JP2003130759A - 透過及び反射を利用した被測定物の光学特性の決定 - Google Patents
透過及び反射を利用した被測定物の光学特性の決定Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光ビームの透過方向及び反射方向の両方向の測
定を利用してＤＵＴの光学特性をより容易に決定するこ
とが可能な手段を提供する。 【解決手段】本発明は、光ビームの透過及び反射を利用
して測定対象デバイス(DUT)の光学特性、例えば、偏光
依存性損失(PDL)、偏光モード分散(PMD)、群遅延時間差
(DGD)、挿入損失、反射減衰量及び／または色分散(CD)
を決定することに関連する。本発明は、少なくとも部分
的に透過性で、かつ、少なくとも部分的に反射性である
エレメント（要素）を開示する。
定を利用してＤＵＴの光学特性をより容易に決定するこ
とが可能な手段を提供する。 【解決手段】本発明は、光ビームの透過及び反射を利用
して測定対象デバイス(DUT)の光学特性、例えば、偏光
依存性損失(PDL)、偏光モード分散(PMD)、群遅延時間差
(DGD)、挿入損失、反射減衰量及び／または色分散(CD)
を決定することに関連する。本発明は、少なくとも部分
的に透過性で、かつ、少なくとも部分的に反射性である
エレメント（要素）を開示する。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームの透過
（または伝送。以下同じ）及び反射時における被測定物
（ＤＵＴ）の、例えば、偏光（偏波）依存損失（ＰＤ
Ｌ：polarization dependent loss）、偏光モード分散
（ＰＭＤ：polarization mode dispersion。偏波モード
分散）、群遅延時間差（または、微分群遅延。ＤＧＤ：
differential group delay）、挿入損失、反射減衰量
（または、反射損失。以下同じ）、及び／または、色分
散（ＣＤ）といった光学特性の決定に関するものであ
る。 【０００２】 【従来の技術】上述の目的のための測定装置または測定
構成は、できるだけ操作が容易でなければならないし、
また、できるだけ迅速に、かつ、できるだけ少ない操作
で、ＤＵＴの全ての光学特性を明らかにするものでなけ
ればならない。これは、いったん測定装置に接続する
と、必要な全てのパラメータについて、ＤＵＴの特性を
十分に解明することができなければならないということ
を表している。十分な特性解明には、透過時と反射時の
両方における全てのパラメータをできるだけ迅速に測定
することが必要になる。 【０００３】偏光分解（polarization-resolved）光フ
ァイバ・ブラッグ格子特性の解明方法は、Ｓａｎｄｅｌ
他の研究（Ｄａｖｉｄ Ｓａｎｄｅｌ，Ｒｅｉｎｈｏｌ
ｄＮｏeによる“Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ Ａ
ｎａｌｙｚｅｒ ａｐｐｌｉｅｄ ｆｏｒ Ｆｉｂｅｒ
Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔｉｎｇ Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉ
ｚａｔｉｏｎ”ＥＣＯＣ ９７，２２−２５ Ｓｅｐｔ
ｅｍｂｅｒ １９９７，Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ Ｐｕｂ
ｌｉｃａｔｉｏｎ Ｎｏ．４４８（ＩＥＥ，１９９７，
ｐｐ．１８６−１８９）、Ｄａｖｉｄ Ｓａｎｄｅｌ他
による“Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ Ａｎａｌｙ
ｓｉｓ ａｎｄ Ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ Ｓｔｒｕ
ｃｔｕｒｅ Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ ｏｆ
Ｆｉｂｅｒ Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔｉｎｇ”，Ｊｏｕ
ｒｎａｌ ｏｆ Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ Ｔｅｃｈｎｏｌ
ｏｇｙ，Ｖｏｌ．１６，Ｎｏ．１２，Ｄｅｃｅｍｂｅｒ
１９９８，ｐｐ．２４３５−２４４２）から既知のとこ
ろである。しかし、これらの文献によれば、ＤＵＴの反
射だけしか測定されない。 【０００４】ＤＵＴの透過時と反射時の群遅延を両方向
において測定する測定装置は、Ｆｒｏｇｇａｔｔ他の文
献（“Ｆｕｌｌ Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｔｒａｎｓｍｉｓｓ
ｉｏｎ ａｎｄ Ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ Ｃｈａｒａｃ
ｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ ｏｆａ Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔ
ｉｎｇ ｉｎ ａ Ｓｉｎｇｌｅ Ｌａｓｅｒ Ｓｗｅ
ｅｐ”）から既知のところである。しかし、この文献に
開示されている測定装置では、ＰＭＤまたはＰＤＬを測
定することができない。さらに、この論文に開示されて
いる測定装置では、反射及び透過信号を検出するために
用いられる検出器が、同時に両方向の信号を受信する、
すなわち、一方の方向の反射信号が、もう一方の方向の
透過信号と重畳され、一方の方向の透過信号が、もう一
方の方向の反射信号と重畳されるので、問題が生じる。
従って、この信号の重畳に関する全ての影響を実際に知
らずに、これらの信号を識別するためには、複雑な措置
が必要になる。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、光ビームの透過及び反射の一方向におけるＤＵＴの
光学特性の決定を改良することにある。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記目的は、本願特許請
求の範囲に記載された独立請求項に係る発明によって解
決される。 【０００７】本発明の利点は、透過時に測定するための
測定装置を、透過と反射の一方向においてＤＵＴを同時
に測定できる測定装置に変換するための迅速な方法が得
られることにある。本発明の望ましい実施態様の場合、
本発明の素子（エレメントまたは構成要素）には、半透
明ミラーが含まれる。この実施態様は、製作が容易で、
操作しやすく、生産コストが安い。 【０００８】本発明の別の望ましい実施態様では、素子
（エレメントまたは構成要素）は、既知の透過と反射の
比率を有しており、より望ましくは、例えば、ＰＤＬ、
ＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、反射減衰量、ＣＤ、といっ
た、既知の光学特性も有している。関連する波長範囲内
にＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、反射減衰量、ＰＤＬ、及
び、ＣＤがほとんど含まれない素子を有することが望ま
しい。 【０００９】素子が、光学特性を調整できるように対策
がとられているとさらに望ましい。この実施態様によれ
ば、本発明の素子の利用時におけるいっそうのフレキシ
ビリティが保証される。 【００１０】本発明の他の望ましい実施態様の場合、素
子には、光ビームの初期経路内にあって、光ビームの少
なくとも一部を第１の経路（以下の実施態様では光路）
に結合する第１のビーム・スプリッタまたはカプラと、
光ビームの一部を逆方向に導いて、部分的に初期光路に
戻す光ガイドが含まれている。このガイドには、第１の
光路内にあって、光ビームの一部を結合して初期光路に
戻す第２のビーム・スプリッタまたはカプラが含まれる
ことが望ましい。この実施態様によれば、半透明ミラー
を用いることを必要とせずに、本発明が実現される。 【００１１】本発明の他の実施態様によれば、素子に
は、光ビームの初期経路内にあって、光ビームの少なく
とも一部を第１の光路に結合する第１のビーム・スプリ
ッタまたはカプラと、第１の光路内にあるミラーであっ
て、光ビームの一部を反射して、第１のビーム・スプリ
ッタに送り返し、これによって、第１のビーム・スプリ
ッタが、その一部を、部分的に逆方向に初期光路に戻す
ように導き、及び、部分的に、反射信号を初期方向に導
く第２の光路に送り込むようにする、ミラーが含まれて
いる。 【００１２】他の望ましい実施態様については、従属請
求項に示されている。 【００１３】本発明を、１つ以上の適合するソフトウェ
ア・プログラムによって部分的にまたは完全に実施また
は支援することが可能であることは明かである。そのソ
フトウェア・プログラムを、任意の種類のデータ・キャ
リアに記憶することもできるし、あるいは、それによっ
て提供することが可能であり、並びに、任意の適合する
データ処理装置において、または、その適合するデータ
処理装置によって実行することが可能である。本発明の
他の目的及び多くの付随する利点は、添付の図面を参照
して説明する以下の詳細な説明から容易に理解されるで
あろう。図面内の構成要素は必ずしも同一のスケーリン
グで表示されていないが、これは、本発明の原理を明確
に示すことに重点をおいた為である。実質的にまたは機
能的に同一または類似の構成には、同じ参照符号を付し
ている。 【００１４】 【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を詳細に参照
して説明する。図１には、本発明の方法の１実施態様に
関する原理の概要が示されている。図１のステップＡに
は、１つの方向における透過及び反射時のＤＵＴ６の光
学特性（または、透過及び反射を利用してＤＵＴ６の光
学特性）を決定するための測定装置４００（図５を参照
されたい）の基準アーム２が示されている。こうした測
定装置４００は、本出願人による同日の並行特許出願に
開示された較正及び／または検証素子によって較正及び
／または検証することが可能である。従って、この並行
特許出願に示された測定装置の較正及び／または検証に
関する説明は、参照により本明細書に組み込まれている
ものとする。 【００１５】基準アーム２は、２つのコネクタ４ａ及び
４ｂを備えている。２つのコネクタ４ａと４ｂの間に
は、パッチ・コードが挿入される。コネクタ４ａと４ｂ
の接続を解放することによって（矢印８で表示）、基準
アーム２からパッチ・コード７を切り離すことが可能で
ある。図１のステップＢに示すように、これによって、
コネクタ４ａと４ｂの間にギャップ１０が開くことにな
る。これによって、ギャップ１０に本発明の素子１２を
挿入することが可能になる（矢印１４で示す）。このた
めに、素子１２には、２つの短いパッチ・コード１６ａ
及び１６ｂが設けられており、これらのパッチ・コード
は、それぞれ、基準アーム２のコネクタ４ａ及び４ｂに
接続可能なコネクタ１８ａ及び１８ｂを備えている。図
１のステップＣに示すように、結果として、本発明の素
子１２が基準アーム２に挿入され、パッチ・コード７に
取って代わる。 【００１６】図２には、本発明の素子１２の第１の実施
態様１００が示されている。実施態様１００の場合、本
発明の素子１２には、半透明ミラー２０が含まれてい
る。半透明ミラー２０は、三角形２２によって示すよう
に、パッチ・コード１６ａによってミラー２０に導かれ
る光の５０％を反射して、三角形２４によって示すよう
に、パッチ・コード１６ａに送り返し、三角形２６によ
って示すように、光２２の５０％がミラー２０を透過す
るようにし、この透過光が、パッチ・コード１６ｂに沿
ってコネクタ１８ｂまで伝搬する。従って、図２に従う
素子は、入射光２２の透過及び反射を生じさせる。ただ
し、異なる比率の透過及び反射を利用することも可能で
ある。 【００１７】図３には、本発明の素子１２の第２の実施
態様２００が示されている。実施態様２００の素子１２
には、３ｄＢカプラが望ましい第１のカプラ２８が含ま
れている。しかし、１０ｄＢカプラのような他のカプラ
を利用することも可能である。カプラ２８は、入射光２
２のパッチ・コード１６ａによって形成される初期光路
内にある。カプラ２８は、光２２の５０％を第１の光路
３０に結合するが、この結合部分は三角形３２によって
示されている。三角形３４によって示す残りの５０％部
分は、初期光路１６ａに沿って進行する。さらに、素子
１２には、三角形３８によって示すように、部分３２を
部分的に逆方向に結合して、初期光路１６ａに戻す第２
のビーム・スプリッタまたはカプラ３６が含まれてい
る。さらに、第２のカプラ３６は、三角形４０によって
示すように、光３４を第１の光路３０に結合する。光４
０は、三角形４２で示すように、第１のカプラ２８によ
って部分的に逆方向に結合されて、初期光路１６ａに戻
される。第２のカプラ３６によって初期光路１６ａに結
合されなかった光３４の一部は、三角形４４によって示
すように、パッチ・コード１６ｂに沿ってコネクタ１８
ｂまで進行する。従って、図３の実施態様２００におけ
る素子１２は、透過の際には、入射光２２の一部４４を
コネクタ１８ｂから送り出し、反射の際には、入射光２
２の一部４２をコネクタ１８ａから送り出す。 【００１８】さらに、カプラ２８及び３６を調整するこ
とによって、例えば、１０ｄＢカプラまたは他のカプラ
を利用することによって、反射光４２と透過光４４との
比率を調整することが可能である。 【００１９】図４には、本発明の素子１２の第３の実施
態様３００が示されている。実施態様３００の場合、入
射光２２は、三角形５２で示すように、カプラ４６によ
って部分的に第１の経路４８に結合される。第１の光路
４８の端部には、ミラー５０が設けられている。ミラー
５０は、三角形５４で示すように、光５２全体を反射す
る。引き続き、カプラ４６は、三角形５６で示すよう
に、反射光５４を逆方向に、初期光路１６ａに向かうよ
うに結合すると共に、三角形５８で示すように、コネク
タ１８ｂに向かう方向に結合して、パッチ・コード１６
ｂに送り込む。従って、図４の実施態様３００による素
子１２は、透過の際には、入射光２２の一部５８をコネ
クタ１８ｂに提供し、反射の際には、入射光２２の一部
５６をコネクタ１８ａに提供する。 【００２０】図５には、本発明による測定構成（または
測定装置）の第１の実施態様４００が示されている。測
定構成４００には、コヒーレントなレーザ・ビーム７２
を偏光コントローラ７４（ヒューレット・パッカード社
製ＨＰ ８１６９Ａとすることが可能である）に供給す
る同調可能光源７０が含まれている。偏光コントローラ
７４は、偏光制御されたコヒーレント光ビーム７６をア
イソレータ７８に供給する。アイソレータ７８には、３
ｄＢカプラである第３のビーム・スプリッタ８２が光学
的に接続されていて、アイソレータ７８からコヒーレン
ト光ビーム８０を受光する。また、アイソレータ７８に
は、光ビーム８０の波長を検出するための波長基準装置
８４（図６も参照されたい）も光学的に接続されてい
て、光ビーム８０を受光する。 【００２１】カプラ８２には、基準アーム２及び測定ア
ーム８６が接続されている。測定アームには、較正のた
め、測定アーム８６を切り離すためのスイッチ８８が設
けられている。さらに、測定アーム８６には、ＤＵＴ６
を受けるためのシート９０が含まれている。シート９０
は、ＤＵＴ６を測定アーム８６に接続できるようにする
ための２つのコネクタ９２及び９４を備えている。 【００２２】第３のカプラ８２とシート９０の間には、
カプラ８２によって分割されて測定アーム８６に送り込
まれる光ビーム８０の信号強度を測定するための第５の
パワー検出器９６が設けられている。さらに、ＤＵＴ６
によって反射される光の信号強度を測定するための第６
の検出器９８も設けられている。 【００２３】さらに、測定アーム８６は、３ｄＢカプラ
である第４のビーム・スプリッタ１０２に接続されてい
る。シート９０と第４のビーム・スプリッタ１０２の間
には、ＤＵＴ６を透過する光の信号強度を測定するため
の第７のパワー検出器が設けられている。 【００２４】カプラ１０２には、ＤＵＴ６による透過信
号と、第４のカプラ１０２によって基準アーム２から結
合された基準信号を重畳したものである重畳信号を検出
する偏波ダイバーシティ受信機１０６が接続されてい
る。基準信号は、第３のカプラ８２によって基準アーム
２に結合される。 【００２５】第３のカプラ８２には、偏波ダイバーシテ
ィ受信機１０８も接続されている。この偏波ダイバーシ
ティ受信機は、カプラ８２によって基準アームから結合
されたＤＵＴ６からの反射信号と、基準アームから結合
された、素子１２からやってくる反射基準信号との重畳
信号を検出する。 【００２６】これ以上の詳細については、本出願人の欧
州特許出願００１２５０８９．３を参照されたい。尚、
その開示内容は、参照により本明細書に組み込まれてい
るものとする。 【００２７】図６には、本発明による測定構成の第２の
実施態様５００が示されている。図６には、波長基準装
置８４がさらに詳細に示されている。波長基準装置８４
には、光ビーム８０から結合された部分１１２を３つの
光ビーム１１４、１１６、及び、１１８に分割する、６
ポート・カプラ１１０が含まれている。光ビーム１１４
及び１１６は、ファラデー・ミラー１２０及び１２２に
送られる。ファラデー・ミラー１２０をシフトして、光
路１１４の長さを変化させることが可能である。さら
に、波長基準装置８４には、第８のパワー検出器１２６
に接続されたガス・セル１２４が含まれている。ガス・
セル１２４内のガスは、既知の吸収スペクトルを有して
いる。検出器１２６と、ガス・セル１２４内のガスの既
知の吸収スペクトルのおかげで、光ビーム８０の波長を
極めて正確に決定することが可能である。 【００２８】さらに、実施態様５００には、偏波ダイバ
ーシティ受信機１０６及び１０８が詳細に示されてい
る。それらは、第１のパワー検出器１３２及び第２のパ
ワー検出器１３４、第３のパワー検出器１３６及び第４
のパワー検出器１３８にそれぞれ接続された偏光ビーム
・スプリッタ１２８及び１３０を備えている。 【００２９】図５の実施態様４００とは対称的に、図６
の第５の実施態様５００は、図３の実施態様２００に示
すように接続されていない、図３の実施態様２００に従
う素子１２を備えている。図６の実施態様５００では、
ガイド３０は、図３に示すように基準アームに直接結合
されてはいない。実施態様５００の場合、ガイド３０
は、カプラ１４０に結合されており、ガイド３０によっ
て導かれた基準信号と光路１６０を通って直接やってく
る反射信号が、偏波ダイバーシティ受信機１０８の前段
で重畳されるようになっている。これによって、基準信
号３０の初期光路８０への導入が有効に回避される。 【００３０】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。 １．測定装置（４００、５００）に反射の基準信号を加
えて、光ビーム（２２、８０）の透過及び反射における
（または透過及び反射を利用して）被測定物（６）の光
学特性を決定するための素子（１２）であって、少なく
とも部分的に透過性で、少なくとも部分的に反射性であ
ることからなる、素子。 ２．透過と反射の比率が既知である、上項１に記載の素
子。 ３．少なくとも１つの既知の光学特性を有していること
と、光学特性が、ＰＤＬ、ＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、
反射減衰量、ＣＤからなるグループのうちの少なくとも
１つであることと、光ビーム（２２、８０）の波長範囲
において、ＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、反射減衰量、Ｐ
ＤＬ、及び、ＣＤが実質的に存在しないのが望ましいこ
ととからなる、上項１または２に記載の素子。 ４．少なくとも１つの光学特性を調整するための少なく
とも１つのサブエレメント（副素子）（２０、２８、３
０、３６、４６、４８、５０）を含む、上項３に記載の
素子。 ５．半透明ミラー（２０）を含む、上項１〜４のいずれ
かに記載の素子。 ６．前記光ビーム（２２、８０）の初期経路（１６ａ）
に接続されて、前記光ビーム（２２、８０）の少なくと
も一部（３２）を第１の経路（３０）に結合するための
第１のビーム・スプリッタまたはカプラ（２８）と、前
記光ビーム（２２、８０）の一部（３２）を少なくとも
部分的に（３８）前記初期経路（１６ａ）に戻すように
逆方向に導くための光ガイド（３０、３６）を含む、上
項１〜５のいずれかに記載の素子。 ７．前記第１の経路（３０）及び前記初期経路（１６
ａ）に接続されて、前記光ビーム（２２、８０）の一部
（３２）を前記初期経路（１６ａ）に戻すように結合す
るための第２のビーム・スプリッタまたはカプラ（３
６）を、前記ガイド（３０、３６）が備えることからな
る、上項６に記載の素子。 ８．第１のビーム・スプリッタまたはカプラ（４６）と
ミラー（２０）とを備え、第１のビーム・スプリッタま
たはカプラは、前記光ビーム（２２、８０）の初期経路
（１６ａ）に接続されて、前記光ビーム（２２、８０）
の少なくとも一部（５２）を第１の経路（４８）に結合
し、前記ミラーは、前記第１の経路（４８）の端部に配
置されて、前記光ビーム（２２、８０）の一部（５４）
を前記ビーム・スプリッタまたはカプラ（４６）に戻す
ように反射し、前記ビーム・スプリッタまたはカプラ
（４６）は、前記一部（５２）の一部（５６）を、前記
初期経路（１６ａ）に戻すように逆方向に結合し、前記
一部（５２）の他の部分（５８）を第２の経路（１６
ｂ）に結合して、透過時のビーム（２２、８０）の一部
（５８）を提供することからなる、上項１〜７のいずれ
かに記載の素子。 ９．測定装置（４００、５００）に反射の基準信号を加
えて、光ビーム（２２、８０）の透過及び反射時におけ
る（または、透過及び反射を利用して）被測定物（６）
の光学特性を決定するための方法であって、前記測定装
置（４００、５００）の基準アーム（２）の一部（７）
を、上項１〜８のいずれかに記載の素子（１２）に置き
換えるステップと、前記測定装置（４００、５００）を
動作させて（または、一連の測定装置（４００、５０
０）を動作させて）、透過及び反射時におけるデータを
得るステップと、前記データを解析して、透過及び反射
時におけるＤＵＴ（６）の少なくとも１つの光学特性を
決定するステップを含む、方法。 １０．コンピュータなどのデータ処理システムで実行さ
れる場合には、上項９に記載の方法を実行するために、
データ・キャリア（データ記憶媒体）に記憶されるのが
望ましいソフトウェア・プログラムまたは製品。 １１．透過及び反射時における（または、透過及び反射
を利用して）ＤＵＴ（６）の光学特性を決定するための
測定装置であって、前記ＤＵＴ（６）を受ける測定アー
ム（８６）と、前記測定アーム（８６）に光学的に接触
して、前記測定アーム（８６）によって透過（または伝
送）された信号を検出する透過検出器（１０６）と、前
記測定アーム（８６）に光学的に接触して、前記測定ア
ーム（８６）によって反射された信号を検出する反射検
出器（１０８）と、前記透過検出器（１０６）に光学的
に接触して、前記透過検出器（１０６）に基準信号を供
給する基準アーム（２）を備えており、前記基準アーム
（２）が、前記反射検出器（１０８）に光学的に接触し
て、前記反射検出器（１０８）に基準信号を供給する上
項１〜９のいずれかの素子（１２）を含むことからな
る、装置。 １２．前記測定アーム（８６）及び前記基準アーム
（２）に光学的に接触して、前記測定アーム（８６）及
び前記基準アーム（２）にコヒーレントな光ビーム（８
０）を供給する第３のビーム・スプリッタ（８２）と、
前記測定アーム（８６）及び前記基準アーム（２）と、
前記透過検出器（１０６）とに光学的に接触して、前記
測定アーム（８６）によって透過された信号と前記基準
アーム（２）によって透過された信号を重畳し、生じた
重畳信号を前記透過検出器（１０６）に供給する第４の
ビーム・スプリッタ（１０２）をさらに備える、上項１
１に記載の装置。 １３．前記透過検出器（１０６）及び／または前記反射
検出器（１０８）が、それぞれ、偏光ビーム・スプリッ
タを備えており、それぞれに、第１及び第２のパワー検
出器と、第３及び第４のパワー検出器が割り当てられて
おり、それぞれのパワー検出器が、検出されたパワーに
基づいて前記ＤＵＴ（６）の光学特性を評価する評価装
置に接続されていることからなる、上項１１または１２
に記載の装置。 １４．前記第３のビーム・スプリッタ（８２）と前記第
４のビーム・スプリッタ（１０２）の間に位置する前記
測定アーム（８６）内のＤＵＴ（６）用のシート（９
０）と、前記第３のビーム・スプリッタ（８２）と前記
シート（９０）の間に配置されて、前記第３のビーム・
スプリッタ（８２）に光学的に接触し、前記ＤＵＴ
（６）に入力される信号の強度を測定するための第５の
パワー検出器（９６）と、前記シート（９０）と前記第
４のビーム・スプリッタ（１０２）の間に配置されて、
前記シート（９０）に光学的に接触し、前記ＤＵＴ
（６）によって透過された信号の信号強度を測定するた
めの第６のパワー検出器（９８）さらにを備える、上項
１１〜１３のいずれかに記載の装置。 １５．前記第３のビーム・スプリッタ（８２）と前記シ
ート（９０）の間に配置されて、前記シート（９０）に
光学的に接触し、前記ＤＵＴ（６）によって反射された
信号の信号強度を測定するための第７のパワー検出器
（１０４）をさらに備える、上項１４に記載の装置。 【００３１】本発明は、光ビームの透過及び反射を利用
して測定対象デバイス(DUT)の光学特性、例えば、偏光
依存性損失(PDL)、偏光モード分散(PMD)、群遅延時間差
(DGD)、挿入損失、反射減衰量及び／または色分散(CD)
を決定することに関連する。本発明は、少なくとも部分
的に透過性で、かつ、少なくとも部分的に反射性である
エレメント（要素）を開示する。 【００３２】 【発明の効果】本発明によれば、光ビームの透過方向及
び反射方向の両方向の測定を利用してＤＵＴの光学特性
をより簡易に決定する手段が得られる。
（または伝送。以下同じ）及び反射時における被測定物
（ＤＵＴ）の、例えば、偏光（偏波）依存損失（ＰＤ
Ｌ：polarization dependent loss）、偏光モード分散
（ＰＭＤ：polarization mode dispersion。偏波モード
分散）、群遅延時間差（または、微分群遅延。ＤＧＤ：
differential group delay）、挿入損失、反射減衰量
（または、反射損失。以下同じ）、及び／または、色分
散（ＣＤ）といった光学特性の決定に関するものであ
る。 【０００２】 【従来の技術】上述の目的のための測定装置または測定
構成は、できるだけ操作が容易でなければならないし、
また、できるだけ迅速に、かつ、できるだけ少ない操作
で、ＤＵＴの全ての光学特性を明らかにするものでなけ
ればならない。これは、いったん測定装置に接続する
と、必要な全てのパラメータについて、ＤＵＴの特性を
十分に解明することができなければならないということ
を表している。十分な特性解明には、透過時と反射時の
両方における全てのパラメータをできるだけ迅速に測定
することが必要になる。 【０００３】偏光分解（polarization-resolved）光フ
ァイバ・ブラッグ格子特性の解明方法は、Ｓａｎｄｅｌ
他の研究（Ｄａｖｉｄ Ｓａｎｄｅｌ，Ｒｅｉｎｈｏｌ
ｄＮｏeによる“Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ Ａ
ｎａｌｙｚｅｒ ａｐｐｌｉｅｄ ｆｏｒ Ｆｉｂｅｒ
Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔｉｎｇ Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉ
ｚａｔｉｏｎ”ＥＣＯＣ ９７，２２−２５ Ｓｅｐｔ
ｅｍｂｅｒ １９９７，Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ Ｐｕｂ
ｌｉｃａｔｉｏｎ Ｎｏ．４４８（ＩＥＥ，１９９７，
ｐｐ．１８６−１８９）、Ｄａｖｉｄ Ｓａｎｄｅｌ他
による“Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ Ａｎａｌｙ
ｓｉｓ ａｎｄ Ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ Ｓｔｒｕ
ｃｔｕｒｅ Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ ｏｆ
Ｆｉｂｅｒ Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔｉｎｇ”，Ｊｏｕ
ｒｎａｌ ｏｆ Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ Ｔｅｃｈｎｏｌ
ｏｇｙ，Ｖｏｌ．１６，Ｎｏ．１２，Ｄｅｃｅｍｂｅｒ
１９９８，ｐｐ．２４３５−２４４２）から既知のとこ
ろである。しかし、これらの文献によれば、ＤＵＴの反
射だけしか測定されない。 【０００４】ＤＵＴの透過時と反射時の群遅延を両方向
において測定する測定装置は、Ｆｒｏｇｇａｔｔ他の文
献（“Ｆｕｌｌ Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｔｒａｎｓｍｉｓｓ
ｉｏｎ ａｎｄ Ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ Ｃｈａｒａｃ
ｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ ｏｆａ Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔ
ｉｎｇ ｉｎ ａ Ｓｉｎｇｌｅ Ｌａｓｅｒ Ｓｗｅ
ｅｐ”）から既知のところである。しかし、この文献に
開示されている測定装置では、ＰＭＤまたはＰＤＬを測
定することができない。さらに、この論文に開示されて
いる測定装置では、反射及び透過信号を検出するために
用いられる検出器が、同時に両方向の信号を受信する、
すなわち、一方の方向の反射信号が、もう一方の方向の
透過信号と重畳され、一方の方向の透過信号が、もう一
方の方向の反射信号と重畳されるので、問題が生じる。
従って、この信号の重畳に関する全ての影響を実際に知
らずに、これらの信号を識別するためには、複雑な措置
が必要になる。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、光ビームの透過及び反射の一方向におけるＤＵＴの
光学特性の決定を改良することにある。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記目的は、本願特許請
求の範囲に記載された独立請求項に係る発明によって解
決される。 【０００７】本発明の利点は、透過時に測定するための
測定装置を、透過と反射の一方向においてＤＵＴを同時
に測定できる測定装置に変換するための迅速な方法が得
られることにある。本発明の望ましい実施態様の場合、
本発明の素子（エレメントまたは構成要素）には、半透
明ミラーが含まれる。この実施態様は、製作が容易で、
操作しやすく、生産コストが安い。 【０００８】本発明の別の望ましい実施態様では、素子
（エレメントまたは構成要素）は、既知の透過と反射の
比率を有しており、より望ましくは、例えば、ＰＤＬ、
ＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、反射減衰量、ＣＤ、といっ
た、既知の光学特性も有している。関連する波長範囲内
にＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、反射減衰量、ＰＤＬ、及
び、ＣＤがほとんど含まれない素子を有することが望ま
しい。 【０００９】素子が、光学特性を調整できるように対策
がとられているとさらに望ましい。この実施態様によれ
ば、本発明の素子の利用時におけるいっそうのフレキシ
ビリティが保証される。 【００１０】本発明の他の望ましい実施態様の場合、素
子には、光ビームの初期経路内にあって、光ビームの少
なくとも一部を第１の経路（以下の実施態様では光路）
に結合する第１のビーム・スプリッタまたはカプラと、
光ビームの一部を逆方向に導いて、部分的に初期光路に
戻す光ガイドが含まれている。このガイドには、第１の
光路内にあって、光ビームの一部を結合して初期光路に
戻す第２のビーム・スプリッタまたはカプラが含まれる
ことが望ましい。この実施態様によれば、半透明ミラー
を用いることを必要とせずに、本発明が実現される。 【００１１】本発明の他の実施態様によれば、素子に
は、光ビームの初期経路内にあって、光ビームの少なく
とも一部を第１の光路に結合する第１のビーム・スプリ
ッタまたはカプラと、第１の光路内にあるミラーであっ
て、光ビームの一部を反射して、第１のビーム・スプリ
ッタに送り返し、これによって、第１のビーム・スプリ
ッタが、その一部を、部分的に逆方向に初期光路に戻す
ように導き、及び、部分的に、反射信号を初期方向に導
く第２の光路に送り込むようにする、ミラーが含まれて
いる。 【００１２】他の望ましい実施態様については、従属請
求項に示されている。 【００１３】本発明を、１つ以上の適合するソフトウェ
ア・プログラムによって部分的にまたは完全に実施また
は支援することが可能であることは明かである。そのソ
フトウェア・プログラムを、任意の種類のデータ・キャ
リアに記憶することもできるし、あるいは、それによっ
て提供することが可能であり、並びに、任意の適合する
データ処理装置において、または、その適合するデータ
処理装置によって実行することが可能である。本発明の
他の目的及び多くの付随する利点は、添付の図面を参照
して説明する以下の詳細な説明から容易に理解されるで
あろう。図面内の構成要素は必ずしも同一のスケーリン
グで表示されていないが、これは、本発明の原理を明確
に示すことに重点をおいた為である。実質的にまたは機
能的に同一または類似の構成には、同じ参照符号を付し
ている。 【００１４】 【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を詳細に参照
して説明する。図１には、本発明の方法の１実施態様に
関する原理の概要が示されている。図１のステップＡに
は、１つの方向における透過及び反射時のＤＵＴ６の光
学特性（または、透過及び反射を利用してＤＵＴ６の光
学特性）を決定するための測定装置４００（図５を参照
されたい）の基準アーム２が示されている。こうした測
定装置４００は、本出願人による同日の並行特許出願に
開示された較正及び／または検証素子によって較正及び
／または検証することが可能である。従って、この並行
特許出願に示された測定装置の較正及び／または検証に
関する説明は、参照により本明細書に組み込まれている
ものとする。 【００１５】基準アーム２は、２つのコネクタ４ａ及び
４ｂを備えている。２つのコネクタ４ａと４ｂの間に
は、パッチ・コードが挿入される。コネクタ４ａと４ｂ
の接続を解放することによって（矢印８で表示）、基準
アーム２からパッチ・コード７を切り離すことが可能で
ある。図１のステップＢに示すように、これによって、
コネクタ４ａと４ｂの間にギャップ１０が開くことにな
る。これによって、ギャップ１０に本発明の素子１２を
挿入することが可能になる（矢印１４で示す）。このた
めに、素子１２には、２つの短いパッチ・コード１６ａ
及び１６ｂが設けられており、これらのパッチ・コード
は、それぞれ、基準アーム２のコネクタ４ａ及び４ｂに
接続可能なコネクタ１８ａ及び１８ｂを備えている。図
１のステップＣに示すように、結果として、本発明の素
子１２が基準アーム２に挿入され、パッチ・コード７に
取って代わる。 【００１６】図２には、本発明の素子１２の第１の実施
態様１００が示されている。実施態様１００の場合、本
発明の素子１２には、半透明ミラー２０が含まれてい
る。半透明ミラー２０は、三角形２２によって示すよう
に、パッチ・コード１６ａによってミラー２０に導かれ
る光の５０％を反射して、三角形２４によって示すよう
に、パッチ・コード１６ａに送り返し、三角形２６によ
って示すように、光２２の５０％がミラー２０を透過す
るようにし、この透過光が、パッチ・コード１６ｂに沿
ってコネクタ１８ｂまで伝搬する。従って、図２に従う
素子は、入射光２２の透過及び反射を生じさせる。ただ
し、異なる比率の透過及び反射を利用することも可能で
ある。 【００１７】図３には、本発明の素子１２の第２の実施
態様２００が示されている。実施態様２００の素子１２
には、３ｄＢカプラが望ましい第１のカプラ２８が含ま
れている。しかし、１０ｄＢカプラのような他のカプラ
を利用することも可能である。カプラ２８は、入射光２
２のパッチ・コード１６ａによって形成される初期光路
内にある。カプラ２８は、光２２の５０％を第１の光路
３０に結合するが、この結合部分は三角形３２によって
示されている。三角形３４によって示す残りの５０％部
分は、初期光路１６ａに沿って進行する。さらに、素子
１２には、三角形３８によって示すように、部分３２を
部分的に逆方向に結合して、初期光路１６ａに戻す第２
のビーム・スプリッタまたはカプラ３６が含まれてい
る。さらに、第２のカプラ３６は、三角形４０によって
示すように、光３４を第１の光路３０に結合する。光４
０は、三角形４２で示すように、第１のカプラ２８によ
って部分的に逆方向に結合されて、初期光路１６ａに戻
される。第２のカプラ３６によって初期光路１６ａに結
合されなかった光３４の一部は、三角形４４によって示
すように、パッチ・コード１６ｂに沿ってコネクタ１８
ｂまで進行する。従って、図３の実施態様２００におけ
る素子１２は、透過の際には、入射光２２の一部４４を
コネクタ１８ｂから送り出し、反射の際には、入射光２
２の一部４２をコネクタ１８ａから送り出す。 【００１８】さらに、カプラ２８及び３６を調整するこ
とによって、例えば、１０ｄＢカプラまたは他のカプラ
を利用することによって、反射光４２と透過光４４との
比率を調整することが可能である。 【００１９】図４には、本発明の素子１２の第３の実施
態様３００が示されている。実施態様３００の場合、入
射光２２は、三角形５２で示すように、カプラ４６によ
って部分的に第１の経路４８に結合される。第１の光路
４８の端部には、ミラー５０が設けられている。ミラー
５０は、三角形５４で示すように、光５２全体を反射す
る。引き続き、カプラ４６は、三角形５６で示すよう
に、反射光５４を逆方向に、初期光路１６ａに向かうよ
うに結合すると共に、三角形５８で示すように、コネク
タ１８ｂに向かう方向に結合して、パッチ・コード１６
ｂに送り込む。従って、図４の実施態様３００による素
子１２は、透過の際には、入射光２２の一部５８をコネ
クタ１８ｂに提供し、反射の際には、入射光２２の一部
５６をコネクタ１８ａに提供する。 【００２０】図５には、本発明による測定構成（または
測定装置）の第１の実施態様４００が示されている。測
定構成４００には、コヒーレントなレーザ・ビーム７２
を偏光コントローラ７４（ヒューレット・パッカード社
製ＨＰ ８１６９Ａとすることが可能である）に供給す
る同調可能光源７０が含まれている。偏光コントローラ
７４は、偏光制御されたコヒーレント光ビーム７６をア
イソレータ７８に供給する。アイソレータ７８には、３
ｄＢカプラである第３のビーム・スプリッタ８２が光学
的に接続されていて、アイソレータ７８からコヒーレン
ト光ビーム８０を受光する。また、アイソレータ７８に
は、光ビーム８０の波長を検出するための波長基準装置
８４（図６も参照されたい）も光学的に接続されてい
て、光ビーム８０を受光する。 【００２１】カプラ８２には、基準アーム２及び測定ア
ーム８６が接続されている。測定アームには、較正のた
め、測定アーム８６を切り離すためのスイッチ８８が設
けられている。さらに、測定アーム８６には、ＤＵＴ６
を受けるためのシート９０が含まれている。シート９０
は、ＤＵＴ６を測定アーム８６に接続できるようにする
ための２つのコネクタ９２及び９４を備えている。 【００２２】第３のカプラ８２とシート９０の間には、
カプラ８２によって分割されて測定アーム８６に送り込
まれる光ビーム８０の信号強度を測定するための第５の
パワー検出器９６が設けられている。さらに、ＤＵＴ６
によって反射される光の信号強度を測定するための第６
の検出器９８も設けられている。 【００２３】さらに、測定アーム８６は、３ｄＢカプラ
である第４のビーム・スプリッタ１０２に接続されてい
る。シート９０と第４のビーム・スプリッタ１０２の間
には、ＤＵＴ６を透過する光の信号強度を測定するため
の第７のパワー検出器が設けられている。 【００２４】カプラ１０２には、ＤＵＴ６による透過信
号と、第４のカプラ１０２によって基準アーム２から結
合された基準信号を重畳したものである重畳信号を検出
する偏波ダイバーシティ受信機１０６が接続されてい
る。基準信号は、第３のカプラ８２によって基準アーム
２に結合される。 【００２５】第３のカプラ８２には、偏波ダイバーシテ
ィ受信機１０８も接続されている。この偏波ダイバーシ
ティ受信機は、カプラ８２によって基準アームから結合
されたＤＵＴ６からの反射信号と、基準アームから結合
された、素子１２からやってくる反射基準信号との重畳
信号を検出する。 【００２６】これ以上の詳細については、本出願人の欧
州特許出願００１２５０８９．３を参照されたい。尚、
その開示内容は、参照により本明細書に組み込まれてい
るものとする。 【００２７】図６には、本発明による測定構成の第２の
実施態様５００が示されている。図６には、波長基準装
置８４がさらに詳細に示されている。波長基準装置８４
には、光ビーム８０から結合された部分１１２を３つの
光ビーム１１４、１１６、及び、１１８に分割する、６
ポート・カプラ１１０が含まれている。光ビーム１１４
及び１１６は、ファラデー・ミラー１２０及び１２２に
送られる。ファラデー・ミラー１２０をシフトして、光
路１１４の長さを変化させることが可能である。さら
に、波長基準装置８４には、第８のパワー検出器１２６
に接続されたガス・セル１２４が含まれている。ガス・
セル１２４内のガスは、既知の吸収スペクトルを有して
いる。検出器１２６と、ガス・セル１２４内のガスの既
知の吸収スペクトルのおかげで、光ビーム８０の波長を
極めて正確に決定することが可能である。 【００２８】さらに、実施態様５００には、偏波ダイバ
ーシティ受信機１０６及び１０８が詳細に示されてい
る。それらは、第１のパワー検出器１３２及び第２のパ
ワー検出器１３４、第３のパワー検出器１３６及び第４
のパワー検出器１３８にそれぞれ接続された偏光ビーム
・スプリッタ１２８及び１３０を備えている。 【００２９】図５の実施態様４００とは対称的に、図６
の第５の実施態様５００は、図３の実施態様２００に示
すように接続されていない、図３の実施態様２００に従
う素子１２を備えている。図６の実施態様５００では、
ガイド３０は、図３に示すように基準アームに直接結合
されてはいない。実施態様５００の場合、ガイド３０
は、カプラ１４０に結合されており、ガイド３０によっ
て導かれた基準信号と光路１６０を通って直接やってく
る反射信号が、偏波ダイバーシティ受信機１０８の前段
で重畳されるようになっている。これによって、基準信
号３０の初期光路８０への導入が有効に回避される。 【００３０】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。 １．測定装置（４００、５００）に反射の基準信号を加
えて、光ビーム（２２、８０）の透過及び反射における
（または透過及び反射を利用して）被測定物（６）の光
学特性を決定するための素子（１２）であって、少なく
とも部分的に透過性で、少なくとも部分的に反射性であ
ることからなる、素子。 ２．透過と反射の比率が既知である、上項１に記載の素
子。 ３．少なくとも１つの既知の光学特性を有していること
と、光学特性が、ＰＤＬ、ＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、
反射減衰量、ＣＤからなるグループのうちの少なくとも
１つであることと、光ビーム（２２、８０）の波長範囲
において、ＰＭＤ、ＤＧＤ、挿入損失、反射減衰量、Ｐ
ＤＬ、及び、ＣＤが実質的に存在しないのが望ましいこ
ととからなる、上項１または２に記載の素子。 ４．少なくとも１つの光学特性を調整するための少なく
とも１つのサブエレメント（副素子）（２０、２８、３
０、３６、４６、４８、５０）を含む、上項３に記載の
素子。 ５．半透明ミラー（２０）を含む、上項１〜４のいずれ
かに記載の素子。 ６．前記光ビーム（２２、８０）の初期経路（１６ａ）
に接続されて、前記光ビーム（２２、８０）の少なくと
も一部（３２）を第１の経路（３０）に結合するための
第１のビーム・スプリッタまたはカプラ（２８）と、前
記光ビーム（２２、８０）の一部（３２）を少なくとも
部分的に（３８）前記初期経路（１６ａ）に戻すように
逆方向に導くための光ガイド（３０、３６）を含む、上
項１〜５のいずれかに記載の素子。 ７．前記第１の経路（３０）及び前記初期経路（１６
ａ）に接続されて、前記光ビーム（２２、８０）の一部
（３２）を前記初期経路（１６ａ）に戻すように結合す
るための第２のビーム・スプリッタまたはカプラ（３
６）を、前記ガイド（３０、３６）が備えることからな
る、上項６に記載の素子。 ８．第１のビーム・スプリッタまたはカプラ（４６）と
ミラー（２０）とを備え、第１のビーム・スプリッタま
たはカプラは、前記光ビーム（２２、８０）の初期経路
（１６ａ）に接続されて、前記光ビーム（２２、８０）
の少なくとも一部（５２）を第１の経路（４８）に結合
し、前記ミラーは、前記第１の経路（４８）の端部に配
置されて、前記光ビーム（２２、８０）の一部（５４）
を前記ビーム・スプリッタまたはカプラ（４６）に戻す
ように反射し、前記ビーム・スプリッタまたはカプラ
（４６）は、前記一部（５２）の一部（５６）を、前記
初期経路（１６ａ）に戻すように逆方向に結合し、前記
一部（５２）の他の部分（５８）を第２の経路（１６
ｂ）に結合して、透過時のビーム（２２、８０）の一部
（５８）を提供することからなる、上項１〜７のいずれ
かに記載の素子。 ９．測定装置（４００、５００）に反射の基準信号を加
えて、光ビーム（２２、８０）の透過及び反射時におけ
る（または、透過及び反射を利用して）被測定物（６）
の光学特性を決定するための方法であって、前記測定装
置（４００、５００）の基準アーム（２）の一部（７）
を、上項１〜８のいずれかに記載の素子（１２）に置き
換えるステップと、前記測定装置（４００、５００）を
動作させて（または、一連の測定装置（４００、５０
０）を動作させて）、透過及び反射時におけるデータを
得るステップと、前記データを解析して、透過及び反射
時におけるＤＵＴ（６）の少なくとも１つの光学特性を
決定するステップを含む、方法。 １０．コンピュータなどのデータ処理システムで実行さ
れる場合には、上項９に記載の方法を実行するために、
データ・キャリア（データ記憶媒体）に記憶されるのが
望ましいソフトウェア・プログラムまたは製品。 １１．透過及び反射時における（または、透過及び反射
を利用して）ＤＵＴ（６）の光学特性を決定するための
測定装置であって、前記ＤＵＴ（６）を受ける測定アー
ム（８６）と、前記測定アーム（８６）に光学的に接触
して、前記測定アーム（８６）によって透過（または伝
送）された信号を検出する透過検出器（１０６）と、前
記測定アーム（８６）に光学的に接触して、前記測定ア
ーム（８６）によって反射された信号を検出する反射検
出器（１０８）と、前記透過検出器（１０６）に光学的
に接触して、前記透過検出器（１０６）に基準信号を供
給する基準アーム（２）を備えており、前記基準アーム
（２）が、前記反射検出器（１０８）に光学的に接触し
て、前記反射検出器（１０８）に基準信号を供給する上
項１〜９のいずれかの素子（１２）を含むことからな
る、装置。 １２．前記測定アーム（８６）及び前記基準アーム
（２）に光学的に接触して、前記測定アーム（８６）及
び前記基準アーム（２）にコヒーレントな光ビーム（８
０）を供給する第３のビーム・スプリッタ（８２）と、
前記測定アーム（８６）及び前記基準アーム（２）と、
前記透過検出器（１０６）とに光学的に接触して、前記
測定アーム（８６）によって透過された信号と前記基準
アーム（２）によって透過された信号を重畳し、生じた
重畳信号を前記透過検出器（１０６）に供給する第４の
ビーム・スプリッタ（１０２）をさらに備える、上項１
１に記載の装置。 １３．前記透過検出器（１０６）及び／または前記反射
検出器（１０８）が、それぞれ、偏光ビーム・スプリッ
タを備えており、それぞれに、第１及び第２のパワー検
出器と、第３及び第４のパワー検出器が割り当てられて
おり、それぞれのパワー検出器が、検出されたパワーに
基づいて前記ＤＵＴ（６）の光学特性を評価する評価装
置に接続されていることからなる、上項１１または１２
に記載の装置。 １４．前記第３のビーム・スプリッタ（８２）と前記第
４のビーム・スプリッタ（１０２）の間に位置する前記
測定アーム（８６）内のＤＵＴ（６）用のシート（９
０）と、前記第３のビーム・スプリッタ（８２）と前記
シート（９０）の間に配置されて、前記第３のビーム・
スプリッタ（８２）に光学的に接触し、前記ＤＵＴ
（６）に入力される信号の強度を測定するための第５の
パワー検出器（９６）と、前記シート（９０）と前記第
４のビーム・スプリッタ（１０２）の間に配置されて、
前記シート（９０）に光学的に接触し、前記ＤＵＴ
（６）によって透過された信号の信号強度を測定するた
めの第６のパワー検出器（９８）さらにを備える、上項
１１〜１３のいずれかに記載の装置。 １５．前記第３のビーム・スプリッタ（８２）と前記シ
ート（９０）の間に配置されて、前記シート（９０）に
光学的に接触し、前記ＤＵＴ（６）によって反射された
信号の信号強度を測定するための第７のパワー検出器
（１０４）をさらに備える、上項１４に記載の装置。 【００３１】本発明は、光ビームの透過及び反射を利用
して測定対象デバイス(DUT)の光学特性、例えば、偏光
依存性損失(PDL)、偏光モード分散(PMD)、群遅延時間差
(DGD)、挿入損失、反射減衰量及び／または色分散(CD)
を決定することに関連する。本発明は、少なくとも部分
的に透過性で、かつ、少なくとも部分的に反射性である
エレメント（要素）を開示する。 【００３２】 【発明の効果】本発明によれば、光ビームの透過方向及
び反射方向の両方向の測定を利用してＤＵＴの光学特性
をより簡易に決定する手段が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の１実施態様の原理を示す図である。
【図２】本発明の素子の第１の実施態様を示す図であ
る。 【図３】本発明の素子の第２の実施態様を示す図であ
る。 【図４】本発明の素子の第３の実施態様を示す図であ
る。 【図５】本発明に従う第１の測定構成を示す図である。 【図６】本発明に従う第２の測定構成を示す図である。 【符号の説明】 ２ 基準アーム ６ 被測定デバイス（DUT） １２ エレメント（素子） １６ａ 初期光路 １６ｂ 第２の光路 ２０ 半透明ミラー ２２、８０ 光ビーム ２８、３６ ビーム・スプリッタまたはカプラ ７４ 偏光コントローラ ７８ アイソレータ ８６ 測定アーム ９０ シート ４００、５００ 測定構成（測定装置）
る。 【図３】本発明の素子の第２の実施態様を示す図であ
る。 【図４】本発明の素子の第３の実施態様を示す図であ
る。 【図５】本発明に従う第１の測定構成を示す図である。 【図６】本発明に従う第２の測定構成を示す図である。 【符号の説明】 ２ 基準アーム ６ 被測定デバイス（DUT） １２ エレメント（素子） １６ａ 初期光路 １６ｂ 第２の光路 ２０ 半透明ミラー ２２、８０ 光ビーム ２８、３６ ビーム・スプリッタまたはカプラ ７４ 偏光コントローラ ７８ アイソレータ ８６ 測定アーム ９０ シート ４００、５００ 測定構成（測定装置）
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(72)発明者 ラルフ・ストルテ
ドイツ国21147ハンブルク，スタインマー
ダーヴェーク・18
(72)発明者 パトリク・ジーグラー
ドイツ国71034ボブリンゲン，イム・ネベ
ローシュ・24
Ｆターム(参考） 2G059 AA02 BB20 EE01 EE02 EE05
EE12 FF08 GG01 GG04 JJ04
JJ17 JJ19 JJ22 KK03
2G086 KK01 KK07
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】測定装置（４００、５００）に反射の基準
信号を加えて、光ビーム（２２、８０）の透過及び反射
における（または透過及び反射を利用して）被測定物
（６）の光学特性を決定するための素子（１２）であっ
て、 少なくとも部分的に透過性で、少なくとも部分的に反射
性であることからなる、素子。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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| EP01118179A EP1202038A1 (en) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Determination of optical properties of a device under test in transmission and in reflection |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003130759A true JP2003130759A (ja) | 2003-05-08 |
| JP2003130759A5 JP2003130759A5 (ja) | 2005-10-06 |
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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| EP (1) | EP1202038A1 (ja) |
| JP (1) | JP2003130759A (ja) |
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| JP2017078670A (ja) * | 2015-10-21 | 2017-04-27 | 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 | 検出装置、検出方法 |
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-
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- 2001-07-27 EP EP01118179A patent/EP1202038A1/en not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-06-25 US US10/179,368 patent/US6788396B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-25 JP JP2002217098A patent/JP2003130759A/ja not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017078670A (ja) * | 2015-10-21 | 2017-04-27 | 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 | 検出装置、検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| EP1202038A1 (en) | 2002-05-02 |
| US6788396B2 (en) | 2004-09-07 |
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Legal Events
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050520 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050520 |
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