JP2003168790A - 貼り合わせウェーハの製造方法 - Google Patents

貼り合わせウェーハの製造方法

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JP2003168790A
JP2003168790A JP2001366058A JP2001366058A JP2003168790A JP 2003168790 A JP2003168790 A JP 2003168790A JP 2001366058 A JP2001366058 A JP 2001366058A JP 2001366058 A JP2001366058 A JP 2001366058A JP 2003168790 A JP2003168790 A JP 2003168790A
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cassette
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wafers
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Naoto Tate
直人 楯
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Shin Etsu Handotai Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 貼り合わせウェーハの製造方法の中でもイオ
ン注入剥離法を採用する方法において、ウェーハにキズ
が発生することを抑制しつつ生産効率を高める。 【解決手段】 本発明は、イオン注入剥離法を採用した
貼り合わせウェーハの製造方法であって、貼り合わせの
熱処理後に、残存ウェーハ38と貼り合わせウェーハ3
9との積層体34を個別のウェーハに分離する工程に特
徴を有する。まず、分離工程の前に、熱処理のボート2
7から積層体34を取り出して、分離用カセット10に
収容する。そして、分離用カセット10のウェーハ出し
入れ口10wに、スリット2の形成された分離部材1を
配置し、反対側に回収用カセット20を配置する。そし
て、これらを一体的に傾斜させ、積層体34のうち上側
に位置する残存ウェーハ38のみを回収用カセット20
に滑り移動させる。下側に位置する貼り合わせウェーハ
39は、スリット2の下端が邪魔になり回収用カセット
20へは移動できない仕組みになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、貼り合わせウェー
ハの製造方法、特にイオン注入剥離法を採用した貼り合
わせウェーハの製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】シリコン酸化膜などの絶縁体層上にシリ
コン単結晶層をSOI(Silicon on Insulator)層とし
て積層形成したSOIウェーハの代表的な製造方法とし
て、貼り合わせ法がよく知られている。中でも、シリコ
ン単結晶にイオンを注入して熱処理することにより、注
入されたイオンの存在する層において、シリコンの結晶
格子が部分的に切断される現象を利用してSOI層を形
成するイオン注入剥離法、いわゆるスマートカット法
(登録商標)が注目を浴びている。
【0003】イオン注入剥離法においては、図1に示す
ように、内部にイオン注入層41が形成されたボンドウ
ェーハ31と、SOI層40が形成される予定のベース
ウェーハ32とを、少なくともいずれか一方のウェーハ
の貼り合わせ側主表面表層部をなす酸化膜33等の絶縁
体層を介して密着させた状態で熱処理を行う。該熱処理
により、イオン注入層41にてボンドウェーハ31の貼
り合わせ側主表面表層部をSOI層40として剥離する
とともに、ベースウェーハ32に接合することにより貼
り合わせSOIウェーハ39(以下、単にSOIウェー
ハともいう)が得られる。
【0004】上記製造過程において、ボンドウェーハ3
1の残部である残存ウェーハ38とSOIウェーハ39
との分離を、たとえば以下のようにして行うことができ
る。図12に示すように、熱処理終了後、横型炉50か
ら搬出された横型炉用ボート30の保持部30aには、
残存ウェーハ38とSOIウェーハ39とが重ね合わせ
状態で保持されている。真空チャック36を用い、残存
ウェーハ38またはSOIウェーハ39の裏面側からチ
ャックして、これを回収する。このように、熱処理後の
ウェーハを回収しやすい、炉の処理能力が高いという理
由から、ウェーハを垂直に立てて処理する横型炉50お
よび横型炉用ボート30が好んで使用されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ウェー
ハを1枚づつ回収しなければならないため、ウェーハを
回収する工程において、実際には高いスループットが望
めないという問題がある。また、一方のウェーハをチャ
ックして回収する際に、他方のウェーハにぶつかってし
まい、キズ(欠陥)の発生を招く恐れもある。特に、製
品である貼り合わせウェーハ側にキズが生じるのは好ま
しくない。
【0006】本発明は、貼り合わせウェーハの製造方法
の中でもイオン注入剥離法を採用する方法において、ウ
ェーハにキズが発生することを抑制しつつ生産効率を高
めることを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段及び作用・効果】上記課題
を解決するために本発明の貼り合わせウェーハの製造方
法は、内部にイオン注入層が形成されたボンドウェーハ
と、ベースウェーハとを重ね合わせて熱処理することに
より、ボンドウェーハとベースウェーハとを接合すると
ともに、イオン注入層にてボンドウェーハに剥離層を形
成する熱処理工程と、該熱処理工程を経て得られる貼り
合わせウェーハと、剥離を生じたあとのボンドウェーハ
の残部である残存ウェーハとから構成される積層体を、
一方のウェーハが上、他方のウェーハが下となるように
分離用カセットに複数組収容する移載工程と、積層体を
構成する一方のウェーハに対し、他方のウェーハを面内
方向に滑り移動させて両者を分離する動作を、分離用カ
セットに収容された複数組の積層体について順次的また
は一斉に行う分離工程と、を含むことを特徴とする。
【0008】上記本発明は、前述のイオン注入剥離法を
用いた貼り合わせウェーハの製造方法である。貼り合わ
せのための熱処理終了後は、ボンドウェーハとベースウ
ェーハとが接合される。一方で、ボンドウェーハのイオ
ン注入層においては、注入されたイオンが熱処理によっ
てガス化して、そこに剥離層が生じる。その結果、剥離
層を挟んで、一方が貼り合わせウェーハで他方が残存ウ
ェーハとなる。剥離層は、貼り合わせウェーハと残存ウ
ェーハとの間に微小な隙間を形成する。この隙間がある
ために、ウェーハ同士をほとんど擦れ合わせることな
く、一方のウェーハを他方に対して滑り移動させること
ができる。
【0009】イオン注入層においては、熱処理後、ほと
んど全面において剥離が生じ微小な隙間が形成される
が、研磨ダレが存在するウェーハ外周部のごく僅かな部
分では剥離が発生せず、ウェーハ同士の接合に寄与する
テラス状接合部として残る。この接合力はごく弱いの
で、一方のウェーハを他方のウェーハに対して簡単に滑
り移動させることができる。
【0010】本発明では、熱処理後の貼り合わせウェー
ハと残存ウェーハとから構成される積層体を、一旦カセ
ットに収容する(移載工程)。そして、積層体を残存ウ
ェーハと貼り合わせウェーハとに分離する工程を、カセ
ットに収容された積層体について、まとめて行うように
する所が、本発明において最も注目すべき点である。
【0011】このようにすれば、図12に例示したやり
方のように、チャック動作は必要ない。移載工程が増え
ているように見えるが、チャックして回収する場合であ
っても、ウェーハはカセットに収容するのが普通である
から、結局は同じことである。つまり、カセットへの移
載工程と、ウェーハ同士を分離させる工程とを完全に分
けたことにより、各工程の作業効率の向上、すなわちス
ループットを向上させることが可能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
一実施形態について説明する。まず、図1は、貼り合わ
せウェーハの製造工程の概要を示す工程説明図である。
本発明の方法は、イオン注入剥離法に基づく方法であ
る。まず、CZ法やFZ法などの公知の方法によって製
造されたシリコン単結晶棒をスライスして、面取り、ラ
ッピング(機械的研磨)、ケミカルエッチング、ポリッ
シング(機械的化学的研磨)等の前処理を施し、2枚の
シリコン単結晶ウェーハを用意し、これを貼り合わせ予
定のボンドウェーハ31、ベースウェーハ32とする
(ウェーハ準備工程)。
【0013】次に、ボンドウェーハ31の主表面に熱酸
化法、CVD法等の公知のシリコン酸化膜形成方法によ
り酸化膜33を形成する(酸化膜形成工程)。この酸化
膜33は、シリコン窒化膜でも代用できるが、シリコン
酸化膜は絶縁性、製造容易性の点において優れるので最
適である。
【0014】次に、水素、希ガスおよびハロゲン等の軽
元素の中から選ばれる少なくとも1種類の元素をイオン
化し、ボンドウェーハ31の主表面より酸化膜33を介
して注入して、内部にイオン注入層41を形成する(イ
オン打ち込み工程)。一般には、水素の陽イオンを数十
keVに加速して注入を行うが、陰イオンも使用でき
る。イオンを注入しない他方のウェーハは、活性層たる
SOI層40を支持するベースウェーハ32である。
【0015】次に、ボンドウェーハ31の貼り合わせ側
の主表面部に形成された酸化膜33を介して、上記ボン
ドウェーハ31とベースウェーハ32とを重ね合わせて
密着させたのち、約400〜600℃の温度で熱処理を
行う(貼り合わせ熱処理工程)。この熱処理により、前
述したイオン注入層41にて剥離層41’(巨視的には
剥離面と見て取れる)を形成するとともに、ベースウェ
ーハ32に接合された形のSOI層40を形成する。熱
処理終了後には、貼り合わせSOIウェーハ39と、ボ
ンドウェーハ31の残部である残存ウェーハ38との積
層体34が熱処理用ボートに保持されている。熱処理用
ボートから次の分離工程の準備段階として、その積層体
34が分離用カセットに移載される(ウェーハ移載工
程)。
【0016】剥離層41’は、イオン注入層41に存在
していた軽元素が熱処理によりガス化して、シリコンの
結合が切断されて生じたものである。熱処理を行ってい
る最中は、ベースウェーハ32へのSOI層40の接合
過程と、ボンドウェーハ31からのSOI層40の剥離
過程とが同時に進行している。熱処理終了後、残存ウェ
ーハ38とSOIウェーハ39とは、ウェーハ外周部に
おいて剥離せずにわずかにテラス状に残存した部分のご
く弱い結合力により重なり合って積層体34を構成して
いる。
【0017】熱処理が終了して分離用カセットに収容さ
れた積層体34は、SOIウェーハ39と残存ウェーハ
38とに分離される(分離工程)。残存ウェーハ38
は、回収して再利用可能である。なお、ベースウェーハ
32とSOI層40との強固な接合を実現するために、
SOIウェーハ39を回収したのちイオン注入剥離法で
の熱処理よりも高い温度、たとえば1100〜1200
℃程度の温度で再度熱処理を行うことが望ましい。
【0018】さて、本発明の要旨をなす各工程について
さらに詳しく説明する。まず、図1に示した貼り合わせ
熱処理工程について説明する。図2は、本発明で推奨す
る縦型炉25を用いた熱処理工程を示している。縦型炉
25は、ガス導入管254が設けられたマニホールド2
53上に、円筒状のインナーチューブ252と上部が塞
がれたアウターチューブ251とがシール固定された構
造を有する。ウェーハを支持する縦型炉用ボート27
は、ステージ257上に載せられてインナーチューブ2
52の内側に収容される。キャップ256により内部の
気密が保たれるとともに、ボート27のロード/アンロ
ードが縦型炉25の下方(図中矢印方向)から行われる
仕組みである。抵抗加熱ヒータ26は、アウターチュー
ブ251に沿って配置される。ガス導入管254から炉
内に導入されたガスは、一旦上昇したあと、インナーチ
ューブ252と、アウターチューブ251とによって形
成される流通経路を通って、排気管255から外部に排
気される。このような縦型炉25は、前述した横型炉5
0に比べ、炉内の温度を均一にし易い、ガスの流れを制
御し易いなどの利点がある。このような理由から、口径
200mm以上のウェーハの熱処理には、縦型炉を用い
るのが一般的となっている。
【0019】縦型炉25内に配置されたボート27には
積層体34が保持されている(熱処理前はボンドウェー
ハ31とベースウェーハ32とを重ね合わせた組であ
る)。石英製のボート27は、ウェーハ保持溝271〜
274(図3参照)が形成された4本の支持ポール27
a〜27dと、上部フレーム24および下部フレーム2
3より構成される。ウェーハの出し入れは、支持ポール
27a〜27dが配置されていない幅広口29を以って
行う。
【0020】ボート27を縦型炉25から搬出する際
に、積層体34においては図1に示したように、予め形
成しておいたイオン注入層41にて割れ(剥離層4
1’)が生じており、わずかな外力を加えただけで残存
ウェーハ38と、SOIウェーハ39とが相対移動して
しまう恐れがある。ウェーハ同士が勝手に擦れ合うと、
SOI層40に欠陥の生じる原因となるので好ましくな
い。
【0021】従って、熱処理工程において、ウェーハの
重ね合わせ方向が炉の上下方向と略一致するようにウェ
ーハを収容する縦型炉25を用いる場合、その際、上側
に位置するウェーハの下側に位置するウェーハに対する
相対移動が阻止されるように、主面が水平から傾いた状
態でボンドウェーハ31およびベースウェーハ32を保
持するように調整された縦型炉用ボート27を用いるこ
とが推奨される。
【0022】図2に示したボート27と、それに保持さ
れたウェーハの拡大図を図3および図4に示す。まず、
図3は、図2に示すボート27を幅広口29側から見た
正面図であり、図4は、ボート27を左右対称に二等分
する断面図である。これらの図に示すように、ボート2
7を構成する支持ポール27a〜27dには、それぞれ
ウェーハ保持溝271〜274が形成されている。積層
体34(熱処理前はボンドウェーハ31およびベースウ
ェーハ32)は、これらのウェーハ保持溝271〜27
4にまたがる形態にてボート27に保持されている。
【0023】図4に示すように、積層体34は、ボート
27にウェーハを収容させるときのウェーハ挿入方向W
iに進むにつれて下る形にて、傾斜保持されている。す
なわち、積層体34は、幅広口29から遠い側の支持ポ
ール27c,27dに接触して、ウェーハ挿入方向W
i、および対称面VF(二等分断面でもある)に垂直な
方向として定義される幅方向WLへの移動が阻止される
形となっている。もちろん、幅広口29から近い側の支
持ポール27a,27bが同様の作用を有するようにし
てもよい。その場合は、支持ポール27a,27bの保
持溝271,272の位置や形状が調整される。このよ
うに、ウェーハ(積層体34)が傾斜保持されているた
め、ボート27に微小な衝撃が加わっても、ウェーハが
ボートから脱落する恐れは少ない。特に、熱処理後の積
層体34に関していえば、残存ウェーハ38とSOIウ
ェーハ39との相対移動が効果的に阻止される。
【0024】なお、図4に示すように各ウェーハ保持溝
271〜274は、たとえばウェーハの主面と水平基準
線HSLとの成す角度θが1°〜5°程度となるように
調整されるとよい。1°を下回ると、ウェーハの移動を
阻止する効果が望めなくなる恐れがある。5°を超えて
保持するようにした場合、ウェーハを出し入れするとき
に使用するアームや治具を積層体34,34の上下間に
挿入し辛くなる。
【0025】次に、積層体34を残存ウェーハ38とS
OIウェーハ39とに分離する工程を行う準備段階とし
て、上記したボート27から、分離用のウェーハカセッ
トに積層体34を移載する移載工程について説明する。
図5は、その移載工程を説明する模式図であり、ボート
27の側面方向から見た場合を表している。ボート27
から積層体34を取り出し、分離用カセット10に移載
する工程は、ウェーハ移載装置60によって行われる。
【0026】ウェーハ移載装置60は、マニピュレータ
本体部62と、その本体部62に操作される長板状のウ
ェーハ支持アーム61を複数有する。マニピュレータ本
体部62は、サーボモータ等のアクチュエータによって
水平方向および垂直方向に駆動可能とされている。これ
により、ウェーハ支持アーム61がボート27の幅広口
29側から積層体34,34の間に侵入し、該ボート2
7のウェーハ保持溝271〜274から積層体34をす
くい上げ、そして、ボート27から積層体34を離脱さ
せる仕組みである。つまり、残存ウェーハ38と貼り合
わせウェーハ39との重なり状態を維持したまま、2枚
同時にボート27から取り出す。なお、各ウェーハ支持
アーム61は、その先端に鉤状部610を有しており、
ここに積層体34の周縁部を引っ掛けて止めるようにな
っている。
【0027】次に、マニピュレータ本体部62が軸線O
周りに回転駆動することにより、ウェーハ移載装置60
を挟んで、ボート27の反対側に準備された分離用カセ
ット10のウェーハ出し入れ口10wに、積層体34を
支持したウェーハ支持アーム61が対向する形となる。
最後に、ボート27から積層体34を離脱させたときと
逆の動作が実行されることにより、積層体34が保持溝
12に沿って分離用カセット10内に収容される。この
ようにして、熱処理工程を経て得られる貼り合わせウェ
ーハ39と、剥離を生じたあとのボンドウェーハ31の
残部である残存ウェーハ38とから構成される積層体3
4を、一方のウェーハが上、他方のウェーハが下となる
ように分離用カセット10に複数組収容させる。
【0028】なお、各ウェーハ支持アーム61,61の
間隔は上記移載工程の間、ボート27のウェーハ保持溝
271〜274、あるいは分離用カセット10の保持溝
12に合わせて適宜変更される。また、ウェーハ支持ア
ーム61は特に複数である必要もない。これらマニピュ
レータ本体部62およびウェーハ支持アーム61の動作
は、公知のNC制御によってフォローされる。このよう
な移載工程は、縦型炉25およびウェーハ移載装置60
を備え、ウェーハをカセット単位でバッチ処理する、統
合された熱処理システムにより実現される。
【0029】上記移載工程の最中、分離用カセット10
は支持台100上の固定具101によって正確に位置決
め固定されている。この分離用カセット10は、ポリエ
チレン樹脂、ポリブチレンテレフタラート樹脂、ポリエ
ーテルエーテルケトン樹脂等の材質を有する通常のカセ
ットでよい。洗浄の工程を含む場合には、フッ素樹脂が
推奨される。
【0030】次に、分離用カセット10に移載された積
層体34を、個別のウェーハに分離する分離工程につい
て説明する。以下に、詳細を記する方法は、積層体34
を構成する一方のウェーハに対し、他方のウェーハを面
内方向に滑り移動させて両者を分離する動作を、分離用
カセット10に収容された複数組の積層体34,34に
ついて順次的または一斉に行う点に特徴を有するもので
ある。ボート27からウェーハを移載する工程と、ウェ
ーハ同士を分離する工程とを完全に分けることにより、
生産効率の向上を図っている。また、そうすることによ
って、自動化にも対応し易くなっている。
【0031】さて、残存ウェーハ38と貼り合わせウェ
ーハ39とにより構成される積層体34について、一方
のウェーハを他方に対して滑り移動させるために、たと
えば次のようにすることができる。すなわち、図6に示
すように、分離工程において、積層体34を構成するウ
ェーハのうち、一方の通過を許容して他方の通過を阻止
する分離部材1を、分離用カセット10のウェーハ出し
口10wを覆う形にて配置する。分離終了後には、残存
ウェーハ38および貼り合わせウェーハ39の一方が分
離用カセット10に残る。従って、得られたウェーハを
改めて分別する必要も無く、分離工程の後に続く工程へ
のウェーハの搬送も非常に簡単である。
【0032】また、図6に示すように、該分離部材1に
形成された凸状の分離部材側係合部3と、分離用カセッ
ト10に形成された凹状のカセット側係合部11とが嵌
り合うことにより、分離部材1を分離用カセット10に
着脱可能となっている。なお、分離用カセット10のウ
ェーハ出し口10wは、ウェーハの入れ口も兼ねるのが
普通である。
【0033】また、分離部材1を挟んで分離用カセット
10の反対側に、滑り移動してきたウェーハを回収する
ための回収用カセット20を配置するとよい。このよう
にすれば、滑り移動してきたウェーハが損傷することも
なくなる。さらに、滑り移動してきたウェーハを、改め
てカセットに収容する手間も省ける。回収用カセット2
0にも、分離用カセット10と同様のカセット側係合部
21が形成される。
【0034】このようにして準備が済んだ後、分離用カ
セット10、分離部材1および回収用カセット20を、
回収用カセット20が下方となるように一体的に傾斜さ
せて、積層体34のうち上側に位置するウェーハを自重
により滑り移動させる。図7にその動作模式図を示す。
具体的には、分離用カセット10、分離部材1および回
収用カセット20を、可動支持台45の上にこの順に並
べる。各カセット10,20および分離部材1は、可動
支持台45上に互いの位置がずれないように固定され
る。可動支持台45は、回転軸46を支点としてシーソ
ー運動するように構成されている。回転軸46は、サー
ボモータ等によって回転角度が制御される。上記シーソ
ー運動によって、積層体34におけるウェーハの主面が
水平基準線HSLとほぼ平行な状態と、所定角度傾いた
状態の2状態を形成することが可能となっている。回収
用カセット20が下にくれば、積層体34において上側
に位置するウェーハが下側ウェーハの上を滑って、自然
に落ちてくる仕組みである。
【0035】なお、滑り移動を実現するための手段とし
て本実施形態の他にも、たとえば分離用カセット10に
急激な加速度を与えたり、積層体34を構成するウェー
ハのうち一方のウェーハのみに押圧力を与える等の方法
を例示できる。押し棒などで、上側のウェーハを押すよ
うな場合には、分離を一斉に行わず順次的に行う場合も
予測される。
【0036】分離部材1について詳しく説明する。分離
部材1は、積層体34のうち下側に位置するウェーハの
通過を阻止するストッパ部を有し、該ストッパ部の上方
に積層体34のうち上側に位置するウェーハが通過可能
な分離通路2を備えている。すなわち、積層体34のう
ち下側のウェーハは、面内方向に移動しようとしても、
上記ストッパ部からの反作用力が働いて滑り移動が停止
される。
【0037】上記のような分離通路2には、分離部材1
に形成されたスリットを採用できる。分離通路2とし
て、スリットを採用した分離部材1の正面図を図8に示
す。この図に示すように、本実施形態において分離通路
2は、板状の形態を有する分離部材1を板厚方向に貫通
する裂け目(スリット)とされる。また、分離通路2が
開口する板面において、該分離通路2の下端を形成する
壁部を、前述したストッパ部1aと見ることができる。
また、ストッパ部1aとして、分離部材1を板厚方向に
貫通する通口の内側に突起を設ける形態も、別形態とし
て採用可能である。なお、図8より、分離部材1のコー
ナーの各々に凸状の分離部材側係合部3が形成されてい
る様子が理解できる。
【0038】次に、分離通路2と積層体34との位置関
係について説明する。図6に示したように、分離部材1
および分離用カセット10には、互いに対する位置を定
めて保持するための係合部3,11が形成されている。
そして、分離部材1が分離用カセット10に取り付けら
れたときに、積層体34のうち下側に位置するウェーハ
の滑り移動を阻止するとともに、上側にする位置ウェー
ハの下側ウェーハに対する相対移動を許容するように、
分離通路2の位置が調整されている。このようにして、
分離通路2の位置を調整することにより、通過すべきウ
ェーハが通過できない、あるいは積層体34を構成する
両ウェーハが一度に通過してしまうといった不具合を防
ぎ、分離工程をスムーズに行えるようにする。
【0039】具体的に、図9の断面模式図に示す。積層
体34と分離通路2とは1対1対応とされている。積層
体34における残存ウェーハ38と貼り合わせウェーハ
39との境界は、剥離層41’である。その剥離層4
1’が、対応する分離通路2の下端面2tよりも、高さ
方向(ウェーハの厚さ方向)において、上方に位置する
ように該分離通路2が形成されている。剥離層41’と
分離通路2の下端面2tとの高さの差dは、たとえば下
側に位置するウェーハ(図の例では貼り合わせウェーハ
39)の約半分程度に調整されるのがよい。この高さの
差dが小さすぎると、図7のように傾斜したときに、下
側のウェーハがストッパ部1aを乗り越えて回収用カセ
ット20側に移動してしまう恐れがある。逆に大きすぎ
ると、上側のウェーハがスムーズに回収用カセット20
に移動できない恐れがある。また、回収用カセット20
側においても、ウェーハの保持溝22の下端面22t
が、分離通路2の下端面2tよりも下方に位置するよう
に調整されていると、ウェーハが滑り移動してきた際
に、スムーズに収容される。
【0040】また、ウェーハが分離部材1を通過したと
きに信号を出力するセンサ等を個々の分離通路2に対応
させて設け、分離工程終了後にそれら全てのセンサより
信号を受信できなかった場合に警告信号を出力するシー
ケンシャル回路等のエラー防止機構を、分離部材1およ
び/または回収用カセット20に設けることもできる。
そうすれば、万が一うまく分離できなくても、残存ウェ
ーハ38と貼り合わせウェーハ39とが重なりあったま
ま、各カセット10,20が次の工程に廻されることを
未然に防ぐシステムを構築できる。
【0041】以上に示した分離工程においては、貼り合
わせウェーハ39を固定側として支持し、残存ウェーハ
38を滑り移動させるとよい。そうすれば、両者が分離
した後も、貼り合わせウェーハ39における活性層(S
OI層40)の形成されている主表面が他の部材に接触
することも全くないので好ましい。分離工程が終了した
貼り合わせSOIウェーハ39は鏡面研磨工程に、残存
ウェーハ38は再利用のための処理にカセットごと送ら
れる。
【0042】また、以上に述べてきた本発明の方法は、
ボンドウェーハ31およびベースウェーハ32の一方ま
たは両方が直径300mmのシリコン単結晶ウェーハで
ある貼り合わせウェーハの製造に好適である。本発明の
方法は、各工程が完全に区切られているので、自動化に
対応しやすい。300mmウェーハは、ハンドリングが
困難であり、その取り扱いに関して一層の自動化が望ま
れている。すなわち、本発明の方法を採用するのに好適
である。また、本発明の方法は、縦型炉25を好適に採
用できる。300mmウェーハは、垂直に立てて処理す
ること、換言すれば横型炉50を用いることが難しい。
よって、300mmウェーハには本発明が好適である。
【0043】また、本実施形態では、縦型炉25を用い
て貼り合わせのための熱処理を行うようにしたが、たと
えば、図10に示すようなクッキーオーブン型熱処理炉
70を使用する場合であっても、本発明の方法は適用可
能である。図10に示すように、クッキーオーブン型熱
処理炉70内には、ウェーハを水平支持するサセプタ7
1が配置され、該サセプタ71上に、熱処理されるべき
ボンドウェーハ31とベースウェーハ32とが配置され
る。サセプタ71は、ウェーハの周縁部を支持する浅い
座ぐり73と、ウェーハを下方からすくい上げ可能とす
るための、開放部74とを有する。
【0044】熱処理終了後は、積層体34が上記サセプ
タ71に支持される形となっている。次に、図11に示
すように、サセプタ71ごとクッキーオーブン型熱処理
炉70から搬出し、該サセプタ71に支持された積層体
34をウェーハ移載ロボット75によって、一組ずつ分
離用カセット10に収容していく。サセプタ71の座ぐ
り73を、熱処理後に得られる積層体34のうち、下側
に位置するウェーハの厚さよりも深めに調整することに
より、上側ウェーハの滑り落ちを防止できる。分離用カ
セット10に積層体34を収容したあとは、すでに述べ
た通りである。このように、本発明の方法は、様々な熱
処理の形態に適応可能である。また、好適な実施形態で
は、積層体34のうち、上側ウェーハを滑り移動させる
ようにしたが、分離部材1の調整により下側ウェーハの
みを回収用カセット20に滑り移動させることも考え得
る。
【0045】なお、本明細書中を通じて、貼り合わせS
OIウェーハの製造方法について記載したが、これに限
らず、分離工程を含む貼り合わせウェーハの製造方法で
あれば、製品の形態に関係なく本発明が適用できること
はもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【図1】貼り合わせウェーハの製造工程の概要を示す工
程説明図。
【図2】縦型炉を用いた熱処理工程を説明する模式図。
【図3】図2に示すボートを該ボートの幅広口側から見
た正面図。
【図4】図2に示すボートを左右対称に二等分する断面
図。
【図5】ボートからカセットに積層体を移し替える移載
工程を説明する模式図。
【図6】分離工程に使用される分離用カセット、分離部
材および回収用カセットの配置図。
【図7】分離動作を説明する模式図。
【図8】分離部材の正面図。
【図9】分離部材のスリットと、残存ウェーハおよび貼
り合わせウェーハとの位置関係を説明する断面模式図。
【図10】クッキーオーブン型熱処理炉で貼り合わせの
熱処理を行う場合の模式図。
【図11】積層体をクッキーオーブン型熱処理炉から分
離用カセットに移載する方法を説明する図。
【図12】従来の熱処理方法とウェーハの回収方法を説
明する模式図。
【符号の説明】
1 分離部材 2 分離通路(スリット) 3 分離部材側係合部 10 分離用カセット 10w ウェーハ出し口 11,21 カセット側係合部 20 回収用カセット 25 縦型炉 27 縦型炉用ボート 31 ボンドウェーハ 32 ベースウェーハ 33 酸化膜(絶縁層) 34 積層体 38 残存ウェーハ 39 貼り合わせSOIウェーハ(貼り合わせウェー
ハ) 41 イオン注入層 41’ 剥離層

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部にイオン注入層が形成されたボンド
    ウェーハと、ベースウェーハとを重ね合わせて熱処理す
    ることにより、前記ボンドウェーハと前記ベースウェー
    ハとを接合するとともに、前記イオン注入層にて前記ボ
    ンドウェーハに剥離層を形成する熱処理工程と、 該熱処理工程を経て得られる貼り合わせウェーハと、剥
    離を生じたあとの前記ボンドウェーハの残部である残存
    ウェーハとから構成される積層体を、一方のウェーハが
    上、他方のウェーハが下となるように分離用カセットに
    複数組収容する移載工程と、 前記積層体を構成する一方のウェーハに対し、他方のウ
    ェーハを面内方向に滑り移動させて両者を分離する動作
    を、前記分離用カセットに収容された複数組の前記積層
    体について順次的または一斉に行う分離工程と、 を含むことを特徴とする貼り合わせウェーハの製造方
    法。
  2. 【請求項2】 前記分離工程において、前記積層体を構
    成するウェーハのうち、一方の通過を許容して他方の通
    過を阻止する分離部材を、前記分離用カセットのウェー
    ハ出し口を覆う形にて配置することを特徴とする請求項
    1記載の貼り合わせウェーハの製造方法。
  3. 【請求項3】 前記分離部材を挟んで前記分離用カセッ
    トの反対側に、滑り移動してきたウェーハを回収するた
    めの回収用カセットを配置することを特徴とする請求項
    2記載の貼り合わせウェーハの製造方法。
  4. 【請求項4】 前記分離用カセット、前記分離部材およ
    び前記回収用カセットを、前記回収用カセットが下方と
    なるように一体的に傾斜させて、前記積層体のうち上側
    に位置するウェーハを自重により滑り移動させることを
    特徴とする請求項3記載の貼り合わせウェーハの製造方
    法。
  5. 【請求項5】 前記分離部材は、前記積層体のうち下側
    に位置するウェーハの通過を阻止するストッパ部を有
    し、該ストッパ部の上方に前記積層体のうち上側に位置
    するウェーハが通過可能な分離通路を備えることを特徴
    とする請求項2ないし4のいずれか1項に記載の貼り合
    わせウェーハの製造方法。
  6. 【請求項6】 前記分離通路は、前記分離部材に形成さ
    れたスリットであることを特徴とする請求項5記載の貼
    り合わせウェーハの製造方法。
  7. 【請求項7】 前記分離部材および前記分離用カセット
    には、互いに対する位置を定めて保持するための係合部
    が形成され、 前記分離部材が前記分離用カセットに取り付けられたと
    きに、前記積層体のうち下側に位置するウェーハの滑り
    移動を阻止するとともに、上側にする位置ウェーハの下
    側ウェーハに対する相対移動を許容するように、前記分
    離通路の位置が調整されていることを特徴とする請求項
    5または6記載の貼り合わせウェーハの製造方法。
  8. 【請求項8】 前記貼り合わせウェーハを固定側として
    支持し、前記残存ウェーハを滑り移動させることを特徴
    とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の貼り合
    わせウェーハの製造方法。
  9. 【請求項9】 前記熱処理工程において、ウェーハの重
    ね合わせ方向が炉の上下方向と略一致するようにウェー
    ハを収容する縦型炉を用い、 その際、上側に位置するウェーハの下側に位置するウェ
    ーハに対する相対移動が阻止されるように、主面が水平
    から傾いた状態で前記ボンドウェーハおよび前記ベース
    ウェーハを保持するように調整された縦型炉用ボートを
    用いることを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1
    項に記載の貼り合わせウェーハの製造方法。
  10. 【請求項10】 前記ボンドウェーハおよび前記ベース
    ウェーハの一方または両方が直径300mmのシリコン
    単結晶ウェーハであることを特徴とする請求項1ないし
    9のいずれか1項に記載の貼り合わせウェーハの製造方
    法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006344865A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Toyoko Kagaku Co Ltd Soi基板及び該基板の製造方法
JP2012004232A (ja) * 2010-06-15 2012-01-05 Denso Corp 炭化珪素半導体基板の製造方法およびその基板を用いた炭化珪素半導体装置

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