JP2003144427A - Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム - Google Patents

Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム

Info

Publication number
JP2003144427A
JP2003144427A JP2001340923A JP2001340923A JP2003144427A JP 2003144427 A JP2003144427 A JP 2003144427A JP 2001340923 A JP2001340923 A JP 2001340923A JP 2001340923 A JP2001340923 A JP 2001340923A JP 2003144427 A JP2003144427 A JP 2003144427A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
view
ray
detection
projection data
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001340923A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoyuki Kawachi
直幸 河内
Masayasu Nukui
正健 貫井
Tetsuya Horiuchi
哲也 堀内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Medical Systems Global Technology Co LLC
Original Assignee
GE Medical Systems Global Technology Co LLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GE Medical Systems Global Technology Co LLC filed Critical GE Medical Systems Global Technology Co LLC
Priority to JP2001340923A priority Critical patent/JP2003144427A/ja
Publication of JP2003144427A publication Critical patent/JP2003144427A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ２つのリファレンスチャネルが同時にブロッ
クされた場合の悪影響を回避し、もって再構成されるＸ
線断層像の画質の劣化を抑えること。 【解決手段】 各ビュー(v)毎に、Ｘ線管の放射Ｘ線強
度を監視するための基準検出チャネルの出力（d(v, Lre
f)、d(v, Rref)）が所定のしきい値（T・Lmax、T・Rma
x）を下回っているか否かを判断する判断し（S503, S50
5）、基準検出チャネルの出力（d(v, Lref)、d(v, Rre
f)）がしきい値を下回っていると判断されたときにその
出力を所定値で置き換える補正を行う（S504, S506）。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線照射によって
被検体のＸ線断層像を得るＸ線ＣＴ（Computerized Tom
ography）システム、Ｘ線ＣＴシステムにおける操作コ
ンソールおよびその制御方法、ならびにプログラムに関
する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴシステムは、テーブルに横たえ
た患者（被検体）に複数のビュー方向からＸ線を照射す
るスキャンを行い、被検体を透過した各ビュー方向から
のＸ線より得られる投影データに基づいて画像再構成処
理を行うことによって、診断部位の断層像を提供するも
のである。
【０００３】図１２Ａは、スキャンのようすを示す模式
図である。被検体領域を覆うファンビームＸ線（一般に
30°から60°のファン角度を有する）を放射するＸ線管
３１と、ファンの広がり方向に配された多数（例えば1,
000個）の検出チャネル（検出素子ともいう）を有し、
被検体（テーブル３３に横たえられている）を挟んでＸ
線管３１に対向して設けられたＸ線検出器３２と、が一
体となって被検体の周りを回転運動する。この回転運動
中に、Ｘ線管３１からファンビームＸ線を所定角度ごと
に曝射し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器３２で検
出することによって投影データの収集が行われる。収集
された投影データは不図示の操作コンソールに転送さ
れ、所定の再構成演算によりＸ線断層像が提供されるこ
とになる。
【０００４】ところで、Ｘ線発生源（Ｘ線管３１）から
放射されるＸ線は、その強度や線質（スペクトル分布）
が時間的に変動したり、ファンビームにおいて空間的ま
たは時間的に一様でなかったりするため、これを補償す
る必要がある。これに対しては、放射Ｘ線強度を監視す
るためのリファレンス検出器を用いて放射Ｘ線強度の空
間的・時間的な変動を補償する技術（一般に「リファレ
ンス補正」とよばれる。）が従来より知られている。
【０００５】従来より、図１２Ａに示すように、Ｘ線検
出部３２の検出チャネルのうちの一端部に位置する検出
チャネル（例えば３２ａ）がリファレンスチャネルとし
て使用される。
【０００６】ここで、リファレンスチャネル３２ａで放
射Ｘ線強度を監視するためには、Ｘ線管３１からリファ
レンスチャネルに向かうＸ線パスが被検体に遮られずに
（ブロックされずに）、Ｘ線が直接入射することが必要
である。通常は、スキャンに際して、回転中心が被検体
のスライス面のほぼ中央に位置するようにテーブル３３
の高さを調整しさえすれば、リファレンスチャネルに向
かうＸ線が被検体にブロックされないように設計されて
いる。
【０００７】しかし、例えば被検体の体格が大きい場合
には、あるビュー角度でリファレンスチャネルに向かう
Ｘ線パスがブロックされてしまう場合がある。ブロック
された場合にはリファレンスチャネルの出力をそのまま
リファレンスデータとして用いることはできない。
【０００８】そこで、一般には、両端の検出チャネル３
２ａおよび３２ｂを共にリファレンスチャネルとして使
用することとし、両方のリファレンスチャネルの出力の
重み付け加算値をリファレンスデータとして用いること
で、いずれかのリファレンスデータのブロックによる出
力の落ち込みをリカバーするようにしている。
【０００９】具体的には、リファレンスチャネル３２ａ
の出力をＬ、３２ｂの出力をＲとすると、投影データが
収集されるごとに、例えばＬ／Ｒを計算する。そして、
Ｌ／Ｒの値に応じた重み付け係数w(L/R)を用いて、次式
によりリファレンスデータrefを算出する。
【００１０】 ref = w(L/R)・L + (1-w(L/R))・R (1)
【００１１】図１３は、Ｌ／Ｒに対する重み付け係数ｗ
(L/R)の関係の一例を示す図である。いずれのリファレ
ンスチャネルもがブロックされていない状態であれば、
Ｌ／Ｒの値は１に近い値となるから、重み付け係数w(L/
R)は0.5程度に設定されて、リファレンスデータrefはお
よそＬとＲとの平均値に近くなる。
【００１２】一方、例えばリファレンスチャネル３２ａ
がブロックされてＬの値が落ち込んだ場合にはＬ／Ｒの
値は１未満の値となり、それに応じて重み付け係数w(L/
R)が０に近い値に設定される。これにより、リファレン
スチャネル３２ａのブロックの影響を小さくすることが
できる。
【００１３】同様に、例えばリファレンスチャネル３２
ｂがブロックされてＲの値が落ち込んだ場合には、Ｌ／
Ｒの値は１以上の値となり、それに応じて、重み付け係
数w(L/R)が１に近い値に設定される。これにより、リフ
ァレンスチャネル３２ｂのブロックの影響を小さくする
ことができる。
【００１４】このように、従来は両方のリファレンスチ
ャネルの出力比に応じて、リファレンス補正のためのリ
ファレンスデータを生成するようにしていた。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
例においては、両方のリファレンスチャネルが同時にブ
ロックされてしまった場合を考慮していない。
【００１６】図１２Ｂは、図１２Ａに示した被検体に比
べて体格の大きい被検体をテーブル３３に載置したよう
すを示している。ここで、被検体の体格が想定以上に大
きい場合には、ガントリの空洞部の大きさ等の関係でテ
ーブル３３の位置を下げざるを得ず、その結果、図１２
Ｂに示すように回転中心が被検体のスライス面の中央に
位置させることができない場合がある。
【００１７】この場合、たとえ初期の投影角度（例えば
Ｘ線管３１が真上にある状態）付近においてはリファレ
ンスチャネル３２ａ、３２ｂに向かうＸ線パスが被検体
にブロックされていなかったとしても、図１２Ｃに示す
ように、例えば投影角度180°付近ではリファレンスチ
ャネル３２ａ、３２ｂが同時にブロックされてしまう、
という事態が起こりうる。
【００１８】そして、リファレンスチャネル３２ａ、３
２ｂが同時にブロックされたときの両方のリファレンス
チャネルの出力比は、いずれのリファレンスチャネルも
がブロックされていないときと同様に１に近い値とな
り、リファレンスデータは両方のリファレンスチャネル
の出力の平均値あたりに設定されることになる。そのた
め、リファレンス補正が正しく行われず、再構成される
Ｘ線断層像の画質が劣化するという問題がある。
【００１９】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであり、２つのリファレンスチャネルが同時にブロッ
クされた場合の悪影響を回避し、もって再構成されるＸ
線断層像の画質の劣化を抑えることを目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するた
め、例えば本発明のＸ線ＣＴシステムは以下の構成を備
える。すなわち、Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー
方向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を複数の
検出チャネルを有するＸ線検出部で検出することで投影
データを収集するスキャンを行うＸ線ＣＴシステムであ
って、前記複数の検出チャネルのうちの一端側に位置す
る第１の検出チャネルおよび他端側に位置する第２の検
出チャネルそれぞれの出力に基づいて各ビューのリファ
レンスデータを生成する生成手段と、生成された前記リ
ファレンスデータの、所定数のビューにわたる変動の低
周波成分を抽出する抽出手段と、抽出された前記低周波
成分が所定値を下回っているか否かを判断する判断手段
と、前記低周波成分が前記所定値を下回っていると判断
したときは、前記リファレンスデータを、前記低周波成
分に対応する高周波成分を用いて補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする。
【００２１】
【発明の実施の形態】（実施形態１）図１は、本実施形
態におけるＸ線ＣＴシステムのブロック構成図である。
図示の如く、本システムは、被検体へのＸ線照射と被検
体を透過したＸ線を検出するためのガントリ装置１００
と、ガントリ装置１００に対して各種動作設定を行うと
ともに、ガントリ装置１００から出力されてきたデータ
に基づいてＸ線断層像を再構成し、出力（表示）する操
作コンソール２００により構成されている。
【００２２】ガントリ装置１００は、その全体の制御を
司るメインコントローラ１を始め以下の構成を備える。
【００２３】２ａおよび２ｂは操作コンソール２００と
の通信を行うためのインタフェース、３はテーブル１１
上に横たえた被検体（患者）を図面に垂直な方向（以
下、ｚ軸といい、一般に患者の体軸の方向と一致する）
に搬送するための空洞部を有するガントリであり、その
内部には、Ｘ線発生源であるＸ線管４（Ｘ線管コントロ
ーラ５により駆動が制御される）、Ｘ線の照射範囲を制
限するための開口を有するコリメータ６、コリメータ６
のｚ軸方向の開口幅を調整するための開口制御モータ７
（開口制御モータドライバ８により駆動が制御される）
が設けられている。
【００２４】また、ガントリ３には、コリメータ６およ
び空洞部を経由してきたＸ線管４からのＸ線を検出する
Ｘ線検出部１４、および、Ｘ線検出部１４より得られた
投影データを収集するデータ収集部１５も備える。Ｘ線
管４およびコリメータ６とＸ線検出部１４とは、互いに
空洞部を挟んで、すなわち、被検体を挟んで、対向する
位置に設けられ、その関係が維持された状態で空洞部の
周りを回転するようになっている。この回転は、回転モ
ータドライバ１０からの駆動信号により駆動される回転
モータ９によって行われる。また、被検体を乗せるテー
ブル１１は、ｚ軸方向への搬送がなされるが、その駆動
は、テーブルモータドライバ１３からの駆動信号により
駆動されるテーブルモータ１２によって行われる。
【００２５】メインコントローラ１は、インタフェース
２ａを介して受信した各種コマンドの解析を行い、それ
に基づいて上記のＸ線管コントローラ５、開口制御モー
タドライバ８、回転モータドライバ１０、テーブルモー
タドライバ１３、およびデータ収集部１５に対し、各種
制御信号を出力することになる。
【００２６】データ収集部１５で収集されたデータは、
インタフェース２ｂを介して操作コンソール２００に送
出される。
【００２７】一方、操作コンソール２００は、いわゆる
ワークステーションであり、図示するように、装置全体
の制御を司るＣＰＵ５１、ブートプログラム等を記憶し
ているＲＯＭ５２、主記憶装置として機能するＲＡＭ５
３を始め、以下の構成を備える。
【００２８】ＨＤＤ５４は、ハードディスク装置であっ
て、ここにＯＳのほか、ガントリ装置１００に各種指示
を与えたり、ガントリ装置１００より受信したデータに
基づいてＸ線断層像を再構成するための画像再構成プロ
グラムが格納されている。また、ＶＲＡＭ５５は表示し
ようとするイメージデータを展開するメモリであり、こ
こにイメージデータ等を展開することでＣＲＴ５６に表
示させることができる。５７および５８は、各種設定を
行うためのキーボードおよびマウスである。また、５９
および６０はガントリ装置１００と通信を行うためのイ
ンタフェースであり、それぞれガントリ装置１００のイ
ンタフェース２ａおよび２ｂに接続される。
【００２９】図２は、ガントリ装置１００におけるＸ線
管４、コリメータ６、テーブル１１、およびＸ線検出部
１４を示す模式図である。
【００３０】図示の如く、コリメータ６によって、Ｘ線
管４から放射されたＸ線より、所定のＸ線照射角（ファ
ン角）のファンビームが形成される。実施形態における
ファン角は、例えば、60°であるとする。上記したＸ線
検出部１４は、ファン角に依存した長さにわたるQ個
（例えば、Q=1,000）の検出チャネルを有し、一列の検
出器を形成している。実施形態ではＸ線検出部１４は一
列の検出器を有するものとするが、検出器をｚ軸方向に
複数列配し、マトリクス状の検出チャネル群を形成す
る、いわゆるマルチスライス型のＸ線検出部であっても
よい。
【００３１】このＸ線検出部１４において、Q個の検出
チャネルのうちの紙面に対して左端部の検出チャネルLr
ef（例えば、第０チャネル）、および、右端部の検出チ
ャネルRref（例えば、第Q-1チャネル）は、Ｘ線量補正
のためのＸ線量変動の監視等を行うリファレンスチャネ
ルとして使用される。
【００３２】本実施形態におけるＸ線ＣＴシステムの構
成は概ね上記のとおりである。かかる構成のＸ線ＣＴシ
ステムにおいて、投影データの収集は次のように行われ
る。
【００３３】まず、被検体をガントリ３の空洞部に位置
させた状態でｚ軸方向の位置を固定し、Ｘ線管４からの
Ｘ線ビームを被検体に照射し（Ｘ線の投影）、その透過
Ｘ線をＸ線検出部１４で検出する。そして、この透過Ｘ
線の検出を、Ｘ線管４とＸ線検出部１４を被検体の周囲
を回転させながら（すなわち、投影角度（ビュー角度）
を変化させながら）複数N（例えば、N=1,000）のビュー
方向で、360度分行う。検出された各透過Ｘ線は、デー
タ収集部１５でディジタル値に変換されて投影データと
してインタフェース２ｂを介して操作コンソール２００
に転送される。これら一連の工程を１つの単位として１
スキャンとよぶ。そして、順次ｚ軸方向にスキャン位置
を所定量移動して、次のスキャンを行っていく。このよ
うなスキャン方式はアキシャルスキャン方式とよばれる
が、投影角度の変化に同期してテーブル１１を所定速度
で移動させることでスキャン位置を移動させながら（Ｘ
線管４とＸ線検出部１４とが被検体の周囲をらせん状に
周回することになる）投影データを収集する、ヘリカル
スキャン方式であってもよい。操作コンソール２００
は、転送された投影データに基づいて、Ｘ線断層画像を
再構成し、ＣＲＴ５６に表示出力する。
【００３４】本実施形態は、Ｘ線断層像の再構成に先立
ち、リファレンスチャネルLrefおよび／またはRrefがブ
ロックされた場合に、そのリファレンスチャネルの出力
を補正する処理を含む。
【００３５】図３は、本実施形態における操作コンソー
ル２００の処理の概要を示すフローチャートである。こ
のフローチャートに対応するプログラムは、操作コンソ
ール２００のハードディスク５４に画像再構成プログラ
ムとして格納され、電源投入後、ＲＡＭ５３にロードさ
れ、ＣＰＵ５１により実行されるものである。
【００３６】まず、スキャン計画を立てる（ステップＳ
１）。一般には、画像再構成プログラムが提供するＧＵ
Ｉ（ＣＲＴ５６に設定画面が表示され、キーボード５７
および／またはマウス５８を用いて入力することを可能
にするユーザインタフェース）を介して、諸種のスキャ
ン条件（スライス厚、スキャン開始／終了位置、Ｘ線管
４に与える電流値、ガントリ３の回転速度等）が設定さ
れることになる。このスキャン計画そのものは公知のも
のであるので、その詳細は省略する。設定されたスキャ
ン条件はＲＡＭ５３に記憶される。
【００３７】次のステップＳ２では、スキャン開始指示
がなされたか否かをキーボード５７またはマウス５８の
入力に基づき判断する。スキャン開始指示がなされる
と、ステップＳ１で設定したスキャン条件をパラメータ
とするスキャン開始指令をガントリ装置１００に送信
し、ガントリ装置１００にスキャンを行わせる。
【００３８】そして、ステップＳ３で、そのスキャンに
よってガントリ装置１００からのデータを受信し、ステ
ップＳ４で、受信データが終了したかどうかを監視して
いる。
【００３９】ステップＳ５では、受信した投影データか
ら、リファレンスチャネルLref、Rrefの出力補正を行う
（詳細は後述する。）。
【００４０】ステップＳ６では、従来と同様の手法で、
補正されたリファレンスチャネルLref、Rrefの出力に基
づきリファレンス補正のためのリファレンスデータを生
成する。
【００４１】ステップＳ７では、リファレンス補正、線
質硬化（Beam Hardning）補正、Ｘ線検出器の物理特性
の補正等を含む、所定の前処理を行う。
【００４２】ステップＳ８では、フィルタード・バック
プロジェクション等の所定のアルゴリズムに従って画像
再構成処理を実施して被検体のＸ線断層像を生成し、ス
テップＳ９で、ＣＲＴ５６にそのＸ線断層像を表示出力
する。
【００４３】以上が、実施形態における操作コンソール
２００の処理の概要である。
【００４４】次に、上記ステップＳ５のリファレンスチ
ャネルLref、Rrefの出力の補正処理について説明する。
本実施形態は、各ビューにおけるリファレンスチャネル
Lref、Rrefそれぞれの出力が、当該ビューの直前のビュ
ーまでの最大値から所定の割合を下回った場合に、当該
ビューにおけるリファレンスチャネルの出力を所定の値
に置き換えることで補正するものである。以下、図４の
フローチャートを用いて詳しく説明する。
【００４５】まず、ステップＳ５０１で、ビュー番号
（ビュー角度に対応する）を示す変数vを０に初期化す
る。
【００４６】次に、ステップＳ５０２で、第vビューで
のリファレンスチャネルLrefの出力d(v, Lref)を、各ビ
ューでのリファレンスチャネルLrefの出力の最大値を示
すLmaxとして設定する。同様に、第vビューでのリファ
レンスチャネルRrefの出力d(v,Rref)を、各ビューでの
リファレンスチャネルRrefの出力の最大値を示すRmaxと
して設定する。なお、本明細書では特に明示しない限
り、記号「＝」は右辺の値を左辺に代入することを意味
するものとする。
【００４７】続くステップＳ５０３では、Lmaxに対する
d(v, Lref)の割合が所定のしきい値Ｔ（例えば0.9）よ
り小さいか否かを判定する。ここで、Lmaxに対するd(v,
Lref)の割合がしきい値Ｔより小さくないときはそのま
まステップＳ５０５に進む。一方、Lmaxに対するd(v, L
ref)の割合がしきい値Ｔより小さい場合には、当該ビュ
ーvでリファレンスチャネルLrefがブロックされたと判
断してステップＳ５０４に進み、このときのd(v, Lref)
を、所定値（例えば、当該第vビューの直前のビューま
での最大値であるLmax）で置き換えたのち、ステップＳ
５０５に進む。
【００４８】ステップＳ５０５では、ステップＳ５０３
と同様に、Rmaxに対するd(v, Rref)の割合がしきい値Ｔ
より小さいか否かを判定する。ここで、Rmaxに対するd
(v, Rref)の割合がしきい値Ｔより小さくないときはそ
のままステップＳ５０７に進む。一方、Rmaxに対するd
(v, Rref)の割合がしきい値Ｔより小さい場合には、当
該ビューvでリファレンスチャネルRrefがブロックされ
たと判断してステップＳ５０６に進み、このときのd(v,
Rref)を所定値（例えば、当該第vビューの直前のビュ
ーまでの最大値であるRmax）で置き換えたのち、ステッ
プＳ５０７に進む。
【００４９】ステップＳ５０７〜Ｓ５１０では、現在の
ビューvまでにおけるリファレンスチャネルLrefおよびR
refそれぞれの最大値の更新を行う。
【００５０】まず、d(v, Lref)がLmaxより大きいか否か
を判断し（ステップＳ５０７）、この条件を満たす場合
にはこのときのd(v, Lref)をLmaxに設定する（ステップ
Ｓ５０８）。また、d(v, Rref)がRmaxより大きいか否か
を判断し（ステップＳ５０９）、この条件を満たす場合
にはこのときのd(v, Rref)をRmaxに設定する（ステップ
Ｓ５１０）。
【００５１】そして、ステップＳ５１１で、vをインク
リメントして、ステップＳ５１２で、vが１回転のビュ
ーの総数N未満であるか否かを判断する。vがN未満であ
ればステップＳ５０３に戻って処理を繰り返す。vがN未
満でなくなれば、最後の第N-1ビューまで処理を終えた
ことになるので、このステップＳ５の処理を抜ける。
【００５２】以上の処理によれば、２つのリファレンス
チャネルの出力比を用いずに、各リファレンスチャネル
毎に単独で、各ビュー毎にそのリファレンスチャネルが
ブロックされたかどうかを判断し、ブロックされたと判
断したときにはそのリファレンスチャネルの出力を所定
の値で置き換えるようにしたので、２つのリファレンス
チャネルが同時にブロックされたことによる悪影響を小
さくすることができる。よって、スキャン中に２つのリ
ファレンスチャネルが同時にブロックされたとしても、
それによる断層像の画質の劣化を抑えることが可能にな
る。
【００５３】（実施形態２）上述した実施形態１は、図
３のフローチャートのステップＳ５において、各ビュー
毎にそのリファレンスチャネルがブロックされたかどう
かを判断し、ブロックされたと判断したときにはそのリ
ファレンスチャネルの出力を一定の値で置き換えるもの
であったが、本実施形態では、一定値ではなく、より実
際に近い値で補正を行う。
【００５４】本実施形態におけるＸ線ＣＴシステムのハ
ードウェア構成は実施形態１と同様であるので、図１お
よび図２をそのまま適用する。
【００５５】図５は、本実施形態における操作コンソー
ル２００の処理の概要を示すフローチャートである。こ
のフローチャートに対応するプログラムは、操作コンソ
ール２００のハードディスク５４に画像再構成プログラ
ムとして格納され、電源投入後、ＲＡＭ５３にロードさ
れ、ＣＰＵ５１により実行されるものである。
【００５６】まず、ステップＳ１０で、スキャン計画を
立て、次のステップＳ１１で、スキャン開始指示がなさ
れたか否かをキーボード５７またはマウス５８の入力に
基づき判断する。スキャン開始指示がなされると、ステ
ップＳ１０で設定したスキャン条件をパラメータとする
スキャン開始指令をガントリ装置１００に送信し、ガン
トリ装置１００にスキャンを行わせる。
【００５７】そして、ステップＳ１２で、そのスキャン
によってガントリ装置１００からのデータを受信し、ス
テップＳ１３で、受信データが終了したかどうかを監視
している。
【００５８】ステップＳ１４では、受信した投影データ
のうち、リファレンスチャネルLref、Rrefのデータに基
づき、リファレンスデータを生成する。その方法は従来
と同様の方法を適用することができるが、一例を後述す
ることにする。
【００５９】ステップＳ１５では、リファレンスチャネ
ルLref、Rrefが同時にブロックされたことによって、ス
テップＳ１４で生成されたリファレンスデータに含まれ
得る不正確なデータを補償するための補正処理を行う。
その具体的な方法は後述する。
【００６０】ステップＳ１６では、リファレンス補正、
線質硬化（Beam Hardning）補正、Ｘ線検出器の物理特
性の補正等を含む、所定の前処理を行う。
【００６１】ステップＳ１７では、フィルタード・バッ
クプロジェクション等の所定のアルゴリズムに従って画
像再構成処理を実施して被検体のＸ線断層像を生成し、
ステップＳ１８で、ＣＲＴ５６にそのＸ線断層像を表示
出力する。
【００６２】以上が、本実施形態における操作コンソー
ル２００の処理の概要である。
【００６３】図６は、上記ステップＳ１４における、本
実施形態のリファレンスデータの生成処理の詳細を示す
フローチャートである。本ステップでは、従来と同様
に、両方のリファレンスチャネルLrefおよびRrefの出力
の重み付け加算値をリファレンスデータとする。
【００６４】まず、ステップＳ１４０１で、ビュー番号
を示す変数vを０に初期化する。
【００６５】次に、ステップＳ１４０２で、重み付け係
数Wを算出する。重み付け係数Wは、第vビューにおけるL
refの出力d(v, Lref)と第vビューにおけるRrefの出力d
(v, Rref)との比d(v, Lref)/d(v, Rref)を計算し、例え
ば図１３に示した関係から導き出す。そして、導出され
たWを用いて、次式により第vビューにおけるリファレン
スデータref(v)を算出する。
【００６６】 ref(v) = W・d(v, Lref) + (1-W)・d(v, Rref) (2)
【００６７】従来の技術の項で説明したように、図１３
の関係によれば、どちらのリファレンスチャネルもがブ
ロックされていない状態であれば、d(v, Lref)/d(v, Rr
ef)は１に近い値をとるから、重み付け係数Wは0.5程度
に設定されて、リファレンスデータref(v)はd(v, Lref)
とd(v, Rref)との平均値に近くなる。
【００６８】一方、例えばリファレンスチャネルLrefが
ブロックされてd(v, Lref)が落ち込んだ場合にはd(v, L
ref)/d(v, Rref)の値は１未満の値となり、それに応じ
て重み付け係数Wが０に近い値に設定される。これによ
り、リファレンスチャネルLrefのブロックの影響を小さ
くすることができる。
【００６９】同様に、例えばリファレンスチャネルRref
がブロックされてd(v, Rref)の値が落ち込んだ場合に
は、d(v, Lref)/d(v, Rref)の値は１以上の値となり、
それに応じて、重み付け係数Wが１に近い値に設定され
る。これにより、リファレンスチャネルRrefのブロック
の影響を小さくすることができる。
【００７０】このように、両方のリファレンスチャネル
の出力比に応じてリファレンスデータが生成される。
【００７１】しかし、ステップＳ１４においては、先述
したとおり、両方のリファレンスチャネルが同時にブロ
ックされてしまった場合にそのまま生成された不正確な
リファレンスデータを含んでいる可能性がある。そこ
で、本実施形態では、ステップＳ１５のリファレンスデ
ータ補正処理が適用される。
【００７２】図７は、上記ステップＳ１５における、本
実施形態のリファレンスデータの補正処理の詳細を示す
フローチャートである。
【００７３】この処理は、初期ビューである第０ビュー
の次の第１ビューから開始する（ステップＳ１５０
１）。
【００７４】ステップＳ１５０２では、各ビューでのリ
ファレンスデータrefの出力の最大値を示すmaxおよび、
第vビューにおけるリファレンスデータrefの所定数のビ
ューにわたる出力変動の低周波成分を表すs(v)のそれぞ
れに、第vビューでのリファレンスデータrefの出力ref
(v)の値を設定する。
【００７５】ステップＳ１５０３では、次式により出力
変動の低周波成分s(v)を設定する。
【００７６】 s(v) = f・s(v-1) + (1-f)・ref(v) (3)
【００７７】ただし、fは低周波成分を得るための係数
であり、０〜１のいずれかの値が設定される。fの値を
大きくとると、より低周波の成分を取り出すことができ
るが、もとの出力変動データに対する追従性が劣ること
になる。一方、fの値を小さくすれば、追従性は向上す
るものの、高周波成分が入り込むことになる。このよう
なトレードオフを考慮して、f=0.7程度に設定すること
が好ましい。
【００７８】この演算操作は、移動平均により出力変動
を平滑化するものであるともいえる。ここでは、１つ手
前のビューにおけるデータのみを用いて移動平均をとる
ことにしたが、過去の複数のビューにおけるデータを用
いて移動平均をとることで低周波成分を抽出するように
してもよい。
【００７９】次に、ステップＳ１５０４で、s(v)がmax
に所定の係数T（例えばT=0.9）を乗じた値（T・max）よ
り小さいかどうかを判断することで、２つのリファレン
スチャネルLrefおよびRrefが同時にブロックされたか否
かを判定する。ここで、s(v)＜T・maxを満たさないとき
は、そのままステップＳ１５０７に進む。一方、s(v)＜
T・maxを満たすときは、当該第vビューでリファレンス
チャネルLrefおよびRrefが同時にブロックされたと判断
してステップＳ１５０５に進み、maxとref(v)との比率m
ax/ref(v)を変数ratioに設定する。そして、次のステッ
プＳ１５０６で、次式によりref(v)を補正する。
【００８０】 ref(v)=T・max + ratio・(ref(v)-s(v)) (4)
【００８１】式(4)右辺第２項の ref(v)-s(v) は、リフ
ァレンスデータref(v)から低周波成分s(v)を減じること
でref(v)の高周波成分を求めることを表す。つまり、式
(4)によって、リファレンスチャネルLrefおよびRrefが
同時にブロックされたときのリファレンスデータref(v)
が、両方のリファレンスチャネルが同時にブロックされ
たか否かの判断基準値T・maxに高周波成分を重畳した値
で補正されることになる。
【００８２】ステップＳ１５０７では、現在のビューv
までにおけるリファレンスデータref(v)の最大値の更新
を行う。すなわち、ref(v)がmaxより大きいか否かを判
断し、この条件を満たす場合には、ステップＳ１５０８
に進み、このときのref(v)をmaxに設定する。
【００８３】そして、ステップＳ１５０９で、vをイン
クリメントして、ステップＳ１５１０で、vが１回転の
ビューの総数N未満であるか否かを判断する。vがN未満
であればステップＳ１５０３に戻って処理を繰り返す。
vがN未満でなくなれば、最後の第N-1ビューまで処理を
終えたことになるので、このステップＳ５の処理を抜け
る。
【００８４】以上の処理によれば、まず、リファレンス
チャネルの複数ビューわたる出力変動の低周波成分、す
なわち平滑化された出力変動に対するしきい値判定によ
り両側のリファレンスチャネルが同時にブロックされた
かどうかを判定するので、安定した判定を行うことがで
きる。
【００８５】また、両側のリファレンスチャネルが同時
にブロックされた場合には、そのときのリファレンスチ
ャネルの出力を、出力変動の高周波成分を用いて補正す
るようにしたので、より実際に近い値で補正され、これ
により断層像の画質の劣化をさらに抑えることが可能に
なる。
【００８６】（実施形態３）ヘリカルスキャンの場合、
目的のスライス位置における投影データは１つの投影角
度におけるデータしか収集されないため、そのスライス
位置の投影データを補間して得る必要がある（ヘリカル
補間）。ヘリカル補間の手法としては、対向ビームの投
影データ（以下、「対向データ」という。）を用いた重
み付け加算を行うものが知られている。
【００８７】ところで、マルチスライスのヘリカルスキ
ャンの場合、ヘリカル補間は隣接する検出器列の投影デ
ータをも用いて行われることになる。ここで、隣接する
検出器列における投影データ収集の開始ビュー角度が相
違するので、重みのかかり具合が検出器列によって異な
る。その結果、２つのリファレンスチャネルがブロック
された場合、ブロックされたビューにおけるリファレン
スチャネルの出力の重みが大きくなる場合と小さくなる
場合が存在し、そのようなデータでもって再構成された
各断層像のＣＴ値は規則的にシフトするという問題があ
る。
【００８８】本実施形態は、２つのリファレンスチャネ
ルがブロックされた場合のヘリカル補間に用いる重み付
け係数を調整することにより、上記の問題点を解消す
る。
【００８９】本実施形態におけるＸ線ＣＴシステムのハ
ードウェア構成は、実施形態１と同様であるので、図１
および図２をそのまま適用する。ただし、Ｘ線検出部１
４は検出器をｚ軸方向にたとえば２列配したマルチスラ
イス型のＸ線検出部とし、また、スキャンはヘリカルス
キャンにより行うものとする。
【００９０】図８は、本実施形態における操作コンソー
ル２００の処理の概要を示すフローチャートである。こ
のフローチャートに対応するプログラムは、操作コンソ
ール２００のハードディスク５４に画像再構成プログラ
ムとして格納され、電源投入後、ＲＡＭ５３にロードさ
れ、ＣＰＵ５１により実行されるものである。
【００９１】まず、スキャン計画を立ててスライス厚等
のスキャン条件を設定する（ステップＳ２１）。設定さ
れたスキャン条件はＲＡＭ５３に記憶される。
【００９２】次のステップＳ２２では、スキャン開始指
示がなされたか否かをキーボード５７またはマウス５８
の入力に基づき判断する。スキャン開始指示がなされる
と、ステップＳ２１で設定したスキャン条件をパラメー
タとするスキャン開始指令をガントリ装置１００に送信
し、ガントリ装置１００にスキャンを行わせる。
【００９３】そして、ステップＳ２３で、そのスキャン
によってガントリ装置１００からのデータを受信し、ス
テップＳ２４で、受信データが終了したかどうかを監視
している。
【００９４】ステップＳ２５では、リファレンス補正、
線質硬化（Beam Hardning）補正、Ｘ線検出器の物理特
性の補正等を含む、所定の前処理を行う。
【００９５】続いて、ステップＳ２６で、リファレンス
チャネルLref、Rrefが同時にブロックされた時のビュー
を検出し、ステップＳ２７で、検出されたビューの投影
データの重み付けを調整しつつヘリカル補間を行う。こ
のステップＳ２６およびＳ２７の詳細は後述する。
【００９６】ステップＳ２８では、フィルタード・バッ
クプロジェクション等の所定のアルゴリズムに従って画
像再構成処理を実施して被検体のＸ線断層像を生成し、
ステップＳ２９で、ＣＲＴ５６にそのＸ線断層像を表示
出力する。
【００９７】以上が、実施形態における操作コンソール
２００の処理の概要である。
【００９８】次に、上記ステップＳ２６の、リファレン
スチャネルLref、Rref共にブロックされた時のビューを
検出する処理について説明する。
【００９９】被検体の体格が想定以上に大きい場合に
は、ガントリ３の空洞部の大きさ等の関係でテーブル１
１の位置を下げることになるので、たとえ初期の投影角
度（Ｘ線管４が真上にある状態）付近においてリファレ
ンスチャネルLref、Rrefそれぞれに向かうＸ線が被検体
にブロックされていなかったとしても、投影角度180°
付近ではリファレンスチャネルLref、Rrefが同時にブロ
ックされてしまう、という事態が起こりうることは、先
に図１２Ｂ、図１２Ｃを用いて説明したとおりである。
本実施形態では、このように投影角度180°付近でリフ
ァレンスチャネルLref、Rrefが同時にブロックされてし
まう可能性が高いことを利用してLref、Rrefが同時にブ
ロックされた時のビューを検出する。
【０１００】以下、スキャン中にリファレンスチャネル
Lref、Rref共にブロックされてしまう場合の状態変化
を、図１１を用いて詳しく説明する。図１１において、
（ａ）は投影角度に対するLref、Rrefそれぞれの出力を
示すグラフ、（ｂ）は（ａ）の関係におけるLrefの出力
ＬとRrefの出力Ｒの比率Ｌ／Ｒを示すグラフである。た
だし、この場合、ガントリの回転方向は、図１２Ａに示
すとおりの時計回りであるとする。また、Ｘ線管が最も
高い位置にあるときの投影角度を０°とする。
【０１０１】（１）の範囲では、両方のリファレンスチ
ャネルは共にブロックされることなく、適正出力が確保
されている。そのため、出力比Ｌ／Ｒはほぼ１の値を維
持する。
【０１０２】その後、（２）の領域に入ると、まず一方
のリファレンスチャネル（この例ではRref）がブロック
されてその出力が落ち込み、その後、ある程度の角度遅
れをもって他方のリファレンスチャネル（この例ではLr
ef）もブロックされてその出力が落ち込んでいく。この
場合の出力比Ｌ／Ｒは、Rrefがブロックされるにつれて
いったん１以上の値に上昇し、その後Lrefもブロックさ
れていくに従って再びほぼ１に近づいていく、という推
移を示す。
【０１０３】そして、Rref、Lrefが同時にブロックされ
た（３）の範囲では、（１）の範囲と同様に出力比Ｌ／
Ｒはほぼ１の値を維持することになる。
【０１０４】回転がさらに進み、（４）の領域にはいる
と、（２）の領域で先に出力が落ち込んだリファレンス
チャネル（この例ではRref）がブロックされなくなるこ
とでその出力が回復し、その後、同様の角度遅れをもっ
て他方のリファレンスチャネル（この例ではLref）もブ
ロックされなくなりその出力が回復していく。この場合
の出力比Ｌ／Ｒは、Rrefのブロック状態から解放されて
いくにつれて１未満の値に下降し、その後Lrefのブロッ
ク状態も解放されていくに従って再びほぼ１に近づいて
いく、という推移を示す。
【０１０５】そして、Rref、Ｌref共にブロック状態か
ら完全に解放された状態の（４）の範囲では、（１）の
範囲と同様に出力比Ｌ／Ｒはほぼ１の値を維持すること
になる。
【０１０６】２つのリファレンスチャネルが共にブロッ
クされてしまう場合には、概ねこのような状態変化を示
す。
【０１０７】そうすると、０〜180°の範囲のビューに
おいて出力比Ｌ／Ｒが１以上のある値を超えるビューN1
が存在し、なおかつ、180〜360°の範囲のビューにおい
て出力比Ｌ／Ｒが１未満のある値を下回るビューN2が存
在する場合には、N1とN2の間のビューでは２つのリファ
レンスチャネルが同時にブロックされたと判断すること
ができる。
【０１０８】図９は、かかる考え方に基づき実現した、
ステップＳ２６の処理の詳細の一例を示すフローチャー
トである。
【０１０９】まず、ステップＳ２６０１で、ビュー番号
を示す変数vを０に初期化する。
【０１１０】次に、ステップＳ２６０２で、第vビュー
でのリファレンスチャネルRrefの出力d(v, Rref)とLref
の出力d(v, Lref)との比率rを計算する。そして、ステ
ップＳ２６０３で、rが所定のしきい値1+T（例えばT=0.
8とする）より大きいか否かを判断する。
【０１１１】rがしきい値1+Tより大きくないときはステ
ップＳ２６０４に進み、vをインクリメントして、ステ
ップＳ２６０５で、vがN/2未満であるか否かを判断す
る。ただし、Nは１回転のビュー総数であり、N/2は投影
角度180°に対応するビューを示す。vがN/2未満であれ
ばステップＳ２６０２に戻って処理を繰り返す。vがN/2
未満でなくなれば、０〜180°の範囲のビューにおいて
出力比rが1+Tを超えるビューN1が存在しなかった、すな
わち、２つのリファレンスチャネルが同時にブロックさ
れることはなかった、と判断して、この処理を抜ける。
【０１１２】一方、ステップＳ２６０３において、rが
しきい値1+Tより大きいときはステップＳ２６０６に進
み、vがN/2未満であるか否かを判断する。この判断条件
を満たすときはステップＳ２６０７に進み、現在のビュ
ーvをN1として設定する。また、ステップＳ２６０６の
判断を満たさないときはステップＳ２６０４に進む。
【０１１３】次に、ステップＳ２６０８で、vをN/2に設
定した後、ステップＳ２６０９で、出力比rを計算す
る。そして、ステップＳ２６１０で、rが所定のしきい
値1-Tを下回っているか否かを判断する。
【０１１４】rが1-T未満でないときはステップＳ２６１
１に進み、vをインクリメントして、ステップＳ２６１
２で、vがN未満であるか否かを判断する。vがN未満であ
ればステップＳ２６０９に戻って処理を繰り返す。vがN
未満でなくなれば、18０〜360°の範囲のビューにおい
て出力比rが1-Tに満たないビューN2が存在しなかった、
すなわち、２つのリファレンスチャネルが同時にブロッ
クされることはなかった、と判断される。そこで、ステ
ップＳ２６１３で、２つのリファレンスチャネルが同時
にブロックされたことを示すフラグBROを０に設定した
後に、この処理を抜ける。
【０１１５】一方、ステップＳ２６１０で、rが1-Tを下
回っていると判断されたときは、ステップＳ２６１４に
進み、現在のビューvをN2として設定し、ステップＳ２
６１５で、フラグBROを１に設定して、この処理を抜け
る。
【０１１６】以上の図９のフローチャートに従う処理に
より、２つのリファレンスチャネルが同時にブロックさ
れた場合には、その２つのリファレンスチャネルが同時
にブロックされた時の開始ビューN1および終了ビューN2
が設定される。
【０１１７】図１０は、ステップＳ２７におけるヘリカ
ル補間の処理の一例を示すフローチャートである。
【０１１８】まず、ステップＳ２７０１で、ビュー番号
を示す変数vを０に初期化する。
【０１１９】次に、ステップＳ２７０２で、ステップＳ
２６で設定された、２つのリファレンスチャネルが同時
にブロックされたビューが存在することを示すフラグBR
Oの値が０より大きいか否かをチェックする。さらに、
ステップＳ２７０３では、第vビューが、ステップＳ２
６で設定されたN1からN2までの範囲内のビューであるか
否かを判断する。
【０１２０】ここで、ステップＳ２７０２およびＳ２７
０３の判断条件を共に満たさない場合は、ステップＳ２
７０４に進み、従来どおりのヘリカル補間を行う。一
方、ステップＳ２７０２およびＳ２７０３の判断条件を
共に満たす場合には、ステップＳ２７０９に進み、２つ
のリファレンスチャネルが同時にブロックされたことに
よる悪影響を避けるために調整された重み付け係数を用
いたヘリカル補間を行う。
【０１２１】まず、ステップＳ２７０４〜Ｓ２７０８で
行われるヘリカル補間を説明する。
【０１２２】ステップＳ２７０４では、第vビューにお
けるｚ軸位置ｚ(v)の注目スライス位置Ｚに対する距離
に応じた重み付け係数w(Z-z(v))を、ヘリカル重み付け
係数Whe ricalとして設定する。
【０１２３】次に、ステップＳ２７０５で、Ｘ線検出部
１４における検出チャネルのチャネル番号を示す変数ch
を０に初期化する。
【０１２４】そして、ステップＳ２７０６で、ヘリカル
補間データを計算する。第vビューにおける第chチャネ
ルのヘリカル補間データd'(v, ch)は、例えば次式の対
向データを用いた重み付け加算により計算される。
【０１２５】 d'(v, ch) = Wherical・d(v, ch) + (1-Wherical)・d(v', ch') (6) ただし、d(v', ch')は、d(v, ch)の対向データを示す。
【０１２６】次に、ステップＳ２７０７でchをインクリ
メントし、ステップＳ２７０８で、chがチャネル総数Q
未満であるか否かを判断する。chがQ未満であればステ
ップＳ２７０６に戻って処理を繰り返し、chがQ未満で
なくなったときに、ステップＳ２７１４に進む。
【０１２７】ステップＳ２７０９〜Ｓ２７１３で行われ
るヘリカル補間を説明する。
【０１２８】ステップＳ２７０９では、重み付け係数W
BROを０に設定する。なお、ここでWB ROを０としたのは
一例であって、２つのリファレンスチャネルが同時にブ
ロックされたことによる悪影響を回避するのに十分な、
小さな値であればよい。好ましくは、WBROは、当該ビュ
ーにおいて２つのリファレンスチャネルが同時にブロッ
クはされなかったとした場合における重み付け係数W
hericalよりも小さい値に調整される。
【０１２９】次に、ステップＳ２７１０で、Ｘ線検出部
１４における検出チャネルのチャネル番号を示す変数ch
を０に初期化する。
【０１３０】そして、ステップＳ２７１１で、ヘリカル
補間データを計算する。第vビューにおける第chチャネ
ルのヘリカル補間データd'(v, ch)は、例えば次式の重
み付け加算により計算される。
【０１３１】 d'(v, ch) = WBRO・d(v, ch) + (1-WBRO)・d(v', ch') (7)
【０１３２】WBROは小さな値（本実施形態では０）に設
定されるから、ほぼ対向データそのものの値がヘリカル
補間データとして使用されることが理解されよう。
【０１３３】次に、ステップＳ２７１２でchをインクリ
メントし、ステップＳ２７１３で、chがチャネル総数Q
未満であるか否かを判断する。chがQ未満であればステ
ップＳ２７１１に戻って処理を繰り返し、chがQ未満で
なくなったときに、ステップＳ２７１４に進む。
【０１３４】ステップＳ２７１４では、vをインクリメ
ントして、ステップＳ２７１５で、vが１回転のビュー
の総数N未満であるか否かを判断する。vがN未満であれ
ばステップＳ２７０２に戻って処理を繰り返す。vがN未
満でなくなれば、最後の第N-1ビューまで処理を終えた
ことになるので、この処理を抜ける。
【０１３５】以上説明した本実施形態によれば、２つの
リファレンスチャネルが同時にブロックされた場合のヘ
リカル補間に用いる重み付け係数を非常に小さな値に調
整するので、２つのリファレンスチャネルが同時にブロ
ックされたときのデータを用いることによる画質への悪
影響を抑えることができる。
【０１３６】なお、上述したヘリカル補間は、一例とし
て対向データを用いて行うものを示したが、例えば、隣
接する同位相のデータを用いて行う補間（360°データ
補間）等、他の補間手法にも適用が可能である。
【０１３７】また、ステップＳ２７１１におけるヘリカ
ル補間は、上記(5)式のかわりに、例えは次式で示され
るような、注目投影データおよびその対向データそれぞ
れの高周波成分と、対向データの低周波成分とを用いた
補間式を適用することも考えられる。
【０１３８】 d'(v, ch) = (1-WBRO)・Lowpass(d(v', ch')) + Wherical・Highpass(d(v, ch )) + (1-Wherical)・Highpass(d(v', ch')) (8)
【０１３９】ただし、Lowpass(d(v', ch')) は、対向デ
ータd(v', ch')をローパスフィルタに通過させて得られ
た低周波成分、Highpass(d(v, ch)) は、注目投影デー
タd(v, ch)をハイパスフィルタに通過させて得られた高
周波成分、Highpass(d(v', ch'))は、対向データd(v',
ch')をハイパスフィルタに通過させて得られた高周波成
分を表す。
【０１４０】このように、２つのリファレンスチャネル
が同時にブロックされたときの投影データを一律に抑圧
するのではなく、その高周波成分のみに対して、従来ど
おりのヘリカル補間を適用することで、より高精度の補
間が期待できる。
【０１４１】なお、実施形態におけるＸ線ＣＴシステム
の制御のほとんどは操作コンソール２００において行っ
た。操作コンソール２００の構成自体は、汎用の情報処
理装置（ワークステーションやパーソナルコンピュータ
等）で実現できるものであるので、ソフトウェアを同装
置にインストールし、それでもって実現することが可能
である。
【０１４２】したがって、本発明の機能処理をコンピュ
ータで実現するためにそのコンピュータにインストール
されるプログラムコード自体も本発明を実現するもので
ある。つまり、本発明の特許請求の範囲には、本発明の
機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体
も含まれる。
【０１４３】プログラムを供給するための記憶媒体とし
ては、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、光デ
ィスク（CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD等）、光磁気ディス
ク、磁気テープ、メモリカード等がある。
【０１４４】その他、プログラムの供給方法としては、
インターネットを介して本発明のプログラムをファイル
転送によって取得する態様も含まれる。
【０１４５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
２つのリファレンスチャネルが同時にブロックされた場
合の悪影響を回避し、もって再構成されるＸ線断層像の
画質の劣化を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態におけるＸ線ＣＴシステムのブロック
構成図である。
【図２】実施形態におけるＸ線管、コリメータ、テーブ
ル、およびＸ線検出部を示す模式図である。
【図３】実施形態１における操作コンソールの処理の概
要を示すフローチャートである。
【図４】実施形態１におけるリファレンスチャネルの出
力の補正処理を示すフローチャートである。
【図５】実施形態２における操作コンソールの処理の概
要を示すフローチャートである。
【図６】実施形態２におけるリファレンスデータ生成処
理を示すフローチャートである。
【図７】実施形態２におけるリファレンスチャネルの出
力の補正処理を示すフローチャートである。
【図８】実施形態３における操作コンソールの処理の概
要を示すフローチャートである。
【図９】実施形態３における、２つのリファレンスチャ
ネルが同時にブロックされた時のビューの検出処理を示
すフローチャートである。
【図１０】実施形態３における、ヘリカル補間処理の一
例を示すフローチャートである。
【図１１】リファレンスチャネルのブロックの状態変化
を説明する図である。
【図１２Ａ】スキャンのようすを示す模式図である。
【図１２Ｂ】リファレンスチャネルのブロックについて
説明するための図である。
【図１２Ｃ】リファレンスチャネルのブロックについて
説明するための図である。
【図１３】リファレンスデータの生成について説明する
ための図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河内 直幸 東京都日野市旭が丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 (72)発明者 貫井 正健 東京都日野市旭が丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 (72)発明者 堀内 哲也 東京都日野市旭が丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Ｆターム(参考） 4C093 AA22 CA09 FC15 FC16 FC17 FC18 FD05 FD07 FD09 FD12 FF06

Claims (38)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー方
    向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を複数の検
    出チャネルを有するＸ線検出部で検出することで投影デ
    ータを収集するスキャンを行うＸ線ＣＴシステムであっ
    て、 前記Ｘ線発生源の放射Ｘ線強度を監視するための基準検
    出チャネルと、 各ビュー毎に、前記基準検出チャネルの出力が所定のし
    きい値を下回っているか否かを判断する判断手段と、 各ビュー毎に、前記出力が前記しきい値を下回っている
    と判断したときに当該出力を所定値で置き換える補正を
    行う補正手段と、 を備えることを特徴とするＸ線ＣＴシステム。
  2. 【請求項２】 前記所定値は、初期ビューから当該ビュ
    ーの直前のビューまでの前記出力の最大値とし、 前記所定のしきい値は、前記所定値に応じた値に設定さ
    れることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴシステ
    ム。
  3. 【請求項３】 Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー方
    向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を複数の検
    出チャネルを有するＸ線検出部で検出することで投影デ
    ータを収集するスキャンを行うＸ線ＣＴシステムの制御
    方法であって、 各ビュー毎に、前記Ｘ線発生源の放射Ｘ線強度を監視す
    るための基準検出チャネルの出力が所定のしきい値を下
    回っているか否かを判断する判断ステップと、 各ビュー毎に、前記出力が前記しきい値を下回っている
    と判断したときに当該出力を所定値で置き換える補正を
    行う補正ステップと、 を有することを特徴とするＸ線ＣＴシステムの制御方
    法。
  4. 【請求項４】 前記所定値は、初期ビューから当該ビュ
    ーの直前のビューまでの前記出力の最大値とし、 前記所定のしきい値は、前記所定値に応じた値に設定さ
    れることを特徴とする請求項３に記載のＸ線ＣＴシステ
    ムの制御方法。
  5. 【請求項５】 Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー方
    向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を複数の検
    出チャネルを有するＸ線検出部で検出することで投影デ
    ータを収集するスキャンを行うガントリ装置に接続さ
    れ、当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の出
    力および当該ガントリ装置から転送されてきた各ビュー
    の投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ線
    ＣＴシステムにおける操作コンソールであって、 前記Ｘ線発生源の放射Ｘ線強度を監視するための基準検
    出チャネルと、 各ビュー毎に、前記基準検出チャネルの出力が所定のし
    きい値を下回っているか否かを判断する判断手段と、 各ビュー毎に、前記出力が前記しきい値を下回っている
    と判断したときに当該出力を所定値で置き換える補正を
    行う補正手段と、 を備えることを特徴とする操作コンソール。
  6. 【請求項６】 前記所定値は、初期ビューから当該ビュ
    ーの直前のビューまでの前記出力の最大値とし、 前記所定のしきい値は、前記所定値に応じた値に設定さ
    れることを特徴とする請求項５に記載の操作コンソー
    ル。
  7. 【請求項７】 Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー方
    向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を複数の検
    出チャネルを有するＸ線検出部で検出することで投影デ
    ータを収集するスキャンを行うガントリ装置に接続さ
    れ、当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の出
    力および当該ガントリ装置から転送されてきた各ビュー
    の投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ線
    ＣＴシステムにおける操作コンソールの制御方法であっ
    て、 各ビュー毎に、前記Ｘ線発生源の放射Ｘ線強度を監視す
    るための基準検出チャネルの出力が所定のしきい値を下
    回っているか否かを判断する判断ステップと、 各ビュー毎に、前記出力が前記しきい値を下回っている
    と判断したときに当該出力を所定値で置き換える補正を
    行う補正ステップと、 を有することを特徴とする操作コンソールの制御方法。
  8. 【請求項８】 前記所定値は、初期ビューから当該ビュ
    ーの直前のビューまでの前記出力の最大値とし、 前記所定のしきい値は、前記所定値に応じた値に設定さ
    れることを特徴とする請求項７に記載の操作コンソール
    の制御方法。
  9. 【請求項９】 Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー方
    向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を複数の検
    出チャネルを有するＸ線検出部で検出することで投影デ
    ータを収集するスキャンを行うガントリ装置に接続さ
    れ、当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の出
    力および当該ガントリ装置から転送されてきた各ビュー
    の投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ線
    ＣＴシステムにおける操作コンソールを、 各ビュー毎に、前記Ｘ線発生源の放射Ｘ線強度を監視す
    るための前記基準検出チャネルの出力が所定のしきい値
    を下回っているか否かを判断する判断手段、 各ビュー毎に、前記出力が前記しきい値を下回っている
    と判断したときに当該出力を所定値で置き換える補正を
    行う補正手段、 として機能させるためのプログラム。
  10. 【請求項１０】 前記所定値は、初期ビューから当該ビ
    ューの直前のビューまでの前記出力の最大値とし、 前記所定のしきい値は、前記所定値に応じた値に設定さ
    れることを特徴とする請求項９に記載のプログラム。
  11. 【請求項１１】 請求項９または１０に記載のプログラ
    ムを格納した記憶媒体。
  12. 【請求項１２】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記Ｘ線発生源からのＸ線
    を複数のビュー方向から被検体に照射し、それぞれの透
    過Ｘ線を前記Ｘ線検出部で検出することで投影データを
    収集するデータ収集手段とを備えるＸ線ＣＴシステムで
    あって、 前記複数の検出チャネルのうちの一端側に位置する第１
    の検出チャネルおよび他端側に位置する第２の検出チャ
    ネルそれぞれの出力に基づいて各ビューのリファレンス
    データを生成する生成手段と、 生成された前記リファレンスデータの、所定数のビュー
    にわたる変動の低周波成分を抽出する抽出手段と、 抽出された前記低周波成分が所定値を下回っているか否
    かを判断する判断手段と、 前記低周波成分が前記所定値を下回っていると判断した
    ときは、前記リファレンスデータを、前記低周波成分に
    対応する高周波成分を用いて補正する補正手段と、 を備えることを特徴とするＸ線ＣＴシステム。
  13. 【請求項１３】 前記所定値は、初期ビューから当該ビ
    ューの直前のビューまでの前記リファレンスデータの最
    大値の所定の割合とすることを特徴とする請求項１２に
    記載のＸ線ＣＴシステム。
  14. 【請求項１４】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記Ｘ線発生源からのＸ線
    を複数のビュー方向から被検体に照射し、それぞれの透
    過Ｘ線を前記Ｘ線検出部で検出することで投影データを
    収集するデータ収集手段とを備えるＸ線ＣＴシステムの
    制御方法であって、 前記複数の検出チャネルのうちの一端側に位置する第１
    の検出チャネルおよび他端側に位置する第２の検出チャ
    ネルそれぞれの出力に基づいて各ビューのリファレンス
    データを生成する生成ステップと、 生成された前記リファレンスデータの、所定数のビュー
    にわたる変動の低周波成分を抽出する抽出ステップと、 抽出された前記低周波成分が所定値を下回っているか否
    かを判断する判断ステップと、 前記低周波成分が前記所定値を下回っていると判断した
    ときは、前記リファレンスデータを、前記低周波成分に
    対応する高周波成分を用いて補正する補正ステップと、 を有することを特徴とするＸ線ＣＴシステムの制御方
    法。
  15. 【請求項１５】 前記所定値は、初期ビューから当該ビ
    ューの直前のビューまでの前記リファレンスデータの最
    大値の所定の割合とすることを特徴とする請求項１４に
    記載のＸ線ＣＴシステムの制御方法。
  16. 【請求項１６】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記Ｘ線発生源からのＸ線
    を複数のビュー方向から被検体に照射し、それぞれの透
    過Ｘ線を前記Ｘ線検出部で検出することで投影データを
    収集するデータ収集手段とを備えるガントリ装置に接続
    され、当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の
    出力および当該ガントリ装置から転送されてきた各ビュ
    ーの投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ
    線ＣＴシステムにおける操作コンソールであって、 前記複数の検出チャネルのうちの一端側に位置する第１
    の検出チャネルおよび他端側に位置する第２の検出チャ
    ネルそれぞれの出力に基づいて各ビューのリファレンス
    データを生成する生成手段と、 生成された前記リファレンスデータの、所定数のビュー
    にわたる変動の低周波成分を抽出する抽出手段と、 抽出された前記低周波成分が所定値を下回っているか否
    かを判断する判断手段と、 前記低周波成分が前記所定値を下回っていると判断した
    ときは、前記リファレンスデータを、前記低周波成分に
    対応する高周波成分を用いて補正する補正手段と、 を備えることを特徴とする操作コンソール。
  17. 【請求項１７】 前記所定値は、初期ビューから当該ビ
    ューの直前のビューまでの前記リファレンスデータの最
    大値の所定の割合とすることを特徴とする請求項１６に
    記載の操作コンソール。
  18. 【請求項１８】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記Ｘ線発生源からのＸ線
    を複数のビュー方向から被検体に照射し、それぞれの透
    過Ｘ線を前記Ｘ線検出部で検出することで投影データを
    収集するデータ収集手段とを備えるガントリ装置に接続
    され、当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の
    出力および当該ガントリ装置から転送されてきた各ビュ
    ーの投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ
    線ＣＴシステムにおける操作コンソールの制御方法であ
    って、前記複数の検出チャネルのうちの一端側に位置す
    る第１の検出チャネルおよび他端側に位置する第２の検
    出チャネルそれぞれの出力に基づいて各ビューのリファ
    レンスデータを生成する生成ステップと、 生成された前記リファレンスデータの、所定数のビュー
    にわたる変動の低周波成分を抽出する抽出ステップと、 抽出された前記低周波成分が所定値を下回っているか否
    かを判断する判断ステップと、 前記低周波成分が前記所定値を下回っていると判断した
    ときは、前記リファレンスデータを、前記低周波成分に
    対応する高周波成分を用いて補正する補正ステップと、 を有することを特徴とする操作コンソールの制御方法。
  19. 【請求項１９】 前記所定値は、初期ビューから当該ビ
    ューの直前のビューまでの前記リファレンスデータの最
    大値の所定の割合とすることを特徴とする請求項１８に
    記載の操作コンソールの制御方法。
  20. 【請求項２０】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記Ｘ線発生源からのＸ線
    を複数のビュー方向から被検体に照射し、それぞれの透
    過Ｘ線を前記Ｘ線検出部で検出することで投影データを
    収集するデータ収集手段とを備えるガントリ装置に接続
    され、当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の
    出力および当該ガントリ装置から転送されてきた各ビュ
    ーの投影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ
    線ＣＴシステムにおける操作コンソールを、前記複数の
    検出チャネルのうちの一端側に位置する第１の検出チャ
    ネルおよび他端側に位置する第２の検出チャネルそれぞ
    れの出力に基づいて各ビューのリファレンスデータを生
    成する生成手段、 生成された前記リファレンスデータの、所定数のビュー
    にわたる変動の低周波成分を抽出する抽出手段、 抽出された前記低周波成分が所定値を下回っているか否
    かを判断する判断手段、 前記低周波成分が前記所定値を下回っていると判断した
    ときは、前記リファレンスデータを、前記低周波成分に
    対応する高周波成分を用いて補正する補正手段、 として機能させるためのプログラム。
  21. 【請求項２１】 前記所定値は、初期ビューから当該ビ
    ューの直前のビューまでの前記リファレンスデータの最
    大値の所定の割合とすることを特徴とする請求項２０に
    記載のプログラム。
  22. 【請求項２２】 請求項２０または２１に記載のプログ
    ラムを格納した記憶媒体。
  23. 【請求項２３】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記テーブルを所定速度で
    搬送しながら前記Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー
    方向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を前記Ｘ
    線検出部で検出することで投影データを収集するヘリカ
    ルスキャン手段と、を備えるＸ線ＣＴシステムであっ
    て、 各ビュー毎に、前記複数の検出チャネルのうちの一端側
    に位置する第１の検出チャネルおよび他端側に位置する
    第２の検出チャネルの出力比を計算する計算手段と、 計算された前記出力比に基づいて、前記第１および第２
    の検出チャネルに向かうＸ線パスのいずれもが遮られた
    時のビューを検出する検出手段と、 前記ヘリカルスキャン手段で収集された各ビューの投影
    データとその対向投影データとを重み付け加算すること
    で目的スライス位置における投影データを補間する補間
    手段と、 を備え、 前記補間手段は、前記検出手段で検出されたビューにお
    ける投影データの重み付け係数を、当該ビューにおいて
    前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パスの
    いずれもが遮られなかったとした場合における重み付け
    係数よりも小さな値に調整する係数調整手段を含むこと
    を特徴とするＸ線ＣＴシステム。
  24. 【請求項２４】 前記検出手段は、 前記出力比が第１のしきい値より大きくなる第１のビュ
    ーを検出する第１の検出手段と、 前記出力比が第２のしきい値より小さくなる第２のビュ
    ーを検出する第２の検出手段と、を含み、 前記第１のビューから前記第２のビューまでのビュー
    を、前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パ
    スのいずれもが遮られた時のビューとして検出すること
    を特徴とする請求項２３に記載のＸ線ＣＴシステム。
  25. 【請求項２５】 前記補間手段は、 前記検出手段で検出されたビューにおいては、当該ビュ
    ーにおける投影データおよびその対向投影データそれぞ
    れの高周波成分どうしの重み付け加算値を、当該対向投
    影データの低周波成分に重畳することで目的スライス位
    置における投影データを補間することを特徴とする請求
    項２３または２４に記載のＸ線ＣＴシステム。
  26. 【請求項２６】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記テーブルを所定速度で
    搬送しながら前記Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー
    方向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を前記Ｘ
    線検出部で検出することで投影データを収集するヘリカ
    ルスキャン手段と、を備えるＸ線ＣＴシステムの制御方
    法であって、 各ビュー毎に、前記複数の検出チャネルのうちの一端側
    に位置する第１の検出チャネルおよび他端側に位置する
    第２の検出チャネルの出力比を計算する計算ステップ
    と、 計算された前記出力比に基づいて、前記第１および第２
    の検出チャネルに向かうＸ線パスのいずれもが遮られた
    時のビューを検出する検出ステップと、前記ヘリカルス
    キャン手段で収集された各ビューの投影データとその対
    向投影データとを重み付け加算することで目的スライス
    位置における投影データを補間する補間ステップと、 を有し、 前記補間ステップは、前記検出ステップで検出されたビ
    ューにおける投影データの重み付け係数を、当該ビュー
    において前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ
    線パスのいずれもが遮られなかったとした場合における
    重み付け係数よりも小さな値に調整する係数調整ステッ
    プを含むことを特徴とするＸ線ＣＴシステムの制御方
    法。
  27. 【請求項２７】 前記検出ステップは、 前記出力比が第１のしきい値より大きくなる第１のビュ
    ーを検出する第１の検出ステップと、 前記出力比が第２のしきい値より小さくなる第２のビュ
    ーを検出する第２の検出ステップと、を含み、 前記第１のビューから前記第２のビューまでのビュー
    を、前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パ
    スのいずれもが遮られた時のビューとして検出すること
    を特徴とする請求項２６に記載のＸ線ＣＴシステムの制
    御方法。
  28. 【請求項２８】 前記補間ステップは、 前記検出ステップで検出されたビューにおいては、当該
    ビューにおける投影データおよびその対向投影データそ
    れぞれの高周波成分どうしの重み付け加算値を、当該対
    向投影データの低周波成分に重畳することで目的スライ
    ス位置における投影データを補間することを特徴とする
    請求項２６または２７に記載のＸ線ＣＴシステムの制御
    方法。
  29. 【請求項２９】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記テーブルを所定速度で
    搬送しながら前記Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー
    方向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を前記Ｘ
    線検出部で検出することで投影データを収集するヘリカ
    ルスキャン手段と、を備えるガントリ装置に接続され、
    当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の出力お
    よび当該ガントリ装置から転送されてきた各ビューの投
    影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ線ＣＴ
    システムにおける操作コンソールであって、 各ビュー毎に、前記複数の検出チャネルのうちの一端側
    に位置する第１の検出チャネルおよび他端側に位置する
    第２の検出チャネルの出力比を計算する計算手段と、 計算された前記出力比に基づいて、前記第１および第２
    の検出チャネルに向かうＸ線パスのいずれもが遮られた
    時のビューを検出する検出手段と、 前記ヘリカルスキャン手段で収集された各ビューの投影
    データとその対向投影データとを重み付け加算すること
    で目的スライス位置における投影データを補間する補間
    手段と、 を備え、 前記補間手段は、前記検出手段で検出されたビューにお
    ける投影データの重み付け係数を、当該ビューにおいて
    前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パスの
    いずれもが遮られなかったとした場合における重み付け
    係数よりも小さな値に調整する係数調整手段を含むこと
    を特徴とする操作コンソール。
  30. 【請求項３０】 前記検出手段は、 前記出力比が第１のしきい値より大きくなる第１のビュ
    ーを検出する第１の検出手段と、 前記出力比が第２のしきい値より小さくなる第２のビュ
    ーを検出する第２の検出手段と、を含み、 前記第１のビューから前記第２のビューまでのビュー
    を、前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パ
    スのいずれもが遮られた時のビューとして検出すること
    を特徴とする請求項２９に記載の操作コンソール。
  31. 【請求項３１】 前記補間手段は、 前記検出手段で検出されたビューにおいては、当該ビュ
    ーにおける投影データおよびその対向投影データそれぞ
    れの高周波成分どうしの重み付け加算値を、当該対向投
    影データの低周波成分に重畳することで目的スライス位
    置における投影データを補間することを特徴とする請求
    項２９または３０に記載の操作コンソール。
  32. 【請求項３２】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記テーブルを所定速度で
    搬送しながら前記Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー
    方向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を前記Ｘ
    線検出部で検出することで投影データを収集するヘリカ
    ルスキャン手段と、を備えるガントリ装置に接続され、
    当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の出力お
    よび当該ガントリ装置から転送されてきた各ビューの投
    影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ線ＣＴ
    システムにおける操作コンソールの制御方法であって、 各ビュー毎に、前記複数の検出チャネルのうちの一端側
    に位置する第１の検出チャネルおよび他端側に位置する
    第２の検出チャネルの出力比を計算する計算ステップ
    と、 計算された前記出力比に基づいて、前記第１および第２
    の検出チャネルに向かうＸ線パスのいずれもが遮られた
    時のビューを検出する検出ステップと、 前記ヘリカルスキャン手段で収集された各ビューの投影
    データとその対向投影データとを重み付け加算すること
    で目的スライス位置における投影データを補間する補間
    ステップと、 を有し、 前記補間ステップは、前記検出ステップで検出されたビ
    ューにおける投影データの重み付け係数を、当該ビュー
    において前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ
    線パスのいずれもが遮られなかったとした場合における
    重み付け係数よりも小さな値に調整する係数調整ステッ
    プを含むことを特徴とする操作コンソールの制御方法。
  33. 【請求項３３】 前記検出ステップは、 前記出力比が第１のしきい値より大きくなる第１のビュ
    ーを検出する第１の検出ステップと、 前記出力比が第２のしきい値より小さくなる第２のビュ
    ーを検出する第２の検出ステップと、を含み、 前記第１のビューから前記第２のビューまでのビュー
    を、前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パ
    スのいずれもが遮られた時のビューとして検出すること
    を特徴とする請求項３２に記載の操作コンソールの制御
    方法。
  34. 【請求項３４】 前記補間ステップは、 前記検出ステップで検出されたビューにおいては、当該
    ビューにおける投影データおよびその対向投影データそ
    れぞれの高周波成分どうしの重み付け加算値を、当該対
    向投影データの低周波成分に重畳することで目的スライ
    ス位置における投影データを補間することを特徴とする
    請求項３２または３３に記載の操作コンソールの制御方
    法。
  35. 【請求項３５】 Ｘ線発生源と、被検体搬送用のテーブ
    ルの搬送方向に直交する方向に配される複数の検出チャ
    ネルを有するＸ線検出部と、前記テーブルを所定速度で
    搬送しながら前記Ｘ線発生源からのＸ線を複数のビュー
    方向から被検体に照射し、それぞれの透過Ｘ線を前記Ｘ
    線検出部で検出することで投影データを収集するヘリカ
    ルスキャン手段と、を備えるガントリ装置に接続され、
    当該ガントリ装置に対してスキャンに係る情報の出力お
    よび当該ガントリ装置から転送されてきた各ビューの投
    影データに基づいてＸ線断層像を再構成する、Ｘ線ＣＴ
    システムにおける操作コンソールを制御するためのプロ
    グラムであって、 各ビュー毎に、前記複数の検出チャネルのうちの一端側
    に位置する第１の検出チャネルおよび他端側に位置する
    第２の検出チャネルの出力比を計算する計算ステップの
    プログラムコードと、 計算された前記出力比に基づいて、前記第１および第２
    の検出チャネルに向かうＸ線パスのいずれもが遮られた
    時のビューを検出する検出ステップのプログラムコード
    と、 前記ヘリカルスキャン手段で収集された各ビューの投影
    データとその対向投影データとを重み付け加算すること
    で目的スライス位置における投影データを補間する補間
    ステップのプログラムコードと、 を有し、 前記補間ステップは、前記検出ステップで検出されたビ
    ューにおける投影データの重み付け係数を、当該ビュー
    において前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ
    線パスのいずれもが遮られなかったとした場合における
    重み付け係数よりも小さな値に調整する係数調整ステッ
    プを含むことを特徴とするプログラム。
  36. 【請求項３６】 前記検出ステップは、 前記出力比が第１のしきい値より大きくなる第１のビュ
    ーを検出する第１の検出ステップと、 前記出力比が第２のしきい値より小さくなる第２のビュ
    ーを検出する第２の検出ステップと、を含み、 前記第１のビューから前記第２のビューまでのビュー
    を、前記第１および第２の検出チャネルに向かうＸ線パ
    スのいずれもが遮られた時のビューとして検出すること
    を特徴とする請求項３５に記載のプログラム。
  37. 【請求項３７】 前記補間ステップは、 前記検出ステップで検出されたビューにおいては、当該
    ビューにおける投影データおよびその対向投影データそ
    れぞれの高周波成分どうしの重み付け加算値を、当該対
    向投影データの低周波成分に重畳することで目的スライ
    ス位置における投影データを補間することを特徴とする
    請求項３５または３６に記載のプログラム。
  38. 【請求項３８】 請求項３５から３７までのいずれかに
    記載のプログラムを格納した記憶媒体。
JP2001340923A 2001-11-06 2001-11-06 Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム Withdrawn JP2003144427A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001340923A JP2003144427A (ja) 2001-11-06 2001-11-06 Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001340923A JP2003144427A (ja) 2001-11-06 2001-11-06 Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003144427A true JP2003144427A (ja) 2003-05-20

Family

ID=19155056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001340923A Withdrawn JP2003144427A (ja) 2001-11-06 2001-11-06 Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003144427A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006275664A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Toshiba It & Control Systems Corp 放射線検査装置及び放射線検査方法
JP2011224341A (ja) * 2010-04-15 2011-11-10 General Electric Co <Ge> 多重エネルギｃｔ撮像データを取得するシステム及び方法
CN104077758A (zh) * 2013-03-28 2014-10-01 上海联影医疗科技有限公司 Ct图像重建方法
CN117243624A (zh) * 2023-11-17 2023-12-19 苏州波影医疗技术有限公司 一种ct参考探测器的遮挡补偿方法及ct系统

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006275664A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Toshiba It & Control Systems Corp 放射線検査装置及び放射線検査方法
JP2011224341A (ja) * 2010-04-15 2011-11-10 General Electric Co <Ge> 多重エネルギｃｔ撮像データを取得するシステム及び方法
CN104077758A (zh) * 2013-03-28 2014-10-01 上海联影医疗科技有限公司 Ct图像重建方法
CN104077758B (zh) * 2013-03-28 2018-06-19 上海联影医疗科技有限公司 Ct图像重建方法
CN117243624A (zh) * 2023-11-17 2023-12-19 苏州波影医疗技术有限公司 一种ct参考探测器的遮挡补偿方法及ct系统
CN117243624B (zh) * 2023-11-17 2024-02-09 苏州波影医疗技术有限公司 一种ct参考探测器的遮挡补偿方法及ct系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6744846B2 (en) Method and apparatus for automatic exposure control in CT scanning
JP5707442B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
US7050532B2 (en) Imaging condition determining method and an X-ray CT apparatus
JP4880587B2 (ja) コンピュータ断層撮影のための動的線量制御
US9662084B2 (en) Method and apparatus for iteratively reconstructing tomographic images from electrocardiographic-gated projection data
JP5142664B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
EP1470783B1 (en) Radiation computed tomography apparatus and tomographic image producing method
US8416913B2 (en) X-ray CT system, object-outline estimating method, and image reconstructing method
JP4612294B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層装置、ｘ線コンピュータ断層装置制御方法、及びｘ線コンピュータ断層撮影プログラム
JP5675257B2 (ja) 医用画像処理装置、ｘ線コンピュータ断層撮影装置、医用画像処理方法および医用画像処理プログラム
JP2003290214A (ja) 透過ｘ線データ獲得装置およびｘ線断層像撮影装置
JP2002282246A (ja) Ｘ線ｃｔ装置、ボリューム画像化方法、及び当該ボリューム画像化方法を実現するプログラムを格納するコンピュータが読みとり可能な記録媒体
JP3909059B2 (ja) 放射線断層撮像装置およびそれを用いた撮像方法
JP2003144427A (ja) Ｘ線ｃｔシステム、操作コンソールおよびその制御方法、ならびにプログラム
US8705688B2 (en) Medical image processing apparatus, X-ray computed tomography apparatus, and medical image processing method
JPH0998968A (ja) 物体の断層写真像を作成する方法及び装置
US7327824B2 (en) Radiation tomography apparatus and radiation tomography method thereof
JP2005230536A (ja) Ｘ線撮影装置及びｘ線撮影方法
US10327728B2 (en) X ray computed tomography apparatus and scan start timing determination method
JP2001112749A (ja) プロジェクションデータ補正方法および装置並びに放射線断層撮像装置
US5473658A (en) Computer tomography apparatus for conducting a spiral scan of an examination subject
JPH10290798A (ja) 投影データ測定方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置
JPH0669453B2 (ja) Ｃｔ装置
JP5355036B2 (ja) 核医学画像撮影装置、核医学画像再構成装置及び核医学画像再構成プログラム
JP2005334230A (ja) 放射線ｃｔ装置およびそれを用いた画像再構成方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050201