉛置換めっき処理を施す。
その上に厚さ10〜500μmのネガ型の感光性樹脂層
11を、前述の特殊な感光性樹脂を塗布することによっ
て形成する。次に、フォトリソグラフィーでこの感光性
樹脂層11をパターニングする。すなわち、先ず、ふる
い孔の形状とふるい板面内での配置に対応させた光透過
部を有するフォトマスクMを用意する。このフォトマス
クMをネガ型の感光性樹脂層11の上方に配置し、この
フォトマスクMの上から高エネルギー光を照射する。こ
の状態を図1(a)に示す。次に、所定の現像処理を行
うことによって、感光性樹脂層11の光が当たらなかっ
た部分を除去する。
A method of producing a precision sieve using photolithography in the present invention will be described with reference to FIG. First, a conductive substrate 7 such as an aluminum plate or a stainless plate is prepared, and its surface is subjected to zinc displacement plating.
A negative photosensitive resin layer 11 having a thickness of 10 to 500 μm is formed thereon by applying the above-mentioned special photosensitive resin. Next, the photosensitive resin layer 11 is patterned by photolithography. That is, first, a photomask M having a light transmitting portion corresponding to the shape of the sieving holes and the arrangement in the surface of the sieving plate is prepared. The photomask M is arranged above the negative photosensitive resin layer 11, and high energy light is irradiated from above the photomask M. This state is shown in FIG. Next, a predetermined development process is performed to remove a portion of the photosensitive resin layer 11 which is not exposed to light.

【0026】高エネルギー光の光源としては、超高圧水
銀ランプ、低圧水銀ランプ、ハロゲンランプ、キセノン
ランプなどが挙げられる。孔径が20μm以下の微細な
パターンを形成するためには、平行光線を照射すること
が好ましい。これにより、導電性基板7上に、感光性樹
脂の硬化物からなる柱状体12が、ふるい孔に対応させ
た形状と配置で形成される。図1(b)はこの状態を示
す。次に、この導電性基板7上に、電解めっき法により
金属層13を成長させる。図1(c)はこの状態を示
す。この金属層13が精密ふるい板となる。ここで、金
属層13の厚さが柱状体12の高さ以下となるようにす
る。柱状体12の高さよりも高い位置まで金属層13が
形成されて、隣り合う柱状体12の上面が金属層13で
接続された場合には、柱状体12の上面の金属層を除去
する。
Examples of the light source of high energy light include an ultra-high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a halogen lamp and a xenon lamp. In order to form a fine pattern having a pore size of 20 μm or less, it is preferable to irradiate parallel rays. As a result, the columnar body 12 made of a cured product of the photosensitive resin is formed on the conductive substrate 7 in a shape and arrangement corresponding to the sieve holes. FIG. 1B shows this state. Next, the metal layer 13 is grown on the conductive substrate 7 by electrolytic plating. FIG. 1C shows this state. This metal layer 13 becomes a precision sieving plate. Here, the thickness of the metal layer 13 is set to be equal to or less than the height of the columnar body 12. When the metal layer 13 is formed to a position higher than the height of the columnar body 12 and the upper surfaces of the adjacent columnar bodies 12 are connected by the metal layer 13, the metal layer on the upper surface of the columnar body 12 is removed.

【0027】電解メッキは、硫酸銅めっき、ピロ燐酸銅
めっき、ニッケルめっき、クロムめっき、パラジウム、
金等の貴金属めっき等のいずれでもよい。精密ふるい板
として必要な機械的強度を得るためには、ニッケルめっ
き、クロムめっき、銅めっきを行うことが好ましい。ま
た、金属中にテフロン(登録商標)、シリカ、アルミナ
等の絶縁性微粒子を取り込んで電解めっきを行うことに
よって、導電性基板上に複合材料からなる膜を形成して
もよい。この場合には、複合材料からなる精密ふるい板
が得られる。
Electrolytic plating includes copper sulfate plating, copper pyrophosphate plating, nickel plating, chrome plating, palladium,
Any plating such as precious metal plating such as gold may be used. In order to obtain the mechanical strength required for the precision sieving plate, it is preferable to perform nickel plating, chrome plating, and copper plating. Alternatively, a film made of a composite material may be formed on the conductive substrate by incorporating insulating fine particles such as Teflon (registered trademark), silica, or alumina into a metal and performing electroplating. In this case, a precision sieving plate made of a composite material is obtained.

【0028】次に、柱状体12を、ウエットエッチング
法であるいは物理的に剥離することによって除去する。
図1(d)はこの状態を示す。次に、導電性基板7を、
ウエットエッチング法あるいは物理的に剥離することに
よって除去する。これにより、ふるい孔10が所定の配
置で形成されている金属製の精密ふるい板1が得られ
る。図1(e)はこの状態を示す。更に、微細な孔を形
成する場合、上記のように形成された孔の内部を含め
て、ふるい板全面に金属あるいはセラミックスを析出さ
せ、更に孔径の小さな孔を形成することができる。図1
(f)はこの状態を示す。このとき用いる方法として
は、無電解めっき法、電解めっき法、スパッタ蒸着法、
真空蒸着法、プラズマCVD法、レーザアブレーション
法、イオンプレーティング法、プラズマ酸化・窒化法、
MOCVD法を挙げることができる。また、セラミック
スを析出させた場合、ふるい板の表面が絶縁体となり、
微粒子を入れて分級操作を実施した時に静電気の影響に
より分級効率が低下することがあるため、金属をセラミ
ックスの表面に被覆しても構わない。
Next, the columnar body 12 is removed by a wet etching method or by physically peeling.
FIG. 1D shows this state. Next, the conductive substrate 7 is
It is removed by a wet etching method or by physically peeling. Thereby, the metal precision sieving plate 1 in which the sieving holes 10 are formed in a predetermined arrangement is obtained. FIG. 1 (e) shows this state. Further, in the case of forming fine holes, metal or ceramics can be deposited on the entire surface of the sieving plate including the inside of the holes formed as described above to form holes having a smaller hole diameter. Figure 1
(F) shows this state. As the method used at this time, electroless plating method, electrolytic plating method, sputter deposition method,
Vacuum deposition method, plasma CVD method, laser ablation method, ion plating method, plasma oxidation / nitridation method,
MOCVD method can be mentioned. Also, when ceramics are deposited, the surface of the sieve plate becomes an insulator,
Since the classification efficiency may decrease due to the influence of static electricity when the particles are put into a classification operation, the surface of the ceramic may be coated with a metal.

【0029】[精密ふるい板ユニットについて]本発明
では、球状の粒子の中に棒状の粒子が混入したものであ
っても、球状粒子のみをふるい孔を通過させ分離するこ
とができる。通常、1枚のふるい板では、棒状の粒子を
分離することが困難である。そこで本発明者は鋭意検討
した結果、微細加工技術を駆使することにより、同じ孔
径、配列ピッチの孔を有する2枚のふるいを正確に位置
合わせして平行に配置した精密ふるい板ユニットを用い
る事により、棒状の粒子を通過させないふるいを作製す
ることが可能であるとの発想に基づき、本発明を完成す
るに至った。
[Precision Sieve Plate Unit] In the present invention, even if spherical particles are mixed with rod-shaped particles, only spherical particles can be separated by passing them through a sieving hole. Usually, it is difficult to separate rod-shaped particles with one sieving plate. Therefore, as a result of intensive studies, the inventor of the present invention uses a fine sieving plate unit in which two sieves having holes having the same hole diameter and arrangement pitch are accurately aligned and arranged in parallel by making full use of a fine processing technique. Thus, the present invention has been completed based on the idea that it is possible to produce a sieve that does not allow rod-shaped particles to pass through.

【0030】図2は、孔の形状が円形である精密ふるい
板の概念図を示したものである。本発明の精密ふるい板
ユニットにおいて、2枚のふるい板の孔を同一平面に投
影した時の孔の重なり面積は、孔の面積の90%以下と
なるように配置する必要がある。90%を越えて重なっ
た場合、棒状の粒子が通過する可能性があるため好まし
くない。更に2枚のふるい板の間隔は、孔の最短長の
1.1倍から2.5倍である。1.1倍未満では、第一
のふるい板と第二のふるい板がずれた位置に配置されて
いるため、第一のふるいを通過した球状の粒子が、2枚
のふるい板の間の空間で動けず、第二のふるいを通過す
ることができない。また、2.5倍を越えて大きな場
合、棒状の粒子が通過する可能性が増える。
FIG. 2 is a conceptual view of a precision sieving plate having a circular hole shape. In the precision sieving plate unit of the present invention, when the holes of two sieving plates are projected on the same plane, the overlapping area of the holes needs to be 90% or less of the area of the holes. If they are overlapped with each other by more than 90%, rod-shaped particles may pass therethrough, which is not preferable. Further, the distance between the two sieving plates is 1.1 to 2.5 times the shortest hole length. When the ratio is less than 1.1 times, the first sieve plate and the second sieve plate are arranged at positions displaced from each other, so that the spherical particles passing through the first sieve move in the space between the two sieve plates. No, it cannot pass through the second sieve. If the size is larger than 2.5 times, the possibility that rod-shaped particles will pass through increases.

【0031】2枚の精密ふるい板の間には、所定の間隔
のスペーサーを所定の位置に挿入する必要がある。スペ
ーサーが精密ふるい板の孔を塞いではならない。スペー
サーを挿入する方法としては、フォトリソグラフィーと
めっき法を用いる方法が好ましい。すなわち、第1の方
法は、第二の精密ふるい板の孔以外の場所に感光性樹脂
の孔を形成し、その孔に金属製スペーサーをめっき法を
用いて形成し、その後、第一の精密ふるい板とを位置あ
わせして接合する方法である。この方法では、正確に位
置合わせを行う必要があるため、それぞれの精密ふるい
板を基材の上に貼り付け、図3に示すようにCCDカメ
ラを用いて双方のパターンを確認しながら接近させる。
スペーサーの表面には接着剤あるいは半田めっきが載せ
られており、加熱することにより、もう一方の精密ふる
い板に接合させることができる。第2の方法は、第二の
精密ふるい板の上に金属製スペーサーを形成し、更にそ
の上に第一の精密ふるい板を逐次形成してゆくものであ
る。このとき、パターンを位置合わせしながらフォトリ
ソグラフィーを実施する必要があるため、基材と露光マ
スクとを正確に位置合わせできる露光機が必要となる。
また、第2の方法では、2枚の精密ふるい板の間の光硬
化した感光性樹脂を除去する必要があるため、ふるいを
形成している材料が変質しない温度(ニッケルの場合、
加熱により硬度が著しく低下することがあるので、40
0℃を越えない温度)で加熱処理する必要がある。ある
いは、フォトリソグラフィーでポジ型の感光性樹脂を用
いた場合には、溶剤に溶解するため、加熱処理は特に必
要なく感光性樹脂を溶媒に溶解させることにより除去可
能である。
Between the two precision sieving plates, it is necessary to insert spacers with a predetermined spacing at predetermined positions. The spacer must not block the holes in the precision sieve plate. As a method for inserting the spacer, a method using photolithography and a plating method is preferable. That is, the first method is to form a hole of a photosensitive resin in a place other than the hole of the second precision sieving plate, form a metal spacer in the hole using a plating method, and then form the first precision sieve. This is a method of aligning and joining the sieve plate. In this method, since it is necessary to perform accurate alignment, the respective precision sieving plates are attached onto the base material and, as shown in FIG. 3, they are brought close to each other while confirming both patterns using a CCD camera.
An adhesive or solder plating is placed on the surface of the spacer, and it can be bonded to the other precision sieving plate by heating. The second method is to form a metal spacer on the second precision sieving plate and then successively form the first precision sieving plate on it. At this time, since it is necessary to perform photolithography while aligning the patterns, an exposure device that can accurately align the substrate and the exposure mask is required.
Further, in the second method, since it is necessary to remove the photo-cured photosensitive resin between the two precision sieving plates, the temperature at which the material forming the sieve does not deteriorate (in the case of nickel,
The hardness may be significantly reduced by heating.
It is necessary to perform heat treatment at a temperature not exceeding 0 ° C. Alternatively, when a positive-type photosensitive resin is used in photolithography, it dissolves in a solvent, and therefore heat treatment is not particularly necessary and can be removed by dissolving the photosensitive resin in the solvent.

【0032】[分級装置について]粒子径が10μm以
下の微粒子をふるいにより分級する場合、単純にふるい
を動かすのみでは分級することが困難である。また、通
常粒子径が10μmを越える大きな粒子を分級する方法
として、超音波振動子をふるいに取り付け超音波をふる
い板に直接伝えることが行われているが、ふるい板の厚
さが50μm以下の薄い材料で作製されている場合、超
音波振動でふるい板が損傷することがある。また、特許
公開公報2001−252588号にふるいの一方の空
間に分級する粒子を分散させた液体を入れ、更に超音波
振動を伝える棒状チップを液中に挿入する方法の記述が
あるが、この方法においても、ふるい板が液体の重量を
支える必要があるため、ふるい板を支えるための治具を
ふるい板の下に設置する必要があり、開口面積を減少さ
せてしまうなどの問題点があった。
[Regarding Classifier] When fine particles having a particle diameter of 10 μm or less are classified by a sieve, it is difficult to perform the classification simply by moving the sieve. Also, as a method for classifying large particles having a particle diameter of generally more than 10 μm, an ultrasonic vibrator is attached to a sieve to directly transmit ultrasonic waves to a sieving plate, but the sieving plate has a thickness of 50 μm or less. When made of thin material, ultrasonic vibrations can damage the sieve plate. Further, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2001-252588 describes a method of inserting a liquid in which particles to be classified are dispersed into one space of a sieve, and further inserting a rod-shaped tip for transmitting ultrasonic vibration into the liquid. Also, since the sieve plate needs to support the weight of the liquid, it is necessary to install a jig for supporting the sieve plate under the sieve plate, which causes a problem that the opening area is reduced. .

【0033】本発明の金属微粒子の製造方法は、ふるい
分けを行う紛体を投入する筒状の投入部の底部に請求項
4記載の精密ふるい板または請求項5記載の精密ふるい
ユニットを装着した精密ふるいを組み立て(図4)、こ
の精密ふるいを精密ふるい板または精密ふるいユニット
が下面になるように精密ふるいを通過した紛体を受ける
ための容器に入れ(図5)、さらにこの容器内に液状物
質を入れた状態(図5)で容器に超音波振動を加えるこ
とを特徴とするものである。この方法により精密ふるい
板にかかる負担を大幅に低減でき、精密ふるい板の寿命
を大幅に伸ばすことが可能である。ここで用いる液状物
質は、分級する粒子が変質あるいは溶解しない液体を選
択する必要がある。例えば、アルコール類、水、ケトン
類、エーテル類、エステル類など挙げることができる。
According to the method for producing metal fine particles of the present invention, the precision sieving plate according to claim 4 or the precision sieving unit according to claim 5 is attached to the bottom of the cylindrical charging part for charging the powder for sieving. (Fig. 4), place the precision sieve in a container for receiving powder that has passed through the precision sieve so that the precision sieve plate or the precision sieve unit is on the bottom (Fig. 5), and then put the liquid substance in the container. The container is characterized in that ultrasonic vibration is applied to the container in the inserted state (FIG. 5). By this method, the load on the precision sieving plate can be greatly reduced, and the life of the precision sieving plate can be greatly extended. As the liquid substance used here, it is necessary to select a liquid in which the particles to be classified do not deteriorate or dissolve. For example, alcohols, water, ketones, ethers, esters, etc. can be mentioned.

【0034】精密ふるいを通過した粒子を受ける容器に
入れ、ふるい板が液体中に存在するので、精密ふるい板
にかかる負担を軽減でき、通過した粒子を受ける容器ご
と超音波振動を加えることのできる装置、例えば超音波
洗浄機に入れる(図5)ことができるので、装置の構成
が極めて簡単である。
Since the sieve plate is put in a container for receiving particles that have passed through the precision sieve and the sieve plate is present in the liquid, the load on the precision sieve plate can be reduced, and ultrasonic vibration can be applied to each container for receiving the passed particles. Since it can be placed in an apparatus, for example, an ultrasonic cleaner (FIG. 5), the apparatus configuration is extremely simple.

【0035】[多孔質金属成型体について]本発明の金
属微粒子を用いて形成される多孔質金属成型体は、前記
金属微粒子を型に充填し、加熱圧縮する工程、あるいは
加熱する工程を経て形成される。特に粒子間に空隙を多
く含み、用いる金属微粒子を構成する金属の密度よりも
大幅に密度が小さな多孔質金属成型体を製造する場合、
加熱圧縮する工程を経ずに加熱する工程のみで粒子間を
接合できることが好ましい。
[About Porous Metal Molded Article] The porous metal molded article formed by using the metal fine particles of the present invention is formed through a step of filling the metal fine particles in a mold and heating and compression, or a step of heating. To be done. In particular, when producing a porous metal molded body containing a large number of voids between particles and having a density significantly smaller than the density of the metal constituting the metal fine particles used,
It is preferable that the particles can be bonded only by the heating step without the heating and compression step.

【0036】そのため、銅、金、銀、白金、ニッケル、
パラジウム、インジウム、鉄、クロム、タンタル、錫、
鉛、亜鉛、コバルト、チタン、タングステン、ビスマ
ス、シリコン、アンチモン、アルミニウム、マグネシウ
ム、希土類元素から選ばれる元素単独かあるいは合金微
粒子の表面を金属で薄く被覆した金属微粒子であり、加
熱工程において金属微粒子の表面近傍が溶融し粒子同士
が接合することが好ましい。このとき、加熱により個々
の粒子が溶融することなしに微粒子形状を保持すること
が必要である。
Therefore, copper, gold, silver, platinum, nickel,
Palladium, indium, iron, chromium, tantalum, tin,
An element selected from lead, zinc, cobalt, titanium, tungsten, bismuth, silicon, antimony, aluminum, magnesium, and rare earth elements, or a metal particle in which the surface of an alloy particle is thinly coated with a metal. It is preferable that the vicinity of the surface is melted and the particles are joined together. At this time, it is necessary to maintain the fine particle shape without melting the individual particles by heating.

【0037】以下に本発明を実施例により詳細に説明す
る。なお、本発明は実施例に限定されるものではない。
The present invention will be described in detail below with reference to examples. The present invention is not limited to the examples.

【実施例1】[精密ふるい板の作製]第1実施形態の方
法で精密ふるい板を作製した。導電性基板7としては厚
さ100μmのアルミニウム板を用意し、その表面を亜
鉛置換めっきで処理し、更にピロリン酸銅めっき浴で銅
を5μm析出させ、その後、析出させた銅の表面を荏原
電産社製エレクトロブライト液で酸化処理することによ
り、拡散反射率が1%未満の基板を得た。感光性樹脂層
11は、以下の液状の感光性樹脂を塗布することによっ
て形成した。
[Example 1] [Production of precision sieving plate] A precision sieving plate was produced by the method of the first embodiment. An aluminum plate having a thickness of 100 μm is prepared as the conductive substrate 7, the surface thereof is treated by zinc displacement plating, copper is further deposited to 5 μm in a copper pyrophosphate plating bath, and then the deposited copper surface is subjected to EBARADEN. A substrate having a diffuse reflectance of less than 1% was obtained by performing an oxidation treatment with an electrobright solution manufactured by Sangyo Co., Ltd. The photosensitive resin layer 11 was formed by applying the following liquid photosensitive resin.

【0038】使用した感光性樹脂は、数平均分子量が2
000である不飽和ポリエステルプレポリマー:100
重量部に、テトラエチレングリコールジメタクリレー
ト:10.7重量部、ジエチレングリコールジメタクリ
レート:4.3重量部、ペンタエリスリトールトリメタ
クリレート:15重量部、リン酸(モノメタクリロイル
オキシエチル):3.6重量部、2,2−ジメトキシ−
2−フェニルアセトフェノン:2重量部、2,6−ジ−
tert−ブチル−4−メチルフェノール:0.04重
量部、およびオリヱント化学製「OPLASイエロー1
40」:0.11重量部を加えて、攪拌混合することに
より得られたものである。
The photosensitive resin used had a number average molecular weight of 2
Unsaturated polyester prepolymer which is 000: 100
In parts by weight, tetraethylene glycol dimethacrylate: 10.7 parts by weight, diethylene glycol dimethacrylate: 4.3 parts by weight, pentaerythritol trimethacrylate: 15 parts by weight, phosphoric acid (monomethacryloyloxyethyl): 3.6 parts by weight, 2,2-dimethoxy-
2-phenylacetophenone: 2 parts by weight, 2,6-di-
tert-Butyl-4-methylphenol: 0.04 parts by weight, and "OPLAS Yellow 1" manufactured by Orient Chemical Co., Ltd.
40 ": 0.11 parts by weight was added, and the mixture was obtained by stirring and mixing.

【0039】数平均分子量が2000である不飽和ポリ
エステルプレポリマーは、アジピン酸:0.15、イタ
コン酸:0.25、フマル酸:0.6と、ジエチレング
リコール:1.0の仕込みモル比で、脱水重縮合反応に
より得た。ここで、イタコン酸は、(1)式でR1 お
よびR2 の一方が「COOH」で、他方が「CH
OOH」である第1化合物に相当する。また、フマル酸
は、(2)式でR1およびR2 が「COOH」で、R
3 およびR4 が「H」である第2化合物に相当する。
また、数平均分子量は、島津製作所社製のゲルパーミエ
ーションクロマトグラフィー装置を用いて測定し、ポリ
スチレン標準品で検量化した。
The unsaturated polyester prepolymer having a number average molecular weight of 2000 is adipic acid: 0.15, itaconic acid: 0.25, fumaric acid: 0.6, and a molar ratio of diethylene glycol: 1.0. Obtained by dehydration polycondensation reaction. Here, itaconic acid has one of R1 and R2 in the formula (1) is “COOH” and the other is “CH 2 C”.
OOH "corresponding to the first compound. Further, fumaric acid has the formula (2) in which R1 and R2 are "COOH" and R is
Corresponds to the second compound in which 3 and R4 are "H".
The number average molecular weight was measured using a gel permeation chromatography device manufactured by Shimadzu Corporation and calibrated with a polystyrene standard product.

【0040】この実施例で作製する精密ふるい板の、ふ
るい孔の形状および配置を図6に示す。図6(a)は、
この精密ふるい板の一つのふるい孔とその周囲を示す斜
視図であり、図6(b)はこの精密ふるい板を示す部分
平面図である。この実施形態では、図6(b)に示すよ
うに、直径Xμmの円形のふるい孔10が孔径の倍のピ
ッチ(2Xμm)で格子上に配置し、かつ格子の中心に
も直径Xμmの円形の孔が配置された精密ふるい板1で
あって、板厚D:18μm、ふるい孔10をなす円形の
直径Xが5μmのふるいAと7μmのふるいBを作製し
た。ふるいAでは、直径が5μm以下の粒子はふるい孔
10を通過し、直径が5μmより大きな粒子はふるい孔
10を通過せずに、ふるい板1の上に残る。
The shape and arrangement of the sieving holes of the precision sieving plate produced in this example are shown in FIG. FIG. 6A shows
It is a perspective view which shows one sieving hole of this precision sieving board, and its circumference, and Drawing 6 (b) is a partial top view showing this precision sieving board. In this embodiment, as shown in FIG. 6B, circular sieving holes 10 having a diameter of X μm are arranged on the lattice at a pitch (2 × μm) that is twice the diameter of the holes, and the center of the lattice also has a circular shape having a diameter of X μm. As the precision sieving plate 1 in which holes were arranged, a plate A having a plate thickness D of 18 μm, a sieve A having a circular diameter X of 5 μm and a sieve B having a diameter of 7 μm were prepared. In the sieve A, particles having a diameter of 5 μm or less pass through the sieving holes 10, and particles having a diameter of more than 5 μm remain on the sieving plate 1 without passing through the sieving holes 10.

【0041】感光性樹脂層11の厚さは20μmとし
た。また、図1(a)のフォトマスクMとして、図6
(b)に示す配置の円形が光透過部となっているものを
用意した。このフォトマスクMの上から照射する高エネ
ルギー光としては、超高圧水銀ランプからの光を、フラ
イアイレンズと数枚の反射鏡で加工して平行光としたも
のを使用した。また、電解ニッケルめっき法で金属層1
3を形成する前に、めっき前処理として酸素プラズマに
よる反応性イオンエッチングを行った。また、アルミニ
ウム基板7の裏面を粘着フィルムで覆った。若干ホウ素
を含有するニッケルめっき浴を用い、ニッケルめっき被
膜からなる金属層13を、厚さが18μmとなるまで成
長させた。
The thickness of the photosensitive resin layer 11 was 20 μm. In addition, as the photomask M of FIG.
A circle having the arrangement shown in (b) was used as a light transmitting portion. As the high-energy light emitted from above the photomask M, light from an ultra-high pressure mercury lamp was processed by a fly-eye lens and several reflecting mirrors into parallel light. In addition, the metal layer 1 is formed by electrolytic nickel plating.
Before forming No. 3, reactive ion etching using oxygen plasma was performed as a pretreatment for plating. The back surface of the aluminum substrate 7 was covered with an adhesive film. Using a nickel plating bath containing a slight amount of boron, the metal layer 13 made of a nickel plating film was grown to a thickness of 18 μm.

【0042】析出させたニッケル表面を粘着フィルムを
被覆することにより保護し、10体積%の塩酸を用いた
ウエットエッチングによりアルミニウム板を除去し、更
に濃硝酸を用いて銅の除去を行った。更に、ニッケルの
表面を保護していたフィルムを剥離し、孔に残存する感
光性樹脂の硬化物からなる柱状体12の除去は、酸素雰
囲気での反応性イオンエッチング法を用いて行った。次
に、同じ方法で作製した直径5μmの精密ふるい板をも
う1枚用意し、この精密ふるい板を無電解ニッケルめっ
き浴に浸漬し、厚さ0.5μmニッケル層を形成するこ
とにより、直径4μmの円形のふるい孔を精密ふるい板
Aと同じ配置で有する精密ふるい板Cを得た。無電解ニ
ッケルめっき浴は、荏原ユージライト社製エニパックL
Vプロセスを用いて建浴した。
The deposited nickel surface was protected by coating an adhesive film, the aluminum plate was removed by wet etching with 10% by volume of hydrochloric acid, and further copper was removed using concentrated nitric acid. Further, the film protecting the surface of nickel was peeled off, and the columnar body 12 made of a cured product of the photosensitive resin remaining in the holes was removed by a reactive ion etching method in an oxygen atmosphere. Next, another precision sieving plate having a diameter of 5 μm prepared by the same method is prepared, and the precision sieving plate is immersed in an electroless nickel plating bath to form a nickel layer having a thickness of 0.5 μm. A precision sieving plate C having the same round sieving holes as that of the precision sieving plate A was obtained. The electroless nickel plating bath is Enipack L manufactured by EBARA Eugelite
The bath was built using the V process.

【0043】以上のようにして、ニッケル製の精密ふる
い板1であって、厚さ20μm、直径4μmの円形のふ
るい孔をふるいAと同じ配置で有する精密ふるい板C
と、厚さ18μm、直径5μmの円形のふるい孔10を
図6(b)の配置で有する精密ふるい板Aと、厚さ18
μm、直径7μmの円形のふるい孔10を図6(b)の
配置で有する精密ふるい板Bを作製した。これらの精密
ふるい板1は、ふるい板として使用するのに十分な機械
的強度を有していた。精密ふるい板A、BおよびCの開
口率は、それぞれ39%、39%、25%であった。ま
た、ふるい孔のアスペクト比は、それぞれ3.6、2.
6、4.8であった。
As described above, the precision sieving plate 1 made of nickel, which has a circular sieving hole having a thickness of 20 μm and a diameter of 4 μm in the same arrangement as that of the sieve A, is used.
A precision sieving plate A having a circular sieving hole 10 having a thickness of 18 μm and a diameter of 5 μm in the arrangement shown in FIG.
A precision sieving plate B having a circular sieving hole 10 having a diameter of 7 μm and a diameter of 7 μm in the arrangement shown in FIG. 6B was produced. These precision sieving plates 1 had sufficient mechanical strength to be used as sieving plates. The aperture ratios of the precision sieving plates A, B and C were 39%, 39% and 25%, respectively. The aspect ratios of the sieve holes are 3.6 and 2.
It was 6 and 4.8.

【0044】[金属微粒子の作製]分級に用いた合金微
粒子は、アトマイズ法を用いて作製した。銅70重量
部、銀30重量部を、黒鉛るつぼに入れ、高周波誘導加
熱装置により1700℃に加熱し、99体積%以上のヘ
リウムガス雰囲気で融解した。次に融解した金属をるつ
ぼの先端よりヘリウムガス雰囲気の噴霧槽内に導入した
後、るつぼ先端付近に設けられたガスノズルからヘリウ
ムガス(純度99体積%以上、酸素濃度0.1体積%、
圧力2.5MPa)を噴射してアトマイズを行い、合金
微粒子を得た。用いた金属原料の純度は、いずれの金属
も99重量%以上であった。アトマイズ法で得られた合
金微粒子を気流式分級装置(日清エンジニアリング社
製、ターボクラッシファイアーTC15)を用いて3回
に渡り分級し、粒子径分布を徐々に狭めていった。粒子
径は0.1μmから15μmまで幅広く分布していた。
得られた合金微粒子を走査型電子顕微鏡(日立製作所社
製、S−2700)で観察したところ約98%の粒子は
球状であった。約2%の粒子は棒状の粒子であった。
[Preparation of metal fine particles] The alloy fine particles used for classification were prepared by the atomization method. 70 parts by weight of copper and 30 parts by weight of silver were put into a graphite crucible, heated to 1700 ° C. by a high frequency induction heating device, and melted in a helium gas atmosphere of 99% by volume or more. Next, after introducing the molten metal into the spray tank of the helium gas atmosphere from the tip of the crucible, the helium gas (purity 99 volume% or more, oxygen concentration 0.1 volume%,
Atomization was performed by injecting a pressure of 2.5 MPa) to obtain alloy fine particles. The purity of the metal raw materials used was 99% by weight or more for all the metals. The alloy fine particles obtained by the atomization method were classified three times using an airflow classifier (manufactured by Nisshin Engineering Co., Ltd., Turbo Classifier TC15) to gradually narrow the particle size distribution. The particle size was widely distributed from 0.1 μm to 15 μm.
When the obtained alloy fine particles were observed with a scanning electron microscope (S-2700, manufactured by Hitachi, Ltd.), about 98% of the particles were spherical. About 2% of the particles were rod-shaped particles.

【0045】[分級性能の評価]この実施例1で作製さ
れた精密ふるい板1を用いて、図4に示す精密ふるいを
作製した。このふるいは、ふるい分けを行う粉体を入れ
る投入部61と、精密ふるい板1を備えたふるい部62
と、ふるいを通過した粉末を受ける受け部63とで構成
されており、この精密ふるいにエタノールを精密ふるい
板がつかる位置まで入れ、さらに超音波洗浄機に入れ
た。エタノール中に粉末を分散させたものを投入部61
から入れ、超音波洗浄機で周波数42kHzの振動を与
えた。超音波洗浄機の出力は120Wであった。
[Evaluation of Classification Performance] Using the precision sieving plate 1 produced in this Example 1, a precision sieve shown in FIG. 4 was produced. This sieving comprises a feeding part 61 for putting powder for sieving and a sieving part 62 equipped with the precision sieving plate 1.
And a receiving portion 63 for receiving the powder that has passed through the sieve. Ethanol was put into this precision sieve up to the position where the precision sieve plate was attached, and further put in an ultrasonic cleaner. A portion in which the powder is dispersed in ethanol is put into the charging section 61.
Then, vibration was applied at a frequency of 42 kHz with an ultrasonic cleaner. The output of the ultrasonic cleaner was 120W.

【0046】先ず、精密ふるい板1として前記精密ふる
い板B(孔径7μm)を備えた精密ふるいを用い、上記
アトマイズ法により作製した銀銅合金微粒子である。次
に、この分級で容器部63a内に入った粉体が分散した
エタノールを、精密ふるい板1として前記精密ふるい板
A(孔径5μm)を備えた精密ふるいで分級した。この
分級で精密ふるい板1の上に残った粉体の粒度を測定し
たところ、平均粒子径は5.3μmであり、粒子径分布
の標準偏差は0.5μmであった。
First, the silver-copper alloy fine particles produced by the atomizing method using a precision sieve having the precision sieve plate B (hole diameter 7 μm) as the precision sieve plate 1. Next, the ethanol in which the powder contained in the container 63a was dispersed by this classification was classified as a precision sieving plate 1 using a precision sieving plate having the above-mentioned precision sieving plate A (pore diameter 5 μm). When the particle size of the powder remaining on the precision sieving plate 1 was measured by this classification, the average particle size was 5.3 μm and the standard deviation of the particle size distribution was 0.5 μm.

【0047】更に、この分級で容器部63内に入った粉
体が分散したエタノールを、精密ふるい板1として前記
精密ふるい板C(孔径4μm)を備えた精密ふるいで分
級した。この分級で精密ふるい板1の上に残った紛体の
粒度を測定したところ、平均粒子径は4.3μmであ
り、粒子径分布の標準偏差は0.4μmであった。極め
て興味深いことに、直径5μmの精密ふるい上に残った
金属微粒子を走査型電子顕微鏡で観察した結果、複数の
粒子が凝集した状態は全く見られなかった。
Further, the ethanol in which the powder contained in the container portion 63 was dispersed by this classification was classified as a precision sieving plate 1 using a precision sieving plate having the above-mentioned precision sieving plate C (pore diameter 4 μm). When the particle size of the powder remaining on the precision sieving plate 1 in this classification was measured, the average particle size was 4.3 μm and the standard deviation of the particle size distribution was 0.4 μm. Very interestingly, as a result of observing the metal fine particles remaining on the precision sieve having a diameter of 5 μm with a scanning electron microscope, no state in which a plurality of particles were aggregated was observed at all.

【0048】[0048]

【実施例2】[精密ふるい板の作製]先ず、実施例1と
同様の方法を用いて、円形の孔径が7μmの精密ふるい
板1Aを作製した。ただし、図7(a)に示したよう
に、孔は格子点の位置に配置され、隣り合う格子点の配
列ピッチは12μmである。次に精密ふるい板1Aと同
じ孔径、同じ孔配置の精密ふるい板1Bの作製を、実施
例1と途中工程まで同じ方法、すなわち導電性基板上に
感光性樹脂のパターン化、続く電解ニッケルめっき工程
まで同じ方法で実施した。
[Example 2] [Production of precision sieving plate] First, a precision sieving plate 1A having a circular hole diameter of 7 µm was produced in the same manner as in Example 1. However, as shown in FIG. 7A, the holes are arranged at the positions of the lattice points, and the arrangement pitch of the adjacent lattice points is 12 μm. Next, the precision sieving plate 1B having the same hole diameter and the same hole arrangement as the precision sieving plate 1A is manufactured by the same method as in Example 1 up to the intermediate step, that is, the patterning of the photosensitive resin on the conductive substrate and the subsequent electrolytic nickel plating step. Up to the same method.

【0049】図7(b)に示したように、光硬化した樹
脂パターンを除去せずに、形成したニッケルパターン上
にもう一度同じ感光性樹脂を厚さ20μmに形成した。
更に、位置合わせできる露光装置を用いてニッケルパタ
ーンとマスクパターンとを合わせて露光し、現像工程を
経て、ニッケル層の上に感光性樹脂の円形の孔が明いた
パターンを得た(図7(c))。この工程において孔の
径は7μm、配列ピッチは12μmの格子状とした。形
成した感光性樹脂の円形の孔は、ニッケル層に明いた孔
の配置した格子の中心に位置するように、マスクを位置
合わせした。
As shown in FIG. 7B, the same photosensitive resin having a thickness of 20 μm was formed again on the formed nickel pattern without removing the photo-cured resin pattern.
Furthermore, the nickel pattern and the mask pattern were aligned and exposed by using an aligner capable of aligning, and a pattern in which circular holes of the photosensitive resin were formed on the nickel layer was obtained through the developing process (FIG. 7 ( c)). In this step, the diameter of the holes was 7 μm, and the array pitch was 12 μm. The mask was aligned so that the formed circular holes of the photosensitive resin were located at the center of the grid in which the holes formed in the nickel layer were arranged.

【0050】続いて電解ニッケルめっき法を用いて、高
さ10μmまでニッケルを析出させた。電解ニッケルめ
っきに続き、電解半田めっきを実施し、高さ5μmの半
田層を形成した(図7(d))。次に光硬化した感光性
樹脂を酸素雰囲気下での反応性イオンエッチングにより
除去した。更に、導電性基板として用いたアルミニウム
層を10体積%の塩酸水溶液を用いてエッチング除去
し、露出した銅基板を濃硝酸を用いてエッチング除去し
た。
Subsequently, nickel was deposited to a height of 10 μm by using the electrolytic nickel plating method. Following electrolytic nickel plating, electrolytic solder plating was performed to form a solder layer having a height of 5 μm (FIG. 7 (d)). Next, the photocured photosensitive resin was removed by reactive ion etching in an oxygen atmosphere. Further, the aluminum layer used as the conductive substrate was removed by etching using a 10% by volume hydrochloric acid aqueous solution, and the exposed copper substrate was removed by etching using concentrated nitric acid.

【0051】上記のようにして形成したニッケル製精密
ふるいの表面にニッケルと半田からなる積層凸状パター
ンを形成した精密ふるい板1Bと、既に作製済みのニッ
ケル製精密ふるい板1Aとを、図2(a)の断面図に示
したように両方のふるい板の孔が重ならないようにCC
Dカメラを用いて正確に位置合わせし、形成した半田め
っきよりも融点の高い半田ペーストを用いて部分的に仮
留めした。最後に温度を半田めっきが溶解する温度にし
て、両方の精密ふるいを接着させた。
The precision sieving plate 1B in which a laminated convex pattern made of nickel and solder is formed on the surface of the nickel precision sieving formed as described above, and the nickel precision sieving plate 1A already prepared are shown in FIG. As shown in the sectional view of (a), make sure that the holes in both sieve plates do not overlap CC
Accurate alignment was performed using a D camera, and partial temporary fixing was performed using a solder paste having a melting point higher than that of the formed solder plating. Finally, the temperature was brought to a temperature at which the solder plating melted, and both precision sieves were bonded.

【0052】精密ふるい板1Aと1Bの間隔は12μm
であった。また、2枚の精密ふるい板のふるい孔を同一
平面上に投影したときの孔の重なりは、面積で10%以
下であった。
The distance between the precision sieving plates 1A and 1B is 12 μm.
Met. Further, when the sieve holes of the two precision sieve plates were projected on the same plane, the overlap of the holes was 10% or less in area.

【0053】[分級性能の評価]図8に示したように半
田により接続されたそれぞれの精密ふるい板1A、1B
に径の異なる円筒体67を接着剤を用いて取り付け、精
密ふるいを形成した。次にこの精密ふるいを、ふるいを
通過した粉末を受ける容器に入れ、更にこの容器に精密
ふるい板が浸るまでエタノールを注いだ。その後、実施
例1と同様に、超音波洗浄機中にこの容器ごと挿入し、
超音波振動を与えることにより、粒子の分級を行った。
分級操作前の粒子は、平均粒子径が7.1μmで粒子径
分布の標準偏差が0.6μmである粒子であり、この中
には棒状の粒子が含まれていた。走査型電子顕微鏡(S
EM)で観察した結果、棒状粒子の存在確率は、約2%
であった。精密ふるいを通過してきた粒子をSEMを用
いて観察したところ、棒状の粒子は存在していなかっ
た。
[Evaluation of classification performance] As shown in FIG. 8, each precision sieving plate 1A, 1B connected by soldering.
A cylindrical body 67 having a different diameter was attached to the sheet using an adhesive to form a precision sieve. The precision sieve was then placed in a container that received the powder that passed through the sieve, and ethanol was poured into the container until the precision sieve plate was immersed. Then, as in Example 1, the container was inserted into an ultrasonic cleaner,
Particles were classified by applying ultrasonic vibration.
The particles before the classification operation were particles having an average particle size of 7.1 μm and a standard deviation of particle size distribution of 0.6 μm, and contained rod-shaped particles. Scanning electron microscope (S
As a result of observation with EM), the existence probability of rod-shaped particles is about 2%.
Met. When the particles that passed through the precision sieve were observed using SEM, no rod-shaped particles were present.

【0054】[0054]

【実施例3】2枚の精密ふるい板を重ねた構造の精密ふ
るい板において、ふるい孔を同一平面に投影したときの
孔の重なりが、面積で60%であること意外、実施例2
と同じ方法により精密ふるい板を作製した。更に、実施
例2と同じ金属微粒子を分級した結果、棒状の金属微粒
子は精密ふるい板のふるい孔を通過できずに、精密ふる
い板上に残ることが確認できた。
[Example 3] In a precision sieving plate having a structure in which two precision sieving plates are stacked, the overlapping of the holes when the sieving holes are projected on the same plane is 60% in area, which is surprising.
A precision sieving plate was produced by the same method. Furthermore, as a result of classifying the same metal fine particles as in Example 2, it was confirmed that the rod-shaped metal fine particles could not pass through the sieving holes of the precision sieving plate and remained on the precision sieving plate.

【0055】[0055]

【実施例4】[精密ふるい板の作製]精密ふるい板の孔
の配置が図9に示したように正六角形を単位格子とする
格子点およびその中心に位置し、ふるい孔の孔径Xが5
μmおよび7μm、正六角形の1辺の長さ(X+4μ
m)が9μmおよび11μmである2種類の精密ふるい
板であり、精密ふるい板の厚さが20μmであること以
外、実施例1と同様にして精密ふるい板AおよびBを作
製した。孔径Xが5μmが精密ふるい板Aに、Xが7μ
mが精密ふるい板Bに対応する。精密ふるい板Aの開口
率は25%、また精密ふるい板Bの開口率が40%であ
った。更にふるい孔のアスペクト比は、精密ふるい板A
が4、精密ふるい板Bが2.9であった。
[Fourth Embodiment] [Preparation of precision sieving plate] As shown in FIG. 9, the precision sieving plate has holes arranged at the lattice points having a regular hexagon as a unit cell and at the center thereof, and the hole diameter X of the sieving hole is 5.
μm and 7 μm, length of one side of regular hexagon (X + 4μ
Precision sieving plates A and B were produced in the same manner as in Example 1 except that m) was two types of precision sieving plates having a diameter of 9 μm and 11 μm, and the thickness of the precision sieving plate was 20 μm. Precision sieve plate A with hole diameter X of 5 μm and X of 7 μm
m corresponds to the precision sieve plate B. The opening ratio of the precision sieving plate A was 25%, and the opening ratio of the precision sieving plate B was 40%. In addition, the aspect ratio of the sieving hole is the precision sieving plate A
4 and the precision sieve plate B was 2.9.

【0056】[分級性能の評価]実施例1と同様に精密
ふるいを組み立て、また実施例1と同じ金属微粒子を組
み立てた精密ふるいおよび分級装置を用いて分級した。
精密ふるい板AおよびBを用いて分級し、精密ふるい板
Aの上に残った金属微粒子の粒子径を測定したところ、
平均粒子径が5.4μm、粒子径分布の標準偏差が0.
5μmであった。
[Evaluation of classification performance] A precision sieve was assembled in the same manner as in Example 1, and classification was performed using a precision sieve and a classifier in which the same metal fine particles as in Example 1 were assembled.
The particles were classified using the precision sieving plates A and B, and the particle size of the metal fine particles remaining on the precision sieving plate A was measured.
The average particle size is 5.4 μm, and the standard deviation of the particle size distribution is 0.
It was 5 μm.

【0057】[0057]

【比較例1】日清エンジニアリング(株)製の気流分級
機「ターボクラッシファイアーTC15」を用いて、実
施例1と同じ粉体の分級を行った。分級時の目標とする
平均粒子径を6μmに設定した。その結果、分級後の粉
体の平均粒子径は5.7μmと設定値6μmに近いもの
であったが、粒子径は1μmから15μmまで広く分布
し、粒子径分布の標準偏差は3μmであった。
[Comparative Example 1] The same powder classification as in Example 1 was performed using an airflow classifier "Turbo Classifier TC15" manufactured by Nisshin Engineering Co., Ltd. The target average particle size during classification was set to 6 μm. As a result, the average particle size of the powder after classification was 5.7 μm, which was close to the set value of 6 μm, but the particle size was widely distributed from 1 μm to 15 μm, and the standard deviation of the particle size distribution was 3 μm. .

【0058】[0058]

【比較例2】ふるい孔の形状が円形であり、直径が5μ
m、孔の配列ピッチが25μmのふるいと、直径が7μ
m、ふるい孔の配列が35μmである2種類のふるいを
用意した。これらのふるいの開口率は6%であった。こ
れらのふるいはニッケルシートをエッチング法でパター
ン化して作製したもので、レジストパターンの下の部分
までエッチングされてしまうアンダーカット現象によ
り、孔の断面形状は台形である。したがって、孔の断面
形状において孔の寸法が5μmとなっている部分はふる
いの厚さ方向で1μm未満であった。また、分級に用い
た金属微粒子は、実施例1で用いた金属微粒子と同じも
のである。
[Comparative Example 2] The shape of the sieve hole is circular, and the diameter is 5μ.
m, the diameter is 7μ if the hole pitch is 25μm.
m, and two kinds of sieves having a sieve hole arrangement of 35 μm were prepared. The opening ratio of these sieves was 6%. These sieves are produced by patterning a nickel sheet by an etching method, and the cross-sectional shape of the holes is trapezoidal due to the undercut phenomenon in which even the lower part of the resist pattern is etched. Therefore, in the cross-sectional shape of the hole, the portion where the size of the hole was 5 μm was less than 1 μm in the thickness direction of the sieve. The fine metal particles used for classification are the same as the fine metal particles used in Example 1.

【0059】実施例1と同様に、分級装置を組み立て、
同じ方法で分級操作を実施した。その結果、実施例1と
同じ時間超音波振動をかけたが、ふるいを通過して出て
きた粒子の重量は、5分の1未満であった。また、直径
5μmのふるい上に残った金属微粒子を走査型電子顕微
鏡で観察した結果、平均粒子径は5.6μm、粒子径分
布の標準偏差は1.5μmであり、複数の粒子が凝集し
た状態が半数以上の粒子に見られた。
As in Example 1, the classification device was assembled,
The classification operation was carried out in the same manner. As a result, ultrasonic vibration was applied for the same time as in Example 1, but the weight of the particles that passed through the sieve was less than 1/5. In addition, as a result of observing the fine metal particles remaining on the sieve having a diameter of 5 μm with a scanning electron microscope, the average particle diameter was 5.6 μm, the standard deviation of the particle diameter distribution was 1.5 μm, and a plurality of particles were aggregated. Was found in more than half of the particles.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の精密ふるい板を作製するプロセスを説
明する図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a process for producing a precision sieving plate of the present invention.

【図2】本発明の2重構造の精密ふるい板の断面図
(a)と構成要素を示す斜視図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view (a) of a double-layered precision sieving plate of the present invention and a perspective view showing components.

【図3】本発明の2重構造の精密ふるい板を作製すると
きの位置合わせの状況を説明する図である。
[Fig. 3] Fig. 3 is a diagram for explaining a situation of alignment when a precision sieving plate having a double structure of the present invention is manufactured.

【図4】本発明の精密ふるいの構成要素を示す図であ
る。
FIG. 4 is a view showing components of the precision sieve of the present invention.

【図5】本発明の精密ふるい装置を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a precision sieving apparatus of the present invention.

【図6】本発明の精密ふるい板の斜視図(a)と平面図
(b)である。
FIG. 6 is a perspective view (a) and a plan view (b) of the precision sieving plate of the present invention.

【図7】本発明の2重構造の精密ふるい板を作製するプ
ロセスを説明する図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a process for producing a double-structured precision sieve plate of the present invention.

【図8】本発明の2重構造の精密ふるいの断面図であ
る。
FIG. 8 is a cross-sectional view of a double-structured precision sieve of the present invention.

【図9】本発明の精密ふるい板のふるい孔の配置を説明
する図である。
FIG. 9 is a view for explaining the arrangement of sieving holes of the precision sieving plate of the present invention.

【図10】本発明の精密ふるい板のふるい孔の形状およ
び配置を説明する図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating the shape and arrangement of sieving holes of the precision sieving plate of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 精密ふるい板 1A 第一の精密ふるい板 1B 第二の精密ふるい板 7 導電性基板 8 感光性樹脂層 8a 貫通孔 10 ふるい孔(貫通孔) 11 感光性樹脂層 12 感光性樹脂の硬化物からなる柱状体 13 金属層 16 金属あるいはセラミックス層 19 金属製柱状体 61 投入部 61a 筒状部品 62 ふるい部 63 受け部 64 超音波洗浄機水槽 65 超音波振動子 66 液状物質 67 円筒体 68 足 69 孔の最密充填配置を示す単位格子 70 正六角形のふるい孔の最密充填配置を示す単位格
子 M フォトマスク M1 フォトマスク h 金属製柱状体の高さ D 精密ふるい板の厚さ H 第二の精密ふるい板の厚さ W 第一の精密ふるい板の孔の位置と第二の精密ふる
い板の孔の位置のずれ W2 正六角形のふるい孔の1辺の長さ
1 Precision Sieve Plate 1A First Precision Sieve Plate 1B Second Precision Sieve Plate 7 Conductive Substrate 8 Photosensitive Resin Layer 8a Through Hole 10 Sieve Hole (Through Hole) 11 Photosensitive Resin Layer 12 From Cured Material of Photosensitive Resin Columnar body 13 Metal layer 16 Metal or ceramics layer 19 Metallic columnar body 61 Input part 61a Cylindrical part 62 Sieve part 63 Receiving part 64 Ultrasonic cleaner water tank 65 Ultrasonic transducer 66 Liquid substance 67 Cylindrical body 68 Feet 69 hole Unit cell 70 showing the closest packing arrangement of the regular hexagonal sieve unit grid showing the closest packing arrangement of hexagonal sieve holes M photomask M1 photomask h height of metal columnar body D precision sieve plate thickness H second precision Sieve plate thickness W Deviation between the positions of the holes in the first precision sieving plate and the holes in the second precision sieving plate W2 Length of one side of the regular hexagonal sieving hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01B 1/22 H01B 1/22 D 13/00 501 13/00 501Z Fターム(参考) 4D071 AA05 AB45 AB63 DA20 4K017 AA02 BA01 BA02 BA03 BA04 BA05 BA06 BA08 CA07 DA01 EA13 EB00 4K018 BA01 BA02 BA04 BA05 BA08 BA09 BA10 BA13 BC22 BD04 5G301 AA01 AA02 AA03 AA07 AA08 AA09 AA12 AA14 AA15 AA16 AA17 AA19 AA20 AA21 AA22 AA23 AA30 AB20 AD06 AD10 AE10 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01B 1/22 H01B 1/22 D 13/00 501 13/00 501Z F term (reference) 4D071 AA05 AB45 AB63 DA20 4K017 AA02 BA01 BA02 BA03 BA04 BA05 BA06 BA08 CA07 DA01 EA13 EB00 4K018 BA01 BA02 BA04 BA05 BA08 BA09 BA10 BA13 BC22 BD04 5G301 AA01 AA02 AA03 AA07 AA08 AA09 AA12 AA14 AA15 AA16 AA17 AA19 AA20 AA21 AA22 AA23 AA30 AB20 AD06 AD10 AE10

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平均粒子径が1μmから10μmであ
り、かつ粒子径分布の標準偏差が平均粒子径の25%以
下であることを特徴とする金属微粒子。
1. Metal fine particles having an average particle size of 1 μm to 10 μm and a standard deviation of the particle size distribution of 25% or less of the average particle size.
【請求項2】 金属微粒子中の異形粒子(短手方向の長
さに対する長手方向の長さの比が2以上である粒子)の
存在比率が1%以下であることを特徴とする請求項1記
載の金属微粒子。
2. An abundance ratio of irregularly-shaped particles (particles having a ratio of the length in the longitudinal direction to the length in the lateral direction of 2 or more) in the metal fine particles is 1% or less. The metal fine particles described.
【請求項3】 請求項1または2に記載の金属微粒子
が、銅、金、銀、白金、ニッケル、パラジウム、インジ
ウム、鉄、クロム、タンタル、錫、鉛、亜鉛、コバル
ト、チタン、タングステン、ビスマス、シリコン、アン
チモン、アルミニウム、マグネシウム、希土類元素の単
独またはこれらいずれかの金属の合金、あるいは表面に
金属被覆を有する微粒子であることを特徴とする金属微
粒子。
3. The fine metal particles according to claim 1 or 2 are copper, gold, silver, platinum, nickel, palladium, indium, iron, chromium, tantalum, tin, lead, zinc, cobalt, titanium, tungsten, bismuth. , Fine particles having a metal coating on the surface thereof, or an alloy of any one of these metals, silicon, antimony, aluminum, magnesium, and rare earth elements.
【請求項4】 金属微粒子を、精密ふるい板によって分
級して粒子径分布の狭い金属微粒子を製造する方法であ
って、金属微粒子はアトマイズ法で作製されたものであ
り、かつ、分級に用いられる精密ふるい板が、厚さが1
0μm以上100μm以下であり、ふるい孔は開口率が
20%以上80%以下となるように所定配置で形成さ
れ、ふるい孔の平面形状は円形または多角形であり、ふ
るい孔の大きさは、ふるい孔の平面形状が円形である場
合にはその直径が1〜10μmであり、かつ孔径分布の
標準偏差が孔径の平均値の25%以下であり、更に孔径
に対する孔の深さの比で定義される孔のアスペクト比が
1.5以上、ふるい孔の平面形状が多角形である場合に
はその最短辺が1〜10μm、かつ最短辺の分布の標準
偏差が最短辺の平均値の25%以下であり、孔の投影面
における最短辺の長さに対する孔の深さの比が1.5以
上であることを特徴とする金属微粒子の製造方法。
4. A method for producing fine metal particles having a narrow particle size distribution by classifying fine metal particles with a precision sieving plate, wherein the fine metal particles are produced by an atomization method and used for classification. Precision sieve plate has a thickness of 1
0 μm or more and 100 μm or less, the sieving holes are formed in a predetermined arrangement so that the opening ratio is 20% or more and 80% or less, and the sieving holes have a circular or polygonal planar shape. When the planar shape of the hole is circular, the diameter is 1 to 10 μm, and the standard deviation of the hole diameter distribution is 25% or less of the average value of the hole diameter, and further defined by the ratio of the hole depth to the hole diameter. When the aspect ratio of the hole is 1.5 or more and the planar shape of the sieve hole is polygonal, the shortest side is 1 to 10 μm, and the standard deviation of the distribution of the shortest side is 25% or less of the average value of the shortest side. And the ratio of the depth of the hole to the length of the shortest side on the projection surface of the hole is 1.5 or more.
【請求項5】 金属微粒子を、2枚の精密ふるい板から
なる精密ふるいユニットによって分級して粒子径分布の
狭い金属微粒子を製造する方法であって、金属微粒子は
アトマイズ法で作製されたものであり、該精密ふるいユ
ニットが、2枚の、孔の配列ピッチが同一である請求項
4記載の精密ふるい板を、一定間隔に平行に配置し、2
枚の精密ふるいの孔を同一平面に投影した時の孔の重な
りの面積が90%以下となるように2枚の精密ふるい板
を配置し、2枚の精密ふるい板の間隔が孔の最短長の
1.1倍から2.5倍とした精密ふるいユニットである
ことを特徴とする金属微粒子の製造方法。
5. A method for producing fine metal particles having a narrow particle size distribution by classifying fine metal particles by a precision sieving unit consisting of two precision sieving plates, wherein the fine metal particles are produced by an atomizing method. The precision sieving unit comprises two precision sieving plates arranged parallel to each other at a constant interval according to claim 4, wherein the holes have the same arrangement pitch of holes.
The two precision sieving plates are arranged so that the overlapping area of the holes becomes 90% or less when the holes of the two precision sieving plates are projected on the same plane. The distance between the two precision sieving plates is the shortest length of the hole. The method for producing fine metal particles is characterized in that the precision sieving unit is 1.1 times to 2.5 times as large as the above.
【請求項6】 ふるい分けを行う紛体を投入する筒状の
投入部の底部に請求項4記載の精密ふるい板または請求
項5記載の精密ふるいユニットを装着した精密ふるいを
組み立て、この精密ふるいを精密ふるい板または精密ふ
るいユニットが下面になるように精密ふるいを通過した
紛体を受けるための容器に入れ、さらにこの容器内に液
状物質を入れた状態で容器に超音波振動を加えることを
特徴とする金属微粒子の製造方法。
6. Assembling a precision sieving plate according to claim 4 or a precision sieving in which the precision sieving unit according to claim 5 is attached to the bottom of a cylindrical feeding part for feeding powder for sieving. Characterized by placing a sieve plate or precision sieving unit in a container for receiving powder that has passed through the precision sieving so that it is on the bottom surface, and further applying ultrasonic vibration to the container with the liquid substance in the container Method for producing fine metal particles.
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