JP2003163064A - Ic socket - Google Patents

Ic socket

Info

Publication number
JP2003163064A
JP2003163064A JP2001361524A JP2001361524A JP2003163064A JP 2003163064 A JP2003163064 A JP 2003163064A JP 2001361524 A JP2001361524 A JP 2001361524A JP 2001361524 A JP2001361524 A JP 2001361524A JP 2003163064 A JP2003163064 A JP 2003163064A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
package
socket
floating plate
contacts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001361524A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomonori Nakaoka
友紀 中岡
Shunji Abe
俊司 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaichi Electronics Co Ltd
Original Assignee
Yamaichi Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaichi Electronics Co Ltd filed Critical Yamaichi Electronics Co Ltd
Priority to JP2001361524A priority Critical patent/JP2003163064A/en
Publication of JP2003163064A publication Critical patent/JP2003163064A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC socket in which the structure is simple and a contact is not bent forward, thereby keeping a floating plate unmoved, and therefore the reliability of the IC socket is high. <P>SOLUTION: The IC socket is provided with a socket substrate, a floating plate in which the IC package provided vertically movably in the socket substrate is mounted. A contact point is connected electrically to the IC package. A curved part gives elastic force. A contact has a fixed part and a terminal fixed to the socket substrate. A pressed body contacts elastically the IC package with the contact by holding the IC package between the floating plate and the pressed body and pressing down the IC package and the floating plate. The contact is arranged so that the curved parts in the adjacent contact rows are arranged in the opposite direction. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ICソケットに関
し、より詳細には、湾曲部を有するコンタクトから所定
のバネ荷重が得られるようにしたBGA型ICパッケー
ジ用ICソケットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC socket, and more particularly to an IC socket for a BGA type IC package in which a predetermined spring load can be obtained from a contact having a curved portion.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、BGA型ICパッケージのバーン
インテストに際し、該ICパッケージを搭載するICソ
ケットの1つとしてオープントップ型ICソケットが使
用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a burn-in test of a BGA type IC package, an open top type IC socket has been used as one of the IC sockets for mounting the IC package.

【0003】図3を用いて、このオープントップ型IC
ソケットについて説明する。図3には、BGA型ICパ
ッケージがICソケットの搭載されている状態が示され
ている。
This open top type IC is shown in FIG.
The socket will be described. FIG. 3 shows a state in which a BGA type IC package is mounted with an IC socket.

【0004】ICソケット100は、ソケット基板11
0、カバー120、コンタクト130、フローティング
プレート140、ラッチ160及び端子整列板170を
含んでいる。
The IC socket 100 comprises a socket substrate 11
0, the cover 120, the contact 130, the floating plate 140, the latch 160, and the terminal alignment plate 170.

【0005】カバー120は、バネ(図示せず)を介し
て前記ソケット基板110上を上下に移動自在に構成さ
れている。
The cover 120 is vertically movable on the socket substrate 110 via a spring (not shown).

【0006】コンタクト130は、前記ソケット基板1
10に植設されている固定部133、該固定部133上
方に配置され、コンタクト130に垂直方向上方への弾
性力を付与している湾曲部132、コンタクト130上
端に配置され、ICパッケージ200のパッド(半田ボ
ール)201と電気的に接続される接点部131及び前
記固定部133下方に配置され、テスト用ボード(図示
せず)に電気的に接続される端子部134を備えてい
る。コンタクト130は、例えば図4に示されるよう
に、その湾曲部132が全て右方向に突出するように、
同じ方向を向いてソケット基板110に植設され、固定
されている。
The contacts 130 are the socket substrate 1
The fixed portion 133 implanted in the device 10, the curved portion 132 arranged above the fixed portion 133 and imparting the elastic force to the contact 130 in the vertical direction, and arranged at the upper end of the contact 130. A contact part 131 electrically connected to the pad (solder ball) 201 and a terminal part 134 disposed below the fixing part 133 and electrically connected to a test board (not shown) are provided. As shown in FIG. 4, for example, the contact 130 has its curved portion 132 protruding rightward.
The socket substrate 110 is planted and fixed in the same direction.

【0007】フローティングプレート140は、バネ
(図示せず)により上方に付勢され、ソケット基板11
0に対して上下動自在に形成されている。該フローティ
ングプレート140上に、ICパッケージ200が載置
される。該フローティングプレート140は、載置され
るICパッケージ200のパッド201や前記コンタク
ト130の接点部131がそれぞれ上及び下から臨む貫
通孔141及び載置されるICパッケージ200の位置
決めをするために設けられている位置決め機構142
(図1参照)を有する。
The floating plate 140 is biased upward by a spring (not shown), and the socket substrate 11
It is formed so as to be vertically movable relative to zero. The IC package 200 is placed on the floating plate 140. The floating plate 140 is provided for positioning the through holes 141 through which the pads 201 of the mounted IC package 200 and the contact portions 131 of the contacts 130 face from above and below, respectively, and the mounted IC package 200. Positioning mechanism 142
(See FIG. 1).

【0008】ラッチ160は、前記ソケット基板110
に対し回動自在に少なくとも一対設けられており、前記
カバー120の上下動により開閉される。該ラッチ16
0が閉じる時、前記フローティングプレート140上に
載置されているICパッケージ200が該フローティン
グプレート140とともに押し下げられ、ICパッケー
ジ200のパッド201とコンタクト130の接点部1
31とが押圧接触する。
The latch 160 is the socket substrate 110.
In contrast, at least one pair is rotatably provided and is opened / closed by the vertical movement of the cover 120. The latch 16
When 0 is closed, the IC package 200 mounted on the floating plate 140 is pushed down together with the floating plate 140, so that the pad 201 of the IC package 200 and the contact portion 1 of the contact 130.
It comes into pressure contact with 31.

【0009】端子整列板170は、ソケット基板110
の底部から出入自在に形成され、前記コンタクト130
の端子部134が貫通する孔が設けられている。該端子
整列板170は、該コンタクト130の端子部134を
テスト用ボード(図示せず)に電気的に接続する際、前
記コンタクト130の端子部134を保護し、該端子部
134をテスト用ボードのスルーホールに挿入するため
のガイドとして作用する。
The terminal alignment plate 170 is a socket substrate 110.
The contact 130 is formed so as to be able to move in and out from the bottom of the
Is provided with a hole through which the terminal portion 134 of FIG. The terminal aligning plate 170 protects the terminal portion 134 of the contact 130 when the terminal portion 134 of the contact 130 is electrically connected to a test board (not shown), and the terminal portion 134 is connected to the test board. Acts as a guide for insertion into the through hole.

【0010】ICパッケージ200をICソケット10
0に搭載するには、先ず、フリーの状態にあるICソケ
ット100のカバー120をバネに抗して押し下げ、そ
れによって、ラッチ160を開く。この状態で、ICパ
ッケージ200がフローティングプレート140上に載
置される.この時、ICパッケージ200は、フローテ
ィングプレート140上に設けられている位置決め機構
142により所定位置に位置決めされる。
The IC package 200 is connected to the IC socket 10
To mount on 0, first, the cover 120 of the IC socket 100 in the free state is pushed down against the spring, thereby opening the latch 160. In this state, the IC package 200 is placed on the floating plate 140. At this time, the IC package 200 is positioned at a predetermined position by the positioning mechanism 142 provided on the floating plate 140.

【0011】次に、カバー120の押圧力を解除する
と、該カバー120とソケット基板110との間に介在
するバネの付勢力により、該カバー120が元の位置に
戻り、それに伴なってラッチ160も元の状態に戻る。
この時、ICパッケージ200は、先ずラッチ160と
フローティングプレート140との間に挟持される。続
いて、元の位置に戻ろうとするラッチ160により、I
Cパッケージ200は、フロティングプレート140と
もに一体的に、さらに押し下げられる。これにより、I
Cパッケージ200のパッド201は、弾性力が付与さ
れているコンタクト130の接点部131と弾性的に接
触する。したがって、ICパッケージ200は、コンタ
クト130から所定のバネ荷重を受け、所定の接触圧の
下でコンタクト130と電気的に接続される。
Next, when the pressing force of the cover 120 is released, the cover 120 returns to its original position due to the urging force of the spring interposed between the cover 120 and the socket substrate 110, and the latch 160 accordingly. Also returns to the original state.
At this time, the IC package 200 is first sandwiched between the latch 160 and the floating plate 140. Then, the latch 160, which tries to return to the original position,
The C package 200 is further pushed down integrally with the floating plate 140. This gives I
The pad 201 of the C package 200 elastically contacts the contact portion 131 of the contact 130 to which the elastic force is applied. Therefore, the IC package 200 receives a predetermined spring load from the contact 130 and is electrically connected to the contact 130 under a predetermined contact pressure.

【0012】図3に示されるように、ICパッケージ2
00を搭載した状態で、ICソケット100は、テスト
用ボードに装着され、ICパッケージ200のバーンイ
ンテストに供される。
As shown in FIG. 3, the IC package 2
The IC socket 100 is mounted on a test board in a state where 00 is mounted, and is used for a burn-in test of the IC package 200.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】ここで、載置されたI
Cパッケージ200とともにフローティングプレート1
40がラッチ160により押し下げられていく過程を図
4、図5を参照しつつ詳細に説明する。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
Floating plate 1 with C package 200
A process in which 40 is pushed down by the latch 160 will be described in detail with reference to FIGS. 4 and 5.

【0014】図4は、ICパッケージがラッチによりフ
ローティングプレートとともに押し下げられる直前の状
態を示す一部拡大断面図であり、図5は、ICパッケー
ジがコンタクトと接触し、該コンタクトがラッチによる
押圧力を受けている状態、すなわち、ICパッケージと
コンタクトが弾性的に接触している状態を示す一部拡大
断面図である。
FIG. 4 is a partially enlarged sectional view showing a state immediately before the IC package is pushed down by the latch together with the floating plate, and FIG. 5 is a sectional view showing the IC package in contact with the contact, and the contact exerts a pressing force by the latch. FIG. 7 is a partially enlarged cross-sectional view showing a state in which the IC package and the contact are elastically in contact with each other.

【0015】図4に示される時点では、ICパッケージ
200は、ラッチ160とフローティングプレート14
0に挟持されているが、コンタクト130の接点部13
1とICパッケージ200のパッド201とは接触して
いない。したがって、コンタクト130は、押圧力を受
けず、変形することがないので、コンタクト130の接
点部131と端子部134は、図4に示されるように、
垂直方向略一直線上にある。ICパッケージ200及び
フローティングプレート140が、ラッチ160の押圧
力により一体となって押し下げられると、該ICパッケ
ージ200のパッド201とコンタクト130の接点部
131が接触する。さらに、ラッチ160の押圧力によ
り、コンタクト130は、変形を始める。
At the time shown in FIG. 4, IC package 200 includes latch 160 and floating plate 14.
The contact portion 13 of the contact 130
1 and the pad 201 of the IC package 200 are not in contact with each other. Therefore, the contact 130 does not receive a pressing force and is not deformed, so that the contact portion 131 and the terminal portion 134 of the contact 130 are, as shown in FIG.
It is on a straight line in the vertical direction. When the IC package 200 and the floating plate 140 are integrally pushed down by the pressing force of the latch 160, the pad 201 of the IC package 200 and the contact portion 131 of the contact 130 come into contact with each other. Further, the pressing force of the latch 160 causes the contact 130 to start deforming.

【0016】この時、ラッチ160の押圧力Wは、垂直
方向真下に向かっているが、コンタクト130を変形さ
せる力Fは、垂直方向真下に向かうのではなく、図5に
示されるように、コンタクト130の接点部131と湾
曲部132との交点Aにおいて湾曲部132に対し法線
方向へ作用する。ところで、フローティングプレート1
40は、ソケット基板110に対して構造上クリアラン
スを有しているから、該フローティングプレート140
は左右に動き得る構造となっている。そのため、コンタ
クト変形力Fの垂直方向及び水平方向の分力により、コ
ンタクト130の先端部にある接点部131は、ICパ
ッケージ200及びフローティングプレート140とと
もに一体となって、図4に示されている位置より下方及
び左方向に移動し得る。言い換えれば、コンタクト13
0は、その湾曲部132と反対方向に前倒しされた状態
に変形する。なお、このコンタクト変形力Fの水平方向
の分力は、コンタクト130の接点部131と湾曲部1
32とのなす角度θが小さい程大きく作用する。
At this time, the pressing force W of the latch 160 is directed vertically downward, but the force F for deforming the contact 130 is not directed vertically downward, but as shown in FIG. It acts on the curved portion 132 in the normal direction at the intersection A of the contact portion 131 of the 130 and the curved portion 132. By the way, floating plate 1
Since 40 has a structural clearance with respect to the socket substrate 110, the floating plate 140
Has a structure that can move left and right. Therefore, the contact portion 131 at the tip of the contact 130 is integrated with the IC package 200 and the floating plate 140 by the component force of the contact deforming force F in the vertical direction and the horizontal direction, and the position shown in FIG. It can move further down and to the left. In other words, contact 13
0 deforms to a state in which it is tilted forward in the direction opposite to the curved portion 132. The horizontal component of the contact deformation force F is the contact portion 131 of the contact 130 and the bending portion 1.
The smaller the angle θ formed with 32, the greater the effect.

【0017】この結果、フローティングプレート140
は、上記したようにソケット基板110に対して構造上
クリアランスを有しているため、ICパッケージ200
ともども左方向に移動させられる(図5参照)。該フロ
ーティングプレート140は、その力の大きさによって
は、ソケット基板110に当接する。当然ながら、コン
タクト130の本数が多いほど大きい力が加えられる。
As a result, the floating plate 140
Has a structural clearance with respect to the socket substrate 110 as described above, the IC package 200
Both can be moved to the left (see FIG. 5). The floating plate 140 contacts the socket substrate 110 depending on the magnitude of the force. Of course, the larger the number of contacts 130, the greater the force applied.

【0018】以上説明したようなコンタクトの130の
変形及びその結果としてのフローティングプレート14
0の移動により、従来のICソケット100において、
ICパッケージ200は、本来、該コンタクト130の
接点部131が当初位置から垂直方向真下に押し下げら
れることにより、弾性力を有する該コンタクト130か
ら得られるはずの所定のバネ荷重が得られないことにな
り、クリアランスの大きさによってはフローティングプ
レート140も大きく移動し、それによって所定のバネ
荷重の許容範囲を外れることになる恐れがある。さら
に、フローティングプレート140のソケット基板11
0への当接力が大きくなると、該フローティングプレー
ト140の変形をも招く恐れもある。このことは、IC
パッケージ200のパッド201とコンタクト130の
接点部132との電気的接触を不安定にし、結果として
ICパッケージ200のバーンインテストに用いられる
ICソケット100の信頼性を損ねるものであり、望ま
しいものではない。
The deformation of the contact 130 as described above and the resulting floating plate 14
By moving 0, in the conventional IC socket 100,
In the IC package 200, originally, the contact portion 131 of the contact 130 is pushed vertically downward from the initial position, so that a predetermined spring load, which should be obtained from the contact 130 having elastic force, cannot be obtained. However, depending on the size of the clearance, the floating plate 140 may also move significantly, which may cause the floating plate 140 to fall outside the predetermined spring load allowable range. Further, the socket substrate 11 of the floating plate 140
When the contact force with respect to 0 becomes large, the floating plate 140 may be deformed. This is IC
This makes the electrical contact between the pad 201 of the package 200 and the contact portion 132 of the contact 130 unstable, and as a result impairs the reliability of the IC socket 100 used in the burn-in test of the IC package 200, which is not desirable.

【0019】本発明は、上記問題点に鑑み、簡単な構造
で、コンタクトが前倒しされることがなく、それによっ
てフロティングプレートが移動することのない、したが
って信頼性の高いICソケットを提供することを目的と
している。
In view of the above problems, the present invention provides an IC socket having a simple structure, in which the contacts are not moved forward and the floating plate is not moved by the contacts, and thus the reliability is high. It is an object.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のICソケットは、ソケット基板、前記ソケ
ット基板に上下動自在に設けられているICパッケージ
が載置されるフローティングプレート、前記ICパッケ
ージと電気的に接続される接点部、弾性力を与える湾曲
部、前記ソケット基板に固定される固定部及び端子部を
有するコンタクト、及び前記ICパッケージを前記フロ
ーティングプレートとの間に挟持し、さらに前記ICパ
ッケージ及び前記フローティングプレートを押し下げ
て、前記ICパッケージと前記コンタクトとを弾性的に
接触させる押圧体を備えるICソケットにおいて、前記
コンタクトは、隣り合うコンタクト列の湾曲部の向きが
逆向きになるように配列されていることを特徴とする。
In order to achieve the above object, an IC socket according to the present invention is a socket substrate, a floating plate on which an IC package provided on the socket substrate so as to be vertically movable is mounted, and the IC. A contact portion that is electrically connected to the package, a bending portion that applies an elastic force, a contact that has a fixing portion and a terminal portion that are fixed to the socket substrate, and the IC package is sandwiched between the floating plate, In an IC socket including a pressing body that presses down the IC package and the floating plate to elastically bring the IC package and the contact into contact with each other, the curved portions of adjacent contact rows of the contacts have opposite directions. It is characterized by being arranged as follows.

【0021】さらに、本発明にICソケットは、前記押
圧体が、前記ソケット基板に上下動自在に設けられてい
るカバー及び該カバーの上下動に連動するラッチとによ
り形成されていることが好ましい。
Further, in the IC socket of the present invention, it is preferable that the pressing body is formed by a cover provided on the socket substrate so as to be vertically movable, and a latch interlocked with the vertical movement of the cover.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】本発明に係るICソケットの実施
例について、図1〜5を用いて説明する。図1は、フロ
ーティングプレートの上面図であり、図2は、図1にお
ける奇数列及び偶数列に配置されるコンタクトを示す一
部拡大断面図である。本発明のICソケット100は、
基本的構成としては従来例と同様、ソケット基板11
0、カバー120、コンタクト130、フローティング
プレート140、ラッチ160及び端子整列板170を
含んでいる(図3参照)。また、コンタクト130が、
接点部131、湾曲部132、固定部133及び端子部
134とから構成されていることも従来例と同様である
(図2及び4又は5参照)。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of an IC socket according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 is a top view of the floating plate, and FIG. 2 is a partially enlarged cross-sectional view showing the contacts arranged in the odd and even rows in FIG. The IC socket 100 of the present invention is
As a basic configuration, the socket substrate 11 is similar to the conventional example.
0, a cover 120, a contact 130, a floating plate 140, a latch 160, and a terminal alignment plate 170 (see FIG. 3). In addition, the contact 130
It is similar to the conventional example in that it is composed of the contact portion 131, the curved portion 132, the fixing portion 133, and the terminal portion 134 (see FIGS. 2 and 4 or 5).

【0023】本発明のICソケット100は、図1に示
されるように、フローティングプレート140に形成さ
れている貫通孔孔141に臨むコンタクト130の向き
が隣り合う列毎に逆向きとする点でのみ従来例と異な
る。
In the IC socket 100 of the present invention, as shown in FIG. 1, the contacts 130 facing the through-holes 141 formed in the floating plate 140 are oriented in opposite directions in each adjacent row. Different from the conventional example.

【0024】図1に示されるように、フローティングプ
レート140の第1列(A1列)の貫通孔141に臨む
コンタクト130は、図4に示される従来例と同様に、
該コンタクト130の湾曲部132が右方向に突出する
ように配列されている。これに対して、フローティング
プレート140の第2列(B1列)の貫通孔141に臨
むコンタクト130は、図2に示されるように、該コン
タクト130の湾曲部132が左方向に突出するように
配列されている。以下、コンタクト130は、このよう
な配列を列毎に交互に繰り返すように配列される。
As shown in FIG. 1, the contact 130 facing the through hole 141 of the first row (A1 row) of the floating plate 140 is the same as in the conventional example shown in FIG.
The curved portion 132 of the contact 130 is arranged so as to project rightward. On the other hand, as shown in FIG. 2, the contacts 130 facing the through holes 141 of the second row (B1 row) of the floating plate 140 are arranged so that the curved portions 132 of the contacts 130 protrude leftward. Has been done. Hereinafter, the contacts 130 are arranged so that such arrangement is alternately repeated for each column.

【0025】このように、コンタクト130が配列され
ることにより、該コンタクト130がラッチ160によ
り垂直方向に押圧された時、A列及びB列毎にコンタク
ト130を変形させる力の方向が逆向きになる。すなわ
ち、本実施例においては、奇数列(An列)に配列され
るコンタクト130は、その湾曲部132がいずれも右
方向に突出しているから、上記従来例で説明されている
ようにコンタクト130は左下方向に倒れ、フローティ
ングプレート140を左方向に移動させようとする(図
5参照)。一方、偶数列(Bn列)に配列されるコンタ
クト130は、その湾曲部132がいずれも左方向に突
出しているから、上記従来例でに説明を勘案すれば、コ
ンタクト130は右下方向に倒れ、フローティングプレ
ート140を右方向に移動させようとする(図2参
照)。各列に配列されるコンタクト130の数は同じで
あるから、コンタクト130を左右に変形させる力が相
殺され、フローティングプレート140は移動すること
がなく、コンタクト130は垂直方向真下にのみ変形
し、したがって、コンタクト130の接点部131とI
Cパッケージ200のパッド201は、所定の押圧力下
で接触することになる。
By arranging the contacts 130 in this manner, when the contacts 130 are pressed in the vertical direction by the latch 160, the directions of the forces for deforming the contacts 130 in the rows A and B are opposite. Become. That is, in this embodiment, since the curved portions 132 of the contacts 130 arranged in odd rows (An rows) are all projected to the right, the contacts 130 are arranged as described in the above-mentioned conventional example. It falls down to the lower left and tries to move the floating plate 140 to the left (see FIG. 5). On the other hand, since the curved portions 132 of the contacts 130 arranged in the even-numbered rows (Bn rows) are all projected to the left, the contacts 130 are tilted to the lower right when considering the description of the conventional example. , Trying to move the floating plate 140 to the right (see FIG. 2). Since the number of contacts 130 arranged in each row is the same, the forces that deform the contacts 130 to the left and right are offset, the floating plate 140 does not move, and the contacts 130 only deform vertically below. , The contact portion 131 of the contact 130 and I
The pads 201 of the C package 200 come into contact with each other under a predetermined pressing force.

【0026】なお、本実施例では、コンタクト130の
湾曲部132が奇数列において右向きに突出し、偶数列
において左向きにそれぞれ突出するように、コンタクト
130を配列しているが、本発明のICソケットにおい
てはこの構造に限られるものではない。すなわち、奇数
列において左向き、偶数列において右向きであってもよ
い。また、上記実施例のように横方向にコンタクトの向
きを交互に反対向きに配列するのに代えて、縦方向にコ
ンタクトの向きを交互に反対向きに配列するようにして
もよい。要は、隣り合うコンタクト列において、各列の
コンタクトの湾曲部が向いている方向を逆向きになるよ
うにコンタクトを配列すればよい。
In the present embodiment, the contacts 130 are arranged so that the curved portions 132 of the contacts 130 project rightward in the odd rows and leftward in the even rows, respectively. Is not limited to this structure. That is, the odd-numbered columns may face left and the even-numbered columns may face right. Further, instead of alternately arranging the contacts in the lateral direction in the opposite direction as in the above-described embodiment, the contacts may be arranged in the longitudinal direction in the opposite direction alternately. In short, in the contact rows adjacent to each other, the contacts may be arranged such that the curved portions of the contacts in each row face in the opposite direction.

【0027】さらに、本実施例のICソケットでは、フ
ローティングプレート140との間でICパッケージ2
00を挟持するとともに、該フローティングプレート1
40及びICパッケージ200を一体化して押し下げる
機構として、カバー120に連動するラッチ160を用
いたが、これに限られるものではない。例えば、フロー
ティングプレートとの間でICパッケージを挟持すると
ともに、該フローティングプレート及びICパッケージ
を一体化して押し下げる機構として、独立した押圧体を
用いてもよい。
Further, in the IC socket of this embodiment, the IC package 2 is provided between the floating plate 140 and the IC socket 2.
00, and the floating plate 1
Although the latch 160 interlocking with the cover 120 is used as a mechanism for integrally pushing down the IC package 200 and the IC package 200, the present invention is not limited to this. For example, an independent pressing body may be used as a mechanism for holding the IC package between the floating plate and the floating plate and the IC package by pressing them together.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明のICソケッ
トにおいては、隣り合うコンタクト列の湾曲部の向きが
逆向きになるようにコンタクトを配列したので、簡単な
構造にも拘らず、フロティングプレートが移動すること
がなく、ICパッケージとICソケットのコンタクトと
の所定の接触圧が得られる。したがって、本発明に係る
ICソケットは、より高い信頼性を得ることが可能とな
る。
As described above, in the IC socket of the present invention, the contacts are arranged so that the curved portions of the adjacent contact rows are oriented in opposite directions. A predetermined contact pressure between the IC package and the contact of the IC socket can be obtained without moving the plate. Therefore, the IC socket according to the present invention can obtain higher reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るICソケットのフローティングプ
レートの上面図である。
FIG. 1 is a top view of a floating plate of an IC socket according to the present invention.

【図2】図1におけるA列及びB列に配置されるコンタ
クトを示す一部拡大断面図である。
FIG. 2 is a partially enlarged cross-sectional view showing contacts arranged in rows A and B in FIG.

【図3】本発明及び従来のICソケットの該略断面図で
ある。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of an IC socket of the present invention and a conventional IC socket.

【図4】ICパッケージがラッチによりフローティング
プレートとともに押し下げられる直前の状態を示す一部
拡大断面図である。
FIG. 4 is a partially enlarged cross-sectional view showing a state immediately before an IC package is pushed down together with a floating plate by a latch.

【図5】図5は、ICパッケージがコンタクトと接触
し、該コンタクトがラッチによる押圧力を受けている状
態を示す一部拡大断面図である。
FIG. 5 is a partially enlarged cross-sectional view showing a state in which the IC package is in contact with the contact and the contact is being pressed by the latch.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 ICソケット 110 ソケット基板 120 カバー 130 コンタクト 131 (コンタクトの)接点部 132 (コンタクトの)湾曲部 133 (コンタクトの)固定部 134 (コンタクトの)端子部 140 フローティングプレート 141 貫通孔 142 位置決め機構 150 ラッチ 160 端子整列板 200 ICパッケージ 201 パッド 100 IC socket 110 socket board 120 cover 130 contacts 131 Contact part (of contact) 132 Curved part (of contact) 133 Fixed part (of contact) 134 Terminal part (of contact) 140 floating plate 141 through hole 142 Positioning mechanism 150 latch 160 terminal alignment plate 200 IC package 201 pad

フロントページの続き Fターム(参考) 2G003 AA07 AG01 AG12 AG16 AH05 2G011 AA02 AA15 AB01 AB07 AC14 AE03 AF02 5E024 CA18 CA19 CB04 Continued front page    F-term (reference) 2G003 AA07 AG01 AG12 AG16 AH05                 2G011 AA02 AA15 AB01 AB07 AC14                       AE03 AF02                 5E024 CA18 CA19 CB04

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ソケット基板、前記ソケット基板に上下
動自在に設けられているICパッケージが載置されるフ
ローティングプレート、 前記ICパッケージと電気的に接続される接点部、弾性
力を与える湾曲部、前記ソケット基板に固定される固定
部及び端子部を有するコンタクト、及び前記ICパッケ
ージを前記フローティングプレートとの間に挟持し、さ
らに前記ICパッケージ及び前記フローティングプレー
トを押し下げて、前記ICパッケージと前記コンタクト
とを弾性的に接触させる押圧体、 を備えるICソケットにおいて、 前記コンタクトは、隣り合うコンタクト列の湾曲部の向
きが逆向きになるように配列されていることを特徴とす
るICソケット。
1. A socket substrate, a floating plate on which is mounted an IC package that is vertically movable on the socket substrate, a contact portion electrically connected to the IC package, and a bending portion that gives an elastic force. A contact having a fixing portion and a terminal portion fixed to the socket substrate, and the IC package sandwiched between the floating plate and the IC package and the floating plate are pushed down to contact the IC package and the contact. An IC socket, comprising: a pressing body for elastically contacting each other, wherein the contacts are arranged such that the curved portions of adjacent contact rows are oriented in opposite directions.
【請求項2】 さらに、前記ソケット基板に上下動自在
に設けられているカバー及び該カバーの上下動に連動す
るラッチを備え、 前記押圧体は、前記カバー及び前記ラッチで形成されて
いることを特徴とする請求項1に記載のICソケット。
2. A cover provided on the socket substrate so as to be movable up and down and a latch interlocked with the vertical movement of the cover, wherein the pressing body is formed of the cover and the latch. The IC socket according to claim 1, which is characterized in that.
JP2001361524A 2001-11-27 2001-11-27 Ic socket Pending JP2003163064A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001361524A JP2003163064A (en) 2001-11-27 2001-11-27 Ic socket

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001361524A JP2003163064A (en) 2001-11-27 2001-11-27 Ic socket

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003163064A true JP2003163064A (en) 2003-06-06

Family

ID=19172167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001361524A Pending JP2003163064A (en) 2001-11-27 2001-11-27 Ic socket

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003163064A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007265771A (en) * 2006-03-28 2007-10-11 Yamaichi Electronics Co Ltd Socket for semiconductor device
WO2018199403A1 (en) * 2017-04-28 2018-11-01 아주야마이찌 전기공업(주) Socket for testing semiconductor devices

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007265771A (en) * 2006-03-28 2007-10-11 Yamaichi Electronics Co Ltd Socket for semiconductor device
JP4663567B2 (en) * 2006-03-28 2011-04-06 山一電機株式会社 Socket for semiconductor device
WO2018199403A1 (en) * 2017-04-28 2018-11-01 아주야마이찌 전기공업(주) Socket for testing semiconductor devices
KR20180121717A (en) * 2017-04-28 2018-11-08 아주야마이찌전기공업(주) Socket for inspection of semiconductor devices
KR102293762B1 (en) * 2017-04-28 2021-08-25 아주야마이찌전기공업(주) Socket for inspection of semiconductor devices
TWI766753B (en) * 2017-04-28 2022-06-01 南韓商亞洲山一電機股份有限公司 Socket for inspection of semiconductor devices

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7918679B2 (en) Test and burn-in socket for integrated circuits (ICs)
KR100364445B1 (en) Top load socket for ball grid array devices
US6261114B1 (en) Socket for electrical parts
JP2003217774A (en) Contact pin and ic socket
US5669780A (en) IC socket
US6981881B2 (en) Socket and contact of semiconductor package
JP2003178851A (en) Socket for electric component
US10044124B2 (en) Contact terminal and IC socket including the same
EP1049365B1 (en) Socket for electrical parts
JPH10199646A (en) Socket for electric part
US6428337B2 (en) Socket for electrical parts
JP2003163064A (en) Ic socket
WO2003031994A1 (en) Socket and contact of semiconductor package
US5800193A (en) Electronic component connector
US7762820B2 (en) Solder ball socket connector
JPH08273777A (en) Ic socket
JP4427501B2 (en) IC socket
JP2001043947A (en) Socket for electric component
JPH05183029A (en) Socket
JP4974710B2 (en) socket
JP3831306B2 (en) Card connector device
JP2001006807A (en) Low-insertion force terminal
KR100799135B1 (en) Socket apparatus and method for removably mounting an electronic package
JPH08273779A (en) Ic socket
JP2008077988A (en) Contact terminal and socket for semiconductor device equipped with it