JP2003218522A - Multilayer printed-circuit board and its manufacturing method - Google Patents

Multilayer printed-circuit board and its manufacturing method

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JP2003218522A
JP2003218522A JP2002010813A JP2002010813A JP2003218522A JP 2003218522 A JP2003218522 A JP 2003218522A JP 2002010813 A JP2002010813 A JP 2002010813A JP 2002010813 A JP2002010813 A JP 2002010813A JP 2003218522 A JP2003218522 A JP 2003218522A
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JP
Japan
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circuit board
sided circuit
conductor
sided
layer
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Application number
JP2002010813A
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Japanese (ja)
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Takashi Kariya
隆 苅谷
Hiroshi Segawa
博史 瀬川
Masanori Tamaki
昌徳 玉木
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve electrical connectability and reliability on a connection by inhibiting the generation of the warp of the whole board when a plurality of one-surface circuit boards are laminated and multi-layered. <P>SOLUTION: In a multilayer printed-circuit board in which a plurality of one-sided circuit boards with insulating base materials, conductor circuits 28 formed on one surfaces of the base materials, via holes containing a conductive substance 18 filled into openings reaching the conductor circuits from the other surfaces of the base materials and conductive bumps 44 electrically connected to the via holes and formed to project outside the openings and laminated through adhesive layers and unified, the multilayer printed-circuit board, in which the mat surface of a metallic foil 30, in which one surface is mat-finished, is contact-bonded with a surface on the conductive bump side of either one one-sided circuit board in a plurality of the laminated one-sided circuit boards in the metallic foil 30 and which is formed to the conductor circuits with fixed wiring patterns, and its manufacturing method are proposed. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、多層化回路基板
およびその製造方法に関し、特に、インタースティシャ
ルバイアホール(IVH)構造を有する多層化回路基板
およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer circuit board and a method for manufacturing the same, and more particularly to a multilayer circuit board having an interstitial via hole (IVH) structure and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の多層化回路基板は、銅張積層板と
プリプレグを交互に積み重ねて一体化してなる積層体に
よって構成され、その積層体の表面には表層配線パター
ンを有し、層間絶縁層間には内層配線パターンを有して
いる。これらの配線パターンは、積層体の厚さ方向に穿
孔形成したスルーホールを介して、内層配線パターン相
互間あるいは内層配線パターンと表層配線パターンとの
間で電気的に接続されている。
2. Description of the Related Art A conventional multilayer circuit board is composed of a laminated body formed by alternately stacking copper clad laminates and prepregs and integrating them, and has a surface wiring pattern on the surface of the laminated body, There is an inner layer wiring pattern between the layers. These wiring patterns are electrically connected to each other between the inner layer wiring patterns or between the inner layer wiring pattern and the surface layer wiring pattern through through holes formed in the thickness direction of the laminated body.

【0003】ところが、上述したようなスルーホール構
造の多層化回路基板は、スルーホールを形成するための
領域を確保する必要があるために、部品実装の高密度化
が困難であり、携帯用電子機器の超小型化や狭ピッチパ
ッケージおよびMCMの実用化の要請に十分に対処でき
ないという欠点があった。そのため、最近では、上述の
ようなスルーホール構造の多層プリント基板に代えて、
高密度化に対応し易い全層インタースティシャルバイア
ホール(IVH)構造を有する多層プリント基板が注目
されている。
However, in the multilayer circuit board having the through hole structure as described above, it is difficult to increase the density of component mounting because it is necessary to secure a region for forming the through hole, and the portable electronic device However, there is a drawback in that it is not possible to sufficiently meet the demands for miniaturization of devices and practical application of narrow pitch packages and MCMs. Therefore, recently, in place of the above-mentioned multilayer printed circuit board having a through hole structure,
Attention has been focused on a multilayer printed circuit board having an all-layer interstitial via hole (IVH) structure that can easily cope with high density.

【0004】この全層IVH構造を有する多層プリント
基板は、積層体を構成する各層間絶縁層に、導体層間を
電気的に接続するバイアホールが設けられている構造の
プリント基板である。即ち、この基板は、内層配線パタ
ーン相互間あるいは内層配線パターンと表層配線パター
ン間が、基板を貫通しないバイアホール(べリードバイ
アホールあるいはブラインドバイアホール)によって電
気的に接続されてなる。
The multi-layered printed circuit board having the all-layer IVH structure is a printed circuit board having a structure in which via holes for electrically connecting the conductor layers are provided in each interlayer insulating layer forming the laminate. In other words, this substrate is electrically connected to each other between inner layer wiring patterns or between inner layer wiring patterns and surface layer wiring patterns by via holes (lead via holes or blind via holes) that do not penetrate the substrate.

【0005】それ故に、IVH構造の多層プリント基板
は、スルーホールを形成するための領域を特別に設ける
必要がなく、任意の層間を微細なバイアホールで自由に
接続できるため、電子機器の小型化、高密度化、信号の
高速伝搬を容易に実現することができる。こうしたIV
H構造の多層プリント基板は、たとえば、プリプレグと
してアラミド不織布にエポキシ樹脂を含浸させた材料を
用い、このプリプレグにバイアホール形成用開口が穿設
され、そのバイアホール形成用開口内には導電性ペース
トが充填された構造を有している。
Therefore, in the multilayer printed circuit board having the IVH structure, it is not necessary to specially provide a region for forming a through hole, and arbitrary layers can be freely connected by a fine via hole, so that the electronic device can be miniaturized. It is possible to easily realize high density and high speed signal propagation. Such IV
The H-structured multilayer printed circuit board uses, for example, a material obtained by impregnating an aramid nonwoven fabric with epoxy resin as a prepreg, and an opening for forming a via hole is formed in this prepreg, and a conductive paste is formed in the opening for forming the via hole. Has a filled structure.

【0006】上記プリプレグの両面には銅箔が重ね合わ
させ、加熱加圧プレスすることによって、プリプレグの
エポキシ樹脂および導電性ペーストが硬化され両面の銅
箔相互が電気的に接続されている。そして、上記銅箔は
エッチング法によりパターニングされて、バイアホール
を有する硬質の両面回路基板が得られる。
Copper foils are superposed on both surfaces of the prepreg, and the epoxy resin and the conductive paste of the prepreg are hardened by heating and pressing, and the copper foils on both surfaces are electrically connected to each other. Then, the copper foil is patterned by an etching method to obtain a hard double-sided circuit board having via holes.

【0007】このようにして得られた両面回路基板をコ
アとして多層化が行われる。具体的には、上記コア層の
両面に、上述の導電性ペーストを充填したプリプレグを
位置合わせしながら順次に積層し、その積層体と上下に
配設した銅箔とを、加熱加圧プレスし、その後、最上層
の銅箔をエツチングすることで4層の多層化回路基板が
形成される。さらに多層化する場合は、上記の工程を繰
り返し行い、6層または8層の多層化回路基板が形成さ
れる。
The double-sided circuit board thus obtained is used as a core for multilayering. Specifically, both sides of the core layer are sequentially laminated while aligning the prepreg filled with the above-mentioned conductive paste, and the laminate and the copper foils arranged above and below are heated and pressed. After that, the uppermost copper foil is etched to form a four-layered multilayer circuit board. When the number of layers is further increased, the above steps are repeated to form a 6-layer or 8-layer multilayer circuit board.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来技
術によるIVH構造の多層化回路基板を製造するに際し
て、隣接する片面回路基板同士の接続には、正確な位置
合わせを必要とする。しかしながら、一方の面には導体
回路が形成され、他方の面にはバイアホールが形成さ
れ、あるいはそのバイアホール上に導電性バンプが形成
されてなる片面回路基板を少なくとも2層以上積層して
形成した多層化回路基板においては、その最も外側に位
置する表層部分に、バイアホールまたはバイアホール上
に形成された導電性バンプを露出させ、その表層部分
に、半導体素子、コンデンサ、抵抗などの電子部品を実
装したり、BGA、PGAもしくは半田バンプなどの外
部基板との接続用端子を配設する場合がある。そのよう
な場合には、バイアホールの口径に比較して、位置合わ
せの許容範囲が小さいために、未接続もしくは接続不能
となることがあった。
By the way, when manufacturing a multilayer circuit board having an IVH structure according to the above-mentioned prior art, it is necessary to accurately align the adjacent single-sided circuit boards. However, a conductor circuit is formed on one surface, a via hole is formed on the other surface, or a single-sided circuit board having conductive bumps formed on the via hole is formed by stacking at least two layers. In the multilayered circuit board described above, the via hole or the conductive bump formed on the via hole is exposed at the outermost surface layer portion, and the surface layer portion has electronic components such as semiconductor elements, capacitors, and resistors. May be mounted or terminals for connection with an external substrate such as BGA, PGA or solder bumps may be provided. In such a case, as compared with the diameter of the via hole, the allowable range of the alignment is small, so that connection or disconnection may occur.

【0009】また、表層部分にソルダーレジスト層を形
成し、そのソルダーレジスト層に設けた開口からバイア
ホールを露出させ、そのバイアホール上に半田パッドを
形成した構造とする際には、バイアホールと半田パッド
の位置合わせの許容範囲が小さいために、半田パッドの
中心がバイアホールの中心からオフセットされることが
あり、そのような場合には、半田パッドに接続されるバ
イアホールの導体部分面積が小さなり、極端な場合は、
バイアホールと半田パッドとの位置が完全にオフセット
されて、バイアホールが開口から全く露出されないとい
うこともあった。そのような場合には、半田パッドとバ
イアホールとが電気的に未接続となり、上述したような
電子部品や接続用端子の基板表層への実装を実質的に行
うことができないという問題点もあった。
Further, when a solder resist layer is formed on the surface layer portion, a via hole is exposed from an opening provided in the solder resist layer, and a solder pad is formed on the via hole, a via hole is formed. Because the solder pad alignment tolerance is small, the center of the solder pad may be offset from the center of the via hole.In such a case, the conductor portion area of the via hole connected to the solder pad is For small or extreme cases,
The position of the via hole and the solder pad was completely offset, and the via hole was not exposed at all from the opening. In such a case, there is a problem in that the solder pad and the via hole are not electrically connected to each other, and thus the electronic component or the connecting terminal as described above cannot be substantially mounted on the surface layer of the substrate. It was

【0010】また、片面回路基板を少なくとも2層以上
積層して形成した多層化回路基板に、さらに、1層以上
を積層する場合や、もしくは、そのような多層化回路基
板に他の片面回路基板や両面回路基板などを積層し、基
板間に層間樹脂絶縁層を形成して、バイアホールによっ
て電気的接続を行うような構造とする場合には、上記問
題点が顕著に表れ、電気的接続性とその接続信頼性の低
下を招いてしまう。
Further, when one or more layers are further laminated on a multi-layered circuit board formed by laminating at least two layers of one-sided circuit board, or another one-sided circuit board is formed on such a multi-layered circuit board. In the case of stacking double-sided circuit boards, double-sided circuit boards, etc., and forming an interlayer resin insulation layer between the boards, and making an electrical connection by via holes, the above problems become prominent and the electrical connectivity And the connection reliability is reduced.

【0011】さらに、一方の面に導体回路が形成され、
他方の面にバイアホールが形成されたまたはそのバイア
ホール上に導電性バンプが形成された片面回路基板の複
数枚を一方向に積層することによって多層化した回路基
板は、構造的に反りやすいという基本的な問題点を抱え
ている。
Further, a conductor circuit is formed on one surface,
A circuit board in which a multilayer structure is formed by laminating a plurality of single-sided circuit boards, each having a via hole formed on the other surface or conductive bumps formed on the via hole, in one direction is structurally liable to warp. Has a basic problem.

【0012】その結果、基板上に形成した導体回路の破
断や断線、特に、バイアホール部分での接続不良や、充
填金属の剥離などが生じることがあるために、電気的接
続性と接続信頼性を低下させてしまうという問題点があ
る。
As a result, the conductor circuit formed on the substrate may be broken or broken, and in particular, a connection failure may occur at the via hole portion, or the filling metal may be peeled off, resulting in electrical connectivity and connection reliability. There is a problem in that

【0013】そこで、本発明は、上述したような従来技
術が抱える問題点に鑑みなされたものであり、その目的
とするところは、片面回路基板のみを使用して高い歩留
りにて製造できるIVH構造の高密度実装可能な多層化
回路基板およびその製造方法を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the problems of the above-mentioned conventional technique, and an object thereof is an IVH structure which can be manufactured with a high yield by using only a single-sided circuit board. Another object of the present invention is to provide a multi-layer circuit board capable of high-density mounting and a method for manufacturing the same.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】発明者らは、上記目的の
実現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨構
成とする発明に想到した。すなわち、(A)本発明の多
層化回路基板は、絶縁性基材と、その一方の面に形成さ
れた導体回路と、前記絶縁性基材の他方の面から前記導
体回路に達するような開口内に充填された導電性物質を
含んでなるバイアホールと、そのバイアホールに電気的
に接続され、かつ前記開口の外側に突出するように形成
された導電性バンプとを有してなる片面回路基板の複数
枚が、接着剤層を介して積層され、かつ一体化されてな
る多層化回路基板において、一面がマット処理されてな
る金属箔が、そのマット面を前記複数の片面回路基板の
うちのいずれか一の片面回路基板の前記導電性バンプ側
の面に対向した状態で、前記一の片面回路基板に圧着さ
れ、かつ所定の配線パターンを有する導体回路に形成さ
れてなることを特徴とする。
As a result of intensive research aimed at achieving the above-mentioned object, the inventors have come up with an invention having the following contents as a gist configuration. That is, (A) the multilayer circuit board of the present invention has an insulating base material, a conductor circuit formed on one surface thereof, and an opening for reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating base material. A single-sided circuit having a via hole filled with a conductive substance and a conductive bump electrically connected to the via hole and formed so as to project to the outside of the opening. In a multilayer circuit board in which a plurality of boards are laminated via an adhesive layer and integrated, a metal foil whose one surface is matt treated has a matte surface among the plurality of single-sided circuit boards. One of the one-sided circuit board, in a state of facing the surface on the conductive bump side, is crimped to the one-sided circuit board and is formed into a conductor circuit having a predetermined wiring pattern. To do.

【0015】上記金属箔としては、銅、銅を主とする合
金、ニッケルを用いることができる。導体回路を形成す
る上で、他の金属に比較して大きい強度が得られるから
である。特に、銅もしくは銅を主とする合金を用いた金
属箔が好ましい。その一方の表面に形成されるマット面
を、メッキ処理、エッチング処理、あるいは黒化処理の
いずれの処理によっても形成することができるからであ
る。上記金属箔から形成される配線パターンは、エッチ
ング処理、テンティング処理、あるいはアディティブ法
などにより形成されることが望ましい。
As the metal foil, copper, an alloy mainly containing copper, or nickel can be used. This is because in forming a conductor circuit, greater strength can be obtained as compared with other metals. Particularly, a metal foil using copper or an alloy mainly containing copper is preferable. This is because the matte surface formed on one of the surfaces can be formed by any one of plating treatment, etching treatment, and blackening treatment. The wiring pattern formed from the metal foil is preferably formed by an etching process, a tenting process, an additive method, or the like.

【0016】上記(A)に記載の多層化回路基板におい
て、前記金属箔は、最も外側に位置する片面回路基板の
前記導電性バンプ側の面に対して圧着され、かつ所定の
配線パターンを有する最外層の導体回路に形成されるこ
とが望ましく、またその最外層の導体回路上には、半田
バンプ、半田ボールもしくはTピン等の半田体が形成さ
れることが望ましい。さらに、上記金属箔のマット面
は、スズ、亜鉛、ニッケル、リンおよび貴金属類の中か
ら選ばれる少なくとも1種類からなる保護膜によって被
覆されていることが望ましい。
In the multilayer circuit board described in (A) above, the metal foil is pressure-bonded to the surface of the outermost one-sided circuit board on the side of the conductive bumps and has a predetermined wiring pattern. It is desirable to form it on the outermost conductor circuit, and it is desirable to form solder bodies such as solder bumps, solder balls or T pins on the outermost conductor circuit. Furthermore, it is desirable that the matte surface of the metal foil be covered with a protective film made of at least one selected from tin, zinc, nickel, phosphorus and noble metals.

【0017】(B) また、本発明は、絶縁性基材の一
方の面に導体回路を形成し、その絶縁性基材の他方の面
から前記導体回路に達するような開口内に導電性物質を
充填してバイアホールを形成した後、そのバイアホール
ホールに電気的に接続され、かつ前記絶縁性基材の表面
から突出するような導電性バンプを形成してなる片面回
路基板の複数枚を積層し、かつ一体化してなる多層化回
路基板を製造するにあたって、その製造工程中に、少な
くとも以下の(1)〜(3)の工程、すなわち、(1) 上記複
数の片面回路基板を同一の方向に積層させるとともに、
一面がマット処理されてなる金属箔を、そのマット面
を、前記積層された片面回路基板のうちの最も外側に位
置する片面回路基板の前記導電性バンプ側の面に対向し
た状態で積層させる工程と、(2) 上記積層された片
面回路基板と金属箔とを加熱プレスによって一体化し
て、前記金属箔を前記片面回路基板の前記導電性バンプ
側の面に圧着する工程と、(3) 上記圧着された金属箔
を選択的にエッチングして、所定の配線パターンを有す
る表層の導体回路を形成する工程と、を含んでなること
を特徴とする多層化回路基板の製造方法である。
(B) In the present invention, a conductive circuit is formed on one surface of an insulating base material, and a conductive material is provided in an opening reaching the conductive circuit from the other surface of the insulating base material. To form a via hole, and then form a conductive bump electrically connected to the via hole and protruding from the surface of the insulating substrate. When manufacturing a multi-layer circuit board that is laminated and integrated, at least the following steps (1) to (3), that is, (1) the same single-sided circuit board is used during the manufacturing process. While stacking in the direction,
A step of laminating a metal foil, one surface of which is matt-treated, with its matt surface facing the surface of the outermost one-sided circuit board of the laminated one-sided circuit boards on the side of the conductive bumps; And (2) a step in which the laminated single-sided circuit board and the metal foil are integrated by heat pressing, and the metal foil is pressure-bonded to the surface of the single-sided circuit board on the side of the conductive bumps, (3) And a step of selectively etching the pressure-bonded metal foil to form a conductor circuit of a surface layer having a predetermined wiring pattern, which is a method for manufacturing a multilayer circuit board.

【0018】上記(B)に記載の多層化回路基板の製造
方法において、前記(1)の工程の前に、前記金属箔のマ
ット面に対して、スズ、亜鉛、ニッケル、リンおよび貴
金属から選ばれる少なくとも1種類からなる保護膜を被
覆形成する工程を含んでいることが望ましい。樹脂面と
の密着性を低下させることなく、マット面の形状保持が
できるからである。
In the method for manufacturing a multilayer circuit board as described in (B) above, tin, zinc, nickel, phosphorus and noble metals are selected for the matte surface of the metal foil before the step (1). It is desirable that the method includes a step of forming a protective film of at least one kind as described above. This is because the shape of the matte surface can be maintained without lowering the adhesiveness with the resin surface.

【0019】また、前記(3)の工程の後に、前記一体化
した回路基板の表層の導体回路上に、半田バンプ、半田
ボールもしくはTピン等の半田体を形成する工程を含ん
でいることが望ましい。
Further, after the step (3), a step of forming a solder body such as a solder bump, a solder ball or a T pin on the surface conductor circuit of the integrated circuit board may be included. desirable.

【0020】(C)また、本発明は、複数の片面回路基
板を接着剤層を介して積層し、加熱プレスにより一体化
してなる多層化回路基板を製造するにあたって、その製
造工程中に、少なくとも以下の(1)〜(5)の工程、すなわ
ち、(1) 絶縁性基材の一方の面に導体層を形成し、
その絶縁性基材の他方の面から前記導体層に達するよう
な開口内に導電性物質を充填してバイアホールを形成
し、さらにそのバイアホールに電気的に接続され、かつ
前記絶縁性基材の表面から突出するように導電性バンプ
を形成してなる片面回路基板を製造する工程と、(2)
絶縁性基材の一方の面に導体回路を形成し、その絶縁
性基材の他方の面から前記導体回路に達するような開口
内に導電性物質を充填してバイアホールを形成した後、
そのバイアホールホールに電気的に接続され、かつ前記
絶縁性基材の表面から突出するような導電性バンプを形
成してなる片面回路基板を製造する工程と、(3) 前
記(1)の工程で得られた片面回路基板と、前記(2)の
工程で得られた片面回路基板の複数枚とを、前記(1)
の工程で得られた片面回路基板を最上層に位置させ、か
つ同一の方向に積層するとともに、一面がマット処理さ
れてなる金属箔を、そのマット面が、最下層に位置する
前記(2)の工程で得られた片面回路基板の導電性バン
プ側の面に対向した状態で積層する工程と、(4) 前記
積層された片面回路基板と金属箔とを接着剤を介して一
括して加熱プレスすることによって一体化し、前記金属
箔を前記最下層に位置する片面回路基板の前記導電性バ
ンプ側の面に圧着する工程と、(5) 前記最上層に位置
する片面回路基板に形成された導体層および前記最下層
に位置する片面回路基板に圧着された金属箔をエッチン
グ処理して、所定の配線パターンを有する導体回路をそ
れぞれ形成する工程と、を含んでなることを特徴とす
る。
(C) Further, according to the present invention, in manufacturing a multilayer circuit board in which a plurality of single-sided circuit boards are laminated via an adhesive layer and integrated by heating press, at least during the manufacturing process. The following steps (1) to (5), that is, (1) forming a conductor layer on one surface of the insulating substrate,
A conductive material is filled into an opening reaching the conductor layer from the other surface of the insulating base material to form a via hole, and the via hole is electrically connected to the insulating base material. Manufacturing a single-sided circuit board in which conductive bumps are formed so as to protrude from the surface of the substrate, (2)
After forming a conductor circuit on one surface of the insulating base material, after forming a via hole by filling a conductive material in the opening that reaches the conductor circuit from the other surface of the insulating base material,
A step of producing a single-sided circuit board which is electrically connected to the via hole and is formed with conductive bumps protruding from the surface of the insulating base material; and (3) the step (1) The single-sided circuit board obtained in step (1) and the plurality of single-sided circuit boards obtained in step (2) above
The single-sided circuit board obtained in the step of is placed on the uppermost layer, and is laminated in the same direction, and the metal foil whose one surface is matt-treated, the matt surface of which is located on the lowermost layer (2) The step of laminating the single-sided circuit board obtained in the step of facing the surface on the conductive bump side of the single-sided circuit board, and (4) heating the laminated single-sided circuit board and the metal foil together via an adhesive. Integrated by pressing, a step of crimping the metal foil to the surface of the single-sided circuit board located on the lowermost layer on the side of the conductive bumps, (5) formed on the single-sided circuit board located on the uppermost layer And a step of forming a conductor circuit having a predetermined wiring pattern by etching the metal foil that is pressure-bonded to the conductor layer and the one-sided circuit board located at the lowermost layer.

【0021】上記(C)の多層化回路基板の製造方法に
おいて、前記銅箔のマット処理された面に対して、予
め、スズ、亜鉛、ニッケル、リンおよび貴金属から選ば
れる少なくとも1種類からなる保護膜を被覆形成する工
程を含んでいることが望ましい。樹脂面との密着性を低
下させることなく、マット面の形状保持ができるからで
ある。
In the method (C) for manufacturing a multilayer circuit board, the matte-treated surface of the copper foil is protected in advance by at least one selected from tin, zinc, nickel, phosphorus and noble metals. It is desirable to include a step of forming a film by coating. This is because the shape of the matte surface can be maintained without lowering the adhesiveness with the resin surface.

【0022】また、前記(5)の工程の後に、前記導体回
路上に、半田バンプ、半田ボールもしくはTピン等の半
田体を形成する工程を含んでいることが望ましい。
It is preferable that the method further includes the step of forming a solder body such as a solder bump, a solder ball or a T pin on the conductor circuit after the step (5).

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】本発明は、絶縁性基材と、その一
方の面に形成された導体回路と、前記絶縁性基材の他方
の面から前記導体回路に達するような開口内に充填され
た導電性物質を含んでなるバイアホールと、そのバイア
ホールに電気的に接続され、かつ前記開口の外側に突出
するように形成された導電性バンプとを有してなる片面
回路基板の複数枚が、接着剤層を介して積層され、かつ
一体化されてなる多層化回路基板において、一面がマッ
ト処理されてなる金属箔が、そのマット処理された面
(以下、「マット面」と言う)を、積層された複数の片
面回路基板のうちのいずれか一の片面回路基板の導電性
バンプ側の面に対して対向した状態で圧着され、かつ所
定の配線パターンを有する導体回路に形成されてなるこ
とを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION According to the present invention, an insulating base material, a conductor circuit formed on one surface of the insulating base material, and an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating base material are filled. Of single-sided circuit boards, each having a via hole containing the conductive material, and a conductive bump electrically connected to the via hole and formed so as to project to the outside of the opening. In a multi-layered circuit board in which one sheet is laminated and integrated with an adhesive layer, one surface of the metal foil is matt-treated, and the matte-treated surface (hereinafter referred to as "matte surface"). ) Is pressure-bonded in a state of being opposed to the surface on the conductive bump side of one of the laminated single-sided circuit boards, and is formed into a conductor circuit having a predetermined wiring pattern. It is characterized by

【0024】本発明にかかる多層化回路基板を構成する
基本単位としての片面回路基板は、絶縁性基材として、
完全に硬化した樹脂材料から形成される硬質の樹脂基材
を用いることが望ましく、このような樹脂材料の採用に
よって、樹脂基材上に導体回路を形成するための金属箔
を加熱プレス等の一体化処理によって圧着させる際に、
プレス圧等の加圧力による絶縁性基材の最終的な厚みの
変動がなくなるので、ビアホールの位置ずれを最小限度
に抑えて、ビアランド径を小さくできる。したがって配
線ピッチを小さくして配線密度を向上させることができ
る。また、基材の厚みを実質的に一定に保つことができ
るので、後述するような充填ビアホール形成用の開口を
レーザ加工によって形成する場合には、そのレーザ照射
条件の設定が容易となる。
The single-sided circuit board as a basic unit constituting the multilayered circuit board according to the present invention is an insulating base material.
It is desirable to use a hard resin base material formed from a completely cured resin material. By adopting such a resin material, a metal foil for forming a conductor circuit on the resin base material is integrated with a heat press or the like. When crimping by chemical treatment,
Since the final thickness of the insulating base material does not fluctuate due to a pressing force or the like, it is possible to minimize the displacement of the via hole and reduce the via land diameter. Therefore, the wiring pitch can be reduced to improve the wiring density. Further, since the thickness of the base material can be kept substantially constant, it is easy to set the laser irradiation conditions when forming an opening for forming a filled via hole as described later by laser processing.

【0025】このような絶縁性樹脂基材としては、ガラ
ス布エポキシ樹脂基材、ガラス布ビスマレイミドトリア
ジン樹脂基材、ガラス布ポリフェニレンエーテル樹脂基
材、アラミド不織布−エポキシ樹脂基材、アラミド不織
布−ポリイミド樹脂基材から選ばれる硬質基材が使用さ
れることが好ましく、ガラス布エポキシ樹脂基材が最も
好ましい。
As such an insulating resin substrate, a glass cloth epoxy resin substrate, a glass cloth bismaleimide triazine resin substrate, a glass cloth polyphenylene ether resin substrate, an aramid nonwoven fabric-epoxy resin substrate, an aramid nonwoven fabric-polyimide A hard base material selected from resin base materials is preferably used, and a glass cloth epoxy resin base material is most preferable.

【0026】また、上記絶縁性基材の厚さは、20〜6
00μmが望ましい。その理由は、20μm未満の厚さ
では、強度が低下して取扱いが難しくなるとともに、電
気的絶縁性に対する信頼性が低くなるからであり、60
0μmを超えると、微細なビアホール形成用開口が難く
なると共に、基板そのものが厚くなるためである。
The thickness of the insulating base material is 20 to 6
00 μm is desirable. The reason for this is that if the thickness is less than 20 μm, the strength is lowered and the handling becomes difficult, and the reliability of electrical insulation is lowered.
This is because if it exceeds 0 μm, it becomes difficult to form a fine via-hole forming opening and the substrate itself becomes thick.

【0027】上記絶縁性基材の片面に形成される導体層
あるいは導体回路は、絶縁性基材上に適切な樹脂接着剤
を介して金属箔を貼付すること、あるいはその金属箔を
エッチング処理することによってそれぞれ形成される。
上記金属箔としては、銅、銅を主とする合金、ニッケル
を用いることができる。導体回路を形成する上で、他の
金属に比較して大きい強度が得られるからである。上記
導体層は、厚さが5〜18μmの金属箔を、半硬化状態
を保持された樹脂接着剤層を介して絶縁性基材上に加熱
プレスすることによって形成し、また導体回路は、金属
箔を加熱プレスした後、金属箔面に感光性ドライフィル
ムを貼付するか、液状感光性レジストを塗布した後、所
定の配線パターンを有するマスクを載置し、露光・現像
処理することによってめっきレジスト層を形成し、その
後、エッチングレジスト非形成部分の金属箔をエッチン
グ処理することによって形成されるのが望ましい。
The conductor layer or the conductor circuit formed on one surface of the insulating base material is obtained by applying a metal foil on the insulating base material with an appropriate resin adhesive or by etching the metal foil. Formed respectively.
As the metal foil, copper, an alloy mainly containing copper, or nickel can be used. This is because in forming a conductor circuit, greater strength can be obtained as compared with other metals. The conductor layer is formed by hot-pressing a metal foil having a thickness of 5 to 18 μm onto an insulating base material via a resin adhesive layer held in a semi-cured state, and the conductor circuit is made of metal. After heat-pressing the foil, apply a photosensitive dry film to the metal foil surface or apply a liquid photosensitive resist, and then place a mask with a predetermined wiring pattern on it and expose and develop it to form a plating resist. It is preferably formed by forming a layer and then etching the metal foil in the portion where the etching resist is not formed.

【0028】上記金属箔の絶縁性基材上への加熱プレス
は、適切な温度および加圧力のもとで行なわれ、より好
ましくは、減圧下において行なわれ、半硬化状態の樹脂
接着剤層のみを硬化することによって、金属箔を絶縁性
基材に対してしっかりと接着され得るので、従来のプリ
プレグを用いた回路基板に比べて製造時間が短縮され
る。なお、このような絶縁性基材上への金属箔の貼付に
代えて、絶縁性基材上に予め銅箔が貼付された片面銅張
積層板を採用し、その片面銅張積層板をエッチング処理
して導体回路を形成することもできる。
The hot pressing of the metal foil onto the insulating base material is carried out at an appropriate temperature and pressure, more preferably under reduced pressure, and only the semi-cured resin adhesive layer is formed. By curing the metal foil, the metal foil can be firmly adhered to the insulating base material, so that the manufacturing time is shortened as compared with the circuit board using the conventional prepreg. Instead of sticking the metal foil on such an insulating base material, a single-sided copper-clad laminated board on which a copper foil is pasted on the insulating base material is adopted, and the single-sided copper-clad laminated board is etched. It can also be processed to form conductor circuits.

【0029】上記導体回路の各バイアホールに対応した
表面には、導体回路の一部としてのランド(パッド)が、
その口径が50〜250μmの範囲に形成されるのが好
ましい。上記パターン形成のためのエッチングは、硫酸
−過酸化水素、過硫酸塩、塩化第二銅、塩化第二鉄の水
溶液から選ばれる少なくとも1種により行われる。
Lands (pads) as a part of the conductor circuit are formed on the surface corresponding to each via hole of the conductor circuit.
The diameter is preferably formed in the range of 50 to 250 μm. The etching for forming the pattern is performed with at least one selected from an aqueous solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide, persulfate, cupric chloride, and ferric chloride.

【0030】上記導体回路の配線パターン表面には粗化
層が形成され、回路基板相互を接合する接着剤層との密
着性を改善し、剥離(デラミネーション)の発生を防止
することが好ましい。粗化処理方法としては、例えば、
ソフトエッチング処理や、黒化(酸化)一還元処理、銅
−ニッケルーリンからなる針状合金めっき(荏原ユージ
ライト製:商品名インタープレート)の形成、メック社
製の商品名「メックエッチボンド」なるエッチング液に
よる表面粗化がある。
It is preferable that a roughening layer is formed on the surface of the wiring pattern of the conductor circuit to improve the adhesion with the adhesive layer for bonding the circuit boards to each other and prevent the occurrence of delamination. As the roughening treatment method, for example,
Soft etching treatment, blackening (oxidation) -reduction treatment, formation of needle-like alloy plating consisting of copper-nickel-phosphorus (made by EBARA Eugelite: product name Interplate), product name "Mech Etch Bond" manufactured by MEC There is surface roughening due to the etching liquid.

【0031】このような導体回路が形成された絶縁性樹
脂基材の表面と反対側の表面から、導体回路に達するよ
うに形成されるビアホール形成用開口は、パルスエネル
ギーが0.5〜100mJ、パルス幅が1〜100μ
s、パルス間隔が0.5ms以上、ショット数が3〜5
0の条件で照射される炭酸ガスレーザによって形成され
ることが好ましく、その開口径は、50〜250μmの
範囲であることが望ましい。その理由は、50μm未満
では開口に導電性物質を充填し難くなると共に、接続信
頼性が低くなるからであり、250μmを超えると、高
密度化が困難になるからである。
The via hole forming opening formed to reach the conductor circuit from the surface opposite to the surface of the insulating resin substrate on which the conductor circuit is formed has a pulse energy of 0.5 to 100 mJ. Pulse width is 1-100μ
s, pulse interval is 0.5 ms or more, and the number of shots is 3 to 5
It is preferably formed by a carbon dioxide gas laser which is irradiated under the condition of 0, and its opening diameter is preferably in the range of 50 to 250 μm. The reason is that if the thickness is less than 50 μm, it becomes difficult to fill the openings with a conductive substance and the connection reliability is lowered, and if it exceeds 250 μm, it is difficult to achieve high density.

【0032】このような炭酸ガスレーザによる開口形成
の前に、絶縁性基材の導体回路形成面と反対側の面に樹
脂フィルムを粘着させ、その樹脂フィルム上からレーザ
照射を行うのが望ましい。
Before forming an opening by such a carbon dioxide laser, it is desirable to adhere a resin film to the surface of the insulating base material opposite to the surface on which the conductor circuit is formed, and perform laser irradiation from the resin film.

【0033】この樹脂フィルムは、ビアホール形成用の
開口内をデスミア処理し、そのデスミア処理した後の開
口内に電解めっき処理によって金属めっきを充填する際
の保護マスクとして機能し、またビアホールの金属めっ
き層の直上に突起状導体(導電性バンプ)を形成するた
めの印刷用マスクとして機能する。
This resin film functions as a protective mask when the inside of the opening for forming the via hole is desmeared and the inside of the opening after the desmearing is filled with the metal plating by electrolytic plating, and the metal plating of the via hole is performed. It functions as a printing mask for forming a protruding conductor (conductive bump) directly on the layer.

【0034】上記樹脂フィルムは、たとえば、粘着剤層
の厚みが1〜20μmであり、フィルム自体の厚みが1
0〜50μmであるPETフィルムから形成されるのが
好ましい。その理由は、PETフィルムの厚さに依存し
て後述する突起状導体の高さが決まるので、10μm未
満の厚さでは突起状導体が低すぎて接続不良になりやす
く、逆に50μmを超えた厚さでは、接続界面で突起状
導体が拡がりすぎるので、ファインパターンの形成がで
きないからである。
In the above resin film, for example, the pressure-sensitive adhesive layer has a thickness of 1 to 20 μm, and the film itself has a thickness of 1
It is preferably formed from a PET film that is 0 to 50 μm. The reason for this is that the height of the protruding conductors, which will be described later, is determined depending on the thickness of the PET film. Therefore, if the thickness is less than 10 μm, the protruding conductors are too low and connection failure tends to occur. This is because the fine conductor cannot be formed with the thickness because the projecting conductors spread too much at the connection interface.

【0035】上記バイアホール形成用開口内に導電性物
質を充填してバイアホールを形成するには、めっき充填
や導電性ペースト充填が望ましい。充填工程をシンプル
にして、製造コストを低減させ、歩留まりを向上させる
ためには、導電性ペーストの充填が適しているが、接続
信頼性の点ではめっき充填が望ましい。
In order to form a via hole by filling the inside of the via hole forming opening with a conductive substance, it is desirable to fill the plate with a paste or a conductive paste. In order to simplify the filling process, reduce the manufacturing cost, and improve the yield, the filling of the conductive paste is suitable, but the plating filling is preferable from the viewpoint of connection reliability.

【0036】上記めっき充填は、電解めっき処理または
無電解めっき処理のいずれによっても行うことができる
が、電解めっき処理によって形成される金属めっき、た
とえば、すず、銀、半田、銅/すず、銅/銀等の金属め
っきが好ましく、特に、電気的特性が優れているという
点から電解銅めっきが最適である。
The above-mentioned plating filling can be performed by either electrolytic plating treatment or electroless plating treatment, but metal plating formed by electrolytic plating treatment, for example, tin, silver, solder, copper / tin, copper / Metal plating of silver or the like is preferable, and electrolytic copper plating is most preferable because it has excellent electrical characteristics.

【0037】電解めっき処理により充填する場合は、上
記絶縁性基材の銅箔貼付面(導体回路形成面)に予め保
護フィルムを粘着させた状態で、絶縁性基材に形成され
た銅箔をめっきリードとして電解めっきを行う。この銅
箔(金属層)は、絶縁性基材の一方の表面の全域に亘っ
て形成されているため、電流密度が均一となり、バイア
ホール形成用開口を電解めっきにて均一な高さで充填す
ることができる。ここで、電解めっき処理の前に、非貫
通孔内の金属層の表面を酸などで活性化処理しておくと
よい。
In the case of filling by electrolytic plating treatment, the copper foil formed on the insulating base material is preliminarily adhered to the copper foil attaching surface (conductor circuit forming surface) of the insulating base material. Electrolytic plating is performed as a plating lead. Since this copper foil (metal layer) is formed over the entire surface of one surface of the insulating base material, the current density becomes uniform, and the via hole forming openings are filled by electrolytic plating at a uniform height. can do. Here, the surface of the metal layer in the non-through holes may be activated with an acid or the like before the electrolytic plating treatment.

【0038】また、電解めっきした後、開口縁から盛り
上がった電解めっき(金属)を、ベルトサンダー研磨や
バフ研磨等により除去して、平坦化してもよい。
After electroplating, the electroplating (metal) rising from the opening edge may be removed by belt sander polishing, buff polishing or the like to flatten the surface.

【0039】さらに、めっき処理による導電性物質の充
填の代わりに、導電性ペーストを充填する方法、あるい
は電解めっき処理又は無電解めっき処理によって開口の
一部を充填し、残存部分に導電ペーストを充填して行う
こともできる。上記導電性ペーストとしては、銅、ス
ズ、金、銀、ニッケル、各種半田から選ばれる少なくと
も1種以上の金属粒子からなる導電性ペーストを使用で
きる。
Further, instead of the filling of the conductive material by the plating treatment, a method of filling the conductive paste, or a portion of the opening is filled by the electrolytic plating treatment or the electroless plating treatment, and the remaining portion is filled with the conductive paste. You can also do it. As the conductive paste, a conductive paste made of at least one kind of metal particles selected from copper, tin, gold, silver, nickel and various solders can be used.

【0040】また、上記金属粒子としては、金属粒子の
表面に異種金属をコーティングしたものも使用できる。
具体的には銅粒子の表面に金、銀から選ばれる貴金属を
被覆した金属粒子を使用することができる。なお、導電
性ペーストとしては、金属粒子に、エポキシ樹脂などの
熱硬化性樹脂、ポリフェニレンスルフィド(PPS)樹
脂を加えた有機系導電性ペーストが望ましい。
Further, as the above-mentioned metal particles, those obtained by coating the surface of the metal particles with a different metal can be used.
Specifically, metal particles in which the surface of copper particles is coated with a noble metal selected from gold and silver can be used. The conductive paste is preferably an organic conductive paste obtained by adding thermosetting resin such as epoxy resin and polyphenylene sulfide (PPS) resin to metal particles.

【0041】上記レーザ加工によって形成された開口
は、その孔径が20〜150μmの微細径であるため、
導電ペーストを充填する場合には、気泡が残り易いの
で、電解めっきによる充填が実用的である。
Since the opening formed by the laser processing has a fine diameter of 20 to 150 μm,
When the conductive paste is filled, bubbles tend to remain, so filling by electrolytic plating is practical.

【0042】上述した片面回路基板に形成されるビアホ
ールは、その配置密度が、LSIチップ等を搭載すべく
最も外側に積層された片面回路基板については最も大き
く、マザーボードに接続されるべく最も外側の他の片面
回路基板については最も小さくなるように形成される、
すなわち、積層される各回路基板に形成されるビアホー
ル間の距離は、LSIチップ等を搭載する側の回路基板
からマザーボードに接続される側の回路基板に向かうに
つれて大きくなるように形成されることが好ましく、こ
のような構成によれば、配線の引き回し性が向上する、
The via holes formed in the above-mentioned one-sided circuit board have the highest arrangement density in the one-sided circuit board laminated on the outermost side for mounting the LSI chip or the like, and the outermost hole for connecting to the mother board. For other single-sided circuit boards, it is formed to be the smallest
That is, the distance between the via holes formed in each of the laminated circuit boards may be formed so as to increase from the circuit board on which the LSI chip or the like is mounted to the circuit board on the side connected to the motherboard. Preferably, according to such a configuration, the routing performance of the wiring is improved,

【0043】本発明による多層化回路基板を製造する上
で、積層される基本単位となる片面回路基板には、バイ
アホール上に突起状導体、すなわち導電性バンプを設け
て、他の片面回路基板との電気的接続を確保するように
構成することが望ましい。この導電性バンプは、レーザ
照射によって形成された保護フィルムの開口内に、めっ
き充填または導電性ペーストを充填することによって形
成されることが望ましい。
In the production of the multilayer circuit board according to the present invention, a single-sided circuit board which is a basic unit to be laminated is provided with a projecting conductor, that is, a conductive bump, on a via hole, and another single-sided circuit board is provided. It is desirable to configure so as to secure an electrical connection with. It is desirable that the conductive bumps be formed by filling the openings of the protective film formed by laser irradiation with plating or filling a conductive paste.

【0044】上記めっき充填は、電解めっき処理または
無電解めっき処理のいずれによっても行うことができる
が、電解めっき処理が望ましい。電解めっきとしては、
銅、金、ニッケル、スズ、各種半田等の低融点金属を使
用できるが、スズめっき又は半田めっきが最適である。
The plating filling can be performed by either electrolytic plating treatment or electroless plating treatment, but electrolytic plating treatment is preferable. For electrolytic plating,
Low melting point metals such as copper, gold, nickel, tin, and various solders can be used, but tin plating or solder plating is most suitable.

【0045】上記導電性バンプの高さとしては、3〜6
0μmの範囲が望ましい。この理由は、3μm未満で
は、バンプの変形により、バンプの高さのばらつきを許
容することができず、また、60μmを越えると抵抗値
が高くなる上、バンプを形成した際に横方向に拡がって
ショートの原因となるからである。
The height of the conductive bumps is 3 to 6
The range of 0 μm is desirable. The reason for this is that if the thickness is less than 3 μm, variations in bump height cannot be tolerated due to deformation of the bumps, and if it exceeds 60 μm, the resistance value becomes high and the bumps spread laterally when they are formed. This can cause a short circuit.

【0046】上記導電性バンプを導電性ペーストの充填
によって形成する場合には、バイアホールを形成する電
解めっきの高さのばらつきは、充填される導電性ペース
ト量を調整することにより是正され、多数の導電性バン
プの高さをそろえることができる。
When the conductive bumps are formed by filling the conductive paste, variations in the height of the electrolytic plating for forming the via holes are corrected by adjusting the amount of the conductive paste to be filled. The height of the conductive bumps can be made uniform.

【0047】この導電性ペーストからなるバンプは、半
硬化状態であることが望ましい。導電性ペーストは、半
硬化状態でも硬く、熱プレス時に軟化した有機接着剤層
を貫通させることができるからである。また、熱プレス
時に変形して接触面積が増大し、導通抵抗を低くするこ
とができるだけでなく、バンプの高さのばらつきを是正
することができるからである。
The bumps made of this conductive paste are preferably in a semi-cured state. This is because the conductive paste is hard even in a semi-cured state and can penetrate the softened organic adhesive layer during hot pressing. Further, it is because the contact area is increased due to deformation during hot pressing, which can reduce the conduction resistance and can correct the variation in the bump height.

【0048】この他に、例えば、導電性ペーストを所定
位置に開口の設けられたメタルマスクを用いてスクリー
ン印刷する方法、低融点金属である半田ペーストを印刷
する方法の他、半田溶融液に浸漬する方法によって導電
性バンプを形成することができる。上記低融点金属とし
ては、Pb−Sn系半田、Ag−Sn系半田、インジウ
ム半田等を使用することができる。
In addition to this, for example, a method of screen-printing a conductive paste using a metal mask having openings at predetermined positions, a method of printing a solder paste which is a low melting point metal, and immersion in a solder melt The conductive bump can be formed by the method described above. As the low melting point metal, Pb—Sn based solder, Ag—Sn based solder, indium solder or the like can be used.

【0049】本発明にかかる多層化回路基板は、上述し
たような、絶縁性基材の片面に導体回路が形成されてな
る片面回路基板の複数枚が、所定の方向に積層されてな
り、それらの片面回路基板のうちのいずれか一の片面回
路基板の導電性バンプ側の表面に対して、一面がマット
処理されてなる金属箔が、そのマット面を対向させた状
態で圧着され、かつ所定の配線パターンを有する導体回
路に形成されている。
The multilayer circuit board according to the present invention is formed by laminating a plurality of single-sided circuit boards each having a conductor circuit formed on one surface of an insulating base material in a predetermined direction as described above. One surface of the single-sided circuit board of one of the single-sided circuit boards is bonded to a surface of the single-sided circuit board on the side of the conductive bumps, the metal foil being mat-processed with the matted surface facing each other, and having a predetermined size. Is formed in a conductor circuit having a wiring pattern of.

【0050】上記金属箔としては、導体回路を形成する
上で、他の金属に比較して大きい強度が得られる銅、銅
を主とする合金、ニッケルを用いることができる。特
に、銅もしくは銅を主とする合金を用いた金属箔が好ま
しい。その一方の表面に形成されるマット面を、メッキ
処理、エッチング処理、あるいは黒化処理のいずれの処
理によっても形成することができるからである。上記マ
ット面は、それ自体公知であるエッチング処理や、無電
解めっき処理、酸化還元処理等によって形成することが
望ましく、特に、エッチング処理によって形成すること
が望ましい。たとえば、エッチング処理としては、CZ
処理があり、また無電解めっき処理としては、インター
プレート処理があり、酸化還元処理としては、黒化処理
がある。
As the above-mentioned metal foil, copper, an alloy mainly containing copper, or nickel, which has a higher strength than other metals in forming a conductor circuit, can be used. Particularly, a metal foil using copper or an alloy mainly containing copper is preferable. This is because the matte surface formed on one of the surfaces can be formed by any one of plating treatment, etching treatment, and blackening treatment. The matte surface is preferably formed by a known etching treatment, electroless plating treatment, redox treatment, or the like, and particularly preferably an etching treatment. For example, as the etching process, CZ
There is a treatment, the electroless plating treatment includes an interplate treatment, and the redox treatment includes a blackening treatment.

【0051】上記マット処理された金属箔と絶縁性樹脂
基材との間の密着性は、樹脂粘度や、銅箔の厚さ、加熱
プレス圧等によっても異なるが、絶縁性樹脂基材が硬質
の樹脂基材であり、金属箔の厚さが、1〜36μmの範
囲である場合には、金属箔のマット面の表面粗度は、
0.5〜5μmの範囲であり、加熱プレス圧は、1〜1
0MPaの範囲であり、その結果としてのピール強度
は、0.5〜2.0Kgf/cm(4.9×10Pa
〜19.6×10Pa)の範囲であることが望ましい。
The adhesion between the matt-treated metal foil and the insulating resin substrate varies depending on the resin viscosity, the thickness of the copper foil, the heating press pressure, etc., but the insulating resin substrate is hard. When the thickness of the metal foil is in the range of 1 to 36 μm, the surface roughness of the matte surface of the metal foil is
It is in the range of 0.5 to 5 μm, and the heating press pressure is 1 to 1
It is in the range of 0 MPa and the resulting peel strength is 0.5 to 2.0 Kgf / cm 2 (4.9 × 10 4 Pa).
˜19.6 × 10 4 Pa) is desirable.

【0052】上記金属箔のマット面は、積層された複
数の片面回路基板のうちの最も外側に位置する片面回路
基板の導電性バンプ側の面に対して対向した状態で圧着
され、または、積層された複数の片面回路基板のうち
の、より内側に位置する片面回路基板の導電性バンプ側
の面に対して対向した状態で圧着されても良く、そのよ
うに圧着された後に、エッチング処理によって所定の配
線パターンを有する導体回路に形成される。
The matte surface of the metal foil is pressed against the surface of the outermost one-sided circuit board of the laminated one-sided circuit boards on the side of the conductive bumps, or is pressed or laminated. Of the plurality of single-sided circuit boards thus formed, the single-sided circuit board located inside may be crimped in a state of being opposed to the surface on the side of the conductive bumps. It is formed in a conductor circuit having a predetermined wiring pattern.

【0053】上記金属箔のマット面は、片面回路基板の
導電性バンプ側の面だけでなく、その面から突出する導
電性バンプに対しても圧着されるので、その金属箔をエ
ッチング処理して形成される導体回路と導電性バンプ側
の面との間およびその導体回路と導電性バンプとの間の
接合性が向上する。
The matte surface of the metal foil is pressure-bonded not only to the conductive bump-side surface of the single-sided circuit board but also to the conductive bumps protruding from the surface. The bondability between the formed conductor circuit and the surface on the conductive bump side and between the conductor circuit and the conductive bump is improved.

【0054】特に、上記の場合には、同一方向に積層
された複数の片面回路基板と金属箔とを一回の加熱プレ
スによって一体化することができ、その後に、金属箔を
エッチング処理してなる導体回路は、半田バンプ等の半
田体を実装するための導体パッドを少なくとも有する所
望の配線パターンに形成することができる。
In particular, in the above case, a plurality of single-sided circuit boards laminated in the same direction and the metal foil can be integrated by one heating press, and then the metal foil is subjected to etching treatment. The conductor circuit can be formed in a desired wiring pattern having at least a conductor pad for mounting a solder body such as a solder bump.

【0055】一般的に、片面回路基板を同一方向に多層
に積層する場合には、めっき液や洗浄液などに浸漬した
後、乾燥やアニールなどの加熱工程を繰り返すため、金
属層である導体回路が存在しない部分に加わる応力が緩
衝されないために、基板自体が反ってしまい、そのため
に、導体回路の破断、断線、バイアホール部分での接続
不良や充填金属の剥離などが発生してしまい、電気接続
性と信頼性に低下を引き起こしてしまうことがある。
In general, when a single-sided circuit board is laminated in multiple layers in the same direction, the heating process such as drying and annealing is repeated after dipping in a plating solution or a cleaning solution, so that the conductor circuit which is a metal layer is formed. Since the stress applied to the non-existing part is not buffered, the board itself warps, which causes breakage of the conductor circuit, disconnection, defective connection at the via hole part, peeling of the filling metal, etc., and electrical connection. It may cause deterioration in reliability and reliability.

【0056】しかしながら、本願発明のように、同一方
向に積層された複数の片面回路基板の導電性バンプ側の
面に、マット面を有する金属箔を積層し、その積層体を
一回の加熱プレスによって一体化した後に、その圧着し
た金属箔をエッチング処理して導体回路を形成した場合
には、その積層方向への強度が増して、応力が緩衝され
る。
However, as in the present invention, a metal foil having a matte surface is laminated on the surface on the conductive bump side of a plurality of single-sided circuit boards laminated in the same direction, and the laminated body is subjected to one heating press. When the conductor circuit is formed by etching the pressure-bonded metal foil after the integration by, the strength in the stacking direction is increased and the stress is buffered.

【0057】したがって、基板の導電性バンプ側の面に
対する導体回路のピール強度やプル強度が十分に確保さ
れるので、加熱プレスによるバイアホールに対する導体
パッドの位置ずれを防止することができる。また、半田
バンプ等の半田体やICチップ等の電子部品の導体パッド
上への実装時もしくは実装後の強度も十分に確保され、
しかも実装の許容範囲が広がるので確実な電気的接続を
行うことができる。
Therefore, since the peel strength and the pull strength of the conductor circuit with respect to the surface of the substrate on the side of the conductive bumps are sufficiently secured, it is possible to prevent the displacement of the conductor pad with respect to the via hole due to the heating press. Also, sufficient strength is ensured during or after mounting on solder pads such as solder bumps or electronic parts such as IC chips on conductor pads.
Moreover, since the mounting allowable range is widened, reliable electrical connection can be performed.

【0058】また、上記の場合には、同一方向に積層
された複数の片面回路基板と金属箔とを上記の場合と
同様に加熱プレスによって一体化した後に、金属箔をエ
ッチング処理して導体回路を形成し、その導体回路形成
面に対して、上記方向とは反対方向に他の複数の片面回
路基板を積層して加熱プレスによって一体化される。
In the above case, a plurality of single-sided circuit boards laminated in the same direction and the metal foil are integrated by hot pressing in the same manner as in the above case, and then the metal foil is etched to form a conductor circuit. Is formed, and a plurality of other single-sided circuit boards are laminated on the conductor circuit formation surface in the direction opposite to the above direction and integrated by heating and pressing.

【0059】この場合には、より内側に位置する片面回
路基板の導電性バンプ側の面に対して金属箔のマット面
が圧着され、その金属箔をエッチング処理して形成した
導体回路は、それに対して積層される他の片面回路基板
の導電性バンプに接合されるべき導体パッドを少なくと
も有する所望の配線パターンに形成することができる。
In this case, the matte surface of the metal foil is pressure-bonded to the inner surface of the single-sided circuit board on the conductive bump side, and the conductor circuit formed by etching the metal foil is It can be formed into a desired wiring pattern having at least a conductor pad to be bonded to a conductive bump of another one-sided circuit board to be laminated with respect to it.

【0060】したがって、上記の場合と同様に、基板
の導電性バンプ側の面に対する導体回路のピール強度や
プル強度が十分に確保され、加熱プレス等の一体化処理
によるバイアホールに対する導体パッドの位置ずれを防
止することができる。
Therefore, similarly to the above case, the peel strength and pull strength of the conductor circuit with respect to the surface of the substrate on the side of the conductive bumps are sufficiently secured, and the position of the conductor pad with respect to the via hole by the integration processing such as heating press. The shift can be prevented.

【0061】また、この場合には、加熱プレス等の一体
化処理を2回行う必要があるので、正確なスケールファ
クターを必要とするが、上記の場合に比して、高いピ
ール強度やプル強度を得ることができる。
Further, in this case, since it is necessary to perform the integration processing such as heating press twice, an accurate scale factor is required, but higher peel strength and pull strength than those in the above case. Can be obtained.

【0062】上記導体回路を形成する金属箔のマット面
に対して、スズ、亜鉛、ニッケル、リンから選ばれる少
なくとも1種類の保護膜または金や白金等の貴金属から
なる保護膜を被覆形成することが好ましい実施の形態で
ある。
The matte surface of the metal foil forming the conductor circuit is coated with at least one protective film selected from tin, zinc, nickel and phosphorus or a protective film composed of a noble metal such as gold or platinum. Is the preferred embodiment.

【0063】このような保護膜の膜厚は、0.01〜3
μmの範囲が望ましい。その理由は、0.01μm未満
では、マット面の微細な凹凸を完全に被覆できないこと
があり、3μmを越えると、形成したマット面の凹部に
保護膜が充填されて、マット処理効果が相殺されてしま
うことがあるからである。特に好ましい膜厚は、0.0
3〜1μmの範囲である。
The thickness of such a protective film is 0.01 to 3
The range of μm is desirable. The reason is that if it is less than 0.01 μm, it may not be possible to completely cover fine irregularities on the mat surface, and if it exceeds 3 μm, the protective film is filled in the recesses on the formed mat surface, and the mat treatment effect is offset. This is because it may happen. A particularly preferred film thickness is 0.0
It is in the range of 3 to 1 μm.

【0064】上記保護膜のうち、スズからなる保護膜
は、無電解置換めっきによって析出する薄膜層として形
成でき、マット面との密着性にも優れることから、最も
有利に適用することができる。
Of the above protective films, the protective film made of tin can be formed most advantageously because it can be formed as a thin film layer deposited by electroless displacement plating and has excellent adhesion to the matte surface.

【0065】このような含スズめっき膜を形成するため
の無電解めっき浴は、ほうふっ化スズ−チオ尿素液また
は塩化スズ−チオ尿素液を使用し、そのめっき処理条件
は、20℃前後の室温において約5分とし、50℃〜6
0℃程度の高温において約1分とすることが望ましい。
As the electroless plating bath for forming such a tin-containing plating film, tin borofluoride-thiourea solution or tin chloride-thiourea solution is used, and the plating treatment conditions are about 20 ° C. Approximately 5 minutes at room temperature, 50 ℃ ~ 6
It is desirable to set the temperature at about 0 ° C. for about 1 minute.

【0066】このような無電解めっき処理によれば、銅
パターンの表面にチオ尿素の金属錯体形成に基づく銅−
スズ置換反応が起き、スズ薄膜層が形成される。銅-ス
ズ置換反応であるため、凹凸形状を破壊することなくマ
ット面を被覆できる。
According to such an electroless plating treatment, copper-based copper-based thiourea metal complexes are formed on the surface of the copper pattern.
A tin substitution reaction occurs and a tin thin film layer is formed. Since it is a copper-tin substitution reaction, the matte surface can be covered without destroying the uneven shape.

【0067】また、スズ等の金属に代えて使用すること
ができる貴金属は、金あるいは白金であることが望まし
い。これらの貴金属は、銀などに比べて粗化処理液であ
る酸や酸化剤に冒されにくく、またマット面を容易に被
覆できるからである。ただし、貴金属は、コストが嵩む
ために、高付加価値製品にのみ使用されることが多い。
このような金や白金の被膜は、スパッタ、電解あるいは
無電解めっきにより形成することができる。
The noble metal which can be used in place of the metal such as tin is preferably gold or platinum. This is because these noble metals are less likely to be affected by an acid or an oxidizing agent which is a roughening treatment liquid as compared with silver or the like, and can easily coat the matte surface. However, precious metals are often used only in high value-added products due to their high cost.
Such a gold or platinum coating can be formed by sputtering, electrolytic or electroless plating.

【0068】このような被覆層を設けることによって、
マット面の濡れ性が均一となり、バイアホールに対応し
て形成された導電性バンプとの接合性が向上させるだけ
でなく、樹脂絶縁層を構成する芯材に含浸されている樹
脂との接合性も向上させることができるため、電気的接
続性と接続信頼性が大幅に改善される。
By providing such a coating layer,
The wettability of the matte surface becomes uniform, improving not only the bondability with the conductive bumps formed corresponding to the via holes, but also the bondability with the resin impregnated in the core material that constitutes the resin insulation layer. The electrical connection and the connection reliability are significantly improved.

【0069】上記積層・加熱プレスにより形成された多
層化回路基板は、最も外側の回路基板、すなわち、最上
層および最下層に位置する回路基板の表面を覆ってソル
ダーレジスト層を設けることができる。そのソルダーレ
ジスト層は、主として熱硬化性樹脂や感光性樹脂から形
成され、回路基板上のビアホール位置に対応した個所に
開口が形成され、その開口から露出する導体回路(導体
パッド)上に半田バンプ、半田ボール、もしくはT形の
導電性ピン等の半田体が形成される。
In the multilayer circuit board formed by the above-mentioned lamination / heating press, a solder resist layer can be provided to cover the outermost circuit boards, that is, the surfaces of the circuit boards located in the uppermost layer and the lowermost layer. The solder resist layer is mainly formed of a thermosetting resin or a photosensitive resin, an opening is formed at a position corresponding to a via hole position on a circuit board, and a solder bump is formed on a conductor circuit (conductor pad) exposed from the opening. , Solder balls, or solder bodies such as T-shaped conductive pins are formed.

【0070】たとえば、最も外側に位置する回路基板の
うち、LSI等の半導体素子が実装される側にある最上
層の回路基板については、導体パッド上にスズ/銀やス
ズ/鉛のような導電性ペーストを印刷することによって
半田バンプを形成し、その後、リフロー処理することに
よって固定される。
For example, of the outermost circuit boards, the uppermost circuit board on the side where a semiconductor element such as an LSI is mounted has a conductive pad such as tin / silver or tin / lead on the conductor pad. Bumps are formed by printing a conductive paste, and then fixed by reflow processing.

【0071】また、最も外側に位置する回路基板のう
ち、マザーボードに接続される側にある最下層にある他
の回路基板については、ビアホールの直上に位置して、
たとえば、42アロイやリン青銅等の金属材料から形成
されたT形の導電性ピンや、たとえば、金、銀、半田等
の金属材料から形成された導電性ボールを設けることが
できる。
Of the outermost circuit boards, the other circuit board in the lowermost layer on the side connected to the mother board is located directly above the via hole,
For example, a T-shaped conductive pin formed of a metal material such as 42 alloy or phosphor bronze, or a conductive ball formed of a metal material such as gold, silver or solder can be provided.

【0072】以下、本発明にかかる多層化回路基板を製
造する方法の一例について、添付図面を参照にして具体
的に説明する。 (1) 本発明にかかる多層化回路基板を製造するに当
たって、それを構成する基本単位としての片面回路基板
は、絶縁性基材10の片面に銅箔12が貼付けられたも
のを出発材料として用いる(図1(a)参照)。
Hereinafter, an example of a method of manufacturing the multilayer circuit board according to the present invention will be specifically described with reference to the accompanying drawings. (1) In manufacturing a multilayer circuit board according to the present invention, a single-sided circuit board as a basic unit constituting the multilayer circuit board is prepared by using a copper foil 12 attached to one surface of an insulating base material 10 as a starting material. (See FIG. 1 (a)).

【0073】この絶縁性基材10は、たとえば、ガラス
布エポキシ樹脂基材、ガラス布ビスマレイミドトリアジ
ン樹脂基材、ガラス布ポリフェニレンエーテル樹脂基
材、アラミド不織布−エポキシ樹脂基材、アラミド不織
布−ポリイミド樹脂基材から選ばれる硬質な積層基材が
使用され得るが、ガラス布エポキシ樹脂基材が最も好ま
しい。
The insulating base material 10 is, for example, a glass cloth epoxy resin base material, a glass cloth bismaleimide triazine resin base material, a glass cloth polyphenylene ether resin base material, an aramid nonwoven fabric-epoxy resin base material, an aramid nonwoven fabric-polyimide resin. Although rigid laminated substrates selected from the substrates can be used, glass cloth epoxy resin substrates are most preferred.

【0074】上記絶縁性基材10の厚さは、20〜60
0μmが望ましい。その理由は、20μm未満の厚さで
は、強度が低下して取扱が難しくなるとともに、電気的
絶縁性に対する信頼性が低くなり、600μmを超える
厚さでは微細なビアホールの形成および導電性ペースト
の充填が難しくなるとともに、基板そのものが厚くなる
ためである。
The insulating base material 10 has a thickness of 20 to 60.
0 μm is desirable. The reason is that if the thickness is less than 20 μm, the strength is reduced and handling becomes difficult, and the reliability of electrical insulation is reduced, and if the thickness exceeds 600 μm, formation of fine via holes and filling of conductive paste are performed. It becomes difficult and the substrate itself becomes thick.

【0075】また銅箔12の厚さは、5〜18μmが望
ましい。その理由は、後述するようなレーザ加工を用い
て、絶縁性基材にビアホール形成用の開口を形成する際
に、薄すぎると貫通してしまうからであり、逆に厚すぎ
るとエッチングにより、微細な線幅の導体回路パターン
を形成し難いからである。
The thickness of the copper foil 12 is preferably 5 to 18 μm. The reason is that, when forming an opening for forming a via hole in an insulating base material by using laser processing as described below, it penetrates if it is too thin, and conversely if it is too thick, it becomes fine by etching. This is because it is difficult to form a conductor circuit pattern having a large line width.

【0076】上記絶縁性基材10および銅箔12として
は、特に、エポキシ樹脂をガラスクロスに含潰させてB
ステージとしたプリプレグと、銅箔とを積層して加熱プ
レスすることにより得られる片面銅張積層板を用いるこ
とが好ましい。その理由は、銅箔12がエッチングされ
た後の取扱中に、配線パターンやビアホールの位置がず
れることがなく、位置精度に優れるからである。
As the insulating base material 10 and the copper foil 12, in particular, an epoxy resin is impregnated in a glass cloth to form B.
It is preferable to use a single-sided copper-clad laminate obtained by laminating a prepreg used as a stage and a copper foil and heating and pressing. The reason is that the wiring pattern and the via hole are not displaced during the handling after the copper foil 12 is etched, and the positional accuracy is excellent.

【0077】(2) 次に、絶縁性基材10の銅箔12
が貼付けられた表面と反対側の表面に、透明な保護フィ
ルム14を貼付ける。この保護フィルム14は、粘着剤
層の厚みが1〜20μm、フィルム自体の厚みが10〜
50μmであるようなポリエチレンテレフタレート(P
ET)フィルムが使用される。
(2) Next, the copper foil 12 of the insulating base material 10
A transparent protective film 14 is attached to the surface opposite to the surface to which is attached. In this protective film 14, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 1 to 20 μm, and the thickness of the film itself is 10 to 10.
Polyethylene terephthalate (P
ET) film is used.

【0078】(3) 次いで、絶縁性基材10上に貼付
けられたPETフィルム14上から炭酸ガスレーザ照射
を行って、PETフィルム14を貫通して、絶縁性基材
10の表面から銅箔12(あるいは導体回路パターン)
に達する開口16を形成する(図1(b)参照)。このレ
ーザ加工は、パルス発振型炭酸ガスレーザ加工装置によ
って行われ、その加工条件は、パルスエネルギーが0.
5〜100mJ、パルス幅が1〜100μs、パルス間
隔が0.5ms以上、ショット数が3〜50の範囲内で
あることが望ましい。このような加工条件のもとで形成
され得るビア形成用開口16の口径は、50〜250μ
mであることが望ましい。なお、上記保護フィルム14
は、後述するような半田バンプを導電性ペーストの印刷
によって形成する場合には、その印刷用マスクとして使
用され得る。
(3) Next, carbon dioxide gas laser irradiation is performed from the PET film 14 attached on the insulating base material 10 to penetrate the PET film 14 and the copper foil 12 ( Or conductor circuit pattern)
The opening 16 is formed (see FIG. 1B). This laser processing is performed by a pulse oscillation type carbon dioxide gas laser processing apparatus, and the processing condition is that the pulse energy is 0.
It is desirable that the pulse width is 5 to 100 mJ, the pulse width is 1 to 100 μs, the pulse interval is 0.5 ms or more, and the number of shots is 3 to 50. The diameter of the via forming opening 16 that can be formed under such processing conditions is 50 to 250 μm.
It is desirable that it is m. The protective film 14
Can be used as a printing mask for forming solder bumps, which will be described later, by printing a conductive paste.

【0079】(4) 前記(3)の工程で形成された開
口16の側面および底面に残留する樹脂残滓を除去する
ために、デスミア処理を行う。このデスミア処理は、酸
素プラズマ放電処理、コロナ放電処理、紫外線レーザ処
理またはエキシマレーザ処理等の乾式処理によって行わ
れることが望ましい。
(4) In order to remove the resin residue remaining on the side surface and the bottom surface of the opening 16 formed in the step (3), desmear processing is performed. This desmear treatment is preferably performed by a dry treatment such as oxygen plasma discharge treatment, corona discharge treatment, ultraviolet laser treatment, or excimer laser treatment.

【0080】(5) 次に、デスミア処理した基板の銅
箔面に対して、めっき保護フィルムとしてのPETフィル
ム15を貼付した後、銅箔12をめっきリードとする電
解銅めっき処理を施して、開口16内に電解銅めっき1
8を充填して、充填ビアホール20を形成する(図1
(c)参照)。なお、電解銅めっき処理の後、基板に貼
付したPETフィルム14を剥離させ、開口16の上部
に盛り上がった電解銅めっき18を、ベルトサンダー研
磨やバフ研磨等によって除去して平坦化してもよい。
(5) Next, a PET film 15 as a plating protection film is attached to the copper foil surface of the desmeared substrate, and then electrolytic copper plating treatment using the copper foil 12 as a plating lead is performed. Electrolytic copper plating in opening 16 1
8 to fill the via hole 20 (FIG. 1).
(See (c)). After the electrolytic copper plating treatment, the PET film 14 attached to the substrate may be peeled off, and the electrolytic copper plating 18 rising above the opening 16 may be removed and flattened by belt sander polishing, buff polishing, or the like.

【0081】(6) 上記(5)の電解銅めっき処理を
施した後、銅めっき18をめっきリードとする電解半田
(Sn/Pb)めっき処理を施して、電解半田めっきか
らなる突起状導体、すなわち、半田バンプ24を電解銅
めっき表面から僅かに突出するように形成する(図1
(d)参照)。
(6) After performing the electrolytic copper plating treatment of (5) above, electrolytic solder (Sn / Pb) plating treatment using the copper plating 18 as a plating lead is performed to form a protruding conductor formed of electrolytic solder plating. That is, the solder bumps 24 are formed so as to slightly project from the surface of the electrolytic copper plating (see FIG. 1).
(See (d)).

【0082】(7) 次いで、絶縁性基材10の半田バ
ンプ24を含んだ表面に樹脂接着剤を塗布して接着剤層
26を形成した後、絶縁性基材10の銅箔12上に貼付
したPETフィルム15を剥離させる(図1(e)参
照)。このような樹脂接着剤は、例えば、絶縁性基材1
0の半田バンプ24を含んだ表面全体または半田バンプ
24を含まない表面に塗布され、乾燥化された状態の未
硬化樹脂からなる接着剤層として形成される。この接着
剤層は、取扱が容易になるため、プレキュアしておくこ
とが好ましく、その厚さは、5〜50μmの範囲が望ま
しい。
(7) Next, a resin adhesive is applied to the surface of the insulating base material 10 including the solder bumps 24 to form an adhesive layer 26, which is then attached on the copper foil 12 of the insulating base material 10. The PET film 15 is peeled off (see FIG. 1E). Such a resin adhesive is, for example, an insulating base material 1.
0 is formed on the entire surface including the solder bumps 24 or the surface not including the solder bumps 24 as an adhesive layer made of an uncured resin in a dried state. This adhesive layer is preferably pre-cured because it is easy to handle, and its thickness is preferably in the range of 5 to 50 μm.

【0083】前記接着剤層26は、有機系接着剤からな
ることが望ましく、有機系接着剤としては、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、熱硬化型ポリフェノレンエーテル
(PPE)、エポキシ樹脂と熱可塑性樹脂との複合樹
脂、エポキシ樹脂とシリコーン掛脂との複合樹脂、BT
レジンから選ばれる少なくとも1種の樹脂であることが
望ましい。有機系接着剤である未硬化樹脂の塗布方法
は、カーテンコータ、スピンコータ、ロールコータ、ス
プレーコート、スクリーン印刷などを使用できる。ま
た、接着剤層の形成は、接着剤シートをラミネートする
ことによってもできる。
The adhesive layer 26 is preferably made of an organic adhesive. As the organic adhesive, epoxy resin, polyimide resin, thermosetting polyphenolene ether (PPE), epoxy resin and thermoplastic resin are used. Composite resin, composite resin of epoxy resin and silicone resin, BT
It is desirable that it is at least one resin selected from resins. A curtain coater, a spin coater, a roll coater, spray coating, screen printing, etc. can be used for the coating method of the uncured resin which is an organic adhesive. The adhesive layer can also be formed by laminating an adhesive sheet.

【0084】上記(1)〜(7)の工程にしたがって作
製された片面回路基板Aは、絶縁性基材10の一方の表
面に導体層としての銅箔を有し、他方の表面から銅箔に
達する開口に充填バイアホールを有するとともに、その
充填バイアホール上に半田めっきからなる半田バンプ2
4を有し、さらに半田バンプ24を含んだ絶縁性基材1
0の表面に接着剤層26を有して形成され、本発明にか
かる多層化回路基板を作製する際に、最上層に位置して
積層される回路基板となる。
The single-sided circuit board A manufactured according to the above steps (1) to (7) has a copper foil as a conductor layer on one surface of the insulating base material 10, and a copper foil from the other surface. Solder bumps 2 formed by solder plating on the filled via holes while having filled via holes in the openings reaching
Insulating substrate 1 having solder bumps 24
When the multi-layered circuit board according to the present invention is manufactured, the circuit board is formed with the adhesive layer 26 on the surface of No. 0 and is laminated on the uppermost layer.

【0085】次に、上記片面回路基板Aの下層に積層さ
れる他の片面回路基板Bを作製する。 (8) まず、上記(1)〜(6)の工程と同様に処理
した後(図2(a)〜(d)参照)、絶縁性基材10の
半田バンプ24形成面に、エッチング保護フィルム25
を貼付け、銅箔12を所定の回路パターンのマスクで披
覆した後、エッチング処理を施して、導体回路28(ビ
アランドを含む)を形成する(図2(e)参照)。
Next, another one-sided circuit board B laminated on the lower layer of the one-sided circuit board A is prepared. (8) First, after performing the same processing as the above steps (1) to (6) (see FIGS. 2A to 2D), an etching protection film is formed on the surface of the insulating base material 10 on which the solder bumps 24 are formed. 25
Is attached, the copper foil 12 is covered with a mask having a predetermined circuit pattern, and then an etching process is performed to form a conductor circuit 28 (including via land) (see FIG. 2E).

【0086】この処理工程においては、先ず、銅箔12
の表面に感光性ドライフィルムレジストを貼付した後、
所定の回路パターンに沿って露光、現像処理してエッチ
ングレジストを形成し、エッチングレジスト非形成部分
の金属層をエッチングして、ビアランドを含んだ導体回
路パターン28を形成する。このエッチング液として
は、硫酸一過酸化水素、過硫酸塩、塩化第二銅、塩化第
二鉄の水溶液から選ばれる少なくとも1種の水溶液が望
ましい。
In this processing step, first, the copper foil 12
After sticking the photosensitive dry film resist on the surface of
An exposure resist is developed along a predetermined circuit pattern to form an etching resist, and a metal layer in a portion where the etching resist is not formed is etched to form a conductor circuit pattern 28 including a via land. The etching liquid is preferably at least one aqueous solution selected from aqueous solutions of sulfuric acid monohydrogen peroxide, persulfate, cupric chloride, and ferric chloride.

【0087】上記銅箔12をエッチングして導体回路2
8を形成する前処理として、ファインパターンを形成し
やすくするため、あらかじめ、銅箔の表面全面をエッチ
ングして厚さを1〜10μm、より好ましくは2〜8μ
m程度まで薄くすることができる。導体回路の一部とし
てのビアランドは、その内径がビアホール口径とほぼ同
様であるが、その外径は、50〜250μmの範囲に形
成されることが好ましい。
The copper foil 12 is etched to form the conductor circuit 2.
As a pretreatment for forming 8, in order to facilitate formation of a fine pattern, the entire surface of the copper foil is etched in advance to a thickness of 1 to 10 μm, more preferably 2 to 8 μm.
It can be thinned to about m. The via land as a part of the conductor circuit has an inner diameter substantially similar to the via hole diameter, but the outer diameter is preferably formed in the range of 50 to 250 μm.

【0088】(9) 上記(8)で形成した導体回路2
8の表面に対して、無電解めっき処理によってスズ薄膜
層(図示を省略)を形成する。このような含スズめっき
膜を形成するための無電解めっき浴は、ほうふっ化スズ
−チオ尿素液または塩化スズ−チオ尿素液を使用し、そ
のめっき処理条件は、20℃前後の室温において約5分
とし、50℃〜60℃程度の高温において約1分とする
ことが望ましい。このような無電解めっき処理によれ
ば、銅パターンの表面にチオ尿素の金属錯体形成に基づ
く銅−スズ置換反応が起き、厚さ0.01〜1μmのス
ズ薄膜層が形成される。
(9) Conductor circuit 2 formed in (8) above
A tin thin film layer (not shown) is formed on the surface of No. 8 by electroless plating. An electroless plating bath for forming such a tin-containing plating film uses tin borofluoride-thiourea solution or tin chloride-thiourea solution, and the plating treatment condition is about 20 ° C. at room temperature. It is desirable that the time is 5 minutes, and the time is about 1 minute at a high temperature of 50 ° C. to 60 ° C. According to such electroless plating treatment, a copper-tin substitution reaction based on the formation of a metal complex of thiourea occurs on the surface of the copper pattern, and a tin thin film layer having a thickness of 0.01 to 1 μm is formed.

【0089】なお、上記(7)の工程で形成した導体回路
28の表面に対して必要に応じて粗化処理を施し、その
粗化層上に上記(8)の工程で形成したスズ層を形成す
ることもできる。また、スズ層に代えて、亜鉛、ニッケ
ル、リンから選ばれる少なくとも1種類からなる保護膜
または金や白金等の貴金属からまる保護膜で被覆するの
が望ましい。上記粗化処理は、多層化する際に、接着剤
層との密着性を改善し、剥離(デラミネーション)を防
止するためである。粗化処理方法としては、例えば、ソ
フトエッチング処理や、黒化(酸化)一還元処理、銅−
ニッケルーリンからなる針状合金めっき(荏原ユージラ
イト製:商品名インタープレート)の形成、メック社製
の商品名「メックエッチボンド」なるエッチング液によ
る表面粗化がある。
The surface of the conductor circuit 28 formed in the above step (7) is subjected to a roughening treatment if necessary, and the tin layer formed in the above step (8) is formed on the roughened layer. It can also be formed. Further, instead of the tin layer, it is desirable to coat with a protective film made of at least one selected from zinc, nickel and phosphorus or a protective film made of a noble metal such as gold or platinum. The roughening treatment is to improve adhesion with the adhesive layer and prevent peeling (delamination) when forming a multilayer structure. Examples of the roughening treatment method include soft etching treatment, blackening (oxidation) -reduction treatment, and copper-
There is formation of needle-like alloy plating made of nickel-phosphorus (made by EBARA Eugelite: trade name Interplate) and surface roughening by an etching solution called "Mec Etch Bond" manufactured by MEC.

【0090】上記粗化層の形成は、エッチング液を用い
て形成されるのが好ましく、たとえば、導体回路の表面
を第二銅錯体と有機酸の混合水溶液からエッチング液を
用いてエッチング処理することによって形成することが
できる。かかるエッチング液は、スプレーやバブリング
などの酸素共存条件下で、銅導体回路パターンを溶解さ
せることができ、反応は、次のように進行するものと推
定される。 Cu+Cu(II)A →2Cu(I)An/2 2Cu(I)An/2 +n/4O +nAH (エ
アレーション)→2Cu(II)A +n/2HO 式中、Aは錯化剤(キレート剤として作用)、nは配位
数を示す。
The roughening layer is preferably formed by using an etching solution. For example, the surface of the conductor circuit is etched from a mixed aqueous solution of a cupric complex and an organic acid using the etching solution. Can be formed by. It is presumed that such an etching solution can dissolve the copper conductor circuit pattern under oxygen coexisting conditions such as spraying and bubbling, and the reaction proceeds as follows. Cu + Cu (II) A n → 2Cu (I) A n / 2 2Cu (I) A n / 2 + n / 4O 2 + nAH (aeration) → 2Cu (II) A n + n / 2H 2 O In the formula, A is complexed. Agent (acts as a chelating agent), n represents a coordination number.

【0091】上式に示されるように、発生した第一銅錯
体は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体と
なって、再び銅の酸化に寄与する。本発明において使用
される第二銅錯体は、アゾール類の第二銅錯体がよい。
この有機酸−第二銅錯体からなるエッチング液は、アゾ
ール類の第二銅錯体および有機酸(必要に応じてハロゲ
ンイオン)を、水に溶解して調製することができる。こ
のようなエッチング液は、たとえば、イミダゾール銅
(II)錯体 10重量部、グリコール酸 7重量部、塩
化カリウム 5重量部を混合した水溶液から形成され
る。
As shown in the above equation, the generated cuprous complex is dissolved by the action of acid and is combined with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to the oxidation of copper. The cupric complex used in the present invention is preferably a cupric complex of azoles.
The etching solution containing the organic acid-cupric acid complex can be prepared by dissolving the cupric complex of an azole and the organic acid (halogen ion as necessary) in water. Such an etching solution is, for example, imidazole copper.
It is formed from an aqueous solution in which 10 parts by weight of the (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride are mixed.

【0092】(10) 次いで、半田バンプ24を含ん
だ絶縁性基材10の表面から保護フィルムを剥離させた
後、その絶縁性基材10の表面に樹脂接着剤26を塗布
する(図2(f)参照)。このような樹脂接着剤は、例
えば、絶縁性基材10の半田バンプ24を含んだ表面全
体または半田バンプ24を含まない表面に塗布され、乾
燥化された状態の未硬化樹脂からなる接着剤層として形
成される。この接着剤層は、取扱が容易になるため、プ
レキュアしておくことが好ましく、その厚さは、5〜5
0μmの範囲が望ましい。
(10) Next, after peeling off the protective film from the surface of the insulating base material 10 including the solder bumps 24, the resin adhesive 26 is applied to the surface of the insulating base material 10 (see FIG. See f)). Such a resin adhesive is applied to, for example, the entire surface of the insulating substrate 10 including the solder bumps 24 or the surface not including the solder bumps 24, and an adhesive layer made of an uncured resin in a dried state. Formed as. This adhesive layer is preferably pre-cured because it is easy to handle, and its thickness is 5 to 5
The range of 0 μm is desirable.

【0093】前記接着剤層26は、有機系接着剤からな
ることが望ましく、有機系接着剤としては、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、熱硬化型ポリフェノレンエーテル
(PPE)、エポキシ樹脂と熱可塑性樹脂との複合樹
脂、エポキシ樹脂とシリコーン掛脂との複合樹脂、BT
レジンから選ばれる少なくとも1種の樹脂であることが
望ましい。有機系接着剤である未硬化樹脂の塗布方法
は、カーテンコータ、スピンコータ、ロールコータ、ス
プレーコート、スクリーン印刷などを使用できる。ま
た、接着剤層の形成は、接着剤シートをラミネートする
ことによってもできる。
The adhesive layer 26 is preferably made of an organic adhesive. As the organic adhesive, an epoxy resin, a polyimide resin, a thermosetting polyphenolene ether (PPE), an epoxy resin and a thermoplastic resin are used. Composite resin, composite resin of epoxy resin and silicone resin, BT
It is desirable that it is at least one resin selected from resins. A curtain coater, a spin coater, a roll coater, spray coating, screen printing, etc. can be used for the coating method of the uncured resin which is an organic adhesive. The adhesive layer can also be formed by laminating an adhesive sheet.

【0094】上記(8)〜(10)の工程にしたがって
作製された片面回路基板Bは、絶縁性基材10の一方の
表面に導体回路を有し、他方の表面には半田めっきから
なる半田バンプ24を有し、さらに半田バンプ24を含
んだ絶縁性基材10の表面に接着剤層26を有して形成
される。
The single-sided circuit board B produced by the steps (8) to (10) has a conductor circuit on one surface of the insulating base material 10 and solder formed by solder plating on the other surface. The bumps 24 are formed, and the adhesive layer 26 is formed on the surface of the insulating base 10 including the solder bumps 24.

【0095】(11) 上記片面回路基板Bの複数枚、
例えばB1、B2、B3、B4の4枚を上記片面回路基板Aの
半田バンプ側の表面に対して同一方向に積層すると共
に、最下層に位置する片面回路基板B4の半田バンプ側
の表面に対して、表面粗度が3μmのマット面を有する
厚さが5〜18μmの銅箔30を、そのマット面を対向
させた状態で積層し、加熱温度150〜250℃、圧力
1〜10MPaの条件のもとで、一回の加熱プレスによ
って、片面回路基板Aと、複数枚の片面回路基板B1、
B2、B3、B4と、銅箔30とを一体化する。
(11) A plurality of the single-sided circuit boards B,
For example, four sheets of B1, B2, B3, B4 are laminated in the same direction with respect to the surface of the single-sided circuit board A on the solder bump side, and on the surface of the single-sided circuit board B4 located on the lowermost layer on the solder bump side. Then, a copper foil 30 having a matte surface having a surface roughness of 3 μm and a thickness of 5 to 18 μm is laminated with the matte surfaces facing each other, and the heating temperature is 150 to 250 ° C. and the pressure is 1 to 10 MPa. Under a single heating press, the single-sided circuit board A and the plurality of single-sided circuit boards B1,
B2, B3, B4 and the copper foil 30 are integrated.

【0096】この場合には、最下層に位置する片面回路
基板B4の半田バンプ側の表面には、接着剤層26に代
えて、半硬化状態を保持された他の樹脂接着剤層32が
形成され、この樹脂接着剤層32を介して銅箔30が加
熱プレスされることが望ましい。
In this case, another resin adhesive layer 32, which is maintained in a semi-cured state, is formed in place of the adhesive layer 26 on the surface of the single-sided circuit board B4 located at the lowermost layer on the solder bump side. Then, it is desirable that the copper foil 30 is hot pressed through the resin adhesive layer 32.

【0097】このような加熱プレスは、適切な温度およ
び加圧力のもとで行なわれ、より好ましくは、減圧下に
おいて行なわれ、未硬化状態の樹脂接着剤層26および
樹脂接着剤層32を硬化することによって、片面回路基
板Aと片面回路基板Bとの間が接着されると共に、最下
層の片面回路基板B1、B2、B3、B4と銅箔30と
が接着される。その際、銅箔30は硬化した接着剤層3
2を介して片面回路基板B4の絶縁性基材10に接着さ
れると共に、銅箔30と半田バンプ24とが電気的に接
続される。
Such hot pressing is carried out under appropriate temperature and pressure, more preferably under reduced pressure, to cure the uncured resin adhesive layer 26 and the resin adhesive layer 32. By doing so, the one-sided circuit board A and the one-sided circuit board B are bonded together, and the lowermost one-sided circuit boards B1, B2, B3, B4 and the copper foil 30 are bonded together. At that time, the copper foil 30 is the cured adhesive layer 3
The copper foil 30 and the solder bumps 24 are electrically connected to each other while being adhered to the insulating base material 10 of the single-sided circuit board B4 via 2.

【0098】(12) 上記(11)において一体化さ
れた回路基板の最上層の銅箔12と最下層の銅箔30
を、エッチング処理することによって、多層回路基板の
上層および下層に導体回路36および導体回路38(共
にビアランドを含む)を形成する(図(b)参照)。
(12) The uppermost copper foil 12 and the lowermost copper foil 30 of the circuit board integrated in (11) above.
Is etched to form conductor circuits 36 and 38 (both including via lands) in the upper and lower layers of the multilayer circuit board (see FIG. (B)).

【0099】この処理工程においては、先ず、銅箔12
および銅箔30の表面に感光性ドライフィルムレジスト
を貼付した後、所定の回路パターンに沿って露光、現像
処理してエッチングレジストを形成し、エッチングレジ
スト非形成部分の金属層をエッチングして、ビアランド
を含んだ導体回路36および導体回路38を形成する。
In this processing step, first, the copper foil 12
After a photosensitive dry film resist is attached to the surface of the copper foil 30, the resist is exposed and developed along a predetermined circuit pattern to form an etching resist, and the metal layer in the portion where the etching resist is not formed is etched to form a via land. To form a conductor circuit 36 and a conductor circuit 38.

【0100】(13) 次に、最も外側の回路基板Aお
よびB4の表面にソルダーレジスト層37および39を
それぞれ形成する。この場合、回路基板AおよびB4の外
表面全体にソルダーレジスト組成物を塗布し、その塗膜
を乾燥した後、この塗膜に、開口部を描画したフォトマ
スクフィルムを載置して露光、現像処理することによ
り、導体回路36および38のうち、ビアホール直上の
半田パッド部分を露出させた開口40および42をそれ
ぞれ形成する。
(13) Next, solder resist layers 37 and 39 are formed on the surfaces of the outermost circuit boards A and B4, respectively. In this case, the solder resist composition is applied to the entire outer surfaces of the circuit boards A and B4, the coating film is dried, and then a photomask film having an opening is placed on the coating film for exposure and development. By the processing, openings 40 and 42 exposing the solder pad portions directly above the via holes in the conductor circuits 36 and 38 are formed, respectively.

【0101】(14) 上記(12)の処理で得られたソル
ダーレジスト37および39の開口40および42から
ビアホール直上に露出した半田パッド部分に、導電性バ
ンプ44、導電性ボール46あるいは導電性ピンを配設
する前に、各半田パッド部上に「ニッケル−金」からな
る金属層50を形成することが好ましい。
(14) The conductive bumps 44, the conductive balls 46, or the conductive pins are formed on the solder pad portions exposed right above the via holes through the openings 40 and 42 of the solder resists 37 and 39 obtained by the process (12). It is preferable to form a metal layer 50 made of "nickel-gold" on each solder pad portion before disposing.

【0102】このニッケル層の厚みは1〜7μmが望ま
しく、金層の厚みは0.01〜0.06μmが望まし
い。この理由は、ニッケル層は、厚すぎると抵抗値の増
大を招き、薄すぎると剥離しやすいからである。一方金
層は、厚すぎるとコスト増になり、薄すぎると半田体と
の密着効果が低下するからである。
The thickness of the nickel layer is preferably 1 to 7 μm, and the thickness of the gold layer is preferably 0.01 to 0.06 μm. The reason for this is that if the nickel layer is too thick, the resistance value will increase, and if it is too thin, it will easily peel off. On the other hand, if the gold layer is too thick, the cost will increase, and if it is too thin, the adhesion effect with the solder body will decrease.

【0103】(15) 上記半田パッド部上に設けたニ
ッケル−金からなる金属層50上に、半田体を供給し、
この半田体の溶融・固化によって導電性バンプ44を形
成し、あるいは導電性ボール46または導電性ピンを半
田パッド部に接合して、多層回路基板60が形成され
る。
(15) A solder body is supplied onto the metal layer 50 made of nickel-gold provided on the solder pad portion,
The conductive bumps 44 are formed by melting and solidifying the solder body, or the conductive balls 46 or the conductive pins are joined to the solder pad portions to form the multilayer circuit board 60.

【0104】上記半田体の供給方法としては、半田転写
法や印刷法を用いることができる。ここで、半田転写法
は、プリプレグに半田箔を貼合し、この半田箔を開口部
分に相当する箇所のみを残してエッチングすることによ
り、半田パターンを形成して半田キャリアフィルムと
し、この半田キャリアフィルムを、基板のソルダーレジ
スト開口部分にフラックスを塗布した後、半田パターン
がパッドに接触するように積層し、これを加熱して転写
する方法である。
As a method of supplying the solder body, a solder transfer method or a printing method can be used. Here, in the solder transfer method, a solder foil is attached to a prepreg, and the solder foil is etched by leaving only a portion corresponding to an opening to form a solder pattern to form a solder carrier film. In this method, a flux is applied to the solder resist opening portion of the substrate, then the solder patterns are laminated so that the solder patterns come into contact with the pads, and this is heated and transferred.

【0105】一方、印刷法は、パッドに相当する箇所に
開口を設けた印刷マスク(メタルマスク) を基板に載
置し、半田ペーストを印刷して加熱処理する方法であ
る。半田としては、スズ−銀、スズ−インジウム、スズ
−亜鉛、スズ−ビスマスなどが使用できる。
On the other hand, the printing method is a method in which a printing mask (metal mask) having an opening provided at a position corresponding to a pad is placed on a substrate, a solder paste is printed, and heat treatment is performed. As the solder, tin-silver, tin-indium, tin-zinc, tin-bismuth and the like can be used.

【0106】すなわち、ソルダーレジスト層37、39
の開口40,42から露出するそれぞれの半田パッド上
に適切な半田体を供給して導電性バンプ44を形成した
り、導電性ボール46または導電性のTピンを接続する
ように構成する。
That is, the solder resist layers 37, 39
An appropriate solder body is supplied on each solder pad exposed from the openings 40 and 42 to form the conductive bump 44, or the conductive ball 46 or the conductive T pin is connected.

【0107】なお、導電性バンプ44を形成する半田材
料としては、融点が比較的に低いスズ/鉛半田(融点1
83℃)やスズ/銀半田(融点220℃)を用い、導電
性ボール46やTピンを接続する半田材料としては、融
点が230℃〜270℃と比較的融点の高いスズ/アン
チモン半田、スズ/銀半田、スズ/銀/銅半田を用いる
ことが好ましい。
As a solder material for forming the conductive bumps 44, tin / lead solder (melting point 1
83 ° C.) or tin / silver solder (melting point 220 ° C.), as a solder material for connecting the conductive balls 46 and T pins, tin / antimony solder having a relatively high melting point of 230 ° C. to 270 ° C., tin It is preferable to use / silver solder or tin / silver / copper solder.

【0108】上記(1)〜(15)の工程にしたがう実
施形態によれば、本発明にかかる多層化回路基板60
は、片面回路基板Aと複数枚の片面回路基板B1、B
2、B3、B4とを同一方向に積層すると共に、最下層
に位置する片面回路基板B4の半田バンプ側の表面に対
して、マット処理された面を有する銅箔30を、そのマ
ット面を対向配置させた状態で配置させて、1回の加熱
プレスによって、片面回路基板同士を接着すると共に銅
箔30を最下層の片面回路基板B4に圧着して多層化し
た後、最上層の片面回路基板Aおよび最下層の片面回路
基板B4にそれぞれ導体回路36および38を形成した
が、このような実施形態の他に、以下の〜に記載し
たような実施形態を採用することもできる。
According to the embodiment according to the steps (1) to (15), the multilayer circuit board 60 according to the present invention.
Is a single-sided circuit board A and a plurality of single-sided circuit boards B1 and B.
2, B3, B4 are laminated in the same direction, and a copper foil 30 having a matt-treated surface is made to face the surface of the bottom surface of the single-sided circuit board B4 on the solder bump side. After arranging them in a state of being arranged, the one-sided circuit boards are bonded to each other by one heating press, and the copper foil 30 is pressure-bonded to the lowermost-sided one-sided circuit board B4 to form a multilayer, and then the uppermost one-sided circuit board. Although the conductor circuits 36 and 38 are formed on the single-sided circuit board B4 of A and the lowermost layer, respectively, in addition to such an embodiment, the following embodiments can be adopted.

【0109】 同一材料で形成された5枚の片面回路
基板B1〜B5を、同一方向に向けて順次積層すると共
に、最下層に位置する片面回路基板B5の半田バンプ側
の表面に対して、マット面を有する銅箔30を対向配置
させた状態で、1回の真空加熱プレスにより片面回路基
板同士を接着すると共に銅箔30を最下層の片面回路基
板B5に圧着して多層化する。そのような多層化の後、
最上層の片面回路基板B1にエッチング保護フィルム2
5を貼付した状態で、エッチング処理を施して、最下層
の片面回路基板B5に圧着された銅箔30を選択的にエ
ッチングして所定パターンを有する導体回路38を形成
する。
Five single-sided circuit boards B1 to B5 made of the same material are sequentially laminated in the same direction, and a mat is formed on the surface of the lowermost one-sided circuit board B5 on the solder bump side. The single-sided circuit boards are bonded to each other by one vacuum heating press in a state where the copper foils 30 having the surfaces are opposed to each other, and the copper foil 30 is pressure-bonded to the lowermost-sided single-sided circuit board B5 to form a multilayer. After such layering,
Etching protection film 2 on top of single-sided circuit board B1
In the state where 5 is attached, an etching process is performed to selectively etch the copper foil 30 pressed onto the lowermost one-sided circuit board B5 to form a conductor circuit 38 having a predetermined pattern.

【0110】 図5(a)示すように、片面回路基板
Aの半田バンプ側の表面に塗布すべき接着剤層26に代
えて、銅箔接着用の樹脂接着剤36を塗布し、半硬化状
態を保持した片面回路基板に対して、マット面を有する
銅箔30を対向配置させ、加熱プレスによって、片面回
路基板Aに銅箔30を圧着した後(図5(b)参照)、
エッチング処理を施して、片面回路基板Aの表裏両面に
それぞれ所定パターンを有する導体回路62および64
を形成して、両面回路基板Cを形成する(図5(c)参
照)。その後、4枚の片面回路基板B1〜B4を、同一
方向に向けて順次積層すると共に、最下層に位置する片
面回路基板B4の半田バンプ側の表面に対して、両面回
路基板Cをそのマット面を外側に向けた状態で、真空加
熱プレスによって4枚の片面回路基板B1〜B4と1枚の
両面回路基板Cとを一体化する。
As shown in FIG. 5A, a single-sided circuit board
Instead of the adhesive layer 26 to be applied to the solder bump side surface of A, a resin adhesive 36 for copper foil adhesion is applied, and a copper having a matte surface is applied to a single-sided circuit board in a semi-cured state. After the foils 30 are arranged opposite to each other and the copper foil 30 is pressure-bonded to the single-sided circuit board A by a heat press (see FIG. 5B),
Conducting circuits 62 and 64 having a predetermined pattern on both front and back surfaces of the single-sided circuit board A after etching
Then, the double-sided circuit board C is formed (see FIG. 5C). After that, four single-sided circuit boards B1 to B4 are sequentially laminated in the same direction, and the double-sided circuit board C is attached to the matt surface of the surface of the single-sided circuit board B4 located at the lowermost layer on the solder bump side. With one side facing outward, four single-sided circuit boards B1 to B4 and one double-sided circuit board C are integrated by a vacuum heating press.

【0111】 片面回路基板Bの半田バンプ側の表面
に対して、マット面を有する銅箔30を対向配置させ、
加熱プレスによって、片面回路基板Bに銅箔30を圧着
した後、片面回路基板Bの導体回路形成面にエッチング
保護フィルム25を貼付した状態で、エッチング処理を
施して、片面回路基板Bの裏面に所定パターンを有する
導体回路62を形成して、両面回路基板Cを形成する。
その後、4枚の片面回路基板B1〜B4を、同一方向に
向けて順次積層すると共に、最下層の片面回路基板B4
の半田バンプ側の表面に対して、両面回路基板Cをその
マット面を外側に向けた状態で、真空加熱プレスによっ
て、4枚の片面回路基板B1〜B4と両面回路基板Cとを
一体化する。
The copper foil 30 having a matte surface is arranged to face the surface of the single-sided circuit board B on the solder bump side,
After the copper foil 30 is pressure-bonded to the single-sided circuit board B by a heat press, the etching protection film 25 is attached to the conductor circuit formation surface of the single-sided circuit board B, and then the etching treatment is applied to the back surface of the single-sided circuit board B. The conductor circuit 62 having a predetermined pattern is formed to form the double-sided circuit board C.
After that, four single-sided circuit boards B1 to B4 are sequentially laminated in the same direction, and the lowermost single-sided circuit board B4
The double-sided circuit board C is integrated with the double-sided circuit board C by a vacuum heating press in a state where the matte surface of the double-sided circuit board C faces outward with respect to the surface of the solder bump side. .

【0112】 上記の実施形態と同様な方法で、両
面回路基板Cを形成する。その後、図6に示すように、
両面回路基板Cの表裏面の導体回路62および64のそ
れぞれに対して、片面回路基板B1およびB2の半田バ
ンプ側の面をそれぞれ対向させる共に、それら片面回路
基板B1およびB2の導体回路側の面に対して、片面回路
基板A1およびA2の半田バンプ側の面をそれぞれ対向さ
せた状態で、順次積層し、それらの積層体を真空加熱プ
レスにより一体化する。このような多層化の後、エッチ
ング処理を施して、図7に示すように、最上層および最
下層の片面回路基板A1およびA2の銅箔面をエッチング
処理して、所定パターンを有する導体回路36および3
8をそれぞれ形成する。
The double-sided circuit board C is formed by the same method as in the above embodiment. Then, as shown in FIG.
The surfaces on the solder bump side of the single-sided circuit boards B1 and B2 are made to face the conductor circuits 62 and 64 on the front and back surfaces of the double-sided circuit board C, respectively, and the surfaces on the conductor circuit side of the single-sided circuit boards B1 and B2 are arranged. On the other hand, the single-sided circuit boards A1 and A2 are sequentially laminated with the surfaces on the solder bump side facing each other, and these laminated bodies are integrated by a vacuum heating press. After such multi-layering, an etching process is performed, and as shown in FIG. 7, the copper foil surfaces of the uppermost and lowermost single-sided circuit boards A1 and A2 are etched to form a conductor circuit 36 having a predetermined pattern. And 3
8 are formed respectively.

【0113】上述した実施の形態では、5枚の片面回路
基板とマット面を有する銅箔とを積層一体化し、または
4枚の片面回路基板と1枚の両面回路基板とを積層一体
化して、5層に多層化したが、4層以下でも、6層以上
でも必要に応じた多層化が可能である。
In the above embodiment, five single-sided circuit boards and a copper foil having a matte surface are laminated and integrated, or four single-sided circuit boards and one double-sided circuit board are laminated and integrated, Although the number of layers is 5, the number of layers can be 4 or less, or 6 or more, and can be multilayered as needed.

【0114】[0114]

【実施例】(実施例1) (1) まず、多層化回路基板を構成する片面回路基板
を製作する。この回路基板は、エポキシ樹脂をガラスク
ロスに含潰させてBステージとしたプリプレグと、銅箔
とを積層して加熱プレスすることにより得られる片面銅
張積層板を出発材料として用いる。この絶縁性基材10
の厚さは75μm、銅箔12の厚さは12μmであり、
この積層板の銅箔形成面と反対側の表面に、厚みが10
μmの粘着剤層を有し、かつフィルム自体の厚みが12
μmであるようなPETフィルム14をラミネートす
る。
Example (Example 1) (1) First, a single-sided circuit board constituting a multilayer circuit board is manufactured. This circuit board uses, as a starting material, a single-sided copper-clad laminate obtained by laminating a prepreg, which is a B stage made by crushing an epoxy resin in a glass cloth, and a copper foil and heat-pressing them. This insulating base material 10
Has a thickness of 75 μm, and the copper foil 12 has a thickness of 12 μm,
On the surface of the laminated plate opposite to the copper foil forming surface, a thickness of 10
It has an adhesive layer of μm and the thickness of the film itself is 12
Laminate PET film 14 such that it is μm.

【0115】(2) ついで、PETフィルム14上か
ら炭酸ガスレーザ照射を行って、PETフィルム14お
よび絶縁性基材10を貫通して銅箔12に至るビアホー
ル形成用開口16を形成し、さらにその開口16内を酸
素プラズマ放電によってデスミア処理した。この実施例
においては、ビアホール形成用の開口の形成には、三菱
電機製の高ピーク短パルス発振型炭酸ガスレーザ加工機
を使用し、全体として厚さ22μmのPETフィルムを
樹脂面にラミネートした、基材厚75μmのガラス布エ
ポキシ樹脂基材に、マスクイメージ法でPETフィルム
側からレーザビーム照射して100穴/秒のスピード
で、150μmφのビアホール形成用の開口を形成し
た。
(2) Next, carbon dioxide laser irradiation is performed from above the PET film 14 to form a via hole forming opening 16 which penetrates the PET film 14 and the insulating base material 10 and reaches the copper foil 12, and further the opening. The inside of 16 was desmeared by oxygen plasma discharge. In this example, a high peak short pulse oscillation type carbon dioxide laser processing machine manufactured by Mitsubishi Electric was used to form an opening for forming a via hole, and a PET film having a thickness of 22 μm as a whole was laminated on a resin surface. A glass cloth epoxy resin substrate having a material thickness of 75 μm was irradiated with a laser beam from the PET film side by a mask image method to form an opening for forming a via hole of 150 μmφ at a speed of 100 holes / sec.

【0116】(3) デスミア処理を終えた絶縁性基材
10の銅箔貼付面にPETフィルム15を貼り付け、以
下のような条件で、銅箔12をめっきリードとする電解
銅めっき処理を施して、開口16内に電解銅めっき18
を充填してビアホール20を形成した。その際、電解銅
めっきは開口16の上部にわずかに露出したので、サン
ダーベルト研磨およびバフ研磨によって露出部分を除去
して平坦化した。 〔電解銅めっき水溶液〕 硫酸 :180 g/l 硫酸銅 :80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、商品名:カパラシドG
L):1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 :2 A/dm 時間 :30 分 温度 :25 ℃
(3) Insulating substrate after desmear treatment
The PET film 15 is attached to the copper foil attachment surface of 10,
Electrolysis using copper foil 12 as a plating lead under the following conditions
Copper plating treatment is applied to form electrolytic copper plating 18 in the opening 16.
To form a via hole 20. At that time, electrolytic copper
The plating was exposed slightly above the opening 16, so
Exposed areas are removed by Darbelt polishing and buffing
And flattened. [Electrolytic copper plating solution] Sulfuric acid: 180 g / l Copper sulfate: 80 g / l Additive (made by Atotech Japan, trade name: Kaparaside G
L): 1 ml / l [Electrolytic plating conditions] Current density: 2 A / dmTwo Time: 30 minutes Temperature: 25 ℃

【0117】(4) さらに、以下のような条件で、電
解半田めっき処理を施して、開口16に充填された銅め
っき層18上に半田めっき層を形成して、絶縁性基材1
0の表面から10μm突出する半田バンプ24を形成す
る。 〔電解半田めっき溶液〕 Sn(BF:25g/l Pb(BF:12g/l 添加剤 :5ml/l (電解半田めっき条件) 温度 :20℃ 電流密度 :0.4A/dm
(4) Further, electrolytic solder plating treatment is performed under the following conditions to form a solder plating layer on the copper plating layer 18 filled in the openings 16 to form the insulating base material 1.
Solder bumps 24 protruding from the surface of 0 by 10 μm are formed. [Electrolytic solder plating solution] Sn (BF 4 ) 2 : 25 g / l Pb (BF 4 ) 2 : 12 g / l Additive: 5 ml / l (electrolytic solder plating conditions) Temperature: 20 ° C Current density: 0.4 A / dm Two

【0118】(5) 次に、上記(3)で絶縁性基材1
0に貼付したPETフィルム15を剥離させた後、絶縁
性基材10の半田バンプ24側の全面にエポキシ樹脂接
着剤を塗布し、プレキュアして、多層化のための接着剤
層26を形成した。上記(1)〜(5)にしたがって作
製した片面回路基板Aは、多層化の際に、最も上層に配
置されるべき回路基板である。
(5) Next, the insulating base material 1 in the above (3).
After peeling the PET film 15 attached to No. 0, an epoxy resin adhesive is applied to the entire surface of the insulating base material 10 on the solder bump 24 side and pre-cured to form an adhesive layer 26 for multi-layering. . The single-sided circuit board A produced according to the above (1) to (5) is a circuit board to be arranged in the uppermost layer in the case of forming multiple layers.

【0119】(6) 上記(1)〜(4)の工程と同様
の処理をした後(図2(a)〜(d)参照)、絶縁性基
材10の銅箔貼付面からPETフィルム15を剥離さ
せ、絶縁性基材10の半田バンプ側の表面にエッチング
保護フィルム25を貼付した状態で、銅箔12に適切な
エッチング処理を施し、所定パターンを有する導体回路
28を形成した(図2(e)参照)。
(6) After the same treatments as those in the above steps (1) to (4) (see FIGS. 2A to 2D), the PET film 15 is transferred from the copper foil sticking surface of the insulating base material 10. Is removed, and the copper foil 12 is subjected to an appropriate etching treatment while the etching protection film 25 is attached to the surface of the insulating base material 10 on the solder bump side to form a conductor circuit 28 having a predetermined pattern (FIG. 2). (See (e)).

【0120】(7) 次いで、上記(6)で得た導体回
路28の表面に、無電解めっき浴として、ほうふっ化ス
ズ−チオ尿素液を用い、20℃前後で約5分のめっき条件
にて、無電解めっき処理を施して、厚さ0.1μmのス
ズ薄膜層(図示を省略)を形成した。
(7) Then, using tin borofluoride-thiourea solution as an electroless plating bath on the surface of the conductor circuit 28 obtained in the above (6), the plating conditions are set at about 20 ° C. for about 5 minutes. Then, electroless plating treatment was performed to form a tin thin film layer (not shown) having a thickness of 0.1 μm.

【0121】(8) 上記(6)で絶縁性基材10に貼
付したエッチング保護フィルム25を剥離させた後、絶
縁性基材10の半田バンプ24側の全面にエポキシ樹脂
接着剤を塗布し、プレキュアして、各回路基板を接着し
て多層化するための接着剤層26を形成した(図2
(f)参照)。
(8) After the etching protection film 25 attached to the insulating base material 10 in (6) above is peeled off, an epoxy resin adhesive is applied to the entire surface of the insulating base material 10 on the solder bump 24 side, Pre-curing was performed to form an adhesive layer 26 for adhering each circuit board to form a multilayer (FIG. 2).
(See (f)).

【0122】上記(6)〜(8)にしたがって作製され
た片面回路基板Bは、上記片面回路基板Aの半田バンプ
側の面に積層されるべき回路基板であり、この実施例に
おいては、3枚の片面回路基板Bを作製した。
The single-sided circuit board B manufactured according to the above (6) to (8) is a circuit board to be laminated on the surface of the single-sided circuit board A on the solder bump side. In this embodiment, 3 A single-sided circuit board B was produced.

【0123】(9) さらに、これら3枚の片面回路基
板Bの下方に位置して、最も下方に積層される回路基板
として、上記(6)の工程と同様の処理をした後、上記
(7)のような接着剤に代えて、後述するようなマット
面を有する銅箔30を絶縁性基材10上に接着するため
のエポキシ樹脂接着剤を塗布し、100℃で30分間の
乾燥を行って厚さ20μmの樹脂接着剤層32を形成し
て、他の1枚の片面回路基板Bを作製した。
(9) Further, as a circuit board which is located below these three single-sided circuit boards B and is laminated at the bottom, the same processing as the above step (6) is performed, and then the above (7) ), An epoxy resin adhesive for adhering a copper foil 30 having a matte surface as described later on the insulating substrate 10 is applied, and dried at 100 ° C. for 30 minutes. A resin adhesive layer 32 having a thickness of 20 μm was formed, and another one-sided circuit board B was manufactured.

【0124】(10) 上記(1)〜(5)にしたがっ
て作製した片面回路基板Aと、上記(6)〜(8)にし
たがって作製した3枚の片面回路基板B1〜B3と、上
記(9)にしたがって作製した1枚の片面回路基板B4
とを、同一方向に、しかも所定位置に順次積層した後、
最も下方に位置する片面回路基板B4の半田バンプ側の
面に対して、片面がマット処理されて、その表面粗度が
3μmであり、厚さが12μmの銅箔30を、そのマッ
ト面を対向させた状態で、加熱温度180℃、加熱時間
70分、圧力5MPa、真空度2.5×10Paの条
件のもとで、一括して加熱プレスすることによって、各
片面回路基板間を接着すると共に、銅箔30を片面回路
基板B4の半田バンプ側の面に接着して多層化した。
(10) The single-sided circuit board A manufactured according to the above (1) to (5), the three single-sided circuit boards B1 to B3 manufactured according to the above (6) to (8), and the above (9 1 single-sided circuit board B4 manufactured according to
And are sequentially laminated in the same direction and at a predetermined position,
The surface of the lowermost single-sided circuit board B4 on the solder bump side is matt-processed on one side, and a copper foil 30 having a surface roughness of 3 μm and a thickness of 12 μm faces the matte surface. In this state, the single-sided circuit boards are bonded together by heating and pressing collectively under the conditions of a heating temperature of 180 ° C., a heating time of 70 minutes, a pressure of 5 MPa, and a vacuum degree of 2.5 × 10 3 Pa. At the same time, the copper foil 30 was adhered to the surface of the single-sided circuit board B4 on the solder bump side to form a multilayer structure.

【0125】(11) その後、多層化された基板の最
上層および最下層に位置する片面回路基板Aおよび片面
回路基板B4上の銅箔12および30に、適切なエッチ
ング処理により導体回路36および38(ビアランドを
含む)を形成して、全層がIVH構造を有する多層化回
路基板60を作製した。
(11) Then, the copper foils 12 and 30 on the one-sided circuit board A and the one-sided circuit board B4, which are located in the uppermost layer and the lowermost layer of the multi-layered board, are subjected to an appropriate etching process to form the conductor circuits 36 and 38. By forming (including via land), a multilayer circuit board 60 having an IVH structure in all layers was manufactured.

【0126】(12) 上記(1)〜(11)の工程に
したがって作製した多層回路基板60の最上層および最
下層に位置する回路基板AおよびB4の表面に、ソルダ
ーレジスト層37および39を形成する前に、必要に応
じて、銅−ニッケル−リンからなる粗化層を設ける。
(12) Solder resist layers 37 and 39 are formed on the surfaces of the circuit boards A and B4 located in the uppermost layer and the lowermost layer of the multilayer circuit board 60 manufactured according to the steps (1) to (11). Before that, if necessary, a roughening layer made of copper-nickel-phosphorus is provided.

【0127】(13) 一方、DMDGに溶解させた6
0重量%のクレゾールノポラック型エポキシ樹脂(日本
化薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付
与のオリゴマー(分子量4000)を46.67重量
部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビス
フェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エピコー
ト1001)14.121重量部、イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ−CN)1.6重量部、感光
性モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、
R604)1.5重量部、同じく多価アクリルモノマー
(共栄社化学製、DPE6A)30重量部、アクリル酸
エステル重合物からなるレベリング剤(共栄社製、ポリ
フローNo.75)0.36重量部を混合し、この混合物
に対して光開始剤としてのペンゾフェノン(関東化学
製)20重量部、光増感剤としてのEAB(保土ヶ谷化
学製)0.2重量部を加え、さらにDMDG(ジエチレン
グリコールジメチルエーテル)10重量部を加えて、粘
度を25℃で1.4±0.3Pa・Sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器、DVL‐B型)で60rpmの場合はロー
ターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3によっ
た。
(13) On the other hand, 6 dissolved in DMDG
46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylating 50% of epoxy groups of 0% by weight of cresol nopolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 80% by weight dissolved in methyl ethyl ketone 14.121 parts by weight of bisphenol A type epoxy resin (Yukaka Shell, Epicoat 1001), 1.6 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN manufactured by Shikoku Kasei), polyvalent acrylic monomer as a photosensitive monomer (Japaneseized) Medicinal,
R604) 1.5 parts by weight, similarly polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd., DPE6A) 30 parts by weight, and 0.36 part by weight of an acrylic ester polymer leveling agent (manufactured by Kyoeisha Polyflow No. 75). To this mixture, 20 parts by weight of penzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator and 0.2 part by weight of EAB (manufactured by Hodogaya Kagaku) as a photosensitizer were added, and further 10 parts by weight of DMDG (diethylene glycol dimethyl ether). Was added to obtain a solder resist composition having a viscosity adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · S at 25 ° C. The viscosity was measured with a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) using rotor No. 4 at 60 rpm, and rotor No. 3 at 6 rpm.

【0128】(14) 上記(11)で得られた多層回
路基板の最上層および最下層の回路基板の表面に、前記
(13)で得られたソルダーレジスト組成物を20μm
の厚さで塗布した。次いで、70℃で20分間、100
℃で30分間の乾燥処理を行った後、クロム層によって
ソルダーレジスト開口部の円パターン(マスクパター
ン)が描画された厚さ5mmのソーダライムガラス基坂
を、クロム層が形成された側をソルダーレジスト層に密
着させて1000mJ/cmの紫外線で露光し、DMTG
現像処理した。さらに、80℃で1時間、100℃で1
時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件で加
熱処理し、パッド部分に対応した開口40および42を
有する(開口径200μm)ソルダーレジスト層37お
よび39(厚み20μm)を形成した。
(14) 20 μm of the solder resist composition obtained in (13) above is applied to the surfaces of the uppermost and lowermost circuit boards of the multilayer circuit board obtained in (11) above.
Was applied at a thickness of. Then 100 at 20 ° C. for 20 minutes
After drying for 30 minutes at ℃, a 5mm thick soda lime glass substrate with a circular pattern (mask pattern) of the solder resist opening drawn by the chrome layer was soldered on the side where the chrome layer was formed. The film was brought into close contact with the resist layer and exposed to UV light of 1000 mJ / cm 2 , and DMTG
It was developed. Further, at 80 ° C for 1 hour, at 100 ° C for 1 hour
Heat treatment was performed under the conditions of 120 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours to form solder resist layers 37 and 39 (thickness 20 μm) having openings 40 and 42 corresponding to the pad portions (opening diameter 200 μm).

【0129】(15) 次に、ソルダーレジスト層37
および39を形成した基板を、塩化ニッケル30g/
1、次亜リン酸ナトリウム10g/1、クエン酸ナトリ
ウム10g/1からなるpH=5の無電解ニッケルめっ
き液に20分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケ
ルめっき層を形成した。さらに、その基板を、シアン化
金力リウム2g/1、塩化アンモニウム75g/1、ク
エン酸ナトリウム50g/1、次亜リン酸ナトリウム1
0g/1からなる無電解金めっき液に93℃の条件で2
3秒間浸漬して、ニッケルめっき層上に厚さ0.03μ
mの金めっき層を形成し、ニッケルめっき層と金めっき
層とからなる被覆金属層50を形成した。
(15) Next, the solder resist layer 37
And the substrate on which 39 was formed, nickel chloride 30 g /
1) Sodium hypophosphite 10 g / 1, sodium citrate 10 g / 1 It was immersed in an electroless nickel plating solution of pH = 5 for 20 minutes to form a nickel plating layer having a thickness of 5 μm in the opening. Furthermore, the substrate is gold cyanide 2g / 1, ammonium chloride 75g / 1, sodium citrate 50g / 1, sodium hypophosphite 1
2g at 93 ℃ in electroless gold plating solution consisting of 0g / 1
Immerse for 3 seconds, thickness 0.03μ on the nickel plating layer
m gold plating layer was formed, and a coating metal layer 50 including a nickel plating layer and a gold plating layer was formed.

【0130】(16) そして、最上層の片面回路基板
Aを覆うソルダーレジスト層37の開口40から露出す
る半田パッドに対して、融点が約183℃のスズ/鉛半
田からなる半田ペーストを印刷して183℃でリフロー
することにより、半田バンプ44を形成し、最下層の片
面回路基板B4を覆うソルダーレジスト層39の開口4
2から露出する半田パッドに対して、融点が約230℃
のスズ/アンチモン半田を供給して230℃近傍の雰囲
気内でリフローすることによって、半田ボール46を接
続させて、多層化回路基板60を製作した。
(16) Then, a solder paste made of tin / lead solder having a melting point of about 183 ° C. is printed on the solder pad exposed from the opening 40 of the solder resist layer 37 covering the uppermost single-sided circuit board A. By reflowing at 183 ° C. to form the solder bumps 44, and the openings 4 of the solder resist layer 39 covering the lowermost single-sided circuit board B4.
The melting point of the solder pad exposed from 2 is about 230 ℃
The tin / antimony solder was supplied and reflowed in an atmosphere near 230 ° C., so that the solder balls 46 were connected and the multilayer circuit board 60 was manufactured.

【0131】(実施例2) (1) 上記実施例1の(9)の工程と同様の処理によ
って片面回路基板Bを作製し、その片面回路基板Bの半田
バンプ側の表面に対して、マット面を有する銅箔30を
対向配置させ、加熱プレスによって、片面回路基板Bに
銅箔30を圧着した後、その片面回路基板Bの導体回路
形成面にエッチング保護フィルム25を貼付した状態
で、エッチング処理を施して、片面回路基板Bの裏面に
所定パターンを有する導体回路34を形成して、両面回
路基板Cを作製する。
(Example 2) (1) A single-sided circuit board B was manufactured by the same process as the step (9) of the above-described Example 1, and the surface of the single-sided circuit board B on the solder bump side was matted. After the copper foils 30 having the surfaces are arranged to face each other and the copper foils 30 are pressure-bonded to the one-sided circuit board B by a heat press, the etching protection film 25 is attached to the conductor circuit formation surface of the one-sided circuit board B, and the etching is performed. By processing, the conductor circuit 34 having a predetermined pattern is formed on the back surface of the single-sided circuit board B, and the double-sided circuit board C is manufactured.

【0132】(2) 次いで、上記実施例1の(6)〜
(8)の工程と同様の処理によって、4枚の片面回路基
板B1〜B4を作製し、それらを同一方向に向けて順次
積層すると共に、最下層の片面回路基板B4の半田バン
プ側の表面に対して、両面回路基板Cをそのマット面を
外側に向けた状態で、所定位置に積層して、真空加熱プ
レスによって4枚の片面回路基板B1〜B4と両面回路
基板Cとを一体化して5層に多層化した。
(2) Then, (6) to
By the same process as the step (8), four single-sided circuit boards B1 to B4 are produced, and they are sequentially laminated in the same direction, and on the surface of the bottom-side single-sided circuit board B4 on the solder bump side. On the other hand, the double-sided circuit board C is laminated at a predetermined position with its matte surface facing outward, and the four single-sided circuit boards B1 to B4 and the double-sided circuit board C are integrated by a vacuum heating press. Layered into layers.

【0133】(3) 上記実施例1の(12)〜(1
6)の工程と同様の処理によって、5層に多層化した回
路基板の最も外側に位置する一方の片面回路基板B1の
導体回路28(導体パッド)に対して半田バンプ44を
形成し、最も外側に位置する他方の回路基板Cの導体回
路34(導体パッド)に対して、半田ボール46を形成
して多層化回路基板60を製造した。
(3) (12) to (1) of the first embodiment
By the same process as the process of 6), the solder bumps 44 are formed on the conductor circuits 28 (conductor pads) of the one-sided circuit board B1 located on the outermost side of the circuit board having five layers, and the outermost side is formed. A solder ball 46 was formed on the conductor circuit 34 (conductor pad) of the other circuit board C located at, to manufacture the multilayer circuit board 60.

【0134】(実施例3) (1) 上記実施例1の(1)〜(5)の工程と同様の
処理によって、片面回路基板Aを作製し、その片面回路
基板Aの半田バンプ側の表面に対して、マット面を有す
る銅箔30を対向配置させ、加熱プレスによって、片面
回路基板Aに銅箔30を圧着した後、エッチング処理を
施して、片面回路基板Aの表裏両面にそれぞれ所定パタ
ーンを有する導体回路28および34を形成して、両面
回路基板Cを形成する。
(Embodiment 3) (1) A single-sided circuit board A is manufactured by the same processing as the steps (1) to (5) of the above-mentioned embodiment 1, and the surface of the single-sided circuit board A on the solder bump side. On the other hand, the copper foil 30 having a matte surface is arranged to face each other, and the copper foil 30 is pressure-bonded to the single-sided circuit board A by a heat press, and then subjected to an etching treatment to form a predetermined pattern on both front and back surfaces of the single-sided circuit board A. The conductor circuits 28 and 34 having the are formed to form the double-sided circuit board C.

【0135】(2) 次いで、上記実施例1の(6)〜
(9)の工程と同様の処理によって、2枚の片面回路基
板B1〜B2を作製すると共に、上記実施例1の(1)
〜(5)の工程と同様の処理によって、2枚の片面回路
基板A1〜A2を作製する。上記片面回路基板B1およ
びB2の半田バンプ側の面をそれぞれ両面回路基板Cの
表裏面の導体回路28および34に対して対向させる共
に、その片面回路基板B1およびB2の導体回路側の面
に対して、上記片面回路基板A1およびA2の半田バン
プ側の面をそれぞれ対向させた状態で、順次積層し、そ
の積層体を真空加熱プレスにより一体化して5層に多層
化した。
(2) Then, (6) to
Two single-sided circuit boards B1 and B2 are produced by the same processing as the step (9), and the (1) of the first embodiment is performed.
Two single-sided circuit boards A1 and A2 are manufactured by the same processing as the steps (5) to (5). The surfaces of the single-sided circuit boards B1 and B2 on the solder bump side are made to face the conductor circuits 28 and 34 on the front and back surfaces of the double-sided circuit board C, respectively, and to the surfaces of the single-sided circuit boards B1 and B2 on the conductor circuit side. Then, the single-sided circuit boards A1 and A2 were sequentially laminated with the surfaces on the solder bump side facing each other, and the laminated body was integrated by a vacuum heating press to form five layers.

【0136】(3) 上記(2)の処理によって多層化
した後、エッチング処理を施して、最外層の2枚の片面
回路基板A1およびA2に所定パターンを有する導体回
路36および38をそれぞれ形成する。 (4) 次いで、上記実施例2の(3)の工程と同様の
処理によって、多層化回路基板60を製造した。
(3) After the multi-layer is formed by the process of (2) above, an etching process is performed to form conductor circuits 36 and 38 having a predetermined pattern on the outermost two single-sided circuit boards A1 and A2, respectively. . (4) Next, the multilayer circuit board 60 was manufactured by the same processing as the step (3) of Example 2 above.

【0137】上記実施例1〜3により製造された多層化
回路基板について、ヒートサイクル試験や高温試験等の
信頼性試験の後に、導通試験を行った結果、すべての回
路基板間の導通が確認された。
With respect to the multilayer circuit boards manufactured in the above Examples 1 to 3, after conducting a reliability test such as a heat cycle test and a high temperature test, a continuity test was conducted, and as a result, continuity between all the circuit boards was confirmed. It was

【0138】[0138]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の多層回路
基板によれば、一面がマット処理されてなる金属箔を、
そのマット面が、積層される複数の片面回路基板のうち
のいずれか一の片面回路基板の導電性バンプ側の面に対
して圧着され、かつ所定の配線パターンを有する導体回
路に形成されるので、多層化された基板に発生すること
がある反りを抑制することができ、その結果、基板上に
形成した導体回路の破断や断線、特に、バイアホール部
分での接続不良や、充填金属の剥離等の発生を防止し
て、電気的接続性と接続信頼性を改善することができ
る。
As described above, according to the multilayer circuit board of the present invention, the metal foil whose one surface is mat-treated,
Since the matt surface is pressure-bonded to the conductive bump side surface of one of the laminated single-sided circuit boards and is formed into a conductor circuit having a predetermined wiring pattern. It is possible to suppress warpage that may occur in a multi-layered board, and as a result, breakage or disconnection of the conductor circuit formed on the board, especially connection failure in the via hole part, and peeling of the filling metal It is possible to improve the electrical connectivity and the connection reliability by preventing the occurrence of the above.

【0139】また、基板の導電性バンプ側の面に対する
導体回路のピール強度やプル強度が十分に確保されるの
で、加熱プレスによるバイアホールに対する導体パッド
の位置ずれを防止し、電気的接続を確実に行うことがで
きるので、半田パッド上に電子部品や半田ボールやTピ
ン等の接続用端子を基板表層に確実に実装することがで
きる。
Further, since the peel strength and pull strength of the conductor circuit with respect to the surface of the substrate on the conductive bump side are sufficiently secured, the displacement of the conductor pad with respect to the via hole due to the heating press is prevented, and the electrical connection is ensured. Therefore, it is possible to surely mount the electronic component and the connecting terminals such as the solder ball and the T pin on the surface layer of the substrate on the solder pad.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)〜(e)は、本発明にかかる多層化回路
基板を構成する片面回路基板Aの製造工程の一部を示す
図である。
1A to 1E are views showing a part of a manufacturing process of a single-sided circuit board A constituting a multilayer circuit board according to the present invention.

【図2】(a)〜(f)は、本発明にかかる多層化回路
基板を構成する片面回路基板Bの製造工程の一部を示す
図である。
2A to 2F are views showing a part of a manufacturing process of a single-sided circuit board B constituting a multilayered circuit board according to the present invention.

【図3】本発明にかかる多層化回路基板を構成する片面
回路基板と銅箔との積層状態を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a laminated state of a single-sided circuit board and a copper foil forming a multilayer circuit board according to the present invention.

【図4】本発明にかかる多層化回路基板を示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram showing a multilayer circuit board according to the present invention.

【図5】(a)〜(c) は、本発明にかかる多層化回
路基板を構成する両面回路基板の製造工程の一部を示す
図である。
5A to 5C are views showing a part of a manufacturing process of a double-sided circuit board constituting the multilayer circuit board according to the present invention.

【図6】本発明にかかる多層化回路基板を構成する片面
回路基板と両面回路基板との積層状態を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a laminated state of a single-sided circuit board and a double-sided circuit board that constitute the multilayered circuit board according to the present invention.

【図7】図6に示す積層状態にある片面回路基板と両面
回路基板とを積層・一体化した多層化回路基板を示す図
である。
FIG. 7 is a diagram showing a multilayer circuit board in which the single-sided circuit board and the double-sided circuit board in the stacked state shown in FIG. 6 are stacked and integrated.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 絶縁性樹脂基材 12 銅箔 14 保護フィルム 16 ビアホール形成用開口 18 電解銅めっき 20 充填ビアホール 24 導電性バンプ 26 樹脂接着剤層 28 導体回路 30 銅箔 32 樹脂接着剤層 36 導体回路 37 ソルダーレジスト層 38 導体回路 39 ソルダーレジスト層 40,42 開口 44 半田バンプ 46 半田ボール 50 金属層 A,B 片面回路基板 C 両面回路基板 10 Insulating resin base material 12 Copper foil 14 Protective film 16 Via hole forming openings 18 Electrolytic copper plating 20 Filled via holes 24 Conductive bump 26 Resin adhesive layer 28 conductor circuits 30 copper foil 32 resin adhesive layer 36 conductor circuit 37 Solder resist layer 38 conductor circuit 39 Solder resist layer 40, 42 openings 44 Solder bump 46 Solder ball 50 metal layer A, B single-sided circuit board C double-sided circuit board

フロントページの続き (72)発明者 玉木 昌徳 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社内 Fターム(参考) 5E343 AA07 AA15 AA16 AA17 BB23 BB24 BB34 BB44 BB47 BB48 BB49 BB54 BB57 BB67 DD33 DD43 EE33 ER12 ER18 ER54 GG20 5E346 AA15 AA32 CC04 CC09 CC31 CC32 CC37 CC38 CC40 DD12 DD24 EE09 EE12 EE13 EE19 FF03 FF07 FF14 GG15 HH07 HH11 Continued front page    (72) Inventor Masanori Tamaki             1-1 Ibide, Northern Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture             Within the corporation F-term (reference) 5E343 AA07 AA15 AA16 AA17 BB23                       BB24 BB34 BB44 BB47 BB48                       BB49 BB54 BB57 BB67 DD33                       DD43 EE33 ER12 ER18 ER54                       GG20                 5E346 AA15 AA32 CC04 CC09 CC31                       CC32 CC37 CC38 CC40 DD12                       DD24 EE09 EE12 EE13 EE19                       FF03 FF07 FF14 GG15 HH07                       HH11

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性基材と、その一方の面に形成され
た導体回路と、前記絶縁性基材の他方の面から前記導体
回路に達するような開口内に充填された導電性物質を含
んでなるバイアホールと、そのバイアホールに電気的に
接続され、かつ前記開口の外側に突出するように形成さ
れた導電性バンプとを有してなる片面回路基板の複数枚
が、接着剤層を介して積層され、かつ一体化されてなる
多層化回路基板において、 一面がマット処理されてなる金属箔が、そのマット面
が、前記複数の片面回路基板のうちのいずれか一の片面
回路基板の前記導電性バンプ側の面に対して圧着され、
かつ所定の配線パターンを有する導体回路に形成されて
なる多層化回路基板。
1. An insulating base material, a conductor circuit formed on one surface of the insulating base material, and a conductive substance filled in an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating base material. A plurality of single-sided circuit boards each having a via hole including a conductive bump electrically connected to the via hole and formed so as to project to the outside of the opening are adhesive layers. In a multi-layered circuit board that is laminated and integrated via a metal foil having a matte surface on one side, the matt surface is a single-sided circuit board of any one of the plurality of single-sided circuit boards. Is crimped to the surface of the conductive bump side of
A multilayer circuit board formed on a conductor circuit having a predetermined wiring pattern.
【請求項2】 上記金属箔は、最も外側に位置する片面
回路基板の前記導電性バンプ側の面に対して圧着され、
かつエッチング処理によって所定の配線パターンを有す
る表層の導体回路に形成されてなることを特徴とする請
求項1に記載の多層化回路基板。
2. The metal foil is pressure-bonded to the surface of the outermost one-sided circuit board on the side of the conductive bumps,
The multi-layer circuit board according to claim 1, wherein the multi-layer circuit board is formed on a surface conductor circuit having a predetermined wiring pattern by an etching process.
【請求項3】 上記最外層の導体回路上には、導電性バ
ンプ、半田ボールもしくはTピンからなる半田体が形成
されてなることを特徴とする請求項2に記載の多層化回
路基板。
3. The multilayered circuit board according to claim 2, wherein a conductive body, a solder ball, or a solder body made of T-pins is formed on the outermost conductor circuit.
【請求項4】 上記金属箔のマット面は、スズ、亜鉛、
ニッケル、リンおよび貴金属類の中から選ばれる少なく
とも1種からなる保護膜により被覆されていることを特
徴とする請求項1に記載の多層化回路基板。
4. The matte surface of the metal foil comprises tin, zinc,
The multilayered circuit board according to claim 1, which is covered with a protective film made of at least one selected from nickel, phosphorus and noble metals.
【請求項5】 絶縁性基材の一方の面に導体回路を形成
し、その絶縁性基材の他方の面から前記導体回路に達す
るような開口内に導電性物質を充填してバイアホールを
形成した後、そのバイアホールホールに電気的に接続さ
れ、かつ前記絶縁性基材の表面から突出するような導電
性バンプを形成してなる片面回路基板の複数枚を積層
し、かつ一体化してなる多層化回路基板を製造するにあ
たって、その製造工程中に、少なくとも以下の(1)〜(3)
の工程、すなわち、(1) 上記複数の片面回路基板を同
一の方向に積層させるとともに、一面がマット処理され
てなる銅箔を、そのマット面が、前記積層された片面回
路基板のうちの最も外側に位置する片面回路基板の前記
導電性バンプ側の面に対向した状態で積層させる工程
と、(2) 上記積層された片面回路基板と金属箔とを
加熱プレスによって一体化して、前記銅箔を前記片面回
路基板の前記導電性バンプ側の面に圧着する工程と、
(3) 上記圧着された金属箔を選択的にエッチングし
て、所定の配線パターンを有する導体回路を形成する工
程と、 を含んでなることを特徴とする多層化回路基板の製造方
法。
5. A via hole is formed by forming a conductor circuit on one surface of an insulating base material and filling a conductive material into an opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating base material. After formation, a plurality of single-sided circuit boards electrically connected to the via hole and having conductive bumps protruding from the surface of the insulating base material are laminated and integrated. When manufacturing a multilayer circuit board consisting of, during the manufacturing process, at least the following (1) ~ (3)
The step, namely, (1) while laminating the plurality of single-sided circuit boards in the same direction, and one surface is matted copper foil, the matt surface is the most one of the laminated single-sided circuit boards. A step of laminating the one-sided circuit board located on the outer side in a state of facing the surface on the side of the conductive bumps, and (2) integrating the laminated one-sided circuit board and a metal foil by a heat press to form the copper foil A step of crimping to the surface of the single-sided circuit board on the side of the conductive bumps;
(3) A method for producing a multilayer circuit board, comprising the step of selectively etching the pressure-bonded metal foil to form a conductor circuit having a predetermined wiring pattern.
【請求項6】 上記(1)の工程の前に、前記金属箔のマ
ット面に対して、スズ、亜鉛、ニッケル、リンおよび貴
金属から選ばれる少なくとも1種類からなる被覆層を形
成する工程を含んでなる請求項5に記載の多層化回路基
板の製造方法。
6. Before the step (1), a step of forming a coating layer made of at least one selected from tin, zinc, nickel, phosphorus and noble metals on the matte surface of the metal foil is included. The method for manufacturing a multilayer circuit board according to claim 5, comprising:
【請求項7】 上記(3)の工程の後に、前記導体回路上
に、半田体を形成する工程を含んでいる請求項5に記載
の多層化回路基板の製造方法。
7. The method for manufacturing a multilayer circuit board according to claim 5, further comprising a step of forming a solder body on the conductor circuit after the step (3).
【請求項8】 複数の片面回路基板を接着剤層を介して
積層し、かつ一体化してなる多層化回路基板を製造する
にあたって、その製造工程中に、少なくとも以下の(1)
〜(5)の工程、すなわち、(1) 絶縁性基材の一方の面
に導体層を形成し、その絶縁性基材の他方の面から前記
導体層に達するような開口内に導電性物質を充填してバ
イアホールを形成し、さらにそのバイアホールに電気的
に接続され、かつ前記絶縁性基材の表面から突出するよ
うに導電性バンプを形成してなる片面回路基板を製造す
る工程と、(2) 絶縁性基材の一方の面に導体回路を形
成し、その絶縁性基材の他方の面から前記導体回路に達
するような開口内に導電性物質を充填してバイアホール
を形成した後、そのバイアホールホールに電気的に接続
され、かつ前記絶縁性基材の表面から突出するような導
電性バンプを形成してなる片面回路基板を製造する工程
と、(3) 前記(1)の工程で得られた片面回路基板
と、前記(2)の工程で得られた片面回路基板の複数枚
とを、前記(1)の工程で得られた片面回路基板を最上
層に位置させ、かつ同一の方向に積層するとともに、一
面がマット処理されてなる金属箔を、そのマット面が、
最下層に位置する前記(2)の工程で得られた片面回路
基板の導電性バンプ側の面に対向した状態で積層する工
程と、(4) 前記積層された片面回路基板と金属箔とを
接着剤を介して一括して加熱プレスすることによって一
体化し、前記金属箔を前記最下層に位置する片面回路基
板の前記導電性バンプ側の面に圧着する工程と、(5)
前記最上層に位置する片面回路基板に形成された導体層
および前記最下層に位置する片面回路基板に圧着された
金属箔をエッチング処理して、所定の配線パターンを有
する導体回路をそれぞれ形成する工程と、 を含んでなることを特徴とする多層化回路基板の製造方
法。
8. When manufacturing a multi-layered circuit board in which a plurality of single-sided circuit boards are laminated and integrated with an adhesive layer, at least the following (1)
Steps (1) to (5), that is, (1) forming a conductor layer on one surface of the insulating base material, and forming a conductive material in the opening reaching the conductor layer from the other surface of the insulating base material. To form a via hole, and further to electrically connect to the via hole, and to form a conductive bump so as to protrude from the surface of the insulating base material, (2) A conductor circuit is formed on one surface of the insulating base material, and a via hole is formed by filling a conductive material into the opening reaching the conductor circuit from the other surface of the insulating base material. And then manufacturing a single-sided circuit board electrically connected to the via hole and forming conductive bumps protruding from the surface of the insulating substrate, and (3) above (1) ) And the single-sided circuit board obtained in step (2) and the one obtained in step (2) above. And a plurality of single-sided circuit boards, the single-sided circuit board obtained in the step (1) is positioned in the uppermost layer, and laminated in the same direction, and a metal foil having one surface mat-treated, The matte surface
The step of stacking in a state of facing the conductive bump side surface of the single-sided circuit board obtained in the step (2) located in the lowermost layer, and (4) the stacked single-sided circuit board and the metal foil. Integrating by collectively heat-pressing with an adhesive, the step of pressure-bonding the metal foil to the surface of the conductive bump side of the one-sided circuit board located in the lowermost layer, (5)
A step of etching the conductor layer formed on the one-sided circuit board located on the uppermost layer and the metal foil crimped on the one-sided circuit board located on the lowermost layer to form conductor circuits having predetermined wiring patterns, respectively. And a method of manufacturing a multilayer circuit board, comprising:
【請求項9】 上記金属箔のマット処理された面に対し
て、予め、スズ、亜鉛、ニッケル、リンおよび貴金属か
ら選ばれる少なくとも1種類からなる保護膜を形成する
工程を含んでなる請求項8に記載の多層化回路基板の製
造方法。
9. The method according to claim 8, further comprising the step of previously forming a protective film made of at least one selected from tin, zinc, nickel, phosphorus and noble metals on the mat-treated surface of the metal foil. A method for manufacturing the multilayer circuit board according to.
【請求項10】 上記(5)の工程の後に、前記導体回路
上に、半田体を形成する工程を含んでいる請求項8に記
載の多層化回路基板の製造方法。
10. The method of manufacturing a multilayer circuit board according to claim 8, further comprising a step of forming a solder body on the conductor circuit after the step (5).
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100941691B1 (en) * 2009-04-10 2010-02-12 (주)제이스 Photosensitve glass wafer and method for manufacturing potosensitve glass wafer and semiconductor probe chip

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