JP2003130619A - Method and apparatus for detecting defective lead terminal of electronic parts - Google Patents

Method and apparatus for detecting defective lead terminal of electronic parts

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JP2003130619A
JP2003130619A JP2001327078A JP2001327078A JP2003130619A JP 2003130619 A JP2003130619 A JP 2003130619A JP 2001327078 A JP2001327078 A JP 2001327078A JP 2001327078 A JP2001327078 A JP 2001327078A JP 2003130619 A JP2003130619 A JP 2003130619A
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Japan
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lead terminal
electronic component
defective
distance
plane
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Application number
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Masaru Saito
勝 斉藤
Takeshi Aida
健 相田
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Juki Corp
Original Assignee
Juki Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for detecting defective lead terminal of electronic parts, which can accurately detect the floating of a lead terminal for a short time. SOLUTION: Height data of each lead terminal of the electronic parts is acquired, and a test is carried out to decide whether the distance between each side and a hypothetical straight line of each lead terminal is within an allowable value, or whether the distance from a hypothetical plane of each lead terminal is within an allowable value. In the case such a decision is made that either the distance from the hypothetical straight line or the distance from the hypothetical plane is not within each allowable value, the least square plane is computed from the height data of each lead terminal, and the defective lead terminal is detected on the basis of the distance from the least square plane. In the above structure, the defective lead terminal such as the floating of lead can be rapidly and accurately detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の不良リ
ード端子検出方法及び装置、さらに詳細には、電子部品
実装装置によりプリント基板または液晶やディスプレイ
パネル基板などに実装される電子部品のリード浮きなど
の不良リード端子を検出する方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for detecting defective lead terminals of an electronic component, and more particularly, a lead floating of an electronic component mounted on a printed circuit board, a liquid crystal, a display panel substrate or the like by an electronic component mounting apparatus. And a method for detecting a defective lead terminal.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のリード浮きなど不良端子を検出す
る方法では、図6に示すように、部品実装装置の移載ヘ
ッドの吸着ノズル7aに電子部品2を吸着して基板に移
送する途中において、電子部品2をレーザ装置40の上
方に位置せしめ、このレーザ装置の投光部41から電子
部品のリード端子2aに向かってレーザ光を照射し、リ
ード端子からの反射光を受光部42で受光することによ
り、各々のリード端子2aの基準面Sからの高さZiを
検出している。
2. Description of the Related Art In a conventional method for detecting a defective terminal such as a lead float, as shown in FIG. 6, an electronic component 2 is sucked by a suction nozzle 7a of a transfer head of a component mounting apparatus and transferred to a substrate. , The electronic component 2 is positioned above the laser device 40, laser light is emitted from the light projecting portion 41 of the laser device toward the lead terminal 2a of the electronic component, and the reflected light from the lead terminal is received by the light receiving portion 42. By doing so, the height Zi of each lead terminal 2a from the reference plane S is detected.

【0003】そして、図7に示すように、適当な3本の
リード端子P1、P2、P3を選択し、図6に示した方
法で、これらのリード端子の基準面Sからの高さZ1、
Z2、Z3を求め、3点P1、P2、P3を含む仮想平
面Kの高さZ0を、平面方程式aX+bY+cZ+1=
0を用いて、算出している。
Then, as shown in FIG. 7, appropriate three lead terminals P1, P2, P3 are selected, and the height Z1 from the reference plane S of these lead terminals is determined by the method shown in FIG.
Z2 and Z3 are obtained, and the height Z0 of the virtual plane K including the three points P1, P2 and P3 is calculated by the plane equation aX + bY + cZ + 1 =
It is calculated by using 0.

【0004】次いで、上記のようにして予め検出された
各々のリード端子の高さZiと、仮想平面Kの高さZ0
の高低差ΔZ=Zi−Z0を求めることにより、各々の
リード端子の浮きが検出される。
Then, the height Zi of each lead terminal previously detected as described above and the height Z0 of the virtual plane K are obtained.
The float of each lead terminal is detected by obtaining the height difference ΔZ = Zi−Z0.

【0005】このようにして、3本のリード端子P1、
P2、P3を含む仮想平面Kの高さZ0を求め、この高
さZ0に対する各々のリード端子の距離、すなわち高低
差ΔZを求め、許容値以上の高低差ΔZが検出された場
合には、その電子部品2は不良リード端子があるとして
基板への実装を中止している。
In this way, the three lead terminals P1,
The height Z0 of the virtual plane K including P2 and P3 is obtained, and the distance of each lead terminal with respect to this height Z0, that is, the height difference ΔZ is obtained. Since the electronic component 2 has a defective lead terminal, its mounting on the substrate is stopped.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このような従来の検出
方法では、任意の3つのリード端子を選択し、ついでこ
のリード端子の3点を含む仮想平面を算出して、各々の
リードの仮想平面に対する距離(高低差)を算出してい
る。従って、例えば、図4(A)に示すように、下方に
大きく湾曲したリード端子2aの電子部品2を基板9に
搭載したとき、他のリード端子2bが基板9上のクリー
ムはんだ9aに対して浮きが発生するような場合、図4
(B)に示すように、湾曲の大きい3つのリード端子2
aを選択すると、その3点を通る仮想平面を求めた場
合、他の曲がりの少ないリード端子2bがその仮想平面
に対してすべてパッケージの側に位置するので、リード
端子2aが許容値K以内にあり、一方他の正常なリード
端子2bが許容値K内にないと検出され、不良リード端
子を特定するのが困難である、という問題があった。
In such a conventional detection method, three arbitrary lead terminals are selected, and then a virtual plane including the three points of these lead terminals is calculated, and the virtual plane of each lead is calculated. The distance (height difference) is calculated. Therefore, for example, as shown in FIG. 4 (A), when the electronic component 2 having the lead terminal 2a which is largely curved downward is mounted on the substrate 9, the other lead terminal 2b is against the cream solder 9a on the substrate 9. If floating occurs, see Fig. 4.
As shown in (B), three lead terminals 2 with large curvature
When a is selected, when a virtual plane passing through the three points is obtained, the other lead terminals 2b with less bending are all located on the package side with respect to the virtual plane, so that the lead terminal 2a is within the allowable value K. However, there is a problem that it is difficult to identify the defective lead terminal because it is detected that the other normal lead terminal 2b is not within the allowable value K.

【0007】また、任意の3点を含む仮想平面からの距
離の算定法では、正確に異常なリード端子を見つけるこ
とができないために、リード浮きを検査した後の部品を
基に品質管理に役立てることもできなかった。
In addition, since the method of calculating the distance from the virtual plane including any three points cannot accurately find the abnormal lead terminal, it is useful for quality control based on the parts after inspection of lead floating. I couldn't do that either.

【0008】また、センサ窓等に付着したほこりなどの
異物等により正常なリード端子を異常と検出してしまう
誤認識は、比較的同一個所に現れる。しかし従来の検出
方法では、不良リード端子が特定できないために、セン
サ窓等のクリーニングのタイミングをオペレータまた
は、クリーニング装置等に告知することができない、と
いう問題があった。
Further, the false recognition that a normal lead terminal is detected as abnormal due to a foreign substance such as dust adhering to the sensor window or the like appears at a relatively same place. However, the conventional detection method has a problem that the timing of cleaning the sensor window or the like cannot be notified to the operator or the cleaning device because the defective lead terminal cannot be identified.

【0009】従って、本発明は、このような問題点を解
決するためになされたもので、短時間にしかも高精度で
リード端子の浮きなどを検出できる電子部品の不良リー
ド端子検出方法及び装置を提供することをその課題とす
る。
Therefore, the present invention has been made in order to solve such a problem, and provides a method and apparatus for detecting defective lead terminals of an electronic component capable of detecting floating of lead terminals in a short time and with high accuracy. The task is to provide.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、電子部品実装
装置により基板に実装される電子部品の不良リード端子
検出方法及び装置において、電子部品の各リード端子の
高さデータを取得すること、電子部品の各辺の各リード
端子の仮想直線からの距離が許容値内にあるかどうかを
検査すること、各リード端子の仮想平面からの距離が許
容値内にあるかどうかを検査すること、前記仮想直線か
らの距離あるいは仮想平面からの距離が許容値内にない
と判定された場合、各リード端子の高さデータから最小
二乗平面を算出し、この最小二乗平面からの距離に基づ
き不良リード端子を検出すること、を特徴とする。
The present invention provides a method and apparatus for detecting defective lead terminals of an electronic component mounted on a board by an electronic component mounting apparatus, wherein height data of each lead terminal of the electronic component is acquired, Inspecting whether the distance from the virtual straight line of each lead terminal on each side of the electronic component is within the tolerance, inspecting whether the distance from the virtual plane of each lead terminal is within the tolerance, When it is determined that the distance from the virtual straight line or the distance from the virtual plane is not within the allowable value, the least square plane is calculated from the height data of each lead terminal, and the defective lead is obtained based on the distance from the least square plane. It is characterized by detecting a terminal.

【0011】このような構成では、各リード端子の高さ
データから最小二乗平面を算出し、この最小二乗平面か
らの距離に基づき不良リード端子を検出するので、高精
度でリード浮きなどの不良リード端子を検出できるとと
もに、予め各辺ごとの各リード端子の仮想直線、あるい
は各リード端子の仮想平面からの距離が許容値内にない
ときにのみ、最小二乗平面に基づく不良リード端子の検
出を行っているので、高速な検査が可能になる。
In such a configuration, the least square plane is calculated from the height data of each lead terminal, and the defective lead terminal is detected based on the distance from the least square plane. The terminal can be detected, and the defective lead terminal is detected based on the least-squares plane only when the virtual straight line of each lead terminal on each side or the distance from the virtual plane of each lead terminal is not within the allowable value. Therefore, high-speed inspection is possible.

【0012】特に、仮想直線を、当該辺の各リード端子
の高さデータから求められる最小二乗直線とすると、各
辺で正確に不良リード端子の検出が可能になり、また、
仮想平面を、3つのリード端子から決定するようにする
と、仮想平面を求める計算が簡単になり、高速な検査が
可能になる。
In particular, if the virtual straight line is a least squares straight line obtained from the height data of the lead terminals on the relevant side, it is possible to accurately detect the defective lead terminal on each side.
If the virtual plane is determined from the three lead terminals, the calculation for obtaining the virtual plane is simplified and high-speed inspection is possible.

【0013】また、リード端子の高さを測定するセンサ
窓にほこりがたまったり、ごみ等が付着していると、そ
れが原因で不良リード端子が同じ個所で多数回検出され
るので、そのような場合には、センサ窓をクリーニング
するようにする。これにより信頼性のある検査を行うこ
とができる。
Further, if dust or dust adheres to the sensor window for measuring the height of the lead terminals, defective lead terminals are detected many times at the same location due to the dust. If not, try cleaning the sensor window. As a result, reliable inspection can be performed.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施の形態に基
づいて本発明を詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below based on the embodiments shown in the drawings.

【0015】図1には、電子部品を基板上に搭載する電
子部品実装装置の外観が図示されている。同図におい
て、1は電子部品実装装置の本体、2は本装置で実装さ
れる電子部品、3は電子部品2が載っているトレー、4
はトレー3に載った電子部品2を自動供給する部品供給
部としてのトレー供給部、7は実装時に電子部品2を吸
装着する吸着ノズル7aを備えたヘッド部、5はヘッド
部7をx軸方向に移動させるものであって、xyロボッ
トの一部を構成するx軸ロボット、6aおよび6bはヘ
ッド部7をx軸ロボット5とともにy軸方向に移動させ
るxyロボットの一部を構成するy軸ロボット、8は3
次元(以下、3Dと略記する)センサであり、電子部品
2の高さ画像を撮像する。9は電子部品2が実装される
プリント基板である。
FIG. 1 shows the appearance of an electronic component mounting apparatus for mounting electronic components on a board. In the figure, 1 is a main body of the electronic component mounting apparatus, 2 is an electronic component mounted by this apparatus, 3 is a tray on which the electronic component 2 is mounted, 4
Is a tray supply unit as a component supply unit for automatically supplying the electronic component 2 placed on the tray 3, 7 is a head unit having a suction nozzle 7a for sucking and mounting the electronic component 2 during mounting, and 5 is the x-axis of the head unit 7. X-axis robots that move in the direction, and 6a and 6b that form a part of an xy robot, and 6a and 6b that form a part of an xy robot that moves the head unit 7 in the y-axis direction together with the x-axis robot 5. Robot, 8 is 3
It is a dimension (hereinafter abbreviated as 3D) sensor, and captures a height image of the electronic component 2. Reference numeral 9 is a printed circuit board on which the electronic component 2 is mounted.

【0016】このような部品実装装置では、トレー3に
載っている部品2がヘッド部7の吸着ノズル7aで吸着
され、3Dセンサ8の上にx軸ロボット5およびy軸ロ
ボット6a、6bによって移動される。そして3Dセン
サ8によって部品2の2次元画像が取込まれ、画像をソ
フトウェア処理して位置決めが行われる。次に3Dセン
サ8によって電子部品2の3D(高さ)画像が取り込ま
れる。3Dセンサ8によって得られた(高さ)画像をソ
フトウェア処理して、部品2のリード浮きなどの3D形
状検査を行ない、検査結果がよければ、位置決め情報に
従って、電子部品2がプリント基板9の上の所定の位置
に搭載される。
In such a component mounting apparatus, the component 2 mounted on the tray 3 is sucked by the suction nozzle 7a of the head portion 7 and moved onto the 3D sensor 8 by the x-axis robot 5 and the y-axis robots 6a and 6b. To be done. Then, the 2D image of the component 2 is captured by the 3D sensor 8, and the image is processed by software to perform positioning. Next, the 3D sensor 8 captures a 3D (height) image of the electronic component 2. The (height) image obtained by the 3D sensor 8 is processed by software to perform a 3D shape inspection such as lead floating of the component 2. If the inspection result is good, the electronic component 2 is placed on the printed circuit board 9 according to the positioning information. Is mounted at a predetermined position.

【0017】図2は、3Dセンサ8の詳細な構成が図示
されており、電子部品2の3次元画像データ(高さデー
タ)を取得する場合、レーザ光源8aが点灯され、この
レーザ光源からの光は、ライン光を発生する左右方向に
往復動可能な投光ユニット8bによりライン光に変換さ
れて、電子部品2のリード端子2aに照射され、リード
端子を走査する。電子部品2の下方には、CCDカメラ
8cが配置され、電子部品2が撮像される。この画像か
ら、後述するように、リード端子2aの浮きを測定する
ための3次元データが取得される。また、電子部品2の
2次元画像データを取得して位置決めデータを求める場
合には、照明光源8dが点灯され、電子部品は、同様に
CCDカメラ8cで撮像され、吸着中心と部品中心間の
ずれ、基準角度に対する吸着角度のずれなどの位置決め
データが取得される。
FIG. 2 shows the detailed structure of the 3D sensor 8. When acquiring the three-dimensional image data (height data) of the electronic component 2, the laser light source 8a is turned on and the laser light source 8a emits light. The light is converted into line light by a light projecting unit 8b that generates line light and can reciprocate in the left-right direction, and is applied to the lead terminal 2a of the electronic component 2 to scan the lead terminal. A CCD camera 8c is arranged below the electronic component 2, and the electronic component 2 is imaged. As will be described later, from this image, three-dimensional data for measuring the floating of the lead terminal 2a is acquired. Further, when the two-dimensional image data of the electronic component 2 is acquired and the positioning data is obtained, the illumination light source 8d is turned on, the electronic component is similarly imaged by the CCD camera 8c, and the deviation between the suction center and the component center is detected. Positioning data such as the deviation of the suction angle with respect to the reference angle is acquired.

【0018】なお、図2において、8eはセンサにほこ
りが入らないように保護するガラス製のセンサ窓、8f
はセンサ窓をクリーニングするためのエアブロー装置で
ある。
In FIG. 2, 8e is a glass sensor window for protecting the sensor from dust, and 8f is a window.
Is an air blower for cleaning the sensor window.

【0019】このような部品搭載装置では、図3(A)
に示したように、電子部品2がトレー3からヘッド部7
の吸着ノズル7aでピックアップ(吸着)され、3Dセ
ンサ8により位置決めデータが取得されて、電子部品2
は、図3(B)に示したように、プリント基板9の所定
個所に実装される。なお、そのとき、3Dセンサ8によ
りリード浮きなどリード端子に不良が検出された場合に
は、その電子部品の搭載は中止される。
In such a component mounting apparatus, as shown in FIG.
As shown in FIG.
Is picked up (sucked) by the suction nozzle 7a of the electronic component 2 and positioning data is acquired by the 3D sensor 8.
Is mounted on a predetermined portion of the printed circuit board 9 as shown in FIG. At this time, when the 3D sensor 8 detects a defect in the lead terminal such as floating of the lead, the mounting of the electronic component is stopped.

【0020】次に、3Dセンサ8により求められた各リ
ード端子の高さデータから不良リード端子を検出する方
法を、図5のフローチャートを参照して説明する。
Next, a method of detecting a defective lead terminal from the height data of each lead terminal obtained by the 3D sensor 8 will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0021】なお、不良リードの検査においては、各辺
のリード端子の最小二乗直線からの高低差(距離)が許
容値内にあるかどうか、また任意の3点を通る仮想平面
からの高低差が許容値内にあるかどうかが判定されるの
で、各許容値を設定しておく。仮想平面からの高低差の
許容値は、例えば、はんだペーストのマスク厚と同じ2
00μmと設定する。また、最小二乗直線からの高低差
の許容値は、各辺ごとの検査である為に各辺全体の傾き
等は考慮されないので、仮想平面からの距離の許容値よ
り小さい設定値、ここでは仮想平面からの許容値の90
%である180μmと設定する。
In the inspection of defective leads, whether the height difference (distance) of the lead terminals on each side from the least square line is within an allowable value, and the height difference from an imaginary plane passing through any three points. Since it is determined whether or not is within the allowable value, each allowable value is set. The allowable value of the height difference from the virtual plane is, for example, the same as the mask thickness of the solder paste.
Set to 00 μm. In addition, since the allowable value of the height difference from the least squares line is an inspection for each side, the inclination of the entire side is not considered, so a set value smaller than the allowable value of the distance from the virtual plane, here, 90 from the plane
%, Which is 180 μm.

【0022】まず、3Dセンサ8により、レーザ光源8
aを点灯してライン光により電子部品2のリード端子を
走査して高さデータを取得し(ステップS1)、測定さ
れた各辺ごとの各リード端子の高さデータより、多重線
形回帰により各辺の端子の高さの直線近似式aX+b=
Yを求め、図4(C)に示したように、各辺ごとに最小
二乗直線Lを求める。そして、各々のリード端子2a、
2bのこの最小二乗直線Lからの高低差を求め(ステッ
プS2)、この高低差が上記許容値K(180μm)内
にあるかどうかが判定され(ステップS3)、いずれか
の辺で高低差が許容値内にないリード端子が検出された
場合には、リード端子に浮きがあると判定され、ステッ
プS6に移行する。
First, the laser light source 8 is set by the 3D sensor 8.
A is turned on, and the lead terminals of the electronic component 2 are scanned with the line light to obtain height data (step S1). From the measured height data of each lead terminal for each side, multiple linear regression is performed. Linear approximation of terminal height on side aX + b =
Y is obtained, and as shown in FIG. 4C, a least squares straight line L is obtained for each side. Then, each lead terminal 2a,
The height difference of 2b from this least-squares straight line L is obtained (step S2), and it is determined whether or not this height difference is within the allowable value K (180 μm) (step S3). If a lead terminal that is not within the allowable value is detected, it is determined that the lead terminal is floating, and the process proceeds to step S6.

【0023】一方、ステップS3で各辺で各リード端子
の高低差が許容値内にあると判断された場合には、任意
の3つのリード端子の3点を含む平面近似式a+bx+
cy=zで表現できる仮想平面Kを計算し(図7)、こ
の仮想平面に対する高低差ΔZを求める(ステップS
4)。
On the other hand, when it is determined in step S3 that the height difference of each lead terminal on each side is within the allowable value, a plane approximation formula a + bx + including three points of any three lead terminals is obtained.
A virtual plane K that can be expressed by cy = z is calculated (FIG. 7), and a height difference ΔZ with respect to this virtual plane is obtained (step S
4).

【0024】仮想平面Kに対する高低差が許容値内と判
断された場合は、ステップS7に進んでその電子部品を
基板に搭載し、一方、許容値に入らないリード端子があ
ると判断された場合には、判定「不良(NG)」が出力
され、ステップS6に進み、部品の基板への実装は中止
される。
If it is determined that the height difference with respect to the virtual plane K is within the allowable value, the process proceeds to step S7 to mount the electronic component on the board, while it is determined that there is a lead terminal that does not fall within the allowable value. Is output, the determination “defective (NG)” is output, the process proceeds to step S6, and mounting of the component on the board is stopped.

【0025】ステップS3、S5で「不良(NG)」が
判定された場合は、ステップS6において実装部品のど
のリード端子が曲がっていて不良なのかが検出される。
そのために、測定した各リード端子の高さデータを元に
最小二乗平面の計算を行なう。これは多重線形回帰によ
り平面近似式a+bx+cy=zを求めることにより行
われる。すなわち、下記の式から平面式を求めることが
出来る。
When "defective (NG)" is determined in steps S3 and S5, it is detected in step S6 which lead terminal of the mounted component is bent and defective.
Therefore, the least squares plane is calculated based on the measured height data of each lead terminal. This is performed by obtaining the plane approximation formula a + bx + cy = z by multiple linear regression. That is, the plane equation can be obtained from the following equation.

【0026】[0026]

【数1】 上記より求めた最小二乗平面から各リードの距離を計算
する。最小二乗平面からの距離は、±の結果となるので
設定した許容値の1/2の100μmよりも大きい距離
を有しているリード端子を不良端子としてオペレータへ
出力する。
[Equation 1] The distance of each lead is calculated from the least squares plane obtained above. The distance from the least-squares plane gives a result of ±, so that a lead terminal having a distance larger than 100 μm, which is ½ of the set allowable value, is output to the operator as a defective terminal.

【0027】また、不良端子のある辺の各リード端子の
高さデータをメモリに保存する。そして、同じ部品の検
査時に、同様な高さデータをメモリに保存し、10回測
定分の該辺の各リード端子の標準偏差を計算する。この
ように、同じ部品を何度も測定を行なって同じ部品種の
同じ端子が繰り返し「不良」を出力するようになった場
合、3Dセンサ8のセンサ窓8eに付着したほこりによ
りエラーとなっている可能性があるので、センサ窓8e
近傍に取付けたブロー装置8fによって測定を実行して
いない時間に、センサ窓に付着したほこりを飛ばし、ク
リーニングを行ない、精度の低下を防止するようにす
る。これにより検査の信頼性を向上させることができ
る。
The height data of each lead terminal on the side with the defective terminal is stored in the memory. Then, at the time of inspecting the same component, similar height data is stored in the memory, and the standard deviation of each lead terminal on the side for 10 measurements is calculated. In this way, when the same component is repeatedly measured and the same terminal of the same component type repeatedly outputs "defective", an error occurs due to dust adhering to the sensor window 8e of the 3D sensor 8. Sensor window 8e
The dust adhering to the sensor window is blown off during the time when the measurement is not performed by the blowing device 8f attached in the vicinity, and cleaning is performed to prevent the deterioration of accuracy. This can improve the reliability of the inspection.

【0028】なお、上述した実施形態で、ステップS4
で3点を基準とする仮想平面からの高低差を調べること
によりリード端子の不良を判定したが、他の判定方法を
使用しても同じ効果を得ることができる。
In the above embodiment, step S4
Although the defect of the lead terminal is determined by examining the height difference from the virtual plane with three points as the reference, the same effect can be obtained by using other determination methods.

【0029】また、センサ窓8eに付着したほこりの自
動クリーニングは、エアブロー装置8fを使用した本方
式に限らず、布や紙などによってセンサ窓を清掃しても
同じ効果を得られる。また、センサ窓の汚れの検出にお
いてセンサ窓の汚れが検出された時に自動でクリーニン
グせずに、クリーニングが必要であるというメッセージ
をオペレータに対して出力するようにしてもよい。
The automatic cleaning of dust adhering to the sensor window 8e is not limited to this method using the air blower 8f, but the same effect can be obtained by cleaning the sensor window with cloth or paper. In addition, when the dirt on the sensor window is detected when the dirt on the sensor window is detected, a message indicating that cleaning is necessary may be output to the operator instead of automatically cleaning.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、本発明では、各リ
ード端子の高さデータから最小二乗平面を算出し、この
最小二乗平面からの距離に基づき不良リード端子を検出
するので、高精度でリード浮きなどの不良端子を検出で
きる。その場合、各辺の各リード端子の仮想直線、ある
いは各リード端子の仮想平面からの距離が許容値内にあ
るかどうかの検査を行い、許容値内にないときにのみ、
最小二乗平面に基づく不良リード端子の検出を行ってい
るので、高速な検査が可能になる。
As described above, in the present invention, the least squares plane is calculated from the height data of each lead terminal, and the defective lead terminal is detected based on the distance from the least squares plane. Detects defective terminals such as floating leads. In that case, check whether the virtual straight line of each lead terminal on each side or the distance from the virtual plane of each lead terminal is within the allowable value, and only when it is not within the allowable value.
Since defective lead terminals are detected based on the least-squares plane, high-speed inspection is possible.

【0031】また、仮想直線を、当該辺の各リード端子
の高さデータから求められる最小二乗直線としているの
で、各辺ごとに正確に不良リード端子の検出が可能にな
り、また、仮想平面を、3つのリード端子から決定する
ようにしているので、仮想平面を求める演算が簡単にな
り、高速な検査が可能になる。
Further, since the virtual straight line is the least squares straight line obtained from the height data of each lead terminal on the relevant side, it is possible to accurately detect the defective lead terminal on each side, and the virtual plane is defined. Since the determination is made from the three lead terminals, the calculation for obtaining the virtual plane is simplified and high-speed inspection is possible.

【0032】また、不良リード端子が同じ個所で多数回
検出された場合には、センサ窓をクリーニングするよう
にしているので、センサ窓にごみ等が付着している状態
での検査を防止でき、信頼性のある検査を行うことがで
きる。
Further, when the defective lead terminal is detected many times at the same place, the sensor window is cleaned, so that it is possible to prevent the inspection when dust or the like is attached to the sensor window. A reliable inspection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に使用される部品実装装置の外観を示す
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing the external appearance of a component mounting apparatus used in the present invention.

【図2】高さセンサの構成を示した構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram showing a configuration of a height sensor.

【図3】部品実装工程を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a component mounting process.

【図4】リード端子に浮きがある場合の高さ測定を説明
する説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating height measurement when a lead terminal has a float.

【図5】不良リード端子の検出の流れを説明するフロー
チャートである。
FIG. 5 is a flowchart illustrating a flow of detecting a defective lead terminal.

【図6】リード端子の高さデータを測定する状態を示し
た説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a state of measuring height data of lead terminals.

【図7】仮想平面からのリード端子の距離の算出を説明
した説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating calculation of a distance of a lead terminal from a virtual plane.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 電子部品 2a、2b リード端子 7 ヘッド部 7a 吸着ノズル 8 3Dセンサ 9 基板 2 electronic components 2a, 2b Lead terminal 7 head 7a Adsorption nozzle 8 3D sensor 9 substrates

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA51 AA61 CC27 DD03 DD06 FF04 GG04 HH03 HH12 JJ03 JJ26 MM03 QQ18 QQ24 QQ25 RR05 2G051 AA62 AB10 CA04 DA03 DA13 DA17 EA12 EB01 ED23 5F067 AA19 DB09    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2F065 AA51 AA61 CC27 DD03 DD06                       FF04 GG04 HH03 HH12 JJ03                       JJ26 MM03 QQ18 QQ24 QQ25                       RR05                 2G051 AA62 AB10 CA04 DA03 DA13                       DA17 EA12 EB01 ED23                 5F067 AA19 DB09

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品実装装置により基板に実装され
る電子部品の不良リード端子検出方法において、 電子部品の各リード端子の高さデータを取得する工程
と、 電子部品の各辺の各リード端子の仮想直線からの距離が
許容値内にあるかどうかを検査する工程と、 各リード端子の仮想平面からの距離が許容値内にあるか
どうかを検査する工程と、 前記仮想直線からの距離あるいは仮想平面からの距離が
許容値内にないと判定された場合、各リード端子の高さ
データから最小二乗平面を算出し、この最小二乗平面か
らの距離に基づき不良リード端子を検出する工程と、 を有することを特徴とする電子部品の不良リード端子検
出方法。
1. A method of detecting a defective lead terminal of an electronic component mounted on a substrate by an electronic component mounting apparatus, the step of acquiring height data of each lead terminal of the electronic component, and each lead terminal on each side of the electronic component. The step of inspecting whether the distance from the virtual straight line is within the allowable value, the step of inspecting whether the distance from the virtual plane of each lead terminal is within the allowable value, or the distance from the virtual straight line or If it is determined that the distance from the virtual plane is not within the allowable value, a least square plane is calculated from the height data of each lead terminal, and a step of detecting a defective lead terminal based on the distance from the least square plane, A method for detecting a defective lead terminal of an electronic component, comprising:
【請求項2】 前記仮想平面が、3つのリード端子から
決定される平面であることを特徴とする請求項1に記載
の電子部品の不良リード端子検出方法。
2. The defective lead terminal detection method for an electronic component according to claim 1, wherein the virtual plane is a plane determined from three lead terminals.
【請求項3】 前記仮想直線が、当該辺の各リード端子
の高さデータから求められる最小二乗直線であることを
特徴とする請求項1又は2に記載の電子部品の不良リー
ド端子検出方法。
3. The defective lead terminal detection method for an electronic component according to claim 1, wherein the virtual straight line is a least squares straight line obtained from height data of each lead terminal on the side.
【請求項4】 前記不良リード端子が同じ個所で多数回
検出された場合には、リード端子の高さを測定するセン
サ窓をクリーニングすることを特徴とする請求項1から
3のいずれか1項に記載の電子部品の不良リード端子検
出方法。
4. The sensor window for measuring the height of the lead terminal is cleaned when the defective lead terminal is detected many times at the same location. A method for detecting a defective lead terminal of an electronic component according to.
【請求項5】 電子部品実装装置により基板に実装され
る電子部品の不良リード端子検出装置において、 電子部品の各リード端子の高さデータを取得するセンサ
と、 電子部品の各辺の各リード端子の仮想直線からの距離が
許容値内にあるかどうか、並びに各リード端子の仮想平
面からの距離が許容値内にあるかどうかを検査する検査
手段と、 前記仮想直線からの距離が許容値内にないか、あるいは
仮想平面からの距離が許容値内にないと検査されたとき
には、各リード端子の高さデータから最小二乗平面を算
出し、この最小二乗平面からの距離に基づき不良リード
端子を検出する手段と、 を有することを特徴とする電子部品の不良リード端子検
出装置。
5. A defective lead terminal detection device for an electronic component mounted on a substrate by an electronic component mounting device, a sensor for acquiring height data of each lead terminal of the electronic component, and each lead terminal on each side of the electronic component. Inspection means for inspecting whether the distance from the virtual straight line is within the allowable value and whether the distance from the virtual plane of each lead terminal is within the allowable value, and the distance from the virtual straight line is within the allowable value. If it is not, or if the distance from the virtual plane is not within the allowable value, the least square plane is calculated from the height data of each lead terminal, and the defective lead terminal is determined based on the distance from this least square plane. A device for detecting a defective lead terminal of an electronic component, comprising:
【請求項6】 前記仮想平面が、3つのリード端子から
決定される平面であることを特徴とする請求項5に記載
の電子部品の不良リード端子検出装置。
6. The defective lead terminal detecting device for an electronic component according to claim 5, wherein the virtual plane is a plane determined from three lead terminals.
【請求項7】 前記仮想直線が、当該辺の各リード端子
の高さデータから求められる最小二乗直線であることを
特徴とする請求項5又は6に記載の電子部品の不良リー
ド端子検出装置。
7. The defective lead terminal detecting device for an electronic component according to claim 5, wherein the virtual straight line is a least squares straight line obtained from height data of each lead terminal on the side.
【請求項8】 前記不良リード端子が同じ個所で多数回
検出された場合には、前記センサの測定窓をクリーニン
グすることを特徴とする請求項5から7のいずれか1項
に記載の電子部品の不良リード端子検出装置。
8. The electronic component according to claim 5, wherein the measurement window of the sensor is cleaned when the defective lead terminal is detected many times at the same place. Defective lead terminal detection device.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006200900A (en) * 2005-01-18 2006-08-03 Juki Corp Technique and device for recognizing object
CN102026536A (en) * 2009-09-09 2011-04-20 Juki株式会社 Component checking device and component mounting device
JP2011082506A (en) * 2009-09-09 2011-04-21 Juki Corp Device for inspecting or mounting component
JP2018098404A (en) * 2016-12-15 2018-06-21 ヤマハ発動機株式会社 Determination device and surface mounting machine
KR20190102623A (en) * 2018-02-26 2019-09-04 한화정밀기계 주식회사 System and method for inspecting lead

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006200900A (en) * 2005-01-18 2006-08-03 Juki Corp Technique and device for recognizing object
CN102026536A (en) * 2009-09-09 2011-04-20 Juki株式会社 Component checking device and component mounting device
JP2011082506A (en) * 2009-09-09 2011-04-21 Juki Corp Device for inspecting or mounting component
JP2018098404A (en) * 2016-12-15 2018-06-21 ヤマハ発動機株式会社 Determination device and surface mounting machine
KR20190102623A (en) * 2018-02-26 2019-09-04 한화정밀기계 주식회사 System and method for inspecting lead
KR102510529B1 (en) * 2018-02-26 2023-03-15 한화정밀기계 주식회사 System and method for inspecting lead

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