JP2003148939A - Autocollimator provided with microscope, and instrument for measuring shape using the same - Google Patents

Autocollimator provided with microscope, and instrument for measuring shape using the same

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JP2003148939A
JP2003148939A JP2001351651A JP2001351651A JP2003148939A JP 2003148939 A JP2003148939 A JP 2003148939A JP 2001351651 A JP2001351651 A JP 2001351651A JP 2001351651 A JP2001351651 A JP 2001351651A JP 2003148939 A JP2003148939 A JP 2003148939A
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JP
Japan
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light
measured
microscope
measuring
lens
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JP2001351651A
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Japanese (ja)
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Mitsuru Higashiya
満 東谷
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Faiburabo Kk
Original Assignee
Faiburabo Kk
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure an inclination and a distance of an object to be measured after being positioned using a microscope, without limiting the kind (wavelength) of measuring light. SOLUTION: This autocollimetor for irradiating an object to be measured with parallel light, and for measuring the inclination of the object to be measured by confirming reflected light thereof has a collimator lens for collimating the light to irradiate the object to be measured into the parallel light, and a microscope lens provided to be put in and out freely between the collimator lens and the object to be measured to converge the parallel light by the collimator lens.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の傾きを
測定するオートコリメータに関し、特に、被測定物の測
定部位を拡大する顕微鏡や被測定物までの距離を測定す
る測距系と組み合わされたオートコリメータ、形状測定
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an autocollimator for measuring the inclination of an object to be measured, and in particular, it is combined with a microscope for enlarging the measurement site of the object to be measured and a distance measuring system for measuring the distance to the object to be measured. Auto collimator and shape measuring device.

【0002】[0002]

【従来の技術】機器の構成部品については、機器の精度
を高いものとするためにその取り付け状態や形状を高い
精度にて測定することが要求される。機器の形状は小型
化を辿る一方であり、このことに伴ってその構成部品も
小型化され、極めて微細な領域での取り付け状態や微細
部品の形状を正確に測定しなければならない。例えば、
ハードディスクのプローブの検査などでは、1mm2
領域に0.5mmφの測定用の光を入射して、構成部品
の取り付け位置、傾きを測定することが要求される。
2. Description of the Related Art Constituent parts of equipment are required to be measured with a high degree of accuracy in order to improve the accuracy of the equipment. The shape of the device is becoming smaller, and accordingly, the component parts thereof are also made smaller, and it is necessary to accurately measure the mounting state in the extremely minute area and the shape of the minute part. For example,
For inspection of a probe of a hard disk, it is required to measure 0.5 mmφ measuring light into a 1 mm 2 area to measure the mounting position and inclination of the components.

【0003】図2は従来行われている機器の構成部品の
取り付け状態を測定するために使用される光学系を示す
図である。図2(a)は被測定物の傾きを計測するため
のオートコリメータ、図2(b)は非測定物の測定部位
を確認するための顕微鏡、図2(c)は被測定物との距
離を測定するための変位計の基本的な構成をそれぞれ示
している。
FIG. 2 is a diagram showing a conventional optical system used for measuring the mounting state of component parts of equipment. 2 (a) is an autocollimator for measuring the inclination of the object to be measured, FIG. 2 (b) is a microscope for confirming the measurement site of the non-object, and FIG. 2 (c) is the distance from the object. The respective basic configurations of displacement meters for measuring are shown.

【0004】図2(a)に示されるオートコリメータ
は、光源21から出射した測定光を、ビームスプリッタ
22、平行光とするためのコリメートレンズ23を介し
て被測定物24に照射している。被測定物24からの反
射光は、コリメートレンズ23、ビームスプリッタ22
を通って受光素子25に入射する。受光素子25は、C
CDなどの画像検出素子であり、被測定物24からの反
射光による像を確認することにより、被測定物24の傾
きが計測される。
The autocollimator shown in FIG. 2 (a) irradiates the object to be measured 24 with the measurement light emitted from the light source 21 through the beam splitter 22 and the collimator lens 23 for making parallel light. The reflected light from the DUT 24 collimates the lens 23 and the beam splitter 22.
The light enters the light receiving element 25 through The light receiving element 25 is C
The inclination of the object to be measured 24 is measured by checking an image formed by reflected light from the object to be measured 24, which is an image detection element such as a CD.

【0005】顕微鏡は、被測定物の測定部位を確認する
ために使用される。図2(a)に示したオートコリメー
タが被測定物24の傾きを計測するために平行光を照射
するものであるのに対して、顕微鏡では集光光学系とす
る必要がある。図2(b)に示される構成では、被測定
物41の測定部位にて焦点を結ぶ対物レンズ42による
像は、接眼レンズ43により平行光束とされて目に入射
する。
The microscope is used to confirm the measurement site of the object to be measured. While the autocollimator shown in FIG. 2A irradiates parallel light to measure the inclination of the DUT 24, a microscope needs to be a condensing optical system. In the configuration shown in FIG. 2B, the image formed by the objective lens 42 that is focused at the measurement site of the DUT 41 is collimated by the eyepiece lens 43 and enters the eye.

【0006】図2(c)に示される変位計は、被測定物
との距離を計測するために使用される。受光素子33
は、PSD(Position Sensitive Device:位置検出素
子)やCCD(Charge Coupled Device)といった入射位
置に応じた信号を出力するもので、光源31の出射光の
被測定物32の測定面における反射光が入射する位置に
設けられている。被測定物の距離が変化するのに伴い、
受光素子33への入射位置が変化し、これにより被測定
物32との距離を測定する構成となっている。
The displacement meter shown in FIG. 2 (c) is used to measure the distance to the object to be measured. Light receiving element 33
Is a signal that outputs a signal corresponding to an incident position such as a PSD (Position Sensitive Device) or a CCD (Charge Coupled Device). Reflected light of the emitted light of the light source 31 on the measurement surface of the DUT 32 is incident. It is provided at the position where As the distance to the measured object changes,
The incident position on the light receiving element 33 changes, and the distance to the DUT 32 is measured by this.

【0007】これらのオートコリメータ、顕微鏡および
変位計のそれぞれは、独立した構成のものが用いられて
いた。オートコリメータや変位計などを用いた計測で
は、測定光として可視光を用いることとし、目的とする
測定部位に測定光が照射されているかを顕微鏡によって
確認し、この後、オートコリメータや変位計などを用い
て被測定物の傾きや被測定物までの距離を計測すること
が行われていた。
Each of these autocollimator, microscope and displacement meter had an independent structure. When measuring with an autocollimator or displacement meter, use visible light as the measurement light, and confirm with a microscope whether the target measurement area is irradiated with the measurement light. The tilt of the object to be measured and the distance to the object to be measured have been measured using.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述したオートコリメ
ータ、顕微鏡および変位計のそれぞれは、独立した構成
のものが用いられ、可視の測定光が目的とする測定部位
に照射されているかを顕微鏡によって確認しながら被測
定物との距離や傾きを計測することが行われていた。
Each of the above-described autocollimator, microscope, and displacement meter has an independent structure, and it is confirmed by a microscope whether visible measurement light is applied to a target measurement site. However, the distance and the inclination with respect to the measured object have been measured.

【0009】しかしながら、顕微鏡による測定部位の観
測は測定光とは異なる方向から行う必要があり、上述し
たように、観測部位は極めて微細な領域にあることか
ら、その構成上顕微鏡により確認することが困難なこと
が多くなっている。
However, it is necessary to observe the measurement site with a microscope from a direction different from that of the measurement light. As described above, the observation site is in an extremely fine area, and therefore the configuration can be confirmed with a microscope. It's becoming more difficult.

【0010】また、測定光に可視光を用いる必要がある
が、被測定物によっては、可視光が有害となるものもあ
り、このような被測定物では可視光を照射することがで
きないために顕微鏡を使用することができなかった。
Further, it is necessary to use visible light as the measuring light. However, depending on the object to be measured, the visible light may be harmful, and such an object cannot irradiate visible light. The microscope could not be used.

【0011】観測部位が極めて微細な領域にあるために
顕微鏡を使用することができない場合には目視により測
定部位に測定光が照射されているかが確認されて測定が
行われることとなる。また、測定光として不可視光を用
いている場合には、被測定物および測定系それぞれの設
計値によって被測定物を位置決めし、測定が行われる。
これらの顕微鏡を使用することができない場合の位置決
めは、いずれにおいても近年の微小な領域を測定するの
に適したものとはいえなかった。
If the microscope cannot be used because the observation area is in an extremely minute area, the measurement is performed by visually confirming whether or not the measurement light is applied to the measurement area. When invisible light is used as the measurement light, the object to be measured is positioned and measured according to the design values of the object to be measured and the measurement system.
The positioning when these microscopes cannot be used is not suitable for measuring a minute area in recent years.

【0012】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、測定光の種
類(波長)を制限することがなく、顕微鏡を用いた位置
決めを行った上で被測定物の傾きや距離を測定すること
のできるオートコリメータを実現することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the problems of the above-described conventional technique, and the positioning is performed using a microscope without limiting the type (wavelength) of the measuring light. It is an object of the present invention to realize an autocollimator capable of measuring the tilt and distance of the object to be measured.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明の顕微鏡を備えた
オートコリメータは、被測定物に対して平行光を照射
し、その反射光を確認することにより被測定物の傾きを
測定するオートコリメータであって、前記被測定物への
照射光を平行光とするためのコリメートレンズと、前記
コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ自在
に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を集光
する顕微鏡レンズとを有することを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An autocollimator equipped with a microscope of the present invention is an autocollimator for illuminating an object to be measured with parallel light and checking the reflected light to measure the inclination of the object to be measured. The collimator lens for collimating the irradiation light to the object to be measured and the collimator lens and the object to be measured are provided so as to be freely put in and taken out, and the parallel light by the collimator lens is condensed. It has a microscope lens which does.

【0014】上記のように構成される本発明の顕微鏡を
備えたオートコリメータにおいては、平行光束により傾
きの測定を行う無限光学系のオートコリメータに、集光
作用を生じる顕微鏡レンズを挿入して有限光学系とする
ことがなされている。これらの光軸は同じであり、顕微
鏡レンズの出し入れによって、その用途が切り替えられ
ることとなる。このため、オートコリメータとして使用
される際の画像、顕微鏡として使用される際の画像のい
ずれもその中心点は同じ部位となるので、顕微鏡として
使用した際に確認された画像の中心に対してオートコリ
メータとしての測定がなされることとなる。
In the autocollimator equipped with the microscope of the present invention configured as described above, a finite amount is obtained by inserting a microscope lens that produces a focusing action into the autocollimator of an infinite optical system that measures the tilt by a parallel light beam. It is made to be an optical system. These optical axes are the same, and the application can be switched depending on whether the microscope lens is taken in or out. For this reason, the center point of both the image when used as an autocollimator and the image when used as a microscope is the same part. The measurement as a collimator will be performed.

【0015】本発明の形状測定装置は、被測定物に対し
て第1および第2の測定光を照射し、第1の測定光の反
射光を確認することにより被測定物の傾きを測定し、第
2の測定光の反射光を確認することにより被測定物まで
の距離を測定する形状測定装置であって、前記被測定物
への第1の測定光を平行光とするためのコリメートレン
ズと、前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出
し入れ自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平
行光を集光する顕微鏡レンズと、前記第2の測定光を発
生する光源と、前記第2の測定光の被測定物による反射
光を確認する検出素子と、を有し、前記検出素子は、前
記顕微鏡レンズを通る光軸と垂直な面であり、顕微鏡レ
ンズの焦点位置における前記第2の測定光の反射光が概
ね中心に入射するように設けられていることを特徴とす
る。
The shape measuring apparatus of the present invention measures the tilt of the object to be measured by irradiating the object to be measured with the first and second measuring lights and confirming the reflected light of the first measuring light. A shape measuring device for measuring a distance to an object to be measured by confirming reflected light of the second measuring light, wherein a collimating lens for converting the first measuring light to the object to be measured into parallel light. And a microscope lens which is provided between the collimator lens and the object to be measured so that the collimator lens can collect parallel light, a light source which generates the second measurement light, and the second A detection element for confirming the reflected light of the measurement light by the object to be measured, wherein the detection element is a surface perpendicular to the optical axis passing through the microscope lens, and the second measurement at the focal position of the microscope lens. Reflected light of light is incident on the center Characterized in that provided in earthenware pots.

【0016】上記のように構成される本発明の形状測定
装置においては、顕微鏡として使用した際に確認された
画像の中心に対してオートコリメータとしての測定が行
われるとともに、距離の測定も行われるものとなる。
In the shape measuring apparatus of the present invention constructed as described above, the distance between the center of the image confirmed when used as a microscope is measured as an autocollimator and the distance is also measured. Will be things.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0018】図1は本発明の一実施例の構成を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【0019】本実施例は、顕微鏡レンズの出し入れによ
りオートコリメータもしくは顕微鏡として用いられるも
ので、図1(a)にはオートコリメータとして使用され
る状態が示され、図1(b)には顕微鏡として使用され
る状態が示されている。
This embodiment is used as an autocollimator or a microscope by putting in and taking out a microscope lens. FIG. 1A shows a state of being used as an autocollimator, and FIG. 1B shows a microscope. The condition used is indicated.

【0020】まず、図1(a)に示されるオートコリメ
ータとして使用される状態について説明する。半導体レ
ーザ(LD)11の出射光は集光レンズ10により一度
焦点を結んだ後に、拡散光としてミラー9およびビーム
スプリッタ13にて折り返され、コリメートレンズ12
により平行光とされる。コリメートレンズ12と被測定
物1との間には、LD4とPSD6とを備える変位計3
が設けられている。変位計3には孔17が形成されてお
り、コリメートレンズ12による平行光は孔15を通っ
て被測定物1に入射し、その反射光は、孔17、コリメ
ートレンズ12およびビームスプリッタ13を通ってイ
メージセンサであるCCD14に入射する。CCD14
は、コリメートレンズ12により集光された像がその入
射面上で結像する位置に配置されており、測定者は、被
測定物1からの反射光による像を確認することにより、
被測定物1の傾きの計測を行う。ここで行われる傾きの
計測は一般的な十字線を用いたものである。また、被測
定物1は、紙面に垂直なXY平面について移動可能なス
テージ(不図示)上に搭載されている。
First, a state used as the autocollimator shown in FIG. 1A will be described. The light emitted from the semiconductor laser (LD) 11 is once focused by the condenser lens 10 and then reflected by the mirror 9 and the beam splitter 13 as diffused light.
To make parallel light. A displacement meter 3 including an LD 4 and a PSD 6 is provided between the collimator lens 12 and the DUT 1.
Is provided. A hole 17 is formed in the displacement meter 3, the parallel light from the collimator lens 12 enters the DUT 1 through the hole 15, and the reflected light passes through the hole 17, the collimator lens 12 and the beam splitter 13. And enters the CCD 14, which is an image sensor. CCD14
Is arranged at a position where the image collected by the collimator lens 12 is formed on the incident surface, and the measurer confirms the image by the reflected light from the DUT 1,
The inclination of the DUT 1 is measured. The tilt measurement performed here uses a general crosshair. Further, the DUT 1 is mounted on a stage (not shown) that is movable in the XY plane perpendicular to the paper surface.

【0021】変位計3による距離の測定は上記のオート
コリメート動作とは独立に行われる。LD4から出射さ
れた測定光2は、被測定物1による反射光5としてPS
D6に入射し、このPSD6の受光状態(入射位置)に
より、被測定物1との距離の確認を行う。
The distance measurement by the displacement meter 3 is performed independently of the above-mentioned auto-collimating operation. The measurement light 2 emitted from the LD 4 is PS as the reflection light 5 by the DUT 1.
It is incident on D6, and the distance from the DUT 1 is confirmed by the light receiving state (incident position) of the PSD 6.

【0022】次に、図1(b)に示される顕微鏡として
使用される状態について説明する。本実施例のオートコ
リメータには、マウント7上に載置された顕微鏡レンズ
8が併設されている。マウント7はコリメートレンズ1
2と変位計3との間に出し入れ自在に構成されており、
このマウント7の移動に伴って顕微鏡レンズ8がその測
定光路上に出し入れされ、図1(b)に示すような顕微
鏡レンズ8が挿入されているときには顕微鏡として使用
されることとなる。
Next, the state used as the microscope shown in FIG. 1B will be described. The auto collimator of this embodiment is provided with a microscope lens 8 mounted on the mount 7. Mount 7 is collimating lens 1
It is configured so that it can be inserted and removed between 2 and the displacement gauge 3,
With the movement of the mount 7, the microscope lens 8 is moved in and out of the measurement optical path, and when the microscope lens 8 as shown in FIG. 1B is inserted, the microscope lens 8 is used as a microscope.

【0023】被測定物1の測定部位には、光源15から
の照明光16が照射されている。顕微鏡レンズ8として
は被測定物1の測定部位にて焦点を結ぶものが使用され
ており、被測定物1の測定部位における像は、孔17、
顕微鏡レンズ8、コリメートレンズ12およびビームス
プリッタ13を通ってCCD14に入射する。測定者
は、CCD14により検出される被測定物1の測定部位
における拡大画像を確認することにより、測定光の被測
定物1に入射している位置を確認する。
Illumination light 16 from a light source 15 is applied to the measurement site of the DUT 1. As the microscope lens 8, a lens that focuses on the measurement site of the DUT 1 is used.
The light enters the CCD 14 through the microscope lens 8, the collimator lens 12 and the beam splitter 13. The measurer confirms the position where the measurement light is incident on the DUT 1 by checking the enlarged image of the measurement site of the DUT 1 detected by the CCD 14.

【0024】変位計3に設けられるLD4とPSD6の
位置について言うと、顕微鏡レンズ8を通る光軸と垂直
な面であり、顕微鏡レンズ8の焦点位置における測定光
2の反射光5がPSD6の概ね中心に入射するように設
けられている。
Regarding the positions of the LD 4 and the PSD 6 provided in the displacement meter 3, it is a plane perpendicular to the optical axis passing through the microscope lens 8, and the reflected light 5 of the measurement light 2 at the focus position of the microscope lens 8 is almost the same as the PSD 6. It is provided so as to enter the center.

【0025】上記のように構成される本実施例の具体的
な使用方法について説明すると、まず、顕微鏡レンズ8
をコリメートレンズ12と変位計3との間に挿入して測
定部位の拡大画像をCCD14により確認し、顕微鏡レ
ンズ8をコリメートレンズ12と変位計3との間から外
して測定部位における傾きをCCD14により確認す
る。また、変位計3により高い精度にて被測定物1まで
の距離を測定する。その後、被測定物1のXY平面にお
ける位置を移動させて、その傾きを確認し、変位計3に
より距離を確認することを繰り返す。この結果、被測定
物1の形状の確認がなされる。
A specific method of using this embodiment having the above-described structure will be described. First, the microscope lens 8 is used.
Is inserted between the collimator lens 12 and the displacement meter 3 to confirm an enlarged image of the measurement site with the CCD 14, the microscope lens 8 is removed from between the collimator lens 12 and the displacement meter 3, and the inclination of the measurement site is measured with the CCD 14. Check. Further, the displacement meter 3 measures the distance to the DUT 1 with high accuracy. After that, the position of the DUT 1 on the XY plane is moved, the inclination is confirmed, and the distance is confirmed by the displacement meter 3 is repeated. As a result, the shape of the DUT 1 is confirmed.

【0026】上記のように構成される本実施例において
は、オートコリメータとして使用されるとき、顕微鏡と
して使用されるときのいずれの状態光においても、被測
定物の測定部位と検出器(CCD14)とを結ぶ軸線が
同じものとなる。このため、顕微鏡によって確認された
拡大画像の部位に確実にオートコリメータとして使用す
るときの測定光が照射されることにより、目的とする測
定部位に測定光が照射されているかの確認を確実に行う
ことができるものとなっている。
In the present embodiment constructed as described above, the measurement site of the object to be measured and the detector (CCD 14) in any state light when used as an autocollimator or when used as a microscope. The axes connecting and become the same. Therefore, the region of the magnified image confirmed by the microscope is surely irradiated with the measurement light when used as an autocollimator, so that it is surely confirmed whether or not the target measurement region is irradiated with the measurement light. It has become possible.

【0027】また、顕微鏡により確認された部位に確実
に測定光が照射される構成であることから、従来行われ
ていたような、測定光の照射状態を顕微鏡にて確認する
作業が不要となるとともに、測定光(および照明光)と
して任意の波長のものを使用することができるものとな
っている。
Further, since the measuring light is surely applied to the portion confirmed by the microscope, the work of confirming the irradiation state of the measuring light with the microscope, which has been performed conventionally, is unnecessary. At the same time, the measurement light (and the illumination light) having an arbitrary wavelength can be used.

【0028】可視光が有害となる被測定物については、
LD11および光源15として出射光が赤外などの可視
光ではないものを用い、CCD14としてはLD11お
よび光源15の出射光に対して検出感度を有するものを
使用すればよい。
As for the object to be measured in which visible light is harmful,
The LD 11 and the light source 15 may be those whose emitted light is not visible light such as infrared light, and the CCD 14 may be one having a detection sensitivity with respect to the emitted light of the LD 11 and the light source 15.

【0029】また、コリメートレンズ12はビームスプ
リッタ13と出し入れ自在な顕微鏡レンズ8との間に設
けるものとして説明したが、特にこの位置に限定される
ものではない。例えば同じパワのレンズを2個使用する
こととし、一方をミラー9とビームスプリッタ13との
間に設け、他方をビームスプリッタ13とCCD14と
の間に設けることとしても上述した説明と同様の動作を
行うものとなり、このような構成としてもよい。
Although the collimator lens 12 is described as being provided between the beam splitter 13 and the microscope lens 8 which can be freely taken in and out, the collimator lens 12 is not particularly limited to this position. For example, if two lenses having the same power are used, one of which is provided between the mirror 9 and the beam splitter 13 and the other of which is provided between the beam splitter 13 and the CCD 14, the same operation as that described above is performed. However, such a configuration may be adopted.

【0030】また、顕微鏡用の光源15の位置について
いうと、図1には測定部位を斜めから照明する反射式の
光源を示したが、LD11の位置に、LD11と切り替
え式の光源を配置して落射式の光源としてもよい。ま
た、LD11の出射光をそのまま顕微鏡の光源としても
よい。
Regarding the position of the light source 15 for the microscope, FIG. 1 shows a reflection type light source that obliquely illuminates the measurement site. However, the LD 11 and the switchable light source are arranged at the position of the LD 11. It may be an epi-illumination type light source. Further, the light emitted from the LD 11 may be used as it is as the light source of the microscope.

【0031】また、オートコリメータとして使用する際
の画像、顕微鏡として使用する際の画像はCCD14に
より検出するものとして説明したが、一般的な光学機器
と同様に眼に入射させる構成としてもよい。
Further, although the image when used as an autocollimator and the image when used as a microscope have been described as being detected by the CCD 14, they may be configured to be incident on the eye similarly to general optical equipment.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、測定光の種類(波長)が制限されることがな
くなり、顕微鏡を用いた位置決めを行った上で被測定物
の傾きや距離を測定することができる効果がある。
Since the present invention is constructed as described above, the kind (wavelength) of measuring light is not restricted, and the tilt of the object to be measured and There is an effect that the distance can be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示す図であり、
(a)にはオートコリメータとして使用される状態が示
され、(b)には顕微鏡として使用される状態が示され
ている。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention,
A state used as an autocollimator is shown in (a), and a state used as a microscope is shown in (b).

【図2】従来行われている機器の構成部品の取り付け状
態を測定するために使用される光学系を示す図であり、
(a)は被測定物の傾きを計測するためのオートコリメ
ータ、(b)は非測定物の測定部位を確認するための顕
微鏡、(c)は被測定物との距離を測定するための変位
計の基本的な構成をそれぞれ示している。
FIG. 2 is a diagram showing an optical system used to measure the mounting state of component parts of a conventional device,
(A) is an autocollimator for measuring the inclination of the object to be measured, (b) is a microscope for confirming the measurement site of the non-object, and (c) is a displacement for measuring the distance from the object. The basic configuration of the total is shown respectively.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被測定物 2 測定光 3 変位計 4 LD 5 反射光 6 PSD 7 マウント 8 顕微鏡レンズ 9 ミラー 10 集光レンズ 11 LD 12 コリメートレンズ 13 ビームスプリッタ 14 CCD 15 光源 16 照明光 1 DUT 2 Measuring light 3 displacement meter 4 LD 5 reflected light 6 PSD 7 mount 8 microscope lens 9 mirror 10 Condensing lens 11 LD 12 Collimating lens 13 Beam splitter 14 CCD 15 light source 16 Illumination light

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA06 AA35 AA53 BB05 FF04 GG02 GG04 HH03 HH04 HH12 HH13 JJ02 JJ03 JJ05 JJ16 JJ26 LL04 LL12 PP12 UU07 2H052 AC04 AC09 AF02    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2F065 AA06 AA35 AA53 BB05 FF04                       GG02 GG04 HH03 HH04 HH12                       HH13 JJ02 JJ03 JJ05 JJ16                       JJ26 LL04 LL12 PP12 UU07                 2H052 AC04 AC09 AF02

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被測定物に対して平行光を照射し、その
反射光を確認することにより被測定物の傾きを測定する
オートコリメータであって、 前記被測定物への照射光を平行光とするためのコリメー
トレンズと、 前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ
自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を
集光する顕微鏡レンズとを有することを特徴とする顕微
鏡を備えたオートコリメータ。
1. An autocollimator for irradiating parallel light to an object to be measured, and checking the reflected light to measure the inclination of the object to be measured, wherein the parallel light is the light to be irradiated onto the object to be measured. And a collimator lens for adjusting the collimator lens, and a microscope lens that is provided between the collimator lens and the object to be measured so that the collimator lens collects parallel light. Auto collimator.
【請求項2】 被測定物に対して第1および第2の測定
光を照射し、第1の測定光の反射光を確認することによ
り被測定物の傾きを測定し、第2の測定光の反射光を確
認することにより被測定物までの距離を測定する形状測
定装置であって、 前記被測定物への第1の測定光を平行光とするためのコ
リメートレンズと、 前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ
自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を
集光する顕微鏡レンズと、 前記第2の測定光を発生する光源と、 前記第2の測定光の被測定物による反射光を確認する検
出素子と、を有し、 前記検出素子は、前記顕微鏡レンズを通る光軸と垂直な
面であり、顕微鏡レンズの焦点位置における前記第2の
測定光の反射光が概ね中心に入射するように設けられて
いることを特徴とする形状測定装置。
2. The tilt of the object to be measured is measured by irradiating the object to be measured with the first and second measuring lights and confirming the reflected light of the first measuring light to obtain the second measuring light. A shape measuring device for measuring a distance to an object to be measured by confirming reflected light of the collimator lens for collimating the first measuring light to the object to be measured, and the collimator lens, A microscope lens that is provided so as to be freely inserted into and removed from the object to be measured and that collects parallel light by the collimator lens; a light source that generates the second measuring light; and an object to be measured with the second measuring light. And a detection element for confirming the reflected light by the detection element, wherein the detection element is a surface perpendicular to the optical axis passing through the microscope lens, and the reflected light of the second measurement light at the focus position of the microscope lens is approximately It is provided so as to enter the center Shape measuring apparatus according to claim and.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010137637A1 (en) * 2009-05-27 2010-12-02 株式会社ニコン Shape measuring device, shape measuring method, and production method
JP2018032045A (en) * 2012-10-15 2018-03-01 ソニー株式会社 Image acquisition device and slide inclination measuring method
CN107817095A (en) * 2017-09-14 2018-03-20 西安科佳光电科技有限公司 A kind of high accuracy double optical axises and more plain shaft parallelism adjusting process in the same direction
CN107843413A (en) * 2017-09-14 2018-03-27 西安科佳光电科技有限公司 A kind of high accuracy reversely double optical axises and more plain shaft parallelism adjusting process
CN114777644A (en) * 2022-04-11 2022-07-22 河南科技大学 Machine vision measuring method and measuring device for pinion of duplicate gear

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010137637A1 (en) * 2009-05-27 2010-12-02 株式会社ニコン Shape measuring device, shape measuring method, and production method
US8441652B2 (en) 2009-05-27 2013-05-14 Nikon Corporation Profile measuring apparatus, method for measuring profile, and method for manufacturing product
JP2018032045A (en) * 2012-10-15 2018-03-01 ソニー株式会社 Image acquisition device and slide inclination measuring method
CN107817095A (en) * 2017-09-14 2018-03-20 西安科佳光电科技有限公司 A kind of high accuracy double optical axises and more plain shaft parallelism adjusting process in the same direction
CN107843413A (en) * 2017-09-14 2018-03-27 西安科佳光电科技有限公司 A kind of high accuracy reversely double optical axises and more plain shaft parallelism adjusting process
CN107817095B (en) * 2017-09-14 2019-12-20 西安科佳光电科技有限公司 High-precision homodromous double-optical-axis and multi-optical-axis parallelism adjusting method
CN107843413B (en) * 2017-09-14 2020-01-10 西安科佳光电科技有限公司 High-precision reverse double-optical-axis and multi-optical-axis parallelism adjusting method
CN114777644A (en) * 2022-04-11 2022-07-22 河南科技大学 Machine vision measuring method and measuring device for pinion of duplicate gear

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