JP2003142595A - Transistor - Google Patents

Transistor

Info

Publication number
JP2003142595A
JP2003142595A JP2001342269A JP2001342269A JP2003142595A JP 2003142595 A JP2003142595 A JP 2003142595A JP 2001342269 A JP2001342269 A JP 2001342269A JP 2001342269 A JP2001342269 A JP 2001342269A JP 2003142595 A JP2003142595 A JP 2003142595A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
transistor
semiconductor
base
emitter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001342269A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinobu Kono
好伸 河野
Tetsuya Takahashi
哲也 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
Priority to JP2001342269A priority Critical patent/JP2003142595A/en
Priority to KR10-2002-0068400A priority patent/KR100537109B1/en
Publication of JP2003142595A publication Critical patent/JP2003142595A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/72Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
    • H01L29/73Bipolar junction transistors
    • H01L29/732Vertical transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components
    • H01L21/822Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components the substrate being a semiconductor, using silicon technology
    • H01L21/8222Bipolar technology
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/08Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
    • H01L27/082Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including bipolar components only

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a switching transistor capable of performing a high-speed switching operation. SOLUTION: P type 1st, 2nd and 3rd base areas 18 to 20 are formed on an N type collector area 15. N type 1st, 2nd and 3rd emitter areas 21 to 23 are formed in the 1st, 2nd and 3rd base areas 18 to 20. The 1st base area 18 is electrically connected to the 2nd and 3rd emitter areas 22, 23. Consequently 1st and 2nd drive step transistors 12, 13 respectively composed of the 2nd and 3rd base areas 19, 20 and the 2nd and 3rd emitter areas 22, 23 and Darlington connected to a power step transistor composed of the collector area 15, the 1st base area 18 and the 1st emitter area 21 are constituted.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ダーリントン接続
されたトランジスタを用いる、パワートランジスタ等と
して使用可能なトランジスタに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transistor that uses Darlington-connected transistors and can be used as a power transistor or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】パワートランジスタ、オーディオ増幅用
トランジスタ等として、複数のトランジスタをダーリン
トン接続させて電流増幅率を高めたトランジスタが用い
られている。
2. Description of the Related Art As a power transistor, an audio amplifying transistor, and the like, a transistor in which a plurality of transistors are connected in a Darlington connection to increase a current amplification factor is used.

【0003】図6に、従来のパワートランジスタ101
の回路図を示す。図6に示すように、パワートランジス
タ101は、互いにダーリントン接続された、ドライブ
段トランジスタ102と、パワー段トランジスタ103
と、を備える。
FIG. 6 shows a conventional power transistor 101.
The circuit diagram of is shown. As shown in FIG. 6, the power transistor 101 includes a drive stage transistor 102 and a power stage transistor 103, which are Darlington connected to each other.
And

【0004】図7に、図6に示すパワートランジスタ1
01の素子断面を示す。図7に示すように、パワートラ
ンジスタ101は、N型の半導体基板104の一面を構
成するコレクタコンタクト領域105と、半導体基板1
04の他面を構成する、コレクタコンタクト領域105
よりも不純物濃度の低いN型の半導体領域からなるコレ
クタ領域106と、コレクタ領域106の表面領域に形
成されたP型の半導体領域からなる第1および第2のベ
ース領域107、108と、第1および第2のベース領
域107、108内にそれぞれ形成されたN型の半導体
領域からなる第1および第2のエミッタ領域109、1
10と、を備える。
FIG. 7 shows the power transistor 1 shown in FIG.
The element cross section of No. 01 is shown. As shown in FIG. 7, the power transistor 101 includes a collector contact region 105 that constitutes one surface of an N-type semiconductor substrate 104 and a semiconductor substrate 1.
Collector contact region 105, which constitutes the other surface 04
A collector region 106 made of an N-type semiconductor region having an impurity concentration lower than that of the first and second base regions 107, 108 made of a P-type semiconductor region formed in a surface region of the collector region 106; And first and second emitter regions 109, 1 made of N-type semiconductor regions formed in the second base regions 107, 108, respectively.
10 is provided.

【0005】コレクタコンタクト領域105は、半導体
基板の一面上に形成されたコレクタ電極111に電気的
に接続されている。コレクタ領域106とコレクタコン
タクト領域105とは、ドライブ段トランジスタ102
とパワー段トランジスタ103の共通のコレクタとして
機能する。
The collector contact region 105 is electrically connected to the collector electrode 111 formed on one surface of the semiconductor substrate. The collector region 106 and the collector contact region 105 correspond to the drive stage transistor 102.
And the power stage transistor 103 function as a common collector.

【0006】第1のベース領域107および第1のエミ
ッタ領域109は、半導体基板104の他面上に形成さ
れた第1のベース電極112および第1のエミッタ電極
113にそれぞれ電気的に接続されている。第1のベー
ス領域107と、第1のエミッタ領域109と、コレク
タ領域106およびコレクタコンタクト領域105と、
によりドライブ段トランジスタ102が構成される。
The first base region 107 and the first emitter region 109 are electrically connected to the first base electrode 112 and the first emitter electrode 113 formed on the other surface of the semiconductor substrate 104, respectively. There is. A first base region 107, a first emitter region 109, a collector region 106 and a collector contact region 105,
The drive stage transistor 102 is constituted by

【0007】第2のベース領域108および第2のエミ
ッタ領域110は、半導体基板104の他面上に形成さ
れた第2のベース電極114および第2のエミッタ電極
115にそれぞれ電気的に接続されている。第2のベー
ス領域108と、第2のエミッタ領域110と、コレク
タ領域106およびコレクタコンタクト領域105と、
によりパワー段トランジスタ103が構成される。
Second base region 108 and second emitter region 110 are electrically connected to second base electrode 114 and second emitter electrode 115, respectively, which are formed on the other surface of semiconductor substrate 104. There is. A second base region 108, a second emitter region 110, a collector region 106 and a collector contact region 105,
The power stage transistor 103 is constituted by.

【0008】第1のエミッタ電極113と第2のベース
電極114とは電気的に接続されている。これと、ドラ
イブ段トランジスタ102とパワー段トランジスタ10
3とは共通のコレクタを有することから、ドライブ段ト
ランジスタ102とパワー段トランジスタ103とはダ
ーリントン接続されることとなる。
The first emitter electrode 113 and the second base electrode 114 are electrically connected. This, drive stage transistor 102 and power stage transistor 10
Since 3 has a common collector, the drive stage transistor 102 and the power stage transistor 103 are in Darlington connection.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上記構成のパワートラ
ンジスタ101において、オン状態からオフ状態への移
行の際に、パワー段トランジスタ103の第2のベース
領域108およびコレクタ領域106に蓄積された少数
キャリアがドライブ段トランジスタ102(の第1のベ
ース領域107)側に引き抜かれる速度が速いほど、ス
イッチング速度が速いなど、良好なトランジスタ特性が
得られる。
In the power transistor 101 having the above structure, the minority carriers accumulated in the second base region 108 and the collector region 106 of the power stage transistor 103 at the time of transition from the ON state to the OFF state. Is faster than the drive stage transistor 102 (first base region 107) thereof, the faster the switching speed is, the better transistor characteristics are obtained.

【0010】パワー段トランジスタ103を構成する第
2のベース領域108およびコレクタ領域106に蓄積
された少数キャリアのうち、ドライブ段トランジスタ1
02に近い側に蓄積されたキャリアは、比較的速く引き
抜かれる。しかし、ドライブ段トランジスタ102から
遠い側の第2のベース領域108およびコレクタ領域1
06に蓄積されたキャリアは比較的引き抜かれにくい。
このように、ドライブ段トランジスタ102から遠い側
に蓄積されたキャリアの引き抜きに比較的時間がかかる
ことにより、パワートランジスタ101全体のスイッチ
ング速度は低下してしまう。
Of the minority carriers accumulated in the second base region 108 and the collector region 106 constituting the power stage transistor 103, the drive stage transistor 1
Carriers accumulated on the side closer to 02 are extracted relatively quickly. However, the second base region 108 and the collector region 1 remote from the drive stage transistor 102
The carriers accumulated in 06 are relatively difficult to be pulled out.
As described above, since it takes a relatively long time to extract the carriers accumulated on the side far from the drive stage transistor 102, the switching speed of the entire power transistor 101 is reduced.

【0011】このように、従来のトランジスタには、パ
ワー段トランジスタからのキャリアの引き抜きに時間が
かかり、十分に速いスイッチング速度を得ることが難し
いなど、十分に高いトランジスタ特性が得られないおそ
れがあった。
As described above, in the conventional transistor, it takes time to extract carriers from the power stage transistor, and it is difficult to obtain a sufficiently high switching speed. Therefore, there is a possibility that sufficiently high transistor characteristics cannot be obtained. It was

【0012】上記事情を鑑みて、本発明は、良好な素子
特性を有するトランジスタを提供することを目的とす
る。また、本発明は、高速なスイッチング動作の可能な
トランジスタを提供することを目的とする。
In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide a transistor having good device characteristics. Another object of the present invention is to provide a transistor capable of high speed switching operation.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の第1の観点にかかるトランジスタは、第1
導電型の半導体基板と、前記半導体基板の表面領域に形
成された第2導電型の第1の半導体領域と、前記第1の
半導体領域内に形成された第1導電型の第2の半導体領
域と、から構成された第1のドライブ段トランジスタ
と、前記半導体基板と、前記半導体基板の表面領域に形
成された第2導電型の第3の半導体領域と、前記第3の
半導体領域内に形成された第1導電型の第4の半導体領
域と、から構成された第2のドライブ段トランジスタ
と、前記半導体基板と、前記半導体基板の表面領域に前
記第1の半導体領域と前記第3の半導体領域との双方に
挟まれるように形成された第2導電型の第5の半導体領
域と、前記第5の半導体領域内に形成された第1導電型
の第6の半導体領域と、から構成され、前記第1のドラ
イブ段トランジスタおよび前記第2のドライブ段トラン
ジスタの少なくとも一方にダーリントン接続されたパワ
ー段トランジスタと、を備える、ことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the transistor according to the first aspect of the present invention is
A conductive type semiconductor substrate, a second conductive type first semiconductor region formed in a surface region of the semiconductor substrate, and a first conductive type second semiconductor region formed in the first semiconductor region. A first drive-stage transistor, a semiconductor substrate, a third semiconductor region of a second conductivity type formed in a surface region of the semiconductor substrate, and a third drive region formed in the third semiconductor region. A second drive stage transistor including a fourth semiconductor region of the first conductivity type, the semiconductor substrate, and the first semiconductor region and the third semiconductor in a surface region of the semiconductor substrate. A fifth semiconductor region of the second conductivity type formed so as to be sandwiched between both regions, and a sixth semiconductor region of the first conductivity type formed in the fifth semiconductor region. , The first drive stage transistor and And a power stage transistors Darlington-connected to at least one of the fine the second drive stage transistor, characterized in that.

【0014】上記構成の第1の観点にかかるトランジス
タによれば、トランジスタのオフ時にパワー段トランジ
スタの第5の半導体領域に蓄積された少数キャリアは、
隣接する第1および第2のドライブ段トランジスタを介
して容易に、短時間に引き抜かれ得る。これにより、高
速なスイッチング速度を有し、良好な素子特性を有する
トランジスタが提供される。
According to the transistor of the first aspect of the above structure, the minority carriers accumulated in the fifth semiconductor region of the power stage transistor when the transistor is off are
It can be easily pulled out in a short time through the adjacent first and second drive stage transistors. This provides a transistor having a high switching speed and good device characteristics.

【0015】上記構成のトランジスタにおいて、前記第
1の半導体領域と、前記第3の半導体領域と、は、前記
第5の半導体領域から略等距離に形成されていることが
望ましい。
In the transistor having the above structure, it is preferable that the first semiconductor region and the third semiconductor region are formed at substantially the same distance from the fifth semiconductor region.

【0016】上記構成のトランジスタにおいて、前記第
2の半導体領域と、前記第4の半導体領域と、は、前記
第6の半導体領域から略等距離に形成されていることが
望ましい。
In the transistor having the above structure, it is desirable that the second semiconductor region and the fourth semiconductor region are formed substantially equidistant from the sixth semiconductor region.

【0017】上記構成のトランジスタにおいて、例え
ば、前記第5の半導体領域はストライプ状に形成され、
例えば、前記第1の半導体領域および前記第3の半導体
領域は前記第5の半導体領域に平行なストライプ状に形
成されている。
In the transistor having the above structure, for example, the fifth semiconductor region is formed in a stripe shape,
For example, the first semiconductor region and the third semiconductor region are formed in a stripe shape parallel to the fifth semiconductor region.

【0018】上記構成のトランジスタにおいて、前記第
6の半導体領域は、前記第5の半導体領域内に複数形成
されていてもよい。このとき、前記第6の半導体領域
は、例えば、前記第5の半導体領域内に1個以上10個
以下で形成されている。
In the transistor having the above structure, a plurality of the sixth semiconductor regions may be formed in the fifth semiconductor region. At this time, the number of the sixth semiconductor regions is, for example, 1 or more and 10 or less in the fifth semiconductor region.

【0019】上記目的を達成するため、本発明の第2の
観点にかかるトランジスタは、コレクタ領域を構成する
第1導電型の半導体基板と、前記半導体基板の表面領域
に形成された第2導電型の第1のベース領域と、前記第
1のベース領域内に形成された第1導電型の第1のエミ
ッタ領域と、から構成された第1のドライブ段トランジ
スタと、コレクタ領域を構成する前記半導体基板と、前
記半導体基板の表面領域に形成された第2導電型の第2
のベース領域と、前記第2のベース領域内に形成された
第1導電型の第2のエミッタ領域と、から構成された第
2のドライブ段トランジスタと、前記半導体基板と、前
記半導体基板の表面領域に前記第1のベース領域と前記
第2のベース領域との双方に挟まれるように形成された
第2導電型の第3のベース領域と、前記第3のベース領
域内に形成された第1導電型の第3のエミッタ領域と、
から構成され、前記第1のドライブ段トランジスタおよ
び前記第2のドライブ段トランジスタの少なくとも一方
にダーリントン接続されたパワー段トランジスタと、を
備える、ことを特徴とするトランジスタ。
To achieve the above object, a transistor according to a second aspect of the present invention is a semiconductor substrate of a first conductivity type that constitutes a collector region, and a second conductivity type formed in a surface region of the semiconductor substrate. A first drive stage transistor including a first base region of the first base region and a first conductivity type first emitter region formed in the first base region, and the semiconductor forming the collector region. A substrate and a second conductivity type second formed on a surface region of the semiconductor substrate;
Second drive stage transistor including a base region of the second base region and a second emitter region of the first conductivity type formed in the second base region, the semiconductor substrate, and the surface of the semiconductor substrate. A third base region of the second conductivity type formed so as to be sandwiched between both the first base region and the second base region, and a third base region formed in the third base region. A third emitter region of one conductivity type,
And a power stage transistor Darlington-connected to at least one of the first drive stage transistor and the second drive stage transistor.

【0020】上記構成の第2の観点にかかるトランジス
タによれば、トランジスタのオフ時にパワー段トランジ
スタの第3のベース領域に蓄積された少数キャリアは、
隣接する第1および第2のドライブ段トランジスタを介
して容易に、短時間に引き抜かれ得る。これにより、高
速なスイッチング速度を有し、良好な素子特性を有する
トランジスタが提供される。
According to the transistor of the second aspect having the above structure, the minority carriers accumulated in the third base region of the power stage transistor when the transistor is off are:
It can be easily pulled out in a short time through the adjacent first and second drive stage transistors. This provides a transistor having a high switching speed and good device characteristics.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態にかかるトラ
ンジスタについて、以下図面を参照して説明する。本実
施の形態では、ダーリントン接続された複数のトランジ
スタから構成されたパワートランジスタ等のトランジス
タを例として説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Transistors according to embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In this embodiment, a transistor such as a power transistor including a plurality of Darlington-connected transistors will be described as an example.

【0022】図1に、本実施の形態にかかるトランジス
タ11の回路図を示す。また、図2に、図1に示すトラ
ンジスタ11の構成を示す。図1に示すように、トラン
ジスタ11は、第1および第2のドライブ段トランジス
タ12、13と、パワー段トランジスタ14と、を備え
る。
FIG. 1 shows a circuit diagram of the transistor 11 according to this embodiment. 2 shows a structure of the transistor 11 shown in FIG. As shown in FIG. 1, the transistor 11 includes first and second drive stage transistors 12 and 13, and a power stage transistor 14.

【0023】第1および第2のドライブ段トランジスタ
12、13は、共通のエミッタ、コレクタおよびベース
を有する。
The first and second drive stage transistors 12, 13 have a common emitter, collector and base.

【0024】パワー段トランジスタ14のベースは、第
1および第2のドライブ段トランジスタ12、13の共
通のエミッタに接続されている。また、そのコレクタ
は、第1および第2のドライブ段トランジスタ12、1
3の共通のコレクタに接続されている。このようにし
て、第1および第2のドライブ段トランジスタ12、1
3と、パワー段トランジスタ14と、はそれぞれダーリ
ントン接続されている。
The base of the power stage transistor 14 is connected to the common emitter of the first and second drive stage transistors 12, 13. In addition, its collector is connected to the first and second drive stage transistors 12, 1
3 connected to a common collector. In this way, the first and second drive stage transistors 12, 1
3 and the power stage transistor 14 are respectively Darlington connected.

【0025】図2に、図1に示す本実施の形態のトラン
ジスタ11の構成例を示す。図2に示すように、本実施
の形態のトランジスタ11は、コレクタ領域15とコレ
クタコンタクト領域16とを備える。コレクタ領域15
は、半導体基板17に形成されたN型の半導体領域から
構成されている。コレクタコンタクト領域16は、コレ
クタ領域15よりも不純物濃度の高いN型の半導体領域
から構成されている。
FIG. 2 shows a structural example of the transistor 11 of the present embodiment shown in FIG. As shown in FIG. 2, the transistor 11 of the present embodiment includes a collector region 15 and a collector contact region 16. Collector area 15
Are composed of N-type semiconductor regions formed on the semiconductor substrate 17. The collector contact region 16 is composed of an N-type semiconductor region having a higher impurity concentration than the collector region 15.

【0026】コレクタコンタクト領域16は、N型のシ
リコン単結晶基板にN型の不純物を拡散させることによ
り形成される。あるいは、コレクタコンタクト領域16
は、N型の半導体基板17上にN型のエピタキシャル成
長層として形成してもよい。コレクタコンタクト領域1
6は、コレクタ領域15とともに、第1および第2のド
ライブ段トランジスタ12、13と、パワー段トランジ
スタ14の共通のコレクタ領域15として機能する。
Collector contact region 16 is formed by diffusing N-type impurities into an N-type silicon single crystal substrate. Alternatively, the collector contact region 16
May be formed as an N-type epitaxial growth layer on the N-type semiconductor substrate 17. Collector contact area 1
6 functions as a common collector region 15 for the first and second drive stage transistors 12 and 13 and the power stage transistor 14 together with the collector region 15.

【0027】コレクタ領域15の表面領域には、P型の
半導体領域からなる第1、第2および第3のベース領域
18、19、20が形成されている。また、第1、第2
および第3のベース領域18、19、20の内側には、
N型の半導体領域からなる第1、第2および第3のエミ
ッタ領域21、22、23が形成されている。
In the surface region of the collector region 15, first, second and third base regions 18, 19, 20 which are P type semiconductor regions are formed. Also, the first and second
And inside the third base regions 18, 19, 20:
First, second and third emitter regions 21, 22 and 23 formed of N-type semiconductor regions are formed.

【0028】第1、第2および第3のベース領域18、
19、20は、コレクタ領域15を構成するN型の半導
体領域の露出面にP型の不純物を拡散することにより形
成される。第1、第2および第3のベース領域18、1
9、20は、コレクタ領域15内に相互に離間して島状
に形成されている。
First, second and third base regions 18,
19 and 20 are formed by diffusing P-type impurities into the exposed surface of the N-type semiconductor region forming the collector region 15. First, second and third base regions 18, 1
9 and 20 are formed in an island shape in the collector region 15 so as to be separated from each other.

【0029】半導体基板17は、図3に示すように、方
形に形成されている。第1のベース領域18は、例え
ば、半導体基板17の略中央に設けられ、第2および第
3のベース領域19、20は、第1のベース領域18を
挟んで互いに対向するようにそれぞれ設けられている。
第1、第2および第3のベース領域18、19、20
は、互いに略等間隔に設けられている。
The semiconductor substrate 17 is formed in a rectangular shape as shown in FIG. The first base region 18 is provided, for example, substantially in the center of the semiconductor substrate 17, and the second and third base regions 19 and 20 are provided so as to face each other with the first base region 18 interposed therebetween. ing.
First, second and third base regions 18, 19, 20
Are provided at substantially equal intervals from each other.

【0030】第1のベース領域18は、パワー段トラン
ジスタ14のベース領域として機能する。また、第2お
よび第3のベース領域19、20は、第1および第2の
ドライブ段トランジスタ12、13のベース領域として
それぞれ機能する。
The first base region 18 functions as the base region of the power stage transistor 14. The second and third base regions 19 and 20 function as the base regions of the first and second drive stage transistors 12 and 13, respectively.

【0031】第1、第2および第3のエミッタ領域2
1、22、23は、半導体基板17の第1、第2および
第3のベース領域18、19、20の表面領域にN型の
不純物を拡散することによりそれぞれ形成されている。
第1、第2および第3のエミッタ領域21、22、23
は、図3に示すように、第1、第2および第3のベース
領域18、19、20に沿って、略平行に、ストライプ
状に形成されている。
First, second and third emitter regions 2
1, 22, 23 are formed by diffusing N-type impurities into the surface regions of the first, second and third base regions 18, 19, 20 of the semiconductor substrate 17, respectively.
First, second and third emitter regions 21, 22, 23
As shown in FIG. 3, are formed in stripes along the first, second and third base regions 18, 19, 20 substantially in parallel.

【0032】第1のエミッタ領域21は、第1のベース
領域18の略中央に配置されている。第2および第3の
エミッタ領域22、23は、第2および第3のベース領
域19、20のやや中央寄りにそれぞれ配置されてい
る。第2のエミッタ領域22と第1のエミッタ領域21
との間隔は、例えば、第3のエミッタ領域23と第1の
エミッタ領域21との間隔と略同一に設定されている。
The first emitter region 21 is arranged substantially at the center of the first base region 18. The second and third emitter regions 22 and 23 are arranged slightly closer to the center of the second and third base regions 19 and 20, respectively. Second emitter region 22 and first emitter region 21
The distance between and is set to be substantially the same as the distance between the third emitter region 23 and the first emitter region 21, for example.

【0033】第1のエミッタ領域21は、パワー段トラ
ンジスタ14のエミッタ領域として機能する。第2およ
び第3のエミッタ領域22、23は、第1および第2の
ドライブ段トランジスタ12、13のエミッタ領域とし
てそれぞれ機能する。
The first emitter region 21 functions as the emitter region of the power stage transistor 14. The second and third emitter regions 22 and 23 function as the emitter regions of the first and second drive stage transistors 12 and 13, respectively.

【0034】第1のベース領域18上には、第1および
第2のパワー段トランジスタ用ベース電極24、25が
設けられ、電気的に接続されている。第1および第2の
パワー段トランジスタ用ベース電極24、25は、第1
のエミッタ領域21の両側の第1のベース領域18の表
面領域にそれぞれ設けられている。第2および第3のベ
ース領域19、20上には、第1および第2のドライブ
段トランジスタ用ベース電極26、27がそれぞれ設け
られ、電気的に接続されている。
On the first base region 18, first and second power stage transistor base electrodes 24 and 25 are provided and electrically connected. The base electrodes 24 and 25 for the first and second power stage transistors are
Are provided on the surface regions of the first base region 18 on both sides of the emitter region 21. First and second drive-stage transistor base electrodes 26 and 27 are provided on and electrically connected to the second and third base regions 19 and 20, respectively.

【0035】第1のエミッタ領域21上には、パワー段
トランジスタ用エミッタ電極28が設けられ、電気的に
接続されている。第2および第3のエミッタ領域22、
23上には、第1および第2のドライブ段トランジスタ
用エミッタ電極29、30がそれぞれ設けられ、電気的
に接続されている。
A power stage transistor emitter electrode 28 is provided on the first emitter region 21 and is electrically connected thereto. Second and third emitter regions 22,
First and second drive-stage transistor emitter electrodes 29 and 30 are provided on 23, respectively, and are electrically connected to each other.

【0036】第1のパワー段トランジスタ用ベース電極
24と、第1のドライブ段トランジスタ用エミッタ電極
29と、は、第1の接続導体31によって互いに電気的
に接続されている。また、第2のパワー段トランジスタ
用ベース電極25と、第2のドライブ段トランジスタ用
エミッタ電極30と、は、第2の接続導体32によって
互いに電気的に接続されている。第1および第2の接続
導体は、半導体基板17の一面上に絶縁膜33を介して
それぞれ形成されている。また、半導体基板17の他面
上(コレクタコンタクト領域16上)には、コレクタ電
極34が形成されている。
The first power stage transistor base electrode 24 and the first drive stage transistor emitter electrode 29 are electrically connected to each other by a first connection conductor 31. Further, the second power stage transistor base electrode 25 and the second drive stage transistor emitter electrode 30 are electrically connected to each other by the second connection conductor 32. The first and second connection conductors are formed on one surface of the semiconductor substrate 17 with the insulating film 33 interposed therebetween. A collector electrode 34 is formed on the other surface of the semiconductor substrate 17 (on the collector contact region 16).

【0037】図2に示すトランジスタ11において、コ
レクタコンタクト領域16およびコレクタ領域15と、
第1のベース領域18と、第1のエミッタ領域21と、
によってパワー段トランジスタ14が構成されている。
また、コレクタコンタクト領域16およびコレクタ領域
15と、第2のベース領域19と、第2のエミッタ領域
22と、によって第1のドライブ段トランジスタ12が
構成されている。また、コレクタコンタクト領域16お
よびコレクタ領域15と、第3のベース領域20と、第
3のエミッタ領域23と、によって第2のドライブ段ト
ランジスタ13が構成されている。これにより、トラン
ジスタ11においては、パワー段トランジスタ14の両
側に、第1のドライブ段トランジスタ12と、第2のド
ライブ段トランジスタ13と、が配置された構造となっ
ている。
In the transistor 11 shown in FIG. 2, a collector contact region 16 and a collector region 15,
A first base region 18, a first emitter region 21,
The power stage transistor 14 is constituted by.
Further, the collector contact region 16 and the collector region 15, the second base region 19, and the second emitter region 22 form the first drive stage transistor 12. Further, the collector contact region 16 and the collector region 15, the third base region 20, and the third emitter region 23 form a second drive stage transistor 13. As a result, the transistor 11 has a structure in which the first drive stage transistor 12 and the second drive stage transistor 13 are arranged on both sides of the power stage transistor 14.

【0038】このように、パワー段トランジスタ14が
第1および第2のドライブ段トランジスタ12、13の
挟まれて形成されることにより、パワー段トランジスタ
14に蓄積された少数キャリア(特に、ホール)は、容
易に第1および第2のドライブ段トランジスタ12、1
3側に引き抜かれることが可能となる。
As described above, since the power stage transistor 14 is formed by sandwiching the first and second drive stage transistors 12 and 13, minority carriers (in particular, holes) accumulated in the power stage transistor 14 are generated. , The first and second drive stage transistors 12, 1 easily
It becomes possible to be pulled out to the 3 side.

【0039】すなわち、パワー段トランジスタ14の第
1のベース領域18に蓄積された少数キャリア(電子)
は、第1のベース領域18内でホールと再結合して消滅
し、または、コレクタ電極34に引き抜かれる。これと
同時に、コレクタ領域15に蓄積された少数キャリア
(ホール)は、第1のベース領域18を挟んで配置され
た第2および第3のベース領域19、20のうち近い方
によって容易に引き抜かれ得る。
That is, the minority carriers (electrons) accumulated in the first base region 18 of the power stage transistor 14
Are recombined with holes in the first base region 18 and disappear, or are extracted to the collector electrode 34. At the same time, the minority carriers (holes) accumulated in the collector region 15 are easily extracted by the closer one of the second and third base regions 19 and 20 arranged with the first base region 18 in between. obtain.

【0040】このようにして、パワー段トランジスタ1
4の第1のベース領域18およびコレクタ領域15に蓄
積された少数キャリアは、隣接する2つの第1および第
2のドライブ段トランジスタ12、13を介して比較的
短時間で引き抜き可能となる。これにより、本実施の形
態のトランジスタ11では、高いスイッチング速度が得
られる。
In this way, the power stage transistor 1
The minority carriers accumulated in the first base region 18 and the collector region 15 of No. 4 can be extracted in a relatively short time through the two adjacent first and second drive stage transistors 12 and 13. As a result, the transistor 11 of the present embodiment can obtain a high switching speed.

【0041】以上説明したように、本発明の、パワー段
トランジスタ14の両側に第1および第2のドライブ段
トランジスタ12、13がそれぞれ配置されたトランジ
スタによれば、パワー段トランジスタ14に蓄積された
少数キャリアは第1および第2のドライブ段トランジス
タ12、13を介して容易に引き抜き可能となる。これ
により、高速のスイッチング動作の可能なトランジスタ
が得られる。
As described above, according to the transistor of the present invention in which the first and second drive stage transistors 12 and 13 are arranged on both sides of the power stage transistor 14, respectively, the power stage transistor 14 is stored. Minority carriers can be easily extracted through the first and second drive stage transistors 12 and 13. As a result, a transistor capable of high-speed switching operation can be obtained.

【0042】本発明は、上記実施の形態に限られず、種
々の変形、応用が可能である。以下、本発明に適用可能
な上記実施の形態の変形態様について、説明する。
The present invention is not limited to the above embodiment, but various modifications and applications are possible. Hereinafter, modifications of the above-described embodiment applicable to the present invention will be described.

【0043】上記実施の形態では、半導体基板17は方
形であり、各半導体領域はストライプ状に形成されるも
のとした。しかし、これに限らず、半導体基板17の形
状は円形、多角形等いかなる形状であってもよい。ま
た、各半導体領域は、格子状等の形状に形成されてもよ
い。さらに、1つのパワー段トランジスタが2つのドラ
イブ段トランジスタに挟まれる構成の他に、1つのパワ
ー段トランジスタが3つ以上、例えば、4つのドライブ
段トランジスタに挟まれる構成も可能である。
In the above-described embodiment, the semiconductor substrate 17 is rectangular and each semiconductor region is formed in a stripe shape. However, the shape of the semiconductor substrate 17 is not limited to this, and may be any shape such as a circle or a polygon. Further, each semiconductor region may be formed in a shape such as a lattice. Further, in addition to the configuration in which one power stage transistor is sandwiched between two drive stage transistors, a configuration in which one power stage transistor is sandwiched between three or more, for example, four drive stage transistors is also possible.

【0044】また、トランジスタ11は、1つのパワー
段トランジスタ14の両側に第1および第2のドライブ
段トランジスタ12、13を配置するものとした。しか
し、複数のエミッタ領域を備えるマルチエミッタ型のパ
ワー段トランジスタの両側にドライブ段トランジスタを
配置した構成も可能である。ここで、ベース領域内のエ
ミッタ領域の数が多いほど、パワー段トランジスタ全体
での少数キャリアの引き抜き速度は低下する。このた
め、配置されるエミッタ領域の数は、1個以上10個以
下、望ましくは、1個以上6個以下である。
In the transistor 11, the first and second drive stage transistors 12 and 13 are arranged on both sides of one power stage transistor 14. However, it is also possible to arrange the drive stage transistors on both sides of a multi-emitter type power stage transistor having a plurality of emitter regions. Here, the larger the number of emitter regions in the base region, the lower the extraction rate of minority carriers in the entire power stage transistor. Therefore, the number of emitter regions to be arranged is 1 or more and 10 or less, and preferably 1 or more and 6 or less.

【0045】図4に、3つのエミッタ領域21aを備え
たトランジスタ11の構成例を示す。図4に示すトラン
ジスタ11では、パワー段トランジスタ14のベース領
域18を単一のP型半導体領域として形成し、この単一
のベース領域18内に3個のエミッタ領域21aを形成
している。
FIG. 4 shows a structural example of the transistor 11 having three emitter regions 21a. In the transistor 11 shown in FIG. 4, the base region 18 of the power stage transistor 14 is formed as a single P-type semiconductor region, and three emitter regions 21 a are formed in this single base region 18.

【0046】また、図5に示すように、ドライブ段トラ
ンジスタとパワー段トランジスタとを交互に配置した構
成も可能である。図5に示す構成においても、パワー段
トランジスタ14の両側にドライブ段トランジスタ35
が配置され、パワー段トランジスタ14、特に、コレク
タ領域に蓄積された少数キャリアは、隣接するドライブ
段トランジスタ35を介して容易に、短時間に引き抜か
れ得る。
Further, as shown in FIG. 5, a configuration in which drive stage transistors and power stage transistors are alternately arranged is also possible. Also in the configuration shown in FIG. 5, the drive stage transistor 35 is provided on both sides of the power stage transistor 14.
, And the minority carriers stored in the power stage transistor 14, in particular in the collector region, can easily be extracted in a short time via the adjacent drive stage transistor 35.

【0047】さらに、上記実施の形態では、NPN型の
バイポーラトランジスタを用いるものとした。しかし、
逆導電型として構成し、PNP型のトランジスタを用い
てもよい。さらに、ドライブ段トランジスタおよび/ま
たはパワー段トランジスタとして、電界効果トランジス
タを用いた構成としてもよい。
Further, in the above embodiment, the NPN type bipolar transistor is used. But,
A PNP type transistor may be used by configuring as a reverse conductivity type. Further, a field effect transistor may be used as the drive stage transistor and / or the power stage transistor.

【0048】また、上記実施の形態では、パワートラン
ジスタを例として説明したが、ダーリントン接続された
トランジスタを用いる、オーディオ増幅用トランジスタ
等の他のトランジスタにも適用することができる。
In the above embodiment, the power transistor is described as an example, but the present invention can be applied to other transistors such as an audio amplifying transistor using a Darlington connected transistor.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
良好な素子特性を有するトランジスタが提供される。
As described above, according to the present invention,
A transistor having good device characteristics is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態にかかるトランジスタの回
路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a transistor according to an exemplary embodiment of the present invention.

【図2】本実施の形態にかかるトランジスタの断面構成
を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional configuration of a transistor according to the present embodiment.

【図3】図2に示す半導体基板の上面図である。FIG. 3 is a top view of the semiconductor substrate shown in FIG.

【図4】本発明の他の実施の形態にかかるトランジスタ
の断面構成を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a cross-sectional structure of a transistor according to another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の他の実施の形態にかかるトランジスタ
の断面構成を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a cross-sectional configuration of a transistor according to another embodiment of the present invention.

【図6】従来のパワートランジスタの回路図を示す。FIG. 6 shows a circuit diagram of a conventional power transistor.

【図7】図6に示すパワートランジスタの断面構成を示
す。
7 shows a cross-sectional structure of the power transistor shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 トランジスタ 12 第1のドライブ段トランジスタ 13 第2のドライブ段トランジスタ 14 パワー段トランジスタ 15 コレクタ領域 16 コレクタコンタクト領域 17 半導体基板 18 第1のベース領域 19 第2のベース領域 20 第3のベース領域 21 第1のエミッタ領域 22 第2のエミッタ領域 23 第3のエミッタ領域 11 transistors 12 First drive stage transistor 13 Second drive stage transistor 14 power stage transistors 15 Collector area 16 Collector contact area 17 Semiconductor substrate 18 First Base Area 19 Second Base Area 20 Third Base Area 21 First Emitter Region 22 Second emitter region 23 Third Emitter Region

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F003 AP00 BE09 BJ02 5F064 CC02 CC30 DD01 DD31 5F082 AA06 AA11 AA13 BA26 BA33 BA48 BC03 DA02 FA02 GA02 GA04    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 5F003 AP00 BE09 BJ02                 5F064 CC02 CC30 DD01 DD31                 5F082 AA06 AA11 AA13 BA26 BA33                       BA48 BC03 DA02 FA02 GA02                       GA04

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1導電型の半導体基板と、前記半導体基
板の表面領域に形成された第2導電型の第1の半導体領
域と、前記第1の半導体領域内に形成された第1導電型
の第2の半導体領域と、から構成された第1のドライブ
段トランジスタと、 前記半導体基板と、前記半導体基板の表面領域に形成さ
れた第2導電型の第3の半導体領域と、前記第3の半導
体領域内に形成された第1導電型の第4の半導体領域
と、から構成された第2のドライブ段トランジスタと、 前記半導体基板と、前記半導体基板の表面領域に前記第
1の半導体領域と前記第3の半導体領域との双方に挟ま
れるように形成された第2導電型の第5の半導体領域
と、前記第5の半導体領域内に形成された第1導電型の
第6の半導体領域と、から構成され、前記第1のドライ
ブ段トランジスタおよび前記第2のドライブ段トランジ
スタの少なくとも一方にダーリントン接続されたパワー
段トランジスタと、 を備える、ことを特徴とするトランジスタ。
1. A semiconductor substrate of a first conductivity type, a first semiconductor region of a second conductivity type formed in a surface region of the semiconductor substrate, and a first conductivity formed in the first semiconductor region. A second drive region transistor formed of a second type semiconductor region, a semiconductor substrate, a third semiconductor region of a second conductivity type formed in a surface region of the semiconductor substrate, A second drive stage transistor formed of a fourth semiconductor region of the first conductivity type formed in the third semiconductor region, the semiconductor substrate, and the first semiconductor in a surface region of the semiconductor substrate. A fifth semiconductor region of the second conductivity type formed so as to be sandwiched between both the region and the third semiconductor region, and a sixth semiconductor region of the first conductivity type formed in the fifth semiconductor region. A semiconductor region, and the first dry Stage transistor and the comprises a power stage transistors Darlington-connected to at least one of the second drive stage transistor, a transistor, characterized in that.
【請求項2】前記第1の半導体領域と、前記第3の半導
体領域と、は、前記第5の半導体領域から略等距離に形
成されている、ことを特徴とする請求項1に記載のトラ
ンジスタ。
2. The first semiconductor region and the third semiconductor region are formed at substantially the same distance from the fifth semiconductor region, as claimed in claim 1. Transistor.
【請求項3】前記第2の半導体領域と、前記第4の半導
体領域と、は、前記第6の半導体領域から略等距離に形
成されている、ことを特徴とする請求項1または2に記
載のトランジスタ。
3. The second semiconductor region and the fourth semiconductor region are formed at substantially the same distance from the sixth semiconductor region, according to claim 1 or 2. The described transistor.
【請求項4】前記第5の半導体領域はストライプ状に形
成され、前記第1の半導体領域および前記第3の半導体
領域は前記第5の半導体領域に平行なストライプ状に形
成されている、ことを特徴とする請求項1乃至3のいず
れか1項に記載のトランジスタ。
4. The fifth semiconductor region is formed in a stripe shape, and the first semiconductor region and the third semiconductor region are formed in a stripe shape parallel to the fifth semiconductor region. The transistor according to any one of claims 1 to 3, wherein:
【請求項5】前記第6の半導体領域は、前記第5の半導
体領域内に複数形成されている、ことを特徴とする請求
項1乃至4のいずれか1項に記載のトランジスタ。
5. The transistor according to claim 1, wherein a plurality of the sixth semiconductor regions are formed in the fifth semiconductor region.
【請求項6】前記第6の半導体領域は、前記第5の半導
体領域内に1個以上10個以下で形成されている、こと
を特徴とする請求項5に記載のトランジスタ。
6. The transistor according to claim 5, wherein one or more and ten or less of the sixth semiconductor regions are formed in the fifth semiconductor region.
【請求項7】コレクタ領域を構成する第1導電型の半導
体基板と、前記半導体基板の表面領域に形成された第2
導電型の第1のベース領域と、前記第1のベース領域内
に形成された第1導電型の第1のエミッタ領域と、から
構成された第1のドライブ段トランジスタと、 コレクタ領域を構成する前記半導体基板と、前記半導体
基板の表面領域に形成された第2導電型の第2のベース
領域と、前記第2のベース領域内に形成された第1導電
型の第2のエミッタ領域と、から構成された第2のドラ
イブ段トランジスタと、 前記半導体基板と、前記半導体基板の表面領域に前記第
1のベース領域と前記第2のベース領域との双方に挟ま
れるように形成された第2導電型の第3のベース領域
と、前記第3のベース領域内に形成された第1導電型の
第3のエミッタ領域と、から構成され、前記第1のドラ
イブ段トランジスタおよび前記第2のドライブ段トラン
ジスタの少なくとも一方にダーリントン接続されたパワ
ー段トランジスタと、 を備える、ことを特徴とするトランジスタ。
7. A semiconductor substrate of a first conductivity type that constitutes a collector region, and a second substrate formed on a surface region of the semiconductor substrate.
A first drive stage transistor composed of a conductive type first base region and a first conductive type first emitter region formed in the first base region, and a collector region A semiconductor substrate, a second conductive type second base region formed in a surface region of the semiconductor substrate, and a first conductive type second emitter region formed in the second base region, A second drive stage transistor including: a semiconductor substrate; and a second substrate formed in a surface region of the semiconductor substrate so as to be sandwiched between both the first base region and the second base region. A third base region of conductivity type and a third emitter region of first conductivity type formed in the third base region, wherein the first drive stage transistor and the second drive Stage transition It comprises a power stage transistors Darlington-connected to at least one of data, a transistor, characterized in that.
JP2001342269A 2001-11-07 2001-11-07 Transistor Pending JP2003142595A (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001342269A JP2003142595A (en) 2001-11-07 2001-11-07 Transistor
KR10-2002-0068400A KR100537109B1 (en) 2001-11-07 2002-11-06 Transistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001342269A JP2003142595A (en) 2001-11-07 2001-11-07 Transistor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003142595A true JP2003142595A (en) 2003-05-16

Family

ID=19156157

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001342269A Pending JP2003142595A (en) 2001-11-07 2001-11-07 Transistor

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2003142595A (en)
KR (1) KR100537109B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100777161B1 (en) * 2006-06-21 2007-11-16 주식회사 케이이씨 Integrated circuit imbeded power transistor and manufacturing method thereof

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100260531B1 (en) * 1997-06-03 2000-07-01 김충환 Bipolar transistor semiconductor overcurrent controller darlington

Also Published As

Publication number Publication date
KR100537109B1 (en) 2005-12-16
KR20030038458A (en) 2003-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4038680A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2007287782A (en) Mesa bipolar transistor
JP2743057B2 (en) Semiconductor device
CN107316900B (en) Double-carrier junction transistor layout structure
JP2004207733A (en) Bipolar transistor having majority carrier accumulation layers as sub-collector
JP2002064106A (en) Semiconductor device
JP3257186B2 (en) Insulated gate thyristor
CN108807515B (en) Bipolar transistor
JP2003142595A (en) Transistor
JP3277701B2 (en) Horizontal insulated gate bipolar transistor
JP4779291B2 (en) Semiconductor element
JP3033372B2 (en) Semiconductor device
JPH07130898A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
JP2003007714A (en) Bipolar transistor and method of manufacturing the same
KR19990010738A (en) Power semiconductor device and manufacturing method
JP3249032B2 (en) Compound semiconductor device
JPH0240922A (en) Semiconductor device
JP2010219454A (en) Semiconductor device and method for manufacturing the same
JP2003045882A (en) Semiconductor device and designing method therefor
JP2000058821A (en) Semiconductor device
JPH11186282A (en) Semiconductor device
JPH0677237A (en) Manufacture of planar type diode
JPS5832505B2 (en) semiconductor integrated circuit
JP2003031583A (en) Bipolar transistor
JPS6145391B2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040909

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060829

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070327

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070724