JP2003185525A - 偏波依存性損失測定装置 - Google Patents
偏波依存性損失測定装置Info
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- JP2003185525A JP2003185525A JP2001388375A JP2001388375A JP2003185525A JP 2003185525 A JP2003185525 A JP 2003185525A JP 2001388375 A JP2001388375 A JP 2001388375A JP 2001388375 A JP2001388375 A JP 2001388375A JP 2003185525 A JP2003185525 A JP 2003185525A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/337—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring polarization dependent loss [PDL]
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 偏波依存性損失（ＰＤＬ）測定ならびにＰＤ
Ｌ測定結果と波長依存性測定結果との関連付けを自動で
行うことができる偏波依存性損失測定装置を提供する。 【解決手段】 被測定物８をセットした後、操作部３の
測定開始ボタンを押すと、波長依存性測定が実行され
る。つぎに、被測定物８からの透過光の損失もしくは利
得が最大になるときの波長を検出するピーク波長検出処
理が実行される。つぎに、ピーク波長検出処理により検
出した測定波長の光を被測定物８に入射させるととも
に、当該光の偏波状態をランダムに変化させながら、被
測定物８からの透過光を測定することにより、被測定物
８の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定処理
が実行される。以上の測定終了後、偏波依存性損失測定
装置１内の制御回路は、波長依存性解析結果とＰＤＬ測
定結果とを関連付ける処理を実行し、その結果を表示部
２に表示する。
Ｌ測定結果と波長依存性測定結果との関連付けを自動で
行うことができる偏波依存性損失測定装置を提供する。 【解決手段】 被測定物８をセットした後、操作部３の
測定開始ボタンを押すと、波長依存性測定が実行され
る。つぎに、被測定物８からの透過光の損失もしくは利
得が最大になるときの波長を検出するピーク波長検出処
理が実行される。つぎに、ピーク波長検出処理により検
出した測定波長の光を被測定物８に入射させるととも
に、当該光の偏波状態をランダムに変化させながら、被
測定物８からの透過光を測定することにより、被測定物
８の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定処理
が実行される。以上の測定終了後、偏波依存性損失測定
装置１内の制御回路は、波長依存性解析結果とＰＤＬ測
定結果とを関連付ける処理を実行し、その結果を表示部
２に表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、偏波依存性損失測
定装置に関し、特に、光学素子や光伝送路など被測定物
の偏波に依存する損失を測定するための偏波依存性損失
測定装置に関するものである。
定装置に関し、特に、光学素子や光伝送路など被測定物
の偏波に依存する損失を測定するための偏波依存性損失
測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】偏波依存性損失（以下、ＰＤＬと記
す。）の測定方法として、偏波スキャン法が知られてい
る。偏波スキャン法は、１波長毎に、被測定物に入射す
る光の偏波状態を偏波コントローラで変化させながら、
被測定物からの透過光をパワーメータで測定し、ある一
定時間内における測定値の最大損失値と最小損失値との
差（ｄＢスケール）をＰＤＬとして測定する方法であ
る。
す。）の測定方法として、偏波スキャン法が知られてい
る。偏波スキャン法は、１波長毎に、被測定物に入射す
る光の偏波状態を偏波コントローラで変化させながら、
被測定物からの透過光をパワーメータで測定し、ある一
定時間内における測定値の最大損失値と最小損失値との
差（ｄＢスケール）をＰＤＬとして測定する方法であ
る。
【０００３】被測定物のＰＤＬを正確に測定するために
は、全ての偏波状態について測定する必要がある。一
方、偏波コントローラで全偏波状態と等価の状態を作り
出すためには、５００程度の偏波状態をランダムに発生
させる必要がある。このため、１波長当りの測定時間が
波長依存性測定のみ行った場合の５００倍になり、全波
長域にわたってＰＤＬ測定を行うとなると測定時間があ
まりにも長くなってしまう。
は、全ての偏波状態について測定する必要がある。一
方、偏波コントローラで全偏波状態と等価の状態を作り
出すためには、５００程度の偏波状態をランダムに発生
させる必要がある。このため、１波長当りの測定時間が
波長依存性測定のみ行った場合の５００倍になり、全波
長域にわたってＰＤＬ測定を行うとなると測定時間があ
まりにも長くなってしまう。
【０００４】このため、一般に、偏波スキャン法による
ＰＤＬ測定では、被測定物の波長依存性を調べることに
より、ＰＤＬ測定を行う波長（測定波長）をいくつかに
絞り込んで測定を行うようにしている。
ＰＤＬ測定では、被測定物の波長依存性を調べることに
より、ＰＤＬ測定を行う波長（測定波長）をいくつかに
絞り込んで測定を行うようにしている。
【０００５】図６は偏波スキャン法による従来のＰＤＬ
測定のフローを示す図である。ＰＤＬ測定に際し、まず
被測定物の波長依存性測定を実行する（Ｓ３１）。波長
依存性測定は、被測定物に入射する光の波長を変化させ
ながら、被測定物からの透過光をパワーメータで測定す
ることによって行なわれる。横軸に波長、縦軸にレベル
（ｄＢ）をとって測定値をプロットすると、図７に示す
ような波長依存性が観測される。
測定のフローを示す図である。ＰＤＬ測定に際し、まず
被測定物の波長依存性測定を実行する（Ｓ３１）。波長
依存性測定は、被測定物に入射する光の波長を変化させ
ながら、被測定物からの透過光をパワーメータで測定す
ることによって行なわれる。横軸に波長、縦軸にレベル
（ｄＢ）をとって測定値をプロットすると、図７に示す
ような波長依存性が観測される。
【０００６】つぎに、波長依存性測定結果を解析し（Ｓ
３２）、ＰＤＬ測定を行う波長、すなわち透過光の損失
（あるいは利得）が最大となる波長を読み取る（Ｓ３
３）。
３２）、ＰＤＬ測定を行う波長、すなわち透過光の損失
（あるいは利得）が最大となる波長を読み取る（Ｓ３
３）。
【０００７】そして、測定波長を測定機器に設定し（Ｓ
３４）、ＰＤＬ測定を実行する（Ｓ３５）。ＰＤＬ測定
は、測定波長毎に、偏波コントローラが偏波状態をラン
ダムに変化させることにより行われる。
３４）、ＰＤＬ測定を実行する（Ｓ３５）。ＰＤＬ測定
は、測定波長毎に、偏波コントローラが偏波状態をラン
ダムに変化させることにより行われる。
【０００８】以上の測定終了後、波長依存性解析結果と
ＰＤＬ測定結果とを関連付ける（Ｓ３６）。すなわちＰ
ＤＬ測定結果を測定波長毎の測定結果として整理する処
理を行う。
ＰＤＬ測定結果とを関連付ける（Ｓ３６）。すなわちＰ
ＤＬ測定結果を測定波長毎の測定結果として整理する処
理を行う。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図２に示す従
来の偏波スキャン法による従来のＰＤＬ測定では、波長
依存性測定結果（図７）の解析（Ｓ３２）、ＰＤＬ測定
を行う波長の読み取り（Ｓ３３）、測定機器への設定
（Ｓ３４）、および波長依存性解析結果とＰＤＬ測定結
果との関連付けを作業者が行っていたため、ＰＤＬ測定
に時間と手間がかかり、またＰＤＬ測定結果を測定波長
毎の測定結果として把握できるようにするために手間が
かかるといった問題があった。
来の偏波スキャン法による従来のＰＤＬ測定では、波長
依存性測定結果（図７）の解析（Ｓ３２）、ＰＤＬ測定
を行う波長の読み取り（Ｓ３３）、測定機器への設定
（Ｓ３４）、および波長依存性解析結果とＰＤＬ測定結
果との関連付けを作業者が行っていたため、ＰＤＬ測定
に時間と手間がかかり、またＰＤＬ測定結果を測定波長
毎の測定結果として把握できるようにするために手間が
かかるといった問題があった。
【００１０】すなわち、波長依存性解析については測定
機器の持っている解析機能を使用したとしても、読み取
った波長の値を一旦何らかの方法で、たとえばメモを取
るなどして作業者が保持しなければならなかった。
機器の持っている解析機能を使用したとしても、読み取
った波長の値を一旦何らかの方法で、たとえばメモを取
るなどして作業者が保持しなければならなかった。
【００１１】また、保持した値を機器に一つ一つ入力し
て測定を行う必要があるため、測定に手間がかかってい
た。入力するべき値が１つや２つならばともかく、数十
種類もの値を一つ一つ入力して測定を行うことは、非常
に手間のかかる作業である。
て測定を行う必要があるため、測定に手間がかかってい
た。入力するべき値が１つや２つならばともかく、数十
種類もの値を一つ一つ入力して測定を行うことは、非常
に手間のかかる作業である。
【００１２】また、最終的に得られるＰＤＬ測定結果
は、波長依存性測定結果と関連付けられているわけでな
く、別々に取得することになるため、すべての測定終了
後に作業者が関連付けをしなければならない。
は、波長依存性測定結果と関連付けられているわけでな
く、別々に取得することになるため、すべての測定終了
後に作業者が関連付けをしなければならない。
【００１３】本発明は、このような従来の技術の問題点
に鑑みてなされたものであり、その目的は、ＰＤＬ測定
ならびにＰＤＬ測定結果と波長依存性測定結果との関連
付けを自動で行うことができる偏波依存性損失測定装置
を提供することにある。
に鑑みてなされたものであり、その目的は、ＰＤＬ測定
ならびにＰＤＬ測定結果と波長依存性測定結果との関連
付けを自動で行うことができる偏波依存性損失測定装置
を提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る偏波依存性損失測定装置は、請求項１
に記載したように、被測定物に入射する光の波長を変化
させながら、当該被測定物からの透過光を測定する波長
依存性測定手段と、前記波長依存性測定手段による測定
結果に基づいて、前記透過光の損失もしくは利得のレベ
ルが最大になるときの波長を検出するピーク波長検出手
段と、前記ピーク波長検出手段により検出した波長の光
を前記被測定物に入射させるとともに、当該光の偏波状
態をランダムに変化させながら、前記被測定物からの透
過光を測定することにより、前記被測定物の偏波依存性
損失を測定する偏波依存性損失測定手段と、前記偏波依
存性損失測定手段による測定結果と前記ピーク波長検出
手段による検出結果との関連付け処理を行う測定結果処
理手段と、前記測定結果処理手段による処理結果を出力
する出力手段と、を備えたことを特徴とする。これによ
って、ＰＤＬ測定ならびにＰＤＬ測定結果と波長依存性
測定結果との関連付けを自動で行うことができるので、
ＰＤＬ測定を短時間で容易に行うことができ、ＰＤＬ測
定結果をそれぞれの測定波長毎の測定結果として容易に
把握できる。
に、本発明に係る偏波依存性損失測定装置は、請求項１
に記載したように、被測定物に入射する光の波長を変化
させながら、当該被測定物からの透過光を測定する波長
依存性測定手段と、前記波長依存性測定手段による測定
結果に基づいて、前記透過光の損失もしくは利得のレベ
ルが最大になるときの波長を検出するピーク波長検出手
段と、前記ピーク波長検出手段により検出した波長の光
を前記被測定物に入射させるとともに、当該光の偏波状
態をランダムに変化させながら、前記被測定物からの透
過光を測定することにより、前記被測定物の偏波依存性
損失を測定する偏波依存性損失測定手段と、前記偏波依
存性損失測定手段による測定結果と前記ピーク波長検出
手段による検出結果との関連付け処理を行う測定結果処
理手段と、前記測定結果処理手段による処理結果を出力
する出力手段と、を備えたことを特徴とする。これによ
って、ＰＤＬ測定ならびにＰＤＬ測定結果と波長依存性
測定結果との関連付けを自動で行うことができるので、
ＰＤＬ測定を短時間で容易に行うことができ、ＰＤＬ測
定結果をそれぞれの測定波長毎の測定結果として容易に
把握できる。
【００１５】さらに、本発明に係る偏波依存性損失測定
装置は、請求項２に記載したように、前記ピーク波長検
出手段は、前記波長依存性測定手段による測定結果に基
づいて、全波長域から前記レベルの最大値を検出するス
テップと、当該最大値と予め設定した閾値とを用いて測
定レベル値の足切りを行うステップと、当該最大値を示
す波長よりも長波長側と短波長側とにおける前記レベル
の変曲点を検出するステップと、当該最大値を示す波長
よりも長波長側と短波長側の両方に前記レベルの変曲点
が存在した場合に、当該最大値と対応する波長を、前記
レベルが最大になるときの波長として検出するステップ
と、を実行することを特徴とする。これによって、波長
依存性測定手段による測定結果に基づいて、透過光の損
失もしくは利得のレベルが最大になるときの波長を検出
するピーク波長検出手段において、ピーク波長検出をよ
り確実にできる。
装置は、請求項２に記載したように、前記ピーク波長検
出手段は、前記波長依存性測定手段による測定結果に基
づいて、全波長域から前記レベルの最大値を検出するス
テップと、当該最大値と予め設定した閾値とを用いて測
定レベル値の足切りを行うステップと、当該最大値を示
す波長よりも長波長側と短波長側とにおける前記レベル
の変曲点を検出するステップと、当該最大値を示す波長
よりも長波長側と短波長側の両方に前記レベルの変曲点
が存在した場合に、当該最大値と対応する波長を、前記
レベルが最大になるときの波長として検出するステップ
と、を実行することを特徴とする。これによって、波長
依存性測定手段による測定結果に基づいて、透過光の損
失もしくは利得のレベルが最大になるときの波長を検出
するピーク波長検出手段において、ピーク波長検出をよ
り確実にできる。
【００１６】また、本発明に係る偏波依存性損失測定装
置は、請求項３に記載したように、被測定物に入射する
光の波長を変化させながら、当該被測定物からの透過光
を測定する波長依存性測定手段と、前記波長依存性測定
手段による測定結果に基づいて、前記透過光の損失もし
くは利得のレベルが最小になるときの波長を検出するノ
ッチ波長検出手段と、前記ノッチ波長検出手段により検
出した波長の光を前記被測定物に入射させるとともに、
当該光の偏波状態をランダムに変化させながら、前記被
測定物からの透過光を測定することにより、前記被測定
物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定手段
と、前記偏波依存性損失測定手段による測定結果と前記
ノッチ波長検出手段による検出結果との関連付け処理を
行う測定結果処理手段と、前記測定結果処理手段による
処理結果を出力する出力手段と、を備えたことを特徴と
する。これによって、ＰＤＬ測定ならびにＰＤＬ測定結
果と波長依存性測定結果との関連付けを自動で行うこと
ができるので、ＰＤＬ測定を短時間で容易に行うことが
でき、ＰＤＬ測定結果をそれぞれの測定波長毎の測定結
果として容易に把握できる。
置は、請求項３に記載したように、被測定物に入射する
光の波長を変化させながら、当該被測定物からの透過光
を測定する波長依存性測定手段と、前記波長依存性測定
手段による測定結果に基づいて、前記透過光の損失もし
くは利得のレベルが最小になるときの波長を検出するノ
ッチ波長検出手段と、前記ノッチ波長検出手段により検
出した波長の光を前記被測定物に入射させるとともに、
当該光の偏波状態をランダムに変化させながら、前記被
測定物からの透過光を測定することにより、前記被測定
物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定手段
と、前記偏波依存性損失測定手段による測定結果と前記
ノッチ波長検出手段による検出結果との関連付け処理を
行う測定結果処理手段と、前記測定結果処理手段による
処理結果を出力する出力手段と、を備えたことを特徴と
する。これによって、ＰＤＬ測定ならびにＰＤＬ測定結
果と波長依存性測定結果との関連付けを自動で行うこと
ができるので、ＰＤＬ測定を短時間で容易に行うことが
でき、ＰＤＬ測定結果をそれぞれの測定波長毎の測定結
果として容易に把握できる。
【００１７】また、本発明に係る偏波依存性損失測定装
置は、請求項４に記載したように、前記ノッチ波長検出
手段は、前記波長依存性測定手段による測定結果に基づ
いて、全波長域から前記レベルの最小値を検出するステ
ップと、当該最小値と予め設定した閾値とを用いて測定
レベル値の足切りを行うステップと、当該最小値を示す
波長よりも長波長側と短波長側とにおける前記レベルの
変曲点を検出するステップと、当該最小値を示す波長よ
りも長波長側と短波長側の両方に前記レベルの変曲点が
存在した場合に、当該最小値と対応する波長を、前記レ
ベルが最小になるときの波長として検出するステップ
と、を実行することを特徴とする。これによって、波長
依存性測定手段による測定結果に基づいて、透過光の損
失もしくは利得のレベルが最小になるときの波長を検出
するノッチ波長検出手段において、ノッチ波長検出をよ
り確実にできる。
置は、請求項４に記載したように、前記ノッチ波長検出
手段は、前記波長依存性測定手段による測定結果に基づ
いて、全波長域から前記レベルの最小値を検出するステ
ップと、当該最小値と予め設定した閾値とを用いて測定
レベル値の足切りを行うステップと、当該最小値を示す
波長よりも長波長側と短波長側とにおける前記レベルの
変曲点を検出するステップと、当該最小値を示す波長よ
りも長波長側と短波長側の両方に前記レベルの変曲点が
存在した場合に、当該最小値と対応する波長を、前記レ
ベルが最小になるときの波長として検出するステップ
と、を実行することを特徴とする。これによって、波長
依存性測定手段による測定結果に基づいて、透過光の損
失もしくは利得のレベルが最小になるときの波長を検出
するノッチ波長検出手段において、ノッチ波長検出をよ
り確実にできる。
【００１８】さらに、本発明に係る偏波依存性損失測定
装置は、請求項５に記載したように、前記出力手段は、
前記測定結果処理手段による処理結果を表示または印字
出力することを特徴とする。これによって、表示または
印字出力された処理結果を作業者が確認することができ
る。
装置は、請求項５に記載したように、前記出力手段は、
前記測定結果処理手段による処理結果を表示または印字
出力することを特徴とする。これによって、表示または
印字出力された処理結果を作業者が確認することができ
る。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施の形態に
ついて、図面を参照して説明する。図１は本発明に係る
偏波依存性損失測定装置の構成例を示すブロック図であ
る。本実施の形態の偏波依存性損失測定装置１は、表示
部２、操作部３、波長可変光出力部４、偏波コントロー
ラ部５、第１受光部６、第２受光部７、および図示しな
い制御回路を備えている。
ついて、図面を参照して説明する。図１は本発明に係る
偏波依存性損失測定装置の構成例を示すブロック図であ
る。本実施の形態の偏波依存性損失測定装置１は、表示
部２、操作部３、波長可変光出力部４、偏波コントロー
ラ部５、第１受光部６、第２受光部７、および図示しな
い制御回路を備えている。
【００２０】偏波依存性損失測定装置１の各部は、制御
回路によって統括制御される。表示部２は、波長依存性
測定結果や偏波依存性損失測定結果などを表示するため
の出力手段である。
回路によって統括制御される。表示部２は、波長依存性
測定結果や偏波依存性損失測定結果などを表示するため
の出力手段である。
【００２１】操作部３には、測定開始ボタン、測定モー
ド切換ボタン、表示切換ボタンなど、図示しない各種の
操作子が設けられている。
ド切換ボタン、表示切換ボタンなど、図示しない各種の
操作子が設けられている。
【００２２】波長可変光出力部４は、光出力端子４ａを
有し、光出力端子４ａから出力する光の波長を連続的に
変化させたり、設定された一定波長の光を出力したりす
る。
有し、光出力端子４ａから出力する光の波長を連続的に
変化させたり、設定された一定波長の光を出力したりす
る。
【００２３】偏波コントローラ部５は、光入力端子５ａ
と光出力端子５ｂとを有し、光入力端子５ａから入力さ
れた光の偏波状態をランダムに変化させて、出力端子５
ｂから出力する。
と光出力端子５ｂとを有し、光入力端子５ａから入力さ
れた光の偏波状態をランダムに変化させて、出力端子５
ｂから出力する。
【００２４】第１受光部６および第２受光部７は、それ
ぞれ被測定物８の第１ポート８ａおよび第２ポート８ｂ
からの光を受光し、その光量を測定するための光パワー
メータを構成している。
ぞれ被測定物８の第１ポート８ａおよび第２ポート８ｂ
からの光を受光し、その光量を測定するための光パワー
メータを構成している。
【００２５】波長可変光出力部４の光出力端子４ａと偏
波コントローラ部５の光入力端子５ａは、光ファイバ９
で相互に接続されている。偏波コントローラ部５の光出
力端子５ｂと被測定物８の入力ポート（コモンポート）
８ｃは、光ファイバ１０で相互に接続されている。被測
定物８の第１ポート８ａと第１受光部６は、光ファイバ
１１で相互に接続されている。被測定物８の第２ポート
８ｂと第２受光部７は、光ファイバ１２で相互に接続さ
れている。これらの光ファイバ９〜１２のうち、少なく
とも光ファイバ１０には、偏波面保存型光ファイバが使
用される。
波コントローラ部５の光入力端子５ａは、光ファイバ９
で相互に接続されている。偏波コントローラ部５の光出
力端子５ｂと被測定物８の入力ポート（コモンポート）
８ｃは、光ファイバ１０で相互に接続されている。被測
定物８の第１ポート８ａと第１受光部６は、光ファイバ
１１で相互に接続されている。被測定物８の第２ポート
８ｂと第２受光部７は、光ファイバ１２で相互に接続さ
れている。これらの光ファイバ９〜１２のうち、少なく
とも光ファイバ１０には、偏波面保存型光ファイバが使
用される。
【００２６】上記構成により、波長可変光出力部４から
の出力光は、光ファイバ９を通して偏波コントローラ部
５に入力される。偏波コントローラ部５からの出力光
は、光ファイバ１０を通して被測定物８に入力される。
被測定物８からの透過光は、光ファイバ１１を通して第
１受光部６に、光ファイバ１２を通して第２受光部７
に、それぞれ入力される。
の出力光は、光ファイバ９を通して偏波コントローラ部
５に入力される。偏波コントローラ部５からの出力光
は、光ファイバ１０を通して被測定物８に入力される。
被測定物８からの透過光は、光ファイバ１１を通して第
１受光部６に、光ファイバ１２を通して第２受光部７
に、それぞれ入力される。
【００２７】図２は、この実施の形態の偏波依存性損失
測定装置１によるＰＤＬ測定のフローを示す図である。
測定装置１によるＰＤＬ測定のフローを示す図である。
【００２８】ＰＤＬ測定に際し、まず被測定物の波長依
存性測定を実行する（Ｓ１１）。このとき、偏波コント
ローラ部５の機能は停止させておく。そして、波長可変
光出力部４により出力光の波長を連続的に変化させなが
ら、被測定物８に光を入射させつつ、被測定物８からの
透過光を第１受光部６および第２受光部７で受光するこ
とによって波長依存性測定を行う。
存性測定を実行する（Ｓ１１）。このとき、偏波コント
ローラ部５の機能は停止させておく。そして、波長可変
光出力部４により出力光の波長を連続的に変化させなが
ら、被測定物８に光を入射させつつ、被測定物８からの
透過光を第１受光部６および第２受光部７で受光するこ
とによって波長依存性測定を行う。
【００２９】つぎに、波長依存性測定結果に基づいて、
被測定物８からの透過光の損失もしくは利得が最大にな
るときの波長（測定波長）を検出するピーク波長検出処
理を行う（Ｓ１２）。その際、制御回路は、波長依存性
測定結果すなわち、波長とレベル値との関係を示す測定
データを図示しないメモリに保存しておき、この測定デ
ータを解析することによりピーク波長（測定波長）を検
出する。
被測定物８からの透過光の損失もしくは利得が最大にな
るときの波長（測定波長）を検出するピーク波長検出処
理を行う（Ｓ１２）。その際、制御回路は、波長依存性
測定結果すなわち、波長とレベル値との関係を示す測定
データを図示しないメモリに保存しておき、この測定デ
ータを解析することによりピーク波長（測定波長）を検
出する。
【００３０】そして、ピーク波長検出処理（Ｓ１２）に
より検出した測定波長の光を被測定物８に入射させると
ともに、当該光の偏波状態をランダムに変化させなが
ら、被測定物８からの透過光を測定することにより、被
測定物８の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測
定処理を実行する（Ｓ１３）。その際、制御回路は、測
定波長の光を順次出力するように波長可変光出力部４を
制御するとともに、測定波長毎に偏波状態をランダムに
変化させるように偏波コントローラ部５を制御する。
より検出した測定波長の光を被測定物８に入射させると
ともに、当該光の偏波状態をランダムに変化させなが
ら、被測定物８からの透過光を測定することにより、被
測定物８の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測
定処理を実行する（Ｓ１３）。その際、制御回路は、測
定波長の光を順次出力するように波長可変光出力部４を
制御するとともに、測定波長毎に偏波状態をランダムに
変化させるように偏波コントローラ部５を制御する。
【００３１】以上の測定終了後、制御回路は、波長依存
性解析結果とＰＤＬ測定結果とを関連付ける処理を実行
し、その結果を表示部２に表示する（Ｓ１４）。
性解析結果とＰＤＬ測定結果とを関連付ける処理を実行
し、その結果を表示部２に表示する（Ｓ１４）。
【００３２】これらの一連の処理（Ｓ１１〜Ｓ１４）
は、図１に示すように、偏波依存性損失測定装置１に光
ファイバ９〜１２を接続し、被測定物８をセットした
後、操作部３の測定開始ボタンを押すだけで、すべて自
動的に行われる。
は、図１に示すように、偏波依存性損失測定装置１に光
ファイバ９〜１２を接続し、被測定物８をセットした
後、操作部３の測定開始ボタンを押すだけで、すべて自
動的に行われる。
【００３３】つぎに、図３〜図５を用いてピーク波長検
出処理（Ｓ１２）の内容を説明する。図３はピーク波長
検出処理のフローを示す図である。
出処理（Ｓ１２）の内容を説明する。図３はピーク波長
検出処理のフローを示す図である。
【００３４】ピーク波長検出処理では、まず、波長とレ
ベル値との関係を示す測定データ（図４）の全波長域か
ら、レベルの最大値Ｙmaxを検出する（Ｓ２１）。
ベル値との関係を示す測定データ（図４）の全波長域か
ら、レベルの最大値Ｙmaxを検出する（Ｓ２１）。
【００３５】つぎに、最大値Ｙmaxと予め設定した閾値
Ｙthとを用いて、データの足切りを行う（Ｓ２２）。す
なわち、最大値Ｙmax以外の測定値Ｙ(n)との関係が、Ｙ
(n)＞（Ｙmax−Ｙth）なら、Ｙ(n)＝Ｙ(n)、すなわちそ
のＹ(n)の値をそのまま使用し、Ｙ(n)＝＜（Ｙmax−Ｙt
h）なら、Ｙ(n)＝Ｙmax−Ｙth、すなわちそのＹ(n)の値
を（Ｙmax−Ｙth）に置き換える。
Ｙthとを用いて、データの足切りを行う（Ｓ２２）。す
なわち、最大値Ｙmax以外の測定値Ｙ(n)との関係が、Ｙ
(n)＞（Ｙmax−Ｙth）なら、Ｙ(n)＝Ｙ(n)、すなわちそ
のＹ(n)の値をそのまま使用し、Ｙ(n)＝＜（Ｙmax−Ｙt
h）なら、Ｙ(n)＝Ｙmax−Ｙth、すなわちそのＹ(n)の値
を（Ｙmax−Ｙth）に置き換える。
【００３６】つぎに、最大値Ｙmaxから長波長側（Ｘ軸
の＋方向）にある変曲点ＹRを検出する（Ｓ２３）。変
曲点ＹRとは、前後に隣接するデータとの差の極性が−
から＋に変化する点のことである。もし、変曲点ＹRが
検出されない場合には最小値をＹRとする。
の＋方向）にある変曲点ＹRを検出する（Ｓ２３）。変
曲点ＹRとは、前後に隣接するデータとの差の極性が−
から＋に変化する点のことである。もし、変曲点ＹRが
検出されない場合には最小値をＹRとする。
【００３７】つぎに、最大値Ｙmaxと変曲点ＹRとの差、
すなわちＹmax−ＹR、が予め設定した山谷差の値よりも
大きいか否かを調べる（Ｓ２４）。その結果、当該差が
大きくなければ（Ｓ２４でＮｏ）Ｓ２３に戻る。大きけ
れば（Ｓ２４でＹｅｓ）、次のステップに進み、今度は
最大値Ｙmaxから短波長側（Ｘ軸の−方向）にある変曲
点ＹLを検出する（Ｓ２５）。変曲点ＹLとは、前後に隣
接するデータとの差の極性が−からに変化する点のこと
である。もし、変曲点ＹLが検出されない場合には最小
値をＹLとする。
すなわちＹmax−ＹR、が予め設定した山谷差の値よりも
大きいか否かを調べる（Ｓ２４）。その結果、当該差が
大きくなければ（Ｓ２４でＮｏ）Ｓ２３に戻る。大きけ
れば（Ｓ２４でＹｅｓ）、次のステップに進み、今度は
最大値Ｙmaxから短波長側（Ｘ軸の−方向）にある変曲
点ＹLを検出する（Ｓ２５）。変曲点ＹLとは、前後に隣
接するデータとの差の極性が−からに変化する点のこと
である。もし、変曲点ＹLが検出されない場合には最小
値をＹLとする。
【００３８】つぎに、最大値Ｙmaxと変曲点ＹLとの差、
すなわちＹmax−ＹL、が予め設定した山谷差の値よりも
大きいか否かを調べる（Ｓ２６）。その結果、当該差が
大きくなければ（Ｓ２６でＮｏ）Ｓ２５に戻る。大きけ
れば（Ｓ２６でＹｅｓ）、最後のステップに進む。
すなわちＹmax−ＹL、が予め設定した山谷差の値よりも
大きいか否かを調べる（Ｓ２６）。その結果、当該差が
大きくなければ（Ｓ２６でＮｏ）Ｓ２５に戻る。大きけ
れば（Ｓ２６でＹｅｓ）、最後のステップに進む。
【００３９】最後のステップでは、変曲点ＹRと変曲点
ＹLの両方が見つかった場合に、最大値Ｙmaxと対応する
波長をピーク波長（測定波長）として、上述した偏波依
存性損失測定処理（Ｓ１３）に渡す。
ＹLの両方が見つかった場合に、最大値Ｙmaxと対応する
波長をピーク波長（測定波長）として、上述した偏波依
存性損失測定処理（Ｓ１３）に渡す。
【００４０】以上のように、この実施の形態の偏波依存
性損失測定装置１によれば、波長依存性測定結果の解
析、ＰＤＬ測定を行う波長の検出および測定機器への設
定、波長依存性解析結果とＰＤＬ測定結果との関連付け
等、従来は作業者が行っていた処理を全て自動で行うこ
とができるため、ＰＤＬ測定を短時間で容易に行うこと
ができる。
性損失測定装置１によれば、波長依存性測定結果の解
析、ＰＤＬ測定を行う波長の検出および測定機器への設
定、波長依存性解析結果とＰＤＬ測定結果との関連付け
等、従来は作業者が行っていた処理を全て自動で行うこ
とができるため、ＰＤＬ測定を短時間で容易に行うこと
ができる。
【００４１】更に、波長依存性解析結果とＰＤＬ測定結
果とを関連付ける処理も自動で行うため、ＰＤＬ測定結
果をそれぞれの測定波長毎の測定結果として容易に把握
できるようになる。
果とを関連付ける処理も自動で行うため、ＰＤＬ測定結
果をそれぞれの測定波長毎の測定結果として容易に把握
できるようになる。
【００４２】なお、上記の実施の形態では、波長依存性
解析結果とＰＤＬ測定結果とを関連付けした結果を表示
部２に表示するようにしているが、プリンタを装備し、
印字出力するようにしてもよい。
解析結果とＰＤＬ測定結果とを関連付けした結果を表示
部２に表示するようにしているが、プリンタを装備し、
印字出力するようにしてもよい。
【００４３】また、上記の例では、偏波依存性損失測定
装置１が偏波コントローラ部５を一体的に備えている構
成例を示したが、偏波コントローラ部５を偏波依存性損
失測定装置本体と別体構成としてもよい。
装置１が偏波コントローラ部５を一体的に備えている構
成例を示したが、偏波コントローラ部５を偏波依存性損
失測定装置本体と別体構成としてもよい。
【００４４】さらに、上記の実施の形態において、波長
依存性測定結果に基づいて、被測定物８からの透過光の
損失もしくは利得が最小になるときの波長（測定波長）
であるノッチ波長（ピークの逆形状の波長）を検出し
て、偏波依存性損失測定を行ってもよい。この場合、前
述したピーク波長検出処理（Ｓ１２）における“最大”
と“最小”とを逆にすることにより、同様のフローでノ
ッチ波長検出処理を行うことができ、ノッチ波長の波長
依存性測定結果は、図８に示すようになる。
依存性測定結果に基づいて、被測定物８からの透過光の
損失もしくは利得が最小になるときの波長（測定波長）
であるノッチ波長（ピークの逆形状の波長）を検出し
て、偏波依存性損失測定を行ってもよい。この場合、前
述したピーク波長検出処理（Ｓ１２）における“最大”
と“最小”とを逆にすることにより、同様のフローでノ
ッチ波長検出処理を行うことができ、ノッチ波長の波長
依存性測定結果は、図８に示すようになる。
【００４５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＰＤＬ測定ならびにＰＤＬ測定結果と波長依存性測定結
果との関連付けを自動で行うことができるので、ＰＤＬ
測定を短時間で容易に行うことができ、ＰＤＬ測定結果
をそれぞれの測定波長毎の測定結果として容易に把握で
きる偏波依存性損失測定装置を提供できる。
ＰＤＬ測定ならびにＰＤＬ測定結果と波長依存性測定結
果との関連付けを自動で行うことができるので、ＰＤＬ
測定を短時間で容易に行うことができ、ＰＤＬ測定結果
をそれぞれの測定波長毎の測定結果として容易に把握で
きる偏波依存性損失測定装置を提供できる。
【図１】本発明に係る偏波依存性損失測定装置の実施の
形態の一例を示すブロック図である。
形態の一例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す偏波依存性損失測定装置によるＰＤ
Ｌ測定のフローを示す図である。
Ｌ測定のフローを示す図である。
【図３】図２中のピーク波長検出処理のフローを示す図
である。
である。
【図４】ピーク波長検出処理におけるレベル最大値検出
方法の説明図である。
方法の説明図である。
【図５】ピーク波長検出処理におけるレベル最大値検出
方法の説明図である。
方法の説明図である。
【図６】偏波スキャン法による従来のＰＤＬ測定のフロ
ーを示す図である。
ーを示す図である。
【図７】波長依存性測定結果の一例（ピーク波長の例）
を示す図である。
を示す図である。
【図８】波長依存性測定結果の一例（ノッチ波長の例）
を示す図である。
を示す図である。
１ 偏波依存性損失測定装置
２ 表示部（出力手段）
３ 操作部
４ 波長可変光出力部
５ 偏波コントローラ部
８ 被測定物
Claims (5)
- 【請求項１】 被測定物に入射する光の波長を変化させ
ながら、当該被測定物からの透過光を測定する波長依存
性測定手段と、 前記波長依存性測定手段による測定結果に基づいて、前
記透過光の損失もしくは利得のレベルが最大になるとき
の波長を検出するピーク波長検出手段と、 前記ピーク波長検出手段により検出した波長の光を前記
被測定物に入射させるとともに、当該光の偏波状態をラ
ンダムに変化させながら、前記被測定物からの透過光を
測定することにより、前記被測定物の偏波依存性損失を
測定する偏波依存性損失測定手段と、 前記偏波依存性損失測定手段による測定結果と前記ピー
ク波長検出手段による検出結果との関連付け処理を行う
測定結果処理手段と、 前記測定結果処理手段による処理結果を出力する出力手
段と、を備えたことを特徴とする偏波依存性損失測定装
置。 - 【請求項２】 前記ピーク波長検出手段は、前記波長依
存性測定手段による測定結果に基づいて、全波長域から
前記レベルの最大値を検出するステップと、 当該最大値と予め設定した閾値とを用いて測定レベル値
の足切りを行うステップと、 当該最大値を示す波長よりも長波長側と短波長側とにお
ける前記レベルの変曲点を検出するステップと、 当該最大値を示す波長よりも長波長側と短波長側の両方
に前記レベルの変曲点が存在した場合に、当該最大値と
対応する波長を、前記レベルが最大になるときの波長と
して検出するステップと、を実行することを特徴とする
請求項１記載の偏波依存性損失測定装置。 - 【請求項３】 被測定物に入射する光の波長を変化させ
ながら、当該被測定物からの透過光を測定する波長依存
性測定手段と、 前記波長依存性測定手段による測定結果に基づいて、前
記透過光の損失もしくは利得のレベルが最小になるとき
の波長を検出するノッチ波長検出手段と、 前記ノッチ波長検出手段により検出した波長の光を前記
被測定物に入射させるとともに、当該光の偏波状態をラ
ンダムに変化させながら、前記被測定物からの透過光を
測定することにより、前記被測定物の偏波依存性損失を
測定する偏波依存性損失測定手段と、 前記偏波依存性損失測定手段による測定結果と前記ノッ
チ波長検出手段による検出結果との関連付け処理を行う
測定結果処理手段と、 前記測定結果処理手段による処理結果を出力する出力手
段と、を備えたことを特徴とする偏波依存性損失測定装
置。 - 【請求項４】 前記ノッチ波長検出手段は、前記波長依
存性測定手段による測定結果に基づいて、全波長域から
前記レベルの最小値を検出するステップと、 当該最小値と予め設定した閾値とを用いて測定レベル値
の足切りを行うステップと、 当該最小値を示す波長よりも長波長側と短波長側とにお
ける前記レベルの変曲点を検出するステップと、 当該最小値を示す波長よりも長波長側と短波長側の両方
に前記レベルの変曲点が存在した場合に、当該最小値と
対応する波長を、前記レベルが最小になるときの波長と
して検出するステップと、を実行することを特徴とする
請求項３記載の偏波依存性損失測定装置。 - 【請求項５】 前記出力手段は、前記測定結果処理手段
による処理結果を表示または印字出力することを特徴と
する請求項１〜４のいずれかに記載の偏波依存性損失測
定装置
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001388375A JP2003185525A (ja) | 2001-12-20 | 2001-12-20 | 偏波依存性損失測定装置 |
| US10/322,840 US6798510B2 (en) | 2001-12-20 | 2002-12-18 | Polarization dependent loss measuring apparatus |
| DE10260218A DE10260218A1 (de) | 2001-12-20 | 2002-12-20 | Vorrichtung zur Messung des polarisationsabhängigen Verlusts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001388375A JP2003185525A (ja) | 2001-12-20 | 2001-12-20 | 偏波依存性損失測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003185525A true JP2003185525A (ja) | 2003-07-03 |
Family
ID=19188147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001388375A Pending JP2003185525A (ja) | 2001-12-20 | 2001-12-20 | 偏波依存性損失測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6798510B2 (ja) |
| JP (1) | JP2003185525A (ja) |
| DE (1) | DE10260218A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012177580A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Ｐｄｌ測定器およびｐｄｌ測定方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8059958B1 (en) | 2008-10-10 | 2011-11-15 | Sprint Communications Company L.P. | Measurement of polarization dependent loss in an optical transmission system |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5371597A (en) * | 1993-11-23 | 1994-12-06 | At&T Corp. | System and method for measuring polarization dependent loss |
| US6204924B1 (en) * | 1999-02-23 | 2001-03-20 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Method and apparatus for measuring polarization mode dispersion of optical devices |
| US6449033B2 (en) * | 1999-04-26 | 2002-09-10 | Corning Incorporated | Apparatus and method for measuring polarization dependent loss |
-
2001
- 2001-12-20 JP JP2001388375A patent/JP2003185525A/ja active Pending
-
2002
- 2002-12-18 US US10/322,840 patent/US6798510B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-20 DE DE10260218A patent/DE10260218A1/de not_active Ceased
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012177580A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Ｐｄｌ測定器およびｐｄｌ測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20030117625A1 (en) | 2003-06-26 |
| DE10260218A1 (de) | 2003-07-17 |
| US6798510B2 (en) | 2004-09-28 |
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