JP2003118087A - 画像記録装置および画像の記録位置ずれ検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】インクの噴射タイミングの調整のために形成さ
れる一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を
短時間で算出し得る画像形成装置を提供する。 【解決手段】画像記録装置１００はキャリッジ１１０と
用紙保持機構１４０を有している。キャリッジ１１０
は、用紙１９２に画像を記録する記録部１２０と、用紙
１９２に記録された画像を読み取るＣＣＤユニット１３
０を備えている。画像記録装置１００は、キャリッジ１
１０を移動させるキャリッジ駆動機構１７２と、一対の
テストパターンを用紙１９２に記録するように記録部１
２０を制御する記録制御部１７４と、一対のテストパタ
ーンの濃度データの相互の相関に基づいて両者の相対的
な記録位置ずれ量を算出する画像ずれ算出部１７６とを
有している。画像ずれ算出部は例えば一対のテストパタ
ーンの加算濃度データの相互相関関数を用いて記録位置
ずれ量を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画像記録装置およ
び同装置における画像の記録位置ずれ検出方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】記録媒体にインクを噴射して画像を形成
するインクジェットタイプの画像形成装置が知られてい
る。インクジェットタイプの画像形成装置は、例えば、
一列に配列された多数の記録素子（インクジェットノズ
ル）を有する記録ヘッドを備えている。この種の画像形
成装置は、モノクロ印刷用のものは一つの記録ヘッドを
備えており、カラー印刷用のものは複数の記録ヘッドを
備えている。このような画像形成装置では、１つまたは
複数の記録ヘッドを主走査軸に沿って往復移動させなが
ら、その記録ヘッドから記録媒体上にインクを噴射する
ことによって、画像の形成すなわち印刷が行われる。

【０００３】一つの記録ヘッドあるいは複数の記録ヘッ
ドの各々は、インクの噴射タイミングが往路と復路の間
で適正に調整されている必要がある。インクの噴射タイ
ミングが適正に調整されていない場合、往路で噴射され
たインク滴の着弾位置と復路で噴射されたインク滴の着
弾位置とにずれが発生する。このような着弾位置ずれが
ある状態で記録された画像は、モノクロでは副走査方向
に白いスジが目立つものとなり、カラーでは色ずれが発
生し、画質が劣化したものとなる。

【０００４】このためインクの噴射タイミングを往路と
復路の間で適正に調整する必要がある。従来、噴射タイ
ミングの調整は、例えば、次のように行われている。

【０００５】図４８に示されるように、記録素子の配列
に沿って延びるドット列から成る一対のテストパターン
９１２、９１４を用紙に異なる位置に記録する。一方の
テストパターン９１２は例えば往路で記録し、他方のテ
ストパターン９１４は復路で記録する。この際、往路と
復路での記録の間に用紙の搬送は行わない。すなわち、
記録ヘッドは往復で用紙の同一箇所を走査する。記録さ
れたドット列を画像形成装置に搭載のＣＣＤで読み取
り、読み取ったドット列のイメージから各ドットの重心
位置を求める。求めた各ドットの重心位置をもとにドッ
ト列に対応する直線を求める。この処理をそれぞれ往路
と復路で記録されたドット列に対して行い、それぞれの
直線間距離を測定し、記録位置ずれ量を算出している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】テストパターンがドッ
ト列で構成されているため、テストパターンの読み取り
時に、ドット列の近傍にある汚れやゴミ等をドットと誤
認識したり、その反対にノズルの噴射が弱いために形成
された小径のドットをゴミと認識してしまうことがあ
る。また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等によりイメージ
欠損が生じることがある。これらの原因により、記録さ
れたドット列に対応する直線が正確に得られず、その結
果として、直線間隔が正確に求められないことがある。

【０００７】また、各ドットを良好に認識するためには
読み取り解像度を高くする必要があり、テストパターン
の読み取りに多くの時間を要してしまう。加えて、各ド
ットの重心位置を求めるため、計算処理にも多くの時間
を要してしまう。さらに、求める直線間隔の精度を高め
るには、サンプル数（ドット列）を増やすことが必要で
あり、これは読み取り時間と計算処理時間を増加させて
しまう。

【０００８】これまで、一つの記録ヘッドに関して往路
と復路での噴射タイミングの調整について説明してきた
が、複数の記録ヘッドの間の噴射タイミングも適正に調
整される必要がある。つまり、カラー印刷用の画像形成
装置においては、色の異なる任意の二つの記録ヘッドの
間の噴射タイミングが適正に調整される必要がある。こ
の噴射タイミングの調整も、上述した往路と復路の間の
噴射タイミングの調整と同様に行われる。

【０００９】また、インクジェットタイプの画像形成装
置としては、上述した１つのノズル列を持つ記録ヘッド
を備えている画像形成装置の他に、２列以上に配列され
た多数のインクジェットノズルを有する記録ヘッドを備
えている画像形成装置、別の言い方をすれば、複数のノ
ズル列を持つ記録ヘッドを備えている画像形成装置も知
られている。複数のノズル列を持つ記録ヘッドとして
は、例えば、複数のノズル列を有する１つのユニットで
構成されているものや、１つのノズル列を有するユニッ
トが複数組み合わされたものがある。

【００１０】このような複数のノズル列を持つ記録ヘッ
ドを有する画像形成装置においては、複数のノズル列の
間の噴射タイミングが適正に調整される必要がある。こ
の噴射タイミングの調整も、上述した往路と復路の間の
噴射タイミングの調整と同様に行われる。勿論、カラー
印刷用の複数の記録ヘッドを備えている画像形成装置で
は、色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間の噴射タイ
ミングが適正に調整される必要がある。

【００１１】本発明は、このような実状を考慮して成さ
れたものであり、その主な目的は、インクの噴射タイミ
ングの調整のために形成される一対のテストパターンの
相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成
装置を提供することである。

【００１２】本発明の更なる目的は、一対のテストパタ
ーンの相対的な記録位置ずれ量を精度良く算出し得る画
像形成装置を提供することである。

【００１３】本発明の別の目的は、インクの噴射タイミ
ングの調整のために形成される一対のテストパターンの
相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像の位
置ずれ検出方法を提供することである。

【００１４】本発明の更なる目的は、一対のテストパタ
ーンの相対的な記録位置ずれ量を精度良く算出し得る画
像の位置ずれ検出方法を提供することである。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明は一側面において
は画像記録装置である。本発明の画像記録装置は、一対
のテストパターンを記録媒体に記録する記録手段と、前
記記録手段によって記録された一対のテストパターンを
読み取る読み取り手段と、前記読み取り手段によって読
み取られた一対のテストパターンの濃度データに基づい
て、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を
算出する算出手段とを有しており、前記算出手段は、一
対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づい
て、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を
算出することを特徴とする。

【００１６】前記算出手段は、ひとつの形態において
は、一対のテストパターンの濃度データ間の相互相関関
数を計算し、その相互相関関数の最大値を持つ位置か
ら、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を
算出する。

【００１７】前記算出手段は、別のひとつの形態におい
ては、一対のテストパターンの濃度データの位置を相対
的に変化させながら、互いの濃度データの相関に基づい
て濃度データの積分値を逐次算出し、その積分値がピー
クとなる位置から、一対のテストパターンの相対的な記
録位置ずれ量を算出する。

【００１８】本発明は別の一側面においては画像記録装
置における画像の記録位置ずれ検出方法である。本発明
の画像の記録位置ずれ検出方法は、一対のテストパター
ンを記録媒体に記録する記録ステップと、前記記録媒体
に記録された一対のテストパターンを読み取る読取ステ
ップと、読み取られた一対のテストパターンの画像デー
タ間の相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの
相対的な記録位置ずれ量を算出する算出ステップとを有
している。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について説明する。

【００２０】第一実施形態 最初に、画像記録装置について図１を参照して説明す
る。図１に示されるように、画像記録装置１００は、互
いに間隔を置いて対峙しているキャリッジ１１０と用紙
保持機構１４０とを有している。キャリッジ１１０と用
紙保持機構１４０の間には、記録媒体である用紙１９２
が通される。用紙１９２は、搬送ローラ１５２とニップ
ローラ１５４から成る搬送ローラ対と、排紙ローラ１６
２とニップローラ１６４から成る排紙ローラ対とに挟ま
れ、これらのローラ対によって図の上から下へ搬送され
る。

【００２１】用紙保持機構１４０は、多数の孔が形成さ
れたプラテン１４２と、用紙保持機構１４０の内部空間
（プラテンチャンバー）１４４を負圧に引くためのファ
ン１４８とを有している。用紙１９２は、搬送される
間、ファン１４８により発生される負圧によって、プラ
テン１４２に吸い付けられる。

【００２２】キャリッジ１１０は、用紙１９２に画像を
記録するための記録手段である記録部１２０と、用紙１
９２に記録された画像を読み取るための読み取り手段で
あるＣＣＤユニット１３０とを備えている。キャリッジ
１１０は、一対のガイド１１２によって、紙面に直交す
る主走査軸に沿って移動可能に支持されている。

【００２３】画像記録装置１００は、さらに、キャリッ
ジ１１０を制御するキャリッジ制御部１７０を有してい
る。キャリッジ制御部１７０は、キャリッジ１１０を主
走査軸に沿って移動させるための走査手段であるキャリ
ッジ駆動機構１７２と、一対のテストパターンを含むテ
スト画像を用紙１９２に記録するように記録部を制御す
る制御手段である記録制御部１７４と、一対のテストパ
ターンの濃度データの相互の相関に基づいて、一対のテ
ストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出
手段である画像ずれ算出部１７６とを有している。

【００２４】キャリッジ駆動機構１７２によってキャリ
ッジ１１０は主走査軸に沿って移動され得る。キャリッ
ジ１１０が主走査軸に沿って移動される間、記録部１２
０は、一対のテストパターンを含むテスト画像を用紙１
９２に記録する。

【００２５】一対のテストパターンは、一対のパターン
ブロックで構成されても、複数対のパターンブロックで
構成されてよい。すなわち、一対のテストパターンの各
々は、単一のパターンブロックで構成されても、複数の
パターンブロックで構成されてよい。

【００２６】記録部１２０は、モノクロ印刷用の画像形
成装置においては、１つの記録ヘッドを備えており、カ
ラー印刷用の画像形成装置においては、複数の記録ヘッ
ドを備えている。例えば、ブラック、シアン、マゼン
タ、ライトシアン、ライトマゼンタ、イエローの６色を
扱うインクジェットプリンタでは、記録部１２０は、各
色毎の６つの記録ヘッドを備えている。記録部１２０が
有する記録ヘッドの数は、その画像形成装置に要求され
る画質等に応じて任意に決められる。

【００２７】記録ヘッドの第一例 記録部１２０に含まれる１つの記録ヘッドの一例が図２
に示される。記録ヘッド１２２は、図２に示されるよう
に、副走査軸に沿って一列に一定のピッチで並んだ多数
の記録素子（インクジェットノズル）を有する単一のユ
ニット２１０で構成されている。別の言い方をすれば、
記録ヘッド１２２は、１つのノズル列２１２を有する単
一のユニット２１０で構成されている。

【００２８】このような記録ヘッド１２２を用いた画像
形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿
った移動により記録ヘッド１２２のノズル列２１２が横
切る領域に対するインクドットの形成は、副走査軸に沿
ってインクドットを隙間なく形成し得るように、往路で
のインクドットの形成と復路でのインクドットの形成が
組み合わされる。

【００２９】例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直
線を記録するには、往路において、所定の位置で、全て
のインクジェットノズルからインクを噴射してインクド
ットを形成し、用紙１９２をインクドットのピッチの半
分相当の距離だけ副走査軸に沿って移動し、復路におい
て、往路で形成したインクドットと同じ主走査方向位置
で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射して
インクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿っ
て隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線
が記録される。

【００３０】このような１つまたは複数の記録ヘッド１
２２を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド
１２２または複数の記録ヘッド１２２の各々は、インク
の噴射タイミングが往路と復路の間で適正に調整される
必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が
往路で記録され、一対のテストパターンの他方が復路で
記録される。

【００３１】また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１
２２を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイ
ミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正
に調整される必要がある。このため、一対のテストパタ
ーンの一方が１つの記録ヘッド１２２によって記録さ
れ、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２
２によって記録される。

【００３２】記録ヘッドの第二例 記録部１２０に含まれる別の１つの記録ヘッドの一例が
図３に示される。別の記録ヘッド１２４は、図３に示さ
れるように、副走査軸に沿って二列に一定のピッチで並
んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）を有する
単一のユニット２２０で構成されている。別の言い方を
すれば、記録ヘッド１２２は、一対のノズル列２２２と
２２４を有する単一のユニット２２０で構成されてい
る。

【００３３】ノズル列２２２とノズル列２２４は、イン
クジェットノズルのピッチの半分相当の距離だけ副走査
軸に沿ってずれている。

【００３４】ユニット２２０が有するノズル列の数は２
に限定されない。ユニット２２０は３以上の数のノズル
列を有していてもよい。

【００３５】このような記録ヘッド１２４を用いた画像
形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿
った移動により記録ヘッド１２４のノズル列２２２と２
２４が横切る領域に対するインクドットの形成は、主走
査軸に沿った一方向の移動の間に、すなわち往路または
復路のいずれか一方で行われる。

【００３６】例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直
線を記録するには、主走査軸に関して特定の位置で、一
方のノズル列（例えばノズル列２２２）の全てのインク
ジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形
成し、続いて、前述の主走査軸に関する特定の位置すな
わち主走査軸に関して同じ位置で、他方のノズル列（例
えばノズル列２２４）の全てのインクジェットノズルか
らインクを噴射してインクドットを形成する。これによ
り、副走査軸に沿って隙間なく並んだ多数のインクドッ
トの列すなわち直線が記録される。

【００３７】このような１つまたは複数の記録ヘッド１
２４を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド
１２４または複数の記録ヘッド１２４の各々は、インク
の噴射タイミングがノズル列２２２とノズル列２２４の
相互間で適正に調整される必要がある。このため、主走
査軸に沿った一方向の移動の間に、すなわち往路または
復路のいずれか一方において、一対のテストパターンの
一方が記録され、続いて一対のテストパターンの他方が
記録される。

【００３８】また、ノズル列２２２によるインクドット
の形成とノズル列２２４によるインクドットの形成は、
往路と復路のそれぞれで行われてもよい。例えば、往路
ではノズル列２２２によってインクドットが形成され、
復路ではノズル列２２４によってインクドットが形成さ
れてもよい。この場合には、往路において一対のテスト
パターンの一方が記録され、復路において一対のテスト
パターンの他方が記録される。

【００３９】また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１
２４を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイ
ミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正
に調整される必要がある。このため、一対のテストパタ
ーンの一方が１つの記録ヘッド１２４によって記録さ
れ、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２
４によって記録される。

【００４０】記録ヘッドの第三例 記録部１２０に含まれる更に別の１つの記録ヘッドの一
例が図４に示される。記録ヘッド１２６は、図４に示さ
れるように、主走査軸に沿って並べて配置された二つユ
ニット２３０と２４０で構成されている。ユニット２３
０と２４０の各々は、副走査軸に沿って一列に一定のピ
ッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）
を有している。別の言い方をすれば、記録ヘッド１２６
は、その各々が一つののノズル列２３２、２４２を有し
ている二つのユニット２３０、２４０で構成されてい
る。

【００４１】ユニット２３０とユニット２４０は、ノズ
ル列２３２とノズル列２４２が互いにインクジェットノ
ズルのピッチの半分相当の距離だけ副走査軸に沿ってず
れるように配置されている。

【００４２】記録ヘッド１２６を構成するユニットの数
は２に限定されない。記録ヘッド１２６は３以上の数の
ユニットで構成されてもよい。

【００４３】このような記録ヘッド１２４を用いた画像
形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿
った移動により記録ヘッド１２６（正確にはそのノズル
列２３２とノズル列２４２）が横切る領域に対するイン
クドットの形成は、主走査軸に沿った一方向の移動の間
に、すなわち往路または復路のいずれか一方で行われ
る。

【００４４】例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直
線を記録するには、主走査軸に関して特定の位置で、一
方のユニット（例えばユニット２３０）のノズル列（例
えばノズル列２３２）の全てのインクジェットノズルか
らインクを噴射してインクドットを形成し、続いて、前
述の主走査軸に関する特定の位置すなわち主走査軸に関
して同じ位置で、他方のユニット（例えばユニット２４
０）のノズル列（例えばノズル列２４２）の全てのイン
クジェットノズルからインクを噴射してインクドットを
形成する。これにより、副走査軸に沿って隙間なく並ん
だ多数のインクドットの列すなわち直線が記録される。

【００４５】このような１つまたは複数の記録ヘッド１
２６を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド
１２６または複数の記録ヘッド１２６の各々は、インク
の噴射タイミングがユニット２３０のノズル列２３２と
ユニット２４０のノズル列２４２との相互間で適正に調
整される必要がある。このため、主走査軸に沿った一方
向の移動の間に、すなわち往路または復路のいずれか一
方において、一対のテストパターンの一方が記録され、
続いて一対のテストパターンの他方が記録される。

【００４６】また、ユニット２３０のノズル列２３２に
よるインクドットの形成とユニット２４０のノズル列２
４２によるインクドットの形成は、往路と復路のそれぞ
れで行われてもよい。例えば、往路ではユニット２３０
のノズル列２３２によってインクドットが形成され、復
路ではユニット２４０のノズル列２４２によってインク
ドットが形成されてもよい。この場合には、往路におい
て一対のテストパターンの一方が記録され、復路におい
て一対のテストパターンの他方が記録される。

【００４７】また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１
２６を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイ
ミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正
に調整される必要がある。このため、一対のテストパタ
ーンの一方が１つの記録ヘッド１２６によって記録さ
れ、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２
６によって記録される。

【００４８】記録ヘッドの第四例 記録部１２０に含まれるまた別の１つの記録ヘッドの一
例が図５に示される。記録ヘッド１２８は、図５に示さ
れるように、副走査軸に沿ってずらして配置された二つ
のユニット２５０と２６０で構成されている。ユニット
２５０と２６０の各々は、副走査軸に沿って一列に一定
のピッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズ
ル）を有している。別の言い方をすれば、記録ヘッド１
２８は、その各々が一つのノズル列２５２、２６２を有
している二つのユニット２５０、２６０で構成されてい
る。

【００４９】ユニット２５０、２６０は、副走査軸に沿
った位置に関してノズル列２５２、２６２が連続的とな
るように、言い換えれば、ノズル列２５２、２６２のイ
ンクジェットノズルの副走査軸に関する位置が一定のピ
ッチとなるように位置している。このような複数のユニ
ットの複合は、副走査軸に沿った寸法の大きい記録ヘッ
ドを作製する際に良く用いられる手法である。

【００５０】記録ヘッド１２８を構成するユニットの数
は２に限定されない。記録ヘッド１２８は３以上の数の
ユニットで構成されてもよい。

【００５１】このような記録ヘッド１２８を用いた画像
形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿
った移動により記録ヘッド１２８（正確にはユニット２
５０、２６０のノズル列２５２、２６２）が横切る領域
に対するインクドットの形成は、副走査軸に沿ってイン
クドットを隙間なく形成し得るように、往路でのインク
ドットの形成と復路でのインクドットの形成が組み合わ
される。

【００５２】例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直
線を記録するには、往路において、所定の位置で、全て
のインクジェットノズルからインクを噴射してインクド
ットを形成し、用紙１９２をインクドットのピッチの半
分相当の距離だけ副走査軸に沿って移動し、復路におい
て、往路で形成したインクドットと同じ主走査方向位置
で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射して
インクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿っ
て隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線
が記録される。

【００５３】このような１つまたは複数の記録ヘッド１
２８を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド
１２８または複数の記録ヘッド１２８の各々は、インク
の噴射タイミングが往路と復路の間で適正に調整される
必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が
往路で記録され、一対のテストパターンの他方が復路で
記録される。

【００５４】また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１
２８を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイ
ミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正
に調整される必要がある。このため、一対のテストパタ
ーンの一方が１つの記録ヘッド１２８によって記録さ
れ、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２
８によって記録される。

【００５５】これまでに述べたように、インクの噴射タ
イミングの調整は、一つの記録ヘッドに関して往路と復
路の間での噴射タイミングの調整と、複数の記録ヘッド
に関して任意の二つの記録ヘッドの間での噴射タイミン
グの調整と、複数のノズル列を有する一つの記録ヘッド
に関して任意の二つのノズル列の間での噴射タイミング
の調整とがあるが、これらの調整はいずれも同じ手法に
よって行われる。

【００５６】従って、以下では代表的に、１つのブラッ
ク用記録ヘッドに関する往路と復路の間での噴射タイミ
ングの調整について説明する。以下の説明において、ブ
ラック用記録ヘッドは４９６個のインクジェットノズル
を有し、インクジェットノズルは３６０ｄｐｉのノズル
ピッチで並んでいるものとする。

【００５７】テスト画像の記録（印刷） テスト画像は、例えば、図６に示されるように、一対の
テストパターン３１２、３１４と、後述する黒レベル調
整のためのブラックパターン３１６とを含んでいる。テ
ストパターンの記録は、１パス双方向印刷で行う。すな
わち、図６において、テストパターン３１２を例えば往
路で記録し、テストパターン３１４を復路で記録する。

【００５８】テストパターン３１２、３１４は共に単一
のパターンブロックで構成されている。好ましい一対の
テストパターン３１２、３１４は高い相関性を有してい
る。このためパターンブロックは、同じパターン要素、
例えば、５ドットの幅を持つ矩形のパターン要素で構成
される。テストパターン３１２、３１４は、互いに重な
らないように、主走査軸に沿って例えば６４ドットずら
して記録される。テストパターンのずらし量は、６４ド
ットに限定されるものではなく、記録するテストパター
ンの幅等に応じて任意に設定される。

【００５９】テストパターンの記録の際、往路記録と復
路記録の間で用紙搬送は行われない。これは、用紙搬送
時に用紙の斜行等により用紙が正確に搬送されなかった
場合に、復路で記録されるテストパターンが本来記録さ
れるべき位置からずれた位置に記録されてしまい、その
結果として最終的に求めた往復タイミングのずれ量が用
紙搬送に起因する誤差を含むのを避けるためである。

【００６０】テストパターンの読み取り 続く説明中ではＣＣＤユニット１３０は１４４０ｄｐｉ
の読み取り解像度を有しているものとする。

【００６１】図７に示されるように、用紙１９２を用紙
搬送方向の下流側に搬送して、テストパターン３１２、
３１４とブラックパターン３１６とを含むテスト画像を
キャリッジ１１０内のＣＣＤユニット１３０よりも下側
に配置する。続いて、キャリッジ１１０を移動して、Ｃ
ＣＤユニット１３０をブラックパターン３１６の上方に
配置する。

【００６２】この位置（図７に示される位置）におい
て、ＣＣＤユニット１３０の焦点調整を行う。焦点調整
の終了後、その位置において、用紙の白地部分を利用し
てＣＣＤユニット１３０の白レベル調整を行う。この輝
度調整は公知の方法によって行う。

【００６３】白レベル調整の終了後、ＣＣＤユニット１
３０の位置を固定したまま、ＣＣＤユニット１３０がブ
ラックパターン３１６を検出するまで、用紙１９２を用
紙搬送方向の上流側に搬送する。この用紙１９２の搬送
に従って、ＣＣＤユニット１３０の撮像領域は、用紙１
９２の白地からブラックパターン３１６の黒地へと変化
し、これに応じてＣＣＤユニット１３０の出力信号も変
化する。プリンタ制御部（図示せず）は、ＣＣＤユニッ
ト１３０の出力信号に基づいて、図８に示されるように
ＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６と対面
していることを認識し、その認識に応じて用紙１９２の
搬送を停止させる。

【００６４】ＣＣＤユニット１３０がブラックパターン
３１６と対面している位置でＣＣＤユニット１３０の黒
レベル調整を行う。この輝度調整は公知の方法で行われ
る。

【００６５】黒レベル調整の終了後、テストパターンを
読み込むため、さらに用紙１９２を用紙搬送方向上流側
に搬送して、ＣＣＤユニット１３０をテストパターン３
１２、３１４の上端の直前に配置する。

【００６６】その後は、微小の搬送量ずつ、例えば搬送
モータの駆動パルスを２０パルスに設定したときの搬送
量（理想では１ドットラインに相当する距離）ずつ、用
紙１９２を搬送する。微小搬送の度にＣＣＤユニット１
３０はテストパターン３１２、３１４（正確にはその光
学像の輝度）を読み取る。ＣＣＤユニット１３０で読み
取られたデータは、一回の微小搬送ごとにメモリに格納
される。ＣＣＤユニット１３０がテストパターンを読み
終えるまで、用紙搬送・画像読取・データ格納のこれら
一連の動作を続ける。

【００６７】一対のテストパターンの記録位置ずれ量の
算出 次に、一対のテストパターン３１２、３１４の主走査軸
に沿った相対的な記録位置ずれ量の算出について説明を
する。本実施形態では、相互相関関数を用いて、ずれ量
を算出する。

【００６８】ある二つの信号ｒ１（ｘ）、ｒ２（ｘ）に
対して、これらの相互相関関数Φ１２（τ）は次式
（１）で表される。

【００６９】 Φ１２（τ）＝∫ｒ１（ｘ）ｒ２（ｘ一τ）ｄｘ・・・（１） ここにτは二つの信号の距離を示している。Φ１２
（τ）は、信号ｒ１（ｘ）と信号ｒ２（ｘ）が一致する
ときに最大値をとる。

【００７０】実際の処理では、図９に示されるように、
ＣＣＤユニット１３０で読み取られるテストパターン３
１２、３１４の光学像３１２ｉ、３１４ｉを、往路で記
録されたテストパターン３１２の光学像３１２ｉと復路
で記録されたテストパターン３１４の光学像３１４ｉと
に分ける。記録時の解像度が３６０ｄｐｉであるのに対
してＣＣＤ解像度が１４４０ｄｐｉであるので、光学像
分割幅は次式（２）のようになる。

【００７１】 光学像分割幅＝６４ドット（記録時のずらし量）×（１４４０ｄｐｉ÷３６０ｄ ｐｉ）・・・（２） 次に、それぞれの光学像３１２ｉ、３１４ｉのデータを
副走査方向（ＣＣＤユニット１３０の読み取り方向）に
関して和を取り、光学像３１２ｉの加算濃度データ（図
１０）と、光学像３１４ｉの加算濃度データ（図１１）
を求める。

【００７２】続いて、光学像３１２ｉの副走査方向の加
算濃度データをｒ１（ｘ）、光学像３１４ｉの副走査方
向の加算データをｒ２（ｘ）として相互相関関数を求
め、さらに、この相互相関関数が最大値を示す位置を算
出する。このように算出される位置の値は、一対のテス
トパターン３１２、３１４の光学像３１２ｉ、３１４ｉ
の記録位置ずれ量γｔｐ１４４０を表している。

【００７３】このように算出される記録位置ずれ量γｔ
ｐ１４４０は、１４４０ｄｐｉの解像度で読み取られた
光学像３１２ｉ、３１４ｉに対するものであり、従っ
て、３６０ｄｐｉの解像度で記録された実際のテストパ
ターン３１２、３１４の記録位置ずれ量γｔｐ３６０
は、次式（３）で表される。

【００７４】 γｔｐ３６０＝γｔｐ１４４０÷（１４４０ｄｐｉ÷３６０ｄｐｉ）・・・（３ ） 記録位置ずれ量γｔｐ３６０は、テストパターン３１
２、３１４の記録時に相互の重なりを避けるために与え
たずらし量を含んでいる。従って、求めるべき記録位置
ずれ量γｔｍは、先に求めた記録位置ずれ量γｔｐ３６
０から記録時のずらし量６４ドットを引いた値になる。
すなわち、求めるべき記録位置ずれ量γｔｍは、次式
（４）で表される。

【００７５】γｔｍ＝γｔｐ３６０−６４・・・（４） 本実施形態では、インクの噴射タイミングの調整のため
に記録した一対のテストパターンの相対的な記録位置ず
れ量を、一対のテストパターンの濃度データの相互相関
関数を用いて求めているので、記録位置ずれ量を短時間
で、しかも高い精度で算出し得る。

【００７６】テストパターンの第一変形例 前述したように一対のテストパターンは、一対のパター
ンブロックで構成されたものに限定されない。一対のテ
ストパターンは、複数対のパターンブロックで構成され
てもよい。

【００７７】本変形例では、図１２に示されるように、
一対のテストパターンは、一対のパターンブロック３３
２、３３４と、別の一対のパターンブロック３３６、３
３８と、更に別の一対のパターンブロック３４０、３４
２とを含んでいる。一対のテストパターンの一方に含ま
れるパターンブロック３３２、３３６、３４０は例えば
往路で記録され、一対のテストパターンの他方に含まれ
るパターンブロック３３４、３３８、３４２は復路で記
録される。

【００７８】パターンブロック３３２、３３４、３３
６、３３８、３４０、３４２は互いに重ならないように
主走査軸に沿って例えば６４ドットずらして記録され
る。言い換えれば、パターンブロック３３２、３３４、
３３６、３３８、３４０、３４２は主走査軸に沿って６
４ドットのピッチで並んでいる。

【００７９】パターンブロック３３２、３３４、３３
６、３３８、３４０、３４２はいずれも同じパターン要
素、例えば、５ドット幅の矩形のパターン要素で構成さ
れている。パターンブロック３３２、３３４、３３６、
３３８、３４０、３４２はその全てがＣＣＤユニット１
３０の読み取り幅に収まるように記録されるとよい。

【００８０】パターンブロックの矩形パターン要素の幅
は５ドットに限定されない。また、パターンブロックの
数も６に限定されない。さらに、パターンブロックのず
らし量は６４ドットに限定されない。矩形パターン要素
の幅やパターンブロックの数６やパターンブロックのず
らし量は、パターンブロックが互いに重ならない条件下
で、好ましくはさらに全てのパターンブロックがＣＣＤ
ユニット１３０の読み取り幅に収まる条件下で、任意に
変更されてよい。

【００８１】図１３に示されるように、ＣＣＤユニット
１３０で読み取られたデータは、一対のテストパターン
の一方を構成している往路で記録されたパターンブロッ
ク３３２、３３６、３４０の光学像３３２ｉ、３３６
ｉ、３４０ｉと一対のテストパターンの他方を構成して
いる復路で記録されたパターンブロック３３４、３３
８、３４２の光学像３３４ｉ、３３８ｉ、３４２ｉとに
分けられる。

【００８２】一対のテストパターンの記録位置ずれ量
は、例えば、複数対のパターンブロックの各々に対し
て、前述した手法により、相互相関関数を用いて、それ
ら一対のパターンブロックの間の記録位置ずれ量を算出
し、算出された複数の記録位置ずれ量を平均して求めら
れる。

【００８３】あるいは、一対のテストパターンの記録位
置ずれ量は、往路で記録されたパターンブロック群と復
路で記録されたパターンブロック群に対して、前述した
手法により、相互相関関数を用いて求められてもよい。

【００８４】本変形例によれば、サンプル数が多いた
め、求められる記録位置ずれ量の精度向上に有効であ
る。

【００８５】テストパターンの第二変形例 複数のパターンブロックはいずれも同一のパターン要素
で構成されている必要はない。複数のパターンブロック
は、一対のパターンブロック毎に、異なるパターン要素
で構成されてもよい。

【００８６】本変形例では、図１７に示されるように、
一対のテストパターンは、５ドットの幅を持つ矩形パタ
ーン要素で構成された一対のパターンブロック３６２、
３６４と、１０ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構
成された別の一対のパターンブロック３６６、３６８
と、４ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された
更に別の一対のパターンブロック３７０、３７２とを含
んでいる。これら６つのパターンブロック３６２、３６
４、３６６、３６８、３７０、３７２は主走査軸に沿っ
て６４ドットのピッチで並んでいる。

【００８７】本変形例は、第一変形例と比較して、次の
ような利点を有している。

【００８８】第一変形例において、例えば、図１４に示
されるように、６つのパターンブロック３３２、３３
４、３３６、３３８、３４０、３４２のうちの１つのパ
ターンブロック３４２が欠損してしまった場合を考え
る。この場合、図１５に示されるように、パターンブロ
ック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０の加算濃
度データ３３２ｎ、３３４ｎ、３３６ｎ、３３８ｎ、３
４０ｎは得られるが、欠損したパターンブロック３４２
の加算濃度データ３４２ｎ（破線で示される）は得られ
ない。図１５には、往路で記録されたパターンブロック
３３２、３３６、３４０に対応する加算濃度データ３３
２ｎ、３３６ｎ、３４０ｎが上側に、復路で記録された
パターンブロック３３４、３３８に対応する加算濃度デ
ータ３３４ｎ、３３８ｎが下側に示されている。

【００８９】図１５に示される加算濃度データに対して
得られる相互相関関数が図１６に示される。この相互相
関関数は、図１６に示されるように、同じ最大値を示す
一対のピーク３５２、３５４を有している。これは、図
１５において、上側の加算濃度データ３３２ｎ、３３６
ｎ、３４０ｎに対して、下側の加算濃度データ３３４
ｎ、３３８ｎが主走査軸に沿って左側に６４ドットずれ
ることによる加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎと加算
濃度データ３３４ｎ、３３８ｎとの相関と、加算濃度デ
ータ３３４ｎ、３３８ｎが主走査軸に沿って右側に６４
ドットずれることによる加算濃度データ３３６ｎ、３４
０ｎと加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎとの相関とが
等しいためである。

【００９０】このように、第一変形例において、複数の
同じパターンブロックの一部が欠損した場合には、相互
相関関数が同じ最大値を示す一対のピーク３５２、３５
４を持つため、本来の記録位置ずれ量を表すピークを見
分けるのが困難である。

【００９１】これに対して第二変形例では、図１７に示
されるように、一対のパターンブロック３６２、３６４
は共に５ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成さ
れ、別の一対のパターンブロック３６６、３６８は共に
１０ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成され、更
に別の一対のパターンブロック３７０、３７２は共に４
ドットの幅を持つ矩形パターンで構成されている。

【００９２】このように一対のパターンブロック毎にパ
ターン要素の幅が異なっているので、異なる対のパター
ンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関
は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパター
ンブロックの相関に比べて低いものとなる。従って、得
られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ
有するものとなり、記録位置ずれ量の算出が安定に容易
に行える。

【００９３】パターンブロックの数やその矩形パターン
の幅は、上述した値に限定されるものではなく、任意に
変更されてよい。

【００９４】テストパターンの第三変形例 複数のパターンブロックの全てが単一のパターン要素で
構成されている必要はない。複数のパターンブロックは
その一部あるいは全部が複数のパターン要素で構成され
てもよい。

【００９５】本変形例では、図１８に示されるように、
一対のテストパターンは、二つの矩形パターン要素３８
２ａ、３８２ｂ、３８４ａ、３８４ｂで構成された一対
のパターンブロック３８２、３８４と、三つの矩形パタ
ーン要素３８６ａ、３８６ｂ、３８６ｃ、３８８ａ、３
８８ｂ、３８８ｃで構成された別の一対のパターンブロ
ック３８６、３８８と、一つの矩形パターン要素で構成
された更に別の一対のパターンブロック３９０、３９２
とを含んでいる。これら６つのパターンブロック３８
２、３８４、３８６、３８８、３９０、３９２は主走査
軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。

【００９６】このようなパターンブロックに対して、Ｃ
ＣＤユニット１３０で読み取った光学像を副走査方向に
加算して得られる加算濃度データが図１９に示される。
図１９から容易に想像できるように、第二変形例と同様
に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つパター
ンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成
する二つパターンブロックの相関に比べて低いものとな
る。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示す
ピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパ
ターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録
位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。

【００９７】テストパターンの第四変形例 一対のテストパターンを構成する複数のパターンブロッ
クは一定のピッチで並んでいる必要はない。複数のパタ
ーンブロックは、主走査軸に沿って異なる間隔を置いて
並んでいてもよい。別の言い方をすれば、ＣＣＤユニッ
ト１３０による読み取り範囲の主走査軸に沿って均等に
分割された領域に対して、一対のパターンブロック毎に
パターンブロックが異なる位置に来るように、パターン
ブロックが記録されてもよい。

【００９８】本変形例では、図２０に示されるように、
一対のテストパターンは、読み取り範囲の６つに均等に
分割された領域に対して、左寄りに位置する一対のパタ
ーンブロック４１２、４１４と、右寄りに位置する別の
一対のパターンブロック４１６、４１８と、ほぼ中央に
位置する更に別の一対のパターンブロック４２０、４２
２とを含んでいる。言い換えれば、６つのパターンブロ
ック４１２、４１４、４１６、４１８、４２０、４２２
は主走査軸に沿って一定のピッチで並んではいない。

【００９９】このようなパターンブロックに対して得ら
れる副走査方向の加算濃度データが図２１に示される。
図２１から容易に想像できるように、第二変形例や第三
変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれ
る二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターン
ブロックを構成する二つのパターンブロックの相関に比
べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数
は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。
従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合
であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行え
る。

【０１００】テストパターンの第五変形例 パターンブロックを構成する１つあるいは複数のパター
ン要素の各々は矩形パターン要素に限定されない。パタ
ーンブロックを構成する１つあるいは複数のパターン要
素の各々は、一対のパターンブロック毎に、任意の形状
のパターン要素、例えば正方形や円形や三角形等のパタ
ーン要素や更には文字や記号等のパターン要素に変更さ
れてもよい。

【０１０１】本変形例では、図２２に示されるように、
一対のテストパターンは、三角形のパターン要素で構成
された一対のパターンブロック４３２、４３４と、円形
のパターン要素で構成された別の一対のパターンブロッ
ク４３６、４３８と、花の絵柄のパターン要素で構成さ
れた更に別の一対のパターンブロック４４０、４４２と
を含んでいる。

【０１０２】このような複数のパターンブロックにおい
ては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパ
ターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相
関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つパター
ンブロックの相関に比べて低いものとなる。このため、
得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだ
け有するものとなる。従って、複数のパターンブロック
の一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算
出が安定に容易に行える。

【０１０３】テストパターンの第六変形例 １つのパターンブロックが均一の濃度を有している必要
はない。１つのパターンブロックを構成する１つのパタ
ーン要素が、濃度の異なる複数の部分、例えば白データ
の部分やハーフトーンデータの部分を含んでいてもよ
い。また、１つのパターンブロックを構成する複数のパ
ターン要素が、異なる濃度を有していてもよい。

【０１０４】本変形例では、図２３に示されるように、
一対のテストパターンは、全体にわたり均一の濃度を有
している一対のパターンブロック４５２、４５４と、濃
度の低い部分４６４を含んでいる別の一対のパターンブ
ロック４５６、４５８と、濃度の低い部分４６６を含ん
でいる更に別の一対のパターンブロック４６０、４６２
とを含んでいる。

【０１０５】このような複数のパターンブロックにおい
ては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパ
ターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相
関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパタ
ーンブロックの相関に比べて低いものとなる。このた
め、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１
つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロ
ックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量
の算出が安定に容易に行える。

【０１０６】テストパターンの第七変形例 複数のパターンブロックは同じ幅を有している必要はな
い。複数のパターンブロックは、一対のパターンブロッ
ク毎に異なる幅を有していてもよい。別の言い方をすれ
ば、ＣＣＤユニット１３０による読み取り範囲は、パタ
ーンブロックの幅に応じて主走査軸に沿って不均等に分
割されてもよい。

【０１０７】本変形例では、図２４に示されるように、
一対のテストパターンは、矩形パターン要素で構成され
た一対のパターンブロック４７２、４７４と、円形パタ
ーン要素で構成された別の一対のパターンブロック４７
６、４７８と、３つの矩形パターン要素４８６ａ、４８
６ｂ、４８６ｃ、４８８ａ、４８８ｂ、４８８ｃで構成
された更に別の一対のパターンブロック４８０、４８２
とを含んでいる。

【０１０８】このため、３種類の画像対を構成している
６つのパターンブロックのうち、パターンブロック４７
２、４７４は最も狭い幅を有し、パターンブロック４８
０、４８２は最も広い幅を有している。これに伴い、最
も狭い幅を有するパターンブロック４７２、４７４を受
け持つ読み取り範囲の分割領域は最も狭い３００ドット
の幅を有し、最も広いパターンブロック４８０、４８２
を受け持つ読み取り範囲の分割領域は最も広い５００ド
ットの幅を有し、中間的な幅を有するパターンブロック
４７６、４７８を受け持つ読み取り範囲の分割領域は４
００ドットの幅を有している。つまり、読み取り範囲は
パターンブロックの幅に応じて不均等に分割されてい
る。

【０１０９】読み取り範囲の分割幅は、上述した値に限
定されるものではなく、パターンブロックの幅に応じて
任意に変更されてよい。

【０１１０】テストパターンの第八変形例 一対のパターンブロックは主走査軸に沿って隣り合って
並んでいる必要はない。一対のパターンブロックは、主
走査軸に沿って互いに離して、つまり他のパターンブロ
ックを間に挟んで記録されてもよい。

【０１１１】本変形例では、図２５に示されるように、
一対のテストパターンは、一対のパターンブロック５１
２、５１４と、別の一対のパターンブロック５１６、５
１８と、更に別の一対のパターンブロック５２０、５２
２とを含んでおり、これら６つのパターンブロック５１
２、５１６、５２０、５１４、５１８、５２２は主走査
軸に沿って６４ドットのピッチで順に並んでいる。パタ
ーンブロック５１２、５１６、５２０は例えば往路で記
録され、パターンブロック５１４、５１８、５２２は復
路で記録される。一対のパターンブロックは、主走査軸
に沿って６４×３＝１９２ドットずらして記録されてい
る。

【０１１２】一対のパターンブロック５１２、５１４は
それぞれ一対の矩形パターン５１２ａと５１２ｂ、５１
４ａと５１４ｂで構成されており、パターンブロック５
１６とパターンブロック５２０を間に挟んで位置してい
る。別の一対のパターンブロック５１６、５１８は共に
相対的に狭い幅の矩形パターンであり、パターンブロッ
ク５２０とパターンブロック５１４を間に挟んで位置し
ている。更に別の一対のパターンブロック５２０、５２
２は共に相対的に広い幅の矩形パターンであり、パター
ンブロック５１４とパターンブロック５１８を間に挟ん
で位置している。

【０１１３】このような複数のパターンブロックにおい
ては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパ
ターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相
関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパタ
ーンブロックの相関に比べて低いものとなる。このた
め、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１
つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロ
ックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量
の算出が安定に容易に行える。

【０１１４】テストパターンの第九変形例 複数対のパターンブロックの各々が主走査軸に沿って離
して記録される必要はない。つまり、複数対のパターン
ブロックは、主走査軸に沿って離して記録された少なく
とも一対のパターンブロックと、主走査軸に沿って隣り
合わせに記録された少なくとも一対のパターンブロック
とを含んでいてもよい。

【０１１５】本変形例では、図２６に示されるように、
一対のテストパターンは、一対のパターンブロック５３
２、５３４と、別の一対のパターンブロック５３６、５
３８と、更に別の一対のパターンブロック５４０、５４
２とを含んでおり、これら６つのパターンブロック５３
２、５３６、５３４、５３８、５４０、５４２は主走査
軸に沿って６４ドットのピッチで順に並んでいる。パタ
ーンブロック５３２、５３６、５４０は例えば往路で記
録され、パターンブロック５３４、５３８、５４２は復
路で記録される。

【０１１６】一対のパターンブロック５３２、５３４は
共に相対的に広い幅の矩形パターンであり、パターンブ
ロック５３６を間に挟んで位置している。別の一対のパ
ターンブロック５３６、５３８はそれぞれ一対の矩形パ
ターン５３６ａと５３６ｂ、５３８ａと５３８ｂで構成
されており、パターンブロック５３４を間に挟んで位置
している。更に別の一対のパターンブロック５４０、５
４２は共に相対的に狭い幅の矩形パターンであり、隣り
合って位置している。

【０１１７】すなわち、一対のパターンブロック５３
２、５３４は主走査軸に沿って６４×２＝１２８ドット
ずらして記録されており、一対のパターンブロック５３
６、５３８も同様に主走査軸に沿って６４×２＝１２８
ドットずらして記録されており、一対のパターンブロッ
ク５４０、５４２は主走査軸に沿って６４ドットずらし
て記録される。言い換えれば、パターンブロック５３
２、５３４とパターンブロック５３６、５３８は共に主
走査軸に沿って１２８ドットのピッチで並んでおり、パ
ターンブロック５４０、５４２は主走査軸に沿って６４
ドットのピッチで並んでいる。

【０１１８】求めるべき一対のテストパターンの記録位
置ずれ量は、例えば、複数のパターンブロック対の各々
に対して相互相関関数を用いてそれらの間の記録位置ず
れ量を算出し、算出された複数の記録位置ずれ量を平均
して求められる。

【０１１９】あるいは、求めるべき一対のテストパター
ンの記録位置ずれ量は、往路で記録されたパターンブロ
ック群と復路で記録されたパターンブロック群に対して
相互相関関数を用いて求められてもよい。

【０１２０】このような複数のパターンブロックにおい
ては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパ
ターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相
関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパタ
ーンブロック対の相関に比べて低いものとなる。このた
め、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１
つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロ
ックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量
の算出が安定に容易に行える。

【０１２１】記録方法の変形例（テストパターンの第十
変形例） テストパターンの記録方法は、往路での記録と復路での
記録の間に用紙の搬送を行わないものに限定されない。
つまり、テストパターンの記録の際、往路での記録と復
路での記録の間に用紙の搬送を行ってもよい。

【０１２２】本変形例では、テスト画像は、図２７に示
されるように、一対の基準パターン５５２と、一対のテ
ストパターンとを有しており、一対のテストパターン
は、パターンブロック５６２、５６４と、別の一対のパ
ターンブロック５６６、５６８と、更に別の一対のパタ
ーンブロック５７０、５７２とを含んでいる。基準パタ
ーン５５２と３つのパターンブロック５６２、５６６、
５７０とが主走査軸に沿って順に並んでおり、それらの
下に基準パターン５５４と３つのパターンブロック５６
４、５６８、５７２とが主走査軸に沿って順に並んでい
る。さらに、基準パターン５５２、５５４とパターンブ
ロック５６２、５６４とパターンブロック５６６、５６
８とパターンブロック５７０、５７２は副走査軸に沿っ
て並んでいる。すなわち、基準パターン５５２、５５４
とパターンブロック５６２、５６６、５７０、５６４、
５６８、５７２は主走査軸と副走査軸とに沿って格子状
に整列している。

【０１２３】例えば、基準パターン５５２と３つのパタ
ーンブロック５６２、５６６、５７０は第１バンド内に
往路走査によって記録される。また、基準パターン５５
４は第２バンド内に、基準パターン記録時と同じ走査方
向、即ち往路走査によって記録される。さらに３つのパ
ターンブロック５６４、５６８、５７２は第２バンド内
に、基準パターン記録時とは反対方向、即ち復路走査に
よって記録される。第１バンドのパターン記録から第２
バンドのパターン記録の間に、第１バンドの副走査軸に
沿った幅に相当する距離だけ用紙が搬送される。

【０１２４】一対の基準パターン５５２、５５４は共に
矩形パターン要素で構成され、一対のパターンブロック
５６２、５６４は共に相対的に狭い幅の矩形パターン要
素で構成され、一対のパターンブロック５６６、５６８
はそれぞれ一対の矩形パターン５６６ａと５６６ｂ、５
６８ａと５６８ｂで構成され、一対のパターンブロック
５７０、５７２は共に相対的に広い幅の矩形パターンで
構成されている。

【０１２５】このような格子状に整列した複数のパター
ンブロックは、副走査軸に沿った１回の走査で狭いエリ
アしか読み込めないＣＣＤユニットを有するキャリッジ
に特に有効である。

【０１２６】記録途中に用紙搬送を行うため、用紙搬送
によるスキュー（斜行）等による主走査軸に沿った記録
誤差が生じることが考えられる。用紙搬送による主走査
軸に沿ったずれ量δskewは、基準パターン５５２と基準
パターン５５４に対して相互相関関数を用いて求められ
る。従って、スキュー等による記録誤差は、求めたずれ
量δskewに基づいて補正されるとよい。また、ずれ量δ
skewから、用紙搬送の異常を同時に検出することもでき
る。

【０１２７】実際のずれ量は、往路で記録されたパター
ンブロック５６２、５６６、５７０と復路で記録された
パターンブロック５６４、５６８、５７２に対して、前
述した手法により、相互相関関数を用いて求められる。

【０１２８】図２７に示される複数の画像では、主走査
軸に沿って並んだ基準パターンと複数のパターンブロッ
クの行が副走査軸に沿って２つ記録されているが、ずれ
量の精度を高めるため、主走査軸に沿って並んだ基準パ
ターンと複数のパターンブロックの行が副走査軸に沿っ
て更に追加されてもよい。

【０１２９】ＣＣＤユニットの変形例（第十変形例のテ
ストパターンの有益な別な利用例） 画像記録装置は、主走査軸に沿って読み込むタイプのＣ
ＣＤユニットを有していてもよい。このような画像記録
装置に対して、前述の図２７に示されるテスト画像は有
効に適用可能である。

【０１３０】本変形例では、図２８に示されるように、
画像記録装置は、主走査軸に沿って移動されるＣＣＤユ
ニット１３４を有している。ＣＣＤユニット１３４は、
例えば、キャリッジに取り付けられており、キャリッジ
の移動によって主走査軸に沿って移動される。あるい
は、ＣＣＤユニット１３４は、単独で画像記録装置に設
けられており、ＣＣＤユニット１３４それ自体が主走査
軸に沿って移動されてもよい。

【０１３１】本変形例では、基準パターン５５２と基準
パターン５５４に対して相互相関関数を求めることによ
り、用紙搬送のスキューとＣＣＤユニット１３４の取り
付けの傾きを同時に補正できる。

【０１３２】まず、用紙搬送のスキューはないものとし
て、ＣＣＤユニット１３４の取り付けの傾きの補正につ
いて説明する。ここでは、ＣＣＤユニット１３４を、図
２９に示されるように、第１バンドデータの読み取り部
１３４ａと第２バンドデータの読み取り部１３４ｂとに
機能的に分解して考える。

【０１３３】図２８に示されるように、ＣＣＤユニット
１３４が副走査軸に対して傾きを有していない場合に
は、ＣＣＤユニット１３４の上側の第１バンドデータ読
み取り部１３４ａと下側の第２バンドデータ読み取り部
１３４ｂはそれぞれ基準パターン５５２と基準パターン
５５４を同時に読み取り始める。その結果、図３０に示
されるように、ＣＣＤ移動方向に関して同期した基準パ
ターン５５２と基準パターン５５４の読み取り光学像が
得られる。

【０１３４】これに対して、図３１に示されるように、
ＣＣＤユニット１３４が副走査軸に対して傾きを有して
いる場合には、図３２に示されるように、ＣＣＤユニッ
ト１３４の上側の第１バンドデータ読み取り部１３４ａ
が先に基準パターン５５２を上端側から読み取り始め、
これに遅れてＣＣＤユニット１３４の下側の第２バンド
データ読み取り部１３４ｂが基準パターン５５４を上端
側から読み取り始める。

【０１３５】その結果、図３３に示されるように、ＣＣ
Ｄ移動方向に関してずれを有する基準パターン５５２と
基準パターン５５４の読み取り光学像が得られる。ＣＣ
Ｄユニット１３４の傾きによるずれ量δinclination
は、基準パターン５５２と基準パターン５５４の読み取
り光学像に対して、前述した手法により、相互相関関数
を用いることにより求められる。

【０１３６】このように求められるずれ量δinclinatio
nは、用紙搬送による用紙のスキューがある場合には、
用紙のスキューによるずれ量を含んでいる。従って、最
終的に求めるべき記録位置ずれ量は、ずれ量δinclinat
ionを、往路で記録されたパターンブロック５６２、５
６６、５７０と復路で記録されたパターンブロック５６
４、５６８、５７２に対して相互相関関数を用いて算出
された記録位置ずれ量から引くことにより求められる。

【０１３７】第二実施形態 以下、第二実施形態の画像形成装置について説明する。
本実施形態は、記録位置ずれ量の算出の仕方においての
み第一実施形態と相違しており、装置構成等は第一実施
形態と同様である。また、第一実施形態で説明した画像
の変形例等は、そのまま本実施形態にも適用され得る。

【０１３８】本実施形態では、一対のテストパターンの
濃度データの位置を相対的に変化させながら、互いの濃
度データの相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算
出し、その積分値がピークとなる位置から、一対のテス
トパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１３９】具体的には、（１）二値化された濃度デー
タ同士の論理積の積分値、（２）二値化された濃度デー
タ同士の論理和の積分値、（３）多値の濃度データ同士
の比較最小値群の積分値、（４）多値の濃度データ同士
の比較最大値群の積分値、（５）多値の濃度データ同士
の差の積分値、（６）多値の濃度データ同士の積の積分
値のいずれかを求め、得られたピーク値から記録位置ず
れ量を算出する。

【０１４０】（１）二値化された濃度データ同士の論理
積の積分値に基づく算出 まず、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテ
ストパターンの加算濃度データを求め、これを二値化し
て、図３４に示されるように、一対の二値化された濃度
データ６１２、６１４を求める。二値化とは、濃度デー
タを所定の閾値と比較し、閾値以上の濃度データは１
に、閾値未満の濃度データは０に変換する操作である。

【０１４１】一対の二値化された濃度データ６１２、６
１４に対して、任意のｘの値において、それらの論理積
（ＡＮＤ）をとり、図３５が示されるように、二値化さ
れた濃度データ同士の論理積６２２を求め、さらに、そ
の論理積６２２の面積を求める（すなわち積分値を求め
る）。この操作を任意のｄ1に対して行う。すなわち、
図３４において、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ
方向にずらしながら、上述した一連の計算を行ってい
く。これにより、図３６に示されるように、一対の二値
化された濃度データ６１２、６１４のずれとそれらの論
理積６２２の積分値との関係を示すグラフが得られる。

【０１４２】二値化された濃度データ同士の論理積の積
分値は、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にず
らすあいだ、一対の二値化された濃度データ６１２、６
１４の重なりが増加するにつれて値が大きくなり、重な
りが減少するにつれて値が小さくなる。すなわち、一対
の二値化された濃度データの論理積の積分値は、一対の
二値化された濃度データ同士が最も多く重なるときに最
大値をとる。

【０１４３】図３６において、最大の面積を与えるｄ1
の値が、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４
に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示
している。従って、図３６のグラフに基づいて、一対の
テストパターンの記録位置ずれ量が求められる。

【０１４４】（２）二値化された濃度データ同士の論理
和の積分値に基づく算出 まず、前述の論理積に基づく記録位置ずれ量の算出と同
様に、一対のテストパターンの加算濃度データを求め、
これを二値化して、図３４に示されるように、一対の二
値化された濃度データ６１２、６１４を求める。

【０１４５】一対の二値化された濃度データ６１２、６
１４に対して、任意のｘの値において、それらの論理和
（ＯＲ）をとり、図３７が示されるように、二値化され
た濃度データ同士の論理和６３２を求め、さらに、その
論理和６３２の面積を求める（すなわち積分値を求め
る）。この操作を任意のｄ1に対して行う。すなわち、
図３４において、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ
方向にずらしながら、上述した一連の計算を行ってい
く。これにより、図３８に示されるように、一対の二値
化された濃度データ６１２、６１４のずれとそれらの論
理和６３２の積分値との関係を示すグラフが得られる。

【０１４６】二値化された濃度データ同士の論理和の積
分値は、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にず
らすあいだ、一対の二値化された濃度データ６１２、６
１４の重なりが増加するにつれて小さくなり、重なりが
減少するにつれて大きくなる。すなわち、一対の二値化
された濃度データの論理和の積分値は、一対の二値化さ
れた濃度データ同士が最も多く重なるときに最小値をと
る。

【０１４７】図３８において、最小の面積を与えるｄ1
の値が、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４
に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示
している。従って、図３８のグラフに基づいて、一対の
テストパターンの記録位置ずれ量が求められる。

【０１４８】（３）多値の濃度データ同士の比較最小値
群の積分値に基づく算出 まず、図３９に示されるように、求めるべき記録位置ず
れ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度デー
タ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７
１４は多値の濃度データである。

【０１４９】次に、図４０に示されるように、一対の多
値の濃度データ７１２、７１４の比較最小値群７２２を
とる。ここにおいて、比較最小値とは、一対の多値の濃
度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度データを比
較し、小さい方の濃度データ値（最小値）を取得するこ
とを意味する。そして、この比較最小値をｘ方向に亘っ
て取得していき、その最小値群７２２の積分値をとる。
従って、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の比較
最小値群７２２の積分値をとるとは、一対の多値の濃度
データ７１２、７１４を重ね合わせ、重なり合った部分
の面積を求めることに相当する。

【０１５０】この操作を任意のｄ2に対して行う。すな
わち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ
方向にずらしながら、上述した一連の計算を行ってい
く。これにより、図４１に示されるように、一対の濃度
データ７１２、７１４のずらし量とそれらの比較最小値
群７２２の積分値との関係を示すグラフが得られる。

【０１５１】濃度データ同士の比較最小値群の積分値
は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対
の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれ
て大きくなり、重なりが減少するにつれて小さくなる。
すなわち、一対の濃度データの比較最小値群の積分値
は、濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をと
る。

【０１５２】図４１において、最大の面積を与えるｄ2
の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応
する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示してい
る。従って、図４１のグラフに基づいて、一対のテスト
パターンの記録位置ずれ量が求められる。

【０１５３】（４）多値の濃度データ同士の比較最大値
群の積分値に基づく算出 まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に
基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図３９に示され
るように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対
のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求
める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度デー
タである。

【０１５４】次に、図４２に示されるように、一対の多
値の濃度データ７１２、７１４の比較最大値群７３２を
とる。ここにおいて、比較最大値とは、一対の多値の濃
度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度データを比
較し、大きい方の濃度データ値（最大値）を取得するこ
とを意味する。そして、この比較最大値をｘ方向に亘っ
て取得していき、その最大値群７３２の積分値をとる。
従って、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の比較
最大値群７３２の積分値をとるとは、一対の多値の濃度
データ７１２、７１４を重ね合わせ、その輪郭の面積を
求めることに相当する。

【０１５５】この操作を任意のｄ2に対して行う。すな
わち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ
方向にずらしながら、上述した一連の計算を行ってい
く。これにより、図４３に示されるように、一対の濃度
データ７１２、７１４のずらし量とそれらの比較最大値
群７３２の積分値との関係を示すグラフが得られる。

【０１５６】濃度データ同士の比較最大値群の積分値
は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対
の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれ
て小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくなる。
すなわち、一対の濃度データの比較最大値群の積分値
は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最小
値をとる。

【０１５７】図４３において、最小の面積を与えるｄ2
の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応
する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示してい
る。従って、図４３のグラフに基づいて、一対のテスト
パターンの記録位置ずれ量が求められる。

【０１５８】（５）多値の濃度データ同士の差の積分値
に基づく算出 まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に
基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図３９に示され
るように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対
のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求
める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度デー
タである。

【０１５９】次に、図４４に示されるように、一対の多
値の濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度の差
の絶対値７４２をとる。さらに、一対の多値の濃度デー
タ７１２、７１４の差の絶対値７４２の積分値をとる。

【０１６０】この操作を任意のｄ2に対して行う。すな
わち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ
方向にずらしながら、上述した一連の計算を行ってい
く。これにより、図４５に示されるように、一対の濃度
データ７１２、７１４のずらし量とそれらの差の絶対値
７４２の積分値との関係を示すグラフが得られる。

【０１６１】濃度データ同士の差の絶対値７４２の積分
値は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一
対の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつ
れて小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくな
る。すなわち、一対の濃度データの差の絶対値の積分値
は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最小
値をとる。

【０１６２】図４５において、最小の面積を与えるｄ2
の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応
する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示してい
る。従って、図４５のグラフに基づいて、一対のテスト
パターンの記録位置ずれ量が求められる。

【０１６３】（６）多値の濃度データ同士の積の積分値
に基づく算出 まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に
基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図３９に示され
るように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対
のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求
める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度デー
タである。

【０１６４】次に、図４６に示されるように、一対の多
値の濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度の積
７５２をとる。さらに、一対の多値の濃度データ７１
２、７１４の積７５２の積分値をとる。

【０１６５】この操作を任意のｄ2に対して行う。すな
わち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ
方向にずらしながら、上述した一連の計算を行ってい
く。これにより、図４７に示されるように、一対の濃度
データ７１２、７１４のずらし量とそれらの積７５２の
積分値との関係を示すグラフが得られる。

【０１６６】濃度データ同士の積７５２の積分値は、濃
度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の濃度
データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて大き
くなり、重なりが減少するにつれて小さくなる。すなわ
ち、一対の濃度データの積の積分値は、一対の濃度デー
タ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。

【０１６７】図４７において、最大の面積を与えるｄ2
の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応
する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示してい
る。従って、図４７のグラフに基づいて、一対のテスト
パターンの記録位置ずれ量が求められる。

【０１６８】以上で求められた記録位置ずれ量は図３４
や図３９におけるずれ量であり、最終的に求めるべき記
録位置ずれ量は、ここで求められた記録位置ずれ量から
テストパターン記録時に与えたずらし量を引いて求めら
れる。

【０１６９】本実施形態では、インクの噴射タイミング
の調整のために記録した一対のテストパターンの相対的
な記録位置ずれ量を、一対のテストパターンの濃度デー
タの相互の相関を用いて求めているので、記録位置ずれ
量が短時間でしかも高い精度で算出され得る。

【０１７０】これまで、いくつかの実施の形態について
図面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上
述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨
を逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。

【０１７１】本発明は、以下の各項に述べられている画
像記録装置と画像の記録位置ずれ検出方法を含んでい
る。

【０１７２】１． 画像記録装置は、記録媒体に画像を
記録するための記録手段と、前記記録手段を主走査軸に
沿って移動させるための走査手段とを有し、記録手段は
走査手段によって主走査軸に沿って移動される間に記録
媒体に一対のテストパターンを含むテスト画像を記録
し、さらに、前記記録手段によって記録媒体に記録され
た前記一対のテストパターンを読み取るための読み取り
手段と、前記読み取り手段によって読み取られた前記一
対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づい
て、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ
量を算出する算出手段とを有している。

【０１７３】２． 第１項の画像記録装置において、前
記算出手段は、前記一対のテストパターンの濃度データ
の相互相関関数を求め、その相互相関関数が最大値をと
る位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録
位置ずれ量を算出する。

【０１７４】３． 第１項の画像記録装置において、前
記算出手段は、前記一対のテストパターンの濃度データ
の位置を相対的に変化させながら、互いの濃度データの
相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算出し、その
積分値がピークとなる位置から、前記一対のテストパタ
ーンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１７５】４． 第３項の画像記録装置において、前
記算出手段は、互いの濃度データの和から積分値を算出
する。

【０１７６】５． 第４項の画像記録装置において、前
記算出手段は、互いの濃度データの論理積から積分値を
算出し、その積分値が最大となる位置から、前記一対の
テストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１７７】６． 第４項の画像記録装置において、前
記算出手段は、互いの濃度データの論理和から積分値を
算出し、その積分値が最小となる位置から、前記一対の
テストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１７８】７． 第４項の画像記録装置において、前
記算出手段は、互いの濃度データが重複した部分におけ
る濃度データの積分値を算出し、その積分値が最大とな
る位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録
位置ずれ量を算出する。

【０１７９】８． 第４項の画像記録装置において、前
記算出手段は、互いの濃度データを比較し、濃度データ
が小さい方の値に基づきその積分値を算出し、その積分
値が最大となる位置から、前記一対のテストパターンの
相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１８０】９． 第４項の画像記録装置において、前
記算出手段は、互いの濃度データを比較し、濃度データ
が大きい方の値に基づきその積分値を算出し、その積分
値が最小となる位置から、前記一対のテストパターンの
相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１８１】１０． 第３項の画像記録装置において、
前記算出手段は、互いの濃度データの差の絶対値から積
分値を算出し、その積分値が最小となる位置から、前記
一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出
する。

【０１８２】１１． 第３項の画像記録装置において、
前記算出手段は、互いの濃度データの積から積分値を算
出し、その積分値が最大となる位置から、前記一対のテ
ストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。

【０１８３】１２． 第１項の画像記録装置において、
前記記録手段は、一対のノズル列を有する１つのインク
ジェットヘッドで構成されており、前記一対のテストパ
ターンはそれぞれ前記一対のノズル列によって記録され
る。

【０１８４】１３． 第１項の画像記録装置において、
前記記録手段は、それぞれ１つのノズル列を有する一対
のインクジェットヘッドであり、前記一対のテストパタ
ーンはそれぞれ前記一対のインクジェットヘッドによっ
て記録される。

【０１８５】１４． 第１項の画像記録装置において、
前記一対のテストパターンは互いに同一のパターンであ
る。

【０１８６】１５． 第１項の画像記録装置において、
前記記録手段は、前記走査手段によって主走査軸に沿っ
て往復移動され、往路移動の間に前記一対のテストパタ
ーンの一方を記録し、復路移動の間に前記一対のテスト
パターンの他方を記録する。

【０１８７】１６． 第１２項または第１３項の画像記
録装置において、前記記録手段は、前記走査手段によっ
て主走査軸に沿って一方向に移動される間に前記一対の
テストパターンを記録する。

【０１８８】１７． 第１５項または第１６項の画像記
録装置において、前記一対のテストパターンは、前記主
走査軸に沿ってずらして記録される。

【０１８９】１８． 第１５項または第１６項の画像記
録装置において、前記一対のテストパターンは、前記主
走査軸に直交する副走査軸に沿ってずらして記録され
る。

【０１９０】１９． 第１５項または第１６項の画像記
録装置において、前記一対のテストパターンは、複数対
のパターンブロックを有している。

【０１９１】２０． 第１９項の画像記録装置におい
て、異なる対のパターンブロックを構成する二つのテス
トパターンは異なるパターン要素で構成されている。

【０１９２】２１． 第１９項の画像記録装置におい
て、複数のパターンブロックは不均一なピッチで並んで
いる。

【０１９３】２２． 第１９項の画像記録装置におい
て、一対のパターンブロックは、別の一対のパターンブ
ロックに含まれるパターンブロックを間に挟んで位置し
ている。

【０１９４】２３． 第１９項の画像記録装置におい
て、少なくとも一対のパターンブロックの各々は、複数
のパターン要素で構成されている。

【０１９５】２４． 請求項１において、前記算出手段
によって算出された相対的な記録位置ずれ量に基づい
て、前記記録手段の記録動作を制御する制御手段を有す
る。

【０１９６】２５． 画像の記録位置ずれ検出方法は、
一対のテストパターンを含むテスト画像を記録媒体に記
録する記録ステップと、前記記録媒体に記録された一対
のテストパターンを読み取る読取ステップと、読み取ら
れた一対のテストパターンの画像データ間の相互の相関
に基づいて、それら一対のテストパターンの相対的な記
録位置ずれ量を算出する算出ステップとを有している。

【０１９７】２６． 第２５項に記載の画像の位置ずれ
検出方法において、前記算出ステップは、前記一対のテ
ストパターンの濃度データ間の相互相関関数を計算し、
その相互相関関数の最大値を持つ位置から、前記一対の
テストパターンの相対的な記録位置ずれを算出する。

【０１９８】２７． 第２５項に記載の画像の位置ずれ
検出方法において、前記算出ステップは、前記一対のテ
ストパターンの濃度データの位置を相対的に変化させる
ステップと、各位置毎での互いの濃度データの相関に基
づいて濃度データの積分値を逐次算出するステップと、
その積分値がピークとなる位置を算出するステップと、
積分値がピークとなる位置から、前記一対のテストパタ
ーンの相対的な記録位置ずれ量を算出するステップとを
有している。

【０１９９】

【発明の効果】本発明によれば、インクの噴射タイミン
グの調整のために形成される一対のテストパターンの相
対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成装
置が提供される。くわえて、この画像形成装置では、一
対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づい
てそれらの相対的な記録位置ずれ量を求めているので、
画像の記録位置ずれ量が高い精度で求められる。

【０２００】また、本発明によれば、インクの噴射タイ
ミングの調整のために形成される一対のテストパターン
の相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像の
位置ずれ検出方法が提供される。くわえて、この画像の
位置ずれ検出方法では、一対のテストパターンの濃度デ
ータの相互の相関に基づいてそれらの相対的な記録位置
ずれ量を求めているので、画像の記録位置ずれ量が高い
精度で求められる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による画像記録装置を示している。

【図２】図１に示される記録部に含まれる１つの記録ヘ
ッドの一例を示している。

【図３】図１に示される記録部に含まれる別の１つの記
録ヘッドの一例を示している。

【図４】図１に示される記録部に含まれる更に別の１つ
の記録ヘッドの一例を示している。

【図５】図１に示される記録部に含まれるまた別の１つ
の記録ヘッドの一例を示している。

【図６】一対のテストパターンとブラックパターンとを
含むテスト画像を示している。

【図７】焦点調整と白レベル調整時における、図６に示
される画像に対するＣＣＤユニットの位置関係を示して
いる。

【図８】黒レベル調整時における、図６に示される画像
に対するＣＣＤユニットの位置関係を示している。

【図９】ＣＣＤユニットで読み取られた図６に示される
一対のテストパターンの光学像を示している。

【図１０】図６に示される左側のテストパターンの光学
像の加算濃度データを示している。

【図１１】図６に示される右側のテストパターンの光学
像の加算濃度データを示している。

【図１２】テストパターンの第一変形例を示している。

【図１３】ＣＣＤユニットで読み取られた図１２に示さ
れる６つのパターンブロックの光学像を示している。

【図１４】図１２に示される６つのパターンブロックの
うちの１つが欠損した様子を示している。

【図１５】図１４に示されるパターンブロックに対して
得られる加算濃度データを示している。

【図１６】図１５に示される加算濃度データに対して得
られる相互相関関数を示している。

【図１７】テストパターンの第二変形例を示している。

【図１８】テストパターンの第三変形例を示している。

【図１９】図１８に示されるパターンブロックに対して
得られる加算濃度データを示している。

【図２０】テストパターンの第四変形例を示している。

【図２１】図２０に示されるパターンブロックに対して
得られる加算濃度データを示している。

【図２２】テストパターンの第五変形例を示している。

【図２３】テストパターンの第六変形例を示している。

【図２４】テストパターンの第七変形例を示している。

【図２５】テストパターンの第八変形例を示している。

【図２６】テストパターンの第九変形例を示している。

【図２７】記録方法の変形例によって記録されるテスト
パターンの第十変形例を示している。

【図２８】図２７に示されるテストパターンと、副走査
軸に対して傾きを有していないＣＣＤユニットとを示し
ている。

【図２９】図２８に示されるＣＣＤユニットの仮想的に
分割して得られる第１バンドデータの読み取り部と第２
バンドデータの読み取り部とを示している。

【図３０】副走査軸に対して傾きを有していないＣＣＤ
ユニットによって読み取られた一対の基準パターンの濃
度データを示している。

【図３１】図２７に示される基準パターンと、副走査軸
に対して傾きを有しているＣＣＤユニットとを示してい
る。

【図３２】図３１に示されるＣＣＤユニットが基準パタ
ーンを読み取る様子を示している。

【図３３】副走査軸に対して傾きを有しているＣＣＤユ
ニットによって読み取られた一対の基準パターンの濃度
データを示している。

【図３４】記録位置ずれ量を求めるべき一対のテストパ
ターンの二値化された濃度データを示している。

【図３５】図３４に示される一対の二値化された濃度デ
ータの論理積（ＡＮＤ）を示している。

【図３６】図３４に示される一対の二値化された濃度デ
ータのずらし量とそれらの論理積の積分値との関係を示
すグラフである。

【図３７】図３４に示される一対の二値化された濃度デ
ータの論理和（ＯＲ）を示している。

【図３８】図３４に示される一対の二値化された濃度デ
ータのずらし量とそれらの論理和の積分値との関係を示
すグラフである。

【図３９】記録位置ずれ量を求めるべき一対のテストパ
ターンの加算濃度データを示している。

【図４０】図３９に示される一対の多値の濃度データの
比較最小値群を示している。

【図４１】図３９に示される一対の多値の濃度データの
ずらし量とそれらの比較最小値群の積分値との関係を示
すグラフである。

【図４２】図３９に示される一対の多値の濃度データの
比較最大値群を示している。

【図４３】図３９に示される一対の多値の濃度データの
ずらし量とそれらの比較最大値群の積分値との関係を示
すグラフである。

【図４４】図３９に示される一対の多値の濃度データの
差の絶対値を示している。

【図４５】図３９に示される一対の多値の濃度データの
ずらし量とそれらの差の絶対値の積分値との関係を示す
グラフである。

【図４６】図３９に示される一対の多値の濃度データの
積を示している。

【図４７】図３９に示される一対の多値の濃度データの
ずらし量とそれらの積の積分値との関係を示すグラフで
ある。

【図４８】従来例において記録媒体に記録されるドット
列から成る一対のテストパターンを示している。

【符号の説明】

１００ 画像記録装置 １１０ キャリッジ １１２ ガイド １２０ 記録部 １３０ ＣＣＤユニット １４０ 用紙保持機構 １７０ キャリッジ制御部 １７２ キャリッジ駆動機構 １７４ 記録制御部 １７６ 算出部 １９２ 用紙

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１３年１０月３０日（２００１．１０．
３０）

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１５

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１５】

【手続補正２】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１９

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１９】

【手続補正３】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２１

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２１】

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】一対のテストパターンを記録媒体に記録す
   るための記録手段と、 前記記録手段によって記録された一対のテストパターン
   を読み取るための読み取り手段と、 前記読み取り手段によって読み取られた一対のテストパ
   ターンの濃度データに基づいて、一対のテストパターン
   の相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有す
   る画像記録装置において、 前記算出手段は、一対のテストパターンの濃度データの
   相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的
   な記録位置ずれ量を算出することを特徴とする画像記録
   装置。
2. 【請求項２】前記算出手段は、一対のテストパターンの
   濃度データ間の相互相関関数を計算し、その相互相関関
   数の最大値を持つ位置から、一対のテストパターンの相
   対的な記録位置ずれ量を算出することを特徴とする請求
   項１に記載の画像記録装置。
3. 【請求項３】前記算出手段は、一対のテストパターンの
   濃度データの位置を相対的に変化させながら、互いの濃
   度データの相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算
   出し、その積分値がピークとなる位置から、一対のテス
   トパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出することを
   特徴とする請求項１に記載の画像記録装置。
4. 【請求項４】一対のテストパターンを記録媒体に記録す
   る記録ステップと、 前記記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み
   取る読取ステップと、 読み取られた一対のテストパターンの画像データ間の相
   互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な
   記録位置ずれ量を算出する算出ステップとを有する画像
   の記録位置ずれ検出方法。