JP2003223963A - Socket for electric parts - Google Patents

Socket for electric parts

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JP2003223963A
JP2003223963A JP2002020525A JP2002020525A JP2003223963A JP 2003223963 A JP2003223963 A JP 2003223963A JP 2002020525 A JP2002020525 A JP 2002020525A JP 2002020525 A JP2002020525 A JP 2002020525A JP 2003223963 A JP2003223963 A JP 2003223963A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a socket for electric parts wherein reuse can be made by exchanging a small number of parts without exchanging the whole socket in the case that a contact part or the like of a contact pin is deteriorated. <P>SOLUTION: This socket has a contact base 14 that is removably mounted on a circuit board P and a latch base 15 arranged and installed at the upper side of this contact base 14. At one side, a contact part 17e contacts a terminal of an IC package and a contact pin 17 having a reed part 17c electrically connected with the circuit board P is arranged and installed, and on the other hand, at the latch base 15, a latch member 19 pressing the IC package downward is arranged and installed. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置(以
下「ICパッケージ」という)等の電気部品を着脱自在
に収容する電気部品用ソケットに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric component socket for detachably accommodating an electric component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as "IC package").

【0002】[0002]

【従来の技術】従来からこの種のICソケットは、予
め、回路基板上に配設され、このICソケットにICパ
ッケージを収容することにより、このICパッケージと
回路基板とを電気的に接続するようにしている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an IC socket of this type has been previously arranged on a circuit board, and an IC package is housed in this IC socket so that the IC package and the circuit board are electrically connected. I have to.

【0003】そのICパッケージとしては、例えば四角
形板状のパッケージ本体の周縁部から側方に向けてクラ
ンク形状の端子が延長されたいわゆるガルウイングタイ
プと称されるものがある。
As the IC package, for example, there is a so-called gull wing type in which a crank-shaped terminal is extended laterally from a peripheral portion of a rectangular plate-shaped package body.

【0004】また、ICソケットとしては、いわゆるオ
ープントップタイプと称されるタイプのソケットがあ
る。このソケットは、電気部品の端子に離接可能な接触
部及び弾性部を有するコンタクトピンがソケット本体に
圧入されると共に、電気部品の端子とコンタクトピンの
接触部とを電気的に接続させるために電気部品本体又は
端子を押圧するラッチ部材がソケット本体に回転自在に
設けられ、更に、ラッチ部材が電気部品本体又は端子を
押圧する押圧位置と、電気部品をソケット本体に装着可
能な位置に待避する待避位置との間で動き得るようにラ
ッチ部材を操作する操作部材がソケット本体に対して上
下動自在に設けられている。
As the IC socket, there is a so-called open top type socket. In this socket, a contact pin having a contact portion and an elastic portion that can be connected to and detached from a terminal of an electric component is press-fitted into the socket body, and in order to electrically connect the terminal of the electric component and the contact portion of the contact pin. A latch member that presses the electric component body or the terminal is rotatably provided on the socket body, and further, a pressing position where the latch member presses the electric component body or the terminal and a position where the electric component can be attached to the socket body are retracted. An operating member for operating the latch member so as to move between the retracted position and the retracted position is provided so as to be vertically movable with respect to the socket body.

【0005】このICソケットにICパッケージを収容
するには、まず、操作部材を押圧して下降させてラッチ
部材を待避位置に待避させ、電気部品をソケット本体上
の所定位置に収容する。次いで、操作部材への押圧力を
解除すると、操作部材が上昇し、ラッチ部材が電気部品
の本体又は端子を押圧し、電気部品の端子とコンタクト
ピンの接触部とが電気的に接続される。この状態で、バ
ーンインテスト等の試験を行う。
To accommodate the IC package in this IC socket, first, the operating member is pressed and lowered to retract the latch member to the retracted position, and the electrical component is accommodated in the predetermined position on the socket body. Then, when the pressing force on the operating member is released, the operating member rises, the latch member presses the main body or the terminal of the electric component, and the terminal of the electric component and the contact portion of the contact pin are electrically connected. In this state, a test such as a burn-in test is performed.

【0006】試験終了後、再び、操作部材を下方に押圧
することにより、ラッチ部材が待避位置に待避され、電
気部品をソケット本体上から取り出すことができる。こ
の後、次に試験に供する電気部品をソケット本体上に収
容し、上記同様の手順を繰り返すことにより、試験を繰
り返すことができる。
After the test is completed, the operating member is pressed downward again, so that the latch member is retracted to the retracted position, and the electric component can be taken out from the socket body. After this, the test can be repeated by accommodating the electrical parts to be tested next in the socket body and repeating the same procedure as above.

【0007】ここで、試験を繰り返し行っていくと、ソ
ケット本体に配設されたコンタクトピンが劣化(接触部
への半田転移又は弾性部のへたり、破損等)し、コンタ
クトピンを交換する必要があった。
Here, when the test is repeated, the contact pin arranged in the socket body deteriorates (solder transfer to the contact portion or the elastic portion is dented or damaged), and the contact pin needs to be replaced. was there.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来のソ
ケットにあっては、コンタクトピンがソケット本体に圧
入されていると共に、ラッチ部材及び操作部材もソケッ
ト本体に設けられているため、コンタクトピンを交換す
るには、ラッチ部材及び操作部材が未だ使用に耐える状
態にもかかわらず、ソケット本体を交換しなければなら
ないという問題があった。
However, in the above-mentioned conventional socket, the contact pin is press-fitted into the socket body, and the latch member and the operating member are also provided in the socket body. To replace the socket body, the socket body must be replaced even though the latch member and the operating member are still usable.

【0009】そこで、この発明は、コンタクトピンが使
用の途中で劣化し、当該コンタクトピンを交換しなけれ
ばならない場合、ソケット全体を交換することなく、コ
ンタクトピンを交換することができる電気部品用ソケッ
トを提供することを課題としている。
Therefore, according to the present invention, when a contact pin deteriorates during use and the contact pin must be replaced, the contact pin can be replaced without replacing the entire socket. The challenge is to provide.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】かかる課題を達成するた
めに、請求項1に記載の発明は、回路基板に着脱自在に
取り付けられるコンタクトベースと、該コンタクトベー
スに対して所定の位置に配設されたラッチベースとを有
し、前記コンタクトベースには、電気部品を収容する収
容部が形成され、前記電気部品の端子に接触される接触
部を有するコンタクトピンが配設され、前記ラッチベー
スには、前記電気部品を下方に押圧するラッチ部材が配
設された電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention according to claim 1 provides a contact base which is detachably attached to a circuit board, and is arranged at a predetermined position with respect to the contact base. An accommodating portion for accommodating an electric component is formed in the contact base, and a contact pin having a contact portion that comes into contact with a terminal of the electric component is disposed on the contact base. Is a socket for electric parts in which a latch member for pressing the electric parts downward is provided.

【0011】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の構成に加え、前記コンタクトピンは、前記電気部品の
端子の下面に下方から接触する前記接触部を有すると共
に、該接触部を略上下動自在に支持し、上方に付勢する
ばね部を有することを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in addition to the structure of the first aspect, the contact pin has the contact portion which comes into contact with the lower surface of the terminal of the electric component from below, and the contact portion is provided. It is characterized in that it has a spring portion that is supported so as to be able to move up and down and that biases upward.

【0012】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の構成に加え、前記ラッチ部材は、前記ラッチベ
ースに回動自在に設けられると共に、前記電気部品の本
体又は端子を上方から押圧する抑え部を有することを特
徴とする。
The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2.
In addition to the configuration described in (1), the latch member is rotatably provided on the latch base and has a suppressing portion that presses the main body or the terminal of the electric component from above.

【0013】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の構成に加え、前記ラッチ部材には、被押圧部が設けら
れ、該被押圧部が押圧されることにより、前記押え部が
前記電気部品を押圧する位置から待避するように構成し
たことを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in addition to the structure according to the third aspect, the latch member is provided with a pressed portion, and the pressing portion is pressed by pressing the pressed portion. It is characterized in that it is configured to be retracted from a position where the electric component is pressed.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below.

【0015】[発明の実施の形態]図1乃至図10に
は、この発明の実施の形態を示す。
[Embodiment of the Invention] FIGS. 1 to 10 show an embodiment of the present invention.

【0016】まず構成を説明すると、図中符号11は
「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、この
ICソケット11は、ICパッケージ12の性能試験を
行うために、このICパッケージ12の端子12bと、
回路基板Pとの電気的接続を図るものである。
First, the configuration will be described. In the figure, reference numeral 11 is an IC socket as an "electrical component socket", and this IC socket 11 is used for performing a performance test of the IC package 12, and a terminal 12b of this IC package 12 is used. When,
The electrical connection with the circuit board P is intended.

【0017】そのICパッケージ12は、図9及び図1
0に示すように、いわゆるガルウイングタイプと称され
るもので、方形板状のパッケージ本体12aの周縁部の
4辺から側方に向けてクランク形状の端子12bが延長
されている。
The IC package 12 is shown in FIG. 9 and FIG.
As shown in FIG. 0, which is a so-called gull-wing type, crank-shaped terminals 12b are extended from four sides of the peripheral edge of the rectangular plate-shaped package body 12a toward the sides.

【0018】一方、ICソケット11は、大略すると、
バーンインボード等の回路基板Pに着脱自在に取り付け
られるコンタクトベース14と、このコンタクトベース
14の周囲に着脱自在に配設されたラッチベース15と
を有している。
On the other hand, the IC socket 11 is roughly
The contact base 14 is detachably attached to the circuit board P such as a burn-in board, and the latch base 15 is detachably disposed around the contact base 14.

【0019】このコンタクトベース14には、ICパッ
ケージ12の端子12bに接触されると共に、回路基板
Pに電気的に接続される多数のコンタクトピン17が配
設されている(図2参照)。
The contact base 14 is provided with a large number of contact pins 17 that are in contact with the terminals 12b of the IC package 12 and are electrically connected to the circuit board P (see FIG. 2).

【0020】これらコンタクトピン17は、導電性を有
する板状の部材がプレス加工により、いわゆる馬蹄形状
に形成されている。すなわち、このコンタクトピン17
は、図3に示すように、長板形状の固定部17aを有
し、この固定部17aから一対の圧入部17bと挿入部
17fとが所定の間隔を有して下方に延長され、これら
圧入部17b及び挿入部17fがコンタクトベース14
に形成された貫通孔14aに圧入及び挿入され、圧入部
17bから更に下方にリード部17cが延長され、この
リード部17cが図1に示すように、マザーソケット2
6を介して回路基板Pに挿通されて電気的に接続される
ようになっている。また、固定部17aの上側には、ば
ね部17dが馬蹄形状に形成され、このばね部17dの
先端部には、上方に突出する接触部17eが形成される
ことにより、この接触部17eはばね部17dにて略上
下動自在に支持されている。
The contact pins 17 are formed into a so-called horseshoe shape by pressing a conductive plate-shaped member. That is, this contact pin 17
As shown in FIG. 3, has a long plate-shaped fixing portion 17a, and from this fixing portion 17a, a pair of press-fitting portions 17b and an inserting portion 17f are extended downward with a predetermined gap, and these press-fitting portions are inserted. The portion 17b and the insertion portion 17f are the contact base 14.
1 is press-fitted and inserted into the through-hole 14a formed in the upper part, and the lead part 17c is extended further downward from the press-fit part 17b. As shown in FIG.
The circuit board P is inserted through 6 to be electrically connected. Further, a spring portion 17d is formed in a horseshoe shape above the fixed portion 17a, and a contact portion 17e protruding upward is formed at the tip of the spring portion 17d, so that the contact portion 17e is a spring. It is supported by the portion 17d so as to be movable up and down.

【0021】そして、この接触部17eが、図2及び図
3に示すように、コンタクトベース14のICパッケー
ジ12が載置される載置面部14bの周縁部に形成され
た開口14cに挿入され、この接触部17eが、ICパ
ッケージ12の端子12bの下面に当接して電気的に接
続されるようになっている(図8参照)。また、その載
置面部14bの四隅には、パッケージ本体12aの各角
部を案内するガイド部14dが上方に突出するように形
成されている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the contact portion 17e is inserted into the opening 14c formed in the peripheral portion of the mounting surface portion 14b on which the IC package 12 of the contact base 14 is mounted, The contact portion 17e contacts the lower surface of the terminal 12b of the IC package 12 to be electrically connected (see FIG. 8). Further, guide portions 14d that guide the respective corners of the package body 12a are formed at the four corners of the mounting surface portion 14b so as to project upward.

【0022】さらに、このコンタクトベース14には、
周囲4ヶ所に、回路基板Pに取り付けるためのねじ18
が挿通される挿通孔14eが形成されている。
Further, the contact base 14 includes
Screws 18 for attaching to the circuit board P at four locations around
Is formed with an insertion hole 14e.

【0023】マザーソケット26は、四角形の板状を呈
し、中央部にコンタクトピン17の配列に合わせて丸ピ
ン26aが配設されている。丸ピン26aは、マザーソ
ケット26を上下に貫通するように配設され、上部にコ
ンタクトピン17のリード部17cが嵌合される嵌合凹
部26bが形成されると共に、下部の挿入部26cがマ
ザーソケット26の下面より下方に突出されており、こ
の挿入部26cが、回路基板Pに挿入され、電気的に接
続されるようになっている。
The mother socket 26 has a quadrangular plate shape, and a round pin 26a is arranged in the central portion in accordance with the arrangement of the contact pins 17. The round pin 26a is arranged so as to vertically pass through the mother socket 26, and a fitting recess 26b into which the lead portion 17c of the contact pin 17 is fitted is formed on the upper portion, and the lower insertion portion 26c is formed on the mother pin 26a. The socket 26 projects downward from the lower surface of the socket 26, and the insertion portion 26c is inserted into the circuit board P and electrically connected thereto.

【0024】また、このマザ−ソケット26には、コン
タクトベース14の挿入孔14eに対応した位置に図示
しない挿入孔が形成されている。
The mother socket 26 has an insertion hole (not shown) formed at a position corresponding to the insertion hole 14e of the contact base 14.

【0025】一方、ラッチベース15は、図4及び図5
に示すように、計4個のラッチ部材19が軸20により
回動自在に配設され、「付勢部材」としてのスプリング
21によりICパッケージ12の端子12bを押圧する
方向(閉じる方向)に付勢されている。
On the other hand, the latch base 15 is shown in FIGS.
As shown in FIG. 4, a total of four latch members 19 are rotatably arranged by a shaft 20, and are attached in a direction (closing direction) in which a terminal 21b of the IC package 12 is pressed by a spring 21 as a "biasing member". It is energized.

【0026】このラッチ部材19は、ICパッケージ1
2の多数の端子12bを上方から押圧する抑え部19a
が形成されると共に、後述するラッチ開き治具24によ
り押圧される被押圧部19bが形成されており、ラッチ
部材19は、その被押圧部19bが押圧されることによ
り、スプリング21の付勢力に抗して開く方向に回動さ
れるようになっている。
The latch member 19 is used for the IC package 1
The pressing portion 19a that presses the two terminals 12b from above.
Is formed, and a pressed portion 19b that is pressed by a latch opening jig 24, which will be described later, is formed, and the latch member 19 receives the biasing force of the spring 21 by pressing the pressed portion 19b. It is designed to be rotated in the direction of opening against.

【0027】また、このラッチベース15には、図4に
示すように、コンタクトベース14の挿通孔14eに対
応した位置に挿通孔15aが形成され、この両挿通孔1
4e,15a及び挿通孔にネジ18が挿通されてナット
22に螺合されることにより、ラッチベース15とコン
タクトベース14とがマザーソケット26を介して回路
基板Pに取り付けられるようになっている。
As shown in FIG. 4, an insertion hole 15a is formed in the latch base 15 at a position corresponding to the insertion hole 14e of the contact base 14.
The latch base 15 and the contact base 14 are attached to the circuit board P via the mother socket 26 by inserting the screw 18 into the nuts 22 through the screws 4e, 15a and the insertion holes.

【0028】かかる構成のICソケット11に、自動機
23にてICパッケージ12が搬送されて収容されるよ
うに構成されている。この自動機23には吸引装置25
が設けられ、この吸引装置25により図7に示すように
ICパッケージ12が吸引されるようになっている。ま
た、この自動機23には、ラッチ部材19を回動させて
開かせるラッチ開き治具24が配設されている。
The IC package 12 is structured so that the IC package 12 is conveyed and accommodated in the IC socket 11 having such a structure by the automatic machine 23. This automatic machine 23 has a suction device 25
Is provided, and the IC package 12 is sucked by the suction device 25 as shown in FIG. Further, the automatic machine 23 is provided with a latch opening jig 24 for rotating and opening the latch member 19.

【0029】このラッチ開き治具24には、「押圧部」
としてのカム部24aが下方に突設されて4ヶ所形成さ
れ、自動機23を図7に示す状態から下降させることに
より、このカム部24aのテーパ面24bにて、ラッチ
部材19の被押圧部19bが押圧されてスプリング21
の付勢力に抗してラッチ部材19が開く方向に回動され
るようになっている。
The latch opening jig 24 has a "pressing portion".
As a cam portion 24a is protruded downwardly and formed at four places, the taper surface 24b of the cam portion 24a causes the pressed portion of the latch member 19 to be depressed by lowering the automatic machine 23 from the state shown in FIG. 19b is pressed and the spring 21
The latch member 19 is rotated in the opening direction against the biasing force of the latch member 19.

【0030】また、このラッチ開き治具24には、先細
り形状の位置決め突部24cが下方に向けて突設され、
この位置決め突部24cがラッチベース15の位置決め
孔15bに嵌合されて位置決めされるようになってい
る。
Further, the latch opening jig 24 is provided with a tapered positioning projection 24c which projects downward.
The positioning protrusion 24c is fitted into the positioning hole 15b of the latch base 15 for positioning.

【0031】次に、作用について説明する。Next, the operation will be described.

【0032】まず、ICパッケージ12をICソケット
11に収容するには、自動機23によりICパッケージ
12を吸着した状態で、所定のICソケット11上まで
移動させて搬送する。そして、図7に示す状態から自動
機23を下降させ、ラッチ開き治具24のカム部24a
にて、ラッチ部材19をスプリング21の付勢力に抗し
て回動させて抑え部19aをICパッケージ12挿入範
囲より退避させる。これと同時に、ラッチ開き治具24
の位置決め突部24cがラッチベース15の位置決め孔
15bに嵌合されることにより、ICソケット11に対
してラッチ開き治具24が所定の位置関係に設定される
こととなる。
First, in order to house the IC package 12 in the IC socket 11, the IC package 12 is sucked by the automatic machine 23 and moved to a predetermined IC socket 11 and conveyed. Then, the automatic machine 23 is lowered from the state shown in FIG. 7, and the cam portion 24 a of the latch opening jig 24 is moved.
Then, the latch member 19 is rotated against the biasing force of the spring 21 to retract the restraining portion 19a from the insertion range of the IC package 12. At the same time, the latch opening jig 24
The latching jig 24 is set in a predetermined positional relationship with respect to the IC socket 11 by fitting the positioning protrusion 24c into the positioning hole 15b of the latch base 15.

【0033】この状態から、ICパッケージ12を自動
機23側から解放してコンタクトベース14の載置面部
14b上に載置する。この場合には、コンタクトベース
14のガイド部14dにより、ICパッケージ12が案
内されて所定の位置に載置される。なお、このとき、I
Cパッケージ12の端子12bの下面と、コンタクトピ
ン17の接触部17eとは当接していない。
From this state, the IC package 12 is released from the automatic machine 23 side and placed on the placing surface portion 14b of the contact base 14. In this case, the IC package 12 is guided by the guide portion 14d of the contact base 14 and placed at a predetermined position. At this time, I
The lower surface of the terminal 12b of the C package 12 and the contact portion 17e of the contact pin 17 are not in contact with each other.

【0034】次いで、自動機23を上昇させると、ラッ
チ部材19がスプリング21の付勢力により、元の位置
に復帰して行き、図8に示すように、このラッチ部材1
9の抑え部19aが、ICパッケージ12の端子12b
の上面に当接して押圧する。
Then, when the automatic machine 23 is raised, the latch member 19 returns to its original position by the urging force of the spring 21, and as shown in FIG.
The holding portion 19a of 9 is the terminal 12b of the IC package 12.
Abut on the upper surface of and press.

【0035】これにより、ICパッケージ12の端子1
2bとコンタクトピン17の接触部17eとが所定の接
圧で当接されて確実な電気的な接続が行われ、この状態
で、バーンイン試験等が行われる。
As a result, the terminal 1 of the IC package 12 is
2b and the contact portion 17e of the contact pin 17 are brought into contact with each other with a predetermined contact pressure to make a reliable electrical connection. In this state, a burn-in test or the like is performed.

【0036】試験終了後、ICパッケージ12を取り出
すには、自動機を下降させ、ICパッケージ12を収容
するときと同じようにラッチ開き治具24でラッチ19
をICパッケージ挿入範囲より待避させ、吸引装置25
でICパッケージ12を吸引後、自動機23を上昇させ
ればよい。
After the test, to take out the IC package 12, the automatic machine is lowered and the latch 19 is opened by the latch opening jig 24 in the same manner as when the IC package 12 is housed.
The suction device 25 from the IC package insertion range.
After sucking the IC package 12, the automatic machine 23 may be raised.

【0037】このような試験を繰り返して行っていく
と、コンタクトピン17の接触部17eは、試験のたび
にICパッケージ12の端子12bに対して離接が行わ
れ、また、コンタクトピン17のばね部17dは、試験
のたびに弾性変形させられる。これにより、コンタクト
ピン17の接触部17eにおいては、ICパッケージ1
2の端子12bの半田めっきが転移して付着する半田転
移が生じ、また、ばね部17dにおいては、へたりが生
じたり、更にばね部17dが破損してしまうということ
もあり、これらの場合には、コンタクトピン17を交換
する必要が生じる。
When such a test is repeated, the contact portion 17e of the contact pin 17 is contacted with and separated from the terminal 12b of the IC package 12 each time the test is performed, and the spring of the contact pin 17 is removed. The portion 17d is elastically deformed at each test. As a result, in the contact portion 17e of the contact pin 17, the IC package 1
In some cases, the solder plating of the second terminal 12b may be transferred to cause a solder transfer to be attached, and the spring portion 17d may be settled or the spring portion 17d may be damaged. Requires the contact pin 17 to be replaced.

【0038】そこで、この発明では、ねじ18を外し
て、コンタクトベース14とラッチベース15とを分解
し、コンタクトピン17が設けられたコンタクトベース
14のみを交換することができるようにしている。従っ
て、コンタクトピン17より耐久性の高いラッチベース
15側を交換する必要がないため、従来のようにICソ
ケット全体を交換する場合よりも、コストを安く抑える
ことができる。
Therefore, in the present invention, the screw 18 is removed, the contact base 14 and the latch base 15 are disassembled, and only the contact base 14 provided with the contact pin 17 can be replaced. Therefore, it is not necessary to replace the latch base 15 side, which has higher durability than the contact pin 17, so that the cost can be kept lower than when replacing the entire IC socket as in the conventional case.

【0039】また、コンタクトピン17のばね部17d
はいわゆる馬蹄形状を呈し、接触部17eがICパッケ
ージ12の端子12bの下面に当接するようにしている
ため、このばね部17dの弾性変形量が小さいことか
ら、従来のいわゆるオープントップタイプのICソケッ
トのコンタクトピンのように弾性変形量が大きいものと
比較すると、耐久性を向上させることができる。
Further, the spring portion 17d of the contact pin 17
Has a so-called horseshoe shape, and the contact portion 17e is in contact with the lower surface of the terminal 12b of the IC package 12. Therefore, the elastic deformation amount of the spring portion 17d is small. The durability can be improved as compared with a contact pin having a large elastic deformation amount such as the contact pin.

【0040】なお、上記実施の形態のICソケット11
は、ガルウイングタイプのICパッケージ12を収容す
るように構成され、このICパッケージ12に接触する
コンタクトピン17のばね部17dは馬蹄形状を呈して
いるが、これに限らず、図11に示すように、BGA(B
all Grid Array)タイプのICパッケージ32を収容す
るものにも適用できる。つまり、このICパッケージ3
2は、パッケージ本体32aの下面に多数の「端子」と
しての半田ボール32bが設けられる一方、この半田ボ
ール32bに接続されるコンタクトピン37は、湾曲し
たばね部37aの上端部に、半田ボール32bに接触さ
れる接触部37bが形成されている。そして、パッケー
ジ本体32aの周縁部の上面部がラッチ部材19により
押圧されるようになっている。
Incidentally, the IC socket 11 of the above embodiment.
Is configured to accommodate the gull wing type IC package 12, and the spring portion 17d of the contact pin 17 that contacts the IC package 12 has a horseshoe shape, but is not limited to this, and as shown in FIG. , BGA (B
It can also be applied to the one that accommodates the all grid array type IC package 32. That is, this IC package 3
2 has a large number of solder balls 32b as "terminals" provided on the lower surface of the package body 32a, and the contact pins 37 connected to the solder balls 32b have solder balls 32b at the upper end of a curved spring portion 37a. A contact portion 37b that is in contact with the. The upper surface of the peripheral edge of the package body 32a is pressed by the latch member 19.

【0041】また、上記実施の形態では、共通したネジ
18により、コンタクトベース14及びラッチベース1
5が同じネジ止め位置で回路基板Pに共締めされている
が、これに限らず、コンタクトベース14とラッチベー
ス15とを、異なるネジ止め位置で回路基板Pに取り付
けるようにすれば、ラッチベース15を外すことなく、
コンタクトベース14を交換することも可能となり、よ
り交換作業性を向上させることができる。
Further, in the above-described embodiment, the contact base 14 and the latch base 1 are provided by the common screw 18.
5 is fastened together with the circuit board P at the same screw fastening position, but not limited to this, if the contact base 14 and the latch base 15 are attached to the circuit board P at different screw fastening positions, the latch base 5 Without removing 15.
The contact base 14 can also be replaced, and the replacement workability can be further improved.

【0042】さらに、上記実施の形態では、ラッチ部材
19を開かせるためのラッチ開き治具24が自動機23
側に設けられているが、これに限らず、例えば、ラッチ
ベース15にラッチ開き治具24を上下動自在に配設
し、自動機23にてこのラッチ開き治具24を押圧して
下降させることにより、カム部24aでラッチ部材19
を押圧して回動させるようにすることもできる。但し、
この場合には、各ICソケット11毎にラッチ開き治具
24を配設しなければならないが、上記実施の形態のよ
うに、自動機23側に一つのラッチ開き治具24を配設
しておくことにより、各ICソケット11毎に配設する
必要が無く、ICソケット11自体の構造を簡単にでき
る。
Further, in the above embodiment, the latch opening jig 24 for opening the latch member 19 is the automatic machine 23.
However, the present invention is not limited to this, and for example, the latch opening jig 24 is provided on the latch base 15 so as to be vertically movable, and the automatic opening machine 23 presses the latch opening jig 24 to lower it. As a result, the latch member 19 is formed by the cam portion 24a.
It is also possible to press and rotate. However,
In this case, the latch opening jig 24 must be provided for each IC socket 11, but one latch opening jig 24 is provided on the automatic machine 23 side as in the above embodiment. By setting it, it is not necessary to dispose each IC socket 11, and the structure of the IC socket 11 itself can be simplified.

【0043】さらにまた、上記実施の形態では、コンタ
クトベース14と回路基板Pとの接続をマザーソケット
26を介して行ったが、コンタクトピン17にプローブ
ピンタイプ又は表面圧接形のコンタクトピンを用いた場
合には、マザーソケット26を使用することなく、コン
タクトベース14をダイレクトに回路基板Pに接続でき
る。
Furthermore, in the above embodiment, the contact base 14 and the circuit board P were connected via the mother socket 26, but a probe pin type or surface pressure contact type contact pin was used for the contact pin 17. In this case, the contact base 14 can be directly connected to the circuit board P without using the mother socket 26.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1に記
載の発明によれば、コンタクトピンが配設されたコンタ
クトベースと、ラッチ部材が配設されたラッチベースと
を分割式とし、コンタクトピンが設けられたコンタクト
ベースのみ交換できるようにしたため、コンタクトピン
より耐久性の高いラッチ部材が設けられたラッチベース
を交換する必要がないことから、従来のようにICソケ
ット全体を交換する場合よりも、少ない部品の交換で再
使用することができる。
As described above, according to the first aspect of the invention, the contact base in which the contact pin is arranged and the latch base in which the latch member is arranged are of a split type, and the contact is formed. Since only the contact base provided with pins can be replaced, it is not necessary to replace the latch base provided with a latch member having higher durability than contact pins. Also, it can be reused by replacing a few parts.

【0045】請求項2に記載の発明によれば、上記効果
に加え、コンタクトピンの接触部がICパッケージの端
子の下面に当接するようにしているため、コンタクトピ
ンのばね部の弾性変形量が小さくて済むことから、従来
のいわゆるオープントップタイプのICソケットのコン
タクトピンのように弾性変形量が大きいものと比較する
と、耐久性を向上させることができる。
According to the second aspect of the present invention, in addition to the above effects, the contact portion of the contact pin abuts the lower surface of the terminal of the IC package, so that the elastic deformation amount of the spring portion of the contact pin is reduced. Since the size is small, the durability can be improved as compared with a conventional so-called open top type IC socket having a large elastic deformation amount such as a contact pin.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施の形態に係るICソケット及び
回路基板を分解した一部断面図である。
FIG. 1 is an exploded partial sectional view of an IC socket and a circuit board according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態に係るICソケットのコンタクト
ベースの平面図である。
FIG. 2 is a plan view of a contact base of the IC socket according to the same embodiment.

【図3】同実施の形態に係るICソケットのコンタクト
ベースの図2のA−A線に沿う断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of the contact base of the IC socket according to the same embodiment taken along the line AA of FIG.

【図4】同実施の形態に係るICソケットのラッチベー
スの平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a latch base of the IC socket according to the same embodiment.

【図5】同実施の形態に係るICソケットのラッチベー
スの半分を断面した正面図である。
FIG. 5 is a front view in which a half of the latch base of the IC socket according to the same embodiment is sectioned.

【図6】同実施の形態に係るICソケットのコンタクト
ベースとラッチベースとを組み立てた状態を示す平面図
である。
FIG. 6 is a plan view showing an assembled state of the contact base and the latch base of the IC socket according to the same embodiment.

【図7】同実施の形態に係るICソケットにICパッケ
ージを収容する前の状態を示すICソケット及び自動機
等の一部を断面した図である。
FIG. 7 is a partial cross-sectional view of the IC socket, the automatic machine and the like showing a state before the IC package is housed in the IC socket according to the same embodiment.

【図8】同実施の形態に係るICソケットにICパッケ
ージを収容した状態における、ICパッケージ,コンタ
クトピン及びラッチ部材等を示す断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing an IC package, a contact pin, a latch member and the like in a state where the IC package is housed in the IC socket according to the same embodiment.

【図9】同実施の形態に係るICソケットに収容される
ICパッケージを示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing an IC package housed in the IC socket according to the same embodiment.

【図10】同実施の形態に係るICソケットに収容され
るICパッケージを示す正面図である。
FIG. 10 is a front view showing an IC package housed in the IC socket according to the same embodiment.

【図11】変形例を示す図8に相当するICパッケー
ジ,コンタクトピン及びラッチ部材等を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an IC package, a contact pin, a latch member and the like corresponding to FIG. 8 showing a modified example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 ICソケット(電気部品用ソケット) 12,32 ICパッケージ(電気部品) 12a,32a パッケージ本体 12b 端子 32b 半田ボール(端子) 14 コンタクトベース 14b 載置面部 15 ラッチベース 17,37 コンタクトピン 17d,37a ばね部 17e,37b 接触部 18 ネジ 19 ラッチ部材 19a 抑え部 19b 被押圧部 20 軸 21 スプリング(付勢部材) 23 自動機 24 ラッチ開き治具 24a カム部(押圧部) P 回路基板 11 IC socket (socket for electric parts) 12,32 IC package (electrical parts) 12a, 32a Package body 12b terminal 32b Solder ball (terminal) 14 Contact base 14b Mounting surface 15 latch base 17,37 contact pins 17d, 37a Spring part 17e, 37b Contact part 18 screws 19 Latch member 19a Suppression section 19b Pressed part 20 axes 21 Spring (biasing member) 23 Automatic machine 24 Latch opening jig 24a Cam part (pressing part) P circuit board

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路基板に着脱自在に取り付けられるコ
ンタクトベースと、 該コンタクトベースに対して所定の位置に配設されたラ
ッチベースとを有し、 前記コンタクトベースには、電気部品を収容する収容部
が形成され、前記電気部品の端子に接触される接触部を
有するコンタクトピンが配設され、 前記ラッチベースには、前記電気部品を下方に押圧する
ラッチ部材が配設されたことを特徴とする電気部品用ソ
ケット。
1. A housing which has a contact base removably attached to a circuit board and a latch base which is arranged at a predetermined position with respect to the contact base, wherein the contact base houses electrical parts. A contact pin having a contact portion that is in contact with a terminal of the electric component is disposed, and a latch member that presses the electric component downward is disposed on the latch base. A socket for electrical components.
【請求項2】 前記コンタクトピンは、前記電気部品の
端子の下面に下方から接触する前記接触部を有すると共
に、該接触部を略上下動自在に支持し、上方に付勢する
ばね部を有することを特徴とする請求項1に記載の電気
部品用ソケット。
2. The contact pin includes the contact portion that comes into contact with a lower surface of a terminal of the electric component from below, and a spring portion that supports the contact portion so as to be movable up and down and urges the contact portion upward. The socket for electrical parts according to claim 1, wherein.
【請求項3】 前記ラッチ部材は、前記ラッチベースに
回動自在に設けられると共に、前記電気部品の本体又は
端子を上方から押圧する抑え部を有することを特徴とす
る請求項1又は2に記載の電気部品用ソケット。
3. The latch member is rotatably provided on the latch base and has a restraining portion that pushes a main body or a terminal of the electric component from above. Socket for electrical parts of.
【請求項4】 前記ラッチ部材には、被押圧部が設けら
れ、該被押圧部が押圧されることにより、前記押え部が
前記電気部品を押圧する位置から待避するように構成し
たことを特徴とする請求項3に記載の電気部品用ソケッ
ト。
4. The latch member is provided with a pressed portion, and when the pressed portion is pressed, the holding portion retracts from a position where the pressing portion presses the electric component. The socket for electrical parts according to claim 3.
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