JP2003156844A - Photosensitive resin composition, porous resin, circuit board and suspension substrate with circuit - Google Patents

Photosensitive resin composition, porous resin, circuit board and suspension substrate with circuit

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JP2003156844A
JP2003156844A JP2001356637A JP2001356637A JP2003156844A JP 2003156844 A JP2003156844 A JP 2003156844A JP 2001356637 A JP2001356637 A JP 2001356637A JP 2001356637 A JP2001356637 A JP 2001356637A JP 2003156844 A JP2003156844 A JP 2003156844A
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Japan
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resin composition
porous
photosensitive resin
circuit
polybenzoxazole precursor
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Japanese (ja)
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Shu Mochizuki
周 望月
Takahiro Fukuoka
孝博 福岡
Naotaka Kaneshiro
直隆 金城
Takashi Kondo
隆 近藤
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Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a porous resin having high heat resistance, dimensional stability, and insulating property, and having uniform micropores, a photosensitive resin composition for obtaining the porous resin, and a circuit board and a suspension substrate with a circuit each having such a porous resin as an insulating layer. SOLUTION: The photosensitive resin composition 2 comprises a polybenzoxazole precursor 4 having a repeating unit structure of formula (1), a photosensitive agent, a dispersible compound 3 and a solvent. The porous resin is obtained as follows; the solvent is removed from the photosensitive resin composition 2 to form a state in which the dispersible compound 3 is dispersed in the polybenzoxazole precursor 4, the compound 3 is then removed to make the precursor 4 porous, and the precursor 4 is hardened. Since the porous resin has a low dielectric constant, when it is used as an insulating layer 6 in a circuit board, the high-frequency characteristics of the circuit board can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は感光性樹脂組成物、
多孔質樹脂、回路基板および回路付サスペンション基板
に関し、詳しくは、回路基板および回路付サスペンショ
ン基板の絶縁層の形成のために好適に用いられる感光性
樹脂組成物および多孔質樹脂、および、そのような多孔
質樹脂を絶縁層として有する、回路基板および回路付サ
スペンション基板に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a photosensitive resin composition,
The present invention relates to a porous resin, a circuit board and a suspension board with a circuit, and more specifically, a photosensitive resin composition and a porous resin which are preferably used for forming an insulating layer of the circuit board and the suspension board with a circuit, and such a material. The present invention relates to a circuit board and a suspension board with a circuit having a porous resin as an insulating layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】ポリベンゾオキサゾール樹脂は、例え
ば、特開平7−300558号公報や特開2000−1
69582号公報などに記載されるように、高い耐熱
性、寸法安定性、絶縁性を有するために、多層回路の層
間絶縁膜や回路基板のカバーコートなどに使用すること
が検討されつつある。しかるに、最近では、電子・電気
機器の高性能化、高機能化に伴い、大量の情報を蓄積
し、高速に処理、高速に伝達することが要求されてお
り、そのような用途に用いられるポリベンゾオキサゾー
ル樹脂にも、高周波化に対応した電気的特性として、低
誘電率化が求められている。
2. Description of the Related Art Polybenzoxazole resins are disclosed, for example, in JP-A-7-300558 and JP-A-2000-1.
As described in Japanese Patent No. 69582 and the like, it is being studied to use it for an interlayer insulating film of a multilayer circuit or a cover coat of a circuit board because it has high heat resistance, dimensional stability and insulation. However, recently, as electronic and electric devices have become higher in performance and higher in function, it has been required to store a large amount of information, process it at high speed, and transmit it at high speed. The benzoxazole resin is also required to have a low dielectric constant as an electrical characteristic corresponding to high frequencies.

【0003】しかし、一般に、プラスチック材料の誘電
率は、その分子骨格から決定されてしまうため、その分
子骨格を変成しても誘電率を下げるには限界がある。そ
のため、空気の誘電率が低いこと(ε=1.0)に着目
して、プラスチック材料を多孔化させて、その空孔率に
よって誘電率を制御しようとする方法が各種提案されて
いる。
However, since the dielectric constant of a plastic material is generally determined by its molecular skeleton, there is a limit to lowering the dielectric constant even if the molecular skeleton is modified. Therefore, various methods have been proposed, focusing on the low permittivity of air (ε = 1.0), by making the plastic material porous and controlling the permittivity by the porosity.

【0004】そのような多孔質樹脂を得る方法として
は、乾式法や湿式法などがあり、乾式法では、通常、物
理的方法によるものと、化学的方法によるものとが知ら
れている。物理的方法は、クロロフルオロカーボン類な
どの低沸点液体(発泡剤)を樹脂中に分散させた後、加
熱して発泡剤を揮発させることにより気泡を生じさせ、
これによって発泡体を得るものである。また、化学的方
法は、樹脂に発泡剤を添加して、これを熱分解すること
によって生じるガスによりセルを形成し、これによって
発泡体を得るものである。物理的方法によるものとして
は、例えば、米国特許公報第4532263号におい
て、塩化メチレン、クロロホルム、トリクロロエタンな
どを発泡剤として用いて、発泡ポリエーテルイミドを得
ることが提案されている。
As a method for obtaining such a porous resin, there are a dry method and a wet method. In the dry method, generally, a physical method and a chemical method are known. The physical method is to disperse a low boiling point liquid (foaming agent) such as chlorofluorocarbons in a resin, and then heat it to volatilize the foaming agent to generate bubbles,
This obtains a foam. Further, the chemical method is to add a foaming agent to a resin and thermally decompose the resin to form a cell, thereby forming a foam. As a physical method, for example, in US Pat. No. 4,532,263, it has been proposed to obtain a foamed polyetherimide by using methylene chloride, chloroform, trichloroethane or the like as a foaming agent.

【0005】さらに、近年では、セル径が小さく、セル
密度の高い発泡体として、窒素や二酸化炭素などの気体
を高圧にて樹脂中に溶解させた後、圧力を解放し、樹脂
のガラス転移点や軟化点付近まで加熱することにより、
気泡を生じさせる方法が提案されている。このような方
法では、微孔質発泡体を得ることができ、例えば、特開
平6−322168号公報では、この方法をポリエーテ
ルイミド樹脂に適用して、耐熱性を有する発泡体を得る
ことが提案されている。また、例えば、特開平10−4
5936号公報では、この方法をシンジオタクチック構
造を有するスチレン系樹脂に適用して、気泡サイズが
0.1〜20μmの多孔質を有する発泡体を得て、これ
を電気回路部材として用いることが提案されている。ま
た、例えば、特開平9−100363号公報では、二酸
化炭素などを発泡剤として発泡された空孔率が10vo
l%以上の多孔質なプラスチックを含む、耐熱温度が1
00℃以上で、かつ、誘電率が2.5以下である低誘電
率プラスチック絶縁フィルムが提案されている。
Further, in recent years, as a foam having a small cell diameter and a high cell density, a gas such as nitrogen or carbon dioxide is dissolved in a resin at a high pressure, and then the pressure is released to a glass transition point of the resin. Or by heating to near the softening point,
Methods for producing bubbles have been proposed. With such a method, a microporous foam can be obtained. For example, in JP-A-6-322168, this method can be applied to a polyetherimide resin to obtain a foam having heat resistance. Proposed. Further, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 10-4
In 5936, this method is applied to a styrene-based resin having a syndiotactic structure to obtain a porous foam having a cell size of 0.1 to 20 μm, which can be used as an electric circuit member. Proposed. Further, for example, in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 9-100363, the porosity of foaming using carbon dioxide as a foaming agent is 10 vo.
Containing 1% or more of porous plastic, heat resistant temperature is 1
A low dielectric constant plastic insulating film having a dielectric constant of 2.5 or less at a temperature of 00 ° C. or higher has been proposed.

【0006】さらに、特開2000−44719号公報
では、ポリイミド樹脂中に親水性ポリマーを分散させ、
水、アルコールなどのポリイミド樹脂を溶解せず、親水
性ポリマーを溶解する溶剤で、親水性ポリマーを除去す
ることにより、多孔質のポリイミド樹脂を得ることが提
案されている。
Further, in JP-A-2000-44719, a hydrophilic polymer is dispersed in a polyimide resin,
It has been proposed to obtain a porous polyimide resin by removing the hydrophilic polymer with a solvent that does not dissolve the polyimide resin such as water or alcohol but dissolves the hydrophilic polymer.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような多
孔質樹脂を得る方法において、例えば、物理的手法で
は、発泡剤として用いられるクロロフルオロカーボン類
が、安全衛生上およびオゾン層の破壊などの環境上から
好ましいものではなく、また、微細かつ均一なセル径を
形成することが困難である。
However, in the method for obtaining such a porous resin, for example, in a physical method, chlorofluorocarbons used as a foaming agent are used for the purpose of safety and hygiene and environmental damage such as ozone layer destruction. It is not preferable from the above, and it is difficult to form a fine and uniform cell diameter.

【0008】また、化学的手法では、発泡後、ガスを発
生させた発泡剤の残さが、発泡体中に残存するおそれが
あるため、電子・電気機器や電子部品など、低汚染性が
強く要求される用途には不向きである。
Further, in the chemical method, after foaming, the residue of the foaming agent that has generated gas may remain in the foam, so that low pollution is strongly required for electronic / electrical devices and electronic parts. It is not suitable for the intended use.

【0009】さらに、気体を高圧で樹脂中に溶解させた
後、圧力を解放し、樹脂のガラス転移点や軟化点付近ま
で加熱することにより、気泡を生じさせる方法におい
て、例えば、特開平6−322168号公報に記載され
る方法では、高圧ガスを圧力容器中で含浸するときに、
圧力容器を樹脂のビカー軟化点またはその近傍まで加熱
するので、減圧するときには、樹脂が溶融状態にある一
方で高圧ガスが膨張しやすいために、得られた発泡体の
気泡サイズがあまり小さくならず、例えば、回路基板な
どとして用いる場合には、その厚みが厚くなってしまっ
たり、あるいは、そのパターン化において微細化に限界
を生ずる。また、例えば、特開平10−45936号公
報に記載される方法では、スチレン系樹脂のガラス転移
点が100℃付近であるため、それ以上の高温では使用
できず、さらに、特開平9−100363号公報に記載
される方法では、気泡サイズがあまり小さくならず、パ
ターン化において微細化に限界を生ずる。
Further, in a method of generating bubbles by dissolving a gas in a resin at a high pressure and then releasing the pressure, the gas is heated to near the glass transition point or the softening point of the resin. In the method described in Japanese Patent No. 322168, when high pressure gas is impregnated in a pressure vessel,
Since the pressure vessel is heated to or near the Vicat softening point of the resin, when the pressure is reduced, the resin is in a molten state while the high-pressure gas easily expands, so the bubble size of the obtained foam does not become too small. For example, when it is used as a circuit board or the like, its thickness becomes thicker, or miniaturization is limited in its patterning. Further, for example, in the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-45936, the glass transition point of the styrene resin is around 100 ° C., so that it cannot be used at a temperature higher than that, and further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-100363. In the method described in the publication, the bubble size is not so small, and there is a limit to miniaturization in patterning.

【0010】さらに、特開2000−44719号公報
に記載される方法では、ポリイミド樹脂中に分散させる
溶剤が、分子量の大きい親水性ポリマーであるため、ポ
リイミド樹脂中から親水性ポリマーを完全に除去するこ
とが困難である。
Further, in the method described in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-44719, since the solvent dispersed in the polyimide resin is a hydrophilic polymer having a large molecular weight, the hydrophilic polymer is completely removed from the polyimide resin. Is difficult.

【0011】本発明は、このような事情に鑑みなされた
もので、その目的とするところは、高い耐熱性、寸法安
定性、絶縁性を有し、しかも、均一で微細な気泡を有す
る多孔質樹脂、および、その多孔質樹脂を得るための感
光性樹脂組成物、さらには、そのような多孔質樹脂を絶
縁層として有する、回路基板および回路付サスペンショ
ン基板を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a porous material having high heat resistance, dimensional stability, and insulation, and having uniform and fine bubbles. (EN) A resin, a photosensitive resin composition for obtaining the porous resin, and a circuit board and a suspension board with a circuit having such a porous resin as an insulating layer.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の感光性樹脂組成物は、下記一般式(1)で
示される繰り返し単位構造を有するポリベンゾオキサゾ
ール前駆体と、感光剤と、前記ポリベンゾオキサゾール
前駆体に対して分散可能な分散性化合物と、溶剤とを含
有することを特徴としている。
In order to achieve the above object, the photosensitive resin composition of the present invention comprises a polybenzoxazole precursor having a repeating unit structure represented by the following general formula (1) and a photosensitizer. And a dispersible compound dispersible in the polybenzoxazole precursor, and a solvent.

【0013】[0013]

【化3】 (式中、R1は、エーテル結合、炭素−炭素間結合、置
換されていてもよいメチレンのいずれかを示し、R2
は、
[Chemical 3] (In the formula, R1 represents any of an ether bond, a carbon-carbon bond, and methylene which may be substituted, and R2
Is

【0014】[0014]

【化4】 (aは、同一または相異なって、水素原子またはハロゲ
ン原子を示す。)のいずれかを示す。) また、この感光性樹脂組成物においては、分散性化合物
が、ポリアクレートオリゴマー、ポリエーテルオリゴマ
ー、ポリエステルオリゴマー、ポリウレタンオリゴマー
からなる群から選ばれる少なくとも1種であることが好
ましい。
[Chemical 4] (A is the same or different and represents a hydrogen atom or a halogen atom). In this photosensitive resin composition, the dispersible compound is preferably at least one selected from the group consisting of polyacrylate oligomer, polyether oligomer, polyester oligomer and polyurethane oligomer.

【0015】また、本発明は、この感光性樹脂組成物か
ら溶剤を除くことにより、前記ポリベンゾオキサゾール
前駆体中に分散性化合物が分散した状態を形成する工
程、分散性化合物を除去することにより、多孔化する工
程、および感光性樹脂組成物を硬化させる工程を含む工
程によって得られる、多孔質樹脂をも含むものである。
なお、この多孔質樹脂を得る工程においては、感光性樹
脂組成物を、露光および現像することによりパターン化
する工程を含むことが好ましい。
Further, according to the present invention, the solvent is removed from the photosensitive resin composition to form a state in which the dispersible compound is dispersed in the polybenzoxazole precursor, and the dispersible compound is removed. It also includes a porous resin obtained by a step including a step of making porous, and a step of curing the photosensitive resin composition.
The step of obtaining the porous resin preferably includes a step of patterning the photosensitive resin composition by exposing and developing it.

【0016】そして、このような多孔質樹脂は、回路基
板の絶縁層として、とりわけ、回路付サスペンション基
板の絶縁層として好適に用いられる。
Then, such a porous resin is suitably used as an insulating layer of a circuit board, particularly as an insulating layer of a suspension board with circuit.

【0017】また、本発明は、このような多孔質樹脂を
絶縁層として有している、回路基板および回路付サスペ
ンション基板をも含むものである。
The present invention also includes a circuit board and a suspension board with circuit, which have such a porous resin as an insulating layer.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】本発明の感光性樹脂組成物は、ポ
リベンゾオキサゾール前駆体と、感光剤と、ポリベンゾ
オキサゾール前駆体に対して分散可能な分散性化合物
と、溶剤とを含有している。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The photosensitive resin composition of the present invention contains a polybenzoxazole precursor, a photosensitizer, a dispersible compound dispersible in the polybenzoxazole precursor, and a solvent. There is.

【0019】本発明に用いられるポリベンゾオキサゾー
ル前駆体は、下記一般式(1)に示す繰り返し単位構造
を有する、ポリベンゾオキサゾール樹脂の前駆体であっ
て、ビスアミノフェノールと、二官能のアルデヒドとを
反応させることによって得ることができる。
The polybenzoxazole precursor used in the present invention is a precursor of a polybenzoxazole resin having a repeating unit structure represented by the following general formula (1), and comprises bisaminophenol and a bifunctional aldehyde. Can be obtained by reacting.

【0020】[0020]

【化5】 (式中、R1は、エーテル結合、炭素−炭素間結合、置
換されていてもよいメチレンのいずれかを示し、R2
は、
[Chemical 5] (In the formula, R1 represents any of an ether bond, a carbon-carbon bond, and methylene which may be substituted, and R2
Is

【0021】[0021]

【化6】 (aは、同一または相異なって、水素原子またはハロゲ
ン原子を示す。)のいずれかを示す。) なお、R1で示される置換されていてもよいメチレンと
しては、例えば、メチレン、プロピリデン(−C(CH
−)、ヘキサフルオロプロピリデン(−C(CF
−)などが挙げられる。
[Chemical 6] (A is the same or different and represents a hydrogen atom or a halogen atom). ) In addition, as the optionally substituted methylene represented by R 1, for example, methylene and propylidene (—C (CH
3 ) 2- ), hexafluoropropylidene (-C (CF
3 ) 2- ) and the like.

【0022】また、aで示されるハロゲン原子として
は、例えば、フッ素、塩素、臭素およびヨウ素などが挙
げられ、好ましくは、フッ素が挙げられる。
The halogen atom represented by a includes, for example, fluorine, chlorine, bromine and iodine, preferably fluorine.

【0023】R2の態様としては、4つのaのうち、4
つのすべてが水素原子、いずれか3つが水素原子で残り
の1つがハロゲン原子、いずれか2つが水素原子で残り
の2つがハロゲン原子、いずれか1つが水素原子で残り
の3つがハロゲン原子、または、4つのすべてがハロゲ
ン原子である態様が挙げられる。好ましくは、4つのす
べてが水素原子である態様、および、4つのすべてがハ
ロゲン原子である態様が挙げられる。
As a mode of R2, among four a, 4
All three are hydrogen atoms, any three are hydrogen atoms, the remaining one is a halogen atom, any two are hydrogen atoms and the other two are halogen atoms, one is a hydrogen atom and the remaining three are halogen atoms, or Embodiments in which all four are halogen atoms are mentioned. Preferred are an embodiment in which all four are hydrogen atoms, and an embodiment in which all four are halogen atoms.

【0024】対応するビスアミノフェノールとしては、
例えば、3,3'−ジアミノ−4,4'−ジヒドロキシフ
ェニルエーテル、4,4'−ジアミノ−3,3'−ジヒド
ロキシフェニルエーテル、3,4'−ジアミノ−3,4'
−ジヒドロキシフェニルエーテル、3,3'−ジヒドロ
キシベンジジン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒド
ロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンなどが挙げら
れる。また、それらは、単独で用いてもよいし、2種以
上を併用してもよい。
The corresponding bisaminophenol includes
For example, 3,3′-diamino-4,4′-dihydroxyphenyl ether, 4,4′-diamino-3,3′-dihydroxyphenyl ether, 3,4′-diamino-3,4 ′
-Dihydroxyphenyl ether, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane and the like. Further, they may be used alone or in combination of two or more kinds.

【0025】また、対応する二官能のアルデヒドとして
は、例えば、m−またはp−フタルアルデヒドおよびそ
のハロゲン化物、より具体的には、例えば、イソフタル
アルデヒド、テレフタルアルデヒド、テトラフルオロイ
ソフタルアルデヒド、テトラフルオロテレフタルアルデ
ヒドなどが挙げられる。また、それらは、単独で用いて
もよいし、2種以上を併用してもよい。
Examples of the corresponding bifunctional aldehydes include m- or p-phthalaldehyde and its halides, more specifically, isophthalaldehyde, terephthalaldehyde, tetrafluoroisophthalaldehyde, tetrafluoroterephthalate. Examples thereof include aldehyde. Further, they may be used alone or in combination of two or more kinds.

【0026】なお、このような2官能のアルデヒドは、
対応する2官能のニトリルから公知の方法によって製造
することができる。
Incidentally, such a bifunctional aldehyde is
It can be prepared from the corresponding difunctional nitrile by known methods.

【0027】そして、ポリベンゾオキサゾール前駆体
は、例えば、これらビスアミノフェノールと二官能のア
ルデヒドとを、実質的に等モル比となるような割合で、
適宜の反応溶媒、例えば、N−メチル−2−ピロリド
ン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチル
ホルムアミド、ジメチルスルホキシド、γ−ブチロラク
トンなどの極性溶媒中において、好ましくは不活性ガス
雰囲気下、0〜90℃で1〜36時間反応させることに
よって、ポリベンゾオキサゾール前駆体の溶液として得
ることができる。
The polybenzoxazole precursor can be prepared, for example, by mixing these bisaminophenol and the bifunctional aldehyde in a substantially equimolar ratio.
In a suitable reaction solvent, for example, a polar solvent such as N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, dimethylsulfoxide, γ-butyrolactone, preferably under an inert gas atmosphere, By reacting at 0 to 90 ° C. for 1 to 36 hours, a solution of the polybenzoxazole precursor can be obtained.

【0028】このようにして得られるポリベンゾオキサ
ゾール前駆体は、例えば、その重量平均分子量が、50
00〜200000程度、好ましくは、10000〜1
00000程度である。なお、このようにして得られる
ポリベンゾオキサゾール前駆体は、そのまま用いてもよ
いし、あるいは、沈殿後、ろ別収集して用いるなど、適
宜の後処理を行なってもよい。
The polybenzoxazole precursor thus obtained has, for example, a weight average molecular weight of 50.
About 00 to 200,000, preferably 10,000 to 1
It is about 00000. The polybenzoxazole precursor thus obtained may be used as it is, or may be subjected to an appropriate post-treatment such as collection and use after filtration after precipitation.

【0029】なお、このようにして得られるポリベンゾ
オキサゾール前駆体は、ビスアミノフェノールと二官能
のアルデヒドとを混ぜ合わせるのみの簡易な方法によっ
て得ることができるので、生産効率の向上によるコスト
の低減化を図ることができる。また、このような反応で
は、例えば、ビスアミノフェノールと二官能のカルボン
酸との反応によってポリベンゾオキサゾール前駆体を得
る場合のように、酸クロライドなどのイオン性物質を用
いる必要がないので、耐腐食性が向上され、後述するよ
うな回路基板の絶縁層として用いる場合には、信頼性の
向上を図ることができる。
Since the polybenzoxazole precursor thus obtained can be obtained by a simple method of mixing bisaminophenol and a bifunctional aldehyde, the production efficiency is improved and the cost is reduced. Can be realized. In addition, in such a reaction, it is not necessary to use an ionic substance such as an acid chloride as in the case of obtaining a polybenzoxazole precursor by a reaction of bisaminophenol and a bifunctional carboxylic acid. Corrosion is improved, and when it is used as an insulating layer of a circuit board as described later, reliability can be improved.

【0030】本発明に用いられる感光剤は、ポリベンゾ
オキサゾール前駆体を露光したときに、露光部と未露光
部の溶解性コントラストを得ることができるものであれ
ば、いずれのものも用いることができ、そのような感光
剤としては、例えば、ジヒドロピリジン誘導体、ジアゾ
ナフトキノンスルホン酸エステル誘導体、芳香族ジアジ
ド化合物などが挙げられる。
As the photosensitizer used in the present invention, any photosensitizer can be used as long as it can obtain a solubility contrast between an exposed portion and an unexposed portion when the polybenzoxazole precursor is exposed. Examples of such a photosensitizer include a dihydropyridine derivative, a diazonaphthoquinonesulfonic acid ester derivative, and an aromatic diazide compound.

【0031】これら感光剤のうちでは、アルカリ水溶液
で現像が可能で、ポジ型の画像を得ることができるジア
ゾナフトキノンスルホン酸エステル誘導体が好ましく用
いられる。
Among these sensitizers, a diazonaphthoquinone sulfonic acid ester derivative which can be developed with an alkaline aqueous solution and can form a positive image is preferably used.

【0032】ジアゾナフトキノンスルホン酸エステル誘
導体は、1,2−ベンゾキノンジアジド、あるいは、
1,2−ナフトキノンジアジド構造を有する化合物であ
って、特に限定されないが、例えば、下記の構造式で示
される化合物などが挙げられる。なお、このようなジア
ゾナフトキノンスルホン酸エステル誘導体は、単独で用
いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
The diazonaphthoquinone sulfonate derivative is 1,2-benzoquinone diazide, or
It is a compound having a 1,2-naphthoquinonediazide structure and is not particularly limited, and examples thereof include compounds represented by the following structural formulas. In addition, such a diazonaphthoquinone sulfonic acid ester derivative may be used alone or in combination of two or more kinds.

【0033】[0033]

【化7】 感光剤の配合量は、ポリベンゾオキサゾール前駆体10
0重量部に対して、通常、1〜100重量部の範囲で用
いられる。1重量部未満であると、パターンニング性が
不良となる場合があり、また、100重量部を超える
と、皮膜の機械的強度が著しく低下する場合がある。
[Chemical 7] The blending amount of the photosensitizing agent is the polybenzoxazole precursor 10
It is usually used in the range of 1 to 100 parts by weight with respect to 0 parts by weight. If it is less than 1 part by weight, the patterning property may be poor, and if it exceeds 100 parts by weight, the mechanical strength of the coating may be significantly reduced.

【0034】また、本発明に用いられる分散性化合物
は、ポリベンゾオキサゾール前駆体に対して分散し得る
化合物であって、より具体的には、ポリベンゾオキサゾ
ール前駆体に対して微粒子としてミクロ相分離して、海
島構造を形成し得る化合物である。本発明に用いられる
分散性化合物は、そのような化合物であれば、特に制限
されないが、ポリベンゾオキサゾール前駆体に対して完
全に相溶しないものが好ましく、また、加熱により揮散
するか、もしくは、分解して炭化するもの、あるいは、
特定の溶剤によって抽出できるものが好ましく用いられ
る。そのような化合物としては、例えば、同一あるいは
相異なる単量体が2以上重合している比較的低重合度の
オリゴマーが挙げられ、より具体的には、例えば、ポリ
アクリレートオリゴマー、ポリエーテルオリゴマー、ポ
リエステルオリゴマー、ポリウレタンオリゴマーなどが
挙げられる。
The dispersible compound used in the present invention is a compound dispersible in the polybenzoxazole precursor, and more specifically, it is microphase-separated as fine particles in the polybenzoxazole precursor. Then, it is a compound capable of forming a sea-island structure. The dispersible compound used in the present invention is not particularly limited as long as it is such a compound, but a compound that is not completely compatible with the polybenzoxazole precursor is preferable, or it is volatilized by heating, or, Decomposes and carbonizes, or
Those that can be extracted with a specific solvent are preferably used. Examples of such a compound include oligomers having a relatively low degree of polymerization in which two or more of the same or different monomers are polymerized, and more specifically, for example, polyacrylate oligomer, polyether oligomer, Examples thereof include polyester oligomers and polyurethane oligomers.

【0035】ポリアクリレートオリゴマーとしては、例
えば、ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオ
ペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチ
ロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエ
リスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、エポキシ
(メタ)アクリレート、オリゴエステル(メタ)アクリ
レートなどが挙げられる。
Examples of the polyacrylate oligomer include hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, epoxy (meth). Acrylate, oligoester (meth) acrylate, etc. are mentioned.

【0036】ポリエーテルオリゴマーとしては、例え
ば、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコー
ル、ポリブチレングリコール、および、それらの片末端
もしくは両末端が、メチル、フェニル、(メタ)アクリ
レートなどのブロック剤で封鎖されている封鎖物などが
挙げられる。
As the polyether oligomer, for example, polyethylene glycol, polypropylene glycol, polybutylene glycol, and one end or both ends of which are blocked with a blocking agent such as methyl, phenyl or (meth) acrylate. The thing etc. are mentioned.

【0037】ポリエステルオリゴマーとしては、例え
ば、ε−カプロラクトン、および、それらの片末端もし
くは両末端が、メチル、フェニル、(メタ)アクリレー
トなどのブロック剤で封鎖されている封鎖物などが挙げ
られる。
Examples of the polyester oligomer include ε-caprolactone and a blocked product in which one end or both ends thereof are blocked with a blocking agent such as methyl, phenyl or (meth) acrylate.

【0038】ポリウレタンオリゴマーとしては、例え
ば、ポリエーテルポリオール、ポリエステルポリオー
ル、ポリカーボネートポリオール、ポリブタジエンポリ
オールなどのマクロポリオールと、ポリイソシアネート
モノマーとの反応生成物などのウレタンポリオール、例
えば、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、フェニ
ルグリシジルエーテルアクリレート、ペンタエリスリト
ールトリアクリレート、グリセリンジメタクリレートな
どのヒドロキシ(メタ)アクリレートモノマーと、メチ
レンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、イ
ソホロンジイソシアネートなどのポリイソシアネートモ
ノマー、あるいは、上記したウレタンポリオールとの反
応生成物などのウレタンアクリレートなどが挙げられ
る。
Examples of the polyurethane oligomer include urethane polyols such as reaction products of macropolyols such as polyether polyols, polyester polyols, polycarbonate polyols and polybutadiene polyols, and polyisocyanate monomers such as hydroxyethyl (meth) acrylate. Reaction products of hydroxy (meth) acrylate monomers such as phenylglycidyl ether acrylate, pentaerythritol triacrylate and glycerin dimethacrylate with polyisocyanate monomers such as methylene diisocyanate, tolylene diisocyanate and isophorone diisocyanate, or the above urethane polyols The urethane acrylate of

【0039】このような分散性化合物は、単独で用いて
もよいし、2種以上を併用してもよい。また、その重量
平均分子量が、150〜10000、さらには、300
〜5000の範囲にあることが好ましい。150未満で
あると、ポリベンゾオキサゾール前駆体に対して良好に
相溶してしまう場合があり、一方、10000を超える
と、微細に分散させることができない場合がある。ま
た、このような分散性化合物は、ポリベンゾオキサゾー
ル前駆体100重量部に対して、通常、200重量部以
下、多孔質樹脂の気泡のサイズを微細(10μm未満)
とするためには、好ましくは、10〜200重量部、と
りわけ、誘電率を3以下とするするためには、好ましく
は、30〜100重量部の範囲で用いられる。
Such dispersible compounds may be used alone or in combination of two or more kinds. The weight average molecular weight thereof is 150 to 10,000, and further 300
It is preferably in the range of to 5000. If it is less than 150, it may be satisfactorily compatible with the polybenzoxazole precursor, while if it exceeds 10,000, fine dispersion may not be possible in some cases. Further, such a dispersible compound is usually 200 parts by weight or less based on 100 parts by weight of the polybenzoxazole precursor, and the size of the bubbles of the porous resin is fine (less than 10 μm).
In order to achieve the above, it is preferably used in the range of 10 to 200 parts by weight, and more preferably in the range of 30 to 100 parts by weight in order to reduce the dielectric constant to 3 or less.

【0040】また、本発明に用いられる溶剤は、ポリベ
ンゾオキサゾール前駆体の合成に用いた反応溶媒をその
まま用いてもよく、さらに、そのような反応溶媒ととも
に、あるいは、反応溶媒に代えて、例えば、1,3−ジ
メチル−2−イミダゾリジノン、ジグライム、トリグラ
イム、テトラヒドロフラン、ジオキサン、シクロヘキサ
ン、トルエン、キシレンなどの有機溶剤を、単独もしく
は2種以上併用して用いてもよい。溶媒の使用量は、特
に限定されないが、使用量を調整することによって、通
常、その目的および用途に応じた感光性樹脂組成物の粘
度を調整する。通常は、ポリベンゾオキサゾール前駆
体、感光剤および分散性化合物の合計量に対して、重量
比で、等量〜100倍量、好ましくは、2〜50倍量の
範囲で用いられる。
As the solvent used in the present invention, the reaction solvent used for synthesizing the polybenzoxazole precursor may be used as it is, and further, together with such a reaction solvent or in place of the reaction solvent, for example, Organic solvents such as 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone, diglyme, triglyme, tetrahydrofuran, dioxane, cyclohexane, toluene and xylene may be used alone or in combination of two or more. The amount of the solvent used is not particularly limited, but the viscosity of the photosensitive resin composition is usually adjusted according to the purpose and use by adjusting the amount used. Usually, it is used in a range of from 1 to 100 times by weight, preferably from 2 to 50 times by weight, based on the total amount of the polybenzoxazole precursor, the photosensitizer and the dispersible compound.

【0041】そして、本発明の感光性樹脂組成物は、ポ
リベンゾオキサゾール前駆体、感光剤、分散性化合物お
よび溶媒を、上記した割合において、適宜公知の方法に
よって配合すればよい。このようにして得られた本発明
の感光性樹脂組成物は、高い耐熱性、寸法安定性、絶縁
性を有し、しかも、均一で微細な気泡を有し、低誘電率
で微細なパターンを形成しやすい多孔質樹脂、とりわ
け、回路基板の絶縁層を形成するための多孔質樹脂の原
料として好適に用いられる。
In the photosensitive resin composition of the present invention, the polybenzoxazole precursor, the photosensitizer, the dispersible compound and the solvent may be blended in the above-mentioned proportions by a known method. The thus-obtained photosensitive resin composition of the present invention has high heat resistance, dimensional stability, and insulating properties, and further, has uniform and fine bubbles, and has a low dielectric constant and a fine pattern. It is preferably used as a raw material of a porous resin that is easy to form, especially a porous resin for forming an insulating layer of a circuit board.

【0042】次に、本発明の感光性樹脂組成物を用い
て、多孔質樹脂を製造する方法を、多孔質樹脂からなる
回路基板の絶縁層を形成する方法を例にとって説明す
る。
Next, a method for producing a porous resin using the photosensitive resin composition of the present invention will be described by taking as an example a method for forming an insulating layer of a circuit board made of the porous resin.

【0043】この方法では、図1(a)に示すように、
まず、所定の基材1を用意して、図1(b)に示すよう
に、感光性樹脂組成物2を、その基材1上に塗工した
後、熱風乾燥などにより乾燥させて、感光性樹脂組成物
2から溶剤を除去して皮膜を形成する。
In this method, as shown in FIG.
First, a predetermined base material 1 is prepared, and as shown in FIG. 1 (b), the photosensitive resin composition 2 is applied onto the base material 1 and then dried by hot air drying or the like to form a photosensitive material. The solvent is removed from the resin composition 2 to form a film.

【0044】基材としては、例えば、銅、アルミニウ
ム、ステンレス、銅−ベリリウム、リン青銅、鉄−ニッ
ケルなどの金属または合金の箔または板、例えば、シリ
コンウエハー、ガラスなどのセラミックの箔または板、
例えば、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリエステル樹
脂などのプラスチックのフィルムなどが挙げられる。
Examples of the substrate include metal or alloy foils or plates such as copper, aluminum, stainless steel, copper-beryllium, phosphor bronze, iron-nickel, etc., such as silicon wafers, ceramic foils or plates such as glass,
Examples thereof include plastic films such as polybenzoxazole resin and polyester resin.

【0045】感光性樹脂組成物の塗工は、例えば、スピ
ンコータ、バーコータなどの公知の塗工方法によればよ
く、基材の形状や、塗工の厚さに合わせて、適宜好適な
方法により塗工すればよい。また、その乾燥後の厚み
が、0.1〜50μm、好ましくは、1〜25μmとな
るように塗工することが好ましい。なお、塗工の前に、
基材の表面に、予めシランカップリング剤やチタネート
系カップリング剤を下塗りしておくことによって、密着
性を向上させることができる。
The coating of the photosensitive resin composition may be carried out by a known coating method such as spin coater or bar coater, and may be appropriately selected depending on the shape of the substrate and the thickness of the coating. Just apply it. Further, it is preferable to apply the coating so that the thickness after drying is 0.1 to 50 μm, preferably 1 to 25 μm. In addition, before coating,
Adhesion can be improved by pre-coating the surface of the substrate with a silane coupling agent or a titanate coupling agent in advance.

【0046】そして、乾燥は、通常、40℃〜120℃
で行なう。40℃より低いときは、溶剤の除去速度が遅
く、また、120℃より高いときは、感光剤が熱分解す
る場合がある。好適には、60〜100℃にて行なう。
このような乾燥によって、溶剤が除去されることによ
り、図1(b)にモデル的に示されるように、分散性化
合物3が、ポリベンゾオキサゾール前駆体4に対して不
溶化して、微細な粒子としてミクロ相分離し、ポリベン
ゾオキサゾール前駆体4中に分散性化合物3の海島構造
が形成される。
The drying is usually 40 ° C to 120 ° C.
To do. When it is lower than 40 ° C, the removal rate of the solvent is slow, and when it is higher than 120 ° C, the photosensitizer may be thermally decomposed. It is preferably carried out at 60 to 100 ° C.
By the solvent being removed by such drying, the dispersible compound 3 becomes insoluble in the polybenzoxazole precursor 4 as shown in a model in FIG. 1B, and fine particles are obtained. As a result, a micro-phase separation occurs, and a sea-island structure of the dispersible compound 3 is formed in the polybenzoxazole precursor 4.

【0047】次いで、図1(c)に示すように、乾燥さ
れた感光性樹脂組成物2に、フォトマスク5を介して活
性光線を照射することによって露光を行なった後、必要
により加熱することによって、ポジ型またはネガ型の潜
像を形成し、これを現像することによって、ポジ型また
はネガ型の画像、すなわち、所要のパターンを形成す
る。より具体的には、ポリベンゾオキサゾール前駆体
は、用いる感光剤の種類によっていくらか異なるもの
の、例えば、ジアゾナフトキノンスルホン酸エステル誘
導体の場合は、露光部が現像液に溶解して、ポジ型画像
を形成する。
Next, as shown in FIG. 1 (c), the dried photosensitive resin composition 2 is exposed by irradiating it with an actinic ray through a photomask 5, and then heating it if necessary. To form a positive or negative latent image, and by developing the latent image, a positive or negative image, that is, a required pattern is formed. More specifically, although the polybenzoxazole precursor is somewhat different depending on the type of the photosensitizer used, in the case of a diazonaphthoquinone sulfonate derivative, for example, the exposed part is dissolved in a developer to form a positive image. To do.

【0048】現像は、浸漬法やスプレー法などの公知の
方法により行なえばよく、現像温度は、通常、25〜5
0℃の範囲が適当である。また、用いられる現像液とし
ては、例えば、良溶媒(N、N−ジメチルホルムアミ
ド、N、N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−
ピロリドンなど)と貧溶媒(低級アルコール、ケトン、
水、芳香族炭化水素など)との混合溶媒、塩基性溶媒
(水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液、トリエタノ
ールアミン水溶液、水溶性有機アミン化合物など)など
が挙げられる。
The development may be carried out by a known method such as a dipping method or a spray method, and the developing temperature is usually 25 to 5
A range of 0 ° C is suitable. The developing solution used is, for example, a good solvent (N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-).
Pyrrolidone, etc.) and poor solvent (lower alcohol, ketone,
Examples thereof include a mixed solvent with water and aromatic hydrocarbon), a basic solvent (tetramethylammonium hydroxide aqueous solution, triethanolamine aqueous solution, water-soluble organic amine compound, etc.), and the like.

【0049】なお、この方法においては、ポジ型画像で
現像することが好ましく、図1(d)においては、ポジ
型画像でパターン化された態様が示されている。
In this method, it is preferable to develop with a positive type image, and FIG. 1 (d) shows a mode in which the image is patterned with a positive type image.

【0050】そして、図1(d)に示すように、感光性
樹脂組成物2から分散性化合物3を除去することによ
り、ポリベンゾオキサゾール前駆体4を多孔化する。
Then, as shown in FIG. 1D, the polybenzoxazole precursor 4 is made porous by removing the dispersible compound 3 from the photosensitive resin composition 2.

【0051】感光性樹脂組成物から分散性化合物を除去
する方法としては、加熱により揮散させる、または、分
解して炭化する、あるいは、特定の溶剤によって抽出す
るなど、公知の方法が用いられる。これらの方法のう
ち、特定の溶剤によって抽出する方法が好ましい。溶剤
により抽出すれば、加熱によって除去しきれない分散性
化合物の残さを取り除くことができ、誘電率をさらに低
下させることができる。
As a method of removing the dispersible compound from the photosensitive resin composition, a known method such as volatilization by heating, decomposition and carbonization, or extraction with a specific solvent is used. Of these methods, the method of extracting with a specific solvent is preferable. By extracting with a solvent, the residue of the dispersible compound that cannot be completely removed by heating can be removed, and the dielectric constant can be further reduced.

【0052】抽出溶剤としては、通常用いられる有機溶
剤でよく、ポリベンゾオキサゾール前駆体の組成や分散
性化合物の種類によって、適宜選択すればよい。そのよ
うな有機溶剤としては、例えば、N−メチル−2−ピロ
リドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメ
チルホルムアミド、1,3−ジメチル−2−イミダゾリ
ジノン、ジメチルスルホキシド、ジグライム、トリグラ
イムなどの極性溶剤、例えば、テトラヒドロフラン、ジ
オキサンなどのエーテル系溶剤、例えば、シクロヘキサ
ノン、メチルエチルケトン、アセトンなどのケトン系溶
剤、例えば、トルエン、キシレンなどの芳香族炭化水素
系溶剤、例えば、メタノール、エタノール、イソプロパ
ノールなどのアルコール系溶剤などが挙げられる。それ
らは、単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよ
い。
The extraction solvent may be a commonly used organic solvent, and may be appropriately selected depending on the composition of the polybenzoxazole precursor and the kind of the dispersible compound. Examples of such an organic solvent include N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone, dimethyl sulfoxide, diglyme, and triglyme. Such as a polar solvent, for example, tetrahydrofuran, an ether solvent such as dioxane, for example, cyclohexanone, methyl ethyl ketone, a ketone solvent such as acetone, for example, an aromatic hydrocarbon solvent such as toluene, xylene, for example, methanol, ethanol, isopropanol Examples thereof include alcohol solvents. They may be used alone or in combination of two or more.

【0053】また、この抽出による方法では、特に、液
化二酸化炭素、もしくは、高温高圧状態あるいは超臨界
状態にある二酸化炭素を用いることが好ましい。このよ
うな二酸化炭素を用いて抽出すれば、抽出効率を格段に
向上させることができ、良好に多孔化することができ
る。このような二酸化炭素を用いる場合には、例えば、
耐圧容器中で、0〜150℃、さらには、20〜120
℃で、3.5〜100MPa、さらには、6〜50MP
aで抽出を行なうことが好ましい。
In the extraction method, it is particularly preferable to use liquefied carbon dioxide or carbon dioxide in a high temperature and high pressure state or a supercritical state. If extraction is performed using such carbon dioxide, the extraction efficiency can be markedly improved and good porosity can be achieved. When using such carbon dioxide, for example,
0 to 150 ° C in the pressure vessel, and further 20 to 120
3.5 to 100 MPa, further 6 to 50 MP at ℃
It is preferable to carry out the extraction with a.

【0054】なお、このような、感光性樹脂組成物から
分散性化合物を除去する工程は、本発明の感光性樹脂組
成物から多孔質樹脂を得る工程中の、どの工程において
行なってもよく、独立に、または、全行程を通じて行な
ってもよい。すなわち、この説明においては、この工程
を、感光性樹脂組成物をパターン化した後、次に述べる
感光性樹脂組成物を硬化させる前の工程として述べてい
るが、感光性樹脂組成物から溶剤を除去して、ポリベン
ゾオキサゾール前駆体中に分散性化合物が分散した状態
を形成した後であれば、どの工程において行なってもよ
く、感光性樹脂組成物の露光前、露光後加熱前、加熱後
現像前、現像後、および、次に述べる硬化の前後、もし
くは、これらの各工程において複数回にわたって行なっ
てもよい。
The step of removing the dispersible compound from the photosensitive resin composition may be performed at any step in the step of obtaining the porous resin from the photosensitive resin composition of the present invention. It may be done independently or throughout the entire process. That is, in this description, this step is described as a step after patterning the photosensitive resin composition and before curing the photosensitive resin composition described below, but a solvent is removed from the photosensitive resin composition. It may be carried out in any step as long as it is removed to form a state in which the dispersible compound is dispersed in the polybenzoxazole precursor. Before exposure of the photosensitive resin composition, after exposure, before heating, and after heating. It may be performed before development, after development, before and after the curing described below, or plural times in each of these steps.

【0055】そして、図1(e)に示すように、このよ
うに形成された感光性樹脂組成物2を硬化させることに
より、本発明の多孔質樹脂からなる絶縁層6を得ること
ができる。硬化は、公知の方法により行なえばよく、例
えば、真空下、不活性ガス雰囲気下もしくは大気雰囲気
下において、350℃〜400℃程度で、数時間、加熱
することが好ましい。これによって、ポリベンゾオキサ
ゾール前駆体が環化されて、ポリベンゾオキサゾール樹
脂からなる多孔質樹脂の絶縁層が形成される。
Then, as shown in FIG. 1E, by curing the photosensitive resin composition 2 thus formed, the insulating layer 6 made of the porous resin of the present invention can be obtained. The curing may be performed by a known method, and for example, it is preferable to heat at a temperature of about 350 ° C. to 400 ° C. for several hours in a vacuum, an inert gas atmosphere or an air atmosphere. As a result, the polybenzoxazole precursor is cyclized to form an insulating layer of a porous resin made of polybenzoxazole resin.

【0056】そして、回路基板として使用するために
は、例えば、図2(a)に示すように、この絶縁層6を
ベース層6として、そのベース層6の上に、導体層7
を、例えば、サブトラクティブ法、アディティブ法、セ
ミアディティブ法などの公知のパターンニング法によっ
て、所定の回路パターンとして形成し、次いで、図2
(b)に示すように、必要により、その導体層7を絶縁
層からなるカバー層8によって被覆すればよい。なお、
導体層を形成するための導体としては、例えば、銅、ニ
ッケル、金、はんだ、またはこれらの合金などが用いら
れ、その厚みは、通常、1〜15μmである。また、カ
バー層としては、本発明の多孔質樹脂を用いてもよく、
また、その他の、カバー層として通常用いられる公知の
樹脂を用いてもよい。カバー層の厚みは、通常、2〜2
5μmである。
For use as a circuit board, for example, as shown in FIG. 2A, the insulating layer 6 is used as the base layer 6 and the conductor layer 7 is formed on the base layer 6.
Are formed into a predetermined circuit pattern by a known patterning method such as a subtractive method, an additive method, a semi-additive method, and then, as shown in FIG.
As shown in (b), if necessary, the conductor layer 7 may be covered with a cover layer 8 made of an insulating layer. In addition,
As the conductor for forming the conductor layer, for example, copper, nickel, gold, solder, or an alloy thereof is used, and the thickness thereof is usually 1 to 15 μm. Further, as the cover layer, the porous resin of the present invention may be used,
Moreover, you may use the other well-known resin normally used as a cover layer. The thickness of the cover layer is usually 2 to 2
It is 5 μm.

【0057】このようにして得られる絶縁層は、ポリベ
ンゾオキサゾール樹脂からなるので、高い耐熱性、寸法
安定性、絶縁性能を有し、しかも、10μm未満、さら
には、5μm未満の均一で微細な気泡を有しているた
め、ラインアンドスペースが精細な回路パターンを形成
することができ、かつ、誘電率が3以下、さらには、
2.5以下の低誘電率であるため、高周波特性を向上さ
せることができる。そのため、回路基板、好ましくは、
フレキシブル配線板のベース層、カバー層あるいは中間
絶縁層などとして好適に用いることができ、このような
絶縁層を有する回路基板は、高周波電気信号を高速に伝
達することのできる回路基板として有効に用いることが
できる。
Since the insulating layer thus obtained is made of polybenzoxazole resin, it has high heat resistance, dimensional stability, and insulating performance, and is uniform and fine with a size of less than 10 μm, further less than 5 μm. Since it has bubbles, it is possible to form a circuit pattern with a fine line and space, and a dielectric constant of 3 or less.
Since it has a low dielectric constant of 2.5 or less, high frequency characteristics can be improved. Therefore, a circuit board, preferably,
It can be suitably used as a base layer, a cover layer or an intermediate insulating layer of a flexible wiring board, and a circuit board having such an insulating layer is effectively used as a circuit board capable of transmitting high frequency electric signals at high speed. be able to.

【0058】とりわけ、本発明の多孔質樹脂からなる絶
縁層を、ハードディスクドライブの磁気ヘッドを実装す
る回路付サスペンション基板の絶縁層として用いれば、
そのような絶縁層を有する回路付サスペンション基板
は、磁気ヘッドにより読み書きされる大量の情報を、高
速に伝達することができる。
In particular, when the insulating layer made of the porous resin of the present invention is used as the insulating layer of the suspension board with circuit for mounting the magnetic head of the hard disk drive,
The suspension board with circuit having such an insulating layer can transmit a large amount of information read and written by the magnetic head at high speed.

【0059】次に、本発明の多孔質樹脂を、そのような
回路付サスペンション基板として用いる、具体的な態様
について詳述する。
Next, the specific mode of using the porous resin of the present invention as such a suspension board with circuit will be described in detail.

【0060】図3は、本発明の多孔質樹脂が、絶縁層と
して用いられている回路付サスペンション基板の、一実
施形態の斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view of an embodiment of a suspension board with circuit in which the porous resin of the present invention is used as an insulating layer.

【0061】図3において、この回路付サスペンション
基板11は、ハードディスクドライブの磁気ヘッド(図
示せず)を実装して、その磁気ヘッドを、磁気ヘッドと
磁気ディスクとが相対的に走行する時の空気流に抗し
て、磁気ディスクとの間に微小な間隔を保持しながら支
持するものであり、磁気ヘッドと、外部の回路としての
リード・ライト基板とを接続するための配線が、所定の
回路パターンとして一体に形成されている。
In FIG. 3, the suspension board with circuit 11 is mounted with a magnetic head (not shown) of a hard disk drive, and the magnetic head is used for air flow when the magnetic head and the magnetic disk travel relatively. It is to support the magnetic disk while maintaining a minute gap between the magnetic disk and the magnetic disk, and the wiring for connecting the magnetic head and the read / write substrate as an external circuit has a predetermined circuit. It is integrally formed as a pattern.

【0062】このような回路付サスペンション基板11
は、長手方向に延びる支持基板12の上に、ベース層1
3が形成されており、そのベース層13の上に、所定の
回路パターンとして形成される導体層14が形成されて
いる。なお、この回路パターンは、互いに所定の間隔を
隔てて平行状に配置される複数の配線14a、14b、
14c、14dによって構成されている。支持基板12
の先端部には、その支持基板12を切り込むことによっ
て、磁気ヘッドを実装するためのジンバル15が形成さ
れている。また、その支持基板12の先端部には、磁気
ヘッドと各配線14a、14b、14c、14dとを接
続するための磁気ヘッド側接続端子16が形成されると
ともに、支持基板12の後端部には、リード・ライト基
板と各配線14a、14b、14c、14dとを接続す
るための外部側接続端子17が形成されている。なお、
図3においては、図示されていないが、実際には、導体
層14の上には、絶縁体からなるカバー層18が被覆さ
れている。
Such a suspension board with circuit 11
On the supporting substrate 12 extending in the longitudinal direction, the base layer 1
3 is formed, and the conductor layer 14 formed as a predetermined circuit pattern is formed on the base layer 13. The circuit pattern includes a plurality of wirings 14a, 14b, which are arranged in parallel with each other at a predetermined distance.
It is composed of 14c and 14d. Support substrate 12
A gimbal 15 for mounting a magnetic head is formed at the tip of the substrate by cutting the support substrate 12. Further, a magnetic head side connection terminal 16 for connecting the magnetic head to each of the wirings 14a, 14b, 14c, 14d is formed at the tip of the support substrate 12, and at the rear end of the support substrate 12. Is formed with external connection terminals 17 for connecting the read / write substrate and the respective wirings 14a, 14b, 14c, 14d. In addition,
Although not shown in FIG. 3, the conductor layer 14 is actually covered with a cover layer 18 made of an insulator.

【0063】次に、このような回路付サスペンション基
板11を製造する方法の一実施形態について、図4〜図
6を参照して詳述する。なお、図4〜図6においては、
回路付サスペンション基板11の長手方向途中を、その
回路付サスペンション基板11の長手方向に直交する方
向に沿う断面として示している。
Next, one embodiment of a method of manufacturing such a suspension board with circuit 11 will be described in detail with reference to FIGS. In addition, in FIG. 4 to FIG.
The middle of the suspension board with circuit 11 in the longitudinal direction is shown as a cross section along a direction orthogonal to the longitudinal direction of the suspension board with circuit 11.

【0064】まず、図4に示すように、支持基板12を
用意して、その支持基板12の上に、所定のパターンで
ベース層13を形成する。支持基板12としては、金属
箔または金属薄板を用いることが好ましく、例えば、ス
テンレス、42アロイなどが好ましく用いられる。ま
た、その厚さが、10〜60μm、さらには、15〜3
0μm、その幅が、50〜500mm、さらには、12
5〜300mmのものが好ましく用いられる。
First, as shown in FIG. 4, the support substrate 12 is prepared, and the base layer 13 is formed on the support substrate 12 in a predetermined pattern. As the support substrate 12, it is preferable to use a metal foil or a metal thin plate, and for example, stainless steel, 42 alloy or the like is preferably used. The thickness is 10 to 60 μm, and further 15 to 3
0 μm, the width is 50 to 500 mm, and further 12
Those having a diameter of 5 to 300 mm are preferably used.

【0065】そして、まず、図4(a)に示すように、
予め用意された支持基板12上に、図4(b)に示すよ
うに、感光性樹脂組成物を、その支持基板12の全面に
塗工した後、40℃〜120℃で乾燥することにより、
溶剤を除去してポリベンゾオキサゾール前駆体4中に分
散性化合物3を分散させるとともに、感光性樹脂組成物
の皮膜13aを形成する。
First, as shown in FIG.
As shown in FIG. 4B, a photosensitive resin composition is applied to the surface of the supporting substrate 12 prepared in advance and then dried at 40 ° C. to 120 ° C., as shown in FIG. 4B.
The solvent is removed to disperse the dispersible compound 3 in the polybenzoxazole precursor 4, and the film 13a of the photosensitive resin composition is formed.

【0066】次に、図4(c)に示すように、その皮膜
13aを、フォトマスク24を介して露光させた後、ポ
ジ型画像またはネガ型画像で現像することにより、皮膜
13aを所定のパターンとする。なお、フォトマスク2
4を介して照射する照射線は、その露光波長が、300
〜450nm、さらには、350〜420nmであるこ
とが好ましく、その露光積算光量が、100〜5000
mJ/cm2、さらには、200〜3000mJ/cm2
であることが好ましい。なお、図4においては、ポジ型
画像でパターン化された態様が示されている。
Next, as shown in FIG. 4C, the film 13a is exposed through a photomask 24 and then developed with a positive image or a negative image to form the film 13a into a predetermined pattern. Use as a pattern. Note that the photomask 2
The exposure wavelength of the irradiation ray radiated via 4 is 300
To 450 nm, more preferably 350 to 420 nm, and the integrated light quantity of exposure is 100 to 5000.
mJ / cm 2, and further, 200~3000mJ / cm 2
Is preferred. Note that FIG. 4 shows a mode in which a positive image is patterned.

【0067】そして、図4(d)に示すように、皮膜1
3aから分散性化合物3を除去することにより、ポリベ
ンゾオキサゾール前駆体4を多孔化する。分散性化合物
3の除去は、加熱、分解、抽出のいずれの方法でもよい
が、好ましくは、抽出が用いられる。
Then, as shown in FIG. 4D, the film 1
The polybenzoxazole precursor 4 is made porous by removing the dispersible compound 3 from 3a. The dispersible compound 3 may be removed by any of heating, decomposition and extraction, but extraction is preferably used.

【0068】次いで、図4(e)に示すように、ポリベ
ンゾオキサゾール前駆体4の皮膜13aを、350℃〜
400℃程度で、数時間、加熱することによって、ポリ
ベンゾオキサゾール前駆体4を環化して、ポリベンゾオ
キサゾール樹脂からなる多孔質のベース層13を形成す
る。なお、このようにして形成されるベース層13の厚
みは、通常、2〜20μm、好ましくは、5〜10μm
である。
Next, as shown in FIG. 4 (e), the coating film 13a of the polybenzoxazole precursor 4 is formed at 350 ° C.
By heating at about 400 ° C. for several hours, the polybenzoxazole precursor 4 is cyclized to form the porous base layer 13 made of a polybenzoxazole resin. The thickness of the base layer 13 thus formed is usually 2 to 20 μm, preferably 5 to 10 μm.
Is.

【0069】次いで、図5に示すように、ベース層13
の上に、所定の回路パターンで導体層14を形成する。
導体層14を形成するための導体としては、回路付サス
ペンション基板の導体として使用できるものであれば、
特に制限されることなく使用することができる。そのよ
うな導体としては、例えば、銅、ニッケル、金、はん
だ、またはこれらの合金などが用いられ、好ましくは、
銅が用いられる。また、所定の回路パターンで導体層1
4を形成するには、例えば、サブトラクティブ法、アデ
ィティブ法、セミアディティブ法などの公知のパターン
ニング法のいずれでもよいが、好ましくは、セミアディ
ティブ法が用いられる。すなわち、まず、図5(a)に
示すように、支持基板12およびベース層13の全面
に、下地20となる導体の薄膜を形成する。下地20の
形成は、真空蒸着法、とりわけ、スパッタ蒸着法が好ま
しく用いられる。また、下地20となる導体は、クロム
や銅などが好ましく用いられる。より具体的には、例え
ば、支持基板12およびベース層13の全面に、クロム
薄膜と銅薄膜とをスパッタ蒸着法によって、順次に形成
することが好ましい。なお、クロム薄膜の厚みが、10
0〜600Å、銅薄膜の厚みが、500〜2000Åで
あることが好ましい。
Then, as shown in FIG.
The conductor layer 14 is formed thereon with a predetermined circuit pattern.
As the conductor for forming the conductor layer 14, any conductor can be used as a conductor of the suspension board with circuit.
It can be used without particular limitation. As such a conductor, for example, copper, nickel, gold, solder, or an alloy thereof is used, and preferably,
Copper is used. In addition, the conductor layer 1 has a predetermined circuit pattern.
4 may be formed by any known patterning method such as a subtractive method, an additive method, a semi-additive method, etc., but a semi-additive method is preferably used. That is, first, as shown in FIG. 5A, a thin film of a conductor serving as the base 20 is formed on the entire surfaces of the support substrate 12 and the base layer 13. For forming the base 20, a vacuum vapor deposition method, particularly a sputter vapor deposition method is preferably used. In addition, chromium, copper, or the like is preferably used for the conductor that becomes the base 20. More specifically, for example, it is preferable to sequentially form a chromium thin film and a copper thin film on the entire surface of the support substrate 12 and the base layer 13 by a sputter deposition method. The thickness of the chromium thin film is 10
The thickness of the copper thin film is preferably 0 to 600Å and the thickness of the copper thin film is preferably 500 to 2000Å.

【0070】次いで、図5(b)に示すように、その下
地20の上に、所定の回路パターンと逆パターンのめっ
きレジスト21を形成する。めっきレジスト21は、例
えば、ドライフィルムレジストなどを用いて公知の方法
により、所定のレジストパターンとして形成すればよ
い。次いで、図5(c)に示すように、ベース層13に
おけるめっきレジスト21が形成されていない部分に、
めっきにより、所定の回路パターンの導体層14を形成
する。めっきは、電解めっき、無電解めっきのいずれで
もよいが、電解めっきが好ましく用いられ、なかでも、
電解銅めっきが好ましく用いられる。なお、この回路パ
ターンは、例えば、図1に示されるように、互いに所定
の間隔を隔てて平行状に配置される、複数の配線14
a、14b、14c、14dパターンとして形成する。
導体層14の厚みは、通常、2〜50μm、好ましく
は、5〜30μmであり、各配線14a、14b、14
c、14dの幅は、通常、5〜500μm、好ましく
は、10〜200μmであり、各配線14a、14b、
14c、14d間の間隔は、通常、5〜500μm、好
ましくは、10〜200μmである。
Next, as shown in FIG. 5B, a plating resist 21 having a pattern opposite to the predetermined circuit pattern is formed on the underlayer 20. The plating resist 21 may be formed into a predetermined resist pattern by a known method using, for example, a dry film resist. Next, as shown in FIG. 5C, a portion of the base layer 13 where the plating resist 21 is not formed is
The conductor layer 14 having a predetermined circuit pattern is formed by plating. Plating may be either electrolytic plating or electroless plating, but electrolytic plating is preferably used, among which,
Electrolytic copper plating is preferably used. Note that this circuit pattern includes, for example, as shown in FIG. 1, a plurality of wirings 14 arranged in parallel with each other at a predetermined interval.
It is formed as a, 14b, 14c and 14d patterns.
The conductor layer 14 has a thickness of usually 2 to 50 μm, preferably 5 to 30 μm, and each of the wirings 14 a, 14 b, 14
The widths of c and 14d are usually 5 to 500 μm, preferably 10 to 200 μm, and the respective wirings 14a, 14b,
The distance between 14c and 14d is usually 5 to 500 μm, preferably 10 to 200 μm.

【0071】そして、図5(d)に示すように、めっき
レジスト21を、例えば、化学エッチング(ウェットエ
ッチング)などの公知のエッチング法または剥離によっ
て除去した後、図5(e)に示すように、めっきレジス
ト21が形成されていた下地20を、同じく、化学エッ
チング(ウェットエッチング)など公知のエッチング法
により除去する。これによって、ベース層13の上に、
導体層14を所定の回路パターンとして形成する。
Then, as shown in FIG. 5 (d), the plating resist 21 is removed by a known etching method such as chemical etching (wet etching) or peeling, and then as shown in FIG. 5 (e). Similarly, the base 20 on which the plating resist 21 has been formed is removed by a known etching method such as chemical etching (wet etching). Thereby, on the base layer 13,
The conductor layer 14 is formed as a predetermined circuit pattern.

【0072】次いで、図6に示すように、導体層14の
表面を金属皮膜22により保護した後、この導体層14
を、絶縁体からなるカバー層18により被覆する。すな
わち、まず、図6(a)に示すように、導体層14の表
面、および、支持基板12の表面に、金属皮膜22を形
成する。この金属皮膜22は、無電解ニッケルめっきに
よって、硬質のニッケル薄膜として形成することが好ま
しく、その厚みは、導体層14の表面が露出しない程度
であればよく、例えば、0.05〜0.2μm程度であ
ればよい。
Next, as shown in FIG. 6, after the surface of the conductor layer 14 is protected by the metal film 22, the conductor layer 14 is protected.
Are covered with a cover layer 18 made of an insulator. That is, first, as shown in FIG. 6A, the metal film 22 is formed on the surface of the conductor layer 14 and the surface of the support substrate 12. The metal film 22 is preferably formed as a hard nickel thin film by electroless nickel plating, and its thickness may be such that the surface of the conductor layer 14 is not exposed, and is, for example, 0.05 to 0.2 μm. It only has to be about.

【0073】次いで、導体層14を被覆するためのカバ
ー層18を形成する。カバー層18には、ベース層13
と同じく、感光性樹脂組成物が用いられ、図6(b)に
示すように、ベース層13と同様の方法によって、ポリ
ベンゾオキサゾール樹脂からなる多孔質のカバー層18
を形成する。なお、このようにして形成されるカバー層
18の厚みは、導体層14の厚みにもよるが、通常、2
〜25μm、好ましくは、5〜20μmである。
Next, the cover layer 18 for covering the conductor layer 14 is formed. The cover layer 18 includes the base layer 13
Similarly to the above, a photosensitive resin composition is used, and as shown in FIG. 6B, a porous cover layer 18 made of polybenzoxazole resin is produced by the same method as the base layer 13.
To form. Although the thickness of the cover layer 18 thus formed depends on the thickness of the conductor layer 14, it is usually 2
-25 μm, preferably 5-20 μm.

【0074】そして、図6(c)に示すように、支持基
板12の上に形成されている金属皮膜22を剥離する。
なお、磁気ヘッド側接続端子16および外部側接続端子
17は、図には示していないが、カバー層18の形成に
おいて、各端子部分がカバー層18によって被覆されな
いようにしておき、支持基板12の上に形成されている
金属皮膜22を剥離する時に、同時に、各端子部分の金
属皮膜22を剥離した後、露出する導体層14の表面
を、電解ニッケルめっきと電解金めっきとを順次行なう
ことにより形成する。なお、ニッケルめっき層および金
めっき層の厚さは、いずれも、0.2〜5μm程度であ
ることが好ましい。
Then, as shown in FIG. 6C, the metal film 22 formed on the support substrate 12 is peeled off.
Although not shown in the drawing, the magnetic head side connection terminal 16 and the external side connection terminal 17 are formed so that the respective terminal portions are not covered by the cover layer 18 in the formation of the cover layer 18, and the support substrate 12 of the support substrate 12 is formed. At the same time when the metal film 22 formed on the upper side is peeled off, the surface of the exposed conductor layer 14 is sequentially subjected to electrolytic nickel plating and electrolytic gold plating after peeling off the metal film 22 of each terminal portion. Form. The thickness of each of the nickel plating layer and the gold plating layer is preferably about 0.2 to 5 μm.

【0075】そして、電解ニッケルめっきおよび電解金
めっきに用いためっきリードを、化学エッチングなどに
より除去し、支持基板12を、化学エッチングなど公知
の方法によって、ジンバル15などの所定の形状に切り
抜き、洗浄および乾燥することにより、図3に示すよう
な回路付サスペンション基板11を得る。
Then, the plating leads used for electrolytic nickel plating and electrolytic gold plating are removed by chemical etching or the like, and the support substrate 12 is cut out into a predetermined shape such as the gimbal 15 by a known method such as chemical etching and washed. Then, by drying, the suspension board with circuit 11 as shown in FIG. 3 is obtained.

【0076】このようにして得られる回路付サスペンシ
ョン基板11は、低誘電率化が図られており、高周波特
性が良好であるため、磁気ヘッドにより読み書きされる
大量の情報を、高速に伝達することができる。
Since the suspension board with circuit 11 thus obtained has a low dielectric constant and good high frequency characteristics, it can transfer a large amount of information read and written by the magnetic head at high speed. You can

【0077】[0077]

【実施例】以下に実施例および比較例を示し、本発明を
さらに具体的に説明するが、本発明は、何ら実施例およ
び比較例に限定されることはない。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail below with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to the Examples and Comparative Examples.

【0078】合成例1(ポリベンゾオキサゾール前駆体
Aの合成) 乾燥窒素導入管をもつフラスコ内において、3,3'−
ジアミノ−4,4'−ジヒドロキシフェニルエーテル4
6.4重量部(0.2モル)を、乾燥したN,N−ジメ
チルアセトアミド110重量部に溶解し、これに、イソ
フタルアルデヒド26.82重量部(0.2モル)を加
えた。その後、室温で48時間、乾燥窒素雰囲気下にお
いて攪拌し、ポリベンゾオキサゾール前駆体Aの溶液を
調製した。
Synthesis Example 1 (Synthesis of Polybenzoxazole Precursor A) In a flask having a dry nitrogen introducing tube, 3,3′-
Diamino-4,4'-dihydroxyphenyl ether 4
6.4 parts by weight (0.2 mol) was dissolved in 110 parts by weight of dried N, N-dimethylacetamide, and 26.82 parts by weight (0.2 mol) of isophthalaldehyde was added thereto. Then, the mixture was stirred at room temperature for 48 hours in a dry nitrogen atmosphere to prepare a solution of polybenzoxazole precursor A.

【0079】合成例2(ポリベンゾオキサゾール前駆体
Bの合成) 乾燥窒素導入管をもつフラスコ内において、2,2−ビ
ス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフル
オロプロパン73.25重量部(0.2モル)を、乾燥
したN,N−ジメチルアセトアミド150重量部に溶解
し、これに、イソフタルアルデヒド26.82重量部
(0.2モル)を加えた。その後、室温で48時間、乾
燥窒素雰囲気下において攪拌し、ポリベンゾオキサゾー
ル前駆体Bの溶液を調製した。
Synthesis Example 2 (Synthesis of Polybenzoxazole Precursor B) 73.25 parts by weight of 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane (in a flask having a dry nitrogen introducing tube) 0.2 mol) was dissolved in 150 parts by weight of dried N, N-dimethylacetamide, and 26.82 parts by weight (0.2 mol) of isophthalaldehyde was added thereto. Then, the mixture was stirred at room temperature for 48 hours in a dry nitrogen atmosphere to prepare a solution of polybenzoxazole precursor B.

【0080】実施例1 合成例1で得られたポリベンゾオキサゾール前駆体Aの
溶液に、感光剤(2,3,4−トリス(1−オキソ−2
−ジアゾナフトキノン−4−スルホニルオキシ)ベンゾ
フェノンを、そのポリベンゾオキサゾール前駆体A10
0重量部に対して20重量部添加するとともに、重量平
均分子量が750のウレタンアクリレートオリゴマー
を、そのポリベンゾオキサゾール前駆体A100重量部
に対して40重量部添加し、攪拌して透明な均一の感光
性樹脂組成物を得た。この感光性樹脂組成物を、厚さ2
5μmのステンレス箔(SUS304)上に、スピンコ
ータを用いて、乾燥後の皮膜の厚さが7μmとなるよう
に塗布し、100℃で10分間、加熱乾燥して、N,N
−ジメチルアセトアミドを除去することにより、ポリベ
ンゾオキサゾール前駆体A中にウレタンアクリレートオ
リゴマーの海島構造が形成されるような皮膜を形成し
た。
Example 1 A solution of the polybenzoxazole precursor A obtained in Synthesis Example 1 was added with a sensitizer (2,3,4-tris (1-oxo-2).
-Diazonaphthoquinone-4-sulfonyloxy) benzophenone as its polybenzoxazole precursor A10
While adding 20 parts by weight to 0 parts by weight, 40 parts by weight of a urethane acrylate oligomer having a weight average molecular weight of 750 was added to 100 parts by weight of the polybenzoxazole precursor A, and stirring the mixture to obtain a transparent and uniform photosensitive material. A resin composition was obtained. This photosensitive resin composition has a thickness of 2
A 5 μm stainless steel foil (SUS304) was applied using a spin coater so that the thickness of the dried film was 7 μm, and dried by heating at 100 ° C. for 10 minutes to obtain N, N.
-By removing dimethylacetamide, a film was formed in the polybenzoxazole precursor A such that a sea-island structure of urethane acrylate oligomer was formed.

【0081】次に、フォトマスクを介して、露光量20
0mJ/cm2にて紫外線(λ=350〜435nm)
を露光し、2.38重量%テトラメチルアンモニウムハ
イドロオキサイド水溶液で現像処理して、ポジ型画像で
パターンを形成した。
Next, an exposure amount of 20 is applied through a photomask.
Ultraviolet rays (λ = 350 to 435 nm) at 0 mJ / cm 2 .
Was exposed to light and developed with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution to form a pattern with a positive image.

【0082】この皮膜のパターンを80mmφのシート
状に切断し、500mLの耐圧容器に入れ、40℃の雰
囲気中、25MPa/cm2に加圧した後、圧力を保っ
たままガス量にして約3L/分の流量で二酸化炭素を注
入、排気してウレタンアクリレートオリゴマーを抽出す
る操作を2時間行なった。その後、300℃で1時間加
熱し、さらに、1.33Paの真空下に減圧した状態
で、360℃で加熱し、多孔質のポリベンゾオキサゾー
ル樹脂からなる膜を作製した。
The pattern of this coating was cut into a sheet of 80 mmφ, placed in a 500 mL pressure-resistant container, pressurized to 25 MPa / cm 2 in an atmosphere of 40 ° C., and the amount of gas was maintained at about 3 L while maintaining the pressure. The operation of injecting carbon dioxide at a flow rate of / min and exhausting it to extract the urethane acrylate oligomer was carried out for 2 hours. Then, it was heated at 300 ° C. for 1 hour and further heated at 360 ° C. under a reduced pressure of 1.33 Pa to prepare a film made of a porous polybenzoxazole resin.

【0083】得られた多孔質膜の断面のSEM観察像を
画像処理して求めた気泡のサイズは1.8μm、誘電率
は、2.4(1MHz)であった。
The size of the bubbles determined by image-processing the SEM observation image of the cross section of the obtained porous film was 1.8 μm, and the dielectric constant was 2.4 (1 MHz).

【0084】なお、測定条件は、以下の通りである(な
お、以下の実施例および比較例においても同じ)。
The measurement conditions are as follows (the same applies to the following Examples and Comparative Examples).

【0085】SEM観察:作製した多孔質シートを液体
窒素中で凍結して割断し、その断面を走査型電子顕微鏡
(SEM)(日立製作所製 S−570型)を用いて、
加速電圧10kvにて観察した。
SEM observation: The produced porous sheet was frozen in liquid nitrogen and cut, and its cross section was observed using a scanning electron microscope (SEM) (Hitachi S-570 type).
It was observed at an acceleration voltage of 10 kv.

【0086】誘電率:横河ヒューレットパッカード社製
HP4284AプレシジョンLCRメーターにより測定
した。
Dielectric constant: Measured by HP4284A precision LCR meter manufactured by Yokogawa Hewlett-Packard Company.

【0087】実施例2 合成例1で得られたポリベンゾオキサゾール前駆体Aの
溶液に、感光剤(2,3,4−トリス(1−オキソ−2
−ジアゾナフトキノン−4−スルホニルオキシ)ベンゾ
フェノンを、そのポリベンゾオキサゾール前駆体A10
0重量部に対して30重量部添加するとともに、重量平
均分子量が1200のポリエチレングリコールジメチル
エーテルオリゴマーを、そのポリベンゾオキサゾール前
駆体A100重量部に対して40重量部添加し、攪拌し
て透明な均一の感光性樹脂組成物を得た。この感光性樹
脂組成物を、厚さ25μmのステンレス箔(SUS30
4)上に、スピンコータを用いて、乾燥後の皮膜の厚さ
が8μmとなるように塗布し、100℃で10分間、加
熱乾燥して、N,N−ジメチルアセトアミドを除去する
ことにより、ポリベンゾオキサゾール前駆体A中にポリ
エチレングリコールジメチルエーテルオリゴマーの海島
構造が形成されるような皮膜を形成した。
Example 2 A solution of the polybenzoxazole precursor A obtained in Synthesis Example 1 was added with a photosensitizer (2,3,4-tris (1-oxo-2).
-Diazonaphthoquinone-4-sulfonyloxy) benzophenone as its polybenzoxazole precursor A10
While adding 30 parts by weight to 0 parts by weight, 40 parts by weight of a polyethylene glycol dimethyl ether oligomer having a weight average molecular weight of 1200 was added to 100 parts by weight of the polybenzoxazole precursor A, and the mixture was stirred to give a transparent and uniform mixture. A photosensitive resin composition was obtained. This photosensitive resin composition was applied to a stainless foil (SUS30) having a thickness of 25 μm.
4) was coated on the above using a spin coater so that the thickness of the dried film would be 8 μm, and dried by heating at 100 ° C. for 10 minutes to remove N, N-dimethylacetamide. A film was formed in the benzoxazole precursor A so that a sea-island structure of polyethylene glycol dimethyl ether oligomer was formed.

【0088】次に、フォトマスクを介して、露光量20
0mJ/cm2にて紫外線(λ=350〜435nm)
を露光し、2.38重量%テトラメチルアンモニウムハ
イドロオキサイド水溶液で現像処理して、ポジ型画像で
パターンを形成した。
Next, an exposure amount of 20 is applied through a photomask.
Ultraviolet rays (λ = 350 to 435 nm) at 0 mJ / cm 2 .
Was exposed to light and developed with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution to form a pattern with a positive image.

【0089】この皮膜のパターンを80mmφのシート
状に切断し、500mLの耐圧容器に入れ、40℃の雰
囲気中、25MPa/cm2に加圧した後、圧力を保っ
たままガス量にして約3L/分の流量で二酸化炭素を注
入、排気してポリエチレングリコールジメチルエーテル
オリゴマーを抽出する操作を2時間行なった。その後、
300℃で1時間加熱し、さらに、1.33Paの真空
下に減圧した状態で、360℃で加熱し、多孔質のポリ
ベンゾオキサゾール樹脂からなる膜を作製した。
The pattern of this film was cut into a sheet of 80 mmφ, placed in a 500 mL pressure-resistant container, pressurized to 25 MPa / cm 2 in an atmosphere of 40 ° C., and the amount of gas was maintained at about 3 L while maintaining the pressure. The operation of injecting carbon dioxide at a flow rate of / min and exhausting it to extract polyethylene glycol dimethyl ether oligomer was carried out for 2 hours. afterwards,
The film was heated at 300 ° C. for 1 hour and further heated at 360 ° C. under a reduced pressure of 1.33 Pa under vacuum to form a film made of a porous polybenzoxazole resin.

【0090】得られた多孔質膜の断面のSEM観察像を
画像処理して求めた気泡のサイズは1.6μm、誘電率
は、2.5(1MHz)であった。
The size of the bubbles obtained by image-processing the SEM observation image of the cross section of the obtained porous film was 1.6 μm, and the dielectric constant was 2.5 (1 MHz).

【0091】実施例3 合成例2で得られたポリベンゾオキサゾール前駆体Bの
溶液に、感光剤(2,3,4−トリス(1−オキソ−2
−ジアゾナフトキノン−4−スルホニルオキシ)ベンゾ
フェノンを、そのポリベンゾオキサゾール前駆体B10
0重量部に対して30重量部添加するとともに、重量平
均分子量が600のポリエチレングリコールジアクリレ
ートオリゴマーを、そのポリベンゾオキサゾール前駆体
B70重量部に対して40重量部添加し、攪拌して透明
な均一の感光性樹脂組成物を得た。この感光性樹脂組成
物を、厚さ25μmのステンレス箔(SUS304)上
に、スピンコータを用いて、乾燥後の皮膜の厚さが8μ
mとなるように塗布し、100℃で10分間、加熱乾燥
して、N,N−ジメチルアセトアミドを除去することに
より、ポリベンゾオキサゾール前駆体B中にポリエチレ
ングリコールジアクリレートオリゴマーの海島構造が形
成されるような皮膜を形成した。
Example 3 A solution of the polybenzoxazole precursor B obtained in Synthesis Example 2 was added with a photosensitizer (2,3,4-tris (1-oxo-2).
-Diazonaphthoquinone-4-sulfonyloxy) benzophenone as its polybenzoxazole precursor B10
While adding 30 parts by weight to 0 parts by weight, 40 parts by weight of a polyethylene glycol diacrylate oligomer having a weight average molecular weight of 600 is added to 70 parts by weight of the polybenzoxazole precursor B, and the mixture is stirred to give a transparent and uniform mixture. To obtain a photosensitive resin composition. This photosensitive resin composition was applied onto a stainless steel foil (SUS304) having a thickness of 25 μm by using a spin coater so that the film thickness after drying was 8 μm.
m and then heat-dried at 100 ° C. for 10 minutes to remove N, N-dimethylacetamide to form a sea-island structure of polyethylene glycol diacrylate oligomer in the polybenzoxazole precursor B. Formed a film like that.

【0092】次に、フォトマスクを介して、露光量20
0mJ/cm2にて紫外線(λ=350〜435nm)
を露光し、2.38重量%テトラメチルアンモニウムハ
イドロオキサイド水溶液で現像処理して、ポジ型画像で
パターンを形成した。
Then, an exposure amount of 20 is applied through a photomask.
Ultraviolet rays (λ = 350 to 435 nm) at 0 mJ / cm 2 .
Was exposed to light and developed with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution to form a pattern with a positive image.

【0093】この皮膜のパターンを80mmφのシート
状に切断し、500mLの耐圧容器に入れ、40℃の雰
囲気中、25MPa/cm2に加圧した後、圧力を保っ
たままガス量にして約3L/分の流量で二酸化炭素を注
入、排気してポリエチレングリコールジアクリレートオ
リゴマーを抽出する操作を2時間行なった。その後、3
00℃で1時間加熱し、さらに、1.33Paの真空下
に減圧した状態で、360℃で加熱し、多孔質のポリベ
ンゾオキサゾール樹脂からなる膜を作製した。
The pattern of this coating was cut into a sheet of 80 mmφ, placed in a 500 mL pressure-resistant container and pressurized to 25 MPa / cm 2 in an atmosphere of 40 ° C., and then the pressure was maintained to a gas volume of about 3 L. The operation of injecting carbon dioxide at a flow rate of / min and exhausting it to extract the polyethylene glycol diacrylate oligomer was carried out for 2 hours. Then 3
The film was heated at 00 ° C. for 1 hour and further heated at 360 ° C. under a reduced pressure of 1.33 Pa to prepare a film made of a porous polybenzoxazole resin.

【0094】得られた多孔質膜の断面のSEM観察像を
画像処理して求めた気泡のサイズは0.8μm、誘電率
は、2.2(1MHz)であった。
The size of the bubbles obtained by image-processing the SEM observation image of the cross section of the obtained porous film was 0.8 μm, and the dielectric constant was 2.2 (1 MHz).

【0095】比較例1 合成例1で得られたポリベンゾオキサゾール前駆体Aの
溶液に、感光剤(2,3,4−トリス(1−オキソ−2
−ジアゾナフトキノン−4−スルホニルオキシ)ベンゾ
フェノンを、そのポリベンゾオキサゾール前駆体A10
0重量部に対して30重量部添加し、攪拌して透明な均
一の感光性樹脂組成物を得た。この感光性樹脂組成物
を、厚さ25μmのステンレス箔(SUS304)上
に、スピンコータを用いて、乾燥後の皮膜の厚さが15
μmとなるように塗布し、100℃で10分間、加熱乾
燥して、N,N−ジメチルアセトアミドを除去すること
により、ポリベンゾオキサゾール前駆体Aの皮膜を形成
した。なお、これをSEM観察したところ、海島構造の
ない均一な皮膜であることが確認された。
Comparative Example 1 A solution of the polybenzoxazole precursor A obtained in Synthesis Example 1 was added with a photosensitizer (2,3,4-tris (1-oxo-2).
-Diazonaphthoquinone-4-sulfonyloxy) benzophenone as its polybenzoxazole precursor A10
30 parts by weight was added to 0 parts by weight and stirred to obtain a transparent and uniform photosensitive resin composition. This photosensitive resin composition was applied onto a stainless steel foil (SUS304) having a thickness of 25 μm using a spin coater so that the film thickness after drying was 15
The coating was applied so as to have a thickness of 10 μm, and the coating was heated and dried at 100 ° C. for 10 minutes to remove N, N-dimethylacetamide, thereby forming a film of polybenzoxazole precursor A. It was confirmed by SEM observation that this was a uniform film having no sea-island structure.

【0096】次に、フォトマスクを介して、露光量20
0mJ/cm2にて紫外線(λ=350〜435nm)
を露光し、2.38重量%テトラメチルアンモニウムハ
イドロオキサイド水溶液で現像処理して、ポジ型画像で
パターンを形成した。
Then, an exposure amount of 20 is applied through a photomask.
Ultraviolet rays (λ = 350 to 435 nm) at 0 mJ / cm 2 .
Was exposed to light and developed with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution to form a pattern with a positive image.

【0097】この皮膜のパターンを80mmφのシート
状に切断した後、300℃で1時間加熱し、さらに、
1.33Paの真空下に減圧した状態で、360℃で加
熱し、ポリベンゾオキサゾール樹脂からなる膜を作製し
た。
After cutting the pattern of this film into a sheet of 80 mmφ, it was heated at 300 ° C. for 1 hour, and further,
A film made of polybenzoxazole resin was produced by heating at 360 ° C. under a reduced pressure of 1.33 Pa.

【0098】得られた膜の断面のSEM観察を行なった
が、気泡は観察されなかった。また、誘電率は、3.0
(1MHz)であった。
SEM observation of the cross section of the obtained film was performed, but no bubbles were observed. The dielectric constant is 3.0
(1 MHz).

【0099】[0099]

【発明の効果】以上述べたように、本発明の感光性樹脂
組成物は、高い耐熱性、寸法安定性、絶縁性能を有し、
しかも、均一で微細な気泡を有し、低誘電率で微細なパ
ターンを形成しやすい多孔質樹脂を得ることができる。
そのため、得られた多孔質樹脂は、精細な回路パターン
を形成することができ、かつ、低誘電率であるため、回
路基板の絶縁層として用いれば、その回路基板の高周波
特性を向上させることができる。したがって、そのよう
な絶縁層を有する回路基板は、高周波電気信号を高速に
伝達することのできる回路基板として有効に用いること
ができる。
As described above, the photosensitive resin composition of the present invention has high heat resistance, dimensional stability and insulation performance,
Moreover, it is possible to obtain a porous resin which has uniform and fine bubbles and has a low dielectric constant and which can easily form a fine pattern.
Therefore, the obtained porous resin can form a fine circuit pattern and has a low dielectric constant. Therefore, if it is used as an insulating layer of a circuit board, the high frequency characteristics of the circuit board can be improved. it can. Therefore, the circuit board having such an insulating layer can be effectively used as a circuit board capable of transmitting high-frequency electric signals at high speed.

【0100】とりわけ、回路付サスペンション基板の絶
縁層として用いると、高周波特性が良好であるため、そ
のような絶縁層を有する回路付サスペンション基板は、
磁気ヘッドにより読み書きされる大量の情報を、高速に
伝達することができる。
In particular, when used as an insulating layer of a suspension board with circuit, high frequency characteristics are excellent. Therefore, a suspension board with circuit having such an insulating layer is
A large amount of information read and written by the magnetic head can be transmitted at high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の感光性樹脂組成物を用いて、多孔質樹
脂からなる回路基板の絶縁層を形成する方法を示す一実
施形態の工程図であって、(a)は、基材を用意する工
程、(b)は、その基材の上に、感光性樹脂組成物の皮
膜を形成する工程、(c)は、その皮膜を、フォトマス
クを介して露光させて、現像することにより、所定のパ
ターンとする工程、(d)は、感光性樹脂組成物から分
散性化合物を除去することにより、ポリベンゾオキサゾ
ール前駆体を多孔化する工程、(e)は、多孔化した皮
膜を硬化させて、ベース層を形成する工程を示す。
FIG. 1 is a process chart of an embodiment showing a method for forming an insulating layer of a circuit board made of a porous resin using the photosensitive resin composition of the present invention, in which (a) shows a base material. The step of preparing, (b) is a step of forming a film of the photosensitive resin composition on the substrate, and (c) is the step of exposing the film through a photomask and developing the film. , A step of forming a predetermined pattern, (d) a step of making the polybenzoxazole precursor porous by removing the dispersible compound from the photosensitive resin composition, (e) curing the porous film Then, the step of forming the base layer will be described.

【図2】ベース層の上に、導体層およびカバー層を形成
する工程を示す断面図であって、(a)は、ベース層の
上に導体層を形成する工程、(b)は、導体層上にカバ
ー層を形成する工程を示す。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a step of forming a conductor layer and a cover layer on a base layer, wherein (a) is a step of forming a conductor layer on a base layer, and (b) is a conductor. The process of forming a cover layer on a layer is shown.

【図3】本発明の多孔質樹脂が、絶縁層として用いられ
ている回路付サスペンション基板の、一実施形態の斜視
図である。
FIG. 3 is a perspective view of an embodiment of a suspension board with circuit in which the porous resin of the present invention is used as an insulating layer.

【図4】支持基板を用意して、その支持基板の上に、所
定のパターンでベース層を形成する工程を示す断面図で
あって、(a)は、支持基板を用意する工程、(b)
は、その支持基板の上に、感光性樹脂組成物の皮膜を形
成する工程、(c)は、その皮膜を、フォトマスクを介
して露光させて、現像することにより、所定のパターン
とする工程、(d)は、感光性樹脂組成物から分散性化
合物を除去することにより、ポリベンゾオキサゾール前
駆体を多孔化する工程、(e)は、多孔化した皮膜を硬
化させて、ベース層を形成する工程を示す。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a step of preparing a support substrate and forming a base layer on the support substrate in a predetermined pattern, FIG. )
Is a step of forming a film of the photosensitive resin composition on the supporting substrate, and (c) is a step of exposing the film through a photomask and developing the film to form a predetermined pattern. , (D) is a step of making the polybenzoxazole precursor porous by removing the dispersible compound from the photosensitive resin composition, and (e) curing the porous film to form a base layer. The process of doing is shown.

【図5】ベース層の上に、所定の回路パターンで導体層
を形成する工程を示す断面図であって、(a)は、支持
基板およびベース層に、下地を形成する工程、(b)
は、下地の上に、所定の回路パターンと逆パターンのめ
っきレジストを形成する工程、(c)は、ベース層にお
けるめっきレジストが形成されていない部分に、めっき
により、所定の回路パターンの導体層を形成する工程、
(d)は、めっきレジストを除去する工程、(e)は、
下地を除去する工程を示す。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a step of forming a conductor layer with a predetermined circuit pattern on a base layer, FIG. 5A is a step of forming a base on a support substrate and a base layer, and FIG.
Is a step of forming a plating resist having a pattern opposite to the predetermined circuit pattern on the underlayer. The step of forming
(D) is a step of removing the plating resist, (e) is
A step of removing the base is shown.

【図6】導体層の表面を金属皮膜により保護した後、カ
バー層により被覆する工程を示す断面図であって、
(a)は、導体層の表面に、金属皮膜を形成する工程、
(b)は、ベース層および金属皮膜の上に、カバー層を
形成する工程、(c)は、支持基板の上に形成されてい
る金属皮膜を剥離する工程を示す。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a step of covering the surface of the conductor layer with a metal film and then covering with a cover layer,
(A) is a step of forming a metal film on the surface of the conductor layer,
(B) shows a step of forming a cover layer on the base layer and the metal coating, and (c) shows a step of peeling the metal coating formed on the supporting substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基材 2 感光性樹脂組成物 3 分散性化合物 4 ポリベンゾオキサゾール前駆体 6 絶縁層 1 base material 2 Photosensitive resin composition 3 Dispersible compounds 4 Polybenzoxazole precursor 6 insulating layers

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/022 G03F 7/022 H05K 1/03 610 H05K 1/03 610H 1/05 1/05 A 3/46 3/46 T // C08L 79:08 C08L 79:08 A (72)発明者 金城 直隆 大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 日東 電工株式会社内 (72)発明者 近藤 隆 大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 日東 電工株式会社内 Fターム(参考) 2H025 AA00 AA10 AA20 AB15 AC01 AD01 AD03 BE01 BH00 CC05 CC20 FA12 4F074 AA75 CB01 CB03 CB16 CB17 CC22 DA47 DA54 4J043 PA01 QB44 RA01 RA02 SA06 TA09 UA11 UA12 UA13 UB05 UB06 UB12 XA11 XA13 XA16 XA19 YA05 ZB22 5E315 AA02 AA03 BB01 BB14 CC01 DD29 GG22 5E346 AA02 AA03 AA12 AA15 BB01 CC08 CC31 DD03 DD31 GG01 GG02 HH06 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G03F 7/022 G03F 7/022 H05K 1/03 610 H05K 1/03 610H 1/05 1/05 A 3 / 46 3/46 T // C08L 79:08 C08L 79:08 A (72) Inventor Naotaka Kaneshiro 1-2-1 Shimohozumi, Ibaraki City, Osaka Prefecture Nitto Denko Corporation (72) Inventor Takashi Kondo Ibaraki, Osaka Prefecture Hozumi Ichishita 1-2, Nitto Denko Co., Ltd. (reference) 2H025 AA00 AA10 AA20 AB15 AC01 AD01 AD03 BE01 BH00 CC05 CC20 FA12 4F074 AA75 CB01 CB03 CB16 CB17 CC22 DA47 DA54 4J043 PA01 QB44 RA01 RA11 SA02 SA06 UA13 UB05 UB06 UB12 XA11 XA13 XA16 XA19 YA05 ZB22 5E315 AA02 AA03 BB01 BB14 CC01 DD29 GG22 5E346 AA02 AA03 AA12 AA15 BB01 CC08 CC31 DD03 DD31 GG01 GG02 HH06

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下記一般式(1)で示される繰り返し単
位構造を有するポリベンゾオキサゾール前駆体と、感光
剤と、前記ポリベンゾオキサゾール前駆体に対して分散
可能な分散性化合物と、溶剤とを含有することを特徴と
する、感光性樹脂組成物。 【化1】 (式中、R1は、エーテル結合、炭素−炭素間結合、置
換されていてもよいメチレンのいずれかを示し、R2
は、 【化2】 (aは、同一または相異なって、水素原子またはハロゲ
ン原子を示す。)のいずれかを示す。)
1. A polybenzoxazole precursor having a repeating unit structure represented by the following general formula (1), a photosensitizer, a dispersible compound dispersible in the polybenzoxazole precursor, and a solvent. A photosensitive resin composition comprising: [Chemical 1] (In the formula, R1 represents any of an ether bond, a carbon-carbon bond, and methylene which may be substituted, and R2
Is (A is the same or different and represents a hydrogen atom or a halogen atom). )
【請求項2】 分散性化合物が、ポリアクレートオリゴ
マー、ポリエーテルオリゴマー、ポリエステルオリゴマ
ー、ポリウレタンオリゴマーからなる群から選ばれる少
なくとも1種であることを特徴とする、請求項1に記載
の感光性樹脂組成物。
2. The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the dispersible compound is at least one selected from the group consisting of polyacrylate oligomers, polyether oligomers, polyester oligomers and polyurethane oligomers. object.
【請求項3】 請求項1または2に記載の感光性樹脂組
成物から溶剤を除くことにより、前記ポリベンゾオキサ
ゾール前駆体中に分散性化合物が分散した状態を形成す
る工程、 分散性化合物を除去することにより、多孔化する工程、
および感光性樹脂組成物を硬化させる工程を含む工程に
よって得られることを特徴とする、多孔質樹脂。
3. A step of forming a state in which a dispersible compound is dispersed in the polybenzoxazole precursor by removing the solvent from the photosensitive resin composition according to claim 1 or 2, and the dispersible compound is removed. The step of making porous,
And a porous resin obtained by a step including a step of curing a photosensitive resin composition.
【請求項4】 さらに、感光性樹脂組成物を、露光およ
び現像することによりパターン化する工程を含んでいる
ことを特徴とする、請求項3に記載の多孔質樹脂。
4. The porous resin according to claim 3, further comprising a step of patterning the photosensitive resin composition by exposing and developing the photosensitive resin composition.
【請求項5】 回路基板の絶縁層として用いられること
を特徴とする、請求項3または4に記載の多孔質樹脂。
5. The porous resin according to claim 3, which is used as an insulating layer of a circuit board.
【請求項6】 回路付サスペンション基板の絶縁層とし
て用いられることを特徴とする、請求項3または4に記
載の多孔質樹脂。
6. The porous resin according to claim 3, which is used as an insulating layer of a suspension board with circuit.
【請求項7】 請求項3または4に記載の多孔質樹脂
を、絶縁層として有していることを特徴とする、回路基
板。
7. A circuit board comprising the porous resin according to claim 3 as an insulating layer.
【請求項8】 請求項3または4に記載の多孔質樹脂
を、絶縁層として有していることを特徴とする、回路付
サスペンション基板。
8. A suspension board with circuit, comprising the porous resin according to claim 3 or 4 as an insulating layer.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6780561B2 (en) 2001-11-26 2004-08-24 Kansai Paint Co., Ltd. Polybenzoxazole precursor and coating composition using the same
JP2006175797A (en) * 2004-12-24 2006-07-06 Hitachi Chem Co Ltd Substrate for forming circuit and circuit board
JP2007514557A (en) * 2003-12-19 2007-06-07 コミサリア、ア、レネルジ、アトミク Microparts with sealed cavities and plugs and methods for producing such microparts
JP2008081680A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Jsr Corp Resin composition for forming film
JPWO2021187256A1 (en) * 2020-03-16 2021-09-23
WO2023002766A1 (en) * 2021-07-20 2023-01-26 住友電気工業株式会社 Printed wiring board and manufacturing method for printed wiring board
JP7368191B2 (en) 2019-11-13 2023-10-24 群栄化学工業株式会社 Compositions, cured products, varnishes, films and their manufacturing methods, and laminates and their manufacturing methods

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6780561B2 (en) 2001-11-26 2004-08-24 Kansai Paint Co., Ltd. Polybenzoxazole precursor and coating composition using the same
JP2007514557A (en) * 2003-12-19 2007-06-07 コミサリア、ア、レネルジ、アトミク Microparts with sealed cavities and plugs and methods for producing such microparts
JP2006175797A (en) * 2004-12-24 2006-07-06 Hitachi Chem Co Ltd Substrate for forming circuit and circuit board
JP2008081680A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Jsr Corp Resin composition for forming film
JP4631836B2 (en) * 2006-09-28 2011-02-16 Jsr株式会社 Film forming resin composition
JP7368191B2 (en) 2019-11-13 2023-10-24 群栄化学工業株式会社 Compositions, cured products, varnishes, films and their manufacturing methods, and laminates and their manufacturing methods
JPWO2021187256A1 (en) * 2020-03-16 2021-09-23
WO2021187256A1 (en) * 2020-03-16 2021-09-23 富士フイルム株式会社 Coloring composition, film, optical filter, solid-state imaging element, and image display device
JP7331243B2 (en) 2020-03-16 2023-08-22 富士フイルム株式会社 Coloring composition, film, optical filter, solid-state imaging device, and image display device
WO2023002766A1 (en) * 2021-07-20 2023-01-26 住友電気工業株式会社 Printed wiring board and manufacturing method for printed wiring board

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