JP2003203961A - Substrate processing device - Google Patents

Substrate processing device

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JP2003203961A
JP2003203961A JP2002000175A JP2002000175A JP2003203961A JP 2003203961 A JP2003203961 A JP 2003203961A JP 2002000175 A JP2002000175 A JP 2002000175A JP 2002000175 A JP2002000175 A JP 2002000175A JP 2003203961 A JP2003203961 A JP 2003203961A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
maintenance
opening
substrate
substrate processing
processing apparatus
Prior art date
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Pending
Application number
JP2002000175A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuo Yamamoto
哲夫 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2002000175A priority Critical patent/JP2003203961A/en
Publication of JP2003203961A publication Critical patent/JP2003203961A/en
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  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the space around a substrate processing device required for maintenance therefor. <P>SOLUTION: The device comprises an airtight chamber 8 for housing a substrate, a maintenance door 29 that is provided on one side surface of the airtight chamber which is opened at maintenance, a substrate transfer opening 19 formed open in the maintenance door, and a gate valve 18 for opening/closing the substrate transfer opening. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明はシリコンウェーハ等
の基板にCVD処理、エッチング、不純物の拡散等半導
体装置を製造する為、所要の処理を行う基板処理装置に
関するものである。 【0002】 【従来の技術】図2は従来の基板処理装置、特に反応炉
に連設された気密室であるロードロック室を具備し、密
閉式の基板カセット(以下ポッドと称す)が使用される
バッチ式の基板処理装置を示している。 【0003】基板処理装置の概略を説明する。 【0004】筐体1の前部にはカセット授受部2が設け
られ、該カセット授受部2は搬入出シャッタ3を介して
前記筐体1内部に臨接している。前記搬入出シャッタ3
に対向してポッドオープナ4が設けられ、該ポッドオー
プナ4の上方にはカセット収納棚5が設けられている。
前記ポッドオープナ4、カセット収納棚5と前記搬入出
シャッタ3との間には横行、昇降、進退の協動によりポ
ッド12を搬送するカセットローダ6が設けられてい
る。 【0005】前記筐体1の内部は隔壁10により仕切ら
れており、前記ポッドオープナ4は前記隔壁10に前側
から隣接して設けられている。前記ポッドオープナ4の
後側には昇降、進退、回転の協動により一枚乃至所要枚
数の基板を移載するウェーハ移載機7が設けられ、更に
該ウェーハ移載機7の後方にはロードック室8が設けら
れている。前記隔壁10より前側では基板は前記ポッド
12に収納された状態で扱われ、前記隔壁10より後側
では基板は露出した状態で扱われる。この為、前記隔壁
10より後側の空間は前側の空間より清浄度が高くなる
様、清浄空気等の一様流れが形成される様になってい
る。 【0006】前記ロードック室8には基板移載の為のゲ
ートバルブ(図示せず)が設けられ、又後述する反応炉
11にボート13を装入、引出しする為該ボート13を
昇降させるボートエレベータ9が設けられ、前記ロード
ック室8の上側には反応炉11が設けられ、該反応炉1
1は内部に図示しない石英製の反応管を有し、該反応管
は反応室を画成している。又、該反応室には処理ガス、
パージガス等が処理工程に応じて供給可能であり、又該
反応室の排気が可能となっている。 【0007】処理される基板、処理済基板は所定枚数、
例えば25枚が前記ポッド12に収納され外部搬送装置
(図示せず)により前記カセット授受部2に搬送され
る。該カセット授受部2は複数、例えば2個のポッド1
2を同時に授受或は個別に授受可能であり、前記搬入出
シャッタ3が開いた状態で、前記カセットローダ6は前
記ポッドオープナ4、或はカセット収納棚5に前記ポッ
ド12を移載し、更に前記カセット収納棚5から前記ポ
ッドオープナ4へ、該ポッドオープナ4、カセット収納
棚5から前記カセット授受部2へと前記ポッド12の搬
送を行う。 【0008】前記ポッドオープナ4は前記ポッド12の
蓋を開き、前記ロードック室8のゲートバルブが開か
れ、前記ウェーハ移載機7が前記ポッド12から降下状
態の前記ボート13に未処理基板を移載し、而して、1
個又は2個以上のポッド12から所定枚数の基板を前記
ボート13に装填する。 【0009】前記ロードック室8のゲートバルブ(図示
せず)が閉じられ、前記ボートエレベータ9により前記
ボート13が前記反応炉11内に装入され、前記反応室
が密閉され、前記反応炉11内で基板が加熱され、処理
ガスが導入されて所要の処理がなされる。 【0010】処理後前記ボートエレベータ9により前記
ボート13が降下され、所定温度迄基板が冷却された
後、ゲートバルブ(図示せず)が開かれ、処理済の基板
が前記ウェーハ移載機7により前記ポッドオープナ4の
ポッド12に払出され、更に該ポッド12は前記カセッ
トローダ6により前記カセット授受部2に搬送され、該
カセット授受部2から搬出される。 【0011】上記した基板処理装置に於いて、前記カセ
ットローダ6、ウェーハ移載機7、ボートエレベータ9
等の可動部は、位置の精度出し作業、或は動作条件を設
定する為のティーチング作業、定期的なメンテナンス作
業の為に、前記筐体1内部に入って作業する状況が発生
する。この為、基板処理装置には上記の作業が行えるよ
うな構造となっている。 【0012】先ず、図3により従来の基板処理装置のロ
ードック室8について説明する。 【0013】容器本体15の内部には前記ボートエレベ
ータ9が設けられている。尚、図中16は前記ボート1
3を支持し前記ボートエレベータ9により昇降されるア
ームであり、17は反応炉11の下端に設けられる炉口
フランジを示している。 【0014】前記容器本体15の前側面にはゲートバル
ブ18が設けられている。該ゲートバルブ18は水平方
向(側方)にスライドして開口部19を開閉するもので
あり、該開口部19の幅は前記ウェーハ移載機7が基板
を前記ボート13に移載するに充分な幅であり、又高さ
は基板を前記ボート13に移載する際に前記ボートエレ
ベータ9によるボート13の昇降動作を伴わない高さ、
即ち該ボート13の基板収納部分の高さに相当するもの
とする。 【0015】前記容器本体15の後側面にはメンテナン
ス用開口部21が設けられ、該メンテナンス用開口部2
1はメンテナンス時に開放されるメンテナンス用の開閉
扉22により気密に閉塞される。該開閉扉22の大きさ
は作業者がロードック室8内部に入り前記ボートエレベ
ータ9のメンテナンスが行えるだけの大きさとなってい
る。 【0016】次に、図4により、前記カセットローダ
6、前記ウェーハ移載機7、前記ボートエレベータ9に
対するメンテナンス作業について説明する。 【0017】前記カセットローダ6に対してメンテナン
ス作業を行う場合は、基板処理装置の前面から行い、前
記カセット授受部2を基板処理装置の前方に移動させ、
前記カセットローダ6の前側に作業空間を確保して行
う。又、前記ボートエレベータ9のメンテナンスを行う
場合は、前記筐体1の後面の扉(図示せず)を開け、更
に前記開閉扉22を開いて、前記ボートエレベータ9に
対する作業空間を確保する。 【0018】前記ウェーハ移載機7に対してメンテナン
スを行う場合は、前記隔壁10、及び前記ポッド12が
前記ウェーハ移載機7の前側に設けられているので、構
造上該ウェーハ移載機7に前側から近づくことはできな
い。又、前記ロードック室8の開口部19は作業者が通
過できる大きさではないので、作業者が前記開閉扉22
から前記ロードック室8内に入り、該ロードック室8を
通過して前記ウェーハ移載機7に対して作業できる空間
迄近づくこともできない。従って、現状では前記筐体1
の前記ウェーハ移載機7と対向する側面にサイドメンテ
ナンス用扉23を設け、前記ウェーハ移載機7のメンテ
ナンス時には前記サイドメンテナンス用扉23を開いて
作業者が前記ウェーハ移載機7が収納されている空間に
入り、作業を行っていた。 【0019】 【発明が解決しようとする課題】上記した様に、従来の
基板処理装置ではメンテナンス作業等の作業を行う為に
は、基板処理装置の前方、後方、側方の3面に作業用の
空間を必要とする。特に、複数の基板処理装置を設置す
る場合、側方のメンテナンス空間が必要である為、基板
処理装置を連続して設置することができず、基板処理装
置を設置する場合のフットプリントが大きくなるという
問題がある。尚、前記開口部19を大きくして該開口部
19を作業者が通過できる様にすることも考えられる
が、前記ゲートバルブ18は水平方向にスライドする
為、開口部19、ゲートバルブ18が大きくなると前記
ゲートバルブ18のスライドするストロークを大きくし
なければならず、基板処理装置の幅寸法が大きくなり、
前記ロードック室8が大型化する等の問題が生じ、やは
りフットプリントが大きくなる或は基板処理装置の製作
コストが増大するという問題を有する。 【0020】本発明は斯かる実情に鑑み、基板処理装置
を大きくすることなく、後方からの基板処理装置内部の
可動部のメンテナンスを可能とし、基板処理装置側方の
メンテナンス空間を不要としたものである。 【0021】 【課題を解決するための手段】本発明は、基板を収納す
る気密室と、該気密室の一側面に設けられメンテナンス
時に開放されるメンテナンス扉と、該メンテナンス扉に
開口された基板搬送用開口部と、該基板搬送用開口部を
開閉するゲートバルブを具備した基板処理装置に係るも
のである。 【0022】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。 【0023】図1中、図3中で示したものと同等のもの
には同符号を付してある。 【0024】図1はロードック室8の平断面を示してお
り、他の部分については図2で示したものと同様である
ので、省略している。 【0025】容器本体15の後側面にはメンテナンス用
開口部21が形成され、前側面には前開口部25が形成
され、前記メンテナンス用開口部21は着脱可能な開閉
扉22により気密に閉塞可能である。 【0026】前記容器本体15の前側面には前板26が
気密に固着され、該前板26にはメンテナンス用前開口
部27が穿設され、該メンテナンス用前開口部27の大
きさは作業者が通過できる充分な大きさとなっている。
前記前板26の内面側にヒンジシャフト28を介してメ
ンテナンス扉29が回転自在に設けられ、該メンテナン
ス扉29が前記前板26の内面側に気密に固着される様
になっている。前記メンテナンス扉29の中央部31は
突出しており、該中央部31が前記メンテナンス用前開
口部27に自在に嵌脱可能であり、前記中央部31に開
口部19が開口され、該開口部19は外面側に設けられ
たゲートバルブ18により気密に閉塞可能である。 【0027】該ゲートバルブ18は前記メンテナンス扉
29に対して水平方向にスライド可能に設けられ、図示
しないエアシリンダ等のアクチュエータによりスライド
され、前記開口部19を開閉する様になっている。又、
前記ゲートバルブ18が開口部19を閉塞した状態で
は、ロック機構32により前記ゲートバルブ18が前記
メンテナンス扉29に押圧され、気密が保持される様に
なっている。 【0028】前記ロック機構32は、回転自在に設けら
れたロックレバー33がロックシリンダ34に連結さ
れ、該ロックシリンダ34が伸長することで、前記ロッ
クレバー33が前記ゲートバルブ18を前記メンテナン
ス扉29に押圧し、前記ゲートバルブ18と前記メンテ
ナンス扉29間に気密を保持するに必要な面圧を発生さ
せる様になっている。 【0029】前記メンテナンス扉29は前記前板26に
対して前記ロードック室8の内側からボルト(図示せ
ず)により固着され、前記メンテナンス扉29と前記前
板26間にはOリング等が介設され、気密となる。更
に、前記メンテナンス扉29は前記ヒンジシャフト28
を中心に前記ロードック室8の室内側に前記ゲートバル
ブ18と一体に回転可能となっており、ボートエレベー
タ9のアーム16を上昇させた状態で、前記メンテナン
ス扉29は前記アーム16と干渉することなく、図示の
如く略90°回転し、前記メンテナンス用前開口部27
を完全に開放する。 【0030】以下、メンテナンス時等作業時の作動につ
いて説明する。 【0031】カセットローダ6に対して作業を行う場合
は、筐体1の前側からカセット授受部2を移動させる等
して前記カセットローダ6の前方の空間を確保して前記
筐体1の前側から所要の作業を行う。 【0032】又、前記ボートエレベータ9に対しては、
前記開閉扉22を開き、前記メンテナンス用開口部21
から前記ロードック室8内に入り、所要の作業を行う。 【0033】前記ウェーハ移載機7に対しては前記開閉
扉22を開き、前記メンテナンス用開口部21を開放
し、更に前記メンテナンス扉29をロードック室8の室
内側に開いて、前記メンテナンス用前開口部27を開放
し、前記メンテナンス用開口部21、前記メンテナンス
用前開口部27を通って前記筐体1の中央部の空間に入
り、前記ウェーハ移載機7に対して所要の作業を行う。 【0034】而して、基板処理装置に必要な全てのメン
テナンス作業等の作業は、基板処理装置の前側、後側か
ら行うことができる。従って、基板処理装置の側方に作
業用の空間を確保する必要がなく、複数台の基板処理装
置を設置する場合は、密着して設置することが可能とな
る。又、基板処理装置側面にメンテナンス扉を設ける必
要がなくなったので、筐体構造が簡単になり、更にメン
テナス扉が設けられていた面にも、配管、配線等或は他
の機構部を設けることが可能となり、設計上の制約が少
なくなる。 【0035】更に、前記メンテナンス扉29の開放は、
前記ロードック室8内の空間を利用して行われるので、
前記メンテナンス扉29開放の為に余分な空間を必要と
しない。 【0036】尚、基板の処理については、上記図2につ
いて説明したのと同様であるので、説明を省略する。 【0037】又上記実施の形態では、前記メンテナンス
扉29を前記ヒンジシャフト28を中心に図1中反時計
方向に回転させたが、前記メンテナンス扉29の前記ヒ
ンジシャフト28と対向する反対側を回転自在に支持し
て時計方向に回転させる様にしてもよく、或は該メンテ
ナンス扉29の上端を回転自在に支持し上方に、或は下
端を回転自在に支持して下方に回転させる様にしてもよ
い。 【0038】上述した様に本発明では、基板を収納する
気密室と、該気密室の一側面に設けられメンテナンス時
に開放される第1のメンテナンス扉と、前記気密室の他
の側面に設けられメンテナンス時に開放される第2のメ
ンテナンス扉と、該第2のメンテナンス扉に開口された
基板搬送用開口部と、該基板搬送用開口部を開閉するゲ
ートバルブを具備したので、気密室を通過して基板処理
装置内部のメンテナンスが可能となる。 【0039】 【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、基板を
収納する気密室と、該気密室の一側面に設けられメンテ
ナンス時に開放されるメンテナンス扉と、該メンテナン
ス扉に開口された基板搬送用開口部と、該基板搬送用開
口部を開閉するゲートバルブを具備したので、基板搬送
用開口部が設けられた気密室の一側面での出入が可能と
なり、基板処理装置周囲にメンテナンスの為に必要な空
間が少なくなり、フットプリントが小さくなり、基板処
理装置を設備する際の費用が低減する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a required process for manufacturing a semiconductor device such as a CVD process, an etching process, and an impurity diffusion process on a substrate such as a silicon wafer. It is about. 2. Description of the Related Art FIG. 2 shows a conventional substrate processing apparatus, in particular, a closed-type substrate cassette (hereinafter referred to as a pod) having a load lock chamber which is an airtight chamber connected to a reaction furnace. 1 shows a batch type substrate processing apparatus. An outline of a substrate processing apparatus will be described. A cassette transfer section 2 is provided at a front portion of the housing 1, and the cassette transfer section 2 is in contact with the inside of the housing 1 via a loading / unloading shutter 3. The loading / unloading shutter 3
A pod opener 4 is provided so as to face the pod opener, and a cassette storage shelf 5 is provided above the pod opener 4.
A cassette loader 6 is provided between the pod opener 4, the cassette storage shelf 5, and the loading / unloading shutter 3, and transports the pod 12 in cooperation with traversing, ascending and descending, and advancing and retreating. The inside of the housing 1 is partitioned by a partition 10, and the pod opener 4 is provided adjacent to the partition 10 from the front side. On the rear side of the pod opener 4, there is provided a wafer transfer machine 7 for transferring one to a required number of substrates by cooperation of lifting, lowering, moving back and forth, and a load dock behind the wafer transfer machine 7. A chamber 8 is provided. On the front side of the partition 10, the substrate is handled in a state housed in the pod 12, and on the rear side of the partition 10, the substrate is handled in an exposed state. For this reason, a uniform flow of clean air or the like is formed so that the space on the rear side of the partition 10 has a higher degree of cleanliness than the space on the front side. The load dock chamber 8 is provided with a gate valve (not shown) for transferring a substrate, and a boat elevator for lifting and lowering the boat 13 for loading and unloading the boat 13 into and from a reaction furnace 11 described later. 9 is provided, and a reactor 11 is provided above the load dock chamber 8.
Reference numeral 1 has a quartz reaction tube (not shown) therein, which defines a reaction chamber. In addition, a processing gas,
A purge gas or the like can be supplied according to the processing step, and the reaction chamber can be evacuated. A predetermined number of substrates to be processed and processed substrates
For example, 25 sheets are stored in the pod 12 and are transferred to the cassette transfer unit 2 by an external transfer device (not shown). The cassette transfer section 2 includes a plurality of, for example, two pods 1.
The cassette loader 6 can transfer the pod 12 to the pod opener 4 or the cassette storage shelf 5 with the carry-in / out shutter 3 opened. The pod 12 is transported from the cassette storage shelf 5 to the pod opener 4, from the pod opener 4, and from the cassette storage shelf 5 to the cassette transfer section 2. The pod opener 4 opens the lid of the pod 12, opens the gate valve of the load dock chamber 8, and allows the wafer transfer machine 7 to transfer the unprocessed substrate from the pod 12 to the boat 13 in a lowered state. Put on, 1
A predetermined number of substrates are loaded into the boat 13 from one or more pods 12. A gate valve (not shown) of the load dock chamber 8 is closed, the boat 13 is loaded into the reaction furnace 11 by the boat elevator 9, the reaction chamber is sealed, and the inside of the reaction furnace 11 is closed. Then, the substrate is heated, a processing gas is introduced, and required processing is performed. After the processing, the boat 13 is lowered by the boat elevator 9 and the substrate is cooled to a predetermined temperature. Then, a gate valve (not shown) is opened, and the processed substrate is moved by the wafer transfer machine 7. The cassette is discharged to the pod 12 of the pod opener 4, and the pod 12 is further conveyed to the cassette transfer unit 2 by the cassette loader 6 and is discharged from the cassette transfer unit 2. In the above-described substrate processing apparatus, the cassette loader 6, the wafer transfer machine 7, the boat elevator 9
The movable part such as enters the inside of the housing 1 to perform the work of determining the position accuracy, the teaching work for setting the operating conditions, and the periodic maintenance work. For this reason, the substrate processing apparatus is configured to perform the above-described operations. First, referring to FIG. 3, the load dock chamber 8 of the conventional substrate processing apparatus will be described. The boat elevator 9 is provided inside the container body 15. In the figure, 16 is the boat 1
Reference numeral 17 denotes an arm which supports and moves up and down by the boat elevator 9. Reference numeral 17 denotes a furnace port flange provided at a lower end of the reaction furnace 11. A gate valve 18 is provided on a front side surface of the container body 15. The gate valve 18 slides in the horizontal direction (side) to open and close the opening 19, and the width of the opening 19 is sufficient for the wafer transfer machine 7 to transfer the substrate to the boat 13. And the height is such a height that the boat elevator 9 does not accompany the lifting and lowering operation of the boat 13 when the substrate is transferred to the boat 13,
That is, the height corresponds to the height of the substrate storage portion of the boat 13. A maintenance opening 21 is provided on the rear side surface of the container body 15, and the maintenance opening 2 is provided.
1 is hermetically closed by a maintenance opening / closing door 22 that is opened during maintenance. The size of the opening / closing door 22 is large enough for an operator to enter the load dock room 8 and perform maintenance on the boat elevator 9. Next, a maintenance operation for the cassette loader 6, the wafer transfer machine 7, and the boat elevator 9 will be described with reference to FIG. When performing maintenance work on the cassette loader 6, the maintenance work is performed from the front of the substrate processing apparatus, and the cassette transfer section 2 is moved to the front of the substrate processing apparatus.
The operation is performed with a work space secured in front of the cassette loader 6. When performing maintenance on the boat elevator 9, a door (not shown) on the rear surface of the housing 1 is opened, and the opening / closing door 22 is further opened to secure a work space for the boat elevator 9. When the maintenance is performed on the wafer transfer machine 7, since the partition 10 and the pod 12 are provided in front of the wafer transfer machine 7, the structure of the wafer transfer machine 7 can be reduced. Cannot be approached from the front. Further, the opening 19 of the load dock chamber 8 is not large enough to allow a worker to pass through, so that the
Cannot enter the load dock chamber 8 through the load dock chamber 8 and approach a space where the wafer transfer machine 7 can be operated. Therefore, at present, the housing 1
A side maintenance door 23 is provided on a side surface opposite to the wafer transfer machine 7, and during maintenance of the wafer transfer machine 7, the side maintenance door 23 is opened, and an operator stores the wafer transfer machine 7. I was in a space where I was working. As described above, in the conventional substrate processing apparatus, in order to perform maintenance work or the like, work is performed on the front, rear, and side surfaces of the substrate processing apparatus. Need space. In particular, when installing a plurality of substrate processing apparatuses, the maintenance space on the side is required, so that the substrate processing apparatuses cannot be installed continuously, and the footprint when installing the substrate processing apparatuses becomes large. There is a problem. Although it is conceivable to make the opening 19 large so that an operator can pass through the opening 19, since the gate valve 18 slides in the horizontal direction, the opening 19 and the gate valve 18 are large. Then, the sliding stroke of the gate valve 18 must be increased, and the width of the substrate processing apparatus increases.
Problems such as an increase in the size of the load dock chamber 8 occur, which also causes a problem that the footprint increases or the manufacturing cost of the substrate processing apparatus increases. In view of such circumstances, the present invention enables maintenance of a movable portion inside a substrate processing apparatus from behind without increasing the size of the substrate processing apparatus, and eliminates the need for a maintenance space on the side of the substrate processing apparatus. It is. According to the present invention, there is provided an airtight chamber for accommodating a substrate, a maintenance door provided on one side of the airtight chamber and opened during maintenance, and a substrate opened to the maintenance door. The present invention relates to a substrate processing apparatus provided with a transfer opening and a gate valve for opening and closing the substrate transfer opening. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, the same components as those shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals. FIG. 1 shows a plan section of the load dock chamber 8, and other parts are the same as those shown in FIG. A maintenance opening 21 is formed on the rear side of the container body 15 and a front opening 25 is formed on the front side of the container body 15. The maintenance opening 21 can be hermetically closed by a detachable opening / closing door 22. It is. A front plate 26 is hermetically fixed to the front side surface of the container body 15, and a front opening 27 for maintenance is formed in the front plate 26. The size of the front opening 27 for maintenance depends on the size of the work. Is large enough to pass through.
A maintenance door 29 is rotatably provided on the inner surface side of the front plate 26 via a hinge shaft 28, and the maintenance door 29 is air-tightly fixed to the inner surface side of the front plate 26. The central portion 31 of the maintenance door 29 is protruding, the central portion 31 is freely removably fitted into the front opening 27 for maintenance, and an opening 19 is opened in the central portion 31. Can be hermetically closed by a gate valve 18 provided on the outer surface side. The gate valve 18 is provided so as to be slidable in the horizontal direction with respect to the maintenance door 29, and is slid by an actuator such as an air cylinder (not shown) to open and close the opening 19. or,
When the gate valve 18 closes the opening 19, the gate valve 18 is pressed by the maintenance door 29 by the lock mechanism 32, so that airtightness is maintained. The lock mechanism 32 is configured such that a lock lever 33 rotatably provided is connected to a lock cylinder 34, and the lock cylinder 34 is extended, whereby the lock lever 33 causes the gate valve 18 to move the maintenance door 29. To generate a surface pressure necessary to maintain airtightness between the gate valve 18 and the maintenance door 29. The maintenance door 29 is fixed to the front plate 26 from the inside of the load dock chamber 8 by bolts (not shown), and an O-ring or the like is interposed between the maintenance door 29 and the front plate 26. It becomes airtight. Further, the maintenance door 29 is connected to the hinge shaft 28.
The maintenance door 29 can interfere with the arm 16 in a state where the arm 16 of the boat elevator 9 is lifted up integrally with the gate valve 18 on the indoor side of the load dock chamber 8 around the However, as shown in FIG.
Completely open. The operation at the time of work such as maintenance will be described below. When working on the cassette loader 6, the space in front of the cassette loader 6 is secured by moving the cassette transfer unit 2 from the front side of the housing 1, and the like. Perform the required work. Further, for the boat elevator 9,
Open the open / close door 22 and open the maintenance opening 21
Then, the user enters the load dock chamber 8 and performs necessary work. With respect to the wafer transfer machine 7, the opening / closing door 22 is opened, the maintenance opening 21 is opened, and the maintenance door 29 is further opened to the room side of the load dock chamber 8, and the maintenance front door is opened. The opening 27 is opened, and enters the space in the center of the housing 1 through the maintenance opening 21 and the maintenance front opening 27 to perform a required operation on the wafer transfer machine 7. . Thus, all necessary maintenance work and the like for the substrate processing apparatus can be performed from the front side and the rear side of the substrate processing apparatus. Therefore, there is no need to secure a working space beside the substrate processing apparatus, and when a plurality of substrate processing apparatuses are installed, they can be installed closely. Also, since there is no need to provide a maintenance door on the side of the substrate processing apparatus, the housing structure is simplified, and piping, wiring, etc., or other mechanisms are also provided on the surface where the maintenance door was provided. Is possible, and design constraints are reduced. Further, when the maintenance door 29 is opened,
Since it is performed using the space in the above-mentioned load dock room 8,
No extra space is required for opening the maintenance door 29. The processing of the substrate is the same as that described with reference to FIG. 2, and a description thereof will not be repeated. In the above embodiment, the maintenance door 29 is rotated counterclockwise in FIG. 1 around the hinge shaft 28, but the opposite side of the maintenance door 29 facing the hinge shaft 28 is rotated. The maintenance door 29 may be freely supported and rotated clockwise, or the upper end of the maintenance door 29 may be rotatably supported upward, or the lower end may be rotatably supported and rotated downward. Is also good. As described above, in the present invention, the airtight chamber for accommodating the substrate, the first maintenance door provided on one side of the airtight chamber and opened at the time of maintenance, and the other door provided on the other side of the airtight chamber are provided. A second maintenance door that is opened during maintenance, a substrate transfer opening that is opened to the second maintenance door, and a gate valve that opens and closes the substrate transfer opening are provided. Thus, maintenance inside the substrate processing apparatus becomes possible. As described above, according to the present invention, an airtight chamber for accommodating a substrate, a maintenance door provided on one side of the airtight chamber and opened at the time of maintenance, The substrate transfer opening and the gate valve for opening and closing the substrate transfer opening are provided, so that one side of the airtight chamber provided with the substrate transfer opening can enter and exit, and the substrate processing apparatus can be opened and closed. The space required for maintenance is reduced, the footprint is reduced, and the cost for installing the substrate processing apparatus is reduced.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施の形態を示す要部平断面図であ
る。 【図2】基板処理装置の概略を示す斜視透視図である。 【図3】従来例を示す要部平断面図である。 【図4】従来例を示す説明図である。 【符号の説明】 1 筐体 2 カセット授受部 3 搬入出シャッタ 4 ポッドオープナ 6 カセットローダ 7 ウェーハ移載機 8 ロードック室 9 ボートエレベータ 11 反応炉 12 ポッド 18 ゲートバルブ 22 開閉扉 28 ヒンジシャフト 29 メンテナンス扉
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a main part plan sectional view showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective perspective view schematically showing a substrate processing apparatus. FIG. 3 is a plan sectional view of a main part showing a conventional example. FIG. 4 is an explanatory diagram showing a conventional example. [Description of Signs] 1 Housing 2 Cassette transfer section 3 Carry-in / out shutter 4 Pod opener 6 Cassette loader 7 Wafer transfer machine 8 Load dock room 9 Boat elevator 11 Reactor 12 Pod 18 Gate valve 22 Opening / closing door 28 Hinge shaft 29 Maintenance door

フロントページの続き Fターム(参考) 5F004 AA16 BC01 BC05 BC06 BD03 BD04 5F031 CA02 FA01 FA09 FA12 GA02 HA61 MA02 MA03 MA28 MA29 MA30 NA09 PA06 PA07 5F045 AA06 BB10 DP19 DQ05 EB08 EB10 EN01 EN04 Continuation of front page    F term (reference) 5F004 AA16 BC01 BC05 BC06 BD03                       BD04                 5F031 CA02 FA01 FA09 FA12 GA02                       HA61 MA02 MA03 MA28 MA29                       MA30 NA09 PA06 PA07                 5F045 AA06 BB10 DP19 DQ05 EB08                       EB10 EN01 EN04

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 基板を収納する気密室と、該気密室の一
側面に設けられメンテナンス時に開放されるメンテナン
ス扉と、該メンテナンス扉に開口された基板搬送用開口
部と、該基板搬送用開口部を開閉するゲートバルブを具
備したことを特徴とする基板処理装置。
Claims: 1. An airtight chamber for accommodating a substrate, a maintenance door provided on one side of the airtight chamber and opened at the time of maintenance, and an opening for substrate transfer opened to the maintenance door. And a gate valve for opening and closing the substrate transfer opening.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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