JP2003130785A

JP2003130785A - 粉体評価システム

Info

Publication number: JP2003130785A
Application number: JP2001323894A
Authority: JP
Inventors: Yuichi Nagahashi; 雄一長橋
Original assignee: Kao Corp
Current assignee: Kao Corp
Priority date: 2001-10-22
Filing date: 2001-10-22
Publication date: 2003-05-08
Anticipated expiration: 2021-10-22
Also published as: JP3840397B2

Abstract

(57)【要約】【課題】押出し造粒された柱状粒子のような非球形粒子
の粒度だけでなく、形状を評価できる、取り扱い容易で
コンパクトな低コストのシステムと方法を提供する。【解決手段】粉体を平坦面３ａ上で分散させる。その分
散させた粉体を撮影することで画像データを生成する。
その画像データから、粉体を構成する各粒子の２次元平
面への投影画像の大きさを表す投影データを求める。そ
の投影データと各粒子に共通の既知の寸法である形状パ
ラメータとから、各粒子の形状特性を表す評価情報を求
める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粉体の構成粒子の
粒度や形状を評価するシステムと、その形状を評価する
のに適した方法とに関するものであり、例えば柱状粒子
のような非球形粒子の粒度や形状を評価するのに特に適
している。

【０００２】

【従来の技術と発明が解決しようとする課題】従来、粉
体構成粒子の粒度を評価するため、目開きが互いに異な
る複数の篩を目開きの大きなものから順に上から下へ並
列配置し、最上段の篩に粉体を供給することで粉体を分
級し、各篩における非通過の粉体重量を測定することで
粒度分布を求める篩分け法が行われている。この篩分け
法は粒子が球形に近い場合は比較的精度良く粒度分布を
求めて評価可能である。しかし、押出し造粒された柱状
粒子から構成されるような粉体では、押出し長さが相違
していても押出し径が同一の粒子は同一の篩を通過する
ため、実質的に粒度を求めることはできない。

【０００３】気相や液相中を自由流動する粒子に照射さ
れたレーザーの散乱光や回折光を解析したり、自由流動
する粒子の撮影データを解析することで、粒子を球形と
見なして粒度を測定することも従来から行われている。
この方法は粒子が球形に近い場合は比較的精度良く粒度
分布を求めて評価可能である。しかし、押出し造粒され
た柱状粒子から構成されるような粉体では、粒子を球形
と見なして解析を行うために誤差が生じ、また、自由流
動している粒子の向きの如何によって測定結果が異なる
ため、実質的に粒度を求めることはできない。

【０００４】また、平坦面上で移送される粉体の構成粒
子を撮影することで画像データを生成し、その画像デー
タから各粒子の２次元平面への投影画像の大きさを表す
データを求めることが提案されている（特開平１０‐１
９７４３７号公報、特開平８‐８９７８０号公報）。こ
れにより、２次元平面への投影画像が非円形の非球形粒
子の大きさを求めることが可能になる。しかし、粉体構
成粒子の２次元平面への投影画像を求めるには、その平
坦面上における粉体構成粒子を、その平坦面に直交する
方向から視て重なることなく分散させる必要がある。そ
のため、特開平１０‐１９７４３７号公報に開示された
ものでは、その平坦面を振動フィーダの搬送面により構
成している。さらに、単一の振動フィーダでは粒子を十
分に分散させることができないため、２台の振動フィー
ダを直列配置し、両振動フィーダの振動パターンを互い
に異なるものとしている。しかし、２台の振動フィーダ
ーを用いた場合、１台目の振動フィーダで分散された粒
子が、振動パターンが異なるが故に２台目の振動フィー
ダにおいて再集合することがある。さらに、振動フィー
ダーでは振動パターンにより粒子の移送速度が異なるた
め、粒子の分散と粒子を撮影に適した速度で移送するこ
ととを両立するのための制御が困難であった。更に、複
数の振動フィーダーを用いる為に装置が大型化し、コス
トが高くなり、保守点検が面倒になる。また、特開平８
‐８９７８０号公報に開示されたものでは、粉体を傾斜
する平坦面上で滑落させることで移送することにより、
その平坦面上で粒子を分散させている。しかし、単に平
坦面上で滑落させるだけでは粒子を十分に分散させるこ
とはできなかった。

【０００５】さらに、上記何れの従来技術も、粒子の粒
度や２次元平面への投影画像の大きさを表すデータを求
めるに過ぎないため、粒子の形状評価を行うことはでき
なかった。そのため、押出し造粒された柱状粒子から構
成されるような粉体の評価を行うには不十分であった。

【０００６】本発明は上記従来技術に鑑み、比較的球状
に近い粒子のみならず、柱状粒子などの非球形粒子の粒
度や形状も評価可能な粉体の評価方法と評価システムを
提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の粉体の評価方法
は、粉体を平坦面上で分散させ、その分散させた粉体を
撮影することで画像データを生成し、その画像データか
ら、粉体を構成する各粒子の２次元平面への投影画像の
大きさを表す投影データを求め、その投影データと各粒
子に共通の既知の寸法である形状パラメータとから、各
粒子の形状特性を表す評価情報を求めることを特徴とす
る。本発明方法によれば、粉体を平坦面上で分散させた
上で撮影して得た画像データから、粉体を構成する各粒
子の２次元平面への投影画像の大きさを表す投影データ
を求める。これにより、２次元平面への投影画像が非円
形の非球形粒子の粒度を求めることができる。しかも、
その投影データと各粒子に共通の既知の寸法である形状
パラメータとから、各粒子の形状特性を表す評価情報を
求めることで非球形粒子の形状も評価できる。

【０００８】本発明方法においては、各粒子は押出し造
粒され、その投影データは各粒子の２次元平面への投影
画像の周囲長または面積とされ、その形状パラメータは
各粒子の押出し径とされ、その評価情報は、その投影デ
ータを形状パラメータにより除することで求められるの
が好ましい。これにより、押出し造粒された柱状粒子か
ら構成される粉体における粒子の粒度と形状の評価を行
うことができる。特に、軸長が短径よりも大きな柱状粒
子を平坦面に直交する方向から視て重なることなく分散
させた場合、粒子軸方向は平坦面に沿うためにカメラに
対して粒子の投影面積は最大になるので、押出し径を形
状パラメータとすることで、確実に粒子形状を評価する
ことができる。

【０００９】本発明の粉体評価システムの第１の特徴
は、平坦面上の粉体を分散させつつ移送する移送手段
と、その平坦面上の粉体を撮影することで画像データを
生成する撮影手段と、その画像データから、粉体を構成
する各粒子の２次元平面への投影画像の大きさを表す投
影データを求める手段とを備え、その移送手段は、平坦
面上の粉体を振動させることで移送する振動フィーダ
と、その振動フィーダにより移送された粉体を傾斜する
平坦面上で滑落させることで移送するガイドとを有し、
その撮影手段は、そのガイドの平坦面上の粉体を撮影す
る点にある。このシステムによれば、平坦面上において
振動フィーダにより移送される粉体に振動を伝達するこ
とで、その粉体構成粒子を予備分散させ、その振動フィ
ーダにより分散された粉体構成粒子を傾斜する平坦面上
で重力加速度の分加速度により滑落させることで、さら
に分散させることができる。これにより、その傾斜する
平坦面上において、振動フィーダーを複数段配置した場
合よりも安定して粉体構成粒子を分散させ、その傾斜す
る平坦面上の粉体を撮影することで生成される画像デー
タから、粉体を構成する各粒子の２次元平面への投影画
像の大きさを表す投影データを正確に求めることができ
る。また、振動フィーダーは単一であるために制御、保
守点検は容易であり、装置が大型化することはなく、コ
ストを低減できる。この場合、その振動フィーダで移送
された粉体が、そのガイドの平坦面上に落下するよう
に、その振動フィーダの平坦面とガイドの平坦面との間
に落差が設けられているのが好ましい。これにより、傾
斜する平坦面上における粉体構成粒子を、平坦面から摩
擦を受けることなく重力加速度により自由落下する間に
分散させ、その平坦面に直交する方向から視て重なるこ
となくより確実に分散させることができる。また、その
振動フィーダに粉体を供給するためのホッパーが設けら
れ、そのホッパーに、その振動フィーダの発生振動が伝
達されるのが好ましい。これにより、ホッパー内におい
て粉体が凝固するのを振動により防止し、傾斜する平坦
面上における粉体構成粒子を、その平坦面に直交する方
向から視て重なることなくより確実に分散させることが
できる。

【００１０】本発明の粉体評価システムの第２の特徴
は、平坦面上の粉体を分散させつつ移送する移送手段
と、その平坦面上の粉体を撮影することで画像データを
生成する撮影手段と、その画像データから、粉体を構成
する各粒子の２次元平面への投影画像の大きさを表す投
影データを求める手段とを備え、その移送手段は、平坦
面上の粉体を振動させることで移送する振動フィーダを
有し、その振動フィーダに粉体を供給するためのホッパ
ーが設けられ、そのホッパーに、その振動フィーダの発
生振動が伝達される点にある。このシステムによれば、
ホッパー内において粉体が凝固するのを振動により防止
し、さらに、平坦面上において振動フィーダにより移送
される粉体に振動を伝達することで、その粉体構成粒子
を平坦面上で重なることなく分散させることができる。
これにより、その粉体構成粒子を撮影することで生成さ
れる画像データから、粉体を構成する各粒子の２次元平
面への投影画像の大きさを表す投影データを正確に求め
ることができ、その粉体の粒度を評価できる。また、振
動フィーダーは単一であるために制御、保守点検は容易
であり、装置が大型化することはなく、コストを低減で
きる。

【００１１】本発明の粉体評価システムにおいて、その
投影データと各粒子に共通の既知の寸法である形状パラ
メータとから、各粒子の形状特性を表す評価情報を求め
る手段を備えるのが好ましい。これにより、非球形粒子
の形状も評価できる。特に、各粒子が押出し造粒される
時、その投影データは、各粒子の２次元平面への投影画
像の周囲長または面積とされ、その形状パラメータは、
各粒子の押出し径とされ、その評価情報は、その投影デ
ータを形状パラメータにより除することで求められるの
が好ましい。これにより、押出し造粒された柱状粒子か
ら構成される粉体における粒子の粒度と形状の評価を行
うことができる。なお、本発明方法および本発明システ
ムにおいては、粉体構成粒子を平坦面上で、その平坦面
に直交する方向から視て重なることなく分散させ、その
平坦面に直交する方向から撮影するのが好ましい。ここ
で、「平坦面に直交する」とは、実質的に当業者が粉体
の測定が行える角度であれば良く、数学的に９０°に限
定されるものではない。なお、必ずしも平坦面に直交し
ている必要はないが、具体的に許容できる９０°からの
ずれ角は、好ましくは±２０°以内であり、より好まし
くは±１０°以内である。しかし、±０°（平坦面に直
交する場合）が最も好ましいのはいうまでもない。ずれ
角が大きくなる程、投影画像に粒子の遠近による誤差や
画像の重なりが生じる場合があり好ましくない。また、
本発明方法および本発明システムにおいて「投影」と
は、ある特定の方法や手段で粒子の形を描き出すことを
意味し、その方法や手段には特に拘らない。

【００１２】

【発明の実施の形態】図１に示す粉体評価システム１
は、移送手段としての振動フィーダ２および板状ガイド
３、撮影手段としてのカメラ４、そのカメラ４に接続さ
れる画像処理装置５、その画像処理装置５に接続される
制御用コンピュータ６およびモニタ７、その振動フィー
ダ２に粉体を供給するためのホッパー９を備える。本実
施形態の粉体評価システム１は、例えば洗浄剤粒子のよ
うな、軸長が短径よりも大きな押出し造粒される円柱状
粒子から構成される粉体の粒度と粒子形状を評価するの
に適している。

【００１３】その振動フィーダ２は、ホッパー９から供
給される平坦面２ａ上の粉体を振動させることで、その
平坦面２ａに直交する方向から視て粉体構成粒子を重な
ることなく分散させつつ移送するもので、公知のものを
用いることができる。この振動フィーダ２の平坦面２ａ
は、移送方向前方に向かうに従い下方に向かうように僅
かに傾斜して配置される。そのガイド３は、その振動フ
ィーダ２により移送された粉体を、傾斜する平坦面３ａ
上で滑落させることで、その平坦面３ａに直交する方向
から視て粉体構成粒子を重なることなく分散させつつ移
送する。図２に示すように、その振動フィーダ２で移送
された粉体が、そのガイド３の平坦面３ａ上に落下する
ように、その振動フィーダ２の平坦面２ａとガイド３の
平坦面３ａとの間に落差Ｈが設けられている。そのホッ
パー９に、その振動フィーダ２の発生振動が伝達される
ように、そのホッパー９は振動フィーダ２に接触し、ホ
ッパー９内において粉体が凝固するのを振動により防止
するものとされている。その振動の伝達は、振動フィー
ダ２とホッパー９とを振動伝達可能な部材により連結す
ることでおこなってもよい。なお、そのホッパー９は汎
用の粒子供給用のものであって、振動フィーダ２に対す
るホッパー９の下端出口の平坦面２ａに対する角度や高
さの変更により、粒子供給量を調整可能なものを用いる
ことができる。これにより、そのホッパー９からの粉体
供給量を、振動フィーダ２とガイド３とによる移送によ
り粒子を重なることなく分散できるように定めることが
できる。

【００１４】そのカメラ４は、そのガイド３の平坦面３
ａに直交する方向から、その平坦面３ａ上の粉体を撮影
することで画像データを生成し、その画像データを画像
処理装置５に送る。この際、そのカメラ４のシャッター
速度は粉体を静止状態と見なせる状態で撮影できるよう
に定められ、その撮影タイミングはコンピュータ６から
画像処理装置５を介して送られる信号により制御され
る。また、本実施形態ではガイド３は板状光源により構
成され、ガイド３の平坦面３ａは透明材により構成さ
れ、平坦面３ａを透過する光により各粒子の撮影が行わ
れる。透過光により撮影することで、粒子自体の色の影
響が少なく、粒子の陰影を際立たせた画像データを得る
ことができ、画像処理時の粒子抽出精度が向上する。さ
らに、ガイド３自体を板状光源とすることで構成の簡素
化が図れる。その板状光源としては、撮影領域を実用上
均一に照射することが可能なものであれば特に限定され
ず、ＬＥＤ光源、コールドランプ用ユニット、上面に拡
散板を使用した蛍光灯ボックスなどを使用できる、ＬＥ
Ｄ光源が均一照射、装置簡素化の面で好ましい。その画
像処理装置５は、そのカメラ４から送られる画像データ
から、粉体を構成する各粒子の２次元平面への投影画像
の大きさを表す投影データを求める。すなわち、画像処
理装置５はコンピュータ６からの指示により画像データ
を記憶し、その画像データの２値化処理およびノイズ除
去処理を行い、その撮影画像における粒子部分の識別お
よび粒子個数のカウントを行い、投影データとして各粒
子個々の２次元平面への投影画像の面積や周囲長を求め
る。その求めた投影データがコンピュータ６に送られて
記憶される。

【００１５】そのモニタ７は、その画像処理装置５に記
録されたカメラ４による撮影画像と投影データを表示す
る。そのモニタ７に表示される画像から粒子の重なりが
観測される場合には、振動フィーダ２の移送速度やホッ
パー９の振動フィーダ２に対する位置を適宜調整する事
により、粒子の重なりを排除することが行われる。

【００１６】コンピュータ６は、投影データを求めた粒
子の個数が設定数に達していなければカメラ４による撮
影の続行を、達している場合は撮影完了を画像処理装置
５に指示する。その撮影完了の後にコンピュータ６は、
その投影データから粒子の粒度を表す評価情報を求め
る。例えば、任意に定めた粒子の周囲長範囲毎に存在す
る粒子の数を集計することで粒度分布を求める。また、
コンピュータ６は、その投影データと各粒子に共通の既
知の寸法である形状パラメータとから、各粒子の形状特
性を表す評価情報を求める。その形状パラメータは、各
粒子が押出し造粒される場合は押出し径とされ、その形
状特性を表す評価情報は、その投影データを形状パラメ
ータにより除することで求められる。例えば、既知の直
径を持つ単一径の球形粒子を標準サンプルとし、粉体評
価システム１により予め測定した標準サンプルの周囲長
に基づき測定サンプルの柱状粒子の周囲長を求め、さら
に既知の形状パラメータである押出し径をＤ、柱状粒子
の軸長をＬとして、Ｌ／Ｄを形状特性を表す評価情報と
して求める。なお、押出し径が同一である測定サンプル
の粒度を比較する際には、単に球形換算粒子径を用いて
もよく、測定者の判断しやすい長さの単位で比較すれば
よい。さらに、粒度分布の演算と共に平均粒径の算出な
ども合わせて行ってもよい。これらの演算結果をコンピ
ュータ６に接続されるディスプレイやプリンタ等の出力
装置により出力することで測定者に計測完了を通知す
る。

【００１７】上記粉体評価システム１によれば、押出し
造粒された粉体の構成粒子をガイド３の平坦面３ａ上
で、その平坦面３ａに直交する方向から視て重なること
なく分散させ、その分散させた粉体を、その平坦面３ａ
に直交する方向からカメラ４により撮影することで画像
データを生成し、その画像データから、粉体を構成する
各粒子の２次元平面への投影画像の大きさを表す投影デ
ータを求め、その投影データと各粒子に共通の既知の寸
法である形状パラメータとから、各粒子の形状特性を表
す評価情報を求めることができる。さらに、その投影デ
ータを、各粒子の２次元平面への投影画像の周囲長また
は面積とし、その形状パラメータを各粒子の押出し径と
し、その評価情報を、その投影データを形状パラメータ
により除することで求めることができる。

【００１８】本発明は上記実施形態に限定されない。例
えば、上記実施形態においてガイド３をなくし、振動フ
ィーダ２の平坦面２ａに直交する方向からカメラ４によ
り粉体を撮影することで画像データを生成するようにし
てもよい。また、本発明の粉体評価システムは柱形以外
の例えば角柱形粒子のような非球形粒子の粒度や形状評
価にも利用できる。上記実施形態では振動フィーダやガ
イドの平坦面は移動することなく粒子のみを移動させた
が、平坦面と粒子とが同行して移動するようにしてもよ
く、例えば、その平坦面が縦軸中心に回転するものやエ
ンドレスベルト等などから構成される搬送装置により粉
体を移送してもよい。また、上記実施形態では平坦面を
透過する光により粒子を撮影したが、平坦面を反射材に
より構成して平坦面における反射光による撮影してもよ
い。その撮影に影響のある室内燈、太陽光などの外部光
を遮蔽する囲いを設けたり、熱可塑性や吸湿あるいは潮
解性の原料を含む粒子の測定時には調温、調湿のための
空調設備を設けてもよい。また、本発明の粉体評価シス
テムはオフラインでの使用に限定されず、粉体製造ライ
ン全体における造粒品質向上のためのフィードバック制
御、フィードフォワード制御、カスケード制御などの制
御システムと組合せたり、異常検知のための定常監視シ
ステムと組合せることで、オンラインでの使用も可能で
ある。

【００１９】

【実施例】予備実験として、上記実施形態の粉体評価シ
ステム１による測定データの再現性を確認した。すなわ
ち、任意に選択した一種類の柱状粒子から構成される粉
体を測定サンプルとして、計測粒子数を等しくして最低
５回の測定を行い、各々の測定で得られた粒度分布の再
現性を、平均化された粒度分布との相互係数を求めるこ
とで確認した。同様の再現性確認を、測定サンプルの計
測粒子数を変化させて行った。その結果、平均化された
粒度分布と各測定の粒度分布との相関係数は、計測粒子
数を１００００個とした時は０．９９９以上、計測粒子
数を４０００個以上とした時は０．９９５以上であり、
良好な再現性を示した。なお、計測粒子数４０００個の
時のサンプル量は約２０ｇであり、処理時間は５分程度
であった。実施例として、測定サンプルとして軸長が図
３の図面代用写真に示すように比較的均一な粒子から構
成される第１の粉体サンプルと、図４の図面代用写真に
示すように比較的不均一な粒子から構成される第２の粉
体サンプルの測定を行い、形状特性を表す評価情報とし
て上記Ｌ／Ｄの分布を求めた。両粉体サンプルは同じ装
置から製造された押出し造粒物であり、押出し径は共に
０．７ｍｍである。また、標準サンプルとして直径０．
８ｍｍのジルコニアビーズを用いた。計測粒子数は４０
００個に設定した。測定結果を図５に示す。なお、測定
サンプルの押出し径は互いに等しいため、Ｌ／Ｄにより
形状特性だけでなく粒子の長さを評価できる。図５に示
すように、第１の粉体サンプルの構成粒子のＬ／Ｄは中
央値が１．２であり、その分布範囲も狭く、図面代用写
真から受けるイメージそのままに、軸長が比較的均一な
粒子である事を表現している。それに対し、第２の粉体
サンプルの構成粒子のＬ／Ｄは中央値が２．０であり、
その分布範囲も広く、図面代用写真から受けるイメージ
そのままに、軸長が比較的不均一な粒子である事を表現
している。また、各粉体サンプルの球形換算粒子径の分
布を求めて図６において実線で示し、横軸により球形換
算粒子径、左縦軸により頻度（％）を示す。比較例とし
て、実施例と同一の第１の粉体サンプルと第２の粉体サ
ンプルとを用いて、ＪＩＳ標準篩を用いた従来の篩分け
法によって求めて図６において１点鎖線で示し、横軸に
より球形換算粒子径、右縦軸により頻度（％）を示す。
その結果、第１の粉体サンプルと第２の粉体サンプルと
は共に押出し径Ｄが等しく同一の篩目をすり抜けるた
め、粒度分布の相違を確認する事が出来なかった。

【００２０】

【発明の効果】本発明によれば、押出し造粒された柱状
粒子のような非球形粒子の粒度だけでなく、形状を評価
できる、取り扱い容易でコンパクトな低コストのシステ
ムと方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態の粉体評価システムの構成説
明図

【図２】本発明の実施形態の粉体評価システムの部分構
成説明図

【図３】軸長が比較的均一な粉体構成粒子の粒子構造を
示す図面代用写真

【図４】軸長が比較的不均一な粉体構成粒子の粒子構造
を示す図面代用写真

【図５】本発明の実施形態の粉体評価システムによる粉
体評価結果を示す図

【図６】本発明の実施形態の粉体評価システムによる粉
体評価結果と従来の篩分け法による粉体評価結果を示す
図

【符号の説明】

１粉体評価システム２振動フィーダ２ａ平坦面３ガイド３ａ平坦面４カメラ５画像処理装置５６コンピュータ９ホッパー

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】粉体を平坦面上で分散させ、その分散させ
た粉体を撮影することで画像データを生成し、その画像
データから、粉体を構成する各粒子の２次元平面への投
影画像の大きさを表す投影データを求め、その投影デー
タと各粒子に共通の既知の寸法である形状パラメータと
から、各粒子の形状特性を表す評価情報を求めることを
特徴とする粉体の評価方法。
【請求項２】各粒子は押出し造粒され、その投影データ
は各粒子の２次元平面への投影画像の周囲長または面積
とされ、その形状パラメータは各粒子の押出し径とさ
れ、その評価情報は、その投影データを形状パラメータ
により除することで求められる請求項１に記載の粉体の
評価方法。
【請求項３】平坦面上の粉体を分散させつつ移送する移
送手段と、その平坦面上の粉体を撮影することで画像デ
ータを生成する撮影手段と、その画像データから、粉体
を構成する各粒子の２次元平面への投影画像の大きさを
表す投影データを求める手段とを備え、その移送手段
は、平坦面上の粉体を振動させることで移送する振動フ
ィーダと、その振動フィーダにより移送された粉体を傾
斜する平坦面上で滑落させることで移送するガイドとを
有し、その撮影手段は、そのガイドの平坦面上の粉体を
撮影することを特徴とする粉体評価システム。
【請求項４】その振動フィーダで移送された粉体が、そ
のガイドの平坦面上に落下するように、その振動フィー
ダの平坦面とガイドの平坦面との間に落差が設けられて
いる請求項３に記載の粉体評価システム。
【請求項５】その振動フィーダに粉体を供給するための
ホッパーが設けられ、そのホッパーに、その振動フィー
ダの発生振動が伝達される請求項３または４に記載の粉
体評価システム。
【請求項６】平坦面上の粉体を分散させつつ移送する移
送手段と、その平坦面上の粉体を撮影することで画像デ
ータを生成する撮影手段と、その画像データから、粉体
を構成する各粒子の２次元平面への投影画像の大きさを
表す投影データを求める手段とを備え、その移送手段
は、平坦面上の粉体を振動させることで移送する振動フ
ィーダを有し、その振動フィーダに粉体を供給するため
のホッパーが設けられ、そのホッパーに、その振動フィ
ーダの発生振動が伝達されることを特徴とする粉体評価
システム。
【請求項７】その投影データと各粒子に共通の既知の寸
法である形状パラメータとから、各粒子の形状特性を表
す評価情報を求める手段を備える請求項３〜６の中の何
れかに記載の粉体評価システム。
【請求項８】各粒子が押出し造粒される時、その投影デ
ータは、各粒子の２次元平面への投影画像の周囲長また
は面積とされ、その形状パラメータは、各粒子の押出し
径とされ、その評価情報は、その投影データを形状パラ
メータにより除することで求められる請求項７に記載の
粉体評価システム。