JP2003203797A - X-ray high voltage device, and radiographic apparatus provided with the same - Google Patents
X-ray high voltage device, and radiographic apparatus provided with the sameInfo
- Publication number
- JP2003203797A JP2003203797A JP2002002467A JP2002002467A JP2003203797A JP 2003203797 A JP2003203797 A JP 2003203797A JP 2002002467 A JP2002002467 A JP 2002002467A JP 2002002467 A JP2002002467 A JP 2002002467A JP 2003203797 A JP2003203797 A JP 2003203797A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- dose
- area
- tube
- irradiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 81
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 claims description 43
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 29
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 29
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 27
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000002601 radiography Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 5
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 101100321670 Fagopyrum esculentum FA18 gene Proteins 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、Ｘ線管からＸ線
を被検体に照射するＸ線高電圧装置およびこれを備えた
Ｘ線撮影装置の発明に係り、特に、Ｘ線が被検体を照射
する入射面における全線量である面積線量を求める技術
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an invention of an X-ray high-voltage device for irradiating a subject with X-rays from an X-ray tube and an X-ray imaging apparatus equipped with the same, and more particularly, to an X-ray subject The present invention relates to a technique for obtaining an area dose which is the total dose on an incident surface to be irradiated.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、このようなＸ線高電圧装置を備え
たＸ線撮影装置は、Ｘ線を照射する機能のみを備え、Ｘ
線の強度を知るためには、Ｘ線線量を計測する線量計な
どの機器が実際に照射されるＸ線を計測している。近
年、Ｘ線管から照射するＸ線の照視野を制御するコリメ
ータ出力面に面積線量計を備え、この面積線量計によっ
てＸ線管から照射されるＸ線の線量を計測している。2. Description of the Related Art Conventionally, an X-ray imaging apparatus equipped with such an X-ray high voltage apparatus has only a function of irradiating X-rays,
In order to know the intensity of the X-ray, a device such as a dosimeter that measures the X-ray dose measures the X-ray that is actually irradiated. In recent years, an area dosimeter is provided on an output surface of a collimator that controls an illumination field of X-rays emitted from an X-ray tube, and the area dosimeter measures the dose of X-rays emitted from the X-ray tube.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに面積線量計を取り付けて線量を計測すると、実際に
照射されたＸ線の強度を計測することはできるが、照射
前においてＸ線の強度を知ることができない。その一方
で、被検体に照射する撮影線量の管理を行うためには、
撮影を行う前に線量を知る必要がある。However, if the area dosimeter is attached and the dose is measured as described above, the intensity of the X-rays actually irradiated can be measured, but the intensity of the X-rays before the irradiation can be measured. I can't know. On the other hand, in order to manage the imaging dose to the subject,
It is necessary to know the dose before taking a picture.
【０００４】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、Ｘ線を被検体に照射することなく撮
影前に面積線量を求めるＸ線高電圧装置およびこれを備
えたＸ線撮影装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an X-ray high-voltage apparatus for obtaining an area dose before imaging without irradiating the subject with X-rays, and an X-ray having the same An object is to provide a photographing device.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項１に記載の発明は、Ｘ線を被検体に照射する
ためのＸ線管に管電圧および管電流を与える高電圧発生
手段を備えたＸ線高電圧装置であって、（ａ）計測され
た、前記Ｘ線管のＸ線焦点から前記被検体までの照射距
離、前記高電圧発生手段に関する設定値情報または計測
値情報、および前記Ｘ線管の固有の情報である固有値情
報に基づいて、Ｘ線が被検体を照射する入射面の照射面
積における単位面積当たりのＸ線線量を導出する線量導
出手段と、（ｂ）前記線量導出手段によって求められた
単位面積当たりのＸ線線量、および前記照射面積に基づ
いて、前記入射面における全線量である面積線量を導出
する面積線量導出手段とを備えることを特徴とするもの
である。The present invention has the following constitution in order to achieve such an object. That is, the invention according to claim 1 is an X-ray high-voltage apparatus including high-voltage generating means for applying a tube voltage and a tube current to an X-ray tube for irradiating an object with X-rays. ) Measured irradiation distance from the X-ray focal point of the X-ray tube to the subject, set value information or measured value information regarding the high voltage generating means, and unique value information that is unique information of the X-ray tube. A dose deriving unit for deriving an X-ray dose per unit area in the irradiation area of the incident surface on which the X-ray irradiates the subject, and (b) an X-ray dose per unit area obtained by the dose deriving unit. , And area dose deriving means for deriving the area dose which is the total dose on the incident surface based on the irradiation area.
【０００６】〔作用・効果〕請求項１に記載の発明によ
れば、（ａ）の線量導出手段は、計測された、Ｘ線管の
Ｘ線焦点から被検体までの照射距離、高電圧発生手段に
関する設定値情報または計測値情報、およびＸ線管の固
有の情報である固有値情報に基づいて、Ｘ線が被検体を
照射する入射面の照射面積における単位面積当たりのＸ
線線量を導出する。（ｂ）の面積線量導出手段は、線量
導出手段によって求められた単位面積当たりのＸ線線量
（以下、適宜『Ｘ線線量』または『線量』とする）、お
よび照射面積に基づいて、入射面における全線量である
面積線量を導出する。従って、照射距離，設定値情報ま
たは計測値情報，固有値情報，および照射面積が予め求
まっている、あるいは計測されていれば、Ｘ線を被検体
に照射することなく撮影前に面積線量を求めることがで
きる。[Operation / Effect] According to the invention described in claim 1, the dose deriving means of (a) is the irradiation distance from the X-ray focus of the X-ray tube to the subject, and the generation of high voltage. X per unit area in the irradiation area of the incident surface on which the X-ray irradiates the subject based on the setting value information or the measurement value information regarding the means and the eigenvalue information that is the unique information of the X-ray tube.
Derive the linear dose. The area dose deriving unit in (b) is based on the X-ray dose per unit area (hereinafter, appropriately referred to as “X-ray dose” or “dose”) obtained by the dose deriving unit, and the irradiation area, Derive the area dose, which is the total dose in. Therefore, if the irradiation distance, the set value information or the measurement value information, the eigenvalue information, and the irradiation area are obtained or measured in advance, the area dose can be obtained before the imaging without irradiating the subject with X-rays. You can
【０００７】高電圧発生手段に関する設定値情報または
計測値情報は、Ｘ線を被検体に間欠的に照射して被検体
を撮影する撮影条件、またはＸ線を被検体に連続的に照
射して被検体を透視する透視条件である。The setting value information or the measurement value information relating to the high voltage generating means is the imaging condition for intermittently irradiating the subject with X-rays, or the condition under which the subject is continuously irradiated with X-rays. It is a fluoroscopic condition for seeing through the subject.
【０００８】前者の場合（撮影条件）には、撮影条件
は、管電圧、管電流、および被検体を撮影する時間であ
る撮影時間であって、（ａ）の線量導出手段は、照射距
離、管電圧、管電流、撮影時間、および固有値情報に基
づいて、単位面積当たりのＸ線線量を導出する（請求項
２に記載の発明）。従って、撮影条件である管電圧と管
電流と撮影時間とが設定あるいは計測されていれば、照
射距離、固有値情報、および設定または計測された管電
圧と管電流と撮影時間とに基づいて、Ｘ線線量を求める
ことができて、求められたＸ線線量に基づいて撮影前に
面積線量を求めることができる。また、前者の場合にお
いて、各撮影のたびにそれぞれ導出された各々のＸ線線
量あるいは面積線量を累積する（請求項３に記載の発
明）ことで、複数回に撮影されたＸ線線量あるいは面積
線量の合計を求めることができる。In the former case (imaging conditions), the imaging conditions are the tube voltage, the tube current, and the imaging time which is the time for imaging the subject, and the dose deriving means in (a) is the irradiation distance, The X-ray dose per unit area is derived based on the tube voltage, the tube current, the imaging time, and the eigenvalue information (the invention according to claim 2). Therefore, if the tube voltage, the tube current, and the shooting time, which are the shooting conditions, are set or measured, X is calculated based on the irradiation distance, eigenvalue information, and the set or measured tube voltage, tube current, and shooting time. The linear dose can be obtained, and the area dose can be obtained before imaging based on the obtained X-ray dose. Further, in the former case, the X-ray dose or the area dose, which has been obtained a plurality of times, is accumulated by accumulating the respective X-ray doses or area doses derived for each radiographing (the invention of claim 3). The total dose can be determined.
【０００９】後者の場合（透視条件）には、透視条件
は、管電圧、管電流、および被検体を透視する時間であ
る透視時間であって、（ａ）の線量導出手段は、照射距
離、管電圧、管電流、および固有値情報に基づく値を、
透視時間を区分する所定時間で累積し、累積して得られ
た累積線量を単位面積当たりの線量として導出し、
（ｂ）の面積線量導出手段は、累積線量、および照射面
積に基づいて、累積面積線量を導出し、前記累積面積線
量を、透視開始から累積された所定時間までに照射され
た面積線量とする（請求項４に記載の発明）。In the latter case (fluoroscopic condition), the fluoroscopic condition is the tube voltage, the tube current, and the fluoroscopic time which is the time to fluoroscopically examine the subject, and the dose deriving means in (a) is the irradiation distance, Values based on tube voltage, tube current, and eigenvalue information,
Accumulate at a predetermined time to divide the fluoroscopic time, derive the cumulative dose obtained by accumulating, as the dose per unit area,
The area dose deriving means of (b) derives the cumulative area dose based on the cumulative dose and the irradiation area, and sets the cumulative area dose as the area dose irradiated from the start of the fluoroscopy to the accumulated predetermined time. (Invention of Claim 4).
【００１０】撮影する場合には撮影時間を設定している
ので撮影時間が予め分かっているのに対し、透視を行う
場合には透視を終了した段階でないと透視時間は分から
ない。そこで、照射距離、管電圧、管電流、および固有
値情報に基づく値を、区分された所定時間で累積する。
透視を終了するまでこの累積は行われる。従って、透視
条件である管電圧と管電流とが設定あるいは計測されて
いれば、照射距離、固有値情報、および設定または計測
された管電圧と管電流とに基づく値を所定時間で累積し
て得られた累積線量は、区分された所定時間ごとに単位
面積当たりの線量としてそれぞれ求めることができる。
そして、求められたＸ線線量に基づいて累積面積線量を
導出し、求められた累積面積線量を面積線量として求め
ることができる。すなわち、区分された所定時間ごと
に、透視開始から累積された所定時間までに照射された
面積線量をそれぞれ求めることができ、透視が終了した
段階では、透視時間が、透視開始から累積された所定時
間までの時間となるので、透視時間に照射された面積線
量を求めることができる。In the case of photographing, the photographing time is set in advance so that the photographing time is known in advance. On the other hand, in the case of performing fluoroscopy, the fluoroscopy time cannot be known unless the fluoroscopy is finished. Therefore, the irradiation distance, the tube voltage, the tube current, and the value based on the eigenvalue information are accumulated in the divided predetermined time.
This accumulation continues until the fluoroscopy is completed. Therefore, if the tube voltage and the tube current, which are the fluoroscopic conditions, are set or measured, the irradiation distance, eigenvalue information, and the value based on the set or measured tube voltage and tube current are accumulated for a predetermined time to obtain the value. The accumulated dose thus obtained can be obtained as a dose per unit area for each predetermined period of time.
Then, the cumulative area dose can be derived based on the obtained X-ray dose, and the calculated cumulative area dose can be obtained as the area dose. That is, the area dose irradiated from the start of fluoroscopy to the accumulated predetermined time can be obtained for each divided predetermined time, and at the stage when the fluoroscopy is completed, the fluoroscopy time is the predetermined amount accumulated from the start of fluoroscopy. Since the time is up to the time, the area dose irradiated during the fluoroscopic time can be obtained.
【００１１】また、線量を求めるためには、照射距離が
計測されていなければいけないが、その照射距離を計測
する照射距離計測手段をＸ線高電圧装置に備えて（請求
項５に記載の発明）もよいし、Ｘ線高電圧装置を備えた
後述するＸ線撮影装置に備えて（請求項１２に記載の発
明）もよい。照射距離計測手段をＸ線撮影装置に備える
ということは、請求項５に記載の発明のように照射距離
計測手段をＸ線高電圧装置に備える場合や、照射距離計
測手段をＸ線高電圧装置に備えずに、Ｘ線高電圧装置を
構成する要素以外の要素、例えばＸ線管側に照射距離計
測手段を備える場合などを含む。Further, in order to obtain the dose, the irradiation distance must be measured, but the irradiation distance measuring means for measuring the irradiation distance is provided in the X-ray high voltage apparatus (the invention according to claim 5). ), Or for an X-ray imaging apparatus, which will be described later, equipped with an X-ray high voltage apparatus (the invention according to claim 12). The provision of the irradiation distance measuring means in the X-ray imaging apparatus means that the irradiation distance measuring means is provided in the X-ray high voltage apparatus as in the invention described in claim 5, or the irradiation distance measuring means is provided in the X-ray high voltage apparatus. In addition, the case where the irradiation distance measuring means is provided on an element other than the elements constituting the X-ray high-voltage device, for example, on the X-ray tube side.
【００１２】また、照射面積を求めるには、Ｘ線が被検
体を照射する入射面の前記照射面積を導出する照射面積
導出手段を備える（請求項６に記載の発明）。照射面積
を求める手法として、例えばＸ線管から照射するＸ線の
照視野を制御するコリメータの開き量、照射距離、およ
びＸ線焦点からコリメータまでのコリメータ距離に基づ
いて、照射面積を導出する手法（請求項７に記載の発
明）や、被検体を撮影するＸ線フィルムのフィルム面積
に基づいて、照射面積を導出する手法（請求項８に記載
の発明）などがある。請求項７の場合には、照射距離と
コリメータ距離との比が、照射面積とコリメータの開き
量との比に等しいことから、コリメータの開き量、照射
距離、コリメータ距離が予め求まっている、あるいは計
測されていれば、照射面積を求めることができる。請求
項８の場合には、照視野の角度が小さく、被検体とＸ線
フィルムとが近接していれば、フィルム面積が照射面積
にほぼ等しいとみなして、フィルム面積を照射面積に当
てはめることもできる。従って、請求項７の場合と比較
して照射面積をより簡易に求めることができる。もちろ
ん、照視野の角度などに基づいて照射面積を校正して求
めてもよい。Further, in order to obtain the irradiation area, there is provided irradiation area deriving means for deriving the irradiation area of the incident surface on which the X-ray irradiates the subject (the invention according to claim 6). As a method of obtaining the irradiation area, for example, a method of deriving the irradiation area based on the opening amount of the collimator for controlling the irradiation field of X-rays emitted from the X-ray tube, the irradiation distance, and the collimator distance from the X-ray focus to the collimator. (Invention according to claim 7) and a method of deriving the irradiation area based on the film area of the X-ray film for imaging the subject (invention according to claim 8). In the case of claim 7, since the ratio of the irradiation distance and the collimator distance is equal to the ratio of the irradiation area and the opening amount of the collimator, the opening amount of the collimator, the irradiation distance, and the collimator distance are obtained in advance, or If measured, the irradiation area can be obtained. In the case of claim 8, if the angle of the visual field is small and the subject and the X-ray film are close to each other, the film area is considered to be almost equal to the irradiation area, and the film area may be applied to the irradiation area. it can. Therefore, the irradiation area can be calculated more easily than in the case of claim 7. Of course, the irradiation area may be calibrated and calculated based on the angle of the illumination field.
【００１３】また、Ｘ線管の固有の情報である固有値情
報は、管電圧の大きさや、Ｘ線管を構成する、Ｘ線成分
を抽出するフィルタなどに左右される。従って、固有値
情報は、管電圧と、Ｘ線管に具備されたフィルタの材質
および厚みと、管電圧およびフィルタの材質・厚みに対
して相関関係にある総ろ過補正係数とである（請求項９
に記載の発明）。なお、総ろ過補正係数は、管電圧の大
きさや、フィルタの材質および厚みによって左右され
る。Further, the eigenvalue information, which is the information peculiar to the X-ray tube, depends on the magnitude of the tube voltage, the filter forming the X-ray tube, and the filter for extracting the X-ray component. Therefore, the eigenvalue information is the tube voltage, the material and thickness of the filter included in the X-ray tube, and the total filtration correction coefficient that has a correlation with the tube voltage and the material and thickness of the filter.
Invention described in). The total filtration correction coefficient depends on the magnitude of the tube voltage and the material and thickness of the filter.
【００１４】また、演算処理の負担を軽減させるため
に、照射距離または照射面積のいずれか１つを、あるい
は照射距離および照射面積の両者を入力する入力手段を
備える（請求項１０に記載の発明）のが好ましい。特
に、請求項８に記載の発明のようにフィルム面積に基づ
いて照射面積を導出するとき、上述したようにフィルム
面積を照射面積に当てはめる場合において有用である。
つまり、フィルム面積の値を入力手段から入力するだけ
で照射面積を入力することができる。Further, in order to reduce the load of the arithmetic processing, there is provided an input means for inputting either one of the irradiation distance and the irradiation area, or both the irradiation distance and the irradiation area (the invention of claim 10). ) Is preferred. Particularly, when the irradiation area is derived based on the film area as in the invention described in claim 8, it is useful in the case where the film area is applied to the irradiation area as described above.
That is, the irradiation area can be input only by inputting the value of the film area from the input means.
【００１５】また、請求項１１に記載の発明は、請求項
１から請求項１０のいずれかに記載のＸ線高電圧装置を
備えたＸ線撮影装置であって、（Ａ）Ｘ線を被検体に照
射するためのＸ線管と、（Ｂ）前記Ｘ線管に管電圧およ
び管電流を与える高電圧発生手段とを備えるとともに、
（Ｃ）計測された、前記Ｘ線管のＸ線焦点から前記被検
体までの照射距離、前記高電圧発生手段に関する設定値
情報または計測値情報、およびＸ線管の固有の情報であ
る固有値情報に基づいて、Ｘ線が被検体を照射する入射
面の照射面積における単位面積当たりのＸ線線量を導出
する線量導出手段と、（Ｄ）前記線量導出手段によって
求められた単位面積当たりのＸ線線量、および前記照射
面積に基づいて、前記入射面における全線量である面積
線量を導出する面積線量導出手段とを備えることを特徴
とするものである。The invention described in claim 11 is an X-ray imaging apparatus equipped with the X-ray high-voltage device according to any one of claims 1 to 10, wherein (A) X-rays are received. An X-ray tube for irradiating a specimen, and (B) a high voltage generating means for applying a tube voltage and a tube current to the X-ray tube,
(C) Measured irradiation distance from the X-ray focal point of the X-ray tube to the subject, set value information or measured value information about the high voltage generating means, and unique value information that is unique information of the X-ray tube. A dose deriving means for deriving an X-ray dose per unit area in the irradiation area of the incident surface on which the X-ray irradiates the subject, and (D) X-ray per unit area obtained by the dose deriving means. Area dose deriving means for deriving an area dose, which is the total dose on the incident surface, based on the dose and the irradiation area.
【００１６】〔作用・効果〕請求項１１に記載の発明に
よれば、Ｘ線を被検体に照射することなく撮影前に面積
線量を求めることができるので、被検体に照射する撮影
線量の管理を容易に行うことができる。[Operation / Effect] According to the invention as set forth in claim 11, since the area dose can be obtained before imaging without irradiating the subject with X-rays, management of the imaging dose with which the subject is irradiated. Can be done easily.
【００１７】なお、本明細書は、Ｘ線撮影装置に用いら
れるＸ線撮影方法およびＸ線透視方法に係る発明も開示
している。The present specification also discloses inventions relating to an X-ray imaging method and an X-ray fluoroscopic method used in the X-ray imaging apparatus.
【００１８】（１）請求項１１に記載のＸ線撮影装置に
用いられるＸ線撮影方法であって、前記照射距離を計測
し、前記高電圧発生手段に関する設定値情報または計測
値情報として、撮影条件である管電圧および管電流を計
測あるいは設定するとともに、撮影条件である撮影時間
を設定し、前記照射距離、管電圧、管電流、撮影時間、
および固有値情報に基づいて、前記線量導出手段は単位
面積当たりのＸ線線量を導出し、求められた前記Ｘ線線
量、および照射面積に基づいて、面積線量導出手段は前
記面積線量を導出し、求められた面積線量に基づいて前
記高電圧発生手段を操作することで前記Ｘ線管を制御し
て、Ｘ線管からＸ線を被検体に間欠的に照射して被検体
を撮影することを特徴とするＸ線撮影方法。(1) An X-ray imaging method used in an X-ray imaging apparatus according to claim 11, wherein the irradiation distance is measured, and imaging is performed as setting value information or measurement value information relating to the high voltage generating means. While measuring or setting the tube voltage and the tube current, which are the conditions, and setting the shooting time, which is the shooting condition, the irradiation distance, the tube voltage, the tube current, the shooting time,
And based on the eigenvalue information, the dose derivation means derives the X-ray dose per unit area, based on the obtained X-ray dose and irradiation area, the area dose derivation means derives the area dose, It is possible to control the X-ray tube by operating the high-voltage generating means based on the obtained area dose, and to intermittently irradiate the subject with X-rays from the X-ray tube to image the subject. A characteristic X-ray imaging method.
【００１９】〔作用・効果〕上記の発明によれば、撮影
条件である管電圧と管電流と撮影時間とが設定あるいは
計測されているので、照射距離、固有値情報、および設
定または計測された管電圧と管電流と撮影時間とに基づ
いて、Ｘ線線量を求めることができて、求められたＸ線
線量に基づいて撮影前に面積線量を求めることができ
る。また、求められた面積線量に基づいて、撮影前にお
いて高電圧発生手段を操作することでＸ線管を制御する
ので、被検体に照射する撮影線量の管理を容易に行うこ
とができる。[Operation / Effect] According to the above invention, since the tube voltage, tube current, and shooting time, which are the shooting conditions, are set or measured, the irradiation distance, eigenvalue information, and the set or measured tube are set. The X-ray dose can be calculated based on the voltage, the tube current, and the imaging time, and the area dose can be calculated before the imaging based on the calculated X-ray dose. In addition, since the X-ray tube is controlled by operating the high-voltage generating means based on the obtained area dose before imaging, the imaging dose for irradiating the subject can be easily managed.
【００２０】（２）前記（１）に記載のＸ線撮影方法に
おいて、Ｘ線管から照射するＸ線の照視野を制御するコ
リメータの開き量、照射距離、およびＸ線焦点からコリ
メータまでのコリメータ距離に基づいて、照射面積を導
出することを特徴とするＸ線撮影方法。(2) In the X-ray imaging method described in (1) above, the opening amount, irradiation distance, and collimator from the X-ray focus to the collimator for controlling the irradiation field of X-rays emitted from the X-ray tube. An X-ray imaging method, wherein an irradiation area is derived based on a distance.
【００２１】〔作用・効果〕上記の発明によれば、面積
線量を導出する際には、Ｘ線線量、および照射面積が必
要であるが、計測された照射距離を利用して、コリメー
タの開き量およびコリメータ距離に基づいて、その照射
面積を求めることができる。[Operation / Effect] According to the above invention, when deriving the area dose, the X-ray dose and the irradiation area are required. However, the collimator can be opened using the measured irradiation distance. The irradiation area can be obtained based on the amount and the collimator distance.
【００２２】（３）請求項１１に記載のＸ線撮影装置に
用いられるＸ線透視方法であって、前記照射距離を計測
し、前記高電圧発生手段に関する設定値情報または計測
値情報として、透視条件である管電圧および管電流を計
測あるいは設定し、Ｘ線管からＸ線を被検体に連続的に
照射して被検体を透視しながら、前記線量導出手段は、
区分された所定時間ごとに、照射距離、管電圧、管電
流、および固有値情報に基づく値を累積し、累積して得
られた累積線量を前記Ｘ線線量として導出し、求められ
た累積線量、および照射面積に基づいて、前記面積線量
導出手段は前記累積面積線量を導出し、累積面積線量
を、透視開始から累積された所定時間までに照射された
面積線量とし、透視が終了した段階において透視開始か
ら累積された所定時間までの時間を、透視条件である透
視時間とすることを特徴とするＸ線透視方法。(3) An X-ray fluoroscopy method used in an X-ray imaging apparatus according to claim 11, wherein the irradiation distance is measured, and the fluoroscopy is performed as set value information or measurement value information relating to the high voltage generating means. While measuring or setting the tube voltage and the tube current, which are the conditions, and continuously irradiating the subject with X-rays from the X-ray tube, the dose deriving means
For each divided predetermined time, irradiation distance, tube voltage, tube current, and a value based on eigenvalue information are accumulated, and the cumulative dose obtained by the accumulation is derived as the X-ray dose, and the obtained cumulative dose, And the area dose deriving means derives the cumulative area dose based on the irradiation area, and sets the cumulative area dose as the area dose irradiated from the start of the fluoroscopy to the accumulated predetermined time, and when the fluoroscopy is completed, the fluoroscopy is performed. An X-ray fluoroscopic method, wherein the time from the start to the accumulated predetermined time is set as a fluoroscopic time which is a fluoroscopic condition.
【００２３】〔作用・効果〕上記の発明によれば、透視
条件である管電圧と管電流とが設定あるいは計測されて
いるので、照射距離、管電圧、管電流、および固有値情
報に基づく値を、区分された所定時間で累積し、累積し
て得られた累積線量をＸ線線量として求めることができ
て、累積線量に基づいて求められた累積面積線量を、透
視開始から累積された所定時間までに照射された面積線
量として求めることができる。また、透視開始から累積
された所定時間までに照射された面積線量が、区分され
た所定時間ごとに分かるので、被検体に照射する撮影線
量の管理を容易に行うことができる。[Operation / Effect] According to the above invention, since the tube voltage and the tube current, which are the fluoroscopic conditions, are set or measured, the values based on the irradiation distance, the tube voltage, the tube current, and the eigenvalue information are calculated. , The cumulative dose obtained by accumulating in the divided predetermined time can be obtained as the X-ray dose, and the cumulative area dose obtained based on the cumulative dose is the predetermined time accumulated from the start of the fluoroscopy. It can be obtained as the area dose irradiated up to. Further, since the area dose irradiated from the start of fluoroscopy to the accumulated predetermined time is known for each divided predetermined time, it is possible to easily manage the imaging dose irradiated to the subject.
【００２４】（４）前記（３）に記載のＸ線透視方法に
おいて、Ｘ線管から照射するＸ線の照視野を制御するコ
リメータの開き量、照射距離、およびＸ線焦点からコリ
メータまでのコリメータ距離に基づいて、照射面積を導
出することを特徴とするＸ線透視方法。(4) In the X-ray fluoroscopic method described in (3) above, the opening amount of the collimator for controlling the irradiation field of the X-ray emitted from the X-ray tube, the irradiation distance, and the collimator from the X-ray focus to the collimator. An X-ray fluoroscopic method, wherein an irradiation area is derived based on a distance.
【００２５】〔作用・効果〕上記の発明によれば、面積
線量を導出する際には、Ｘ線線量、および照射面積が必
要であるが、計測された照射距離を利用して、コリメー
タの開き量およびコリメータ距離に基づいて、その照射
面積を求めることができる。[Operation / Effect] According to the above invention, when deriving the area dose, the X-ray dose and the irradiation area are necessary. However, the collimator can be opened using the measured irradiation distance. The irradiation area can be obtained based on the amount and the collimator distance.
【００２６】[0026]
【発明の実施の形態】〔第１実施例〕以下、図面を参照
してこの発明の第１実施例を説明する。図１は、第１実
施例に係るＸ線撮影装置の概略構成を示したブロック
図、図２は、Ｘ線管からＸ線を被検体に照射するときの
様子を示した図である。図中、符号１は、Ｘ線撮影装置
であるとともに、符号２はＸ線高電圧装置であって、Ｘ
線撮影装置１はＸ線高電圧装置２を備えている。このＸ
線高電圧装置２の他に、Ｘ線撮影装置１は、図１に示す
ように、Ｘ線ビームＢ（以下、適宜『Ｘ線Ｂ』と略記す
る）を被検体Ｍに照射するためのＸ線管３と、被検体Ｍ
を載置する天板４と、被検体Ｍを撮影するＸ線フィルム
５と、Ｘ線管３のＸ線焦点Ａ（図２参照）から被検体Ｍ
までの照射距離Ｌ1（図２参照）を計測する距離計６と
を備えている。この距離計６は、例えば超音波距離計
や、赤外線距離計など、距離を計測する手段であれば、
特に限定されない。距離計６は、本発明における照射距
離計測手段に相当する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [First Embodiment] A first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an X-ray imaging apparatus according to the first embodiment, and FIG. 2 is a diagram showing a state when an X-ray is irradiated onto a subject from an X-ray tube. In the figure, reference numeral 1 is an X-ray imaging apparatus, and reference numeral 2 is an X-ray high voltage apparatus.
The radiographic apparatus 1 includes an X-ray high voltage device 2. This X
In addition to the X-ray high-voltage device 2, the X-ray imaging apparatus 1, as shown in FIG. Wire tube 3 and subject M
From the top plate 4 on which the X-ray is mounted, the X-ray film 5 for photographing the subject M, and the X-ray focus A (see FIG. 2) of the X-ray tube 3 to the subject M.
A distance meter 6 for measuring the irradiation distance L 1 (see FIG. 2) up to. The range finder 6 may be, for example, an ultrasonic range finder or an infrared range finder if it is a means for measuring a distance.
There is no particular limitation. The distance meter 6 corresponds to the irradiation distance measuring means in the present invention.
【００２７】Ｘ線高電圧装置２は、図１に示すように、
Ｘ線管３に管電圧および管電流を与える高電圧発生部７
と、入力部８と、Ｘ線Ｂが被検体Ｍを照射する入射面の
照射面積Ｓ1（図２参照）における単位面積当たりのＸ
線線量を導出する線量導出部９と、その照射面積Ｓ1を
導出する照射面積導出部１０と、入射面における全線量
である面積線量を導出する面積線量導出部１１と、Ｘ線
管３の固有の情報である固有値情報を記憶する固有値情
報メモリ１２と、Ｘ線線量や面積線量などの結果をＴＶ
モニタや制御盤などに出力する出力部１３と、Ｘ線撮影
装置１およびＸ線高電圧装置２を統括制御する制御部１
４とを備えている。高電圧発生部７は本発明における高
電圧発生手段に、入力部８は本発明における入力手段
に、線量導出部９は本発明における線量導出手段に、照
射面積導出部１０は本発明における照射面積導出手段
に、面積線量導出部１１は本発明における面積線量導出
手段にそれぞれ相当する。The X-ray high voltage apparatus 2 is, as shown in FIG.
High voltage generator 7 for applying tube voltage and tube current to the X-ray tube 3.
, The input unit 8, and X per unit area in the irradiation area S 1 (see FIG. 2) of the incident surface on which the X-ray B irradiates the subject M.
The dose deriving unit 9 for deriving the linear dose, the irradiation area deriving unit 10 for deriving the irradiation area S 1 thereof, the area dose deriving unit 11 for deriving the area dose which is the total dose on the incident surface, and the X-ray tube 3 An eigenvalue information memory 12 that stores eigenvalue information that is unique information, and a result such as X-ray dose and area dose are displayed on a TV.
An output unit 13 for outputting to a monitor or a control panel, and a control unit 1 for integrally controlling the X-ray imaging apparatus 1 and the X-ray high voltage apparatus 2.
4 and. The high voltage generator 7 is the high voltage generator in the present invention, the input unit 8 is the input unit in the present invention, the dose deriving unit 9 is the dose deriving unit in the present invention, and the irradiation area deriving unit 10 is the irradiation area in the present invention. The area dose deriving unit 11 corresponds to the area deriving unit in the present invention.
【００２８】続いて、各々の構成について詳しく説明す
る。入力部８は、Ｘ線管３からＸ線Ｂを被検体Ｍに照射
させる、天板４を移動させる、Ｘ線フィルム５から被検
体Ｍを撮影させる、固有値情報メモリ１２から固有値情
報を読み出す、出力部１３に結果を出力させるなどの制
御命令を、制御部１４を介して入力する機能の他に、撮
影条件として管電圧Ｖ、管電流Ｉ、および撮影時間Ｔを
入力設定して、制御部１４を介して高電圧発生部７にそ
れらの撮影条件を与える機能をも備えている。制御部１
４および高電圧発生部７を介して入力部８から入力され
た撮影条件（管電圧Ｖ、管電流Ｉ、および撮影時間Ｔ）
は、線量導出部９に与えられる。Next, each structure will be described in detail. The input unit 8 irradiates the subject M with X-rays B from the X-ray tube 3, moves the top plate 4, causes the subject M to be imaged from the X-ray film 5, and reads out eigenvalue information from the eigenvalue information memory 12. In addition to the function of inputting a control command such as outputting the result to the output unit 13 via the control unit 14, the tube voltage V, the tube current I, and the shooting time T are input and set as the shooting conditions, and the control unit It also has a function of giving those photographing conditions to the high voltage generator 7 via 14. Control unit 1
4 and the shooting conditions (tube voltage V, tube current I, and shooting time T) input from the input unit 8 via the high voltage generation unit 7.
Is given to the dose deriving unit 9.
【００２９】線量導出部９は、距離計６によって計測さ
れた照射距離Ｌ1、高電圧発生部７に関する設定値情報
である撮影条件（管電圧Ｖ、管電流Ｉ、および撮影時間
Ｔ）、および固有値情報メモリ１２から読み出された固
有値情報に基づいて、単位面積当たりのＸ線線量を導出
する。すなわち、照射距離Ｌ1、管電圧Ｖ、管電流Ｉ、
撮影時間Ｔ、固有値情報である後述する総ろ過補正係数
ａを用いて、Ｘ線線量ｘは下記の（１）のように表され
る。
ｘ＝ａ・Ｖ・Ｉ・Ｔ・（１／Ｌ1）2 ……（１）The dose deriving unit 9 measures the irradiation distance L 1 measured by the rangefinder 6, photographing conditions (tube voltage V, tube current I, and photographing time T) which are set value information on the high voltage generating unit 7, and The X-ray dose per unit area is derived based on the eigenvalue information read from the eigenvalue information memory 12. That is, irradiation distance L 1 , tube voltage V, tube current I,
The X-ray dose x is expressed as in (1) below, using the imaging time T and the total filtration correction coefficient a, which will be described later, which is eigenvalue information. x = a ・ V ・ I ・ T ・ (1 / L 1 ) 2 (1)
【００３０】照射面積導出部１０は、下記のようにして
照射面積Ｓ1を導出する。すなわち、Ｘ線管３は、図２
に示すように、Ｘ線Ｂの照視野を制御するコリメータ１
５と、Ｘ線成分を抽出するフィルタ１６とを備えてい
る。このコリメータ１５の開き量をＳ2とし、Ｘ線焦点
Ａからコリメータ１５までのコリメータ距離をＬ2とす
る。照射距離Ｌ1とコリメータ距離Ｌ2との比の２乗が、
照射面積Ｓ1とコリメータ１５の開き量Ｓ2との比に等し
いことから、コリメータの開き量Ｓ2、照射距離Ｌ 1、コ
リメータ距離Ｌ2に基づいて、下記の（２）式より照射
面積Ｓ1を求める。
Ｓ1＝Ｓ2・（Ｌ1／Ｌ2）2 ……（２）The irradiation area derivation unit 10 operates as follows.
Irradiation area S1Derive. That is, the X-ray tube 3 is shown in FIG.
As shown in, a collimator 1 that controls the X-ray B field of view
5 and a filter 16 for extracting the X-ray component
It The opening amount of this collimator 15 is S2And X-ray focus
The collimator distance from A to the collimator 15 is L2Tosu
It Irradiation distance L1And collimator distance L2The square of the ratio to
Irradiation area S1And the opening amount S of the collimator 152Equal to the ratio
Therefore, the collimator opening amount S2, Irradiation distance L 1,
Remeter distance L2Based on the formula, irradiation from the following equation (2)
Area S1Ask for.
S1= S2・ (L1/ L2)2 …… (2)
【００３１】面積線量導出部１１は、線量導出部９から
求められたＸ線線量ｘ、および照射面積導出部１０から
求められた照射面積Ｓ1に基づいて、面積線量Ｘを導出
する。すなわち、Ｘ線線量ｘ、および照射面積Ｓ1を用
いて、Ｘ線線量ｘは下記の（３）のように表される。
Ｘ＝ｘ・Ｓ1 ……（３）The area dose deriving unit 11 derives the area dose X based on the X-ray dose x obtained from the dose deriving unit 9 and the irradiation area S 1 obtained from the irradiation area deriving unit 10. That is, the X-ray dose x and the irradiation area S 1 are used to express the X-ray dose x as shown in (3) below. X = x · S 1 (3)
【００３２】固有値情報メモリ１２には、Ｘ線管３の固
有の情報である固有値情報が予め記憶されている。固有
値情報は、管電圧の大きさや、Ｘ線管３を構成するフィ
ルタ１６などに左右される。従って、固有値情報は、管
電圧Ｖ、フィルタ１６の材質および厚み、管電圧Ｖおよ
びフィルタ１６の材質・厚みに対して相関関係にある総
ろ過補正係数ａなどがある。なお、第１実施例では、固
有値情報として、管電圧Ｖ、フィルタ１６の材質・厚
み、総ろ過補正係数ａを挙げたが、Ｘ線管３に関する固
有の情報をもっている物理量であれば、特に限定されな
い。The eigenvalue information memory 12 prestores eigenvalue information that is unique to the X-ray tube 3. The eigenvalue information depends on the magnitude of the tube voltage, the filter 16 included in the X-ray tube 3, and the like. Therefore, the eigenvalue information includes the tube voltage V, the material and thickness of the filter 16, and the total filtration correction coefficient a that is correlated with the tube voltage V and the material and thickness of the filter 16. In the first embodiment, the tube voltage V, the material / thickness of the filter 16 and the total filtration correction coefficient a are listed as the eigenvalue information, but the physical quantity having the unique information about the X-ray tube 3 is not particularly limited. Not done.
【００３３】管電圧Ｖ、フィルタ１６の材質・厚み、総
ろ過補正係数ａとの相関関係を示す一例の表を、図３に
示す。２行目から５行目までの各行は、アルミニウム
（Ａｌ）で形成されたフィルタ１６の各厚み（ｍｍ）に
ついてそれぞれ示すとともに、２列目から１３列目まで
の各列は、管電圧Ｖの各大きさ（ｋＶ）についてそれぞ
れ示し、２行目以降で２列目以降の各行各列には、各々
の管電圧Ｖの大きさ、各々のＡｌのフィルタ１６の厚み
のときにおける総ろ過補正係数ａをそれぞれ示す。例え
ば、表の２行２列目では、管電圧Ｖは４０（ｋＶ）、Ａ
ｌのフィルタ１６の厚みは１．５（ｍｍ）であって、そ
のときにおける総ろ過補正係数ａは、０．０２４９であ
り、表の３行８列目では、管電圧Ｖは１００（ｋＶ）、
Ａｌのフィルタ１６の厚みは２．０（ｍｍ）であって、
そのときにおける総ろ過補正係数ａは、０．１２０９で
あり、表の５行１３列目では、管電圧Ｖは１５０（ｋ
Ｖ）、Ａｌのフィルタ１６の厚みは１．５（ｍｍ）であ
って、そのときにおける総ろ過補正係数ａは、０．１６
９５である。なお、上述の管電圧Ｖ、およびＡｌのフィ
ルタ１６の厚みの範囲内であって、表に記載されていな
い場合において総ろ過補正係数ａを求めるときには、直
線補間法や、最小２乗法などの内挿法によって補間す
る。FIG. 3 shows an example table showing the correlation between the tube voltage V, the material and thickness of the filter 16, and the total filtration correction coefficient a. Each row from the second row to the fifth row shows each thickness (mm) of the filter 16 formed of aluminum (Al), and each row from the second row to the thirteenth row shows the tube voltage V The respective magnitudes (kV) are shown, and the second and subsequent rows, the second and subsequent rows, and the respective columns, the respective tube voltages V, the total filtration correction coefficient when the Al filter 16 has a different thickness. a is shown respectively. For example, in the second row and second column of the table, the tube voltage V is 40 (kV), A
The thickness of the filter 16 of 1 is 1.5 (mm), the total filtration correction coefficient a at that time is 0.0249, and the tube voltage V is 100 (kV) in the third row and eighth column of the table. ,
The thickness of the Al filter 16 is 2.0 (mm),
The total filtration correction coefficient a at that time is 0.1209, and in the 5th row and 13th column of the table, the tube voltage V is 150 (k
The thickness of the V) and Al filters 16 is 1.5 (mm), and the total filtration correction coefficient a at that time is 0.16.
95. In addition, when the total filtration correction coefficient a is determined within the range of the tube voltage V and the thickness of the Al filter 16 and not listed in the table, a linear interpolation method, a least square method, or the like is used. Interpolate by interpolation.
【００３４】この総ろ過補正係数ａは、Ｘ線管３内部の
コリメータ１５およびフィルタ１６を介して、Ｘ線Ｂが
減衰する減衰率を表している。従って、フィルタ１６の
厚みが厚くなるほど、減衰率（総ろ過補正係数ａ）が下
がって、管電圧Ｖが高くなるほど、減衰率（総ろ過補正
係数ａ）が上がるのが、図３中の表からも分かる。The total filtration correction coefficient a represents the attenuation rate at which the X-ray B is attenuated via the collimator 15 and the filter 16 inside the X-ray tube 3. Therefore, it can be seen from the table in FIG. 3 that the thicker the filter 16 is, the lower the attenuation rate (total filtration correction coefficient a) is, and the higher the tube voltage V is, the higher the attenuation rate (total filtration correction coefficient a) is. I also understand.
【００３５】続いて、照射距離を計測してからＸ線撮影
を終了するまでの一連のＸ線撮影方法について、図４の
フローチャートを参照して説明する。なお、第１実施例
では、ステップＳ１（照射距離の計測）とステップＳ２
（撮影条件の入力設定）とを同時に行うとともに、ステ
ップＳ３（Ｘ線線量の導出）とステップＳ４（照射面積
の導出）とを同時に行うとする。Next, a series of X-ray imaging methods from the measurement of the irradiation distance to the end of X-ray imaging will be described with reference to the flowchart of FIG. In the first embodiment, step S1 (measurement of irradiation distance) and step S2
(Input setting of imaging conditions) is performed at the same time, and step S3 (derivation of X-ray dose) and step S4 (derivation of irradiation area) are performed simultaneously.
【００３６】（ステップＳ１）照射距離の計測
天板４に被検体Ｍを載置した状態で、Ｘ線管３のＸ線焦
点Ａから被検体Ｍまでの照射距離Ｌ1を、距離計６が計
測する。計測された照射距離Ｌ1は線量導出部９と照射
面積導出部１０とに与えられる。(Step S1) Measurement of Irradiation Distance With the object M mounted on the top plate 4, the range finder 6 measures the irradiation distance L 1 from the X-ray focus A of the X-ray tube 3 to the object M. measure. The measured irradiation distance L 1 is given to the dose deriving unit 9 and the irradiation area deriving unit 10.
【００３７】（ステップＳ２）撮影条件の入力設定
オペレータは、撮影条件（管電圧Ｖ、管電流Ｉ、および
撮影時間Ｔ）を入力部８に入力設定する。入力部８から
入力された撮影条件は、制御部１４を介して高電圧発生
部７に与えられる。その一方で、入力部８から入力され
た撮影条件のうち、管電圧Ｖは、制御部１４を介して固
有値情報メモリ１２にも与えられる。そして、入力され
た管電圧Ｖの大きさに対応する総ろ過補正係数ａを、固
有値情報メモリ１２から読み出す。読み出された総ろ過
補正係数ａは、制御部１４を介して線量導出部９に与え
られるとともに、高電圧発生部７に与えられた撮影条件
は、制御部１４を介して線量導出部９に与えられる。な
お、ステップＳ１とＳ２とを同時に行わなくても、ステ
ップＳ１，Ｓ２のいずれか一方を先に行った後に他方を
行ってもよい。(Step S2) Input Setting of Shooting Conditions The operator inputs and sets the shooting conditions (tube voltage V, tube current I, and shooting time T) into the input section 8. The shooting condition input from the input unit 8 is given to the high voltage generation unit 7 via the control unit 14. On the other hand, of the imaging conditions input from the input unit 8, the tube voltage V is also given to the eigenvalue information memory 12 via the control unit 14. Then, the total filtration correction coefficient a corresponding to the input tube voltage V is read from the eigenvalue information memory 12. The read total filtration correction coefficient a is given to the dose derivation unit 9 via the control unit 14, and the imaging conditions given to the high voltage generation unit 7 are given to the dose derivation unit 9 via the control unit 14. Given. Note that it is not necessary to perform steps S1 and S2 at the same time, and either one of steps S1 and S2 may be performed first and then the other.
【００３８】（ステップＳ３）Ｘ線線量の導出
線量導出部９にそれぞれ与えられた、照射距離Ｌ1、撮
影条件（管電圧Ｖ、管電流Ｉ、撮影時間Ｔ）、総ろ過補
正係数ａに基づいて、上記（１）式からＸ線線量ｘを求
める。求められたＸ線線量ｘは、面積線量導出部１１に
与えられる。(Step S3) Derivation of X-ray dose Based on the irradiation distance L 1 , the photographing conditions (tube voltage V, tube current I, photographing time T), and the total filtration correction coefficient a, which are given to the dose deriving unit 9. Then, the X-ray dose x is obtained from the above equation (1). The calculated X-ray dose x is given to the area dose deriving unit 11.
【００３９】（ステップＳ４）照射面積の導出
照射面積導出部１０に与えられた照射距離Ｌ1に基づい
て、上記（２）式から照射面積Ｓ1を求める。求められ
た照射面積Ｓ1は、面積線量導出部１１に与えられる。
なお、ステップＳ３とＳ４とを同時に行わなくても、ス
テップＳ３，Ｓ４のいずれか一方を先に行った後に他方
を行ってもよい。(Step S4) Derivation of Irradiation Area Based on the irradiation distance L 1 given to the irradiation area derivation unit 10, the irradiation area S 1 is obtained from the above equation (2). The obtained irradiation area S 1 is given to the area dose deriving unit 11.
Note that it is not necessary to perform steps S3 and S4 at the same time, and either one of steps S3 and S4 may be performed first and then the other.
【００４０】（ステップＳ５）面積線量の導出
面積線量導出部１１にそれぞれ与えられた、Ｘ線線量
ｘ、照射面積Ｓ1に基づいて、上記（３）式から面積線
量Ｘを求める。求められた面積線量Ｘは制御部１４に与
えられる。(Step S5) Derivation of Area Dose Based on the X-ray dose x and the irradiation area S 1 given to the area dose deriving unit 11, the area dose X is obtained from the above equation (3). The calculated area dose X is given to the control unit 14.
【００４１】（ステップＳ６）Ｘ線管の制御
制御部１４に与えられた面積線量Ｘは、出力部１３に与
えられる。オペレータは、出力部１３に出力された面積
線量Ｘの結果を見て、被検体Ｍに照射されるＸ線Ｂの撮
影線量が大きい、または小さいとオペレータが判断した
場合には、撮影条件を入力部８に再度入力設定する。こ
の再度の入力設定から、高電圧発生部７を操作し、この
高電圧発生部７を操作することで、Ｘ線管３の制御が行
われる。なお、撮影条件に関する再度の入力設定の後
に、ステップＳ１からＳ５を繰返し行って、面積線量Ｘ
を再度求めてもよい。(Step S6) The area dose X given to the control section 14 of the X-ray tube is given to the output section 13. The operator looks at the result of the area dose X output to the output unit 13 and inputs the imaging conditions when the operator determines that the imaging dose of the X-ray B irradiated on the subject M is large or small. The input is set again in the section 8. The X-ray tube 3 is controlled by operating the high-voltage generating section 7 from this input setting again and operating the high-voltage generating section 7. It should be noted that steps S1 to S5 are repeated after the second input setting relating to the imaging conditions is performed, and the area dose X
May be asked again.
【００４２】（ステップＳ７）Ｘ線撮影
適切な撮影線量に見合った撮影条件が、高電圧発生部７
に与えられると、高電圧発生部７は、設定された管電圧
Ｖおよび管電流ＩをＸ線管３に与えて、与えられた管電
圧Ｖと管電流Ｉとに基づいてＸ線管３は被検体ＭにＸ線
Ｂを照射する。そして、設定された撮影時間ＴだけＸ線
Ｂを間欠的に照射することで、Ｘ線フィルム５は被検体
Ｍを撮影する。このようにして、一連のＸ線撮影方法が
行われる。(Step S7) X-ray imaging The high voltage generating section 7 is an imaging condition suitable for an appropriate imaging dose.
Is applied to the X-ray tube 3, the high-voltage generating unit 7 applies the set tube voltage V and the set tube current I to the X-ray tube 3, and the X-ray tube 3 operates based on the supplied tube voltage V and tube current I. The subject M is irradiated with X-rays B. Then, by intermittently irradiating the X-ray B for the set imaging time T, the X-ray film 5 images the subject M. In this way, a series of X-ray imaging methods is performed.
【００４３】以上のステップＳ１からＳ７のＸ線撮影方
法、および上述した構成を備えるＸ線撮影装置１および
Ｘ線高電圧装置２によれば、撮影条件である管電圧Ｖと
管電流Ｉと撮影時間ＴとがステップＳ２で設定されてい
るので、ステップＳ１で計測された照射距離Ｌ1、総ろ
過補正係数ａ、および設定された撮影条件に基づいて、
ステップＳ３でＸ線線量ｘを求めることができて、求め
られたＸ線線量ｘ、およびステップＳ４で求められた照
射面積Ｓ1に基づいて、ステップＳ７の撮影前にステッ
プＳ５で面積線量Ｘを求めることができる。また、求め
られた面積線量Ｘに基づいて、撮影前において、ステッ
プＳ６で高電圧発生部７を操作することでＸ線管３を制
御するので、被検体Ｍに照射する撮影線量の管理を容易
に行うことができる。According to the X-ray imaging method of steps S1 to S7, and the X-ray imaging apparatus 1 and the X-ray high-voltage apparatus 2 having the above-described configurations, the tube voltage V, the tube current I, and the imaging conditions are the imaging conditions. Since the time T is set in step S2, based on the irradiation distance L 1 measured in step S1, the total filtration correction coefficient a, and the set shooting condition,
The X-ray dose x can be obtained in step S3, and based on the X-ray dose x obtained and the irradiation area S 1 obtained in step S4, the area dose X is obtained in step S5 before imaging in step S7. You can ask. In addition, based on the obtained area dose X, the X-ray tube 3 is controlled by operating the high-voltage generating unit 7 in step S6 before imaging, so that it is easy to manage the imaging dose applied to the subject M. Can be done.
【００４４】〔第２実施例〕次に、この発明の第２実施
例を説明する。なお、第１実施例装置と共通する箇所に
ついては同符号を付して、その説明を省略する。第２実
施例に係るＸ線撮影装置の概略構成を示したブロック図
は、図１に示すように第１実施例装置と同じである。[Second Embodiment] Next, a second embodiment of the present invention will be described. The same parts as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. The block diagram showing the schematic configuration of the X-ray imaging apparatus according to the second embodiment is the same as the apparatus according to the first embodiment as shown in FIG.
【００４５】続いて、各々の構成について詳しく説明す
る。線量導出部９を除く各々の構成の機能については、
第１実施例と共通する。ただし、第２実施例において、
透視条件を入力部８に入力設定するときには、撮影条件
のように管電圧Ｖ、管電流Ｉ、および撮影時間Ｔを入力
部８に入力設定するのではなく、管電圧Ｖ、および管電
流Ｉのみを入力部８に入力設定する。撮影する場合には
撮影時間Ｔを設定しているので撮影時間Ｔが予め分かっ
ているのに対し、透視を行う場合には透視を終了した段
階でないと透視時間Ｔ´は分からないので、透視条件の
うち透視時間Ｔ´については設定されない。入力部８か
ら入力された透視条件（管電圧Ｖ、および管電流Ｉ）に
ついても、制御部１４および高電圧発生部７を介して線
量導出部９に与えられる。Next, each structure will be described in detail. Regarding the function of each configuration except the dose deriving unit 9,
It is common to the first embodiment. However, in the second embodiment,
When the fluoroscopic condition is input and set in the input unit 8, the tube voltage V, the tube current I, and the imaging time T are not input and set in the input unit 8 as in the imaging condition, but only the tube voltage V and the tube current I are set. Is input and set in the input unit 8. When photographing, the photographing time T is set, so the photographing time T is known in advance. On the other hand, when the fluoroscopy is performed, the fluoroscopy time T ′ cannot be known until the fluoroscopy is completed. Of these, the fluoroscopic time T'is not set. The fluoroscopic conditions (tube voltage V and tube current I) input from the input unit 8 are also given to the dose deriving unit 9 via the control unit 14 and the high voltage generating unit 7.
【００４６】線量導出部９は、距離計６によって計測さ
れた照射距離Ｌ1、高電圧発生部７に関する設定値情報
である透視条件（管電圧Ｖ、および管電流Ｉ）、および
固有値情報メモリ１２から読み出された固有値情報（総
ろ過補正係数ａ）に基づいて、単位面積当たりのＸ線線
量を導出する。すなわち、照射距離Ｌ1、管電圧Ｖ、管
電流Ｉ、透視時間Ｔ´、総ろ過補正係数ａを用いて、Ｘ
線線量ｘは下記の（１）のように表される。
ｘ＝∫ａ・Ｖ・Ｉ・（１／Ｌ1）2・ｄｔ ……（４）
（ただし、積分範囲は０〜ｔ〜Ｔ´）The dose deriving unit 9 has an irradiation distance L 1 measured by the rangefinder 6, a fluoroscopic condition (tube voltage V and tube current I) which is set value information on the high voltage generating unit 7, and an eigenvalue information memory 12 The X-ray dose per unit area is derived based on the eigenvalue information (total filtration correction coefficient a) read from That is, X is calculated using the irradiation distance L 1 , the tube voltage V, the tube current I, the fluoroscopic time T ′, and the total filtration correction coefficient a.
The linear dose x is expressed as in (1) below. x = ∫a · V · I · (1 / L 1 ) 2 · dt (4) (However, the integration range is 0 to t ′)
【００４７】上記（４）式は、照射距離Ｌ1、管電圧
Ｖ、管電流Ｉ、および総ろ過補正係数ａに基づく値をｔ
で積分し、積分して得られた累積線量をＸ線線量ｘとし
て表している。つまり、Ｘ線管３からＸ線Ｂを被検体Ｍ
に連続的に照射して被検体Ｍを透視しながら、上記
（４）式のように積分している。In the above equation (4), a value based on the irradiation distance L 1 , the tube voltage V, the tube current I, and the total filtration correction coefficient a is t.
And the cumulative dose obtained by the integration is represented as X-ray dose x. That is, the X-ray B is transmitted from the X-ray tube 3 to the subject M.
Is continuously irradiated onto the subject M while seeing through the subject M, and integration is performed as in the above equation (4).
【００４８】なお、第２実施例では、積分する際に、照
射距離Ｌ1、管電圧Ｖ、管電流Ｉ、および総ろ過補正係
数ａに基づく値と、照射面積Ｓ1とを乗算してから、積
分を行っている。すなわち、積分して得られた値を面積
線量Ｘとすると、上記（３），（４）式から、面積線量
Ｘは、下記の（５）式のように表される。
ｘ＝∫ａ・Ｓ1・Ｖ・Ｉ・（１／Ｌ1）2・ｄｔ……（５）
（ただし、積分範囲は０〜ｔ〜Ｔ´）
上記（５）式のような演算は、面積線量導出部１１によ
って行われる。In the second embodiment, when integrating, a value based on the irradiation distance L 1 , the tube voltage V, the tube current I, and the total filtration correction coefficient a is multiplied by the irradiation area S 1 , Integrating. That is, assuming that the value obtained by integration is the area dose X, the area dose X is expressed by the following equation (5) from the above equations (3) and (4). x = ∫a · S 1 · V · I · (1 / L 1 ) 2 · dt (5) (However, the integration range is 0 to t ') The operation like the above formula (5) is It is performed by the area dose deriving unit 11.
【００４９】続いて、照射距離を計測してからＸ線透視
を終了するまでの一連のＸ線透視方法について、図５の
フローチャートを参照して説明する。なお、第２実施例
では、ステップＳ１１（照射距離の計測）とステップＳ
１２（透視条件の入力設定）とを同時に行うとともに、
ステップＳ１３（Ｘ線線量の導出）とステップＳ１４
（照射面積の導出）とを同時に行うとする。Next, a series of X-ray fluoroscopic methods from the measurement of the irradiation distance to the end of the X-ray fluoroscopy will be described with reference to the flowchart of FIG. In the second embodiment, step S11 (measurement of irradiation distance) and step S11
Simultaneously perform 12 (input setting of perspective conditions),
Step S13 (deriving the X-ray dose) and step S14
(Derivation of irradiation area) is performed at the same time.
【００５０】（ステップＳ１１）照射距離の計測
第１実施例のステップＳ１と同じように、天板４に被検
体Ｍを載置した状態で、Ｘ線管３のＸ線焦点Ａから被検
体Ｍまでの照射距離Ｌ1を、距離計６が計測する。計測
された照射距離Ｌ1は線量導出部９と照射面積導出部１
０とに与えられる。(Step S11) Measurement of Irradiation Distance As in step S1 of the first embodiment, with the subject M placed on the top plate 4, the subject M is moved from the X-ray focus A of the X-ray tube 3 to the subject M. The distance meter 6 measures the irradiation distance L 1 up to. The measured irradiation distance L 1 is the dose deriving unit 9 and the irradiation area deriving unit 1.
Given to 0.
【００５１】（ステップＳ１２）透視条件の入力設定
オペレータは、透視条件（管電圧Ｖ、および管電流Ｉ）
を入力部８に入力設定する。入力部８から入力された透
視条件は、制御部１４を介して高電圧発生部７に与えら
れる。その一方で、入力部８から入力された透視条件の
うち、管電圧Ｖは、制御部１４を介して固有値情報メモ
リ１２にも与えられる。そして、入力された管電圧Ｖの
大きさに対応する総ろ過補正係数ａを、固有値情報メモ
リ１２から読み出す。読み出された総ろ過補正係数ａ
は、制御部１４を介して線量導出部９に与えられるとと
もに、高電圧発生部７に与えられた透視条件は、制御部
１４を介して線量導出部９に与えられる。なお、ステッ
プＳ１１とＳ１２とを同時に行わなくても、ステップＳ
１１，Ｓ１２のいずれか一方を先に行った後に他方を行
ってもよい。このとき、上述したように透視時間Ｔ´は
分からないので、透視条件のうち透視時間Ｔ´について
は設定されない。(Step S12) Entry of fluoroscopic conditions The operator sets the fluoroscopic conditions (tube voltage V and tube current I).
Is input and set in the input unit 8. The fluoroscopic condition input from the input unit 8 is given to the high voltage generation unit 7 via the control unit 14. On the other hand, among the fluoroscopic conditions input from the input unit 8, the tube voltage V is also given to the eigenvalue information memory 12 via the control unit 14. Then, the total filtration correction coefficient a corresponding to the input tube voltage V is read from the eigenvalue information memory 12. Total filtration correction coefficient a read
Is given to the dose derivation unit 9 via the control unit 14, and the fluoroscopic condition given to the high voltage generation unit 7 is given to the dose derivation unit 9 via the control unit 14. Even if steps S11 and S12 are not performed simultaneously, step S
Either one of 11 and S12 may be performed first and then the other. At this time, since the fluoroscopic time T'is not known as described above, the fluoroscopic time T'of the fluoroscopic conditions is not set.
【００５２】（ステップＳ１３）（透視開始から累積さ
れた所定時間までの）Ｘ線線量の導出
線量導出部９にそれぞれ与えられた、照射距離Ｌ1、透
視条件（管電圧Ｖ、管電流Ｉ）、総ろ過補正係数ａに基
づいて、上記（４）式からＸ線線量ｘを求める。求めら
れたＸ線線量ｘは、面積線量導出部１１に与えられる。
このとき、後述するステップ１６（Ｘ線透視開始）につ
いては行っていないが、所定時間に区分されたｄｔによ
って、ｄｔ分だけ前の段階において、透視開始から累積
された所定時間までのＸ線線量ｘが求められる。ステッ
プＳ１３では、Ｘ線透視開始前の段階において、透視開
始から１×ｄｔまでのＸ線線量ｘが求められる。(Step S13) Derivation of X-ray dose (from the start of fluoroscopy to a predetermined time) The irradiation distance L 1 and the fluoroscopic conditions (tube voltage V, tube current I) given to the dose deriving unit 9 respectively. The X-ray dose x is calculated from the above equation (4) based on the total filtration correction coefficient a. The calculated X-ray dose x is given to the area dose deriving unit 11.
At this time, although step 16 (start of X-ray fluoroscopy) described later is not performed, the dt divided into predetermined times causes the X-ray dose from the start of fluoroscopy to the accumulated predetermined time at a stage dt before. x is required. In step S13, the X-ray dose x from the start of the fluoroscopy to 1 × dt is obtained before the start of the fluoroscopy.
【００５３】（ステップＳ１４）照射面積の導出
第１実施例のステップＳ４と同じように、照射面積導出
部１０に与えられた照射距離Ｌ1に基づいて、上記
（２）式から照射面積Ｓ1を求める。求められた照射面
積Ｓ1は、面積線量導出部１１に与えられる。なお、ス
テップＳ１３とＳ１４とを同時に行わなくても、ステッ
プＳ１３，Ｓ１４のいずれか一方を先に行った後に他方
を行ってもよい。(Step S14) Derivation of irradiation area As in step S4 of the first embodiment, the irradiation area S 1 is calculated from the above equation (2) based on the irradiation distance L 1 given to the irradiation area deriving unit 10. Ask for. The obtained irradiation area S 1 is given to the area dose deriving unit 11. Note that it is not necessary to perform steps S13 and S14 at the same time, and either one of steps S13 and S14 may be performed first and then the other.
【００５４】（ステップＳ１５）（透視開始から累積さ
れた所定時間までの）面積線量の導出
面積線量導出部１１にそれぞれ与えられた、Ｘ線線量
ｘ、照射面積Ｓ1に基づいて、上記（５）式から面積線
量Ｘを求める。求められた面積線量Ｘは制御部１４に与
えられる。ステップＳ１３で上述したように、ステップ
Ｓ１５では、Ｘ線透視開始前の段階において、透視開始
から１×ｄｔまでの面積線量Ｘが求められる。(Step S15) Derivation of area dose (from the start of fluoroscopy to a predetermined time) Based on the X-ray dose x and the irradiation area S 1 given to the area dose deriving unit 11, the above (5 The area dose X is calculated from the equation). The calculated area dose X is given to the control unit 14. As described above in step S13, in step S15, the area dose X from the start of fluoroscopy to 1 × dt is obtained at the stage before the start of fluoroscopy.
【００５５】（ステップＳ１６）Ｘ線透視開始
制御部１４に与えられた面積線量Ｘは、出力部１３に与
えられる。オペレータは、出力部１３に出力された面積
線量Ｘの結果を見て、被検体Ｍに照射されるＸ線Ｂの撮
影線量が大きい、または小さいとオペレータが判断した
場合には、透視条件を入力部８に再度入力設定する。こ
の再度の入力設定から、高電圧発生部７を操作し、この
高電圧発生部７を操作することで、Ｘ線管３の制御が行
われる。そして、再度入力設定された管電圧Ｖ、および
管電流Ｉが、高電圧発生部７を介して、Ｘ線管３に与え
られて、再度入力設定された状態でＸ線透視が開始され
る。(Step S16) The area dose X given to the X-ray fluoroscopic start control section 14 is given to the output section 13. When the operator sees the result of the area dose X output to the output unit 13 and determines that the imaging dose of the X-ray B irradiated on the subject M is large or small, the operator inputs the fluoroscopic condition. The input is set again in the section 8. The X-ray tube 3 is controlled by operating the high-voltage generating section 7 from this input setting again and operating the high-voltage generating section 7. Then, the tube voltage V and the tube current I, which have been input and set again, are given to the X-ray tube 3 via the high voltage generator 7, and the X-ray fluoroscopy is started in the state of being input and set again.
【００５６】なお、再度入力設定された管電圧Ｖ、およ
び管電流Ｉは、Ｘ線線量ｘ、および面積線量Ｘの導出に
反映される。第２実施例では、Ｘ線Ｂの撮影線量が大き
い、または小さい場合において、管電圧Ｖおよび管電流
Ｉについて再度入力設定したが、透視条件の入力設定
（ステップＳ１２）時の管電圧Ｖおよび管電流Ｉと同じ
値で、Ｘ線線量ｘ、および面積線量Ｘの導出に反映させ
てもよいし、Ｘ線Ｂが実際に照射される際の管電圧Ｖお
よび管電流Ｉを計測して、その計測結果をＸ線線量ｘ、
および面積線量Ｘの導出に反映させてもよい。The tube voltage V and the tube current I that have been input again are reflected in the derivation of the X-ray dose x and the area dose X. In the second embodiment, the tube voltage V and the tube current I are re-input and set when the radiographic dose of the X-ray B is large or small, but the tube voltage V and the tube voltage when the fluoroscopic condition is input and set (step S12) are set. The same value as the current I may be reflected in the derivation of the X-ray dose x and the area dose X, or the tube voltage V and the tube current I when the X-ray B is actually irradiated are measured, and X-ray dose x,
And the area dose X may be reflected in the derivation.
【００５７】（ステップＳ１７）（透視開始から累積さ
れた所定時間までの）面積線量の導出
ステップＳ１３と同じように、線量導出部９にそれぞれ
与えられた、照射距離Ｌ1、再度の入力設定によって反
映された透視条件（管電圧Ｖ、管電流Ｉ）、総ろ過補正
係数ａに基づいて、上記（４）式からＸ線線量ｘを求め
る。求められたＸ線線量ｘは、面積線量導出部１１に与
えられる。そして、ステップＳ１５と同じように、面積
線量導出部１１にそれぞれ与えられた、Ｘ線線量ｘ、照
射面積Ｓ 1に基づいて、上記（５）式から面積線量Ｘを
求める。求められた面積線量Ｘは制御部１４に与えられ
る。(Step S17) (accumulation from the start of fluoroscopy)
Derivation of area dose (up to a predetermined time)
In the same way as step S13, the dose deriving unit 9
Given irradiation distance L1, It may be
Fluoroscopic conditions (tube voltage V, tube current I), total filtration correction
Obtain the X-ray dose x from the above equation (4) based on the coefficient a
It The calculated X-ray dose x is given to the area dose deriving unit 11.
available. Then, as in step S15, the area
The X-ray dose x and the irradiation dose given to the dose deriving unit 11 respectively.
Shooting area S 1Based on the above, the area dose X is calculated from the above equation (5).
Ask. The calculated area dose X is given to the control unit 14.
It
【００５８】（ステップＳ１８）Ｘ線透視終了？
オペレータは、Ｘ線透視を終了すると判断した場合に
は、Ｘ線管３を制御して被検体Ｍに対するＸ線Ｂの照射
を終了させる。Ｘ線透視を続行すると判断した場合に
は、ステップＳ１７に戻って、ｄｔ分だけ先の面積線量
Ｘを求める。ステップＳ１７に戻る際に、出力部１３に
出力された面積線量Ｘの結果を見て、被検体Ｍに照射さ
れるＸ線Ｂの撮影線量が大きい、または小さいとオペレ
ータが判断した場合には、透視条件を入力部８に再度入
力設定して、新たな透視条件をＸ線線量ｘ、および面積
線量Ｘの導出に反映させてもよい。(Step S18) End of fluoroscopy? When the operator determines to end the X-ray fluoroscopy, the operator controls the X-ray tube 3 to end the irradiation of the subject M with the X-ray B. When it is determined that the X-ray fluoroscopy is to be continued, the process returns to step S17, and the area dose X ahead by dt is obtained. When returning to step S17, when the operator determines that the imaging dose of the X-ray B irradiated on the subject M is large or small by looking at the result of the area dose X output to the output unit 13, The fluoroscopic condition may be input and set again in the input unit 8 and the new fluoroscopic condition may be reflected in the derivation of the X-ray dose x and the area dose X.
【００５９】以上のステップＳ１１からＳ１８のＸ線透
視方法、および上述した構成を備えるＸ線撮影装置１お
よびＸ線高電圧装置２によれば、透視条件である管電圧
Ｖと管電流ＩとがステップＳ１２で設定されているの
で、ステップＳ１１で計測された照射距離Ｌ1、総ろ過
補正係数ａ、および設定された透視条件に基づく値を、
区分された所定時間ｄｔで積分し、積分して得られた累
積線量をＸ線線量ｘとして求めることができて、累積線
量に基づいて求められた累積面積線量、およびステップ
Ｓ１４で求められた照射面積Ｓ1に基づいて、ステップ
Ｓ１５またはＳ１７で、透視開始から累積された所定時
間までに照射された面積線量Ｘとして求めることができ
る。Ｘ線透視が終了した段階では、透視時間Ｔ´が、透
視開始から累積された所定時間までの時間となるので、
透視時間Ｔ´に照射された面積線量Ｘを求めることがで
きる。また、透視開始から累積された所定時間までに照
射された面積線量Ｘが、区分されたｄｔごとに分かるの
で、被検体Ｍに照射する撮影線量の管理を容易に行うこ
とができる。According to the X-ray fluoroscopic method of steps S11 to S18 and the X-ray radiographing apparatus 1 and the X-ray high-voltage apparatus 2 having the above-described configurations, the tube voltage V and the tube current I, which are the fluoroscopic conditions, are determined. Since it is set in step S12, the irradiation distance L 1 measured in step S11, the total filtration correction coefficient a, and the value based on the set perspective condition are
The cumulative dose obtained by integrating the divided predetermined time dt and integrating the dose can be obtained as the X-ray dose x, and the cumulative area dose obtained based on the cumulative dose and the irradiation obtained in step S14. Based on the area S 1 , in step S15 or S17, the area dose X irradiated from the start of fluoroscopy to the accumulated predetermined time can be obtained. At the stage when the X-ray fluoroscopy is finished, the fluoroscopy time T ′ is the time from the start of the fluoroscopy to the accumulated predetermined time,
The area dose X irradiated during the fluoroscopic time T ′ can be obtained. Further, since the area dose X irradiated from the start of the fluoroscopy to the accumulated predetermined time is known for each divided dt, it is possible to easily manage the imaging dose irradiated to the subject M.
【００６０】この発明は、上記実施形態に限られること
はなく、下記のように変形実施することができる。The present invention is not limited to the above embodiment, but can be modified as follows.
【００６１】（１）上述した第１，第２実施例では、照
射面積Ｓ1を求めるのに、コリメータ１５の開き量Ｓ2、
照射距離Ｌ1、コリメータ距離Ｌ2に基づいて、上記
（２）式から求めたが、Ｘ線フィルム５のフィルム面積
に基づいて、照射面積Ｓ1を求めてもよい。(1) In the first and second embodiments described above, in order to obtain the irradiation area S 1 , the opening amount S 2 of the collimator 15
The irradiation area S 1 is calculated based on the irradiation distance L 1 and the collimator distance L 2 from the above formula (2), but may be calculated based on the film area of the X-ray film 5.
【００６２】Ｘ線フィルム５のフィルム面積に基づい
て、照射面積Ｓ1を求める場合には、例えばＸ線Ｂの照
視野の角度が小さく、被検体ＭとＸ線フィルム５とが近
接していれば、フィルム面積が照射面積Ｓ1にほぼ等し
いとみなして、フィルム面積を照射面積Ｓ1に当てはめ
ることもできるし、照視野の角度などに基づいて照射面
積を校正して求めることもできる。フィルム面積を照射
面積Ｓ1に当てはめる場合には、Ｘ線フィルム５のフィ
ルム面積が予め分かっているので、距離計６によって照
射距離Ｌ1を計測して、照射面積導出部１０によって上
記（２）式から照射面積Ｓ1を求める必要はなく、第
１，第２実施例の場合と比較して照射面積Ｓ1をより簡
易に求めることができる。その他にも、Ｘ線撮影におい
て通常用いられる方法で照射面積を求めるならば、第
１，第２実施例、およびこの変形例（１）に限定されな
い。When the irradiation area S 1 is calculated based on the film area of the X-ray film 5, for example, the angle of the irradiation field of the X-ray B is small and the subject M and the X-ray film 5 are close to each other. in regards to the film area is substantially equal to the irradiation area S 1, can either fitting the film area to the irradiation area S 1, it may be obtained by calibrating the irradiation area based on such angle of the irradiation field. When the film area is applied to the irradiation area S 1 , since the film area of the X-ray film 5 is known in advance, the irradiation distance L 1 is measured by the range finder 6 and the irradiation area deriving unit 10 performs the above (2). it is not necessary to determine the irradiation area S 1 from the equation, may be determined first, the irradiation area S 1 as compared with the case of the second embodiment more easily. Besides, the irradiation area is not limited to the first and second embodiments and the modification (1) as long as the irradiation area is obtained by a method usually used in X-ray imaging.
【００６３】（２）上述した第１，第２実施例では、距
離計６をＸ線高電圧装置２に備えずに、Ｘ線管３側に距
離計６を備えたが、Ｘ線高電圧装置２側に距離計６を備
えてもよい。(2) In the first and second embodiments described above, the range finder 6 is not provided in the X-ray high voltage device 2, but the range finder 6 is provided on the X-ray tube 3 side. A distance meter 6 may be provided on the device 2 side.
【００６４】（３）上述した第１，第２実施例では、入
力部８を備え、この入力部８から撮影条件および透視条
件を入力設定したが、上記（２）の変形例のようにＸ線
フィルム５のフィルム面積を照射面積に当てはめる場合
には、その照射面積を入力部８から直接に入力してもよ
いし、距離計６によって計測された照射距離を、入力部
８から直接に入力してもよい。(3) In the first and second embodiments described above, the input unit 8 is provided, and the photographing conditions and the fluoroscopic conditions are input and set from the input unit 8. However, as in the modification of (2) above, X When the film area of the linear film 5 is applied to the irradiation area, the irradiation area may be directly input from the input unit 8, or the irradiation distance measured by the rangefinder 6 may be directly input from the input unit 8. You may.
【００６５】また、第１，第２実施例では、撮影条件ま
たは透視条件については入力部８から設定されたが、例
えば、高電圧発生部７またはＸ線管３で実際に与えられ
る管電圧Ｖおよび管電流Ｉを計測して、計測して得られ
た撮影条件または透視条件に基づいて、Ｘ線線量や面積
線量を求めてもよい。Further, in the first and second embodiments, the photographing condition or the fluoroscopic condition is set from the input section 8. However, for example, the tube voltage V actually given by the high voltage generating section 7 or the X-ray tube 3 is set. Alternatively, the tube current I may be measured, and the X-ray dose and the area dose may be obtained based on the imaging condition or the fluoroscopic condition obtained by the measurement.
【００６６】（４）上述した第１実施例では、撮影は１
回きりであったが、撮影を複数回にわたって行い、各撮
影のたびにそれぞれ導出された各々のＸ線線量あるいは
面積線量を累積して、複数回に撮影されたＸ線線量ある
いは面積線量の合計を求めてもよい。(4) In the above-described first embodiment, shooting is 1
Although it was only once, the radiography was performed multiple times, and the X-ray dose or area dose derived for each radiography was accumulated, and the total X-ray dose or area dose taken multiple times. May be asked.
【００６７】（５）上述した第２実施例では、Ｘ線Ｂで
被検体Ｍを透視しながら、ステップＳ１７で透視開始か
ら累積された所定時間までのＸ線線量を求めるととも
に、面積線量を求めたが、Ｘ線Ｂで被検体Ｍを透視しな
がら、先にＸ線線量を求めて累積し、透視終了後に累積
して得られたＸ線線量と、照射面積とに基づいて、面積
線量を求めてもよい。(5) In the above-described second embodiment, while the object M is seen through the X-ray B, the X-ray dose from the start of fluoroscopy to the accumulated predetermined time is obtained and the area dose is obtained in step S17. However, the area dose is calculated based on the X-ray dose and the irradiation area, which are obtained by accumulating the X-ray dose in advance while observing the subject M with the X-ray B, and accumulating after the completion of the fluoroscopy. You may ask.
【００６８】また、第２実施例では、積分することで、
Ｘ線線量および面積線量を累積したが、透視時間Ｔをｎ
個の所定時間Δｔで区分して、Σａ・Ｖ・Ｉ・（１／Ｌ
1）2・Δｔ（ただしΣの範囲はｋ＝１〜ｎ）でＸ線線量
を求めてもよい。Further, in the second embodiment, by integrating,
The X-ray dose and area dose were accumulated, but
Σa · V · I · (1 / L
1 ) The X-ray dose may be calculated by 2 · Δt (however, the range of Σ is k = 1 to n).
【００６９】[0069]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、照射距離，設定値情報または計測値情報，
固有値情報，および照射面積が予め求まっている、ある
いは計測されていれば、Ｘ線を被検体に照射することな
く撮影前に面積線量を求めることができる。さらに、被
検体に照射する撮影線量の管理を容易に行うことができ
る。As is apparent from the above description, according to the present invention, irradiation distance, set value information or measured value information,
If the eigenvalue information and the irradiation area are obtained or measured in advance, the area dose can be obtained before imaging without irradiating the subject with X-rays. Furthermore, it is possible to easily manage the imaging dose applied to the subject.
【図１】第１，第２実施例に係るＸ線撮影装置の概略構
成を示したブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an X-ray imaging apparatus according to first and second embodiments.
【図２】Ｘ線管からＸ線を被検体に照射するときの様子
を示した図である。FIG. 2 is a diagram showing a state when an X-ray is irradiated onto a subject from an X-ray tube.
【図３】管電圧、フィルタの材質・厚み、総ろ過補正係
数との相関関係の一例を示す表である。FIG. 3 is a table showing an example of the correlation with the tube voltage, the material / thickness of the filter, and the total filtration correction coefficient.
【図４】第１実施例に係る、照射距離を計測してからＸ
線撮影を終了するまでの一連のＸ線撮影方法を示すフロ
ーチャートである。FIG. 4 is a diagram illustrating an X-ray after measuring an irradiation distance according to the first embodiment.
It is a flowchart which shows a series of X-ray imaging method until it completes a radiography.
【図５】第２実施例に係る、照射距離を計測してからＸ
線透視を終了するまでの一連のＸ線透視方法を示すフロ
ーチャートである。FIG. 5 is a diagram illustrating an X-ray after measuring an irradiation distance according to the second embodiment.
It is a flow chart which shows a series of X-ray fluoroscopy methods until completion of fluoroscopy.
１ … Ｘ線撮影装置 ２ … Ｘ線高電圧装置 ３ … Ｘ線管 ６ … 距離計 ７ … 高電圧発生部 ８ … 入力部 ９ … 線量導出部 １０ … 照射面積導出部 １１ … 面積線量導出部 Ｍ … 被検体 Ｖ … 管電圧 Ｉ … 管電流 Ｔ … 撮影時間 Ｔ´ … 透視時間 Ｌ1 … 照射距離 Ｓ1 … 照射面積 ｘ … Ｘ線線量 Ｘ … 面積線量1 ... X-ray imaging apparatus 2 ... X-ray high voltage apparatus 3 ... X-ray tube 6 ... Distance meter 7 ... High voltage generation section 8 ... Input section 9 ... Dose derivation section 10 ... Irradiated area derivation section 11 ... Area dose derivation section M ... Subject V ... Tube voltage I ... Tube current T ... Imaging time T '... Fluorescence time L 1 ... Irradiation distance S 1 ... Irradiation area x ... X-ray dose X ... Area dose
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 502011236 門前 一 滋賀県大津市長等１−１−35 大津赤十字 病院内 (71)出願人 502011247 鈴木 敬俊 滋賀県大津市長等１−１−35 大津赤十字 病院内 (71)出願人 000001993 株式会社島津製作所 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 (72)発明者 結城 留実夫 滋賀県大津市長等１−１−35 大津赤十字 病院内 (72)発明者 銭谷 潔 滋賀県大津市長等１−１−35 大津赤十字 病院内 (72)発明者 門前 一 滋賀県大津市長等１−１−35 大津赤十字 病院内 (72)発明者 鈴木 敬俊 滋賀県大津市長等１−１−35 大津赤十字 病院内 (72)発明者 佐々木 理 京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会 社島津製作所内 (72)発明者 古山 誠 京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会 社島津製作所内 (72)発明者 藤井 英樹 京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会 社島津製作所内 (72)発明者 中西 功 京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会 社島津製作所内 (72)発明者 中川 章 京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会 社島津製作所内 (72)発明者 上武 高啓 京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会 社島津製作所内 Ｆターム(参考） 4C092 AA01 AB02 AC01 BD13 CC04 CC08 CC13 CC17 CD02 CD03 CD04 CD09 CE01 CE14 CF02 CF03 CF11 CF13 CF14 CF22 CF42 CF48 DD30 EE19 4C093 AA01 CA34 EA14 EE30 FA18 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (71) Applicant 502011236 One in front of the gate 1-135 Otsu Mayor, Shiga Prefecture Otsu Red Cross In the hospital (71) Applicant 502011247 Takatoshi Suzuki 1-135 Otsu Mayor, Shiga Prefecture Otsu Red Cross In the hospital (71) Applicant 000001993 Shimadzu Corporation 1 Nishinokyo Kuwabaracho, Nakagyo Ward, Kyoto City, Kyoto Prefecture (72) Inventor, Ryuo Yuki 1-135 Otsu Mayor, Shiga Prefecture Otsu Red Cross In the hospital (72) Inventor Kiyoshi Zenitani 1-135 Otsu Mayor, Shiga Prefecture Otsu Red Cross In the hospital (72) Inventor Hajime Monzen 1-135 Otsu Mayor, Shiga Prefecture Otsu Red Cross In the hospital (72) Inventor Takatoshi Suzuki 1-135 Otsu Mayor, Shiga Prefecture Otsu Red Cross In the hospital (72) Inventor Osamu Osamu 1st Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto City Stock Association Inside the Shimadzu factory (72) Inventor Makoto Furuyama 1st Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto City Stock Association Inside the Shimadzu factory (72) Inventor Hideki Fujii 1st Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto City Stock Association Inside the Shimadzu factory (72) Inventor Isao Nakanishi 1st Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto City Stock Association Inside the Shimadzu factory (72) Inventor Akira Nakagawa 1st Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto City Stock Association Inside the Shimadzu factory (72) Inventor Takahiro Kamitake 1st Nishinokyo Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto City Stock Association Inside the Shimadzu factory F-term (reference) 4C092 AA01 AB02 AC01 BD13 CC04 CC08 CC13 CC17 CD02 CD03 CD04 CD09 CE01 CE14 CF02 CF03 CF11 CF13 CF14 CF22 CF42 CF48 DD30 EE19 4C093 AA01 CA34 EA14 EE30 FA18
Claims (12)
管電圧および管電流を与える高電圧発生手段を備えたＸ
線高電圧装置であって、（ａ）計測された、前記Ｘ線管
のＸ線焦点から前記被検体までの照射距離、前記高電圧
発生手段に関する設定値情報または計測値情報、および
前記Ｘ線管の固有の情報である固有値情報に基づいて、
Ｘ線が被検体を照射する入射面の照射面積における単位
面積当たりのＸ線線量を導出する線量導出手段と、
（ｂ）前記線量導出手段によって求められた単位面積当
たりのＸ線線量、および前記照射面積に基づいて、前記
入射面における全線量である面積線量を導出する面積線
量導出手段とを備えることを特徴とするＸ線高電圧装
置。1. An X provided with a high voltage generating means for applying a tube voltage and a tube current to an X-ray tube for irradiating an object with X-rays.
A line high voltage device, comprising: (a) the measured irradiation distance from the X-ray focus of the X-ray tube to the subject, set value information or measured value information on the high voltage generating means, and the X-ray. Based on the eigenvalue information that is the unique information of the pipe,
Dose deriving means for deriving an X-ray dose per unit area in the irradiation area of the incident surface on which the X-ray irradiates the subject,
(B) Area dose deriving means for deriving an area dose which is the total dose on the incident surface based on the X-ray dose per unit area obtained by the dose deriving means and the irradiation area. X-ray high voltage device.
て、前記高電圧発生手段に関する設定値情報または計測
値情報は、Ｘ線を被検体に間欠的に照射して被検体を撮
影する撮影条件であるとともに、前記撮影条件は、管電
圧、管電流、および被検体を撮影する時間である撮影時
間であって、前記（ａ）の線量導出手段は、前記照射距
離、管電圧、管電流、撮影時間、および固有値情報に基
づいて、単位面積当たりのＸ線線量を導出することを特
徴とするＸ線高電圧装置。2. The X-ray high-voltage apparatus according to claim 1, wherein the set value information or measured value information relating to the high-voltage generating means irradiates the subject with X-rays intermittently to photograph the subject. In addition to the imaging conditions, the imaging conditions are a tube voltage, a tube current, and an imaging time that is a time for imaging a subject, and the dose deriving means in (a) above is configured so that the irradiation distance, the tube voltage, the tube An X-ray high voltage apparatus, which derives an X-ray dose per unit area based on current, imaging time, and eigenvalue information.
て、各撮影のたびにそれぞれ導出された各々のＸ線線量
あるいは面積線量を累積することを特徴とするＸ線高電
圧装置。3. The X-ray high-voltage apparatus according to claim 2, wherein each X-ray dose or area dose derived for each imaging is accumulated.
て、前記高電圧発生手段に関する設定値情報または計測
値情報は、Ｘ線を被検体に連続的に照射して被検体を透
視する透視条件であるとともに、前記透視条件は、管電
圧、管電流、および被検体を透視する時間である透視時
間であって、前記（ａ）の線量導出手段は、前記照射距
離、管電圧、管電流、および固有値情報に基づく値を、
前記透視時間を区分する所定時間で累積し、累積して得
られた累積線量を前記単位面積当たりの線量として導出
し、前記（ｂ）の面積線量導出手段は、前記累積線量、
および照射面積に基づいて、累積面積線量を導出し、前
記累積面積線量を、透視開始から累積された所定時間ま
でに照射された前記面積線量とすることを特徴とするＸ
線高電圧装置。4. The X-ray high voltage apparatus according to claim 1, wherein the set value information or measured value information relating to the high voltage generating means continuously irradiates the subject with X-rays to see through the subject. In addition to the fluoroscopic condition, the fluoroscopic condition is a tube voltage, a tube current, and a fluoroscopic time that is a time for fluoroscopically examining the subject, and the dose deriving means in the above (a) includes the irradiation distance, the tube voltage, and the tube. Current, and the value based on the eigenvalue information,
The cumulative dose obtained by accumulating in the predetermined time for dividing the fluoroscopic time, and deriving the cumulative dose obtained as the dose per unit area, the area dose deriving means of (b),
And a cumulative area dose is derived based on the irradiation area, and the cumulative area dose is the area dose irradiated from the start of fluoroscopy to a predetermined time accumulated.
Line high voltage equipment.
のＸ線高電圧装置において、（ｃ）Ｘ線管の前記Ｘ線焦
点から被検体までの前記照射距離を計測する照射距離計
測手段を備えることを特徴とするＸ線高電圧装置。5. The X-ray high voltage apparatus according to claim 1, wherein (c) an irradiation distance measurement for measuring the irradiation distance from the X-ray focal point of the X-ray tube to the subject. An X-ray high voltage apparatus comprising means.
のＸ線高電圧装置において、（ｄ）Ｘ線が被検体を照射
する入射面の前記照射面積を導出する照射面積導出手段
を備えることを特徴とするＸ線高電圧装置。6. The X-ray high-voltage apparatus according to claim 1, further comprising (d) an irradiation area deriving unit that derives the irradiation area of an incident surface on which the X-ray irradiates the subject. An X-ray high-voltage device, comprising:
て、前記（ｄ）の照射面積導出手段は、Ｘ線管から照射
するＸ線の照視野を制御するコリメータの開き量、Ｘ線
管の前記Ｘ線焦点から被検体までの前記照射距離、およ
びＸ線焦点から前記コリメータまでのコリメータ距離に
基づいて、照射面積を導出することを特徴とするＸ線高
電圧装置。7. The X-ray high-voltage apparatus according to claim 6, wherein the irradiation area deriving means of (d) is an opening amount of a collimator for controlling an irradiation field of X-rays emitted from the X-ray tube, and an X-ray. An X-ray high voltage apparatus, wherein an irradiation area is derived based on the irradiation distance from the X-ray focal point of the tube to the subject and the collimator distance from the X-ray focal point to the collimator.
て、前記（ｄ）の照射面積導出手段は、被検体を撮影す
るＸ線フィルムのフィルム面積に基づいて、照射面積を
導出することを特徴とするＸ線高電圧装置。8. The X-ray high-voltage apparatus according to claim 6, wherein the irradiation area deriving unit in (d) derives the irradiation area based on the film area of the X-ray film for photographing the subject. An X-ray high voltage device characterized by:
のＸ線高電圧装置において、前記Ｘ線管の固有の情報で
ある前記固有値情報は、前記管電圧と、前記Ｘ線管に具
備された、Ｘ線成分を抽出するフィルタの材質および厚
みと、管電圧および前記フィルタの材質・厚みに対して
相関関係にある総ろ過補正係数とであることを特徴とす
るＸ線高電圧装置。9. The X-ray high voltage apparatus according to claim 1, wherein the eigenvalue information, which is information unique to the X-ray tube, is stored in the tube voltage and the X-ray tube. An X-ray high-voltage device comprising: a material and a thickness of a filter for extracting an X-ray component, and a total filtration correction coefficient having a correlation with a tube voltage and a material and a thickness of the filter. .
載のＸ線高電圧装置において、（ｅ）前記照射距離また
は照射面積のいずれか１つを、あるいは照射距離および
照射面積の両者を入力する入力手段を備えていることを
特徴とするＸ線高電圧装置。10. The X-ray high voltage apparatus according to claim 1, wherein (e) either one of the irradiation distance or the irradiation area, or both the irradiation distance and the irradiation area are used. An X-ray high voltage apparatus comprising an input means for inputting.
記載のＸ線高電圧装置を備えたＸ線撮影装置であって、
（Ａ）Ｘ線を被検体に照射するためのＸ線管と、（Ｂ）
前記Ｘ線管に管電圧および管電流を与える高電圧発生手
段とを備えるとともに、（Ｃ）計測された、前記Ｘ線管
のＸ線焦点から前記被検体までの照射距離、前記高電圧
発生手段に関する設定値情報または計測値情報、および
Ｘ線管の固有の情報である固有値情報に基づいて、Ｘ線
が被検体を照射する入射面の照射面積における単位面積
当たりのＸ線線量を導出する線量導出手段と、（Ｄ）前
記線量導出手段によって求められた単位面積当たりのＸ
線線量、および前記照射面積に基づいて、前記入射面に
おける全線量である面積線量を導出する面積線量導出手
段とを備えることを特徴とするＸ線撮影装置。11. An X-ray imaging apparatus provided with the X-ray high voltage apparatus according to claim 1.
(A) An X-ray tube for irradiating a subject with X-rays, and (B)
A high voltage generating means for applying a tube voltage and a tube current to the X-ray tube, and (C) the measured irradiation distance from the X-ray focal point of the X-ray tube to the subject, the high voltage generating means. Dose for deriving the X-ray dose per unit area in the irradiation area of the incident surface on which the X-ray irradiates the subject, based on the setting value information or measurement value information relating to Derivation means, and (D) X per unit area obtained by the dose derivation means
An X-ray imaging apparatus, comprising: an area dose deriving unit that derives an area dose, which is a total dose on the incident surface, based on a linear dose and the irradiation area.
いて、（Ｅ）Ｘ線管の前記Ｘ線焦点から被検体までの前
記照射距離を計測する照射距離計測手段を備えることを
特徴とするＸ線撮影装置。12. The X-ray imaging apparatus according to claim 11, further comprising: (E) irradiation distance measuring means for measuring the irradiation distance from the X-ray focal point of the X-ray tube to the subject. X-ray equipment.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002002467A JP2003203797A (en) | 2002-01-09 | 2002-01-09 | X-ray high voltage device, and radiographic apparatus provided with the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002002467A JP2003203797A (en) | 2002-01-09 | 2002-01-09 | X-ray high voltage device, and radiographic apparatus provided with the same |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003203797A true JP2003203797A (en) | 2003-07-18 |
Family
ID=27642314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002002467A Pending JP2003203797A (en) | 2002-01-09 | 2002-01-09 | X-ray high voltage device, and radiographic apparatus provided with the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003203797A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1549115A2 (en) | 2003-12-26 | 2005-06-29 | GE Medical Systems Global Technology Company LLC | Exposure calculation method and radiography system |
| JP2005198762A (en) * | 2004-01-14 | 2005-07-28 | Toshiba Corp | X-ray diagnosis apparatus and exposure dose controlling method |
| US7203268B2 (en) | 2004-03-02 | 2007-04-10 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT system and X-ray apparatus |
| JP2008108440A (en) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Shimadzu Corp | X-ray high voltage device and x-ray diagnostic apparatus including x-ray high voltage device |
| JP2010246794A (en) * | 2009-04-17 | 2010-11-04 | Shimadzu Corp | X-ray imaging apparatus |
| JP2010253013A (en) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Shimadzu Corp | X-ray imaging apparatus |
| EP3354200A1 (en) * | 2017-01-25 | 2018-08-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and control method thereof |
-
2002
- 2002-01-09 JP JP2002002467A patent/JP2003203797A/en active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1549115A2 (en) | 2003-12-26 | 2005-06-29 | GE Medical Systems Global Technology Company LLC | Exposure calculation method and radiography system |
| US7190763B2 (en) | 2003-12-26 | 2007-03-13 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Exposure calculation method and radiography system |
| EP1549115A3 (en) * | 2003-12-26 | 2007-11-07 | GE Medical Systems Global Technology Company LLC | Exposure calculation method and radiography system |
| JP2005198762A (en) * | 2004-01-14 | 2005-07-28 | Toshiba Corp | X-ray diagnosis apparatus and exposure dose controlling method |
| US7203268B2 (en) | 2004-03-02 | 2007-04-10 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT system and X-ray apparatus |
| JP2008108440A (en) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Shimadzu Corp | X-ray high voltage device and x-ray diagnostic apparatus including x-ray high voltage device |
| JP2010246794A (en) * | 2009-04-17 | 2010-11-04 | Shimadzu Corp | X-ray imaging apparatus |
| JP2010253013A (en) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Shimadzu Corp | X-ray imaging apparatus |
| EP3354200A1 (en) * | 2017-01-25 | 2018-08-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and control method thereof |
| US11064958B2 (en) | 2017-01-25 | 2021-07-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and control method thereof |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4406533B2 (en) | Method and apparatus for X-ray irradiation control | |
| US8523434B2 (en) | Image processing apparatus and image processing method for removing residual image | |
| JP2002263097A (en) | Radiographic tomograph | |
| JP6912965B2 (en) | How to operate a radiation imaging device, a radiation imaging system, and a radiation imaging device | |
| JP5203946B2 (en) | Method and apparatus for automatic exposure control | |
| KR100891580B1 (en) | Radiographic apparatus and radiation detection signal processing method | |
| JP3402776B2 (en) | X-ray diagnostic equipment | |
| JP4612319B2 (en) | Radiation exposure evaluation system and evaluation method thereof | |
| JP2003203797A (en) | X-ray high voltage device, and radiographic apparatus provided with the same | |
| WO2016046895A1 (en) | Fluoroscopic imaging apparatus | |
| JP6125257B2 (en) | Medical diagnostic apparatus and image processing apparatus | |
| JP2004242741A (en) | Radiation image pick-up device | |
| JP2003190133A (en) | X-ray device with storage for x-ray exposure parameter | |
| JP4728585B2 (en) | X-ray diagnostic apparatus and data processing method of X-ray diagnostic apparatus | |
| WO2004093685A1 (en) | Radiographical device | |
| JP2005143948A (en) | X-ray ct device | |
| JP2009142497A (en) | X-ray diagnostic apparatus | |
| JP2007215918A (en) | X-ray diagnostic apparatus | |
| JP7477014B2 (en) | Radiography System | |
| JP2005058348A (en) | Radiation imaging apparatus and radiation detection signal processing method | |
| JP2005064706A (en) | Radiation imager and radiation detection signal processing method | |
| JP2008108440A (en) | X-ray high voltage device and x-ray diagnostic apparatus including x-ray high voltage device | |
| JP3778523B2 (en) | X-ray equipment | |
| JP2006230843A (en) | X-ray rotary photographing apparatus | |
| JP5277861B2 (en) | X-ray high voltage device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040708 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070731 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080708 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080904 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080930 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081125 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081224 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090216 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090318 |