JP2003201200A - 圧電材料、圧電デバイス用基板及び表面弾性波装置 - Google Patents
圧電材料、圧電デバイス用基板及び表面弾性波装置Info
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Abstract
係数がゼロに近い単結晶圧電材料、圧電デバイス用基板
及びこれを用いた表面弾性波装置を提供すること。 【解決手段】 この発明に係る圧電材料は、組成式がN
dCa4O(BO3)3で表される単結晶からなり、遅延
時間温度係数の絶対値が30ppm/℃以下であるもの
である。この圧電材料を所定のカット方位でカットして
そのカット面を研磨加工することにより、圧電デバイス
用基板1が製作される。また、この圧電デバイス用基板
に、表面弾性波を励振するための櫛歯型電極2を設ける
ことにより、表面弾性波装置が製作される。
Description
ルター、バルク波フィルター、共振子、振動子等に好適
に用いられる圧電材料、圧電デバイス用基板及び表面弾
性波装置に関する。
に用いられる圧電デバイス用基板は、単結晶圧電材料を
所定のカット方位で切断加工することにより、製作され
ており、そして、この基板に、表面弾性波を励振するた
めの櫛歯型等の電極を形成することにより、表面弾性波
装置が製作されている。
特性として、電気機械結合係数k2が大きいこと、遅延
時間温度係数TCDがゼロに近いこと、単結晶の育成や
作成過程が容易であること、等が挙げられる。
れていた水晶やランタン・ガリウム・ニオブ系酸化物単
結晶であるランガナイト等は、TCDがゼロであるとい
う優れた特性(即ち零温度特性)を持つ。
ブ酸リチウム(LN)やタンタル酸リチウム(LT)等
が開発されている(例えば特開平11−106294号
公報参照)。
用されている上述のような圧電材料において、水晶やラ
ンガナイト等では、TCDがゼロであるという優れた特
性を有する反面、k2が小さいという欠点があり、LN
やLT等では、k2が大きいという特性を有する反面、
TCDも大きいという欠点があった。このようにk2が
小さい圧電材料は、表面弾性波装置の広帯域化への対応
が困難になる。また、TCDが大きい圧電材料は、温度
変化に対する特性変化(帯域周波数の変化)が大きいと
いう欠点を有している。
なされたもので、その目的は、電気機械結合係数k2が
大きく且つ遅延時間温度係数TCDがゼロに近いという
特性を有する単結晶圧電材料、圧電デバイス用基板及び
これを用いた表面弾性波装置を提供することにある。
め、請求項1の発明に係る圧電材料は、組成式がNdC
a4O(BO3)3で表される単結晶からなり、遅延時間
温度係数の絶対値が30ppm/℃以下であることを特
徴としている。
は、上記請求項1記載の圧電材料で形成されていること
を特徴としている。
上記請求項2記載の圧電デバイス用基板に、表面弾性波
を励振するための電極が設けられていることを特徴とし
ている。
性がなく安定である上、電気機械結合係数k 2が大き
く、且つ遅延時間温度係数TCDがゼロに近い(つまり
TCDの絶対値が小さい)という優れた特性を有してい
る。したがって、この発明に係る圧電材料は、圧電デバ
イス用基板を製作するための材料として特に好適に用い
ることができる。
(BO3)3で表される単結晶からなるものである。この
圧電材料を構成するNd(ネオジム)及びCa(カルシ
ウム)において、Ndは希土類元素に属するものであ
り、Caはアルカリ土類金属元素に属するものであるか
ら、この圧電材料は、希土類・アルカリ土類金属・オキ
シボレート系単結晶からなる圧電材料の一種であると言
える。
化学量論数比で1:4に厳密に設定されているNdCa
4O(BO3)3単結晶からなるものをはじめ、Nd以外
の希土類元素(即ち、Sc、Y、La、Ce、Pr、P
m、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、T
m、Yb、Lu)から選択された1種又は2種以上の元
素を不純物として含有したNdCa4O(BO3)3単結
晶からなるものであっても良い。この場合において、選
択された元素は、固溶元素として含有されていても良
く、例えば、Ndと置換される置換型固溶元素として、
あるいは侵入型固溶元素として含有されていても良い。
Ca以外のアルカリ土類金属元素(即ち、Be、Mg、
Sr、Ba、Ra)から選択された1種又は2種以上の
元素を不純物として含有したNdCa4O(BO3)3単
結晶からなるものであっても良い。この場合において、
選択された元素は、固溶元素として含有されていても良
く、例えば、Caと置換される置換型固溶元素として、
あるいは侵入型固溶元素として含有されていても良い。
希土類元素及びアルカリ土類金属元素以外の元素を不純
物として含有したNdCa4O(BO3)3単結晶からな
るものであっても良い。
造上不可避の不純物を含有したNdCa4O(BO3)3
単結晶からなるものであっても良いことは言うまでもな
い。
Dの絶対値を30ppm/℃以下(即ち、TCDを+3
0〜−30ppm/℃の範囲内)にすることができる。
20ppm/℃であることが望ましく、特に15ppm
/℃であることが望ましく、更に10ppm/℃である
ことが望ましく、5ppm/℃であることがより一層望
ましい。
℃であることが望ましく、特に−15ppm/℃である
ことが望ましく、更に−10ppm/℃であることが望
ましく、−5ppm/℃であることがより一層望まし
い。
25℃における値であり、次式(i)で算出される。
搬速度、Tは温度であり、右辺の第1項であるαは伝搬
方向の熱膨張係数である。また、同右辺の第2項をβを
すると、βは次式(ii)で算出される。
℃)及びVS(15℃)は、それぞれ25℃、35℃及び15
℃における表面弾性波の伝搬速度である。
は単斜晶系に属するものである。一般的に、単斜晶系に
属する結晶の結晶軸(a軸、b軸及びc軸)と、表面弾
性波特性の評価に用いる直交座標軸(X軸、Y軸及びZ
軸)との関係は、b軸をY軸に、c軸をZ軸にとり、右
手直交になるようにX軸をとると決められている。
直交するか又はこれに近い面でカットされた場合、表面
弾性波の伝搬方向を適切に選択することによって、TC
Dの絶対値を所定値以下に確実に設定することができ
る。但し、この発明では、圧電材料はこのようなカット
方位でカットされているものに限定されるものではな
い。例えば、X軸に直交するか又はこれに近い面でカッ
トされていても良いし、Z軸に直交するか又はこれに近
い面でカットされていても良く、要するにTCDの絶対
値が所定値以下になる伝搬方向が得られるようにカット
されていれば良い。
でカットすることを「Xカット」と呼び、Y軸に直交す
る面でカットすることを「Yカット」と呼び、Z軸に直
交する面でカットすることを「Zカット」と呼ぶ。
合には圧電デバイス用基板として用いることができる。
このバルク状圧電材料の単結晶育成方法については、特
に限定されるものではなく、各種チョクラルスキー(C
z)法をはじめ、ブリッジマン法、フローティング・ゾ
ーン法(浮遊帯域溶融法)等の様々な育成方法を適用す
ることができるが、特にCz法により育成することが望
ましい。すなわち、Cz法によれば、大口径で且つ高品
質の単結晶を育成することができる上、当該単結晶の育
成を高速に且つ容易に行うことができるからである。
育成された単結晶からなることが、当該単結晶のカット
方位決定作業(いわゆる方位出し作業)を容易に行える
ようになる点等で、望ましい。なお、圧電材料がCz法
により育成された単結晶からなるものである場合には、
当該単結晶の引き上げ方向がその育成方向となる。
成される単結晶薄膜として用いることができる。この場
合においてその成膜方法は、特に限定されるものではな
く様々な成膜方法を適用することができる。
述したバルク状圧電材料を所定のカット方位でカットし
てそのカット面を研磨加工することにより、製作するこ
とができる。
上に上述した圧電材料が薄膜として形成されていても良
い。
バイス用基板上に表面弾性波を励振するための電極を設
けることにより、製作することができる。
1に示した共振器型表面弾性波装置や図2に示したトラ
ンスバーサル型表面弾性波装置が挙示される。
は、表面弾性波を励振するための電極として、複数個の
平行な電極指を有する一対の櫛歯型の励振電極(Inter
Digital Transducer)(2)が、電極指を相互に噛み
合わせた態様にして圧電デバイス用基板(1)の一主面
に設けられている。この一対の櫛歯型励振電極(2)は
導電性材料から形成されている。この導電性材料として
は、例えば、アルミニウム(その合金を含む。)、チタ
ン、ニッケル、金、プラチナ等の金属やこれらの合金が
好適に用いられる。また、同図の鎖線に示すように、前
記櫛歯型励振電極(2)の表面弾性波伝搬路の両端に、
表面弾性波を反射するための反射器(3)が設けられて
いても良い。
波装置では、表面弾性波(5)を励振するための電極と
して、図1と同じく、一対の櫛歯型励振電極(2)が電
極指を相互に噛み合わせた態様にして圧電デバイス用基
板(1)の一主面に設けられている。さらに、この一対
の櫛歯型励振電極(2)に隣接して、表面弾性波(5)
を受信するための一対の櫛歯型受信電極(2’)が設け
られている。
記櫛歯型励振電極(2)に印加するための高周波信号源
である。
(2)、受信電極(2’)及び反射器(3)の形成方法
としては、特に限定されるものではなく、様々な公知の
形成方法を適用することができる。例えば、基板(1)
の主面上に電極となる金属を真空蒸着法により被着形成
したのち、リフトオフ法及び/又はエッチング法により
電極を形成することができる。
する。
O3)3単結晶を高周波誘導加熱型Cz法により育成し
た。この単結晶を、説明の便宜上「第1単結晶」とい
う。用いたるつぼはイリジウム(Ir)製の円筒形のも
のである。用いた原料は純度99.99%の炭酸カルシ
ウム(CaCO3)、酸化ネオジム(Nd2O3)、純度
99.95%の酸化ホウ素(B2O3)であり、これらを
8:1:3のモル比で混合し、1100℃で24時間焼
結したものを前記るつぼに充填した。イリジウム製のる
つぼは約800℃以上の高温では酸素と反応し、揮発す
るため、アルゴンガス雰囲気中で育成を行った。以下に
その育成条件を示す。
は、クラックが生じておらず高品質なものであった。ま
た、この第1単結晶は、その組成式においてNdとCa
を化学量論数比(Nd:Ca)で1:4の割合で含有し
ているものである。
含有したNdCa4O(BO3)3単結晶を高周波誘導加
熱型Cz法により育成した。この単結晶を、説明の便宜
上「第2単結晶」という。用いたるつぼはイリジウム
(Ir)製の円筒形のものである。用いた原料は純度9
9.99%の炭酸カルシウム(CaCO3)、酸化ガド
リニウム(Gd2O3)、酸化ネオジム(Nd2O3)、純
度99.95%の酸化ホウ素(B2O3)であり、これら
を8:0.1:0.9:3のモル比で混合し、1100
℃で24時間焼結したものを前記るつぼに充填した。イ
リジウム製のるつぼは約800℃以上の高温では酸素と
反応し、揮発するため、アルゴンガス雰囲気中で育成を
行った。以下にその育成条件を示す。
は、クラックが生じておらず高品質なものであった。ま
た、この第2単結晶は、その組成式においてNd及びG
dとCaを化学量論数比[(Nd+Gd):Ca]で
1:4の割合で含有しているものである。この第2単結
晶において、不純物であるGdは、Ndと置換された置
換型固溶元素として単結晶中に含まれていると推察され
る。
含有したNdCa4O(BO3)3単結晶を高周波誘導加
熱型Cz法により育成した。この単結晶を、説明の便宜
上「第3単結晶」という。用いたるつぼはイリジウム
(Ir)製の円筒形のものである。用いた原料は純度9
9.99%の炭酸カルシウム(CaCO3)、純度9
9.99%の炭酸マグネシウム(MgCO3)、酸化ネ
オジム(Nd2O3)、純度99.95%の酸化ホウ素
(B2O3)であり、これらを7.76:0.24:1:
3のモル比で混合し、1100℃で24時間焼結したも
のを前記るつぼに充填した。イリジウム製のるつぼは約
800℃以上の高温では酸素と反応し、揮発するため、
アルゴンガス雰囲気中で育成を行った。以下にその育成
条件を示す。
(すなわち、不純物としてMgを含有したNdCa4O
(BO3)3単結晶)は、クラックが生じておらず高品質
なものであった。また、この第3単結晶は、その組成式
においてNdとCa及びMgを化学量論数比[Nd:
(Ca+Mg)]で1:4の割合で含有しているもので
ある。この第3単結晶において、不純物であるMgは、
Caと置換された置換型固溶元素として単結晶中に含ま
れていると推察される。
カットして該カット面を鏡面加工することにより、圧電
デバイス用基板を製作した。そして、図1に示した共振
器型表面弾性波装置を製作すべく、この基板の主面(即
ちカット面)に一対の櫛歯型励振電極を形成した。な
お、この櫛歯型励振電極において、電極指間隔は9μ
m、電極指幅は9μm、電極指対数は20である。
カットY伝搬の表面弾性波の伝搬速度VS、電気機械結
合係数k2及び遅延時間温度係数TCDを測定した。
り算出した。TCDの測定に用いた中心周波数は約10
5MHzである。一方、VS及びk2の測定は、インピー
ダンスアナライザを用い、アドミタンスの実部(コンダ
クタンス)Gとその虚部(サセプタンス)Bの周波数特
性(放射アドミタンス特性)を測定することにより、行
った。ここで、VSの値は次式(iii)により算出し、k2
は次式(iv)により算出した。
あり、λは波長(電極指幅の4倍)である。上記(iv)式
において、Nは電極指対数である。
CDを以下に示す。
直交する面でカットして該カット面を鏡面加工すること
により、圧電デバイス用基板を製作した。そして、図1
に示した共振器型表面弾性波装置を製作すべく、この基
板の主面(即ちカット面)に一対の櫛歯型励振電極を形
成し、YカットX伝搬のVS、k2及びTCDを測定し
た。TCDの測定に用いた中心周波数は約92MHzで
ある。その結果を以下に示す。なお、この櫛歯型励振電
極において、電極指間隔、電極指幅及び電極指対数は、
上記実施例1と同じである。また、TCD、VS及びk2
の測定方法についても上記実施例1と同じである。
直交する面でカットして該カット面を鏡面加工すること
により、圧電デバイス用基板を製作した。そして、図1
に示した共振器型表面弾性波装置を製作すべく、この基
板の主面(即ちカット面)に一対の櫛歯型励振電極を形
成し、XカットY伝搬のVS、k2及びTCDを測定し
た。TCDの測定に用いた中心周波数は約95MHzで
ある。その結果を以下に示す。なお、この櫛歯型励振電
極において、電極指間隔、電極指幅及び電極指対数は、
上記実施例1と同じである。また、TCD、VS及びk2
の測定方法についても上記実施例1と同じである。
直交する面でカットして該カット面を鏡面加工すること
により、圧電デバイス用基板を製作した。そして、図1
に示した共振器型表面弾性波装置を製作すべく、この基
板の主面(即ちカット面)に一対の櫛歯型励振電極を形
成し、YカットX伝搬のVS、k2及びTCDを測定し
た。TCDの測定に用いた中心周波数は約92MHzで
ある。その結果を以下に示す。なお、この櫛歯型励振電
極において、電極指間隔、電極指幅及び電極指対数は、
上記実施例1と同じである。また、TCD、VS及びk2
の測定方法についても上記実施例1と同じである。
直交する面でカットして該カット面を鏡面加工すること
により、圧電デバイス用基板を製作した。そして、図1
に示した共振器型表面弾性波装置を製作すべく、この基
板の主面(即ちカット面)に一対の櫛歯型励振電極を形
成し、YカットX伝搬のVS、k2及びTCDを測定し
た。TCDの測定に用いた中心周波数は約92MHzで
ある。その結果を以下に示す。なお、この櫛歯型励振電
極において、電極指間隔、電極指幅及び電極指対数は、
上記実施例1と同じである。また、TCD、VS及びk2
の測定方法についても上記実施例1と同じである。
は、公知の形成方法によって形成されたものである。す
なわち、基板の主面上に電極となるアルミニウムを真空
蒸着法により被着形成したのち、エッチング法によって
前記の櫛歯型励振電極を形成した。
記実施例1〜5で得られた単結晶圧電材料であるNdC
a4O(BO3)3単結晶と、従来の単結晶圧電材料であ
る水晶(これを「比較例1」とする。)及びLN(これ
を「比較例2」とする。)とを、VS、k2及びTCDに
ついて対比すると、表1のようになる。
(BO3)3単結晶は、不純物を含んでいるか否かにかか
わらず、k2が大きく且つTCDがゼロに近い(つまり
TCDの絶対値が小さい)という優れた特性を有するも
のであることが分かる。特に、NdCa4O(BO3)3
単結晶は、上記第1単結晶のように、製造上不可避の不
純物だけを含有したものである場合が、TCDをより一
層ゼロに近づけることができできる点で、望ましいが、
Nd以外の希土類元素から選択された1種又は2種以上
の元素を不純物として、上記第2単結晶におけるGdの
含有量以下で含有したものであっても、あるいはCa以
外のアルカリ土類金属元素から選択された1種又は2種
以上の元素を不純物として、上記第3単結晶におけるM
gの含有量以下で含有したものであっても、TCDを所
定の値以下に設定できることが分かる。したがって、こ
のようなNdCa4O(BO3)3単結晶からなる圧電材
料は、圧電デバイス用基板を製作するための材料として
好適に用いることができることを確認し得た。
は、電気機械結合係数k2が大きく且つ遅延時間温度係
数TCDの絶対値が所定の値以下であるから、圧電デバ
イス用基板を製作するための材料として好適に用いるこ
とができる。
バイス用基板に、表面弾性波を励振するための電極を形
成することにより、優れた性能を有する表面弾性波装置
を得ることができる。
振器型表面弾性波装置を説明するための平面図である。
ランスバーサル型表面弾性波装置を説明するための平面
図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 組成式がNdCa4O(BO3)3で表さ
れる単結晶からなり、 遅延時間温度係数の絶対値が30ppm/℃以下である
ことを特徴とする圧電材料。 - 【請求項2】 請求項1記載の圧電材料で形成されてい
ることを特徴とする圧電デバイス用基板。 - 【請求項3】 請求項2記載の圧電デバイス用基板に、
表面弾性波を励振するための電極が設けられていること
を特徴とする表面弾性波装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001397841A JP3835286B2 (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 圧電材料、圧電デバイス用基板及び表面弾性波装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001397841A JP3835286B2 (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 圧電材料、圧電デバイス用基板及び表面弾性波装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003201200A true JP2003201200A (ja) | 2003-07-15 |
JP3835286B2 JP3835286B2 (ja) | 2006-10-18 |
Family
ID=27639604
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001397841A Expired - Fee Related JP3835286B2 (ja) | 2001-12-27 | 2001-12-27 | 圧電材料、圧電デバイス用基板及び表面弾性波装置 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3835286B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017514398A (ja) * | 2014-04-25 | 2017-06-01 | エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag | 電子音響デバイスおよび電子音響デバイス用結晶カット |
-
2001
- 2001-12-27 JP JP2001397841A patent/JP3835286B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017514398A (ja) * | 2014-04-25 | 2017-06-01 | エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag | 電子音響デバイスおよび電子音響デバイス用結晶カット |
US10333488B2 (en) | 2014-04-25 | 2019-06-25 | Snaptrack, Inc. | Electroacoustic component and crystal cuts for electroacoustic components |
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---|---|
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