JP2003198267A - Amplifier - Google Patents

Amplifier

Info

Publication number
JP2003198267A
JP2003198267A JP2001398597A JP2001398597A JP2003198267A JP 2003198267 A JP2003198267 A JP 2003198267A JP 2001398597 A JP2001398597 A JP 2001398597A JP 2001398597 A JP2001398597 A JP 2001398597A JP 2003198267 A JP2003198267 A JP 2003198267A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
fet
amplifier
bias
temperature coefficient
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001398597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Nakahara
和彦 中原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2001398597A priority Critical patent/JP2003198267A/en
Publication of JP2003198267A publication Critical patent/JP2003198267A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem, for example, that the resistance becomes high to temperature rise, the voltage drop is increased, the gate bias voltage becomes deep, and hence the gain in an amplifier is decreased when a self bias circuit is composed by applying the amount of voltage drop caused by allowing a current flowing between the drain and source electrodes of an FET to flow to a resistor having a positive temperature coefficient. <P>SOLUTION: In the amplifier comprising an input matching circuit 2, an output matching circuit 11, and an FET 4, a source inductor 5 is loaded to the source electrode of the FET 4, a resistor 13 for self-bias application having a negative temperature coefficient between the source inductor 5 and the ground is loaded to a bias capacitor 6 in parallel, and a circuit composed of an RF choke coil 8 for applying a bias voltage to the drain electrode of the FET 4 and a bias capacitor 9 is provided, thus allowing a drain current to flow in the resistor 13 for self-bias application having the negative temperature coefficient, decreasing the voltage drop as compared with the source electrode, and hence maintaining the same potential between the gate electrode and the ground of the FET 4. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は温度特性による特
性変化を自己補償する機能を有した増幅器に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an amplifier having a function of self-compensating for characteristic changes due to temperature characteristics.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば従来の増幅器は、図5に示すよう
に電界効果トランジスタ(以下「FET」という)のソ
ース電極と接地間に正の温度係数を持つ抵抗とキャパシ
タを並列に装荷して単電源化動作を実現している。
2. Description of the Related Art For example, in a conventional amplifier, a resistance and a capacitor having a positive temperature coefficient are loaded in parallel between a source electrode of a field effect transistor (hereinafter referred to as "FET") and ground as shown in FIG. Achieves power-on operation.

【0003】図5おいて、入力端子1とFET4との間
には、入力整合回路2が設けられ、FET4のドレイン
電極は、出力整合回路11を介して出力端子12に接続
されている。また、FET4のゲートには、ゲートバイ
アス印加用抵抗3の一端が接続され、さらにゲートバイ
アス印加用抵抗3の他端は接地されている。さらに、F
ET4のソース電極はソースインダクタ5に装荷され、
ソースインダクタンス5と接地との間には、正の温度係
数を持つ自己バイアス印加用抵抗7とバイパスコンデン
サ6とが並列に装荷されている。また、FET4のドレ
イン電極は、さらに無線周波数チョークコイル(以下
「RFチョークコイル」という)8を介してドレインバ
イアス端子10に接続されるとともに、バイパスコンデ
ンサ9を経て接地されている。図6の(a)には、正の
温度係数をもつ抵抗7の温度特性、図6(b)には図5
で示した増幅器の利得の温度特性の傾向が示されてい
る。
In FIG. 5, an input matching circuit 2 is provided between the input terminal 1 and the FET 4, and the drain electrode of the FET 4 is connected to the output terminal 12 via the output matching circuit 11. Further, one end of the gate bias applying resistor 3 is connected to the gate of the FET 4, and the other end of the gate bias applying resistor 3 is grounded. Furthermore, F
The source electrode of ET4 is loaded on the source inductor 5,
Between the source inductance 5 and the ground, a self-bias applying resistor 7 having a positive temperature coefficient and a bypass capacitor 6 are loaded in parallel. The drain electrode of the FET 4 is further connected to a drain bias terminal 10 via a radio frequency choke coil (hereinafter referred to as “RF choke coil”) 8 and grounded via a bypass capacitor 9. 6A shows the temperature characteristic of the resistor 7 having a positive temperature coefficient, and FIG.
The tendency of the temperature characteristic of the gain of the amplifier shown in is shown.

【0004】次に動作について説明する。図5に示す従
来の増幅器は、FET4のソースインダクタ5と接地と
の間に並列に装荷された正の温度係数を持つ自己バイア
ス印加用抵抗7とバイパスコンデンサ6を有し、FET
4のドレイン電極とソース電極との間に流れる電流が、
自己バイアス印加用抵抗7に流れ、接地される。これに
より、FET4のソース電極と接地との間に、自己バイ
アス印加用抵抗7による電圧降下が生じ、接地における
電圧は、FET4のソース電極の電圧に対して低くな
り、この電位をゲートバイアス印加用抵抗3を介してF
ET4のゲートに印加することで自己バイアス回路を構
成している。
Next, the operation will be described. The conventional amplifier shown in FIG. 5 has a resistor 7 for applying a self-bias having a positive temperature coefficient and a bypass capacitor 6 which are loaded in parallel between the source inductor 5 of the FET 4 and the ground.
The current flowing between the drain electrode and the source electrode of 4 is
It flows to the self-bias applying resistor 7 and is grounded. As a result, a voltage drop occurs due to the self-bias applying resistor 7 between the source electrode of the FET 4 and the ground, and the voltage at the ground becomes lower than the voltage of the source electrode of the FET 4, and this potential is used for applying the gate bias. F through resistor 3
A self-bias circuit is configured by applying it to the gate of ET4.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の増
幅器では、図5に示すFET4のドレイン電極とソース
電極との間に流れる電流が、正の温度係数を持つ自己バ
イアス印加用抵抗7に流れることによる電圧降下分を、
ゲートバイアス印加用抵抗3を介してFET4のゲート
に印加することで自己バイアス回路を構成している。
In the conventional amplifier as described above, the current flowing between the drain electrode and the source electrode of the FET 4 shown in FIG. 5 is applied to the self-bias applying resistor 7 having a positive temperature coefficient. The voltage drop due to flowing,
A self-bias circuit is configured by applying it to the gate of the FET 4 via the gate bias applying resistor 3.

【0006】従って、図6の(a)に示すように、温度
の変化により自己バイアス印加用抵抗7の値が変化し、
たとえば温度上昇に対して抵抗値は高くなり電圧降下が
増えゲートバイアス電圧が深くなることで、図6の
(b)に示したように、利得が低下する。さらに、FE
T4が正の温度特性を有していることで、利得が大幅に
低下するという問題があった。
Therefore, as shown in FIG. 6A, the value of the self-bias applying resistor 7 changes due to the temperature change,
For example, as the resistance value increases and the voltage drop increases and the gate bias voltage becomes deeper as the temperature rises, the gain decreases as shown in FIG. 6B. Furthermore, FE
Since T4 has a positive temperature characteristic, there is a problem that the gain is significantly reduced.

【0007】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、増幅器において、負の温度係数を
持つ抵抗で構成した自己バイアス回路を備えることによ
り、温度特性による特性変化を自己補償することを目的
とする。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and an amplifier is provided with a self-bias circuit constituted by a resistor having a negative temperature coefficient, so that a characteristic change due to a temperature characteristic is self-compensated. The purpose is to do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】第1の発明に係る増幅器
においては、ソースインダクタと接地との間に、並列に
バイパスコンデンサ(キャパシタ)と負の温度係数を持
つ自己バイアス印加用抵抗とを設けることにより、上記
負の温度係数を持つ自己バイアス印加用抵抗は、正の温
度変化に対して電圧降下を負に変化させるため、FET
のゲートバイアス電圧の温度特性を補償するように制御
することができる。このような自己バイアス回路を設け
ることにより、増幅器の温度特性による特性変化を自己
補償することができる。
In the amplifier according to the first invention, a bypass capacitor (capacitor) and a self-bias applying resistor having a negative temperature coefficient are provided in parallel between the source inductor and the ground. As a result, the self-bias applying resistor having the negative temperature coefficient changes the voltage drop negatively with respect to the positive temperature change.
Can be controlled so as to compensate the temperature characteristic of the gate bias voltage. By providing such a self-biasing circuit, it is possible to self-compensate for characteristic changes due to temperature characteristics of the amplifier.

【0009】また、第2の発明に係る増幅器において
は、FETのドレイン電極へのバイアス電圧を負の温度
係数を有する自己バイアス印加用抵抗を介して印加する
ことにより、正の温度変化に対して電圧降下を負に変化
させることができる。これにより、FETのドレイン電
極の電圧の温度特性を補償するように制御することがで
きる。これにより、増幅器の温度特性による特性変化を
自己補償することができる。
Further, in the amplifier according to the second aspect of the present invention, by applying the bias voltage to the drain electrode of the FET via the self-bias applying resistor having a negative temperature coefficient, it is possible to cope with a positive temperature change. The voltage drop can be changed negatively. Thereby, it is possible to control so as to compensate the temperature characteristic of the voltage of the drain electrode of the FET. Thereby, the characteristic change due to the temperature characteristic of the amplifier can be self-compensated.

【0010】また、第3の発明に係る増幅器において
は、FETのゲート電極とドレイン電極との間に、負の
温度係数を持つ自己バイアス印加用抵抗とバイパスコン
デンサ(キャパシタ)とを直列接続した回路を、FET
と並列に装荷することで、負帰還回路を設け、正の温度
変化に対する帰還量によりFETの温度特性を補償する
ように制御することができる。これにより、増幅器の温
度特性による特性変化を自己補償することができる。
In the amplifier according to the third aspect of the invention, a circuit in which a self-bias applying resistor having a negative temperature coefficient and a bypass capacitor are connected in series between the gate electrode and the drain electrode of the FET. FET
It is possible to provide a negative feedback circuit by loading it in parallel with and to control so as to compensate the temperature characteristic of the FET by the feedback amount with respect to the positive temperature change. Thereby, the characteristic change due to the temperature characteristic of the amplifier can be self-compensated.

【0011】また、第4の発明に係る増幅器において
は、負の温度係数を持つ抵抗が、金属薄膜抵抗であるた
め、簡便に安価に製造することができる。
Further, in the amplifier according to the fourth aspect of the present invention, the resistor having the negative temperature coefficient is the metal thin film resistor, so that the amplifier can be easily manufactured at low cost.

【0012】また、第5の発明に係る増幅器において
は、チョークコイルを無線周波数チョークコイルとする
ことで、特定の周波数領域以上の周波数に対して高いイ
ンピーダンスを与えることができ、制御が容易になる。
Further, in the amplifier according to the fifth aspect of the invention, by using the choke coil as a radio frequency choke coil, a high impedance can be given to a frequency above a specific frequency range, and control becomes easy. .

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1はこの発明の
実施の形態1である増幅器を示すものである。図2
(a)に負の温度係数をもつ抵抗の温度特性、図2
(b)に図1で示した増幅器の利得の温度特性の傾向を
示した。入力端子1とFET4との間には、入力整合回
路2が設けられ、FET4のドレイン電極は、出力整合
回路11を介して出力端子12に接続されている。ま
た、FET4のゲート電極には、ゲートバイアス印加用
抵抗3の一端が接続され、さらにゲートバイアス印加用
抵抗3の他端は接地されている。さらに、FET4のソ
ース電極はソースインダクタ5に装荷され、ソースイン
ダクタ5と接地との間には、負の温度係数を持つ自己バ
イアス印加用抵抗13とバイパスコンデンサ6とが並列
に装荷されている。また、FET4のドレイン電極は、
さらに無線周波数チョークコイル8を介してドレインバ
イアス端子10に接続されるとともに、バイパスコンデ
ンサ9を経て接地されている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiment 1. 1 shows an amplifier according to a first embodiment of the present invention. Figure 2
Temperature characteristics of a resistor having a negative temperature coefficient in (a), FIG.
The tendency of the temperature characteristic of the gain of the amplifier shown in FIG. 1 is shown in (b). An input matching circuit 2 is provided between the input terminal 1 and the FET 4, and the drain electrode of the FET 4 is connected to the output terminal 12 via the output matching circuit 11. Further, one end of the gate bias applying resistor 3 is connected to the gate electrode of the FET 4, and the other end of the gate bias applying resistor 3 is grounded. Further, the source electrode of the FET 4 is loaded on the source inductor 5, and the self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient and the bypass capacitor 6 are loaded in parallel between the source inductor 5 and the ground. The drain electrode of FET4 is
Further, it is connected to the drain bias terminal 10 via the radio frequency choke coil 8 and grounded via the bypass capacitor 9.

【0014】以下、動作及び効果について説明する。図
1において、入力端子1より入力した高周波信号は、こ
の入力整合回路2および出力整合回路11により整合さ
れているFET4により増幅され、出力端子12より出
力される。また、FET4は低雑音で低反射に動作させ
るために、雑音および反射が最小となるインピーダンス
を近づけるためのソースインダクタ5を装荷している。
FET4へのバイアスは、ドレイン電極にバイアス電圧
を印加するためのRFチョークコイル8とバイパスコン
デンサ9で構成されたバイアス回路より印加され、ドレ
イン電流でFET4のソース電極と接地との間に、バイ
パスコンデンサ6と並列に装荷された負の温度係数を持
つ自己バイアス印加用抵抗13によって、図2(a)で
示すように、正の温度変化に対して電圧降下を負に変化
させ、ゲートバイアス印加用抵抗3を介して印加される
ゲートバイアス電圧を、FET4の温度特性を補償する
ように制御する。たとえば、温度上昇に対しては、FE
T4の利得の低下に対し、負の温度係数を持つ自己バイ
アス印加用抵抗13の抵抗値は低くなり電圧降下が減
り、ゲートバイアス電圧が浅くなる。これにより、FE
T4の利得が増加することで、増幅器の温度上昇に伴う
利得低下は、図2(b)で示すように補償される。
The operation and effect will be described below. In FIG. 1, the high frequency signal input from the input terminal 1 is amplified by the FET 4 matched by the input matching circuit 2 and the output matching circuit 11, and output from the output terminal 12. Further, in order to operate the FET 4 with low noise and low reflection, a source inductor 5 for loading an impedance that minimizes noise and reflection is loaded.
The bias to the FET 4 is applied from a bias circuit composed of an RF choke coil 8 for applying a bias voltage to the drain electrode and a bypass capacitor 9, and a bypass capacitor is applied between the source electrode of the FET 4 and the ground by a drain current. As shown in FIG. 2A, the voltage drop is changed to a negative value with respect to the positive temperature change by the self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient, which is loaded in parallel with the gate bias applying resistor 6. The gate bias voltage applied via the resistor 3 is controlled so as to compensate the temperature characteristic of the FET 4. For example, for increasing temperature, FE
With respect to the decrease in the gain of T4, the resistance value of the self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient becomes low, the voltage drop decreases, and the gate bias voltage becomes shallow. As a result, FE
By increasing the gain of T4, the gain decrease due to the temperature rise of the amplifier is compensated as shown in FIG. 2 (b).

【0015】上述したように、FET4の温度特性を補
うように、ゲートバイアスを印加するための自己バイア
ス回路の電圧降下を、負の温度係数を持つ自己バイアス
印加用抵抗13により制御する構成を備える。これによ
り、ドレイン電流が負の温度係数を持つ自己バイアス印
加用抵抗13を流れることでソース電極より電圧降下が
減り、FET4のゲート電極と接地と間を同電位に保つ
ようにすることができる。従って、増幅器の温度特性は
抑制される。
As described above, the voltage drop of the self-bias circuit for applying the gate bias is controlled by the self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient so as to compensate the temperature characteristic of the FET 4. . As a result, the drain current flows through the self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient to reduce the voltage drop from the source electrode, so that the gate electrode of the FET 4 and the ground can be kept at the same potential. Therefore, the temperature characteristic of the amplifier is suppressed.

【0016】実施の形態2.図3は、この発明の実施の
形態2の構成を示すものである。なお、上記実施の形態
1で説明した構成と同様の構成には同一の符号を付しそ
の説明を省略する。
Embodiment 2. FIG. 3 shows the configuration of the second embodiment of the present invention. The same components as those described in the first embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0017】実施の形態2の増幅器では、実施の形態1
における増幅器のFET4のソースインダクタ5と接地
間に並列に装荷された負の温度係数を持つ自己バイアス
印加用抵抗13とバイパスコンデンサ(キャパシタ)6
(図1記載)を取り去り、FET4のドレイン電極にバ
イアス電圧を印加するためのRFチョークコイル8とバ
イパスコンデンサ9で構成された回路のRFチョークコ
イル8に負の温度係数を持つ自己バイアス印加用抵抗1
3を直列接続した構成である。なお、本実施の形態で
は、ゲートバイアス印加用抵抗3は、ソースバイアス端
子18に接続されるとともに、バイパスコンデンサ14
を介して接地されている。
In the amplifier of the second embodiment, the amplifier of the first embodiment is used.
The resistor 13 for applying a self-bias having a negative temperature coefficient and the bypass capacitor 6 which are loaded in parallel between the source inductor 5 of the FET 4 of the amplifier in FIG.
A resistor for self-bias application having a negative temperature coefficient is removed from the RF choke coil 8 of the circuit configured by removing the RF coil coil 8 (described in FIG. 1) and applying a bias voltage to the drain electrode of the FET 4 and the bypass capacitor 9. 1
This is a configuration in which 3 are connected in series. In the present embodiment, the gate bias applying resistor 3 is connected to the source bias terminal 18, and the bypass capacitor 14
Grounded through.

【0018】以下、動作及び効果について説明する。図
3において、FET4へのバイアスは、ドレイン電極に
バイアス電圧を印加するためのRFチョークコイル8と
負の温度係数を持つ抵抗15とバイパスコンデンサ9で
構成されたバイアス回路より印加され、ドレイン電流で
FET4のドレイン電極とソース電極との間の電圧を、
負の温度係数を持つ抵抗15により正の温度変化に対し
て電圧降下を負に変化させ、FET4の温度特性を補償
するように制御する。たとえば、温度上昇に対しては、
FET4の利得の低下に対し、負の温度係数を持つ抵抗
15の抵抗値は低くなり電圧降下が減り、ドレイン電極
とソース電極との間の電圧が高くなることで、FET4
の利得が増加し、その結果増幅器の温度上昇に伴う利得
低下は補償される。
The operation and effect will be described below. In FIG. 3, a bias to the FET 4 is applied by a bias circuit composed of an RF choke coil 8 for applying a bias voltage to the drain electrode, a resistor 15 having a negative temperature coefficient, and a bypass capacitor 9, and a drain current The voltage between the drain and source electrodes of FET4 is
The resistor 15 having a negative temperature coefficient changes the voltage drop negatively with respect to the positive temperature change, and controls so as to compensate the temperature characteristic of the FET 4. For example, for increasing temperature,
With respect to the decrease in the gain of the FET4, the resistance value of the resistor 15 having a negative temperature coefficient decreases, the voltage drop decreases, and the voltage between the drain electrode and the source electrode increases, so that the FET4
Gain is increased, and as a result, the gain decrease with increasing temperature of the amplifier is compensated.

【0019】上述したように、FET4の温度特性を補
うようにドレインバイアス印加の電圧降下を負の温度係
数を持つ抵抗15により制御する構成を備えることによ
り、増幅器の温度特性は抑制される。
As described above, the temperature characteristic of the amplifier is suppressed by providing the configuration in which the voltage drop of the drain bias application is controlled by the resistor 15 having a negative temperature coefficient so as to compensate the temperature characteristic of the FET 4.

【0020】実施の形態3.図4は、この発明の実施の
形態3の構成を示すものである。なお、上記実施の形態
1で説明した構成と同様の構成には同一の符号を付しそ
の説明を省略する。
Embodiment 3. FIG. 4 shows the configuration of the third embodiment of the present invention. The same components as those described in the first embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0021】実施の形態3における増幅器は、実施の形
態1における増幅器のFET4のソースインダクタ5と
接地間に並列に装荷された負の温度係数を持つ自己バイ
アス印加用抵抗13とバイパスコンデンサ(キャパシ
タ)6(図1記載)を取り去り、FET4のゲート電極
とドレイン電極との間に、負の温度係数を持つ抵抗17
とキャパシタ16とを直列接続した回路を、FET4と
並列に装荷した構成である。なお、本実施の形態では、
ゲートバイアス印加用抵抗3は、ソースバイアス端子1
8に接続されるとともに、バイパスコンデンサ14を介
して接地されている。
The amplifier according to the third embodiment includes a self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient and connected in parallel between the source inductor 5 of the FET 4 of the amplifier according to the first embodiment and the ground, and a bypass capacitor. 6 (shown in FIG. 1) is removed, and a resistor 17 having a negative temperature coefficient is provided between the gate electrode and the drain electrode of the FET 4.
A circuit in which the capacitor 16 and the capacitor 16 are connected in series is loaded in parallel with the FET 4. In the present embodiment,
The gate bias applying resistor 3 is connected to the source bias terminal 1
8 and is grounded via a bypass capacitor 14.

【0022】以下、動作及び効果について説明する。図
4において、入力端子1より入力した高周波信号は、こ
の入力整合回路2を介してFET4のゲート電極へ入力
され、FET4で増幅された後、ドレイン電極より出力
される。このドレイン電極より出力された信号の一部
は、負の温度係数を持つ抵抗17とキャパシタ16で構
成された負帰還回路により、ゲート電極へ戻り再びゲー
ト電極へ入力される。その信号の振幅成分は、負の温度
係数を持つ抵抗17により変化し、位相成分はFET4
により逆位相となるため、正の温度変化に対して帰還の
振幅を負に変化させ、FET4の温度特性を補償するよ
うに制御する。
The operation and effect will be described below. In FIG. 4, the high frequency signal input from the input terminal 1 is input to the gate electrode of the FET 4 via the input matching circuit 2, amplified by the FET 4, and then output from the drain electrode. A part of the signal output from the drain electrode returns to the gate electrode and is input to the gate electrode again by the negative feedback circuit including the resistor 17 and the capacitor 16 having a negative temperature coefficient. The amplitude component of the signal is changed by the resistor 17 having a negative temperature coefficient, and the phase component is FET4.
Therefore, the amplitude of the feedback is changed negatively with respect to the positive temperature change, and the temperature characteristic of the FET 4 is controlled so as to be compensated.

【0023】たとえば、温度上昇に対しては、FET4
の利得の低下に対し、負の温度係数を持つ抵抗17の抵
抗値は低くなり、その結果、負帰還の振幅が減って、F
ET4の利得が増加する。これにより、増幅器の温度上
昇に伴う利得低下は補償される。
For example, when the temperature rises, the FET 4
The resistance value of the resistor 17 having a negative temperature coefficient becomes low with respect to the decrease of the gain of F.
The ET4 gain increases. This compensates for the gain reduction with increasing temperature of the amplifier.

【0024】実施の形態4.実施の形態1,2,3にお
ける負の温度係数を持つ自己バイアス印加用抵抗13、
負の温度係数を持つ抵抗15,17に関して、負の温度
係数を持つ金属薄膜抵抗で実現する。これにより、簡便
に負の温度係数を持つ自己バイアス印加用抵抗13、負
の温度係数を持つ抵抗15,17を実現することができ
る。
Fourth Embodiment Self bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient in the first, second and third embodiments,
The resistors 15 and 17 having a negative temperature coefficient are realized by a metal thin film resistor having a negative temperature coefficient. This makes it possible to easily realize the self-bias applying resistor 13 having a negative temperature coefficient and the resistors 15 and 17 having a negative temperature coefficient.

【0025】以下動作及び効果については、上記負の温
度係数を持つ抵抗13,15,17に関して、負の温度
係数をもつ金属薄膜抵抗を用いて実現するだけであり、
上述の実施の形態1,2,3と同じであるため、詳細な
説明は省略する。
The following operations and effects are realized only by using the metal thin film resistors having a negative temperature coefficient for the resistors 13, 15 and 17 having the negative temperature coefficient,
Since it is the same as the first, second, and third embodiments described above, detailed description thereof will be omitted.

【0026】[0026]

【発明の効果】第1の発明によれば、FETの温度特性
を補うようにゲートバイアスを印加するための自己バイ
アス回路の電圧降下を、負の温度係数を持つ抵抗により
制御できるので、増幅器の温度特性は抑制されるという
効果が得られる。
According to the first aspect of the present invention, the voltage drop of the self-bias circuit for applying the gate bias so as to compensate the temperature characteristic of the FET can be controlled by the resistor having the negative temperature coefficient. The effect that the temperature characteristic is suppressed is obtained.

【0027】第2の発明によれば、FETの温度特性を
補うようにドレインバイアス印加の電圧降下を負の温度
係数を持つ抵抗により制御できるので、増幅器の温度特
性は抑制されるという効果が得られる。
According to the second invention, since the voltage drop of the drain bias application can be controlled by the resistor having the negative temperature coefficient so as to compensate the temperature characteristic of the FET, the temperature characteristic of the amplifier can be suppressed. To be

【0028】第3の発明によれば、FETの温度特性を
補うようにゲート・ドレイン電極間の負帰還回路を構成
する負の温度係数を持つ抵抗により制御できるので、増
幅器の温度特性は抑制されるという効果が得られる。
According to the third aspect of the invention, the temperature characteristic of the amplifier can be suppressed because it can be controlled by the resistor having the negative temperature coefficient which constitutes the negative feedback circuit between the gate and drain electrodes so as to supplement the temperature characteristic of the FET. The effect is obtained.

【0029】第4の発明によれば、負の温度係数を持つ
抵抗が、金属薄膜抵抗であるため、簡便に安価に製造す
ることができる。
According to the fourth aspect of the invention, the resistor having a negative temperature coefficient is a metal thin film resistor, so that the resistor can be easily manufactured at low cost.

【0030】また、第5の発明によれば、チョークコイ
ルを無線周波数チョークコイルとすることで、特定の周
波数領域以上の周波数に対して高いインピーダンスを与
えることができ、制御が容易になる。
According to the fifth aspect of the invention, the choke coil is a radio frequency choke coil, so that a high impedance can be given to frequencies above a specific frequency range, and control becomes easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の増幅器の実施の形態1を示す回路
図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of an amplifier according to the present invention.

【図2】 この発明の増幅器の実施の形態1の温度特性
を示す図であって、図2(a)には負の温度係数をもつ抵
抗の温度特性が示され、図2(b)にはこの発明の増幅器
の実施の形態1の利得の温度特性が示されている図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing a temperature characteristic of the first embodiment of the amplifier of the present invention, in which the temperature characteristic of a resistor having a negative temperature coefficient is shown in FIG. 2 (a), and FIG. FIG. 4 is a diagram showing a temperature characteristic of gain in the first embodiment of the amplifier of the present invention.

【図3】 この発明の増幅器の実施の形態2を示す回路
図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a second embodiment of the amplifier according to the present invention.

【図4】 この発明の増幅器の実施の形態3を示す回路
図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing Embodiment 3 of the amplifier according to the present invention.

【図5】 従来の増幅器を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing a conventional amplifier.

【図6】 従来の増幅器における温度特性を示す図であ
って、図6(a)には正の温度係数をもつ抵抗の温度特性
が示され、図6(b)には従来の増幅器の利得の温度特性
が示されている図である。
6A and 6B are graphs showing temperature characteristics of a conventional amplifier, wherein FIG. 6A shows the temperature characteristics of a resistor having a positive temperature coefficient, and FIG. 6B shows the gain of the conventional amplifier. It is a figure showing the temperature characteristic of.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力端子、2 入力整合回路、3 ゲートバイアス
印加用抵抗、4 電界効果トランジスタ(FET)、5
ソースインダクタ、6,9,14 バイパスコンデン
サ、7 自己バイアス印加用抵抗、8 RFチョークコ
イル、10 ドレインバイアス端子、11 出力整合回
路、12 出力端子、13 負の温度係数を持つ自己バ
イアス印加用抵抗、15,17 負の温度係数を持つ抵
抗、16キャパシタ、18 ソースバイアス端子。
1 input terminal, 2 input matching circuit, 3 gate bias applying resistor, 4 field effect transistor (FET), 5
Source inductor, 6, 9, 14 Bypass capacitor, 7 Self bias applying resistor, 8 RF choke coil, 10 Drain bias terminal, 11 Output matching circuit, 12 Output terminal, 13 Self bias applying resistor with negative temperature coefficient, 15, 17 Negative temperature coefficient resistor, 16 capacitor, 18 Source bias terminal.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J090 AA01 CA02 CA87 CN04 FA00 HA09 HA25 HA29 HA33 HN23 KA29 TA01 TA02 5J500 AA01 AC02 AC87 AF00 AH09 AH25 AH29 AH33 AK29 AT01 AT02 NC04 NH23    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 5J090 AA01 CA02 CA87 CN04 FA00                       HA09 HA25 HA29 HA33 HN23                       KA29 TA01 TA02                 5J500 AA01 AC02 AC87 AF00 AH09                       AH25 AH29 AH33 AK29 AT01                       AT02 NC04 NH23

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入出力整合回路と電界効果トランジスタ
とを有する増幅器において、前記電界効果トランジスタ
のソース電極と接地との間に負の温度係数を持つ抵抗と
キャパシタとを並列に装荷し、前記電界効果トランジス
タのドレイン電極にバイアス電圧を印加するためのチョ
ークコイルとバイパスコンデンサとで構成された回路を
備え、前記電界効果トランジスタのゲート電極と接地と
の間を同電位に保つようにしたことを特徴とする増幅
器。
1. An amplifier having an input / output matching circuit and a field effect transistor, wherein a resistor having a negative temperature coefficient and a capacitor are loaded in parallel between the source electrode of the field effect transistor and ground, and A circuit including a choke coil for applying a bias voltage to the drain electrode of the effect transistor and a bypass capacitor is provided, and the gate electrode of the field effect transistor and the ground are kept at the same potential. And an amplifier.
【請求項2】 入出力整合回路と電界効果トランジスタ
とを有する増幅器であって、前記電界効果トランジスタ
のドレイン電極にバイアス電圧を印加するためのチョー
クコイルとバイパスコンデンサとで構成されたバイアス
電圧を印加する回路を有する増幅器において、前記チョ
ークコイルと電界効果トランジスタのドレイン電極との
間に負の温度係数を持つ抵抗を直列接続したことを特徴
とする増幅器。
2. An amplifier having an input / output matching circuit and a field effect transistor, wherein a bias voltage composed of a choke coil for applying a bias voltage to the drain electrode of the field effect transistor and a bypass capacitor is applied. In the amplifier having the circuit described above, a resistor having a negative temperature coefficient is connected in series between the choke coil and the drain electrode of the field effect transistor.
【請求項3】 入出力整合回路と電界効果トランジスタ
とを有する増幅器において、負の温度係数を持つ抵抗と
キャパシタを直列接続した回路を、前記電界効果トラン
ジスタのゲート電極とドレイン電極との間に並列に装荷
したことを特徴とする増幅器。
3. An amplifier having an input / output matching circuit and a field effect transistor, wherein a circuit in which a resistor having a negative temperature coefficient and a capacitor are connected in series is connected in parallel between a gate electrode and a drain electrode of the field effect transistor. An amplifier characterized by being loaded into the.
【請求項4】 前記負の温度係数を持つ抵抗は、金属薄
膜抵抗であることを特徴とする請求項1から請求項3の
いずれかに記載の増幅器。
4. The amplifier according to claim 1, wherein the resistor having the negative temperature coefficient is a metal thin film resistor.
【請求項5】 前記チョークコイルは、無線周波数チョ
ークコイルであることを特徴とする請求項1または請求
項2に記載の増幅器。
5. The amplifier according to claim 1, wherein the choke coil is a radio frequency choke coil.
JP2001398597A 2001-12-27 2001-12-27 Amplifier Pending JP2003198267A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001398597A JP2003198267A (en) 2001-12-27 2001-12-27 Amplifier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001398597A JP2003198267A (en) 2001-12-27 2001-12-27 Amplifier

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003198267A true JP2003198267A (en) 2003-07-11

Family

ID=27603955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001398597A Pending JP2003198267A (en) 2001-12-27 2001-12-27 Amplifier

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003198267A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107124145A (en) * 2017-03-29 2017-09-01 中国电子科技集团公司第五十五研究所 Mesh power pipe in a kind of automatic biasing

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107124145A (en) * 2017-03-29 2017-09-01 中国电子科技集团公司第五十五研究所 Mesh power pipe in a kind of automatic biasing

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4146256B2 (en) Variable gain amplifier
US7279970B2 (en) Feedback circuit
JP2000261265A (en) Feedback type variable gain amplification circuit
JP4758624B2 (en) Variable gain amplifier
JP3866006B2 (en) amplifier
JP2003198267A (en) Amplifier
JP2002237732A (en) Transconductance circuit and method for generating the same
JP2000357927A (en) Linearizer
JP2008228149A (en) Low-noise amplifier
US6927633B2 (en) High frequency circuit with thin film resistor
JP3231449B2 (en) Microwave circuit
JPH0529842A (en) Electric field effect transistor amplifier
JP2900677B2 (en) Power amplifier
JPH06276038A (en) High frequency low noise amplifier
US20040201424A1 (en) Idss RF amplifier
JPH11346131A (en) High frequency gain variable amplifier circuit
JP2520809B2 (en) FET bias circuit
JPS60140907A (en) Semiconductor integrated circuit
JP3176793B2 (en) Amplifier circuit
JPH08139542A (en) Semiconductor power amplifier
JP3617704B2 (en) Logarithmic amplifier
JP2001094361A (en) High frequency amplifier circuit
JP2001156567A (en) High frequency amplifier circuit
JPH06303059A (en) Field effect transistor amplifier
JPH0437206A (en) Power amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051220

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060425