JP2003117785A - ワーク研削装置 - Google Patents

ワーク研削装置

Info

Publication number
JP2003117785A
JP2003117785A JP2001315556A JP2001315556A JP2003117785A JP 2003117785 A JP2003117785 A JP 2003117785A JP 2001315556 A JP2001315556 A JP 2001315556A JP 2001315556 A JP2001315556 A JP 2001315556A JP 2003117785 A JP2003117785 A JP 2003117785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
work
static pressure
pressure
fluid
grinding apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001315556A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3848120B2 (ja
Inventor
Shinichiro Tsukahara
真一郎 塚原
Akira Isobe
章 磯部
Yoshiyuki Tomita
良幸 冨田
Akio Iwase
昭雄 岩瀬
Kazutaka Hara
一敬 原
Hiroshi Nagata
浩 永田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP2001315556A priority Critical patent/JP3848120B2/ja
Publication of JP2003117785A publication Critical patent/JP2003117785A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3848120B2 publication Critical patent/JP3848120B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ワークの厚み変化に応じてワーク軸方向で支
持力を調整できるようにして研削加工中での支持精度を
向上させた研削装置を提供する。 【解決手段】 平板状のワークの両面を一対の流体静圧
手段により非接触状態で支持しながら、該ワーク両面の
研削を行う装置であって、前記ワークの厚みの減少に対
応して、前記流体静圧手段により前記ワークを支持する
静圧を調整する静圧調整機構を設けたワーク研削装置で
ある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリコンウエハ或
いはガラスディスク等の平板状のワーク(以下、単にワ
ークと称す)表面を研削する装置に関する。特にワーク
の表面に対して垂直となる方向での支持精度を向上させ
たワーク研削装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ワークの両面を研削する装置とし
て、例えば図1に示すような種々のワーク自転式の研削
装置が知られている。このようなワーク自転式両頭研削
装置では、ワークWを回転駆動させるためワークW周面
をローラ102によって摩擦駆動する方式(図1
(A))若しくは被加工面をローラ104によって摩擦
駆動する方式(図1(B))、ワークWのノッチ部WN
などにキャリア105を引っ掛けて駆動する方式(図1
(C))などが知られている。
【0003】また、ワークWの半径方向の支持は、ワー
クW周面をローラ102によって支持する方式(図1
(A)、(B))や、駆動方式にキャリア104を用い
るときにはこのキャリア104が半径方向の支持手段と
なる((図1(C))。
【0004】そして、上記のようなワーク自転式両頭研
削装置では、ワーク表面に対して垂直な方向(以下、ワ
ーク回転軸方向と称す)でのワークの支持に、水やエア
等の流体を用いてワーク両面を流体静圧で非接触に支持
する方式が広く採用されている。このようにワーク軸方
向での支持に流体静圧を用いる研削装置は、図1にも良
く示されるように、所定の圧力をもった流体を生成する
静圧パッド103がワークW表面の一部に対向するよう
に配置されている。上記流体静圧は、静圧パッド103
とワークW表面との隙間において形成される。
【0005】上記ワーク自転式両頭研削装置では、静圧
パッド103によりワークWをワーク回転軸方向で支持
すると共に、半径方向もローラ等で支持しながらワーク
Wを回転させる。そして、カップ状の砥石101を回転
させながらワークW表面に接触させて研削を行う。
【0006】なお、図1は片面側から示しているので静
圧パッド103及び砥石101は1つずつであるが、ワ
ークWの背面側にも同様に静圧パッド103及び砥石1
01が配設されて対となっている。
【0007】ところで、ワークは研削加工が進むことに
伴って薄くなるので静圧パッドの位置が固定であると、
静圧パッドとワーク表面との隙間が広がり所要の静圧状
態を維持できなくなる。このような静圧状態の劣化を防
ぐ対策として、従来、例えばシリンダ等により静圧パッ
ドを一定圧でウエハW側へ押圧してワークWの厚みが変
化しても必要な静圧が得られるようにした技術の提案等
がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、インゴ
ットから切出したシリコンウエハのように、加工前のワ
ークはミクロン(μm)レベルで見ると数10μm程度
の厚みのばらつきを有している。すなわち、ワーク表面
には凹凸が存在している。
【0009】そのために、特に加工開始当初ではワーク
表面と静圧パッドとの隙間は複雑に変化する。よって、
前述した従来技術のようにシリンダ等により静圧パッド
を一定圧で押圧しても静圧面内において圧力状態は複雑
に変化する。これに対処するため、静圧パッドの押圧力
を高く設定すると、ワーク表面と静圧パッド面とが接触
して、円滑な研削が行えないことになる。
【0010】すなわち、シリンダ等により静圧パッドを
一定圧で押圧する従来技術では、未処理のワーク表面に
数10μm程度の凹凸が存在することを前提にその押圧
力を設定することが必要である。
【0011】ところが、上記のように加工開始時に対応
した低い押圧力に基づく静圧では、ローラやキャリアな
どのワーク回転駆動手段から発生するワーク回転軸方向
の力によって、容易にワークの位置、姿勢が変化し、ワ
ークの撓み等も発生する。このずれや撓みは、砥石によ
る加工面において均一となるべき加工力に対して大きな
外乱となるので、平坦な形状の創生を目的とした加工に
おいては重大な問題となる。
【0012】加工完了時の様にワークW表面の平坦度が
高い状態では表面の凹凸は数μm程度となるので、この
場合には高い静圧が生じるような押圧力とすることが好
ましい。しかし、ワーク表面と静圧パッド面とが接触す
るという上記問題があるので、加工当初から押圧力を高
めに設定することができないのである。
【0013】したがって、本発明の目的は、ワークの厚
み変化に応じてワーク軸方向で支持力を調整できるよう
にして研削加工中での支持精度を向上させた研削装置を
提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的は請求項1に記
載の如く、平板状のワークの両面を一対の流体静圧手段
により非接触状態で支持しながら、該ワーク両面の研削
を行う装置であって、前記ワークの厚みの減少に対応し
て、前記流体静圧手段により前記ワークを支持する静圧
を調整する静圧調整機構を設けたワーク研削装置により
達成される。
【0015】本発明によれば静圧調整機構がワークの厚
みの減少に対応して、前記流体静圧手段により前記ワー
クを支持する静圧を調整するので、研削加工中にワーク
の厚みが変化してもワークを適切に支持し、支持精度を
向上させながら研削を行うことが可能なワーク研削装置
を提供できる。
【0016】そして、前記静圧調整機構は、前記流体静
圧手段からワーク表面へ向け供給する流体の圧力を、前
記ワークの厚みの減少に応じて増加するように制御する
流体圧制御手段を含んで構成することができる。
【0017】また、前記静圧調整機構は、前記ワーク表
面に対し垂直な方向で前記流体静圧手段を前記ワーク表
面に近付くように押圧する押圧手段と、前記ワークの厚
みの減少に応じて前記押圧手段による押圧力を増加する
ように制御する押圧力制御手段を含んで構成することも
できる。
【0018】前記押圧手段は、前記ワーク面に対し垂直
な方向で該ワーク面に向け前記流体静圧手段を移動させ
る流体圧シリンダ機構及びバネ機構のうち少なくとも一
方を含んで構成することができる。
【0019】さらに、前記押圧力制御手段は、前記流体
圧シリンダヘ供給する流体の圧力又は前記バネ機構のバ
ネ基準位置を変更することにより、前記押圧手段による
押圧力を調整するようにしてもよい。
【0020】なお、前記流体圧制御手段又は前記押圧力
制御手段は、前記ワークの厚みを測定した又はワークの
厚みを推定したデータを供給するデータ部を備え、該デ
ータに基づいて前記静圧を調整するようにすると、より
確実に静圧を制御することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】以下図面に基づいて、本発明に実
施例に係る両頭研削装置を説明する。
【0022】図2は、第1実施例の両頭研削装置の概要
構成を示す図である。図2において、両頭研削装置は水
平なベッド1を備え、その左右両端部ではフレーム1
A、1Bが立設している。このフレーム1A、1Bの各
々には内向きに対向するようにシリンダ機構2A、2B
が設けられている。
【0023】左のシリンダ機構2Aは後述するポンプ7
から圧送される流体によりハウジング内のシリンダ21
Aが左右方向に移動できるようになっている。シリンダ
21Aにはパッド支持棒22Aの一端が固定されてい
る。パッド支持棒22Aの他端には流体静圧手段として
の静圧パッド3Aが固定されている。本両頭研削装置の
右側には、上記左側のシリンダ機構2A及び静圧パッド
3Aと同様な構成を有する右シリンダ機構2B及び静圧
パッド3Bが対称的に形成されている。
【0024】上記静圧パッド3Aと静圧パッド3Bと
は、互いに対向するように配設され、その間でワークW
が静圧を受けて支持されるようになっている。本両頭研
削装置に設定されるワークWは、半径方向(図2におい
て上下方向)ではローラ4により支持され、ワークW回
転軸方向では静圧パッド3A、3Bの表面から供給され
る流体静圧により支持される。静圧パッド3A、3Bは
一定の圧力で流体を供給するポンプ8に接続されてお
り、その表面からワークWの表面側へ向け一定圧の流体
LPを放出するようになっている。
【0025】なお、図2においては図示を省略している
回転駆動源がローラ4に接続されており、ワークWを所
定方向へ回転させることができるようになっている。ま
た、図2ではワークWの表面を研削する砥石は、本両頭
研削装置の背面側に存在するため隠れているが、ワーク
Wの両表面を研削できるように図1と同様に配設されて
いる。
【0026】さて、本両頭研削装置では上記シリンダ機
構2A、2Bが静圧パッド3A、3BをワークW表面側
に押圧する押圧手段として機能している。また、このシ
リンダ機構2A、2Bによる押圧力を制御する押圧力制
御手段としてコントローラ5及び調圧弁6が配設されて
いる。コントローラ5からの指令信号を調圧弁6が受け
ると、ポンプ7からの所定圧の流体を調圧してシリンダ
機構2A及びシリンダ機構2Bに供給するのでワークW
表面への静圧パッド3A、3Bの押圧力を調整できる。
上記コントローラ5としてはマイクロコンピュータを、
また調圧弁6としてはサーボバルブや自動減圧弁等を採
用できる。
【0027】図示せぬ砥石によるワークW表面への研削
が進行するにしたがって表面の凹凸が減少(平坦度が向
上)して、ワークWの厚みが減少する。上記コントロー
ラ5は、このワークWの厚み減少に関するデータ部10
を備えており、このデータ部10の有するデータに基づ
いて調圧弁6へ所定の指令信号を発するようになってい
る。この指令信号は研削が進行するに応じて、シリンダ
機構2A、2Bへ供給する流体圧を増加して、静圧パッ
ド3A、3Bの押圧力が増すように調圧弁6を制御する
ものとなる。
【0028】上記データ部10が扱うデータとしては、
ワークWの厚みを測定する厚みセンサ等を設けてオンタ
イムで取得する測定データであっても良いし、予め多く
の測定を行って得た蓄積データでもよい。この蓄積デー
タとしてはワークWの研削開始からの経過時間によりワ
ークWの厚みの減少状態を推定したものや、砥石の移動
位置を検出する位置センサを設けて砥石切込み量からワ
ークWの厚みの減少状態を推定するものでもよい。よっ
て、データ部10がオンタイムで取得する測定データを
供給する場合には厚みセンサ等となり、所定の蓄積デー
タを供給する場合にはデータを記憶したROM等として
構成される。
【0029】また、上記コントローラ5は上記データ部
10のデータに基づいて常時、静圧パッド3A、3Bの
押圧力を制御するようにしてもよいし、コントローラ5
内のクロックを用いて定期的に押圧力を制御するように
してもよい。
【0030】さらに、本両頭研削装置では後述するよう
な静圧ポケットを有する静圧パッド3を用いている。そ
して、本両頭研削装置は図2に示すように、静圧パッド
3のポケット圧力或いはシリンダ機構2内の圧力を測定
する圧力計9を備えている。この圧力計9の検出圧力
は、コントローラ5に供給されている。コントローラ5
が、この検出圧力値を参照する場合には、これらが一定
となるようにフィードバック制御を行うことで円滑な押
圧力制御を行うことができる。
【0031】だだし、上記圧力計9は、本両頭研削装置
のコントローラ5が静圧パッド3の押圧制御を行うこと
に関して必須のものではなく、上記データ部10のデー
タに基づくオープンループによる制御でも円滑な押圧力
制御を行うことができる。
【0032】ここで、本両頭研削装置で用いる静圧ポケ
ットを有する静圧パッド3について図3を参照して簡単
に説明する。図3は静圧パッド3のポケット圧力を説明
するため、本両頭研削装置の静圧パッド3の周辺を取出
して示した図である。図3に示すように本両頭研削装置
で用いる静圧パッド3は中央が凹部となったポケット3
Pを有している。このような静圧パッド3は、ポケット
3P内、及びポケット面内の静圧隙間における静圧流体
の圧力を略一定にでき、静圧パッド3がワークW表面に
押圧された時に静圧を維持するのに好ましい形態の1つ
である。なお、静圧に寄与する流体は周部のランド部3
Rの静圧隙間において絞られ、大気圧まで減圧される。
【0033】なお、本実施例では上記のようにポケット
を有するタイプの静圧パッド3を用いているが、ポケッ
トが無いフラットタイプの静圧パッドを用いてもよい。
【0034】次ぎに、図4を用いて、ワークWの研削が
進行した場合の両頭研削装置による動作を説明する。図
4(A)〜(C)は、研削加工が開始される時から研削
加工がほぼ完了した時までのワークWの厚み変化と静圧
パッド3A、3Bの位置変化が確認できるように示して
いる。
【0035】図4(A)は加工が開始される時の状態を
示している。ワークWの厚さは面内において数10μm
程度の凹凸が存在している。このような状態で、静圧パ
ッド3A,3BをワークWの表面に強く押圧すると接触
の可能性があるので好ましくない。よって、コントロー
ラ5は確実に非接触でワークWを静圧支持するために、
片側で数10〜200μm程度の大きな静圧隙間が確保
されるように調圧弁6へ指令信号を発する。すなわち、
コントローラ5による静圧パッド3A,3Bによる静圧
が比較的小さくなるような指令信号を受けた調圧弁6
は、これに基づいてシリンダ機構2A、2Bへ供給する
流体圧力を調整するので、静圧パッド3A、3Bはワー
クW側へ緩めに押圧され低い静圧でワークWを支持する
状態となる。
【0036】次ぎの図4(B)では、加工により凹凸が
減少して平坦度が向上し、その結果ワークWの厚みの減
少が進行した状態を示している。このように加工開始
後、加工開始前のワークW表面に凹凸がなくなる程度加
工が進行するとワークWは平坦になり、ワークW表面と
静圧パッド3との隙間のばらつきは無くなり全体的に隙
間が拡大した状態となる。このような状態となると、ワ
ークW表面での凹凸ばらつきは、静圧面内において数μ
m程度になる。よって、静圧隙間を片側で10〜60μ
m程度に小さくしても非接触支持が可能となる。
【0037】なお、上記状態となったことの確認は、例
えば砥石の切込み量から推定により、またワーク厚さを
測定するセンサ等を備えている場合には測定値のばらつ
きが数μmに収まることを確認することにより行える。
すなわち、前述したデータ部10のデータとしてこれら
を用いることができ、コントローラ5はこのデータに基
づいて指令信号を調圧弁6に供給することになる。
【0038】本両頭研削装置では上記のように、ワーク
の平坦度が増し、表面での凹凸のばらつきが数μm程度
になったことが推定或いは確認されると、コントローラ
5から調圧弁6へシリンダ機構2A、2Bによる押圧力
を高くするような指令信号が発せられる。なお、コント
ローラ5による制御は、常時行うようにしてもよいし、
定期的に行うようにしてもよい。
【0039】図4(C)はシリンダ機構2A、2Bによ
る押圧力を高くした状態を示している。このように押圧
力が高くなると、ワークWと静圧パッド3との静圧隙間
は狭くなり、静圧パッド3のポケット圧力が上昇して、
シリンダ圧力と釣り合うまで静圧隙間が狭くなる。すな
わち、本実施例の両頭研削装置はワークWの加工が進ん
で平坦度が向上し厚みが減少すると、コントローラ5及
び調圧弁6によりシリンダ機構2A、2Bへ供給する流
体圧が調整されて、静圧パッド3A、3BがワークW表
面をより強く押圧するようになる。その結果、ワークW
と静圧パッド3との静圧隙間が狭まりより強い静圧でワ
ークWを回転軸方向に支持できるようになるのである。
【0040】上記実施例では、シリンダ機構2を押圧手
段として説明したが、ワークWを初期位置を設定する際
には、静圧パッド3A,3Bを移動させるための機構と
して用いることもできる。
【0041】なお、本両頭研削装置で用いる流体に特に
限定は無いが取扱の容易性などから水、空気等が好まし
い。また、2つのポンプ7、8を設けたが、静圧パッド
3とシリンダ機構2に用いる流体を同じものとする場合
には1つのポンプを共用するようにしてもよい。さら
に、シリンダ機構2を左右に設けたがいずれか一方を固
定状態にして一方側から押圧する様に構成してもよい。
【0042】つぎに、図5は第2実施例の両頭研削装置
の概要構成を示す図である。上述した第1実施例では静
圧パッド3A、3Bを押圧するシリンダ機構2A、2B
による押圧力を調整することにより、ワークWと静圧パ
ッド3との間に生じる静圧を調整している。
【0043】しかし、本第2実施例では静圧パッド3に
供給する流体の圧力を調整することにより、ワークWと
静圧パッド3との間に生じる静圧を調整するものであ
る。
【0044】以下、図5に基づいて本第2実施例を説明
するが、第1実施例の両頭研削装置と同様の部位には同
一の符号を付すことで重複する説明を省略し、異なる点
を中心に説明をする。
【0045】本両頭研削装置では、静圧パッド3A、3
Bへ流体を供給するポンプ81の後段に調圧弁61が配
設されている。この調圧弁61はコントローラ5からの
指令信号を受けて、ワークWの厚みの減少に応じて静圧
パッド3A、3Bから放出する流体LPの圧力を調整す
る。なお、本実施例ではコントローラ5及び調圧弁61
が流体圧制御手段を構成している。
【0046】上記本実施例では静圧パッド3A、3Bを
ワークW側へ押圧するのではなく、静圧パッド3A、3
Bからの流体圧でワークWと静圧パッド3との静圧を高
めることができる。なお、本実施例の場合はシリンダ機
構2A、2Bはポンプ71に接続されており、ワークW
を初期位置に設定する際の位置決めのため駆動され、加
工時はその位置に固定された状態となる。
【0047】ところで、上記第1実施例では静圧パッド
3の押圧力を制御して静圧を調整する例を示し、また第
2実施例では静圧パッド3から放出する流体圧を制御し
て静圧を調整する例を示した。しかし、静圧パッド3の
押圧力を制御する場合と、静圧パッド3から放出する流
体圧を制御する場合とを組合せた構成としてもよい。
【0048】すなわち、第1、2の実施例の変形例とし
て両構成を併用して、コントローラ5により静圧パッド
3の押圧力及び静圧パッド3から放出する流体圧を制御
して、静圧を調整するようにしてもよい。
【0049】さらに、図6は第3実施例の両頭研削装置
の概要構成を示す図である。上述した第1実施例では静
圧パッド3A、3Bを押圧するシリンダ機構2A、2B
による押圧力を調整することにより、ワークWと静圧パ
ッド3との間に生じる静圧を調整している。本実施例は
シリンダ機構に変えて、バネ機構により上記押圧力を調
整するようにした例である。
【0050】なお、本第3実施例でも、第1実施例の両
頭研削装置と同様の部位には同一の符号を付すことで重
複する説明を省略し、異なる点を中心に説明をする。
【0051】本両頭研削装置では、静圧パッド3A、3
BをワークW表面側に押圧する押圧手段としてバネ機構
50が左右に1対形成されている。左バネ機構50Aに
ついて説明すると、バネ材51Aの一端はベース1側で
可動部材52Aに固定され、その他端はパッド支持棒2
2Aに固定されている。上記バネ材51Aとしては、バ
ネの剛性が数μm〜200μm程度のワーク厚さ変化に
対して、支持力が大きく変化しないものを選定すること
が好ましい。
【0052】上記可動部材52Aはバネ材51Aの基順
位置となり、この可動部材52Aの設定位置が左右に移
動することにより、静圧パッド3Aの押圧力が調整され
る。可動部材52Aとしては、コントローラ5からの指
示指令を受けて、左右に移動する種々の機構を採用でき
る。例えば、サーボモータとネジ機構を組合せてバネ基
台が左右方向に移動する構成とすることができる。な
お、本実施例では、コントローラ5及び可動部材52が
押圧力制御手段を構成している。
【0053】上述したように、本実施例の両頭研削装置
でもワークWの加工が進んで平坦度が向上し厚みが減少
すると、コントローラ5によりバネ機構52A、52B
の基順位置が調整されて、静圧パッド3A、3Bがワー
クW表面をより強く押圧するようになる。その結果、ワ
ークWと静圧パッド3との静圧隙間が狭まりより強い静
圧でワークWを回転軸方向に支持できるようになる。
【0054】上記実施例では、押圧手段としてシリンダ
機構を用いた場合とバネ機構を用いた場合を別々に示し
たが両機構を併用してもよい。
【0055】なお、上述した第1〜3実施例では静圧パ
ッド3に静圧ポケットを1つ設けた場合を例示している
が、静圧パッド3に複数の静圧ポケットを設けることが
望ましい。また、押圧手段としてシリンダ機構及びバネ
機構について、一対設けた場合について例示しているが
これらについても複数の対を設けることが望ましい。
【0056】以上本発明の好ましい実施例について詳述
したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるもの
ではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の
範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【0057】
【発明の効果】以上詳述したところから明らかなよう
に、本発明によれば静圧調整機構がワークの厚みの減少
に対応して、前記流体静圧手段により前記ワークを支持
する静圧を調整するので、研削加工中にワークの厚みが
変化してもワークを適切に支持し、支持精度を向上させ
ながら研削を行うことが可能なワーク研削装置を提供で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のワーク自転式の研削装置を例示した図で
ある。
【図2】第1実施例の両頭研削装置の概要構成を示した
図である。
【図3】第1実施例の静圧パッドのポケット圧力を説明
するために示した図である。
【図4】ワークWの研削が進行した場合の両頭研削装置
による動作を示した図である。
【図5】第2実施例の両頭研削装置の概要構成を示した
図である。
【図6】第3実施例の両頭研削装置の概要構成を示した
図である。
【符号の説明】
2A、2B シリンダ機構 3A、3B 静圧パッド 4 ローラ 5 コントローラ 6 調圧弁 7 ポンプ 8 ポンプ W ワーク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 冨田 良幸 神奈川県横須賀市夏島町19番地 住友重機 械工業株式会社横須賀製造所内 (72)発明者 岩瀬 昭雄 愛媛県新居浜市惣開町5番2号 住友重機 械工業株式会社新居浜製造所内 (72)発明者 原 一敬 神奈川県横須賀市夏島町19番地 住友重機 械工業株式会社横須賀製造所内 (72)発明者 永田 浩 愛媛県新居浜市土橋1丁目3番30号 有限 会社永田研究所内 Fターム(参考) 3C034 AA08 BB71 CB08 DD10 3C043 BA09 BA13 CC04

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平板状のワークの両面を一対の流体静圧
    手段により非接触状態で支持しながら、該ワーク両面の
    研削を行う装置であって、 前記ワークの厚みの減少に対応して、前記流体静圧手段
    により前記ワークを支持する静圧を調整する静圧調整機
    構を設けた、ことを特徴とするワーク研削装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のワーク研削装置におい
    て、 前記静圧調整機構は、前記流体静圧手段からワーク表面
    へ向け供給する流体の圧力を、前記ワークの厚みの減少
    に応じて増加するように制御する流体圧制御手段を含ん
    で構成されている、ことを特徴とするワーク研削装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載のワーク研削装置におい
    て、 前記静圧調整機構は、前記ワーク表面に対し垂直な方向
    で前記流体静圧手段を前記ワーク表面に近付くように押
    圧する押圧手段と、前記ワークの厚みの減少に応じて前
    記押圧手段による押圧力を増加するように制御する押圧
    力制御手段とを含んで構成されている、ことを特徴とす
    るワーク研削装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載のワーク研削装置におい
    て、 前記押圧手段は、前記ワーク面に対し垂直な方向で該ワ
    ーク面に向け前記流体静圧手段を移動させる流体圧シリ
    ンダ機構及びバネ機構のうち少なくとも一方を含んで構
    成されている、ことを特徴とするワーク研削装置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載のワーク研削装置におい
    て、 前記押圧力制御手段は、前記流体圧シリンダヘ供給する
    流体の圧力又は前記バネ機構のバネ基準位置を変更する
    ことにより、前記押圧手段による押圧力を調整する、こ
    とを特徴とするワーク研削装置。
  6. 【請求項6】 請求項2から5のいずれかに記載のワー
    ク研削装置において、 前記流体圧制御手段又は前記押圧力制御手段は、前記ワ
    ークの厚みを測定した又はワークの厚みを推定したデー
    タを供給するデータ部を備え、該データに基づいて前記
    静圧を調整する、ことを特徴とするワーク研削装置。
JP2001315556A 2001-10-12 2001-10-12 ワーク研削装置 Expired - Fee Related JP3848120B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001315556A JP3848120B2 (ja) 2001-10-12 2001-10-12 ワーク研削装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001315556A JP3848120B2 (ja) 2001-10-12 2001-10-12 ワーク研削装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003117785A true JP2003117785A (ja) 2003-04-23
JP3848120B2 JP3848120B2 (ja) 2006-11-22

Family

ID=19133705

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001315556A Expired - Fee Related JP3848120B2 (ja) 2001-10-12 2001-10-12 ワーク研削装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3848120B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013524484A (ja) * 2010-03-26 2013-06-17 エムイーエムシー・エレクトロニック・マテリアルズ・インコーポレイテッド 同時両面ウエハ研削盤における静水圧パッド圧力調節
CN104437791A (zh) * 2014-12-09 2015-03-25 重庆大嘉富食品有限公司 底刀快退食材磨浆装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013524484A (ja) * 2010-03-26 2013-06-17 エムイーエムシー・エレクトロニック・マテリアルズ・インコーポレイテッド 同時両面ウエハ研削盤における静水圧パッド圧力調節
CN104437791A (zh) * 2014-12-09 2015-03-25 重庆大嘉富食品有限公司 底刀快退食材磨浆装置
CN104437791B (zh) * 2014-12-09 2023-12-26 徐州锡沂康成食品检验检测研究院有限公司 底刀快退食材磨浆装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3848120B2 (ja) 2006-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100642879B1 (ko) 양면동시 연삭방법, 양면동시 연삭기, 양면동시 래핑방법및 양면동시 래핑기
KR100954534B1 (ko) 얇은 원판형상 공작물의 양면 연삭방법 및 양면 연삭장치
US5700179A (en) Method of manufacturing semiconductor wafers and process of and apparatus for grinding used for the same method of manufacture
EP0549143B1 (en) An apparatus for polishing chamfers of a wafer
US6428389B2 (en) Polishing apparatus
US20100311309A1 (en) Dressing apparatus, dressing method, and polishing apparatus
US5951368A (en) Polishing apparatus
JP2005238444A (ja) 両面同時研削方法および両面同時研削盤並びに両面同時ラップ方法および両面同時ラップ盤
JP2000005988A (ja) 研磨装置
SG194293A1 (en) Double-end surface grinding method and double disk surface grinder
JP2022055316A (ja) 両面または片面機械加工機
JP5930871B2 (ja) 研削加工装置およびその制御方法
JP2003117785A (ja) ワーク研削装置
KR20010054603A (ko) 연마기
JP2002307303A (ja) 薄板円板状ワークの両面研削方法および装置
US20200368874A1 (en) Polishing apparatus and polishing method
JP2003236746A (ja) ワーク研削装置
JP7431048B2 (ja) 加工装置、及び加工装置に用いる支持部
JP3099678B2 (ja) オンラインロール研削装置及びその制御方法
JP2003236748A (ja) 研削装置
JP2002370161A (ja) ウェーハの両面加工方法及びその装置
JPH08276338A (ja) 回転体の姿勢調整機構
JPH1110498A (ja) 固体アクチュエータを用いた面振れ修正機構を持つ加工装置
JPH10329008A (ja) ポリッシング装置
JP2005305609A (ja) ラップ盤

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20040414

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060627

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060728

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060822

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060824

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 3

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090901

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100901

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees